JP2014183173A - Circuit board and mounting method for capacitor element - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a circuit board that is able to reduce noise while preventing thickness increase.SOLUTION: In a circuit board 1A, a plurality of multilayer ceramic capacitors 10A1, 10A2 of approximately rectangular parallelepiped shape are mounted on a wiring board 2. The multilayer ceramic capacitors 10A1, 10A2 are arranged adjacent to each other along a direction parallel to the principal surface of the wiring board 2. The respective directions in which the opposite faces of the multilayer ceramic capacitors 10A1, 10A2 are distorted during the application of voltage thereto are opposite to each other. The total of the amounts of distortion that occur in the multilayer ceramic capacitors 10A1, 10A2 is always almost constant in the direction in which the multilayer ceramic capacitors 10A1, 10A2 are arranged.

Description

本発明は、略直方体形状のコンデンサ素子が配線基板に複数実装されてなる回路基板および略直方体形状のコンデンサ素子を配線基板に複数実装する場合におけるコンデンサ素子の実装方法に関する。   The present invention relates to a circuit board in which a plurality of substantially rectangular parallelepiped capacitor elements are mounted on a wiring board, and a method of mounting a capacitor element when mounting a plurality of substantially rectangular parallelepiped capacitor elements on a wiring board.

近年、電子機器の高性能化に伴い、電子部品としての積層セラミックコンデンサの大容量化が進んでいる。大容量の積層セラミックコンデンサにおいては、誘電体材料としてチタン酸バリウム(BaTiO)等の高誘電率のセラミックス材料が使用されている。 In recent years, with the increase in performance of electronic devices, the capacity of multilayer ceramic capacitors as electronic components has been increasing. In a large-capacity multilayer ceramic capacitor, a ceramic material having a high dielectric constant such as barium titanate (BaTiO 3 ) is used as a dielectric material.

これら高誘電率のセラミックス材料は、圧電性および電歪性を有しているため、高誘電率のセラミックス材料からなる誘電体を含む積層セラミックコンデンサにおいては、電圧が印加された際に機械的な歪みが生じることになる。   Since these high dielectric constant ceramic materials have piezoelectricity and electrostrictive properties, in a multilayer ceramic capacitor including a dielectric made of a high dielectric constant ceramic material, when a voltage is applied, it is mechanical. Distortion will occur.

そのため、配線基板に実装された大容量の積層セラミックコンデンサに交流電圧、または、交流成分が重畳された直流電圧が印加されると、セラミックス材料に生じる機械的な歪みに起因して振動が発生することになり、当該振動が配線基板に伝播することで回路基板が振動することとなってしまう。   Therefore, when an AC voltage or a DC voltage on which an AC component is superimposed is applied to a large-capacity multilayer ceramic capacitor mounted on a wiring board, vibration is generated due to mechanical distortion generated in the ceramic material. As a result, the vibration is propagated to the wiring board, causing the circuit board to vibrate.

ここで、伝播した振動により、回路基板が可聴周波数域である20[Hz]〜20[kHz]の周波数で振動した場合には、いわゆる「鳴き(acoustic noise)」と呼ばれる騒音が発生することになる。   Here, when the circuit board vibrates at a frequency of 20 [Hz] to 20 [kHz], which is an audible frequency range, due to the propagated vibration, so-called “acoustic noise” is generated. Become.

この騒音の低減を図る技術としては、種々のものが提案されているが、その一つに特開2000−232030号公報(特許文献1)に開示のものがある。当該特許文献1に開示された技術は、配線基板の表裏面の対応した位置に、同等の仕様の一対の積層セラミックコンデンサを面対称に実装し、一方の積層セラミックコンデンサから配線基板に伝播された振動と、他方の積層セラミックコンデンサから配線基板に伝播された振動とを、相互に打ち消し合うように作用させることにより、騒音の低減を図るものである。   Various techniques for reducing the noise have been proposed, and one of them is disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 2000-233203 (Patent Document 1). In the technique disclosed in Patent Document 1, a pair of multilayer ceramic capacitors having equivalent specifications are mounted symmetrically on corresponding positions on the front and back surfaces of the wiring board, and propagated from one multilayer ceramic capacitor to the wiring board. Noise is reduced by causing the vibration and vibration propagated from the other multilayer ceramic capacitor to the wiring board to cancel each other.

特開2000−232030号公報JP 2000-23320 A

しかしながら、上記特許文献1に開示された技術を適用した場合には、結果として配線基板の表裏面に積層セラミックコンデンサが実装されることになるため、回路基板の厚みが必然的に増すことになり、電子機器の大型化につながってしまうおそれがある。   However, when the technique disclosed in Patent Document 1 is applied, as a result, the multilayer ceramic capacitor is mounted on the front and back surfaces of the wiring board, which inevitably increases the thickness of the circuit board. There is a risk that the electronic equipment will be enlarged.

また、上記特許文献1に開示された技術は、積層セラミックコンデンサが配線基板の表裏面に実装可能である場合に限って適用できるものであり、電子回路の回路設計上あるいは電子機器の構造設計上、配線基板の片面のみにしか積層セラミックコンデンサが実装できない場合には、そもそもその適用ができないものでもある。   Further, the technique disclosed in Patent Document 1 can be applied only when the multilayer ceramic capacitor can be mounted on the front and back surfaces of the wiring board. In the circuit design of an electronic circuit or the structure design of an electronic device. When a multilayer ceramic capacitor can be mounted only on one side of the wiring board, it cannot be applied in the first place.

したがって、本発明は、上述した問題点に鑑みてなされてものであり、厚みが増大することを防止しつつ騒音が低減できる回路基板を提供することを目的とし、また、回路基板の厚みが増大することが防止できるとともに騒音が低減できるコンデンサ素子の実装方法を提供することを目的とする。   Therefore, the present invention has been made in view of the above-described problems, and an object thereof is to provide a circuit board capable of reducing noise while preventing an increase in thickness, and the thickness of the circuit board is increased. It is an object of the present invention to provide a method for mounting a capacitor element that can prevent noise and reduce noise.

本発明に基づく回路基板は、所定の方向に沿って交互に積層された誘電体層および内部電極層からなる積層体を有する略直方体形状のコンデンサ素子が配線基板に複数実装されてなるものである。上記複数のコンデンサ素子は、上記配線基板の主表面と平行な方向に沿って近傍に並んで配置された複数のコンデンサ素子からなるコンデンサ素子群を含んでいる。上記コンデンサ素子群に含まれる上記複数のコンデンサ素子の上記配線基板に対向する主面は、いずれも略矩形状である。上記コンデンサ素子群に含まれる上記複数のコンデンサ素子は、当該複数のコンデンサ素子のうちの一のコンデンサ素子の上記主面のいずれか一辺に平行な方向に沿って延在する直線上に位置している。上記コンデンサ素子群に含まれる上記複数のコンデンサ素子のうち、隣り合うコンデンサ素子の対向面において電圧印加時に発生する歪みの向きは、互いに逆向きであり、上記コンデンサ素子群に含まれる上記複数のコンデンサ素子が並ぶ方向において当該複数のコンデンサ素子に発生する歪み量の総和は、常時略一定である。   A circuit board according to the present invention is formed by mounting a plurality of substantially rectangular parallelepiped capacitor elements on a wiring board having a laminate composed of dielectric layers and internal electrode layers that are alternately laminated along a predetermined direction. . The plurality of capacitor elements include a capacitor element group including a plurality of capacitor elements arranged in the vicinity along a direction parallel to the main surface of the wiring board. The main surfaces of the plurality of capacitor elements included in the capacitor element group facing the wiring board are all substantially rectangular. The plurality of capacitor elements included in the capacitor element group are located on a straight line extending along a direction parallel to any one side of the main surface of one capacitor element of the plurality of capacitor elements. Yes. Among the plurality of capacitor elements included in the capacitor element group, directions of distortion generated when a voltage is applied on an opposing surface of adjacent capacitor elements are opposite to each other, and the plurality of capacitors included in the capacitor element group The total amount of distortion generated in the plurality of capacitor elements in the direction in which the elements are arranged is always substantially constant.

上記本発明に基づく回路基板にあっては、上記コンデンサ素子群に含まれる上記複数のコンデンサ素子の上記主面が、一対の短辺および一対の長辺を有する略長方形状であることが好ましく、その場合には、上記コンデンサ素子群に含まれる上記複数のコンデンサ素子が、各々の上記主面の長辺に平行な方向に沿った両端部に外部電極を有していることが好ましい。その場合、上記外部電極の各々は、上記配線基板に対応して設けられたランドに導電性の接合部材を介してそれぞれ電気的に接続されていることが好ましい。   In the circuit board according to the present invention, the main surface of the plurality of capacitor elements included in the capacitor element group is preferably a substantially rectangular shape having a pair of short sides and a pair of long sides, In that case, it is preferable that the plurality of capacitor elements included in the capacitor element group have external electrodes at both ends along a direction parallel to the long side of each main surface. In that case, each of the external electrodes is preferably electrically connected to a land provided corresponding to the wiring board via a conductive bonding member.

上記本発明に基づく回路基板は、上記コンデンサ素子群を複数備えていてもよく、その場合には、上記複数のコンデンサ素子群に含まれるすべてのコンデンサ素子が、近傍に直線状に並んで配置されていることが好ましい。   The circuit board according to the present invention may include a plurality of the capacitor element groups. In that case, all the capacitor elements included in the plurality of capacitor element groups are arranged in a straight line in the vicinity. It is preferable.

上記本発明に基づく回路基板は、上記コンデンサ素子群を複数備えていてもよく、その場合には、上記複数のコンデンサ素子群に含まれるすべてのコンデンサ素子が、近傍にマトリックス状に並んで配置されていることが好ましい。   The circuit board according to the present invention may include a plurality of the capacitor element groups. In that case, all the capacitor elements included in the plurality of capacitor element groups are arranged in a matrix in the vicinity. It is preferable.

上記本発明に基づく回路基板にあっては、上記コンデンサ素子群に含まれる上記複数のコンデンサ素子の各々が有する上記積層体の積層方向が、いずれも同一の方向を向いていることが好ましい。   In the circuit board according to the present invention, it is preferable that the stacking directions of the stacked bodies included in each of the plurality of capacitor elements included in the capacitor element group are all in the same direction.

上記本発明に基づく回路基板にあっては、上記コンデンサ素子群が、同等の仕様の一対のコンデンサ素子からなることが好ましい。また、その場合には、上記一対のコンデンサ素子に印加される電圧の絶対値の和が、常時略一定であることが好ましい。   In the circuit board according to the present invention, the capacitor element group is preferably composed of a pair of capacitor elements having equivalent specifications. In that case, it is preferable that the sum of absolute values of voltages applied to the pair of capacitor elements is always substantially constant.

本発明に基づくコンデンサ素子の実装方法は、所定の方向に沿って交互に積層された誘電体層および内部電極層からなる積層体を有する略直方体形状のコンデンサ素子を配線基板に複数実装するための方法である。上記複数のコンデンサ素子は、上記配線基板の主表面と平行な方向に沿って近傍に並んで配置されることとなる複数のコンデンサ素子からなるコンデンサ素子群を含んでいる。上記コンデンサ素子群に含まれる上記複数のコンデンサ素子の上記配線基板に対向することとなる主面は、いずれも略矩形状に形成されている。上記コンデンサ素子群に含まれる上記複数のコンデンサ素子は、当該複数のコンデンサ素子のうちの一のコンデンサ素子の上記主面のいずれか一辺に平行な方向に沿って延在する直線上に位置するように配置されるものである。上記本発明に基づくコンデンサ素子の実装方法は、上記コンデンサ素子群に含まれる上記複数のコンデンサ素子のうち、隣り合うコンデンサ素子の対向面において電圧印加時に発生する歪みの向きが互いに逆向きになるとともに、上記コンデンサ素子群に含まれる上記複数のコンデンサ素子が並ぶ方向において当該複数のコンデンサ素子に発生する歪み量の総和が常時略一定となるように、当該複数のコンデンサ素子を上記配線基板に実装することを特徴としている。   A mounting method for a capacitor element according to the present invention is for mounting a plurality of substantially rectangular parallelepiped capacitor elements on a wiring board having a laminate composed of dielectric layers and internal electrode layers alternately stacked along a predetermined direction. Is the method. The plurality of capacitor elements include a capacitor element group including a plurality of capacitor elements that are arranged in the vicinity along a direction parallel to the main surface of the wiring board. The main surfaces of the plurality of capacitor elements included in the capacitor element group that face the wiring board are all formed in a substantially rectangular shape. The plurality of capacitor elements included in the capacitor element group are positioned on a straight line extending along a direction parallel to any one side of the main surface of one capacitor element of the plurality of capacitor elements. Is to be arranged. The capacitor element mounting method according to the present invention is such that, among the plurality of capacitor elements included in the capacitor element group, the directions of distortion generated when a voltage is applied on opposite surfaces of adjacent capacitor elements are opposite to each other. The plurality of capacitor elements are mounted on the wiring board so that the total amount of distortion generated in the plurality of capacitor elements is always substantially constant in the direction in which the plurality of capacitor elements included in the capacitor element group are arranged. It is characterized by that.

上記本発明に基づくコンデンサ素子の実装方法にあっては、上記コンデンサ素子群に含まれる上記複数のコンデンサ素子の上記主面が、一対の短辺および一対の長辺を有する略長方形状に形成されていることが好ましく、その場合には、上記コンデンサ素子群に含まれる上記複数のコンデンサ素子が、各々の上記主面の長辺に平行な方向に沿った両端部に外部電極を有するものであることが好ましい。その場合、上記本発明に基づくコンデンサ素子の実装方法は、上記コンデンサ素子群に含まれる上記複数のコンデンサ素子を上記配線基板に実装するに際して、上記外部電極の各々が、上記配線基板に対応して設けられたランドに導電性の接合部材を介してそれぞれ電気的に接続されるようにすることをさらに特徴としていてもよい。   In the capacitor element mounting method according to the present invention, the principal surfaces of the plurality of capacitor elements included in the capacitor element group are formed in a substantially rectangular shape having a pair of short sides and a pair of long sides. In this case, the plurality of capacitor elements included in the capacitor element group have external electrodes at both ends along the direction parallel to the long side of each of the main surfaces. It is preferable. In that case, when mounting the plurality of capacitor elements included in the capacitor element group on the wiring board, each of the external electrodes corresponds to the wiring board. It may be further characterized in that each of the lands provided is electrically connected via a conductive bonding member.

上記本発明に基づくコンデンサ素子の実装方法は、上記コンデンサ素子群が複数存在する場合に、上記複数のコンデンサ素子群に含まれるすべてのコンデンサ素子が近傍に直線状に並んで配置されるように、当該すべてのコンデンサ素子を上記配線基板に実装することをさらに特徴としていてもよい。   In the capacitor element mounting method according to the present invention, when there are a plurality of capacitor element groups, all the capacitor elements included in the plurality of capacitor element groups are arranged in a straight line in the vicinity. It may be further characterized in that all the capacitor elements are mounted on the wiring board.

上記本発明に基づくコンデンサ素子の実装方法は、上記コンデンサ素子群が複数存在する場合に、上記複数のコンデンサ素子群に含まれるすべてのコンデンサ素子が近傍にマトリックス状に並んで配置されるように、当該すべてのコンデンサ素子を上記配線基板に実装することをさらに特徴としていてもよい。   The capacitor element mounting method according to the present invention is such that when there are a plurality of capacitor element groups, all the capacitor elements included in the plurality of capacitor element groups are arranged in a matrix in the vicinity. It may be further characterized in that all the capacitor elements are mounted on the wiring board.

上記本発明に基づくコンデンサ素子の実装方法は、上記コンデンサ素子群に含まれる上記複数のコンデンサ素子の各々が有する上記積層体の積層方向がいずれも同一の方向を向くように、当該複数のコンデンサ素子を上記配線基板に実装することをさらに特徴としていてもよい。   The capacitor element mounting method according to the present invention includes a plurality of capacitor elements such that each of the plurality of capacitor elements included in the capacitor element group has a stacked direction of the stacked body facing the same direction. May be further mounted on the wiring board.

上記本発明に基づくコンデンサ素子の実装方法は、上記コンデンサ素子群が同等の仕様の一対のコンデンサ素子からなるものであることをさらに特徴としていてもよい。また、その場合には、上記本発明に基づくコンデンサ素子の実装方法は、上記一対のコンデンサ素子に印加される電圧の絶対値の和が常時略一定となるように、当該一対のコンデンサ素子を上記配線基板に実装することをさらに特徴としていてもよい。   The capacitor element mounting method according to the present invention may be further characterized in that the capacitor element group is composed of a pair of capacitor elements having equivalent specifications. In such a case, the capacitor element mounting method according to the present invention may be configured so that the sum of absolute values of voltages applied to the pair of capacitor elements is always substantially constant. It may be further characterized by being mounted on a wiring board.

本発明によれば、厚みが増大することを防止しつつ騒音が低減できる回路基板とすることができ、また、回路基板の厚みが増大することが防止できるとともに騒音が低減できるコンデンサ素子の実装方法とすることができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, it can be set as the circuit board which can reduce a noise, preventing the increase in thickness, and the mounting method of the capacitor | condenser element which can prevent the increase in the thickness of a circuit board and can reduce a noise It can be.

本発明の実施の形態における回路基板に具備される積層セラミックコンデンサの斜視図である。1 is a perspective view of a multilayer ceramic capacitor provided on a circuit board in an embodiment of the present invention. 図1に示す積層セラミックコンデンサの図1中に示すII−II線に沿った断面図である。It is sectional drawing along the II-II line shown in FIG. 1 of the multilayer ceramic capacitor shown in FIG. 図1に示す積層セラミックコンデンサの図1中に示すIII−III線に沿った断面図である。It is sectional drawing along the III-III line | wire shown in FIG. 1 of the multilayer ceramic capacitor shown in FIG. 図1に示す積層セラミックコンデンサの積層体に電圧印加時において生じる歪みをシミュレーションした結果を示す図である。It is a figure which shows the result of having simulated the distortion which arises at the time of a voltage application to the laminated body of the laminated ceramic capacitor shown in FIG. 図1に示す積層セラミックコンデンサを配線基板に対して実装した第1実装構造を示す模式正面図である。It is a model front view which shows the 1st mounting structure which mounted the multilayer ceramic capacitor shown in FIG. 1 with respect to the wiring board. 図1に示す積層セラミックコンデンサを配線基板に対して実装した第1実装構造を示す模式側面図である。It is a schematic side view which shows the 1st mounting structure which mounted the multilayer ceramic capacitor shown in FIG. 1 with respect to the wiring board. 図1に示す積層セラミックコンデンサを配線基板に対して実装した第2実装構造を示す模式正面図である。It is a model front view which shows the 2nd mounting structure which mounted the multilayer ceramic capacitor shown in FIG. 1 with respect to the wiring board. 図1に示す積層セラミックコンデンサを配線基板に対して実装した第2実装構造を示す模式側面図である。It is a schematic side view which shows the 2nd mounting structure which mounted the multilayer ceramic capacitor shown in FIG. 1 with respect to the wiring board. 第1構成例に係る回路基板に具備された積層セラミックコンデンサのレイアウトを示す概略斜視図である。It is a schematic perspective view which shows the layout of the multilayer ceramic capacitor with which the circuit board based on the 1st structural example was equipped. 第1構成例に係る回路基板に具備された積層セラミックコンデンサに印加される電圧の波形の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the waveform of the voltage applied to the multilayer ceramic capacitor with which the circuit board which concerns on a 1st structural example was equipped. 第1構成例に係る回路基板およびこれに具備された積層セラミックコンデンサに生じる経時的な応力の変化を模式的に示した図である。It is the figure which showed typically the change of the stress which arises in the circuit board which concerns on a 1st structural example, and the multilayer ceramic capacitor with which it was equipped with time. 第1構成例に係る回路基板に具備された積層セラミックコンデンサに印加される電圧の波形の他の一例を示す図である。It is a figure which shows another example of the waveform of the voltage applied to the multilayer ceramic capacitor with which the circuit board which concerns on a 1st structural example was equipped. 第1構成例に係る回路基板に具備された積層セラミックコンデンサに印加される電圧の波形のさらに他の一例を示す図である。It is a figure which shows another example of the waveform of the voltage applied to the multilayer ceramic capacitor with which the circuit board which concerns on a 1st structural example was equipped. 第2構成例に係る回路基板に具備された積層セラミックコンデンサのレイアウトおよび当該積層セラミックコンデンサに生じる経時的な応力の変化を模式的に示した図である。It is the figure which showed typically the layout of the multilayer ceramic capacitor with which the circuit board based on the 2nd structural example was equipped, and the change of the stress with time which arises in the said multilayer ceramic capacitor. 第3構成例に係る回路基板に具備された積層セラミックコンデンサのレイアウトを模式的に示した図である。It is the figure which showed typically the layout of the multilayer ceramic capacitor with which the circuit board based on the 3rd structural example was equipped. 第4構成例に係る回路基板に具備された積層セラミックコンデンサのレイアウトおよび当該積層セラミックコンデンサに生じる経時的な応力の変化を模式的に示した図である。It is the figure which showed typically the layout of the multilayer ceramic capacitor with which the circuit board based on the 4th structural example was equipped, and the change of the stress with time which arises in the said multilayer ceramic capacitor. 第5構成例に係る回路基板に具備された積層セラミックコンデンサのレイアウトおよび当該積層セラミックコンデンサに生じる経時的な応力の変化を模式的に示した図である。It is the figure which showed typically the layout of the multilayer ceramic capacitor with which the circuit board based on the 5th structural example was equipped, and the change of the stress with time which arises in the said multilayer ceramic capacitor. 第6構成例に係る回路基板に具備された積層セラミックコンデンサのレイアウトを模式的に示した図である。It is the figure which showed typically the layout of the multilayer ceramic capacitor with which the circuit board based on the 6th structural example was equipped. 第7構成例に係る回路基板に具備された積層セラミックコンデンサのレイアウトおよび当該積層セラミックコンデンサに生じる経時的な応力の変化を模式的に示した図である。It is the figure which showed typically the layout of the multilayer ceramic capacitor with which the circuit board based on the 7th structural example was equipped, and the change of the stress with time which arises in the said multilayer ceramic capacitor. 第7構成例に係る回路基板に具備された積層セラミックコンデンサに印加される電圧の波形の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the waveform of the voltage applied to the multilayer ceramic capacitor with which the circuit board based on the 7th structural example was equipped. 第8構成例に係る回路基板に具備された積層セラミックコンデンサのレイアウトおよび当該積層セラミックコンデンサに生じる経時的な応力の変化を模式的に示した図である。It is the figure which showed typically the layout of the multilayer ceramic capacitor with which the circuit board based on the 8th structural example was equipped, and the change of the stress with time which arises in the said multilayer ceramic capacitor. 第8構成例に係る回路基板に具備された積層セラミックコンデンサに印加される電圧の波形の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the waveform of the voltage applied to the multilayer ceramic capacitor with which the circuit board based on the 8th structural example was equipped.

以下、本発明の実施の形態について、図を参照して詳細に説明する。本発明が適用されて実装されるコンデンサ素子としては、誘電体材料としてセラミックス材料を使用した積層セラミックコンデンサや、誘電体材料として樹脂フィルムを使用した積層型金属化フィルムコンデンサ等が挙げられるが、以下に示す実施の形態においては、このうちの積層セラミックコンデンサを例示して説明を行なう。なお、以下に示す実施の形態においては、同一のまたは共通する部分について図中同一の符号を付し、その説明は繰り返さない。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. Examples of the capacitor element to which the present invention is applied include a multilayer ceramic capacitor using a ceramic material as a dielectric material and a multilayer metallized film capacitor using a resin film as a dielectric material. In the embodiment shown in FIG. 1, the multilayer ceramic capacitor will be described as an example. In the following embodiments, the same or common parts are denoted by the same reference numerals in the drawings, and description thereof will not be repeated.

図1は、本発明の実施の形態における回路基板に具備される積層セラミックコンデンサの斜視図である。図2は、図1に示す積層セラミックコンデンサの図1中に示すII−II線に沿った断面図であり、図3は、図1に示す積層セラミックコンデンサの図1中に示すIII−III線に沿った断面図である。まず、これら図1ないし図3を参照して、本実施の形態における回路基板に具備される積層セラミックコンデンサについて説明する。   FIG. 1 is a perspective view of a multilayer ceramic capacitor provided on a circuit board according to an embodiment of the present invention. 2 is a cross-sectional view of the multilayer ceramic capacitor shown in FIG. 1 taken along the line II-II shown in FIG. 1, and FIG. 3 is a cross-sectional view of the multilayer ceramic capacitor shown in FIG. FIG. First, with reference to these FIG. 1 thru | or FIG. 3, the multilayer ceramic capacitor with which the circuit board in this Embodiment is equipped is demonstrated.

図1ないし図3に示すように、積層セラミックコンデンサ10は、全体として略直方体形状を有する電子部品であり、積層体11と一対の外部電極14とを有している。   As shown in FIGS. 1 to 3, the multilayer ceramic capacitor 10 is an electronic component having a substantially rectangular parallelepiped shape as a whole, and includes a multilayer body 11 and a pair of external electrodes 14.

図2および図3に示すように、積層体11は、所定の方向に沿って交互に積層された誘電体層12および内部電極層13にて構成されている。誘電体層12は、たとえばチタン酸バリウムを主成分とするセラミックス材料にて形成されている。また、誘電体層12は、後述するセラミックスシートの原料となるセラミックス粉末の副成分としてのMn化合物、Mg化合物、Si化合物、Co化合物、Ni化合物、希土類化合物等を含んでいてもよい。一方、内部電極層13は、たとえばNi、Cu、Ag、Pd、Ag−Pd合金、Au等に代表される金属材料にて形成されている。   As shown in FIGS. 2 and 3, the multilayer body 11 includes dielectric layers 12 and internal electrode layers 13 that are alternately laminated along a predetermined direction. Dielectric layer 12 is formed of, for example, a ceramic material mainly composed of barium titanate. In addition, the dielectric layer 12 may contain a Mn compound, Mg compound, Si compound, Co compound, Ni compound, rare earth compound, or the like as a subcomponent of a ceramic powder that is a raw material of a ceramic sheet described later. On the other hand, the internal electrode layer 13 is formed of a metal material typified by Ni, Cu, Ag, Pd, an Ag—Pd alloy, Au, or the like.

積層体11は、誘電体層12となるセラミックスシート(いわゆるグリーンシート)の表面に内部電極層13となる導電性ペーストが印刷された素材シートを複数準備し、これら複数の素材シートを積層して圧着および焼成することによって製作される。   The laminate 11 is prepared by preparing a plurality of material sheets on which a conductive paste to be the internal electrode layer 13 is printed on the surface of a ceramic sheet (so-called green sheet) to be the dielectric layer 12, and laminating the plurality of material sheets. Manufactured by crimping and firing.

なお、誘電体層12の材質は、上述したチタン酸バリウムを主成分とするセラミックス材料に限られず、他の高誘電率のセラミックス材料(たとえば、CaTiO、SrTiO、CaZrO等を主成分とするもの)を誘電体層12の材質として選択してもよい。また、内部電極層13の材質も、上述した金属材料に限られず、他の導電材料を内部電極層13の材質として選択してもよい。 The material of the dielectric layer 12 is not limited to the above-mentioned ceramic material mainly composed of barium titanate, and other high dielectric constant ceramic materials (for example, CaTiO 3 , SrTiO 3 , CaZrO 3, etc.) are mainly used. May be selected as the material of the dielectric layer 12. Further, the material of the internal electrode layer 13 is not limited to the metal material described above, and other conductive materials may be selected as the material of the internal electrode layer 13.

図1および図2に示すように、一対の外部電極14は、積層体11の所定方向の両端部の表面を覆うように互いに離間して設けられている。一対の外部電極14は、それぞれ導電膜にて構成されている。   As shown in FIGS. 1 and 2, the pair of external electrodes 14 are provided so as to be separated from each other so as to cover the surfaces of both end portions in a predetermined direction of the multilayer body 11. The pair of external electrodes 14 are each composed of a conductive film.

一対の外部電極14は、たとえば焼結金属層とめっき層の積層膜にて構成される。焼結金属層は、たとえばCu、Ni、Ag、Pd、Ag−Pd合金、Au等のペーストを焼き付けることで形成される。めっき層は、たとえばNiめっき層とこれを覆うSnめっき層とによって構成される。めっき層は、これに代えてCuめっき層やAuめっき層であってもよい。また、一対の外部電極14は、めっき層のみによって構成されていてもよい。   The pair of external electrodes 14 is composed of a laminated film of a sintered metal layer and a plating layer, for example. A sintered metal layer is formed by baking pastes, such as Cu, Ni, Ag, Pd, an Ag-Pd alloy, Au, for example. A plating layer is comprised by the Ni plating layer and the Sn plating layer which covers this, for example. Instead of this, the plated layer may be a Cu plated layer or an Au plated layer. Further, the pair of external electrodes 14 may be constituted only by a plating layer.

さらには、一対の外部電極14として、導電性樹脂ペーストを利用することも可能である。一対の外部電極14として導電性樹脂ペーストを利用した場合には、導電性樹脂ペーストに含まれる樹脂成分が積層体11において発生した振動を吸収する効果を発揮するため、積層体11から外部に伝播する振動を効果的に減衰させることが可能になり、騒音の低減に有利である。   Further, a conductive resin paste can be used as the pair of external electrodes 14. When a conductive resin paste is used as the pair of external electrodes 14, the resin component contained in the conductive resin paste exhibits an effect of absorbing vibration generated in the multilayer body 11, so that it propagates from the multilayer body 11 to the outside. It is possible to effectively attenuate the vibrations that occur, which is advantageous in reducing noise.

図2に示すように、積層方向に沿って誘電体層12を挟んで隣り合う一対の内部電極層13のうちの一方は、積層セラミックコンデンサ10の内部において一対の外部電極14のうちの一方に電気的に接続されており、積層方向に沿って誘電体層12を挟んで隣り合う一対の内部電極層13のうちの他方は、積層セラミックコンデンサ10の内部において一対の外部電極14のうちの他方に電気的に接続されている。これにより、一対の外部電極14間は、複数のコンデンサ要素が電気的に並列に接続された状態となっている。   As shown in FIG. 2, one of the pair of internal electrode layers 13 adjacent to each other with the dielectric layer 12 sandwiched in the stacking direction is connected to one of the pair of external electrodes 14 inside the multilayer ceramic capacitor 10. The other of the pair of internal electrode layers 13 that are electrically connected and are adjacent to each other with the dielectric layer 12 sandwiched in the stacking direction is the other of the pair of external electrodes 14 in the multilayer ceramic capacitor 10. Is electrically connected. As a result, a plurality of capacitor elements are electrically connected in parallel between the pair of external electrodes 14.

ここで、図1ないし図3に示すように、一対の外部電極14が並ぶ方向を積層セラミックコンデンサ10の長さ方向Lとして定義し、積層体11における誘電体層12と内部電極層13との積層方向を厚み方向Tとして定義し、これら長さ方向Lおよび厚み方向Tのいずれにも直交する方向を幅方向Wとして定義すると、本実施の形態における積層セラミックコンデンサ10は、長さ方向Lに沿った外形寸法が最も長くなるように構成された細長の略直方体形状を有している。   Here, as shown in FIGS. 1 to 3, the direction in which the pair of external electrodes 14 are arranged is defined as the length direction L of the multilayer ceramic capacitor 10, and the dielectric layer 12 and the internal electrode layer 13 in the multilayer body 11 are defined. When the stacking direction is defined as the thickness direction T, and the direction perpendicular to both the length direction L and the thickness direction T is defined as the width direction W, the multilayer ceramic capacitor 10 in the present embodiment is It has an elongated, substantially rectangular parallelepiped shape that is configured such that the outer dimension along it is the longest.

なお、積層セラミックコンデンサ10の長さ方向Lの外形寸法および幅方向Wの外形寸法の代表値としては、たとえば3.2[mm]×1.6[mm]、2.0[mm]×1.25[mm]、1.6[mm]×0.8[mm]、1.0[mm]×0.5[mm]、0.8[mm]×0.4[mm]、0.6[mm]×0.3[mm]、0.4[mm]×0.2[mm]等が挙げられる。   As typical values of the outer dimension in the length direction L and the outer dimension in the width direction W of the multilayer ceramic capacitor 10, for example, 3.2 [mm] × 1.6 [mm], 2.0 [mm] × 1 .25 [mm], 1.6 [mm] × 0.8 [mm], 1.0 [mm] × 0.5 [mm], 0.8 [mm] × 0.4 [mm],. Examples include 6 [mm] × 0.3 [mm], 0.4 [mm] × 0.2 [mm], and the like.

また、略直方体形状の積層セラミックコンデンサ10の6つの主面のうち、長さ方向Lにおいて相対して位置する一対の主面を長さ方向端面15と定義し、厚み方向Tにおいて相対して位置する一対の主面を厚み方向端面16と定義し、幅方向Wにおいて相対して位置する一対の主面を幅方向端面17として定義し、以降の説明においては、当該用語を使用する。   Of the six main surfaces of the substantially rectangular parallelepiped multilayer ceramic capacitor 10, a pair of main surfaces positioned relative to each other in the length direction L are defined as the length direction end surfaces 15, and positioned relative to each other in the thickness direction T. A pair of principal surfaces is defined as a thickness direction end surface 16 and a pair of principal surfaces positioned relative to each other in the width direction W is defined as a width direction end surface 17, and the terminology will be used in the following description.

図4は、図1に示す積層セラミックコンデンサの積層体に電圧印加時において生じる歪みをシミュレーションした結果を示す図である。次に、この図4を参照して、本実施の形態における回路基板に具備される積層セラミックコンデンサに生じ得る歪みについて説明する。   FIG. 4 is a diagram showing a result of simulating distortion generated when a voltage is applied to the multilayer ceramic capacitor body shown in FIG. Next, with reference to this FIG. 4, the distortion which may arise in the multilayer ceramic capacitor with which the circuit board in this Embodiment is equipped is demonstrated.

上述した積層セラミックコンデンサ10の一対の外部電極14に、交流電圧、または、交流成分が重畳した直流電圧が印加されると、積層体11に図4に示す如くの機械的な歪みが発生し、これが積層セラミックコンデンサ10の歪みとなる。   When an AC voltage or a DC voltage on which an AC component is superimposed is applied to the pair of external electrodes 14 of the multilayer ceramic capacitor 10 described above, mechanical distortion as shown in FIG. This is a distortion of the multilayer ceramic capacitor 10.

図4に示すように、電圧印加時においては、厚み方向Tに沿って積層体11が図中において矢印ARにて示すように外側に向けて大きく歪む。これに伴い、長さ方向Lに沿って積層体11が図中において矢印ARにて示すように内側に向けて大きく歪み、また幅方向Wに沿って積層体11が図中において矢印ARにて示すように内側に向けて歪む。これに対し、細長の略直方体形状を有する積層体11の角部18においては、歪みは殆ど発生しない。 As shown in FIG. 4, when a voltage is applied, the laminate 11 along the thickness direction T is significantly distorted outwardly as indicated by an arrow AR T in the figure. Accordingly, the arrow AR W laminate 11 along the length L is in the arrow largely distorted inward as indicated by AR L, also laminated body 11 in the drawing along the width direction W in the drawing As shown in, it is distorted inward. On the other hand, almost no distortion occurs in the corner portion 18 of the laminated body 11 having an elongated, substantially rectangular parallelepiped shape.

そのため、積層セラミックコンデンサ10においても、電圧印加時において、同様の歪みが発生することになり、積層セラミックコンデンサ10に印加される電圧の周期に合わせて上述した如くの歪みが繰り返し発生することになる。その結果、積層セラミックコンデンサ10を具備した回路基板においては、当該積層セラミックコンデンサ10が振動源となり、当該振動が配線基板に伝播することによって回路基板が振動し、結果として騒音が発生することになる。   Therefore, in the multilayer ceramic capacitor 10, the same distortion occurs when a voltage is applied, and the above-described distortion repeatedly occurs in accordance with the period of the voltage applied to the multilayer ceramic capacitor 10. . As a result, in the circuit board provided with the multilayer ceramic capacitor 10, the multilayer ceramic capacitor 10 serves as a vibration source, and the circuit board vibrates as a result of propagation of the vibration to the wiring board, resulting in noise. .

ここで、本実施の形態における積層セラミックコンデンサ10の実装構造としては、後述する第1実装構造および第2実装構造の2種類が想定される。第1実装構造は、積層セラミックコンデンサ10の厚み方向Tが回路基板の実装面の法線方向と略平行となるように積層セラミックコンデンサ10が配線基板に実装される実装構造であり、第2実装構造は、積層セラミックコンデンサ10の厚み方向Tが回路基板の実装面の法線方向と略直交することとなるように積層セラミックコンデンサ10が配線基板に実装される実装構造である。   Here, as the mounting structure of the multilayer ceramic capacitor 10 in the present embodiment, two types of structures, a first mounting structure and a second mounting structure described later, are assumed. The first mounting structure is a mounting structure in which the multilayer ceramic capacitor 10 is mounted on the wiring board so that the thickness direction T of the multilayer ceramic capacitor 10 is substantially parallel to the normal direction of the mounting surface of the circuit board. The structure is a mounting structure in which the multilayer ceramic capacitor 10 is mounted on the wiring board so that the thickness direction T of the multilayer ceramic capacitor 10 is substantially orthogonal to the normal direction of the mounting surface of the circuit board.

図5および図6は、図1に示す積層セラミックコンデンサを配線基板に対して実装した第1実装構造を示す模式正面図および模式側面図である。また、図7および図8は、図1に示す積層セラミックコンデンサを配線基板に対して実装した第2実装構造を示す模式正面図および模式側面図である。次に、これら図5ないし図8を参照して、第1実装構造および第2実装構造を採用したそれぞれの場合において、積層セラミックコンデンサの歪みが回路基板に振動を生じさせるメカニズムについてより詳細に説明する。   5 and 6 are a schematic front view and a schematic side view showing a first mounting structure in which the multilayer ceramic capacitor shown in FIG. 1 is mounted on a wiring board. 7 and 8 are a schematic front view and a schematic side view showing a second mounting structure in which the multilayer ceramic capacitor shown in FIG. 1 is mounted on a wiring board. Next, with reference to FIGS. 5 to 8, the mechanism in which the distortion of the multilayer ceramic capacitor causes vibration in the circuit board in each case where the first mounting structure and the second mounting structure are adopted will be described in more detail. To do.

なお、以下においては、第1実装構造にて配線基板に実装された積層セラミックコンデンサ10と、第2実装構造にて配線基板に実装された積層セラミックコンデンサ10とを区別するために、前者の積層セラミックコンデンサを符号10Aとして表わし、後者の積層セラミックコンデンサを符号10Bとして表わす。   In the following, in order to distinguish between the multilayer ceramic capacitor 10 mounted on the wiring board in the first mounting structure and the multilayer ceramic capacitor 10 mounted on the wiring board in the second mounting structure, the former multilayer capacitor is used. The ceramic capacitor is represented by reference numeral 10A, and the latter multilayer ceramic capacitor is represented by reference numeral 10B.

図5ないし図8に示すように、配線基板2は、その一対の主表面のうちの少なくとも一方に導電パターンが形成された絶縁性の基板からなる。配線基板2の材質としては、エポキシ樹脂等の樹脂材料やアルミナ等のセラミックス材料からなるもの、あるいはこれらに無機材料または有機材料からなるフィラーや織布等が添加されたもの等を用いることができる。一般的には、配線基板2としては、エポキシ樹脂からなる基材にガラス製の織布が添加されたガラスエポキシ基板が好適に利用される。   As shown in FIGS. 5 to 8, the wiring substrate 2 is made of an insulating substrate having a conductive pattern formed on at least one of the pair of main surfaces. As a material of the wiring board 2, a material made of a resin material such as an epoxy resin, a ceramic material such as alumina, or a material in which a filler or a woven fabric made of an inorganic material or an organic material is added, or the like can be used. . Generally, as the wiring board 2, a glass epoxy board in which a glass woven fabric is added to a base material made of an epoxy resin is preferably used.

配線基板2の主表面には、互いに離間して位置するように一対のランド3が設けられている。一対のランド3は、上述した導電パターンの一部に該当し、積層セラミックコンデンサ10A,10Bの一対の外部電極14に対応した大きさを有している。なお、一対のランド3の材質としては、各種の導電材料が利用できるが、一般的には銅箔等の金属材料が好適に利用される。   A pair of lands 3 are provided on the main surface of the wiring board 2 so as to be spaced apart from each other. The pair of lands 3 correspond to a part of the conductive pattern described above and have a size corresponding to the pair of external electrodes 14 of the multilayer ceramic capacitors 10A and 10B. In addition, as a material of a pair of land 3, various conductive materials can be utilized, but generally metal materials, such as copper foil, are utilized suitably.

積層セラミックコンデンサ10A,10Bの一対の外部電極14と、配線基板2に設けられた一対のランド3とは、それぞれ導電性の接合部材6によって接合されている。接合部材6としては、たとえば導電性接着剤や半田が利用できる。ここで、接合部材6として、導電性接着剤を利用した場合には、導電性接着剤に含まれる樹脂成分が積層セラミックコンデンサ10A,10Bにおいて発生した振動を吸収する効果を発揮するため、積層セラミックコンデンサ10A,10Bから外部に伝播する振動を効果的に減衰させることが可能になり、騒音の低減に有利である。   The pair of external electrodes 14 of the multilayer ceramic capacitors 10 </ b> A and 10 </ b> B and the pair of lands 3 provided on the wiring board 2 are joined by a conductive joining member 6. As the joining member 6, for example, a conductive adhesive or solder can be used. Here, when a conductive adhesive is used as the joining member 6, the resin component contained in the conductive adhesive exhibits an effect of absorbing vibrations generated in the multilayer ceramic capacitors 10 </ b> A and 10 </ b> B. It becomes possible to effectively attenuate the vibration propagating from the capacitors 10A and 10B to the outside, which is advantageous in reducing noise.

積層セラミックコンデンサ10A,10Bの配線基板2への実装に際しては、予め配線基板2に設けられたランド3上にスクリーン印刷等によって導電性接着剤または半田ペーストが塗布され、その上に積層セラミックコンデンサ10A,10Bが載置された状態で、これがリフロー炉に投入されることによって行なわれる。これにより、接合部材6にフィレットが形成され、積層セラミックコンデンサ10A,10Bが配線基板2に実装されることになる。   When the multilayer ceramic capacitors 10A and 10B are mounted on the wiring board 2, a conductive adhesive or solder paste is applied to the lands 3 provided in advance on the wiring board 2 by screen printing or the like, and the multilayer ceramic capacitor 10A is applied thereon. , 10B is placed in a reflow furnace. As a result, fillets are formed on the joining member 6, and the multilayer ceramic capacitors 10 </ b> A and 10 </ b> B are mounted on the wiring board 2.

図5および図6に示すように、第1実装構造を採用した場合には、配線基板2の主表面と略直交するように積層セラミックコンデンサ10Aの厚み方向Tが位置し、配線基板2の主表面と略平行となるように積層セラミックコンデンサ10Aの長さ方向Lおよび幅方向Wが位置することになる。これにより、積層セラミックコンデンサ10Aの一対の厚み方向端面16のうちの一方が、配線基板2の主表面と対面して位置することとなる。   As shown in FIGS. 5 and 6, when the first mounting structure is adopted, the thickness direction T of the multilayer ceramic capacitor 10 </ b> A is located so as to be substantially orthogonal to the main surface of the wiring substrate 2, and The length direction L and the width direction W of the multilayer ceramic capacitor 10A are positioned so as to be substantially parallel to the surface. As a result, one of the pair of thickness direction end faces 16 of the multilayer ceramic capacitor 10 </ b> A is located facing the main surface of the wiring board 2.

図5に示すように、この状態において積層セラミックコンデンサ10Aに電圧が印加されると、積層体11が図中において矢印ARにて示すように内側に向けて大きく歪み、これに伴って積層セラミックコンデンサ10Aの一対の長さ方向端面15に内側に向けて圧縮応力が作用する。そのため、積層セラミックコンデンサ10Aは、長さ方向Lに沿って長さ方向端面15が互いに近づく方向に向けて圧縮する。 As shown in FIG. 5, when a voltage multilayer ceramic capacitor 10A in this state is applied, greatly distorted inward as shown laminate 11 by an arrow AR L in the figure, the laminated ceramic along with this A compressive stress acts inward on the pair of longitudinal end faces 15 of the capacitor 10A. Therefore, the multilayer ceramic capacitor 10A is compressed along the length direction L in the direction in which the length direction end faces 15 approach each other.

これにより、外部電極14に接合された接合部材6および当該接合部材6に接合されたランド3を介して配線基板2にも応力が作用することになり、図5中において矢印A1にて示す方向に向けて配線基板2が撓むことになる。なお、その際、積層セラミックコンデンサ10Aの長さ方向Lに沿った積層セラミックコンデンサ10Aの両外側の位置において配線基板2が、上述したように矢印A1方向に向けて撓むことになるため、積層セラミックコンデンサ10Aに対面する部分の配線基板2は、図5中において矢印A2にて示す方向に向けて撓みが発生する。   As a result, the stress also acts on the wiring board 2 through the bonding member 6 bonded to the external electrode 14 and the land 3 bonded to the bonding member 6, and the direction indicated by the arrow A1 in FIG. The wiring board 2 bends toward the surface. At that time, since the wiring board 2 bends in the direction of the arrow A1 as described above at the positions on both outer sides of the multilayer ceramic capacitor 10A along the length direction L of the multilayer ceramic capacitor 10A, The portion of the wiring board 2 facing the ceramic capacitor 10A bends in the direction indicated by the arrow A2 in FIG.

また、図6に示すように、積層セラミックコンデンサ10Aに電圧が印加されると、積層体11の外部電極14が設けられた部分が、図中において矢印ARにて示すように内側に向けて歪むとともに、図中において矢印ARにて示すように外側に向けて歪み、これに伴って積層セラミックコンデンサ10Aの一対の幅方向端面17に内側に向けて圧縮応力が作用するとともに、積層セラミックコンデンサ10Aの一対の厚み方向端面16に外側に向けて伸長応力が作用する。そのため、積層セラミックコンデンサ10Aの外部電極14が設けられた部分は、幅方向Wに沿って幅方向端面17が互いに近づく方向に向けて圧縮するとともに、厚み方向Tに沿って厚み方向端面16が互いに遠ざかる方向に向けて伸長する。 Further, as shown in FIG. 6, when a voltage is applied to the multilayer ceramic capacitor 10A, the portion where the external electrodes 14 are provided in the laminated body 11, inward as indicated by an arrow AR W in the drawings with distorted, distortion outward as indicated by an arrow AR T in the figure, together with the compressive stress acts toward the inside pair of widthwise end face 17 of the multilayer ceramic capacitor 10A accordingly, the multilayer ceramic capacitor An extensional stress acts outwardly on the pair of thickness direction end faces 16 of 10A. Therefore, the portion of the multilayer ceramic capacitor 10A where the external electrode 14 is provided is compressed along the width direction W in the direction in which the width direction end faces 17 approach each other, and the thickness direction end faces 16 along the thickness direction T are mutually compressed. Extends away from you.

これにより、外部電極14に接合された接合部材6および当該接合部材6に接合されたランド3を介して配線基板2にも応力が作用することになり、図6中において矢印A3および矢印A4にて示す方向に向けて配線基板2が撓むことになる。   As a result, stress also acts on the wiring board 2 via the bonding member 6 bonded to the external electrode 14 and the land 3 bonded to the bonding member 6, and the arrows A 3 and A 4 in FIG. The wiring board 2 bends in the direction shown.

一方、積層セラミックコンデンサ10Aに印加されていた電圧が除去された場合には、積層セラミックコンデンサ10Aに生じていた歪みもすべて取り除かれることになるため、当該状態においては、撓んでいた配線基板2が元の状態に復帰することになる。   On the other hand, when the voltage applied to the multilayer ceramic capacitor 10A is removed, all the distortions that have occurred in the multilayer ceramic capacitor 10A are also removed. It will return to its original state.

したがって、積層セラミックコンデンサ10Aに印加される電圧の周期に合わせて、上述したメカニズムに基づいて、配線基板2が撓んだ状態と撓んでいない状態との間で繰り返し変形することになるため、これに伴って回路基板が周期的に振動することになり、何ら対策を施していない場合には、結果として騒音が発生することになる。   Therefore, the wiring board 2 is repeatedly deformed between the bent state and the unbent state based on the mechanism described above in accordance with the period of the voltage applied to the multilayer ceramic capacitor 10A. As a result, the circuit board vibrates periodically, and noise is generated as a result when no measures are taken.

図7および図8に示すように、第2実装構造を採用した場合には、配線基板2の主表面と略直交するように積層セラミックコンデンサ10Bの幅方向Wが位置し、配線基板2の主表面と略平行となるように積層セラミックコンデンサ10Bの長さ方向Lおよび厚み方向Tが位置することになる。これにより、積層セラミックコンデンサ10Bの一対の幅方向端面17のうちの一方が、配線基板2の主表面と対面して位置することとなる。   As shown in FIGS. 7 and 8, when the second mounting structure is adopted, the width direction W of the multilayer ceramic capacitor 10 </ b> B is positioned so as to be substantially orthogonal to the main surface of the wiring board 2. The length direction L and the thickness direction T of the multilayer ceramic capacitor 10B are positioned so as to be substantially parallel to the surface. Thereby, one of the pair of width direction end faces 17 of the multilayer ceramic capacitor 10 </ b> B is positioned to face the main surface of the wiring board 2.

図7に示すように、この状態において積層セラミックコンデンサ10Bに電圧が印加されると、積層体11が図中において矢印ARにて示すように内側に向けて大きく歪み、これに伴って積層セラミックコンデンサ10Bの一対の長さ方向端面15に内側に向けて圧縮応力が作用する。そのため、積層セラミックコンデンサ10Bは、長さ方向Lに沿って長さ方向端面15が互いに近づく方向に向けて圧縮する。 As shown in FIG. 7, when a voltage is applied to the multilayer ceramic capacitor 10B in this state, the laminated body 11 is greatly distorted inward as indicated by an arrow AR L in the figure, the laminated ceramic along with this A compressive stress acts inward on the pair of longitudinal end faces 15 of the capacitor 10B. Therefore, the multilayer ceramic capacitor 10B is compressed along the length direction L in the direction in which the length direction end faces 15 approach each other.

これにより、外部電極14に接合された接合部材6および当該接合部材6に接合されたランド3を介して配線基板2にも応力が作用することになり、図7中において矢印B1にて示す方向に向けて配線基板2が撓むことになる。なお、その際、積層セラミックコンデンサ10Bの長さ方向Lに沿った積層セラミックコンデンサ10Bの両外側の位置において配線基板2が、上述したように矢印B1方向に向けて撓むことになるため、積層セラミックコンデンサ10Bに対面する部分の配線基板2は、図7中において矢印B2にて示す方向に向けて撓みが発生する。   As a result, stress is also applied to the wiring board 2 through the bonding member 6 bonded to the external electrode 14 and the land 3 bonded to the bonding member 6, and the direction indicated by the arrow B1 in FIG. The wiring board 2 bends toward the surface. At that time, since the wiring board 2 bends in the direction of the arrow B1 as described above at the positions on both outer sides of the multilayer ceramic capacitor 10B along the length direction L of the multilayer ceramic capacitor 10B. The portion of the wiring board 2 facing the ceramic capacitor 10B bends in the direction indicated by the arrow B2 in FIG.

また、図8に示すように、積層セラミックコンデンサ10Bに電圧が印加されると、積層体11の外部電極14が設けられた部分が、図中において矢印ARにて示すように内側に向けて歪むとともに、図中において矢印ARにて示すように外側に向けて歪み、これに伴って積層セラミックコンデンサ10Bの一対の幅方向端面17に内側に向けて圧縮応力が作用するとともに、積層セラミックコンデンサ10Bの一対の厚み方向端面16に外側に向けて伸長応力が作用する。そのため、積層セラミックコンデンサ10Bの外部電極14が設けられた部分は、幅方向Wに沿って幅方向端面17が互いに近づく方向に向けて圧縮するとともに、厚み方向Tに沿って厚み方向端面16が互いに遠ざかる方向に向けて伸長する。 Further, as shown in FIG. 8, when a voltage is applied to the multilayer ceramic capacitor 10B, a portion external electrodes 14 are provided in the laminated body 11, inward as indicated by an arrow AR W in the drawings with distorted, distortion outward as indicated by an arrow AR T in the figure, together with the compressive stress acts toward the inside pair of widthwise end face 17 of the multilayer ceramic capacitor 10B accordingly, the multilayer ceramic capacitor An extensional stress acts on the pair of thickness direction end faces 16 of 10B toward the outside. Therefore, the portion of the multilayer ceramic capacitor 10B where the external electrode 14 is provided is compressed along the width direction W in the direction in which the width direction end faces 17 approach each other, and the thickness direction end faces 16 are aligned with each other along the thickness direction T. Extends away from you.

これにより、外部電極14に接合された接合部材6および当該接合部材6に接合されたランド3を介して配線基板2にも応力が作用することになり、図8中において矢印A3および矢印A4にて示す方向に向けて配線基板2が撓むことになる。   As a result, stress also acts on the wiring board 2 via the bonding member 6 bonded to the external electrode 14 and the land 3 bonded to the bonding member 6, and the arrows A 3 and A 4 in FIG. The wiring board 2 bends in the direction shown.

一方、積層セラミックコンデンサ10Bに印加されていた電圧が除去された場合には、積層セラミックコンデンサ10Bに生じていた歪みもすべて取り除かれることになるため、当該状態においては、撓んでいた配線基板2が元の状態に復帰することになる。   On the other hand, when the voltage applied to the multilayer ceramic capacitor 10B is removed, all the distortion generated in the multilayer ceramic capacitor 10B is also removed. It will return to its original state.

したがって、積層セラミックコンデンサ10Bに印加される電圧の周期に合わせて、上述したメカニズムに基づいて、配線基板2が撓んだ状態と撓んでいない状態との間で繰り返し変形することになるため、これに伴って回路基板が周期的に振動することになり、何ら対策を施していない場合には、結果として騒音が発生することになる。   Therefore, the wiring board 2 is repeatedly deformed between the bent state and the unbent state based on the mechanism described above in accordance with the period of the voltage applied to the multilayer ceramic capacitor 10B. As a result, the circuit board vibrates periodically, and noise is generated as a result when no measures are taken.

そのため、本実施の形態における回路基板および積層セラミックコンデンサの実装方法は、複数の積層セラミックコンデンサが配線基板に実装される場合において、当該複数の積層セラミックコンデンサに含まれる複数の特定の積層セラミックコンデンサからなる積層セラミックコンデンサ群に着目し、当該積層セラミックコンデンサ群に含まれる複数の積層セラミックコンデンサに電圧が印加された場合に生じることとなる歪みの大きさや向きを考慮に含めたレイアウトを採用することにより、回路基板の厚みの増大を避けつつ騒音の低減を図るものである。   Therefore, the mounting method of the circuit board and the multilayer ceramic capacitor in the present embodiment is based on a plurality of specific multilayer ceramic capacitors included in the multilayer ceramic capacitors when the multilayer ceramic capacitors are mounted on the wiring board. By paying attention to the multilayer ceramic capacitor group and adopting a layout that takes into account the magnitude and direction of distortion that will occur when a voltage is applied to multiple multilayer ceramic capacitors included in the multilayer ceramic capacitor group The noise is reduced while avoiding an increase in the thickness of the circuit board.

(第1構成例)
図9は、本実施の形態に基づいた第1構成例に係る回路基板に具備された積層セラミックコンデンサのレイアウトを示す概略斜視図であり、図10は、当該第1構成例に係る回路基板に具備された積層セラミックコンデンサに印加される電圧の波形の一例を示す図である。また、図11は、当該第1構成例に係る回路基板およびこれに具備された積層セラミックコンデンサに生じる経時的な応力の変化を模式的に示した図である。
(First configuration example)
FIG. 9 is a schematic perspective view showing a layout of the multilayer ceramic capacitor provided in the circuit board according to the first configuration example based on the present embodiment, and FIG. 10 is a circuit diagram according to the first configuration example. It is a figure which shows an example of the waveform of the voltage applied to the provided multilayer ceramic capacitor. FIG. 11 is a diagram schematically showing a change in stress over time generated in the circuit board according to the first configuration example and the multilayer ceramic capacitor provided in the circuit board.

なお、図11(A)においては、図10に示す時刻txにおいて生じる応力のうち、複数の積層セラミックコンデンサが並ぶ方向において生じる応力のみを示しており、図11(B)においては、図10に示す時刻tyにおいて生じる応力をのうち、複数の積層セラミックコンデンサが並ぶ方向において生じる応力のみを示している。   11A shows only the stress generated in the direction in which the plurality of multilayer ceramic capacitors are arranged among the stresses generated at time tx shown in FIG. 10, and FIG. 11B shows the stress generated in FIG. Of the stresses generated at the time ty shown, only the stresses generated in the direction in which the plurality of multilayer ceramic capacitors are arranged are shown.

本第1構成例は、上述した積層セラミックコンデンサ群に含まれる複数の積層セラミックコンデンサとして、同等の仕様の一対の積層セラミックコンデンサに着目したものである。   This first configuration example focuses on a pair of multilayer ceramic capacitors having the same specifications as the plurality of multilayer ceramic capacitors included in the above-described multilayer ceramic capacitor group.

図9、図11(A)および図11(B)に示すように、第1構成例に係る回路基板1Aにおいては、当該回路基板1Aの領域R内において、一対の積層セラミックコンデンサである第1積層セラミックコンデンサ10A1および第2積層セラミックコンデンサ10A2が、配線基板2の主表面と平行な方向に沿って近傍に並んで配置されている。ここで、上述した「近傍」とは、配線基板2に伝播した振動の波長の1/10程度の範囲を意味する。また、より好ましくは、第1積層セラミックコンデンサ10A1および第2積層セラミックコンデンサ10A2が、他の素子(当該他の素子には、他の積層セラミックコンデンサはもとより、積層セラミックコンデンサ以外の他の電子部品も含む)が間に介在することなく並んで配置される。第1積層セラミックコンデンサ10A1および第2積層セラミックコンデンサ10A2は、いずれも上述した第1実装構造が採用されて配線基板2に実装されたものである。   As shown in FIG. 9, FIG. 11A and FIG. 11B, the circuit board 1A according to the first configuration example is a pair of monolithic ceramic capacitors in the region R of the circuit board 1A. Multilayer ceramic capacitor 10 </ b> A <b> 1 and second multilayer ceramic capacitor 10 </ b> A <b> 2 are arranged side by side along a direction parallel to the main surface of wiring substrate 2. Here, the “vicinity” mentioned above means a range of about 1/10 of the wavelength of vibration propagated to the wiring board 2. More preferably, the first monolithic ceramic capacitor 10A1 and the second monolithic ceramic capacitor 10A2 include other elements (in addition to other monolithic ceramic capacitors, other electronic components other than the monolithic ceramic capacitors are also included in the other elements). Are arranged side by side with no interposition. The first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the second multilayer ceramic capacitor 10A2 are both mounted on the wiring board 2 using the first mounting structure described above.

より詳細には、図11(A)および図11(B)に示すように、第1積層セラミックコンデンサ10A1の厚み方向端面16および第2積層セラミックコンデンサ10A2の厚み方向端面16のうち、配線基板2に対面する方の端面は、第1積層セラミックコンデンサ10A1および第2積層セラミックコンデンサ10A2がいずれも略直方体形状を有しているため、いずれも一対の短辺および一対の長辺を有する略長方形状を有しており、このうちの長辺と平行な方向に延びる直線100上に位置することとなるように、第1積層セラミックコンデンサ10A1および第2積層セラミックコンデンサ10A2が隣り合って並んで配置されている。なお、本第1構成例においては、第1積層セラミックコンデンサ10A1の長さ方向Lと、第2積層セラミックコンデンサ10A2の長さ方向Lとが、互いに同一の方向を向くように配置されている。   More specifically, as shown in FIGS. 11 (A) and 11 (B), among the thickness direction end face 16 of the first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the thickness direction end face 16 of the second multilayer ceramic capacitor 10A2, the wiring board 2 Since both the first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the second multilayer ceramic capacitor 10A2 have a substantially rectangular parallelepiped shape, both end faces facing each other have a substantially rectangular shape having a pair of short sides and a pair of long sides. The first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the second multilayer ceramic capacitor 10A2 are arranged next to each other so as to be positioned on a straight line 100 extending in a direction parallel to the long side. ing. In the first configuration example, the length direction L of the first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the length direction L of the second multilayer ceramic capacitor 10A2 are arranged so as to face the same direction.

この場合、一対の隣り合う第1積層セラミックコンデンサ10A1および第2積層セラミックコンデンサ10A2の対向面は、第1積層セラミックコンデンサ10A1の一対の長さ方向端面15のうちの一方と、第2積層セラミックコンデンサ10A2の一対の長さ方向端面15のうちの一方とによって構成されることになる。そのため、電圧印加時においてこれら対向面にて発生する歪みの向きは、図中において矢印ARで示すように互いに逆向きとなる。 In this case, the opposing surfaces of the pair of adjacent first multilayer ceramic capacitor 10A1 and second multilayer ceramic capacitor 10A2 are one of the pair of longitudinal end faces 15 of the first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the second multilayer ceramic capacitor. It is comprised by one of a pair of length direction end surface 15 of 10A2. Therefore, the orientation of the distortion generated by these opposing surfaces when a voltage is applied becomes opposite to each other as indicated by arrows AR L in the figure.

図9に示すように、配線基板2に実装された第1積層セラミックコンデンサ10A1および第2積層セラミックコンデンサ10A2は、それぞれ配線基板2に設けられたランド3および配線4を介して信号源5に電気的に接続されている。信号源5は、当該回路基板1A中に設けられていてもよいし、回路基板1Aの外部に設けられていてもよい。ここで、第1積層セラミックコンデンサ10A1に電気的に接続された信号源5にて生成される信号と、第2積層セラミックコンデンサ10A2に電気的に接続された信号源5にて生成される信号とは、相互に異なるものとなっている。   As shown in FIG. 9, the first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the second multilayer ceramic capacitor 10A2 mounted on the wiring board 2 are electrically connected to the signal source 5 via lands 3 and wirings 4 provided on the wiring board 2, respectively. Connected. The signal source 5 may be provided in the circuit board 1A, or may be provided outside the circuit board 1A. Here, a signal generated by the signal source 5 electrically connected to the first multilayer ceramic capacitor 10A1, and a signal generated by the signal source 5 electrically connected to the second multilayer ceramic capacitor 10A2. Are different from each other.

具体的には、図10に示すように、第1積層セラミックコンデンサ10A1に印加される電圧の波形は、所定のタイミング(時刻t1,t2,t3,・・・)毎に0[V]と+V[V]との間で電圧が切り替わる矩形波とされており、第2積層セラミックコンデンサ10A2に印加される電圧の波形は、第1積層セラミックコンデンサ10A1に印加される電圧の波形と180度の位相差をもって所定のタイミング(時刻t1,t2,t3,・・・)毎に+V[V]と0[V]との間で電圧が切り替わる矩形波とされている。すなわち、本第1構成例においては、第1積層セラミックコンデンサ10A1に印加される電圧の波形と、第2積層セラミックコンデンサ10A2に印加される電圧の波形とが、振幅が同じで逆位相のものとなっており、そのため、第1積層セラミックコンデンサ10A1に印加される電圧の絶対値および第2積層セラミックコンデンサ10A2に印加される電圧の絶対値の和が、常時略一定となっている。   Specifically, as shown in FIG. 10, the waveform of the voltage applied to the first multilayer ceramic capacitor 10A1 is 0 [V] and + V at every predetermined timing (time t1, t2, t3,...). The voltage waveform applied to the second multilayer ceramic capacitor 10A2 is 180 degrees with the waveform of the voltage applied to the first multilayer ceramic capacitor 10A1. A rectangular wave whose voltage is switched between + V [V] and 0 [V] at every predetermined timing (time t1, t2, t3,...) With a phase difference. That is, in the first configuration example, the waveform of the voltage applied to the first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the waveform of the voltage applied to the second multilayer ceramic capacitor 10A2 have the same amplitude and opposite phases. Therefore, the sum of the absolute value of the voltage applied to the first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the absolute value of the voltage applied to the second multilayer ceramic capacitor 10A2 is always substantially constant.

そのため、図11(A)に示すように、時刻txにおいては、第1積層セラミックコンデンサ10A1にのみ歪みが生じ、第2積層セラミックコンデンサ10A2には歪みが生じないことになり、図11(B)に示すように、時刻tyにおいては、第2積層セラミックコンデンサ10A2にのみ歪みが生じ、第1積層セラミックコンデンサ10A1には歪みが生じないことになる。   Therefore, as shown in FIG. 11 (A), at time tx, only the first multilayer ceramic capacitor 10A1 is distorted, and the second multilayer ceramic capacitor 10A2 is not distorted. As shown, at time ty, distortion occurs only in the second multilayer ceramic capacitor 10A2, and no distortion occurs in the first multilayer ceramic capacitor 10A1.

ここで、上述したように、第1積層セラミックコンデンサ10A1および第2積層セラミックコンデンサ10A2は同等の仕様のものであるため、その静電容量は同じであり、また、当該第1積層セラミックコンデンサ10A1および第2積層セラミックコンデンサ10A2に印加される電圧の波形は、振幅が同じで逆位相のものであるため、振動源としての第1積層セラミックコンデンサ10A1および第2積層セラミックコンデンサ10A2にて発生する振動波も、その振幅が同じで逆位相のものとなる。そのため、第1積層セラミックコンデンサ10A1および第2積層セラミックコンデンサ10A2に発生する歪み量の総和が、常時略一定に保たれることになる。   Here, as described above, since the first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the second multilayer ceramic capacitor 10A2 have the same specifications, their capacitances are the same, and the first multilayer ceramic capacitor 10A1 and Since the waveform of the voltage applied to the second multilayer ceramic capacitor 10A2 has the same amplitude and the opposite phase, the vibration wave generated in the first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the second multilayer ceramic capacitor 10A2 as the vibration source. Also have the same amplitude and opposite phase. Therefore, the total amount of distortion generated in the first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the second multilayer ceramic capacitor 10A2 is always kept substantially constant.

その結果、第1積層セラミックコンデンサ10A1および第2積層セラミックコンデンサ10A2にて発生した振動が伝播することによって配線基板2に生じる、第1積層セラミックコンデンサ10A1および第2積層セラミックコンデンサ10A2が並ぶ方向における撓み変形(すなわち、図11(A)および図11(B)において矢印Cで示す方向に沿った撓み変形)が、これら第1積層セラミックコンデンサ10A1および第2積層セラミックコンデンサ10A2の実装位置近傍の領域R内において、常時一定の撓み量となるため、当該部分の配線基板2が概ね振動することなく定常的に撓んだ状態を保つことになる。   As a result, the bending in the direction in which the first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the second multilayer ceramic capacitor 10A2 are arranged, which occurs in the wiring board 2 due to the propagation of vibrations generated in the first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the second multilayer ceramic capacitor 10A2, is transmitted. The deformation (that is, the bending deformation along the direction indicated by the arrow C in FIGS. 11A and 11B) causes the region R in the vicinity of the mounting position of the first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the second multilayer ceramic capacitor 10A2. In the inside, since the amount of bending is always constant, the wiring board 2 of the part is kept in a state of being bent constantly without substantially vibrating.

なお、上述した「印加される電圧の絶対値の総和が常時略一定」あるいは「歪み量の総和が常時略一定」とは、各々の積層セラミックコンデンサから配線基板に伝播する振動の差を埋める程度の範囲で一定であることを意味している(以下、同じ)。   The above-mentioned “the sum of absolute values of applied voltages is always substantially constant” or “the sum of distortion amounts is always substantially constant” means that the difference in vibration propagating from each multilayer ceramic capacitor to the wiring board is filled. It means that it is constant within the range (hereinafter the same).

したがって、本第1構成例に係る回路基板1Aとすることにより、配線基板2に発生する振動が低減されることになるため、結果として回路基板1Aの厚みを増大させることなく騒音を低減させることができる。また、配線基板2の表裏面に第1積層セラミックコンデンサ10A1および第2積層セラミックコンデンサ10A2を実装するものでもないため、配線基板2の片面のみにしか電子部品を実装できない場合等においてもその適用が可能であり、設計自由度を高く確保しつつ騒音の低減を図ることができる。   Therefore, by using the circuit board 1A according to the first configuration example, vibration generated in the wiring board 2 is reduced. As a result, noise can be reduced without increasing the thickness of the circuit board 1A. Can do. In addition, since the first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the second multilayer ceramic capacitor 10A2 are not mounted on the front and back surfaces of the wiring board 2, the application is possible even when an electronic component can be mounted only on one side of the wiring board 2. It is possible to reduce noise while ensuring a high degree of design freedom.

なお、上記第1構成例においては、第1積層セラミックコンデンサ10A1および第2積層セラミックコンデンサ10A2に印加される電圧の波形を振幅が同じで逆位相の矩形波とした場合を例示したが、これら電圧の波形が相補的な関係にあれば、第1積層セラミックコンデンサ10A1に発生する歪み量と第2積層セラミックコンデンサ10A2に発生する歪み量との和を常時略一定とすることができる。以下、その一例を具体的に例示する。   In the first configuration example, the voltage applied to the first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the second multilayer ceramic capacitor 10A2 is illustrated as a rectangular wave having the same amplitude and opposite phase. If the waveforms are in a complementary relationship, the sum of the amount of distortion generated in the first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the amount of strain generated in the second multilayer ceramic capacitor 10A2 can be made substantially constant at all times. Hereinafter, an example thereof will be specifically exemplified.

図12および図13は、第1構成例に係る回路基板に具備された積層セラミックコンデンサに印加される電圧の波形の他の一例およびさらに他の一例を示す図である。   12 and 13 are diagrams showing another example and still another example of the waveform of the voltage applied to the multilayer ceramic capacitor provided in the circuit board according to the first configuration example.

図12に示す例においては、第1積層セラミックコンデンサ10A1に印加される電圧の波形は、所定のタイミング(時刻t1,t2,t3,・・・)毎に−V[V]と+V[V]との間で電圧が切り替わる矩形波とされており、第2積層セラミックコンデンサ10A2に印加される電圧の波形は、第1積層セラミックコンデンサ10A1に印加される電圧の波形と180度の位相差をもって所定のタイミング(時刻t1,t2,t3,・・・)毎に+V[V]と−V[V]との間で電圧が切り替わる矩形波とされている。すなわち、第1積層セラミックコンデンサ10A1に印加される電圧の波形と、第2積層セラミックコンデンサ10A2に印加される電圧の波形とが、振幅が同じで逆位相のものとなっており、そのため、第1積層セラミックコンデンサ10A1に印加される電圧の絶対値および第2積層セラミックコンデンサ10A2に印加される電圧の絶対値の和が、常時略一定となっている。   In the example shown in FIG. 12, the waveform of the voltage applied to the first multilayer ceramic capacitor 10A1 is −V [V] and + V [V] at predetermined timings (time t1, t2, t3,...). The waveform of the voltage applied to the second multilayer ceramic capacitor 10A2 is predetermined with a phase difference of 180 degrees from the waveform of the voltage applied to the first multilayer ceramic capacitor 10A1. Are square waves whose voltage is switched between + V [V] and -V [V] at each timing (time t1, t2, t3,...). That is, the waveform of the voltage applied to the first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the waveform of the voltage applied to the second multilayer ceramic capacitor 10A2 have the same amplitude and opposite phases. The sum of the absolute value of the voltage applied to the multilayer ceramic capacitor 10A1 and the absolute value of the voltage applied to the second multilayer ceramic capacitor 10A2 is always substantially constant.

このように構成した場合にも、第1積層セラミックコンデンサ10A1に印加される電圧の波形と、第2積層セラミックコンデンサ10A2に印加される電圧の波形とが、相補的な関係にあるため、第1積層セラミックコンデンサ10A1に発生する歪み量と第2積層セラミックコンデンサ10A2に発生する歪み量との和を常時略一定とすることができる。   Even in such a configuration, since the waveform of the voltage applied to the first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the waveform of the voltage applied to the second multilayer ceramic capacitor 10A2 are in a complementary relationship, the first The sum of the amount of strain generated in the multilayer ceramic capacitor 10A1 and the amount of strain generated in the second multilayer ceramic capacitor 10A2 can be made substantially constant at all times.

図13に示す例においては、第1積層セラミックコンデンサ10A1に印加される電圧の波形は、所定のタイミング(時刻t1,t2,t3,・・・)において0V[V]および+V[V]をピークとする正弦波とされており、第2積層セラミックコンデンサ10A2に印加される電圧の波形は、第1積層セラミックコンデンサ10A1に印加される電圧の波形と180度の位相差をもって所定のタイミング(時刻t1,t2,t3,・・・)において+V[V]と0[V]をピークとする正弦波とされている。   In the example shown in FIG. 13, the waveform of the voltage applied to the first multilayer ceramic capacitor 10A1 peaks at 0 V [V] and + V [V] at a predetermined timing (time t1, t2, t3,...). The voltage waveform applied to the second multilayer ceramic capacitor 10A2 has a predetermined timing (time t1) with a phase difference of 180 degrees from the waveform of the voltage applied to the first multilayer ceramic capacitor 10A1. , T2, t3,...) Is a sine wave having peaks at + V [V] and 0 [V].

このように構成した場合にも、第1積層セラミックコンデンサ10A1に印加される電圧の波形と、第2積層セラミックコンデンサ10A2に印加される電圧の波形とが、相補的な関係にあるため、第1積層セラミックコンデンサ10A1に発生する歪み量と第2積層セラミックコンデンサ10A2に発生する歪み量との和を常時略一定とすることができる。   Even in such a configuration, since the waveform of the voltage applied to the first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the waveform of the voltage applied to the second multilayer ceramic capacitor 10A2 are in a complementary relationship, the first The sum of the amount of strain generated in the multilayer ceramic capacitor 10A1 and the amount of strain generated in the second multilayer ceramic capacitor 10A2 can be made substantially constant at all times.

(第2構成例)
図14は、第2構成例に係る回路基板に具備された積層セラミックコンデンサのレイアウトおよび当該積層セラミックコンデンサに生じる経時的な応力の変化を模式的に示した図である。
(Second configuration example)
FIG. 14 is a diagram schematically showing a layout of the multilayer ceramic capacitor provided on the circuit board according to the second configuration example and a change in stress over time generated in the multilayer ceramic capacitor.

本第2構成例は、上記第1構成例と同様に、上述した積層セラミックコンデンサ群に含まれる複数の積層セラミックコンデンサとして、同等の仕様の一対の積層セラミックコンデンサに着目したものである。   Similar to the first configuration example, the second configuration example focuses on a pair of multilayer ceramic capacitors having the same specifications as the plurality of multilayer ceramic capacitors included in the multilayer ceramic capacitor group described above.

図14(A)および図14(B)に示すように、第2構成例に係る回路基板1Bにおいては、当該回路基板1Bの領域R内において、一対の積層セラミックコンデンサである第1積層セラミックコンデンサ10A1および第2積層セラミックコンデンサ10A2が、配線基板2の主表面と平行な方向に沿って近傍に並んで配置されている。ここで、上述した「近傍」とは、配線基板2に伝播した振動の波長の1/10程度の範囲を意味する。また、より好ましくは、第1積層セラミックコンデンサ10A1および第2積層セラミックコンデンサ10A2が、他の素子(当該他の素子には、他の積層セラミックコンデンサはもとより、積層セラミックコンデンサ以外の他の電子部品も含む)が間に介在することなく並んで配置される。第1積層セラミックコンデンサ10A1および第2積層セラミックコンデンサ10A2は、いずれも上述した第1実装構造が採用されて配線基板2に実装されたものである。   As shown in FIGS. 14A and 14B, in the circuit board 1B according to the second configuration example, a first multilayer ceramic capacitor which is a pair of multilayer ceramic capacitors in the region R of the circuit board 1B. 10A1 and second multilayer ceramic capacitor 10A2 are arranged in the vicinity along the direction parallel to the main surface of wiring board 2. Here, the “vicinity” mentioned above means a range of about 1/10 of the wavelength of vibration propagated to the wiring board 2. More preferably, the first monolithic ceramic capacitor 10A1 and the second monolithic ceramic capacitor 10A2 include other elements (in addition to other monolithic ceramic capacitors, other electronic components other than the monolithic ceramic capacitors are also included in the other elements). Are arranged side by side with no interposition. The first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the second multilayer ceramic capacitor 10A2 are both mounted on the wiring board 2 using the first mounting structure described above.

より詳細には、図14(A)および図14(B)に示すように、第1積層セラミックコンデンサ10A1の厚み方向端面16および第2積層セラミックコンデンサ10A2の厚み方向端面16のうち、配線基板2に対面する方の端面は、第1積層セラミックコンデンサ10A1および第2積層セラミックコンデンサ10A2がいずれも略直方体形状を有しているため、いずれも一対の短辺および一対の長辺を有する略長方形状を有しており、このうちの短辺と平行な方向に延びる直線101上に位置することとなるように、第1積層セラミックコンデンサ10A1および第2積層セラミックコンデンサ10A2が隣り合って並んで配置されている。なお、本第2構成例においては、第1積層セラミックコンデンサ10A1の幅方向Wと、第2積層セラミックコンデンサ10A2の幅方向Wとが、互いに同一の方向を向くように配置されている。   More specifically, as shown in FIGS. 14 (A) and 14 (B), among the thickness direction end face 16 of the first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the thickness direction end face 16 of the second multilayer ceramic capacitor 10A2, the wiring board 2 Since both the first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the second multilayer ceramic capacitor 10A2 have a substantially rectangular parallelepiped shape, both end faces facing each other have a substantially rectangular shape having a pair of short sides and a pair of long sides. The first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the second multilayer ceramic capacitor 10A2 are arranged next to each other so as to be positioned on a straight line 101 extending in a direction parallel to the short side of these. ing. In the second configuration example, the width direction W of the first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the width direction W of the second multilayer ceramic capacitor 10A2 are arranged to face the same direction.

この場合、一対の隣り合う第1積層セラミックコンデンサ10A1および第2積層セラミックコンデンサ10A2の対向面は、第1積層セラミックコンデンサ10A1の一対の幅方向端面17のうちの一方と、第2積層セラミックコンデンサ10A2の一対の幅方向端面17のうちの一方とによって構成されることになる。そのため、電圧印加時においてこれら対向面にて発生する歪みの向きは、互いに逆向きとなる。   In this case, the opposing surfaces of the pair of adjacent first multilayer ceramic capacitor 10A1 and second multilayer ceramic capacitor 10A2 are one of the pair of width direction end faces 17 of the first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the second multilayer ceramic capacitor 10A2. And one of the pair of width direction end faces 17. For this reason, the directions of distortion generated on these facing surfaces when a voltage is applied are opposite to each other.

ここで、本第2構成例においても、上述した第1構成例と同様に、第1積層セラミックコンデンサ10A1および第2積層セラミックコンデンサ10A2がそれぞれ異なる信号を生成する信号源5に接続されており、第1積層セラミックコンデンサ10A1に印加される電圧の波形および第2積層セラミックコンデンサ10A2に印加される電圧の波形は、図10の如くのものとされる。そのため、第1積層セラミックコンデンサ10A1および第2積層セラミックコンデンサ10A2に発生する歪み量の総和が、常時略一定に保たれることになる。   Here, also in the second configuration example, similarly to the first configuration example described above, the first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the second multilayer ceramic capacitor 10A2 are connected to the signal source 5 that generates different signals, The waveform of the voltage applied to the first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the waveform of the voltage applied to the second multilayer ceramic capacitor 10A2 are as shown in FIG. Therefore, the total amount of distortion generated in the first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the second multilayer ceramic capacitor 10A2 is always kept substantially constant.

その結果、第1積層セラミックコンデンサ10A1および第2積層セラミックコンデンサ10A2にて発生した振動が伝播することによって配線基板2に生じる、第1積層セラミックコンデンサ10A1および第2積層セラミックコンデンサ10A2が並ぶ方向における撓み変形(すなわち、図14(A)および図14(B)において矢印Dで示す方向に沿った撓み変形)が、これら第1積層セラミックコンデンサ10A1および第2積層セラミックコンデンサ10A2の実装位置近傍の領域R内において、常時一定の撓み量となるため、当該部分の配線基板2が概ね振動することなく定常的に撓んだ状態を保つことになる。   As a result, the bending in the direction in which the first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the second multilayer ceramic capacitor 10A2 are arranged, which occurs in the wiring board 2 due to the propagation of vibrations generated in the first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the second multilayer ceramic capacitor 10A2, is transmitted. The deformation (that is, the bending deformation along the direction indicated by the arrow D in FIGS. 14A and 14B) is a region R in the vicinity of the mounting position of the first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the second multilayer ceramic capacitor 10A2. In the inside, since the amount of bending is always constant, the wiring board 2 of the part is kept in a state of being bent constantly without substantially vibrating.

したがって、本第2構成例に係る回路基板1Bとすることにより、上記第1構成例と同様に、配線基板2に発生する振動が低減されることになるため、結果として回路基板1Bの厚みを増大させることなく騒音を低減させることができる。   Therefore, by using the circuit board 1B according to the second configuration example, the vibration generated in the wiring board 2 is reduced as in the first configuration example. As a result, the thickness of the circuit board 1B is reduced. Noise can be reduced without increasing it.

(第3構成例)
図15は、第3構成例に係る回路基板に具備された積層セラミックコンデンサのレイアウトを模式的に示した図である。
(Third configuration example)
FIG. 15 is a diagram schematically showing the layout of the multilayer ceramic capacitor provided on the circuit board according to the third configuration example.

本第3構成例は、上記第1構成例および第2構成例と同様に、上述した積層セラミックコンデンサ群に含まれる複数の積層セラミックコンデンサとして、同等の仕様の一対の積層セラミックコンデンサに着目するとともに、この積層セラミックコンデンサ群を複数組み備えさせることで上記第1構成例および上記第2構成例を組み合わせたものである。   As in the first and second configuration examples, the third configuration example focuses on a pair of multilayer ceramic capacitors having the same specifications as the plurality of multilayer ceramic capacitors included in the multilayer ceramic capacitor group described above. By combining a plurality of the multilayer ceramic capacitor groups, the first configuration example and the second configuration example are combined.

図15に示すように、本第3構成例に係る回路基板1Cにおいては、第1構成例の如くの一対の積層セラミックコンデンサが直線100上に位置するように隣り合って配置されて積層セラミックコンデンサ群が構成されるとともに、当該積層セラミックコンデンサ群がさらに直線100に沿って直線状に並んで複数配置されており、また、第2構成例の如くの一対の積層セラミックコンデンサが直線101上に位置するように隣り合って配置されて積層セラミックコンデンサ群が構成されるとともに、当該積層セラミックコンデンサ群がさらに直線101に沿って直線状に並んで複数配置されている。   As shown in FIG. 15, in the circuit board 1 </ b> C according to the third configuration example, a pair of multilayer ceramic capacitors as in the first configuration example are arranged adjacent to each other so as to be positioned on a straight line 100. A plurality of multilayer ceramic capacitor groups arranged in a straight line along a straight line 100, and a pair of multilayer ceramic capacitors as in the second configuration example are positioned on the straight line 101. Thus, a multilayer ceramic capacitor group is configured by being arranged adjacent to each other, and a plurality of the multilayer ceramic capacitor groups are further arranged in a straight line along the straight line 101.

その結果、本第3構成例に係る回路基板1Cにおいては、個々の積層セラミックコンデンサ群が回路基板1Cの実装面にマトリックス状(行列状)に並んで配置されることになり、これに伴って、個々の積層セラミックコンデンサ10Aも、回路基板1Cの実装面にマトリックス状(行列状)に配置されることになる。なお、個々の積層セラミックコンデンサ10Aは、いずれも上述した第1実装構造が採用されて配線基板2に実装されたものである。   As a result, in the circuit board 1C according to the third configuration example, the individual multilayer ceramic capacitor groups are arranged in a matrix (matrix) on the mounting surface of the circuit board 1C. The individual multilayer ceramic capacitors 10A are also arranged in a matrix (matrix) on the mounting surface of the circuit board 1C. Each of the multilayer ceramic capacitors 10A is mounted on the wiring board 2 by adopting the first mounting structure described above.

このように構成した場合には、行方向または列方向において隣り合う積層セラミックコンデンサ10A同士が、互いに上述した第1構成例または第2構成例における第1積層セラミックコンデンサ10A1と第2積層セラミックコンデンサ10A2との関係を有することになる。   When configured in this way, the laminated ceramic capacitors 10A adjacent in the row direction or the column direction are connected to each other between the first laminated ceramic capacitor 10A1 and the second laminated ceramic capacitor 10A2 in the first configuration example or the second configuration example described above. Will have a relationship.

したがって、本第3構成例に係る回路基板1Cとすることにより、マトリックス状に配置された積層セラミックコンデンサ10Aが位置する部分の配線基板2の全体において振動が低減されることになるため、結果として回路基板1Cの厚みを増大させることなく騒音を低減させることができる。   Therefore, by using the circuit board 1C according to the third configuration example, vibration is reduced in the entire wiring board 2 in the portion where the multilayer ceramic capacitor 10A arranged in a matrix is located. Noise can be reduced without increasing the thickness of the circuit board 1C.

(第4構成例)
図16は、第4構成例に係る回路基板に具備された積層セラミックコンデンサのレイアウトおよび当該積層セラミックコンデンサに生じる経時的な応力の変化を模式的に示した図である。
(Fourth configuration example)
FIG. 16 is a diagram schematically showing the layout of the multilayer ceramic capacitor provided on the circuit board according to the fourth configuration example and the change in stress over time generated in the multilayer ceramic capacitor.

本第4構成例は、上記第1構成例と同様に、上述した積層セラミックコンデンサ群に含まれる複数の積層セラミックコンデンサとして、同等の仕様の一対の積層セラミックコンデンサに着目したものである。   Similar to the first configuration example, the fourth configuration example focuses on a pair of multilayer ceramic capacitors having the same specifications as the plurality of multilayer ceramic capacitors included in the multilayer ceramic capacitor group described above.

図16(A)および図16(B)に示すように、本第4構成例に係る回路基板1Dは、上述した第1構成例に係る回路基板1Aと比較した場合に、第1積層セラミックコンデンサ10B1および第2積層セラミックコンデンサ10B2が、いずれも上述した第2実装構造が採用されて配線基板2に実装されている点においてのみ相違している。   As shown in FIGS. 16A and 16B, when the circuit board 1D according to the fourth configuration example is compared with the circuit board 1A according to the first configuration example described above, a first multilayer ceramic capacitor is provided. 10B1 and the second multilayer ceramic capacitor 10B2 are different from each other only in that the second mounting structure described above is adopted and the wiring board 2 is mounted.

この場合、一対の隣り合う第1積層セラミックコンデンサ10B1および第2積層セラミックコンデンサ10B2の対向面は、第1積層セラミックコンデンサ10B1の一対の幅方向端面17のうちの一方と、第2積層セラミックコンデンサ10B2の一対の幅方向端面17のうちの一方とによって構成されることになる。そのため、電圧印加時においてこれら対向面にて発生する歪みの向きは、互いに逆向きとなる。   In this case, the opposing surfaces of the pair of adjacent first multilayer ceramic capacitor 10B1 and second multilayer ceramic capacitor 10B2 are one of the pair of width direction end surfaces 17 of the first multilayer ceramic capacitor 10B1 and the second multilayer ceramic capacitor 10B2. And one of the pair of width direction end faces 17. For this reason, the directions of distortion generated on these facing surfaces when a voltage is applied are opposite to each other.

ここで、本第4構成例においても、上述した第1構成例と同様に、第1積層セラミックコンデンサ10B1および第2積層セラミックコンデンサ10B2がそれぞれ異なる信号を生成する信号源5に接続されており、第1積層セラミックコンデンサ10B1に印加される電圧の波形および第2積層セラミックコンデンサ10B2に印加される電圧の波形は、図10の如くのものとされる。そのため、第1積層セラミックコンデンサ10B1および第2積層セラミックコンデンサ10B2に発生する歪み量の総和が、常時略一定に保たれることになる。   Here, also in the fourth configuration example, similarly to the first configuration example described above, the first multilayer ceramic capacitor 10B1 and the second multilayer ceramic capacitor 10B2 are connected to the signal source 5 that generates different signals, respectively. The waveform of the voltage applied to the first multilayer ceramic capacitor 10B1 and the waveform of the voltage applied to the second multilayer ceramic capacitor 10B2 are as shown in FIG. Therefore, the total amount of distortion generated in the first multilayer ceramic capacitor 10B1 and the second multilayer ceramic capacitor 10B2 is always kept substantially constant.

その結果、第1積層セラミックコンデンサ10B1および第2積層セラミックコンデンサ10B2にて発生した振動が伝播することによって配線基板2に生じる、第1積層セラミックコンデンサ10B1および第2積層セラミックコンデンサ10B2が並ぶ方向における撓み変形(すなわち、図16(A)および図16(B)において矢印Cで示す方向に沿った撓み変形)が、これら第1積層セラミックコンデンサ10B1および第2積層セラミックコンデンサ10B2の実装位置近傍の領域R内において、常時一定の撓み量となるため、当該部分の配線基板2が概ね振動することなく定常的に撓んだ状態を保つことになる。   As a result, the bending in the direction in which the first multilayer ceramic capacitor 10B1 and the second multilayer ceramic capacitor 10B2 are arranged, which occurs in the wiring board 2 due to the propagation of vibrations generated in the first multilayer ceramic capacitor 10B1 and the second multilayer ceramic capacitor 10B2. The deformation (that is, the bending deformation along the direction indicated by the arrow C in FIGS. 16A and 16B) causes the region R in the vicinity of the mounting position of the first multilayer ceramic capacitor 10B1 and the second multilayer ceramic capacitor 10B2. In the inside, since the amount of bending is always constant, the wiring board 2 of the part is kept in a state of being bent constantly without substantially vibrating.

したがって、本第4構成例に係る回路基板1Dとすることにより、上記第1構成例と同様に、配線基板2に発生する振動が低減されることになるため、結果として回路基板1Dの厚みを増大させることなく騒音を低減させることができる。   Therefore, by using the circuit board 1D according to the fourth configuration example, the vibration generated in the wiring board 2 is reduced as in the first configuration example. As a result, the thickness of the circuit board 1D is reduced. Noise can be reduced without increasing it.

(第5構成例)
図17は、第5構成例に係る回路基板に具備された積層セラミックコンデンサのレイアウトおよび当該積層セラミックコンデンサに生じる経時的な応力の変化を模式的に示した図である。
(Fifth configuration example)
FIG. 17 is a diagram schematically showing the layout of the multilayer ceramic capacitor provided on the circuit board according to the fifth configuration example and the change in stress over time generated in the multilayer ceramic capacitor.

本第5構成例は、上記第2構成例と同様に、上述した積層セラミックコンデンサ群に含まれる複数の積層セラミックコンデンサとして、同等の仕様の一対の積層セラミックコンデンサに着目したものである。   Similar to the second configuration example, the fifth configuration example focuses on a pair of multilayer ceramic capacitors having the same specifications as the plurality of multilayer ceramic capacitors included in the multilayer ceramic capacitor group described above.

図17(A)および図17(B)に示すように、本第5構成例に係る回路基板1Eは、上述した第2構成例に係る回路基板1Bと比較した場合に、第1積層セラミックコンデンサ10B1および第2積層セラミックコンデンサ10B2が、いずれも上述した第2実装構造が採用されて配線基板2に実装されている点においてのみ相違している。   As shown in FIGS. 17A and 17B, the circuit board 1E according to the fifth configuration example has a first multilayer ceramic capacitor when compared with the circuit board 1B according to the second configuration example described above. 10B1 and the second multilayer ceramic capacitor 10B2 are different from each other only in that the second mounting structure described above is adopted and the wiring board 2 is mounted.

この場合、一対の隣り合う第1積層セラミックコンデンサ10B1および第2積層セラミックコンデンサ10B2の対向面は、第1積層セラミックコンデンサ10B1の一対の厚み方向端面16のうちの一方と、第2積層セラミックコンデンサ10B2の一対の厚み方向端面16のうちの一方とによって構成されることになる。そのため、電圧印加時においてこれら対向面にて発生する歪みの向きは、互いに逆向きとなる。   In this case, the opposing surfaces of the pair of adjacent first multilayer ceramic capacitor 10B1 and second multilayer ceramic capacitor 10B2 are one of the pair of thickness direction end faces 16 of the first multilayer ceramic capacitor 10B1 and the second multilayer ceramic capacitor 10B2. And one of the pair of thickness direction end faces 16. For this reason, the directions of distortion generated on these facing surfaces when a voltage is applied are opposite to each other.

ここで、本第5構成例においても、上述した第1構成例と同様に、第1積層セラミックコンデンサ10B1および第2積層セラミックコンデンサ10B2がそれぞれ異なる信号を生成する信号源5に接続されており、第1積層セラミックコンデンサ10B1に印加される電圧の波形および第2積層セラミックコンデンサ10B2に印加される電圧の波形は、図10の如くのものとされる。そのため、第1積層セラミックコンデンサ10B1および第2積層セラミックコンデンサ10B2に発生する歪み量の総和が、常時略一定に保たれることになる。   Here, also in the fifth configuration example, similarly to the first configuration example described above, the first multilayer ceramic capacitor 10B1 and the second multilayer ceramic capacitor 10B2 are connected to the signal source 5 that generates different signals, respectively. The waveform of the voltage applied to the first multilayer ceramic capacitor 10B1 and the waveform of the voltage applied to the second multilayer ceramic capacitor 10B2 are as shown in FIG. Therefore, the total amount of distortion generated in the first multilayer ceramic capacitor 10B1 and the second multilayer ceramic capacitor 10B2 is always kept substantially constant.

その結果、第1積層セラミックコンデンサ10B1および第2積層セラミックコンデンサ10B2にて発生した振動が伝播することによって配線基板2に生じる、第1積層セラミックコンデンサ10B1および第2積層セラミックコンデンサ10B2が並ぶ方向における撓み変形(すなわち、図17(A)および図17(B)において矢印Dで示す方向に沿った撓み変形)が、これら第1積層セラミックコンデンサ10B1および第2積層セラミックコンデンサ10B2の実装位置近傍の領域R内において、常時一定の撓み量となるため、当該部分の配線基板2が概ね振動することなく定常的に撓んだ状態を保つことになる。   As a result, the bending in the direction in which the first multilayer ceramic capacitor 10B1 and the second multilayer ceramic capacitor 10B2 are arranged, which occurs in the wiring board 2 due to the propagation of vibrations generated in the first multilayer ceramic capacitor 10B1 and the second multilayer ceramic capacitor 10B2. The deformation (that is, the bending deformation along the direction indicated by the arrow D in FIGS. 17A and 17B) is a region R in the vicinity of the mounting position of the first multilayer ceramic capacitor 10B1 and the second multilayer ceramic capacitor 10B2. In the inside, since the amount of bending is always constant, the wiring board 2 of the part is kept in a state of being bent constantly without substantially vibrating.

したがって、本第5構成例に係る回路基板1Eとすることにより、上記第1構成例と同様に、配線基板2に発生する振動が低減されることになるため、結果として回路基板1Eの厚みを増大させることなく騒音を低減させることができる。   Therefore, by using the circuit board 1E according to the fifth configuration example, the vibration generated in the wiring board 2 is reduced as in the first configuration example. As a result, the thickness of the circuit board 1E is reduced. Noise can be reduced without increasing it.

(第6構成例)
図18は、第6構成例に係る回路基板に具備された積層セラミックコンデンサのレイアウトを模式的に示した図である。
(Sixth configuration example)
FIG. 18 is a diagram schematically showing the layout of the multilayer ceramic capacitor provided on the circuit board according to the sixth configuration example.

本第6構成例は、上記第4構成例および第5構成例と同様に、上述した積層セラミックコンデンサ群に含まれる複数の積層セラミックコンデンサとして、同等の仕様の一対の積層セラミックコンデンサに着目するとともに、この積層セラミックコンデンサ群を複数組み備えさせることで上記第4構成例および上記第5構成例を組み合わせたものである。   The sixth configuration example, like the fourth configuration example and the fifth configuration example, pays attention to a pair of multilayer ceramic capacitors having the same specifications as the plurality of multilayer ceramic capacitors included in the multilayer ceramic capacitor group described above. A plurality of the multilayer ceramic capacitor groups are provided to combine the fourth configuration example and the fifth configuration example.

図18に示すように、本第6構成例に係る回路基板1Fにおいては、第4構成例の如くの一対の積層セラミックコンデンサが直線100上に位置するように隣り合って配置されて積層セラミックコンデンサ群が構成されるとともに、当該積層セラミックコンデンサ群がさらに直線100に沿って直線状に並んで複数配置されており、また、第5構成例の如くの一対の積層セラミックコンデンサが直線101上に位置するように隣り合って配置されて積層セラミックコンデンサ群が構成されるとともに、当該積層セラミックコンデンサ群がさらに直線101に沿って直線状に並んで複数配置されている。   As shown in FIG. 18, in the circuit board 1 </ b> F according to the sixth configuration example, a pair of multilayer ceramic capacitors as in the fourth configuration example are arranged adjacent to each other so as to be positioned on a straight line 100. A plurality of multilayer ceramic capacitor groups arranged in a straight line along the straight line 100, and a pair of multilayer ceramic capacitors as in the fifth configuration example are positioned on the straight line 101. Thus, a multilayer ceramic capacitor group is configured by being arranged adjacent to each other, and a plurality of the multilayer ceramic capacitor groups are further arranged in a straight line along the straight line 101.

その結果、本第6構成例に係る回路基板1Fにおいては、個々の積層セラミックコンデンサ群が回路基板1Fの実装面にマトリックス状(行列状)に並んで配置されることになり、これに伴って、個々の積層セラミックコンデンサ10Bも、回路基板1Fの実装面にマトリックス状(行列状)に配置されることになる。なお、個々の積層セラミックコンデンサ10Bは、いずれも上述した第2実装構造が採用されて配線基板2に実装されたものである。   As a result, in the circuit board 1F according to the sixth configuration example, the individual multilayer ceramic capacitor groups are arranged in a matrix (matrix) on the mounting surface of the circuit board 1F. The individual multilayer ceramic capacitors 10B are also arranged in a matrix (matrix) on the mounting surface of the circuit board 1F. Each of the multilayer ceramic capacitors 10B is mounted on the wiring board 2 using the above-described second mounting structure.

このように構成した場合には、行方向または列方向において隣り合う積層セラミックコンデンサ10B同士が、互いに上述した第4構成例または第5構成例における第1積層セラミックコンデンサ10B1と第2積層セラミックコンデンサ10B2との関係を有することになる。   When configured in this way, the laminated ceramic capacitors 10B adjacent in the row direction or the column direction are arranged such that the first laminated ceramic capacitor 10B1 and the second laminated ceramic capacitor 10B2 in the fourth configuration example or the fifth configuration example described above. Will have a relationship.

したがって、本第6構成例に係る回路基板1Fとすることにより、マトリックス状に配置された積層セラミックコンデンサ10Bが位置する部分の配線基板2の全体において振動が低減されることになるため、結果として回路基板1Fの厚みを増大させることなく騒音を低減させることができる。   Therefore, by using the circuit board 1F according to the sixth configuration example, vibration is reduced in the entire wiring board 2 in a portion where the multilayer ceramic capacitor 10B arranged in a matrix is located. Noise can be reduced without increasing the thickness of the circuit board 1F.

(第7構成例)
図19は、第7構成例に係る回路基板に具備された積層セラミックコンデンサのレイアウトおよび当該積層セラミックコンデンサに生じる経時的な応力の変化を模式的に示した図である。また、図20は、第7構成例に係る回路基板に具備された積層セラミックコンデンサに印加される電圧の波形の一例を示す図である。
(Seventh configuration example)
FIG. 19 is a diagram schematically showing the layout of the multilayer ceramic capacitor provided on the circuit board according to the seventh configuration example and the change in stress over time generated in the multilayer ceramic capacitor. FIG. 20 is a diagram illustrating an example of a waveform of a voltage applied to the multilayer ceramic capacitor provided in the circuit board according to the seventh configuration example.

本第7構成例は、上述した積層セラミックコンデンサ群に含まれる複数の積層セラミックコンデンサとして、同等の仕様の3つの積層セラミックコンデンサに着目したものである。   The seventh configuration example focuses on three multilayer ceramic capacitors having the same specifications as the plurality of multilayer ceramic capacitors included in the above-described multilayer ceramic capacitor group.

図19(A)および図19(B)に示すように、第7構成例に係る回路基板1Gにおいては、当該回路基板1Gの領域R内において、3つの積層セラミックコンデンサである第1積層セラミックコンデンサ10A1、第2積層セラミックコンデンサ10A2および第3積層セラミックコンデンサ10A3が、配線基板2の主表面と平行な方向に沿って近傍に並んで配置されている。ここで、上述した「近傍」とは、配線基板2に伝播した振動の波長の1/10程度の範囲を意味する。また、より好ましくは、第1積層セラミックコンデンサ10A1、第2積層セラミックコンデンサ10A2および第3積層セラミックコンデンサ10A3が、他の素子(当該他の素子には、他の積層セラミックコンデンサはもとより、積層セラミックコンデンサ以外の他の電子部品も含む)が間に介在することなく並んで配置される。第1積層セラミックコンデンサ10A1、第2積層セラミックコンデンサ10A2および第3積層セラミックコンデンサ10A3は、いずれも上述した第1実装構造が採用されて配線基板2に実装されたものである。   As shown in FIGS. 19A and 19B, in the circuit board 1G according to the seventh configuration example, the first multilayer ceramic capacitor which is three multilayer ceramic capacitors in the region R of the circuit board 1G. 10A1, second multilayer ceramic capacitor 10A2 and third multilayer ceramic capacitor 10A3 are arranged side by side along a direction parallel to the main surface of wiring board 2. Here, the “vicinity” mentioned above means a range of about 1/10 of the wavelength of vibration propagated to the wiring board 2. More preferably, the first multilayer ceramic capacitor 10A1, the second multilayer ceramic capacitor 10A2, and the third multilayer ceramic capacitor 10A3 are other elements (including other multilayer ceramic capacitors as well as multilayer ceramic capacitors). (Including other electronic components other than the above) are arranged side by side without interposition. The first multilayer ceramic capacitor 10A1, the second multilayer ceramic capacitor 10A2, and the third multilayer ceramic capacitor 10A3 are all mounted on the wiring board 2 using the first mounting structure described above.

より詳細には、図19(A)および図19(B)に示すように、第1積層セラミックコンデンサ10A1の厚み方向端面16、第2積層セラミックコンデンサ10A2の厚み方向端面16および第3積層セラミックコンデンサ10A3のうち、配線基板2に対面する方の端面は、第1積層セラミックコンデンサ10A1、第2積層セラミックコンデンサ10A2および第3積層セラミックコンデンサ10A3がいずれも略直方体形状を有しているため、いずれも一対の短辺および一対の長辺を有する略長方形状を有しており、このうちの第1積層セラミックコンデンサ10A1の長辺と平行な方向に延びる直線100上に位置することとなるように、第1積層セラミックコンデンサ10A1、第2積層セラミックコンデンサ10A2および第3積層セラミックコンデンサ10A3が隣り合って並んで配置されている。   More specifically, as shown in FIGS. 19A and 19B, the thickness direction end face 16 of the first multilayer ceramic capacitor 10A1, the thickness direction end face 16 of the second multilayer ceramic capacitor 10A2, and the third multilayer ceramic capacitor. 10A3, the end face facing the wiring substrate 2 has a substantially rectangular parallelepiped shape because each of the first multilayer ceramic capacitor 10A1, the second multilayer ceramic capacitor 10A2, and the third multilayer ceramic capacitor 10A3 has a substantially rectangular parallelepiped shape. It has a substantially rectangular shape having a pair of short sides and a pair of long sides, and is located on a straight line 100 extending in a direction parallel to the long sides of the first multilayer ceramic capacitor 10A1. The first multilayer ceramic capacitor 10A1, the second multilayer ceramic capacitor 10A2, and the first Multilayer ceramic capacitor 10A3 are arranged side by side next to each other.

ここで、本第7構成例においては、第1積層セラミックコンデンサ10A1の長さ方向Lと、第2積層セラミックコンデンサ10A2の幅方向Wと、第3積層セラミックコンデンサ10A3の幅方向Wとが、互いに同一の方向を向くように配置されている。   Here, in the seventh configuration example, the length direction L of the first multilayer ceramic capacitor 10A1, the width direction W of the second multilayer ceramic capacitor 10A2, and the width direction W of the third multilayer ceramic capacitor 10A3 are mutually different. They are arranged to face the same direction.

この場合、隣り合う第1積層セラミックコンデンサ10A1および第2積層セラミックコンデンサ10A2の対向面は、第1積層セラミックコンデンサ10A1の一対の長さ方向端面15のうちの一方と、第2積層セラミックコンデンサ10A2の一対の幅方向端面17のうちの一方とによって構成されることになる。また、隣り合う第2積層セラミックコンデンサ10A2および第3積層セラミックコンデンサ10A3の対向面は、第2積層セラミックコンデンサ10A2の一対の幅方向端面17のうちの一方と、第2積層セラミックコンデンサ10A2の一対の幅方向端面17のうちの一方とによって構成されることになる。そのため、電圧印加時においてこれら対向面にて発生する歪みの向きは、図中において矢印AR,AR示すように互いに逆向きとなる。 In this case, the opposing surfaces of the adjacent first multilayer ceramic capacitor 10A1 and second multilayer ceramic capacitor 10A2 are either one of the pair of longitudinal end faces 15 of the first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the second multilayer ceramic capacitor 10A2. This is constituted by one of the pair of width direction end faces 17. The opposing surfaces of the adjacent second multilayer ceramic capacitor 10A2 and third multilayer ceramic capacitor 10A3 are either one of the pair of width direction end faces 17 of the second multilayer ceramic capacitor 10A2 and the pair of second multilayer ceramic capacitor 10A2. This is constituted by one of the width direction end faces 17. Therefore, the orientation of the distortion generated by these opposing surfaces at the time of voltage application is an arrow AR L, becomes opposite to each other as shown AR W in the figure.

図20に示すように、第1積層セラミックコンデンサ10A1に印加される電圧の波形は、所定のタイミング(時刻t1,t2,t3,・・・)毎に0[V]と+V[V]との間で電圧が切り替わる矩形波とされており、第2積層セラミックコンデンサ10A2および第3積層セラミックコンデンサ10A3に印加される電圧の波形は、第1積層セラミックコンデンサ10A1に印加される電圧の波形と180度の位相差をもって所定のタイミング(時刻t1,t2,t3,・・・)毎に+V[V]と0[V]との間で電圧が切り替わる矩形波とされている。すなわち、本第1構成例においては、第1積層セラミックコンデンサ10A1に印加される電圧の波形と、第2積層セラミックコンデンサ10A2および第3積層セラミックコンデンサ10A3に印加される電圧の波形とが、振幅が同じで逆位相のものとなっている。   As shown in FIG. 20, the waveform of the voltage applied to the first multilayer ceramic capacitor 10A1 is 0 [V] and + V [V] at every predetermined timing (time t1, t2, t3,...). The waveform of the voltage applied to the second multilayer ceramic capacitor 10A2 and the third multilayer ceramic capacitor 10A3 is 180 degrees with the waveform of the voltage applied to the first multilayer ceramic capacitor 10A1. Is a rectangular wave whose voltage is switched between + V [V] and 0 [V] at every predetermined timing (time t1, t2, t3,...). That is, in the first configuration example, the amplitude of the waveform of the voltage applied to the first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the waveform of the voltage applied to the second multilayer ceramic capacitor 10A2 and the third multilayer ceramic capacitor 10A3 The same and opposite phase.

そのため、図19(A)に示すように、時刻txにおいては、第1積層セラミックコンデンサ10A1にのみ歪みが生じ、第2積層セラミックコンデンサ10A2および第3積層セラミックコンデンサ10A3には歪みが生じないことになり、図19(B)に示すように、時刻tyにおいては、第2積層セラミックコンデンサ10A2および第3積層セラミックコンデンサ10A3にのみ歪みが生じ、第1積層セラミックコンデンサ10A1には歪みが生じないことになる。   Therefore, as shown in FIG. 19A, at time tx, distortion occurs only in the first multilayer ceramic capacitor 10A1, and no distortion occurs in the second multilayer ceramic capacitor 10A2 and the third multilayer ceramic capacitor 10A3. As shown in FIG. 19B, at time ty, distortion occurs only in the second multilayer ceramic capacitor 10A2 and the third multilayer ceramic capacitor 10A3, and no distortion occurs in the first multilayer ceramic capacitor 10A1. Become.

ここで、図4を参照して、略直方体形状を有する積層セラミックコンデンサに電圧印加時において発生する歪み量は長さ方向Lと幅方向Wとで異なり、概して長さ方向Lにおける歪み量が幅方向Wにおける歪み量よりも大きくなる。そのため、上記の如くのレイアウトとすることにより、第1積層セラミックコンデンサ10A1、第2積層セラミックコンデンサ10A2および第3積層セラミックコンデンサ10A3に発生する歪み量の総和が、常時略一定に保てることになる。   Here, referring to FIG. 4, the amount of strain generated when a voltage is applied to a multilayer ceramic capacitor having a substantially rectangular parallelepiped shape is different in the length direction L and the width direction W, and the strain amount in the length direction L is generally a width. It becomes larger than the distortion amount in the direction W. Therefore, by adopting the layout as described above, the total amount of distortion generated in the first multilayer ceramic capacitor 10A1, the second multilayer ceramic capacitor 10A2, and the third multilayer ceramic capacitor 10A3 can always be kept substantially constant.

その結果、第1積層セラミックコンデンサ10A1、第2積層セラミックコンデンサ10A2および第3積層セラミックコンデンサ10A3にて発生した振動が伝播することによって配線基板2に生じる、第1積層セラミックコンデンサ10A1、第2積層セラミックコンデンサ10A2および第3積層セラミックコンデンサ10A3が並ぶ方向における撓み変形(すなわち、図19(A)および図19(B)において矢印Eで示す方向に沿った撓み変形)が、これら第1積層セラミックコンデンサ10A1、第2積層セラミックコンデンサ10A2および第3積層セラミックコンデンサ10A3の実装位置近傍の領域R内において、常時一定の撓み量となるため、当該部分の配線基板2が概ね振動することなく定常的に撓んだ状態を保つことになる。   As a result, the first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the second multilayer ceramic that are generated in the wiring board 2 due to the propagation of vibrations generated in the first multilayer ceramic capacitor 10A1, the second multilayer ceramic capacitor 10A2, and the third multilayer ceramic capacitor 10A3. The bending deformation in the direction in which the capacitor 10A2 and the third multilayer ceramic capacitor 10A3 are arranged (that is, the bending deformation along the direction indicated by the arrow E in FIGS. 19A and 19B) is the first multilayer ceramic capacitor 10A1. In the region R in the vicinity of the mounting position of the second multilayer ceramic capacitor 10A2 and the third multilayer ceramic capacitor 10A3, the amount of flexure is always constant, so that the wiring board 2 of the part is flexibly steadily without substantially vibrating. Keeping up To become.

したがって、本第7構成例に係る回路基板1Gとすることにより、配線基板2に発生する振動が低減されることになるため、結果として回路基板1Gの厚みを増大させることなく騒音を低減させることができる。   Therefore, by using the circuit board 1G according to the seventh configuration example, vibration generated in the wiring board 2 is reduced, and as a result, noise can be reduced without increasing the thickness of the circuit board 1G. Can do.

(第8構成例)
図21は、第8構成例に係る回路基板に具備された積層セラミックコンデンサのレイアウトおよび当該積層セラミックコンデンサに生じる経時的な応力の変化を模式的に示した図である。また、図22は、第8構成例に係る回路基板に具備された積層セラミックコンデンサに印加される電圧の波形の一例を示す図である。
(Eighth configuration example)
FIG. 21 is a diagram schematically showing the layout of the multilayer ceramic capacitor provided on the circuit board according to the eighth configuration example and the change in stress over time generated in the multilayer ceramic capacitor. FIG. 22 is a diagram illustrating an example of a waveform of a voltage applied to the multilayer ceramic capacitor provided in the circuit board according to the eighth configuration example.

本第8構成例は、上述した積層セラミックコンデンサ群に含まれる複数の積層セラミックコンデンサとして、異なる仕様の一対の積層セラミックコンデンサに着目したものである。   The eighth configuration example focuses on a pair of multilayer ceramic capacitors having different specifications as a plurality of multilayer ceramic capacitors included in the above-described multilayer ceramic capacitor group.

図21(A)および図21(B)に示すように、第8構成例に係る回路基板1Hにおいては、当該回路基板1Hの領域R内において、一対の積層セラミックコンデンサである第1積層セラミックコンデンサ10A1および第2積層セラミックコンデンサ10A2が、配線基板2の主表面と平行な方向に沿って近傍に並んで配置されている。ここで、上述した「近傍」とは、配線基板2に伝播した振動の波長の1/10程度の範囲を意味する。また、より好ましくは、第1積層セラミックコンデンサ10A1および第2積層セラミックコンデンサ10A2が、他の素子(当該他の素子には、他の積層セラミックコンデンサはもとより、積層セラミックコンデンサ以外の他の電子部品も含む)が間に介在することなく並んで配置される。第1積層セラミックコンデンサ10A1および第2積層セラミックコンデンサ10A2は、いずれも上述した第1実装構造が採用されて配線基板2に実装されたものである。   As shown in FIGS. 21A and 21B, in the circuit board 1H according to the eighth configuration example, the first multilayer ceramic capacitor which is a pair of multilayer ceramic capacitors in the region R of the circuit board 1H. 10A1 and second multilayer ceramic capacitor 10A2 are arranged in the vicinity along the direction parallel to the main surface of wiring board 2. Here, the “vicinity” mentioned above means a range of about 1/10 of the wavelength of vibration propagated to the wiring board 2. More preferably, the first monolithic ceramic capacitor 10A1 and the second monolithic ceramic capacitor 10A2 include other elements (in addition to other monolithic ceramic capacitors, other electronic components other than the monolithic ceramic capacitors are also included in the other elements). Are arranged side by side with no interposition. The first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the second multilayer ceramic capacitor 10A2 are both mounted on the wiring board 2 using the first mounting structure described above.

より詳細には、図21(A)および図21(B)に示すように、第1積層セラミックコンデンサ10A1の厚み方向端面16および第2積層セラミックコンデンサ10A2の厚み方向端面16のうち、配線基板2に対面する方の端面は、第1積層セラミックコンデンサ10A1および第2積層セラミックコンデンサ10A2がいずれも略直方体形状を有しているため、いずれも一対の短辺および一対の長辺を有する略長方形状を有しており、このうちの長辺と平行な方向に延びる直線100上に位置することとなるように、第1積層セラミックコンデンサ10A1および第2積層セラミックコンデンサ10A2が隣り合って並んで配置されている。   More specifically, as shown in FIGS. 21A and 21B, of the thickness direction end face 16 of the first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the thickness direction end face 16 of the second multilayer ceramic capacitor 10A2, the wiring board 2 Since both the first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the second multilayer ceramic capacitor 10A2 have a substantially rectangular parallelepiped shape, both end faces facing each other have a substantially rectangular shape having a pair of short sides and a pair of long sides. The first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the second multilayer ceramic capacitor 10A2 are arranged next to each other so as to be positioned on a straight line 100 extending in a direction parallel to the long side. ing.

ここで、本第8構成例においては、第1積層セラミックコンデンサ10A1の長さ方向Lと、第2積層セラミックコンデンサ10A2の幅方向Wとが、互いに同一の方向を向くように配置されている。   Here, in the eighth configuration example, the length direction L of the first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the width direction W of the second multilayer ceramic capacitor 10A2 are arranged to face the same direction.

この場合、隣り合う第1積層セラミックコンデンサ10A1および第2積層セラミックコンデンサ10A2の対向面は、第1積層セラミックコンデンサ10A1の一対の長さ方向端面15のうちの一方と、第2積層セラミックコンデンサ10A2の一対の幅方向端面17のうちの一方とによって構成されることになる。そのため、電圧印加時においてこれら対向面にて発生する歪みの向きは、図中において矢印AR,AR示すように互いに逆向きとなる。 In this case, the opposing surfaces of the adjacent first multilayer ceramic capacitor 10A1 and second multilayer ceramic capacitor 10A2 are either one of the pair of longitudinal end faces 15 of the first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the second multilayer ceramic capacitor 10A2. This is constituted by one of the pair of width direction end faces 17. Therefore, the orientation of the distortion generated by these opposing surfaces at the time of voltage application is an arrow AR L, becomes opposite to each other as shown AR W in the figure.

図22に示すように、第1積層セラミックコンデンサ10A1に印加される電圧の波形は、所定のタイミング(時刻t1,t2,t3,・・・)毎に0[V]と+V[V]との間で電圧が切り替わる矩形波とされており、第2積層セラミックコンデンサ10A2および第3積層セラミックコンデンサ10A3に印加される電圧の波形は、第1積層セラミックコンデンサ10A1に印加される電圧の波形と180度の位相差をもって所定のタイミング(時刻t1,t2,t3,・・・)毎に+VA[V]と0[V]との間で電圧が切り替わる矩形波とされている。ここで、第2積層セラミックコンデンサ10A2に印加された際の電圧値+VA[V]は、第1積層セラミックコンデンサ10A1に印加された際の電圧値+V[V]よりも大きい値とされる。すなわち、本第1構成例においては、第1積層セラミックコンデンサ10A1に印加される電圧の波形と、第2積層セラミックコンデンサ10A2および第3積層セラミックコンデンサ10A3に印加される電圧の波形とが、振幅が異なる逆位相のものとなっている。   As shown in FIG. 22, the waveform of the voltage applied to the first multilayer ceramic capacitor 10A1 is 0 [V] and + V [V] at predetermined timings (time t1, t2, t3,...). The waveform of the voltage applied to the second multilayer ceramic capacitor 10A2 and the third multilayer ceramic capacitor 10A3 is 180 degrees with the waveform of the voltage applied to the first multilayer ceramic capacitor 10A1. Is a rectangular wave whose voltage is switched between + VA [V] and 0 [V] at predetermined timings (time t1, t2, t3,...). Here, the voltage value + VA [V] applied to the second multilayer ceramic capacitor 10A2 is larger than the voltage value + V [V] applied to the first multilayer ceramic capacitor 10A1. That is, in the first configuration example, the amplitude of the waveform of the voltage applied to the first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the waveform of the voltage applied to the second multilayer ceramic capacitor 10A2 and the third multilayer ceramic capacitor 10A3 It has a different antiphase.

ここで、図4を参照して、略直方体形状を有する積層セラミックコンデンサに電圧印加時において発生する歪み量は長さ方向Lと幅方向Wとで異なり、概して長さ方向Lにおける歪み量が幅方向Wにおける歪み量よりも大きくなる。そのため、上記の如く、第2積層セラミックコンデンサ10A2に印加される電圧値を第1積層セラミックコンデンサ10A1に印加される電圧値よりも大きくすることにより、第1積層セラミックコンデンサ10A1、第2積層セラミックコンデンサ10A2および第3積層セラミックコンデンサ10A3に発生する歪み量の総和が、常時略一定に保てることになる。   Here, referring to FIG. 4, the amount of strain generated when a voltage is applied to a multilayer ceramic capacitor having a substantially rectangular parallelepiped shape is different in the length direction L and the width direction W, and the strain amount in the length direction L is generally a width. It becomes larger than the distortion amount in the direction W. Therefore, as described above, the voltage value applied to the second multilayer ceramic capacitor 10A2 is made larger than the voltage value applied to the first multilayer ceramic capacitor 10A1, thereby the first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the second multilayer ceramic capacitor. The total amount of distortion generated in 10A2 and the third multilayer ceramic capacitor 10A3 can always be kept substantially constant.

そのため、図21(A)に示すように、時刻txにおいては、第1積層セラミックコンデンサ10A1にのみ歪みが生じ、第2積層セラミックコンデンサ10A2には歪みが生じないことになり、図21(B)に示すように、時刻tyにおいては、第2積層セラミックコンデンサ10Aにのみ歪みが生じ、第1積層セラミックコンデンサ10A1には歪みが生じないことになる。   Therefore, as shown in FIG. 21A, at time tx, only the first multilayer ceramic capacitor 10A1 is distorted, and the second multilayer ceramic capacitor 10A2 is not distorted. As shown, at time ty, distortion occurs only in the second multilayer ceramic capacitor 10A, and no distortion occurs in the first multilayer ceramic capacitor 10A1.

その結果、第1積層セラミックコンデンサ10A1および第2積層セラミックコンデンサ10A2にて発生した振動が伝播することによって配線基板2に生じる、第1積層セラミックコンデンサ10A1および第2積層セラミックコンデンサ10A2が並ぶ方向における撓み変形(すなわち、図21(A)および図21(B)において矢印Fで示す方向に沿った撓み変形)が、これら第1積層セラミックコンデンサ10A1および第2積層セラミックコンデンサ10A2の実装位置近傍の領域R内において、常時一定の撓み量となるため、当該部分の配線基板2が概ね振動することなく定常的に撓んだ状態を保つことになる。   As a result, the bending in the direction in which the first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the second multilayer ceramic capacitor 10A2 are arranged, which occurs in the wiring board 2 due to the propagation of vibrations generated in the first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the second multilayer ceramic capacitor 10A2, is transmitted. The deformation (that is, the bending deformation along the direction indicated by the arrow F in FIGS. 21A and 21B) causes the region R in the vicinity of the mounting position of the first multilayer ceramic capacitor 10A1 and the second multilayer ceramic capacitor 10A2. In the inside, since the amount of bending is always constant, the wiring board 2 of the part is kept in a state of being bent constantly without substantially vibrating.

したがって、本第8構成例に係る回路基板1Hとすることにより、配線基板2に発生する振動が低減されることになるため、結果として回路基板1Hの厚みを増大させることなく騒音を低減させることができる。   Therefore, by using the circuit board 1H according to the eighth configuration example, vibration generated in the wiring board 2 is reduced. As a result, noise can be reduced without increasing the thickness of the circuit board 1H. Can do.

以上において説明したように、本実施の形態における回路基板1A〜1Hにおいては、いずれも積層セラミックコンデンサ群に含まれる複数の積層セラミックコンデンサのうち、隣り合う積層セラミックコンデンサの対向面において電圧印加時に発生する歪みの向きが、互いに逆向きとされており、当該積層セラミックコンデンサ群に含まれる複数の積層セラミックコンデンサが並ぶ方向において当該複数の積層セラミックコンデンサに発生する歪み量の総和が、常時略一定とされている。   As described above, in circuit boards 1A to 1H according to the present embodiment, any of the plurality of multilayer ceramic capacitors included in the multilayer ceramic capacitor group is generated when a voltage is applied to the opposing surface of the adjacent multilayer ceramic capacitor. The direction of strain to be reversed is opposite to each other, and the total amount of strain generated in the plurality of multilayer ceramic capacitors in the direction in which the plurality of multilayer ceramic capacitors included in the multilayer ceramic capacitor group is aligned is always substantially constant. Has been.

また、本実施の形態における積層セラミックコンデンサの実装方法は、上記条件を満たすように複数の積層セラミックコンデンサを配線基板に実装するものであり、積層セラミックコンデンサ群に含まれる複数の積層セラミックコンデンサのうち、隣り合う積層セラミックコンデンサの対向面において電圧印加時に発生する歪みの向きが互いに逆向きになるとともに、当該積層セラミックコンデンサ群に含まれる複数の積層セラミックコンデンサが並ぶ方向において当該複数の積層セラミックコンデンサに発生する歪み量の総和が常時略一定となるように、当該複数の積層セラミックコンデンサを配線基板に実装するものである。   Also, the mounting method of the multilayer ceramic capacitor in the present embodiment is to mount a plurality of multilayer ceramic capacitors on the wiring board so as to satisfy the above conditions, and among the plurality of multilayer ceramic capacitors included in the multilayer ceramic capacitor group In addition, the directions of distortion generated when applying voltage are opposite to each other on the opposing surfaces of the adjacent multilayer ceramic capacitors, and the plurality of multilayer ceramic capacitors included in the multilayer ceramic capacitor group are arranged in the direction in which the multilayer ceramic capacitors are aligned. The plurality of multilayer ceramic capacitors are mounted on a wiring board so that the total amount of distortion generated is always substantially constant.

これにより、配線基板2に発生する振動が低減されることになり、結果として回路基板1A〜1Hの厚みを増大させることなく騒音を低減させることができる。   As a result, vibration generated in the wiring board 2 is reduced, and as a result, noise can be reduced without increasing the thickness of the circuit boards 1A to 1H.

なお、上記条件を満たすレイアウトを容易に実現するためには、積層セラミックコンデンサ群に含まれる複数の積層セラミックコンデンサの各々が有する積層体の積層方向(すなわち厚み方向T)がいずれも同一の方向を向くように、個々の積層セラミックコンデンサが実装されることが好適である。   In order to easily realize a layout that satisfies the above conditions, the stacking direction (that is, the thickness direction T) of the multilayer body included in each of the multilayer ceramic capacitors included in the multilayer ceramic capacitor group is the same direction. It is preferable that individual multilayer ceramic capacitors are mounted so as to face.

今回開示した上記実施の形態はすべての点で例示であって、制限的なものではない。本発明の技術的範囲は特許請求の範囲によって画定され、また特許請求の範囲の記載と均等の意味および範囲内でのすべての変更を含むものである。   The above-described embodiment disclosed herein is illustrative in all respects and is not restrictive. The technical scope of the present invention is defined by the terms of the claims, and is intended to include any modifications within the scope and meaning equivalent to the terms of the claims.

1A〜1H 回路基板、2 配線基板、3 ランド、4 配線、5 信号源、6 接合部材、10,10A,10A1〜10A3,10B,10B1,10B2 積層セラミックコンデンサ、11 積層体、12 誘電体層、13 内部電極層、14 外部電極、15 長さ方向端面、16 厚み方向端面、17 幅方向端面、18 角部。   1A to 1H circuit board, 2 wiring boards, 3 lands, 4 wirings, 5 signal sources, 6 joint members, 10, 10A, 10A1 to 10A3, 10B, 10B1, 10B2 laminated ceramic capacitors, 11 laminated bodies, 12 dielectric layers, 13 internal electrode layers, 14 external electrodes, 15 lengthwise end faces, 16 thickness direction end faces, 17 width direction end faces, 18 corners.

Claims (14)

所定の方向に沿って交互に積層された誘電体層および内部電極層からなる積層体を有する略直方体形状のコンデンサ素子が配線基板に複数実装されてなる回路基板であって、
前記複数のコンデンサ素子は、前記配線基板の主表面と平行な方向に沿って近傍に並んで配置された複数のコンデンサ素子からなるコンデンサ素子群を含み、
前記コンデンサ素子群に含まれる前記複数のコンデンサ素子の前記配線基板に対向する主面は、いずれも略矩形状であり、
前記コンデンサ素子群に含まれる前記複数のコンデンサ素子は、当該複数のコンデンサ素子のうちの一のコンデンサ素子の前記主面のいずれか一辺に平行な方向に沿って延在する直線上に位置しており、
前記コンデンサ素子群に含まれる前記複数のコンデンサ素子のうち、隣り合うコンデンサ素子の対向面において電圧印加時に発生する歪みの向きは、互いに逆向きであり、
前記コンデンサ素子群に含まれる前記複数のコンデンサ素子が並ぶ方向において当該複数のコンデンサ素子に発生する歪み量の総和が、常時略一定である、回路基板。
A circuit board in which a plurality of substantially rectangular parallelepiped capacitor elements having a laminate composed of dielectric layers and internal electrode layers alternately laminated along a predetermined direction are mounted on a wiring board,
The plurality of capacitor elements include a capacitor element group consisting of a plurality of capacitor elements arranged in the vicinity along a direction parallel to the main surface of the wiring board,
The main surfaces of the plurality of capacitor elements included in the capacitor element group that face the wiring board are all substantially rectangular.
The plurality of capacitor elements included in the capacitor element group are located on a straight line extending along a direction parallel to any one side of the principal surface of one capacitor element of the plurality of capacitor elements. And
Among the plurality of capacitor elements included in the capacitor element group, the directions of distortion generated when a voltage is applied on the opposing surfaces of adjacent capacitor elements are opposite to each other.
A circuit board in which a total amount of distortion generated in the plurality of capacitor elements in a direction in which the plurality of capacitor elements included in the capacitor element group is arranged is always substantially constant.
前記コンデンサ素子群に含まれる前記複数のコンデンサ素子の前記主面は、一対の短辺および一対の長辺を有する略長方形状であり、
前記コンデンサ素子群に含まれる前記複数のコンデンサ素子は、各々の前記主面の長辺に平行な方向に沿った両端部に外部電極を有し、
前記外部電極の各々が、前記配線基板に対応して設けられたランドに導電性の接合部材を介してそれぞれ電気的に接続されている、請求項1に記載の回路基板。
The main surface of the plurality of capacitor elements included in the capacitor element group is a substantially rectangular shape having a pair of short sides and a pair of long sides,
The plurality of capacitor elements included in the capacitor element group have external electrodes at both ends along a direction parallel to the long side of each main surface,
The circuit board according to claim 1, wherein each of the external electrodes is electrically connected to a land provided corresponding to the wiring board via a conductive bonding member.
前記コンデンサ素子群を複数備え、
前記複数のコンデンサ素子群に含まれるすべてのコンデンサ素子が、近傍に直線状に並んで配置されている、請求項1または2に記載の回路基板。
A plurality of the capacitor element groups are provided,
The circuit board according to claim 1, wherein all capacitor elements included in the plurality of capacitor element groups are arranged in a straight line in the vicinity.
前記コンデンサ素子群を複数備え、
前記複数のコンデンサ素子群に含まれるすべてのコンデンサ素子が、近傍にマトリックス状に並んで配置されている、請求項1または2に記載の回路基板。
A plurality of the capacitor element groups are provided,
The circuit board according to claim 1, wherein all the capacitor elements included in the plurality of capacitor element groups are arranged in a matrix in the vicinity.
前記コンデンサ素子群に含まれる前記複数のコンデンサ素子の各々が有する前記積層体の積層方向が、いずれも同一の方向を向いている、請求項1から4のいずれかに記載の回路基板。   5. The circuit board according to claim 1, wherein the lamination direction of each of the plurality of capacitor elements included in the capacitor element group is directed in the same direction. 6. 前記コンデンサ素子群が、同等の仕様の一対のコンデンサ素子からなる、請求項1から5のいずれかに記載の回路基板。   The circuit board according to claim 1, wherein the capacitor element group includes a pair of capacitor elements having equivalent specifications. 前記一対のコンデンサ素子に印加される電圧の絶対値の和が、常時略一定である、請求項6に記載の回路基板。   The circuit board according to claim 6, wherein a sum of absolute values of voltages applied to the pair of capacitor elements is always substantially constant. 所定の方向に沿って交互に積層された誘電体層および内部電極層からなる積層体を有する略直方体形状のコンデンサ素子を配線基板に複数実装するコンデンサ素子の実装方法であって、
前記複数のコンデンサ素子は、前記配線基板の主表面と平行な方向に沿って近傍に並んで配置されることとなる複数のコンデンサ素子からなるコンデンサ素子群を含み、
前記コンデンサ素子群に含まれる前記複数のコンデンサ素子の前記配線基板に対向することとなる主面は、いずれも略矩形状に形成されており、
前記コンデンサ素子群に含まれる前記複数のコンデンサ素子は、当該複数のコンデンサ素子のうちの一のコンデンサ素子の前記主面のいずれか一辺に平行な方向に沿って延在する直線上に位置するように配置されるものであり、
前記コンデンサ素子群に含まれる前記複数のコンデンサ素子のうち、隣り合うコンデンサ素子の対向面において電圧印加時に発生する歪みの向きが互いに逆向きになるとともに、前記コンデンサ素子群に含まれる前記複数のコンデンサ素子が並ぶ方向において当該複数のコンデンサ素子に発生する歪み量の総和が常時略一定となるように、当該複数のコンデンサ素子を前記配線基板に実装することを特徴とする、コンデンサ素子の実装方法。
A capacitor element mounting method for mounting a plurality of substantially rectangular parallelepiped capacitor elements on a wiring board having a laminate composed of dielectric layers and internal electrode layers alternately laminated along a predetermined direction,
The plurality of capacitor elements include a capacitor element group consisting of a plurality of capacitor elements that are arranged in the vicinity along a direction parallel to the main surface of the wiring board,
The principal surfaces that face the wiring board of the plurality of capacitor elements included in the capacitor element group are all formed in a substantially rectangular shape,
The plurality of capacitor elements included in the capacitor element group are positioned on a straight line extending along a direction parallel to any one side of the principal surface of one capacitor element of the plurality of capacitor elements. Are arranged in the
Among the plurality of capacitor elements included in the capacitor element group, directions of distortion generated when a voltage is applied on opposite surfaces of adjacent capacitor elements are opposite to each other, and the plurality of capacitors included in the capacitor element group A mounting method for a capacitor element, wherein the plurality of capacitor elements are mounted on the wiring board so that the total amount of distortion generated in the plurality of capacitor elements is always substantially constant in the direction in which the elements are arranged.
前記コンデンサ素子群に含まれる前記複数のコンデンサ素子の前記主面は、一対の短辺および一対の長辺を有する略長方形状に形成されており、
前記コンデンサ素子群に含まれる前記複数のコンデンサ素子は、各々の前記主面の長辺に平行な方向に沿った両端部に外部電極を有するものであり、
前記コンデンサ素子群に含まれる前記複数のコンデンサ素子を前記配線基板に実装するに際して、前記外部電極の各々が、前記配線基板に対応して設けられたランドに導電性の接合部材を介してそれぞれ電気的に接続されるようにすることを特徴とする、請求項8に記載のコンデンサ素子の実装方法。
The main surfaces of the plurality of capacitor elements included in the capacitor element group are formed in a substantially rectangular shape having a pair of short sides and a pair of long sides,
The plurality of capacitor elements included in the capacitor element group have external electrodes at both ends along a direction parallel to the long side of each main surface,
When mounting the plurality of capacitor elements included in the capacitor element group on the wiring board, each of the external electrodes is electrically connected to a land provided corresponding to the wiring board via a conductive bonding member. The capacitor element mounting method according to claim 8, wherein the capacitor elements are connected to each other.
前記コンデンサ素子群が複数存在する場合に、前記複数のコンデンサ素子群に含まれるすべてのコンデンサ素子が近傍に直線状に並んで配置されるように、当該すべてのコンデンサ素子を前記配線基板に実装することを特徴とする、請求項8または9に記載のコンデンサ素子の実装方法。   When there are a plurality of capacitor element groups, all the capacitor elements are mounted on the wiring board so that all the capacitor elements included in the plurality of capacitor element groups are arranged linearly in the vicinity. 10. The method of mounting a capacitor element according to claim 8, wherein the capacitor element is mounted. 前記コンデンサ素子群が複数存在する場合に、前記複数のコンデンサ素子群に含まれるすべてのコンデンサ素子が近傍にマトリックス状に並んで配置されるように、当該すべてのコンデンサ素子を前記配線基板に実装することを特徴とする、請求項8または9に記載のコンデンサ素子の実装方法。   When there are a plurality of capacitor element groups, all the capacitor elements are mounted on the wiring board so that all the capacitor elements included in the plurality of capacitor element groups are arranged in a matrix in the vicinity. 10. The method of mounting a capacitor element according to claim 8, wherein the capacitor element is mounted. 前記コンデンサ素子群に含まれる前記複数のコンデンサ素子の各々が有する前記積層体の積層方向がいずれも同一の方向を向くように、当該複数のコンデンサ素子を前記配線基板に実装することを特徴とする、請求項8から11のいずれかに記載のコンデンサ素子の実装方法。   The plurality of capacitor elements are mounted on the wiring board so that the stacking direction of the multilayer body included in each of the plurality of capacitor elements included in the capacitor element group faces the same direction. The method for mounting a capacitor element according to claim 8. 前記コンデンサ素子群が同等の仕様の一対のコンデンサ素子からなるものであることを特徴とする、請求項8から12のいずれかに記載のコンデンサ素子の実装方法。   The method of mounting a capacitor element according to any one of claims 8 to 12, wherein the capacitor element group includes a pair of capacitor elements having equivalent specifications. 前記一対のコンデンサ素子に印加される電圧の絶対値の和が常時略一定となるように、当該一対のコンデンサ素子を前記配線基板に実装することを特徴とする、請求項13に記載のコンデンサ素子の実装方法。   14. The capacitor element according to claim 13, wherein the pair of capacitor elements are mounted on the wiring board so that a sum of absolute values of voltages applied to the pair of capacitor elements is always substantially constant. How to implement
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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