JP2014158011A - Method for manufacturing led device - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for manufacturing an LED device which is capable of efficiently extracting light for a long period and in which a reflective layer for reflecting an outgoing beam or the like from an LED element is slightly degraded.SOLUTION: A method for manufacturing an LED device comprising a substrate, an LED element mounted on the substrate, a wavelength conversion layer covering the LED element, and a reflective layer formed on the substrate and outside a peripheral part of a mounting region of the LED element comprises the steps of: mounting the LED element on the substrate; applying a composition for reflective layer formation containing a light diffusion particle, an organic silicon compound, and a solvent onto the substrate and forming a reflective layer by hardening the organic silicon compound; and forming a wavelength conversion layer containing a phosphor particle and a binder so as to cover the LED element.

Description

本発明は、LED装置の製造方法に関する。   The present invention relates to a method for manufacturing an LED device.

近年、LED素子の近傍に蛍光体を配置し、LED素子からの光で蛍光体を励起させて白色光を得る白色LED装置が開発されている。このようなLED装置の例には、青色LED素子からの青色光と、青色光を受けて蛍光体が発する黄色の蛍光とを組み合わせて白色光を得るLED装置がある。また、紫外光を出射するLED素子を光源とし、紫外光を受けて蛍光体が発する青色光、緑色光、及び赤色光を組み合わせて、白色光を得るLED装置もある。   In recent years, a white LED device has been developed in which a phosphor is disposed in the vicinity of an LED element and white light is obtained by exciting the phosphor with light from the LED element. As an example of such an LED device, there is an LED device that obtains white light by combining blue light from a blue LED element and yellow fluorescence emitted from a phosphor upon receiving blue light. There is also an LED device that obtains white light by using an LED element that emits ultraviolet light as a light source and combining blue light, green light, and red light emitted from a phosphor upon receiving the ultraviolet light.

従来のLED装置では、LED素子を実装する基板等が、LED素子の出射光や、蛍光体が発する蛍光を吸収しやすく、光取り出し性が十分でない、との問題があった。そこで、一般的なLED装置には、LED素子の周囲に、光反射率が高いリフレクタが配置されている。このようなリフレクタは、一般的に金属メッキ等から形成されている。   In the conventional LED device, there is a problem that the substrate on which the LED element is mounted easily absorbs the emitted light of the LED element and the fluorescence emitted by the phosphor, and the light extraction property is not sufficient. Therefore, in a general LED device, a reflector having a high light reflectance is disposed around the LED element. Such a reflector is generally formed of metal plating or the like.

しかし、金属メッキからなるリフレクタは、電気の導通防止の観点から、基板全面に形成することができない。そのため、リフレクタが形成されていない領域では、基板に光が吸収されてしまう、という問題があった。   However, a reflector made of metal plating cannot be formed on the entire surface of the substrate from the viewpoint of preventing electrical conduction. Therefore, there is a problem that light is absorbed by the substrate in the region where the reflector is not formed.

一方、金属メッキを透明樹脂層で覆ったリフレクタや(特許文献1)、白色の樹脂層で、金属メッキを覆ったリフレクタも提案されている(特許文献2)。   On the other hand, a reflector in which metal plating is covered with a transparent resin layer (Patent Document 1), and a reflector in which metal plating is covered with a white resin layer have also been proposed (Patent Document 2).

特開2005−136379号公報JP 2005-136379 A 特開2011−23621号公報JP 2011-23621 A

しかし、リフレクタ近傍では、光が多重散乱する。そのため、特許文献1及び2の技術のように、金属メッキからなるリフレクタ表面を樹脂で被覆した場合や、リフレクタが樹脂からなる場合、樹脂が熱や光により劣化する。その結果、経時で反射層の光反射性が低下したり、電気が導通してしまう、という問題があった。特に、車載用のヘッドライト等、大光量が必要とされる用途において、樹脂が劣化しやすかった。   However, light is scattered multiple times in the vicinity of the reflector. Therefore, as in the techniques of Patent Documents 1 and 2, when the reflector surface made of metal plating is coated with a resin, or when the reflector is made of a resin, the resin is deteriorated by heat or light. As a result, there is a problem that the light reflectivity of the reflective layer decreases with time or electricity is conducted. In particular, in applications where a large amount of light is required, such as in-vehicle headlights, the resin is likely to deteriorate.

本発明はこのような状況に鑑みてなされたものである。すなわち、LED素子からの出射光等を反射するための反射層の劣化が少なく、長期間に亘り、効率よく光を取り出すことが可能なLED装置の製造方法を提供する。   The present invention has been made in view of such a situation. In other words, the present invention provides a method for manufacturing an LED device that can efficiently extract light over a long period of time with little deterioration of a reflective layer for reflecting light emitted from an LED element.

即ち、本発明は、以下のLED装置の製造方法に関する。
[1]基板と、前記基板上に実装されたLED素子と、前記LED素子を被覆する波長変換層と、前記基板上かつ前記LED素子の実装領域の周縁部の外側に形成された反射層とを有するLED装置の製造方法であって、前記基板に、前記LED素子を実装する実装工程と、前記基板上に、光拡散粒子、有機ケイ素化合物、及び溶媒を含む反射層形成用組成物を塗布し、前記反射層形成用組成物を乾燥・硬化させて前記反射層を形成する反射層形成工程と、前記LED素子を被覆するように、蛍光体粒子及びバインダ成分を含む波長変換層用組成物を塗布し、前記波長変換層を形成する波長変換層形成工程と、を含むLED装置の製造方法。
That is, this invention relates to the manufacturing method of the following LED devices.
[1] A substrate, an LED element mounted on the substrate, a wavelength conversion layer covering the LED element, a reflective layer formed on the substrate and outside a peripheral portion of a mounting region of the LED element, A mounting process for mounting the LED element on the substrate, and a reflective layer forming composition containing light diffusing particles, an organosilicon compound, and a solvent is applied on the substrate. A reflective layer forming step of drying and curing the reflective layer forming composition to form the reflective layer; and a wavelength conversion layer composition containing phosphor particles and a binder component so as to cover the LED element. And a wavelength conversion layer forming step of forming the wavelength conversion layer.

[2]前記反射層形成工程が、前記LED素子の実装領域及びその周縁部を板状マスクで覆うステップと、前記基板上に前記反射層形成用組成物を塗布し、前記反射層形成用組成物を乾燥・硬化させるステップとをこの順に含む、[1]に記載のLED装置の製造方法。
[3]前記反射層形成工程が、前記LED素子の実装領域及びその周縁部をレジスト材料で被覆するステップと、前記基板上に前記反射層形成用組成物を塗布し、前記反射層形成用組成物を乾燥・硬化させるステップと、前記レジスト材料及び前記レジスト材料上の反射層形成用組成物を除去するステップと、をこの順に含む、[1]に記載のLED装置の製造方法。
[4]前記反射層形成工程が、前記LED素子の実装領域及びその周縁部を水または溶媒に可溶な可溶性樹脂で被覆するステップと、前記基板上に前記反射層形成用組成物を塗布し、前記反射層形成用組成物を乾燥・硬化させるステップと、前記可溶性樹脂を水または溶媒に溶解させて、前記可溶性樹脂及び前記可溶性樹脂上の反射層形成用組成物を除去するステップと、をこの順に含む、[1]に記載のLED装置の製造方法。
[5]前記反射層形成工程が、前記LED素子の実装領域及びその周縁部に撥液剤を塗布するステップと、前記基板上に前記反射層形成用組成物を塗布し、前記反射層形成用組成物を乾燥・硬化させるステップと、をこの順に含む、[1]に記載のLED装置の製造方法。
[2] The step of forming the reflective layer includes a step of covering the LED element mounting region and its peripheral edge with a plate mask, applying the reflective layer forming composition on the substrate, and forming the reflective layer forming composition. The method for manufacturing an LED device according to [1], further including a step of drying and curing the object in this order.
[3] The reflective layer forming step includes a step of coating a mounting region of the LED element and a peripheral portion thereof with a resist material, applying the reflective layer forming composition onto the substrate, and forming the reflective layer forming composition. The method for manufacturing an LED device according to [1], comprising: a step of drying and curing an object; and a step of removing the resist material and the reflective layer forming composition on the resist material in this order.
[4] In the reflective layer forming step, the LED element mounting region and the peripheral edge thereof are coated with a soluble resin soluble in water or a solvent, and the reflective layer forming composition is applied onto the substrate. A step of drying and curing the reflective layer forming composition, and a step of dissolving the soluble resin in water or a solvent to remove the soluble resin and the reflective layer forming composition on the soluble resin. The manufacturing method of the LED device according to [1], including in this order.
[5] The reflective layer forming step includes a step of applying a liquid repellent to the mounting region of the LED element and a peripheral portion thereof, and the reflective layer forming composition is applied onto the substrate. The method for manufacturing an LED device according to [1], further including a step of drying and curing the object in this order.

[6]前記実装工程、前記波長変換層形成工程、及び前記反射層形成工程の順に行われ、前記波長変換層形成工程が、前記LED素子の実装領域及びその周縁部を被覆するように前記波長変換層を形成する工程であり、前記反射層形成工程が、前記基板上かつ前記LED素子の実装領域の周縁部の外側に、前記LED素子を被覆する前記波長変換層の上面より、高さの低い反射層を形成する工程である、[1]に記載のLED装置の製造方法。
[7]前記波長変換層形成工程が、前記基板のLED素子の発光面を鉛直下方に向けて配置し、前記波長変換層用組成物を硬化させるステップを含む、[6]に記載のLED装置の製造方法。
[8]前記波長変換層形成工程が、前記基板のLED素子の発光面を鉛直下方に向けて配置し、前記波長変換層用組成物を塗布するステップを含む、[6]または[7]に記載のLED装置の製造方法。
[6] The wavelength conversion layer forming step, the wavelength conversion layer forming step, and the reflective layer forming step are performed in this order, and the wavelength conversion layer forming step covers the mounting region of the LED element and the peripheral portion thereof. A step of forming a conversion layer, wherein the reflection layer formation step has a height higher than the upper surface of the wavelength conversion layer covering the LED element on the substrate and outside the peripheral portion of the LED element mounting region. The method for manufacturing an LED device according to [1], which is a step of forming a low reflective layer.
[7] The LED device according to [6], wherein the wavelength conversion layer forming step includes a step of placing the light emitting surface of the LED element of the substrate facing vertically downward and curing the composition for wavelength conversion layer. Manufacturing method.
[8] In the above [6] or [7], the wavelength conversion layer forming step includes a step of arranging the light emitting surface of the LED element of the substrate facing vertically downward and applying the wavelength conversion layer composition. The manufacturing method of the LED device of description.

[9]前記LED素子を被覆する透光層を形成する透光層形成工程をさらに有し、前記実装工程、前記透光層形成工程、前記反射層形成工程、及び前記波長変換層形成工程の順に行われ、前記透光層形成工程が、前記LED素子の実装領域及びその周縁部を被覆するように、透光性材料を含む透光層用組成物を塗布し、透光層を形成する工程であり、前記反射層形成工程が、前記基板上かつ前記LED素子の実装領域の周縁部の外側に、前記LED素子を被覆する前記透光層の上面より、高さの低い反射層を形成する工程である、[1]に記載のLED装置の製造方法。
[10]前記透光層形成工程が、前記基板のLED素子の発光面を鉛直下方に向けて配置し、前記透光層用組成物を硬化させるステップを含む、[9]に記載のLED装置の製造方法。
[11]前記透光層形成工程が、前記基板のLED素子の発光面を鉛直下方に向けて配置し、前記透光層用組成物を塗布するステップを含む、[9]または[10]に記載のLED装置の製造方法。
[9] The method further includes a light-transmitting layer forming step of forming a light-transmitting layer that covers the LED element, the mounting step, the light-transmitting layer forming step, the reflecting layer forming step, and the wavelength conversion layer forming step. The light-transmitting layer forming step is performed in sequence, and the light-transmitting layer composition including the light-transmitting material is applied so as to cover the LED element mounting region and the peripheral portion thereof, thereby forming the light-transmitting layer. The reflective layer forming step forms a reflective layer having a height lower than the upper surface of the translucent layer covering the LED element on the substrate and outside the peripheral portion of the LED element mounting region. The manufacturing method of the LED device as described in [1] which is a process to perform.
[10] The LED device according to [9], wherein the translucent layer forming step includes a step of placing the light emitting surface of the LED element of the substrate facing vertically downward to cure the translucent layer composition. Manufacturing method.
[11] In the above [9] or [10], the translucent layer forming step includes a step of arranging the light emitting surface of the LED element of the substrate facing vertically downward and applying the translucent layer composition. The manufacturing method of the LED device of description.

[12]前記反射層形成工程が、前記LED素子の実装領域の周縁部を囲む隔壁を形成するステップと、前記隔壁の外側に、前記隔壁より高さの低い反射層を形成するステップと、を含む、[1]に記載のLED装置の製造方法。
[13]前記基板が、前記LED素子の実装領域の周縁部を囲む溝部を有する、[1]に記載のLED装置の製造方法。
[12] The reflective layer forming step includes a step of forming a partition wall that surrounds a peripheral portion of the LED element mounting region, and a step of forming a reflective layer having a height lower than the partition wall outside the partition wall. The manufacturing method of the LED device as described in [1].
[13] The method for manufacturing an LED device according to [1], wherein the substrate has a groove portion surrounding a peripheral portion of a mounting region of the LED element.

[14]前記基板は、前記LED素子の実装領域面が、前記反射層形成面より突出している、[1]に記載のLED装置の製造方法。
[15]前記反射層形成工程が、前記LED素子の実装領域の周縁部の外側の一部の領域Aに前記反射層形成用組成物を塗布するステップと、前記領域Aと分離した前記LED素子の実装領域の周縁部の外側の一部の領域Bに前記反射層形成用組成物を塗布するステップと、前記領域A及び前記領域Bの間隙に前記反射層形成用組成物を塗布するステップと、を含む、[1]に記載のLED装置の製造方法。
[16]前記反射層形成工程が、前記基板のLED素子の発光面を鉛直下方に向けて配置し、前記基板と塗布装置とを相対的に移動させながら、前記反射層形成用組成物を塗布するステップを含む、[1]に記載のLED装置の製造方法。
[14] The LED device manufacturing method according to [1], wherein the substrate has a mounting area surface of the LED element protruding from the reflective layer forming surface.
[15] In the reflective layer forming step, the step of applying the reflective layer forming composition to a partial area A outside the peripheral edge of the LED element mounting area, and the LED element separated from the area A Applying the reflective layer forming composition to a part of the region B outside the peripheral edge of the mounting region, and applying the reflective layer forming composition to the gap between the region A and the region B; The manufacturing method of the LED device as described in [1].
[16] In the reflective layer forming step, the light emitting surface of the LED element of the substrate is disposed vertically downward, and the reflective layer forming composition is applied while relatively moving the substrate and the coating apparatus. The manufacturing method of the LED device as described in [1] including the step to do.

本発明の製造方法で得られるLED装置では、反射層が熱や光等で劣化し難い。したがって、長期間に亘り、良好な光取り出し効率を維持できる。   In the LED device obtained by the manufacturing method of the present invention, the reflective layer is hardly deteriorated by heat or light. Therefore, good light extraction efficiency can be maintained over a long period of time.

本発明の製造方法により得られるLED装置の一例を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows an example of the LED device obtained by the manufacturing method of this invention. 本発明の製造方法により得られるLED装置の他の例を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the other example of the LED device obtained by the manufacturing method of this invention. 本発明の製造方法により得られるLED装置の他の例を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the other example of the LED device obtained by the manufacturing method of this invention. 本発明の製造方法により得られるLED装置の他の例を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the other example of the LED device obtained by the manufacturing method of this invention. 本発明の製造方法により得られるLED装置の他の例を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the other example of the LED device obtained by the manufacturing method of this invention. 本発明の製造方法により得られるLED装置の他の例を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the other example of the LED device obtained by the manufacturing method of this invention. 本発明のLED装置の製造方法の一例を示す工程図である。It is process drawing which shows an example of the manufacturing method of the LED apparatus of this invention. 図8(a)は、本発明のLED装置の製造方法において、LED素子の実装領域及びその周縁部を保護する板状マスクの例を示す上面図であり、図8(b)は、当該板状マスクを配置して、反射層形成用組成物を塗布する方法の説明図である。FIG. 8A is a top view showing an example of a plate-like mask that protects the LED element mounting region and its peripheral edge in the LED device manufacturing method of the present invention, and FIG. It is explanatory drawing of the method of arrange | positioning a mask and apply | coating the composition for reflective layer formation. 本発明のLED装置の製造方法の他の例を示す工程図である。It is process drawing which shows the other example of the manufacturing method of the LED device of this invention. 本発明のLED装置の製造方法の他の例を示す工程図である。It is process drawing which shows the other example of the manufacturing method of the LED device of this invention. 本発明のLED装置の製造方法の他の例を示す工程図である。It is process drawing which shows the other example of the manufacturing method of the LED device of this invention. 本発明のLED装置の製造方法の他の例を示す工程図である。It is process drawing which shows the other example of the manufacturing method of the LED device of this invention. 本発明のLED装置の製造方法の他の例を示す工程図である。It is process drawing which shows the other example of the manufacturing method of the LED device of this invention. 本発明のLED装置の製造方法で形成する、隔壁の位置を示す上面図である。It is a top view which shows the position of the partition formed with the manufacturing method of the LED device of this invention. 本発明のLED装置の製造方法の他の例を示す工程図である。It is process drawing which shows the other example of the manufacturing method of the LED device of this invention. 本発明のLED装置の製造方法の他の例を示す工程図である。It is process drawing which shows the other example of the manufacturing method of the LED device of this invention. 本発明のLED装置の製造方法の他の例を示す工程図である。It is process drawing which shows the other example of the manufacturing method of the LED device of this invention. 本発明のLED装置の製造方法の他の例を示す工程図である。It is process drawing which shows the other example of the manufacturing method of the LED device of this invention. 本発明のLED装置の製造方法の他の例を示す工程図である。It is process drawing which shows the other example of the manufacturing method of the LED device of this invention. 本発明のLED装置の製造方法の他の例を示す工程図である。It is process drawing which shows the other example of the manufacturing method of the LED device of this invention.

1.LED装置
本発明の方法で得られるLED装置は、LED素子の出射光等を、光取り出し面側に反射する反射層を有する。本発明のLED装置の構造の例を、図1〜6の概略断面図に示す。図1〜6に示されるように、LED装置100には、基板1と、基板1に実装されたLED素子2と、基板1上かつLED素子2の実装領域の周縁部の外側に形成された反射層21と、LED素子2を覆う波長変換層11とが含まれる。波長変換層11は、蛍光体粒子を含み、LED素子2が出射する特定波長の光を、他の波長の光に変換する層である。また、反射層21は、LED素子2が出射する光や蛍光体粒子が発する蛍光を、LED装置100の光取り出し面側に反射する層である。
1. LED Device The LED device obtained by the method of the present invention has a reflective layer that reflects the emitted light or the like of the LED element to the light extraction surface side. Examples of the structure of the LED device of the present invention are shown in the schematic sectional views of FIGS. As shown in FIGS. 1 to 6, the LED device 100 is formed on the substrate 1, the LED element 2 mounted on the substrate 1, and on the substrate 1 and outside the peripheral portion of the mounting region of the LED element 2. The reflective layer 21 and the wavelength conversion layer 11 that covers the LED element 2 are included. The wavelength conversion layer 11 is a layer that contains phosphor particles and converts light of a specific wavelength emitted from the LED element 2 into light of another wavelength. The reflective layer 21 is a layer that reflects the light emitted from the LED element 2 and the fluorescence emitted from the phosphor particles to the light extraction surface side of the LED device 100.

前述のように、反射層が樹脂からなる場合には、反射層が熱や光により劣化し、経時で反射層の光反射性が低下する等の問題があった。これに対し、本発明の方法で得られるLED装置100では、反射層21のバインダが有機ケイ素化合物の硬化物;つまり透光性セラミックである。そのため、熱や光によって劣化し難く、経時で反射層21の光反射性が低下することがない。   As described above, when the reflective layer is made of a resin, there is a problem that the reflective layer is deteriorated by heat or light, and the light reflectivity of the reflective layer is lowered with time. On the other hand, in the LED device 100 obtained by the method of the present invention, the binder of the reflective layer 21 is a cured product of an organosilicon compound; that is, a translucent ceramic. Therefore, it is hard to deteriorate with heat and light, and the light reflectivity of the reflective layer 21 does not decrease with time.

1−1.基板
基板1は、図1〜6に示されるようにキャビティ(凹部)を有していてもよく、平板状であってもよい。キャビティの形状は特に制限されない。例えば図1等に示されるように円錐台状であってもよく、角錐台状や、円柱状、角柱状等であってもよい。
また、図15(a)の概略断面図に示されるように、LED素子2の実装領域及びその周縁部を囲むように、溝部10を有してもよい。さらに、図16(a)の概略断面図に示されるように、LED素子2の実装面1aが、反射層3の形成面1bより突出していてもよい。
1-1. Substrate The substrate 1 may have a cavity (concave portion) as shown in FIGS. 1 to 6 or may have a flat plate shape. The shape of the cavity is not particularly limited. For example, as shown in FIG. 1 or the like, a truncated cone shape, a truncated pyramid shape, a columnar shape, a prismatic shape, or the like may be used.
Further, as shown in the schematic cross-sectional view of FIG. 15A, the groove portion 10 may be provided so as to surround the mounting region of the LED element 2 and the peripheral portion thereof. Furthermore, as shown in the schematic cross-sectional view of FIG. 16A, the mounting surface 1 a of the LED element 2 may protrude from the formation surface 1 b of the reflective layer 3.

基板1は、絶縁性及び耐熱性を有することが好ましく、セラミック樹脂や耐熱性樹脂からなることが好ましい。耐熱性樹脂の例には、液晶ポリマー、ポリフェニレンスルフィド、芳香族ナイロン、エポキシ樹脂、硬質シリコーンレジン、ポリフタル酸アミド等が含まれる。   The substrate 1 preferably has insulating properties and heat resistance, and is preferably made of a ceramic resin or a heat resistant resin. Examples of the heat resistant resin include liquid crystal polymer, polyphenylene sulfide, aromatic nylon, epoxy resin, hard silicone resin, polyphthalic acid amide and the like.

基板1には、無機フィラーが含まれていてもよい。無機フィラーは、酸化チタン、酸化亜鉛、アルミナ、シリカ、チタン酸バリウム、リン酸カルシウム、炭酸カルシウム、ホワイトカーボン、タルク、炭酸マグネシウム、窒化ホウ素、グラスファイバー等でありうる。   The substrate 1 may contain an inorganic filler. The inorganic filler can be titanium oxide, zinc oxide, alumina, silica, barium titanate, calcium phosphate, calcium carbonate, white carbon, talc, magnesium carbonate, boron nitride, glass fiber, and the like.

基板1には通常、メタル部3が配設される。メタル部3は、銀等の金属からなる。メタル部3は、外部の電源(不図示)とLED素子2とを電気的に接続する一対の金属電極部でありうる。また図2及び図4に示されるように、メタル部3はLED素子2からの光を、LED装置100の光取り出し面側に反射する金属反射膜でもありうる。   The metal part 3 is usually disposed on the substrate 1. The metal part 3 is made of a metal such as silver. The metal part 3 may be a pair of metal electrode parts that electrically connect an external power source (not shown) and the LED element 2. As shown in FIGS. 2 and 4, the metal portion 3 can also be a metal reflection film that reflects light from the LED element 2 toward the light extraction surface of the LED device 100.

基板1及びメタル部3は、一般的な方法で作製され、例えば樹脂と金属板とを一体成型して得られる。   The board | substrate 1 and the metal part 3 are produced by a general method, for example, are obtained by integrally molding resin and a metal plate.

1−2.LED素子
LED素子2は、基板1に配設されたメタル部(メタル配線)3と電気的に接続されて、特定の波長の光を発する。LED素子2が出射する光の波長は特に制限されない。LED素子2は、例えば青色光(420nm〜485nm程度の光)を発する素子であってもよく、紫外光を発する素子であってもよい。
1-2. LED Element The LED element 2 is electrically connected to a metal part (metal wiring) 3 disposed on the substrate 1 and emits light of a specific wavelength. The wavelength of the light emitted from the LED element 2 is not particularly limited. The LED element 2 may be, for example, an element that emits blue light (light of about 420 nm to 485 nm) or an element that emits ultraviolet light.

LED素子2の構成は、特に制限されない。LED素子2が、青色光を発する素子である場合、LED素子2は、n−GaN系化合物半導体層(クラッド層)と、InGaN系化合物半導体層(発光層)と、p−GaN系化合物半導体層(クラッド層)と、透明電極層との積層体でありうる。LED素子2は、例えば200〜300μm×200〜300μmの発光面を有するものでありうる。またLED素子2の高さは、通常50〜200μm程度である。図1〜6に示されるLED装置100には、基板1に1つのLED素子2のみが配置されているが、基板1に複数のLED素子2が配置されていてもよい。   The configuration of the LED element 2 is not particularly limited. When the LED element 2 is an element that emits blue light, the LED element 2 includes an n-GaN compound semiconductor layer (cladding layer), an InGaN compound semiconductor layer (light emitting layer), and a p-GaN compound semiconductor layer. It may be a laminate of (cladding layer) and a transparent electrode layer. The LED element 2 may have a light emitting surface of 200 to 300 μm × 200 to 300 μm, for example. Moreover, the height of the LED element 2 is about 50-200 micrometers normally. In the LED device 100 shown in FIGS. 1 to 6, only one LED element 2 is disposed on the substrate 1, but a plurality of LED elements 2 may be disposed on the substrate 1.

LED素子2と基板1に配設されたメタル部(金属電極部)3との接続方法は特に制限されない。例えば図1に示されるように、LED素子2とメタル部3とが、ワイヤ4を介して接続されてもよい。また、図3に示されるように、LED素子2とメタル部3とが、突起電極5を介して接続されてもよい。LED素子2とメタル部3とが、ワイヤ4を介して接続される態様をワイヤボンディング型といい、LED素子2とメタル部3とが、突起電極5を介して接続される態様をフリップチップ型という。   The connection method between the LED element 2 and the metal part (metal electrode part) 3 disposed on the substrate 1 is not particularly limited. For example, as shown in FIG. 1, the LED element 2 and the metal part 3 may be connected via a wire 4. Further, as shown in FIG. 3, the LED element 2 and the metal portion 3 may be connected via the protruding electrode 5. An aspect in which the LED element 2 and the metal part 3 are connected via the wire 4 is referred to as a wire bonding type, and an aspect in which the LED element 2 and the metal part 3 are connected via the protruding electrode 5 is a flip chip type. That's it.

1−3.反射層
反射層21は、LED素子2が出射する光や、波長変換層11に含まれる蛍光体粒子が発する蛍光を、LED装置100の光取り出し面側に反射する層である。反射層21が配設されることで、LED装置100から取り出される光量が増加する。
1-3. Reflective Layer The reflective layer 21 is a layer that reflects the light emitted from the LED element 2 and the fluorescence emitted from the phosphor particles contained in the wavelength conversion layer 11 to the light extraction surface side of the LED device 100. By disposing the reflective layer 21, the amount of light extracted from the LED device 100 increases.

反射層21は、基板1上かつLED素子2の実装領域の周縁部の外側に形成される。LED素子2の実装領域とは、LED素子2の発光面、及びLED素子2とメタル部3との接続部をいう。LED素子2の実装領域の周縁部とは、実装領域の外縁から幅1μm外側までの領域をいう。つまり、反射層21は、LED素子2の光の出射、及びLED素子2とメタル部(金属電極部)3との接続を阻害しない領域に形成される。   The reflective layer 21 is formed on the substrate 1 and outside the peripheral edge of the LED element 2 mounting area. The mounting area of the LED element 2 refers to a light emitting surface of the LED element 2 and a connection part between the LED element 2 and the metal part 3. The peripheral portion of the mounting region of the LED element 2 refers to a region from the outer edge of the mounting region to the outside of the width of 1 μm. That is, the reflective layer 21 is formed in a region that does not hinder the light emission of the LED element 2 and the connection between the LED element 2 and the metal part (metal electrode part) 3.

図1に示されるように、基板1がキャビティを有する場合、キャビティの底面にのみ反射層21が形成されてもよく、図2に示されるように、キャビティの側面6及び底面に反射層21が形成されてもよい。反射層21がキャビティ内壁面6に形成されると、波長変換層11表面に水平な方向に進む光を、反射層21で反射させて、取り出すことができる。   As shown in FIG. 1, when the substrate 1 has a cavity, the reflective layer 21 may be formed only on the bottom surface of the cavity. As shown in FIG. 2, the reflective layer 21 is formed on the side surface 6 and the bottom surface of the cavity. It may be formed. When the reflective layer 21 is formed on the cavity inner wall surface 6, the light traveling in the horizontal direction on the surface of the wavelength conversion layer 11 can be reflected by the reflective layer 21 and extracted.

また、図2及び図4に示されるように、反射層21はメタル部3を被覆しないように形成されてもよい。この場合、LED素子2等からの光は、メタル部3及び反射層21によって反射される。   As shown in FIGS. 2 and 4, the reflective layer 21 may be formed so as not to cover the metal portion 3. In this case, light from the LED element 2 and the like is reflected by the metal portion 3 and the reflective layer 21.

反射層21は、後述の反射層形成用組成物を硬化させて得られ、光拡散粒子が透光性セラミック(有機ケイ素化合物の硬化物)に分散された層である。反射層21の厚みは、5〜50μmであることが好ましく、より好ましくは5〜30μmである。反射層21の厚みが、50μmを超えると、反射層21にクラックが発生しやすくなる。一方、反射層21の厚みが5μm未満であると、反射層21の光反射性が十分ではなく、LED装置100からの光取り出し効率が高まらない場合がある。   The reflective layer 21 is obtained by curing a composition for forming a reflective layer, which will be described later, and is a layer in which light diffusion particles are dispersed in a translucent ceramic (cured product of an organosilicon compound). The thickness of the reflective layer 21 is preferably 5 to 50 μm, more preferably 5 to 30 μm. If the thickness of the reflective layer 21 exceeds 50 μm, cracks are likely to occur in the reflective layer 21. On the other hand, when the thickness of the reflective layer 21 is less than 5 μm, the light reflectivity of the reflective layer 21 is not sufficient, and the light extraction efficiency from the LED device 100 may not be increased.

1−4.波長変換層
波長変換層11には、蛍光体粒子及びバインダが含まれる。蛍光体粒子はLED素子2が出射する光(励起光)を受けて、蛍光を発する。励起光と蛍光とが混ざることで、LED装置100からの光の色が所望の色となる。例えば、LED素子2からの光が青色であり、波長変換層11に含まれる蛍光体が発する蛍光が黄色であると、LED装置100からの光が白色となる。
1-4. Wavelength Conversion Layer The wavelength conversion layer 11 includes phosphor particles and a binder. The phosphor particles receive light (excitation light) emitted from the LED element 2 and emit fluorescence. By mixing the excitation light and the fluorescence, the color of the light from the LED device 100 becomes a desired color. For example, when the light from the LED element 2 is blue and the fluorescence emitted from the phosphor included in the wavelength conversion layer 11 is yellow, the light from the LED device 100 is white.

波長変換層11は、LED素子2を被覆すればよく、例えば図1〜4及び図6に示されるように、LED素子2とともに、反射層21やメタル部3を被覆してもよい。また例えば図5に示されるように、LED素子2のみを被覆してもよい。   The wavelength conversion layer 11 should just coat | cover the LED element 2, for example, as FIG. 1-4 and FIG. 6 show, you may coat | cover the reflective layer 21 and the metal part 3 with LED element 2. FIG. For example, as shown in FIG. 5, only the LED element 2 may be covered.

波長変換層11に含まれる蛍光体粒子は、LED素子2から出射する光により励起されて、LED素子2からの出射光と異なる波長の蛍光を発するものであればよい。例えば、黄色の蛍光を発する蛍光体粒子の例には、YAG(イットリウム・アルミニウム・ガーネット)蛍光体等がある。YAG蛍光体は、青色LED素子から出射される青色光(波長420nm〜485nm)を受けて、黄色の蛍光(波長550nm〜650nm)を発する。   The phosphor particles included in the wavelength conversion layer 11 may be anything that is excited by light emitted from the LED element 2 and emits fluorescence having a wavelength different from that of the emitted light from the LED element 2. For example, examples of phosphor particles that emit yellow fluorescence include YAG (yttrium, aluminum, garnet) phosphors. The YAG phosphor receives blue light (wavelength 420 nm to 485 nm) emitted from the blue LED element, and emits yellow fluorescence (wavelength 550 nm to 650 nm).

蛍光体粒子は、例えば1)所定の組成を有する混合原料に、フラックス(フッ化アンモニウム等のフッ化物)を適量混合して加圧し、これを成形体とする。2)得られた成形体を坩堝に詰め、空気中で1350〜1450℃の温度範囲で、2〜5時間焼成し、焼結体とすることで得られる。   The phosphor particles are, for example, 1) A suitable amount of flux (fluoride such as ammonium fluoride) is mixed with a mixed raw material having a predetermined composition and pressed to form a molded body. 2) The obtained molded body is packed in a crucible and fired in air at a temperature range of 1350 to 1450 ° C. for 2 to 5 hours to obtain a sintered body.

所定の組成を有する混合原料は、Y、Gd、Ce、Sm、Al、La、Ga等の酸化物、または高温で容易に酸化物となる化合物を、化学両論比で十分に混合して得られる。また、所定の組成を有する混合原料は、1)Y、Gd、Ce、Smの希土類元素を化学両論比で酸に溶解した溶液と、シュウ酸とを混合し、共沈酸化物を得られる。2)この共沈酸化物と、酸化アルミニウム、または酸化ガリウムとを混合しても得られる。   A mixed raw material having a predetermined composition is obtained by sufficiently mixing oxides such as Y, Gd, Ce, Sm, Al, La, and Ga, or compounds that easily become oxides at high temperatures in a stoichiometric ratio. . The mixed raw material having a predetermined composition can be obtained by mixing 1) a solution in which rare earth elements of Y, Gd, Ce, and Sm are dissolved in an acid with a stoichiometric ratio and oxalic acid to obtain a coprecipitated oxide. 2) It can also be obtained by mixing this coprecipitated oxide with aluminum oxide or gallium oxide.

蛍光体の種類は、YAG蛍光体に限定されるものではなく、例えばCeを含まない非ガーネット系蛍光体等、他の蛍光体であってもよい。   The type of the phosphor is not limited to the YAG phosphor, and may be another phosphor such as a non-garnet phosphor that does not contain Ce.

蛍光体粒子の平均粒径は1μm〜50μmであることが好ましく、10μm以下であることがより好ましい。蛍光体粒子の粒径が大きいほど発光効率(波長変換効率)が高くなる。一方、蛍光体粒子の粒径が大きすぎると、蛍光体粒子とバインダとの界面に生じる隙間が大きくなる。これにより、波長変換層の硬化膜の強度が低下しやすい。蛍光体粒子の平均粒径は、レーザー回折式粒度分布計で測定されるD50の値をいう。レーザー回折式粒度分布測定装置の例には、島津製作所製のレーザー回折式粒度分布測定装置等がある。   The average particle diameter of the phosphor particles is preferably 1 μm to 50 μm, and more preferably 10 μm or less. The larger the particle size of the phosphor particles, the higher the light emission efficiency (wavelength conversion efficiency). On the other hand, when the particle diameter of the phosphor particles is too large, a gap generated at the interface between the phosphor particles and the binder becomes large. Thereby, the intensity | strength of the cured film of a wavelength conversion layer tends to fall. The average particle diameter of the phosphor particles refers to the value of D50 measured with a laser diffraction particle size distribution meter. Examples of the laser diffraction particle size distribution measuring device include a laser diffraction particle size distribution measuring device manufactured by Shimadzu Corporation.

波長変換層11に含まれるバインダは、透明樹脂または透光性セラミックでありうる。透明樹脂は、例えばシリコーン樹脂及びエポキシ樹脂等でありうる。バインダが透明樹脂である場合、波長変換層11の厚みは25μm〜5mm程度であることが好ましい。波長変換層11の厚みが厚すぎると、蛍光体粒子の濃度が過剰に低くなり、蛍光体粒子が均一に分散されない場合がある。波長変換層11の厚みは、LED素子2の発光面上に成膜された波長変換層11の最大厚みを意味する。波長変換層11の厚みは、レーザホロゲージで測定することができる。また、バインダが透明樹脂である場合、波長変換層11中に含まれる蛍光体粒子の量は、一般には5〜15質量%である。   The binder contained in the wavelength conversion layer 11 can be a transparent resin or a translucent ceramic. The transparent resin can be, for example, a silicone resin and an epoxy resin. When the binder is a transparent resin, the wavelength conversion layer 11 preferably has a thickness of about 25 μm to 5 mm. If the wavelength conversion layer 11 is too thick, the concentration of the phosphor particles becomes excessively low, and the phosphor particles may not be uniformly dispersed. The thickness of the wavelength conversion layer 11 means the maximum thickness of the wavelength conversion layer 11 formed on the light emitting surface of the LED element 2. The thickness of the wavelength conversion layer 11 can be measured with a laser holo gauge. When the binder is a transparent resin, the amount of phosphor particles contained in the wavelength conversion layer 11 is generally 5 to 15% by mass.

一方、透光性セラミックは、反射層に含まれる透光性セラミックと同様でありうる。つまり、有機ケイ素化合物の硬化物(ポリシロキサン等)でありうる。バインダが透光性セラミックである場合、波長変換層11の厚みは5〜200μmであることが好ましい。バインダが透光性セラミックである場合に、波長変換層11の厚みが過剰に厚いと、波長変換層11にクラック等が生じやすくなる。バインダが透光性セラミックである場合も、波長変換層11の厚みは、LED素子2の発光面上に成膜された波長変換層11の最大厚みを意味する。波長変換層11の厚みは、レーザホロゲージで測定することができる。   On the other hand, the translucent ceramic may be the same as the translucent ceramic included in the reflective layer. That is, it can be a cured product of an organosilicon compound (polysiloxane or the like). When the binder is a translucent ceramic, the thickness of the wavelength conversion layer 11 is preferably 5 to 200 μm. When the binder is a translucent ceramic, if the wavelength conversion layer 11 is excessively thick, cracks or the like are likely to occur in the wavelength conversion layer 11. Even when the binder is a translucent ceramic, the thickness of the wavelength conversion layer 11 means the maximum thickness of the wavelength conversion layer 11 formed on the light emitting surface of the LED element 2. The thickness of the wavelength conversion layer 11 can be measured with a laser holo gauge.

また、バインダが透光性セラミックである場合、波長変換層11に含まれる蛍光体粒子の量は60〜95質量%であることが好ましい。波長変換層11に含まれる蛍光体粒子の濃度は高いほど好ましい。蛍光体粒子の濃度が高いと、波長変換層11の強度が高まりやすい。ただし、透光性セラミックの含有比率が少な過ぎると、蛍光体粒子を十分に保持できない場合がある。   Moreover, when a binder is a translucent ceramic, it is preferable that the quantity of the fluorescent substance particle contained in the wavelength conversion layer 11 is 60-95 mass%. The higher the concentration of the phosphor particles contained in the wavelength conversion layer 11, the better. If the concentration of the phosphor particles is high, the strength of the wavelength conversion layer 11 tends to increase. However, if the content ratio of the translucent ceramic is too small, the phosphor particles may not be sufficiently retained.

1−5.透光層
図5または図6に示されるように、LED装置100には、透光層31が含まれてもよい。透光層31は、LED素子2を外部の衝撃やガス等から保護する機能を果たす。透光層31には、透光性材料が含まれる。透光性材料は、透明樹脂であってもよく、透光性セラミックであってもよい。
1-5. Translucent Layer As shown in FIG. 5 or FIG. 6, the LED device 100 may include a translucent layer 31. The light transmissive layer 31 functions to protect the LED element 2 from external impacts, gases, and the like. The light transmissive layer 31 includes a light transmissive material. The translucent material may be a transparent resin or a translucent ceramic.

透光性材料が透明樹脂である場合、透明樹脂は、例えばシリコーン樹脂及びエポキシ樹脂等でありうる。この場合、透光層31の厚みが通常25μm〜5mmであることが好ましく、さらに1〜3mmであることが好ましい。一般的に、透明樹脂が含まれる透光層31の厚みを25μm以下とすることは難しい。一方、LED装置の小型化との観点から、透光層31の厚みは5mm以下であることが好ましい。透光層31の厚みは、LED素子2の発光面上に成膜された透光層31の最大厚みを意味する。透光層31の厚みは、レーザホロゲージで測定することができる。   When the translucent material is a transparent resin, the transparent resin can be, for example, a silicone resin and an epoxy resin. In this case, the thickness of the translucent layer 31 is usually preferably 25 μm to 5 mm, more preferably 1 to 3 mm. In general, it is difficult to make the thickness of the translucent layer 31 containing the transparent resin 25 μm or less. On the other hand, from the viewpoint of miniaturization of the LED device, the thickness of the translucent layer 31 is preferably 5 mm or less. The thickness of the light transmissive layer 31 means the maximum thickness of the light transmissive layer 31 formed on the light emitting surface of the LED element 2. The thickness of the translucent layer 31 can be measured with a laser holo gauge.

一方、透光性材料が透光性セラミックである場合、透光性セラミックは、反射層21に含まれる透光性セラミックと同様でありうる。つまり、有機ケイ素化合物の硬化物(ポリシロキサン等)でありうる。この場合、透光層31の厚みは0.5〜10μmであることが好ましい。透光層31の厚みが0.5μm未満であると、LED素子2を外部の衝撃やガス等から保護する効果が十分に得られない場合がある。一方、透光層31の厚みが10μmを超えると、透光層31にクラックが生じる場合がある。透光性材料がセラミックである場合も、透光層31の厚みとは、LED素子2の発光面上に形成された透光層31の最大厚みを意味する。透光層31の厚みは、レーザホロゲージで測定される。   On the other hand, when the translucent material is a translucent ceramic, the translucent ceramic may be the same as the translucent ceramic included in the reflective layer 21. That is, it can be a cured product of an organosilicon compound (polysiloxane or the like). In this case, it is preferable that the translucent layer 31 has a thickness of 0.5 to 10 μm. When the thickness of the light transmissive layer 31 is less than 0.5 μm, the effect of protecting the LED element 2 from an external impact, gas, or the like may not be sufficiently obtained. On the other hand, when the thickness of the light transmitting layer 31 exceeds 10 μm, the light transmitting layer 31 may be cracked. Even when the translucent material is ceramic, the thickness of the translucent layer 31 means the maximum thickness of the translucent layer 31 formed on the light emitting surface of the LED element 2. The thickness of the translucent layer 31 is measured with a laser holo gauge.

2.反射層形成用組成物
前述の反射層は、有機ケイ素化合物、光拡散粒子、及び溶媒を含む反射層形成用組成物を塗布し、これを乾燥・硬化させることで得られる。反射層形成用組成物には、必要に応じて、金属酸化物微粒子や、無機粒子、粘土鉱物粒子、金属アルコキシドまたは金属キレート、シランカップリング剤、反応促進剤等が含まれてもよい。
2. Reflective Layer Forming Composition The reflective layer described above is obtained by applying a reflective layer forming composition containing an organosilicon compound, light diffusing particles, and a solvent, and drying and curing the composition. The composition for forming a reflective layer may contain metal oxide fine particles, inorganic particles, clay mineral particles, metal alkoxide or metal chelate, silane coupling agent, reaction accelerator and the like, if necessary.

2−1.有機ケイ素化合物
有機ケイ素化合物は(i)ポリシラザンオリゴマー、並びに(ii)シラン化合物のモノマーまたはそのオリゴマーでありうる。
2-1. Organosilicon Compound The organosilicon compound can be (i) a polysilazane oligomer and (ii) a monomer of a silane compound or an oligomer thereof.

(i)ポリシラザンは、一般式(I):(RSiNRで表されるポリシラザンオリゴマーでありうる。一般式(I)中、R、RおよびRは、それぞれ独立して水素原子またはアルキル基、アリール基、ビニル基、またはシクロアルキル基を表すが、R、R、Rのうち少なくとも1つは水素原子であり、好ましくはすべてが水素原子である。nは1〜60の整数を表す。ポリシラザンオリゴマーの分子形状はいかなる形状であってもよく、例えば、直鎖状または環状であってもよい。 (I) The polysilazane may be a polysilazane oligomer represented by the general formula (I): (R 1 R 2 SiNR 3 ) n . In the general formula (I), R 1 , R 2 and R 3 each independently represent a hydrogen atom or an alkyl group, an aryl group, a vinyl group or a cycloalkyl group, but R 1 , R 2 and R 3 At least one of them is a hydrogen atom, preferably all are hydrogen atoms. n represents an integer of 1 to 60. The molecular shape of the polysilazane oligomer may be any shape, for example, linear or cyclic.

(ii)シラン化合物のモノマーまたはオリゴマーは、2官能シラン化合物、3官能シラン化合物、または4官能シラン化合物、またはそのオリゴマーでありうる。シラン化合物のオリゴマーは、後述するように、シラン化合物のモノマーを縮合反応させて得られる。   (Ii) The monomer or oligomer of the silane compound may be a bifunctional silane compound, a trifunctional silane compound, or a tetrafunctional silane compound, or an oligomer thereof. As will be described later, the oligomer of the silane compound is obtained by subjecting a monomer of the silane compound to a condensation reaction.

シラン化合物のオリゴマーは、特に3官能シラン化合物及び4官能シラン化合物のモノマーまたはそのオリゴマーであることが好ましい。3官能シラン化合物及び4官能シラン化合物の重合比率は、3:7〜7:3であることが好ましく、4:6〜6:4であることがより好ましい。4官能シラン化合物の重合比率が過剰であると、硬化物の架橋度が大きくなる。そのため、得られる反射層にクラックが生じやすくなる。一方、3官能シラン化合物の重合比率が過剰であると、ポリシロキサン中に、3官能シラン化合物由来の有機基が多量に残存する。そのため、得られる反射層が、後述の波長変換層用組成物をはじきやすくなり、得られる反射層と波長変換層との密着性が低下しやすい。   The oligomer of the silane compound is preferably a monomer of a trifunctional silane compound and a tetrafunctional silane compound or an oligomer thereof. The polymerization ratio of the trifunctional silane compound and the tetrafunctional silane compound is preferably 3: 7 to 7: 3, and more preferably 4: 6 to 6: 4. When the polymerization ratio of the tetrafunctional silane compound is excessive, the degree of crosslinking of the cured product increases. Therefore, cracks are likely to occur in the resulting reflective layer. On the other hand, when the polymerization ratio of the trifunctional silane compound is excessive, a large amount of organic groups derived from the trifunctional silane compound remain in the polysiloxane. Therefore, the obtained reflective layer tends to repel the composition for wavelength conversion layer described later, and the adhesion between the obtained reflective layer and the wavelength conversion layer tends to be lowered.

4官能シラン化合物の例には、下記一般式(II)で表される化合物が含まれる。
Si(OR …(II)
上記一般式(II)中、Rはそれぞれ独立にアルキル基またはフェニル基を表し、好ましくは炭素数1〜5のアルキル基、またはフェニル基を表す。
Examples of the tetrafunctional silane compound include a compound represented by the following general formula (II).
Si (OR 4 ) 4 (II)
In said general formula (II), R < 4 > represents an alkyl group or a phenyl group each independently, Preferably it represents a C1-C5 alkyl group or a phenyl group.

4官能シラン化合物の具体例には、テトラメトキシシラン、テトラエトキシシラン、テトラプロポキシシランテトラブトキシシラン、テトラペンチルオキシシラン、テトラフェニルオキシシラン、トリメトキシモノエトキシシラン、ジメトキシジエトキシシラン、トリエトキシモノメトキシシラン、トリメトキシモノプロポキシシラン、モノメトキシトリブトキシシラン、モノメトキシトリペンチルオキシシラン、モノメトキシトリフェニルオキシシラン、ジメトキシジプロポキシシラン、トリプロポキシモノメトキシシラン、トリメトキシモノブトキシシラン、ジメトキシジブトキシシラン、トリエトキシモノプロポキシシラン、ジエトキシジプロポキシシラン、トリブトキシモノプロポキシシラン、ジメトキシモノエトキシモノブトキシシラン、ジエトキシモノメトキシモノブトキシシラン、ジエトキシモノプロポキシモノブトキシシラン、ジプロポキシモノメトキシモノエトキシシラン、ジプロポキシモノメトキシモノブトキシシラン、ジプロポキシモノエトキシモノブトキシシラン、ジブトキシモノメトキシモノエトキシシラン、ジブトキシモノエトキシモノプロポキシシラン、モノメトキシモノエトキシモノプロポキシモノブトキシシランなどのアルコキシシラン、またはアリールオキシシラン等が含まれる。これらの中でもテトラメトキシシラン、テトラエトキシシランが好ましい。   Specific examples of tetrafunctional silane compounds include tetramethoxysilane, tetraethoxysilane, tetrapropoxysilane, tetrabutoxysilane, tetrapentyloxysilane, tetraphenyloxysilane, trimethoxymonoethoxysilane, dimethoxydiethoxysilane, and triethoxymonomethoxy. Silane, trimethoxymonopropoxysilane, monomethoxytributoxysilane, monomethoxytripentyloxysilane, monomethoxytriphenyloxysilane, dimethoxydipropoxysilane, tripropoxymonomethoxysilane, trimethoxymonobutoxysilane, dimethoxydibutoxysilane, Triethoxymonopropoxysilane, diethoxydipropoxysilane, tributoxymonopropoxysilane, dimethoxymonoethoxymonobutoxy Orchid, diethoxymonomethoxymonobutoxysilane, diethoxymonopropoxymonobutoxysilane, dipropoxymonomethoxymonoethoxysilane, dipropoxymonomethoxymonobutoxysilane, dipropoxymonoethoxymonobutoxysilane, dibutoxymonomethoxymonoethoxysilane, Alkoxy silanes such as dibutoxy monoethoxy monopropoxy silane, monomethoxy monoethoxy monopropoxy monobutoxy silane, or aryloxy silane are included. Among these, tetramethoxysilane and tetraethoxysilane are preferable.

3官能シラン化合物の例には、下記一般式(III)で表される化合物が含まれる。
Si(OR …(III)
上記一般式(III)中、Rは、それぞれ独立にアルキル基またはフェニル基を表し、好ましくは炭素数1〜5のアルキル基、またはフェニル基を表す。また、Rは、水素原子またはアルキル基を表す。
Examples of the trifunctional silane compound include a compound represented by the following general formula (III).
R 5 Si (OR 6 ) 3 (III)
In the general formula (III), R 5 is each independently represent an alkyl group or a phenyl group, preferably an alkyl group or a phenyl group, having 1 to 5 carbon atoms. R 6 represents a hydrogen atom or an alkyl group.

3官能シラン化合物の具体例には、トリメトキシシラン、トリエトキシシラン、トリプロポキシシラン、トリペンチルオキシシラン、トリフェニルオキシシラン、ジメトキシモノエトキシシラン、ジエトキシモノメトキシシラン、ジプロポキシモノメトキシシラン、ジプロポキシモノエトキシシラン、ジペンチルオキシルモノメトキシシラン、ジペンチルオキシモノエトキシシラン、ジペンチルオキシモノプロポキシシラン、ジフェニルオキシルモノメトキシシラン、ジフェニルオキシモノエトキシシラン、ジフェニルオキシモノプロポキシシラン、メトキシエトキシプロポキシシラン、モノプロポキシジメトキシシラン、モノプロポキシジエトキシシラン、モノブトキシジメトキシシラン、モノペンチルオキシジエトキシシラン、モノフェニルオキシジエトキシシラン等のモノヒドロシラン化合物;メチルトリメトキシシラン、メチルトリエトキシシラン、メチルトリプロポキシシラン、メチルトリペンチルオキシシラン、メチルモノメトキシジエトキシシラン、メチルモノメトキシジプロポキシシラン、メチルモノメトキシジペンチルオキシシラン、メチルモノメトキシジフェニルオキシシラン、メチルメトキシエトキシプロポキシシラン、メチルモノメトキシモノエトキシモノブトキシシラン等のモノメチルシラン化合物;エチルトリメトキシシラン、エチルトリプロポキシシラン、エチルトリペンチルオキシシラン、エチルトリフェニルオキシシラン、エチルモノメトキシジエトキシシラン、エチルモノメトキシジプロポキシシラン、エチルモノメトキシジペンチルオキシシラン、エチルモノメトキシジフェニルオキシシラン、エチルモノメトキシモノエトキシモノブトキシシラン等のモノエチルシラン化合物;プロピルトリメトキシシラン、プロピルトリエトキシシラン、プロピルトリペンチルオキシシラン、プロピルトリフェニルオキシシラン、プロピルモノメトキシジエトキシシラン、プロピルモノメトキシジプロポキシシラン、プロピルモノメトキシジペンチルオキシシラン、プロピルモノメトキシジフェニルオキシシラン、プロピルメトキシエトキシプロポキシシラン、プロピルモノメトキシモノエトキシモノブトキシシラン等のモノプロピルシラン化合物;ブチルトリメトキシシラン、ブチルトリエトキシシラン、ブチルトリプロポキシシラン、ブチルトリペンチルオキシシラン、ブチルトリフェニルオキシシラン、ブチルモノメトキシジエトキシシラン、ブチルモノメトキシジプロポキシシラン、ブチルモノメトキシジペンチルオキシシラン、ブチルモノメトキシジフェニルオキシシラン、ブチルメトキシエトキシプロポキシシラン、ブチルモノメトキシモノエトキシモノブトキシシラン等のモノブチルシラン化合物が含まれる。   Specific examples of trifunctional silane compounds include trimethoxysilane, triethoxysilane, tripropoxysilane, tripentyloxysilane, triphenyloxysilane, dimethoxymonoethoxysilane, diethoxymonomethoxysilane, dipropoxymonomethoxysilane, di Propoxymonoethoxysilane, dipentyloxylmonomethoxysilane, dipentyloxymonoethoxysilane, dipentyloxymonopropoxysilane, diphenyloxylmonomethoxysilane, diphenyloxymonoethoxysilane, diphenyloxymonopropoxysilane, methoxyethoxypropoxysilane, monopropoxydimethoxysilane Monopropoxydiethoxysilane, monobutoxydimethoxysilane, monopentyloxydiethoxysilane, monophenyl Monohydrosilane compounds such as ruoxydiethoxysilane; methyltrimethoxysilane, methyltriethoxysilane, methyltripropoxysilane, methyltripentyloxysilane, methylmonomethoxydiethoxysilane, methylmonomethoxydipropoxysilane, methylmonomethoxydipentyl Monomethylsilane compounds such as oxysilane, methylmonomethoxydiphenyloxysilane, methylmethoxyethoxypropoxysilane, methylmonomethoxymonoethoxymonobutoxysilane; ethyltrimethoxysilane, ethyltripropoxysilane, ethyltripentyloxysilane, ethyltriphenyloxy Silane, ethyl monomethoxydiethoxysilane, ethyl monomethoxydipropoxysilane, ethyl monomethoxydipentyloxy Monoethylsilane compounds such as lan, ethylmonomethoxydiphenyloxysilane, ethylmonomethoxymonoethoxymonobutoxysilane; propyltrimethoxysilane, propyltriethoxysilane, propyltripentyloxysilane, propyltriphenyloxysilane, propylmonomethoxydi Monopropylsilane compounds such as ethoxysilane, propylmonomethoxydipropoxysilane, propylmonomethoxydipentyloxysilane, propylmonomethoxydiphenyloxysilane, propylmethoxyethoxypropoxysilane, propylmonomethoxymonoethoxymonobutoxysilane; butyltrimethoxysilane, Butyltriethoxysilane, Butyltripropoxysilane, Butyltripentyloxysilane, Butyltriphenyl Monobutylsilane compounds such as oxysilane, butylmonomethoxydiethoxysilane, butylmonomethoxydipropoxysilane, butylmonomethoxydipentyloxysilane, butylmonomethoxydiphenyloxysilane, butylmethoxyethoxypropoxysilane, butylmonomethoxymonoethoxymonobutoxysilane Is included.

これらの3官能シラン化合物の一般式(III)で表されるRがメチル基であると、反射層表面の疎水性が低くなる。その結果、反射層上に波長変換層を成膜する場合に、波長変換層用組成物が濡れ広がりやすくなり、得られる反射層と波長変換層との密着性が高まる。一般式(III)で表されるRがメチル基である3官能シラン化合物の例には、メチルトリメトキシシラン、及びメチルトリエトキシシランが含まれ、メチルトリメトキシシランであることが特に好ましい。 When R 5 represented by the general formula (III) of these trifunctional silane compounds is a methyl group, the hydrophobicity of the reflective layer surface becomes low. As a result, when the wavelength conversion layer is formed on the reflective layer, the composition for the wavelength conversion layer is easily wetted and spreads, and the adhesion between the obtained reflective layer and the wavelength conversion layer is increased. Examples of the trifunctional silane compound in which R 5 represented by the general formula (III) is a methyl group include methyltrimethoxysilane and methyltriethoxysilane, and methyltrimethoxysilane is particularly preferable.

反射層形成用組成物に含まれる有機ケイ素化合物が、(i)ポリシラザンオリゴマーである場合、反射層形成用組成物におけるポリシラザンオリゴマーの濃度は高い方が好ましい。ただし、これらの濃度が高すぎると反射層形成用組成物の保存安定性が低下する。そのため、ポリシラザンオリゴマーの量は、反射層形成用組成物の全質量に対して5〜50質量%であることが好ましい。   When the organosilicon compound contained in the composition for forming a reflective layer is (i) a polysilazane oligomer, the concentration of the polysilazane oligomer in the composition for forming a reflective layer is preferably higher. However, when these concentrations are too high, the storage stability of the composition for forming a reflective layer is lowered. Therefore, it is preferable that the quantity of a polysilazane oligomer is 5-50 mass% with respect to the total mass of the composition for reflection layer formation.

また、反射層形成用組成物に含まれる有機ケイ素化合物が(ii)シラン化合物のモノマーまたはそのオリゴマーである場合、反射層形成用組成物に含まれるシラン化合物のモノマーまたはそのオリゴマーの量も、反射層形成用組成物の全質量に対して5〜50質量%であることが好ましい。   When the organosilicon compound contained in the reflective layer forming composition is (ii) a monomer or oligomer of a silane compound, the amount of the silane compound monomer or oligomer contained in the reflective layer forming composition is also reflected. It is preferable that it is 5-50 mass% with respect to the total mass of the composition for layer formation.

(シラン化合物のオリゴマーの調製方法)
前述の反射層形成用組成物に含まれるシラン化合物のオリゴマー(ポリシロキサンオリゴマー)は、以下の方法で調製される。シラン化合物のモノマーを、酸触媒、水、有機溶媒の存在下で加水分解し、縮合反応させる。シラン化合物のオリゴマーの質量平均分子量は、反応条件(特に反応時間)等で調整する。
(Method for preparing oligomer of silane compound)
The silane compound oligomer (polysiloxane oligomer) contained in the above-mentioned reflective layer forming composition is prepared by the following method. The monomer of the silane compound is hydrolyzed in the presence of an acid catalyst, water, and an organic solvent to cause a condensation reaction. The mass average molecular weight of the oligomer of the silane compound is adjusted by reaction conditions (particularly reaction time).

反射層形成用組成物に含まれるシラン化合物のオリゴマーの質量平均分子量は、好ましくは1000〜3000であり、より好ましくは1200〜2700であり、さらに好ましくは1500〜2000である。反射層形成用組成物に含まれるシラン化合物のオリゴマーの質量平均分子量が1000未満であると、反射層形成用組成物の粘度が低くなり、反射層形成時に、液はじき等が生じやすくなる。一方、反射層形成用組成物に含まれるシラン化合物のオリゴマーの質量平均分子量が3000を超えると、反射層形成用組成物の粘度が高くなり、均一な膜形成が困難となる場合がある。質量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィーで測定される値(ポリスチレン換算)である。   The mass average molecular weight of the oligomer of the silane compound contained in the composition for forming a reflective layer is preferably 1000 to 3000, more preferably 1200 to 2700, and further preferably 1500 to 2000. When the mass average molecular weight of the oligomer of the silane compound contained in the composition for forming a reflective layer is less than 1000, the viscosity of the composition for forming a reflective layer is low, and liquid repellency or the like is likely to occur when the reflective layer is formed. On the other hand, if the mass average molecular weight of the oligomer of the silane compound contained in the composition for forming a reflective layer exceeds 3000, the composition for forming a reflective layer increases in viscosity, and it may be difficult to form a uniform film. The mass average molecular weight is a value (polystyrene conversion) measured by gel permeation chromatography.

シラン化合物のオリゴマー調製用の酸触媒は、シラン化合物の加水分解時に触媒として作用するものであればよく、有機酸または無機酸のいずれであってもよい。無機酸の例には、硫酸、リン酸、硝酸、塩酸等が含まれ、リン酸及び硝酸が特に好ましい。また、有機酸の例には、ギ酸、シュウ酸、フマル酸、マレイン酸、氷酢酸、無水酢酸、プロピオン酸、及びn−酪酸など、カルボン酸残基を有する化合物;有機スルホン酸、及び有機スルホン酸のエステル化物(有機硫酸エステル、有機亜硫酸エステル)など、硫黄含有酸残基を有する化合物が含まれる。   The acid catalyst for preparing the oligomer of the silane compound only needs to act as a catalyst during hydrolysis of the silane compound, and may be either an organic acid or an inorganic acid. Examples of inorganic acids include sulfuric acid, phosphoric acid, nitric acid, hydrochloric acid and the like, with phosphoric acid and nitric acid being particularly preferred. Examples of organic acids include compounds having a carboxylic acid residue such as formic acid, oxalic acid, fumaric acid, maleic acid, glacial acetic acid, acetic anhydride, propionic acid, and n-butyric acid; organic sulfonic acid, and organic sulfone A compound having a sulfur-containing acid residue, such as an acid esterified product (organic sulfate ester or organic sulfite ester), is included.

シラン化合物のオリゴマー調製用の酸触媒は、下記一般式(IV)で表わされる有機スルホン酸であることが特に好ましい。
−SOH …(IV)
上記一般式(IV)において、Rで表される炭化水素基は、直鎖状、分岐鎖状、環状の飽和もしくは不飽和の炭素数1〜20の炭化水素基である。環状の炭化水素基の例には、フェニル基、ナフチル基、またはアントリル基等の芳香族炭化水素基が含まれ、好ましくはフェニル基である。また、一般式(IV)においてRで表される炭化水素基は、置換基を有してもよい。置換基の例には、直鎖状、分岐鎖状、または環状の、炭素数1〜20の飽和若しくは不飽和の炭化水素基;フッ素原子等のハロゲン原子;スルホン酸基;カルボキシル基;水酸基;アミノ基;シアノ基等が含まれる。
The acid catalyst for preparing the oligomer of the silane compound is particularly preferably an organic sulfonic acid represented by the following general formula (IV).
R 8 —SO 3 H (IV)
In the above general formula (IV), the hydrocarbon group represented by R 8 is a linear, branched, or cyclic saturated or unsaturated hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms. Examples of the cyclic hydrocarbon group include an aromatic hydrocarbon group such as a phenyl group, a naphthyl group, or an anthryl group, preferably a phenyl group. Further, the hydrocarbon group represented by R 8 in the general formula (IV) may have a substituent. Examples of the substituent include linear, branched, or cyclic, saturated or unsaturated hydrocarbon groups having 1 to 20 carbon atoms; halogen atoms such as fluorine atoms; sulfonic acid groups; carboxyl groups; Amino group; cyano group and the like are included.

上記一般式(IV)で表わされる有機スルホン酸は、特にノナフルオロブタンスルホン酸、メタンスルホン酸、トリフルオロメタンスルホン酸、またはドデシルベンゼンスルホン酸であることが好ましい。   The organic sulfonic acid represented by the general formula (IV) is particularly preferably nonafluorobutanesulfonic acid, methanesulfonic acid, trifluoromethanesulfonic acid, or dodecylbenzenesulfonic acid.

シラン化合物のオリゴマー調製時に添加する酸触媒の量は、オリゴマー調製液全量に対して1〜1000質量ppmであることが好ましく、より好ましくは5〜800質量ppmである。   The amount of the acid catalyst added at the time of preparing the oligomer of the silane compound is preferably 1 to 1000 ppm by mass, more preferably 5 to 800 ppm by mass with respect to the total amount of the oligomer preparation solution.

シラン化合物のオリゴマーの調製時に添加する水の量によって、得られるポリシロキサンの膜質が変化する。したがって、目的とする膜質に応じて、オリゴマー調製時の水添加率を調整することが好ましい。水添加率とは、オリゴマー調製液に含まれるシラン化合物のアルコキシ基またはアリールオキシ基のモル数に対する、添加する水分子のモル数の割合(%)である。水添加率は、50〜200%であることが好ましく、より好ましくは75〜180%である。水添加率を、50%以上とすることで、得られる反射層の膜質が安定する。また200%以下とすることで反射層形成用組成物の保存安定性が良好となる。   The film quality of the resulting polysiloxane varies depending on the amount of water added during preparation of the oligomer of the silane compound. Therefore, it is preferable to adjust the water addition rate during oligomer preparation according to the target film quality. The water addition rate is the ratio (%) of the number of moles of water molecules to be added to the number of moles of alkoxy groups or aryloxy groups of the silane compound contained in the oligomer preparation solution. The water addition rate is preferably 50 to 200%, more preferably 75 to 180%. By setting the water addition rate to 50% or more, the film quality of the resulting reflective layer is stabilized. Moreover, the storage stability of the composition for reflective layer formation becomes favorable by setting it as 200% or less.

シラン化合物のオリゴマー調製時に添加する溶媒の例には、メタノール、エタノール、プロパノール、n−ブタノール等の一価アルコール;メチル−3−メトキシプロピオネート、エチル−3−エトキシプロピオネート等のアルキルカルボン酸エステル;エチレングリコール、ジエチレングリコール、プロピレングリコール、グリセリン、トリメチロールプロパン、ヘキサントリオール等の多価アルコール;エチレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル、エチレングリコールモノプロピルエーテル、エチレングリコールモノブチルエーテル、ジエチレングリコールモノメチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチルエーテル、ジエチレングリコールモノプロピルエーテル、ジエチレングリコールモノブチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノエチルエーテル、プロピレングリコールモノプロピルエーテル、プロピレングリコールモノブチルエーテル等の多価アルコールのモノエーテル類、あるいはこれらのモノアセテート類;酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸ブチル等のエステル類;アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソアミルケトン等のケトン類;エチレングリコールジメチルエーテル、エチレングリコールジエチルエーテル、エチレングリコールジプロピルエーテル、エチレングリコールジブチルエーテル、プロピレングリコールジメチルエーテル、プロピレングリコールジエチルエーテル、ジエチレングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコールジエチルエーテル、ジエチレングリコールメチルエチルエーテル等の多価アルコールの水酸基をすべてアルキルエーテル化した多価アルコールエーテル類;等が含まれる。これらは1種単独で添加してもよく、また2種以上を添加してもよい。   Examples of the solvent added at the time of preparing the oligomer of the silane compound include monohydric alcohols such as methanol, ethanol, propanol and n-butanol; alkylcarboxylic acids such as methyl-3-methoxypropionate and ethyl-3-ethoxypropionate. Acid esters; polyhydric alcohols such as ethylene glycol, diethylene glycol, propylene glycol, glycerin, trimethylolpropane, hexanetriol; ethylene glycol monomethyl ether, ethylene glycol monoethyl ether, ethylene glycol monopropyl ether, ethylene glycol monobutyl ether, diethylene glycol monomethyl ether , Diethylene glycol monoethyl ether, diethylene glycol monopropyl ether, diethylene glycol mono Monoethers of polyhydric alcohols such as chill ether, propylene glycol monomethyl ether, propylene glycol monoethyl ether, propylene glycol monopropyl ether, propylene glycol monobutyl ether, or their monoacetates; methyl acetate, ethyl acetate, butyl acetate, etc. Esters; ketones such as acetone, methyl ethyl ketone, methyl isoamyl ketone; ethylene glycol dimethyl ether, ethylene glycol diethyl ether, ethylene glycol dipropyl ether, ethylene glycol dibutyl ether, propylene glycol dimethyl ether, propylene glycol diethyl ether, diethylene glycol dimethyl ether, diethylene glycol diethyl ether , Diechi Polyhydric alcohols ethers any polyhydric alcohol hydroxyl group such as glycol methyl ethyl ether and alkyl etherified; and the like. These may be added alone or in combination of two or more.

2−2.光拡散粒子
反射層形成用組成物に含まれる光拡散粒子は、光拡散性の高い粒子であれば、特に制限されない。光拡散粒子の全反射率は、80%以上であることが好ましく、さらに好ましくは90%以上である。全反射率は日立ハイテク社製、日立分光光度計U4100により測定できる。
2-2. Light Diffusing Particle The light diffusing particle contained in the composition for forming a reflective layer is not particularly limited as long as it has high light diffusibility. The total reflectance of the light diffusing particles is preferably 80% or more, and more preferably 90% or more. The total reflectance can be measured by Hitachi High-Tech, Hitachi spectrophotometer U4100.

光拡散粒子の例には、酸化亜鉛(ZnO)、チタン酸バリウム(BaTiO)、硫酸バリウム(BaSO)、二酸化チタン(TiO)、窒化ホウ素(BrN)、酸化マグネシウム(MgO)、炭酸カルシウム(CaCO)、酸化アルミニウム(Al)、酸化バリウム(BaO)、酸化ジルコニウム(ZrO)等が含まれる。中でも、光拡散粒子は、二酸化チタン、硫酸バリウム、チタン酸バリウム、窒化ホウ素、酸化亜鉛、及び酸化アルミニウムであることが好ましい。これらの粒子は、全反射率が大きく、取り扱い易い。反射層形成用組成物には、光拡散粒子が1種のみ含まれてもよく、また2種以上が含まれてもよい。 Examples of light diffusing particles include zinc oxide (ZnO), barium titanate (BaTiO 3 ), barium sulfate (BaSO 4 ), titanium dioxide (TiO 2 ), boron nitride (BrN), magnesium oxide (MgO), calcium carbonate (CaCO 3 ), aluminum oxide (Al 2 O 3 ), barium oxide (BaO), zirconium oxide (ZrO 2 ) and the like are included. Among these, the light diffusing particles are preferably titanium dioxide, barium sulfate, barium titanate, boron nitride, zinc oxide, and aluminum oxide. These particles have a high total reflectance and are easy to handle. The reflective layer forming composition may contain only one type of light diffusing particles, or may contain two or more types.

光拡散粒子の平均一次粒径は、100nmより大きく、20μm以下であることが好ましく、100nmより大きく10μm以下であることがより好ましく、さらに好ましくは200nm〜2.5μmである。本発明における平均一次粒径とは、レーザー回折式粒度分布計で測定されるD50の値をいう。レーザー回折式粒度分布測定装置の例には、島津製作所製のレーザー回折式粒度分布測定装置等がある。   The average primary particle size of the light diffusing particles is preferably larger than 100 nm and not larger than 20 μm, more preferably larger than 100 nm and not larger than 10 μm, further preferably 200 nm to 2.5 μm. The average primary particle size in the present invention refers to the value of D50 measured with a laser diffraction particle size distribution meter. Examples of the laser diffraction particle size distribution measuring device include a laser diffraction particle size distribution measuring device manufactured by Shimadzu Corporation.

反射層形成用組成物に含まれる光拡散粒子の量は、反射層形成用組成物の固形分全質量(溶剤以外の成分の総量)に対して、60〜95質量%であり、さらに好ましくは70〜90質量%である。光拡散粒子の量が60質量%未満であると、得られる反射層の光反射性が不十分となる場合がある。一方、光拡散粒子の量が95質量%を超えると、得られる反射層において、バインダ量が相対的に少なくなり、反射層の強度が低くなる場合がある。   The amount of the light diffusing particles contained in the composition for forming a reflective layer is 60 to 95% by mass, more preferably based on the total solid content (total amount of components other than the solvent) of the composition for forming a reflective layer. It is 70-90 mass%. If the amount of the light diffusing particles is less than 60% by mass, the resulting reflective layer may have insufficient light reflectivity. On the other hand, when the amount of the light diffusing particles exceeds 95% by mass, the amount of the binder in the resulting reflective layer is relatively small, and the strength of the reflective layer may be lowered.

2−3.金属酸化物微粒子
反射層形成用組成物には、平均一次粒径が5〜100nmである金属酸化物微粒子が含まれてもよい。反射層形成用組成物に金属酸化物微粒子が含まれると、得られる反射層表面に微少な凹凸が生じる。この凹凸により、得られる反射層と波長変換層との間に、アンカー効果が生じ、反射層と波長変換層との密着性が高まる。また、得られる反射層において、光拡散粒子同士の隙間が埋まるため、反射層の強度が高まり、反射層にクラックが生じ難くなる。
2-3. Metal oxide fine particles The composition for forming a reflective layer may contain metal oxide fine particles having an average primary particle size of 5 to 100 nm. When metal oxide fine particles are contained in the reflective layer forming composition, minute irregularities are generated on the surface of the resulting reflective layer. Due to the unevenness, an anchor effect is generated between the obtained reflective layer and the wavelength conversion layer, and adhesion between the reflective layer and the wavelength conversion layer is increased. Moreover, since the gap between the light diffusion particles is filled in the obtained reflective layer, the strength of the reflective layer is increased, and cracks are hardly generated in the reflective layer.

金属酸化物微粒子の種類は、特に制限されないが、酸化ジルコニウム、酸化チタン、酸化セリウム、酸化ニオブ、及び酸化亜鉛の群から選ばれる少なくとも1種であることが好ましい。特に、膜強度が高くなるとの観点から、酸化ジルコニウム微粒子が含まれることが好ましい。反射層には、金属酸化物微粒子が1種のみ含まれてもよく、2種以上が含まれてもよい。   The type of the metal oxide fine particles is not particularly limited, but is preferably at least one selected from the group consisting of zirconium oxide, titanium oxide, cerium oxide, niobium oxide, and zinc oxide. In particular, from the viewpoint of increasing the film strength, zirconium oxide fine particles are preferably contained. The reflective layer may contain only one kind of metal oxide fine particles, or two or more kinds.

金属酸化物微粒子は、表面がシランカップリング剤やチタンカップリング剤で処理されたものであってもよい。金属酸化物微粒子の表面が処理されていると、金属酸化物微粒子が反射層形成用組成物中に均一に分散されやすくなる。   The metal oxide fine particles may have a surface treated with a silane coupling agent or a titanium coupling agent. When the surface of the metal oxide fine particles is treated, the metal oxide fine particles are easily dispersed uniformly in the reflective layer forming composition.

金属酸化物微粒子の平均一次粒径は5〜100nmであり、好ましくは5〜80nm、より好ましくは5〜50nmである。金属酸化物微粒子の平均一次粒径が100nm以下であると、光拡散粒子同士の隙間に金属酸化物微粒子が入り込みやすくなり、得られる反射層の強度が高まりやすい。また、金属酸化物微粒子の平均一次粒径が5nm以上であると、反射層表面に適度な凹凸が形成されやすく、前述のアンカー効果が得られやすい。   The average primary particle size of the metal oxide fine particles is 5 to 100 nm, preferably 5 to 80 nm, more preferably 5 to 50 nm. When the average primary particle size of the metal oxide fine particles is 100 nm or less, the metal oxide fine particles easily enter the gaps between the light diffusing particles, and the strength of the resulting reflective layer is likely to increase. Further, when the average primary particle size of the metal oxide fine particles is 5 nm or more, appropriate irregularities are easily formed on the surface of the reflective layer, and the above-described anchor effect is easily obtained.

反射層形成用組成物に含まれる金属酸化物微粒子の量は、反射層形成用組成物の固形分全質量(溶剤以外の成分の総量)に対して、0.5〜30質量%であることが好ましく、より好ましくは0.5〜20質量%であり、さらに好ましくは1〜10質量%であり、特に好ましくは2〜10質量%である。金属酸化物微粒子の含有量が0.5質量%未満であると、得られる反射層と波長変換層との界面におけるアンカー効果や、膜の強度が十分に高まらない。一方、金属酸化物微粒子の含有量が30質量%を超えると、相対的に有機ケイ素化合物の量が少なくなり、膜強度が低下するおそれがある。   The amount of the metal oxide fine particles contained in the reflective layer forming composition is 0.5 to 30% by mass with respect to the total solid content of the reflective layer forming composition (total amount of components other than the solvent). Is preferable, more preferably 0.5 to 20% by mass, still more preferably 1 to 10% by mass, and particularly preferably 2 to 10% by mass. When the content of the metal oxide fine particles is less than 0.5% by mass, the anchor effect at the interface between the obtained reflective layer and the wavelength conversion layer and the strength of the film are not sufficiently increased. On the other hand, when the content of the metal oxide fine particles exceeds 30% by mass, the amount of the organosilicon compound is relatively decreased, and the film strength may be lowered.

2−4.無機粒子
反射層形成用組成物には、平均粒径が100nm以上100μm以下である無機粒子が含まれてもよい。反射層形成用組成物に無機粒子が含まれると、反射層形成用組成物の粘度が高まりやすい。さらに、得られる反射層の強度も高まりやすい。無機粒子は、酸化ケイ素等の酸化物粒子、フッ化マグネシウム等のフッ化物粒子、さらにはこれらの混合物等でありうる。これらの中でも特に好ましくは酸化ケイ素である。無機粒子の表面は、シランカップリング剤やチタンカップリング剤で処理されていてもよい。表面処理によって、無機粒子と、有機ケイ素化合物や溶媒との相溶性が高まる。
2-4. Inorganic particles The reflective layer forming composition may contain inorganic particles having an average particle diameter of 100 nm or more and 100 μm or less. When inorganic particles are contained in the reflective layer forming composition, the viscosity of the reflective layer forming composition tends to increase. Furthermore, the strength of the resulting reflective layer is likely to increase. The inorganic particles can be oxide particles such as silicon oxide, fluoride particles such as magnesium fluoride, and a mixture thereof. Of these, silicon oxide is particularly preferable. The surface of the inorganic particles may be treated with a silane coupling agent or a titanium coupling agent. By the surface treatment, the compatibility between the inorganic particles and the organosilicon compound or the solvent is increased.

反射層形成用組成物に含まれる無機粒子の量は、反射層形成用組成物の全質量に対して、0.1〜10質量%であることが好ましく、0.2〜5質量%であることが、より好ましい。無機粒子の量が10質量%を超えると、反射層の成膜時にクラックを生じ易くなる。一方、無機粒子の量が0.1%未満であると反射層形成用組成物の増粘効果が低くなる。   The amount of the inorganic particles contained in the reflective layer forming composition is preferably 0.1 to 10% by mass, and preferably 0.2 to 5% by mass with respect to the total mass of the reflective layer forming composition. It is more preferable. If the amount of the inorganic particles exceeds 10% by mass, cracks are likely to occur during the formation of the reflective layer. On the other hand, when the amount of the inorganic particles is less than 0.1%, the thickening effect of the composition for forming a reflective layer is lowered.

無機粒子の平均粒径は、得られる反射層の強度が高まるとの観点から、100nm以上50μm以下であることが好ましく、1μm以上30μm以下であることが、より好ましい。無機粒子の平均粒径は、例えばコールターカウンター法によって測定することができる。   The average particle diameter of the inorganic particles is preferably 100 nm or more and 50 μm or less, and more preferably 1 μm or more and 30 μm or less from the viewpoint that the strength of the resulting reflective layer is increased. The average particle diameter of the inorganic particles can be measured, for example, by a Coulter counter method.

無機粒子の形状は特に制限されず、針状や平板状であってもよく、中空構造であってもよい。   The shape of the inorganic particles is not particularly limited, and may be a needle shape or a flat plate shape, or may be a hollow structure.

2−5.粘土鉱物粒子
反射層形成用組成物には、粘土鉱物粒子が含まれてもよい。反射層形成用組成物に粘土鉱物粒子が含まれると、反射層形成用組成物の粘度が高まり、光拡散粒子の沈降が抑制される。
2-5. Clay mineral particles The composition for reflection layer formation may contain clay mineral particles. When clay mineral particles are contained in the reflective layer forming composition, the viscosity of the reflective layer forming composition is increased, and sedimentation of the light diffusing particles is suppressed.

粘土鉱物粒子の例には、層状ケイ酸塩鉱物、イモゴライト、アロフェン等が含まれる。層状ケイ酸塩鉱物は、雲母構造、カオリナイト構造、またはスメクタイト構造を有する粘土鉱物が好ましい。   Examples of clay mineral particles include layered silicate minerals, imogolite, allophane and the like. The layered silicate mineral is preferably a clay mineral having a mica structure, a kaolinite structure, or a smectite structure.

層状ケイ酸塩鉱物粒子は、反射層形成用組成物の静置状態でカードハウス構造を形成しやすい。層状ケイ酸塩鉱物粒子がカードハウス構造を形成すると、反射層形成用組成物の粘度が大幅に高まる。一方で、カードハウス構造は、一定の圧力を加える崩れやすく、これにより反射層形成用組成物の粘度が低下する。すなわち、反射層形成溶組成物に層状ケイ酸塩鉱物粒子が含まれると、静置状態では反射層形成用組成物の粘度が高くなり、一定の圧力をかけた場合には反射層形成用組成物の粘度が低くなる。   Layered silicate mineral particles tend to form a card house structure when the reflective layer-forming composition is allowed to stand. When the layered silicate mineral particles form a card house structure, the viscosity of the reflective layer forming composition is greatly increased. On the other hand, the card house structure is apt to collapse by applying a certain pressure, thereby reducing the viscosity of the composition for forming a reflective layer. That is, when the layered silicate mineral particles are included in the reflective layer forming solution, the viscosity of the reflective layer forming composition increases in a stationary state, and when a certain pressure is applied, the reflective layer forming composition The viscosity of the product is lowered.

このような層状ケイ酸塩鉱物の例には、天然または合成の、ヘクトライト、サポナイト、スチブンサイト、ハイデライト、モンモリロナイト、ノントライト、ベントナイト、ラポナイト等のスメクタイト属粘土鉱物や、Na型テトラシリシックフッ素雲母、Li型テトラシリシックフッ素雲母、Na型フッ素テニオライト、Li型フッ素テニオライト等の膨潤性雲母属粘土鉱物、白雲母、金雲母、フッ素金雲母、絹雲母、カリウム四ケイ素雲母等の非膨潤性雲母属粘土鉱物、およびバーミキュラライトやカオリナイト、またはこれらの混合物が含まれる。   Examples of such layered silicate minerals include natural or synthetic hectrite, saponite, stevensite, hydelite, montmorillonite, nontrinite, bentonite, laponite and other smectite clay minerals, and Na-type tetralithic fluoric mica. Non-swelling mica such as swellable mica genus clay minerals such as Li-type tetralithic fluorine mica, Na-type fluorine teniolite, Li-type fluorine teniolite, muscovite, phlogopite, fluorine phlogopite, sericite, potassium tetrasilicon mica Genus clay minerals, vermiculite and kaolinite, or mixtures thereof.

粘土鉱物粒子の市販品の例には、ラポナイトXLG(英国、ラポート社製合成ヘクトライト類似物質)、ラポナイトRD(英国、ラポート社製合成ヘクトライト類似物質)、サーマビス(独国、ヘンケル社製合成ヘクトライト類似物質)、スメクトンSA−1(クニミネ工業(株)製サポナイト類似物質)、ベンゲル(ホージュン(株)販売の天然ベントナイト)、クニビアF(クニミネ工業(株)販売の天然モンモリロナイト)、ビーガム(米国、バンダービルト社製の天然ヘクトライト)、ダイモナイト(トピー工業(株)製の合成膨潤性雲母)、ミクロマイカ(コープケミカル(株)製の合成非膨潤性雲母)、ソマシフ(コープケミカル(株)製の合成膨潤性雲母)、SWN(コープケミカル(株)製の合成スメクタイト)、SWF(コープケミカル(株)製の合成スメクタイト)、M−XF((株)レプコ製の白雲母)、S−XF((株)レプコ製の金雲母)、PDM−800(トピー工業(株)製のフッ素金雲母)、セリサイトOC−100R(オーケム通商(株)製の絹雲母)、PDM−K(G)325(トピー工業(株)製のカリウム四ケイ素雲母)等が含まれる。   Examples of commercial products of clay mineral particles include Laponite XLG (synthetic hectorite analogue manufactured by LaPorte, UK), Laponite RD (Synthetic hectorite analogue produced by LaPorte, UK), Thermabis (Synthetic product, Henkel, Germany) Hectorite-like substance), smecton SA-1 (saponite-like substance manufactured by Kunimine Industry Co., Ltd.), Bengel (natural bentonite sold by Hojun Co., Ltd.), Kunivia F (natural montmorillonite sold by Kunimine Industry Co., Ltd.), bee gum ( Natural hectorite manufactured by Vanderbilt, USA, Daimonite (synthetic swellable mica manufactured by Topy Industries, Ltd.), Micromica (synthetic non-swellable mica, manufactured by Coop Chemical Co., Ltd.), Somasifu (Coop Chemical Co., Ltd.) ) Synthetic swelling mica), SWN (synthetic smectite manufactured by Corp Chemical Co.), SWF ( Synthetic smectite manufactured by Top Chemical Co., Ltd.), M-XF (white mica manufactured by Repco), S-XF (metal mica manufactured by Repco), PDM-800 (fluorine manufactured by Topy Industries, Ltd.) Phlogopite), sericite OC-100R (sericite manufactured by Oakem Tsusho Co., Ltd.), PDM-K (G) 325 (potassium tetrasilicon mica manufactured by Topy Industries, Ltd.), and the like.

粘土鉱物粒子は、層状ケイ酸塩鉱物、イモゴライト、アロフェン、からなる群から選ばれる少なくとも1種であることが好ましい。これらの粒子は、表面積が非常に大きく、少量で反射層形成用組成物の粘度が高まりやすい。   The clay mineral particles are preferably at least one selected from the group consisting of layered silicate minerals, imogolite, and allophane. These particles have a very large surface area, and a small amount tends to increase the viscosity of the composition for forming a reflective layer.

粘土鉱物粒子の含有量は、反射層形成用組成物全質量に対して0.1〜5質量%であることが好ましく、0.2〜2質量%であることがより好ましい。粘土鉱物粒子の含有量が少ないと、反射層形成用組成物の粘度が高まりにくく、光拡散粒子が沈降しやすくなる。一方、粘土鉱物粒子の含有量が過剰であると、反射層形成用組成物の粘度が過剰に高くなり、反射層形成用組成物が塗布装置から均一に吐出されないおそれがある。   The content of the clay mineral particles is preferably 0.1 to 5% by mass and more preferably 0.2 to 2% by mass with respect to the total mass of the composition for forming a reflective layer. When the content of the clay mineral particles is low, the viscosity of the reflective layer forming composition is difficult to increase, and the light diffusing particles are likely to settle. On the other hand, when the content of clay mineral particles is excessive, the viscosity of the reflective layer forming composition becomes excessively high, and the reflective layer forming composition may not be uniformly discharged from the coating apparatus.

粘土鉱物粒子の表面は、反射層形成用組成物中での溶媒との相溶性を考慮して、アンモニウム塩等で修飾(表面処理)されていてもよい。   The surface of the clay mineral particles may be modified (surface treatment) with an ammonium salt or the like in consideration of compatibility with the solvent in the composition for forming a reflective layer.

2−6.金属アルコキシドまたは金属キレート
反射層形成用組成物には、Si元素以外の2価以上の金属元素の金属アルコキシドまたは金属キレートが含まれてもよい。反射層形成用組成物に金属アルコキシドまたは金属キレートが含まれると、得られる反射層と基板との密着性が高まる。金属アルコキシドまたは金属キレートに含まれる金属が、基板の表面の水酸基と、メタロキサン結合を形成するため、反射層と基板との密着性が高まる。
2-6. Metal alkoxide or metal chelate The reflective layer forming composition may contain a metal alkoxide or metal chelate of a divalent or higher metal element other than Si element. When the metal alkoxide or the metal chelate is contained in the reflective layer forming composition, the adhesion between the resulting reflective layer and the substrate is enhanced. Since the metal contained in the metal alkoxide or metal chelate forms a metalloxane bond with the hydroxyl group on the surface of the substrate, the adhesion between the reflective layer and the substrate is enhanced.

金属アルコキシドまたは金属キレートに含まれる金属元素の種類は、2価以上の金属元素(Siを除く)であれば特に制限されないが、4族または13族の元素であることが好ましい。すなわち、金属アルコキシドまたは金属キレートは、具体的には、下記の一般式(V)で表される化合物であることが好ましい。
m+m−n (V)
一般式(V)中、Mは4族または13族の金属元素を表し、mはMの価数(3または4)を表す。Xは加水分解性基を表し、nはX基の数(2以上4以下の整数)を表す。ただし、m≧nである。Yは1価の有機基を表す。
The type of metal element contained in the metal alkoxide or metal chelate is not particularly limited as long as it is a bivalent or higher-valent metal element (excluding Si), but is preferably a group 4 or group 13 element. That is, specifically, the metal alkoxide or metal chelate is preferably a compound represented by the following general formula (V).
M m + X n Y m−n (V)
In general formula (V), M represents a Group 4 or Group 13 metal element, and m represents the valence (3 or 4) of M. X represents a hydrolyzable group, and n represents the number of X groups (an integer of 2 or more and 4 or less). However, m ≧ n. Y represents a monovalent organic group.

一般式(V)において、Mで表される4族または13族の金属元素は、アルミニウム、ジルコニウム、チタンであることが好ましく、ジルコニウムであることが特に好ましい。ジルコニウム元素を含むアルコキシドまたはキレートの硬化物は、一般的なLED素子の発光波長域(特に青色光(波長420〜485nm)に吸収波長を有さない。そのためジルコニウムのアルコキシドまたはキレートの硬化物には、LED素子2からの光等が吸収され難い。   In the general formula (V), the group 4 or group 13 metal element represented by M is preferably aluminum, zirconium, or titanium, and particularly preferably zirconium. A cured product of an alkoxide or chelate containing a zirconium element does not have an absorption wavelength in an emission wavelength region of a general LED element (particularly blue light (wavelength: 420 to 485 nm)). The light from the LED element 2 is hardly absorbed.

一般式(V)において、Xで表される加水分解性基は、水で加水分解され、水酸基を生成する基でありうる。加水分解性基の好ましい例には、炭素数が1〜5の低級アルコキシ基、アセトキシ基、ブタノキシム基、クロル基等が含まれる。一般式(V)において、Xで表される基は、全て同一の基であってもよく、異なる基であってもよい。   In the general formula (V), the hydrolyzable group represented by X may be a group that is hydrolyzed with water to form a hydroxyl group. Preferable examples of the hydrolyzable group include a lower alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms, an acetoxy group, a butanoxime group, a chloro group and the like. In general formula (V), all the groups represented by X may be the same group or different groups.

Xで表される加水分解性基は、前述のように、金属元素が基板の表面の水酸基等とメタロキサン結合を形成する際に、加水分解される。そのため加水分解後に生成される化合物は、中性かつ軽沸であることが好ましい。そこで、Xで表される基は、炭素数1〜5の低級アルコキシ基であることが好ましく、より好ましくはメトキシ基、またはエトキシ基である。   As described above, the hydrolyzable group represented by X is hydrolyzed when the metal element forms a metalloxane bond with a hydroxyl group or the like on the surface of the substrate. Therefore, the compound produced after hydrolysis is preferably neutral and light boiling. Therefore, the group represented by X is preferably a lower alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms, more preferably a methoxy group or an ethoxy group.

一般式(V)において、Yで表される1価の有機基は、一般的なシランカップリング剤に含まれる1価の有機基でありうる。具体的には、炭素数が1〜1000、好ましくは500以下、より好ましくは100以下、さらに好ましくは40以下、特に好ましくは6以下である脂肪族基、脂環族基、芳香族基、脂環芳香族基でありうる。Yで表される有機基は、脂肪族基、脂環族基、芳香族基、及び脂環芳香族基が連結基を介して結合した基であってもよい。連結基は、O、N、S等の原子またはこれらを含む原子団であってもよい。   In the general formula (V), the monovalent organic group represented by Y may be a monovalent organic group contained in a general silane coupling agent. Specifically, an aliphatic group, an alicyclic group, an aromatic group, an oil having 1 to 1000 carbon atoms, preferably 500 or less, more preferably 100 or less, further preferably 40 or less, and particularly preferably 6 or less. It may be a ring aromatic group. The organic group represented by Y may be an aliphatic group, an alicyclic group, an aromatic group, or a group in which an alicyclic aromatic group is bonded via a linking group. The linking group may be an atom such as O, N, or S, or an atomic group containing these.

Yで表される有機基は、置換基を有してもよい。置換基の例には、F、Cl、Br、I等のハロゲン原子;ビニル基、メタクリロキシ基、アクリロキシ基、スチリル基、メルカプト基、エポキシ基、エポキシシクロヘキシル基、グリシドキシ基、アミノ基、シアノ基、ニトロ基、スルホン酸基、カルボキシ基、ヒドロキシ基、アシル基、アルコキシ基、イミノ基、フェニル基等の有機基が含まれる。   The organic group represented by Y may have a substituent. Examples of the substituent include halogen atoms such as F, Cl, Br, and I; vinyl group, methacryloxy group, acryloxy group, styryl group, mercapto group, epoxy group, epoxycyclohexyl group, glycidoxy group, amino group, cyano group, Organic groups such as nitro group, sulfonic acid group, carboxy group, hydroxy group, acyl group, alkoxy group, imino group and phenyl group are included.

一般式(V)で表される、アルミニウム元素を含む金属アルコキシドまたは金属キレートの具体例には、アルミニウムトリイソプロポキシド、アルミニウムトリn−ブトキシド、アルミニウムトリt−ブトシキド、アルミニウムトリエトキシド等が含まれる。   Specific examples of the metal alkoxide or metal chelate containing the aluminum element represented by the general formula (V) include aluminum triisopropoxide, aluminum tri-n-butoxide, aluminum tri-t-butoxide, aluminum triethoxide and the like. It is.

一般式(V)で表される、ジルコニウム元素を含む金属アルコキシドまたは金属キレートの具体例には、ジルコニウムテトラメトキシド、ジルコニウムテトラエトキシド、ジルコニウムテトラn−プロポキシド、ジルコニウムテトラi−プロポキシド、ジルコニウムテトラn−ブトキシド、ジルコニウムテトラi−ブトキシド、ジルコニウムテトラt−ブトキシド、ジルコニウムジメタクリレートジブトキシド、ジブトキシジルコニウムビス(エチルアセトアセテート)等が含まれる。   Specific examples of the metal alkoxide or metal chelate containing a zirconium element represented by the general formula (V) include zirconium tetramethoxide, zirconium tetraethoxide, zirconium tetra n-propoxide, zirconium tetra i-propoxide, zirconium. Examples include tetra n-butoxide, zirconium tetra i-butoxide, zirconium tetra t-butoxide, zirconium dimethacrylate dibutoxide, dibutoxyzirconium bis (ethylacetoacetate), and the like.

一般式(V)で表されるチタン元素を含む金属アルコキシドまたは金属キレートの具体例には、チタンテトライソプロポキシド、チタンテトラn−ブトキシド、チタンテトラi−ブトキシド、チタンメタクリレートトリイソプロポキシド、チタンテトラメトキシプロポキシド、チタンテトラn−プロポキシド、チタンテトラエトキシド、チタンラクテート、チタニウムビス(エチルヘキソキシ)ビス(2−エチル−3−ヒドロキシヘキソキシド)、チタンアセチルアセトネート等が含まれる。   Specific examples of the metal alkoxide or metal chelate containing the titanium element represented by the general formula (V) include titanium tetraisopropoxide, titanium tetra n-butoxide, titanium tetra i-butoxide, titanium methacrylate triisopropoxide, titanium. Examples include tetramethoxypropoxide, titanium tetra n-propoxide, titanium tetraethoxide, titanium lactate, titanium bis (ethylhexoxy) bis (2-ethyl-3-hydroxyhexoxide), titanium acetylacetonate, and the like.

ただし、上記で例示した金属アルコキシドまたは金属キレートは、入手容易な市販の有機金属アルコキシドまたは金属キレートの一部である。科学技術総合研究所発行の「カップリング剤最適利用技術」9章のカップリング剤及び関連製品一覧表に示される金属アルコキシドまたは金属キレートも、反射層形成用組成物に適用される。   However, the metal alkoxide or metal chelate exemplified above is a part of a commercially available organometallic alkoxide or metal chelate that is easily available. The metal alkoxides or metal chelates shown in the list of coupling agents and related products in Chapter 9 “Optimum Utilization Technology of Coupling Agents” published by Science and Technology Research Institute are also applied to the composition for forming a reflective layer.

反射層形成用組成物に含まれる金属アルコキシドまたは金属キレートの量は、反射層形成用組成物の固形分の全質量(溶剤以外の成分の総量)に対して1〜30質量%であることが好ましく、より好ましくは5〜20質量%、さらに好ましくは5〜15質量%である。金属アルコキシドまたは金属キレートの量が1質量%未満であると、得られる反射層と基板との密着性が高まり難い。一方、金属アルコキシドまたは金属キレートの量が30質量%を超えると、得られる反射層において、相対的にバインダ成分の量が低下し、強度が低下する場合がある。   The amount of the metal alkoxide or metal chelate contained in the composition for forming a reflective layer is 1 to 30% by mass relative to the total mass of the solid content of the composition for forming a reflective layer (total amount of components other than the solvent). Preferably, it is 5-20 mass%, More preferably, it is 5-15 mass%. When the amount of the metal alkoxide or metal chelate is less than 1% by mass, it is difficult to increase the adhesion between the resulting reflective layer and the substrate. On the other hand, when the amount of the metal alkoxide or metal chelate exceeds 30% by mass, the amount of the binder component is relatively decreased in the obtained reflective layer, and the strength may be decreased.

また、得られる反射層に含まれる、金属アルコキシドまたは金属キレート由来の金属元素(Si元素を除く)の量は、反射層形成用組成物に含まれるSi元素のモル数に対して、0.5〜20モル%であることが好ましく、より好ましくは1〜10モル%である。金属元素の量が、0.5モル%未満であると、得られる反射層と基板との密着性が高まらない。一方、金属アルコキシドまたは金属キレートの量が多くなると光拡散粒子の量が相対的に減少するため、反射層の光反射性が低下するおそれがある。金属元素の量、及びSi元素の量は、エネルギー分散型X線分光法(EDX)で算出できる。   Further, the amount of metal element derived from metal alkoxide or metal chelate (excluding Si element) contained in the obtained reflective layer is 0.5% relative to the number of moles of Si element contained in the composition for forming a reflective layer. It is preferable that it is -20 mol%, More preferably, it is 1-10 mol%. When the amount of the metal element is less than 0.5 mol%, the adhesion between the resulting reflective layer and the substrate does not increase. On the other hand, when the amount of metal alkoxide or metal chelate increases, the amount of light diffusing particles relatively decreases, and thus the light reflectivity of the reflective layer may be reduced. The amount of the metal element and the amount of the Si element can be calculated by energy dispersive X-ray spectroscopy (EDX).

2−7.シランカップリング剤
反射層形成用組成物には、さらにシランカップリング剤が含まれてもよい。反射層形成用組成物にシランカップリング剤が含まれると、得られる反射層と基板との密着性や、反射層と波長変換層が高まり、LED装置の耐久性が向上する。
2-7. Silane Coupling Agent The reflective layer forming composition may further contain a silane coupling agent. When the silane coupling agent is included in the reflective layer forming composition, the adhesion between the resulting reflective layer and the substrate, the reflective layer and the wavelength conversion layer are increased, and the durability of the LED device is improved.

シランカップリング剤の例には、ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリエトキシシラン、2−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルメチルジエトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリエトキシシラン、p−スチリルトリメトキシシラン、3−メタクリロキシプロピルメチルジメトキシシラン、3−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、3−メタクリロキシプロピルトリエトキシシラン、3−アクリロキシプロピルトリメトキシシラン、N−2−(アミノエチル)−3−アミノプロピルメチルジメトキシシラン、N−2−(アミノエチル)−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−2−(アミノエチル)−3−アミノプロピルトリエトキシシラン、3−アミノプロピルトリメトキシシラン、3−トリエトキシシリル−N−(1,3−ジメチル−ブチリデン)プロピルアミン、N−フェニル−3−アミノプロピルトリエトキシシラン、N−(ビニルベンジル)−2−アミノエチル−3−アミノプロピルトリメトキシシランの塩酸塩、3−ウレイドプロピルトリメトキシシラン、3−クロロプロピルトリメトキシシラン、3−メルカプトプロピルメチルジメトキシシラン、3−メルカプトプロピルトリメトキシシラン、ビス(トリエトキシシリルプロピル)テトラスルフィド、3−イソシアネートプロピルトリエトキシシラン等が含まれる。反射層形成用組成物には、これらが一種のみで含まれてもよく、二種以上含まれてもよい。   Examples of silane coupling agents include vinyltrimethoxysilane, vinyltriethoxysilane, 2- (3,4-epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane, 3-glycidoxypropyltrimethoxysilane, 3-glycidoxypropyl Methyldiethoxysilane, 3-glycidoxypropyltriethoxysilane, p-styryltrimethoxysilane, 3-methacryloxypropylmethyldimethoxysilane, 3-methacryloxypropyltrimethoxysilane, 3-methacryloxypropyltriethoxysilane, 3 -Acryloxypropyltrimethoxysilane, N-2- (aminoethyl) -3-aminopropylmethyldimethoxysilane, N-2- (aminoethyl) -3-aminopropyltrimethoxysilane, N-2- (aminoethyl) -3-Ami Propyltriethoxysilane, 3-aminopropyltrimethoxysilane, 3-triethoxysilyl-N- (1,3-dimethyl-butylidene) propylamine, N-phenyl-3-aminopropyltriethoxysilane, N- (vinylbenzyl) ) -2-Aminoethyl-3-aminopropyltrimethoxysilane hydrochloride, 3-ureidopropyltrimethoxysilane, 3-chloropropyltrimethoxysilane, 3-mercaptopropylmethyldimethoxysilane, 3-mercaptopropyltrimethoxysilane, Bis (triethoxysilylpropyl) tetrasulfide, 3-isocyanatopropyltriethoxysilane and the like are included. In the composition for forming a reflective layer, these may be contained alone or in combination of two or more.

反射層形成用組成物に含まれるシランカップリング剤の量は、反射層形成用組成物の固形分の全質量(溶剤以外の成分の総量)に対して1〜10質量%であることが好ましく、3〜7質量%であることがより好ましい。シランカップリング剤が少なすぎると、得られる反射層と基板との密着性や、反射層と波長変換層との密着性が十分に高まらず、多すぎると得られる反射層の耐熱性が低下する恐れがある。   The amount of the silane coupling agent contained in the reflective layer forming composition is preferably 1 to 10% by mass with respect to the total mass (total amount of components other than the solvent) of the solid content of the reflective layer forming composition. 3 to 7% by mass is more preferable. If the amount of the silane coupling agent is too small, the adhesion between the resulting reflective layer and the substrate and the adhesion between the reflective layer and the wavelength conversion layer are not sufficiently enhanced. If the amount is too large, the heat resistance of the resulting reflective layer is reduced. There is a fear.

2−8.溶媒
反射層形成用組成物に含まれる溶媒は、有機ケイ素化合物を溶解または分散可能なものであれば特に制限されない。例えば水との相溶性に優れた水性溶剤であってもよく、また、水との相溶性が低い非水性溶剤であってもよい。
2-8. Solvent The solvent contained in the reflective layer forming composition is not particularly limited as long as it can dissolve or disperse the organosilicon compound. For example, it may be an aqueous solvent having excellent compatibility with water, or may be a non-aqueous solvent having low compatibility with water.

反射層形成用組成物に含まれる有機ケイ素化合物が、ポリシラザンオリゴマーである場合、溶媒は脂肪族炭化水素、芳香族炭化水素、ハロゲン炭化水素、エーテル類、エステル類でありうる。具体的には、メチルエチルケトン、テトラヒドロフラン、ベンゼン、トルエン、キシレン、ジメチルフルオライド、クロロホルム、四塩化炭素、エチルエーテル、イソプロピルエーテル、ジブチルエーテル、エチルブチルエーテル等が挙げられる。   When the organosilicon compound contained in the composition for forming a reflective layer is a polysilazane oligomer, the solvent can be an aliphatic hydrocarbon, an aromatic hydrocarbon, a halogen hydrocarbon, an ether, or an ester. Specific examples include methyl ethyl ketone, tetrahydrofuran, benzene, toluene, xylene, dimethyl fluoride, chloroform, carbon tetrachloride, ethyl ether, isopropyl ether, dibutyl ether, and ethyl butyl ether.

一方、反射層形成用組成物に含まれる有機ケイ素化合物がシラン化合物のモノマーまたはそのオリゴマーである場合、溶媒は特に制限されないが、アルコール類が好ましく、特に多価アルコールが好ましい。反射層形成用組成物にアルコールが含まれると、反射層形成用組成物の粘度が高まり、光拡散粒子の沈殿が抑制される。多価アルコールの例には、エチレングリコール、プロピレングリコール、ジエチレングリコール、グリセリン、1,3−ブタンジオール、1,4−ブタンジオール等が含まれ、特にエチレングリコール、プロピレングリコール、1,3−ブタンジオール、または1,4−ブタンジオールであることが好ましい。   On the other hand, when the organosilicon compound contained in the composition for forming a reflective layer is a silane compound monomer or oligomer thereof, the solvent is not particularly limited, but alcohols are preferable, and polyhydric alcohols are particularly preferable. When alcohol is contained in the composition for forming a reflective layer, the viscosity of the composition for forming a reflective layer increases, and precipitation of light diffusing particles is suppressed. Examples of polyhydric alcohols include ethylene glycol, propylene glycol, diethylene glycol, glycerin, 1,3-butanediol, 1,4-butanediol, and the like, particularly ethylene glycol, propylene glycol, 1,3-butanediol, Alternatively, 1,4-butanediol is preferable.

反射層形成用組成物に含まれる有機ケイ素化合物がいずれである場合においても、反射層形成用組成物に含まれる溶媒は、沸点が250℃以下であることが好ましい。溶媒の沸点が高すぎると、反射層形成用組成物の乾燥が遅くなる。   Whatever the organosilicon compound contained in the reflective layer-forming composition, the solvent contained in the reflective layer-forming composition preferably has a boiling point of 250 ° C. or lower. When the boiling point of the solvent is too high, drying of the composition for forming a reflective layer is delayed.

反射層形成用組成物に含まれる溶媒の量は、反射層形成用組成物の全質量に対して、1〜15質量%であることが好ましく、より好ましくは1〜10質量%であり、さらに好ましくは3〜10質量%である。   The amount of the solvent contained in the reflective layer forming composition is preferably 1 to 15% by mass, more preferably 1 to 10% by mass, and more preferably 1% to 10% by mass with respect to the total mass of the reflective layer forming composition. Preferably it is 3-10 mass%.

2−9.反応促進剤
反射層形成用組成物には、有機ケイ素化合物(特にポリシラザンオリゴマー)と共に、反応促進剤が含まれてもよい。反応促進剤は、酸または塩基のいずれであってもよい。反応促進剤の例には、トリエチルアミン、ジエチルアミン、N,N−ジエチルエタノールアミン、N,N−ジメチルエタノールアミン、トリエタノールアミン、及びトリエチルアミン等のアミン;塩酸、シュウ酸、フマル酸、スルホン酸、及び酢酸等の酸;ニッケル、鉄、パラジウム、イリジウム、白金、チタン、アルミニウムを含む金属カルボン酸塩等が含まれる。反応促進剤は、金属カルボン酸塩であることが、特に好ましい。反射層形成用組成物に含まれる反応促進剤の量は、ポリシラザンオリゴマーの質量に対して0.01〜5mol%であることが好ましい。
2-9. Reaction accelerator The composition for forming a reflection layer may contain a reaction accelerator together with an organosilicon compound (particularly a polysilazane oligomer). The reaction accelerator may be either acid or base. Examples of reaction accelerators include amines such as triethylamine, diethylamine, N, N-diethylethanolamine, N, N-dimethylethanolamine, triethanolamine, and triethylamine; hydrochloric acid, oxalic acid, fumaric acid, sulfonic acid, and Acids such as acetic acid; metal carboxylates including nickel, iron, palladium, iridium, platinum, titanium, and aluminum are included. The reaction accelerator is particularly preferably a metal carboxylate. The amount of the reaction accelerator contained in the reflective layer forming composition is preferably 0.01 to 5 mol% with respect to the mass of the polysilazane oligomer.

3.LED装置の製造方法
前述のLED装置を製造する方法には、少なくとも以下の3つの工程が含まれる。
a)基板にLED素子を実装する実装工程
b)前述の反射層形成用組成物を塗布し、当該反射層形成用組成物を乾燥・硬化させて反射層を形成する反射層形成工程
c)LED素子を被覆するように、蛍光体粒子及びバインダ成分を含む波長変換層用組成物を塗布し、波長変換層を形成する波長変換層形成工程
本発明の方法では、必要に応じて、d)LED素子を被覆するように透光層を形成する透光層形成工程、が含まれる。
3. Method for Manufacturing LED Device The above-described method for manufacturing an LED device includes at least the following three steps.
a) Mounting step of mounting LED elements on a substrate b) Reflective layer forming step of applying the above-mentioned reflective layer forming composition and drying and curing the reflective layer forming composition to form a reflective layer c) LED A wavelength conversion layer forming step of applying a wavelength conversion layer composition containing phosphor particles and a binder component so as to cover an element, and forming a wavelength conversion layer. In the method of the present invention, d) LED as necessary. A translucent layer forming step of forming a translucent layer so as to cover the element.

本発明のLED装置の製造方法には、上記工程を行う順序に応じて、以下の4つの態様がありうる。
(1)実装工程、反射層形成工程、及び波長変換層形成工程の順に行う第一の態様
(2)反射層形成工程、実装工程、及び波長変換層形成工程の順に行う第二の態様
(3)実装工程、波長変換層形成工程、及び反射層形成工程の順に行う第三の態様
(4)実装工程、透光層形成工程、反射層形成工程、及び波長変換層形成工程の順に行う第四の態様
The manufacturing method of the LED device of the present invention may have the following four modes depending on the order in which the above steps are performed.
(1) 1st aspect performed in order of mounting process, reflective layer formation process, and wavelength conversion layer formation process (2) 2nd aspect performed in order of reflective layer formation process, mounting process, and wavelength conversion layer formation process (3) ) Third embodiment performed in order of mounting process, wavelength conversion layer forming process, and reflective layer forming process (4) Fourth process performed in order of mounting process, translucent layer forming process, reflective layer forming process, and wavelength converting layer forming process Aspect of

3−1)第一の態様
第一の態様では、例えば図7に示されるように、基板1にLED素子2を実装する実装工程(図7(a))、LED素子2の実装領域の周縁部の外側に反射層21を形成する反射層形成工程(図7(b))、LED素子2及び反射層21を被覆するように波長変換層11を形成する波長変換層形成工程(図7(c))の順に行う。
3-1) First Aspect In the first aspect, for example, as shown in FIG. 7, a mounting step for mounting the LED element 2 on the substrate 1 (FIG. 7A), the periphery of the mounting region of the LED element 2 A reflective layer forming step (FIG. 7B) for forming the reflective layer 21 on the outside of the portion, and a wavelength conversion layer forming step for forming the wavelength conversion layer 11 so as to cover the LED element 2 and the reflective layer 21 (FIG. 7 ( c)).

3−1−1)実装工程
第一の態様の実装工程では、メタル部3(金属配線)が形成された基板1を準備する。そして、当該基板1にLED素子2を固定し、LED素子2と基板1のメタル部3とを電気的に接続する。LED素子2を基板1に固定する方法は特に制限されず、例えばダイボンド等でLED素子2を固定する方法でありうる。また、LED素子2とメタル部3との接続方法も特に制限されない。例えば、図7(a)に示されるように突起電極5を介して接続する方法でありうる。また、LED素子2とメタル部3とをワイヤ等を介して接続する方法でもありうる。
3-1-1) Mounting Step In the mounting step of the first aspect, the substrate 1 on which the metal part 3 (metal wiring) is formed is prepared. And the LED element 2 is fixed to the said board | substrate 1, and the LED element 2 and the metal part 3 of the board | substrate 1 are electrically connected. The method for fixing the LED element 2 to the substrate 1 is not particularly limited, and may be a method for fixing the LED element 2 by, for example, die bonding. Moreover, the connection method of the LED element 2 and the metal part 3 is not particularly limited. For example, as shown in FIG. 7A, a method of connecting via the protruding electrodes 5 can be used. Moreover, the method of connecting the LED element 2 and the metal part 3 via a wire etc. may be sufficient.

3−1−2)反射層形成工程
第一の態様の反射層形成工程では、LED素子2の実装領域(前述の実装工程で実装されたLED素子2の発光面やLED素子2とメタル部3との接続部)及びその周縁部に反射層形成用組成物が付着しないように反射層形成用組成物を塗布し、硬化させる。
3-1-2) Reflective Layer Forming Process In the reflective layer forming process of the first aspect, the LED element 2 mounting region (the light emitting surface of the LED element 2 mounted in the mounting process described above, the LED element 2 and the metal part 3). The composition for forming a reflective layer is applied and cured so that the composition for forming a reflective layer does not adhere to the peripheral portion thereof.

所望の領域のみに反射層21を形成する方法には、(i)反射層を形成しない領域を他の部材で被覆し、反射層を特定の領域に形成する方法;(ii)反射層形成用組成物を塗布する部材(つまり、LED素子が実装された基板等)の形状によって、反射層を特定の領域に形成する方法;(iii)反射層形成用組成物の塗布方法によって、反射層を特定の領域に形成する方法がある。   The method for forming the reflective layer 21 only in a desired region includes (i) a method in which a region where the reflective layer is not formed is covered with another member and the reflective layer is formed in a specific region; A method of forming a reflective layer in a specific region depending on the shape of a member to which the composition is applied (that is, a substrate on which an LED element is mounted); (iii) a method of applying the composition for forming a reflective layer, There is a method of forming in a specific region.

(i)反射層を形成しない領域を他の部材で被覆し、反射層を特定の領域に形成する方法では、LED素子2の実装領域及びその周縁部(反射層を形成しない領域)を保護するステップ、反射層形成用組成物21’を塗布し、硬化させるステップ、及び必要に応じてLED素子2の実装領域及びその周縁部を保護する部材を除去するステップを行うことによって、所望の領域のみに反射層21を形成することができる。   (I) In the method of covering the region where the reflective layer is not formed with another member and forming the reflective layer in a specific region, the mounting region of the LED element 2 and its peripheral portion (region where the reflective layer is not formed) are protected. By applying the step, applying and curing the reflective layer forming composition 21 ', and removing the member that protects the mounting region of the LED element 2 and its peripheral portion as necessary, only the desired region is performed. The reflective layer 21 can be formed.

(i)の方法において、LED素子2の実装領域及びその周縁部を保護する方法は特に制限されない。例えば、図8(a)の上面図及び図8(b)の断面図に示されるように、板状マスク110でLED素子2の実装領域及びその周縁部を覆う方法でありうる。板状マスク110の形状は、LED素子2の実装領域及びその周縁部の形状に応じて適宜選択される。また、マスク110の素材は、反射層形成用組成物を透過させない材料であれば特に制限されず、樹脂や金属、セラミック等でありうる。   In the method (i), the method for protecting the mounting region of the LED element 2 and the peripheral portion thereof is not particularly limited. For example, as shown in the top view of FIG. 8A and the cross-sectional view of FIG. 8B, a method of covering the mounting region of the LED element 2 and its peripheral portion with the plate-like mask 110 may be used. The shape of the plate-like mask 110 is appropriately selected according to the mounting area of the LED element 2 and the shape of the peripheral edge thereof. The material of the mask 110 is not particularly limited as long as it does not transmit the reflective layer forming composition, and may be resin, metal, ceramic, or the like.

(i)の方法において、LED素子2の実装領域及びその周縁部を保護する方法の他の例は、図9(c)に示されるように、レジスト材料120でLED素子2の実装領域及びその周縁部を覆う方法でありうる。具体的には、図9(a)に示されるように、基板1及びLED素子2をレジスト材料120で被覆する。そして、図9(b)に示されるように、遮光マスク121等で、LED素子2の実装領域及びその周縁部を遮光しながら、レジスト材料120を露光する。その後、図9(c)に示されるように、レジスト材料を現像;つまり反射層を形成する領域のレジスト材料120を除去する。これにより、レジスト材料120でLED素子2の実装領域及びその周縁部が保護される。   In the method (i), another example of a method for protecting the mounting region of the LED element 2 and the peripheral portion thereof is as follows. As shown in FIG. It can be a method of covering the periphery. Specifically, as shown in FIG. 9A, the substrate 1 and the LED element 2 are covered with a resist material 120. Then, as shown in FIG. 9B, the resist material 120 is exposed while shielding the mounting area of the LED element 2 and its peripheral edge with a light shielding mask 121 or the like. Thereafter, as shown in FIG. 9C, the resist material is developed; that is, the resist material 120 in the region where the reflective layer is formed is removed. Thereby, the mounting area | region of LED element 2 and its peripheral part are protected with the resist material 120. FIG.

上記では、ポジ型のレジスト材料120を例に説明したが、レジスト材料120は、ネガ型であってもよい。レジスト材料の例には、一般的なナフトキノンジアジド化合物等のポジ型感光性材料やビスアジド化合物等のネガ型感光性材料等が含まれる。   The positive resist material 120 has been described above as an example, but the resist material 120 may be a negative type. Examples of the resist material include a positive photosensitive material such as a general naphthoquinone diazide compound, a negative photosensitive material such as a bisazide compound, and the like.

上記レジスト材料120の塗布方法は特に制限されず、例えばスプレー塗布やディスペンサー塗布等でありうる。また、レジスト材料120の硬化方法は、レジスト材料の種類に応じて適宜選択され、特定波長の光の照射や、加熱処理等でありうる。レジスト材料の現像方法は、レジスト現像液等で溶解除去する方法等でありうる。   The method for applying the resist material 120 is not particularly limited, and may be, for example, spray application or dispenser application. The curing method of the resist material 120 is appropriately selected according to the type of the resist material, and may be irradiation with light having a specific wavelength, heat treatment, or the like. The developing method of the resist material may be a method of dissolving and removing with a resist developer or the like.

なお、上記露光・現像を行うことなく、LED素子2の実装領域及びその周縁部をレジスト材料120で保護してもよい。例えば、レジスト材料120をLED素子2の実装領域及びその周縁部のみに塗布し、硬化させることによって、上記実装領域及びその周縁部をレジスト材料120で覆うことができる。レジスト材料120の塗布方法は、所望の領域のみにレジスト材料120を塗布可能な方法であればよく、ディスペンサー塗布やインクジェット塗布等でありうる。このとき、レジスト材料120を塗布しない領域を、板状マスク等で保護してもよい。   In addition, you may protect the mounting area | region of LED element 2, and its peripheral part with the resist material 120, without performing the said exposure and image development. For example, the mounting region and the peripheral portion thereof can be covered with the resist material 120 by applying the resist material 120 only to the mounting region of the LED element 2 and the peripheral portion thereof and curing it. The application method of the resist material 120 may be any method that can apply the resist material 120 only to a desired region, and may be dispenser application, inkjet application, or the like. At this time, a region where the resist material 120 is not applied may be protected with a plate mask or the like.

また、(i)の方法において、LED素子2の実装領域及びその周縁部を保護する方法の他の例は、水または溶媒に可溶な可溶性樹脂をLED素子2の実装領域及びその周縁部のみに塗布し、硬化させる方法でもありうる。   Further, in the method (i), another example of the method for protecting the mounting region of the LED element 2 and the peripheral portion thereof is to use a soluble resin soluble in water or a solvent only in the mounting region of the LED element 2 and the peripheral portion thereof. It can also be a method of applying to and curing.

可溶性樹脂は、水または溶媒に可溶であり、反射層の形成後に除去可能な樹脂であれば特に制限されない。可用性樹脂の例には、ポリビニルアルコール、テトラヒドロフラン(THF)やジクロロメタンに可溶なアクリル樹脂やポリカーボネート樹脂等がある。   The soluble resin is not particularly limited as long as it is soluble in water or a solvent and can be removed after forming the reflective layer. Examples of the availability resin include acrylic resin and polycarbonate resin that are soluble in polyvinyl alcohol, tetrahydrofuran (THF), and dichloromethane.

可溶性樹脂の塗布方法は、所望の領域のみに可溶性樹脂を塗布可能な方法であればよく、ディスペンサー塗布やインクジェット塗布等でありうる。このとき、可溶性樹脂を塗布しない領域を、板状マスク等で保護してもよい。   The method for applying the soluble resin may be any method that can apply the soluble resin only to a desired region, and may be dispenser application, inkjet application, or the like. At this time, the region where the soluble resin is not applied may be protected with a plate mask or the like.

また、(i)の方法において、LED素子2の実装領域及びその周縁部を保護する方法のさらに他の例は、撥液剤をLED素子2の実装領域及びその周縁部のみに塗布し、乾燥させる方法でもありうる。   In addition, in the method (i), still another example of the method for protecting the mounting region of the LED element 2 and the peripheral portion thereof is to apply a liquid repellent only to the mounting region of the LED element 2 and the peripheral portion thereof and to dry. It can also be a method.

撥液剤は、反射層形成用組成物の塗布時に当該組成物がLED素子2の実装領域及びその周縁部に付着することを抑制可能であり、さらに透明な材料であれば特に制限されない。撥液剤の例には、フッ素系コーティング剤(例えば信越化学工業社製のKP−911やX−24−9481、フロロテクノロジー社製のFS−1090やFS−5060、ダイキン社製のオプトエース等);シリコーン系コーティング剤(例えば信越化学工業社製のKS−702やKS−725);酸化チタン系コーティング剤(例えばCTC ナノテクノロジー社製のNANO INDENT等)が含まれる。   The liquid repellent is not particularly limited as long as the composition can prevent the composition from adhering to the mounting region of the LED element 2 and the peripheral portion thereof when the composition for forming a reflective layer is applied. Examples of the liquid repellent include fluorine-based coating agents (for example, KP-911 and X-24-9481 manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., FS-1090 and FS-5060 manufactured by Fluoro Technology Co., Ltd., and Opt-Ace manufactured by Daikin Co., Ltd.) Silicone-based coating agents (for example, KS-702 and KS-725 manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.); titanium oxide-based coating agents (for example, NANO INDENT, manufactured by CTC Nanotechnology, Inc.).

撥液剤の塗布方法は、所望の領域のみに撥液剤を塗布可能な方法であればよく、ディスペンサー塗布やインクジェット塗布等でありうる。このとき、撥液剤を塗布しない領域を、板状マスク等で保護してもよい。   The application method of the liquid repellent may be any method that can apply the liquid repellent only to a desired region, and may be dispenser application, ink jet application, or the like. At this time, the region where the liquid repellent agent is not applied may be protected with a plate mask or the like.

(i)の方法では、反射層を形成しない領域を他の部材(板状マスクや、レジストマスク、可溶性樹脂、撥液剤等)で保護した後、図8(b)や図9(d)に示されるように、基板1上に前述の反射層形成用組成物21’を塗布する。   In the method (i), the region where the reflective layer is not formed is protected with another member (a plate-like mask, a resist mask, a soluble resin, a liquid repellent, etc.), and then shown in FIG. 8B or FIG. 9D. As shown, the reflective layer forming composition 21 ′ is applied onto the substrate 1.

反射層形成用組成物21’の塗布方法は特に制限されず、ディスペンサー塗布や、スプレー塗布でありうる。スプレー塗布で反射層形成用組成物を塗布すると、反射層21の厚みを薄くしやすい。また基板1がキャビティを有する場合に、そのキャビティ内壁面6にも反射層形成用組成物を塗布しやすい。   The application method of the reflective layer forming composition 21 ′ is not particularly limited, and can be dispenser application or spray application. When the composition for forming a reflective layer is applied by spray coating, the thickness of the reflective layer 21 can be easily reduced. Further, when the substrate 1 has a cavity, it is easy to apply the reflective layer forming composition to the inner wall surface 6 of the cavity.

基板1に反射層形成用組成物21’を塗布した後、反射層形成用組成物を乾燥・硬化させる。反射層形成用組成物21’を乾燥・硬化させる際の温度は、20〜200℃であることが好ましく、より好ましくは25〜150℃である。温度が20℃未満であると、溶媒が十分に揮発しない可能性がある。一方、温度が200℃を超えると、LED素子2に悪影響を及ぼす可能性がある。また、乾燥・硬化時間は、製造効率の面から、0.1〜30分であることが好ましく、より好ましくは0.1〜15分である。反射層形成用組成物21’に含まれる有機ケイ素化合物がポリシラザンオリゴマーである場合には、波長170〜230nmの範囲のUVU放射線(例えばエキシマ光)を塗膜に照射して硬化させた後に、さらに加熱硬化を行うことで、より緻密な膜が形成される。   After the reflective layer forming composition 21 ′ is applied to the substrate 1, the reflective layer forming composition is dried and cured. The temperature at which the reflective layer forming composition 21 ′ is dried and cured is preferably 20 to 200 ° C., more preferably 25 to 150 ° C. If the temperature is lower than 20 ° C, the solvent may not be sufficiently evaporated. On the other hand, if the temperature exceeds 200 ° C., the LED element 2 may be adversely affected. The drying / curing time is preferably from 0.1 to 30 minutes, more preferably from 0.1 to 15 minutes, from the viewpoint of production efficiency. When the organosilicon compound contained in the reflective layer forming composition 21 ′ is a polysilazane oligomer, the coating film is further irradiated with UVU radiation (eg, excimer light) in the wavelength range of 170 to 230 nm, and then further cured. By performing heat curing, a denser film is formed.

(i)の方法では、反射層形成用組成物21’の硬化後、必要に応じて板状マスクや、レジスト材料、可溶性樹脂等、LED素子2の実装領域及びその周縁部を保護していた保護部材を除去する。レジスト材料120や可溶性樹脂を除去する場合、図9(e)に示されるように、これらの上に積層されている反射層形成用組成物21’も除去する。これにより、所望の領域のみに反射層21が形成される。なお、板状マスクは、反射層形成用組成物21’の硬化前に除去してもよい。   In the method (i), after curing of the reflective layer forming composition 21 ′, the mounting region of the LED element 2 and its peripheral portion, such as a plate mask, a resist material, and a soluble resin, were protected as necessary. Remove the protective member. When removing the resist material 120 and the soluble resin, as shown in FIG. 9 (e), the reflective layer forming composition 21 'laminated thereon is also removed. Thereby, the reflective layer 21 is formed only in a desired region. The plate mask may be removed before the reflection layer forming composition 21 'is cured.

保護部材の除去方法は、保護部材の種類によって適宜選択する。板状マスクは、これを基板1上から除去すればよい。また、レジスト材料120は、一般的なドライエッチング法、またはウェットエッチング法で除去する。可溶性樹脂は、水または溶媒で基板1を洗浄して除去する。   The method for removing the protective member is appropriately selected depending on the type of the protective member. The plate-like mask may be removed from the substrate 1. The resist material 120 is removed by a general dry etching method or a wet etching method. The soluble resin is removed by washing the substrate 1 with water or a solvent.

(ii)反射層形成用組成物を塗布する部材(つまり、LED素子が実装された基板等)の形状によって、反射層を特定の領域に形成する方法は、図13に示されるように、LED素子2の実装領域の周縁部(反射層を形成しない領域)の周囲に隔壁200を形成するステップ(図13(a))と、隔壁200の外側の領域に、隔壁200より高さの低い反射層21を形成するするステップ(図13(b))と、を行う方法でありうる。 (Ii) A method of forming a reflective layer in a specific region depending on the shape of a member (that is, a substrate on which an LED element is mounted) to which a composition for forming a reflective layer is applied is shown in FIG. A step (FIG. 13A) of forming the partition wall 200 around the periphery of the mounting region of the element 2 (a region where no reflective layer is formed), and a reflection lower in height than the partition wall 200 in a region outside the partition wall 200 And the step of forming the layer 21 (FIG. 13B).

当該方法では、図13(b)に示されるように、LED素子2の周囲に形成した隔壁200によって、反射層形成用組成物21’が堰き止められるため、反射層形成用組成物21’がLED素子の実装領域及びその周縁部に付着しない。   In this method, as shown in FIG. 13 (b), the reflective layer forming composition 21 ′ is dammed up by the partition walls 200 formed around the LED elements 2, so that the reflective layer forming composition 21 ′ is It does not adhere to the LED element mounting area and its peripheral edge.

隔壁200は、例えば図14の上面図に示されるように、LED素子2の実装領域の周縁部を囲むように形成することが好ましい。また、隔壁200は、LED装置100の光取り出し性の観点から、可視光に対する透過性が高い部材、もしくは白色の部材であることが好ましい。   For example, as shown in the top view of FIG. 14, the partition wall 200 is preferably formed so as to surround the peripheral portion of the mounting region of the LED element 2. Moreover, it is preferable that the partition wall 200 is a member with high transparency with respect to visible light, or a white member from the viewpoint of the light extraction property of the LED device 100.

形成する隔壁200の高さは、反射層形成用組成物21’の塗布厚みより高ければよく;5〜200μmであることが好ましく、より好ましくは20〜100μmである。一方、隔壁の幅は、通常10〜1000μmであることが好ましく、より好ましくは50〜500μmである。   The height of the partition wall 200 to be formed may be higher than the coating thickness of the reflective layer forming composition 21 ′; it is preferably 5 to 200 μm, more preferably 20 to 100 μm. On the other hand, the width of the partition wall is usually preferably 10 to 1000 μm, more preferably 50 to 500 μm.

隔壁200の形成方法は特に制限されず、公知の方法で成形した樹脂製またはセラミック製の枠状の部材を、実装領域の周縁部を囲むように配置する方法であってもよく;LED素子2の実装領域の周縁部を囲むように隔壁形成用組成物を、塗布し、硬化させる方法であってもよい。   The method for forming the partition wall 200 is not particularly limited, and may be a method in which a frame member made of resin or ceramic formed by a known method is disposed so as to surround the peripheral portion of the mounting region; LED element 2 Alternatively, the partition wall forming composition may be applied and cured so as to surround the periphery of the mounting region.

隔壁形成用組成物は、透明もしくは白色の隔壁を形成可能な材料であれば特に制限されず、例えば反射層形成用組成物と同様の組成物でありうる。   The partition forming composition is not particularly limited as long as it is a material capable of forming a transparent or white partition, and may be, for example, the same composition as the reflective layer forming composition.

隔壁形成用組成物の塗布方法は、所望の領域にのみ隔壁形成用組成物を塗布可能な方法であれば特に制限されず、ディスペンサー塗布や、ジェットディスペンサー塗布、インクジェット塗布等でありうる。また、隔壁形成用組成物の硬化方法は、隔壁形成用組成物に含まれる成分に応じて適宜選択される。硬化方法の一例として、加熱硬化が挙げられる。   The method for applying the partition wall forming composition is not particularly limited as long as the partition wall forming composition can be applied only to a desired region, and can be dispenser coating, jet dispenser coating, inkjet coating, or the like. Moreover, the hardening method of the composition for partition formation is suitably selected according to the component contained in the composition for partition formation. An example of the curing method is heat curing.

当該方法では、隔壁200の形成後、隔壁200の外側の領域に、反射層形成用組成物21’を塗布する。このとき、反射層形成用組成物21’の厚みが、隔壁200の高さを超えないように反射層形成用組成物の塗布量を調整する。反射層形成用組成物21’の塗布方法は特に制限されず、ディスペンサー塗布や、ジェットディスペンサー塗布、インクジェット塗布等でありうる。また、反射層形成用組成物21’の硬化方法は、(i)の方法における反射層形成用組成物21’の硬化方法と同様でありうる。   In this method, after the partition wall 200 is formed, the reflective layer forming composition 21 ′ is applied to a region outside the partition wall 200. At this time, the coating amount of the reflective layer forming composition is adjusted so that the thickness of the reflective layer forming composition 21 ′ does not exceed the height of the partition wall 200. The application method of the reflective layer forming composition 21 ′ is not particularly limited, and may be dispenser application, jet dispenser application, inkjet application, or the like. The curing method of the reflective layer forming composition 21 ′ can be the same as the curing method of the reflective layer forming composition 21 ′ in the method (i).

一方、(ii)反射層形成用組成物21’を塗布する部材(つまり、LED素子が実装された基板等)の形状によって、反射層を特定の領域に形成する方法の他の例は、図15に示されるように、LED素子2の実装領域及びその周縁部を囲むように溝部10を有する基板1に、波長変換層用組成物21’を塗布し、硬化させる方法でありうる。   On the other hand, (ii) another example of a method for forming a reflective layer in a specific region depending on the shape of a member to which the reflective layer forming composition 21 ′ is applied (that is, a substrate on which an LED element is mounted) As shown in FIG. 15, the wavelength conversion layer composition 21 ′ may be applied to the substrate 1 having the groove 10 so as to surround the mounting region of the LED element 2 and the peripheral portion thereof, and cured.

当該方法では、図15(b)に示されるように、反射層形成用組成物21’を塗布した際、LED素子2の実装領域の近傍で反射層形成用組成物21’が溝部10に流れ込む。その結果、反射層形成用組成物21’がLED素子2の実装領域及びその周縁部に付着せず、所望の領域のみに、反射層21が成膜される。   In this method, as shown in FIG. 15B, when the reflective layer forming composition 21 ′ is applied, the reflective layer forming composition 21 ′ flows into the groove 10 in the vicinity of the mounting region of the LED element 2. . As a result, the reflective layer forming composition 21 ′ does not adhere to the mounting region of the LED element 2 and the peripheral portion thereof, and the reflective layer 21 is formed only in a desired region.

基板に設ける溝部10の深さは、塗布する反射層形成用組成物を十分に溜められる深さであればよく、50〜1000μmであることが好ましく、より好ましくは100〜500μmである。一方、溝の幅は通常50〜1000μmであることが好ましく、より好ましくは100〜500μmである。溝部10は、基板1の作製時に形成しておくことが好ましい。   The depth of the groove 10 provided on the substrate may be a depth that can sufficiently store the composition for forming a reflective layer to be applied, and is preferably 50 to 1000 μm, and more preferably 100 to 500 μm. On the other hand, the width of the groove is usually preferably 50 to 1000 μm, more preferably 100 to 500 μm. The groove 10 is preferably formed when the substrate 1 is manufactured.

反射層形成用組成物21’の塗布方法は特に制限されず、ディスペンサー塗布や、インクジェット塗布等でありうる。このとき、反射層形成用組成物21’を、溝部10の外側の領域から塗布することが好ましい。また、溝部10から反射層形成用組成物21’が溢れないように、反射層形成用組成物21’の塗布量を調整する。反射層形成用組成物21’の硬化方法は、(i)の方法における反射層形成用組成物21’の硬化方法と同様でありうる。   The application method of the reflective layer forming composition 21 ′ is not particularly limited, and may be dispenser application, inkjet application, or the like. At this time, it is preferable to apply the reflective layer forming composition 21 ′ from a region outside the groove 10. Further, the coating amount of the reflective layer forming composition 21 ′ is adjusted so that the reflective layer forming composition 21 ′ does not overflow from the groove 10. The method for curing the reflective layer forming composition 21 ′ may be the same as the method for curing the reflective layer forming composition 21 ′ in the method (i).

また、(ii)反射層形成用組成物21’を塗布する部材(つまり、LED素子が実装された基板等)の形状によって、反射層を特定の領域に形成する方法の他の例は、図16に示されるように、基板1のLED素子実装面1aが、反射層の形成面1bより突出している基板1に、反射層形成用組成物21’を塗布し、硬化させる方法でありうる。   Further, (ii) another example of a method for forming a reflective layer in a specific region depending on the shape of a member (that is, a substrate on which an LED element is mounted) to which the reflective layer forming composition 21 ′ is applied is shown in FIG. 16, the LED element mounting surface 1a of the substrate 1 may be a method in which the reflective layer forming composition 21 ′ is applied and cured on the substrate 1 protruding from the reflective layer forming surface 1b.

当該方法では、LED素子2の実装面1aと反射層の形成面1bとの間に段差がある。そのため、反射層形成用組成物21’を塗布した際に、反射層形成用組成物21’がLED素子2の実装領域及びその周縁部に付着せず、所望の領域のみに、反射層21が成膜される。   In this method, there is a step between the mounting surface 1a of the LED element 2 and the reflective layer forming surface 1b. Therefore, when the reflective layer forming composition 21 ′ is applied, the reflective layer forming composition 21 ′ does not adhere to the mounting region of the LED element 2 and the peripheral portion thereof, and the reflective layer 21 is formed only in a desired region. A film is formed.

LED素子の実装面1aと、反射層の形成面1bとの高さの差(段差)は、反射層形成用組成物21’の塗布厚みより大きければよく;5〜500μmであることが好ましく、より好ましくは20〜100μmである。当該段差は、基板1の作製時に形成しておくことが好ましい。   The difference in height (step) between the LED element mounting surface 1a and the reflective layer forming surface 1b may be larger than the coating thickness of the reflective layer forming composition 21 ′; preferably 5 to 500 μm, More preferably, it is 20-100 micrometers. The step is preferably formed when the substrate 1 is manufactured.

反射層形成用組成物21’の塗布方法は、反射層の形成面のみに、反射層形成用組成物21’を塗布可能な方法であれば特に制限されず、ディスペンサー塗布や、インクジェット塗布等でありうる。また、反射層形成用組成物21’の硬化方法は、(i)の方法における反射層形成用組成物21’の硬化方法と同様でありうる。   The method for applying the reflective layer forming composition 21 ′ is not particularly limited as long as the reflective layer forming composition 21 ′ can be applied only to the reflective layer forming surface. It is possible. The curing method of the reflective layer forming composition 21 ′ can be the same as the curing method of the reflective layer forming composition 21 ′ in the method (i).

(iii)反射層形成用組成物の塗布方法によって、反射層を特定の領域のみに形成する方法は、図17に示されるように、LED素子2の実装領域及びその周縁部の外側の一部の領域Aに反射層形成用組成物21’Aを塗布した後(図17(a));領域Aとは離隔した領域Bに反射層形成用組成物21’Bを塗布し(図17(b));さらに領域Aと領域Bとの間の領域に、反射層形成用組成物を塗布する(図17(c))方法でありうる。 (Iii) The method of forming the reflective layer only in a specific region by the method of applying the composition for forming the reflective layer is as shown in FIG. After applying the reflective layer forming composition 21′A to the region A (FIG. 17A); applying the reflective layer forming composition 21′B to the region B separated from the region A (FIG. 17 ( b)); Further, the reflective layer forming composition may be applied to a region between the region A and the region B (FIG. 17C).

一般的な方法で、LED素子の実装領域の周囲に反射層形成用組成物を連続して塗布すると、反射層形成用組成物が流動しやすく;反射層形成用組成物が基板全体に濡れ広がりやすい。その結果、反射層形成用組成物がLED素子の実装領域やその周縁部にも付着しやすい。これに対し、反射層形成用組成物21’を少量ずつ離れた領域(領域A及びB)に塗布すると、反射層形成用組成物21’の表面張力によって、反射層形成用組成物21’が濡れ広がり難い。そして、領域A及び領域Bの隙間を埋めるように、反射層形成用組成物21’を少量ずつ塗布すると、反射層形成用組成物21’の塗布面積が大きくなっても、反射層形成用組成物21’が流動し難い。したがって、当該方法によれば、反射層形成用組成物21’を所望の領域にのみ塗布することができる。   When the reflective layer forming composition is continuously applied around the LED element mounting area by a general method, the reflective layer forming composition easily flows; the reflective layer forming composition wets and spreads over the entire substrate. Cheap. As a result, the composition for forming a reflective layer tends to adhere to the LED element mounting region and its peripheral portion. On the other hand, when the reflective layer forming composition 21 ′ is applied to regions (regions A and B) that are separated little by little, the reflective layer forming composition 21 ′ is formed by the surface tension of the reflective layer forming composition 21 ′. Difficult to spread wet. When the reflective layer forming composition 21 ′ is applied little by little so as to fill the gap between the region A and the region B, the reflective layer forming composition is increased even when the coating area of the reflective layer forming composition 21 ′ is increased. The object 21 'is difficult to flow. Therefore, according to the method, the reflective layer forming composition 21 ′ can be applied only to a desired region.

領域A及び領域Bの面積や、各領域に塗布する反射層形成用組成物21’の量は、作製するLED装置100の大きさ等に応じて適宜選択される。なお、図17に示される例では、LED素子2を挟んで対向する2つの領域A及び領域Bに反射層形成用組成物21’を塗布してから、その間隙に、反射層形成用組成物21’を塗布しているが;反射層形成用組成物21’を互いに離隔した3箇所以上に塗布してから、その間隙に反射層形成用組成物21’を塗布してもよい。   The areas of the region A and the region B and the amount of the reflective layer forming composition 21 ′ applied to each region are appropriately selected according to the size of the LED device 100 to be manufactured. In the example shown in FIG. 17, the reflective layer forming composition 21 ′ is applied to the two regions A and B that are opposed to each other with the LED element 2 interposed therebetween, and then the reflective layer forming composition is interposed in the gap. 21 ′ is applied; the reflective layer forming composition 21 ′ may be applied to three or more places separated from each other, and then the reflective layer forming composition 21 ′ may be applied to the gaps.

反射層形成用組成物21’の塗布方法は、所望の領域に所望の量の反射層形成用組成物を塗布することが可能であれば特に制限されず、例えばディスペンサー塗布や、インクジェット塗布でありうる。また、反射層形成用組成物21’の硬化方法は、(i)の方法における反射層形成用組成物21’の硬化方法と同様でありうる。   The method for applying the reflective layer forming composition 21 ′ is not particularly limited as long as a desired amount of the reflective layer forming composition can be applied to a desired region. For example, dispenser application or inkjet application is possible. sell. The curing method of the reflective layer forming composition 21 ′ can be the same as the curing method of the reflective layer forming composition 21 ′ in the method (i).

(iii)反射層形成用組成物の塗布方法によって、反射層を特定の領域のみに形成する方法の他の例は、図18に示されるように、基板1のLED素子の発光面2aを鉛直下方に向けて配置し;反射層形成用組成物21’の塗布装置110と基板1とを相対的に移動させながら、反射層形成用組成物21’を所望の領域に塗布し、硬化させる方法でありうる。   (Iii) Another example of the method of forming the reflective layer only in a specific region by the method of applying the composition for forming the reflective layer is as follows. As shown in FIG. A method of applying and curing the reflective layer forming composition 21 ′ in a desired region while relatively moving the coating device 110 of the reflective layer forming composition 21 ′ and the substrate 1. It can be.

当該方法では、基板1に塗布した反射層形成用組成物21’が水平方向に移動し難い。したがって、反射層形成用組成物21’の濡れ広がりを抑制することができ、反射層形成用組成物21’を所望の領域にのみ塗布することができる。   In this method, the reflective layer forming composition 21 ′ applied to the substrate 1 is difficult to move in the horizontal direction. Accordingly, the wetting and spreading of the reflective layer forming composition 21 ′ can be suppressed, and the reflective layer forming composition 21 ′ can be applied only to a desired region.

反射層形成用組成物21’の塗布方法は、所望の領域に所望の量の反射層形成用組成物を塗布することが可能であれば特に制限されず、例えばディスペンサー塗布や、インクジェット塗布でありうる。また、反射層形成用組成物21’の硬化方法は、(i)の方法における反射層形成用組成物21’の硬化方法と同様でありうる。なお、反射層形成用組成物21’の硬化も、基板1のLED素子の発光面2aを鉛直下方に向けたまま行うことが好ましい。   The method for applying the reflective layer forming composition 21 ′ is not particularly limited as long as a desired amount of the reflective layer forming composition can be applied to a desired region. For example, dispenser application or inkjet application is possible. sell. The curing method of the reflective layer forming composition 21 ′ can be the same as the curing method of the reflective layer forming composition 21 ′ in the method (i). The curing of the reflective layer forming composition 21 ′ is preferably performed while the light emitting surface 2 a of the LED element of the substrate 1 is directed vertically downward.

3−1−3)波長変換層形成工程
第一の態様の波長変換層形成工程では、反射層21が形成された基板1上に、波長変換層11を形成する(図9(f))。波長変換層11の形成方法は、バインダ成分と蛍光体粒子とが含まれる波長変換層用組成物を調製し、これをLED素子2及び反射層21を被覆するように塗布し、硬化させる方法でありうる。
3-1-3) Wavelength Conversion Layer Formation Step In the wavelength conversion layer formation step of the first aspect, the wavelength conversion layer 11 is formed on the substrate 1 on which the reflective layer 21 is formed (FIG. 9 (f)). The wavelength conversion layer 11 is formed by preparing a wavelength conversion layer composition containing a binder component and phosphor particles, applying the composition to cover the LED element 2 and the reflective layer 21, and curing the composition. It is possible.

波長変換層用組成物に含まれるバインダ成分は、前述の透明樹脂またはその前駆体、もしくは有機ケイ素化合物でありうる。また、波長変換層用組成物には、必要に応じて溶媒が含まれる。波長変換層用組成物に含まれる溶媒は、バインダ成分を溶解または分散させることが可能なものであれば、特に制限されない。バインダ成分が前述の透明樹脂またはその前駆体である場合、溶媒はトルエン、キシレンなどの炭化水素類;アセトン、メチルエチルケトンなどのケトン類;ジエチルエーテル、テトラヒドロフランなどのエーテル類、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、エチルアセテートなどのエステル類等でありうる。一方、バインダ成分が有機ケイ素化合物である場合、溶媒は反射層形成用組成物に含まれる溶媒と同様でありうる。   The binder component contained in the wavelength conversion layer composition may be the above-described transparent resin or a precursor thereof, or an organosilicon compound. Moreover, a solvent is contained in the composition for wavelength conversion layers as needed. The solvent contained in the composition for wavelength conversion layers is not particularly limited as long as it can dissolve or disperse the binder component. When the binder component is the aforementioned transparent resin or a precursor thereof, the solvent is a hydrocarbon such as toluene or xylene; a ketone such as acetone or methyl ethyl ketone; an ether such as diethyl ether or tetrahydrofuran; propylene glycol monomethyl ether acetate, ethyl It may be an ester such as acetate. On the other hand, when the binder component is an organosilicon compound, the solvent may be the same as the solvent contained in the reflective layer forming composition.

波長変換層用組成物の混合は、例えば、撹拌ミル、ブレード混練撹拌装置、薄膜旋回型分散機等で行うことができる。撹拌条件を調整することで、波長変換層用組成物における蛍光体粒子の沈降が抑制される。   Mixing of the composition for wavelength conversion layer can be performed by, for example, a stirring mill, a blade kneading stirring device, a thin-film swirling disperser, or the like. By adjusting the stirring conditions, the precipitation of the phosphor particles in the wavelength conversion layer composition is suppressed.

波長変換層用組成物の塗布方法は、バインダ成分の種類に応じて適宜選択される。バインダ成分が透明樹脂またはその前駆体である場合、ディスペンサー塗布等でありうる。一方、バインダ成分が有機ケイ素化合物である場合、ディスペンサー塗布やスプレー塗布等でありうる。   The coating method of the composition for wavelength conversion layers is suitably selected according to the kind of binder component. When the binder component is a transparent resin or a precursor thereof, it can be dispenser application or the like. On the other hand, when the binder component is an organosilicon compound, it can be dispenser coating, spray coating, or the like.

波長変換層用組成物の塗布後、これを硬化させる。波長変換層用組成物の硬化方法や硬化条件は、バインダ成分の種類により適宜選択される。硬化方法の一例として、加熱硬化が挙げられる。   This is hardened after application | coating of the composition for wavelength conversion layers. The curing method and curing conditions of the wavelength conversion layer composition are appropriately selected depending on the type of binder component. An example of the curing method is heat curing.

3−2)第二の態様
第二の態様では、例えば図10に示されるように、LED素子2の実装領の周縁部の外側に射層を形成する反射層形成工程(図10(a))、LED素子2を、基板1に実装する工程(及びLED素子2を被覆するように波長変換層11を形成する波長変換層形成工程(図7(c))の順に行う。
3-2) Second Aspect In the second aspect, for example, as shown in FIG. 10, a reflective layer forming step (FIG. 10A) for forming a projecting layer outside the peripheral portion of the mounting area of the LED element 2. ), The step of mounting the LED element 2 on the substrate 1 (and the wavelength conversion layer forming step of forming the wavelength conversion layer 11 so as to cover the LED element 2 (FIG. 7C)).

3−2−1)反射層形成工程
第二の態様の反射層形成工程では、メタル部3とLED素子2との接続領域2’(実装領域)及びその周縁部に、反射層形成用組成物が付着しないように、反射層形成用組成物を塗布し、硬化させる。
3-2-1) Reflective layer forming step In the reflective layer forming step of the second aspect, a composition for forming a reflective layer is formed in the connection region 2 '(mounting region) between the metal part 3 and the LED element 2 and the peripheral portion thereof. The composition for forming a reflective layer is applied and cured so that no sticking occurs.

所望の領域のみに反射層を形成する方法には、(i)反射層を形成しない領域を他の部材で被覆し、反射層を特定の領域のみに形成する方法;(ii)反射層形成用組成物を塗布する部材(つまり、LED素子が実装された基板等)の形状によって、反射層を特定の領域のみに形成する方法;(iii)反射層形成用組成物の塗布方法によって、反射層を特定の領域のみに形成する方法がある。いずれの方法も、前述の第一の態様の各方法と同様でありうる。   The method for forming the reflective layer only in a desired region includes (i) a method in which a region where the reflective layer is not formed is covered with another member and the reflective layer is formed only in a specific region; (ii) for forming the reflective layer A method of forming a reflective layer only in a specific region depending on the shape of a member to which the composition is applied (that is, a substrate on which an LED element is mounted); (iii) a method of applying a composition for forming a reflective layer, Is formed only in a specific region. Any method may be the same as each method of the first aspect described above.

3−2−2)実装工程
第二の態様の実装工程では、図10(b)に示されるように、反射層21が形成された基板1上に、LED素子2を固定し、LED素子2とメタル部3とを電気的に接続する。LED素子の実装方法は、第一の態様の実装方法と同様である。
3-2-2) Mounting Step In the mounting step of the second aspect, as shown in FIG. 10B, the LED element 2 is fixed on the substrate 1 on which the reflective layer 21 is formed, and the LED element 2 And the metal part 3 are electrically connected. The mounting method of the LED element is the same as the mounting method of the first aspect.

3−2−3)波長変換層形成工程
第二の態様の波長変換層形成工程では、図10(c)に示されるように、反射層21が形成された基板1上に、波長変換層11を形成する。波長変換層11の形成方法は、バインダ成分と蛍光体粒子とが含まれる波長変換層用組成物を調製し、これをLED素子2及び反射層21を被覆するように塗布し、硬化させる方法でありうる。波長変換層用組成物や、その塗布・硬化方法は第1の態様の波長変換層用組成物や、塗布・硬化方法と同様である。
3-2-3) Wavelength Conversion Layer Formation Step In the wavelength conversion layer formation step of the second aspect, as shown in FIG. 10C, the wavelength conversion layer 11 is formed on the substrate 1 on which the reflective layer 21 is formed. Form. The wavelength conversion layer 11 is formed by preparing a wavelength conversion layer composition containing a binder component and phosphor particles, applying the composition to cover the LED element 2 and the reflective layer 21, and curing the composition. It is possible. The composition for wavelength conversion layer and its application / curing method are the same as the composition for wavelength conversion layer and the application / curing method of the first embodiment.

3−3)第三の態様
第三の態様では、図11に示されるように、LED素子2を実装する実装工程(図11(a))、LED素子2の実装領域及びその周縁部を被覆するように、波長変換層を形成する波長変換層形成工程(図11(b))、LED素子2の実装領域の周縁部の外側に反射層21を形成する反射層形成工程(図11(c))の順に行う。第三の態様では、波長変換層11でLED素子2の実装領域及びその周縁部を保護してから(図11(b))、反射層21を形成する(図11(c))。したがって、反射層21を形成するための反射層形成用組成物がLED素子2の実装領域及びその周縁部に付着しない。
3-3) Third Aspect In the third aspect, as shown in FIG. 11, a mounting step (FIG. 11 (a)) for mounting the LED element 2, a mounting region of the LED element 2, and a peripheral portion thereof are covered. As shown in FIG. 11C, the wavelength conversion layer forming step for forming the wavelength conversion layer (FIG. 11B), the reflection layer forming step for forming the reflection layer 21 outside the peripheral edge of the mounting region of the LED element 2 (FIG. 11C). )). In the third aspect, after the wavelength conversion layer 11 protects the mounting region of the LED element 2 and its peripheral portion (FIG. 11B), the reflective layer 21 is formed (FIG. 11C). Therefore, the reflective layer forming composition for forming the reflective layer 21 does not adhere to the mounting region of the LED element 2 and its peripheral portion.

3−3−1)実装工程
第三の態様の実装工程では、図11(a)に示されるように、基板1上に、LED素子2を固定し、LED素子2とメタル部3とを電気的に接続する。LED素子の実装方法は、第一の態様の実装方法と同様である。本態様では、図11(a)に示されるように、LED素子2とメタル部3とを、突起電極5を介して接続することがより好ましい。LED素子2とメタル部3とが突起電極5を介して接続すると、後述の波長変換層形成工程において、波長変換層用組成物で、LED素子2の実装領域及びその周縁部を容易に被覆できる。
3-3-1) Mounting Step In the mounting step of the third aspect, as shown in FIG. 11A, the LED element 2 is fixed on the substrate 1, and the LED element 2 and the metal part 3 are electrically connected. Connect. The mounting method of the LED element is the same as the mounting method of the first aspect. In this aspect, as shown in FIG. 11A, it is more preferable to connect the LED element 2 and the metal part 3 via the protruding electrode 5. When the LED element 2 and the metal part 3 are connected via the protruding electrode 5, in the wavelength conversion layer forming step described later, the mounting area of the LED element 2 and its peripheral part can be easily covered with the wavelength conversion layer composition. .

3−3−2)波長変換層形成工程
第三の態様の波長変換層形成工程では、LED素子2の実装領域及びその周縁部;つまりLED素子2及びLED素子2とメタル部3との接続領域及びその周縁部を少なくとも被覆するように、波長変換層11を形成する。このとき、LED素子2の実装領域及びその周縁部のみを被覆するように波長変換層11を形成してもよい。
3-3-2) Wavelength conversion layer formation step In the wavelength conversion layer formation step of the third aspect, the LED element 2 mounting region and its peripheral portion; that is, the LED element 2 and the connection region between the LED element 2 and the metal portion 3 And the wavelength conversion layer 11 is formed so that the peripheral part may be covered at least. At this time, the wavelength conversion layer 11 may be formed so as to cover only the mounting region of the LED element 2 and its peripheral edge.

また、LED素子2の実装領域の周縁部の外側の基板1も覆うように波長変換層11形成してもよい。ただし、LED素子2の実装領域の周縁部の外側にも波長変換層11を形成する場合、波長変換層11の厚みが、LED素子2の厚みより薄くなるように形成する。LED素子2が波長変換層11中に埋まってしまうと、後述の反射層形成工程で、反射層形成用組成物がLED素子2の実装領域及びその周縁部に付着しやすくなる。   Further, the wavelength conversion layer 11 may be formed so as to cover the substrate 1 outside the peripheral portion of the mounting region of the LED element 2. However, when the wavelength conversion layer 11 is also formed outside the peripheral portion of the mounting region of the LED element 2, the thickness of the wavelength conversion layer 11 is formed to be thinner than the LED element 2. When the LED element 2 is buried in the wavelength conversion layer 11, the reflective layer forming composition is likely to adhere to the mounting region of the LED element 2 and the peripheral portion thereof in a reflective layer forming step described later.

波長変換層11は、例えば図11(b)に示されるように、LED素子2の上面だけでなく、側面にも形成することが好ましい。波長変換層11をLED素子2の側面にも形成すると、LED素子2の側面から出射する光も取り出すことができ、LED装置100の光取り出し効率が高まる。   For example, as illustrated in FIG. 11B, the wavelength conversion layer 11 is preferably formed not only on the upper surface of the LED element 2 but also on the side surface. If the wavelength conversion layer 11 is also formed on the side surface of the LED element 2, light emitted from the side surface of the LED element 2 can also be extracted, and the light extraction efficiency of the LED device 100 is increased.

波長変換層11の形成方法は、バインダ成分と蛍光体粒子とが含まれる波長変換層用組成物を調製し、これを、LED素子2の実装領域及びその周縁部を被覆するように塗布し、硬化させる方法でありうる。波長変換層用組成物の塗布方法は、波長変換層用組成物に含まれるバインダ成分に応じて適宜選択される。例えばバインダ成分が樹脂またはその前駆体である場合には、ディスペンサー塗布等でありうる。また、バインダ成分が有機ケイ素化合物である場合には、ディスペンサー塗布やスプレー塗布等でありうる。   The wavelength conversion layer 11 is formed by preparing a composition for a wavelength conversion layer containing a binder component and phosphor particles, and applying the composition so as to cover the mounting region of the LED element 2 and its peripheral portion, It can be a method of curing. The coating method of the composition for wavelength conversion layers is suitably selected according to the binder component contained in the composition for wavelength conversion layers. For example, when the binder component is a resin or a precursor thereof, it can be dispenser application or the like. When the binder component is an organosilicon compound, it can be dispenser application, spray application, or the like.

波長変換層用組成物の塗布は、図11(a)に示されるように、LED素子2の発光面を鉛直上方に向けて行ってもよく、図19(a)に示されるように、LED素子2の発光面2aを鉛直下方に向けて行ってもよい。図11(a)に示されるように、LED素子2の発光面を鉛直上方に向けて、波長変換層用組成物をLED素子2の実装領域及びその周縁部に塗布する場合、波長変換層用組成物を塗布しない領域を保護しながら波長変換層用組成物を塗布することが好ましい。波長変換層用組成物が濡れ広がり、所望の領域以外にも、波長変換層用組成物が付着する場合がある。波長変換層用組成物を塗布しない領域の保護方法は、第一の態様の反射層形成工程において、LED素子2の実装領域及びその周縁部を保護する方法と同様でありうる。   The application of the wavelength conversion layer composition may be performed with the light emitting surface of the LED element 2 directed vertically upward as shown in FIG. 11 (a). As shown in FIG. The light emitting surface 2a of the element 2 may be directed vertically downward. As shown in FIG. 11A, when the composition for wavelength conversion layer is applied to the mounting region of LED element 2 and its peripheral portion with the light emitting surface of LED element 2 facing vertically upward, for wavelength conversion layer It is preferable to apply the wavelength conversion layer composition while protecting a region where the composition is not applied. The composition for wavelength conversion layer wets and spreads, and the composition for wavelength conversion layer may adhere besides a desired area | region. The method for protecting the region where the composition for wavelength conversion layer is not applied can be the same as the method for protecting the mounting region of LED element 2 and its peripheral portion in the reflective layer forming step of the first aspect.

一方、図19(a)に示されるように、LED素子2の発光面2aを鉛直下方に向けて波長変換層用組成物を塗布すると、波長変換層用組成物が水平方向に濡れ広がり難い。したがってこの場合は、波長変換層用組成物を塗布しない領域を保護しなくともよい。   On the other hand, as shown in FIG. 19A, when the wavelength conversion layer composition is applied with the light emitting surface 2a of the LED element 2 facing vertically downward, the wavelength conversion layer composition hardly spreads in the horizontal direction. Therefore, in this case, it is not necessary to protect the area where the wavelength conversion layer composition is not applied.

波長変換層用組成物の塗布後、波長変換層用組成物を硬化させる。波長変換層用組成物の硬化は、図11(b)に示されるように、LED素子2の発光面を鉛直上方に向けて行ってもよく、図19(b)に示されるように、LED素子2の発光面2aを鉛直下方に向けて行ってもよい。図19(b)に示されるように、LED素子2の発光面2aを鉛直下方に向けると、波長変換層用組成物が水平方向に濡れ広がり難いため、所望の領域のみに波長変換層11を成膜しやすい。   After application of the wavelength conversion layer composition, the wavelength conversion layer composition is cured. Curing of the composition for wavelength conversion layer may be performed with the light emitting surface of the LED element 2 directed vertically upward as shown in FIG. 11 (b). As shown in FIG. The light emitting surface 2a of the element 2 may be directed vertically downward. As shown in FIG. 19 (b), when the light emitting surface 2a of the LED element 2 is directed vertically downward, the wavelength conversion layer composition is difficult to spread in the horizontal direction, so that the wavelength conversion layer 11 is formed only in a desired region. Easy to form a film.

なお、波長変換層用組成物や、その硬化方法は第1の態様の波長変換層用組成物や、塗布・硬化方法と同様である。   In addition, the composition for wavelength conversion layers and its hardening method are the same as the composition for wavelength conversion layers of a 1st aspect, and the application | coating and hardening method.

3−3−3)反射層形成工程
第三の態様の反射層形成工程では、LED素子2の実装領域の周縁部の外側にのみ反射層形成用組成物を塗布し、反射層21を形成する。このとき、反射層21の高さがLED素子2を被覆する波長変換層11の上面を超えないように、反射層21を形成する。LED素子2及び波長変換層11の積層領域はある程度の厚みがあるため、LED素子2を被覆する波長変換層11の上面を超えないように反射層形成用組成物を塗布すれば、反射層21がLED素子2の実装領域の周縁部の外側のみに形成される。
3-3-3) Reflective Layer Forming Step In the reflective layer forming step of the third aspect, the reflective layer forming composition is applied only outside the peripheral edge of the mounting area of the LED element 2 to form the reflective layer 21. . At this time, the reflective layer 21 is formed so that the height of the reflective layer 21 does not exceed the upper surface of the wavelength conversion layer 11 covering the LED element 2. Since the laminated region of the LED element 2 and the wavelength conversion layer 11 has a certain thickness, the reflective layer 21 can be formed by applying the reflective layer forming composition so as not to exceed the upper surface of the wavelength conversion layer 11 covering the LED element 2. Is formed only outside the peripheral edge of the mounting area of the LED element 2.

LED素子2の実装領域の周縁部の外側にのみ反射層形成用組成物を塗布する方法としては、ディスペンサー塗布等でありうる。また、反射層形成用組成物や、反射層形成用組成物の硬化方法は、第一の態様の反射層形成用組成物や、その硬化方法と同様である。   As a method of applying the reflective layer forming composition only to the outside of the peripheral edge of the mounting area of the LED element 2, it is possible to apply a dispenser or the like. The reflective layer forming composition and the method for curing the reflective layer forming composition are the same as the reflective layer forming composition of the first aspect and the curing method thereof.

3−4.第四の態様
第四の態様では、図12に示されるように、LED素子2を実装する実装工程(図12(a))、LED素子2の実装領域及びその周縁部を被覆するように、透光層31を形成する透光層形成工程(図12(b))、及びLED素子2の実装領域の周縁部の外側に反射層21を形成する工程(図12(c))、LED素子2を被覆する波長変換層11を形成する波長変換層形成工程(図12(d))の順に行う。第四の態様では、透光層31でLED素子2の実装領域及びその周縁部を保護してから(図12(b))、反射層21を形成する(図11(c))。そのため、反射層21を形成するための反射層形成用組成物がLED素子2の実装領域及びその周縁部に付着し難く、反射層21を容易に形成できる。
3-4. Fourth Aspect In the fourth aspect, as shown in FIG. 12, the mounting step (FIG. 12 (a)) for mounting the LED element 2, the mounting region of the LED element 2 and the peripheral portion thereof are covered. A translucent layer forming step for forming the translucent layer 31 (FIG. 12B), a step of forming the reflective layer 21 outside the peripheral edge of the mounting region of the LED element 2 (FIG. 12C), and the LED element The wavelength conversion layer forming step for forming the wavelength conversion layer 11 covering 2 (FIG. 12D) is performed in this order. In the fourth embodiment, the light-transmitting layer 31 protects the mounting area of the LED element 2 and its peripheral portion (FIG. 12B), and then the reflective layer 21 is formed (FIG. 11C). Therefore, the reflective layer forming composition for forming the reflective layer 21 is difficult to adhere to the mounting region of the LED element 2 and the peripheral portion thereof, and the reflective layer 21 can be easily formed.

3−4−1)実装工程
第四の態様の実装工程では、図12(a)に示されるように、基板1上に、LED素子2を固定し、LED素子2とメタル部3とを電気的に接続する。LED素子の実装方法は、第一の態様の実装方法と同様である。本態様では、図13(a)に示されるように、LED素子2とメタル部3とを、突起電極5を介して接続することがより好ましい。LED素子2とメタル部3とが突起電極5を介して接続すると、後述の波長変換層形成工程において、波長変換層用組成物で、LED素子2の実装領域及びその周縁部を容易に被覆できる。
3-4-1) Mounting Step In the mounting step of the fourth aspect, as shown in FIG. 12A, the LED element 2 is fixed on the substrate 1, and the LED element 2 and the metal part 3 are electrically connected. Connect. The mounting method of the LED element is the same as the mounting method of the first aspect. In this aspect, as shown in FIG. 13A, it is more preferable to connect the LED element 2 and the metal part 3 via the protruding electrode 5. When the LED element 2 and the metal part 3 are connected via the protruding electrode 5, in the wavelength conversion layer forming step described later, the mounting area of the LED element 2 and its peripheral part can be easily covered with the wavelength conversion layer composition. .

3−4−2)透光層形成工程
第四の態様の透光層形成工程では、LED素子2の実装領域及びその周縁部;つまりLED素子2及びLED素子2とメタル部3との接続領域及びその周縁部を少なくとも被覆するように、透光層31を形成する(図12(b))。このとき、LED素子2の実装領域のみを被覆するように透光層31を形成してもよい。また、LED素子の実装領域の周縁部の外側の基板1も覆うように透光層31形成してもよい。ただし、LED素子2の実装領域の周縁部の外側にも透光層31を形成する場合、透光層31の厚みが、LED素子2の厚みより薄くなるように形成する。LED素子2が透光層31中に埋まってしまうと、後述の反射層形成工程で、反射層形成用組成物がLED素子2の実装領域やその周縁部に付着しやすくなる。
3-4-2) Translucent layer forming step In the translucent layer forming step of the fourth aspect, the LED element 2 mounting region and its peripheral portion; that is, the LED element 2 and the connection region between the LED element 2 and the metal portion 3 And the translucent layer 31 is formed so that the peripheral part may be covered at least (FIG.12 (b)). At this time, the translucent layer 31 may be formed so as to cover only the mounting region of the LED element 2. Moreover, you may form the translucent layer 31 so that the board | substrate 1 outside the peripheral part of the mounting area | region of an LED element may also be covered. However, when the light transmissive layer 31 is also formed outside the peripheral portion of the mounting region of the LED element 2, the light transmissive layer 31 is formed so that the thickness of the light transmissive layer 31 is smaller than the thickness of the LED element 2. When the LED element 2 is buried in the light-transmitting layer 31, the reflective layer forming composition easily adheres to the mounting region of the LED element 2 and the peripheral portion thereof in a reflective layer forming process described later.

透光層31は、例えば図12(b)に示されるように、LED素子2の上面だけでなく、側面にも形成することが好ましい。透光層31をLED素子2の側面にも形成すると、LED素子2の側面から出射する光も取り出すことができ、LED装置100の光取り出し効率が高まる。   For example, as shown in FIG. 12B, the light transmissive layer 31 is preferably formed not only on the upper surface of the LED element 2 but also on the side surface. If the translucent layer 31 is also formed on the side surface of the LED element 2, light emitted from the side surface of the LED element 2 can also be extracted, and the light extraction efficiency of the LED device 100 is increased.

透光層31の形成方法は、透光性材料が含まれる透光層用組成物を調製し、これを、LED素子2の実装領域及びその周縁部を被覆するように塗布し、硬化させる方法でありうる。   The method for forming the light-transmitting layer 31 is a method of preparing a light-transmitting layer composition containing a light-transmitting material, and applying and curing the composition so as to cover the mounting region of the LED element 2 and its peripheral edge. It can be.

透光層用組成物に含まれる透光性材料は、前述の透明樹脂またはその前駆体、もしくは有機ケイ素化合物でありうる。透光層用組成物には、溶媒が含まれてもよい。透光層用組成物に含まれる溶媒は、透光性材料を溶解または分散させることが可能なものであれば、特に制限されない。透光性材料が前述の透明樹脂またはその前駆体である場合、溶媒はトルエン、キシレンなどの炭化水素類;アセトン、メチルエチルケトンなどのケトン類;ジエチルエーテル、テトラヒドロフランなどのエーテル類、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、エチルアセテートなどのエステル類等でありうる。一方、透光性材料が有機ケイ素化合物である場合、溶媒は反射層形成用組成物に含まれる溶媒と同様でありうる。   The translucent material contained in the composition for translucent layer may be the aforementioned transparent resin or a precursor thereof, or an organosilicon compound. The composition for light transmissive layer may contain a solvent. The solvent contained in the composition for light transmissive layer is not particularly limited as long as it can dissolve or disperse the light transmissive material. When the translucent material is the above-mentioned transparent resin or a precursor thereof, the solvent is hydrocarbons such as toluene and xylene; ketones such as acetone and methyl ethyl ketone; ethers such as diethyl ether and tetrahydrofuran; propylene glycol monomethyl ether acetate And esters such as ethyl acetate. On the other hand, when the translucent material is an organosilicon compound, the solvent may be the same as the solvent contained in the reflective layer forming composition.

透光層用組成物の塗布方法は特に制限されず、透光層用組成物に含まれる透光性材料に応じて適宜選択される。例えば透光性材料が樹脂またはその前駆体である場合には、ディスペンサー塗布等でありうる。また、透光性材料が有機ケイ素化合物である場合には、ディスペンサー塗布やスプレー塗布等でありうる。   The method for applying the light transmissive layer composition is not particularly limited, and is appropriately selected depending on the light transmissive material contained in the light transmissive layer composition. For example, when the translucent material is a resin or a precursor thereof, it may be dispenser application or the like. Further, when the translucent material is an organosilicon compound, it can be dispenser coating, spray coating, or the like.

透光層用組成物の塗布は、図12(a)に示されるように、LED素子2の発光面を鉛直上方に向けて行ってもよく、図20(a)に示されるように、LED素子2の発光面を鉛直下方に向けて行ってもよい。LED素子2の発光面を鉛直上方に向けて、透光層用組成物をLED素子2の実装領域及びその周縁部上にのみ塗布する場合、透光層用組成物を塗布しない領域を保護しながら透光層用組成物を塗布することが好ましい。透光層用組成物が濡れ広がり、所望の領域以外にも、透光層用組成物が付着する場合がある。透光用組成物を塗布しない領域を保護する方法は、第一の態様の反射層形成工程において、LED素子2の実装領域及びその周縁部を保護する方法と同様でありうる。   Application of the composition for the light transmissive layer may be performed with the light emitting surface of the LED element 2 directed vertically upward as shown in FIG. 12 (a). As shown in FIG. The light emitting surface of the element 2 may be directed vertically downward. When the light emitting surface of the LED element 2 is directed vertically upward and the composition for the light transmissive layer is applied only on the mounting area of the LED element 2 and the peripheral portion thereof, the area where the composition for the light transmissive layer is not applied is protected. However, it is preferable to apply the light-transmitting layer composition. The composition for light transmissive layer is wet and spreads, and the composition for light transmissive layer may adhere in addition to a desired region. The method for protecting the region where the light transmitting composition is not applied may be the same as the method for protecting the mounting region of LED element 2 and its peripheral portion in the reflective layer forming step of the first aspect.

一方、図20(a)に示されるように、LED素子2の発光面2aを鉛直下方に向けて透光層用組成物を塗布すると、透光層用組成物が水平方向に濡れ広がり難い。したがってこの場合は、透光層用組成物を塗布しない領域を保護しなくともよい。   On the other hand, as shown in FIG. 20A, when the light-transmitting layer composition is applied with the light emitting surface 2a of the LED element 2 facing vertically downward, the light-transmitting layer composition is difficult to spread in the horizontal direction. Therefore, in this case, it is not necessary to protect the area where the composition for light transmissive layer is not applied.

透光層用組成物の塗布後、透光層用組成物を硬化させる。透光層用組成物の硬化は、図12(b)に示されるように、LED素子2の発光面を鉛直上方に向けて行ってもよく、図20(b)に示されるように、LED素子2の発光面を鉛直下方に向けて行ってもよい。図20(b)に示されるように、LED素子2の発光面を鉛直下方に向けて行うと、透光層用組成物が水平方向に濡れ広がり難い。そのため、所望の領域のみに透光層31を成膜しやすい。   After application of the light transmissive layer composition, the light transmissive layer composition is cured. Curing of the composition for light transmissive layer may be performed with the light emitting surface of the LED element 2 directed vertically upward as shown in FIG. 12 (b). As shown in FIG. The light emitting surface of the element 2 may be directed vertically downward. As shown in FIG. 20B, when the light emitting surface of the LED element 2 is directed vertically downward, the composition for the light transmissive layer is difficult to spread in the horizontal direction. Therefore, it is easy to form the translucent layer 31 only in a desired region.

透光層用組成物の硬化方法や硬化条件は、バインダ成分の種類により適宜選択する。硬化方法の一例として、加熱硬化が挙げられる。   The curing method and curing conditions of the light transmissive layer composition are appropriately selected depending on the type of the binder component. An example of the curing method is heat curing.

3−4−3)反射層形成工程
第四の態様の反射層形成工程では、LED素子2の実装領域の周縁部の外側にのみ反射層形成用組成物を塗布し、反射層21を形成する(図12(c))。このとき、反射層21の高さがLED素子2を被覆する透光層31の上面を超えないように、反射層21を形成する。LED素子2及び透光層31の積層領域はある程度の厚みがあるため、LED素子2を被覆する透光層31の上面を超えないように反射層形成用組成物を塗布すれば、反射層21がLED素子2の実装領域の周縁部の外側のみに形成される。
3-4-3) Reflective layer forming step In the reflective layer forming step of the fourth aspect, the reflective layer forming composition is applied only outside the peripheral edge of the mounting region of the LED element 2 to form the reflective layer 21. (FIG. 12 (c)). At this time, the reflective layer 21 is formed so that the height of the reflective layer 21 does not exceed the upper surface of the light transmissive layer 31 covering the LED element 2. Since the laminated region of the LED element 2 and the translucent layer 31 has a certain thickness, the reflective layer 21 is formed by applying the reflective layer forming composition so as not to exceed the upper surface of the translucent layer 31 covering the LED element 2. Is formed only outside the peripheral edge of the mounting area of the LED element 2.

LED素子2の実装領域の周縁部の外側にのみ反射層形成用組成物を塗布する方法としては、ディスペンサー塗布等でありうる。また、反射層形成用組成物や、反射層形成用組成物の硬化方法は、第一の態様の反射層形成用組成物やその硬化方法と同様でありうる。   As a method of applying the reflective layer forming composition only to the outside of the peripheral edge of the mounting area of the LED element 2, it is possible to apply a dispenser or the like. The reflective layer forming composition and the method for curing the reflective layer forming composition can be the same as the reflective layer forming composition of the first aspect and the curing method thereof.

3−4−4)波長変換層形成工程
第四の態様の波長変換層形成工程では、反射層21や透光層31が形成された基板1上に、波長変換層11を形成する(図12(d))。波長変換層11の形成方法は、バインダ成分と蛍光体粒子とが含まれる波長変換層用組成物を調製し、これをLED素子2、透光層31、及び反射層21を被覆するように塗布し、硬化させる方法でありうる。波長変換層用組成物や、その塗布・硬化方法は第1の態様の波長変換層用組成物や塗布・硬化方法と同様でありうる。
3-4-4) Wavelength Conversion Layer Formation Step In the wavelength conversion layer formation step of the fourth aspect, the wavelength conversion layer 11 is formed on the substrate 1 on which the reflection layer 21 and the light transmission layer 31 are formed (FIG. 12). (D)). The wavelength conversion layer 11 is formed by preparing a composition for a wavelength conversion layer containing a binder component and phosphor particles, and applying the composition so as to cover the LED element 2, the translucent layer 31, and the reflective layer 21. And can be cured. The wavelength conversion layer composition and the coating / curing method thereof may be the same as the wavelength conversion layer composition and coating / curing method of the first embodiment.

以下、本発明を実施例により更に詳細に説明する。しかしながら、本発明の範囲はこれによって何ら制限を受けない。   Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to examples. However, the scope of the present invention is not limited by this.

(1)波長変換層用組成物の調製
(波長変換層用組成物A)
シリコーン樹脂(信越シリコーン社製、KER2600)と、黄色蛍光体(根本特殊化学製、YAG 450C205(体積平均粒径 粒径D50 20.5μm))とを混合し、波長変換層用組成物を得た。波長変換層用組成物における黄色蛍光体の濃度は、5質量%とした。
(1) Preparation of wavelength conversion layer composition (wavelength conversion layer composition A)
A silicone resin (manufactured by Shin-Etsu Silicone Co., Ltd., KER2600) and a yellow phosphor (manufactured by Nemoto Special Chemical Co., Ltd., YAG 450C205 (volume average particle size particle size D50 20.5 μm)) were mixed to obtain a wavelength conversion layer composition. . The density | concentration of the yellow fluorescent substance in the composition for wavelength conversion layers was 5 mass%.

(波長変換層用組成物B)
テトラメトキシシラン3.25gと、メタノール4.00gと、アセトン4.00gとを混合し、これを撹拌した。この混合液にさらに、水5.46g、及び60%硝酸4.7μLを加えて3時間撹拌し、ポリシロキサン溶液を得た。続いてポリシロキサン溶液に、黄色蛍光体(根本特殊化学製、YAG 450C205(体積平均粒径 粒径D50 20.5μm))6.5gを混合し、波長変換層用組成物Bを得た。
(Composition B for wavelength conversion layer)
3.25 g of tetramethoxysilane, 4.00 g of methanol, and 4.00 g of acetone were mixed and stirred. Further, 5.46 g of water and 4.7 μL of 60% nitric acid were added to this mixed solution and stirred for 3 hours to obtain a polysiloxane solution. Subsequently, 6.5 g of a yellow phosphor (manufactured by Nemoto Special Chemical Co., YAG 450C205 (volume average particle diameter D50 20.5 μm))) was mixed with the polysiloxane solution to obtain a wavelength conversion layer composition B.

(2)反射層形成用組成物の調製
メチルトリメトキシシラン2.10g、テトラメトキシシラン0.98g、メタノール4.00g、及びアセトン4.00gを混合し、これを撹拌した。この混合液に水5.46g及び濃度60質量%の硝酸水溶液4.7μLを加えた。この混合液をさらに3時間撹拌し、3官能成分:4官能成分(重合比)=7:3のポリシロキサンオリゴマーを含むポリシロキサンオリゴマー溶液を得た。続いて前記ポリシロキサンオリゴマー溶液に、酸化チタン12.0g(富士チタン工業 TA−100 粒径600nm)、及び1,3−ブタンジオール1gを混合して反射層形成用組成物を得た。
(2) Preparation of composition for forming reflective layer 2.10 g of methyltrimethoxysilane, 0.98 g of tetramethoxysilane, 4.00 g of methanol, and 4.00 g of acetone were mixed and stirred. To this mixture, 5.46 g of water and 4.7 μL of an aqueous nitric acid solution having a concentration of 60% by mass were added. This mixed solution was further stirred for 3 hours to obtain a polysiloxane oligomer solution containing a polysiloxane oligomer of trifunctional component: tetrafunctional component (polymerization ratio) = 7: 3. Subsequently, 12.0 g of titanium oxide (Fuji Titanium Industry TA-100, particle size 600 nm) and 1 g of 1,3-butanediol were mixed into the polysiloxane oligomer solution to obtain a composition for forming a reflective layer.

(3)LED装置の作製
[実施例1]
図1に示される、キャビティを有する基板を準備した。基板は、ポリフタル酸アミド(PPA)樹脂からなるものとした。基板は、3.2mm×2.8mm×1.8mmの直方体に、開口径2.4mm、壁面角度45°、深さ0.85mmの円錐台状のキャビティが形成されたものとした。この基板に配設されたメタル部とLED素子とをワイヤで接続してパッケージを得た。LED素子の外形は、305μm×330μm×100μmとした。また、LED素子の出射光のピーク波長は、475nmとした。
(3) Production of LED device [Example 1]
A substrate having a cavity as shown in FIG. 1 was prepared. The substrate was made of a polyphthalamide (PPA) resin. The substrate was a rectangular parallelepiped of 3.2 mm × 2.8 mm × 1.8 mm, and a truncated cone-shaped cavity having an opening diameter of 2.4 mm, a wall surface angle of 45 °, and a depth of 0.85 mm was formed. A metal part arranged on the substrate and the LED element were connected by a wire to obtain a package. The outer shape of the LED element was 305 μm × 330 μm × 100 μm. The peak wavelength of the emitted light from the LED element was 475 nm.

当該LED素子の発光面、LED素子とメタル部の接続部、及びこれらの周縁部を被覆するように、図8に示される板状のマスクを配置した。当該パッケージの上部から、前述の反射層形成用組成物をスプレー塗布した。この時のスプレー条件はノズル先端からパッケージまでの距離を60mm、吐出圧力を0.1MPa、ノズルの移動速度は100mm/sとした。スプレー塗布後、板状マスクを取り外し、150℃で1時間焼成することで反射層を形成した。得られた反射層の厚みは15μmであった。反射層の厚みは、レーザホロゲージ(ミツトヨ社製)で測定した。   A plate-like mask shown in FIG. 8 was arranged so as to cover the light emitting surface of the LED element, the connection part between the LED element and the metal part, and the peripheral part thereof. From the upper part of the package, the above-described composition for forming a reflective layer was applied by spraying. The spray conditions at this time were such that the distance from the nozzle tip to the package was 60 mm, the discharge pressure was 0.1 MPa, and the nozzle moving speed was 100 mm / s. After spray coating, the plate mask was removed and baked at 150 ° C. for 1 hour to form a reflective layer. The thickness of the obtained reflection layer was 15 μm. The thickness of the reflective layer was measured with a laser holo gauge (manufactured by Mitutoyo Corporation).

当該パッケージに、波長変換層用組成物Aをディスペンサーによりポッティングした。そして、波長変換層用組成物Aを100℃で1時間加熱後、150℃で2時間加熱して波長変換層を得た。得られた波長変換層の厚み(LED素子の上面に形成された波長変換層の厚み)は750μmであった。   The composition for wavelength conversion layer A was potted on the package with a dispenser. And after heating the composition A for wavelength conversion layers at 100 degreeC for 1 hour, it heated at 150 degreeC for 2 hours, and obtained the wavelength conversion layer. The thickness of the obtained wavelength conversion layer (thickness of the wavelength conversion layer formed on the upper surface of the LED element) was 750 μm.

[実施例2]
図3に示される、キャビティを有する基板を準備した。基板は、ポリフタル酸アミド(PPA)樹脂からなるものとした。基板は、3.2mm×2.8mm×1.8mmの直方体に、開口径2.4mm、壁面角度45°、深さ0.85mmの円錐台状のキャビティが形成されたものとした。この基板に配設されたメタル部とLED素子とを突起電極で接続してパッケージを得た。LED素子の外形は、305μm×330μm×100μmとした。また、LED素子の出射光のピーク波長は、475nmとした。
[Example 2]
A substrate having a cavity as shown in FIG. 3 was prepared. The substrate was made of a polyphthalamide (PPA) resin. The substrate was a rectangular parallelepiped of 3.2 mm × 2.8 mm × 1.8 mm, and a truncated cone-shaped cavity having an opening diameter of 2.4 mm, a wall surface angle of 45 °, and a depth of 0.85 mm was formed. A metal part arranged on the substrate and the LED element were connected by a protruding electrode to obtain a package. The outer shape of the LED element was 305 μm × 330 μm × 100 μm. The peak wavelength of the emitted light from the LED element was 475 nm.

LED素子を被覆するように、ポジ型レジスト材料(東京応化工業製 OFPR−800LB)を塗布した。当該パッケージを窒素雰囲気下、110℃で30分間加熱した。そして、パッケージ上に、LED素子の実装領域及びその周縁部を遮光する遮光マスクを配置し、当該遮光マスクを介してUV光を照射した。その後、アルカリ現像液でレジスト材料を除去し、LED素子の実装領域及びその周縁部のみにレジスト材料からなる膜(レジスト膜)を形成した。パッケージをさらに純水で洗浄した。   A positive resist material (OFPR-800LB manufactured by Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd.) was applied so as to cover the LED element. The package was heated at 110 ° C. for 30 minutes in a nitrogen atmosphere. Then, a light-shielding mask that shields the LED element mounting region and its peripheral portion was placed on the package, and UV light was irradiated through the light-shielding mask. Thereafter, the resist material was removed with an alkaline developer, and a film (resist film) made of the resist material was formed only on the LED element mounting region and its peripheral portion. The package was further washed with pure water.

その後、パッケージ内部に、前述の反射層形成用組成物をスプレー塗布した。この時のスプレー条件は、ノズル先端からパッケージまでの距離を60mm、吐出圧力を0.1MPa、ノズルの移動速度は100mm/sとした。スプレー塗布後、150℃で1時間焼成した。得られた反射層の厚みは15μmであった。   Thereafter, the above-mentioned composition for forming a reflective layer was spray-coated inside the package. The spray conditions at this time were such that the distance from the nozzle tip to the package was 60 mm, the discharge pressure was 0.1 MPa, and the moving speed of the nozzle was 100 mm / s. After spray coating, it was baked at 150 ° C. for 1 hour. The thickness of the obtained reflection layer was 15 μm.

反射層を形成したパッケージを、テトラヒドロフラン(THF)で洗浄し、レジスト膜、及びレジスト膜上に形成された反射層を除去した。当該パッケージに、さらに波長変換層用組成物Aをディスペンサーでポッティングした。そして、波長変換層用組成物Aを100℃で1時間加熱後、150℃で2時間加熱して波長変換層を得た。得られた波長変換層の厚み(LED素子の上面に形成された波長変換層の厚み)は750μmであった。   The package on which the reflective layer was formed was washed with tetrahydrofuran (THF), and the resist film and the reflective layer formed on the resist film were removed. Further, the wavelength conversion layer composition A was potted on the package with a dispenser. And after heating the composition A for wavelength conversion layers at 100 degreeC for 1 hour, it heated at 150 degreeC for 2 hours, and obtained the wavelength conversion layer. The thickness of the obtained wavelength conversion layer (thickness of the wavelength conversion layer formed on the upper surface of the LED element) was 750 μm.

[実施例3]
実施例2と同様の、メタル部とLED素子とが突起電極で接続されたパッケージを準備した。日本酢ビ・ポバール社製 ポリビニルアルコール(PVA)JC−25を10重量%の濃度で水に溶解してPVA水溶液を調製した。調製したPVA水溶液をディスペンサーにてLED素子及びその周縁部上にポッティングし、80℃で1時間乾燥し、可溶性樹脂からなる膜(PVA皮膜)を形成した。得られた可溶性樹脂からなる膜の厚みは200μmであった。
[Example 3]
Similar to Example 2, a package in which a metal part and an LED element were connected by a protruding electrode was prepared. PVA aqueous solution was prepared by dissolving polyvinyl alcohol (PVA) JC-25, manufactured by Nippon Vinegar Poval, in water at a concentration of 10% by weight. The prepared PVA aqueous solution was potted on the LED element and its peripheral portion with a dispenser and dried at 80 ° C. for 1 hour to form a film (PVA film) made of a soluble resin. The thickness of the film made of the obtained soluble resin was 200 μm.

その後、パッケージ内部に、前述の反射層形成用組成物をスプレー塗布した。この時のスプレー条件はノズル先端からパッケージまでの距離を60mm、吐出圧力を0.1MPa、ノズルの移動速度は100mm/sとした。スプレー塗布後、150℃で1時間焼成した。得られた反射層の厚みは15μmであった。反射層を形成したパッケージを水中で洗浄し、可溶性樹脂と、可溶性樹脂上に形成された反射層を除去した。   Thereafter, the above-mentioned composition for forming a reflective layer was spray-coated inside the package. The spray conditions at this time were such that the distance from the nozzle tip to the package was 60 mm, the discharge pressure was 0.1 MPa, and the nozzle moving speed was 100 mm / s. After spray coating, it was baked at 150 ° C. for 1 hour. The thickness of the obtained reflection layer was 15 μm. The package in which the reflective layer was formed was washed in water to remove the soluble resin and the reflective layer formed on the soluble resin.

反射層を形成したパッケージに前述の波長変換層用組成物Aをディスペンサーによりポッティングし、100℃で1時間加熱後、150℃で2時間加熱することで硬化して波長変換層を形成した。得られた波長変換層の厚み(LED素子の上面に形成された波長変換層の厚み)は750μmであった。   The wavelength conversion layer composition A described above was potted with a dispenser on the package having the reflective layer formed thereon, heated at 100 ° C. for 1 hour, and then cured by heating at 150 ° C. for 2 hours to form a wavelength conversion layer. The thickness of the obtained wavelength conversion layer (thickness of the wavelength conversion layer formed on the upper surface of the LED element) was 750 μm.

[実施例4]
実施例2と同様の、メタル部とLED素子とが突起電極で接続されたパッケージを準備した。当該パッケージのLED素子の実装領域及びその周縁部のみに開口部を有する板状のマスクを配置した。当該マスクの上から、前述の波長変換層用組成物Bをスプレー塗布した。この時のスプレー条件はノズル先端からパッケージまでの距離を60mm、吐出圧力を0.1MPa、ノズルの移動速度は100mm/sとした。スプレー塗布後、板状マスクを取り外し、150℃で1時間焼成することでLED素子の実装領域及びその周縁部にのみ波長変換層を形成した。得られた波長変換層の厚み(LED素子の上面に形成された波長変換層の厚み)は50μmであった。
[Example 4]
Similar to Example 2, a package in which a metal part and an LED element were connected by a protruding electrode was prepared. A plate-shaped mask having openings only in the LED element mounting region of the package and the peripheral edge thereof was disposed. From above the mask, the above-described composition B for wavelength conversion layer was spray-coated. The spray conditions at this time were such that the distance from the nozzle tip to the package was 60 mm, the discharge pressure was 0.1 MPa, and the nozzle moving speed was 100 mm / s. After spray application, the plate mask was removed and baked at 150 ° C. for 1 hour to form a wavelength conversion layer only in the LED element mounting region and its peripheral portion. The thickness of the obtained wavelength conversion layer (the thickness of the wavelength conversion layer formed on the upper surface of the LED element) was 50 μm.

当該パッケージのキャビティ側から前述の反射層形成用組成物をディスペンサーで流し込んだ。当該反射層形成用組成物を150℃で1時間焼成して、LED素子の実装領域の周縁部の外側に反射層を形成した。得られた反射層の厚みは15μmであった。   The above-mentioned composition for forming a reflective layer was poured from the cavity side of the package with a dispenser. The composition for forming a reflective layer was baked at 150 ° C. for 1 hour to form a reflective layer on the outside of the peripheral edge of the LED element mounting region. The thickness of the obtained reflection layer was 15 μm.

その後、シリコーン樹脂(信越シリコーン社製、KER2600)をディスペンサーにてポッティングした。当該シリコーン樹脂を100℃で1時間加熱後、150℃で2時間加熱して、封止層を形成した。封止層の厚み(LED素子の上面に形成された封止層の厚み)は700μmであった。   Thereafter, a silicone resin (manufactured by Shin-Etsu Silicone Co., Ltd., KER2600) was potted with a dispenser. The silicone resin was heated at 100 ° C. for 1 hour and then heated at 150 ° C. for 2 hours to form a sealing layer. The thickness of the sealing layer (the thickness of the sealing layer formed on the upper surface of the LED element) was 700 μm.

[実施例5]
実施例2と同様の、メタル部とLED素子とが突起電極で接続されたパッケージを準備した。当該パッケージのLED素子(実装領域)及びその周縁部を被覆するように、シリコーン樹脂(信越シリコーン社製、KER2600)をディスペンサーでポッティングした。当該シリコーン樹脂を100℃で1時間加熱後、150℃で2時間加熱して透光層を得た。得られた透光層の厚み(LED素子の上面に形成された透光層の厚み)は50μmであった。
[Example 5]
Similar to Example 2, a package in which a metal part and an LED element were connected by a protruding electrode was prepared. Silicone resin (manufactured by Shin-Etsu Silicone Co., Ltd., KER2600) was potted with a dispenser so as to cover the LED element (mounting region) of the package and the peripheral edge thereof. The silicone resin was heated at 100 ° C. for 1 hour and then heated at 150 ° C. for 2 hours to obtain a light-transmitting layer. The thickness of the obtained light transmissive layer (thickness of the light transmissive layer formed on the upper surface of the LED element) was 50 μm.

当該パッケージのキャビティ側から、前述の反射層形成用組成物をディスペンサーから流し込んだ。当該反射層形成用組成物を150℃で1時間焼成して、LED素子の実装領域の周縁部の外側に、反射層を形成した。得られた反射層の厚みは15μmであった。   From the cavity side of the package, the above-described composition for forming a reflective layer was poured from a dispenser. The said composition for reflective layer formation was baked at 150 degreeC for 1 hour, and the reflective layer was formed in the outer side of the peripheral part of the mounting area | region of an LED element. The thickness of the obtained reflection layer was 15 μm.

さらに、波長変換層用組成物Aをディスペンサーにてポッティングした。当該波長変換層用組成物Aを100℃で1時間加熱後、150℃で2時間加熱して、波長変換層を形成した。得られた波長変換層の厚み(LED素子の上面に形成された波長変換層の厚み)は750μmであった。   Further, the wavelength conversion layer composition A was potted with a dispenser. The wavelength conversion layer composition A was heated at 100 ° C. for 1 hour and then heated at 150 ° C. for 2 hours to form a wavelength conversion layer. The thickness of the obtained wavelength conversion layer (thickness of the wavelength conversion layer formed on the upper surface of the LED element) was 750 μm.

[実施例6]
図1に示される、キャビティを有する基板を準備した。基板は、ポリフタル酸アミド(PPA)樹脂からなるものとした。基板は、3.2mm×2.8mm×1.8mmの直方体に、開口径2.4mm、壁面角度45°、深さ0.85mmの円錐台状のキャビティが形成されたものとした。
[Example 6]
A substrate having a cavity as shown in FIG. 1 was prepared. The substrate was made of a polyphthalamide (PPA) resin. The substrate was a rectangular parallelepiped of 3.2 mm × 2.8 mm × 1.8 mm, and a truncated cone-shaped cavity having an opening diameter of 2.4 mm, a wall surface angle of 45 °, and a depth of 0.85 mm was formed.

当該パッケージのLED素子の実装領域及びその周縁部;つまりLED素子を載置する領域、及びLED素子とメタル部とを接続する領域を被覆するように、板状マスクを配置した。当該パッケージの上部から、前述の反射層形成用組成物をスプレー塗布した。この時のスプレー条件はノズル先端からパッケージまでの距離を60mm、吐出圧力を0.1MPa、ノズルの移動速度は100mm/sとした。スプレー塗布後、板状マスクを取り外し、150℃で1時間焼成することで反射層を形成した。得られた反射層の厚みは15μmであった。反射層の厚みは、レーザホロゲージ(ミツトヨ社製)で測定した。   A plate-shaped mask was arranged so as to cover the mounting area of the LED element of the package and the peripheral edge thereof; that is, the area where the LED element is placed and the area where the LED element and the metal part are connected. From the upper part of the package, the above-described composition for forming a reflective layer was applied by spraying. The spray conditions at this time were such that the distance from the nozzle tip to the package was 60 mm, the discharge pressure was 0.1 MPa, and the nozzle moving speed was 100 mm / s. After spray coating, the plate mask was removed and baked at 150 ° C. for 1 hour to form a reflective layer. The thickness of the obtained reflection layer was 15 μm. The thickness of the reflective layer was measured with a laser holo gauge (manufactured by Mitutoyo Corporation).

反射層を形成したパッケージのメタル部とLED素子とをワイヤで接続した。LED素子の外形は、305μm×330μm×100μmとした。また、LED素子の発光ピーク波長は、475nmとした。   The metal part of the package in which the reflective layer was formed and the LED element were connected by a wire. The outer shape of the LED element was 305 μm × 330 μm × 100 μm. The emission peak wavelength of the LED element was 475 nm.

当該パッケージに、波長変換層用組成物Aをディスペンサーによりポッティングした。そして、波長変換層用組成物Aを100℃で1時間加熱後、150℃で2時間加熱して波長変換層を得た。得られた波長変換層の厚み(LED素子の上面に形成された波長変換層の厚み)は750μmであった。   The composition for wavelength conversion layer A was potted on the package with a dispenser. And after heating the composition A for wavelength conversion layers at 100 degreeC for 1 hour, it heated at 150 degreeC for 2 hours, and obtained the wavelength conversion layer. The thickness of the obtained wavelength conversion layer (thickness of the wavelength conversion layer formed on the upper surface of the LED element) was 750 μm.

[実施例7]
図1に示される、キャビティを有する基板を準備した。基板は、ポリフタル酸アミド(PPA)樹脂からなるものとした。基板は、3.2mm×2.8mm×1.8mmの直方体に、開口径2.4mm、壁面角度45°、深さ0.85mmの円錐台状のキャビティが形成されたものとした。
[Example 7]
A substrate having a cavity as shown in FIG. 1 was prepared. The substrate was made of a polyphthalamide (PPA) resin. The substrate was a rectangular parallelepiped of 3.2 mm × 2.8 mm × 1.8 mm, and a truncated cone-shaped cavity having an opening diameter of 2.4 mm, a wall surface angle of 45 °, and a depth of 0.85 mm was formed.

当該パッケージにおけるLED素子の実装領域及びその周縁部;つまりLED素子を載置する領域、LED素子とメタル部とを接続する領域、及びその周縁部を被覆するように、ポジ型レジスト材料(東京応化工業製 OFPR−800LB)をディスペンサーで塗布した。当該パッケージを窒素雰囲気下、110℃で30分間加熱した。そして、パッケージ上に、LED素子の実装領域及びその周縁部のみを遮光する遮光マスクを配置し、当該遮光マスクを介してUV光を照射した。その後、アルカリ現像液でレジスト膜を除去し、LED素子の実装領域及びその周縁部のみにレジスト材料からなる膜(レジスト膜)を形成した。当該パッケージを純水で洗浄した。   The LED element mounting area and its peripheral part in the package; that is, the area where the LED element is placed, the area where the LED element and the metal part are connected, and the positive resist material (Tokyo Ohka) Industrial-made OFPR-800LB) was applied with a dispenser. The package was heated at 110 ° C. for 30 minutes in a nitrogen atmosphere. Then, a light-shielding mask that shields only the LED element mounting region and its peripheral portion was placed on the package, and UV light was irradiated through the light-shielding mask. Thereafter, the resist film was removed with an alkali developer, and a film (resist film) made of a resist material was formed only on the LED element mounting region and its peripheral portion. The package was washed with pure water.

当該パッケージの上部から、前述の反射層形成用組成物をスプレー塗布した。この時のスプレー条件はノズル先端からパッケージまでの距離を60mm、吐出圧力を0.1MPa、ノズルの移動速度は100mm/sとした。スプレー塗布後、板状マスクを取り外し、150℃で1時間焼成することで反射層を形成した。得られた反射層の厚みは15μmであった。反射層の厚みは、レーザホロゲージ(ミツトヨ社製)で測定した。   From the upper part of the package, the above-described composition for forming a reflective layer was applied by spraying. The spray conditions at this time were such that the distance from the nozzle tip to the package was 60 mm, the discharge pressure was 0.1 MPa, and the nozzle moving speed was 100 mm / s. After spray coating, the plate mask was removed and baked at 150 ° C. for 1 hour to form a reflective layer. The thickness of the obtained reflection layer was 15 μm. The thickness of the reflective layer was measured with a laser holo gauge (manufactured by Mitutoyo Corporation).

反射層を形成したパッケージを、テトラヒドロフラン(THF)で洗浄し、レジスト膜、及びレジスト膜上に形成された反射層を除去した。その後、反射層を形成したパッケージのメタル部とLED素子とをワイヤで接続した。LED素子の外形は、305μm×330μm×100μmとした。また、LED素子の発光ピーク波長は、475nmとした。   The package on which the reflective layer was formed was washed with tetrahydrofuran (THF), and the resist film and the reflective layer formed on the resist film were removed. Then, the metal part of the package in which the reflective layer was formed and the LED element were connected with a wire. The outer shape of the LED element was 305 μm × 330 μm × 100 μm. The emission peak wavelength of the LED element was 475 nm.

当該パッケージに、波長変換層用組成物Aをディスペンサーによりポッティングした。そして、波長変換層用組成物Aを100℃で1時間加熱後、150℃で2時間加熱して波長変換層を得た。得られた波長変換層の厚み(LED素子の上面に形成された波長変換層の厚み)は750μmであった。   The composition for wavelength conversion layer A was potted on the package with a dispenser. And after heating the composition A for wavelength conversion layers at 100 degreeC for 1 hour, it heated at 150 degreeC for 2 hours, and obtained the wavelength conversion layer. The thickness of the obtained wavelength conversion layer (thickness of the wavelength conversion layer formed on the upper surface of the LED element) was 750 μm.

[実施例8]
図1に示される、キャビティを有する基板を準備した。基板は、ポリフタル酸アミド(PPA)樹脂からなるものとした。基板は、3.2mm×2.8mm×1.8mmの直方体に、開口径2.4mm、壁面角度45°、深さ0.85mmの円錐台状のキャビティが形成されたものとした。
[Example 8]
A substrate having a cavity as shown in FIG. 1 was prepared. The substrate was made of a polyphthalamide (PPA) resin. The substrate was a rectangular parallelepiped of 3.2 mm × 2.8 mm × 1.8 mm, and a truncated cone-shaped cavity having an opening diameter of 2.4 mm, a wall surface angle of 45 °, and a depth of 0.85 mm was formed.

当該パッケージにおけるLED素子の実装領域及びその周縁部;つまりLED素子を実装する領域、LED素子とメタル部とを接続する領域、及びその周縁部を被覆するように、実施例3と同様のPVA水溶液をディスペンサーにて塗布した。当該塗膜を、80℃で1時間乾燥し、可溶性樹脂からなる膜(PVA皮膜)を形成した。得られた可溶性樹脂からなる膜の厚みは200μmであった。   The LED element mounting region and its peripheral portion in the package; that is, the region for mounting the LED element, the region for connecting the LED element and the metal portion, and the PVA aqueous solution as in Example 3 so as to cover the peripheral portion. Was applied with a dispenser. The said coating film was dried at 80 degreeC for 1 hour, and the film | membrane (PVA film) which consists of soluble resin was formed. The thickness of the film made of the obtained soluble resin was 200 μm.

当該パッケージの上部から、前述の反射層形成用組成物をスプレー塗布した。この時のスプレー条件はノズル先端からパッケージまでの距離を60mm、吐出圧力を0.1MPa、ノズルの移動速度は100mm/sとした。スプレー塗布後、150℃で1時間焼成することで反射層を形成した。得られた反射層の厚みは15μmであった。反射層の厚みは、レーザホロゲージ(ミツトヨ社製)で測定した。   From the upper part of the package, the above-described composition for forming a reflective layer was spray-coated. The spray conditions at this time were such that the distance from the nozzle tip to the package was 60 mm, the discharge pressure was 0.1 MPa, and the nozzle moving speed was 100 mm / s. After spray coating, the reflective layer was formed by baking at 150 ° C. for 1 hour. The thickness of the obtained reflection layer was 15 μm. The thickness of the reflective layer was measured with a laser holo gauge (manufactured by Mitutoyo Corporation).

反射層を形成したパッケージを、水中に浸漬し、可溶性樹脂、及び可溶性樹脂上に形成された反射層を除去した。その後、反射層を形成したパッケージのメタル部とLED素子とをワイヤで接続した。LED素子の外形は、305μm×330μm×100μmとした。また、LED素子のピーク波長は、475nmとした。   The package in which the reflective layer was formed was immersed in water, and the soluble resin and the reflective layer formed on the soluble resin were removed. Then, the metal part of the package in which the reflective layer was formed and the LED element were connected with a wire. The outer shape of the LED element was 305 μm × 330 μm × 100 μm. The peak wavelength of the LED element was 475 nm.

当該パッケージに、波長変換層用組成物Aをディスペンサーによりポッティングした。そして、波長変換層用組成物Aを100℃で1時間加熱後、150℃で2時間加熱して波長変換層を得た。得られた波長変換層の厚み(LED素子の上面に形成された波長変換層の厚み)は750μmであった。   The composition for wavelength conversion layer A was potted on the package with a dispenser. And after heating the composition A for wavelength conversion layers at 100 degreeC for 1 hour, it heated at 150 degreeC for 2 hours, and obtained the wavelength conversion layer. The thickness of the obtained wavelength conversion layer (thickness of the wavelength conversion layer formed on the upper surface of the LED element) was 750 μm.

[実施例9]
図1に示される、キャビティを有する基板を準備した。基板は、ポリフタル酸アミド(PPA)樹脂からなるものとした。基板は、3.2mm×2.8mm×1.8mmの直方体に、開口径2.4mm、壁面角度45°、深さ0.85mmの円錐台状のキャビティが形成されたものとした。この基板に配設されたメタル部とLED素子とをワイヤで接続してパッケージを得た。LED素子の外形は、305μm×330μm×100μmとした。また、LED素子の出射光のピーク波長は、475nmとした。
[Example 9]
A substrate having a cavity as shown in FIG. 1 was prepared. The substrate was made of a polyphthalamide (PPA) resin. The substrate was a rectangular parallelepiped of 3.2 mm × 2.8 mm × 1.8 mm, and a truncated cone-shaped cavity having an opening diameter of 2.4 mm, a wall surface angle of 45 °, and a depth of 0.85 mm was formed. A metal part arranged on the substrate and the LED element were connected by a wire to obtain a package. The outer shape of the LED element was 305 μm × 330 μm × 100 μm. The peak wavelength of the emitted light from the LED element was 475 nm.

一方、隔壁形成用組成物を調製した。具体的には、前述の反射層形成用組成物10gに1,3−ブタンジオール10gとシリカ(日本アエロジル社製 RX300)2gとを混合し、粘度が250mPa・sになるまで、ホモジナイザー(プライミクス社製 ミニミクサー)で分散させた。   Meanwhile, a partition wall forming composition was prepared. Specifically, 10 g of 1,3-butanediol and 2 g of silica (RX300, manufactured by Nippon Aerosil Co., Ltd.) are mixed with 10 g of the reflective layer forming composition described above, and the homogenizer (Primics Co., Ltd.) is used until the viscosity becomes 250 mPa · s. The product was dispersed with a mini mixer.

上記パッケージのLED素子の実装領域の周縁部を囲むように隔壁形成用組成物を、ジェットディスペンサーにより塗布した。その後、150℃で1時間、隔壁形成用組成物を焼成して隔壁を得た。隔壁は、幅250μm、厚み100μmであり、隔壁の内周とLED素子の外周との距離は100μmとした。
続いて、隔壁で囲まれた領域の外側の領域(キャビティの底面)を全て覆うように、反射層形成用組成物をディスペンサーにてポッティングした。このとき、ディスペンサーを移動させずに、一点から反射層形成用組成物をポッティングしたが、反射層形成用組成物は、隔壁で囲まれた領域内に侵入せず、LED素子の側面にも付着しなかった。当該反射層形成用組成物を150℃で1時間焼成し、隔壁の外側に反射層を形成した。反射層の厚みは50μmであった。
The partition wall forming composition was applied by a jet dispenser so as to surround the peripheral portion of the LED element mounting region of the package. Thereafter, the partition wall forming composition was fired at 150 ° C. for 1 hour to obtain partition walls. The partition wall had a width of 250 μm and a thickness of 100 μm, and the distance between the inner periphery of the partition wall and the outer periphery of the LED element was 100 μm.
Subsequently, the composition for forming a reflective layer was potted with a dispenser so as to cover the entire region outside the region surrounded by the partition walls (bottom surface of the cavity). At this time, the composition for forming the reflective layer was potted from one point without moving the dispenser, but the composition for forming the reflective layer did not penetrate into the region surrounded by the partition walls and adhered to the side surface of the LED element. I did not. The reflective layer forming composition was fired at 150 ° C. for 1 hour to form a reflective layer on the outside of the partition wall. The thickness of the reflective layer was 50 μm.

当該パッケージに、前述の波長変換層用組成物Aをディスペンサーによりポッティングした。そして、波長変換層用組成物Aを100℃で1時間加熱後、150℃で2時間加熱して波長変換層を得た。得られた波長変換層の厚み(LED素子の上面に形成された波長変換層の厚み)は750μmであった。   The above-mentioned composition A for wavelength conversion layer was potted on the package with a dispenser. And after heating the composition A for wavelength conversion layers at 100 degreeC for 1 hour, it heated at 150 degreeC for 2 hours, and obtained the wavelength conversion layer. The thickness of the obtained wavelength conversion layer (thickness of the wavelength conversion layer formed on the upper surface of the LED element) was 750 μm.

[実施例10]
図1に示される、キャビティを有する基板を準備した。基板は、ポリフタル酸アミド(PPA)樹脂からなるものとした。基板は、3.2mm×2.8mm×1.8mmの直方体に、開口径2.4mm、壁面角度45°、深さ0.85mmの円錐台状のキャビティが形成されたものとした。この基板に配設されたメタル部とLED素子とをワイヤで接続してパッケージを得た。LED素子の外形は、305μm×330μm×100μmであり、当該LED素子の出射光のピーク波長は、475nmとした。上記基板には、LED素子の実装領域の外周を囲むように、機械加工によって溝が形成されているものとした。当該溝の幅は500μm、深さ100μmであり、溝の内周とLED素子の外周との距離は100μmとした。
[Example 10]
A substrate having a cavity as shown in FIG. 1 was prepared. The substrate was made of a polyphthalamide (PPA) resin. The substrate was a rectangular parallelepiped of 3.2 mm × 2.8 mm × 1.8 mm, and a truncated cone-shaped cavity having an opening diameter of 2.4 mm, a wall surface angle of 45 °, and a depth of 0.85 mm was formed. A metal part arranged on the substrate and the LED element were connected by a wire to obtain a package. The outer shape of the LED element was 305 μm × 330 μm × 100 μm, and the peak wavelength of the emitted light from the LED element was 475 nm. In the substrate, grooves were formed by machining so as to surround the outer periphery of the LED element mounting region. The width of the groove was 500 μm and the depth was 100 μm, and the distance between the inner periphery of the groove and the outer periphery of the LED element was 100 μm.

続いて、溝および、溝の外側の領域(キャビティの底面)を全て覆うように、前述の反射層形成用組成物をディスペンサーにてポッティングした。このとき、ディスペンサーを移動させずに、一点から反射層形成用組成物をポッティングしたが、溝より内側に反射層形成用組成物が侵入することはなく、LED素子の側面に反射層形成用組成物は付着しなかった。当該反射層形成用組成物を150℃で1時間焼成し、反射層を形成した。反射層の厚みは30μmであった。   Subsequently, the above-described composition for forming a reflective layer was potted with a dispenser so as to cover the groove and the entire region outside the groove (bottom surface of the cavity). At this time, the composition for forming the reflective layer was potted from one point without moving the dispenser, but the composition for forming the reflective layer did not penetrate inside the groove, and the composition for forming the reflective layer on the side surface of the LED element. The thing did not adhere. The reflective layer forming composition was baked at 150 ° C. for 1 hour to form a reflective layer. The thickness of the reflective layer was 30 μm.

当該パッケージに、前述の波長変換層用組成物Aをディスペンサーによりポッティングした。そして、波長変換層用組成物Aを100℃で1時間加熱後、150℃で2時間加熱して波長変換層を得た。得られた波長変換層の厚み(LED素子の上面に形成された波長変換層の厚み)は750μmであった。   The above-mentioned composition A for wavelength conversion layer was potted on the package with a dispenser. And after heating the composition A for wavelength conversion layers at 100 degreeC for 1 hour, it heated at 150 degreeC for 2 hours, and obtained the wavelength conversion layer. The thickness of the obtained wavelength conversion layer (thickness of the wavelength conversion layer formed on the upper surface of the LED element) was 750 μm.

[実施例11]
図1に示される、キャビティを有する基板を準備した。基板は、ポリフタル酸アミド(PPA)樹脂からなるものとした。基板は、3.2mm×2.8mm×1.8mmの直方体に、開口径2.4mm、壁面角度45°、深さ0.85mmの円錐台状のキャビティが形成されたものとした。この基板のLED素子実装領域に、400μm×400μm×100μmの銅板を接着した。そして、当該銅板上にLED素子を実装し、メタル部とLED素子とをワイヤで接続してパッケージを得た。LED素子の外形は、305μm×330μm×100μmとし、LED素子の出射光のピーク波長は、475nmとした。
[Example 11]
A substrate having a cavity as shown in FIG. 1 was prepared. The substrate was made of a polyphthalamide (PPA) resin. The substrate was a rectangular parallelepiped of 3.2 mm × 2.8 mm × 1.8 mm, and a truncated cone-shaped cavity having an opening diameter of 2.4 mm, a wall surface angle of 45 °, and a depth of 0.85 mm was formed. A 400 μm × 400 μm × 100 μm copper plate was bonded to the LED element mounting region of this substrate. And the LED element was mounted on the said copper plate, the metal part and the LED element were connected with the wire, and the package was obtained. The outer shape of the LED element was 305 μm × 330 μm × 100 μm, and the peak wavelength of the emitted light from the LED element was 475 nm.

銅板の外側の領域(キャビティの底面)を全て覆うように、前述の反射層形成用組成物をディスペンサーにてポッティングした。このとき、ディスペンサーを移動させずに、一点から反射層形成用組成物をポッティングしたが、LED素子の側面に反射層形成用組成物は付着しなかった。当該反射層形成用組成物を150℃で1時間焼成し、反射層を形成した。反射層の厚みは30μmであった。   The above-described composition for forming a reflective layer was potted with a dispenser so as to cover the entire outer region (bottom surface of the cavity) of the copper plate. At this time, the reflecting layer forming composition was potted from one point without moving the dispenser, but the reflecting layer forming composition did not adhere to the side surface of the LED element. The reflective layer forming composition was baked at 150 ° C. for 1 hour to form a reflective layer. The thickness of the reflective layer was 30 μm.

当該パッケージに、前述の波長変換層用組成物Aをディスペンサーによりポッティングした。そして、波長変換層用組成物Aを100℃で1時間加熱後、150℃で2時間加熱して波長変換層を得た。得られた波長変換層の厚み(LED素子の上面に形成された波長変換層の厚み)は750μmであった。   The above-mentioned composition A for wavelength conversion layer was potted on the package with a dispenser. And after heating the composition A for wavelength conversion layers at 100 degreeC for 1 hour, it heated at 150 degreeC for 2 hours, and obtained the wavelength conversion layer. The thickness of the obtained wavelength conversion layer (thickness of the wavelength conversion layer formed on the upper surface of the LED element) was 750 μm.

[実施例12]
図1に示される、キャビティを有する基板を準備した。基板は、ポリフタル酸アミド(PPA)樹脂からなるものとした。基板は、3.2mm×2.8mm×1.8mmの直方体に、開口径2.4mm、壁面角度45°、深さ0.85mmの円錐台状のキャビティが形成されたものとした。この基板に配設されたメタル部とLED素子とをワイヤで接続してパッケージを得た。LED素子の外形は、305μm×330μm×100μmとした。また、LED素子の出射光のピーク波長は、475nmとした。
[Example 12]
A substrate having a cavity as shown in FIG. 1 was prepared. The substrate was made of a polyphthalamide (PPA) resin. The substrate was a rectangular parallelepiped of 3.2 mm × 2.8 mm × 1.8 mm, and a truncated cone-shaped cavity having an opening diameter of 2.4 mm, a wall surface angle of 45 °, and a depth of 0.85 mm was formed. A metal part arranged on the substrate and the LED element were connected by a wire to obtain a package. The outer shape of the LED element was 305 μm × 330 μm × 100 μm. The peak wavelength of the emitted light from the LED element was 475 nm.

このパッケージを上下反転させて、LED素子の発光面を鉛直下方に向けて設置した。そして、前述の波長変換層用組成物Aをシリンジに充填し、当該シリンジにプランジャを装填してからエアアダプターを装着した。当該シリンジのニードルを上方に向けて固定し、ニードル先端とLED素子の発光面とのクリアランスを50μmとし、LED素子及びその周縁部に、波長変換層用組成物Aを塗布した。塗布条件は、LED素子全体およびその周縁部が被覆されるよう、適宜調整した。   This package was turned upside down, and the LED element was placed with its light emitting surface facing vertically downward. And the above-mentioned composition A for wavelength conversion layers was filled into the syringe, the plunger was loaded into the syringe, and then the air adapter was mounted. The needle of the syringe was fixed upward, the clearance between the needle tip and the light emitting surface of the LED element was set to 50 μm, and the wavelength conversion layer composition A was applied to the LED element and its peripheral part. The coating conditions were adjusted as appropriate so that the entire LED element and its peripheral edge were covered.

波長変換層用組成物Aを塗布したパッケージをLED素子の発光面を鉛直下方に向けたまま、100℃で1時間加熱し、さらに150℃で2時間加熱して波長変換層を得た。その後、当該パッケージを上下反転させて、LED素子の発光面を鉛直上方に向けて設置した。そして波長変換層の外側の領域(キャビティの底面)を全て覆うように、前述の反射層形成用組成物を、波長変換層の周囲にディスペンサーでポッティングした。当該反射層形成用組成物を150℃で1時間焼成して、LED素子の実装領域の周縁部の外側に反射層を形成した。得られた反射層の厚みは30μmであった。
その後、シリコーン樹脂(信越シリコーン社製、KER2600)をディスペンサーにてポッティングした。当該シリコーン樹脂を100℃で1時間加熱後、150℃で2時間加熱して、封止層を形成した。封止層の厚み(LED素子の上面に形成された封止層の厚み)は700μmであった。
The package coated with the wavelength conversion layer composition A was heated at 100 ° C. for 1 hour with the light emitting surface of the LED element directed vertically downward, and further heated at 150 ° C. for 2 hours to obtain a wavelength conversion layer. Thereafter, the package was turned upside down, and the light emitting surface of the LED element was installed vertically upward. And the above-mentioned composition for reflective layer formation was potted with the dispenser around the wavelength conversion layer so that all the area | regions (bottom surface of a cavity) outside the wavelength conversion layer might be covered. The composition for forming a reflective layer was baked at 150 ° C. for 1 hour to form a reflective layer on the outside of the peripheral edge of the LED element mounting region. The thickness of the obtained reflective layer was 30 μm.
Thereafter, a silicone resin (manufactured by Shin-Etsu Silicone Co., Ltd., KER2600) was potted with a dispenser. The silicone resin was heated at 100 ° C. for 1 hour and then heated at 150 ° C. for 2 hours to form a sealing layer. The thickness of the sealing layer (the thickness of the sealing layer formed on the upper surface of the LED element) was 700 μm.

[実施例13]
実施例2と同様の、メタル部とLED素子とが突起電極で接続されたパッケージを準備した。当該パッケージのLED素子(実装領域)及びその周縁部を被覆するように、フッ素シリコーンコーティング剤(信越化学工業社製、KP−911)をディスペンサーでポッティングした。当該フッ素シリコーンコーティング剤を常温で乾燥し、LED素子の実装領域及びその周縁部を撥液剤で保護した。
[Example 13]
Similar to Example 2, a package in which a metal part and an LED element were connected by a protruding electrode was prepared. A fluorosilicone coating agent (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., KP-911) was potted with a dispenser so as to cover the LED element (mounting region) and the peripheral edge of the package. The said fluorosilicone coating agent was dried at normal temperature, and the mounting area | region of LED element and its peripheral part were protected with the liquid repellent.

LED素子の実装領域の外側の領域(キャビティの底面)を全て覆うように、前述の反射層形成用組成物を、ディスペンサーでポッティングした。このとき、ディスペンサーを移動させずに、一点から反射層形成用組成物をポッティングしたが、LED素子の側面に反射層形成用組成物は付着しなかった。当該反射層形成用組成物を150℃で1時間焼成して、LED素子の実装領域の周縁部の外側に、反射層を形成した。得られた反射層の厚みは25μmであった。   The above-mentioned composition for forming a reflective layer was potted with a dispenser so as to cover the entire area outside the LED element mounting area (bottom surface of the cavity). At this time, the reflecting layer forming composition was potted from one point without moving the dispenser, but the reflecting layer forming composition did not adhere to the side surface of the LED element. The said composition for reflective layer formation was baked at 150 degreeC for 1 hour, and the reflective layer was formed in the outer side of the peripheral part of the mounting area | region of an LED element. The thickness of the obtained reflective layer was 25 μm.

続いて、波長変換層用組成物Aをディスペンサーにてポッティングした。当該波長変換層用組成物Aを100℃で1時間加熱後、150℃で2時間加熱して、波長変換層を形成した。得られた波長変換層の厚み(LED素子の上面に形成された波長変換層の厚み)は750μmであった。   Subsequently, the composition A for wavelength conversion layer was potted with a dispenser. The wavelength conversion layer composition A was heated at 100 ° C. for 1 hour and then heated at 150 ° C. for 2 hours to form a wavelength conversion layer. The thickness of the obtained wavelength conversion layer (thickness of the wavelength conversion layer formed on the upper surface of the LED element) was 750 μm.

本発明の方法で得られるLED装置は、反射層が経時劣化することがない。そのため、LED装置からの光取り出し効率が、長期間に亘って良好である。したがって、大光量が必要とされる自動車用ヘッドライトをはじめ、屋内、屋外で使用される各種照明装置に好適である。   In the LED device obtained by the method of the present invention, the reflective layer does not deteriorate over time. Therefore, the light extraction efficiency from the LED device is good over a long period of time. Therefore, it is suitable for various lighting devices used indoors and outdoors, including automotive headlights that require a large amount of light.

1 基板
2 LED素子
3 メタル部
4 ワイヤ
5 突起電極
6 キャビティ内壁面
11 波長変換層
21 反射層
31 透光層
100 LED装置
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Board | substrate 2 LED element 3 Metal part 4 Wire 5 Projection electrode 6 Cavity inner wall surface 11 Wavelength conversion layer 21 Reflective layer 31 Translucent layer 100 LED device

Claims (16)

基板と、前記基板上に実装されたLED素子と、前記LED素子を被覆する波長変換層と、前記基板上かつ前記LED素子の実装領域の周縁部の外側に形成された反射層とを有するLED装置の製造方法であって、
前記基板に、前記LED素子を実装する実装工程と、
前記基板上に、光拡散粒子、有機ケイ素化合物、及び溶媒を含む反射層形成用組成物を塗布し、前記反射層形成用組成物を乾燥・硬化させて前記反射層を形成する反射層形成工程と、
前記LED素子を被覆するように、蛍光体粒子及びバインダ成分を含む波長変換層用組成物を塗布し、前記波長変換層を形成する波長変換層形成工程と、
を含むLED装置の製造方法。
An LED having a substrate, an LED element mounted on the substrate, a wavelength conversion layer covering the LED element, and a reflective layer formed on the substrate and outside the peripheral portion of the mounting region of the LED element A device manufacturing method comprising:
A mounting step of mounting the LED element on the substrate;
A reflective layer forming step of forming a reflective layer by applying a reflective layer forming composition containing light diffusing particles, an organosilicon compound, and a solvent on the substrate, and drying and curing the reflective layer forming composition. When,
A wavelength conversion layer forming step of coating the wavelength conversion layer containing phosphor particles and a binder component so as to cover the LED element, and forming the wavelength conversion layer;
The manufacturing method of the LED device containing this.
前記反射層形成工程が、
前記LED素子の実装領域及びその周縁部を板状マスクで覆うステップと、
前記基板上に前記反射層形成用組成物を塗布し、前記反射層形成用組成物を乾燥・硬化させるステップと
をこの順に含む、請求項1に記載のLED装置の製造方法。
The reflective layer forming step includes
Covering the LED element mounting region and its peripheral edge with a plate mask;
The method for manufacturing an LED device according to claim 1, comprising: applying the reflective layer forming composition on the substrate, and drying and curing the reflective layer forming composition in this order.
前記反射層形成工程が、
前記LED素子の実装領域及びその周縁部をレジスト材料で被覆するステップと、
前記基板上に前記反射層形成用組成物を塗布し、前記反射層形成用組成物を乾燥・硬化させるステップと、
前記レジスト材料及び前記レジスト材料上の反射層形成用組成物を除去するステップと、
をこの順に含む、請求項1に記載のLED装置の製造方法。
The reflective layer forming step includes
Coating the LED element mounting region and its peripheral edge with a resist material;
Applying the reflective layer forming composition on the substrate and drying and curing the reflective layer forming composition;
Removing the resist material and the reflective layer forming composition on the resist material;
The manufacturing method of the LED device of Claim 1 which contains these in this order.
前記反射層形成工程が、
前記LED素子の実装領域及びその周縁部を水または溶媒に可溶な可溶性樹脂で被覆するステップと、
前記基板上に前記反射層形成用組成物を塗布し、前記反射層形成用組成物を乾燥・硬化させるステップと、
前記可溶性樹脂を水または溶媒に溶解させて、前記可溶性樹脂及び前記可溶性樹脂上の反射層形成用組成物を除去するステップと、
をこの順に含む、請求項1に記載のLED装置の製造方法。
The reflective layer forming step includes
Coating the LED element mounting region and its peripheral edge with water or a soluble resin soluble in a solvent;
Applying the reflective layer forming composition on the substrate and drying and curing the reflective layer forming composition;
Dissolving the soluble resin in water or a solvent to remove the soluble resin and the reflective layer forming composition on the soluble resin;
The manufacturing method of the LED device of Claim 1 which contains these in this order.
前記反射層形成工程が、
前記LED素子の実装領域及びその周縁部に撥液剤を塗布するステップと、
前記基板上に前記反射層形成用組成物を塗布し、前記反射層形成用組成物を乾燥・硬化させるステップと、
をこの順に含む、請求項1に記載のLED装置の製造方法。
The reflective layer forming step includes
Applying a liquid repellent to the mounting area of the LED element and its peripheral edge; and
Applying the reflective layer forming composition on the substrate and drying and curing the reflective layer forming composition;
The manufacturing method of the LED device of Claim 1 which contains these in this order.
前記実装工程、前記波長変換層形成工程、及び前記反射層形成工程の順に行われ、
前記波長変換層形成工程が、前記LED素子の実装領域及びその周縁部を被覆するように前記波長変換層を形成する工程であり、
前記反射層形成工程が、前記基板上かつ前記LED素子の実装領域の周縁部の外側に、前記LED素子を被覆する前記波長変換層の上面より、高さの低い反射層を形成する工程である、請求項1に記載のLED装置の製造方法。
It is performed in the order of the mounting step, the wavelength conversion layer forming step, and the reflective layer forming step,
The wavelength conversion layer forming step is a step of forming the wavelength conversion layer so as to cover a mounting region of the LED element and a peripheral portion thereof.
The reflective layer forming step is a step of forming a reflective layer having a height lower than the upper surface of the wavelength conversion layer covering the LED element on the substrate and outside the peripheral edge of the LED element mounting region. The manufacturing method of the LED device of Claim 1.
前記波長変換層形成工程が、前記基板のLED素子の発光面を鉛直下方に向けて配置し、前記波長変換層用組成物を硬化させるステップを含む、請求項6に記載のLED装置の製造方法。   The said wavelength conversion layer formation process arrange | positions the light emission surface of the LED element of the said board | substrate toward the perpendicular downward direction, and the process of manufacturing the said composition for wavelength conversion layers of Claim 6 is included. . 前記波長変換層形成工程が、前記基板のLED素子の発光面を鉛直下方に向けて配置し、前記波長変換層用組成物を塗布するステップを含む、請求項6または7に記載のLED装置の製造方法。   The LED device according to claim 6 or 7, wherein the wavelength conversion layer forming step includes a step of arranging the light emitting surface of the LED element of the substrate facing vertically downward and applying the composition for wavelength conversion layer. Production method. 前記LED素子を被覆する透光層を形成する透光層形成工程をさらに有し、
前記実装工程、前記透光層形成工程、前記反射層形成工程、及び前記波長変換層形成工程の順に行われ、
前記透光層形成工程が、前記LED素子の実装領域及びその周縁部を被覆するように、透光性材料を含む透光層用組成物を塗布し、透光層を形成する工程であり、
前記反射層形成工程が、前記基板上かつ前記LED素子の実装領域の周縁部の外側に、前記LED素子を被覆する前記透光層の上面より、高さの低い反射層を形成する工程である、請求項1に記載のLED装置の製造方法。
A light-transmitting layer forming step of forming a light-transmitting layer covering the LED element;
The mounting step, the translucent layer forming step, the reflective layer forming step, and the wavelength conversion layer forming step are performed in this order,
The translucent layer forming step is a step of forming a translucent layer by applying a translucent layer composition containing a translucent material so as to cover the mounting region of the LED element and its peripheral portion.
The reflective layer forming step is a step of forming a reflective layer having a height lower than the upper surface of the light-transmitting layer covering the LED element on the substrate and outside the peripheral edge of the LED element mounting region. The manufacturing method of the LED device of Claim 1.
前記透光層形成工程が、前記基板のLED素子の発光面を鉛直下方に向けて配置し、前記透光層用組成物を硬化させるステップを含む、請求項9に記載のLED装置の製造方法。   The method for manufacturing an LED device according to claim 9, wherein the translucent layer forming step includes a step of placing the light emitting surface of the LED element of the substrate facing vertically downward and curing the translucent layer composition. . 前記透光層形成工程が、前記基板のLED素子の発光面を鉛直下方に向けて配置し、前記透光層用組成物を塗布するステップを含む、請求項9または10に記載のLED装置の製造方法。   11. The LED device according to claim 9, wherein the translucent layer forming step includes a step of arranging the light emitting surface of the LED element of the substrate facing vertically downward and applying the translucent layer composition. Production method. 前記反射層形成工程が、
前記LED素子の実装領域の周縁部を囲む隔壁を形成するステップと、
前記隔壁の外側に、前記隔壁より高さの低い反射層を形成するステップと、
を含む、請求項1に記載のLED装置の製造方法。
The reflective layer forming step includes
Forming a partition wall that surrounds a peripheral edge of the LED element mounting region;
Forming a reflective layer having a height lower than that of the partition wall outside the partition wall;
The manufacturing method of the LED device of Claim 1 containing this.
前記基板が、前記LED素子の実装領域の周縁部を囲む溝部を有する、請求項1に記載のLED装置の製造方法。   The manufacturing method of the LED device of Claim 1 with which the said board | substrate has the groove part surrounding the peripheral part of the mounting area | region of the said LED element. 前記基板は、前記LED素子の実装領域面が、前記反射層形成面より突出している、請求項1に記載のLED装置の製造方法。   The manufacturing method of the LED device according to claim 1, wherein a mounting area surface of the LED element protrudes from the reflective layer forming surface of the substrate. 前記反射層形成工程が、前記LED素子の実装領域の周縁部の外側の一部の領域Aに前記反射層形成用組成物を塗布するステップと、
前記領域Aと離隔した前記LED素子の実装領域の周縁部の外側の一部の領域Bに前記反射層形成用組成物を塗布するステップと、
前記領域A及び前記領域Bの間隙に前記反射層形成用組成物を塗布するステップと、
を含む、請求項1に記載のLED装置の製造方法。
The step of forming the reflective layer comprises applying the composition for forming a reflective layer to a partial region A outside a peripheral edge of a mounting region of the LED element;
Applying the reflective layer forming composition to a partial region B outside the peripheral edge of the mounting region of the LED element separated from the region A;
Applying the reflective layer forming composition to the gap between the region A and the region B;
The manufacturing method of the LED device of Claim 1 containing this.
前記反射層形成工程が、
前記基板のLED素子の発光面を鉛直下方に向けて配置し、前記基板と塗布装置とを相対的に移動させながら、前記反射層形成用組成物を塗布するステップを含む、請求項1に記載のLED装置の製造方法。
The reflective layer forming step includes
The light emitting surface of the LED element of the said board | substrate is arrange | positioned toward the vertically downward direction, The process for apply | coating the said composition for reflective layer formation is included, moving the said board | substrate and a coating device relatively. Of manufacturing the LED device.
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Cited By (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016047746A1 (en) * 2014-09-26 2016-03-31 コニカミノルタ株式会社 Coating liquid, method for manufacturing led device using same, and led device
JP2016086059A (en) * 2014-10-24 2016-05-19 日亜化学工業株式会社 Light emitting device, package, and manufacturing methods of light emitting device and package
KR20160059709A (en) * 2014-11-19 2016-05-27 엘지이노텍 주식회사 Light Emitting Module
JP2016207757A (en) * 2015-04-17 2016-12-08 シチズン電子株式会社 Led light-emitting device and manufacturing method therefor
JP2017069539A (en) * 2015-09-30 2017-04-06 日亜化学工業株式会社 Package, light-emitting device, and manufacturing method thereof
CN106932951A (en) * 2017-04-14 2017-07-07 深圳市华星光电技术有限公司 LED lamp source and its manufacture method, backlight module
JP2017527098A (en) * 2015-05-08 2017-09-14 李峰 LED reflective structure
US9865779B2 (en) 2015-09-30 2018-01-09 Nichia Corporation Methods of manufacturing the package and light-emitting device
US9966515B2 (en) 2015-12-26 2018-05-08 Nichia Corporation Light emitting device and method of manufacturing the light emitting device
US10038125B2 (en) 2015-12-28 2018-07-31 Nichia Corporation Light-emitting device and method for manufacturing the same
US10153413B2 (en) 2015-09-30 2018-12-11 Nichia Corporation Light-emitting device
US10193028B2 (en) 2016-12-16 2019-01-29 Nichia Corporation Light emitting device and method of producing the same
US10193027B2 (en) 2016-12-16 2019-01-29 Nichia Corporation Light emitting device and method of producing the same
US10411169B2 (en) 2017-02-03 2019-09-10 Nichia Corporation Light emitting device having leads in resin package
CN110660895A (en) * 2018-06-29 2020-01-07 日亚化学工业株式会社 Method for manufacturing light emitting device and light emitting device
US10615319B2 (en) 2017-10-20 2020-04-07 Nichia Corporation Light emitting device
WO2020137855A1 (en) * 2018-12-28 2020-07-02 日亜化学工業株式会社 Light-emitting device, and method for manufacturing light-emitting device
JP2020202341A (en) * 2019-06-13 2020-12-17 日亜化学工業株式会社 Light-emitting device
CN112153917A (en) * 2018-05-15 2020-12-29 博朗有限公司 Cleaning and charging station
EP3813129A1 (en) * 2019-10-21 2021-04-28 Lumileds Holding B.V. Led module and method for manufacturing the same
US11417808B2 (en) 2019-09-12 2022-08-16 Nichia Corporation Light emitting device
CN117497667A (en) * 2023-12-29 2024-02-02 江西省兆驰光电有限公司 Luminous LED packaging method and luminous LED packaging structure

Cited By (43)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016047746A1 (en) * 2014-09-26 2016-03-31 コニカミノルタ株式会社 Coating liquid, method for manufacturing led device using same, and led device
JP2016086059A (en) * 2014-10-24 2016-05-19 日亜化学工業株式会社 Light emitting device, package, and manufacturing methods of light emitting device and package
KR20160059709A (en) * 2014-11-19 2016-05-27 엘지이노텍 주식회사 Light Emitting Module
KR102220504B1 (en) 2014-11-19 2021-02-25 엘지이노텍 주식회사 Light Emitting Module
JP2016207757A (en) * 2015-04-17 2016-12-08 シチズン電子株式会社 Led light-emitting device and manufacturing method therefor
JP2017527098A (en) * 2015-05-08 2017-09-14 李峰 LED reflective structure
US9865779B2 (en) 2015-09-30 2018-01-09 Nichia Corporation Methods of manufacturing the package and light-emitting device
CN106887511B (en) * 2015-09-30 2021-03-19 日亚化学工业株式会社 Method for manufacturing package and method for manufacturing light emitting device
CN106887511A (en) * 2015-09-30 2017-06-23 日亚化学工业株式会社 Packaging part and light-emitting device and their manufacture method
JP2017069539A (en) * 2015-09-30 2017-04-06 日亜化学工業株式会社 Package, light-emitting device, and manufacturing method thereof
US10153413B2 (en) 2015-09-30 2018-12-11 Nichia Corporation Light-emitting device
CN112242478A (en) * 2015-09-30 2021-01-19 日亚化学工业株式会社 Package and light emitting device
TWI699010B (en) * 2015-09-30 2020-07-11 日商日亞化學工業股份有限公司 Package, light-emitting device, and methods of manufacturing the package and light-emitting device
US10367121B2 (en) 2015-09-30 2019-07-30 Nichia Corporation Package and light-emitting device
US9966515B2 (en) 2015-12-26 2018-05-08 Nichia Corporation Light emitting device and method of manufacturing the light emitting device
US10403803B2 (en) 2015-12-26 2019-09-03 Nichia Corporation Light emitting device and method of manufacturing the light emitting device
US10038125B2 (en) 2015-12-28 2018-07-31 Nichia Corporation Light-emitting device and method for manufacturing the same
US10490704B2 (en) 2016-12-16 2019-11-26 Nichia Corporation Light emitting device and method of producing the same
US10193028B2 (en) 2016-12-16 2019-01-29 Nichia Corporation Light emitting device and method of producing the same
US10418526B2 (en) 2016-12-16 2019-09-17 Nichia Corporation Lead frame including connecting portions and coupling portions
US10193027B2 (en) 2016-12-16 2019-01-29 Nichia Corporation Light emitting device and method of producing the same
US10411169B2 (en) 2017-02-03 2019-09-10 Nichia Corporation Light emitting device having leads in resin package
US10424700B2 (en) 2017-04-14 2019-09-24 Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd LED lamp sources, and the manufacturing methods and the backlight modules thereof
WO2018188151A1 (en) * 2017-04-14 2018-10-18 深圳市华星光电技术有限公司 Led light source, manufacturing method therefor, and backlight module
CN106932951A (en) * 2017-04-14 2017-07-07 深圳市华星光电技术有限公司 LED lamp source and its manufacture method, backlight module
US10615319B2 (en) 2017-10-20 2020-04-07 Nichia Corporation Light emitting device
CN112153917B (en) * 2018-05-15 2024-03-12 博朗有限公司 Cleaning and charging station
CN112153917A (en) * 2018-05-15 2020-12-29 博朗有限公司 Cleaning and charging station
JP2021520272A (en) * 2018-05-15 2021-08-19 ブラウン ゲーエムベーハー Cleaning and charging station
JP7231651B2 (en) 2018-05-15 2023-03-01 ブラウン ゲーエムベーハー washing and charging station
CN110660895A (en) * 2018-06-29 2020-01-07 日亚化学工业株式会社 Method for manufacturing light emitting device and light emitting device
US11616179B2 (en) 2018-12-28 2023-03-28 Nichia Corporation Light emitting device and method of manufacturing light emitting device
JPWO2020137855A1 (en) * 2018-12-28 2021-11-18 日亜化学工業株式会社 Light emitting device and manufacturing method of light emitting device
US11189765B2 (en) 2018-12-28 2021-11-30 Nichia Corporation Light emitting device and method of manufacturing light emitting device
TWI832948B (en) * 2018-12-28 2024-02-21 日商日亞化學工業股份有限公司 Light emitting device and method of manufacturing light emitting device
WO2020137855A1 (en) * 2018-12-28 2020-07-02 日亜化学工業株式会社 Light-emitting device, and method for manufacturing light-emitting device
JP7453553B2 (en) 2018-12-28 2024-03-21 日亜化学工業株式会社 Light-emitting device and method for manufacturing the light-emitting device
JP2020202341A (en) * 2019-06-13 2020-12-17 日亜化学工業株式会社 Light-emitting device
JP7364858B2 (en) 2019-06-13 2023-10-19 日亜化学工業株式会社 light emitting device
US11417808B2 (en) 2019-09-12 2022-08-16 Nichia Corporation Light emitting device
EP3813129A1 (en) * 2019-10-21 2021-04-28 Lumileds Holding B.V. Led module and method for manufacturing the same
CN117497667A (en) * 2023-12-29 2024-02-02 江西省兆驰光电有限公司 Luminous LED packaging method and luminous LED packaging structure
CN117497667B (en) * 2023-12-29 2024-03-19 江西省兆驰光电有限公司 Luminous LED packaging method and luminous LED packaging structure

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