JP2015031903A - Optical device, optical module, electronic equipment, and optical chassis - Google Patents

Optical device, optical module, electronic equipment, and optical chassis Download PDF

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大輔 齋▲藤▼
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an optical device, an optical module, electronic equipment and an optical chassis, in which airtightness of an inner space can be maintained when seam welding is carried out.SOLUTION: An optical filter device 600 includes: a base 620 having a cylindrical side wall 622; a metal ring 640 that is cylindrical and coaxial with the side wall 622, has a first end face 641 joined to the side wall 622 and a second end face 642 on an opposite side to the first end face 641; a lid 630 having a second opening 633 and joined to the second end face 642; a second glass member 650 joined to the lid 630 and closing the second opening 633; and a wavelength variable interference filter 5 housed in a housing space enclosed by the base 620, the metal ring 640 and the lid 630. The second glass member 650 is disposed on a side closer to the second opening 633 than a virtual straight line L1 connecting an outer peripheral edge 642A on the second end face 642 of the metal ring 640 and an outer peripheral edge 632 of an upper face 631 of the lid 630.

Description

本発明は、光学デバイス、光学モジュール、電子機器、及び光学筐体に関する。   The present invention relates to an optical device, an optical module, an electronic apparatus, and an optical housing.

従来、干渉フィルターやミラーデバイス等の光学素子を、気密封止された筐体内に収納した光学デバイスが知られている(例えば、特許文献1参照)。
この特許文献1は、ベースとリッドとを備えた電子デバイス用パッケージにおいて、ベースとリッドとの接合部位に対して、シーム溶接用の溶接電極ローラをトレースしながら大電流を通電させて、シーム溶接による接合(シーム接合)を行っている。
Conventionally, an optical device in which an optical element such as an interference filter or a mirror device is housed in a hermetically sealed casing is known (for example, see Patent Document 1).
In this electronic device package including a base and a lid, a large current is applied to a joint portion between the base and the lid while tracing a welding electrode roller for seam welding. (Seam bonding) is performed.

特開2005−93675号公報JP 2005-93675 A

ところで、ベースとリッドとにより構成される筐体内に、例えば干渉フィルター等の光学素子を収納する場合、リッドやベースに光を入射又は出射させる開口を形成し、当該開口を塞ぐ透光部材(例えばガラス部材)を接合する必要がある。
このようなベースとリッドとをシーム溶接により接合する場合、溶接電極ローラが透光部材に接触すると、透光部材及びリッド間に電流が流れ、透光部材及びリッドを接合する接合部位にクラック等が発生する場合がある。この場合、透光部材及びリッドの気密性が低下してしまうという課題がある。
By the way, in the case where an optical element such as an interference filter is accommodated in a housing constituted by a base and a lid, an opening for allowing light to enter or exit from the lid or the base is formed, and a translucent member that closes the opening (for example, Glass member) must be joined.
When joining such a base and a lid by seam welding, when the welding electrode roller contacts the translucent member, an electric current flows between the translucent member and the lid, and a crack or the like is generated at the joining portion where the translucent member and the lid are joined. May occur. In this case, there exists a subject that the airtightness of a translucent member and a lid will fall.

本発明は、シーム溶接を実施した際に内部空間の気密性を維持できる光学デバイス、光学モジュール、電子機器、及び光学筐体を提供することを目的とする。   An object of the present invention is to provide an optical device, an optical module, an electronic apparatus, and an optical housing that can maintain the airtightness of the internal space when seam welding is performed.

本発明の光学デバイスは、側壁部により囲われた凹部を有するベースと、前記側壁部上の端面に接合され、前記側壁部との接合面とは反対側の第一面を有する金属枠と、前記金属枠に接合され、前記金属枠との接合面とは反対側の第二面、及び開口部を有するリッドと、前記リッドに接合され、前記開口部を閉塞する透光部材と、前記ベースの凹部に載置された光学素子と、を備え、前記透光部材は、前記ベースの前記凹部の深さ方向に沿った断面視において、前記金属枠の前記第一面における外周端と、前記リッドの前記第二面における外周端とを結ぶ仮想直線と交わらないことを特徴とする。   The optical device of the present invention includes a base having a recess surrounded by a side wall, a metal frame bonded to an end surface on the side wall, and having a first surface opposite to the bonding surface with the side wall, A lid that is joined to the metal frame and has a second surface opposite to the joint surface with the metal frame, and an opening, a translucent member that is joined to the lid and closes the opening, and the base An optical element placed on the concave portion of the base, and the translucent member has an outer peripheral end on the first surface of the metal frame in a cross-sectional view along the depth direction of the concave portion of the base, It does not intersect with a virtual straight line connecting the outer peripheral edge of the second surface of the lid.

本発明では、断面視において、金属枠の第一面の外周端と、リッドの第二面の外周端とを結ぶ仮想直線と、透光部材とが交わらない。つまり、透光部材は、仮想直線よりもリッドの開口部側(内側)に設けられている。
このため、金属枠とリッドとをシーム接合する際に、シーム接合用の電極ローラを、金属枠の第一面の外周端と、リッドの第二面の外周端とに接触させた場合に、当該電極ローラが透光部材に接触しない。このため、透光部材及びリッド間で電流が流されることがなく、リッドや透光部材の変形、リッド及び透光部材の接合部位におけるクラックを防止でき、収容空間内を高気密に維持することが可能となる。
In the present invention, the translucent member does not intersect the virtual straight line connecting the outer peripheral end of the first surface of the metal frame and the outer peripheral end of the second surface of the lid in a cross-sectional view. That is, the translucent member is provided on the opening side (inside) of the lid from the virtual straight line.
For this reason, when seam-bonding the metal frame and the lid, when the electrode roller for seam bonding is brought into contact with the outer peripheral end of the first surface of the metal frame and the outer peripheral end of the second surface of the lid, The electrode roller does not contact the translucent member. For this reason, an electric current is not sent between a translucent member and a lid, a deformation | transformation of a lid or a translucent member, a crack in the junction part of a lid and a translucent member can be prevented, and the inside of accommodation space is maintained highly airtight. Is possible.

本発明の光学デバイスにおいて、前記ベースの前記凹部の深さ方向から見た平面視において、前記リッドの外周端から前記透光部材の外周端までの最小距離寸法は、1.5mm以上であることが好ましい。
シーム接合を実施する際に、リッド及び金属枠間に大電流が流れるため、リッド及び金属枠の接合部位の温度が局所的に高くなる。ここで、リッドの第二面の外周端から透光部材の外周端までの最小距離寸法が1.5mm未満である場合、シーム接合時の熱が透光部材及びリッドの接合部に伝達されてしまう。透光部材及びリッドの接合は、透光部材やリッドとは異なる接合部材により接合されているため、上述のような熱が伝達されると、熱膨張係数の差によりクラック等が生じる可能性があり、透光部材及びリッドの接合強度や気密性が低下するおそれがある。これに対して、本発明では、上述のような構成により、シーム接合時の熱が透光部材及びリッドの接合部位に伝達されにくく、接合強度や気密性の低下を抑制できる。
In the optical device of the present invention, the minimum distance dimension from the outer peripheral end of the lid to the outer peripheral end of the translucent member in a plan view viewed from the depth direction of the recess of the base is 1.5 mm or more. Is preferred.
When seam bonding is performed, a large current flows between the lid and the metal frame, so that the temperature at the bonding site of the lid and the metal frame locally increases. Here, when the minimum distance dimension from the outer peripheral edge of the second surface of the lid to the outer peripheral edge of the translucent member is less than 1.5 mm, heat at the time of seam bonding is transmitted to the joint portion of the translucent member and the lid. End up. Since the translucent member and the lid are joined by a joining member different from the translucent member and the lid, if the heat is transferred as described above, a crack or the like may occur due to a difference in thermal expansion coefficient. There is a possibility that the bonding strength and airtightness of the translucent member and the lid may be lowered. On the other hand, in the present invention, with the configuration as described above, heat at the time of seam bonding is not easily transmitted to the bonding portion of the light-transmitting member and the lid, and a decrease in bonding strength and airtightness can be suppressed.

本発明の光学デバイスにおいて、前記リッドは均一厚み寸法を有する平板であり、当該リッドの厚み寸法は、0.15mm以上であることが好ましい。
リッドの厚み寸法が0.15mm未満である場合、リッド及び金属枠のシーム接合時の応力により撓みが生じる場合がある。この場合、撓み変形による応力によって透光部材及びリッドの接合部位が破断、クラックし、接合強度及び気密性が低下してしまう。これに対して、本発明では、上述のような構成により、シーム接合時の応力が加わってもリッドの撓みが生じにくく、撓みによる透光部材及びリッドの接合部位の破断を抑制できる。
In the optical device of the present invention, the lid is a flat plate having a uniform thickness dimension, and the thickness dimension of the lid is preferably 0.15 mm or more.
When the thickness dimension of the lid is less than 0.15 mm, bending may occur due to stress at the time of seam joining of the lid and the metal frame. In this case, the joint portion of the light transmitting member and the lid is broken or cracked by the stress due to the bending deformation, and the joint strength and the airtightness are lowered. On the other hand, in the present invention, due to the above-described configuration, the lid is hardly bent even when a stress is applied during seam bonding, and the breakage of the light-transmitting member and the bonded portion of the lid due to the bending can be suppressed.

本発明の光学デバイスにおいて、前記リッドは、前記金属枠に接合されるリッド接合部と、前記リッド接合部よりも前記開口部側に設けられ、前記リッド接合部よりも厚み寸法が大きいリッド本体部と、を備えたことが好ましい。
シーム接合による接合を実施する場合、リッド接合部及び金属枠間で電流を流して局所的に高温化することで接合する。この際、大電流を効率よく流すためには、リッド接合部における厚み寸法を薄くする必要がある。しかしながら、リッドが均一な平板状である場合、上述したように、シーム溶接時の応力によりリッドが撓むおそれがある。
これに対して、本発明では、リッドは、リッド接合部の内側にリッド接合部よりも厚み寸法が大きいリッド本体部を有する。このため、リッド接合部の厚み寸法を可能な限り薄くした場合でも、リッドの撓みを抑制でき、かつ、リッド接合部の厚み寸法を薄くすることで、シーム接合の接合強度を向上させることができる。
In the optical device according to the aspect of the invention, the lid includes a lid joint portion that is joined to the metal frame, and a lid main body portion that is provided closer to the opening than the lid joint portion and has a thickness dimension larger than that of the lid joint portion. And are preferably provided.
When joining by seam joining, it joins by making an electric current flow locally between a lid junction part and a metal frame, and raising temperature locally. At this time, in order to flow a large current efficiently, it is necessary to reduce the thickness dimension at the lid joint. However, when the lid has a uniform flat plate shape, as described above, the lid may be bent due to stress during seam welding.
On the other hand, in the present invention, the lid has a lid main body portion having a thickness dimension larger than that of the lid joint portion inside the lid joint portion. For this reason, even when the thickness dimension of the lid joint portion is made as thin as possible, the bending of the lid can be suppressed, and the joint strength of the seam joint can be improved by reducing the thickness dimension of the lid joint portion. .

本発明の光学デバイスにおいて、前記リッド本体部は、前記仮想直線と交わらないことが好ましい。
このような構成では、シーム接合時において、電極ローラがリッド本体部に接触しない。したがって、リッド本体部から透光部材への熱の伝達を防止でき、リッド及び透光部材の接合部位が熱によって破壊される不都合を抑制できる。
In the optical device according to the aspect of the invention, it is preferable that the lid main body portion does not intersect the virtual straight line.
In such a configuration, the electrode roller does not contact the lid main body during seam bonding. Therefore, it is possible to prevent heat from being transmitted from the lid main body portion to the translucent member, and it is possible to suppress inconvenience that the bonded portion of the lid and the translucent member is destroyed by heat.

本発明の光学デバイスにおいて、前記リッド本体部の厚み寸法は、0.15mm以上であることが好ましい。
本発明では、リッド本体部の厚み寸法を0.15mm以上にすることで、上記発明と同様、リッドの撓みを抑制できる。また、リッド接合部においては、例えば厚み寸法を0.1mm程度に設定でき、リッド及び金属枠の接合強度及び気密性を十分に確保できる。
In the optical device of the present invention, it is preferable that a thickness dimension of the lid main body portion is 0.15 mm or more.
In the present invention, by making the thickness of the lid main body portion 0.15 mm or more, the bending of the lid can be suppressed as in the above-described invention. Moreover, in a lid junction part, thickness dimension can be set to about 0.1 mm, for example, and the joint strength and airtightness of a lid and a metal frame can fully be ensured.

本発明の光学デバイスにおいて、前記光学素子は、互いに対向する一対の反射膜を備えたファブリーペローエタロン素子であることが好ましい。
本発明では、光学素子としてファブリーペローエタロン素子がリッド及びベースにより構成される収容空間内に収容される。ファブリーペローエタロン素子は、熱等によって反射膜が劣化するおそれがある。これに対して本発明では、上述したように、シーム溶接時の熱が伝達されにくい構成となり、ファブリーペローエタロン素子の性能低下を抑制できる。
また、例えば静電アクチュエーター等の駆動手段を設け、反射膜間のギャップ寸法を可変可能なエタロン素子を用いる場合では、収容空間内を例えば真空等、減圧下に維持し、駆動時の応答速度を速めることが好ましい。本発明であれば、上述したような構成により、高気密性を維持できるため、応答速度の低下を抑制できる。
In the optical device according to the aspect of the invention, it is preferable that the optical element is a Fabry-Perot etalon element including a pair of reflective films facing each other.
In the present invention, a Fabry-Perot etalon element as an optical element is accommodated in an accommodation space constituted by a lid and a base. In the Fabry-Perot etalon element, the reflection film may be deteriorated by heat or the like. On the other hand, in this invention, as mentioned above, it becomes the structure where the heat | fever at the time of seam welding is not transmitted easily, and can suppress the performance fall of a Fabry-Perot etalon element.
In addition, when using an etalon element that is provided with a driving means such as an electrostatic actuator and can change the gap size between the reflecting films, the inside of the housing space is maintained under a reduced pressure such as a vacuum to increase the response speed during driving. It is preferable to speed up. If it is this invention, since a high airtightness can be maintained by the structure as mentioned above, the fall of a response speed can be suppressed.

本発明の光学モジュールは、側壁部により囲われた凹部を有するベース、前記側壁部上の端面に接合され、前記側壁部との接合面とは反対側の第一面を有する金属枠、前記金属枠に接合され、前記金属枠との接合面とは反対側の第二面、及び開口部を有するリッド、前記リッドに接合され、前記開口部を閉塞する透光部材、及び前記ベースの凹部に載置されたファブリーペローエタロン素子を有する光学デバイスと、前記光学デバイスから出射された光を受光する受光部と、を備え、前記透光部材は、前記ベースの前記凹部の深さ方向に沿った断面視において、前記金属枠の前記第一面における外周端と、前記リッドの前記第二面における外周端とを結ぶ仮想直線と交わらないことを特徴とする。
本発明では、上述した発明のように、光学デバイスにおいてファブリーペローエタロン素子に対して熱が伝わりにくく、反射膜の劣化を抑制できる。したがって、光学モジュールにおいて、高精度に所望波長の光を受光部にて受光できる。
The optical module according to the present invention includes a base having a recess surrounded by a side wall, a metal frame bonded to an end surface on the side wall, and having a first surface opposite to the bonding surface with the side wall, the metal A lid that is bonded to the frame and is opposite to the bonding surface with the metal frame; and a lid having an opening; a translucent member that is bonded to the lid and closes the opening; and a recess in the base An optical device having a mounted Fabry-Perot etalon element; and a light receiving unit that receives light emitted from the optical device, wherein the translucent member extends along a depth direction of the concave portion of the base In a cross-sectional view, the metal frame does not intersect with an imaginary straight line connecting the outer peripheral end of the first surface of the metal frame and the outer peripheral end of the lid of the second surface.
In the present invention, as in the above-described invention, heat is hardly transmitted to the Fabry-Perot etalon element in the optical device, and deterioration of the reflective film can be suppressed. Therefore, in the optical module, light having a desired wavelength can be received by the light receiving unit with high accuracy.

本発明の電子機器は、側壁部により囲われた凹部を有するベース、前記側壁部上の端面に接合され、前記側壁部との接合面とは反対側の第一面を有する金属枠、前記金属枠に接合され、前記金属枠との接合面とは反対側の第二面、及び開口部を有するリッド、前記リッドに接合され、前記開口部を閉塞する透光部材、及び前記ベースの凹部に載置されたファブリーペローエタロン素子を有する光学デバイスと、前記光学デバイスを制御する制御部と、を備え、前記透光部材は、前記ベースの前記凹部の深さ方向に沿った断面視において、前記金属枠の前記第一面における外周端と、前記リッドの前記第二面における外周端とを結ぶ仮想直線と交わらないことを特徴とする。
本発明では、上述した発明と同様、光学デバイスにおいてファブリーペローエタロン素子に対して熱が伝わりにくく、反射膜の劣化を抑制できる。したがって、電子機器においても、光学デバイスから出力された光に基づいて、例えば分光測定処理等の各種処理を高精度に実施できる。
The electronic device according to the present invention includes a base having a recess surrounded by a side wall, a metal frame bonded to an end surface on the side wall, and having a first surface opposite to the bonding surface with the side wall, the metal A lid that is bonded to the frame and is opposite to the bonding surface with the metal frame; and a lid having an opening; a translucent member that is bonded to the lid and closes the opening; and a recess in the base An optical device having a mounted Fabry-Perot etalon element; and a control unit that controls the optical device, wherein the translucent member is a cross-sectional view along the depth direction of the recess of the base, It does not intersect with an imaginary straight line connecting the outer peripheral end of the first surface of the metal frame and the outer peripheral end of the second surface of the lid.
In the present invention, similarly to the above-described invention, heat is not easily transmitted to the Fabry-Perot etalon element in the optical device, and deterioration of the reflective film can be suppressed. Therefore, even in an electronic apparatus, various processes such as a spectroscopic measurement process can be performed with high accuracy based on the light output from the optical device.

本発明の光学筐体は、側壁部により囲われた凹部を有するベースと、前記側壁部上の端面に接合され、前記側壁部との接合面とは反対側の第一面を有する金属枠と、前記金属枠に接合され、前記金属枠との接合面とは反対側の第二面、及び開口部を有するリッドと、前記リッドに接合され、前記開口部を閉塞する透光部材と、を備え、前記透光部材は、前記ベースの前記凹部の深さ方向に沿った断面視において、前記金属枠の前記第一面における外周端と、前記リッドの前記第二面における外周端とを結ぶ仮想直線と交わらないことを特徴とする。
本発明では、上述した発明と同様、シーム接合時において、透光部材及びリッド間で電流が流されることがなく、リッドや透光部材の変形、リッド及び透光部材の接合部位におけるクラックを防止でき、リッド及びベースにより構成される収容空間内を高気密に維持することが可能となる。
An optical housing according to the present invention includes a base having a recess surrounded by a side wall, a metal frame bonded to an end surface on the side wall, and having a first surface opposite to the bonding surface with the side wall. A lid that is bonded to the metal frame and that has a second surface opposite to the bonding surface with the metal frame, and an opening; and a light-transmissive member that is bonded to the lid and closes the opening. The translucent member connects the outer peripheral end of the first surface of the metal frame and the outer peripheral end of the second surface of the lid in a cross-sectional view along the depth direction of the concave portion of the base. It does not intersect with a virtual straight line.
In the present invention, similarly to the above-described invention, no current is passed between the light-transmitting member and the lid during seam bonding, and deformation of the lid and the light-transmitting member and cracks at the bonding portion of the lid and the light-transmitting member are prevented. It is possible to maintain the inside of the housing space constituted by the lid and the base in a highly airtight manner.

第一実施形態の光学フィルターデバイスの概略を示す平面図。The top view which shows the outline of the optical filter device of 1st embodiment. 第一実施形態の光学フィルターデバイスの断面図。Sectional drawing of the optical filter device of 1st embodiment. 第一実施形態の波長可変干渉フィルターの平面図。The top view of the wavelength variable interference filter of 1st embodiment. 第一実施形態の波長可変干渉フィルターの断面図。Sectional drawing of the wavelength variable interference filter of 1st embodiment. 第一実施形態の光学フィルターデバイスの製造工程を示すフローチャート。The flowchart which shows the manufacturing process of the optical filter device of 1st embodiment. 第一実施形態の筐体接合工程におけるシーム接合を示す図。The figure which shows the seam joining in the housing | casing joining process of 1st embodiment. 第二実施形態の光学フィルターデバイスの断面図。Sectional drawing of the optical filter device of 2nd embodiment. 第二実施形態の筐体接合工程におけるシーム接合を示す図。The figure which shows the seam joining in the housing | casing joining process of 2nd embodiment. 第三実施形態の測色装置の概略構成を示すブロック図。The block diagram which shows schematic structure of the color measuring apparatus of 3rd embodiment. 電子機器の一例であるガス検出装置の概略構成を示す図。The figure which shows schematic structure of the gas detection apparatus which is an example of an electronic device. 図10のガス検出装置の制御系の構成を示すブロック図。The block diagram which shows the structure of the control system of the gas detection apparatus of FIG. 電子機器の一例である食物分析装置の概略構成を示す図。The figure which shows schematic structure of the food analyzer which is an example of an electronic device. 電子機器の一例である分光カメラの概略構成を示す図。The figure which shows schematic structure of the spectroscopic camera which is an example of an electronic device.

[第一実施形態]
以下、本発明に係る第一実施形態を図面に基づいて説明する。
[光学フィルターデバイスの構成]
図1は、本発明の光学デバイスの一実施形態である、光学フィルターデバイス600の概略構成を示す平面図である。また、図2は、当該光学フィルターデバイス600の断面図である。
光学フィルターデバイス600は、入射した検査対象光から、所定の目的波長の光を取り出して射出させる装置であり、筐体610(本発明の光学筐体)と、筐体610の内部に収納される波長可変干渉フィルター5を備えている。このような光学フィルターデバイス600は、例えば測色センサー等の光学モジュールや、測色装置やガス分析装置等の電子機器に組み込むことができる。なお、光学フィルターデバイス600を備えた光学モジュールや電子機器の構成については、後に詳述する。
[First embodiment]
Hereinafter, a first embodiment according to the present invention will be described with reference to the drawings.
[Configuration of optical filter device]
FIG. 1 is a plan view showing a schematic configuration of an optical filter device 600, which is an embodiment of the optical device of the present invention. FIG. 2 is a cross-sectional view of the optical filter device 600.
The optical filter device 600 is a device that extracts and emits light having a predetermined target wavelength from incident light to be inspected, and is housed in a housing 610 (the optical housing of the present invention) and the housing 610. A wavelength variable interference filter 5 is provided. Such an optical filter device 600 can be incorporated into an optical module such as a colorimetric sensor, or an electronic device such as a colorimetric device or a gas analyzer. Note that the configuration of an optical module or electronic device including the optical filter device 600 will be described in detail later.

[波長可変干渉フィルターの構成]
波長可変干渉フィルター5は、本発明の光学素子の一例である。
図3は、筐体610内部に収納された波長可変干渉フィルター5の概略構成を示す平面図であり、図4は、図3のIV−IV線で切断した、波長可変干渉フィルター5の概略構成を示す断面図である。
波長可変干渉フィルター5は、図3に示すように、固定基板51及び可動基板52を備えている。これらの固定基板51及び可動基板52は、それぞれ例えば、ソーダガラス、結晶性ガラス、石英ガラス、鉛ガラス、カリウムガラス、ホウケイ酸ガラス、無アルカリガラス等の各種ガラスや、水晶等により形成されている。そして、これらの固定基板51及び可動基板52は、図4に示すように、接合膜53(第一接合膜531及び第二接合膜532)により接合されることで、一体的に構成されている。具体的には、固定基板51の第一接合部513、及び可動基板52の第二接合部523が、例えばシロキサンを主成分とするプラズマ重合膜等により構成された接合膜53により接合されている。
なお、以降の説明に当たり、固定基板51又は可動基板52の基板厚み方向から見た平面視、つまり、固定基板51、接合膜53、及び可動基板52の積層方向から波長可変干渉フィルター5を見た平面視を、フィルター平面視と称する。
[Configuration of wavelength tunable interference filter]
The wavelength variable interference filter 5 is an example of the optical element of the present invention.
3 is a plan view showing a schematic configuration of the variable wavelength interference filter 5 housed in the housing 610. FIG. 4 is a schematic configuration of the variable wavelength interference filter 5 taken along line IV-IV in FIG. FIG.
As shown in FIG. 3, the variable wavelength interference filter 5 includes a fixed substrate 51 and a movable substrate 52. The fixed substrate 51 and the movable substrate 52 are each formed of, for example, various glasses such as soda glass, crystalline glass, quartz glass, lead glass, potassium glass, borosilicate glass, and alkali-free glass, crystal, and the like. . Then, as shown in FIG. 4, the fixed substrate 51 and the movable substrate 52 are integrally formed by being bonded by the bonding film 53 (the first bonding film 531 and the second bonding film 532). . Specifically, the first bonding portion 513 of the fixed substrate 51 and the second bonding portion 523 of the movable substrate 52 are bonded by a bonding film 53 made of, for example, a plasma polymerized film mainly containing siloxane. .
In the following description, the wavelength tunable interference filter 5 was seen from a plan view seen from the thickness direction of the fixed substrate 51 or the movable substrate 52, that is, from the stacking direction of the fixed substrate 51, the bonding film 53, and the movable substrate 52. The plan view is referred to as a filter plan view.

固定基板51には、図4に示すように、本発明の一対の反射膜の一方を構成する固定反射膜54が設けられている。また、可動基板52には、本発明の一対の反射膜の他方を構成する可動反射膜55が設けられている。これらの固定反射膜54及び可動反射膜55は、反射膜間ギャップG1を介して対向配置されている。
そして、波長可変干渉フィルター5には、反射膜間ギャップG1の距離(ギャップ寸法)を調整するのに用いられる静電アクチュエーター56が設けられている。この静電アクチュエーター56は、固定基板51に設けられた固定電極561と、可動基板52に設けられた可動電極562と、を備え、各電極561,562が対向することにより構成されている。これらの固定電極561,可動電極562は、電極間ギャップを介して対向する。ここで、これらの電極561,562は、それぞれ固定基板51及び可動基板52の基板表面に直接設けられる構成であってもよく、他の膜部材を介して設けられる構成であってもよい。
なお、本実施形態では、反射膜間ギャップG1が電極間ギャップよりも小さく形成される構成を例示するが、例えば波長可変干渉フィルター5により透過させる波長域によっては、反射膜間ギャップG1を電極間ギャップよりも大きく形成してもよい。
また、フィルター平面視において、固定基板51の辺C1−C2は、可動基板52の辺C1´−C2´よりも外側に突出し、固定側電装部514を構成する。また、可動基板52の辺C3´−C4´は、固定基板51の辺C3−C4よりも外側に突出し、可動側電装部524を構成する。
As shown in FIG. 4, the fixed substrate 51 is provided with a fixed reflective film 54 constituting one of the pair of reflective films of the present invention. The movable substrate 52 is provided with a movable reflective film 55 that constitutes the other of the pair of reflective films of the present invention. The fixed reflection film 54 and the movable reflection film 55 are disposed to face each other via the inter-reflection film gap G1.
The wavelength variable interference filter 5 is provided with an electrostatic actuator 56 that is used to adjust the distance (gap size) of the gap G1 between the reflection films. The electrostatic actuator 56 includes a fixed electrode 561 provided on the fixed substrate 51 and a movable electrode 562 provided on the movable substrate 52, and each electrode 561 and 562 are opposed to each other. These fixed electrode 561 and movable electrode 562 are opposed to each other through an interelectrode gap. Here, the electrodes 561 and 562 may be provided directly on the substrate surfaces of the fixed substrate 51 and the movable substrate 52, respectively, or may be provided via other film members.
In the present embodiment, the configuration in which the gap G1 between the reflection films is formed smaller than the gap between the electrodes is exemplified. However, depending on the wavelength range transmitted by the wavelength variable interference filter 5, for example, the gap G1 between the reflection films is formed between the electrodes. You may form larger than a gap.
Further, in the filter plan view, the side C <b> 1-C <b> 2 of the fixed substrate 51 protrudes outward from the side C <b> 1 ′ -C <b> 2 ′ of the movable substrate 52, thereby constituting the fixed-side electrical component 514. Further, the side C3′-C4 ′ of the movable substrate 52 protrudes outward from the side C3-C4 of the fixed substrate 51, and constitutes the movable-side electrical component 524.

(固定基板の構成)
固定基板51には、エッチングにより電極配置溝511及び反射膜設置部512が形成されている。この固定基板51は、可動基板52に対して厚み寸法が大きく形成されており、固定電極561及び可動電極562間に電圧を印加した際の静電引力や、固定電極561の内部応力による固定基板51の撓みはない。
(Configuration of fixed substrate)
In the fixed substrate 51, an electrode arrangement groove 511 and a reflection film installation part 512 are formed by etching. The fixed substrate 51 is formed to have a thickness larger than that of the movable substrate 52, and the fixed substrate is caused by electrostatic attraction when a voltage is applied between the fixed electrode 561 and the movable electrode 562 or internal stress of the fixed electrode 561. There is no 51 deflection.

電極配置溝511は、フィルター平面視で、固定基板51のフィルター中心点Oを中心とした環状に形成されている。反射膜設置部512は、前記平面視において、電極配置溝511の中心部から可動基板52側に突出して形成されている。この電極配置溝511の溝底面は、固定電極561が配置される電極設置面511Aとなる。また、反射膜設置部512の突出先端面は、反射膜設置面512Aとなる。
また、固定基板51には、電極配置溝511から固定側電装部514までの領域、及び電極配置溝511から辺C3−C4までの領域に接続電極溝511Bが設けられている。なお、本実施形態では、電極設置面511A、接続電極溝511Bの底部、及び固定側電装部514の表面は同一平面となる。
The electrode arrangement groove 511 is formed in an annular shape centering on the filter center point O of the fixed substrate 51 in the filter plan view. The reflection film installation part 512 is formed so as to protrude from the center part of the electrode arrangement groove 511 toward the movable substrate 52 in the plan view. The groove bottom surface of the electrode arrangement groove 511 is an electrode installation surface 511A on which the fixed electrode 561 is arranged. In addition, the protruding front end surface of the reflection film installation portion 512 is a reflection film installation surface 512A.
Further, in the fixed substrate 51, connection electrode grooves 511B are provided in a region from the electrode arrangement groove 511 to the fixed-side electrical component 514 and a region from the electrode arrangement groove 511 to the side C3-C4. In the present embodiment, the electrode installation surface 511A, the bottom of the connection electrode groove 511B, and the surface of the fixed-side electrical component 514 are on the same plane.

電極設置面511Aには、静電アクチュエーター56を構成する固定電極561が設けられている。より具体的には、固定電極561は、電極設置面511Aのうち、後述する可動部521の可動電極562に対向する領域に設けられている。また、固定電極561上に、固定電極561及び可動電極562の間の絶縁性を確保するための絶縁膜が積層される構成としてもよい。
そして、固定基板51には、固定電極561の外周縁に接続された固定接続電極563が設けられている。この固定接続電極563は、電極配置溝511から固定側電装部514に向かう接続電極溝511B、固定側電装部514に亘って設けられている。この固定接続電極563は、固定側電装部514において、後述する内側端子部に電気的に接続される固定電極パッド563Pを構成する。
なお、本実施形態では、電極設置面511Aに1つの固定電極561が設けられる構成を示すが、例えば、フィルター中心点Oを中心とした同心円となる2つの電極が設けられる構成(二重電極構成)などとしてもよい。その他、固定反射膜54上に透明電極を設ける構成や、導電性の固定反射膜54を用い、当該固定反射膜54から固定側電装部514に接続電極を形成してもよく、この場合、固定電極561として、接続電極の位置に応じて、一部が切り欠かれた構成などとしてもよい。
A fixed electrode 561 constituting the electrostatic actuator 56 is provided on the electrode installation surface 511A. More specifically, the fixed electrode 561 is provided in a region of the electrode installation surface 511 </ b> A that faces a movable electrode 562 of the movable portion 521 described later. In addition, an insulating film for ensuring insulation between the fixed electrode 561 and the movable electrode 562 may be stacked over the fixed electrode 561.
The fixed substrate 51 is provided with a fixed connection electrode 563 connected to the outer peripheral edge of the fixed electrode 561. The fixed connection electrode 563 is provided across the connection electrode groove 511 </ b> B from the electrode arrangement groove 511 toward the fixed-side electrical component 514 and the fixed-side electrical component 514. The fixed connection electrode 563 forms a fixed electrode pad 563P that is electrically connected to an inner terminal portion described later in the fixed-side electrical component 514.
In the present embodiment, a configuration in which one fixed electrode 561 is provided on the electrode installation surface 511A is shown. For example, a configuration in which two concentric circles centering on the filter center point O are provided (double electrode configuration). ) Etc. In addition, a configuration in which a transparent electrode is provided on the fixed reflection film 54, or a conductive fixed reflection film 54 may be used to form a connection electrode from the fixed reflection film 54 to the fixed-side electrical component 514. The electrode 561 may have a structure in which a part thereof is cut off in accordance with the position of the connection electrode.

反射膜設置部512は、上述したように、電極配置溝511と同軸上で、電極配置溝511よりも小さい径寸法となる略円柱状に形成され、当該反射膜設置部512の可動基板52に対向する反射膜設置面512Aを備えている。
この反射膜設置部512には、図4に示すように、固定反射膜54が設置されている。この固定反射膜54としては、例えばAg等の金属膜や、Ag合金等の合金膜を用いることができる。また、例えば高屈折層をTiO、低屈折層をSiOとした誘電体多層膜を用いてもよい。更に、誘電体多層膜上に金属膜(又は合金膜)を積層した反射膜や、金属膜(又は合金膜)上に誘電体多層膜を積層した反射膜、単層の屈折層(TiOやSiO等)と金属膜(又は合金膜)とを積層した反射膜などを用いてもよい。
As described above, the reflective film installation portion 512 is formed in a substantially cylindrical shape that is coaxial with the electrode arrangement groove 511 and has a smaller diameter than the electrode arrangement groove 511, and is formed on the movable substrate 52 of the reflection film installation portion 512. An opposing reflection film installation surface 512A is provided.
As shown in FIG. 4, a fixed reflection film 54 is installed in the reflection film installation portion 512. As the fixed reflective film 54, for example, a metal film such as Ag or an alloy film such as an Ag alloy can be used. For example, a dielectric multilayer film in which the high refractive layer is TiO 2 and the low refractive layer is SiO 2 may be used. Further, a reflective film in which a metal film (or alloy film) is laminated on a dielectric multilayer film, a reflective film in which a dielectric multilayer film is laminated on a metal film (or alloy film), a single refractive layer (TiO 2 , SiO 2) and a metal film (or alloy film) and the like may be used reflective film formed by laminating a.

また、固定基板51の光入射面(固定反射膜54が設けられない面)には、固定反射膜54に対応する位置に反射防止膜を形成してもよい。この反射防止膜は、低屈折率膜及び高屈折率膜を交互に積層することで形成することができ、固定基板51の表面での可視光の反射率を低下させ、透過率を増大させる。   Further, an antireflection film may be formed at a position corresponding to the fixed reflection film 54 on the light incident surface of the fixed substrate 51 (the surface on which the fixed reflection film 54 is not provided). This antireflection film can be formed by alternately laminating a low refractive index film and a high refractive index film, and reduces the reflectance of visible light on the surface of the fixed substrate 51 and increases the transmittance.

そして、固定基板51の可動基板52に対向する面のうち、エッチングにより、電極配置溝511、反射膜設置部512、及び接続電極溝511Bが形成されない面は、第一接合部513を構成する。この第一接合部513には、第一接合膜531が設けられ、この第一接合膜531が、可動基板52に設けられた第二接合膜532に接合されることで、上述したように、固定基板51及び可動基板52が接合される。   Of the surfaces of the fixed substrate 51 facing the movable substrate 52, the surfaces on which the electrode placement groove 511, the reflective film installation portion 512, and the connection electrode groove 511 </ b> B are not formed by etching constitute the first bonding portion 513. The first bonding portion 513 is provided with a first bonding film 531. By bonding the first bonding film 531 to the second bonding film 532 provided on the movable substrate 52, as described above, The fixed substrate 51 and the movable substrate 52 are joined.

(可動基板の構成)
可動基板52は、フィルター中心点Oを中心とした円形状の可動部521と、可動部521と同軸であり可動部521を保持する保持部522と、を備えている。
(Configuration of movable substrate)
The movable substrate 52 includes a circular movable portion 521 centered on the filter center point O, and a holding portion 522 that is coaxial with the movable portion 521 and holds the movable portion 521.

可動部521は、保持部522よりも厚み寸法が大きく形成される。この可動部521は、フィルター平面視において、少なくとも反射膜設置面512Aの外周縁の径寸法よりも大きい径寸法に形成されている。そして、この可動部521には、可動電極562及び可動反射膜55が設けられている。
なお、固定基板51と同様に、可動部521の固定基板51とは反対側の面には、反射防止膜が形成されていてもよい。このような反射防止膜は、低屈折率膜及び高屈折率膜を交互に積層することで形成することができ、可動基板52の表面での可視光の反射率を低下させ、透過率を増大させることができる。
The movable part 521 is formed with a thickness dimension larger than that of the holding part 522. The movable portion 521 is formed to have a diameter larger than at least the diameter of the outer peripheral edge of the reflection film installation surface 512A in the filter plan view. The movable part 521 is provided with a movable electrode 562 and a movable reflective film 55.
Similar to the fixed substrate 51, an antireflection film may be formed on the surface of the movable portion 521 opposite to the fixed substrate 51. Such an antireflection film can be formed by alternately laminating a low refractive index film and a high refractive index film, reducing the reflectance of visible light on the surface of the movable substrate 52 and increasing the transmittance. Can be made.

可動電極562は、ギャップG2を介して固定電極561に対向し、固定電極561と同一形状となる環状に形成されている。この可動電極562は、固定電極561とともに静電アクチュエーター56を構成する。また、可動基板52には、可動電極562の外周縁に接続された可動接続電極564が設けられている。この可動接続電極564は、可動部521から、固定基板51の辺C3−C4側に設けられた接続電極溝511Bに対向する位置、可動側電装部524に亘って設けられ、可動側電装部524において、内側端子部に電気的に接続される可動電極パッド564Pを構成する。   The movable electrode 562 faces the fixed electrode 561 through the gap G2, and is formed in an annular shape having the same shape as the fixed electrode 561. The movable electrode 562 forms an electrostatic actuator 56 together with the fixed electrode 561. The movable substrate 52 is provided with a movable connection electrode 564 connected to the outer peripheral edge of the movable electrode 562. The movable connection electrode 564 is provided from the movable part 521 to a position facing the connection electrode groove 511B provided on the side C3-C4 side of the fixed substrate 51, the movable side electrical part 524, and the movable side electrical part 524. The movable electrode pad 564P electrically connected to the inner terminal portion is configured.

可動反射膜55は、可動部521の可動面521Aの中心部に、固定反射膜54とギャップG1を介して対向して設けられる。この可動反射膜55としては、上述した固定反射膜54と同一の構成の反射膜が用いられる。
なお、本実施形態では、上述したように、ギャップG2がギャップG1の寸法よりも大きい例を示すがこれに限定されない。例えば、測定対象光として赤外線や遠赤外線を用いる場合等、測定対象光の波長域によっては、ギャップG1の寸法が、ギャップG2の寸法よりも大きくなる構成としてもよい。
The movable reflective film 55 is provided in the central part of the movable surface 521A of the movable part 521 so as to face the fixed reflective film 54 via the gap G1. As the movable reflective film 55, a reflective film having the same configuration as that of the fixed reflective film 54 described above is used.
In the present embodiment, as described above, an example in which the gap G2 is larger than the dimension of the gap G1 is shown, but the present invention is not limited to this. For example, when infrared rays or far infrared rays are used as the measurement target light, the gap G1 may be larger than the gap G2 depending on the wavelength range of the measurement target light.

保持部522は、可動部521の周囲を囲うダイアフラムであり、可動部521よりも厚み寸法が小さく形成されている。このような保持部522は、可動部521よりも撓みやすく、僅かな静電引力により、可動部521を固定基板51側に変位させることが可能となる。この際、可動部521が保持部522よりも厚み寸法が大きく、剛性が大きくなるため、保持部522が静電引力により固定基板51側に引っ張られた場合でも、可動部521の形状変化が起こらない。したがって、可動部521に設けられた可動反射膜55の撓みも生じず、固定反射膜54及び可動反射膜55を常に平行状態に維持することが可能となる。
なお、本実施形態では、ダイアフラム状の保持部522を例示するが、これに限定されず、例えば、フィルター中心点Oを中心として、等角度間隔で配置された梁状の保持部が設けられる構成などとしてもよい。
The holding part 522 is a diaphragm that surrounds the periphery of the movable part 521, and has a thickness dimension smaller than that of the movable part 521. Such a holding part 522 is easier to bend than the movable part 521, and the movable part 521 can be displaced toward the fixed substrate 51 by a slight electrostatic attraction. At this time, since the movable portion 521 has a thickness dimension larger than that of the holding portion 522 and becomes rigid, even when the holding portion 522 is pulled toward the fixed substrate 51 by electrostatic attraction, the shape of the movable portion 521 changes. Absent. Therefore, the movable reflective film 55 provided on the movable portion 521 is not bent, and the fixed reflective film 54 and the movable reflective film 55 can be always maintained in a parallel state.
In the present embodiment, the diaphragm-like holding part 522 is illustrated, but the present invention is not limited to this. For example, a configuration in which beam-like holding parts arranged at equiangular intervals around the filter center point O are provided. And so on.

可動基板52において、第一接合部513に対向する領域は、第二接合部523となる。この第二接合部523には、第二接合膜532が設けられ、上述したように、第二接合膜532が第一接合膜531に接合されることで、固定基板51及び可動基板52が接合さる。   In the movable substrate 52, a region facing the first joint portion 513 is a second joint portion 523. The second bonding portion 523 is provided with the second bonding film 532. As described above, the second bonding film 532 is bonded to the first bonding film 531, so that the fixed substrate 51 and the movable substrate 52 are bonded. Monkey.

[筐体の構成]
筐体610は、図1及び図2に示すように、ベース620と、リッド630と、金属リング640(金属枠)と、を備えている。これらのベース620及びリッド630が金属リング640を介して接合されることで、内部に収容空間が形成され、この収容空間内に波長可変干渉フィルター5が収納される。
[Case configuration]
As shown in FIGS. 1 and 2, the housing 610 includes a base 620, a lid 630, and a metal ring 640 (metal frame). The base 620 and the lid 630 are joined to each other via the metal ring 640, whereby an accommodation space is formed inside, and the wavelength variable interference filter 5 is accommodated in the accommodation space.

(ベースの構成)
ベース620は、例えばセラミック等により構成されている。このベース620は、台座部621と、側壁部622と、を備える。
台座部621は、フィルター平面視において例えば矩形状の外形を有する平板状に構成されており、この台座部621の外周部から筒状の側壁部622がリッド630に向かって立ち上がる。なお、本実施形態では、台座部621が矩形平板状であるため、これに対応して側壁部622が四角筒状に構成される例を示すが、例えば、円筒形状等に形成されていてもよい。
(Base configuration)
The base 620 is made of, for example, ceramic. The base 620 includes a pedestal portion 621 and a side wall portion 622.
The pedestal portion 621 is configured in a flat plate shape having, for example, a rectangular outer shape in a filter plan view, and a cylindrical side wall portion 622 rises from the outer peripheral portion of the pedestal portion 621 toward the lid 630. In the present embodiment, since the pedestal portion 621 has a rectangular flat plate shape, an example in which the side wall portion 622 is formed in a rectangular tube shape corresponding to this is shown. Good.

台座部621は、厚み方向に貫通する第一開口部623を備えている。この第一開口部623は、台座部621に波長可変干渉フィルター5を収容した状態で、台座部621を厚み方向から見た平面視において、反射膜54,55と重なる領域を含むように設けられている。
また、台座部621のリッド630とは反対側の面(ベース外側面621B)には、第一開口部623を覆う第一ガラス部材627が接合されている。台座部621と第一ガラス部材627との接合は、例えば、ガラス原料を高温で熔解し、急冷したガラスのかけらであるガラスフリット(低融点ガラス)を用いた低融点ガラス接合、エポキシ樹脂等による接着などを利用できる。本実施形態では、収容空間内が減圧下に維持された状態で気密に維持する。したがって、台座部621及び第一ガラス部材627は、低融点ガラス接合を用いて接合されることが好ましい。
The pedestal portion 621 includes a first opening 623 that penetrates in the thickness direction. The first opening 623 is provided so as to include a region overlapping the reflective films 54 and 55 in a plan view of the pedestal 621 viewed from the thickness direction in a state where the wavelength variable interference filter 5 is accommodated in the pedestal 621. ing.
Further, a first glass member 627 covering the first opening 623 is joined to a surface (base outer surface 621B) opposite to the lid 630 of the pedestal 621. The joining of the pedestal 621 and the first glass member 627 is performed by, for example, low melting point glass joining using a glass frit (low melting point glass) that is a piece of glass melted at a high temperature and rapidly cooled, epoxy resin, or the like. Adhesion can be used. In the present embodiment, the housing space is kept airtight in a state where the inside of the housing space is maintained under reduced pressure. Therefore, it is preferable that the pedestal 621 and the first glass member 627 are bonded using low-melting glass bonding.

また、台座部621のリッド630に対向する内面(ベース内側面621A)には、波長可変干渉フィルター5の各電極パッド563P,564Pに接続される内側端子部624が設けられている。内側端子部624と、各電極パッド563P,564Pとは、例えばワイヤーボンディングにより、Au等のワイヤーを用いて接続される。なお、本実施形態では、ワイヤーボンディングを例示するが、例えば、FPC(Flexible Printed Circuits)等を用いてもよい。
また、台座部621は、内側端子部624が設けられる位置に、貫通孔625が形成されている。内側端子部624は、貫通孔625を介して、台座部621のベース外側面621Bに設けられた外側端子部626に接続されている。
Further, an inner terminal portion 624 connected to each electrode pad 563P, 564P of the wavelength tunable interference filter 5 is provided on the inner surface (base inner surface 621A) facing the lid 630 of the pedestal portion 621. The inner terminal portion 624 and the electrode pads 563P and 564P are connected using a wire such as Au, for example, by wire bonding. In addition, although wire bonding is illustrated in this embodiment, for example, FPC (Flexible Printed Circuits) may be used.
The pedestal portion 621 has a through hole 625 at a position where the inner terminal portion 624 is provided. The inner terminal portion 624 is connected to the outer terminal portion 626 provided on the base outer surface 621 </ b> B of the pedestal portion 621 through the through hole 625.

側壁部622は、台座部621の縁部から立ち上がり、ベース内側面621Aに載置された波長可変干渉フィルター5の周囲を覆っている。側壁部622のリッド630に対向する面(端面622A)は、例えばベース内側面621Aに平行な平坦面となる。   The side wall portion 622 rises from the edge portion of the pedestal portion 621 and covers the periphery of the wavelength variable interference filter 5 placed on the base inner side surface 621A. A surface (end surface 622A) facing the lid 630 of the side wall portion 622 is, for example, a flat surface parallel to the base inner surface 621A.

そして、ベース620には、例えば接着剤等の固定材を用いて、波長可変干渉フィルター5が固定される。この際、波長可変干渉フィルター5は、台座部621に対して固定されていてもよく、側壁部622に対して固定されていてもよい。固定材を設ける位置としては、複数個所であってもよいが、固定材の応力が波長可変干渉フィルター5に伝達するのを抑制するべく、1か所で波長可変干渉フィルター5を固定することが好ましい。   The wavelength variable interference filter 5 is fixed to the base 620 using a fixing material such as an adhesive. At this time, the wavelength variable interference filter 5 may be fixed to the pedestal portion 621 or may be fixed to the side wall portion 622. The fixing material may be provided at a plurality of positions, but the wavelength tunable interference filter 5 may be fixed at one place in order to prevent the stress of the fixing material from being transmitted to the wavelength tunable interference filter 5. preferable.

(金属リングの構成)
金属リング640は、側壁部622の端面622Aに対応して四角筒状に構成され、端面622Aに接合されている。すなわち、金属リング640は、側壁部622と同軸となる四角筒状に形成される。この金属リング640は、例えばコバール等の合金や金属等により構成され、外周面に金属メッキ(例えばニッケル含有メッキ)が施されている。
また、金属リング640のベース620側の端面(第一端面641:本発明の第一面)は、例えば溶接や陽極接合等、各種接合方法により、側壁部622の端面622Aに接合されている。
金属リング640の第一端面641とは反対側の端面(第二端面642)は、リッド630にシーム接合により接合されている。
(Composition of metal ring)
The metal ring 640 is formed in a rectangular tube shape corresponding to the end surface 622A of the side wall 622, and is joined to the end surface 622A. That is, the metal ring 640 is formed in a rectangular tube shape that is coaxial with the side wall portion 622. The metal ring 640 is made of, for example, an alloy such as Kovar, metal, or the like, and has a metal plating (for example, nickel-containing plating) on the outer peripheral surface.
Further, the end surface (first end surface 641: first surface of the present invention) of the metal ring 640 on the base 620 side is bonded to the end surface 622A of the side wall 622 by various bonding methods such as welding and anodic bonding.
An end face (second end face 642) opposite to the first end face 641 of the metal ring 640 is joined to the lid 630 by seam joining.

(リッドの構成)
リッド630は、平面視において矩形状の外形を有する板状部材である。リッド630は、例えばコバール等の合金又は金属により構成することができ、本実施形態では、コバールにより構成される。また、本実施形態では、リッド630の厚み寸法は0.2mmである。なお、リッド630の厚み寸法についての詳細な説明は後述する。
(Lid composition)
The lid 630 is a plate-like member having a rectangular outer shape in plan view. The lid 630 can be made of, for example, an alloy such as Kovar or a metal. In the present embodiment, the lid 630 is made of Kovar. In the present embodiment, the lid 630 has a thickness dimension of 0.2 mm. A detailed description of the thickness dimension of the lid 630 will be described later.

リッド630は、図1、図2に示すように、リッド630の厚み方向に沿って貫通する第二開口部633(本発明の開口部に相当)を有する。この第二開口部633は、ベース620に波長可変干渉フィルター5が載置された状態で、反射膜54,55と重なる領域を含むように設けられている。
そして、リッド630の上面631(本発明の第二面)には、第二開口部633を覆って、第二ガラス部材650(本発明の透光部材に相当)が例えば低融点ガラス等の固定部材670により接合されている。
As shown in FIGS. 1 and 2, the lid 630 has a second opening 633 (corresponding to the opening of the present invention) penetrating along the thickness direction of the lid 630. The second opening 633 is provided so as to include a region overlapping the reflective films 54 and 55 in a state where the wavelength variable interference filter 5 is placed on the base 620.
The upper surface 631 (second surface of the present invention) of the lid 630 covers the second opening 633, and the second glass member 650 (corresponding to the translucent member of the present invention) is fixed to, for example, low melting point glass or the like. Joined by a member 670.

また、リッド630の表面には、固定部材670が設けられていない領域において、金属メッキが被覆されている。この金属メッキは、リッド630に対して密着性が良好な素材を選択でき、例えば、本実施形態では、コバール製のリッド630に対して、ニッケルを含有した金属メッキが用いられる。
なお、金属メッキが設けられる領域としては、固定部材670が接しない領域全体であってもよく、リッド630における、金属リング640に対向する面(リッド接合部634)のみであってもよい。本実施形態では、リッド630及び金属リング640がシーム接合により接合されており、リッド接合部634において金属メッキが設けられていれば、ベース620及びリッド630を、金属リング640を介して接合することができる。
The surface of the lid 630 is covered with metal plating in a region where the fixing member 670 is not provided. For this metal plating, a material having good adhesion to the lid 630 can be selected. For example, in this embodiment, a metal plating containing nickel is used for the Kovar lid 630.
The region where the metal plating is provided may be the entire region where the fixing member 670 is not in contact, or only the surface of the lid 630 facing the metal ring 640 (the lid joint 634). In this embodiment, the lid 630 and the metal ring 640 are joined by seam joining, and if the metal plating is provided at the lid joining portion 634, the base 620 and the lid 630 are joined via the metal ring 640. Can do.

(側壁部、金属リング、リッド、及び第二ガラス部材の位置関係)
次に、側壁部622、金属リング640、リッド630、及び第二ガラス部材650の具体的な位置関係について、図面に基づいて説明する。
本実施形態では、図2に示すように、金属リング640の第二端面642における外周端642Aと、リッド630の金属リング640とは反対側の面における外周端632とを結ぶ仮想直線L1とする。
本実施形態では、第二ガラス部材650の上面(リッド630とは反対側の面)における外周端651は、仮想直線L1よりも内側、つまり第二開口部633側に位置する。つまり、第二ガラス部材650は、仮想直線L1と交わらない。
また、側壁部622の端面622Aにおける外周端622Bも、上記仮想直線L1よりも内側に位置する。つまり、側壁部622も、仮想直線L1と交わらない。
(Positional relationship between side wall, metal ring, lid, and second glass member)
Next, a specific positional relationship among the side wall 622, the metal ring 640, the lid 630, and the second glass member 650 will be described based on the drawings.
In the present embodiment, as shown in FIG. 2, an imaginary straight line L <b> 1 that connects the outer peripheral end 642 </ b> A on the second end surface 642 of the metal ring 640 and the outer peripheral end 632 on the surface opposite to the metal ring 640 of the lid 630. .
In the present embodiment, the outer peripheral edge 651 on the upper surface (the surface opposite to the lid 630) of the second glass member 650 is located on the inner side of the virtual straight line L1, that is, on the second opening 633 side. That is, the second glass member 650 does not intersect with the virtual straight line L1.
Further, the outer peripheral end 622B of the end surface 622A of the side wall portion 622 is also located on the inner side of the virtual straight line L1. That is, the side wall 622 does not intersect with the virtual straight line L1.

[光学フィルターデバイスの製造]
上述したような光学フィルターデバイス600の製造方法について説明する。
図5は、本実施形態の光学フィルターデバイス600の筐体610の製造工程を示すフローチャートである。
図5に示すように、本実施形態では、ベース形成工程、フィルター固定工程、リッド形成工程、筐体接合工程により製造される。
[Manufacture of optical filter devices]
A method for manufacturing the optical filter device 600 as described above will be described.
FIG. 5 is a flowchart showing a manufacturing process of the housing 610 of the optical filter device 600 of the present embodiment.
As shown in FIG. 5, in this embodiment, it manufactures by a base formation process, a filter fixing process, a lid formation process, and a housing | casing joining process.

ベース形成工程では、第一開口部623及び貫通孔625が開口形成されたセラミックシートを積層し、更に、側壁部622に対応したセラミックシートを積層し、これらを焼成する。これにより、台座部621及び側壁部622を有するベース620の基本形状が形成される。
この後、側壁部622の端面622Aに対して金属リング640を接合する。金属リング640の接合方法としては、例えば端面622Aに金属膜を形成してメタライズ化し、メタライズされた端面622Aに対して、Niメッキ等の金属ロウを介して金属リング640を接合する。なお、接合方法としては、これに限定されず、例えば、接着剤等による固定、金属ロウや無機ロウ等の各種ロウ材によるロウ付け、圧着、固相接合等を用いることができる。
In the base forming step, the ceramic sheets having the first opening 623 and the through-holes 625 are laminated, and further, the ceramic sheets corresponding to the side wall parts 622 are laminated, and these are fired. Thereby, the basic shape of the base 620 having the base portion 621 and the side wall portion 622 is formed.
Thereafter, the metal ring 640 is joined to the end surface 622A of the side wall 622. As a method for joining the metal ring 640, for example, a metal film is formed on the end face 622A to be metallized, and the metal ring 640 is joined to the metallized end face 622A through a metal brazing such as Ni plating. Note that the bonding method is not limited to this, and for example, fixing with an adhesive or the like, brazing with various brazing materials such as metal brazing and inorganic brazing, pressure bonding, solid phase bonding, and the like can be used.

この後、貫通孔625を導電性部材(例えば、金属ペースト等)により埋め、台座部621のベース内側面621Aに内側端子部624を形成し、ベース外側面621Bに外側端子部626を形成する。これにより、貫通孔625における気密性が維持される。
そして、ベース外側面621Bに、第一開口部623を覆う第一ガラス部材627を、低融点ガラスを用いて接合する。
Thereafter, the through hole 625 is filled with a conductive member (for example, a metal paste), the inner terminal portion 624 is formed on the base inner side surface 621A of the pedestal portion 621, and the outer terminal portion 626 is formed on the base outer side surface 621B. Thereby, the airtightness in the through-hole 625 is maintained.
And the 1st glass member 627 which covers the 1st opening part 623 is joined to the base outer side surface 621B using low melting glass.

フィルター固定工程では、ベース620のベース内側面621A、又は側壁部622に接着剤等の固定材を塗布する。そして、波長可変干渉フィルター5の反射膜54,55が第一開口部623の開口領域内に配置されるようにアライメントを行うとともに、波長可変干渉フィルター5の反射膜54,55を固定材により固定する。
この後、波長可変干渉フィルター5の各電極パッド563P,564Pと、ベース620の内側端子部624とをワイヤーボンディングにより接続する。
In the filter fixing step, a fixing material such as an adhesive is applied to the base inner side surface 621A or the side wall portion 622 of the base 620. Then, alignment is performed so that the reflective films 54 and 55 of the wavelength tunable interference filter 5 are arranged in the opening region of the first opening 623, and the reflective films 54 and 55 of the wavelength tunable interference filter 5 are fixed by a fixing material. To do.
Thereafter, the electrode pads 563P and 564P of the wavelength variable interference filter 5 and the inner terminal portion 624 of the base 620 are connected by wire bonding.

リッド形成工程では、まず、第二開口部633が設けられたコバール製のリッド630に対して、金属メッキを形成する。この後、第二ガラス部材650の接合領域における金属メッキを除去し、第二ガラス部材650を例えば低融点ガラス等の固定部材670により接合する。   In the lid forming step, first, metal plating is formed on the Kovar lid 630 provided with the second opening 633. Then, the metal plating in the joining area | region of the 2nd glass member 650 is removed, and the 2nd glass member 650 is joined by fixing members 670, such as low melting glass.

図6は、筐体接合工程におけるシーム接合時の状態を示す図である。
筐体接合工程では、ベース620及びリッド630を接合する。具体的には、例えば真空チャンバー装置等によって真空雰囲気に設定された環境下で、シーム接合を実施する。
シーム接合では、一対のシーム接合用の電極ローラ700A,700Bを用い、一方の電極ローラ700Aを、リッド630の外周端632の一点と、金属リング640の外周端642Aの一点とに接触させる。また、他方の電極ローラ700Bを、電極ローラ700Aに接触した外周端632,642A上の点とは対称となる、外周端632,642A上の点に接触させる。そして、電流を流しながら電極ローラ700A.700Bを回転させ、外周端632,642Aに沿ってトレースさせる。これにより、電極ローラ700A,700Bから大電流がリッド630及び金属リング640に流れる。この際、電極ローラ700A,700Bとの接触点では、電気抵抗が高くなるため高熱が発生し、リッド接合部634上の金属メッキと、金属リング640上の金属メッキとが溶接接合される。
FIG. 6 is a diagram illustrating a state at the time of seam joining in the housing joining process.
In the case joining process, the base 620 and the lid 630 are joined. Specifically, for example, seam bonding is performed in an environment set in a vacuum atmosphere by a vacuum chamber apparatus or the like.
In the seam joining, a pair of seam joining electrode rollers 700A and 700B is used, and one electrode roller 700A is brought into contact with one point on the outer peripheral end 632 of the lid 630 and one point on the outer peripheral end 642A of the metal ring 640. Further, the other electrode roller 700B is brought into contact with a point on the outer peripheral ends 632 and 642A that is symmetrical to a point on the outer peripheral ends 632 and 642A that is in contact with the electrode roller 700A. The electrode roller 700A. 700B is rotated and traced along the outer peripheral edges 632 and 642A. As a result, a large current flows from the electrode rollers 700 </ b> A and 700 </ b> B to the lid 630 and the metal ring 640. At this time, at the point of contact with the electrode rollers 700A and 700B, electric resistance is increased and high heat is generated, so that the metal plating on the lid joint 634 and the metal plating on the metal ring 640 are welded.

また、第二ガラス部材650の外周端651や、側壁部622の外周端622Bは、仮想直線L1と交わらず、内側に位置するため、電極ローラ700A,700Bが接触しない。
したがって、第二ガラス部材650に対して、電極ローラ700A、700Bの接触による発熱も発生せず、第二ガラス部材650の変形や、固定部材670の破断やクラックが防止される。
なお、上記製造方法では、真空チャンバー装置内で筐体接合工程を実施する例を示したが、例えば、図2に示すように、ベース620に貫通孔628を形成しておき、筐体接合工程の後、収納空間内を真空にし、その後、貫通孔628を例えば金属ボール628A(Au等)で封止する構成などとしてもよい。貫通孔628は、ベース620に限らず、リッド630に設ける構成としてもよく、双方に設ける構成としてもよい。
Moreover, since the outer peripheral end 651 of the second glass member 650 and the outer peripheral end 622B of the side wall portion 622 do not intersect with the virtual straight line L1, the electrode rollers 700A and 700B are not in contact with each other.
Therefore, the second glass member 650 does not generate heat due to the contact of the electrode rollers 700A and 700B, and the deformation of the second glass member 650 and the breakage or crack of the fixing member 670 are prevented.
In the above manufacturing method, an example in which the housing joining process is performed in the vacuum chamber apparatus has been described. For example, as illustrated in FIG. 2, a through-hole 628 is formed in the base 620 and the housing joining process is performed. Thereafter, the storage space may be evacuated, and then the through hole 628 may be sealed with, for example, a metal ball 628A (Au or the like). The through hole 628 is not limited to the base 620, and may be provided in the lid 630, or may be provided in both.

(リッドの寸法設定)
次に、本実施形態の筐体接合工程において、好適なシーム接合が実施可能なリッド630の寸法について、説明する。
図2に示すように、リッド630の厚み寸法をa、リッド630の外周端632から、第二ガラス部材650の外周端651までの寸法(接合間距離)をbとし、これらの寸法a,bを変化させた際の光学フィルターデバイス600の気密性を以下の表1に示す。なお、表1の接合結果では、気密封止可能である場合は「○」、気密封止が不可能である場合は「×」、リークが大きく、十分な気密性が保てていない場合は「△」で示す。
(Lid dimension setting)
Next, the dimensions of the lid 630 capable of performing suitable seam joining in the housing joining process of the present embodiment will be described.
As shown in FIG. 2, the thickness dimension of the lid 630 is a, the dimension (distance between the joints) from the outer peripheral end 632 of the lid 630 to the outer peripheral end 651 of the second glass member 650 is b, and these dimensions a, b Table 1 below shows the airtightness of the optical filter device 600 when V is changed. In addition, in the joining result of Table 1, when airtight sealing is possible, “◯”, when airtight sealing is impossible, “×”, when leakage is large and sufficient airtightness is not maintained Indicated by “△”.

Figure 2015031903
Figure 2015031903

本実施形態では、平板状のリッド630を用いている。この場合、シーム接合時に、リッド接合部634及び金属リング640を適切に接合するためには、リッド630の厚み寸法aを0.2mm以下に設定する必要がある。
一方、リッド630の厚み寸法aを0.1mmに設定した場合では、シーム接合時における電極ローラ700A,700Bの押圧力により、リッド630に撓みが生じる。この場合、リッド630と第二ガラス部材650とを接合する固定部材670に破断やクラックが生じ、表1に示すように、気密性を適切に保つことが困難となる。
In the present embodiment, a flat lid 630 is used. In this case, in order to join the lid joint 634 and the metal ring 640 appropriately at the time of seam joining, it is necessary to set the thickness dimension a of the lid 630 to 0.2 mm or less.
On the other hand, when the thickness dimension a of the lid 630 is set to 0.1 mm, the lid 630 bends due to the pressing force of the electrode rollers 700A and 700B during seam joining. In this case, the fixing member 670 that joins the lid 630 and the second glass member 650 is broken or cracked, and as shown in Table 1, it is difficult to maintain airtightness appropriately.

また、接合間距離bが1.5mm未満(例えば0.8mm)である場合に、シーム接合時に発生する熱が、固定部材670まで伝達される。固定部材670とリッド630とは熱膨張係数が異なるため、このような熱が伝達されると、熱膨張係数の差により、固定部材670が破損し、気密性が低下してしまう。
表1より、本実施形態では、リッド630の厚み寸法a及び接合間距離b1は、厚み寸法aが0.15mmである場合は、接合間距離bを4mm以上に設定することが好ましく、厚み寸法aが0.2mmである場合は、接合間距離を2.6mm以上に設定することが好ましい。
Further, when the inter-bonding distance b is less than 1.5 mm (for example, 0.8 mm), heat generated during seam bonding is transmitted to the fixing member 670. Since the fixing member 670 and the lid 630 have different thermal expansion coefficients, when such heat is transmitted, the fixing member 670 is damaged due to the difference in the thermal expansion coefficient, and the airtightness is lowered.
From Table 1, in this embodiment, when the thickness dimension a and the inter-bonding distance b1 are 0.15 mm, it is preferable to set the inter-joining distance b to 4 mm or more. When a is 0.2 mm, it is preferable to set the distance between joints to 2.6 mm or more.

なお、本実施形態では、上記のように、リッド630が均一厚みに形成され、かつ、シーム接合により当該厚み寸法aを0.2mm以下にする必要がある。このため、リッド630から固定部材670に熱が伝達しやすく、接合間距離bを1.5mmに設定した場合でも、当該熱による固定部材670の破損が生じ、気密性が低下した。厚み寸法aを0.15mmとし、接合間距離bを2.6mmとした場合も同様であり、十分な気密性が確保できなかった。また、リッド630の厚み寸法aを0.2mmより厚く(例えば0.3mm)形成する場合は、リッド接合部634と金属リング640との接合強度を得るために、例えば電流量を増大させる等が必要となる。その際は、電流量の増大による発熱のため側壁622と金属リング640との熱膨張係数差によりベース620そのものにクラックが発生してしまった。   In the present embodiment, as described above, the lid 630 is formed to have a uniform thickness, and the thickness dimension a needs to be 0.2 mm or less by seam bonding. For this reason, heat is easily transferred from the lid 630 to the fixing member 670, and even when the inter-joining distance b is set to 1.5 mm, the fixing member 670 is damaged by the heat and the airtightness is lowered. The same was true when the thickness dimension a was 0.15 mm and the inter-bonding distance b was 2.6 mm, and sufficient airtightness could not be secured. Further, when the thickness dimension a of the lid 630 is formed to be thicker than 0.2 mm (for example, 0.3 mm), for example, the amount of current is increased in order to obtain the bonding strength between the lid bonding portion 634 and the metal ring 640. Necessary. At that time, due to heat generation due to an increase in the amount of current, a crack occurred in the base 620 itself due to a difference in thermal expansion coefficient between the side wall 622 and the metal ring 640.

[第一実施形態の作用効果]
本実施形態では、ベース620の側壁部622の端面622Aに金属リング640が接合され、この金属リング640に対してリッド630がシーム接合により接合されている。また、リッド630の上面631には、第二開口部633を閉塞する第二ガラス部材650が接合されている。
そして、この第二ガラス部材650の外周端651は、金属リング640のリッド630側の第二端面642における外周端642Aと、リッド630の上面631における外周端632とを結ぶ仮想直線L1と交わらず、当該仮想直線L1より内側(第二開口部633側)に位置している。このため、筐体接合工程のシーム接合の際、電極ローラ700A,700Bをリッド630の外周端632及び金属リング640の外周端642Aに接触させれば、第二ガラス部材650と電極ローラ700A,700Bとが接触せず、これによる発熱も発生しない。したがって、リッド630及び第二ガラス部材650の接合部分(固定部材670)の破損を防止でき、接合強度及び気密性を維持できる。
[Operational effects of the first embodiment]
In the present embodiment, a metal ring 640 is joined to the end surface 622A of the side wall 622 of the base 620, and the lid 630 is joined to the metal ring 640 by seam joining. A second glass member 650 that closes the second opening 633 is joined to the upper surface 631 of the lid 630.
The outer peripheral end 651 of the second glass member 650 does not intersect with the virtual straight line L1 that connects the outer peripheral end 642A of the second end surface 642 on the lid 630 side of the metal ring 640 and the outer peripheral end 632 of the upper surface 631 of the lid 630. , Located on the inner side (the second opening 633 side) from the virtual straight line L1. For this reason, when the electrode rollers 700A and 700B are brought into contact with the outer peripheral end 632 of the lid 630 and the outer peripheral end 642A of the metal ring 640 at the time of seam bonding in the casing bonding step, the second glass member 650 and the electrode rollers 700A and 700B. Does not come into contact, and no heat is generated. Therefore, breakage of the joint portion (fixing member 670) of the lid 630 and the second glass member 650 can be prevented, and the joint strength and airtightness can be maintained.

本実施形態では、接合間距離bが1.5mm以上であるため、シーム接合時において、リッド接合部634から固定部材670までシーム接合時に熱が伝達されにくい。これにより、リッド630及び固定部材670の熱膨張係数の差による固定部材670の破損を抑制でき、気密性の低下を抑制できる。   In the present embodiment, since the inter-joining distance b is 1.5 mm or more, heat is not easily transmitted from the lid joining portion 634 to the fixing member 670 during seam joining. Thereby, breakage of the fixing member 670 due to the difference in thermal expansion coefficient between the lid 630 and the fixing member 670 can be suppressed, and a decrease in airtightness can be suppressed.

本実施形態では、リッド630が均一厚み寸法である平板状であり、リッド630の形成が容易となる。また、リッド630の厚み寸法aが0.15mm以上であるため、筐体接合工程のシーム接合時に、電極ローラ700A,700Bによる押圧力が加わったとしても、リッド630が撓みにくく、リッド630の撓みによる固定部材670の破損を防止できる。これにより、気密性の低下をより抑制できる。   In the present embodiment, the lid 630 has a flat plate shape having a uniform thickness, and the lid 630 can be easily formed. Further, since the thickness dimension “a” of the lid 630 is 0.15 mm or more, even when a pressing force is applied by the electrode rollers 700 </ b> A and 700 </ b> B during seam joining in the housing joining process, the lid 630 is difficult to bend and the lid 630 is bent. It is possible to prevent the fixing member 670 from being damaged. Thereby, the fall of airtightness can be suppressed more.

[第二実施形態]
次に、本発明に係る第二実施形態について、図面に基づいて説明する。
上記第一実施形態では、均一厚み寸法を有するリッド630を用いた。これに対して、第二実施形態では、リッドが、金属リング640に接合されるリッド接合部と、リッド接合部の内側のリッド本体部とで、異なる厚み寸法に形成される点で上記第一実施形態と相違する。
[Second Embodiment]
Next, 2nd embodiment which concerns on this invention is described based on drawing.
In the first embodiment, the lid 630 having a uniform thickness dimension is used. On the other hand, in the second embodiment, the lid is formed with different thickness dimensions in the lid joint part joined to the metal ring 640 and the lid main body part inside the lid joint part. It is different from the embodiment.

図7は、第二実施形態における光学フィルターデバイスの断面図である。なお、以降の説明にあたり、既に説明した構成については同一符号を付し、その説明を省略、又は簡略化する。
本実施形態の光学フィルターデバイス600Aは、リッド630Aは、均一厚みに形成されず、リッド630Aの外周部のリッド接合部634と、リッド接合部634より内周側で、第二開口部633が設けられるリッド本体部635とで、厚み寸法が異なる。
リッド接合部634は、シーム接合時における十分な接合強度及び気密性を確保するために、厚み寸法が、例えば0.1mmに構成されている。
一方、リッド本体部635の厚み寸法a1は、0.15mm以上に形成されている。
また、リッド接合部634における上面631の外周端632から、第二ガラス部材650の外周端651までの接合間距離b1は、1.5mm以上に形成されている。
FIG. 7 is a cross-sectional view of the optical filter device in the second embodiment. In the following description, the same reference numerals are given to the configurations already described, and the description thereof is omitted or simplified.
In the optical filter device 600A of the present embodiment, the lid 630A is not formed to have a uniform thickness, and the lid opening 633 is provided on the inner periphery side of the lid bonding portion 634 and the lid bonding portion 634 on the outer periphery of the lid 630A. The thickness of the lid main body 635 is different.
The lid joint 634 has a thickness dimension of, for example, 0.1 mm in order to ensure sufficient joint strength and airtightness during seam joining.
On the other hand, the thickness dimension a1 of the lid main body 635 is formed to be 0.15 mm or more.
In addition, an inter-joining distance b1 from the outer peripheral end 632 of the upper surface 631 to the outer peripheral end 651 of the second glass member 650 in the lid joint portion 634 is formed to be 1.5 mm or more.

本実施形態では、図7に示すように、金属リング640の外周端642Aと、リッド接合部634の外周端632とを結ぶ仮想直線L2の内側に、側壁部622の端面622Aの外周端622B、リッド本体部635の外周端636、及び第二ガラス部材650の外周端651が位置している。つまり、側壁部622、リッド本体部、及び第二ガラス部材650は仮想直線L2と交わらない。   In the present embodiment, as shown in FIG. 7, the outer peripheral end 622B of the end surface 622A of the side wall 622 is formed inside the virtual straight line L2 connecting the outer peripheral end 642A of the metal ring 640 and the outer peripheral end 632 of the lid joint 634. The outer peripheral end 636 of the lid main body 635 and the outer peripheral end 651 of the second glass member 650 are located. That is, the side wall part 622, the lid main body part, and the second glass member 650 do not intersect with the virtual straight line L2.

(光学フィルターデバイスの製造方法)
上記のような構成の光学フィルターデバイス600Aにおいても、第一実施形態と同様、図5に示すような工程により製造される。
図8は、光学フィルターデバイス600Aの製造における筐体接合工程を示す図である。
図8に示すように、本実施形態においても、電極ローラ700A,700Bは、第二ガラス部材650に接触しない。これにより、第二ガラス部材650に電極ローラ700A,700Bが接触することによる固定部材670の破損を防止できる。
また、リッド本体部635の外周端636も電極ローラ700A,700Bに接触しない。これにより、リッド本体部635での発熱がなく、この熱が固定部材670に伝達される不都合も抑制できる。
(Manufacturing method of optical filter device)
The optical filter device 600A having the above-described configuration is also manufactured by the process shown in FIG. 5 as in the first embodiment.
FIG. 8 is a diagram illustrating a case joining process in the manufacture of the optical filter device 600A.
As shown in FIG. 8, also in this embodiment, the electrode rollers 700A and 700B do not contact the second glass member 650. As a result, the fixing member 670 can be prevented from being damaged by the electrode rollers 700A and 700B coming into contact with the second glass member 650.
Further, the outer peripheral end 636 of the lid main body 635 does not contact the electrode rollers 700A and 700B. Thereby, there is no heat generation in the lid main body 635, and the inconvenience that this heat is transmitted to the fixing member 670 can be suppressed.

(リッドの寸法設定)
次に、本実施形態において、筐体接合工程において、好適なシーム接合が実施可能なリッド630Aの寸法について、説明する。
リッド接合部634の厚み寸法を0.1mmとし、リッド本体部635の厚み寸法a1及び接合間距離b1を変化させた際の光学フィルターデバイス600Aの気密性を以下の表2に示す。
(Lid dimension setting)
Next, in the present embodiment, the dimensions of the lid 630 </ b> A capable of performing suitable seam bonding in the housing bonding step will be described.
Table 2 below shows the air tightness of the optical filter device 600A when the thickness dimension of the lid joint portion 634 is 0.1 mm and the thickness dimension a1 of the lid main body portion 635 and the distance between joints b1 are changed.

Figure 2015031903
Figure 2015031903

本実施形態では、上述のように、リッド接合部634の厚み寸法を0.1mmに設定でき、当該リッド接合部634及び金属リング640を適切に接合することが可能となる。
ここで、リッド本体部635の厚み寸法a1を0.15mm未満に設定すると、上記第一実施形態と同様、電極ローラ700A,700Bの押圧力によりリッド630Aに撓みが生じ、内部気密性の確保が困難となる。
一方、リッド本体部635の厚み寸法a1を0.15mm以上に設定することで、シーム接合時に、電極ローラ700A,700Bの押圧力が作用した場合でも、リッド630Aの撓みを防止することが可能となる。
In the present embodiment, as described above, the thickness dimension of the lid joint portion 634 can be set to 0.1 mm, and the lid joint portion 634 and the metal ring 640 can be appropriately joined.
Here, when the thickness dimension a1 of the lid main body 635 is set to be less than 0.15 mm, the lid 630A is bent by the pressing force of the electrode rollers 700A and 700B as in the first embodiment, and internal airtightness is ensured. It becomes difficult.
On the other hand, by setting the thickness dimension a1 of the lid main body 635 to 0.15 mm or more, it is possible to prevent the lid 630A from being bent even when the pressing force of the electrode rollers 700A and 700B is applied during seam joining. Become.

また、接合間距離bが1.5mm未満(例えば0.8mm)である場合に、シーム接合時に発生する熱が、固定部材670の接合部分まで伝達される。固定部材670とリッド630とは熱膨張係数が異なるため、このような熱が伝達されると、熱膨張係数の差異により、固定部材670が破損し、気密性が低下してしまう。   In addition, when the inter-bonding distance b is less than 1.5 mm (for example, 0.8 mm), heat generated during seam bonding is transmitted to the bonding portion of the fixing member 670. Since the fixing member 670 and the lid 630 have different thermal expansion coefficients, when such heat is transmitted, the fixing member 670 is damaged due to the difference in thermal expansion coefficient, and the airtightness is lowered.

表2に示すように、本実施形態では、リッド本体部635の厚み寸法a1及び接合間距離b1は、厚み寸法a1が0.15mmである場合は、接合間距離b1を4mm以上に設定することが好ましく、厚み寸法a1が0.2mmである場合は、接合間距離を2.6mm以上に設定することが好ましい。
また、本実施形態では、リッド接合部634とリッド本体部635とを異なる厚み寸法にできるため、リッド本体部635の厚み寸法を0.2mm以上に設定することができ、この場合、接合間距離を1.5mmに設定することができる。
As shown in Table 2, in this embodiment, when the thickness dimension a1 of the lid main body 635 and the inter-joining distance b1 are 0.15 mm, the inter-joining distance b1 is set to 4 mm or more. When the thickness dimension a1 is 0.2 mm, it is preferable to set the distance between joints to 2.6 mm or more.
Further, in the present embodiment, since the lid joint portion 634 and the lid main body portion 635 can be made to have different thickness dimensions, the thickness dimension of the lid main body portion 635 can be set to 0.2 mm or more. Can be set to 1.5 mm.

なお、表2において、リッド本体部635の厚み寸法a1を0.15mm及び0.2mm、接合間距離b1を1.5mmに設定した場合、及びリッド本体部の厚み寸法a1を0.15mm、接合間距離b1を2.6mmに設定した場合は、第一実施形態と同様、リッド接合部634からの熱が固定部材670に伝達しやすくなり、当該熱による固定部材670の破損により、気密性が低下している。   In Table 2, when the thickness a1 of the lid body 635 is set to 0.15 mm and 0.2 mm, and the distance b1 between the joints is set to 1.5 mm, the thickness dimension a1 of the lid body is 0.15 mm. When the distance b1 is set to 2.6 mm, similarly to the first embodiment, heat from the lid joint 634 is easily transferred to the fixing member 670, and the fixing member 670 is damaged by the heat, and thus airtightness is increased. It is falling.

[第二実施形態の作用効果]
本実施形態では、リッド630は、リッド接合部634と、リッド接合部634よりも内側(第二開口部633側)のリッド本体部635とを備え、リッド本体部635の厚み寸法a1がリッド接合部634の厚み寸法よりも大きい。
このような構成とすることで、第一実施形態に比べて、リッド接合部634の厚み寸法をより小さくでき、リッド接合部634及び金属リング640をより強い接合強度、高い気密性で接合することができる。また、筐体接合工程のシーム接合時において電極ローラ700A,700Bから応力が加わったとしても、リッド本体部635の厚み寸法を大きく設定することができるため、リッド630の撓みを抑制することができる。
したがって、例えば、リッド接合部634の厚み寸法を0.1mm、リッド本体部635の厚み寸法を0.15mm以上に設定する等、リッド接合部の厚み寸法を第一実施形態の光学フィルターデバイス600よりも小さくできる。
[Operational effects of the second embodiment]
In this embodiment, the lid 630 includes a lid joint portion 634 and a lid main body portion 635 on the inner side (second opening portion 633 side) than the lid joint portion 634, and the lid body 635 has a thickness dimension a <b> 1. It is larger than the thickness dimension of the portion 634.
By adopting such a configuration, the thickness dimension of the lid joint portion 634 can be made smaller than in the first embodiment, and the lid joint portion 634 and the metal ring 640 can be joined with stronger joint strength and high airtightness. Can do. Further, even when stress is applied from the electrode rollers 700A and 700B during the seam joining in the housing joining process, the thickness of the lid main body 635 can be set large, so that the bending of the lid 630 can be suppressed. .
Therefore, for example, the thickness dimension of the lid joint portion 634 is set to 0.1 mm, and the thickness dimension of the lid main body portion 635 is set to 0.15 mm or more, so that the thickness dimension of the lid joint portion is greater than that of the optical filter device 600 of the first embodiment. Can also be reduced.

本実施形態では、リッド接合部634とリッド本体部635との厚み寸法をそれぞれ異なる寸法にでき、リッド本体部635の厚み寸法a1を大きくすることで、シーム接合時の熱が固定部材に伝達されにくくなる。したがって、例えば表2に示したように、接合間距離b1を1.5mmとした場合でも、リッド本体部635の厚み寸法a1を0.3mm以上とすることで、気密性の低下を抑制できる。   In this embodiment, the thickness dimensions of the lid joint portion 634 and the lid body portion 635 can be made different from each other. By increasing the thickness dimension a1 of the lid body portion 635, heat at the time of seam joining is transmitted to the fixing member. It becomes difficult. Therefore, for example, as shown in Table 2, even when the inter-joining distance b1 is set to 1.5 mm, a decrease in airtightness can be suppressed by setting the thickness dimension a1 of the lid main body 635 to 0.3 mm or more.

[第三実施形態]
次に、本発明に係る第三実施形態について、図面に基づいて説明する。
第三実施形態では、上記第一実施形態の光学フィルターデバイス600が組み込まれた光学モジュールである測色センサー3、及び光学フィルターデバイス600が組み込まれた電子機器である測色装置1を説明する。なお、光学フィルターデバイス600の代わりに、第二及び第三実施形態の光学フィルターデバイス600Aが組み込まれてもよい。
[Third embodiment]
Next, a third embodiment according to the present invention will be described based on the drawings.
In the third embodiment, a colorimetric sensor 3 that is an optical module in which the optical filter device 600 according to the first embodiment is incorporated, and a colorimetric apparatus 1 that is an electronic apparatus in which the optical filter device 600 is incorporated will be described. Instead of the optical filter device 600, the optical filter device 600A of the second and third embodiments may be incorporated.

[測色装置の概略構成]
図9は、測色装置1の概略構成を示すブロック図である。
測色装置1は、本発明の電子機器である。この測色装置1は、図9に示すように、検査対象Xに光を射出する光源装置2と、測色センサー3(光学モジュール)と、測色装置1の全体動作を制御する制御装置4と、を備える。そして、この測色装置1は、光源装置2から射出され検査対象Xにて反射された検査対象光を測色センサー3にて受光する。そして、測色装置1は、受光した測色センサー3から出力される検出信号に基づいて、検査対象光の色度、すなわち検査対象Xの色を分析して測定する装置である。
[Schematic configuration of color measuring device]
FIG. 9 is a block diagram illustrating a schematic configuration of the colorimetric device 1.
The color measuring device 1 is an electronic device of the present invention. As shown in FIG. 9, the color measurement device 1 includes a light source device 2 that emits light to the inspection target X, a color measurement sensor 3 (optical module), and a control device 4 that controls the overall operation of the color measurement device 1. And comprising. In this color measurement device 1, the color measurement sensor 3 receives the inspection target light emitted from the light source device 2 and reflected by the inspection target X. The color measurement device 1 is a device that analyzes and measures the chromaticity of the inspection target light, that is, the color of the inspection target X, based on the detection signal output from the received color measurement sensor 3.

[光源装置の構成]
光源装置2は、光源21、複数のレンズ22(図9には1つのみ記載)を備え、検査対象Xに対して白色光を射出する。また、複数のレンズ22には、コリメーターレンズが含まれてもよく、この場合、光源装置2は、光源21から射出された白色光をコリメーターレンズにより平行光とし、図示しない投射レンズから検査対象Xに向かって射出する。なお、本実施形態では、光源装置2を備える測色装置1を例示するが、例えば検査対象Xが液晶パネル等の発光部材である場合、光源装置2が設けられない構成としてもよい。
[Configuration of light source device]
The light source device 2 includes a light source 21 and a plurality of lenses 22 (only one is shown in FIG. 9), and emits white light to the inspection target X. The plurality of lenses 22 may include a collimator lens. In this case, the light source device 2 converts the white light emitted from the light source 21 into parallel light by the collimator lens and inspects from a projection lens (not shown). Inject toward the target X. In the present embodiment, the colorimetric device 1 including the light source device 2 is illustrated. However, for example, when the inspection target X is a light emitting member such as a liquid crystal panel, the light source device 2 may not be provided.

[測色センサーの構成]
測色センサー3は、本発明の光学モジュールを構成し、上記第一実施形態の光学フィルターデバイス600を備えている。なお、本実施形態では、光学フィルターデバイス600を例示するが、第二実施形態の光学フィルターデバイス600Aを用いてもよい。この測色センサー3は、図9に示すように、光学フィルターデバイス600と、光学フィルターデバイス600を透過した光を受光する検出部31と、波長可変干渉フィルター5の透過光の波長を変更する電圧制御部32と、を備える。
また、測色センサー3は、波長可変干渉フィルター5に対向する位置に、検査対象Xで反射された反射光(検査対象光)を、内部に導光する図示しない入射光学レンズを備えている。そして、この測色センサー3は、光学フィルターデバイス600内の波長可変干渉フィルター5により、入射光学レンズから入射した検査対象光のうち、所定波長の光を分光し、分光した光を検出部31にて受光する。
[Configuration of colorimetric sensor]
The colorimetric sensor 3 constitutes the optical module of the present invention, and includes the optical filter device 600 of the first embodiment. In this embodiment, the optical filter device 600 is illustrated, but the optical filter device 600A of the second embodiment may be used. As shown in FIG. 9, the colorimetric sensor 3 includes an optical filter device 600, a detection unit 31 that receives light transmitted through the optical filter device 600, and a voltage that changes the wavelength of light transmitted through the wavelength variable interference filter 5. And a control unit 32.
Further, the colorimetric sensor 3 includes an incident optical lens (not shown) that guides reflected light (inspection light) reflected by the inspection target X to a position facing the wavelength variable interference filter 5. Then, the colorimetric sensor 3 uses the wavelength variable interference filter 5 in the optical filter device 600 to split the light having a predetermined wavelength out of the inspection target light incident from the incident optical lens. Receive light.

検出部31は、複数の光電交換素子により構成されており、受光量に応じた電気信号を生成する。ここで、検出部31は、例えば回路基板311を介して、制御装置4に接続されており、生成した電気信号を受光信号として制御装置4に出力する。
また、この回路基板311には、筐体610のベース外側面621Bに形成された外側端子部626が接続されており、回路基板311に形成された回路を介して、電圧制御部32に接続されている。
このような構成では、回路基板311を介して、光学フィルターデバイス600及び検出部31を一体的に構成でき、測色センサー3の構成を簡略化することができる。
The detection unit 31 includes a plurality of photoelectric exchange elements, and generates an electrical signal corresponding to the amount of received light. Here, the detection unit 31 is connected to the control device 4 via, for example, the circuit board 311, and outputs the generated electric signal to the control device 4 as a light reception signal.
The circuit board 311 is connected to an outer terminal portion 626 formed on the base outer surface 621B of the housing 610, and is connected to the voltage control unit 32 via a circuit formed on the circuit board 311. ing.
In such a configuration, the optical filter device 600 and the detection unit 31 can be integrally configured via the circuit board 311, and the configuration of the colorimetric sensor 3 can be simplified.

電圧制御部32は、回路基板311を介して光学フィルターデバイス600の外側端子部626に接続される。そして、電圧制御部32は、制御装置4から入力される制御信号に基づいて、固定電極パッド563P及び可動電極パッド564P間に所定のステップ電圧を印加することで、静電アクチュエーター56を駆動させる。これにより、電極間ギャップに静電引力が発生し、保持部522が撓むことで、可動部521が固定基板51側に変位し、反射膜間ギャップG1を所望の寸法に設定することが可能となる。   The voltage control unit 32 is connected to the outer terminal unit 626 of the optical filter device 600 through the circuit board 311. The voltage control unit 32 drives the electrostatic actuator 56 by applying a predetermined step voltage between the fixed electrode pad 563P and the movable electrode pad 564P based on the control signal input from the control device 4. As a result, an electrostatic attractive force is generated in the gap between the electrodes, and the holding portion 522 is bent, so that the movable portion 521 is displaced toward the fixed substrate 51, and the gap G1 between the reflection films can be set to a desired dimension. It becomes.

[制御装置の構成]
制御装置4は、測色装置1の全体動作を制御する。
この制御装置4としては、例えば汎用パーソナルコンピューターや、携帯情報端末、その他、測色専用コンピューター等を用いることができる。
そして、制御装置4は、図9に示すように、光源制御部41、測色センサー制御部42、及び測色処理部43等を備えて構成されている。
光源制御部41は、光源装置2に接続されている。そして、光源制御部41は、例えば利用者の設定入力に基づいて、光源装置2に所定の制御信号を出力し、光源装置2から所定の明るさの白色光を射出させる。
測色センサー制御部42は、測色センサー3に接続されている。そして、測色センサー制御部42は、例えば利用者の設定入力に基づいて、測色センサー3にて受光させる光の波長を設定し、この波長の光の受光量を検出する旨の制御信号を測色センサー3に出力する。これにより、測色センサー3の電圧制御部32は、制御信号に基づいて、利用者が所望する光の波長のみを透過させるよう、静電アクチュエーター56への印加電圧を設定する。
測色処理部43は、検出部31により検出された受光量から、検査対象Xの色度を分析する。
[Configuration of control device]
The control device 4 controls the overall operation of the color measurement device 1.
As this control device 4, for example, a general-purpose personal computer, a portable information terminal, a color measurement dedicated computer, or the like can be used.
As shown in FIG. 9, the control device 4 includes a light source control unit 41, a colorimetric sensor control unit 42, a colorimetric processing unit 43, and the like.
The light source control unit 41 is connected to the light source device 2. Then, the light source control unit 41 outputs a predetermined control signal to the light source device 2 based on, for example, a user setting input, and causes the light source device 2 to emit white light with a predetermined brightness.
The colorimetric sensor control unit 42 is connected to the colorimetric sensor 3. The colorimetric sensor control unit 42 sets a wavelength of light received by the colorimetric sensor 3 based on, for example, a user's setting input, and outputs a control signal for detecting the amount of light received at this wavelength. Output to the colorimetric sensor 3. Thereby, the voltage control unit 32 of the colorimetric sensor 3 sets the voltage applied to the electrostatic actuator 56 so as to transmit only the wavelength of light desired by the user based on the control signal.
The colorimetric processing unit 43 analyzes the chromaticity of the inspection target X from the amount of received light detected by the detection unit 31.

[第三実施形態の作用効果〕
本実施形態の測色装置1は、上記第一実施形態のような光学フィルターデバイス600を備えている。上述したように、光学フィルターデバイス600は、シーム接合時により、ベース620及びリッド630が金属リング640を介して高気密性で、かつ強い接合強度で接合されている。また、当該シーム接合時におけるリッド630及び第二ガラス部材650の接合部分(固定部材670)における破損も発生しにくい。したがって、光学フィルターデバイス600内の収容空間の気密性が高く、内部圧力の変化を抑制することができる。
このため、波長可変干渉フィルター5の設置環境を減圧下に長期間維持することができ、波長可変干渉フィルター5を駆動した際の高応答性を維持することができる。また、反射膜54,55の劣化も抑制でき、分解能の低下も抑制できる。
したがって、上記のような光学フィルターデバイス600を備えた測色センサー3及び測色装置1においても、性能低下を抑制でき、長期に亘って、高分解能で取り出された目的波長の光を検出することができ、正確な色分析処理を実施することができる。
[Operational effects of the third embodiment]
The color measurement device 1 of this embodiment includes an optical filter device 600 as in the first embodiment. As described above, in the optical filter device 600, the base 620 and the lid 630 are bonded with high airtightness and strong bonding strength through the metal ring 640 by seam bonding. In addition, breakage at the joint portion (fixing member 670) of the lid 630 and the second glass member 650 during seam joining is unlikely to occur. Therefore, the airtightness of the accommodation space in the optical filter device 600 is high, and changes in internal pressure can be suppressed.
For this reason, the installation environment of the wavelength tunable interference filter 5 can be maintained for a long time under reduced pressure, and high responsiveness when the wavelength tunable interference filter 5 is driven can be maintained. Further, the deterioration of the reflection films 54 and 55 can be suppressed, and the decrease in resolution can also be suppressed.
Therefore, even in the colorimetric sensor 3 and the colorimetric apparatus 1 including the optical filter device 600 as described above, the performance degradation can be suppressed, and light of a target wavelength extracted with high resolution can be detected over a long period of time. And accurate color analysis processing can be performed.

[実施形態の変形]
なお、本発明は上述の実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。
例えば、上記各実施形態では、側壁部622の外周端622Bも仮想直線L1(第二実施形態においては仮想直線L2)よりも内側に位置する例を示したが、これに限定されない。少なくとも第二ガラス部材650の外周端651が仮想直線L1(L2)の内側に位置すればよく、側壁部622の外周端622Bが、例えば仮想直線L1(L2)上に位置する構成などとしてもよい。
また、上記実施形態では、側壁部622及び金属リング640が四角筒状である例を示したが、これに限定されず、例えば円筒状等の筒形状であってもよい。
[Modification of Embodiment]
In addition, this invention is not limited to the above-mentioned embodiment, The deformation | transformation in the range which can achieve the objective of this invention, improvement, etc. are included in this invention.
For example, in each of the above embodiments, the example in which the outer peripheral end 622B of the side wall portion 622 is located inside the virtual straight line L1 (the virtual straight line L2 in the second embodiment) is not limited to this. It suffices that at least the outer peripheral end 651 of the second glass member 650 is positioned inside the virtual straight line L1 (L2), and the outer peripheral end 622B of the side wall portion 622 may be positioned, for example, on the virtual straight line L1 (L2). .
Moreover, in the said embodiment, although the side wall part 622 and the metal ring 640 showed the example which is a square cylinder shape, it is not limited to this, For example, cylindrical shapes, such as cylindrical shape, may be sufficient.

上記実施形態では、リッド630としてコバールにより構成される例を示したが、これに限定されず、例えばチタン等の他の金属素材を用いてもよい。ただし、熱伝導率が高い場合は、接合間距離b(b1)を大きくとる必要があり、ヤング率が小さい場合は、リッド630が撓みやすくなるため、厚み寸法a(a1)を大きくする必要がある。したがって、リッド630の素材により、適宜厚み寸法a(a1)及び接合間距離b(b1)を設定することが好ましい。   In the said embodiment, although the example comprised by Kovar as the lid 630 was shown, it is not limited to this, For example, you may use other metal raw materials, such as titanium. However, when the thermal conductivity is high, it is necessary to increase the inter-bonding distance b (b1). When the Young's modulus is small, the lid 630 is easily bent, and thus the thickness dimension a (a1) needs to be increased. is there. Therefore, it is preferable to appropriately set the thickness dimension a (a1) and the inter-joining distance b (b1) depending on the material of the lid 630.

また、上記各実施形態では、本発明に係る光学素子として、波長可変干渉フィルター5を例示したが、本発明はこれに限定されない。例えば、光学素子としては、光の反射方向を精密に変化させることができるミラーデバイス等を例示できる。
更に、光学素子として波長可変干渉フィルター5を例示したが、静電アクチュエーター56が設けられず、反射膜54,55間のギャップ寸法が固定である干渉フィルターを用いてもよい。
In each of the above embodiments, the wavelength variable interference filter 5 is exemplified as the optical element according to the present invention, but the present invention is not limited to this. For example, examples of the optical element include a mirror device that can precisely change the light reflection direction.
Furthermore, although the wavelength variable interference filter 5 is illustrated as an optical element, an interference filter in which the electrostatic actuator 56 is not provided and the gap dimension between the reflection films 54 and 55 is fixed may be used.

また、本発明の電子機器として、第三実施形態において測色装置1を例示したが、その他、様々な分野により本発明の光学デバイス、光学モジュール、電子機器を用いることができる。
例えば、特定物質の存在を検出するための光ベースのシステムとして用いることができる。このようなシステムとしては、例えば、本発明の光学デバイスが備える波長可変干渉フィルターを用いた分光計測方式を採用して特定ガスを高感度検出する車載用ガス漏れ検出器や、呼気検査用の光音響希ガス検出器等のガス検出装置を例示できる。
このようなガス検出装置の一例を以下に図面に基づいて説明する。
Moreover, although the colorimetric apparatus 1 was illustrated in the third embodiment as the electronic apparatus of the present invention, the optical device, optical module, and electronic apparatus of the present invention can be used in various other fields.
For example, it can be used as a light-based system for detecting the presence of a specific substance. As such a system, for example, an in-vehicle gas leak detector that detects a specific gas with high sensitivity by adopting a spectral measurement method using a wavelength variable interference filter provided in the optical device of the present invention, or a light for breath test A gas detection device such as an acoustic noble gas detector can be exemplified.
An example of such a gas detection device will be described below with reference to the drawings.

図10は、波長可変干渉フィルターを備えたガス検出装置の一例を示す概略図である。
図11は、図10のガス検出装置の制御系の構成を示すブロック図である。
このガス検出装置100は、図10に示すように、センサーチップ110と、吸引口120A、吸引流路120B、排出流路120C、及び排出口120Dを備えた流路120と、本体部130と、を備えて構成されている。
本体部130は、流路120を着脱可能な開口を有するセンサー部カバー131、排出手段133、筐体134、光学部135、フィルター136、光学フィルターデバイス600、及び受光素子137(検出部)等を含む検出装置と、検出された信号を処理し、検出部を制御する制御部138、電力を供給する電力供給部139等から構成されている。なお、光学フィルターデバイス600の代わりに、第二及び第三実施形態における光学フィルターデバイス600Aを用いてもよい。また、光学部135は、光を射出する光源135Aと、光源135Aから入射された光をセンサーチップ110側に反射し、センサーチップ側から入射された光を受光素子137側に透過するビームスプリッター135Bと、レンズ135C,レンズ135D,レンズ135Eと、により構成されている。
また、図10に示すように、ガス検出装置100の表面には、操作パネル140、表示部141、外部とのインターフェイスのための接続部142、電力供給部139が設けられている。電力供給部139が二次電池の場合には、充電のための接続部143を備えてもよい。
更に、ガス検出装置100の制御部138は、図11に示すように、CPU等により構成された信号処理部144、光源135Aを制御するための光源ドライバー回路145、光学フィルターデバイス600の波長可変干渉フィルター5を制御するための電圧制御部146、受光素子137からの信号を受信する受光回路147、センサーチップ110のコードを読み取り、センサーチップ110の有無を検出するセンサーチップ検出器148からの信号を受信するセンサーチップ検出回路149及び排出手段133を制御する排出ドライバー回路150等を備えている。
FIG. 10 is a schematic diagram illustrating an example of a gas detection apparatus including a wavelength variable interference filter.
FIG. 11 is a block diagram illustrating a configuration of a control system of the gas detection device of FIG.
As shown in FIG. 10, the gas detection device 100 includes a sensor chip 110, a flow path 120 including a suction port 120A, a suction flow path 120B, a discharge flow path 120C, and a discharge port 120D, a main body 130, It is configured with.
The main body unit 130 includes a sensor unit cover 131 having an opening through which the flow channel 120 can be attached, a discharge unit 133, a housing 134, an optical unit 135, a filter 136, an optical filter device 600, a light receiving element 137 (detection unit), and the like. And a control unit 138 that processes a detected signal and controls the detection unit, a power supply unit 139 that supplies power, and the like. Instead of the optical filter device 600, the optical filter device 600A in the second and third embodiments may be used. The optical unit 135 emits light, and a beam splitter 135B that reflects light incident from the light source 135A toward the sensor chip 110 and transmits light incident from the sensor chip toward the light receiving element 137. And a lens 135C, a lens 135D, and a lens 135E.
As shown in FIG. 10, an operation panel 140, a display unit 141, a connection unit 142 for interface with the outside, and a power supply unit 139 are provided on the surface of the gas detection device 100. When the power supply unit 139 is a secondary battery, a connection unit 143 for charging may be provided.
Further, as shown in FIG. 11, the control unit 138 of the gas detection apparatus 100 includes a signal processing unit 144 configured by a CPU, a light source driver circuit 145 for controlling the light source 135A, and a wavelength variable interference of the optical filter device 600. A voltage control unit 146 for controlling the filter 5, a light receiving circuit 147 that receives a signal from the light receiving element 137, a code of the sensor chip 110 is read, and a signal from the sensor chip detector 148 that detects the presence or absence of the sensor chip 110 is obtained. A sensor chip detection circuit 149 for receiving and a discharge driver circuit 150 for controlling the discharge means 133 are provided.

次に、上記のようなガス検出装置100の動作について、以下に説明する。
本体部130の上部のセンサー部カバー131の内部には、センサーチップ検出器148が設けられており、このセンサーチップ検出器148でセンサーチップ110の有無が検出される。信号処理部144は、センサーチップ検出器148からの検出信号を検出すると、センサーチップ110が装着された状態であると判断し、表示部141へ検出動作を実施可能な旨を表示させる表示信号を出す。
Next, operation | movement of the above gas detection apparatuses 100 is demonstrated below.
A sensor chip detector 148 is provided inside the sensor unit cover 131 at the upper part of the main body unit 130, and the sensor chip detector 148 detects the presence or absence of the sensor chip 110. When the signal processing unit 144 detects the detection signal from the sensor chip detector 148, the signal processing unit 144 determines that the sensor chip 110 is attached, and displays a display signal for displaying on the display unit 141 that the detection operation can be performed. put out.

そして、例えば利用者により操作パネル140が操作され、操作パネル140から検出処理を開始する旨の指示信号が信号処理部144へ出力されると、まず、信号処理部144は、光源ドライバー回路145に光源作動の信号を出力して光源135Aを作動させる。光源135Aが駆動されると、光源135Aから単一波長で直線偏光の安定したレーザー光が射出される。また、光源135Aには、温度センサーや光量センサーが内蔵されており、その情報が信号処理部144へ出力される。そして、信号処理部144は、光源135Aから入力された温度や光量に基づいて、光源135Aが安定動作していると判断すると、排出ドライバー回路150を制御して排出手段133を作動させる。これにより、検出すべき標的物質(ガス分子)を含んだ気体試料が、吸引口120Aから、吸引流路120B、センサーチップ110内、排出流路120C、排出口120Dへと誘導される。
なお、吸引口120Aには、除塵フィルター120A1が設けられ、比較的大きい粉塵や一部の水蒸気等が除去される。
For example, when the operation panel 140 is operated by the user and an instruction signal to start the detection process is output from the operation panel 140 to the signal processing unit 144, the signal processing unit 144 first sends the signal processing unit 144 to the light source driver circuit 145. A light source activation signal is output to activate the light source 135A. When the light source 135A is driven, laser light having a single wavelength and stable linear polarization is emitted from the light source 135A. The light source 135A includes a temperature sensor and a light amount sensor, and the information is output to the signal processing unit 144. When the signal processing unit 144 determines that the light source 135A is stably operating based on the temperature and light quantity input from the light source 135A, the signal processing unit 144 controls the discharge driver circuit 150 to operate the discharge unit 133. Thereby, the gas sample containing the target substance (gas molecule) to be detected is guided from the suction port 120A to the suction channel 120B, the sensor chip 110, the discharge channel 120C, and the discharge port 120D.
The suction port 120A is provided with a dust removal filter 120A1, and relatively large dust, a part of water vapor, and the like are removed.

また、センサーチップ110は、金属ナノ構造体が複数組み込まれ、局在表面プラズモン共鳴を利用したセンサーである。このようなセンサーチップ110では、レーザー光により金属ナノ構造体間で増強電場が形成され、この増強電場内にガス分子が入り込むと、分子振動の情報を含んだラマン散乱光及びレイリー散乱光が発生する。
これらのレイリー散乱光やラマン散乱光は、光学部135を通ってフィルター136に入射し、フィルター136によりレイリー散乱光が分離され、ラマン散乱光が光学フィルターデバイス600に入射する。そして、信号処理部144は、電圧制御部146を制御し、光学フィルターデバイス600の波長可変干渉フィルター5に印加する電圧を調整し、検出対象となるガス分子に対応したラマン散乱光を光学フィルターデバイス600の波長可変干渉フィルター5で分光させる。この後、分光した光が受光素子137で受光されると、受光量に応じた受光信号が受光回路147を介して信号処理部144に出力される。
信号処理部144は、上記のようにして得られた検出対象となるガス分子に対応したラマン散乱光のスペクトルデータと、ROMに格納されているデータとを比較し、目的のガス分子か否かを判定し、物質の特定をする。また、信号処理部144は、表示部141にその結果情報を表示させたり、接続部142から外部へ出力したりする。
The sensor chip 110 is a sensor that incorporates a plurality of metal nanostructures and uses localized surface plasmon resonance. In such a sensor chip 110, an enhanced electric field is formed between the metal nanostructures by laser light, and when gas molecules enter the enhanced electric field, Raman scattered light and Rayleigh scattered light including information on molecular vibrations are generated. To do.
These Rayleigh scattered light and Raman scattered light enter the filter 136 through the optical unit 135, and the Rayleigh scattered light is separated by the filter 136, and the Raman scattered light enters the optical filter device 600. Then, the signal processing unit 144 controls the voltage control unit 146 to adjust the voltage applied to the wavelength variable interference filter 5 of the optical filter device 600, and the Raman scattered light corresponding to the gas molecule to be detected is converted into the optical filter device. The light is dispersed by 600 wavelength variable interference filter 5. Thereafter, when the dispersed light is received by the light receiving element 137, a light reception signal corresponding to the amount of received light is output to the signal processing unit 144 via the light receiving circuit 147.
The signal processing unit 144 compares the spectrum data of the Raman scattered light corresponding to the gas molecule to be detected obtained as described above and the data stored in the ROM, and determines whether or not the target gas molecule is the target gas molecule. To determine the substance. Further, the signal processing unit 144 displays the result information on the display unit 141 or outputs the result information from the connection unit 142 to the outside.

なお、図10及び図11において、ラマン散乱光を光学フィルターデバイス600の波長可変干渉フィルター5により分光して分光されたラマン散乱光からガス検出を行うガス検出装置100を例示した。この他、ガス検出装置として、ガス固有の吸光度を検出することでガス種別を特定するガス検出装置として用いてもよい。この場合、センサー内部にガスを流入させ、入射光のうちガスにて吸収された光を検出するガスセンサーを本発明の光学モジュールとして用いる。そして、このようなガスセンサーによりセンサー内に流入されたガスを分析、判別するガス検出装置を本発明の電子機器とする。このような構成でも、波長可変干渉フィルターを用いてガスの成分を検出することができる。   10 and 11 exemplify the gas detection device 100 that performs gas detection from the Raman scattered light obtained by spectrally dividing the Raman scattered light by the wavelength variable interference filter 5 of the optical filter device 600. In addition, as a gas detection apparatus, you may use as a gas detection apparatus which specifies gas classification by detecting the intrinsic absorbance of gas. In this case, a gas sensor that allows gas to flow into the sensor and detects light absorbed by the gas in the incident light is used as the optical module of the present invention. A gas detection device that analyzes and discriminates the gas flowing into the sensor by such a gas sensor is an electronic apparatus of the present invention. Even in such a configuration, it is possible to detect a gas component using the wavelength variable interference filter.

また、特定物質の存在を検出するためのシステムとして、上記のようなガスの検出に限られず、近赤外線分光による糖類の非侵襲的測定装置や、食物や生体、鉱物等の情報の非侵襲的測定装置等の、物質成分分析装置を例示できる。
以下に、上記物質成分分析装置の一例として、食物分析装置を説明する。
In addition, the system for detecting the presence of a specific substance is not limited to the detection of the gas as described above, but a non-invasive measuring device for saccharides by near-infrared spectroscopy, and non-invasive information on food, living body, minerals, etc. A substance component analyzer such as a measuring device can be exemplified.
Hereinafter, a food analyzer will be described as an example of the substance component analyzer.

図12は、光学フィルターデバイス600を利用した電子機器の一例である食物分析装置の概略構成を示す図である。
この食物分析装置200は、図12に示すように、検出器210(光学モジュール)と、制御部220と、表示部230と、を備えている。検出器210は、光を射出する光源211と、測定対象物からの光が導入される撮像レンズ212と、撮像レンズ212から導入された光を分光する光学フィルターデバイス600と、分光された光を検出する撮像部213(検出部)と、を備えている。なお、光学フィルターデバイス600の代わりに、第二及び第三実施形態における光学フィルターデバイス600Aを用いてもよい。
また、制御部220は、光源211の点灯・消灯制御、点灯時の明るさ制御を実施する光源制御部221と、光学フィルターデバイス600の波長可変干渉フィルター5を制御する電圧制御部222と、撮像部213を制御し、撮像部213で撮像された分光画像を取得する検出制御部223と、信号処理部224と、記憶部225と、を備えている。
FIG. 12 is a diagram illustrating a schematic configuration of a food analysis apparatus which is an example of an electronic apparatus using the optical filter device 600.
As shown in FIG. 12, the food analysis device 200 includes a detector 210 (optical module), a control unit 220, and a display unit 230. The detector 210 includes a light source 211 that emits light, an imaging lens 212 into which light from a measurement object is introduced, an optical filter device 600 that splits light introduced from the imaging lens 212, and the dispersed light. And an imaging unit 213 (detection unit) for detection. Instead of the optical filter device 600, the optical filter device 600A in the second and third embodiments may be used.
The control unit 220 also turns on and off the light source 211 and controls the brightness at the time of lighting, a voltage control unit 222 that controls the wavelength variable interference filter 5 of the optical filter device 600, and imaging. A detection control unit 223 that controls the unit 213 to acquire a spectral image captured by the imaging unit 213, a signal processing unit 224, and a storage unit 225.

この食物分析装置200は、システムを駆動させると、光源制御部221により光源211が制御されて、光源211から測定対象物に光が照射される。そして、測定対象物で反射された光は、撮像レンズ212を通って光学フィルターデバイス600に入射する。光学フィルターデバイス600の波長可変干渉フィルター5は電圧制御部222の制御により所望の波長を分光可能な電圧が印加されており、分光された光が、例えばCCDカメラ等により構成される撮像部213で撮像される。また、撮像された光は分光画像として、記憶部225に蓄積される。また、信号処理部224は、電圧制御部222を制御して波長可変干渉フィルター5に印加する電圧値を変化させ、各波長に対する分光画像を取得する。   In the food analyzer 200, when the system is driven, the light source 211 is controlled by the light source control unit 221, and light is irradiated from the light source 211 to the measurement object. Then, the light reflected by the measurement object enters the optical filter device 600 through the imaging lens 212. The wavelength variable interference filter 5 of the optical filter device 600 is applied with a voltage capable of dispersing a desired wavelength under the control of the voltage control unit 222, and the dispersed light is captured by an imaging unit 213 configured by, for example, a CCD camera or the like. Imaged. The captured light is accumulated in the storage unit 225 as a spectral image. In addition, the signal processing unit 224 controls the voltage control unit 222 to change the voltage value applied to the wavelength tunable interference filter 5, and acquires a spectral image for each wavelength.

そして、信号処理部224は、記憶部225に蓄積された各画像における各画素のデータを演算処理し、各画素におけるスペクトルを求める。また、記憶部225には、例えばスペクトルに対する食物の成分に関する情報が記憶されており、信号処理部224は、求めたスペクトルのデータを、記憶部225に記憶された食物に関する情報を基に分析し、検出対象に含まれる食物成分、及びその含有量を求める。また、得られた食物成分及び含有量から、食物カロリーや鮮度等をも算出することができる。更に、画像内のスペクトル分布を分析することで、検査対象の食物の中で鮮度が低下している部分の抽出等をも実施することができ、更には、食物内に含まれる異物等の検出をも実施することができる。
そして、信号処理部224は、上述のようにして得られた検査対象の食物の成分や含有量、カロリーや鮮度等の情報を表示部230に表示させる処理をする。
Then, the signal processing unit 224 performs arithmetic processing on the data of each pixel in each image accumulated in the storage unit 225, and obtains a spectrum at each pixel. In addition, the storage unit 225 stores, for example, information related to food components with respect to the spectrum, and the signal processing unit 224 analyzes the obtained spectrum data based on the information related to food stored in the storage unit 225. The food component contained in the detection target and its content are obtained. Moreover, a food calorie, a freshness, etc. are computable from the obtained food component and content. Furthermore, by analyzing the spectral distribution in the image, it is possible to extract a portion of the food to be inspected that has reduced freshness, and to detect foreign substances contained in the food. Can also be implemented.
Then, the signal processing unit 224 performs processing for causing the display unit 230 to display information such as the components and contents of the food to be examined, the calories, and the freshness obtained as described above.

また、図12において、食物分析装置200の例を示すが、略同様の構成により、上述したようなその他の情報の非侵襲的測定装置としても利用することができる。例えば、血液等の体液成分の測定、分析等、生体成分を分析する生体分析装置として用いることができる。このような生体分析装置としては、例えば血液等の体液成分を測定する装置として、エチルアルコールを検知する装置とすれば、運転者の飲酒状態を検出する酒気帯び運転防止装置として用いることができる。また、このような生体分析装置を備えた電子内視鏡システムとしても用いることができる。
更には、鉱物の成分分析を実施する鉱物分析装置としても用いることができる。
FIG. 12 shows an example of the food analysis apparatus 200, but it can also be used as a non-invasive measurement apparatus for other information as described above with a substantially similar configuration. For example, it can be used as a biological analyzer for analyzing biological components such as measurement and analysis of body fluid components such as blood. As such a bioanalytical device, for example, a device that detects ethyl alcohol as a device that measures a body fluid component such as blood, it can be used as a drunk driving prevention device that detects the drunk state of the driver. Further, it can also be used as an electronic endoscope system provided with such a biological analyzer.
Furthermore, it can also be used as a mineral analyzer for performing component analysis of minerals.

更には、本発明の波長可変干渉フィルター、光学モジュール、電子機器としては、以下のような装置に適用することができる。
例えば、各波長の光の強度を経時的に変化させることで、各波長の光でデータを伝送させることも可能であり、この場合、光学モジュールに設けられた波長可変干渉フィルターにより特定波長の光を分光し、受光部で受光させることで、特定波長の光により伝送されるデータを抽出することができ、このようなデータ抽出用光学モジュールを備えた電子機器により、各波長の光のデータを処理することで、光通信を実施することもできる。
Furthermore, the variable wavelength interference filter, optical module, and electronic apparatus of the present invention can be applied to the following devices.
For example, it is possible to transmit data using light of each wavelength by changing the intensity of light of each wavelength over time. In this case, light of a specific wavelength is transmitted by a wavelength variable interference filter provided in the optical module. The data transmitted by the light of the specific wavelength can be extracted by separating the light and receiving the light at the light receiving unit, and the electronic data having such a data extraction optical module can be used to extract the light data of each wavelength. By processing, optical communication can be performed.

また、電子機器としては、波長可変干渉フィルターにより光を分光することで、分光画像を撮像する分光カメラ、分光分析機等にも適用できる。このような分光カメラの一例として、波長可変干渉フィルターを内蔵した赤外線カメラが挙げられる。
図13は、分光カメラの概略構成を示す模式図である。分光カメラ300は、図13に示すように、カメラ本体310と、撮像レンズユニット320と、撮像部330(検出部)と、を備えている。
カメラ本体310は、利用者により把持、操作される部分である。
撮像レンズユニット320は、カメラ本体310に設けられ、入射した画像光を撮像部330に導光する。また、この撮像レンズユニット320は、図13に示すように、対物レンズ321、結像レンズ322、及びこれらのレンズ間に設けられた光学フィルターデバイス600を備えて構成されている。なお、光学フィルターデバイス600の代わりに、第二及び第三実施形態における光学フィルターデバイス600Aを用いてもよい。
撮像部330は、受光素子により構成され、撮像レンズユニット320により導光された画像光を撮像する。
このような分光カメラ300では、光学フィルターデバイス600の波長可変干渉フィルター5により撮像対象となる波長の光を透過させることで、所望波長の光の分光画像を撮像することができる。
In addition, as an electronic device, the present invention can be applied to a spectroscopic camera, a spectroscopic analyzer, or the like that captures a spectroscopic image by dispersing light with a wavelength variable interference filter. An example of such a spectroscopic camera is an infrared camera incorporating a wavelength variable interference filter.
FIG. 13 is a schematic diagram showing a schematic configuration of the spectroscopic camera. As shown in FIG. 13, the spectroscopic camera 300 includes a camera body 310, an imaging lens unit 320, and an imaging unit 330 (detection unit).
The camera body 310 is a part that is gripped and operated by a user.
The imaging lens unit 320 is provided in the camera body 310 and guides incident image light to the imaging unit 330. Further, as shown in FIG. 13, the imaging lens unit 320 includes an objective lens 321, an imaging lens 322, and an optical filter device 600 provided between these lenses. Instead of the optical filter device 600, the optical filter device 600A in the second and third embodiments may be used.
The imaging unit 330 includes a light receiving element, and images the image light guided by the imaging lens unit 320.
In such a spectroscopic camera 300, a spectral image of light having a desired wavelength can be captured by transmitting light having a wavelength to be imaged by the variable wavelength interference filter 5 of the optical filter device 600.

更には、波長可変干渉フィルターをバンドパスフィルターとして用いた光学デバイスとしても利用できる。例えば、発光素子が射出する所定波長域の光のうち、所定の波長を中心とした狭帯域の光のみを波長可変干渉フィルターで分光して透過させる光学式レーザー装置としても用いることができる。
また、本発明の光学デバイスに収容された波長可変干渉フィルターを生体認証装置として用いてもよく、例えば、近赤外領域や可視領域の光を用いた、血管や指紋、網膜、虹彩等の認証装置にも適用できる。
Furthermore, it can also be used as an optical device using a wavelength variable interference filter as a bandpass filter. For example, it can also be used as an optical laser device that splits and transmits only a narrow-band light centered on a predetermined wavelength among light in a predetermined wavelength range emitted from the light emitting element.
In addition, the tunable interference filter housed in the optical device of the present invention may be used as a biometric authentication device, for example, authentication of blood vessels, fingerprints, retinas, irises, etc. using light in the near infrared region or visible region. It can also be applied to devices.

更には、光学モジュール及び電子機器を、濃度検出装置として用いることができる。この場合、波長可変干渉フィルターにより、物質から射出された赤外エネルギー(赤外光)を分光して分析し、サンプル中の被検体濃度を測定する。   Furthermore, an optical module and an electronic device can be used as a concentration detection device. In this case, the infrared energy (infrared light) emitted from the substance is spectrally analyzed by the variable wavelength interference filter, and the analyte concentration in the sample is measured.

上記に示すように、本発明の光学デバイス、光学モジュール及び電子機器は、入射光から所定の光を分光するいかなる装置にも適用することができる。そして、上記光学デバイスは、上述のように、1デバイスで複数の波長を分光させることができるため、複数の波長のスペクトルの測定、複数の成分に対する検出を精度よく実施することができる。したがって、複数デバイスにより所望の波長を取り出す従来の装置に比べて、光学モジュールや電子機器の小型化を促進でき、例えば、携帯用や車載用の電子機器に好適に利用できる。   As described above, the optical device, the optical module, and the electronic apparatus of the present invention can be applied to any apparatus that separates predetermined light from incident light. And since the said optical device can disperse | distribute a some wavelength with one device as mentioned above, the measurement of the spectrum of a some wavelength and the detection with respect to a some component can be implemented accurately. Therefore, compared with the conventional apparatus which takes out a desired wavelength with a plurality of devices, it is possible to promote downsizing of the optical module and the electronic device, and for example, it can be suitably used for portable or in-vehicle electronic devices.

その他、本発明の実施の際の具体的な構造は、本発明の目的を達成できる範囲で上記各実施形態及び変形例を適宜組み合わせることで構成してもよく、また他の構造等に適宜変更してもよい。   In addition, the specific structure for carrying out the present invention may be configured by appropriately combining the above-described embodiments and modification examples within the scope in which the object of the present invention can be achieved, and may be appropriately changed to other structures and the like. May be.

1…測色装置、3…測色センサー、4…制御装置、5…波長可変干渉フィルター、31…検出部、54…固定反射膜、55…可動反射膜、100…ガス検出装置、137…受光素子、138…制御部、200…食物分析装置、213…撮像部、220…制御部、300…分光カメラ、600,600A…光学フィルターデバイス、610…筐体(光学筐体)、620…ベース、630…リッド、631…上面、632…外周端、633…第二開口部、634…リッド接合部、635…リッド本体部、640…金属リング(金属枠)、641…第一端面、642…第二端面、642A…外周端、650…第二ガラス部材(透光部材)、651…外周端、670…固定部材、L1,L2…仮想直線。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Color measurement apparatus, 3 ... Color measurement sensor, 4 ... Control apparatus, 5 ... Wavelength variable interference filter, 31 ... Detection part, 54 ... Fixed reflection film, 55 ... Movable reflection film, 100 ... Gas detection apparatus, 137 ... Light reception Element, 138 ... Control unit, 200 ... Food analyzer, 213 ... Imaging unit, 220 ... Control unit, 300 ... Spectral camera, 600,600A ... Optical filter device, 610 ... Housing (optical housing), 620 ... Base, 630 ... Lid, 631 ... Upper surface, 632 ... Outer peripheral edge, 633 ... Second opening, 634 ... Lid joint, 635 ... Lid body, 640 ... Metal ring (metal frame), 641 ... First end surface, 642 ... First Two end surfaces, 642A ... outer peripheral end, 650 ... second glass member (translucent member), 651 ... outer peripheral end, 670 ... fixing member, L1, L2 ... virtual straight line.

Claims (10)

側壁部により囲われた凹部を有するベースと、
前記側壁部上の端面に接合され、前記側壁部との接合面とは反対側の第一面を有する金属枠と、
前記金属枠に接合され、前記金属枠との接合面とは反対側の第二面、及び開口部を有するリッドと、
前記リッドに接合され、前記開口部を閉塞する透光部材と、
前記ベースの凹部に載置された光学素子と、を備え、
前記透光部材は、前記ベースの前記凹部の深さ方向に沿った断面視において、前記金属枠の前記第一面における外周端と、前記リッドの前記第二面における外周端とを結ぶ仮想直線と交わらない
ことを特徴とする光学デバイス。
A base having a recess surrounded by a side wall;
A metal frame bonded to an end surface on the side wall portion and having a first surface opposite to the bonding surface with the side wall portion;
A lid that is bonded to the metal frame, has a second surface opposite to the bonding surface with the metal frame, and an opening;
A translucent member bonded to the lid and closing the opening;
An optical element placed in the concave portion of the base,
The translucent member is an imaginary straight line connecting the outer peripheral end of the first surface of the metal frame and the outer peripheral end of the second surface of the lid in a cross-sectional view along the depth direction of the concave portion of the base. An optical device characterized by not intersecting with.
請求項1に記載の光学デバイスにおいて、
前記ベースの前記凹部の深さ方向から見た平面視において、前記リッドの外周端から前記透光部材の外周端までの最小距離寸法は、1.5mm以上である
ことを特徴とする光学デバイス。
The optical device according to claim 1.
The optical device according to claim 1, wherein a minimum distance dimension from the outer peripheral end of the lid to the outer peripheral end of the translucent member is 1.5 mm or more in a plan view when viewed from the depth direction of the concave portion of the base.
請求項1又は請求項2に記載の光学デバイスにおいて、
前記リッドは均一厚み寸法を有する平板であり、当該リッドの厚み寸法は、0.15mm以上である
ことを特徴とする光学デバイス。
The optical device according to claim 1 or 2,
The said lid is a flat plate which has a uniform thickness dimension, The thickness dimension of the said lid is 0.15 mm or more. The optical device characterized by the above-mentioned.
請求項1又は請求項2に記載の光学デバイスにおいて、
前記リッドは、前記金属枠に接合されるリッド接合部と、前記リッド接合部よりも前記開口部側に設けられ、前記リッド接合部よりも厚み寸法が大きいリッド本体部と、を備えた
ことを特徴とする光学デバイス。
The optical device according to claim 1 or 2,
The lid includes: a lid joint portion joined to the metal frame; and a lid main body portion provided on the opening side of the lid joint portion and having a thickness dimension larger than that of the lid joint portion. Optical device characterized.
請求項4に記載の光学デバイスにおいて、
前記リッド本体部は、前記仮想直線と交わらない
ことを特徴とする光学デバイス。
The optical device according to claim 4.
The optical device, wherein the lid main body portion does not intersect with the virtual straight line.
請求項4又は請求項5に記載の光学デバイスにおいて、
前記リッド本体部の厚み寸法は、0.15mm以上である
ことを特徴とする光学デバイス。
The optical device according to claim 4 or 5,
The optical device is characterized in that a thickness dimension of the lid main body portion is 0.15 mm or more.
請求項1から請求項6のいずれかに記載の光学デバイスにおいて、
前記光学素子は、互いに対向する一対の反射膜を備えたファブリーペローエタロン素子である
ことを特徴とする光学デバイス。
The optical device according to any one of claims 1 to 6,
The optical device is a Fabry-Perot etalon element including a pair of reflective films facing each other.
側壁部により囲われた凹部を有するベース、前記側壁部上の端面に接合され、前記側壁部との接合面とは反対側の第一面を有する金属枠、前記金属枠に接合され、前記金属枠との接合面とは反対側の第二面、及び開口部を有するリッド、前記リッドに接合され、前記開口部を閉塞する透光部材、及び前記ベースの凹部に載置されたファブリーペローエタロン素子を有する光学デバイスと、
前記光学デバイスから出射された光を受光する受光部と、を備え、
前記透光部材は、前記ベースの前記凹部の深さ方向に沿った断面視において、前記金属枠の前記第一面における外周端と、前記リッドの前記第二面における外周端とを結ぶ仮想直線と交わらない
ことを特徴とする光学モジュール。
A base having a recess surrounded by a side wall, a metal frame bonded to an end surface on the side wall, and having a first surface opposite to the bonding surface with the side wall, and bonded to the metal frame, the metal A second surface opposite to the joint surface with the frame, a lid having an opening, a translucent member that is joined to the lid and closes the opening, and a Fabry-Perot etalon placed in the recess of the base An optical device having an element;
A light receiving unit for receiving light emitted from the optical device,
The translucent member is an imaginary straight line connecting the outer peripheral end of the first surface of the metal frame and the outer peripheral end of the second surface of the lid in a cross-sectional view along the depth direction of the concave portion of the base. An optical module characterized in that it does not cross.
側壁部により囲われた凹部を有するベース、前記側壁部上の端面に接合され、前記側壁部との接合面とは反対側の第一面を有する金属枠、前記金属枠に接合され、前記金属枠との接合面とは反対側の第二面、及び開口部を有するリッド、前記リッドに接合され、前記開口部を閉塞する透光部材、及び前記ベースの凹部に載置されたファブリーペローエタロン素子を有する光学デバイスと、
前記光学デバイスを制御する制御部と、を備え、
前記透光部材は、前記ベースの前記凹部の深さ方向に沿った断面視において、前記金属枠の前記第一面における外周端と、前記リッドの前記第二面における外周端とを結ぶ仮想直線と交わらない
ことを特徴とする電子機器。
A base having a recess surrounded by a side wall, a metal frame bonded to an end surface on the side wall, and having a first surface opposite to the bonding surface with the side wall, and bonded to the metal frame, the metal A second surface opposite to the joint surface with the frame, a lid having an opening, a translucent member that is joined to the lid and closes the opening, and a Fabry-Perot etalon placed in the recess of the base An optical device having an element;
A control unit for controlling the optical device,
The translucent member is an imaginary straight line connecting the outer peripheral end of the first surface of the metal frame and the outer peripheral end of the second surface of the lid in a cross-sectional view along the depth direction of the concave portion of the base. Electronic equipment characterized by not crossing with
側壁部により囲われた凹部を有するベースと、
前記側壁部上の端面に接合され、前記側壁部との接合面とは反対側の第一面を有する金属枠と、
前記金属枠に接合され、前記金属枠との接合面とは反対側の第二面、及び開口部を有するリッドと、
前記リッドに接合され、前記開口部を閉塞する透光部材と、を備え、
前記透光部材は、前記ベースの前記凹部の深さ方向に沿った断面視において、前記金属枠の前記第一面における外周端と、前記リッドの前記第二面における外周端とを結ぶ仮想直線と交わらない
ことを特徴とする光学筐体。
A base having a recess surrounded by a side wall;
A metal frame bonded to an end surface on the side wall portion and having a first surface opposite to the bonding surface with the side wall portion;
A lid that is bonded to the metal frame, has a second surface opposite to the bonding surface with the metal frame, and an opening;
A translucent member bonded to the lid and closing the opening,
The translucent member is an imaginary straight line connecting the outer peripheral end of the first surface of the metal frame and the outer peripheral end of the second surface of the lid in a cross-sectional view along the depth direction of the concave portion of the base. An optical housing characterized by not intersecting with.
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