JP2015104755A - レーザ加工装置及びレーザ加工方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】レーザビームを用いて加工を行うレーザ加工装置において、レーザビームをモニタするためのビームスプリッタを省略し、装置のコストを抑えることを目的とする。【解決手段】レーザビームを発生するレーザ発振手段と、当該レーザ発振手段から出力されたレーザビームを受光し当該レーザビームを加工に用いる方向に分岐させるか否かを行う音響光学変調器と、当該音響光学変調器から分岐されて出力される主回折光の副回折光を検出する検出器とを備え、当該検出器によりレーザビームをモニタすることを特徴とする。【選択図】図1

Description

本発明は、レーザビームを用いてプリント基板のような被加工物に穴明け等を行うためのレーザ加工装置及びレーザ加工方法に関するものである。
レーザ加工装置において、レーザ発振器からのレーザビームの一部を反射するビームスプリッタと、ビームスプリッタで反射されたレーザビームを検出する検出器を設け、当該検出器で、レーザ発振器から正しくレーザビームが出力されたかどうかをモニタできるようにしたものが知られている。特許文献1に開示されたものは、その例である。
上記の如きレーザ加工装置においては、レーザビームをモニタするために、わざわざビームスプリッタを設ける必要があり、またこの部分でのエネルギー損出が生じる欠点があった。
特開昭61-95793号公報
そこで本発明は、レーザビームを用いて加工を行うレーザ加工装置及びレーザ加工方法において、レーザビームをモニタするためのビームスプリッタを省略し、この部分でのエネルギー損出をなくすことを目的とするものである。
上記課題を解決するため、請求項1に記載の加工装置においては、レーザビームを用いて加工を行うレーザ加工装置において、レーザビームを発生するレーザ発振手段と、当該レーザ発振手段から出力されたレーザビームを受光し当該レーザビームを加工に用いる方向に分岐させるか否かを行う音響光学変調器と、当該音響光学変調器から分岐されて出力される主回折光の副回折光を検出する検出器とを備え、当該検出器によりレーザビームをモニタすることを特徴とする。
また請求項2に記載の加工装置においては、請求項1に記載のレーザ加工装置において、前記音響光学変調器は時分割で複数の主回折光を出力し、前記検出器は前記主回折光の各々の副回折光を検出することを特徴とするレーザ加工装置。
また請求項3に記載の加工装置においては、請求項1又は2のいずれかに記載のレーザ加工装置において、前記検出器は前記音響光学変調器から出力される副回折光のなかの一次光を検出することを特徴とする。
また請求項4に記載の加工方法においては、レーザビームを用いて加工を行うレーザ加工方法において、レーザビームを発生するレーザ発振手段から出力されたレーザビームを音響光学変調器で受光して当該音響光学変調器から分岐されて出力される主回折光を加工に用い、当該音響光学変調器から出力される前記主回折光の副回折光を検出してレーザビームをモニタすることを特徴とする。
また請求項5に記載の加工方法においては、請求項4に記載のレーザ加工方法において、前記音響光学変調器に時分割で複数の主回折光を出力させ、前記検出する副回折光は、前記主回折光の各々の副回折光であることを特徴とする。
また請求項6に記載の加工方法においては、請求項4又は5のいずれかに記載のレーザ加工方法において、前記検出する副回折光は、前記音響光学変調器から出力される副回折光のなかの一次光であることを特徴とする。
本発明によれば、レーザ加工装置及びレーザ加工方法において、レーザビームをモニタするためのビームスプリッタを省略し、この部分でのエネルギー損出をなくすことが可能となる。
本発明の一実施例を説明するためのブロック図である。 図1における音響光学変調器(AOM)の入力光と出力光を説明するための図である。
以下、本発明の一実施例について説明する。
図1は、本発明の一実施例を説明するためのブロック図である。図1において、1はレーザビームL1を発生するレーザ発振器、2はレーザ発振器1から出力されたレーザビームL1の分岐方向の制御を行うことができる音響光学変調器(以下AOMと略す)、3はAOM2にAOM制御信号S2を出力してその動作を制御するAOM制御部、4はAOM2から加工方向に分岐された主回折光であるレーザビームL2をプリント基板の如き被加工物5に照射する光学系である。
図2は、図1におけるAOM2の入力光と出力光を説明するための図である。
AOM2は、AOM制御信号S2が与えられない時、レーザ発振器1からのレーザビームL1が分岐しない0次光であるレーザビームL3として出力する(オフ状態)。また、AOM制御信号S2が与えられた時、レーザビームL1の主回折光である加工用のレーザビームL2とレーザビームL1の一次副回折光であるレーザビームL4を同時に出力する(オン状態)。
図1に戻って、6はAOM2から出力されたレーザビームL3のエネルギーを吸収するダンパ、7はAOM2から出力されたレーザビームL4を検出する検出器である。検出器7により、レーザ発振器1から正しくレーザビームが出力されたかどうかをモニタする。
以上の実施例によれば、ビームスプリッタを設けなくても、検出器7により、レーザ発振器1から正しくレーザビームが出力されたかどうかをモニタすることができる。さらには、モニタするためにレーザビームがビームスプリッタを経由しないので、モニタするためにエネルギー損出を生じることもなくすことができる。
また、レーザビームがAOM2に入力されても、AOM2の動作不良により、AOMから正しくレーザビームが出力されない場合がある。これを検出するためには特別な工夫をしなければならないが、以上の実施例によれば、AOM2から正しくレーザビームが出力されたかどうかもモニタすることができる。
なお、以上の実施例においては、AOM2の一つの主回折光を一つの光学系4に出力させるものであるが、AOM制御部3によりAOM2に時分割で複数の主回折光を出力させれば、それぞれを別々の光学系に与えることにより、複数の被加工物を時分割で加工することができる。この場合においては、それぞれの主回折光と同時に出力される副回折光をそれぞれ検出する検出器を設ければ良い。このための検出器は、副回折光毎に設けても良いし、複数の副回折光をレンズ等で集約して検出するようにして検出器の数を少なくしても良い。
また、以上の実施例においては、検出器7は、AOM2の副回折光のなかで光強度の大きい一次副回折光を検出している。AOM2の副回折光としては、一次副回折光以外にも、二次副回折光(図2において、L5)や三次副回折光等も出力されるので、それらの副回折光を検出するものでも良い。
1:レーザ発振器
2:AOM
3:AOM制御部
4:光学系
5:被加工物
7:検出器

Claims (6)

  1. レーザビームを用いて加工を行うレーザ加工装置において、レーザビームを発生するレーザ発振手段と、当該レーザ発振手段から出力されたレーザビームを受光し当該レーザビームを加工に用いる方向に分岐させるか否かを行う音響光学変調器と、当該音響光学変調器から分岐されて出力される主回折光の副回折光を検出する検出器とを備え、当該検出器によりレーザビームをモニタすることを特徴とするレーザ加工装置。
  2. 請求項1に記載のレーザ加工装置において、前記音響光学変調器は時分割で複数の主回折光を出力し、前記検出器は前記複数の主回折光の各々の副回折光を検出することを特徴とするレーザ加工装置。
  3. 請求項1又は2のいずれかに記載のレーザ加工装置において、前記検出器は前記音響光学変調器から出力される副回折光のなかの一次光を検出することを特徴とするレーザ加工装置。
  4. レーザビームを用いて加工を行うレーザ加工方法において、レーザビームを発生するレーザ発振手段から出力されたレーザビームを音響光学変調器で受光して当該音響光学変調器から分岐されて出力される主回折光を加工に用い、当該音響光学変調器から出力される前記主回折光の副回折光を検出してレーザビームをモニタすることを特徴とするレーザ加工方法。
  5. 請求項4に記載のレーザ加工方法において、前記音響光学変調器に時分割で複数の主回折光を出力させ、前記検出する副回折光は、前記主回折光の各々の副回折光であることを特徴とするレーザ加工方法。
  6. 請求項4又は5のいずれかに記載のレーザ加工方法において、前記検出する副回折光は、前記音響光学変調器から出力される副回折光のなかの一次光であることを特徴とするレーザ加工方法。



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