JP2014504734A - 少なくとも1つの金属含有層が埋め込まれた電子部品を検査するための装置、方法、および電磁超音波探触子の使用 - Google Patents
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Abstract
【選択図】図1
Description
‐少なくとも1つの電磁パルスを被検査部品へと送出し、その結果、前記電磁パルスに対する応答として前記部品の内部で電磁信号を発生する振動を発生させるステップ、
‐前記電磁信号を受信するステップ、
‐少なくとも1つの時点における前記電磁信号の少なくとも振幅に関して前記電磁信号を評価するステップ、
‐前記電磁信号により特定された前記振幅を少なくとも1つの閾値と比較するステップ、および
‐被検査部品を欠陥なしと判定することを示す第1出力信号を発生させる、または、前記被検査部品を欠陥ありと判定することを示す第2出力信号を発生させる、ステップ、
を含む。
‐欠陥がないことが明らかな部品または欠陥があることが明らかな部品の検査時にパイロット振幅を特定するステップ、および
‐特定された前記パイロット振幅に基づいて前記閾値を決定するステップ、
をさらに含む。
‐部品、特にコンデンサ、を検査するために、部品の共鳴周波数が利用される。これに関係するのは特に力学的な自由振動である。
‐部品の金属含有成分および/または金属成分、特にコンデンサの金属層は、部品を振動させるのに利用される。
‐部品の金属成分の力学的振動を励起するため、部品は、好ましくは磁石または電磁石を用いて、磁場または電磁波の影響を受ける。
‐部品本体への部品の金属成分の結合は、部品の金属成分の力学的な振動を部品本体に伝達するのに利用される。
‐この結合のために、部品本体の振動はやはり部品の金属成分に影響を及ぼす。
‐前記磁場内部での部品の金属成分の運動が応答電磁信号を発生させる。
‐部品の自由振動を励起し、応答を受信するのに電磁超音波探触子が使用される。その際、振動を励起するための第1探触子と、応答を受信するための第2探触子とを使用することもできる。さらに、磁場は追加的に設けられる磁石で発生させることもできる。
Claims (15)
- 少なくとも1つの金属含有層(32)が埋め込まれた電子部品(30)、特に積層セラミックコンデンサ、を検査するための装置(10)であって、
前記装置(10)は、電磁超音波探触子(12)を備え、
前記電磁超音波探触子は、
被検査部品(30)の内部に少なくとも1つの電磁パルス(IMP)を発生させ、発生した前記電磁パルス(IMP)に対する応答として前記部品(30)の内部で電磁信号(RES)を発生する振動が発生するように構成されたパルス発生ユニット(14)と、
前記電磁信号(RES)を受信するように構成された受信ユニット(16)と、
少なくとも1つの時点における前記電磁信号(RES)の振幅および振幅変化の少なくとも一方に関して前記電磁信号(RES)を評価するように構成された評価ユニット(18)とを有し、
前記装置(10)は、前記評価ユニット(18)によって特定された前記電磁信号(RES)の振幅および振幅変化の少なくとも一方を少なくとも1つの閾値(TH)と比較し、この比較結果に応じて、前記被検査部品(30)を欠陥なしと判定したことを示す第1出力信号(SIG1)または前記被検査部品(30)を欠陥ありと判定したことを示す第2出力信号(SIG2)を発生させるように構成された判定ユニット(20)をさらに備えた、装置。 - 前記判定ユニット(20)は、少なくとも1つの第1の数値入力を受け取り、入力された前記第1の数値に基づいて前記閾値(TH)を決定するように構成されている、請求項1に記載の装置。
- 前記判定ユニット(20)は、前記評価ユニット(18)によって特定されたパイロット振幅(AMPPILOT)に基づいて第1動作モードにおいて前記閾値(TH)を決定するように構成されている、請求項1に記載の装置。
- 前記判定ユニット(20)は、前記閾値(TH)をTH=AMPPILOT*Fとして計算するように構成されており、
前記Fの値は0.01〜0.9、好ましくは0.05〜0.75、さらに好ましくは0.1〜0.6、特に好ましくは0.15〜0.5の範囲の係数である、請求項3に記載の装置。 - 前記判定ユニット(20)は、欠陥がないことが明らかな部品(30)の検査時に前記評価ユニット(18)によって特定された第1パイロット振幅と、欠陥があることが明らかな部品(30)の検査時に前記評価ユニット(18)によって特定された第2パイロット振幅とに基づいて第1動作モードにおいて前記閾値(TH)を決定するように構成されている、請求項1に記載の装置。
- 前記評価ユニット(18)は、前記部品(30)の共鳴周波数の少なくとも近傍で振幅を評価するように構成されている、請求項1から5のいずれか1項に記載の装置。
- 前記評価ユニット(18)は、変数n、c、hの群からなる値の少なくとも1つを決定するための第2の数値入力を受け取り、前記共鳴周波数を下記の何れかの式として計算するように構成されている、請求項1から6のいずれか1項に記載の装置。
fn=nc/2h または
fn=nc/4h
ここで、nは自然数、cは前記部品(30)の内部における音速、hは前記部品(30)内において生じる振動が拡散する前記部品(30)の長さを表す。 - 前記評価ユニット(18)は、第3動作モードにおいて周波数初期値前後における周波数間隔内の振幅を評価し、最大の振幅を有する周波数を前記部品(30)の共鳴周波数として決定するように構成されている、請求項1から7のいずれか1項に記載の装置。
- 前記電磁超音波探触子(12)は、前記電磁パルス(IMP)を放射および/または前記電磁信号(RES)を受信するための感知可能表面(22)を有し、
前記装置(10)は、供給手段(24)をさらに備え、
前記供給手段は、前記被検査部品(30)を自動的に前記感知可能表面(22)の少なくとも近傍へと案内し、特に前記感知可能表面(22)と接触させる、請求項1から8のいずれか1項に記載の装置。 - 前記供給手段(24)は、支持部材(26)上に配置された複数の前記被検査部品(30)を前記感知可能表面(22)の少なくとも近傍へと順次案内し、特に前記感知可能表面(22)と接触させるように構成されている、請求項9に記載の装置。
- 前記電磁パルス(IMP)は持続時間が10μs未満、好ましくは2μs未満、さらに好ましくは1μs未満、特に好ましくは500ns未満である、請求項1から10のいずれか1項に記載の装置。
- 請求項1から11のいずれか1項に記載の装置と、少なくとも1つの被検査電子部品(30)とを有し、前記部品(30)が特に積層コンデンサである、システム(11)。
- 少なくとも1つの金属含有層(32)が埋め込まれた電子部品(30)、特に積層セラミックコンデンサ、を検査するための方法であって、
‐少なくとも1つの電磁パルス(IMP)を被検査電子部品(30)へと送出し、その結果、前記電磁パルス(IMP)に対する応答として前記部品(30)の内部で電磁信号(RES)を発生する振動を発生させるステップ(S5)、
‐前記電磁信号(RES)を受信するステップ(S6)、
‐少なくとも1つの時点における前記電磁信号(RES)の振幅および振幅変化の少なくとも一方に関して前記電磁信号(RES)を評価するステップ(S7)、
‐前記電磁信号(RES)により特定された前記振幅を少なくとも1つの閾値(TH)と比較するステップ(S8)、および
‐前記被検査部品(30)を欠陥なしと判定することを示す第1出力信号(SIG1)を発生させる(S9)、または、前記被検査部品(30)を欠陥ありと判定することを示す第2出力信号(SIG2)を発生させる(S10)、ステップ、を含む、方法。 - ‐欠陥がないことが明らかな部品または欠陥があることが明らかな部品(30)の検査時にパイロット振幅(AMPPILOT)を特定するステップ(S2)、および
‐特定された前記パイロット振幅(AMPPILOT)に基づいて前記閾値(TH)を決定するステップ(S3)、をさらに含む、請求項13に記載の方法。 - 少なくとも1つの金属含有層(32)が埋め込まれた電子部品(30)、特に積層セラミックコンデンサ、を検査する際に電磁超音波探触子(12)を使用する、方法。
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Families Citing this family (6)
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---|---|---|---|---|
DE102013207559A1 (de) * | 2013-04-25 | 2014-10-30 | Continental Teves Ag & Co. Ohg | Verfahren und Anordnung zur Prüfung einer Orientierung und/oder eines Qualitätskriteriums von Keramikvielschicht-Kondensatoren |
FR3050530B1 (fr) * | 2016-04-20 | 2020-05-01 | Safran | Procede de controle voire de certification d'un assemblage colle |
DE102017205561A1 (de) * | 2017-03-31 | 2018-10-04 | Rheinisch-Westfälische Technische Hochschule Aachen (RWTH) | Diagnose von Batterien |
CN111790641A (zh) * | 2020-06-19 | 2020-10-20 | 南京钢铁股份有限公司 | 一种棒材表面缺陷的探伤分选方法 |
TWI780615B (zh) * | 2021-03-04 | 2022-10-11 | 光頡科技股份有限公司 | 電阻元件金屬層雜質的檢測方法 |
KR20230027599A (ko) * | 2021-08-19 | 2023-02-28 | 삼성전기주식회사 | 전자부품의 결함 검출장치 및 검출방법 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5342882A (en) * | 1976-09-30 | 1978-04-18 | Nippon Steel Corp | Method and apparatus for detecting crack pattern of processed metallic body by electromagnetic ultrasonic wave |
JPS61133854A (ja) * | 1984-12-03 | 1986-06-21 | Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd | 接合面の非破壊検査方法 |
JPH04283659A (ja) * | 1991-03-12 | 1992-10-08 | Nippon Hihakai Keisoku Kenkyusho:Kk | 金属板の接着異常の非接触検出方法及びその装置 |
JP2000329751A (ja) * | 1999-05-18 | 2000-11-30 | Toshiba Corp | 配管検査方法および装置 |
JP2003130854A (ja) * | 2001-10-22 | 2003-05-08 | Chubu Electric Power Co Inc | 配管検査方法及び配管検査装置 |
JP2003254943A (ja) * | 2002-03-04 | 2003-09-10 | Ebara Corp | 導電性材料の損傷診断方法及び診断装置 |
JP2009092601A (ja) * | 2007-10-11 | 2009-04-30 | Kumamoto Univ | 非破壊検査方法 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4008602A (en) * | 1973-10-22 | 1977-02-22 | Union Carbide Corporation | Ultrasonic testing of multilayer ceramic capacitors |
US4086817A (en) * | 1977-07-05 | 1978-05-02 | Western Electric Co., Inc. | Method and apparatus for determining the acceptability of a weld formed by applying repetitive pulses of energy to the weld site |
US4344326A (en) * | 1980-07-23 | 1982-08-17 | Western Electric Company, Inc. | Non-destructive testing of a laminated ceramic capacitor |
US4777824A (en) | 1987-06-25 | 1988-10-18 | Magnasonics, Inc. | Electromagnetic acoustic transducer |
US5503020A (en) * | 1994-07-01 | 1996-04-02 | Sonic Force Corporation | Electromagnetic acoustic transducer |
US5811682A (en) | 1995-12-13 | 1998-09-22 | Ebara Corporation | Electromagnetic acoustic transducer EMAT and inspection system with EMAR |
US6282964B1 (en) | 1999-09-17 | 2001-09-04 | The Babcock & Wilcox Co | Electromagnetic acoustic transducer (EMAT) inspection of cracks in boiler tubes |
US7546770B2 (en) | 2006-01-05 | 2009-06-16 | General Electric Company | Electromagnetic acoustic transducer |
DE102009006905A1 (de) * | 2008-09-29 | 2010-04-15 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Verfahren zur Qualitätsprüfung von Klebeverbindungen |
-
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- 2012-01-31 WO PCT/EP2012/051596 patent/WO2012104316A1/de active Application Filing
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5342882A (en) * | 1976-09-30 | 1978-04-18 | Nippon Steel Corp | Method and apparatus for detecting crack pattern of processed metallic body by electromagnetic ultrasonic wave |
JPS61133854A (ja) * | 1984-12-03 | 1986-06-21 | Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd | 接合面の非破壊検査方法 |
JPH04283659A (ja) * | 1991-03-12 | 1992-10-08 | Nippon Hihakai Keisoku Kenkyusho:Kk | 金属板の接着異常の非接触検出方法及びその装置 |
JP2000329751A (ja) * | 1999-05-18 | 2000-11-30 | Toshiba Corp | 配管検査方法および装置 |
JP2003130854A (ja) * | 2001-10-22 | 2003-05-08 | Chubu Electric Power Co Inc | 配管検査方法及び配管検査装置 |
JP2003254943A (ja) * | 2002-03-04 | 2003-09-10 | Ebara Corp | 導電性材料の損傷診断方法及び診断装置 |
JP2009092601A (ja) * | 2007-10-11 | 2009-04-30 | Kumamoto Univ | 非破壊検査方法 |
Also Published As
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---|---|
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