JP2014527275A - 軸方向放出を用いたrfオンリー四重極マスフィルタおよび線形四重極イオントラップの性能向上 - Google Patents
軸方向放出を用いたrfオンリー四重極マスフィルタおよび線形四重極イオントラップの性能向上 Download PDFInfo
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Abstract
Description
本出願は、米国仮特許出願シリアル番号第61/537,800号(出願日:2011年9月22日)および英国特許出願第1116026.4号(出願日:2011年9月16日)の優先権および恩恵を主張する。本明細書中、これらの出願の内容全体を参考のため援用する。
第1の一対の棒電極、
第2の一対の棒電極、および
エネルギーフィルタを含む四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップが提供される。
ただし、第1の一対の棒電極の物理的特性は、第2の一対の棒電極の物理的特性と異なる。
第1の一対の棒電極、
第2の一対の棒電極、および
任意選択的に1つ以上のアパチャを有する出口部材であって、(i)出口部材のうち一部が第2の一対の棒電極よりも第1の一対の棒電極に近接して延びるように出口部材が傾斜または他の場合に配置され、かつ/または、(ii)1つ以上のアパチャは、第2の一対の棒電極よりも第1の一対の棒電極と共により近接してアライメントされる出口部材を含む。
四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップを通じてイオンを誘導することであって、四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップは、第1の一対の棒電極、第2の一対の棒電極およびエネルギーフィルタを含み、第1の一対の棒電極の物理的特性は、第2の一対の棒電極の物理的特性と異なることを含む質量分析方法が提供される。
四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップを通じてイオンを誘導することであって、四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップは、第1の一対の棒電極と、第2の一対の棒電極と、エネルギーフィルタと、任意選択的に1つ以上のアパチャを有する出口部材とを含み、(i)出口部材は、出口部材のうち少なくとも一部が第2の一対の棒電極よりも第1の一対の棒電極に近接して延びるように傾斜されるかまたは他の場合に配置され、かつ/または、(ii)1つ以上のアパチャは、1つ以上のアパチャのうち少なくとも一部が第2の一対の棒電極よりも第1の一対の棒電極に近接するように、アライメントされるまたは他の場合に方向付けられる、誘導することを含む質量分析方法が提供される。
第1の一対の棒電極、
第2の一対の棒電極、および
出口部材であって、出口部材は、第1の一対の電極に隣接して配置された第1の組成を有する第1の部位または第1の表面コーティングと、第2の一対の電極に隣接して配置された第2の異なる組成を有する第2の部位または第2の異なる表面コーティングを含む、出口部材を含む、四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップが提供される。
四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップを通じてイオンを誘導することであって、四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップは、第1の一対の棒電極と、第2の一対の棒電極と、出口部材とを含み、出口部材は、第1の一対の電極に隣接して配置された第1の組成を有する第1の部位または第1の表面コーティングと、第2の一対の電極に隣接して配置された第2の異なる組成を有する第2の部位または第2の異なる表面コーティングとを含む、誘導することを含む質量分析方法が提供される。
4つのロッドを含む四重極ロッドセットと、および
四重極ロッドセットの軸方向イオン退出領域にすぐ隣接して配置された出口部材であって、出口部材は、非平面状かつ/または曲線状かつ/または傾斜状である、出口部材とを含む質量分析計が提供される。
4つのロッドを含む四重極ロッドセットと、および
四重極ロッドセットの軸方向イオン退出領域に隣接して配置された出口部材であって、1つ以上の空洞を有する平面電極を有する、出口部材とを含む質量分析計が提供される。
四重極ロッドセットを通じてイオンを誘導することであって、四重極ロッドセットは、4つのロッドを含み、ロッドのうち少なくとも1つまたは2つは第1の軸方向長さを有し、ロッドのうち少なくとも1つまたは2つは第2の異なる軸方向長さを有する、誘導することを含む質量分析方法が提供される。
四重極ロッドセットを通じてイオンを誘導することであって、四重極ロッドセットは4つのロッドを含み、四重極ロッドセットの軸方向イオン退出領域に隣接するロッドによって形成された内接半径は、四重極ロッドセットの中央軸方向領域内のロッドによって形成された内接半径と異なり、ロッドのうち1つまたは2つは、四重極ロッドセットの軸方向イオン退出領域に隣接する半径r1を有し、ロッドのうち1つまたは2つは、四重極ロッドセットの軸方向イオン退出領域に隣接する半径r2を有し、r1>r2である、誘導することを含む質量分析方法が提供される。
4つのロッドを含む四重極ロッドセットと、四重極ロッドセットの軸方向イオン退出領域にすぐ隣接して配置された出口部材とを通じてイオンを誘導することであって、出口部材は、非平面状かつ/または曲線状かつ/または傾斜状である、誘導することを含む質量分析方法が提供される。
4つのロッドを含む四重極ロッドセットと、四重極ロッドセットの軸方向イオン退出領域に隣接して配置された出口部材とを通じてイオンを誘導することであって、出口部材は、1つ以上の空洞を有する平面電極を含む、誘導することを含む質量分析方法が提供される。
四重極ロッドセットを通じてイオンを誘導することであって、四重極ロッドセットは、4つのロッドを含み、ロッドのうち1つまたは2つは、四重極ロッドセットの軸方向イオン退出領域の近隣に1つ以上の第1の空洞を含み、ロッドのうち1つまたは2つは、軸方向イオン退出領域の近隣に空洞を持たないか、または、軸方向イオン退出領域の近隣に第2の異なる空洞を含む、誘導することを含む質量分析方法が提供される。
(a)(i)エレクトロスプレーオン化(「ESI」)イオン源、(ii)大気圧光イオン化(「APPI」)イオン源、(iii)大気圧化学イオン化(「APCI」)イオン源、(iv)マトリックス支援レーザ脱離イオン化法イオン化(「MALDI」)イオン源、(v)レーザ脱離イオン化(「LDI」)イオン源、(vi)大気圧イオン化(「API」)イオン源、(vii)シリコン上脱離イオン化(「DIOS」)イオン源、(viii)電子衝撃(「EI」)イオン源、(ix)化学イオン化(「CI」)イオン源、(x)フィールドイオン化(「FI」)イオン源、(xi)フィールド脱離(「FD」)イオン源、(xii)誘導結合プラズマ(「ICP」)イオン源、(xiii)高速原子衝撃(「FAB」)イオン源、(xiv)液体二次イオン質量分析(「LSIMS」)イオン源、(xv)脱離エレクトロスプレーオン化(「DESI」)イオン源、(xvi)ニッケル63放射性イオン源、(xvii)大気圧マトリックス支援レーザ脱離イオン化法イオン化イオン源、(xviii)サーモスプレーイオン源、(xix)大気サンプリンググロー放電イオン化(「ASGDI」)イオン源および(xx)グロー放電(「GD」)イオン源、からなる群から選択されたイオン源、および/または
(b)1つ以上の連続またはパルスイオン源、および/または、
(c)1つ以上のイオンガイド、および/または、
(d)1つ以上のイオン移動度分離デバイスおよび/または1つ以上のフィールド非対称イオン移動度分析計デバイス、および/または
(e)1つ以上のイオントラップまたは1つ以上のイオントラップ領域、および/または、
(f)1つ以上の衝突、フラグメンテーションまたは反応セルであって、1つ以上の衝突、フラグメンテーションまたは反応セルは、(i)衝突誘起解離(「CID」)フラグメンテーションデバイス、(ii)表面誘起解離(「SID」)フラグメンテーションデバイス、(iii)電子移動解離(「ETD」)フラグメンテーションデバイス、(iv)電子捕獲解離(「ECD」)フラグメンテーションデバイス、(v)電子衝突または衝撃解離フラグメンテーションデバイス、(vi)光誘起解離(「PID」)フラグメンテーションデバイス、(vii)レーザ誘起解離フラグメンテーションデバイス、(viii)赤外線放射誘起解離デバイス、(ix)紫外線放射誘起解離デバイス、(x)ノズルスキマーインターフェースフラグメンテーションデバイス、(xi)インソースフラグメンテーションデバイス、(xii)インソース衝突誘起解離フラグメンテーションデバイス、(xiii)熱または温度源フラグメンテーションデバイス、(xiv)電界誘起フラグメンテーションデバイス、(xv)磁界誘起フラグメンテーションデバイス、(xvi)酵素消化または酵素分解フラグメンテーションデバイス、(xvii)イオン間反応フラグメンテーションデバイス、(xviii)イオン分子反応フラグメンテーションデバイス、(xix)イオン原子反応フラグメンテーションデバイス、(xx)イオン準安定イオン反応フラグメンテーションデバイス、(xxi)イオン準安定分子反応フラグメンテーションデバイス、(xxii)イオン準安定原子反応フラグメンテーションデバイス、(xxiii)イオン反応により付加または生成イオンを形成するためのイオン間反応デバイス、(xxiv)イオン反応により付加または生成イオンを形成するためのイオン分子反応デバイス、(xxv)イオン反応により付加または生成イオンを形成するためのイオン原子反応デバイス、(xxvi)イオン反応により付加または生成イオンを形成するためのイオン準安定イオン反応デバイス、(xxvii)イオン反応により付加または生成イオンを形成するためのイオン準安定分子反応デバイス、(xxviii)イオン反応により付加または生成イオンを形成するためのイオン準安定原子反応デバイスおよび(xxix)電子イオン化解離(「EID」)フラグメンテーションデバイスからなる群から選択される、1つ以上の衝突、フラグメンテーションまたは反応セル、および/または
(g)質量分析器であって、(i)四重極質量分析器、(ii)2Dまたは線形四重極質量分析器、(iii)ポールまたは3D四重極質量分析器、(iv)ペニングトラップ質量分析器、(v)イオントラップ質量分析器、(vi)磁気セクター質量分析器、(vii)イオンサイクロトロン共鳴(「ICR」)質量分析器、(viii)フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴(「FTICR」)質量分析器、(ix)静電またはOrbitrap質量分析器、(x)フーリエ変換静電またはOrbitrap質量分析器、(xi)フーリエ変換質量分析器、(xii)飛行時間質量分析器、(xiii)直交加速飛行時間質量分析器および(xiv)線形加速飛行時間質量分析器からなる群から選択される、質量分析器、および/または
(h)1つ以上のエネルギー分析器または静電エネルギー分析器、および/または
(i)1つ以上のイオン検出器、および/または
(j)1つ以上のマスフィルタであって、(i)四重極マスフィルタ、(ii)2Dまたは線形四重極イオントラップ、(iii)ポールまたは3D四重極イオントラップ、(iv)ペニングイオントラップ、(v)イオントラップ、(vi)磁気セクターマスフィルタ、(vii)飛行時間マスフィルタおよび(viii)ウィーンフィルタ、からなる群から選択される1つ以上のマスフィルタ、および/または、
(k)イオンをパルスするためのデバイスまたはイオンゲート、および/または
(l)実質的に連続するイオンビームをパルスイオンビームへ変換するデバイス。
(i)外側の樽型電極および同軸方向の内側のスピンドル状電極を含むCトラップおよびOrbitrap(RTM)質量分析器であって、第1の動作モードにおいて、イオンはCトラップへと伝送された後、Orbitrap(RTM)質量分析器中へと注入され、第2の動作モードにおいて、イオンはCトラップへと伝送された後、衝突セルまたは電子移動解離デバイスへと伝送され、少なくともいくつかのイオンはフラグメントイオンへフラグメント化され、その後フラグメントイオンはCトラップへと伝送された後、Orbitrap(RTM)質量分析器中へと注入される、CトラップおよびOrbitrap(RTM)質量分析器、および/または
(ii)複数の電極を含む積層リングイオンガイドであって、複数の電極はそれぞれ、使用時において内部を通じてイオンが伝送されるアパチャを有し、電極の間隔は、イオン経路の長さに沿って増加し、イオンガイドの上流部位内の電極内のアパチャは第1の直径を有し、イオンガイドの下流部位内の電極内のアパチャの第2の直径は、第1の直径よりも小さく、使用時において、ACまたはRF電圧の対向する位相が連続する電極へと付加される。
102 一対のグリッド電極
103 イオン検出器
Claims (48)
- 四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップであって、
第1の一対の棒電極と、
第2の一対の棒電極と、
エネルギーフィルタと、
を含み、
前記第1の一対の棒電極の物理的特性は、前記第2の一対の棒電極の物理的特性と異なる、
四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。 - 前記物理的特性は軸方向長さを含む、請求項1に記載の四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。
- 前記第1の一対の棒電極は第1の軸方向長さを有するとともに、前記第2の一対の棒電極は第2の異なる軸方向長さを有する、請求項1または2に記載の四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。
- 前記第1の軸方向長さと前記第2の軸方向長さとの間の差Δxは、(i)<1mm、(ii)1〜2mm、(iii)2〜3mm、(iv)3〜4mm、(v)4〜5mm、(vi)5〜6mm、(vii)6〜7mm、(viii)7〜8mm、(ix)8〜9mm、(x)9〜10mmおよび(xi)>10mmからなる群から選択される、請求項3に記載の四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。
- 前記物理的特性は、断面外形または形状を含む、請求項1〜4のうちいずれかに記載の四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。
- 前記第1の一対の棒電極の第1の断面直径または外形は、前記四重極ロッドセットマスフィルタまたは質量分析器の退出領域に向かって低減する、請求項1〜5のうちいずれかに記載の四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。
- 前記第2の一対の棒電極の第2の断面直径または外形は、前記四重極ロッドセットマスフィルタまたは質量分析器の退出領域に向かって増加する、請求項1〜6のうちいずれかに記載の四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。
- 前記第1の一対の棒電極および第2の一対の棒電極は、第1の上流部および第2の下流部を有し、前記第1のおよび/または第2の棒電極は、前記第1の上流部において実質的に一定の断面直径または外形を有する、請求項1〜7のうちいずれかに記載の四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。
- 前記第1のおよび/または第2の棒電極の断面直径または外形は、前記第2の下流部の全体においてまたは前記第2の下流部に沿って変化する、請求項8に記載の四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。
- 前記第1の一対の棒電極および第2の一対の棒電極は、前記第1の上流部において断面半径r0を有し、前記第1の一対の棒電極は、前記第2の下流部の退出領域の近隣において断面半径r1を有し、前記第2の一対の棒電極は、前記第2の下流部の前記退出領域に隣接して断面半径r2を有し、r1>r0>r2である、請求項8または9に記載の四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。
- 前記第1の上流部または前記下流部は、前記四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップの軸方向長さのうちx%を含み、xは、(i)<10%、(ii)10〜20%、(iii)20〜30%、(iv)30〜40%、(v)40〜50%、(vi)50〜60%、(viii)60〜70%、(ix)70〜80%、(x)80〜90%および(xi)>90%からなる群から選択される、請求項8、9または10に記載の四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。
- 前記第1の一対の棒電極は、前記四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップの退出領域に隣接して配置された1つ以上の部分的または全体的な第1の空洞を含む、請求項1〜11のうちいずれか記載の四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。
- 前記1つ以上の第1の空洞は、前記第1の一対の棒電極の内方に向かう面上に配置される、請求項12に記載の四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。
- 前記第2の一対または棒電極は、空洞を実質的に含まないまたは前記四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップの退出領域に隣接して配置された1つ以上の部分的または全体的な第2の空洞を含み、1つ以上の第2の空洞は、前記1つ以上の第1の空洞と深さ、サイズ、幅または形態が実質的に異なる、請求項12または13に記載の四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。
- 前記第1の一対の棒電極および第2の一対の棒電極は直径を有し、前記1つ以上の第1の空洞および/または前記1つ以上の第2の空洞は、前記直径のy%のラジアル深さを有し、yは、(i)<10%、(ii)10〜20%、(iii)20〜30%、(iv)30〜40%、(v)40〜50%、(vi)50〜60%、(viii)60〜70%、(ix)70〜80%、(x)80〜90%および(xi)90〜100%からなる群から選択される、請求項12、13または14に記載の四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。
- 前記物理的特性は、前記棒電極の組成を含む、請求項1〜15のうちいずれかに記載の四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。
- 前記物理的特性は、(i)前記棒電極へ付加される誘電または他のコーティング、および/または(ii)前記棒電極の表面仕上げを含む、請求項1〜16のうちいずれかに記載の四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。
- 前記エネルギーフィルタは、1つ以上のグリッド電極を含む、請求項1〜17のうちいずれかに記載の四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。
- 前記エネルギーフィルタは、DCポテンシャル障壁および/またはRF擬ポテンシャル障壁を含む、請求項1〜18のうちいずれかに記載の四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。
- 前記エネルギーフィルタは物理的障壁を含み、前記物理的障壁は、電荷比に対する所望の質量を有しかつ第1のラジアルエネルギーを有するイオンが前記障壁への影響を回避し、かつ、電荷比に対して所望されない質量を有しかつ第2のラジアルエネルギーを有するイオンが前記障壁に衝突するように、配置される、請求項1〜19のうちいずれかに記載の四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。
- 前記第1のラジアルエネルギーは、前記第2のラジアルエネルギーよりも大きいかまたは小さい、請求項20に記載の四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。
- 電荷比に対する所望の質量を有するイオンは、ラジアル方向に励起されて第1のラジアルエネルギーを所有し、前記マスフィルタ、質量分析器またはイオントラップの退出領域における漏れ磁場に起因して軸方向に加速され、これにより、前記電荷比に対する所望の質量を有するイオンは、第1の軸方向エネルギーを所有する、請求項1〜21のうちいずれかに記載の四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。
- 電荷比に対して所望されない質量を有するイオンがラジアル方向に励起されて、第2のラジアルエネルギーを所有し、前記マスフィルタ、質量分析器またはイオントラップの退出領域における漏れ磁場に起因して軸方向に加速され、これにより、前記電荷比に対して所望されない質量を有するイオンは、第2の軸方向エネルギーを所有する、請求項22に記載の四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。
- 前記電荷比に対する所望の質量を有しかつ前記第1の軸方向エネルギーを有するイオンは、前記エネルギーフィルタに打ち勝つことができ、前記四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップから軸方向に発生し、前記電荷比に対して所望されない質量を有しかつ前記第2の軸方向エネルギーを有するイオンは、前記エネルギーフィルタに打ち勝つことができず、実質的に減衰する、請求項22または23に記載の四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。
- 四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップであって、
第1の一対の棒電極と、
第2の一対の棒電極と、
任意選択的に1つ以上のアパチャを有する出口部材であって、(i)前記出口部材のうち一部が前記第2の一対の棒電極よりも前記第1の一対の棒電極に近接して延びるように、前記出口部材が傾斜されるかまたは他の場合に配置され、かつ/または、(ii)前記1つ以上のアパチャは、前記第2の一対の棒電極よりも前記第1の一対の棒電極とより近接してアライメントされる、出口部材と、
を含む、四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。 - 前記出口部材は、第1の組成を有する第1の部位および第2の異なる組成を有する第2の部位を含む、請求項25に記載の四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。
- 前記出口部材は、前記四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップの退出領域に隣接して配置される、請求項25または26に記載の四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。
- 前記出口部材は、シート電極またはグリッド電極を含む、請求項25、26または27に記載の四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。
- 前記出口部材の一部は、前記棒電極の端面から距離d1において前記四重極ロッドセットの中央長手方向軸に沿って配置され、d1は、(i)<1mm、(ii)1〜2mm、(iii)2〜3mm、(iv)3〜4mm、(v)4〜5mm、(vi)5〜6mm、(vii)6〜7mm、(viii)7〜8mm、(ix)8〜9mm、(x)9〜10mmおよび(xi)>10mmからなる群から選択される、請求項25〜28のうちいずれかに記載の四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。
- DCおよび/またはRF電圧が前記出口部材へ付加される、請求項25〜29のうちいずれかに記載の四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。
- 電荷比に対する所望の質量を有するイオンは、影響を回避するかまたは前記出口部材によって伝送され、電荷比に対して所望されない質量を有するイオンは、前記出口部材と衝突するかまたは前記出口部材によって減衰される、請求項25〜30のうちいずれかに記載の四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。
- 1つ以上の第1のさらなる電極をさらに含み、前記1つ以上の第1のさらなる電極は、前記第1の一対の棒電極および第2の一対の棒電極の下流ならびに前記エネルギーフィルタまたは出口部材の上流および/または下流に配置され、前記1つ以上の第1のさらなる電極は、前記四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ内において軸方向にイオンを閉じ込めるように配置および適合される、請求項1〜31のうちいずれかに記載の四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。
- 1つ以上の第2のさらなる電極をさらに含み、前記1つ以上の第2のさらなる電極は、前記第1の一対の棒電極および第2の一対の棒電極の1つ以上の第2のさらなる電極ならびに前記エネルギーフィルタまたは出口部材の上流および/または下流に配置され、抽出DC電圧が前記1つ以上の第2のさらなる電極へと付加される、請求項1〜32のうちいずれかに記載の四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。
- 1つ以上の入口電極をさらに含み、1つ以上の入口電極は、前記第1の一対の棒電極および第2の一対の棒電極の上流に配置され、前記1つ以上の入口電極は、前記四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ内において軸方向にイオンを閉じ込めるように配置および適合される、請求項1〜33のうちいずれかに記載の四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。
- デバイスをさらに含み、前記デバイスは、DCバイアス電圧を前記第1の一対の電極および/または前記第2の一対の電極へと付加して、イオンを前記第1の一対の棒電極または前記第2の一対の棒電極とアライメントさせるように配置および適合される、請求項1〜34のうちいずれかに記載の四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。
- 前記第1の一対の電極および/または第2の一対の電極へ付加されるDCバイアス電圧の振幅は、(i)<−50V、(ii)−40〜−30V、(iii)−30〜−20V、(iv)−20〜−10V、(v)−10〜0V、(vi)0〜10V、(vii)10〜20V、(viii)20〜30V、(ix)30〜40V、(x)40〜50Vおよび(xi)>50Vからなる群から選択される、請求項35に記載の四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。
- 前記第1の一対の棒電極は線形電極を含み、かつ/または、前記第2の一対の棒電極は線形電極を含む、請求項1〜36のうちいずれかに記載の四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。
- 前記第1の一対の棒電極は、前記第2の一対の棒電極と平行になるように配置される、請求項1〜37のうちいずれかに記載の四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。
- 前記第1の一対の棒電極および/または前記第2の一対の棒電極は、実質的に円形または双曲線の断面を有する、請求項1〜38のうちいずれかに記載の四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。
- 使用時において、(i)第1の振幅を有する1つ以上のRFオンリー電圧が前記第1の一対の棒電極へ付加され、かつ/または、第2の振幅を有する1つ以上のRFオンリー電圧が前記第2の一対の棒電極へ付加され、前記第2の振幅は、前記第1の振幅と同じであるかまたは異なり、または(ii)第1のRF振幅を有する1つ以上のDCおよびRF電圧が前記第1の一対の棒電極へ付加され、かつ/または、第2のRF振幅を有する1つ以上のDCおよびRF電圧またはRFオンリー電圧が前記第2の一対の棒電極へ付加され、前記第2のRF振幅は、前記第1のRF振幅と同じであるかまたは異なる、請求項1〜39のうちいずれかに記載の四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。
- 前記第1の一対の電極および/または前記第2の一対の電極へ付加されるRF電圧の前記振幅および/または周波数および/または位相に対して変更、増加、低減または傾斜を行うことにより、前記四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップから軸方向において所望のイオンを発生または放出させるかまたは排出させる、請求項1〜40のうちいずれかに記載の四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。
- 前記四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップからイオンを発生または放出させるまたは排出させることは、(i)質量または質量対電荷比の順序で、または(ii)質量または質量対電荷比と逆の順序で行われる、請求項1〜41のうちいずれかに記載の四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。
- 前記四重極ロッドセットマスフィルタまたは質量分析器は、RFオンリー四重極ロッドセットマスフィルタまたは質量分析器を含む、請求項1〜42のうちいずれかに記載の四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。
- 前記イオントラップは、軸方向放出を用いた線形四重極イオントラップを含む、請求項1〜43のうちいずれかに記載の四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。
- 質量分析方法であって、
四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップを通じてイオンを誘導することであって、前記四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップは、第1の一対の棒電極、第2の一対の棒電極およびエネルギーフィルタを含み、前記第1の一対の棒電極の物理的特性は、前記第2の一対の棒電極の物理的特性と異なる、こと、
を含む、質量分析方法。 - 質量分析方法であって、
四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップを通じてイオンを誘導することであって、前記四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップは、第1の一対の棒電極と、第2の一対の棒電極と、エネルギーフィルタと、任意選択的に1つ以上のアパチャを有する出口部材とを含み、(i)少なくとも前記出口部材の一部が前記第2の一対の棒電極よりも前記第1の一対の棒電極に近接して延びるように、前記出口部材が傾斜されるかまたは他の場合に配置され、かつ/または、(ii)前記1つ以上のアパチャのうち少なくとも一部が前記第2の一対の棒電極よりも前記第1の一対の棒電極に近接するように、前記1つ以上のアパチャがアライメントされるまたは他の場合に方向付けられる、こと、
を含む、質量分析方法。 - 四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップであって、
第1の一対の棒電極と、
第2の一対の棒電極と、
出口部材であって、前記出口部材は、第1の組成を有する第1の部位または前記第1の一対の電極に隣接して配置された第1の表面コーティングおよび第2の異なる組成を有する第2の部位または前記第2の一対の電極に隣接して配置された第2の異なる表面コーティングを含む、出口部材と、
を含む、四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップ。 - 質量分析方法であって、
四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップを通じてイオンを誘導することであって、前記四重極ロッドセットマスフィルタ、質量分析器またはイオントラップは、第1の一対の棒電極と、第2の一対の棒電極と、出口部材とを含み、前記出口部材は、第1の組成を有する第1の部位または前記第1の一対の電極に隣接して配置された第1の表面コーティングおよび第2の異なる組成を有する第2の部位または前記第2の一対の電極に隣接して配置された第2の異なる表面コーティングを含む、こと、
を含む、質量分析方法。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2022254526A1 (ja) * | 2021-05-31 | 2022-12-08 | 株式会社島津製作所 | 四重極型質量分析装置 |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2015036848A1 (en) * | 2013-09-13 | 2015-03-19 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Rf-only detection scheme and simultaneous detection of multiple ions |
WO2015189605A1 (en) * | 2014-06-11 | 2015-12-17 | Micromass Uk Limited | Ion profiling with a scanning quadrupole mass filter |
DE112015002725T5 (de) * | 2014-06-11 | 2017-02-23 | Micromass Uk Limited | Verbesserte Quadrupolwiderstandsfähigkeit |
US9929003B2 (en) * | 2015-06-04 | 2018-03-27 | Thermo Finnigan Llc | Ion source filter |
US9524860B1 (en) | 2015-09-25 | 2016-12-20 | Thermo Finnigan Llc | Systems and methods for multipole operation |
EP3357080B1 (en) * | 2015-10-01 | 2024-05-01 | DH Technologies Development PTE. Ltd. | Mass-selective axial ejection linear ion trap |
WO2017094146A1 (ja) * | 2015-12-02 | 2017-06-08 | 株式会社島津製作所 | 四重極マスフィルタ及び四重極型質量分析装置 |
GB201615127D0 (en) * | 2016-09-06 | 2016-10-19 | Micromass Ltd | Quadrupole devices |
CN110571128A (zh) * | 2019-08-26 | 2019-12-13 | 宁波大学 | 一种多段式四极杆电极系统及其串联方法 |
US11004672B2 (en) | 2019-08-27 | 2021-05-11 | Thermo Finnigan Llc | Systems and methods of operation of linear ion traps in dual balanced AC/unbalanced RF mode for 2D mass spectrometry |
US11087964B2 (en) | 2019-11-21 | 2021-08-10 | Thermo Finnigan Llc | Method and apparatus for improved electrospray emitter lifetime |
US10948456B1 (en) * | 2019-11-27 | 2021-03-16 | Mks Instruments, Inc. | Gas analyzer system with ion source |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20070084998A1 (en) * | 2005-08-22 | 2007-04-19 | Bruker Daltonik Gmbh | Novel tandem mass spectrometer |
JP2009076466A (ja) * | 1995-08-11 | 2009-04-09 | Mds Health Group Ltd | 軸電界を有する分析計 |
JP2010533353A (ja) * | 2007-07-12 | 2010-10-21 | マイクロマス・ユーケイ・リミテッド | 質量分析計 |
JP2012529156A (ja) * | 2009-06-05 | 2012-11-15 | アジレント・テクノロジーズ・インク | 多重極イオン輸送装置および関連方法 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3473019A (en) * | 1967-06-19 | 1969-10-14 | Bell & Howell Co | Mass analyzer with extension means to decrease the distance between electrode surfaces |
DE1698202B2 (de) * | 1968-03-07 | 1976-07-29 | Consolidated Electrodynamics Corp., Pasadena, Calif. (V.St.A.) | Elektronenstoss-ionenquelle fuer ein multipolmassenfilter |
US5179278A (en) | 1991-08-23 | 1993-01-12 | Mds Health Group Limited | Multipole inlet system for ion traps |
US6545271B1 (en) * | 2000-09-06 | 2003-04-08 | Agilent Technologies, Inc. | Mask plate with lobed aperture |
US7045797B2 (en) * | 2002-08-05 | 2006-05-16 | The University Of British Columbia | Axial ejection with improved geometry for generating a two-dimensional substantially quadrupole field |
WO2005029533A1 (en) * | 2003-09-25 | 2005-03-31 | Mds Inc., Doing Business As Mds Sciex | Method and apparatus for providing two-dimensional substantially quadrupole fields having selected hexapole components |
US7633060B2 (en) * | 2007-04-24 | 2009-12-15 | Thermo Finnigan Llc | Separation and axial ejection of ions based on m/z ratio |
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009076466A (ja) * | 1995-08-11 | 2009-04-09 | Mds Health Group Ltd | 軸電界を有する分析計 |
US20070084998A1 (en) * | 2005-08-22 | 2007-04-19 | Bruker Daltonik Gmbh | Novel tandem mass spectrometer |
JP2010533353A (ja) * | 2007-07-12 | 2010-10-21 | マイクロマス・ユーケイ・リミテッド | 質量分析計 |
JP2012529156A (ja) * | 2009-06-05 | 2012-11-15 | アジレント・テクノロジーズ・インク | 多重極イオン輸送装置および関連方法 |
Cited By (1)
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