JP2014503872A5 - - Google Patents

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図16から18は、修復ワークフローの例示的な結果を示す。図16には、修復が一切なされていない原画像が示されている。図17は、メタデータアノテーションを有する同じ画像、すなわち検出プロセス20を実行した後の同じ画像を示す。図18は、除去プロセス21を適用した後の出力画像を示す。
(付記1)
1つの画像または一連の画像を修復する方法であって、
− 前記1つの画像または前記一連の画像中のアーチファクトを検出するステップと、
− 検出されたアーチファクトに関する情報をメタデータデータベースに記憶するステップと、
− 検出されたアーチファクトのうちの1つまたは複数のアーチファクトを、前記メタデータデータベースに記憶された前記情報に基づいて、前記1つの画像または前記一連の画像から除去するステップと、
を含む、前記方法。
(付記2)
前記アーチファクトは、掻き傷オブジェクトと汚れオブジェクトのうちの少なくとも一方のオブジェクトである、付記1に記載の方法。
(付記3)
アーチファクトに関する前記情報は、前記アーチファクトの索引、前記アーチファクトのタイプ、長方形の境界ボックスの座標、前記アーチファクトの出現のフレーム索引、境界ボックスサイズの2値画素マスク、影響を受ける画素の数、検出重み、除去フラグ、除去トグルフラグおよび除去情報のうちの1つまたは複数を含む、付記1または2に記載の方法。
(付記4)
アーチファクトに関する前記情報は、前の画像中の同じアーチファクトの索引と後の画像中の同じアーチファクトの索引のうちの少なくとも一方をさらに含む、付記1から3のいずれかに記載の方法。
(付記5)
検出されたアーチファクトに関する情報を前記メタデータデータベースに記憶した後、検出されたアーチファクトのうちの1つまたは複数のアーチファクトを前記1つの画像または前記一連の画像から除去する前に、前記メタデータデータベースに記憶された前記情報に対して品質管理プロセスを実行するステップをさらに含む、付記1から4のいずれかに記載の方法。
(付記6)
前記品質管理プロセスは、前記メタデータデータベースにアーチファクトを追加すること、および/または前記メタデータデータベースからアーチファクトを除去することを含む、付記5に記載の方法。
(付記7)
アーチファクトは、前記メタデータデータベース内の前記アーチファクトに関する前記情報を削除することによって、または前記除去トグルフラグの値をセットすることにより前記アーチファクトを除去対象から外すことによって、前記メタデータデータベースから除去される、付記6に記載の方法。
(付記8)
前記画像中の検出されたアーチファクトの総面積と、前記画像中の除去対象としてセットされたアーチファクトの総面積のうちの少なくとも一方を求めるステップをさらに含む、付記1から7のいずれかに記載の方法。
(付記9)
前記メタデータデータベース中に記憶された前記情報に基づいて品質レポートを作成するステップをさらに含む、付記1から8のいずれかに記載の方法。
(付記10)
1つの画像または一連の画像を修復する装置であって、
− 前記1つの画像または前記一連の画像中のアーチファクトを検出する第1の画像処理プロセッサと、
− 検出されたアーチファクトに関する検出されたアーチファクトに関する情報を記憶するメタデータデータベースと、
− 検出されたアーチファクトのうちの1つまたは複数のアーチファクトを、前記メタデータデータベースに記憶された前記情報に基づいて、前記1つの画像または前記一連の画像から除去する第2の画像処理プロセッサと、
を備える、前記装置。

Claims (10)

  1. 1つの画像または一連の画像を修復する方法であって、
    − 前記1つの画像または前記一連の画像中のアーチファクトを検出するステップと、
    − 検出されたアーチファクトに関する情報をメタデータデータベースに記憶するステップと、
    − 検出されたアーチファクトのうちの1つまたは複数のアーチファクトを、前記メタデータデータベースに記憶された前記情報に基づいて、前記1つの画像または前記一連の画像から除去するステップと、
    を含む、前記方法。
  2. 前記アーチファクトは、掻き傷オブジェクトと汚れオブジェクトのうちの少なくとも一方のオブジェクトである、請求項1に記載の方法。
  3. アーチファクトに関する前記情報は、前記アーチファクトの索引、前記アーチファクトのタイプ、長方形の境界ボックスの座標、前記アーチファクトの出現のフレーム索引、境界ボックスサイズの2値画素マスク、影響を受ける画素の数、検出重み、除去フラグ、除去トグルフラグおよび除去情報のうちの1つまたは複数を含む、請求項1または2に記載の方法。
  4. アーチファクトに関する前記情報は、前の画像中の同じアーチファクトの索引と後の画像中の同じアーチファクトの索引のうちの少なくとも一方をさらに含む、請求項1から3のいずれかに記載の方法。
  5. 検出されたアーチファクトに関する情報を前記メタデータデータベースに記憶した後、検出されたアーチファクトのうちの1つまたは複数のアーチファクトを前記1つの画像または前記一連の画像から除去する前に、前記メタデータデータベースに記憶された前記情報に対して品質管理プロセスを実行するステップをさらに含む、請求項1から4のいずれかに記載の方法。
  6. 前記品質管理プロセスは、前記メタデータデータベースにアーチファクトを追加すること、および/または前記メタデータデータベースからアーチファクトを除去することを含む、請求項5に記載の方法。
  7. アーチファクトは、前記メタデータデータベース内の前記アーチファクトに関する前記情報を削除することによって、または前記除去トグルフラグの値をセットすることにより前記アーチファクトを除去対象から外すことによって、前記メタデータデータベースから除去される、請求項6に記載の方法。
  8. 前記画像中の検出されたアーチファクトの総面積と、前記画像中の除去対象としてセットされたアーチファクトの総面積のうちの少なくとも一方を求めるステップをさらに含む、請求項1から7のいずれかに記載の方法。
  9. 前記メタデータデータベース中に記憶された前記情報に基づいて品質レポートを作成するステップをさらに含む、請求項1から8のいずれかに記載の方法。
  10. 1つの画像または一連の画像を修復する装置であって、
    − 前記1つの画像または前記一連の画像中のアーチファクトを検出するよう構成された第1の画像処理プロセッサと、
    − 検出されたアーチファクトに関する検出されたアーチファクトに関する情報を記憶するよう構成されたメタデータデータベースと、
    − 検出されたアーチファクトのうちの1つまたは複数のアーチファクトを、前記メタデータデータベースに記憶された前記情報に基づいて、前記1つの画像または前記一連の画像から除去するよう構成された第2の画像処理プロセッサと、
    を備える、前記装置。
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2600305A1 (en) 2011-11-30 2013-06-05 Thomson Licensing Method and apparatus for generating metadata for digital content
CN113640321B (zh) * 2020-05-11 2024-04-02 同方威视技术股份有限公司 安检延迟优化方法以及设备
CN113094546B (zh) * 2021-04-26 2024-04-09 北京经纬恒润科技股份有限公司 一种仿真动画模型加载方法、装置及仿真设备

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1999040724A1 (en) * 1998-02-05 1999-08-12 Post Optical Services, Inc. Image defect identification system
GB2370932A (en) * 2001-01-09 2002-07-10 Sony Uk Ltd Reduction in defect visibilty in image signals
US6928192B2 (en) 2001-04-19 2005-08-09 Koninklijke Philips Electronics N.V. User interface for interactive removal of defects in an image sequence
US20030039403A1 (en) * 2001-08-24 2003-02-27 Robins David R. Method and system for user assisted defect removal
US7148998B2 (en) * 2002-05-31 2006-12-12 Hewlett-Packard Development Company, L.P. System and method for automatic descreening of digital images
JP4222546B2 (ja) 2003-03-31 2009-02-12 株式会社日本コンラックス 紙葉類識別装置および方法
JP2005326934A (ja) 2004-05-12 2005-11-24 Sony Corp データ処理方法及びデータ処理装置
US7643088B2 (en) * 2004-12-01 2010-01-05 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Artifact reduction in a digital video
US7440608B2 (en) * 2005-05-31 2008-10-21 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Method and system for detecting image defects
JP2008283494A (ja) 2007-05-10 2008-11-20 Sharp Corp 画像処理システム
US20090208053A1 (en) * 2008-02-19 2009-08-20 Benjamin Kent Automatic identification and removal of objects in an image, such as wires in a frame of video

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