JP2015127683A5 - - Google Patents

Claims (16)

1. 導入される試料をイオン化するためのプラズマを発生するプラズマ手段と、プラズマを真空中に引き込み超音速分子ビームを生成するインターフェース手段と、真空中に引き込まれたプラズマからイオンをイオンビームとして引き出すための引出電極手段と、イオンビームと光子の分離および後方への伝送を担うイオンレンズ手段と、必要に応じ設置される干渉イオンを除去するためのイオンガイド手段と、イオンを質量電荷比に応じて分離するイオン分離手段と、イオン分離手段により分離されたイオンを検出して検出信号を出力する検出手段を含む、誘導結合プラズマ質量分析装置において、前記検出信号の安定性を高めるための方法であって、
   １）少なくとも１種類の元素を含む擬似試料を準備し、
   ２）前記疑似試料を前記誘導結合プラズマ質量分析装置に導入して、時間経過とともに前記引出電極手段、前記イオンレンズ手段、前記イオンガイド手段及び前記イオン分離手段からなるイオン光学系に印加される電圧の少なくとも１つを変更しながら、前記元素のイオンを検出し、
   ３）各電圧において前記検出の間に変化する前記検出信号の変化量を求め、
   ４）前記求めた変化量に基づいて、前記検出信号が最も安定する電圧を選択して、当該電圧を試料の分析のために使用することを含む、方法。
2. 前記試料が、高マトリクス試料である、請求項１に記載の方法。
3. 前記擬似試料が、高マトリクス試料である、請求項１又は２に記載の方法。
4. 前記擬似試料が、複数の異なる種類の擬似試料からなる、請求項１から３の何れかに記載の方法。
5. 前記元素のイオンを検出することが、前記検出信号の変化を促進するために前記プラズマ手段及びインターフェース手段の動作条件を変更することを含む、請求項１から４の何れかに記載の方法。
6. 前記変化量を求めることが、統計学的処理を用いることを含む、請求項１から５の何れかに記載の方法。
7. 前記統計学的処理が線形フィッテイングである、請求項６に記載の方法。
8. 前記元素の数が、複数であり、前記変化量は、各元素の変化量の平均として求められる、請求項１から７の何れかに記載の方法。
9. 前記元素の数が、複数であり、前記変化量は、各元素間の変化量の差の平均として求められる、請求項１から７の何れかに記載の方法。
10. 前記引出電極手段が、第１電極及び第２電極を含む、請求項１から９の何れかに記載の方法。
11. 前記イオンレンズ手段が、第３電極及び第４電極を含む、請求項１０に記載の方法。
12. 前記電圧は、前記第１から第４電極のそれぞれに印加される電圧である、請求項１１に記載の方法。
13. 前記電極のそれぞれに印加される電圧が複数の電圧組み合わせとして構成されており、前記電圧の少なくとも１つを変更することは、電圧組み合わせを変更することである、請求項１２に記載の方法。
14. 導入される試料をイオン化するためのプラズマを発生するプラズマ手段と、プラズマを真空中に引き込み超音速分子ビームを生成するインターフェース手段と、真空中に引き込まれたプラズマからイオンをイオンビームとして引き出すための引出電極手段と、イオンビームと光子の分離および後方への伝送を担うイオンレンズ手段と、必要に応じ設置される干渉イオンを除去するためのイオンガイド手段と、イオンを質量電荷比に応じて分離するイオン分離手段と、イオン分離手段により分離されたイオンを検出して検出信号を出力する検出手段を含む、誘導結合プラズマ質量分析装置を作動させるために用いられるコンピュータプログラムであって、
    １）前記誘導結合プラズマ質量分析装置に導入される少なくとも１種類の元素を含む疑似試料について、時間経過とともに前記引出電極手段、前記イオンレンズ手段、前記イオンガイド手段及び前記イオン分離手段からなるイオン光学系に印加される電圧の少なくとも１つを変更しながら、前記元素のイオンを検出する手順、
    ２）各電圧において前記検出信号が前記検出の間に変化する変化量を求める手順、
    ３）前記求めた変化量に基づいて、前記検出信号が最も安定する電圧を選択して、当該電圧を試料の分析のために前記誘導結合プラズマ質量分析装置に設定する手順をコンピュータに実行させる、コンピュータプログラム。
15. 前記元素のイオンを検出する手順が、前記検出信号の変化を促進するために前記プラズマ手段及びインターフェース手段の動作条件を変更する手順を含む、請求項１４に記載のコンピュータプログラム。
16. 前記擬似試料が、複数の異なる種類の擬似試料からなる、請求項１４又は１５に記載のコンピュータプログラム。