JP2014526769A - タンデム型質量分析計及びタンデム型質量分析方法 - Google Patents

Abstract

本発明は、イオンを生成することができるイオン化源（１）と、イオン化源からイオンを受け取るように構成されたイオントラップ（２）と、イオントラップを出るイオンを質量ｍと電荷ｚの比（ｍ／ｚ）に応じて検出することができる検出手段とを含む質量分析器と、イオンを活性化するためにイオントラップ内に捕獲されたイオンの少なくとも一部をフラグメント化することができるイオン活性化手段と、イオントラップとイオン活性化手段との間に配置された結合手段とを含むタンデム型質量分析計に関する。本発明によれば、イオン活性化手段は、イオントラップ（２）に配向される光ビームを生成することができるグロー放電ランプ（４）で構成され、光ビームは、８ｅＶ〜４１ｅＶの光子エネルギーを有する真空紫外波長領域の電磁放射線であり、イオントラップ（２）内に捕獲されたイオンの少なくとも一部をフラグメント化するようになっている。
【選択図】 図１

Description

本発明は、タンデム型質量分析方法及び装置に関する。

質量分析法（ＭＳ）は、試料から生じたイオンを検出して、イオンの比率（ｍ／ｚ）に基づいてこれらのイオンを分析する分析技法であり、ｍはイオンの質量を表し、ｚはイオンの電荷を表す。質量分析法は、イオン化分子の化学構造を分析、識別、及び特徴づけるための多くの用途において使用されている。

質量分析計は、通常、分析したい試料からイオンを形成するイオン化源と、イオンをｍ／ｚ比に基づいて分離する分析器と、検出器とを含む。質量スペクトルは、イオンの質量電荷（ｍ／ｚ）比に基づいてイオン発生量を記録することにより生成される。しかしながら、単純な質量分析により、特に複雑な分子において全く同じｍ／ｚ比を有するイオンを区別することが常に可能とは限らない。

タンデム型質量分析法は、初期質量分析ステップによってイオンを選択する段階と、イオンをフラグメント化する段階と、次に、結果として生じたイオンフラグメントに１つ又はそれ以上の他の質量分析ステップを実行する段階とを含むイオン分析法であり、各質量分析ステップは、空間的に又は時間的に分けることができる。タンデム型質量分析法は、イオンをイオントラップの内部に隔離して、次に、イオンのフラグメント化に十分な量の内部エネルギーをイオンに供給することにより行うことができる。このステップを活性化と呼ぶ。このフラグメント化の生成物の検出により、親イオンの構造体に関するデータを得ることができる。タンデム型質量分析法は、構造分析における質量分析用途、特に、蛋白質及び（砂糖又は核酸のような）他の生体高分子の配列決定の基盤である。

イオンをフラグメント化する様々な活性化方法が存在する。各々の活性化方法は、様々な活性化生成物をもたらす場合がある様々な活性化手段を必要とする。

最も広く使われているイオン活性化方法は、ＣＩＤ（衝突誘起解離）と呼ばれる。ＣＩＤによる活性化は、イオンと、希ガス（ヘリウム、窒素、アルゴンなど）の原子又は分子等の中性ターゲット種との間の非弾性衝突によってイオンを活性化することから成る。この活性化は、イオンの運動エネルギーの一部を内部エネルギーに変換することから成る。この方法は、イオンをゆっくり加熱することと同様の振動活性化法の部類に属する。ＣＩＤによる活性化には、普及しているにもかかわらず欠点がある。第１に、イオンと気体分子との間の衝突の結果として、イオンの軌跡が変更される可能性がある。したがって、ＣＩＤステップにより、イオン損失、及び検出器の解像度の低下につながる可能性がある。ＣＩＤの結果として、イオントラップの内部でイオン活性化と放出との間で競合が発生する。更に、ＣＩＤによる活性化では、非選択的なイオン励起が生成され、イオントラップの内部に存在するイオンの全てが、ガスと衝突することにより励起される可能性がある。最後に、この方法の有効性は、イオンの質量電荷比が増加するにつれて低下する。ＣＩＤが利用するメカニズムは統計にもとづくものであり、殆どの脆い結合を破断させる可能性がある。したがって、ＣＩＤは、高いｍ／ｚ比を有する特定のイオンを分析すること、又は脆い結合の特定の分子のシーケンスデータを取得することを可能にするものではない。

また、ＲＦ電磁放射線を用いたフラグメント化技法が知られている。米国特許公開第２００５／００９１７２号には、イオン化室と、気体分子をイオン化するＶＵＶランプと、イオントラップと、イオントラップ内部のイオンフラグメント化ユニットと、イオントラップ内部の選択されたイオンを検出する飛行時間質量分析器とを含む、非イオン化気体分子を分析するタンデム型質量分析計が説明されている。米国特許公開第２００５／００９１７２号には、ＶＵＶランプの光子エネルギーは、中性分子をイオン化するには十分であるが、イオン化電位を越えると、フラグメント化又は解離を引き起こすには不十分であると記載されている。この文献によれば、イオンフラグメント化ユニットは、イオントラップに連結されたＴＩＣＫＬＥと呼ばれる電磁放射線源で構成されている。

また、レーザによって活性化を引き起こす別の方法が知られている。欧州特許第１８２９０８２号には、タンデム型質量分析法において、可視光領域及び近紫外線で出射されるレーザを利用することが説明されている。イオンは、レーザビーム光子のエネルギーを吸収することができる。原理上、選択的な活性化は、レーザの出射波長に基づいて発生させることができる。しかしながら、利用可能なレーザ波長は可視光及び近紫外線に限定され、光子エネルギーは約６．２ｅＶ（又は２００ｎｍ）に制限される。

米国特許公開第２００５／００９１７２号明細書 欧州特許第１８２９０８２号明細書

本発明の１つの目的は、高いｍ／ｚ比を有するイオン等に関する、選択的であると共に高い解像度及び検出有効性を可能にする質量分析を用いた分析装置及分析方法を提供することである。

本発明の別の目的は、従来技術と異なるか又は従来技術の相補的なフラグメント化生成物の生成を可能にするタンデム型質量分析法を使用した、分析装置及び分析方法を提供することである。

本発明の更に別の目的は、従来技術で生成されたものに類似するが、より低い運転コストでフラグメント化生成物の生成を可能にするタンデム型質量分析法を使用した、分析装置及び分析方法を提供することである。

本発明の目的は、従来技術の欠点を解消することにあり、詳細には、イオンを生成するのに適するイオン化源と、イオン化源から生じるイオンを受け取ることができるように構成されるイオントラップと、イオントラップを出るイオンを質量ｍ電荷ｚ比（ｍ／ｚ）に基づいて検出するのに適する検出手段とを含む質量分析器と、イオントラップの内部に捕獲されたイオンの少なくとも一部を活性化するのに適するイオン活性化手段と、イオントラップと該イオン活性化手段との間に配置された結合手段とを含むタンデム型質量分析計に関する。

本発明によれば、イオン活性化手段は、イオントラップに向けられる光ビームを生成するのに適するグロー放電ランプを含み、該光ビームは、イオントラップの内部に捕獲されたイオンの少なくとも一部の電子のフラグメント化、光電離、又はこの電子の光脱離をもたらすために、８ｅＶ〜４１ｅＶの範囲の光子エネルギーでの真空紫外線（ＶＵＶ）領域内の電磁放射線である。

イオン活性化手段は、イオントラップに向けられる光ビームを生成するのに適する前記グロー放電ランプで構成されることが好ましい。

本発明の様々な特定の特徴によれば、
−装置は、ＶＵＶ放射線による活性化の開始及び持続時間を制御するようにグロー放電ランプをオンにする制御手段を更に含み、
−前記結合手段は、ＶＵＶ放射線による活性化の開始及び持続時間を制御するビームシャッタを含み、
−前記結合手段は、イオンパケットがイオントラップ内に貯蔵された状態でＶＵＶ放射線ビームの相互作用を最適化するように構成された、ミラー及び／又はレンズを有する光学システムを含み、
−前記結合手段は、機械的真空接続手段と、グロー放電ランプ及び質量分析計の同時動作を可能にするようにグロー放電ランプの排気を行うのに適する差動排気手段とを含み、
−イオン化源は、エレクトロスプレイ源、電子衝撃源、化学イオン化源、光イオン化源、マトリクス支援レーザ誘起脱離（ＭＡＬＤＩ）源、大気圧ＭＡＬＤＩ源、大気圧化学イオン化源、又は大気圧光イオン化源を含み、
−グロー放電ランプは、ヘリウム、ネオン、アルゴン、クリプトン、又は複数のこれらのガスの混合物のガスの放電ランプであり、
−イオントラップは、高周波イオントラップ、３Ｄ高周波イオントラップ、又は、四重極リニアイオントラップを含み、
−検出手段は、イオン検出器、又はイオン検出器を備えた別の質量分析器、又は飛行時間型の質量分析器を含む。

本発明は、更に、以下のステップを含むタンデム型質量分析方法に関する。
−イオン化源を用いてイオンを生成するステップ、
−イオン化源から生じたイオンの少なくとも一部を捕獲するステップ、
−イオントラップの内部に捕獲されたイオンの少なくとも一部を活性化するように、捕獲されたイオンを選択及び活性化するステップ、
−イオントラップを出るイオンを、質量ｍ電荷ｚ（ｍ／ｚ）比）に基づいて分析及び検出するステップ。

本発明の方法によれば、イオン選択及び活性化ステップは、グロー放電ランプから生じた光ビームによって捕獲されたイオンの光活性化のためのステップを含み、前記光ビームは、イオントラップの内部に捕獲されたイオンの少なくとも一部の電子をフラグメント化、光電離、又はこの電子の光脱離をもたらすために、８ｅＶ〜４１ｅＶの範囲の光子エネルギーでの真空紫外線波長領域内の電磁放射線である。

イオン選択及び活性化ステップは、グロー放電ランプから生じた光ビームによる捕獲されたイオンの光活性化のステップから成ることが好ましい。

本発明の方法の様々な特定の特徴により、
−グロー放電ランプから放射される光ビームの波長は、様々なイオンフラグメント化生成物を生成するように調節され、
−イオンの活性化は、所定の持続時間にわたって適用され、
−この方法は、イオン分析及び検出に先だって１つ又は複数の選択及び活性化ステップを含む。

本発明には、タンデム型質量分析法において特に有利な用途があろう。

また、本発明は、以下の説明の過程で出現して、独立して又は全ての技術的に可能な組み合わせに応じて検討する必要がある特徴に関する。

この非限定的で例示的な説明により、本発明を具現化する方法は添付図面を参照してより完全に理解できるはずである。

本発明のタンデム型質量分析装置の概略図である。 本発明の第１の実施形態によるタンデム型質量分析装置の概略図である。 本発明の第２の実施形態によるタンデム型質量分析装置の概略図である。

質量分析法を使用する新規な分析装置が提案され、この分析装置は、１つの観点からは、イオントラップ形式の質量分析計を実現化し、放電ランプが生成する紫外線ビームは、質量分析計の内部の蓄積されたイオン化分子の光活性化（フラグメント化、光イオン化及び／又は光脱離による）を保証する。

放電ランプとイオントラップとの間に結合手段が提案される。質量分析計には、トラップ内部のイオンへの照射を可能にするように開口部が形成される。この開口部は、イオントラップ及び／又は質量分析計の動作に適合する真空レベルの維持に関連する問題を解決することを必要とする。放電ランプが封止されず、更にウィンドウを有していない場合、放電ランプとイオントラップ又は質量分析計との間には、これら２つの部品の間の圧力差を調整できるように差動排気を導入する必要がある。放電ランプから放射された放射線が、真空気密ウィンドウシステム、例えば、溶融シリカ、ＭｇＦ_２、ＣａＦ_２、ＬｉＦ_２、などで作られたウィンドウを透過することができる場合、質量分析計又はイオントラップに形成された開口部上に適切な真空気密ウィンドウを設けることができ、質量分析計又はイオントラップ内の所要の真空レベルを維持するようになっている。放電ランプとイオンに接近可能とするウィンドウとの間の空間は、放電ランプから放射された放射線には透過的である。このことは、真空紫外線（ＶＵＶ）が大気ガスにより全体として吸収されるので、この空間を排気することによって又はこの空間を放射線透過ガスで満すことによって行うことができる。また、放電ランプは、分光計アクセスウィンドウの代わりに直接組み込むことができる。随意的に、イオン照射を強化するために、１つ又は複数の光学部品（例えば、１つ又は複数のミラー又は１つ又は複数のレンズ）を放電ランプとイオントラップとの間に組み込むことができる。装置は、照射の開始及び持続時間を制御するシステムを含むことが好ましい。この照射制御システムは、例えば、電気機械ビームシャッタか又は放射線を物理的に遮断する任意の他のシステムとすることができる。この照射制御システムは、放電ランプをオンにするか又はオフにするかを間欠的に制御する手段とすることもできる。

グロー放電ランプから放射された真空紫外線を使用するイオンの励起に基づく新規な活性化方法が提案される。

図１は、本発明の概略図を示す。図１は、縮尺通りではなく本発明を例証するものである。本発明のシステムは、イオン化源１、イオントラップ２、検出システム３、ＶＵＶ（真空紫外線）放電ランプ４、ビームシャッタシステム５、及び真空機械及び技術の光結合手段６を含む。実線矢印は、図式的にイオン束を示し、破線矢印は、ＵＶ光ビームを示す。

イオン化源１は、分析される試料との物理的及び／又は化学的な相互作用によってイオンを生成する。この場合に、分析される試料は、固体、液体、又はガスの形態とすることができる。イオン化源１は、様々な形式とすることができ、電子衝撃（ＥＩ）源、化学イオン化（ＣＩ）源、光イオン化（ＰＩ）源、マトリクス支援レーザ誘起脱離（ＭＡＬＤＩ）源、大気圧ＭＡＬＤＩ（ＡＰ−ＭＡＬＤＩ）源、大気圧化学イオン化（ＡＰＣＩ）源、大気圧光イオン化（ＡＰＰＩ）源、又はエレクトロスプレ（ＥＳＩ）とすることができる。従って、イオン化源は、質量分析器を用いて、分析されることになるイオンを発生させる。

イオン化源で生成されたイオンは、イオントラップ２に伝達される。イオントラップは、イオン雲の形態で空間内部にイオンの貯蔵を可能にする特定の装置である。イオントラップは、通常、イオン入射用の入口、捕獲が発生する領域、及び検出器又は検出システムを備えたタンデム型質量分析器に向けてイオンを放出する出口を含む。

イオントラップ２は、３Ｄトラップ、四重極リニアトラップ、又は他の形式の高周波形式とすることができる。本実施例では、イオントラップ２は、質量分析法（ＭＳ）形式の動作で、質量電荷（ｍ／ｚ）比に応じてイオン化源で生成されたイオンの分析を可能にする。イオントラップ２は、タンデム型質量分析の試行を行うために、所定のｍ／ｚ比の領域を選択して隔離することが可能である。その後、捕獲されたイオンは、放電ランプ４から生じたＶＵＶ放射線ビームと相互作用して活性化される。

放電ランプ４は、ＶＵＶ（真空度紫外線）形式の、つまり約３０ｎｍ〜１８０ｎｍ未満の範囲の波長領域での電磁放射線を放射する。この放電ランプは、Ｈｅｎｎｉｋｅｒ Ｓｃｉｅｎｔｉｆｉｃから販売されているＵＶＳ４０Ａ２形式、Ｓｃｉｅｎｔａから販売されているＶＵＶ５００形式、又は、Ｈｅｒａｅｕｓ Ｎｏｂｌｅｌｉｇｈｔから販売されているＰＩＤ形式（ＰＸＳ０８４、ＰＸＲ０８４等）とすることができる。以下に放電ランプの作動方法を簡潔に説明する。放電又はマイクロ波放電は、蛍光放射線を放射するガスを励起する。ヘリウム、ネオン、アルゴン、クリプトン、又は任意の他のガスとすることができるガスは、ＶＵＶ、詳細には８〜４１ｅＶの範囲のエネルギー範囲、つまり約３０〜１５５ｎｍの範囲の波長の電磁放射線を放射する。

活性化ステップは、イオントラップ内部のイオンを、ＶＵＶランプからの光ビームを使用して照射することによって確保される。ＶＵＶランプは、放射線透過ウィンドウにより封止及び閉鎖することができる。また、ＶＵＶランプは、従来の真空気密ウィンドウの材料によって吸収される、非常に高エネルギーの放射線を放射することができる。この場合、イオントラップ及びＶＵＶランプのそれぞれで異なる真空作動条件を実現しながら、ＶＵＶランプとイオントラップとの間の光学経路に沿って吸収性ウィンドウを配置することを回避することが望ましい。１つの解決策は、ＶＵＶ放射線の生成に必要なグロー放電の始動及び維持に適合する圧力条件と質量分析計又はイオントラップの作動に適合する圧力条件とを維持するために、ＶＵＶランプの差動排気を適用することである。ＶＵＶランプの放射波長が許す場合、真空気密光学ウィンドウは、質量分析計又はイオントラップ上へ取り付けられる。ＶＵＶランプとイオンに接近可能とするウィンドウとの間の中間空間は、ＶＵＶランプから放射されるＶＵＶ放射線に透過的である。このことは、真空紫外線（ＶＵＶ）が大気ガスにより全体として吸収されるので、この中間空間を排気することによって又はこの空間を放射線透過ガスで満すことによって行うことができる。また、ＶＵＶランプを分光計アクセスウィンドウの代わりに直接取り付けることができる。随意的に、必要であれば、イオン照射を強化するために、光学部品（例えば、１つ又は複数のミラー又は１つ又は複数のレンズ）をＶＵＶランプとイオントラップとの間に組み込むことができる。

イオントラップ内部に捕獲されたイオンは、光活性化によってイオンを活性化するＶＵＶ放射線を受光する。

イオン選択、隔離、及び活性化ステップは、イオントラップ内部で実行され、トラップがタンデム型質量分析法ＭＳ^ｎのレベルｎでこのステップを可能にする場合には繰り返すことができる。従って、最初のタンデム型質量分析ステップの後で、ｍ／ｚ比の範囲を再度選択して別の活性化−フラグメント化工程を引き起こすことができる。この工程をイオン検出前にｎ回繰り返すことができる。

検出器３は、従来式の質量分析計検出器であり、イオントラップ２を出射するイオンの検出が可能である。検出器３の代わりに、その検出システムと一緒に別の形式の分析器、例えば、自己のイオン検出システムを備えた飛行時間分析器を組み込むことができる。

図２は、本発明の実施形態によるＭＳ−ＭＳ質量分析装置の概略図である。本実施例において、イオンは、エレクトロスプレイ源１で形成され、細管１ａによってイオン光学システム１ｂ内に移送される。イオン光学システム１ｂは、本実施例では四重極リニア形イオントラップであるイオントラップ２にイオンを導く。ＶＵＶ放電ランプ４はガス放電ランプである。ガス中のマイクロ波又は放電は、ＶＵＶ放射線の放射を引き起こす。放射波長はガスの性質に依存する。例えば、ヘリウム、ネオン、アルゴン、又はクリプトン、又は任意の他のガスを使用することができる。ＶＵＶ放射線はイオンにより吸収され、光解離、光脱離、及び／又は光イオン化を引き起こす可能性がある。タンデム型質量分析法の試行において、対象のイオンを選択してビームシャッタ５によって制御可能な時間周期にわたって放射線に曝す。ＶＵＶ放射線は、開口部を通ってイオントラップに入る。この開口部は、放射線透過光学ウィンドウによって封止することができる。この開口部は、ＶＵＶランプ、質量分析計、及びイオントラップの動作に関して適切な真空を維持する差動排気システム６によってＶＵＶランプと直接、接触することができる。照射が終了した場合に、イオントラップの内容物は検出システム３によって分析される。

図３は、本発明の第２の実施形態による装置の実施例の概略図であり、ＶＵＶランプを取り付けるための他の幾何学的形状が使用される。ＶＵＶランプを取り付けるための幾何学的は制限的なものではない。これはイオンの照射を可能にする必要がある。

様々なタイプの反応をＶＵＶ光の吸収によって誘発させることができる。以下にこれらの反応の幾つかの例を示す。
［Ｍ＋ｎＨ］^ｎ＋＋ｈｖ→フラグメントイオン （ａ）
［Ｍ＋ｎＨ］^ｎ＋＋ｈｖ→［Ｍ＋ｎＨ］^ｎ＋１＋ｅ⁻＋フラグメントイオン （ｂ）
［Ｍ＋ｎＨ］^ｎ＋＋ｈｖ→［Ｍ＋ｎＨ］^ｎ＋ｍ＋ｍ×ｅ⁻＋フラグメントイオン （ｃ）
［Ｍ−ｎＨ］^ｎ−＋ｈｖ→フラグメントイオン （ｄ）
［Ｍ−ｎＨ］^ｎ−＋ｈｖ→［Ｍ−ｎＨ］^ｎ−１＋ｅ⁻＋フラグメントイオン （ｅ）
［Ｍ−ｎＨ］^ｎ−＋ｈｖ→［Ｍ−ｎＨ］^ｎ−ｍ＋ｍ×ｅ⁻＋フラグメントイオン （ｆ）

陽イオンの場合、ＶＵＶ光の吸収は、一連のポリペプチドイオン、例えば、一連の別の生体高分子又はイオン化分子上で有益なフラグメントイオンを生成する光解離（パスａ）をもたらすことができる。光子エネルギーが十分な場合、その電荷を１回（パスｂ）又はｍ回（パスｃ）増加させることができる光イオンを生成するために、イオンを光電離することが可能である。フラグメントイオンを形成することができる。

陰イオンの場合、ＶＵＶ光の吸収は、一連のポリペプチドイオン又は一連の別の生体高分子又はイオン化分子上で有益なイオンフラグメントを形成するために、イオンの光解離を引き起こすことができる（パスｄ）。光子エネルギーが十分な場合、電子は光脱離され（パスｅ及びｆ）、フラグメントイオンをもたらすことができる。

ＶＵＶランプからの放射線による光活性化は、従来技術で得られるものと類似のフラグメント化を引き起こすことができる。しかしながら、ＶＵＶランプからの放射線による光活性化は、レーザ活性化では到達できないフラグメント化をもたらすことを可能とする。

放電ランプは、電力、波長領域、及び波長同調性に関してレーザとは非常に異なる特性を有する。実際には、ＶＵＶ放電ランプは、光子がレーザビームよりも高エネルギーのビームを生成するので、遠紫外線及び真空紫外線（ＶＵＶ）を利用することが可能となる。

質量分析計とＶＵＶランプとの結合手段はこれまで報告されていない。ＵＶレーザを用いる方法に比べて、ＶＵＶ放電ランプは安価である。放電ランプは使用が容易である。これらのランプは、レーザのように何らかの特定のリスクを伴わない。それにもかかわらず、これらのランプの原理は、ガスを励起した後に（電気放電、マイクロ波放電によって）、ガスから放射された蛍光放射線を使用することである。従って、ランプが封止されていない場合、ランプにガス源、例えば、ガスシリンダを提供することが必要な場合がある。放電ランプは用途が広く、放射された放射線の波長は、使用するガスの種類に応じて調節可能である。従って、助長したいと思うプロセスに対して適切な波長を選択することができる。

本発明の活性化方法は、従来技術に比べて様々な長所がある。ＣＩＤと比べると、イオン軌道がＶＵＶ光との相互作用によって妨げられないので、励起と放出との間の競合がない。本発明の方法は、入射光の波長に応じて高度選択的な、ＶＵＶ光子ビームとの相互作用に続くイオン活性化に基づく。有効な光吸収横断面は、イオン種のサイズ（電子の数）とともに、結果的に照射を受けた種の分子量とともに大きくなる。

従って、本発明の装置及び方法により、高分子量イオンを含めて、選択的かつ非常に有効である質量分析法による分析が可能になる。好都合には、本発明の方法がもたらすフラグメント化は、他のフラグメント化方法、特にＣＩＤとは異なること、及び相補的とすることができる。従って、ＣＩＤがもたらすフラグメント化は、主としてポリペプチドに関するｂタイプ及びｙタイプであるが、光解離は、様々なタイプのイオンを生成するが、特に、ａイオン及びｘイオンのタイプが報告されている。

１ イオン化源
２ イオントラップ
３ イオン検出器
４ グロー放電ランプ
５ ビームシャッタ
６ 差動排気手段

Claims (14)

1. イオンを生成するのに適したイオン化源（１）と、
   前記イオン化源（１）から生じたイオンを受け取ることができるように構成されたイオントラップ（２）と、前記イオントラップを出るイオンを質量ｍ電荷ｚ比（ｍ／ｚ）に基づいて検出するのに適した検出手段とを含む、質量分析器と、
   前記イオントラップ（２）の内部に捕獲された前記イオンの少なくとも一部を活性化するのに適したイオン活性化手段と、
   前記イオントラップ（２）と前記イオン活性化手段（４）との間に配置される結合手段（５、６）と、
   を備えるタンデム型質量分析計であって、
   前記イオン活性化手段は、前記イオントラップ（２）に向けて導かれる光ビームを生成するのに適したなグロー放電ランプ（４）で構成され、前記光ビームは、前記イオントラップ（２）の内部に捕獲された前記イオンの少なくとも一部をフラグメント化するために、８ｅＶ〜４１ｅＶの範囲の光子エネルギーでの真空紫外線（ＶＵＶ）領域の電磁放射線であることを特徴とする、タンデム型質量分析計。
2. 前記グロー放電ランプ（４）をオンにする制御手段を更に含み、ＶＵＶ放射線による活性化の開始及び持続時間を制御するようになっている、請求項１の質量分析計。
3. 前記結合手段は、ＶＵＶ放射線による活性化の開始及び持続時間を制御するビームシャッタ（５）を含む、請求項１又は２に記載の質量分析計。
4. 前記結合手段は、ＶＵＶ放射線に対して透過的な光学ウィンドウを含む、請求項１から３のいずれかに記載の質量分析計。
5. 前記結合手段は、前記ＶＵＶ放射線ビームと前記イオントラップ（２）内に貯蔵されたイオンパケットとの相互作用を最適化するよう構成された、ミラー及び／又はレンズを有する光学システム（５）を含む、請求項１から４のいずれかに記載の質量分析計。
6. 前記結合手段は、機械的真空接続手段と、前記グロー放電ランプ（４）及び前記質量分析計の同時動作を可能にするように前記グロー放電ランプ（４）をポンピングするのに適する差動排気手段（６）とを含む、請求項１から５のいずれかに記載の質量分析計。
7. 前記イオン化源（１）は、エレクトロスプレイ源、電子衝撃源、化学イオン化源、光イオン化源、マトリクス支援レーザ誘起脱離（ＭＡＬＤＩ）源、大気圧ＭＡＬＤＩ源、大気圧化学イオン化源、又は大気圧光イオン化源を含む、請求項１から６のいずれかに記載の質量分析計。
8. 前記グロー放電ランプ（４）は、ヘリウム、ネオン、アルゴン、クリプトン、又は複数のこれらのガスの混合物であるガスの放電ランプである、請求項１から７のいずれかに記載の質量分析計。
9. 前記イオントラップ（２）は、高周波イオントラップ、３Ｄ高周波イオントラップ、又は、四重極リニアイオントラップを含む、請求項１から８のいずれかに記載の質量分析計。
10. 前記検出手段は、イオン検出器（３）、又はイオン検出器（３）を備えた他の質量分析器を含む、請求項１から９のいずれかに記載の質量分析計。
11. タンデム型質量分析方法であって、本方法は、
    イオンをイオン化源によって生成するステップと、
    前記イオン化源（１）から生じた前記イオンの少なくとも一部を捕獲するステップと、
    前記イオントラップ（２）の内部に捕獲された前記イオンの少なくとも一部を活性化するように、前記捕獲されたイオンを選択及び活性化するステップと、
    前記イオントラップを出るイオンを、質量ｍ電荷ｚ（ｍ／ｚ）比）に基づいて分析及び検出するステップと、
    を含み、
    前記イオン選択及び活性化ステップは、グロー放電ランプ（４）から生じた光ビームによって、前記捕獲されたイオンを光活性化するステップを含み、前記光ビームは、前記イオントラップ（２）の内部に捕獲された前記イオンの少なくとも一部をフラグメント化するために、８ｅＶ〜４１ｅＶの範囲の光子エネルギーでの真空紫外線（ＶＵＶ）領域の電磁放射線であることを特徴とするタンデム型質量分析方法。
12. 前記グロー放電ランプ（４）から放射された前記光ビームの波長は、様々なイオンフラグメント化生成物を生成するように調節される、請求項１１に記載のタンデム型質量分析方法。
13. 前記イオンの活性化は、所定の持続時間にわたって適用される、請求項１１又は１２に記載のタンデム型質量分析方法。
14. イオン分析及び検出の前に１つ又は複数の選択及び活性化ステップを更に含む、請求項１１から１３のいずれかに記載のタンデム型質量分析方法。

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