JP2014197065A - Image forming apparatus and time measuring device - Google Patents

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友樹 山岸
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智志 砂山
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PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an image forming apparatus that can be operated in a low-speed mode with a built-in clock.SOLUTION: A low-speed mode processing unit 81 for a low-speed mode controls respective units in a power-saving low-speed mode with a built-in clock having a large periodic error. A temperature sensor 13 detects a temperature of the low-speed mode processing unit 81. The low-speed mode processing unit 81 measures in advance an error of the built-in clock with an external high-precision clock, and stores a result of the measurement in a storage unit 9. With the completion of the above operation, the low-speed mode processing unit 81 corrects, at the start-up of an image forming apparatus, the built-in clock on the basis of the temperature detected by the temperature sensor 13 and the error of the built-in clock stored in the storage unit 9.

Description

本発明は、画像形成装置及び時間計測装置に係り、特に高速モードと低速モードの制御を行う画像形成装置及び時間計測装置に関する。   The present invention relates to an image forming apparatus and a time measuring apparatus, and more particularly, to an image forming apparatus and a time measuring apparatus for controlling a high speed mode and a low speed mode.

従来から、複写機や複合機(Multifunctional Peripheral, MFP)等の画像形成装置では、CPU等の制御手段に、クロック周波数が異なった動作モードである「高速モード」と「低速モード」とを使い分けて処理を行わせることがある。
「高速モード」は、通常の動作時に、通常又は高いクロック周波数で、電力消費の大きい各部が制御される動作モードである。「低速モード」は、スタンバイ時等に、高速モードより低いクロック周波数で、低消費電力で駆動される各部が制御される動作モードである。
特許文献1を参照すると、このように異なった動作モードを使用する画像形成装置が記載されている。
Conventionally, in image forming apparatuses such as copiers and multifunction peripherals (Multifunctional Peripherals, MFPs), the CPU and other control means are divided into “high-speed mode” and “low-speed mode”, which are operation modes with different clock frequencies. May cause processing.
The “high-speed mode” is an operation mode in which each unit that consumes a large amount of power is controlled at a normal or high clock frequency during normal operation. The “low-speed mode” is an operation mode in which each unit driven with low power consumption is controlled at a clock frequency lower than that in the high-speed mode during standby or the like.
With reference to Patent Document 1, an image forming apparatus using such different operation modes is described.

特開2009−265374号公報JP 2009-265374 A

特許文献1のような従来の画像形成装置では、高速モードと低速モードとでは、それぞれ専用の水晶振動子等の高精度クロック生成手段が用いられることが多い。
しかしながら、高精度クロック生成手段は高価であり、低速モード用では、オンチップオシレータによる内蔵クロックを活用したいという要求があった。
これに対して、内蔵クロックは数十%の大きな周期の誤差があり、精度が低いため、そのままでは使用できなかった。
In a conventional image forming apparatus such as Patent Document 1, high-precision clock generation means such as a dedicated crystal resonator is often used in the high-speed mode and the low-speed mode.
However, the high-accuracy clock generation means is expensive, and there has been a demand for utilizing a built-in clock by an on-chip oscillator for the low-speed mode.
On the other hand, the built-in clock has a large cycle error of several tens of percent and has a low accuracy, so it cannot be used as it is.

本発明は、このような状況に鑑みてなされたものであり、内蔵クロックで低速モード動作可能な画像形成装置を提供することを課題とする。   SUMMARY An advantage of some aspects of the invention is that it provides an image forming apparatus capable of operating in a low-speed mode with a built-in clock.

本発明の画像形成装置は、用紙に画像を形成する画像形成手段を備える画像形成装置において、高精度クロックを生成させる高精度クロック生成手段と、前記高精度クロック生成手段の前記高精度クロックを受信して、前記画像形成手段を含む各部を制御する高速モード制御手段と、前記高精度クロックよりも低速な内蔵クロックを生成する内蔵クロック生成手段を有する低速モード制御手段と、前記内蔵クロックの誤差値を記憶する誤差記憶手段と、前記低速モード制御手段の温度を検知する温度検知手段と、前記温度検知手段により検知された温度と、前記誤差記憶手段に記憶された前記内蔵クロックの誤差値とを基に、前記内蔵クロックの誤差を補正する内蔵クロック補正手段とを備え、前記低速モード制御手段は、前記内蔵クロック補正手段により補正された前記内蔵クロックを用いて各部を制御することを特徴とする。
本発明の画像形成装置は、前記高精度クロックにより、前記内蔵クロックの誤差を測定する内蔵クロック誤差測定手段と、前記低速モード制御手段の温度を変化させて、前記内蔵クロック誤差測定手段により前記内蔵クロックの誤差を測定し、温度毎の偏差を補正する補正値テーブルを作成して、前記誤差記憶手段に記憶するキャリブレーション手段を備え、前記内蔵クロック補正手段は、前記キャリブレーション手段により作成された前記補正値テーブルにより、前記低速モード制御手段の内蔵クロックを補正することを特徴とする。
本発明の時間計測装置は、高精度クロックを生成させる高精度クロック生成手段と、前記高精度クロック生成手段の前記高精度クロックを受信して、各部を制御する高速モード制御手段と、前記高精度クロックよりも低速な内蔵クロックを生成する内蔵クロック生成手段を有する低速モード制御手段と、前記内蔵クロックの誤差値を記憶する誤差記憶手段と、前記低速モード制御手段の温度を検知する温度検知手段と、前記温度検知手段により検知された温度と、前記誤差記憶手段に記憶された前記内蔵クロックの誤差値とを基に、前記内蔵クロックの誤差を補正する内蔵クロック補正手段とを備え、前記低速モード制御手段は、前記内蔵クロック補正手段により補正された前記内蔵クロックを用いて各部を制御することを特徴とする。
An image forming apparatus according to the present invention, in an image forming apparatus including an image forming unit that forms an image on a sheet, receives a high-precision clock generating unit that generates a high-precision clock, and the high-precision clock generated by the high-precision clock generating unit. A high-speed mode control unit that controls each unit including the image forming unit, a low-speed mode control unit that includes a built-in clock generation unit that generates a built-in clock slower than the high-precision clock, and an error value of the built-in clock. Error storage means for storing the temperature, temperature detection means for detecting the temperature of the low-speed mode control means, temperature detected by the temperature detection means, and error value of the built-in clock stored in the error storage means On the basis of the built-in clock correction means for correcting the error of the built-in clock, and the low-speed mode control means includes the built-in clock. And controlling each unit by using the internal clock that is corrected by positive means.
In the image forming apparatus of the present invention, the built-in clock error measuring unit changes the temperature of the built-in clock error measuring unit that measures the error of the built-in clock with the high-precision clock, and the built-in clock error measuring unit changes the temperature of the built-in clock error measuring unit. A correction value table for measuring a clock error and correcting a deviation for each temperature is prepared, and stored in the error storage means. The built-in clock correction means is created by the calibration means. The internal clock of the low-speed mode control means is corrected by the correction value table.
The time measuring device of the present invention includes a high-accuracy clock generation unit that generates a high-accuracy clock, a high-speed mode control unit that receives the high-accuracy clock of the high-accuracy clock generation unit and controls each unit, and the high-accuracy clock Low-speed mode control means having built-in clock generation means for generating a built-in clock slower than the clock, error storage means for storing the error value of the built-in clock, and temperature detection means for detecting the temperature of the low-speed mode control means An internal clock correction unit that corrects an error of the internal clock based on the temperature detected by the temperature detection unit and an error value of the internal clock stored in the error storage unit, and the low-speed mode The control means controls each part using the internal clock corrected by the internal clock correction means.

本発明によれば、温度検知手段により検知された温度と、予め誤差記憶手段に記憶された内蔵クロックの固有の誤差値とを基に、低速モード制御手段の内蔵クロックを補正することで、低速モード時に内蔵クロックで動作可能な画像形成装置を提供できる。   According to the present invention, the low-speed mode control unit corrects the internal clock based on the temperature detected by the temperature detection unit and the inherent error value of the internal clock stored in the error storage unit in advance. An image forming apparatus that can operate with a built-in clock during the mode can be provided.

本発明に係る画像形成装置の第1の実施の形態の内部構成を示す概略模式断面図である。1 is a schematic cross-sectional view showing an internal configuration of a first embodiment of an image forming apparatus according to the present invention. 本発明に係る画像形成装置の第1の実施の形態の制御構成を示すブロック図である。1 is a block diagram showing a control configuration of a first embodiment of an image forming apparatus according to the present invention. 本発明に係る画像形成装置の第1の実施の形態における内蔵クロック補正及び低速モード実行処理のフローチャートである。3 is a flowchart of internal clock correction and low-speed mode execution processing in the first embodiment of the image forming apparatus according to the present invention. 図2に示す補正値テーブルの概念図である。FIG. 3 is a conceptual diagram of a correction value table shown in FIG. 2. 本発明に係る画像形成装置の第2の実施の形態に係るキャリブレーション処理のフローチャートである。6 is a flowchart of calibration processing according to a second embodiment of the image forming apparatus according to the present invention.

<第1の実施の形態>
〔画像形成装置1の構成〕
まず、図1〜図2を参照して、第1の実施の形態に係る画像形成装置1(時間計測装置)の構成について説明する。
本実施の形態の画像形成装置1は、原稿読取部2と、原稿給送部3と、本体部4と、スタックトレイ5と、操作パネル部6とを備えている。
原稿読取部2は、本体部4の上部に配設され、原稿給送部3は、原稿読取部2の上部に配設されている。スタックトレイ5は、本体部4の形成された記録紙の排出口41側に配設され、また、操作パネル部6は、画像形成装置1のフロント側に配設されている。
<First Embodiment>
[Configuration of Image Forming Apparatus 1]
First, the configuration of the image forming apparatus 1 (time measuring device) according to the first embodiment will be described with reference to FIGS.
The image forming apparatus 1 according to the present embodiment includes a document reading unit 2, a document feeding unit 3, a main body unit 4, a stack tray 5, and an operation panel unit 6.
The document reading unit 2 is disposed on the top of the main body unit 4, and the document feeding unit 3 is disposed on the top of the document reading unit 2. The stack tray 5 is disposed on the recording paper discharge port 41 side on which the main body unit 4 is formed, and the operation panel unit 6 is disposed on the front side of the image forming apparatus 1.

原稿読取部2は、スキャナー21と、プラテンガラス22と、原稿読取スリット23とを備える。スキャナー21は、露光ランプ、及びCCD(Charge Coupled Device)やCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)撮像センサー等から構成され、原稿給送部3による原稿の搬送方向に移動可能に構成されている。プラテンガラス22は、ガラス等の透明部材により構成された原稿台である。原稿読取スリット23は、原稿給送部3による原稿の搬送方向と直交方向に形成されたスリットを有する。   The document reading unit 2 includes a scanner 21, a platen glass 22, and a document reading slit 23. The scanner 21 includes an exposure lamp, a CCD (Charge Coupled Device), a CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor) imaging sensor, and the like, and is configured to be movable in the document transport direction by the document feeder 3. The platen glass 22 is an original table made of a transparent member such as glass. The document reading slit 23 has a slit formed in a direction orthogonal to the document transport direction by the document feeder 3.

プラテンガラス22に載置された原稿を読み取る場合には、スキャナー21は、プラテンガラス22に対向する位置に移動され、プラテンガラス22に載置された原稿を走査しながら原稿を読み取って画像データを取得して、取得した画像データを本体部4に出力する。
また、原稿給送部3により搬送された原稿を読み取る場合には、スキャナー21は、原稿読取スリット23と対向する位置に移動され、原稿読取スリット23を介し、原稿給送部3による原稿の搬送動作と同期して原稿を読み取って画像データを取得し、取得した画像データを本体部4に出力する。
When reading a document placed on the platen glass 22, the scanner 21 is moved to a position facing the platen glass 22 and reads the document while scanning the document placed on the platen glass 22 to obtain image data. The acquired image data is output to the main unit 4.
When reading the document conveyed by the document feeding unit 3, the scanner 21 is moved to a position facing the document reading slit 23, and the document is conveyed by the document feeding unit 3 through the document reading slit 23. The document is read in synchronization with the operation to acquire image data, and the acquired image data is output to the main body unit 4.

原稿給送部3は、原稿載置部31と、原稿排出部32と、原稿搬送機構33とを備えている。原稿載置部31に載置された原稿は、原稿搬送機構33によって、1枚ずつ順に繰り出されて原稿読取スリット23に対向する位置へ搬送され、その後、原稿排出部32に排出される。なお、原稿給送部3は、可倒式に構成され、原稿給送部3を上方に持ち上げることで、プラテンガラス22の上面を開放させることができる。   The document feeding unit 3 includes a document placement unit 31, a document discharge unit 32, and a document transport mechanism 33. The originals placed on the original placement unit 31 are sequentially fed out one by one by the original conveyance mechanism 33, conveyed to a position facing the original reading slit 23, and then discharged to the original discharge unit 32. The document feeding unit 3 is configured to be retractable, and the upper surface of the platen glass 22 can be opened by lifting the document feeding unit 3 upward.

本体部4は、画像形成部7を備えると共に、給紙部42と、用紙搬送路43と、搬送ローラー44と、排出ローラー45とを備えている。給紙部42は、それぞれサイズ又は向きが異なる記録紙を収納する複数の給紙カセット421と、給紙カセット421から記録紙を1枚ずつ用紙搬送路43に繰り出す給紙ローラー422とを備えている。
給紙ローラー422、搬送ローラー44、及び排出ローラー45は、搬送部として機能する。記録紙は、この搬送部により搬送される。給紙ローラー422によって用紙搬送路43に繰り出された記録紙は、搬送ローラー44によって画像形成部7に搬送される。
そして、画像形成部7によって記録が施された記録紙は、排出ローラー45によってスタックトレイ5に排出される。
The main body unit 4 includes the image forming unit 7, and includes a paper feeding unit 42, a paper conveyance path 43, a conveyance roller 44, and a discharge roller 45. The paper feed unit 42 includes a plurality of paper feed cassettes 421 that store recording papers of different sizes or orientations, and a paper feed roller 422 that feeds the recording papers one by one from the paper feed cassette 421 to the paper transport path 43. Yes.
The paper feed roller 422, the transport roller 44, and the discharge roller 45 function as a transport unit. The recording paper is conveyed by this conveyance unit. The recording paper fed to the paper conveyance path 43 by the paper supply roller 422 is conveyed to the image forming unit 7 by the conveyance roller 44.
The recording paper on which recording has been performed by the image forming unit 7 is discharged to the stack tray 5 by the discharge roller 45.

操作パネル部6は、液晶や有機ELディスプレイ等の表示部とテンキーを含むボタン等を備えている。
操作パネル部6は、ユーザーからの指示を検知して、制御部8に送信する。操作パネル部6は、高速モードと低速モードの制御の設定等についても取得することができる。
The operation panel unit 6 includes a display unit such as a liquid crystal display or an organic EL display, a button including a numeric keypad, and the like.
The operation panel unit 6 detects an instruction from the user and transmits it to the control unit 8. The operation panel unit 6 can also acquire the control settings for the high speed mode and the low speed mode.

画像形成部7は、感光体ドラム71と、露光部72と、現像部73と、転写部74と、定着部75とを備えている。露光部72は、レーザ装置やLEDアレイやミラーやレンズ等を備えた光学ユニットであり、画像データに基づいて光等を出力して感光体ドラム71を露光し、感光体ドラム71の表面に静電潜像を形成する。
現像部73は、トナーを用いて感光体ドラム71に形成された静電潜像を現像する現像ユニットであり、静電潜像に基づいたトナー像を感光体ドラム71上に形成させる。転写部74は、現像部73によって感光体ドラム71上に形成されたトナー像を用紙に転写させる。定着部75は、転写部74によってトナー像が転写された用紙を加熱してトナー像を用紙に定着させることで記録を行う。
The image forming unit 7 includes a photosensitive drum 71, an exposure unit 72, a developing unit 73, a transfer unit 74, and a fixing unit 75. The exposure unit 72 is an optical unit including a laser device, an LED array, a mirror, a lens, and the like. The exposure unit 72 outputs light or the like based on image data to expose the photosensitive drum 71, and the surface of the photosensitive drum 71 is statically exposed. An electrostatic latent image is formed.
The developing unit 73 is a developing unit that develops the electrostatic latent image formed on the photosensitive drum 71 using toner, and forms a toner image based on the electrostatic latent image on the photosensitive drum 71. The transfer unit 74 transfers the toner image formed on the photosensitive drum 71 by the developing unit 73 to a sheet. The fixing unit 75 performs recording by heating the sheet on which the toner image is transferred by the transfer unit 74 and fixing the toner image on the sheet.

図2には、画像形成装置1の概略構成を示すブロック図が示されている。
上述の原稿読取部2、原稿給送部3、搬送部(給紙ローラー422、搬送ローラー44、排出ローラー45)、操作パネル部6、及び画像形成部7は、制御部8(高速モード制御手段、低速モード制御手段)に接続されており、制御部8によって動作制御される。
さらに、制御部8には、記憶部9(記憶手段、誤差記憶手段)、画像処理部10(画像処理手段)、FAX送受信部11、ネットワーク送受信部12、温度センサー13(温度検知手段)、及び高速クロック部14(外部クロック、高精度クロック生成手段)が接続されている。
FIG. 2 is a block diagram illustrating a schematic configuration of the image forming apparatus 1.
The document reading unit 2, document feeding unit 3, transport unit (feed roller 422, transport roller 44, discharge roller 45), operation panel unit 6, and image forming unit 7 include a control unit 8 (high-speed mode control means). , Low-speed mode control means), and the operation of the controller 8 is controlled.
Further, the control unit 8 includes a storage unit 9 (storage unit, error storage unit), an image processing unit 10 (image processing unit), a FAX transmission / reception unit 11, a network transmission / reception unit 12, a temperature sensor 13 (temperature detection unit), and A high-speed clock unit 14 (external clock, high-precision clock generation means) is connected.

制御部8は、ROM(Read Only Memory)、RAM(Random Access Memory)等を備えた汎用CPU、マイクロコンピュータ、マイクロコントローラ(マイコン)等の情報処理手段である。制御部8のROMには画像形成装置1の動作制御を行うための制御プログラムが記憶されている。
制御部8及び画像処理部10は、ROMに記憶されている制御プログラムを読み出し、制御プログラムをRAMに展開させることで、操作パネル部6から入力された所定の指示情報に応じて装置全体の制御を行う。
The control unit 8 is information processing means such as a general-purpose CPU, a microcomputer, a microcontroller (microcomputer) provided with a ROM (Read Only Memory), a RAM (Random Access Memory) and the like. A control program for controlling the operation of the image forming apparatus 1 is stored in the ROM of the control unit 8.
The control unit 8 and the image processing unit 10 read out a control program stored in the ROM and develop the control program in the RAM, thereby controlling the entire apparatus according to predetermined instruction information input from the operation panel unit 6. I do.

制御部8は、通常の動作状態では、高速のクロック周波数にて各処理を実行する「高速モード」での制御を行う。制御部8は、「高速モード」では、高速クロック部14の高精度クロックに同期して画像形成部7を含む電力消費の大きい各部の実行を行う。
また、制御部8は、低速の内蔵クロックにて各処理を実行する「低速モード」での制御を行うことも可能である。この「低速モード」は、例えば、スタンバイ時等の低消費電力状態で、ファクシミリやスキャナーの受信、ネットワーク送受信部12でのパケットの送受信等、消費電力の少ない各処理を実行する。この「低速モード」での処理は、主に、下記で説明する低速モード処理部81が行う。
In a normal operation state, the control unit 8 performs control in the “high-speed mode” in which each process is executed at a high-speed clock frequency. In the “high-speed mode”, the control unit 8 executes each of the power-consuming units including the image forming unit 7 in synchronization with the high-precision clock of the high-speed clock unit 14.
The control unit 8 can also perform control in a “low speed mode” in which each process is executed with a low speed internal clock. In the “low speed mode”, for example, each process with low power consumption, such as reception of a facsimile or a scanner, transmission / reception of a packet in the network transmission / reception unit 12, is executed in a low power consumption state such as a standby state. The processing in the “low speed mode” is mainly performed by the low speed mode processing unit 81 described below.

低速モード処理部81(低速モード制御手段、内蔵クロック誤差測定手段、内蔵クロック補正手段、キャリブレーション手段)は、消費電力の少ない「低速モード」での処理を主に実行する。
低速モード処理部81は、内蔵されたオンチップオシレータ等の内蔵クロック生成手段により、高速クロック部14よりも周波数が低い内蔵クロック、例えばKHz、MHz単位のクロックを自ら生成して動作する。この内蔵クロック生成手段により生成される内蔵クロックは、高精度クロックより精度が低く、基板毎の誤差があり、電圧や温度等で変動する。
低速モード処理部81は、「低速モード」では「高速モード」より低い所定動作周波数で動作するため、厳密な動作クロックの精度は求められない。しかしながら、低速モード処理部81は、I/Oの制御やネットワーク送受信部12によるネットワーク送受信等の同期を必要とする処理を行うため、所定値以内でのクロックの精度となるよう、クロックの周期の誤差の補正を行う必要がある。
The low-speed mode processing unit 81 (low-speed mode control means, built-in clock error measurement means, built-in clock correction means, calibration means) mainly executes processing in the “low-speed mode” with low power consumption.
The low-speed mode processing unit 81 operates by generating a built-in clock having a frequency lower than that of the high-speed clock unit 14, for example, a clock in KHz or MHz, by built-in clock generation means such as a built-in on-chip oscillator. The built-in clock generated by the built-in clock generation means is less accurate than the high-precision clock, has an error for each substrate, and varies with voltage, temperature, and the like.
The low-speed mode processing unit 81 operates at a predetermined operation frequency lower than that in the “high-speed mode” in the “low-speed mode”, and therefore, strict operation clock accuracy is not required. However, since the low-speed mode processing unit 81 performs processing that requires synchronization such as I / O control and network transmission / reception by the network transmission / reception unit 12, the low-speed mode processing unit 81 adjusts the clock cycle so that the clock accuracy is within a predetermined value. It is necessary to correct the error.

記憶部9は、半導体メモリやHDD(Hard Disk Drive)等の記憶手段である。記憶部9は、各種プログラムやデータを記憶している。このうち、記憶部9の半導体メモリは、RAM、EEPROM、NAND型やNOR型フラッシュメモリ等の不揮発性メモリを含んでいる。
また、記憶部9は、各種ジョブ実行用のジョブデータを記憶する。ジョブデータは、原稿読取部2によって原稿を読み取ることで取得された画像データ、図示しないPC(Personal Computer)から送信された印刷文書のデータ、FAX受信データ等の各種ファイル等である。
The storage unit 9 is a storage unit such as a semiconductor memory or an HDD (Hard Disk Drive). The storage unit 9 stores various programs and data. Among these, the semiconductor memory of the storage unit 9 includes a nonvolatile memory such as a RAM, an EEPROM, a NAND type, or a NOR type flash memory.
The storage unit 9 stores job data for executing various jobs. The job data is image data acquired by reading a document by the document reading unit 2, print document data transmitted from a PC (not shown), various files such as FAX reception data, and the like.

画像処理部10は、DSP(Digital Signal Processor)やGPU(Graphics Processing Unit)の制御演算部位である。画像処理部10は、画像データに対して所定の画像処理を行う手段であり、例えば、拡大縮小処理や、濃度調整、階調調整等の画像改善処理を行う。   The image processing unit 10 is a control calculation part of a DSP (Digital Signal Processor) or a GPU (Graphics Processing Unit). The image processing unit 10 is a unit that performs predetermined image processing on image data, and performs, for example, image improvement processing such as enlargement / reduction processing, density adjustment, and gradation adjustment.

FAX送受信部11は、ファクシミリの送受信を行う手段であり、通常の電話回線やISDN回線等と接続されている。また、FAX送受信部11は、受信したファクシミリ画像を、記憶部9に記憶する。
また、FAX送受信部11は、記憶部9に記憶された画像データを、画像形成部7で印刷する代わりにファクシミリ送信することもできる。
The FAX transmission / reception unit 11 is a means for performing facsimile transmission / reception, and is connected to a normal telephone line, ISDN line, or the like. Further, the FAX transmission / reception unit 11 stores the received facsimile image in the storage unit 9.
Further, the FAX transmission / reception unit 11 can transmit the image data stored in the storage unit 9 by facsimile instead of printing by the image forming unit 7.

ネットワーク送受信部12は、ネットワークに接続するためのLANボードや無線送受信機やテレフォン・ダイアラーやカプラ等を含むネットワーク接続手段である。
ネットワーク送受信部12は、データ通信用の回線ではデータを送受信し、音声電話回線では音声信号を送受信する。
The network transmission / reception unit 12 is a network connection means including a LAN board, a wireless transmission / reception unit, a telephone dialer, a coupler, and the like for connecting to a network.
The network transmission / reception unit 12 transmits / receives data on a data communication line and transmits / receives audio signals on a voice telephone line.

温度センサー13は、サーミスタや赤外線センサーとA/Dコンバータ等を備えた温度センサーである。
温度センサー13は、制御部8のパッケージ内又はすぐ外側に設けられて、低速モードの際に低速モード処理部81近辺の温度を測定する。このように構成することにより、低速モード処理部81の温度をより直接的に測定できるため好ましい。
また、温度センサー13は、画像形成装置1の他の箇所に設けられていてもよい。たとえば、温度センサー13は、画像形成装置1の筐体内又は筐体外の温度を測定することも可能である。この場合、温度センサー13は、主に画像形成部7等の高温が発生する箇所以外の基板等に配置され、画像形成装置1内部の平均的な温度である、筐体内のいわゆる雰囲気温度、又は筐体外の外部環境温度を測定する。
The temperature sensor 13 is a temperature sensor including a thermistor, an infrared sensor, an A / D converter, and the like.
The temperature sensor 13 is provided in the package of the control unit 8 or just outside, and measures the temperature near the low speed mode processing unit 81 in the low speed mode. This configuration is preferable because the temperature of the low-speed mode processing unit 81 can be measured more directly.
Further, the temperature sensor 13 may be provided in another part of the image forming apparatus 1. For example, the temperature sensor 13 can also measure the temperature inside or outside the casing of the image forming apparatus 1. In this case, the temperature sensor 13 is mainly arranged on a substrate other than the portion where the high temperature is generated, such as the image forming unit 7, and is a so-called ambient temperature in the casing, which is an average temperature inside the image forming apparatus 1, or Measure the external environment temperature outside the enclosure.

高速クロック部14は、例えば水晶振動子等による精度がよい(周期の誤差が小さい)高精度クロック生成回路である。高速クロック部14は、制御部8に、正確な高精度クロック(動作クロック)を供給する。
高速クロック部14の高精度クロックは、低速モード処理部81のクロックの誤差を修正する際の基準となる。
The high-speed clock unit 14 is a high-accuracy clock generation circuit that has high accuracy (small error in the period), for example, using a crystal resonator. The high-speed clock unit 14 supplies an accurate high-accuracy clock (operation clock) to the control unit 8.
The high-precision clock of the high-speed clock unit 14 serves as a reference when correcting the clock error of the low-speed mode processing unit 81.

なお、低速モード処理部81は、制御部8とは別のCPUであってもよく、マルチコアCPUの低消費電力コア等を用いてもよい。
また、低速モード処理部81は、温度センサー13を内蔵していてもよい。
また、制御部8と記憶部9と画像処理部10とは、メモリ内蔵CPUやGPU内蔵CPUやチップ・オン・モジュールのパッケージ等のように、一体的に形成されてもよい。
Note that the low-speed mode processing unit 81 may be a CPU different from the control unit 8, and may use a low power consumption core of a multi-core CPU.
Further, the low speed mode processing unit 81 may incorporate the temperature sensor 13.
In addition, the control unit 8, the storage unit 9, and the image processing unit 10 may be integrally formed, such as a memory built-in CPU, a GPU built-in CPU, a chip-on-module package, and the like.

(記憶部9の構成)
記憶部9の不揮発性メモリは、内蔵クロックの誤差を修正するためのデータである基板誤差91及び補正値テーブル92を記憶している。
基板誤差91は、低速モード処理部81の基板毎の固有の内蔵クロックの誤差値を示すデータである。基板誤差91は、工場出荷時等にあらかじめ低速モード処理部81により算出され、記憶部9に記憶されてもよい。
補正値テーブル92は、温度毎の偏差を補正するテーブルのデータである。補正値テーブル92は、低速モード処理部81の温度と内蔵クロックの誤差との関係を示している誤差値を複数含んでいてもよい。
なお、記憶部9は、高速モードと低速モードとを切り換えるための設定、電圧による低速モード処理部81の動作クロックの補正用のテーブル等についても記憶してもよい。
(Configuration of storage unit 9)
The nonvolatile memory of the storage unit 9 stores a substrate error 91 and a correction value table 92 that are data for correcting an error of the built-in clock.
The board error 91 is data indicating an error value of a built-in clock specific to each board of the low-speed mode processing unit 81. The substrate error 91 may be calculated in advance by the low speed mode processing unit 81 at the time of factory shipment or the like and stored in the storage unit 9.
The correction value table 92 is data of a table for correcting a deviation for each temperature. The correction value table 92 may include a plurality of error values indicating the relationship between the temperature of the low-speed mode processing unit 81 and the error of the built-in clock.
Note that the storage unit 9 may also store settings for switching between the high speed mode and the low speed mode, a table for correcting the operation clock of the low speed mode processing unit 81 by voltage, and the like.

〔画像形成装置1による内蔵クロック補正及び低速モード実行処理〕
次に、図3を参照して、本発明の第1の実施の形態に係る低速モード処理部81の内蔵クロック補正及び低速モード実行処理についてステップ毎に詳しく説明する。
低速モード処理部81の内蔵クロック補正及び低速モード実行処理は、主に記憶部9に記憶された各種設定を基に、低速モード処理部81のROMに記憶されたプログラムを、低速モード処理部81がハードウェア資源を用いて実行することで実現できる。
[Built-in clock correction and low-speed mode execution processing by the image forming apparatus 1]
Next, the built-in clock correction and low-speed mode execution processing of the low-speed mode processing unit 81 according to the first embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIG.
The built-in clock correction and low-speed mode execution processing of the low-speed mode processing unit 81 is mainly based on various settings stored in the storage unit 9, and the program stored in the ROM of the low-speed mode processing unit 81 is used as the low-speed mode processing unit 81. Can be realized by using hardware resources.

(ステップS101)
低速モードへの変更が指示された場合、まず、低速モード処理部81は、起動及び補正開始処理を行う。
画像形成装置1が省電力状態に遷移する等の場合、制御部8により、低速モードへの変更が指示される。
すると、リセット信号が入力され、内蔵クロックにて低速モード処理部81が起動される。
この際に、低速モード処理部81は、ROMに記憶されたプログラムを実行して、各種初期化処理を行い、クロックの補正を開始する。
(Step S101)
When an instruction to change to the low speed mode is given, first, the low speed mode processing unit 81 performs start-up and correction start processing.
When the image forming apparatus 1 transitions to the power saving state, the control unit 8 instructs the change to the low speed mode.
Then, a reset signal is input, and the low-speed mode processing unit 81 is activated with the built-in clock.
At this time, the low-speed mode processing unit 81 executes a program stored in the ROM, performs various initialization processes, and starts clock correction.

(ステップS102)
初期化の終了後に、低速モード処理部81は、温度取得処理を行う。
低速モード処理部81は、温度センサー13にて温度を検知する。この温度は、検知した時点での低速モード処理部81自体の温度に対応している。
(Step S102)
After the initialization is completed, the low speed mode processing unit 81 performs a temperature acquisition process.
The low speed mode processing unit 81 detects the temperature with the temperature sensor 13. This temperature corresponds to the temperature of the low-speed mode processing unit 81 itself at the time of detection.

(ステップS103)
次に、低速モード処理部81は、補正値取得処理を行う。
図4を参照すると、補正値テーブル92は、例えば、内蔵クロックの標準クロックSとの差分値を示す誤差値が、曲線Dのように格納されている。つまり、曲線Dは、例えば、低速モード処理部81の許容動作温度範囲に対応する所定区間の温度に対応する誤差値の集合となる。
低速モード処理部81は、記憶部9の補正値テーブル92から、温度センサー13にて検出した温度に対応した内蔵クロックの誤差値を読みだす。
加えて、低速モード処理部81は、基板誤差91から、基板毎の誤差値を読みだす。
(Step S103)
Next, the low speed mode processing unit 81 performs a correction value acquisition process.
Referring to FIG. 4, in the correction value table 92, for example, an error value indicating a difference value between the built-in clock and the standard clock S is stored as a curve D. That is, the curve D is, for example, a set of error values corresponding to the temperature in a predetermined section corresponding to the allowable operating temperature range of the low speed mode processing unit 81.
The low speed mode processing unit 81 reads the error value of the built-in clock corresponding to the temperature detected by the temperature sensor 13 from the correction value table 92 of the storage unit 9.
In addition, the low-speed mode processing unit 81 reads an error value for each substrate from the substrate error 91.

(ステップS104)
次に、低速モード処理部81は、クロック補正処理を行う。
低速モード処理部81は、読み出された誤差値に基づいて、内蔵クロックの周波数を変更するクロック補正を行う。
低速モード処理部81は、温度センサー13から取得した温度に対応する補正値テーブル92の誤差値と、基板誤差91の基板毎の誤差値とを基に、内蔵クロックの周波数の補正値を算出する。
たとえば、温度に対応する補正値テーブル92の誤差値が+3%であり、基板誤差91の基板毎の誤差値が+1%であった場合、

補正値 = (+3%)+(+1%) = +4%

と算出する。そして、低速モード処理部81は、内蔵クロックの周波数を、この補正値を基に変更する。この例の場合は、内蔵クロックの周波数を、標準値から4%変更する。低速モード処理部81は、例えば、内蔵クロックの基準値の+−10%程度の周波数の変更が可能である。
これにより、低速モード処理部81の内蔵クロックの補正を終了する。補正により、低速モード処理部81の内蔵クロックの精度を保ちつつ、ネットワーク送受信やファクシミリ送受信等、タミングやカウントの際の精度が重要な手段による処理を行うことが可能となる。
(Step S104)
Next, the low speed mode processing unit 81 performs clock correction processing.
The low speed mode processing unit 81 performs clock correction for changing the frequency of the built-in clock based on the read error value.
The low-speed mode processing unit 81 calculates a correction value of the frequency of the built-in clock based on the error value of the correction value table 92 corresponding to the temperature acquired from the temperature sensor 13 and the error value for each substrate of the substrate error 91. .
For example, when the error value of the correction value table 92 corresponding to the temperature is + 3% and the error value for each substrate of the substrate error 91 is + 1%,

Correction value = (+ 3%) + (+ 1%) = + 4%

And calculate. Then, the low-speed mode processing unit 81 changes the frequency of the built-in clock based on this correction value. In this example, the frequency of the built-in clock is changed by 4% from the standard value. For example, the low-speed mode processing unit 81 can change the frequency of about + −10% of the reference value of the built-in clock.
Thereby, the correction of the internal clock of the low-speed mode processing unit 81 is completed. By the correction, it is possible to perform processing by means of which accuracy in the timing and counting is important, such as network transmission / reception and facsimile transmission / reception, while maintaining the accuracy of the internal clock of the low-speed mode processing unit 81.

(ステップS105)
その後、低速モード処理部81は、低速モードでの各処理である低速モード実行処理を行う。
低速モードにおける各処理においては、例えば、高速クロック部14、画像形成部7を含む消費電力の大きい各部の電源供給はされないか、低消費電力状態となる。この上で、低速モード処理部81は、FAX送受信部11、ネットワーク送受信部12等の受信処理や送信処理等を行い、記憶部9に受信データを記憶する。
以上により、低速モード処理部81の内蔵クロック補正及び低速モード実行処理を終了する。
なお、低速モード処理部81は、温度センサー13により検知した温度が変化していた場合、再度、内蔵クロックを補正してもよい。この内蔵クロックの補正は、リアルタイム(実時間)で行ってもよい。
(Step S105)
Thereafter, the low-speed mode processing unit 81 performs a low-speed mode execution process that is each process in the low-speed mode.
In each processing in the low-speed mode, for example, power is not supplied to each of the high power consumption units including the high-speed clock unit 14 and the image forming unit 7 or the power consumption state is set. In addition, the low-speed mode processing unit 81 performs reception processing, transmission processing, and the like of the FAX transmission / reception unit 11 and the network transmission / reception unit 12 and stores the reception data in the storage unit 9.
Thus, the built-in clock correction and the low-speed mode execution process of the low-speed mode processing unit 81 are completed.
Note that the low-speed mode processing unit 81 may correct the internal clock again when the temperature detected by the temperature sensor 13 has changed. The correction of the built-in clock may be performed in real time (real time).

以上のように構成することで、以下のような効果を得ることができる。
本発明の第1の実施の形態に係る画像形成装置1は、記録紙に画像を形成する画像形成部7を備える画像形成装置において、周期の誤差が小さい高精度クロックを生成させる高速クロック部14と、高速クロック部14に生成させた高精度クロックを受信して、電力消費の大きい高速モードで画像形成部7を含む各部を制御する制御部8と、高速クロック部14よりも周期の誤差が大きく低速な内蔵クロックにより、省電力の低速モードにて各部を制御する低速モード処理部81と、低速モード処理部81の温度を検知する温度センサー13とを備え、温度センサー13により検知された温度と、記憶部9に記憶された基板誤差91の誤差値とを基に、低速モード処理部81の内蔵クロックを補正することを特徴とする。
これにより、基板上の誤差と温度センサー13により精度の低い低速モード処理部81の内蔵クロックを補正することで、クロック補正を行いCPU内蔵クロックにより時間基準をとることが可能になる。よって、低速モード処理部81用の水晶振動子を別途必要としなくなり、従来より安価な画像形成装置1を提供することが可能になる。
With the configuration described above, the following effects can be obtained.
The image forming apparatus 1 according to the first exemplary embodiment of the present invention includes a high-speed clock unit 14 that generates a high-accuracy clock with a small period error in an image forming apparatus including an image forming unit 7 that forms an image on a recording sheet. And the control unit 8 that receives the high-precision clock generated by the high-speed clock unit 14 and controls each unit including the image forming unit 7 in the high-speed mode with high power consumption, and the cycle error is higher than that of the high-speed clock unit 14. A temperature detected by the temperature sensor 13 includes a low-speed mode processing unit 81 that controls each unit in a power-saving low-speed mode and a temperature sensor 13 that detects the temperature of the low-speed mode processing unit 81 with a large and low-speed internal clock. And the built-in clock of the low-speed mode processing unit 81 is corrected based on the error value of the substrate error 91 stored in the storage unit 9.
As a result, by correcting the error on the substrate and the internal clock of the low-speed mode processing unit 81 with low accuracy by the temperature sensor 13, it is possible to correct the clock and obtain the time reference by the CPU internal clock. Therefore, it is not necessary to separately provide a crystal resonator for the low-speed mode processing unit 81, and it is possible to provide the image forming apparatus 1 that is less expensive than the conventional one.

また、従来、低速モード用制御部の精度の低い内蔵クロックを補正する手段として、高速モード用の水晶振動子で補正する方法が一般的に用いられている。
しかしながら、低速モード用の制御部を起動する際に、毎回、高速クロックを用いて内蔵クロックを調整するのは時間がかかり、低消費電力に遷移するまで消費電力が増えるため、現実的ではなかった。
また、精度がよい高速クロックを用いて補正する手法は、温度変動の影響を受ける。このため、単純に基板誤差の誤差値を記憶し読みだしても、低消費電力の低速モード切り換え時には使用できなかった。
これに対して、本実施の形態の画像形成装置1は、基板毎の固有の内蔵クロックの誤差値を、基板誤差91として記憶部9の不揮発性メモリに記憶し、起動時にこれを読みだして温度変動の影響も併せて調整する。これにより、再度クロック補正を行うという煩雑さを回避することが可能となり、低速モードで内蔵クロックを使用することが可能となる。また、低速モードへすばやく移行でき、消費電力を抑えられるという効果も得られる。
Conventionally, as a means for correcting the built-in clock with low accuracy of the low-speed mode control unit, a method of correcting with a high-speed mode crystal resonator is generally used.
However, it is not realistic to adjust the internal clock using the high-speed clock every time when starting the control unit for the low-speed mode, because power consumption increases until the transition to low power consumption. .
In addition, the correction method using a high-speed clock with good accuracy is affected by temperature fluctuations. For this reason, even if the error value of the substrate error is simply stored and read out, it cannot be used when switching to the low-speed mode with low power consumption.
On the other hand, the image forming apparatus 1 according to the present embodiment stores an error value of a built-in clock specific to each board as a board error 91 in the nonvolatile memory of the storage unit 9, and reads this at startup. Also adjust the effect of temperature fluctuations. As a result, it is possible to avoid the trouble of performing the clock correction again, and to use the internal clock in the low speed mode. In addition, it is possible to quickly shift to the low-speed mode, and the effect that power consumption can be suppressed can be obtained.

なお、低速モード処理部81は、例えば、画像形成装置1内部の雰囲気温度や外部環境温度によってクロック誤差値の補正を行うことも可能である。この場合には、低速モード処理部81は、温度センサー13にて温度を検知する。この上で、低速モード処理部81は、雰囲気温度や外部環境温度も含めて、内蔵クロックの周波数の補正値を算出してもよい。
また、低速モード処理部81は、例えば、電圧によりクロック誤差値の補正を行うことも可能である。この場合には、低速モード処理部81は、電源電圧を検知し、検知された電源電圧を基にした誤差値を記憶部9から読みだし、基板誤差91、補正値テーブル92を基に内蔵クロックの周波数の補正値を算出してもよい。
The low-speed mode processing unit 81 can also correct the clock error value based on, for example, the ambient temperature inside the image forming apparatus 1 or the external environment temperature. In this case, the low speed mode processing unit 81 detects the temperature with the temperature sensor 13. On this basis, the low-speed mode processing unit 81 may calculate a correction value for the frequency of the internal clock including the ambient temperature and the external environment temperature.
Further, the low-speed mode processing unit 81 can also correct the clock error value by voltage, for example. In this case, the low-speed mode processing unit 81 detects the power supply voltage, reads an error value based on the detected power supply voltage from the storage unit 9, and based on the substrate error 91 and the correction value table 92, the built-in clock. The frequency correction value may be calculated.

<第2の実施の形態>
次に、図5を参照して、本発明の第2の実施の形態について説明する。
本発明の第2の実施の形態においては、第1の実施の形態に係る画像形成装置1(図2)と同様の構成のハードウェアを用いて、低速モード処理部81が、基板誤差91と所定の温度区間の補正値テーブル92を作成するキャリブレーション処理を行う。
低速モード処理部81は、初めて電源が投入された初期設定の場合、数ヶ月〜1年に一度程度の所定期間が経過した場合、又はユーザーにより指示された場合等に、このキャリブレーション処理を行う。
以下で、図5のフローチャートを参照して、このキャリブレーション処理の詳細を説明する。
<Second Embodiment>
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
In the second embodiment of the present invention, the low-speed mode processing unit 81 uses the hardware having the same configuration as that of the image forming apparatus 1 (FIG. 2) according to the first embodiment, and the substrate error 91 is detected. Calibration processing for creating a correction value table 92 for a predetermined temperature section is performed.
The low-speed mode processing unit 81 performs this calibration processing when the power is turned on for the first time, when a predetermined period of about several months to once a year has passed, or when instructed by the user. .
Details of the calibration processing will be described below with reference to the flowchart of FIG.

(ステップS111)
まず、低速モード処理部81は、第1の実施の形態のステップS102の温度取得処理(図3)と同様に、温度センサー13にて低速モード処理部81の温度を検知する。
(Step S111)
First, the low-speed mode processing unit 81 detects the temperature of the low-speed mode processing unit 81 with the temperature sensor 13 as in the temperature acquisition processing (FIG. 3) in step S102 of the first embodiment.

(ステップS112)
次に、低速モード処理部81は、補正値算出処理を行う。
図4を再び参照して説明すると、低速モード処理部81は、その温度での内蔵クロックの周波数を、高速クロック部14を起動させて測定する。
そして、低速モード処理部81は、測定されたクロックと、標準クロックSとの差分値を算出する。この際に、低速モード処理部81は、温度センサー13で取得した温度を用いて、その温度での差分値を算出する。そして、低速モード処理部81は、算出したその温度での差分値から、工場出荷時に測定された基板毎の固有の誤差値である基板誤差91を更に減算する。低速モード処理部81は、その温度での差分値から基板誤差91を減算した値を、補正値テーブル92の検知した温度に対応する箇所に書き込む。
(Step S112)
Next, the low speed mode processing unit 81 performs a correction value calculation process.
Referring to FIG. 4 again, the low-speed mode processing unit 81 measures the frequency of the built-in clock at that temperature by activating the high-speed clock unit 14.
Then, the low speed mode processing unit 81 calculates a difference value between the measured clock and the standard clock S. At this time, the low speed mode processing unit 81 uses the temperature acquired by the temperature sensor 13 to calculate a difference value at that temperature. Then, the low-speed mode processing unit 81 further subtracts a substrate error 91, which is a specific error value for each substrate measured at the time of factory shipment, from the calculated difference value at that temperature. The low-speed mode processing unit 81 writes a value obtained by subtracting the substrate error 91 from the difference value at that temperature in a location corresponding to the detected temperature in the correction value table 92.

(ステップS113)
次に、低速モード処理部81は、温度上昇処理を行う。
低速モード処理部81は、ROMに記憶された所定のベンチマークプログラム等の処理負荷をかけるプログラムを実行して、低速モード処理部81自体の温度を上昇させる。
なお、低速モード処理部81用のヒータ、又は画像形成装置1の各部のヒータ等を別途備えてもよい。そして、このヒータ等の発熱により、低速モード処理部81の温度を上昇させてもよい。
(Step S113)
Next, the low speed mode processing unit 81 performs a temperature increase process.
The low speed mode processing unit 81 executes a program that applies a processing load such as a predetermined benchmark program stored in the ROM, and raises the temperature of the low speed mode processing unit 81 itself.
A heater for the low-speed mode processing unit 81 or a heater for each unit of the image forming apparatus 1 may be provided separately. Then, the temperature of the low-speed mode processing unit 81 may be increased by heat generated by the heater or the like.

(ステップS114)
まず、低速モード処理部81は、所定区間の補正値を算出したか否かを判定する。低速モード処理部81は、補正値テーブル92として十分な所定の温度区間の差分値を算出し終えた場合、Yesと判定する。低速モード処理部81は、まだ所定の温度区間の差分値を算出していない場合、Noと判定する。
Yesの場合、低速モード処理部81は、キャリブレーション処理を終了する。
Noの場合、低速モード処理部81は処理をステップS111に戻し、上昇した温度での温度取得と補正値算出を行う。
(Step S114)
First, the low speed mode processing unit 81 determines whether or not a correction value for a predetermined section has been calculated. The low-speed mode processing unit 81 determines Yes when the correction value table 92 has been calculated as a sufficient difference value for a predetermined temperature section. The low speed mode processing unit 81 determines No when the difference value of the predetermined temperature section has not yet been calculated.
In the case of Yes, the low speed mode processing unit 81 ends the calibration process.
In No, the low speed mode process part 81 returns a process to step S111, and performs temperature acquisition and correction value calculation in the raised temperature.

以上のように、低速モード処理部81は、温度を上昇させつつ、温度センサー13で検知した温度と、高速クロック部14のクロックとの差分値を算出し、工場出荷時に測定された内蔵クロックの基板誤差91を更に差分し、補正値テーブル92に書き込んでゆく。これにより、図4の曲線Dのように、温度と誤差値の関係性を示す補正値テーブル92が作成される。
キャリブレーション後、制御部8は、低速モード処理部81を休止状態に移行させ、十分冷却させる。
低速モード処理部81は、低速モードへの遷移時に、第1の実施の形態と同様に、基板誤差91と、キャリブレーションされた補正値テーブル92とを用いて、内蔵クロックの補正を行うことが可能である。
As described above, the low-speed mode processing unit 81 calculates the difference value between the temperature detected by the temperature sensor 13 and the clock of the high-speed clock unit 14 while increasing the temperature, and the internal clock measured at the time of factory shipment is calculated. Substrate error 91 is further subtracted and written in correction value table 92. As a result, a correction value table 92 indicating the relationship between the temperature and the error value is created as shown by a curve D in FIG.
After calibration, the control unit 8 causes the low-speed mode processing unit 81 to shift to a pause state and sufficiently cool it.
The low-speed mode processing unit 81 can correct the internal clock using the substrate error 91 and the calibrated correction value table 92 at the time of transition to the low-speed mode, as in the first embodiment. Is possible.

以上のように構成することで、以下のような効果を得ることができる。
本発明の第2の実施の形態において、低速モード処理部81は、高速クロック部14の高精度クロックにより、低速モード処理部81の内蔵クロックの誤差を測定し、低速モード処理部81の温度を変化させて、内蔵クロックの誤差を測定し、温度毎の偏差を補正する補正値テーブル92を作成して、記憶部9に記憶させ、又、低速モード処理部81は、作成された補正値テーブル92により、低速モード処理部81の内蔵クロックを補正することを特徴とする。
これにより、低速モード移行時に、基板毎の誤差と温度変動の影響を記録した補正値テーブル92を読みだして、低速モード処理部81の内蔵クロックを素早く補正することが可能となる。加えて、温度による内蔵クロックの誤差を正確に算出することで、低速モード処理部81のクロックを正確に調整することが可能となる。
With the configuration described above, the following effects can be obtained.
In the second embodiment of the present invention, the low-speed mode processing unit 81 measures the error of the internal clock of the low-speed mode processing unit 81 using the high-precision clock of the high-speed clock unit 14, and determines the temperature of the low-speed mode processing unit 81. The correction value table 92 for measuring the error of the built-in clock and changing the deviation for each temperature is generated and stored in the storage unit 9, and the low-speed mode processing unit 81 generates the correction value table 92, the internal clock of the low-speed mode processing unit 81 is corrected.
Thereby, at the time of shifting to the low speed mode, it is possible to read the correction value table 92 in which the error of each substrate and the influence of the temperature fluctuation are recorded, and to quickly correct the internal clock of the low speed mode processing unit 81. In addition, it is possible to accurately adjust the clock of the low-speed mode processing unit 81 by accurately calculating the error of the built-in clock due to temperature.

また、本発明の第1又は第2の実施の形態に係る時間計測装置は、周期の誤差が小さい高精度クロックを生成させる高速クロック部14と、高速クロック部14に生成させた高精度クロックを受信して、電力消費の大きい高速モードで各部を制御する制御部8と、高速クロック部14よりも周期の誤差が大きく低速な内蔵クロックにより、省電力の低速モードにて各部を制御する低速モード処理部81と、低速モード処理部81の温度を検知する温度センサー13とを備え、低速モード処理部81は、高速クロック部14の高精度クロックにより、低速モード処理部81の内蔵クロックの誤差を測定し、低速モード処理部81により測定された内蔵クロックの誤差を記憶部9に記憶し、温度センサー13により検知された温度と、記憶部9に記憶された内蔵クロックの誤差とを基に、低速モード処理部81の内蔵クロックを補正することを特徴とする。   In addition, the time measuring device according to the first or second embodiment of the present invention includes a high-speed clock unit 14 that generates a high-precision clock with a small period error, and a high-precision clock generated by the high-speed clock unit 14. The low-speed mode that controls each part in the power-saving low-speed mode by the control part 8 that receives and controls each part in the high-speed mode with high power consumption and the built-in clock that has a larger period error than the high-speed clock part 14 and that is low-speed The low-speed mode processing unit 81 includes a processing unit 81 and a temperature sensor 13 that detects the temperature of the low-speed mode processing unit 81, and the low-speed mode processing unit 81 uses an accurate clock of the high-speed clock unit 14 to detect an error in the internal clock of the low-speed mode processing unit 81. The internal clock error measured by the low-speed mode processing unit 81 is stored in the storage unit 9, the temperature detected by the temperature sensor 13, and the storage unit 9 Based on the errors of 憶 been built clock, and corrects the internal clock of the low-speed mode processing unit 81.

なお、本発明の第2の実施の形態において、低速モード処理部81は、温度と誤差値をいちいち求めず、所定温度の誤差値を数点算出して補完曲線等を作成し、補正値テーブル92に書き込んでもよい。
また、低速モード処理部81は、基板誤差と温度によるクロックの誤差を合算した値を補正値テーブル92に書き込んで、これにより低速モード処理部81の内蔵クロックの補正を行ってもよい。つまり、キャリブレーション中に、工場出荷時に算出された基板誤差91を減算しない構成であってもよい。この場合、基板誤差91は、記憶部9に記憶されていなくてもよい。
また、低速モード処理部81は、低速モード処理部81の温度とクロックの関係の誤差値の標準値を工場出荷時に補正値テーブル92に記憶しておいてもよい。低速モード処理部81は、キャリブレーションの際、測定されたクロックから、温度センサー13で得られた温度における誤差値の標準値を減算することで、基板毎の固有の誤差値を算出して基板誤差91として記憶部9に記憶することも可能である。なお、低速モード処理部81はこの基板毎の固有の誤差値を、各温度で算出して平均化してもよい。
In the second embodiment of the present invention, the low-speed mode processing unit 81 does not calculate the temperature and the error value one by one, but calculates several error values for the predetermined temperature to create a complementary curve, etc., and the correction value table 92 may be written.
The low-speed mode processing unit 81 may write a value obtained by adding the substrate error and the clock error due to temperature to the correction value table 92, thereby correcting the internal clock of the low-speed mode processing unit 81. That is, a configuration in which the substrate error 91 calculated at the time of shipment from the factory is not subtracted during the calibration may be employed. In this case, the substrate error 91 may not be stored in the storage unit 9.
The low-speed mode processing unit 81 may store a standard value of an error value related to the temperature and clock of the low-speed mode processing unit 81 in the correction value table 92 at the time of factory shipment. The low-speed mode processing unit 81 calculates a specific error value for each substrate by subtracting the standard value of the error value at the temperature obtained by the temperature sensor 13 from the measured clock during calibration. It is also possible to store the error 91 in the storage unit 9. Note that the low-speed mode processing unit 81 may calculate and average the inherent error value for each substrate at each temperature.

また、低速モード処理部81は、画像形成装置1内部の雰囲気温度や外部環境温度の値を用いて、キャリブレーションを行ってもよい。この際、低速モード処理部81は、低速モード処理部81自体の処理による発熱ではなく、画像形成装置1の各部を可動させて雰囲気温度を変化させ、その変化によりキャリブレーションをしてもよい。また、低速モード処理部81は、外部環境温度の変化によりキャリブレーションをしてもよい。また、低速モード処理部81は、湿度等のセンサーを用いてキャリブレーションをしてもよい。
さらに、低速モード処理部81は、温度を上下させるペルチェ素子等を用いた温度調整手段を備えて、これにより温度を調整しつつキャリブレーションを行ってもよい。
また、低速モード処理部81は、電源電圧と誤差値との関係についての誤差値を算出して、低速モード処理部81に記憶してもよい。この際、低速モード処理部81は、補正値テーブル92と同様に、電源電圧と誤差値との関係を示すテーブルを作成してもよい。また、低速モード処理部81は、電源電圧と誤差値と温度との関係を示すテーブルを作成してもよい。
Further, the low speed mode processing unit 81 may perform calibration using values of the atmospheric temperature and the external environment temperature inside the image forming apparatus 1. At this time, the low speed mode processing unit 81 may perform calibration by changing the ambient temperature by moving each part of the image forming apparatus 1 instead of the heat generated by the processing of the low speed mode processing unit 81 itself. Further, the low speed mode processing unit 81 may perform calibration by changing the external environment temperature. The low speed mode processing unit 81 may perform calibration using a sensor such as humidity.
Furthermore, the low-speed mode processing unit 81 may include a temperature adjusting unit using a Peltier element or the like that raises or lowers the temperature, and may thereby perform calibration while adjusting the temperature.
The low speed mode processing unit 81 may calculate an error value regarding the relationship between the power supply voltage and the error value and store the error value in the low speed mode processing unit 81. At this time, similarly to the correction value table 92, the low speed mode processing unit 81 may create a table indicating the relationship between the power supply voltage and the error value. Further, the low speed mode processing unit 81 may create a table indicating the relationship among the power supply voltage, the error value, and the temperature.

なお、本発明の実施の形態に係る時間計測装置及び時間計測方法としては、画像形成装置に限られず、高速モードと低速モードを使い分ける各種の機器にも適用可能である。
また、上述の実施の形態では、高速モードと低速モード用に別々の制御部を用いるように説明したが、同じCPUの高速モードと低速モードとの切り換えの際にも用いることが可能である。
The time measuring device and the time measuring method according to the embodiment of the present invention are not limited to the image forming apparatus, and can be applied to various devices that selectively use the high speed mode and the low speed mode.
Further, in the above-described embodiment, it has been described that separate control units are used for the high-speed mode and the low-speed mode, but it is also possible to use the same CPU when switching between the high-speed mode and the low-speed mode.

なお、上記実施の形態の構成及び動作は例であって、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更して実行することができることは言うまでもない。   Note that the configuration and operation of the above-described embodiment are examples, and it is needless to say that the configuration and operation can be appropriately changed and executed without departing from the gist of the present invention.

1 画像形成装置
2 原稿読取部
3 原稿給送部
4 本体部
5 スタックトレイ
6 操作パネル部
7 画像形成部
8 制御部
9 記憶部
10 画像処理部
11 FAX送受信部
12 ネットワーク送受信部
13 温度センサー
14 高速クロック部
21 スキャナー
22 プラテンガラス
23 原稿読取スリット
31 原稿載置部
32 原稿排出部
33 原稿搬送機構
41 排出口
42 給紙部
43 用紙搬送路
44 搬送ローラー
45 排出ローラー
71 感光体ドラム
72 露光部
73 現像部
74 転写部
75 定着部
81 低速モード処理部
91 基板誤差
92 補正値テーブル
421 給紙カセット
422 給紙ローラー
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Image forming apparatus 2 Original reading part 3 Original feeding part 4 Main body part 5 Stack tray 6 Operation panel part 7 Image forming part 8 Control part 9 Storage part 10 Image processing part 11 FAX transmission / reception part 12 Network transmission / reception part 13 Temperature sensor 14 High speed Clock section 21 Scanner 22 Platen glass 23 Document reading slit 31 Document placement section 32 Document discharge section 33 Document transport mechanism 41 Discharge port 42 Paper feed section 43 Paper transport path 44 Transport roller 45 Discharge roller 71 Photosensitive drum 72 Exposure section 73 Development Section 74 Transfer section 75 Fixing section 81 Low speed mode processing section 91 Substrate error 92 Correction value table 421 Paper feed cassette 422 Paper feed roller

Claims (3)

用紙に画像を形成する画像形成手段を備える画像形成装置において、
高精度クロックを生成させる高精度クロック生成手段と、
前記高精度クロック生成手段の前記高精度クロックを受信して、前記画像形成手段を含む各部を制御する高速モード制御手段と、
前記高精度クロックよりも低速な内蔵クロックを生成する内蔵クロック生成手段を有する低速モード制御手段と、
前記内蔵クロックの誤差値を記憶する誤差記憶手段と、
前記低速モード制御手段の温度を検知する温度検知手段と、
前記温度検知手段により検知された温度と、前記誤差記憶手段に記憶された前記内蔵クロックの誤差値とを基に、前記内蔵クロックの誤差を補正する内蔵クロック補正手段とを備え、
前記低速モード制御手段は、前記内蔵クロック補正手段により補正された前記内蔵クロックを用いて各部を制御する
ことを特徴とする画像形成装置。
In an image forming apparatus including an image forming unit that forms an image on a sheet,
High-precision clock generation means for generating a high-precision clock;
A high-speed mode control unit that receives the high-precision clock of the high-precision clock generation unit and controls each unit including the image forming unit;
Low-speed mode control means having built-in clock generation means for generating a built-in clock slower than the high-precision clock;
Error storage means for storing an error value of the internal clock;
Temperature detecting means for detecting the temperature of the low speed mode control means;
Built-in clock correction means for correcting the error of the built-in clock based on the temperature detected by the temperature detection means and the error value of the built-in clock stored in the error storage means;
The image forming apparatus, wherein the low-speed mode control means controls each part using the internal clock corrected by the internal clock correction means.
前記高精度クロックにより、前記内蔵クロックの誤差を測定する内蔵クロック誤差測定手段と、
前記低速モード制御手段の温度を変化させて、前記内蔵クロック誤差測定手段により前記内蔵クロックの誤差を測定し、温度毎の偏差を補正する補正値テーブルを作成して、前記誤差記憶手段に記憶するキャリブレーション手段を備え、
前記内蔵クロック補正手段は、前記キャリブレーション手段により作成された前記補正値テーブルにより、前記低速モード制御手段の内蔵クロックを補正する
ことを特徴とする請求項1に記載の画像形成装置。
Built-in clock error measuring means for measuring an error of the built-in clock with the high-precision clock;
By changing the temperature of the low-speed mode control means, the built-in clock error measuring means measures the error of the built-in clock, creates a correction value table for correcting the deviation for each temperature, and stores it in the error storage means With calibration means,
The image forming apparatus according to claim 1, wherein the built-in clock correction unit corrects the built-in clock of the low-speed mode control unit based on the correction value table created by the calibration unit.
高精度クロックを生成させる高精度クロック生成手段と、
前記高精度クロック生成手段の前記高精度クロックを受信して、各部を制御する高速モード制御手段と、
前記高精度クロックよりも低速な内蔵クロックを生成する内蔵クロック生成手段を有する低速モード制御手段と、
前記内蔵クロックの誤差値を記憶する誤差記憶手段と、
前記低速モード制御手段の温度を検知する温度検知手段と、
前記温度検知手段により検知された温度と、前記誤差記憶手段に記憶された前記内蔵クロックの誤差値とを基に、前記内蔵クロックの誤差を補正する内蔵クロック補正手段とを備え、
前記低速モード制御手段は、前記内蔵クロック補正手段により補正された前記内蔵クロックを用いて各部を制御する
ことを特徴とする時間計測装置。
High-precision clock generation means for generating a high-precision clock;
High-speed mode control means for receiving the high-precision clock of the high-precision clock generation means and controlling each part;
Low-speed mode control means having built-in clock generation means for generating a built-in clock slower than the high-precision clock;
Error storage means for storing an error value of the internal clock;
Temperature detecting means for detecting the temperature of the low speed mode control means;
Built-in clock correction means for correcting the error of the built-in clock based on the temperature detected by the temperature detection means and the error value of the built-in clock stored in the error storage means;
The low-speed mode control unit controls each unit using the built-in clock corrected by the built-in clock correction unit.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2017097117A (en) * 2015-11-20 2017-06-01 キヤノン株式会社 Image forming apparatus
US11831402B2 (en) 2019-03-11 2023-11-28 Mitsubishi Electric Corporation Slave equipment, computer readable medium, and embedded system

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