JP2015095029A - 測定データ電子化装置、及び測定データ電子化プログラム - Google Patents
測定データ電子化装置、及び測定データ電子化プログラム Download PDFInfo
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Abstract
【課題】紙面に表示されたXY平面上の測定データを数値データとして容易に電子化できる測定データ電子化装置、及び測定データ電子化プログラムを提供する。
【解決手段】XY平面上に表示された測定データ8を含む紙データ200が読み取られた画像データ300に基づいて、測定データを電子化する測定データ電子化装置90であって、画像データから直線を抽出する直線抽出手段90Aと、互いに直交する2つの直線をそれぞれX軸2及びY軸4として取得するX−Y軸取得手段90Bと、画像データからX軸及びY軸の近傍に位置する数値21、41を取得する数値取得手段90Cと、X軸及びY軸毎にそれぞれ取得した数値の最小値と最大値とに基づき、X軸及びY軸で規定されるXY平面の領域6を設定する領域設定手段90Dと、画像データから、領域内の測定データをX軸及びY軸上の数値データとして取得する測定データ取得手段90Eと、を備えている。
【選択図】図2
【解決手段】XY平面上に表示された測定データ8を含む紙データ200が読み取られた画像データ300に基づいて、測定データを電子化する測定データ電子化装置90であって、画像データから直線を抽出する直線抽出手段90Aと、互いに直交する2つの直線をそれぞれX軸2及びY軸4として取得するX−Y軸取得手段90Bと、画像データからX軸及びY軸の近傍に位置する数値21、41を取得する数値取得手段90Cと、X軸及びY軸毎にそれぞれ取得した数値の最小値と最大値とに基づき、X軸及びY軸で規定されるXY平面の領域6を設定する領域設定手段90Dと、画像データから、領域内の測定データをX軸及びY軸上の数値データとして取得する測定データ取得手段90Eと、を備えている。
【選択図】図2
Description
本発明は、紙面に表示されたデータを電子化する測定データ電子化装置、及び測定データ電子化プログラムに関する。
従来から、紙で印刷された文書情報をOCR(光学文字認識)等の画像読取装置で読み取り、電子化することが行われている(特許文献1参照)。
一方、熱分析装置等の測定装置では、測定されたデータをX軸とY軸とのXY平面上にグラフとしてプロットし、グラフ上で測定値を読み取ったり、ピーク部分の面積を求めたりといった解析が行われる。測定データは電子化されてコンピュータに保存され、解析もコンピュータの解析ソフトウェア上で行われている。但し、電子データを測定装置やコンピュータ内にバックアップとして保存しておくものの、グラフや解析結果は紙面に印刷して保管するケースが多い。
又、過去に測定したデータを解析したい場合、測定装置やコンピュータが起動していれば、装置やコンピュータを用いて解析を行うことが可能であるが、測定装置やコンピュータが起動していない場合には、紙面上で目視で測定データの解析を行う必要がある。
一方、熱分析装置等の測定装置では、測定されたデータをX軸とY軸とのXY平面上にグラフとしてプロットし、グラフ上で測定値を読み取ったり、ピーク部分の面積を求めたりといった解析が行われる。測定データは電子化されてコンピュータに保存され、解析もコンピュータの解析ソフトウェア上で行われている。但し、電子データを測定装置やコンピュータ内にバックアップとして保存しておくものの、グラフや解析結果は紙面に印刷して保管するケースが多い。
又、過去に測定したデータを解析したい場合、測定装置やコンピュータが起動していれば、装置やコンピュータを用いて解析を行うことが可能であるが、測定装置やコンピュータが起動していない場合には、紙面上で目視で測定データの解析を行う必要がある。
しかしながら、紙面上で目視で測定データの解析を行うと、グラフ上のデータの値を読み取るだけでも、解析を行うユーザごとにバラつきが生じる可能性が高い。
又、測定装置やコンピュータが起動していても、過去に測定したデータが現在と異なるフォーマットの解析ソフトウェアで解析されている場合など、最近の測定データと解析結果を直接比較できないといった状況が存在する。特に、解析ソフトウェアは最新のものほど精度が高かったり、機能が多いので、最新の解析ソフトウェアで解析を行うことが望ましい。
さらに、そもそも紙面でしか保管していない測定データについては、解析ソフトウェアで解析することができない。
又、測定装置やコンピュータが起動していても、過去に測定したデータが現在と異なるフォーマットの解析ソフトウェアで解析されている場合など、最近の測定データと解析結果を直接比較できないといった状況が存在する。特に、解析ソフトウェアは最新のものほど精度が高かったり、機能が多いので、最新の解析ソフトウェアで解析を行うことが望ましい。
さらに、そもそも紙面でしか保管していない測定データについては、解析ソフトウェアで解析することができない。
本発明は上記の課題を解決するためになされたものであり、紙面に表示されたXY平面上の測定データを数値データとして容易に電子化することができる測定データ電子化装置、及び測定データ電子化プログラムの提供を目的とする。
上記の目的を達成するために、本発明の測定データ電子化装置は、X軸とY軸とのXY平面上に表示された測定データを含む、紙面に表示された紙データが画像読取装置により画像データとして読み取られ、該画像データに基づいて前記測定データを電子化する測定データ電子化装置であって、前記画像データから、前記画像データの画像サイズに対して所定の割合以上の長さを持つ直線を2つ以上抽出する直線抽出手段と、前記直線のうち、互いに直交する2つの直線をそれぞれ前記X軸及び前記Y軸として取得するX−Y軸取得手段と、前記画像データから前記X軸及び前記Y軸の近傍に位置する数値を取得する数値取得手段と、前記X軸及び前記Y軸毎にそれぞれ取得した前記数値の最小値と最大値とに基づき、当該X軸及びY軸で規定される前記XY平面の領域を設定する領域設定手段と、前記画像データから、前記領域内の前記測定データを前記X軸及び前記Y軸上の数値データとして取得する測定データ取得手段と、を備えている。
この測定データ電子化装置によれば、画像データからX軸及びY軸を取得し、さらにX軸及びY軸の近傍に位置する数値を取得してXY平面の領域を設定し、この領域内の測定データをX軸及びY軸上の数値データとして取得するので、紙面に表示された測定データを数値データとして容易に電子化することができる。
この測定データ電子化装置によれば、画像データからX軸及びY軸を取得し、さらにX軸及びY軸の近傍に位置する数値を取得してXY平面の領域を設定し、この領域内の測定データをX軸及びY軸上の数値データとして取得するので、紙面に表示された測定データを数値データとして容易に電子化することができる。
前記X−Y軸取得手段は、前記直線抽出手段が抽出した前記直線のうち、ユーザが選択した2つの直線をそれぞれ前記X軸及び前記Y軸として取得してもよい。
前記数値取得手段は、ユーザが入力した前記数値を取得してもよい。
この場合、数値取得手段が数値を誤って読み取ったとしても、ユーザの入力によって誤認識を訂正できる。
この場合、数値取得手段が数値を誤って読み取ったとしても、ユーザの入力によって誤認識を訂正できる。
前記X−Y軸取得手段が、前記X軸に対して直交する前記Y軸を2つ取得し、かつ、前記領域内の前記測定データが2種類ある場合に、ユーザによる、それぞれ2つの前記Y軸への2種類の前記測定データの対応情報に基づき、前記測定データ取得手段は、前記2種類の測定データを、前記X軸及び対応する前記Y軸上の数値データとして取得してもよい。
この測定データ電子化装置によれば、紙面に表示された測定データが2種類あっても、これら測定データをそれぞれ別個の数値データとして容易に電子化することができる。
この測定データ電子化装置によれば、紙面に表示された測定データが2種類あっても、これら測定データをそれぞれ別個の数値データとして容易に電子化することができる。
前記画像データから前記X軸及び前記Y軸の近傍に位置する文字情報を取得する文字情報取得手段をさらに備え、前記X−Y軸取得手段は、前記文字情報に基づいて、前記X軸及び前記Y軸の単位をそれぞれ設定してもよい。
数値の最小値と最大値を取得しただけでは、X軸及びY軸の数値の単位が不明である。そこで、文字情報を取得することでX軸及びY軸の数値の単位を決定することができる。
数値の最小値と最大値を取得しただけでは、X軸及びY軸の数値の単位が不明である。そこで、文字情報を取得することでX軸及びY軸の数値の単位を決定することができる。
前記測定データ上の少なくとも2点にそれぞれ前記X軸及び前記Y軸上の数値が記載されている場合に、前記領域設定手段は、前記数値と、前記2点の間の前記X軸及び前記Y軸上の距離、及び前記測定データの前記X軸及び前記Y軸の両端の距離に基づき、前記XY平面の領域を設定してもよい。
X軸及びY軸に対してそれぞれ数値が付されていない場合は、数値取得手段による数値の取得ができず、領域設定手段による領域設定もできない。しかしながら、測定データ上の少なくとも2点にそれぞれX軸及びY軸上の数値(各点のX軸及びY軸上の位置を示す数値)が記載されていれば、それらを基準として領域設定が可能となる。
X軸及びY軸に対してそれぞれ数値が付されていない場合は、数値取得手段による数値の取得ができず、領域設定手段による領域設定もできない。しかしながら、測定データ上の少なくとも2点にそれぞれX軸及びY軸上の数値(各点のX軸及びY軸上の位置を示す数値)が記載されていれば、それらを基準として領域設定が可能となる。
本発明の測定データ電子化プログラムは、X軸とY軸とのXY平面上に表示された測定データを含む、紙面に表示された紙データが画像読取装置により画像データとして読み取られ、該画像データに基づいて前記測定データを電子化する測定データ電子化プログラムであって、前記画像データから、前記画像データの画像サイズに対して所定の割合以上の長さを持つ直線を2つ以上抽出する直線抽出過程と、前記直線のうち、互いに直交する2つの直線をそれぞれ前記X軸及び前記Y軸として取得するX−Y軸取得過程と、前記画像データから前記X軸及び前記Y軸の近傍に位置する数値を取得する数値取得過程と、前記X軸及び前記Y軸毎にそれぞれ取得した前記数値の最小値と最大値とに基づき、当該X軸及びY軸で規定される前記XY平面の領域を設定する領域設定過程と、前記画像データから、前記領域内の前記測定データを前記X軸及び前記Y軸上の数値データとして取得する測定データ取得過程と、をコンピュータに実行させる。
本発明によれば、紙面に表示されたXY平面上の測定データを数値データとして容易に電子化することができる。例えば、それぞれ互換性の無い異なるデータ解析ソフトウェアによるデータであっても、最新の解析ソフトウェアを含む任意の共通の解析ソフトウェアにて解析が可能となる。
以下、本発明の実施形態について、図面を参照して説明する。
図1は本発明の実施形態に係る測定データ電子化装置90の全体構成を示すブロック図である。図1において、測定データ電子化装置90は、CPU(中央制御処理装置)、データやプログラムなどを格納するROM及びRAM等の記憶手段を有する制御部91を少なくとも有している。又、本実施形態では、測定データ電子化装置90は、ハードディスク等からなる記憶部92と、ユーザの入力指示を取得するキーボード等の入力部93と、液晶ディスプレイ等からなる表示部94とをさらに有している。
測定データ電子化装置90は例えばマイコンやパーソナルコンピュータ等から構成され、熱分析装置等の測定装置101及びOCR(光学式文字読取装置)等の公知の画像読取装置103に接続されている。本実施形態では、測定装置101として熱分析装置を用いた場合を例とする。又、画像読取装置103としては、スキャナ等の他、スマートフォン等のカメラ付携帯端末にOCR機能をインストールして用いることもできる。
図1は本発明の実施形態に係る測定データ電子化装置90の全体構成を示すブロック図である。図1において、測定データ電子化装置90は、CPU(中央制御処理装置)、データやプログラムなどを格納するROM及びRAM等の記憶手段を有する制御部91を少なくとも有している。又、本実施形態では、測定データ電子化装置90は、ハードディスク等からなる記憶部92と、ユーザの入力指示を取得するキーボード等の入力部93と、液晶ディスプレイ等からなる表示部94とをさらに有している。
測定データ電子化装置90は例えばマイコンやパーソナルコンピュータ等から構成され、熱分析装置等の測定装置101及びOCR(光学式文字読取装置)等の公知の画像読取装置103に接続されている。本実施形態では、測定装置101として熱分析装置を用いた場合を例とする。又、画像読取装置103としては、スキャナ等の他、スマートフォン等のカメラ付携帯端末にOCR機能をインストールして用いることもできる。
制御部91は、特許請求の範囲の直線抽出手段91A、X−Y軸取得手段91B、数値取得手段91C、領域設定手段91D、測定データ取得手段91E、文字情報取得手段91Fに相当する。そして、制御部91のCPUは、記憶部92に格納されたプログラムに基づいて各種演算処理を実行し、測定データ電子化装置90の各構成部分を制御する。なお、制御部91は、電子化された測定データを解析する解析手段91xの機能をも有するが、制御部91は必ずしも解析手段91xを有しなくてもよく、解析手段91xの機能が測定装置101側に実装されていてもよい。解析手段91xは、所定の解析ソフトウェアを実行して測定データの解析を行う。例えば、測定装置101が熱分析装置である場合、測定データは一般に温度に対して示差走査熱量 (DSC)をプロットしたものであり、その解析としては、DSCのピークの面積を求めることが挙げられる。
次に、図1、図2を参照し、測定データ電子化装置90で行う処理について説明する。
まず、図1に示すように、紙面に表示された紙データ200が予め画像読取装置103により画像(イメージ)データとして読み取られる。紙データ200は、X軸202とY軸204と、XY平面上に表示(印刷)された測定データ208と、後述する数値及び文字情報(図示せず)とを含む。
まず、図1に示すように、紙面に表示された紙データ200が予め画像読取装置103により画像(イメージ)データとして読み取られる。紙データ200は、X軸202とY軸204と、XY平面上に表示(印刷)された測定データ208と、後述する数値及び文字情報(図示せず)とを含む。
図2は、画像読取装置103により読み取られた画像データ300の構成の一例を示す。画像データ300の横の画像サイズ(ピクセル数)300a及び縦の画像サイズ300bが決められている。画像データ300は、温度を示すX軸2と、DSCを示すY軸4と、XY平面の領域6上にプロットされた測定データ8と、数値21、41と、文字情報22、42と、汚れBLとを含む。そして、この画像データ300に基づいて、測定データ電子化装置90は測定データ8を数値データとして電子化する。
図3は、測定データ電子化装置90(制御部91)が測定データ8を電子化する処理フローを示す。
まず、ステップS2で、直線抽出手段91Aは、画像データ300から、画像データの画像サイズ300a、300bに対して所定の割合以上の長さを持つ直線を2つ以上抽出する。X軸及びY軸は、画像データ300において比較的長い直線であるので、ステップS2により、X軸及びY軸を含む直線を確実に抽出できる。なお、通常、X軸及びY軸は、それぞれ画像データ300の横及び縦に平行に近いことから、ステップS2において、画像データ300の横及び縦に所定の範囲で平行な直線を抽出するようにしてもよい。又、所定の割合とは、例えば画像サイズ300a、300bの50%である。
次に、ステップS4で、X−Y軸取得手段91Bは、ステップS2で抽出した2つ以上の直線のうち、互いに直交する2つの直線をそれぞれX軸2及びY軸4として取得する。ステップS4では、互いに直交する2つの直線のうち、画像データ300の横方向に平行に近い直線をX軸とする。なお、ステップS4では、ステップS2で抽出した直線からX−Y軸取得手段91BがX軸2及びY軸4を自動的に取得(選択)してもよい。又、ステップS2で抽出した2つ以上の直線を、X−Y軸取得手段91Bが表示部94に表示し、ユーザがX軸2及びY軸4を指定してもよい。この場合、ユーザの指定は入力部93に入力され、X−Y軸取得手段91Bは入力部93の入力情報に基づいてX軸2及びY軸4を取得する。
まず、ステップS2で、直線抽出手段91Aは、画像データ300から、画像データの画像サイズ300a、300bに対して所定の割合以上の長さを持つ直線を2つ以上抽出する。X軸及びY軸は、画像データ300において比較的長い直線であるので、ステップS2により、X軸及びY軸を含む直線を確実に抽出できる。なお、通常、X軸及びY軸は、それぞれ画像データ300の横及び縦に平行に近いことから、ステップS2において、画像データ300の横及び縦に所定の範囲で平行な直線を抽出するようにしてもよい。又、所定の割合とは、例えば画像サイズ300a、300bの50%である。
次に、ステップS4で、X−Y軸取得手段91Bは、ステップS2で抽出した2つ以上の直線のうち、互いに直交する2つの直線をそれぞれX軸2及びY軸4として取得する。ステップS4では、互いに直交する2つの直線のうち、画像データ300の横方向に平行に近い直線をX軸とする。なお、ステップS4では、ステップS2で抽出した直線からX−Y軸取得手段91BがX軸2及びY軸4を自動的に取得(選択)してもよい。又、ステップS2で抽出した2つ以上の直線を、X−Y軸取得手段91Bが表示部94に表示し、ユーザがX軸2及びY軸4を指定してもよい。この場合、ユーザの指定は入力部93に入力され、X−Y軸取得手段91Bは入力部93の入力情報に基づいてX軸2及びY軸4を取得する。
次に、ステップS6で、数値取得手段91Cは、X軸2及びY軸4の近傍にそれぞれ位置する数値21,41を取得する。具体的には、X軸2から所定範囲内に位置する数値21を取得し、同様にY軸4から所定範囲内に位置する数値41を取得する。なお、数値取得手段91Cは、上述のようにして数値21,41を取得してもよいが、ユーザの入力部93等を介した入力により数値21,41を取得してもよい。紙データ200においては、当該数値はユーザの視認により明確に認識・確定可能であり、ステップS6で数値を誤って読み取った場合に、ユーザの入力によって誤認識を訂正できる。具体的には、例えばステップS6でプログラムにより自動的に上記数値を読み取らせた後、確認画面にてこの数値を承認するか否かをユーザに決定させ、承認しない場合にユーザに数値の入力を促すようなプログラム上の処理を行えばよい。
次に、ステップS8で、領域設定手段91Dは、X軸2及びY軸4毎にそれぞれ取得した数値21,41の最小値と最大値とに基づき、X軸2及びY軸4で規定されるXY平面の領域6を設定する。具体的には、X軸2について取得した数値21のうち、最小値「50」と最大値「250」とに基づき、X軸2の画像データ300上のピクセル座標が数値として規定される。同様に、Y軸4について取得した数値41のうち、最小値「−6と最大値「4」とに基づき、Y軸4の座標が数値として規定される。このようにして、XY平面の領域6を設定することができる。なお、図2の例では、X軸2は最大値「250」よりも大きな値まで延びているが、X軸2の「250」における座標と、X軸2の右端の座標とに基づき、X軸2の右端までの数値が割り出される。Y軸4についても同様である。
ところで、X軸2及びY軸4に対してそれぞれ数値21、41が付されていない場合は、数値取得手段91Cによる数値の取得ができず、領域設定手段91Dによる領域設定もできない。しかしながら、測定データ上の少なくとも2点にそれぞれX軸及びY軸上の数値(各点のX軸及びY軸上の位置を示す数値)が記載されていれば、それらを基準として領域設定が可能である。
この場合、領域設定手段91Dは測定データ上の少なくとも2点にそれぞれ記載されたX軸及びY軸上の数値を読み取る。次に、領域設定手段91Dは、2点の間のX軸及びY軸上の距離をそれぞれ取得する。さらに、領域設定手段91Dは、測定データのX軸及びY軸の両端の距離をそれぞれ取得する。そして、2点の間のX軸上の距離と、測定データのX軸の両端の距離との比率と、2点にそれぞれ記載されたX軸上の数値の差とから、XY平面の領域6のうちX軸への投影部分がわかる。同様にして、2点の間のY軸上の距離と、測定データのY軸の両端の距離との比率と、2点にそれぞれ記載されたY軸上の数値の差とから、XY平面の領域6のうちY軸への投影部分がわかる。このようにして領域6を設定することができる。
なお、領域設定手段91Dが通常のステップS6の処理により数値21,41を取得するか、又は上記した測定データ上の少なくとも2点の数値を読み取るかの選択は、具体的には、例えばステップS6で数値21,41を取得できなかった場合に、測定データ上の点の近傍に数値が記載されているかを探索するようにしてもよい。又、ステップS6の前又は後で、ユーザに対して上記した測定データ上の少なくとも2点の数値を読み取る処理を行うか否かを決定させる入力を促すようなプログラム上の処理を行ってもよい。
この場合、領域設定手段91Dは測定データ上の少なくとも2点にそれぞれ記載されたX軸及びY軸上の数値を読み取る。次に、領域設定手段91Dは、2点の間のX軸及びY軸上の距離をそれぞれ取得する。さらに、領域設定手段91Dは、測定データのX軸及びY軸の両端の距離をそれぞれ取得する。そして、2点の間のX軸上の距離と、測定データのX軸の両端の距離との比率と、2点にそれぞれ記載されたX軸上の数値の差とから、XY平面の領域6のうちX軸への投影部分がわかる。同様にして、2点の間のY軸上の距離と、測定データのY軸の両端の距離との比率と、2点にそれぞれ記載されたY軸上の数値の差とから、XY平面の領域6のうちY軸への投影部分がわかる。このようにして領域6を設定することができる。
なお、領域設定手段91Dが通常のステップS6の処理により数値21,41を取得するか、又は上記した測定データ上の少なくとも2点の数値を読み取るかの選択は、具体的には、例えばステップS6で数値21,41を取得できなかった場合に、測定データ上の点の近傍に数値が記載されているかを探索するようにしてもよい。又、ステップS6の前又は後で、ユーザに対して上記した測定データ上の少なくとも2点の数値を読み取る処理を行うか否かを決定させる入力を促すようなプログラム上の処理を行ってもよい。
次に、ステップS10で、測定データ取得手段91Eは、領域6内の測定データ8をX軸2及びY軸4上の数値データとして取得する。具体的には、測定データ取得手段91Eは、X軸2上で所定の間隔毎に測定データ8a、8b、8c・・・を座標(ピクセル)データとして取得し、ステップS8で求めた座標と数値との対応に基づき、測定データ8a、8b、8cの座標データをX軸2及びY軸4の数値にそれぞれ対応した数値データに変換する。なお、例えば領域6内で背景との明度が所定の閾値を超える画像を、測定データ8として認識する。
以上のようにして、測定データ8が数値データとして電子化されるので、解析手段91xにより測定データを解析できるようになる。従って、紙面に表示された測定データを解析したり、異なるフォーマットの解析ソフトウェアで解析された測定データを所望の解析ソフトウェアで再解析することができ、最近の測定データと解析結果を直接比較できる。
図1に、電子化された測定データ8の解析結果400と、他の測定データの解析結果410を表示部94に表示した例を示す。
以上のようにして、測定データ8が数値データとして電子化されるので、解析手段91xにより測定データを解析できるようになる。従って、紙面に表示された測定データを解析したり、異なるフォーマットの解析ソフトウェアで解析された測定データを所望の解析ソフトウェアで再解析することができ、最近の測定データと解析結果を直接比較できる。
図1に、電子化された測定データ8の解析結果400と、他の測定データの解析結果410を表示部94に表示した例を示す。
なお、ステップS12で、文字情報取得手段91Fは、X軸2及びY軸4の近傍にそれぞれ位置する文字情報22,42を取得してもよい。ステップS6で数値21,41の最小値と最大値を取得しただけでは、X軸2及びY軸4の数値の単位が不明である。そこで、文字情報22,42を取得することでX軸2及びY軸4の数値の単位を決定することができ、測定データをより正確に解析できる。例えば、図2において、X軸2近傍には、文字情報22として「Temp Cel」と記載されており、これより、X軸2の単位が「温度(℃)」であると判定することができる。同様に、Y軸4近傍には、文字情報42として「DSC mW」と記載されており、これより、Y軸4の単位がDSCの「mW」であると判定することができる。
X−Y軸取得手段91Bは、文字情報取得手段91Fが取得した上述の文字情報に基づいて、X軸2及びY軸4の単位(温度(℃)、DSC(mW))をそれぞれ設定する。
X−Y軸取得手段91Bは、文字情報取得手段91Fが取得した上述の文字情報に基づいて、X軸2及びY軸4の単位(温度(℃)、DSC(mW))をそれぞれ設定する。
文字情報取得手段91Fによる処理はステップS10の後でなくてもよく、例えばステップS6と同時に行ってもよい。
なお、例えば、測定装置101が熱分析装置である場合、測定データはX軸を温度(℃)とし、Y軸を示差熱量(mW)としてプロットしたものが一般的である。従って、予め測定データが熱分析に関するものである旨をユーザ又は測定データ電子化装置90(制御部91)に接続された測定装置101から指定することで、文字情報取得手段91Fによる処理を行わず、X軸の単位が温度(℃)で、Y軸の単位が示差熱量(mW)であると測定データ電子化装置90がみなしてもよい。この場合、測定データ電子化装置90は、測定装置101の種別毎に、X軸とY軸の単位の組み合わせのテーブルを有してもよい。
又、文字情報取得手段91Fによる処理を行わず、X軸とY軸の単位が不明な場合であっても、電子化された測定データを相対値として用いることができる。
なお、例えば、測定装置101が熱分析装置である場合、測定データはX軸を温度(℃)とし、Y軸を示差熱量(mW)としてプロットしたものが一般的である。従って、予め測定データが熱分析に関するものである旨をユーザ又は測定データ電子化装置90(制御部91)に接続された測定装置101から指定することで、文字情報取得手段91Fによる処理を行わず、X軸の単位が温度(℃)で、Y軸の単位が示差熱量(mW)であると測定データ電子化装置90がみなしてもよい。この場合、測定データ電子化装置90は、測定装置101の種別毎に、X軸とY軸の単位の組み合わせのテーブルを有してもよい。
又、文字情報取得手段91Fによる処理を行わず、X軸とY軸の単位が不明な場合であっても、電子化された測定データを相対値として用いることができる。
なお、図2に示すように、画像データ300のXY平面の領域6内に汚れBLがあると、この汚れBLを測定データ8と誤認するおそれがある。そこで、測定データとして取得した個々の測定データ8a、8b、8cをラベリング処理し、例えば同一ラベルのグループが閉曲線となった場合は汚れBLとみなしてデータから除去してもよい。
ところで、図4に示すように、画像データ310が1つのX軸2に対して、2つのY軸4A,4Bを持つことがある。図4の例では、左側のY軸4Aは単位がDSC(mW)であり(文字情報42A参照)、右側のY軸4Bは単位がDSC(mW/min)である(文字情報42B参照)。つまりY軸4BはY軸4Aの時間変化を示している。
そして、測定データは線種が異なる2種類のデータからなり、そのうち実線で表示された測定データ8AがY軸4Aに対応し、破線で表示された測定データ8BがY軸4Bに対応している。
そして、測定データは線種が異なる2種類のデータからなり、そのうち実線で表示された測定データ8AがY軸4Aに対応し、破線で表示された測定データ8BがY軸4Bに対応している。
図5は、図4の2種類の測定データ8A,8Bを測定データ電子化装置90(制御部91)が電子化する処理フローを示す。
まず、ステップS102で、直線抽出手段91Aは、画像データ300から複数の直線を抽出する。図4は2つのY軸4A,4Bを有しているので、直線抽出手段91Aは、3つ以上の直線を抽出することになる。ステップS102の処理は、ステップS2と同様である。
次に、ステップS104で、X−Y軸取得手段91Bは、ステップS2で抽出した3つ以上の直線のうち、互いに直交する3つの直線をそれぞれX軸2及びY軸4A,4Bとして取得する。ステップS104の処理は、ステップS4と同様である。又、ステップS104で抽出した3つ以上の直線を、X−Y軸取得手段91Bが表示部94に表示し、ユーザがX軸2及びY軸4A,4Bを指定してもよい。
まず、ステップS102で、直線抽出手段91Aは、画像データ300から複数の直線を抽出する。図4は2つのY軸4A,4Bを有しているので、直線抽出手段91Aは、3つ以上の直線を抽出することになる。ステップS102の処理は、ステップS2と同様である。
次に、ステップS104で、X−Y軸取得手段91Bは、ステップS2で抽出した3つ以上の直線のうち、互いに直交する3つの直線をそれぞれX軸2及びY軸4A,4Bとして取得する。ステップS104の処理は、ステップS4と同様である。又、ステップS104で抽出した3つ以上の直線を、X−Y軸取得手段91Bが表示部94に表示し、ユーザがX軸2及びY軸4A,4Bを指定してもよい。
次に、ステップS106で、数値取得手段91Cは、X軸2及びY軸4A,4Bの近傍にそれぞれ位置する数値21,41A、41Bを取得する。ステップS106の処理は、ステップS6と同様である。
次に、ステップS108で、領域設定手段91Dは、X軸2及びY軸4A,4B毎にそれぞれ取得した数値21,41A、41Bの最小値と最大値とに基づき、X軸2及びY軸4A,4Bで規定されるXY平面の領域6を設定する。ステップS108の処理は、ステップS8と同様である。
次に、ステップS108で、領域設定手段91Dは、X軸2及びY軸4A,4B毎にそれぞれ取得した数値21,41A、41Bの最小値と最大値とに基づき、X軸2及びY軸4A,4Bで規定されるXY平面の領域6を設定する。ステップS108の処理は、ステップS8と同様である。
次に、ステップS110で、測定データ取得手段91Eは、領域6内の測定データ8A、8Bが2種類あるか否かを判定する。ここで、測定データ取得手段91Eは、画像データ310における測定データ8A、8Bの色調や、線の特徴抽出等を行い、測定データ8A、8Bの色や線種から、測定データが2種類あるか否かを判定する。
ステップS110で「No」であれば、測定データは1種類であるから図3のフローと同一であり、図3のステップS10へ移行する。
一方、ステップS110で「Yes」であれば、測定データ取得手段91Eは、表示部94に測定データ8A、8B及びY軸4A,4Bが2種類ある旨を表示する。ユーザは入力部93を介して、測定データ8A、8BとY軸4A,4Bとの対応情報を入力し、測定データ取得手段91Eはこの対応情報を取得する(ステップS112)。
なお、ステップS110で測定データが2種類あるか否かを判定する代わりに、予めユーザが2種類の測定データがある旨を入力し、この入力情報があった場合に測定データ取得手段91Eは、測定データが2種類あると判定してもよい。
ステップS110で「No」であれば、測定データは1種類であるから図3のフローと同一であり、図3のステップS10へ移行する。
一方、ステップS110で「Yes」であれば、測定データ取得手段91Eは、表示部94に測定データ8A、8B及びY軸4A,4Bが2種類ある旨を表示する。ユーザは入力部93を介して、測定データ8A、8BとY軸4A,4Bとの対応情報を入力し、測定データ取得手段91Eはこの対応情報を取得する(ステップS112)。
なお、ステップS110で測定データが2種類あるか否かを判定する代わりに、予めユーザが2種類の測定データがある旨を入力し、この入力情報があった場合に測定データ取得手段91Eは、測定データが2種類あると判定してもよい。
次に、ステップS114で、測定データ取得手段91Eは、領域6内の2種類の測定データ8A、8Bを、それぞれX軸2及び対応するY軸4A,4B上の数値データとして取得する。具体的には、測定データ8AをX軸2及びY軸4A上の数値データとして取得し、測定データ8BをX軸2及びY軸4B上の数値データとして取得する。ステップS114の処理は、ステップS10と同様である。
さらに、必要に応じて、ステップS116で、文字情報取得手段91Fは、X軸2及びY軸4A,4Bの近傍にそれぞれ位置する文字情報22,42A,42Bを取得してもよい。ステップS116の処理は、ステップS12と同様である。
以上のようにして、測定データ8A、8Bが2種類あっても、これら測定データが数値データとして電子化されるので、解析手段91xにより2種類の測定データをそれぞれ解析できるようになる。
さらに、必要に応じて、ステップS116で、文字情報取得手段91Fは、X軸2及びY軸4A,4Bの近傍にそれぞれ位置する文字情報22,42A,42Bを取得してもよい。ステップS116の処理は、ステップS12と同様である。
以上のようにして、測定データ8A、8Bが2種類あっても、これら測定データが数値データとして電子化されるので、解析手段91xにより2種類の測定データをそれぞれ解析できるようになる。
本発明は上記実施形態に限定されず、本発明の思想と範囲に含まれる様々な変形及び均等物に及ぶことはいうまでもない。
例えば、図6に示すように、測定データ電子化装置95を、タブレット端末等のカメラ付き端末105に実装してもよい。カメラ付き端末105は、カメラ105a及び制御部105bを備え、制御部105bはCPU(中央制御処理装置)、ROM及びRAM等を有する。そして、測定データ電子化装置95は制御部105bとして実現されている。具体的には、制御部105bは測定データ電子化装置95を実現するコンピュータプログラムを実行する。又、制御部105bはOCR機能を実現するコンピュータプログラムを実行することにより、カメラ105aを介して紙データ200を画像データとして読み取る。すなわち、カメラ付き端末105は画像読取装置103としても機能する。
そして、制御部105bは、紙データ200を読み取って生成した画像データに基づき、上記図3、図5と同様な処理フローによって測定データを電子化し、電子化した測定データを、パーソナルコンピュータ107に送信する。
パーソナルコンピュータ107は、電子化された測定データを解析する解析手段107xを実装してなる。解析手段107は、解析手段91xと同様に、所定の解析ソフトウェアを実行して測定データの解析を行う。
例えば、図6に示すように、測定データ電子化装置95を、タブレット端末等のカメラ付き端末105に実装してもよい。カメラ付き端末105は、カメラ105a及び制御部105bを備え、制御部105bはCPU(中央制御処理装置)、ROM及びRAM等を有する。そして、測定データ電子化装置95は制御部105bとして実現されている。具体的には、制御部105bは測定データ電子化装置95を実現するコンピュータプログラムを実行する。又、制御部105bはOCR機能を実現するコンピュータプログラムを実行することにより、カメラ105aを介して紙データ200を画像データとして読み取る。すなわち、カメラ付き端末105は画像読取装置103としても機能する。
そして、制御部105bは、紙データ200を読み取って生成した画像データに基づき、上記図3、図5と同様な処理フローによって測定データを電子化し、電子化した測定データを、パーソナルコンピュータ107に送信する。
パーソナルコンピュータ107は、電子化された測定データを解析する解析手段107xを実装してなる。解析手段107は、解析手段91xと同様に、所定の解析ソフトウェアを実行して測定データの解析を行う。
2 X軸
4、4A、4B Y軸
6 XY平面の領域
8、8A、8B 測定データ
21、41、41A、41B 数値
22、42、42A、42B 文字情報
90 測定データ電子化装置
90A 直線抽出手段
90B X−Y軸取得手段
90C 数値取得手段
90D 領域設定手段
90E 測定データ取得手段
90F 文字情報取得手段
200 紙データ
300、310 画像データ
4、4A、4B Y軸
6 XY平面の領域
8、8A、8B 測定データ
21、41、41A、41B 数値
22、42、42A、42B 文字情報
90 測定データ電子化装置
90A 直線抽出手段
90B X−Y軸取得手段
90C 数値取得手段
90D 領域設定手段
90E 測定データ取得手段
90F 文字情報取得手段
200 紙データ
300、310 画像データ
Claims (7)
- X軸とY軸とのXY平面上に表示された測定データを含む、紙面に表示された紙データが画像読取装置により画像データとして読み取られ、該画像データに基づいて前記測定データを電子化する測定データ電子化装置であって、
前記画像データから、前記画像データの画像サイズに対して所定の割合以上の長さを持つ直線を2つ以上抽出する直線抽出手段と、
前記直線のうち、互いに直交する2つの直線をそれぞれ前記X軸及び前記Y軸として取得するX−Y軸取得手段と、
前記画像データから前記X軸及び前記Y軸の近傍に位置する数値を取得する数値取得手段と、
前記X軸及び前記Y軸毎にそれぞれ取得した前記数値の最小値と最大値とに基づき、当該X軸及びY軸で規定される前記XY平面の領域を設定する領域設定手段と、
前記画像データから、前記領域内の前記測定データを前記X軸及び前記Y軸上の数値データとして取得する測定データ取得手段と、
を備えた測定データ電子化装置。 - 前記X−Y軸取得手段は、前記直線抽出手段が抽出した前記直線のうち、ユーザが選択した2つの直線をそれぞれ前記X軸及び前記Y軸として取得する請求項1に記載の測定データ電子化装置。
- 前記数値取得手段は、ユーザが入力した前記数値を取得する請求項1又は2に記載の測定データ電子化装置。
- 前記X−Y軸取得手段が、前記X軸に対して直交する前記Y軸を2つ取得し、かつ、前記領域内の前記測定データが2種類ある場合に、
ユーザによる、それぞれ2つの前記Y軸への2種類の前記測定データの対応情報に基づき、
前記測定データ取得手段は、前記2種類の測定データを、前記X軸及び対応する前記Y軸上の数値データとして取得する請求項1〜3のいずれかに記載の測定データ電子化装置。 - 前記画像データから前記X軸及び前記Y軸の近傍に位置する文字情報を取得する文字情報取得手段をさらに備え、
前記X−Y軸取得手段は、前記文字情報に基づいて、前記X軸及び前記Y軸の単位をそれぞれ設定する請求項1〜4のいずれかに記載の測定データ電子化装置。 - 前記測定データ上の少なくとも2点にそれぞれ前記X軸及び前記Y軸上の数値が記載されている場合に、
前記領域設定手段は、前記数値と、前記2点の間の前記X軸及び前記Y軸上の距離、及び前記測定データの前記X軸及び前記Y軸の両端の距離に基づき、前記XY平面の領域を設定する請求項1〜4のいずれかに記載の測定データ電子化装置。 - X軸とY軸とのXY平面上に表示された測定データを含む、紙面に表示された紙データが画像読取装置により画像データとして読み取られ、該画像データに基づいて前記測定データを電子化する測定データ電子化プログラムであって、
前記画像データから、前記画像データの画像サイズに対して所定の割合以上の長さを持つ直線を2つ以上抽出する直線抽出過程と、
前記直線のうち、互いに直交する2つの直線をそれぞれ前記X軸及び前記Y軸として取得するX−Y軸取得過程と、
前記画像データから前記X軸及び前記Y軸の近傍に位置する数値を取得する数値取得過程と、
前記X軸及び前記Y軸毎にそれぞれ取得した前記数値の最小値と最大値とに基づき、当該X軸及びY軸で規定される前記XY平面の領域を設定する領域設定過程と、
前記画像データから、前記領域内の前記測定データを前記X軸及び前記Y軸上の数値データとして取得する測定データ取得過程と、
をコンピュータに実行させる測定データ電子化プログラム。
Priority Applications (5)
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