JP2015122397A - Relay board, manufacturing method of the same, electronic device, electronic apparatus and movable body - Google Patents

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伊井 稔博
Toshihiro Ii
稔博 伊井
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a relay board at low costs by a method of easily forming an electrode terminal in which one surface and the other surface of the relay board communicate with each other without being subjected to a special step.SOLUTION: A relay board comprises: an element connection terminal mounted with an element on one principal surface of a board having electrical insulation properties; an external connection terminal on a rear surface of the principal surface; principal surface wiring extending from the element connection terminal on the principal surface; and a plurality of insulation surfaces on a lateral surface of the board. A lateral surface conductive layer is provided on the lateral surface of the board excluding at least the plurality of insulation surfaces. The external connection terminal and the principal surface wiring are electrically connected to the lateral surface conductive layer.

Description

本発明は、中継基板、中継基板の製造方法、電子デバイス、電子機器および移動体に関する。   The present invention relates to a relay board, a relay board manufacturing method, an electronic device, an electronic apparatus, and a moving body.

電子部品を構成する、例えば振動素子、センサー素子等の素子類は、近年、MEMS技術に代表される精密加工技術の飛躍的な進歩によって、小型化が進んでいる。これら素子類は。素子単体で機器類に装着されることはなく、一般的に箱状のパッケージと呼ばれる収納容器の中に、真空気密状態で収納されて回路基板などに実装されて機器類に装着される。   In recent years, elements such as a vibration element and a sensor element that constitute an electronic component have been downsized due to a dramatic advance in precision processing technology represented by MEMS technology. These elements. A single element is not attached to equipment, but is housed in a vacuum-tight state in a storage container generally called a box-shaped package, mounted on a circuit board or the like, and attached to the equipment.

しかし、素子は、その用途によって、形状、形態、素材、電極配線、大きさ等に様々の種類が存在し、それら多品種の素子を最適に収容するパッケージを、素子に合わせて製作すると、同様に多品種を準備しなければならず、特に、複数の基板を積層して形成されるセラミックスのパッケージでは、コストアップとなってしまう。   However, there are various types of devices, depending on their use, in shape, form, material, electrode wiring, size, etc., and if a package that optimally accommodates these various types of devices is manufactured according to the device, the same applies. In addition, a variety of products must be prepared, and in particular, a ceramic package formed by laminating a plurality of substrates increases the cost.

そこで、特許文献1に示されるような中継基板を用いることが提案されている。特許文献1に示す中継基板とは、集積回路用パッケージとマザーボードの間に仲介させて、集積回路用パッケージとマザーボードとの電気的な接続を行っている。特許文献1に記載されている実施形態の一例では、中継基板にはスルーホールが形成され、スルーホールの中には集積回路用パッケージに備える電極端子と接続する端子、あるいは電極ピンがスルーホールに挿入されて接続する端子が備えられ、マザーボード側に配置された電極端子と繋がる。そして、中継基板におけるマザーボード側の接続端子と、マザーボードの接続端子とが繋がり、集積回路パッケージとマザーボードとの電気的な接続が得られている。   Therefore, it has been proposed to use a relay board as disclosed in Patent Document 1. The relay substrate shown in Patent Document 1 mediates between the integrated circuit package and the mother board to electrically connect the integrated circuit package and the mother board. In an example of the embodiment described in Patent Document 1, a through hole is formed in a relay substrate, and a terminal connected to an electrode terminal provided in an integrated circuit package or an electrode pin is formed in the through hole in the through hole. A terminal to be inserted and connected is provided and connected to an electrode terminal arranged on the mother board side. Then, the connection terminal on the motherboard side of the relay board is connected to the connection terminal of the motherboard, and an electrical connection between the integrated circuit package and the motherboard is obtained.

上述の特許文献1に記載された実施形態の一例では、中継基板にスルーホールを形成する、そして形成されたスルーホールの内部に電極端子を形成する、といった製造工数の掛かる、すなわちコストアップとなる構成が含まれていた。これに対して、特許文献1に記載された他の実施形態の一例では、中継基板の外周部に集積回路パッケージ側からマザーボード側へ回り込むように端子が形成され、集積回路パッケージとマザーボードとの電気的な接続を得ることが開示されている。   In the example of the embodiment described in Patent Document 1 described above, it takes a number of manufacturing steps such as forming a through hole in the relay substrate and forming an electrode terminal inside the formed through hole, that is, increasing the cost. The configuration was included. On the other hand, in another example of the embodiment described in Patent Document 1, a terminal is formed on the outer peripheral portion of the relay substrate so as to wrap around from the integrated circuit package side to the mother board side. Obtaining a secure connection.

特開平9−270478号公報JP-A-9-270478

しかし、特許文献1に記載されたその他の実施形態の一例であっても、中継基板の外周面に電極端子を形成するためには、外周全体に形成された電極膜を配線に合わせて不要部分を除去する、もしくは、不要部分に電極膜が形成されないよう、いわゆるマスキング加工を施して電極膜を形成する、など、多くの工数を必要とし、コストアップになってしまう虞があった。   However, even if it is an example of other embodiment described in patent document 1, in order to form an electrode terminal in the outer peripheral surface of a relay substrate, the electrode film formed in the outer periphery is an unnecessary part according to wiring. There is a risk that the cost may be increased due to a large number of man-hours, such as removing the film or forming an electrode film by performing a so-called masking process so that the electrode film is not formed on unnecessary portions.

そこで、特別な工程を経ずに、中継基板の一方の面と、他方の面と、が繋がった電極端子を容易に形成する方法によって、安価な中継基板を得ることを目的とする。
Accordingly, it is an object of the present invention to obtain an inexpensive relay substrate by a method of easily forming an electrode terminal in which one surface of the relay substrate is connected to the other surface without passing through a special process.

本発明は、上述の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の形態または適用例として実現することが可能である。   SUMMARY An advantage of some aspects of the invention is to solve at least a part of the problems described above, and the invention can be implemented as the following forms or application examples.

〔適用例1〕本適用例に係る中継基板は、電気的な絶縁性を有する基板の一方の主面に、素子を実装する素子接続端子と、前記主面の裏面に外部接続端子と、前記主面に前記素子接続端子から延設されている主面配線と、を備え、前記基板の側面には、絶縁面を複数備え、少なくとも前記絶縁面を除き、前記基板の側面には側面導電層が設けられ、前記外部接続端子と、前記主面配線と、が、前記側面導電層と電気的に接続されていることを特徴とする。   [Application Example 1] A relay board according to this application example includes an element connection terminal for mounting an element on one main surface of a substrate having electrical insulation, an external connection terminal on the back surface of the main surface, A main surface wiring extending from the element connection terminal on the main surface, a plurality of insulating surfaces on the side surface of the substrate, and a side conductive layer on the side surface of the substrate excluding at least the insulating surface And the external connection terminal and the main surface wiring are electrically connected to the side surface conductive layer.

本適用例の中継基板によれば、基板の側面に形成された側面導電層によって基板主面に形成された主面配線と、基板裏面に形成された外部接続端子と、を電気的に接続することができる。これにより、基板に主面と裏面とをつなぐ導電部材が配設された貫通孔、いわゆるスルーホールを形成することなく、容易に基板の主面の配線と裏面の端子間の電気的な接続を得ることができ、中継基板のコストアップを抑制することができる。   According to the relay substrate of this application example, the main surface wiring formed on the substrate main surface by the side surface conductive layer formed on the side surface of the substrate is electrically connected to the external connection terminal formed on the back surface of the substrate. be able to. As a result, electrical connection between the wiring on the main surface of the board and the terminals on the back surface can be easily performed without forming a through-hole in which a conductive member connecting the main surface and the back surface is disposed on the substrate. It can be obtained, and the cost increase of the relay board can be suppressed.

〔適用例2〕上述の適用例において、前記基板の側面には、前記主面に沿って突出している突起部を備え、前記突起部の外端面には、前記絶縁面が設けられていることを特徴とする。   Application Example 2 In the application example described above, the side surface of the substrate includes a protruding portion protruding along the main surface, and the insulating surface is provided on the outer end surface of the protruding portion. It is characterized by.

上述の適用例によれば、突出する突起部を基板の側面に設けることにより、基板の側面に形成される絶縁面を、突起部の外端面に構成させることができ、容易に基板側面の絶縁面を形成することができる。   According to the above application example, by providing the protruding protrusion on the side surface of the substrate, the insulating surface formed on the side surface of the substrate can be configured on the outer end surface of the protrusion, and the substrate side surface can be easily insulated. A surface can be formed.

〔適用例3〕上述の適用例において、前記突起部の前記外端面は、前記基板の切断面を含んでいることを特徴とする。   Application Example 3 In the application example described above, the outer end surface of the protrusion includes a cut surface of the substrate.

上述の適用例によれば、中継基板の製造過程において、突起部の先端部を切断除去、もしくは研削除去することで、容易に側面導電層が形成されていない突起部の先端面を形成することができる。すなわち、従来の導電層を構成する金属膜の除去方法として用いられるエッチング法によらずに側面導電層が形成されていない突起部の先端面を形成することができるので、エッチング法で用いる薬品による安全、環境の負荷低減が実現できる。   According to the application example described above, in the process of manufacturing the relay substrate, the tip end portion of the protrusion portion on which the side surface conductive layer is not easily formed can be easily formed by cutting or removing the tip end portion of the protrusion portion. Can do. That is, since the tip end surface of the protruding portion where the side conductive layer is not formed can be formed without using the etching method used as a method for removing the metal film constituting the conventional conductive layer, it depends on the chemical used in the etching method. Safety and environmental load reduction can be realized.

〔適用例4〕上述の適用例において、前記切断面は、前記基板を複数備えるウエハー基板から前記基板が切断された切断面であることを特徴とする。   Application Example 4 In the application example described above, the cut surface is a cut surface obtained by cutting the substrate from a wafer substrate including a plurality of the substrates.

上述の中継基板を製造する場合、原料基板、いわゆるウエハーを用いて、ウエハー内に複数の中継基板チップをタイバーにより接続して、ウエハー基板として所定の製造工程を経て中継基板が形成される。この方法において、上述の適用例によれば、ウエハー基板のタイバーを切断することで中継基板は個片化されるが、タイバーを基板の突起部位置に形成させることにより、タイバーの切断面が突起部の外端面として形成され、外周導電層の配設されない外端面が容易に得られる。   When the above-described relay substrate is manufactured, a relay substrate is formed through a predetermined manufacturing process as a wafer substrate by using a raw material substrate, a so-called wafer, and connecting a plurality of relay substrate chips in the wafer with a tie bar. In this method, according to the above-described application example, the relay substrate is divided into pieces by cutting the tie bar of the wafer substrate. However, by forming the tie bar at the protruding portion position of the substrate, the cut surface of the tie bar protrudes. An outer end surface that is formed as an outer end surface of the portion and is not provided with the outer peripheral conductive layer can be easily obtained.

〔適用例5〕本適用例の中継基板の製造方法は、電気的な絶縁性を有するウエハー基板を準備する、ウエハー準備工程と、前記ウエハーに接続した複数の接続部により保持される中継基板チップを前記ウエハーに複数形成する、チップ成型工程と、少なくとも、前記中継基板チップの一方の主面に、素子を実装する素子接続端子と、前記素子接続端子から延設される主面配線と、前記主面の裏面に、外部接続端子と、を形成する、配線形成工程と、前記接続部を切断して前記中継基板チップを個片化する中継基板チップ取出し工程と、を含み、前記配線形成工程において、少なくとも前記接続部の主面に交差する面を含む前記中継基板チップの側面に側面導電層が形成されることを特徴とする。   Application Example 5 A relay substrate manufacturing method according to this application example includes a wafer preparation step of preparing a wafer substrate having electrical insulation, and a relay substrate chip held by a plurality of connection portions connected to the wafer. A plurality of chip forming steps on the wafer, at least on one main surface of the relay substrate chip, an element connection terminal for mounting an element, a main surface wiring extending from the element connection terminal, An external connection terminal formed on the back surface of the main surface; and a wiring formation step; and a relay substrate chip extraction step of cutting the connection portion to separate the relay substrate chip, the wiring formation step 3, wherein a side surface conductive layer is formed on a side surface of the relay substrate chip including at least a surface intersecting the main surface of the connection portion.

本適用例の中継基板の製造方法によれば、原料基板、いわゆるウエハーを用いて、ウエハー内に複数の中継基板チップをタイバーにより接続して、ウエハー基板として所定の製造工程を経て中継基板が形成される。この製造方法によれば、ウエハー基板のタイバーを切断することで中継基板は個片化されるが、タイバーを中継基板の突起部位置に形成させることにより、タイバーの切断面が突起部の外端面として形成され、外周導電層の配設されない外端面が容易に得られる。   According to the relay substrate manufacturing method of this application example, a plurality of relay substrate chips are connected to each other with a tie bar in a wafer using a raw material substrate, a so-called wafer, and a relay substrate is formed through a predetermined manufacturing process as a wafer substrate. Is done. According to this manufacturing method, the relay substrate is separated into pieces by cutting the tie bar of the wafer substrate, but by forming the tie bar at the protruding portion position of the relay substrate, the cut surface of the tie bar is the outer end surface of the protruding portion. Thus, an outer end surface on which the outer peripheral conductive layer is not disposed can be easily obtained.

〔適用例6〕本適用例の電子デバイスは、電気的な絶縁性を有する基板の一方の主面に、素子を実装する素子接続端子と、前記主面の裏面に外部接続端子と、前記主面に前記素子接続端子から延設されている主面配線と、を備え、前記基板の側面には、前記主面に沿って突出している突起部を複数備え、前記突起部の少なくとも外端面を除く前記主面に交差する前記側面には側面導電層が設けられ、前記素子接続端子に電気的に接続されている前記素子と、前記外部接続端子に電気的に接続されている回路素子と、を含むことを特徴とする。   Application Example 6 An electronic device according to this application example includes an element connection terminal for mounting an element on one main surface of an electrically insulating substrate, an external connection terminal on the back surface of the main surface, and the main device. A main surface wiring extending from the element connection terminal on the surface, and a plurality of protrusions protruding along the main surface on the side surface of the substrate, and at least an outer end surface of the protrusion The side surface intersecting the main surface except the side conductive layer is provided, the element electrically connected to the element connection terminal, and the circuit element electrically connected to the external connection terminal, It is characterized by including.

本適用例の電子デバイスによれば、基板の側面に形成された側面導電層によって基板主面に形成された主面配線と、基板裏面に形成された外部接続端子と、を電気的に接続することができる中継基板を備えることができる。備えられた中継基板は、基板に主面と裏面とをつなぐ導電部材が配設された貫通孔、いわゆるスルーホールを形成することなく、容易に基板の主面の配線と裏面の端子間の電気的な接続を得ることができ、中継基板のコストアップを抑制し、電子デバイスのコストアップを抑制することができる。また、中継基板に搭載、実装される素子の仕様、例えば大きさ、機能、電極配置、などが異なっても、素子に対応した中継基板を用いることで、電子デバイスを構成する回路基板、あるいはパッケージを共通使用することが可能となり、回路基板あるいはパッケージの標準化によるコストアップ抑制が可能となる。   According to the electronic device of this application example, the main surface wiring formed on the main surface of the substrate by the side surface conductive layer formed on the side surface of the substrate is electrically connected to the external connection terminal formed on the back surface of the substrate. A relay board that can be provided can be provided. The relay board provided is easily connected between the wiring on the main surface of the board and the terminals on the back surface without forming a through-hole in which a conductive member connecting the main surface and the back surface is arranged on the substrate, so-called through hole. Connection can be obtained, the cost increase of the relay board can be suppressed, and the cost increase of the electronic device can be suppressed. In addition, even if the specifications of the elements mounted on and mounted on the relay board, such as size, function, electrode arrangement, etc., are different, a circuit board or package constituting an electronic device can be obtained by using a relay board corresponding to the element. Can be used in common, and cost increases can be suppressed by standardizing circuit boards or packages.

〔適用例7〕上述の適用例において、前記素子がセンサー素子であることを特徴とする。   Application Example 7 In the application example described above, the element is a sensor element.

上述の適用例によれば、様々な機能を備える多種のセンサー素子を、中継基板に搭載させて回路基板あるいはパッケージに実装することにより、電子デバイスを構成する回路基板、あるいはパッケージを共通仕様することが可能となり、回路基板あるいはパッケージの標準化によるコストアップ抑制が可能となる。   According to the application example described above, a variety of sensor elements having various functions are mounted on a relay board and mounted on the circuit board or package, so that the circuit board or package constituting the electronic device can be specified in common. Therefore, it is possible to suppress the cost increase by standardizing the circuit board or the package.

〔適用例8〕本適用例の電子機器は、上述の適用例に記載の中継基板を備えていることを特徴とする。   Application Example 8 An electronic apparatus according to this application example includes the relay board described in the above application example.

本適用例の電子機器によれば、電子機器を構成する回路基板、あるいはパッケージを共通使用することが可能となり、回路基板あるいはパッケージの標準化によるコストアップ抑制が可能となる。   According to the electronic apparatus of this application example, it is possible to commonly use a circuit board or a package constituting the electronic apparatus, and it is possible to suppress an increase in cost by standardizing the circuit board or the package.

〔適用例9〕本適用例の移動体は、上述の適用例に記載の中継基板を備えていることを特徴とする。   Application Example 9 A moving object according to this application example includes the relay board described in the above application example.

本適用例の移動体によれば、移動体に備える各種電子機器を構成する回路基板、あるいはパッケージを共通使用することが可能となり、回路基板あるいはパッケージの標準化によるコストアップ抑制が可能となる。   According to the moving body of this application example, it is possible to commonly use a circuit board or a package constituting various electronic devices included in the moving body, and it is possible to suppress an increase in cost by standardizing the circuit board or the package.

第1実施形態に係る中継基板を示し、(a)は主面側の平面図、(b)は裏面側の平面図。The relay board | substrate which concerns on 1st Embodiment is shown, (a) is a top view on the main surface side, (b) is a top view on the back surface side. 第1実施形態に係る中継基板を示す平面図、正面図、背面図、右側面図および左側面図。The top view which shows the relay board | substrate which concerns on 1st Embodiment, a front view, a rear view, a right view, and a left view. 第1実施形態に係る中継基板を示し、(a)は主面側からの外観斜視図、(b)は裏面側からの外観斜視図。The relay board | substrate which concerns on 1st Embodiment is shown, (a) is an external appearance perspective view from the main surface side, (b) is an external appearance perspective view from the back surface side. 第2実施形態に係る中継基板の製造方法を示すフローチャート。The flowchart which shows the manufacturing method of the relay substrate which concerns on 2nd Embodiment. 第2実施形態に係る中継基板の製造方法における製造工程を示す部分断面図。The fragmentary sectional view which shows the manufacturing process in the manufacturing method of the relay substrate which concerns on 2nd Embodiment. 第2実施形態に係る中継基板のチップ成型工程で得られるウエハー基板を示す、(a)は平面図、(b)は(a)に示すA部の拡大斜視図。The wafer substrate obtained at the chip | tip shaping | molding process of the relay substrate which concerns on 2nd Embodiment is shown, (a) is a top view, (b) is an expansion perspective view of the A section shown to (a). 第2実施形態に係る中継基板の配線形成工程で得られるウエハー基板を示す、(a)は主面側の部分拡大外観斜視図、(b)は裏面側の部分拡大外観斜視図。The wafer board obtained at the wiring formation process of the relay substrate which concerns on 2nd Embodiment is shown, (a) is the partial expansion external appearance perspective view by the side of a main surface, (b) is the partial expansion external appearance perspective view by the side of a back surface. 第2実施形態に係る中継基板の中継基板チップ取出し工程を説明する外観斜視図。The external appearance perspective view explaining the relay board | substrate chip taking-out process of the relay board | substrate concerning 2nd Embodiment. 第3実施形態に係る電子デバイスとしての角速度センサーを示す平面図。The top view which shows the angular velocity sensor as an electronic device which concerns on 3rd Embodiment. 図9に示すB−B´部の断面図。Sectional drawing of the BB 'part shown in FIG. 第3実施形態に係る角速度センサーの、その他の形態を示す平面図。The top view which shows the other form of the angular velocity sensor which concerns on 3rd Embodiment. 第4実施形態に係る電子機器としてのスマートフォンを示す外観図。The external view which shows the smart phone as an electronic device which concerns on 4th Embodiment. 第4実施形態に係る電子機器としてのデジタルスチルカメラを示す外観図。FIG. 14 is an external view showing a digital still camera as an electronic apparatus according to a fourth embodiment. 第5実施形態に係る移動体としての自動車を示す外観図。The external view which shows the motor vehicle as a moving body which concerns on 5th Embodiment.

以下、図面を参照して、本発明に係る実施形態を説明する。   Embodiments according to the present invention will be described below with reference to the drawings.

(第1実施形態)
図1に第1実施形態に係る中継基板を示し、(a)は表平面図、(b)は裏平面図である。図1に示すように、中継基板100は、電気絶縁性を有する材料により形成された基板10の一方の面である主面10aと、主面10aの反対の裏面10bと、基板10の外周側面10cと、に後述する電極配線が配設されている。
(First embodiment)
FIG. 1 shows a relay board according to the first embodiment, where (a) is a front plan view and (b) is a back plan view. As shown in FIG. 1, the relay substrate 100 includes a main surface 10a that is one surface of a substrate 10 formed of an electrically insulating material, a back surface 10b opposite to the main surface 10a, and an outer peripheral side surface of the substrate 10. The electrode wiring described later is disposed at 10c.

基板10の外周側面10cには複数、本実施形態では6か所の突起11,12,13,14,15,16を備えている。そして、主面10aには、主面10a上に載置、固定される素子110の外部接続電極に対応して配置される素子接続端子21,22,23,24,25a,25b,26a,26b,27a,27b,28a,28bが形成される。本実施形態に係る中継基板100では、素子110として角速度センサー素子を例示する(以下、素子110を、角速度センサー素子110という)。角速度センサー素子110の外部接続電極に対応して12か所の素子接続端子21,22,23,24,25a,25b,26a,26b,27a,27b,28a,28bが形成されている。   The outer peripheral side surface 10c of the substrate 10 is provided with a plurality of projections 11, 12, 13, 14, 15, 16 in this embodiment. On the main surface 10a, element connection terminals 21, 22, 23, 24, 25a, 25b, 26a, 26b are arranged corresponding to the external connection electrodes of the element 110 placed and fixed on the main surface 10a. , 27a, 27b, 28a, 28b are formed. In the relay substrate 100 according to the present embodiment, an angular velocity sensor element is exemplified as the element 110 (hereinafter, the element 110 is referred to as an angular velocity sensor element 110). Twelve element connection terminals 21, 22, 23, 24, 25a, 25b, 26a, 26b, 27a, 27b, 28a, 28b are formed corresponding to the external connection electrodes of the angular velocity sensor element 110.

本実施形態に係る中継基板100では、素子接続端子21,22,23,24は角速度センサー素子110の駆動用電極と接続され、素子接続端子25a,25b,26a,26b,27a,27b,28a,28bは角速度センサー素子110の検出用電極と接続されている。なお、中継基板100に搭載される素子の種類、形態によって角速度センサー素子110が備える外部接続端子の数、配置位置、形態は異なるものであり、角速度センサー素子110に対応してその数、配置位置、形態が設定されるものである。   In the relay substrate 100 according to the present embodiment, the element connection terminals 21, 22, 23, 24 are connected to the driving electrodes of the angular velocity sensor element 110, and the element connection terminals 25a, 25b, 26a, 26b, 27a, 27b, 28a, Reference numeral 28 b is connected to a detection electrode of the angular velocity sensor element 110. The number, arrangement position, and form of the external connection terminals included in the angular velocity sensor element 110 are different depending on the type and form of the element mounted on the relay substrate 100, and the number and arrangement position corresponding to the angular velocity sensor element 110 are different. , The form is set.

角速度センサー素子110の駆動用電極と接続される素子接続端子21,24からは、主面配線の一部としての引回し配線20aが延設され、基板10の外縁を含むように形成された主面配線の一部としての主面接続端子32に接続され、素子接続端子22,23からは引回し配線20bが延設され、基板10の外縁を含むように形成された主面接続端子33に接続されている。また、角速度センサー素子110の検出用電極と接続される素子接続端子25a,25bからは引回し配線20cが延設され、基板10の外縁を含むように形成された主面接続端子34に接続され、角速度センサー素子110の検出用電極と接続される素子接続端子26a,26bからは引回し配線20dが延設され、基板10の外縁を含むように形成された主面接続端子35に接続されている。同様に、角速度センサー素子110の検出用電極と接続される素子接続端子27a,27bからは引回し配線20eが延設され、基板10の外縁を含むように形成された主面接続端子31に接続され、角速度センサー素子110の検出用電極と接続される素子接続端子28a,28bからは引回し配線20fが延設され、基板10の外縁を含むように形成された主面接続端子36に接続されている。   From the element connection terminals 21, 24 connected to the driving electrodes of the angular velocity sensor element 110, a lead wiring 20 a as a part of the main surface wiring is extended and formed so as to include the outer edge of the substrate 10. Connected to the main surface connection terminal 32 as a part of the surface wiring, the lead wiring 20b extends from the element connection terminals 22 and 23, and is connected to the main surface connection terminal 33 formed so as to include the outer edge of the substrate 10. It is connected. Further, the lead wiring 20c extends from the element connection terminals 25a and 25b connected to the detection electrodes of the angular velocity sensor element 110 and is connected to the main surface connection terminal 34 formed so as to include the outer edge of the substrate 10. The lead wiring 20d extends from the element connection terminals 26a and 26b connected to the detection electrodes of the angular velocity sensor element 110, and is connected to the main surface connection terminal 35 formed so as to include the outer edge of the substrate 10. Yes. Similarly, the lead wiring 20e extends from the element connection terminals 27a and 27b connected to the detection electrodes of the angular velocity sensor element 110, and is connected to the main surface connection terminal 31 formed so as to include the outer edge of the substrate 10. The lead wiring 20f extends from the element connection terminals 28a and 28b connected to the detection electrodes of the angular velocity sensor element 110, and is connected to the main surface connection terminal 36 formed so as to include the outer edge of the substrate 10. ing.

主面接続端子31,32,33,34,35,36は、各々、隣り合う主面接続端子31,32,33,34,35,36のいずれかの間に基板10の突起11,12,13,14,15,16のいずれかが配置される。言い換えると、突起11,12,13,14,15,16の間に、主面接続端子31,32,33,34,35,36が配設されている。例えば、主面接続端子31は、突起11と突起12との間に形成され、主面接続端子36は、突起11と突起16との間に形成されている。なお、本実施形態では、主面接続端子31,32,33,34,35,36として6か所形成されているが、その数は中継基板100に搭載される素子110の形態によって適宜設定される。   The main surface connection terminals 31, 32, 33, 34, 35, and 36 are respectively provided between the protrusions 11, 12, and 12 of the substrate 10 between any of the adjacent main surface connection terminals 31, 32, 33, 34, 35, and 36. Any one of 13, 14, 15, and 16 is arranged. In other words, the main surface connection terminals 31, 32, 33, 34, 35, 36 are disposed between the protrusions 11, 12, 13, 14, 15, 16. For example, the main surface connection terminal 31 is formed between the protrusion 11 and the protrusion 12, and the main surface connection terminal 36 is formed between the protrusion 11 and the protrusion 16. In the present embodiment, six main surface connection terminals 31, 32, 33, 34, 35, and 36 are formed, but the number thereof is appropriately set depending on the form of the element 110 mounted on the relay substrate 100. The

図2は、中継基板100の平面図と、正面図および背面図、そして左右の側面図を示す。図2に示すように、基板10の外周側面10cには側面導電層41,42,43,44,45,46が形成されている。側面導電層41は、突起11と、突起12と、の間に形成され、主面接続端子31と、電気的に接続されている。なお、少なくとも突起11,12の端面11a,12aには側面導電層41が形成されないが、突起11,12の側面11c,12bには側面導電層41が延設されていてもよい。   FIG. 2 shows a plan view, a front view and a rear view, and left and right side views of the relay board 100. As shown in FIG. 2, side conductive layers 41, 42, 43, 44, 45, 46 are formed on the outer peripheral side surface 10 c of the substrate 10. The side surface conductive layer 41 is formed between the protrusion 11 and the protrusion 12 and is electrically connected to the main surface connection terminal 31. The side surface conductive layer 41 is not formed on at least the end surfaces 11 a and 12 a of the protrusions 11 and 12, but the side surface conductive layer 41 may be extended on the side surfaces 11 c and 12 b of the protrusions 11 and 12.

同様に、側面導電層42は、突起12と、突起13と、の間に形成され、主面接続端子32と、電気的に接続されている。側面導電層43は、突起13と、突起14と、の間に形成され、主面接続端子33と、電気的に接続されている。側面導電層44は、突起14と、突起15と、の間に形成され、主面接続端子34と、電気的に接続されている。側面導電層45は、突起15と、突起16と、の間に形成され、主面接続端子35と、電気的に接続されている。そして、側面導電層46は、突起16と、突起11と、の間に形成され、主面接続端子36と、電気的に接続されている。   Similarly, the side surface conductive layer 42 is formed between the protrusion 12 and the protrusion 13, and is electrically connected to the main surface connection terminal 32. The side surface conductive layer 43 is formed between the protrusion 13 and the protrusion 14, and is electrically connected to the main surface connection terminal 33. The side conductive layer 44 is formed between the protrusion 14 and the protrusion 15, and is electrically connected to the main surface connection terminal 34. The side conductive layer 45 is formed between the protrusion 15 and the protrusion 16, and is electrically connected to the main surface connection terminal 35. The side conductive layer 46 is formed between the protrusion 16 and the protrusion 11 and is electrically connected to the main surface connection terminal 36.

上述の側面導電層41,42,43,44,45,46は、側面導電層41と同様に、少なくとも突起12,13,14,15,16,11の端面12a,13a,14a,15a,16a,11aには導電層は形成されていない。また、突起12の側面12b,12c、突起13の側面13b,13c、突起14の側面14b,14c、突起15の側面15b,15c、突起16の側面16b,16c、そして突起11の側面11b,11cには側面導電層41,42,43,44,45,46が延設されていてもよい。   The side conductive layers 41, 42, 43, 44, 45, 46 described above are at least the end faces 12 a, 13 a, 14 a, 15 a, 16 a of the protrusions 12, 13, 14, 15, 16, 11, similarly to the side conductive layer 41. , 11a is not formed with a conductive layer. Further, the side surfaces 12b and 12c of the projection 12, the side surfaces 13b and 13c of the projection 13, the side surfaces 14b and 14c of the projection 14, the side surfaces 15b and 15c of the projection 15, the side surfaces 16b and 16c of the projection 16, and the side surfaces 11b and 11c of the projection 11 The side surface conductive layers 41, 42, 43, 44, 45, 46 may be extended.

上述したように形成された側面導電層41,42,43,44,45,46は、少なくとも突起11,12,13,14,15,16の外周における端面11a,12a,13a,14a,15a,16aには導電層が形成されず、端面11a,12a,13a,14a,15a,16aにおいて、側面導電層41,42,43,44,45,46は周回方向で離間して形成されている。   The side surface conductive layers 41, 42, 43, 44, 45, and 46 formed as described above are at least the end surfaces 11a, 12a, 13a, 14a, 15a, and the outer surfaces of the protrusions 11, 12, 13, 14, 15, and 16, respectively. No conductive layer is formed on 16a, and the side conductive layers 41, 42, 43, 44, 45, and 46 are formed on the end faces 11a, 12a, 13a, 14a, 15a, and 16a so as to be spaced apart in the circumferential direction.

図3は、中継基板100の外観斜視図を示し、図3(a)は主面側外観斜視図、図3(b)は裏面側外観斜視図である。図1(b)あるいは図3(b)に示すように、中継基板100の裏面10bには、図示しない実装用の基板に形成された接続電極と電気的に接続される外部接続端子としての裏面接続端子51,52,53,54,55,56が形成されている。図3(b)に示すように、裏面接続端子51,52,53,54,55,56は側面導電層41,42,43,44,45,46に電気的に接続されている。例えば裏面接続端子51で例示すると、裏面接続端子51は側面導電層41に電気的に接続され、基板10の外縁部を含むように形成されている。同様に、裏面接続端子52は側面導電層42と、裏面接続端子53は側面導電層43と、裏面接続端子54は側面導電層44と、裏面接続端子55は側面導電層45と、そして、裏面接続端子56は側面導電層46と接続されている。   3A and 3B are external perspective views of the relay substrate 100. FIG. 3A is a main surface side external perspective view, and FIG. 3B is a back side external perspective view. As shown in FIG. 1B or 3B, the back surface 10b of the relay substrate 100 has a back surface as an external connection terminal that is electrically connected to a connection electrode formed on a mounting substrate (not shown). Connection terminals 51, 52, 53, 54, 55, and 56 are formed. As shown in FIG. 3B, the back surface connection terminals 51, 52, 53, 54, 55, and 56 are electrically connected to the side surface conductive layers 41, 42, 43, 44, 45, and 46. For example, the back connection terminal 51 is exemplified, and the back connection terminal 51 is electrically connected to the side conductive layer 41 and formed to include the outer edge portion of the substrate 10. Similarly, the back surface connection terminal 52 is the side surface conductive layer 42, the back surface connection terminal 53 is the side surface conductive layer 43, the back surface connection terminal 54 is the side surface conductive layer 44, the back surface connection terminal 55 is the side surface conductive layer 45, and the back surface. The connection terminal 56 is connected to the side conductive layer 46.

裏面接続端子51,52,53,54,55,56は、主面接続端子31,32,33,34,35,36と同様に、各々、隣り合う裏面接続端子51,52,53,54,55,56のいずれか間に基板10の突起11,12,13,14,15,16のいずれかが配置される。言い換えると、突起11,12,13,14,15,16の間に、裏面接続端子51,52,53,54,55,56が配設されている。例えば、裏面接続端子51は、突起11と突起12との間に形成され、裏面接続端子52は、突起12と突起13との間に形成されている。   The back surface connection terminals 51, 52, 53, 54, 55, 56 are adjacent to the back surface connection terminals 51, 52, 53, 54, adjacent to the main surface connection terminals 31, 32, 33, 34, 35, 36, respectively. Any one of the protrusions 11, 12, 13, 14, 15, and 16 of the substrate 10 is disposed between any of 55 and 56. In other words, the back surface connection terminals 51, 52, 53, 54, 55 and 56 are disposed between the protrusions 11, 12, 13, 14, 15 and 16. For example, the back connection terminal 51 is formed between the protrusion 11 and the protrusion 12, and the back connection terminal 52 is formed between the protrusion 12 and the protrusion 13.

図3(a),(b)に示すように、主面接続端子31,32,33,34,35,36と、裏面接続端子51,52,53,54,55,56と、は側面導電層41,42,43,44,45,46を介して電気的に接続されている。例えば主面接続端子31の場合は、側面導電層41を介して裏面接続端子51と電気的に接続されている。   As shown in FIGS. 3A and 3B, the main surface connection terminals 31, 32, 33, 34, 35, and 36 and the back surface connection terminals 51, 52, 53, 54, 55, and 56 are side-surface conductive. The layers 41, 42, 43, 44, 45, and 46 are electrically connected. For example, the main surface connection terminal 31 is electrically connected to the back surface connection terminal 51 through the side surface conductive layer 41.

以上、説明したように角速度センサー素子110が中継基板100に載置、固定されると、角速度センサー素子110に備える外部接続電極と、中継基板100に形成された素子接続端子21,22,23,24,25a,25b,26a,26b,27a,27b,28a,28bと電気的な接続が行われる。そして、素子接続端子21,22,23,24,25a,25b,26a,26b,27a,27b,28a,28bから延設される引回し配線20a,20b,20c,20d,20e,20fを経由して、主面接続端子31,32,33,34,35,36との電気的な接続状態が得られる。   As described above, when the angular velocity sensor element 110 is mounted and fixed on the relay substrate 100, the external connection electrodes provided in the angular velocity sensor element 110 and the element connection terminals 21, 22, 23, Electrical connection is made to 24, 25a, 25b, 26a, 26b, 27a, 27b, 28a, 28b. And via the element wiring terminals 21, 22, 23, 24, 25a, 25b, 26a, 26b, 27a, 27b, 28a, 28b, the routing wirings 20a, 20b, 20c, 20d, 20e, 20f Thus, the electrical connection state with the main surface connection terminals 31, 32, 33, 34, 35, 36 is obtained.

上述した構成を備える中継基板100は、後述する電子デバイスとして収納容器のパッケージ内に実装する場合、あるいは回路基板、いわゆるマザーボードに、素子を実装する場合に、裏面接続端子51,52,53,54,55,56の配置を合わせることによって、中継基板100の主面10aに形成された素子接続端子21,22,23,24,25a,25b,26a,26b,27a,27b,28a,28bの配置、数を変えたものを準備するだけで、異なる仕様の素子を中継基板100を介して共通の素子収納容器のパッケージに収納、あるいはマザーボードに実装することができる。   The relay substrate 100 having the above-described configuration is provided with back connection terminals 51, 52, 53, 54 when mounted in a package of a storage container as an electronic device to be described later, or when an element is mounted on a circuit board, so-called motherboard. , 55, 56 to match the arrangement of the element connection terminals 21, 22, 23, 24, 25a, 25b, 26a, 26b, 27a, 27b, 28a, 28b formed on the main surface 10a of the relay substrate 100. By simply preparing different numbers, it is possible to store elements of different specifications in the package of a common element storage container via the relay substrate 100 or to be mounted on the mother board.

特に、本実施形態に係る中継基板100は、主面接続端子31,32,33,34,35,36と、裏面接続端子51,52,53,54,55,56と、を電気的に接続する、基板10の外周側面10cに形成される側面導電層41,42,43,44,45,46が、突起11,12,13,14,15,16の外周側面10c側の端面11a,12a,13a,14a,15a,16aに導電層を形成せずに各側面導電層41,42,43,44,45,46を電気的に独立(絶縁)させている。このことにより、ビアホールなどの複雑な加工を必要とせずに、容易に主面側から裏面側への電気的な接続を実現することができる。   In particular, the relay board 100 according to the present embodiment electrically connects the main surface connection terminals 31, 32, 33, 34, 35, and 36 and the back surface connection terminals 51, 52, 53, 54, 55, and 56. Side surface conductive layers 41, 42, 43, 44, 45, 46 formed on the outer peripheral side surface 10 c of the substrate 10 are end surfaces 11 a, 12 a on the outer peripheral side surface 10 c side of the protrusions 11, 12, 13, 14, 15, 16. , 13a, 14a, 15a, and 16a, the side conductive layers 41, 42, 43, 44, 45, and 46 are electrically independent (insulated) without forming a conductive layer. This makes it possible to easily realize electrical connection from the main surface side to the back surface side without requiring complicated processing such as via holes.

中継基板100の製造過程で端面11a,12a,13a,14a,15a,16aに形成される導電層の除去方法の一例として、突起11,12,13,14,15,16の外周部の一部を切断、もしくは外周端部を研削することにより、切断面、もしくは研削面として端面11a,12a,13a,14a,15a,16aを形成することで、導電層が形成されていない端面11a,12a,13a,14a,15a,16aを得ることができる。   As an example of a method for removing the conductive layer formed on the end faces 11a, 12a, 13a, 14a, 15a, 16a in the manufacturing process of the relay substrate 100, a part of the outer peripheral portion of the protrusions 11, 12, 13, 14, 15, 16 Or by grinding the outer peripheral end portion to form the end surfaces 11a, 12a, 13a, 14a, 15a, 16a as the cut surfaces or the ground surfaces, thereby forming the end surfaces 11a, 12a, 13a, 14a, 15a, 16a can be obtained.

また、後述する本実施形態に係る中継基板100の製造方法の一例において、基板ウエハーにおける素子チップを互いに繋いでいるタイバーを切断した残りとして突起11,12,13,14,15,16が形成され、その切断面が端面11a,12a,13a,14a,15a,16aとなる。従って、端面11a,12a,13a,14a,15a,16a部に対する電極膜除去工程を必要とせず、本実施形態に係る中継基板100をコストアップさせることなく得ることができる。   Further, in an example of a method for manufacturing the relay substrate 100 according to the present embodiment, which will be described later, the protrusions 11, 12, 13, 14, 15, 16 are formed as the remainder after cutting the tie bars connecting the element chips on the substrate wafer. The cut surfaces become end surfaces 11a, 12a, 13a, 14a, 15a, and 16a. Therefore, the electrode film removal process for the end faces 11a, 12a, 13a, 14a, 15a, and 16a is not required, and the relay substrate 100 according to the present embodiment can be obtained without increasing the cost.

なお、突起11,12,13,14,15,16の側面10cからの突出量は、突起11,12,13,14,15,16の突出量が多くなることで突起11,12,13,14,15,16の欠け等の破損が生じる虞があるため、更に実質的に基板10が大きくなるため、できるだけ少なくすることが好ましい。   In addition, the protrusion amount of the protrusions 11, 12, 13, 14, 15, 16 from the side surface 10c increases the protrusion amount of the protrusions 11, 12, 13, 14, 15, 16 so that the protrusions 11, 12, 13, Since damage such as chipping of 14, 15 and 16 may occur, the substrate 10 becomes substantially larger.

(第2実施形態)
第2実施形態として、上述した第1実施形態に係る中継基板100の製造方法の一例を説明する。図4は本実施形態に係る製造方法の工程を示すフローチャート、図5は製造工程を説明する部分断面図である。
(Second Embodiment)
As 2nd Embodiment, an example of the manufacturing method of the relay board | substrate 100 which concerns on 1st Embodiment mentioned above is demonstrated. FIG. 4 is a flowchart showing the steps of the manufacturing method according to this embodiment, and FIG. 5 is a partial sectional view for explaining the manufacturing steps.

〔ウエハー準備工程〕
中継基板チップを形成する原料としてのウエハーを準備する。ウエハーは電気的に絶縁性を有する材料、例えばガラス、シリコン、セラミックスなどを平板状に成形して得られる。本実施形態では、ガラスを材料とするウエハーを用い、ウエハー準備工程(S1)において、得られたウエハーの表面を所定の方法により洗浄し、表面の清浄化を行なう。
[Wafer preparation process]
A wafer is prepared as a raw material for forming the relay substrate chip. The wafer is obtained by molding an electrically insulating material such as glass, silicon, or ceramic into a flat plate shape. In the present embodiment, a wafer made of glass is used, and in the wafer preparation step (S1), the surface of the obtained wafer is cleaned by a predetermined method to clean the surface.

〔チップ成型工程〕
ウエハー準備工程(S1)により洗浄されたウエハー200は、図5(a)に示すように、ウエハー200の表面にスパッタリングにより耐食膜としての金属膜300を成膜する。成膜される金属膜300は、例えば、下地層にクロム(Cr)を成膜し、その上層に金(Au)を成膜して得られる。
[Chip molding process]
As shown in FIG. 5A, the wafer 200 cleaned in the wafer preparation step (S1) forms a metal film 300 as a corrosion resistant film on the surface of the wafer 200 by sputtering. The metal film 300 to be formed is obtained, for example, by depositing chromium (Cr) as a base layer and depositing gold (Au) as an upper layer.

次に、図5(b)に示すように金属膜300の表面全体にレジスト400が塗布される。塗布されたレジスト400は、図5(c)に示すように、フォトリソグラフィーにより、後述するチップ基板集合体の形状となるレジスト開口400aがレジスト400に形成される。次にレジスト開口400aから露出する金属膜300をエッチングにより除去し、金属膜開口300aが形成される。次に、図5(d)に示すように、金属膜開口300aの箇所から露出したウエハー200をエッチングした後、レジスト400、金属膜300を除去し、素子基板である外周側面10cが形成され、図6に示すように、ウエハー200には基板10の複数による集合体が形成され、チップウエハー210が得られる。   Next, a resist 400 is applied to the entire surface of the metal film 300 as shown in FIG. As shown in FIG. 5C, the applied resist 400 forms a resist opening 400a in a shape of a chip substrate assembly described later in the resist 400 by photolithography. Next, the metal film 300 exposed from the resist opening 400a is removed by etching to form the metal film opening 300a. Next, as shown in FIG. 5D, after etching the wafer 200 exposed from the location of the metal film opening 300a, the resist 400 and the metal film 300 are removed to form the outer peripheral side surface 10c as an element substrate. As shown in FIG. 6, an aggregate of a plurality of substrates 10 is formed on the wafer 200, and a chip wafer 210 is obtained.

図6(a)はチップウエハー210の概略平面図、図6(b)は図6(a)に示すA部の拡大外観斜視図である。図6(a)に示すように、チップウエハー210は上述した方法により、複数の基板10が、それぞれタイバー210bによって接続されて集合体を構成している。   6A is a schematic plan view of the chip wafer 210, and FIG. 6B is an enlarged external perspective view of a portion A shown in FIG. 6A. As shown in FIG. 6A, the chip wafer 210 has a plurality of substrates 10 connected by tie bars 210b by the above-described method to form an aggregate.

〔配線形成工程〕
チップ成形工程(S2)で得られたチップウエハー210の基板10部分に電極端子等の配線を形成する配線形成工程(S3)に移行する。配線形成工程(S3)では、まず図5(e)に示すように、チップウエハー210の全面に、電極配線となる電極膜310が成膜される。電極膜310としては、例えば金(Au)、チタン(Ti)、アルミニウム(Al)、銀(Ag)、ニッケル(Ni)、あるいはこれらの金属を積層した膜等が用いられ、スパッタリング法や蒸着法によって成膜される。
[Wiring formation process]
The process proceeds to a wiring forming step (S3) for forming wiring such as electrode terminals on the substrate 10 portion of the chip wafer 210 obtained in the chip forming step (S2). In the wiring formation step (S3), first, as shown in FIG. 5E, an electrode film 310 to be an electrode wiring is formed on the entire surface of the chip wafer 210. As the electrode film 310, for example, gold (Au), titanium (Ti), aluminum (Al), silver (Ag), nickel (Ni), or a film in which these metals are laminated, a sputtering method or a vapor deposition method is used. Is formed.

更に電極膜310の表面には、図5(f)に示すように、レジスト410が塗布され、フォトリソグラフィーによって、電極配線として形成しない部位の領域に対応するレジストを除去し、レジスト開口410aを形成する。そして、レジスト開口410aから露出する電極膜310をエッチングによって除去した後、レジスト410を除去することにより、図7に示す複数の中継基板100の集合体を有する基板ウエハー220が形成される。   Further, as shown in FIG. 5F, a resist 410 is applied to the surface of the electrode film 310, and the resist corresponding to the region not formed as the electrode wiring is removed by photolithography to form a resist opening 410a. To do. Then, after the electrode film 310 exposed from the resist opening 410a is removed by etching, the resist 410 is removed, thereby forming a substrate wafer 220 having an assembly of a plurality of relay substrates 100 shown in FIG.

図7(a)は、基板ウエハー220の基板10の主面10a側の外観斜視図であり、図7(b)は裏面側の外観斜視図である。   FIG. 7A is an external perspective view of the main surface 10a side of the substrate 10 of the substrate wafer 220, and FIG. 7B is an external perspective view of the back surface side.

上述した配線形成工程(S3)によって、基板ウエハー220には、図7(a),(b)に示すように各電極、各配線(図1、図2、あるいは図3参照)が形成された中継基板100がタイバー210bで接続された集合体として構成される。   By the wiring formation step (S3) described above, each electrode and each wiring (see FIG. 1, FIG. 2, or FIG. 3) are formed on the substrate wafer 220 as shown in FIGS. 7 (a) and 7 (b). The relay board 100 is configured as an assembly connected by tie bars 210b.

〔中継基板チップ取出し工程〕
配線形成工程(S3)によって得られた基板ウエハー220から、中継基板100を取出し、いわゆる個片化する中継基板取出し工程(S4)に移行される。中継基板取出し工程(S4)では、タイバー210bを切断して、中継基板100に個片化する。タイバー210bの切断方法に限定は無いが、一般的には切断砥石による研削切断、あるいはエッチングによる切断が挙げられるが、ここでは切断砥石による研削切断を例示する。
[Relay substrate chip removal process]
From the substrate wafer 220 obtained by the wiring formation step (S3), the relay substrate 100 is taken out, and the process proceeds to a so-called individual relay substrate take-out step (S4). In the relay board taking-out step (S4), the tie bar 210b is cut and separated into relay boards 100. Although there is no limitation in the cutting method of the tie bar 210b, generally the grinding cutting by a cutting grindstone or the cutting by an etching is mentioned, However, Here, the grinding cutting by a cutting grindstone is illustrated.

図8は、中継基板チップ取出し工程(S4)におけるタイバー210bの切断方法を示す、中継基板100の主面10a側からの外観斜視図である。ダイシングテープで保護された基板ウエハー220を、図8に示すように、基板ウエハー220のタイバー210bを切断するように図示しない円盤状の切断砥石を回転させてFc1,Fc2方向に移動させ、タイバー210bを研削、切断する。タイバー210bが切断されることにより個片化された中継基板100を得ることができる。そして、わずかに残留したタイバー210bの一部が中継基板100の突起11,12,13,14,15,16として構成され、切断面は突起11,12,13,14,15,16の外周の端面11a,12a,13a,14a,15a,16aとして構成される。   FIG. 8 is an external perspective view from the main surface 10a side of the relay board 100, showing a method of cutting the tie bar 210b in the relay board chip taking-out step (S4). As shown in FIG. 8, the substrate wafer 220 protected by the dicing tape is moved in the direction of Fc1 and Fc2 by rotating a disc-shaped cutting grindstone (not shown) so as to cut the tie bar 210b of the substrate wafer 220. Grind and cut. By cutting the tie bar 210b, it is possible to obtain the separated relay substrate 100. A part of the slightly remaining tie bar 210b is configured as the protrusions 11, 12, 13, 14, 15, 16 of the relay substrate 100, and the cut surface is the outer periphery of the protrusions 11, 12, 13, 14, 15, 16 It is comprised as end surface 11a, 12a, 13a, 14a, 15a, 16a.

従って、切断面でもある端面11a,12a,13a,14a,15a,16aは、基板10の素材面が露出することとなり、電気的な接続は絶縁される領域となる。すなわち図2もしくは図3で示した、基板10の外周側面10cに形成される側面導電層41,42,43,45,46は、上述した製造方法、すなわち中継基板チップ取出し工程(S4)のタイバー210b切断によって、容易に突起11,12,13,14,15,16の端面11a,12a,13a,14a,15a,16aとの電気的な絶縁性を確保することができる。   Therefore, the end surfaces 11a, 12a, 13a, 14a, 15a, and 16a, which are also cut surfaces, expose the material surface of the substrate 10, and are electrically insulated regions. That is, the side surface conductive layers 41, 42, 43, 45, and 46 formed on the outer peripheral side surface 10c of the substrate 10 shown in FIG. 2 or 3 are the tie bars in the manufacturing method described above, that is, the relay substrate chip extraction step (S4). The electrical insulation with the end surfaces 11a, 12a, 13a, 14a, 15a, 16a of the protrusions 11, 12, 13, 14, 15, 16 can be easily secured by cutting 210b.

(第3実施形態)
図9、および図10は、上述した実施形態に係る角速度センサー素子110を搭載した中継基板100を備える電子デバイスとしてのセンサーデバイスの一例として角速度センサーを示し、図9は蓋部を省略した平面図、図10は図9に示すB−B´部の断面図である。図9、図10に示すように、パッケージ1100にICチップ1200と、角速度センサー素子110が搭載された中継基板100と、が収納され、角速度センサー1000が構成される。パッケージ1100は、凹部1110aを有するベース1110と、ベース1110の凹部1110aの開口に蓋体1120を接合し、ICチップ1200と角速度センサー素子110が搭載された中継基板100とが収納される凹部1110aを気密封止する。
(Third embodiment)
9 and 10 show an angular velocity sensor as an example of a sensor device as an electronic device including the relay substrate 100 on which the angular velocity sensor element 110 according to the above-described embodiment is mounted, and FIG. 9 is a plan view in which a lid portion is omitted. 10 is a cross-sectional view taken along the line BB ′ shown in FIG. As shown in FIGS. 9 and 10, an IC chip 1200 and a relay substrate 100 on which the angular velocity sensor element 110 is mounted are housed in a package 1100, and an angular velocity sensor 1000 is configured. The package 1100 has a base 1110 having a recess 1110a and a recess 1110a in which the lid body 1120 is joined to the opening of the recess 1110a of the base 1110, and the relay substrate 100 on which the IC chip 1200 and the angular velocity sensor element 110 are mounted is housed. Seal hermetically.

ICチップ1200は、角速度センサー素子110の振動腕を励振駆動させる駆動回路と、検出腕からの出力信号を検出する検出回路と、を少なくとも備えている。なお、ICチップ1200は本形態に係る角速度センサー1000では、パッケージ1100の内部に収納された形態を説明するが、これに限定されず、パッケージ1100の外部、例えば回路基板などにICチップ1200が配置されてもよい。   The IC chip 1200 includes at least a drive circuit for exciting and driving the vibrating arm of the angular velocity sensor element 110 and a detection circuit for detecting an output signal from the detection arm. In the angular velocity sensor 1000 according to this embodiment, the IC chip 1200 is described as being housed inside the package 1100. However, the present invention is not limited to this, and the IC chip 1200 is disposed outside the package 1100, for example, on a circuit board. May be.

ICチップ1200には複数の接続端子1200aが設けられており、ベース1110の凹部1110aの底面部1110bに設けられた複数のIC内部端子1130に、ボンディングワイヤー1300によって電気的に接続されている。また、ICチップ1200は、ベース1110の底面部1110bに、例えばエポキシ樹脂系、あるいはアクリル樹脂系など接着剤を含む接合部材1400により接合されている。   The IC chip 1200 is provided with a plurality of connection terminals 1200 a and is electrically connected to the plurality of IC internal terminals 1130 provided on the bottom surface portion 1110 b of the recess 1110 a of the base 1110 by bonding wires 1300. Further, the IC chip 1200 is bonded to the bottom surface portion 1110b of the base 1110 by a bonding member 1400 including an adhesive such as an epoxy resin type or an acrylic resin type.

角速度センサー素子110は、図10に示すように、角速度センサー素子110に備える駆動用電極と(図示せず)、図9に示す中継基板100に備える素子接続端子21,22,23,24と、が導電性固定部材1500によって電気的に接続される。同様に、検出用電極(図示せず)と、中継基板100に備える素子接続端子25a,25b,26a,26b,27a,27b,28a,28bと、が、それぞれ導電性固定部材1500によって電気的に接続され、導電性固定部材1500を介して中継基板100に角速度センサー素子110が固定される。   As shown in FIG. 10, the angular velocity sensor element 110 includes a drive electrode (not shown) provided in the angular velocity sensor element 110, element connection terminals 21, 22, 23, and 24 provided in the relay substrate 100 shown in FIG. Are electrically connected by the conductive fixing member 1500. Similarly, the detection electrode (not shown) and the element connection terminals 25 a, 25 b, 26 a, 26 b, 27 a, 27 b, 28 a, and 28 b provided on the relay substrate 100 are electrically connected by the conductive fixing member 1500, respectively. The angular velocity sensor element 110 is connected and connected to the relay substrate 100 via the conductive fixing member 1500.

そして、角速度センサー素子110が固定された中継基板100は、中継基板100の裏面10bに形成された裏面接続端子51,52,53,54,55,56が、ベース1110の底面部1110bに形成された中継基板接続端子1610,1620,1630,1640,1650,1660に導電性固定部材1700によって、それぞれ電気的に接続され、ベース1110に固定される。ベース1110には中継基板接続端子1610,1620,1630,1640,1650,1660と、IC内部端子1130と、をそれぞれ接続する図示しない内部配線が含まれ、電気的な接続がされている。   In the relay substrate 100 to which the angular velocity sensor element 110 is fixed, the back surface connection terminals 51, 52, 53, 54, 55 and 56 formed on the back surface 10 b of the relay substrate 100 are formed on the bottom surface portion 1110 b of the base 1110. The relay board connection terminals 1610, 1620, 1630, 1640, 1650, and 1660 are electrically connected to each other by the conductive fixing member 1700 and fixed to the base 1110. The base 1110 includes internal wirings (not shown) that connect the relay board connection terminals 1610, 1620, 1630, 1640, 1650, 1660 and the IC internal terminals 1130, respectively, and are electrically connected.

中継基板100の裏面接続端子51,52,53,54,55,56は、上述したように側面導電層41,42,43,44,45,46を介して主面接続端子31,32,33,34,35,36と、それぞれ電気的に接続している。そして、主面接続端子31,32,33,34,35,36は引回し配線20a,20b,20c,20d,20e,20fを介して素子接続端子21,22,23,24,25a,25b,26a,26b,27a,27b,28a,28bと電気的に接続されている(図1参照)ことから、素子接続端子21,22,23,24,25a,25b,26a,26b,27a,27b,28a,28bに接続される角速度センサー素子110の駆動用電極および検出用電極は、ICチップ1200と電気的な接続がなされ、角速度センサー素子110を駆動動作および検出動作させる角速度センサー1000が得られる。   As described above, the back surface connection terminals 51, 52, 53, 54, 55, and 56 of the relay substrate 100 are connected to the main surface connection terminals 31, 32, and 33 via the side surface conductive layers 41, 42, 43, 44, 45, and 46, respectively. , 34, 35 and 36 are electrically connected to each other. The main surface connection terminals 31, 32, 33, 34, 35, and 36 are connected to the element connection terminals 21, 22, 23, 24, 25a, 25b, and the like through the routing wires 20a, 20b, 20c, 20d, 20e, and 20f. 26a, 26b, 27a, 27b, 28a, 28b (see FIG. 1), the element connection terminals 21, 22, 23, 24, 25a, 25b, 26a, 26b, 27a, 27b, The driving electrode and the detection electrode of the angular velocity sensor element 110 connected to 28a and 28b are electrically connected to the IC chip 1200, and the angular velocity sensor 1000 for driving and detecting the angular velocity sensor element 110 is obtained.

第3実施形態に係る角速度センサー1000のその他の形態として、図11に角速度センサー2000を示す。角速度センサー2000は、角速度センサー1000に対して、2個の第1センサー素子120および第2センサー素子130を中継基板500に搭載している点で異なる。従って、角速度センサー1000と同じ構成要素には同じ符号を付し、説明は省略する。   As another form of the angular velocity sensor 1000 according to the third embodiment, an angular velocity sensor 2000 is shown in FIG. The angular velocity sensor 2000 is different from the angular velocity sensor 1000 in that two first sensor elements 120 and second sensor elements 130 are mounted on the relay substrate 500. Accordingly, the same components as those of the angular velocity sensor 1000 are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted.

図11に示すように、角速度センサー2000は第1センサー素子120と第2センサー素子130と、が搭載されている。本例では第1センサー素子120と第2センサー素子130と、を互いに交差する搭載方向を有している。   As shown in FIG. 11, the angular velocity sensor 2000 includes a first sensor element 120 and a second sensor element 130. In this example, the first sensor element 120 and the second sensor element 130 have mounting directions that intersect each other.

このように、例えば複数の素子を中継基板500に搭載させることにより、角速度センサー素子120,130と、角速度センサー1000に備える中継基板100と同様に配置される主面接続端子31,32,33,34,35,36と、の間を引回し配線にて電気的に接続することにより、角速度センサー1000にて用いられたパッケージ1100を共通に使用することが可能になる。   As described above, for example, by mounting a plurality of elements on the relay substrate 500, the main surface connection terminals 31, 32, 33, and the angular velocity sensor elements 120, 130 and the relay substrate 100 provided in the angular velocity sensor 1000 are arranged. It is possible to use the package 1100 used in the angular velocity sensor 1000 in common by routing the wires 34, 35, and 36 and electrically connecting them with wiring.

すなわち、角速度センサー素子120,130と電気的に接続された主面接続端子31,32,33,34,35,36は、上述したように裏面接続端子51,52,53,54,55,56と電気的に接続される。そして、裏面接続端子51,52,53,54,55,56は、角速度センサー1000で用いたパッケージ1100のベース1110に備える中継基板接続端子1610,1620,1630,1640,1650,1660に電気的に接続さることができる。   That is, the main surface connection terminals 31, 32, 33, 34, 35, and 36 electrically connected to the angular velocity sensor elements 120 and 130 are connected to the back surface connection terminals 51, 52, 53, 54, 55, and 56 as described above. And electrically connected. The back surface connection terminals 51, 52, 53, 54, 55, and 56 are electrically connected to the relay board connection terminals 1610, 1620, 1630, 1640, 1650, and 1660 included in the base 1110 of the package 1100 used in the angular velocity sensor 1000. Can be connected.

本例に示したように、パッケージ1100のベース1110に形成された中継基板接続端子1610,1620,1630,1640,1650,1660に接続可能に配置される裏面接続端子51,52,53,54,55,56を備える中継基板100あるいは中継基板500を用いることにより、パッケージ1100の共通化、いわゆる標準化を図ることができ、角速度センサー1000,2000等の電子デバイスのコストアップを抑制することができる。   As shown in this example, the back surface connection terminals 51, 52, 53, 54, which are arranged so as to be connectable to the relay board connection terminals 1610, 1620, 1630, 1640, 1650, 1660 formed on the base 1110 of the package 1100. By using the relay substrate 100 or the relay substrate 500 including 55 and 56, the package 1100 can be made common, so-called standardization, and the cost increase of the electronic devices such as the angular velocity sensors 1000 and 2000 can be suppressed.

第3実施形態に係る角速度センサー2000では、いわゆるダブルT型と言われる角速度センサー素子120,130を備える形態を説明したが、これに限定されない。例えば、角速度センサー素子のその他の形態として、基部から平行して延出される2本の振動腕を備える、いわゆる音叉型の角速度センサー素子を備えてもよい。   Although the angular velocity sensor 2000 according to the third embodiment has been described as including the angular velocity sensor elements 120 and 130 that are so-called double T-types, the present invention is not limited to this. For example, as another form of the angular velocity sensor element, a so-called tuning-fork type angular velocity sensor element including two vibrating arms extending in parallel from the base may be provided.

(第4実施形態)
第4実施形態に係る電子機器として、角速度センサー素子110が搭載された第1実施形態に係る中継基板100を用いた、第3実施形態に示す電子デバイスとしての角速度センサー1000を備えるスマートフォンおよびデジタルスチルカメラについて説明する。なお、本実施形態では角速度センサー1000を例示して説明するが、角速度センサー素子110が搭載された第1実施形態に係る中継基板100が組み込まれた電子回路基板を備える形態のスマートフォンおよびデジタルスチルカメラであってもよい。
(Fourth embodiment)
As an electronic device according to the fourth embodiment, a smart phone and a digital still including the angular velocity sensor 1000 as an electronic device according to the third embodiment using the relay substrate 100 according to the first embodiment on which the angular velocity sensor element 110 is mounted. The camera will be described. In this embodiment, the angular velocity sensor 1000 will be described as an example. However, a smartphone and a digital still camera having an electronic circuit board in which the relay substrate 100 according to the first embodiment on which the angular velocity sensor element 110 is mounted are provided. It may be.

図12はスマートフォン3000を示す外観図である。スマートフォン3000には、スマートフォン3000の姿勢を検出する角速度センサー1000が組み込まれている。角速度センサー1000が組み込まれることにより、いわゆるモーションセンシングが実施され、スマートフォン3000の姿勢を検出することができる。角速度センサー1000の検出信号は、例えばマイクロコンピューターチップ3100(以下、MPU3100という)に供給され、MPU3100はモーションセンシングに応じてさまざまな処理を実行することができる。その他、モーションセンシングは、携帯電話機、携帯型ゲーム機、ゲームコントローラー、カーナビゲーションシステム、ポインティングシステム、ヘッドマウンティングディスプレイ、タブレットパソコンなどの電子機器でセンサーデバイスとしての角速度センサー1000を組み込むことにより、利用することができる。   FIG. 12 is an external view showing the smartphone 3000. The smartphone 3000 incorporates an angular velocity sensor 1000 that detects the attitude of the smartphone 3000. By incorporating the angular velocity sensor 1000, so-called motion sensing is performed, and the posture of the smartphone 3000 can be detected. The detection signal of the angular velocity sensor 1000 is supplied to, for example, a microcomputer chip 3100 (hereinafter referred to as MPU 3100), and the MPU 3100 can execute various processes according to motion sensing. In addition, motion sensing can be used by incorporating the angular velocity sensor 1000 as a sensor device in electronic devices such as mobile phones, portable game machines, game controllers, car navigation systems, pointing systems, head mounting displays, and tablet computers. Can do.

図13はデジタルスチルカメラ4000(以下、カメラ4000という)を示す外観図である。カメラ4000には、カメラ4000の姿勢を検出する角速度センサー1000が組み込まれている。組み込まれた角速度センサー1000の検出信号は手ぶれ補正装置4100に供給される。手ぶれ補正装置4100は角速度センサー1000の検出信号に応じて、例えばレンズセット4200内の特定のレンズを移動させ、手ぶれによる画像不良を抑制することができる。また、デジタルビデオカメラへ角速度センサー1000および手ぶれ補正装置4100を組み込むことによりカメラ4000と同様に手ぶれの補正をすることができる。   FIG. 13 is an external view showing a digital still camera 4000 (hereinafter referred to as camera 4000). An angular velocity sensor 1000 that detects the posture of the camera 4000 is incorporated in the camera 4000. The detection signal of the incorporated angular velocity sensor 1000 is supplied to the camera shake correction device 4100. The camera shake correction device 4100 can move, for example, a specific lens in the lens set 4200 in accordance with the detection signal of the angular velocity sensor 1000 to suppress image defects due to camera shake. Further, camera shake can be corrected in the same manner as the camera 4000 by incorporating the angular velocity sensor 1000 and the camera shake correction device 4100 into the digital video camera.

(第5実施形態)
角速度センサー素子110が搭載された第1実施形態に係る中継基板100を用いた第3実施形態に示す角速度センサー1000を備える第5実施形態としての移動体の具体例として、自動車について説明する。図14は、第5実施形態に係る自動車5000の外観図である。図14に示すように、自動車5000には角速度センサー1000が組み込まれている。角速度センサー1000は車体5100の姿勢を検出する。角速度センサー1000の検出信号は車体姿勢制御装置5200に供給される。車体姿勢制御装置5200は供給された信号に基づき車体5100の姿勢状態を演算し、例えば車体5100の姿勢に応じた緩衝装置(いわゆるサスペンション)の硬軟を制御したり、個々の車輪5300の制動力を制御したりすることができる。このような角速度センサー1000を用いた姿勢制御は、二足歩行ロボット、航空機、あるいはラジコンヘリコプターなどの玩具に利用することができる。
(Fifth embodiment)
An automobile will be described as a specific example of the moving body as the fifth embodiment including the angular velocity sensor 1000 shown in the third embodiment using the relay substrate 100 according to the first embodiment on which the angular velocity sensor element 110 is mounted. FIG. 14 is an external view of an automobile 5000 according to the fifth embodiment. As shown in FIG. 14, an angular velocity sensor 1000 is incorporated in the automobile 5000. Angular velocity sensor 1000 detects the posture of vehicle body 5100. The detection signal of the angular velocity sensor 1000 is supplied to the vehicle body attitude control device 5200. The vehicle body attitude control device 5200 calculates the attitude state of the vehicle body 5100 based on the supplied signal, and controls, for example, the hardness of the shock absorber (so-called suspension) according to the attitude of the vehicle body 5100 or the braking force of each wheel 5300. And can be controlled. Such posture control using the angular velocity sensor 1000 can be used for a toy such as a biped robot, an aircraft, or a radio controlled helicopter.

本発明においては、角速度センサー素子に限定されるものではなく、加速度検出を備えている加速度センサー、圧力検出機能を備えている圧力センサー、重量検出機能を備えている重量センサーや、これらのセンサーが複合した複合センサー、発振器や周波数フィルターなどに搭載されている振動子などであってもよい。   The present invention is not limited to the angular velocity sensor element, but includes an acceleration sensor having acceleration detection, a pressure sensor having a pressure detection function, a weight sensor having a weight detection function, and these sensors. A composite sensor, a vibrator mounted on an oscillator, a frequency filter, or the like may be used.

10…基板、11,12,13,14,15,16…突起、21,22,23,24,25a,25b,26a,26b,27a,27b,28a,28b…素子接続端子、31,32,33,34,35,36…主面接続端子、41,42,43,44,45,46…側面導電層、51,52,53,54,55,56…裏面接続端子、100…中継基板。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Board | substrate, 11, 12, 13, 14, 15, 16 ... Projection, 21, 22, 23, 24, 25a, 25b, 26a, 26b, 27a, 27b, 28a, 28b ... Element connection terminal, 31, 32, 33, 34, 35, 36 ... main surface connection terminals, 41, 42, 43, 44, 45, 46 ... side conductive layers, 51, 52, 53, 54, 55, 56 ... back connection terminals, 100 ... relay board.

Claims (9)

電気的な絶縁性を有する基板の一方の主面に、素子を実装する素子接続端子と、前記主面の裏面に外部接続端子と、前記主面に前記素子接続端子から延設されている主面配線と、を備え、
前記基板の側面には、絶縁面を複数備え、
少なくとも前記絶縁面を除き、前記基板の側面には側面導電層が設けられ、
前記外部接続端子と、前記主面配線と、が、前記側面導電層と電気的に接続されている、
ことを特徴とする中継基板。
An element connection terminal for mounting an element on one main surface of the substrate having electrical insulation, an external connection terminal on the back surface of the main surface, and a main surface extending from the element connection terminal on the main surface Surface wiring, and
A side surface of the substrate includes a plurality of insulating surfaces,
Except at least the insulating surface, a side surface conductive layer is provided on the side surface of the substrate,
The external connection terminal and the main surface wiring are electrically connected to the side surface conductive layer,
A relay board characterized by that.
前記基板の側面には、前記主面に沿って突出している突起部を備え、
前記突起部の外端面には、前記絶縁面が設けられている、
ことを特徴とする請求項1に中継基板。
The side surface of the substrate includes a protrusion protruding along the main surface,
The insulating surface is provided on the outer end surface of the protrusion.
The relay board according to claim 1.
前記突起部の前記外端面は、前記基板の切断面を含んでいる、
ことを特徴とする請求項2に記載の中継基板。
The outer end surface of the protrusion includes a cut surface of the substrate;
The relay board according to claim 2.
前記切断面は、前記基板を複数備えるウエハー基板から前記基板が切断された切断面である、
ことを特徴とする請求項3に記載の中継基板。
The cut surface is a cut surface obtained by cutting the substrate from a wafer substrate including a plurality of the substrates.
The relay board according to claim 3.
電気的な絶縁性を有するウエハー基板を準備する、ウエハー準備工程と、
前記ウエハーに接続した複数の接続部により保持される中継基板チップを前記ウエハーに複数形成する、チップ成型工程と、
少なくとも、前記中継基板チップの一方の主面に、素子を実装する素子接続端子と、前記素子接続端子から延設される主面配線と、前記主面の裏面に、外部接続端子と、を形成する、配線形成工程と、
前記接続部を切断して前記中継基板チップを個片化する中継基板チップ取出し工程と、を含み、
前記配線形成工程において、少なくとも前記接続部の主面に交差する面を含む前記中継基板チップの側面に側面導電層が形成される、
ことを特徴とする中継基板の製造方法。
Preparing a wafer substrate having electrical insulation, a wafer preparation step,
Forming a plurality of relay substrate chips held by a plurality of connecting portions connected to the wafer on the wafer;
Forming at least an element connection terminal for mounting an element on one main surface of the relay substrate chip, a main surface wiring extending from the element connection terminal, and an external connection terminal on the back surface of the main surface A wiring formation process;
Cutting the connection part to separate the relay board chip into pieces,
In the wiring formation step, a side surface conductive layer is formed on a side surface of the relay substrate chip including at least a surface intersecting a main surface of the connection portion.
A method for manufacturing a relay board, wherein
電気的な絶縁性を有する基板の一方の主面に、素子を実装する素子接続端子と、前記主面の裏面に外部接続端子と、前記主面に前記素子接続端子から延設されている主面配線と、を備え、
前記基板の側面には、前記主面に沿って突出している突起部を複数備え、
前記突起部の少なくとも外端面を除く前記主面に交差する前記側面には側面導電層が設けられ、
前記素子接続端子に電気的に接続されている前記素子と、
前記外部接続端子に電気的に接続されている回路素子と、を含む、
ことを特徴とする電子デバイス。
An element connection terminal for mounting an element on one main surface of the substrate having electrical insulation, an external connection terminal on the back surface of the main surface, and a main surface extending from the element connection terminal on the main surface Surface wiring, and
The side surface of the substrate includes a plurality of protrusions protruding along the main surface,
A side surface conductive layer is provided on the side surface intersecting the main surface excluding at least the outer end surface of the protrusion,
The element electrically connected to the element connection terminal;
A circuit element electrically connected to the external connection terminal,
An electronic device characterized by that.
前記素子がセンサー素子であることを特徴とする請求項6に記載の電子デバイス。   The electronic device according to claim 6, wherein the element is a sensor element. 請求項1ないし4のいずれか一項に記載の中継基板を備えていることを特徴とする電子機器。   An electronic apparatus comprising the relay substrate according to claim 1. 請求項1ないし4のいずれか一項に記載の中継基板を備えていることを特徴とする移動体。   A moving body comprising the relay substrate according to any one of claims 1 to 4.
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