JP2015098640A - Plating device - Google Patents
Plating device Download PDFInfo
- Publication number
- JP2015098640A JP2015098640A JP2014004973A JP2014004973A JP2015098640A JP 2015098640 A JP2015098640 A JP 2015098640A JP 2014004973 A JP2014004973 A JP 2014004973A JP 2014004973 A JP2014004973 A JP 2014004973A JP 2015098640 A JP2015098640 A JP 2015098640A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- plated
- plating
- anode
- plating apparatus
- present
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
- C25D—PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
- C25D17/00—Constructional parts, or assemblies thereof, of cells for electrolytic coating
- C25D17/10—Electrodes, e.g. composition, counter electrode
- C25D17/12—Shape or form
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
- C25D—PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
- C25D21/00—Processes for servicing or operating cells for electrolytic coating
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
- C25D—PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
- C25D21/00—Processes for servicing or operating cells for electrolytic coating
- C25D21/12—Process control or regulation
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/10—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
- H05K3/18—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using precipitation techniques to apply the conductive material
- H05K3/188—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using precipitation techniques to apply the conductive material by direct electroplating
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Electroplating Methods And Accessories (AREA)
- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
Abstract
Description
本発明は、メッキ装置に関する。 The present invention relates to a plating apparatus.
近年、印刷回路基板は、携帯電話、半導体、情報通信などの核心部品として使用されることになり、これに関連する技術がますます重要となっている。特に、半導体IC移動通信部品の小型化、高速化、高密度化、高性能化、電磁波遮蔽などに対する信頼性向上とともに印刷回路基板における均一なメッキの必要性が強調されている。 In recent years, printed circuit boards have been used as core parts for mobile phones, semiconductors, information communications, etc., and related technologies have become increasingly important. In particular, the need for uniform plating on a printed circuit board is emphasized as well as the reliability improvement of semiconductor IC mobile communication components for miniaturization, high speed, high density, high performance, electromagnetic shielding and the like.
このような印刷回路基板の均一なメッキは、微細回路のメッキ膜を薄くし、かつ均一化することにより高性能化することができるとともに、配線のプロファイルを低減させて電子機器の雑音も低減することができる。また、メッキ厚さの均一化は、過剰なメッキを防止するので、製造コストの低減効果をもたらすことができる。 Such uniform plating of the printed circuit board can improve the performance by thinning and uniforming the plating film of the fine circuit, and also reduces the noise of the electronic equipment by reducing the wiring profile. be able to. Further, the uniform plating thickness prevents excessive plating, and therefore can bring about an effect of reducing manufacturing costs.
しかし、回路の複雑な形態、電解槽及び電極の形態などの幾何学的要素や、溶液及び添加物の特性、電気化学反応の速度に関連する分極と電圧、反応イオンの濃度分布など、メッキ時に複合的に作用する各種因子のために、均一な電流分布を得にくく、これにより、メッキ厚さの偏差を効果的に改善することが困難であった。 However, during plating, geometrical elements such as complex circuit configurations, electrolytic cell and electrode configurations, characteristics of solutions and additives, polarization and voltage related to the rate of electrochemical reactions, concentration distribution of reactive ions, etc. Due to various factors acting in a complex manner, it is difficult to obtain a uniform current distribution, which makes it difficult to effectively improve the plating thickness deviation.
本発明の目的は、被メッキ体のメッキ厚さの偏差をより最小化できるメッキ装置を提供することにある。 An object of the present invention is to provide a plating apparatus capable of further minimizing the deviation of the plating thickness of the object to be plated.
本発明の一側面によれば、被メッキ体を収容するメッキ槽と、メッキ槽内に複数の横と縦に分割して設けられ、それぞれ独立に電流が供給される複数の陽極部とを含み、それぞれの陽極部は、全部または一部が円形状に形成されることを特徴とするメッキ装置が提供される。 According to one aspect of the present invention, a plating tank that accommodates an object to be plated, and a plurality of anode portions that are provided in the plating tank and are divided into a plurality of horizontal and vertical portions and supplied with current independently. In addition, a plating apparatus is provided in which each anode part is formed in a circular shape in whole or in part.
ここで、複数の陽極部のうち、外郭部に配置される陽極部は、中心角が180°の扇状に形成可能であり、複数の陽極部のうち、コーナー部に配置される陽極部は、中心角が90°の扇状に形成可能である。 Here, among the plurality of anode parts, the anode part arranged at the outer part can be formed in a fan shape with a central angle of 180 °, and among the plurality of anode parts, the anode part arranged at the corner part is It can be formed in a fan shape with a central angle of 90 °.
それぞれの陽極部は、供給される電流量を調整することが可能である。 Each anode part can adjust the amount of current supplied.
それぞれの陽極部は、被メッキ体との距離及び被メッキ体に対する角度のうち、少なくとも1つを互いに独立して調整可能である。 Each anode part can adjust at least one of the distance to the object to be plated and the angle to the object to be plated independently of each other.
そして、陽極部は、被メッキ体を基準として両側に対称に配置されることができる。 The anode part can be arranged symmetrically on both sides with respect to the object to be plated.
本発明の実施例によれば、被メッキ体のメッキ厚さの偏差をより最小化できるメッキ装置を提供することができる。 According to the embodiment of the present invention, it is possible to provide a plating apparatus that can minimize the deviation of the plating thickness of the object to be plated.
以下では、本発明に係るメッキ装置の実施例を添付図面に基づいて詳細に説明し、添付図面に基づいて説明するに当たって、同一または対応する構成要素には同一の図面符号を付し、これに対する重複説明は省略する。 In the following, embodiments of the plating apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings, and the same or corresponding components will be denoted by the same reference numerals in the description with reference to the accompanying drawings. A duplicate description is omitted.
また、以下に使用される「第1」、「第2」などのような用語は、同一または相応する構成要素を区別するための識別記号に過ぎず、同一または相応する構成要素がそれらの「第1」、「第2」などの用語により限定されるものではない。 In addition, terms such as “first”, “second” and the like used in the following are merely identification symbols for distinguishing the same or corresponding components, and the same or corresponding components are those “ It is not limited by terms such as “first” and “second”.
また、「結合」とは、各構成要素間の接触関係において、各構成要素間の物理的に直接接触する場合のみを意味することではなく、他の構成が各構成要素の間に介在され、その他の構成に構成要素がそれぞれ接触されている場合まで含む概念として使用される。 In addition, the term “coupled” does not mean only in the case of physical direct contact between the components in the contact relationship between the components, but other configurations are interposed between the components, It is used as a concept including the case where components are in contact with other components.
図1は、本発明の一実施例に係るメッキ装置を示す図面である。図2は、図1のメッキ装置による被メッキ体のメッキ厚さの実験結果を示す図面である。 FIG. 1 is a view showing a plating apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a drawing showing experimental results of the plating thickness of the object to be plated by the plating apparatus of FIG.
図1及び図2に示すように、本発明の一実施例に係るメッキ装置1000は、メッキ槽100と、陽極部200とを含む。
As shown in FIGS. 1 and 2, a
メッキ槽100は、被メッキ体10を収容する容器であって、被メッキ体10をメッキするためのメッキ液を収容することができる。ここで、被メッキ体10は、電気分解の原理を用いてメッキが施される対象体であって、メッキ液の収容されたメッキ槽100内に被メッキ体10を陰極として設置し、後述する陽極部200に電流を供給すると、陰極である被メッキ体10の表面にメッキが施されることになる。
The
陽極部200は、メッキ槽100内に横と縦とで複数分割して設けられ、それぞれ独立に電流が供給されるものであって、複数個が形成される。すなわち、図1に示すように、それぞれの陽極部200は、互いに分離されて、被メッキ体10の一側に複数の横と縦に並んで配置されることができる。
The
被メッキ体10のメッキ時、陽極部200に供給された電流は、陰極である被メッキ体10に直線的に伝達されるだけでなく、メッキ液に沿って迂回して被メッキ体10に伝達されることもあるので、被メッキ体10におけるメッキ厚さは、被メッキ体10に対応する位置の陽極部200に供給された電流量と正確に比例しないことがある。
When plating the object to be plated 10, the current supplied to the
特に、電極板の縁では、電気力線が電極板に垂直ではなく、外側に湾曲して延びるエッジ効果(edge effect)などにより、相対的に迂回電流が多く到逹する被メッキ体10の端部でのメッキ厚さが厚く形成されるなど、不均一なメッキが行われることがある。
In particular, at the edge of the electrode plate, the electric field lines are not perpendicular to the electrode plate, but the edge of the
したがって、本実施例に係るメッキ装置1000は、陽極部200を互いに分離し、独立に電流が供給されるように複数配置し、それぞれの陽極部200は、全部または一部が円形状に形成されるように構成することができる。
Therefore, in the
すなわち、全体的な陽極部200の電場を分散させるとともに、それぞれの陽極部200の端部を曲線処理して、分散されたそれぞれの電場において上述したエッジ効果が相対的に被メッキ体10の全体面積にかけて発生されるようにすることができるので、被メッキ体10の端部への電流集中を防止することができる。
That is, the electric field of the
これにより、本実施例に係るメッキ装置1000は、被メッキ体10のメッキ厚さの偏差、特に被メッキ体10の端部と中央部との間のメッキ厚さの偏差をより最小化することができる。
Thereby, the
具体的に、図2を参照して被メッキ体10のメッキ厚さの偏差を説明する。 Specifically, the deviation of the plating thickness of the object to be plated 10 will be described with reference to FIG.
図2は、分割されたそれぞれの陽極部200を四角形に形成した場合(比較例1)と図1のメッキ装置のように陽極部200を形成した場合(実施例1)の被メッキ体10の メッキ厚さを比較した実験結果を示している。
2 shows a case in which each of the divided
図2に示すように、図1のメッキ装置のように陽極部200を形成した場合(実施例1)に、被メッキ体10の端部と中央部との間のメッキ厚さの偏差がより小さいことが分かる。
As shown in FIG. 2, when the
このように、図1のメッキ装置のように陽極部200を形成した場合(実施例1)は、被メッキ体10の端部への電流集中が相対的に低減するので、被メッキ体10におけるメッキ厚さの偏差をより最小化することができる。
As described above, when the
本実施例に係るメッキ装置1000において、それぞれの陽極部200は、供給される電流量を調整可能である。例えば、被メッキ体10の形状や被メッキ体10に要求されるメッキ厚さが変更された場合、それぞれの陽極部200は、供給される電流量を変更してメッキ厚さを調整することができる。
In the
この場合、被メッキ体10の形状や被メッキ体10に要求されるメッキ厚さに応じて、それぞれの陽極部200に供給される電流量も常に一定したものではないため、それぞれの陽極部200に供給される電流量を互いに独立して調整できるように構成することができる。
In this case, since the amount of current supplied to each
このように、本実施例に係るメッキ装置1000において、それぞれの陽極部200は、供給される電流量を調整可能であり、被メッキ体10の形状や被メッキ体10に要求されるメッキ厚さが変更される場合にも、メッキ装置1000の構造を変更することなく、より能動的に対処することができる。
Thus, in the
また、本実施例に係るメッキ装置1000において、それぞれの陽極部200は、被メッキ体10との距離及び被メッキ体10に対する角度のうち、少なくとも1つを互いに独立して調整可能である。
In the
例えば、被メッキ体10の端部のメッキ厚さが相対的に厚く形成されるということを考慮して、被メッキ体10の端部に対応する位置に設けられた陽極部200を被メッキ体10からより遠く離隔したり、被メッキ体10と接する角度を小さくしたりするなどの方法により、被メッキ体10の端部に対するメッキ厚さを調整することができる。
For example, considering that the plating thickness of the end portion of the object to be plated 10 is formed relatively thick, the
これにより、本実施例に係るメッキ装置1000は、それぞれの陽極部200に供給される電流量だけでなく、それぞれの陽極部200と被メッキ体10との間の距離、それぞれの陽極部200と被メッキ体10との間の角度を適宜組み合わせることにより、様々なメッキ条件の変化に対応することができる。
As a result, the
本実施例に係るメッキ装置1000において、陽極部200は、被メッキ体10を基準として両側に対称に配置されることができる。すなわち、図1に示すように、被メッキ体10の両側に一対の陽極部200を設置することができる。
In the
これにより、被メッキ体10をメッキするとき、被メッキ体10の両側に対するメッキを同時に行うことができる。また、一対の陽極部200を対称に設けて、被メッキ体10の両面のメッキ厚さを均一に形成することができる。
Thereby, when plating the to-
図3は、本発明の他の実施例に係るメッキ装置を示す図面である。図4は、図3のメッキ装置による被メッキ体のメッキ厚さの実験結果を示す図面である。 FIG. 3 is a view showing a plating apparatus according to another embodiment of the present invention. FIG. 4 is a drawing showing experimental results of the plating thickness of the object to be plated by the plating apparatus of FIG.
図3及び図4に示すように、本発明の他の実施例に係るメッキ装置2000において、複数の陽極部200のうち、外郭部に配置される陽極部200は、中心角が180°の扇状に形成され、複数の陽極部2000のうち、コーナー部に配置される陽極部200は、中心角が90°の扇状に形成されることができる。
As shown in FIGS. 3 and 4, in the
すなわち、それぞれの陽極部200を同じく円形状に形成することではなく、被メッキ体10の端部に対応する位置に配置された陽極部200の形状及び被メッキ体10のコーナー部に対応する位置に配置された陽極部200の形状を、それぞれ異なるように形成してもよい。
That is, each
これにより、本実施例に係るメッキ装置2000は、被メッキ体10の端部及びコーナー部におけるエッジ効果をより低減させることができるので、被メッキ体10の端部と中央部との間のメッキ厚さの偏差をより効果的に低減することができる。
Thereby, since the
具体的に、図4を参照して被メッキ体10のメッキ厚さの偏差を説明する。 Specifically, the deviation of the plating thickness of the object to be plated 10 will be described with reference to FIG.
図4は、分割されたそれぞれの陽極部200を四角形に形成した場合(比較例2)と図 3のメッキ装置のように陽極部200を形成した場合(実施例2)の被メッキ体10のメッキ厚さを比較した実験結果を示している。
4 shows the case where the divided
図4に示すように、図3のメッキ装置のように陽極部200を形成した場合(実施例2)に、被メッキ体10の端部と中央部との間のメッキ厚さの偏差が著しく小くなることが分かる。
As shown in FIG. 4, when the
また、図3のメッキ装置のように陽極部200を形成した場合(実施例2)は、比較例2に比べて被メッキ体10の中央部のメッキ厚さがかえって増加するなど、被メッキ体10の特定部位ごとにメッキ厚さを互いに異なるように制御することもできる。
Further, when the
このように、図3のメッキ装置のように陽極部200を形成した場合(実施例2)には、被メッキ体10の端部への電流集中がより著しく低減するため、被メッキ体10のメッキ厚さの偏差をより効果的に低減することができる。
As described above, when the
一方、本発明の他の実施例に係るメッキ装置2000は、上述した構成以外には本発明の一実施例に係るメッキ装置1000の構成と同一または類似であるので、重複する構成に対する詳細な説明は省略する。
On the other hand, the
以上では、本発明の実施例について説明したが、当該技術分野で通常の知識を有した者であれば特許請求範囲に記載した本発明の思想から逸脱しない範囲内で、構成要素の付加、変更、削除または追加することにより本発明を多様に修正及び変更することができ、これも本発明の権利範囲内に含まれるといえよう。 The embodiments of the present invention have been described above. However, those who have ordinary knowledge in the technical field can add or change components without departing from the spirit of the present invention described in the claims. The present invention can be variously modified and changed by deleting or adding, and it is also included in the scope of the present invention.
10 被メッキ体
100 メッキ槽
200 陽極部
1000、2000 メッキ装置
DESCRIPTION OF
Claims (5)
前記メッキ槽に横と縦とで複数分割して設けられ、それぞれ独立に電流が供給される複数の陽極部と、を含み、
前記陽極部のそれぞれは、全部または一部が円形状に形成されることを特徴とするメッキ装置。 A plating tank for receiving the object to be plated;
A plurality of anode parts provided in the plating tank in a plurality of horizontal and vertical directions, each supplied with current independently,
Each of the anode portions is formed in a circular shape in whole or in part.
複数の前記陽極部のうち、コーナー部に配置される前記陽極部は、中心角が90°の扇状に形成されることを特徴とする請求項1に記載のメッキ装置。 Among the plurality of anode parts, the anode part arranged in the outer part is formed in a fan shape with a central angle of 180 °,
2. The plating apparatus according to claim 1, wherein among the plurality of anode portions, the anode portion disposed at a corner portion is formed in a fan shape having a central angle of 90 °.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020130140210A KR20150057194A (en) | 2013-11-18 | 2013-11-18 | Plating apparatus |
KR10-2013-0140210 | 2013-11-18 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015098640A true JP2015098640A (en) | 2015-05-28 |
Family
ID=53184514
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014004973A Pending JP2015098640A (en) | 2013-11-18 | 2014-01-15 | Plating device |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2015098640A (en) |
KR (1) | KR20150057194A (en) |
DE (1) | DE102014200419A1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017115221A (en) * | 2015-12-25 | 2017-06-29 | 住友電工プリントサーキット株式会社 | Printed wiring board plating device and printed wiring board manufacturing method |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19717489B4 (en) | 1997-04-25 | 2008-04-10 | Sms Demag Ag | Arrangement for the electrogalvanic metal coating of a strip |
-
2013
- 2013-11-18 KR KR1020130140210A patent/KR20150057194A/en not_active Application Discontinuation
-
2014
- 2014-01-13 DE DE102014200419.5A patent/DE102014200419A1/en not_active Withdrawn
- 2014-01-15 JP JP2014004973A patent/JP2015098640A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017115221A (en) * | 2015-12-25 | 2017-06-29 | 住友電工プリントサーキット株式会社 | Printed wiring board plating device and printed wiring board manufacturing method |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE102014200419A1 (en) | 2015-05-21 |
KR20150057194A (en) | 2015-05-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR102569414B1 (en) | Plating apparatus | |
US8252154B2 (en) | Electroplating apparatus | |
KR102272508B1 (en) | Anisotropic high resistance ionic current source | |
BR102015032415B1 (en) | apparatus for forming a metallic film and method for forming a metallic film | |
JP2010138483A (en) | Shielding plate and electroplating device | |
JP2015098640A (en) | Plating device | |
TW200921866A (en) | Plating apparatus | |
JP2016156084A (en) | Electrolytic plating apparatus | |
JP6601979B2 (en) | Plating equipment | |
JP2015105437A (en) | Plating apparatus | |
KR20110133191A (en) | Plating apparatus | |
KR20110028029A (en) | Electroplating apparatus | |
KR100945952B1 (en) | Panel of PCB | |
US11153973B2 (en) | Electronic module | |
KR20110097225A (en) | Apparatus for plate substrate | |
JP4794599B2 (en) | Plating equipment | |
JP2012007201A (en) | Plating device | |
US11686008B2 (en) | Electroplating apparatus and electroplating method | |
JP7027622B1 (en) | Resistors and plating equipment | |
TWM381635U (en) | Electroplate apparatus for plating copper on a printed circuit board | |
JP2012007200A (en) | Plating method | |
JP7285389B1 (en) | Plating equipment and plating method | |
KR200390905Y1 (en) | PCB mask structure of plating equipment | |
KR200389466Y1 (en) | PCB mask structure of plating equipment | |
KR100905310B1 (en) | Board panel |