JP2015098640A - Plating device - Google Patents

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ロー ユ−ジュン
キム チュル−キュ
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a plating device capable of further minimizing deviation of the plating thickness of an object to be plated.SOLUTION: The plating device includes: a plating bath 100 accommodating an object to be plated; and a plurality of anodes 200, which are separated and installed in a plurality of rows and columns in the plating bath and to each of which electric current is supplied independently. Each of the anodes is formed entirely or partly in a circular shape.

Description

本発明は、メッキ装置に関する。   The present invention relates to a plating apparatus.

近年、印刷回路基板は、携帯電話、半導体、情報通信などの核心部品として使用されることになり、これに関連する技術がますます重要となっている。特に、半導体IC移動通信部品の小型化、高速化、高密度化、高性能化、電磁波遮蔽などに対する信頼性向上とともに印刷回路基板における均一なメッキの必要性が強調されている。   In recent years, printed circuit boards have been used as core parts for mobile phones, semiconductors, information communications, etc., and related technologies have become increasingly important. In particular, the need for uniform plating on a printed circuit board is emphasized as well as the reliability improvement of semiconductor IC mobile communication components for miniaturization, high speed, high density, high performance, electromagnetic shielding and the like.

このような印刷回路基板の均一なメッキは、微細回路のメッキ膜を薄くし、かつ均一化することにより高性能化することができるとともに、配線のプロファイルを低減させて電子機器の雑音も低減することができる。また、メッキ厚さの均一化は、過剰なメッキを防止するので、製造コストの低減効果をもたらすことができる。   Such uniform plating of the printed circuit board can improve the performance by thinning and uniforming the plating film of the fine circuit, and also reduces the noise of the electronic equipment by reducing the wiring profile. be able to. Further, the uniform plating thickness prevents excessive plating, and therefore can bring about an effect of reducing manufacturing costs.

しかし、回路の複雑な形態、電解槽及び電極の形態などの幾何学的要素や、溶液及び添加物の特性、電気化学反応の速度に関連する分極と電圧、反応イオンの濃度分布など、メッキ時に複合的に作用する各種因子のために、均一な電流分布を得にくく、これにより、メッキ厚さの偏差を効果的に改善することが困難であった。   However, during plating, geometrical elements such as complex circuit configurations, electrolytic cell and electrode configurations, characteristics of solutions and additives, polarization and voltage related to the rate of electrochemical reactions, concentration distribution of reactive ions, etc. Due to various factors acting in a complex manner, it is difficult to obtain a uniform current distribution, which makes it difficult to effectively improve the plating thickness deviation.

韓国公開特許第10−1998−081740号公報(1998.11.25.公開)Korean Published Patent No. 10-1998-081740 (1998. 11.25. Published)

本発明の目的は、被メッキ体のメッキ厚さの偏差をより最小化できるメッキ装置を提供することにある。   An object of the present invention is to provide a plating apparatus capable of further minimizing the deviation of the plating thickness of the object to be plated.

本発明の一側面によれば、被メッキ体を収容するメッキ槽と、メッキ槽内に複数の横と縦に分割して設けられ、それぞれ独立に電流が供給される複数の陽極部とを含み、それぞれの陽極部は、全部または一部が円形状に形成されることを特徴とするメッキ装置が提供される。   According to one aspect of the present invention, a plating tank that accommodates an object to be plated, and a plurality of anode portions that are provided in the plating tank and are divided into a plurality of horizontal and vertical portions and supplied with current independently. In addition, a plating apparatus is provided in which each anode part is formed in a circular shape in whole or in part.

ここで、複数の陽極部のうち、外郭部に配置される陽極部は、中心角が180°の扇状に形成可能であり、複数の陽極部のうち、コーナー部に配置される陽極部は、中心角が90°の扇状に形成可能である。   Here, among the plurality of anode parts, the anode part arranged at the outer part can be formed in a fan shape with a central angle of 180 °, and among the plurality of anode parts, the anode part arranged at the corner part is It can be formed in a fan shape with a central angle of 90 °.

それぞれの陽極部は、供給される電流量を調整することが可能である。   Each anode part can adjust the amount of current supplied.

それぞれの陽極部は、被メッキ体との距離及び被メッキ体に対する角度のうち、少なくとも1つを互いに独立して調整可能である。   Each anode part can adjust at least one of the distance to the object to be plated and the angle to the object to be plated independently of each other.

そして、陽極部は、被メッキ体を基準として両側に対称に配置されることができる。   The anode part can be arranged symmetrically on both sides with respect to the object to be plated.

本発明の実施例によれば、被メッキ体のメッキ厚さの偏差をより最小化できるメッキ装置を提供することができる。   According to the embodiment of the present invention, it is possible to provide a plating apparatus that can minimize the deviation of the plating thickness of the object to be plated.

本発明の一実施例に係るメッキ装置を示す図面である。1 is a view showing a plating apparatus according to an embodiment of the present invention. 図1のメッキ装置による被メッキ体のメッキ厚さの実験結果を示す図面である。It is drawing which shows the experimental result of the plating thickness of the to-be-plated body by the plating apparatus of FIG. 本発明の他の実施例に係るメッキ装置を示す図面である。4 is a view showing a plating apparatus according to another embodiment of the present invention. 図3のメッキ装置による被メッキ体のメッキ厚さの実験結果を示す図面である。It is drawing which shows the experimental result of the plating thickness of the to-be-plated body by the plating apparatus of FIG.

以下では、本発明に係るメッキ装置の実施例を添付図面に基づいて詳細に説明し、添付図面に基づいて説明するに当たって、同一または対応する構成要素には同一の図面符号を付し、これに対する重複説明は省略する。   In the following, embodiments of the plating apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings, and the same or corresponding components will be denoted by the same reference numerals in the description with reference to the accompanying drawings. A duplicate description is omitted.

また、以下に使用される「第1」、「第2」などのような用語は、同一または相応する構成要素を区別するための識別記号に過ぎず、同一または相応する構成要素がそれらの「第1」、「第2」などの用語により限定されるものではない。   In addition, terms such as “first”, “second” and the like used in the following are merely identification symbols for distinguishing the same or corresponding components, and the same or corresponding components are those “ It is not limited by terms such as “first” and “second”.

また、「結合」とは、各構成要素間の接触関係において、各構成要素間の物理的に直接接触する場合のみを意味することではなく、他の構成が各構成要素の間に介在され、その他の構成に構成要素がそれぞれ接触されている場合まで含む概念として使用される。   In addition, the term “coupled” does not mean only in the case of physical direct contact between the components in the contact relationship between the components, but other configurations are interposed between the components, It is used as a concept including the case where components are in contact with other components.

図1は、本発明の一実施例に係るメッキ装置を示す図面である。図2は、図1のメッキ装置による被メッキ体のメッキ厚さの実験結果を示す図面である。   FIG. 1 is a view showing a plating apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a drawing showing experimental results of the plating thickness of the object to be plated by the plating apparatus of FIG.

図1及び図2に示すように、本発明の一実施例に係るメッキ装置1000は、メッキ槽100と、陽極部200とを含む。   As shown in FIGS. 1 and 2, a plating apparatus 1000 according to an embodiment of the present invention includes a plating tank 100 and an anode unit 200.

メッキ槽100は、被メッキ体10を収容する容器であって、被メッキ体10をメッキするためのメッキ液を収容することができる。ここで、被メッキ体10は、電気分解の原理を用いてメッキが施される対象体であって、メッキ液の収容されたメッキ槽100内に被メッキ体10を陰極として設置し、後述する陽極部200に電流を供給すると、陰極である被メッキ体10の表面にメッキが施されることになる。   The plating tank 100 is a container that accommodates the object 10 to be plated, and can accommodate a plating solution for plating the object 10 to be plated. Here, the object to be plated 10 is an object to be plated using the principle of electrolysis, and the object to be plated 10 is installed as a cathode in a plating tank 100 in which a plating solution is accommodated, which will be described later. When a current is supplied to the anode part 200, the surface of the object to be plated 10 serving as the cathode is plated.

陽極部200は、メッキ槽100内に横と縦とで複数分割して設けられ、それぞれ独立に電流が供給されるものであって、複数個が形成される。すなわち、図1に示すように、それぞれの陽極部200は、互いに分離されて、被メッキ体10の一側に複数の横と縦に並んで配置されることができる。   The anode part 200 is divided into a plurality of horizontal and vertical parts in the plating tank 100 and is supplied with a current independently, and a plurality of anode parts are formed. That is, as shown in FIG. 1, the anode parts 200 can be separated from each other and arranged side by side in a plurality of horizontal and vertical directions on one side of the object to be plated 10.

被メッキ体10のメッキ時、陽極部200に供給された電流は、陰極である被メッキ体10に直線的に伝達されるだけでなく、メッキ液に沿って迂回して被メッキ体10に伝達されることもあるので、被メッキ体10におけるメッキ厚さは、被メッキ体10に対応する位置の陽極部200に供給された電流量と正確に比例しないことがある。   When plating the object to be plated 10, the current supplied to the anode unit 200 is not only transmitted linearly to the object to be plated 10 which is a cathode, but also bypassed along the plating solution and transmitted to the object to be plated 10. As a result, the plating thickness of the object to be plated 10 may not be exactly proportional to the amount of current supplied to the anode part 200 at the position corresponding to the object to be plated 10.

特に、電極板の縁では、電気力線が電極板に垂直ではなく、外側に湾曲して延びるエッジ効果(edge effect)などにより、相対的に迂回電流が多く到逹する被メッキ体10の端部でのメッキ厚さが厚く形成されるなど、不均一なメッキが行われることがある。   In particular, at the edge of the electrode plate, the electric field lines are not perpendicular to the electrode plate, but the edge of the object 10 to which a relatively large amount of detour current reaches due to an edge effect that curves and extends outward. In some cases, non-uniform plating may be performed, for example, a thick plating portion may be formed.

したがって、本実施例に係るメッキ装置1000は、陽極部200を互いに分離し、独立に電流が供給されるように複数配置し、それぞれの陽極部200は、全部または一部が円形状に形成されるように構成することができる。   Therefore, in the plating apparatus 1000 according to the present embodiment, a plurality of anode parts 200 are separated from each other and are independently supplied with current, and each anode part 200 is formed in a circular shape in whole or in part. Can be configured.

すなわち、全体的な陽極部200の電場を分散させるとともに、それぞれの陽極部200の端部を曲線処理して、分散されたそれぞれの電場において上述したエッジ効果が相対的に被メッキ体10の全体面積にかけて発生されるようにすることができるので、被メッキ体10の端部への電流集中を防止することができる。   That is, the electric field of the entire anode part 200 is dispersed, and the end of each anode part 200 is subjected to curve processing, so that the edge effect described above is relatively relative to the entire object to be plated 10 in each dispersed electric field. Since it can be generated over the area, current concentration at the end of the object to be plated 10 can be prevented.

これにより、本実施例に係るメッキ装置1000は、被メッキ体10のメッキ厚さの偏差、特に被メッキ体10の端部と中央部との間のメッキ厚さの偏差をより最小化することができる。   Thereby, the plating apparatus 1000 according to the present embodiment further minimizes the deviation of the plating thickness of the object 10 to be plated, in particular, the deviation of the plating thickness between the end and the center of the object 10 to be plated. Can do.

具体的に、図2を参照して被メッキ体10のメッキ厚さの偏差を説明する。   Specifically, the deviation of the plating thickness of the object to be plated 10 will be described with reference to FIG.

図2は、分割されたそれぞれの陽極部200を四角形に形成した場合(比較例1)と図1のメッキ装置のように陽極部200を形成した場合(実施例1)の被メッキ体10の メッキ厚さを比較した実験結果を示している。   2 shows a case in which each of the divided anode parts 200 is formed in a square shape (Comparative Example 1) and a case in which the anode part 200 is formed like the plating apparatus in FIG. 1 (Example 1). The experimental result which compared plating thickness is shown.

図2に示すように、図1のメッキ装置のように陽極部200を形成した場合(実施例1)に、被メッキ体10の端部と中央部との間のメッキ厚さの偏差がより小さいことが分かる。   As shown in FIG. 2, when the anode part 200 is formed as in the plating apparatus of FIG. 1 (Example 1), the plating thickness deviation between the end part and the center part of the object to be plated 10 is more I understand that it is small.

このように、図1のメッキ装置のように陽極部200を形成した場合(実施例1)は、被メッキ体10の端部への電流集中が相対的に低減するので、被メッキ体10におけるメッキ厚さの偏差をより最小化することができる。   As described above, when the anode part 200 is formed as in the plating apparatus of FIG. 1 (Example 1), current concentration at the end of the object to be plated 10 is relatively reduced. The plating thickness deviation can be further minimized.

本実施例に係るメッキ装置1000において、それぞれの陽極部200は、供給される電流量を調整可能である。例えば、被メッキ体10の形状や被メッキ体10に要求されるメッキ厚さが変更された場合、それぞれの陽極部200は、供給される電流量を変更してメッキ厚さを調整することができる。   In the plating apparatus 1000 according to the present embodiment, each anode unit 200 can adjust the amount of current supplied. For example, when the shape of the object to be plated 10 or the plating thickness required for the object to be plated 10 is changed, each anode part 200 can adjust the plating thickness by changing the amount of current supplied. it can.

この場合、被メッキ体10の形状や被メッキ体10に要求されるメッキ厚さに応じて、それぞれの陽極部200に供給される電流量も常に一定したものではないため、それぞれの陽極部200に供給される電流量を互いに独立して調整できるように構成することができる。   In this case, since the amount of current supplied to each anode part 200 is not always constant according to the shape of the object to be plated 10 and the plating thickness required for the object to be plated 10, each anode part 200 It is possible to configure so that the amount of current supplied to each can be adjusted independently of each other.

このように、本実施例に係るメッキ装置1000において、それぞれの陽極部200は、供給される電流量を調整可能であり、被メッキ体10の形状や被メッキ体10に要求されるメッキ厚さが変更される場合にも、メッキ装置1000の構造を変更することなく、より能動的に対処することができる。   Thus, in the plating apparatus 1000 according to the present embodiment, each anode unit 200 can adjust the amount of current supplied, and the shape of the body to be plated 10 and the plating thickness required for the body to be plated 10. Can be dealt with more actively without changing the structure of the plating apparatus 1000.

また、本実施例に係るメッキ装置1000において、それぞれの陽極部200は、被メッキ体10との距離及び被メッキ体10に対する角度のうち、少なくとも1つを互いに独立して調整可能である。   In the plating apparatus 1000 according to the present embodiment, each anode unit 200 can adjust at least one of the distance to the object to be plated 10 and the angle with respect to the object to be plated 10 independently of each other.

例えば、被メッキ体10の端部のメッキ厚さが相対的に厚く形成されるということを考慮して、被メッキ体10の端部に対応する位置に設けられた陽極部200を被メッキ体10からより遠く離隔したり、被メッキ体10と接する角度を小さくしたりするなどの方法により、被メッキ体10の端部に対するメッキ厚さを調整することができる。   For example, considering that the plating thickness of the end portion of the object to be plated 10 is formed relatively thick, the anode part 200 provided at a position corresponding to the end portion of the object to be plated 10 is the object to be plated. The plating thickness with respect to the end portion of the object to be plated 10 can be adjusted by a method such as being farther away from 10 or reducing the angle of contact with the object to be plated 10.

これにより、本実施例に係るメッキ装置1000は、それぞれの陽極部200に供給される電流量だけでなく、それぞれの陽極部200と被メッキ体10との間の距離、それぞれの陽極部200と被メッキ体10との間の角度を適宜組み合わせることにより、様々なメッキ条件の変化に対応することができる。   As a result, the plating apparatus 1000 according to the present embodiment has not only the amount of current supplied to each anode part 200 but also the distance between each anode part 200 and the object to be plated 10 and each anode part 200. By appropriately combining the angles with the object to be plated 10, it is possible to cope with changes in various plating conditions.

本実施例に係るメッキ装置1000において、陽極部200は、被メッキ体10を基準として両側に対称に配置されることができる。すなわち、図1に示すように、被メッキ体10の両側に一対の陽極部200を設置することができる。   In the plating apparatus 1000 according to the present embodiment, the anode part 200 can be arranged symmetrically on both sides with respect to the object to be plated 10. That is, as shown in FIG. 1, a pair of anode parts 200 can be installed on both sides of the object to be plated 10.

これにより、被メッキ体10をメッキするとき、被メッキ体10の両側に対するメッキを同時に行うことができる。また、一対の陽極部200を対称に設けて、被メッキ体10の両面のメッキ厚さを均一に形成することができる。   Thereby, when plating the to-be-plated body 10, it can plate on both sides of the to-be-plated body 10 simultaneously. Further, the pair of anode parts 200 can be provided symmetrically so that the plating thicknesses on both surfaces of the object to be plated 10 can be formed uniformly.

図3は、本発明の他の実施例に係るメッキ装置を示す図面である。図4は、図3のメッキ装置による被メッキ体のメッキ厚さの実験結果を示す図面である。   FIG. 3 is a view showing a plating apparatus according to another embodiment of the present invention. FIG. 4 is a drawing showing experimental results of the plating thickness of the object to be plated by the plating apparatus of FIG.

図3及び図4に示すように、本発明の他の実施例に係るメッキ装置2000において、複数の陽極部200のうち、外郭部に配置される陽極部200は、中心角が180°の扇状に形成され、複数の陽極部2000のうち、コーナー部に配置される陽極部200は、中心角が90°の扇状に形成されることができる。   As shown in FIGS. 3 and 4, in the plating apparatus 2000 according to another embodiment of the present invention, among the plurality of anode parts 200, the anode part 200 disposed in the outer part has a fan shape with a central angle of 180 °. Among the plurality of anode parts 2000, the anode part 200 disposed at the corner part can be formed in a fan shape with a central angle of 90 °.

すなわち、それぞれの陽極部200を同じく円形状に形成することではなく、被メッキ体10の端部に対応する位置に配置された陽極部200の形状及び被メッキ体10のコーナー部に対応する位置に配置された陽極部200の形状を、それぞれ異なるように形成してもよい。   That is, each anode part 200 is not formed in the same circular shape, but the shape of the anode part 200 disposed at a position corresponding to the end of the object to be plated 10 and the position corresponding to the corner part of the object to be plated 10. The shapes of the anode portions 200 arranged in the above may be different from each other.

これにより、本実施例に係るメッキ装置2000は、被メッキ体10の端部及びコーナー部におけるエッジ効果をより低減させることができるので、被メッキ体10の端部と中央部との間のメッキ厚さの偏差をより効果的に低減することができる。   Thereby, since the plating apparatus 2000 according to the present embodiment can further reduce the edge effect at the end and corner of the object to be plated 10, the plating between the end and the center of the object to be plated 10 is performed. The thickness deviation can be reduced more effectively.

具体的に、図4を参照して被メッキ体10のメッキ厚さの偏差を説明する。   Specifically, the deviation of the plating thickness of the object to be plated 10 will be described with reference to FIG.

図4は、分割されたそれぞれの陽極部200を四角形に形成した場合(比較例2)と図 3のメッキ装置のように陽極部200を形成した場合(実施例2)の被メッキ体10のメッキ厚さを比較した実験結果を示している。   4 shows the case where the divided anode parts 200 are formed in a square shape (Comparative Example 2) and the case where the anode part 200 is formed as in the plating apparatus of FIG. 3 (Example 2). The experimental result which compared plating thickness is shown.

図4に示すように、図3のメッキ装置のように陽極部200を形成した場合(実施例2)に、被メッキ体10の端部と中央部との間のメッキ厚さの偏差が著しく小くなることが分かる。   As shown in FIG. 4, when the anode part 200 is formed as in the plating apparatus of FIG. 3 (Example 2), the plating thickness deviation between the end part and the center part of the object to be plated 10 is remarkable. I can see it gets smaller.

また、図3のメッキ装置のように陽極部200を形成した場合(実施例2)は、比較例2に比べて被メッキ体10の中央部のメッキ厚さがかえって増加するなど、被メッキ体10の特定部位ごとにメッキ厚さを互いに異なるように制御することもできる。   Further, when the anode part 200 is formed as in the plating apparatus of FIG. 3 (Example 2), the plating thickness of the central part of the object to be plated 10 is increased as compared with the comparative example 2, so that the object to be plated is increased. It is also possible to control the plating thickness so as to be different from one another for each of the ten specific parts.

このように、図3のメッキ装置のように陽極部200を形成した場合(実施例2)には、被メッキ体10の端部への電流集中がより著しく低減するため、被メッキ体10のメッキ厚さの偏差をより効果的に低減することができる。   As described above, when the anode part 200 is formed as in the plating apparatus of FIG. 3 (Example 2), current concentration at the end of the object to be plated 10 is significantly reduced. The plating thickness deviation can be reduced more effectively.

一方、本発明の他の実施例に係るメッキ装置2000は、上述した構成以外には本発明の一実施例に係るメッキ装置1000の構成と同一または類似であるので、重複する構成に対する詳細な説明は省略する。   On the other hand, the plating apparatus 2000 according to another embodiment of the present invention is the same as or similar to the configuration of the plating apparatus 1000 according to one embodiment of the present invention other than the above-described configuration, and thus detailed description of the overlapping configuration is provided. Is omitted.

以上では、本発明の実施例について説明したが、当該技術分野で通常の知識を有した者であれば特許請求範囲に記載した本発明の思想から逸脱しない範囲内で、構成要素の付加、変更、削除または追加することにより本発明を多様に修正及び変更することができ、これも本発明の権利範囲内に含まれるといえよう。   The embodiments of the present invention have been described above. However, those who have ordinary knowledge in the technical field can add or change components without departing from the spirit of the present invention described in the claims. The present invention can be variously modified and changed by deleting or adding, and it is also included in the scope of the present invention.

10 被メッキ体
100 メッキ槽
200 陽極部
1000、2000 メッキ装置
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 To-be-plated body 100 Plating tank 200 Anode part 1000, 2000 Plating apparatus

Claims (5)

被メッキ体を収容するメッキ槽と、
前記メッキ槽に横と縦とで複数分割して設けられ、それぞれ独立に電流が供給される複数の陽極部と、を含み、
前記陽極部のそれぞれは、全部または一部が円形状に形成されることを特徴とするメッキ装置。
A plating tank for receiving the object to be plated;
A plurality of anode parts provided in the plating tank in a plurality of horizontal and vertical directions, each supplied with current independently,
Each of the anode portions is formed in a circular shape in whole or in part.
複数の前記陽極部のうち、外郭部に配置される前記陽極部は、中心角が180°の扇状に形成され、
複数の前記陽極部のうち、コーナー部に配置される前記陽極部は、中心角が90°の扇状に形成されることを特徴とする請求項1に記載のメッキ装置。
Among the plurality of anode parts, the anode part arranged in the outer part is formed in a fan shape with a central angle of 180 °,
2. The plating apparatus according to claim 1, wherein among the plurality of anode portions, the anode portion disposed at a corner portion is formed in a fan shape having a central angle of 90 °.
前記陽極部のそれぞれは、供給される電流量が調整可能であることを特徴とする請求項1または請求項2に記載のメッキ装置。   The plating apparatus according to claim 1, wherein each of the anode portions is capable of adjusting an amount of current supplied. 前記陽極部のそれぞれは、前記被メッキ体との距離及び前記被メッキ体に対する角度のうち、少なくとも1つを互いに独立して調整可能であることを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載のメッキ装置。   4. Each of the anode parts can adjust at least one of a distance from the object to be plated and an angle with respect to the object to be plated independently of each other. The plating apparatus as described in the item. 前記陽極部は、前記被メッキ体を基準として両側に対称に配置されることを特徴とする請求項1から4のいずれか1項に記載のメッキ装置。   5. The plating apparatus according to claim 1, wherein the anode part is disposed symmetrically on both sides with respect to the object to be plated. 6.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017115221A (en) * 2015-12-25 2017-06-29 住友電工プリントサーキット株式会社 Printed wiring board plating device and printed wiring board manufacturing method

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