JP2014153684A - Manufacturing method of antireflection article - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a manufacturing method of an antireflection article related to a moth-eye structure capable of removing stains such as fingerprints.SOLUTION: In a manufacturing method of an antireflection article, fine projections 5, 5A, 5B are densely arranged on an antireflection article 1, and an interval between neighboring fine projections 5, 5A, 5B is equal to or narrower than a minimum wavelength of an electromagnetic wave being an antireflection target. On a resin surface related to the fine projections 5, 5A, 5B, a layer of a fluorine-based lubricant including a perfluoroalkyl polyether is formed, and thereafter, exposed to ionization radiation so that a lubricant layer 3 is formed.

Description

本発明は、反射防止を図る電磁波の波長帯域の最短波長以下の間隔で多数の微小突起を密接配置して反射防止を図る反射防止物品の製造方法に関するものである。   The present invention relates to a method of manufacturing an antireflection article for preventing reflection by closely arranging a large number of minute protrusions at intervals of not more than the shortest wavelength in the wavelength band of electromagnetic waves for preventing reflection.

近年、フィルム形状の反射防止物品である反射防止物品に関して、透明基材(透明フィルム)の表面に多数の微小突起を密接して配置することにより、反射防止を図る方法が提案されている(特許文献1〜3参照)。この方法は、いわゆるモスアイ(moth eye(蛾の目))構造の原理を利用したものであり、入射光に対する屈折率を基板の厚み方向に連続的に変化させ、これにより屈折率の不連続界面を消失させて反射防止を図るものである。   In recent years, regarding antireflection articles that are film-shaped antireflection articles, a method has been proposed in which a large number of microprotrusions are placed in close contact with the surface of a transparent substrate (transparent film) (patent). References 1-3). This method utilizes the principle of a so-called moth-eye structure, and the refractive index for incident light is continuously changed in the thickness direction of the substrate, whereby a discontinuous interface of refractive index is obtained. Is eliminated to prevent reflection.

このモスアイ構造に係る反射防止物品では、隣接する微小突起の間隔dが、反射防止を図る電磁波の波長帯域の最短波長Λmin以下(d≦Λmin)となるよう、微小突起が密接して配置される。又、各微小突起は、透明基材に植立するように、更に透明基材より先端側に向かうに従って徐々に断面積が小さくなるように(先細りとなるように)作製される。   In the antireflection article according to this moth-eye structure, the microprojections are closely arranged so that the interval d between adjacent microprojections is equal to or less than the shortest wavelength Λmin (d ≦ Λmin) of the wavelength band of the electromagnetic wave to prevent reflection. . Moreover, each microprotrusion is produced so that a cross-sectional area may become small gradually toward the front end side from a transparent base material so that it may be planted on a transparent base material.

また特許文献4、5には、透光体に関する防汚コーティングの手法が開示されている。   Patent Documents 4 and 5 disclose a method of antifouling coating relating to a translucent material.

ところでモスアイ構造による反射防止物品にあっては、高い反射防止性能を有するものの、その表面構造のため、皮脂等の汚れが付着し易く、また付着した汚れが微小突起間の溝奥まで入り込み、これによりこの指紋等の汚れを除去することが困難な問題がある。なお反射防止物品において、このような汚れは、表面外観を劣化させることになる。   By the way, the anti-reflection article with the moth-eye structure has high anti-reflection performance, but due to its surface structure, dirt such as sebum is likely to adhere, and the attached dirt penetrates deep into the groove between the microprojections. Therefore, there is a problem that it is difficult to remove dirt such as fingerprints. In the antireflective article, such dirt deteriorates the surface appearance.

この問題を解決する方法として特許文献4、5に開示の手法、すなわちフッ素含有有機化合物による撥水表面処理を適用することが考えられるものの、実用上未だ不十分な問題がある。   Although it is conceivable to apply the method disclosed in Patent Documents 4 and 5 as a method for solving this problem, that is, a water-repellent surface treatment with a fluorine-containing organic compound, there is still a problem that is still insufficient in practice.

特開昭50−70040号公報Japanese Patent Laid-Open No. 50-70040 特表2003−531962号公報Special Table 2003-531962 特許第4632589号公報Japanese Patent No. 4632589 特開2010−201799号公報JP 2010-201799 A 特開2012−037896号公報JP 2012-037896 A

本発明はこのような状況に鑑みてなされたものであり、モスアイ構造に係る反射防止物品に関して、指紋等の汚れを簡易に除去できるようにすることを目的とする。   The present invention has been made in view of such a situation, and an object thereof is to make it possible to easily remove stains such as fingerprints on an antireflection article having a moth-eye structure.

本発明者は、上記課題を解決するために鋭意研究を重ね、微小突起に係る樹脂表面にフッ素系潤滑剤を積層した後、電離放射線を照射する、との着想に至り、本発明を完成するに至った。   The present inventor has intensively studied to solve the above-mentioned problems, and has arrived at the idea of irradiating with ionizing radiation after laminating a fluorine-based lubricant on the resin surface related to the microprojections, thereby completing the present invention. It came to.

なお以下において、複数の頂点を有する微小突起を多峰性の微小突起と呼び、この多峰性の微小突起との対比により、頂点が1つのみの微小突起を単峰性の微小突起と呼ぶ。また多峰性の微小突起、単峰性の微小突起に係る各頂点を形成する各凸部を、適宜、峰と呼ぶ。   In the following, a microprojection having a plurality of vertices is referred to as a multi-peak microprojection, and a microprojection having only one vertex is referred to as a single-peak microprojection by contrast with the multi-peak microprojection. . Moreover, each convex part which forms each vertex which concerns on a multimodal microprotrusion and a monomodal microprotrusion is called a peak suitably.

具体的には、本発明では、以下のようなものを提供する
(1) 微小突起が密接して配置され、隣接する前記微小突起の間隔が、反射防止を図る電磁波の最短波長以下である反射防止物品の製造方法であって、
前記微小突起を構成する樹脂表面に、パーフルオロアルキルポリエーテルを含むフッ素系潤滑剤による潤滑層を形成した後、電離放射線を照射することを特徴とする反射防止物品の製造方法。
Specifically, the present invention provides the following: (1) Reflection in which minute protrusions are closely arranged and the interval between adjacent minute protrusions is equal to or shorter than the shortest wavelength of an electromagnetic wave for preventing reflection A method of manufacturing a prevention article,
A method for producing an antireflective article, comprising: forming a lubricating layer of a fluorine-based lubricant containing perfluoroalkyl polyether on a resin surface constituting the microprojections, and then irradiating with ionizing radiation.

(2) 前記パーフルオロアルキルポリエーテルが、下記一般式である請求項1に記載の反射防止物品の製造方法。
[化1]
F−[CF(CF3)CF2O]n−CF2(CF3
(nは7以上60以下の整数を示す。)
(2) The method for producing an antireflective article according to claim 1, wherein the perfluoroalkyl polyether has the following general formula.
[Chemical 1]
F- [CF (CF 3 ) CF 2 O] n —CF 2 (CF 3 )
(N represents an integer of 7 to 60.)

(3) 前記電離放射線が30kGyから120kGyの照射強度の電子線である請求項1又は2に記載の反射防止物品の製造方法。   (3) The method for producing an antireflective article according to claim 1 or 2, wherein the ionizing radiation is an electron beam having an irradiation intensity of 30 kGy to 120 kGy.

(4) 前記フッ素系潤滑剤の40℃における粘度が、1mm/S以上1000mm/S以下である(1)から(3)のいずれかに記載の反射防止物品の製造方法。 (4) The method for producing an antireflective article according to any one of (1) to (3), wherein the fluorine-based lubricant has a viscosity at 40 ° C. of 1 mm 2 / S or more and 1000 mm 2 / S or less.

(5) 前記微小突起を構成する樹脂が、(メタ)アクリレート化合物の硬化物である(1)から(4)のいずれかに記載の反射防止物品の製造方法。   (5) The method for producing an antireflective article according to any one of (1) to (4), wherein the resin constituting the microprojections is a cured product of a (meth) acrylate compound.

(6) 前記微小突起の少なくとも一部が、
頂点を複数有し、頂部に形成された放射状の溝により、各頂点に係る峰に頂部が分割された形状により作成された多峰性の微小突起である(1)から(5)のいずれかに記載の反射防止物品の製造方法。
(6) At least a part of the microprojections is
Any one of (1) to (5), which is a multi-peak microprojection having a plurality of vertices and created by a shape in which the top is divided into ridges related to each vertex by a radial groove formed at the top A method for producing an antireflection article as described in 1.

(7) 画像表示パネルの出光面上に、(1)から(6)のいずれかに記載の製造方法によって得られる反射防止物品を配置する画像表示装置。   (7) An image display device in which an antireflection article obtained by the manufacturing method according to any one of (1) to (6) is disposed on a light exit surface of an image display panel.

モスアイ構造に係る反射防止物品に関して、指紋等の汚れを簡易に除去することができる。   With respect to the antireflection article according to the moth-eye structure, dirt such as fingerprints can be easily removed.

本発明の第1実施形態に係る反射防止物品を示す概念斜視図である。1 is a conceptual perspective view showing an antireflection article according to a first embodiment of the present invention. 隣接突起の説明に供する図である。It is a figure where it uses for description of an adjacent protrusion. 極大点の説明に供する図である。It is a figure where it uses for description of the maximum point. ドロネー図を示す図である。It is a figure which shows a Delaunay figure. 隣接突起間距離の計測に供する度数分布図である。It is a frequency distribution diagram used for measurement of the distance between adjacent protrusions. 微小高さの説明に供する度数分布図である。It is a frequency distribution figure with which it uses for description of minute height. 微小突起の説明に供する図である。It is a figure where it uses for description of a microprotrusion. 図1の反射防止物品の製造工程を示す図である。It is a figure which shows the manufacturing process of the antireflection article | item of FIG. フッ素系潤滑剤の構造を示す図である。It is a figure which shows the structure of a fluorine-type lubricant. 賦型工程を示す図である。It is a figure which shows a shaping process. 図1の反射防止物品に係るロール版を示す図である。It is a figure which shows the roll plate which concerns on the reflection preventing article of FIG. 図11のロール版の作製工程を示す図である。It is a figure which shows the preparation processes of the roll plate of FIG.

〔第1実施形態〕
図1は、本発明の第1実施形態に係る反射防止物品を示す図(概念斜視図)である。この反射防止物品1は、全体形状がフィルム形状により形成された反射防止フィルムである。この実施形態に係る画像表示装置では、この反射防止物品1が画像表示パネルの表側面に貼り付けられて保持され、この反射防止物品1により日光、電燈光等の外来光の画面における反射を低減して視認性を向上する。なお反射防止物品は、その形状を平坦なフィルム形状とする場合に限らず、平坦なシート形状、平板形状(相対的に厚みの薄い順に、フィルム、シート、板と呼称する)とすることもでき、また平坦な形状に代えて、湾曲形状、立体形状を呈したフィルム形状、シート形状、板形状とすることもでき、さらには各種レンズ、各種プリズム等の立体形状のものを用途に応じて適宜採用することができる。
[First Embodiment]
FIG. 1 is a diagram (conceptual perspective view) showing an antireflection article according to a first embodiment of the present invention. This antireflection article 1 is an antireflection film whose overall shape is formed by a film shape. In the image display apparatus according to this embodiment, the antireflection article 1 is held by being attached to the front side surface of the image display panel, and the reflection of external light such as sunlight and electric light on the screen is reduced by the antireflection article 1. And improve visibility. The antireflection article is not limited to a flat film shape, but may be a flat sheet shape or a flat plate shape (referred to as a film, a sheet, or a plate in order of relatively small thickness). In addition, instead of a flat shape, a curved shape, a three-dimensional film shape, a sheet shape, or a plate shape can be used, and various lenses, prisms, and other three-dimensional shapes are appropriately used depending on the application. Can be adopted.

ここで反射防止物品1は、透明フィルムによる基材2の表面に多数の微小突起を密接配置して作製される。尚、密接配置された複数の微小突起を総称して微小突起群とも呼称する。この実施形態において、反射防止物品1は、さらに表面(微小突起側面)に潤滑層3が設けられる。   Here, the antireflection article 1 is produced by closely arranging a large number of minute protrusions on the surface of the substrate 2 made of a transparent film. A plurality of closely arranged microprotrusions is collectively referred to as a microprotrusion group. In this embodiment, the antireflection article 1 is further provided with a lubricating layer 3 on the surface (side surface of the minute protrusion).

ここで基材2は、例えばTAC(Triacetylcellulose)、等のセルロース(纖維素)系樹脂、PMMA(ポリメチルメタクリレート)等のアクリル系樹脂、PET(Polyethylene terephthalate)等のポリエステル系樹脂、PP(ポリプロピレン)等のポリオレフィン系樹脂、PVC(ポリ塩化ビニル)等のビニル系樹脂、PC(Polycarbonate)等の各種透明樹脂フィルムを適用することができる。なお上述したように反射防止物品の形状はフィルム形状に限らず、種々の形状を採用可能であることにより、基材2は、反射防止物品の形状に応じて、これらの材料の他に、例えばソーダ硝子、カリ硝子、鉛ガラス等の硝子、PLZT等のセラミックス、石英、螢石等の各種透明無機材料等を適用することができる。   Here, the base material 2 is, for example, a cellulose resin such as TAC (Triacetylcellulose), an acrylic resin such as PMMA (polymethyl methacrylate), a polyester resin such as PET (Polyethylene terephthalate), or PP (polypropylene). Polyolefin resins such as PVC, vinyl resins such as PVC (polyvinyl chloride), and various transparent resin films such as PC (polycarbonate) can be applied. As described above, the shape of the antireflection article is not limited to the film shape, and various shapes can be adopted, so that the base material 2 can be used in addition to these materials, for example, according to the shape of the antireflection article. Various transparent inorganic materials such as glass such as soda glass, potash glass, lead glass, ceramics such as PLZT, quartz, and meteorite can be applied.

反射防止物品1は、基材2上に、微小突起群からなる微細な凹凸形状の受容層となる未硬化状態の樹脂層(以下、適宜、受容層と呼ぶ)4を形成し、該受容層4を賦型処理して硬化せしめ、これにより基材2の表面に微小突起が密接して配置される。この実施形態では、この受容層4に、賦型処理に供する賦型用樹脂の1つである(メタ)アクリレート系紫外線硬化性樹脂などが適用され、基材2上に紫外線硬化性樹脂層4が形成される。反射防止物品1は、この微小突起による凹凸形状により厚み方向に徐々に屈折率が変化するように、各微小突起が先細りにより作製され、これによりモスアイ構造の原理により広い波長範囲で入射光の反射を低減する。   The anti-reflective article 1 forms an uncured resin layer 4 (hereinafter referred to as a receiving layer as appropriate) 4 which forms a fine uneven receiving layer composed of a group of minute protrusions on a base material 2. 4 is subjected to a molding treatment and hardened, whereby the fine protrusions are placed in close contact with the surface of the substrate 2. In this embodiment, a (meth) acrylate-based ultraviolet curable resin that is one of the molding resins used for the molding process is applied to the receiving layer 4, and the ultraviolet curable resin layer 4 is formed on the substrate 2. Is formed. The antireflective article 1 is produced by tapering each microprotrusion so that the refractive index gradually changes in the thickness direction due to the uneven shape due to the microprotrusion, thereby reflecting incident light in a wide wavelength range by the principle of the moth-eye structure. Reduce.

なおこれにより反射防止物品1に作製される微小突起は、隣接する微小突起の間隔dが、反射防止を図る電磁波の波長帯域の最短波長Λmin以下(d≦Λmin)となるよう密接して配置される。この実施形態では、画像表示パネルに配置して視認性を向上させることを主目的とするため、この最短波長は、個人差、視聴条件を加味した可視光領域の最短波長(380nm)に設定され、間隔dは、ばらつきを考慮して100〜300nmとされる。またこの間隔dに係る隣接する微小突起は、いわゆる隣り合う微小突起であり、基材2側の付け根部分である微小突起の裾の部分が接している突起である。反射防止物品1では微小突起が密接して配置されることにより、微小突起間の谷の部位を順次辿るようにして線分を作成すると、平面視において各微小突起を囲む多角形状領域を多数連結してなる網目状の模様が作製されることになる。間隔dに係る隣接する微小突起は、この網目状の模様を構成する一部の線分を共有する突起である。   In this way, the microprotrusions produced in the antireflection article 1 are closely arranged so that the distance d between adjacent microprotrusions is equal to or less than the shortest wavelength Λmin (d ≦ Λmin) of the wavelength band of the electromagnetic wave to prevent reflection. The In this embodiment, since the main purpose is to improve visibility by arranging the image display panel, the shortest wavelength is set to the shortest wavelength (380 nm) in the visible light region in consideration of individual differences and viewing conditions. The distance d is set to 100 to 300 nm in consideration of variation. The adjacent minute protrusions related to the distance d are so-called adjacent minute protrusions, which are in contact with the hem portions of the minute protrusions, which are the base portions on the base 2 side. In the anti-reflective article 1, the minute projections are closely arranged so that when a line segment is created so as to sequentially follow the valleys between the minute projections, a large number of polygonal regions surrounding each minute projection are connected in plan view. Thus, a mesh-like pattern is produced. The adjacent minute protrusions related to the distance d are protrusions that share a part of the line segments constituting the mesh pattern.

本発明における微小突起を構成する樹脂である紫外線硬化性樹脂を構成する樹脂組成物としては、少なくとも1個以上のビニル基、カルボキシル基、水酸基等の官能基を有し、光重合開始剤由来のラジカルによりラジカル重合して硬化するモノマーやオリゴマー等を有するものである。   The resin composition constituting the ultraviolet curable resin, which is a resin constituting the microprojections in the present invention, has at least one functional group such as a vinyl group, a carboxyl group, a hydroxyl group, and the like and is derived from a photopolymerization initiator. It has monomers and oligomers that are cured by radical polymerization with radicals.

このようなモノマー、オリゴマーとしては、エポキシアクリレート、ウレタンアクリレート、ポリエステルアクリレート、ポリエーテルアクリレート、シリコンアクリレート等のアクリル型、および不飽和ポリエステル/スチレン系、ポリエン/スチレン系等の非アクリル系が挙げられるが、なかでも、硬化速度、物性選択の幅の広さから(メタ)アクリレートが好ましい。   Examples of such monomers and oligomers include acrylic types such as epoxy acrylate, urethane acrylate, polyester acrylate, polyether acrylate, and silicon acrylate, and non-acrylic types such as unsaturated polyester / styrene and polyene / styrene. Of these, (meth) acrylate is preferred from the viewpoint of curing speed and wide selection of physical properties.

単官能の(メタ)アクリレートとしては、2−エチルヘキシルアクリレート、2−エチルヘキシルEO付加物アクリレート、エトキシジエチレングリコールアクリレート、2−ヒドロキシエチルアクリレート、2−ヒドロキシプロピルアクリレート、2−ヒドロキシエチルアクリレートのカプロラクトン付加物、2−フェノキシエチルアクリレート、フェノキシジエチレングリコールアクリレート、ノニルフェノールEO付加物アクリレート、ノニルフェノールEO付加物にカプロラクトン付加したアクリレート、2−ヒドロキシ−3−フェノキシプロピルアクリレート、テトラヒドロフルフリルアクリレート、フルフリルアルコールのカプロラクトン付加物アクリレート、アクリロイルモルホリン、ジシクロペンテニルアクリレート、ジシクロペンタニルアクリレート、ジシクロペンテニルオキシエチルアクリレート、イソボルニルアクリレート、4,4−ジメチル−1,3−ジオキソランのカプロラクトン付加物のアクリレート、3−メチル−5,5−ジメチル−1,3−ジオキソランのカプロラクトン付加物のアクリレート等を挙げることができる。   As monofunctional (meth) acrylates, 2-ethylhexyl acrylate, 2-ethylhexyl EO adduct acrylate, ethoxydiethylene glycol acrylate, 2-hydroxyethyl acrylate, 2-hydroxypropyl acrylate, 2-hydroxyethyl acrylate caprolactone adduct, 2 -Phenoxyethyl acrylate, phenoxydiethylene glycol acrylate, nonylphenol EO adduct acrylate, acrylate obtained by adding caprolactone to nonylphenol EO adduct, 2-hydroxy-3-phenoxypropyl acrylate, tetrahydrofurfuryl acrylate, caprolactone adduct acrylate of furfuryl alcohol, acryloyl Morpholine, dicyclopentenyl acrylate, disi Lopentanyl acrylate, dicyclopentenyloxyethyl acrylate, isobornyl acrylate, 4,4-dimethyl-1,3-dioxolane caprolactone adduct, 3-methyl-5,5-dimethyl-1,3-dioxolane An acrylate of a caprolactone adduct of

多官能基の(メタ)アクリレートとしては、ヘキサンジオールジアクリレート、ネオペンチルグリコールジアクリレート、ポリエチレングリコールジアクリレート、トリプロピレングリコールジアクリレート、ヒドロキシピバリン酸ネオペンチルグリコールエステルジアクリレート、ヒドロキシピバリン酸ネオペンチルグリコールエステルのカプロラクトン付加物ジアクリレート、1,6−ヘキサンジオールのジグリシジルエーテルのアクリル酸付加物、ヒドロキシピバルアルデヒドとトリメチロールプロパンのアセタール化合物のジアクリレート、2,2−ビス[4−(アクリロイロキシジエトキシ)フェニル]プロパン、2,2−ビス[4−(アクリロイロキシジエトキシ)フェニル]メタン、水添ビスフェノールエチレンオキサイド付加物のジアクリレート、トリシクロデカンジメタノールジアクリレート、トリメチロールプロパントリアクリレート、ペンタエリスリトールトリアクリレート、トリメチロールプロパンプロビレンオキサイド付加物トリアクリレート、グリセリンプロピレンオキサイド付加物トリアクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサアクリレートペンタアクリレート混合物、ジペンタエリスリトールのカプロラクトン付加物アクリレート、トリス(アクリロイロキシエチル)イソシアヌレート、2−アクリロイロキシエチルオスフェート等を挙げることができる。   Multifunctional (meth) acrylates include hexanediol diacrylate, neopentyl glycol diacrylate, polyethylene glycol diacrylate, tripropylene glycol diacrylate, hydroxypivalic acid neopentyl glycol ester diacrylate, hydroxypivalic acid neopentyl glycol ester Caprolactone adduct diacrylate, acrylic acid adduct of 1,6-hexanediol diglycidyl ether, diacrylate of hydroxypivalaldehyde and trimethylolpropane acetal compound, 2,2-bis [4- (acryloyloxy) Diethoxy) phenyl] propane, 2,2-bis [4- (acryloyloxydiethoxy) phenyl] methane, hydrogenated bisphenol ethylene oxide addition Diacrylate, tricyclodecane dimethanol diacrylate, trimethylolpropane triacrylate, pentaerythritol triacrylate, trimethylolpropane propylene oxide adduct triacrylate, glycerin propylene oxide adduct triacrylate, dipentaerythritol hexaacrylate pentaacrylate mixture , Caprolactone adduct acrylate of dipentaerythritol, tris (acryloyloxyethyl) isocyanurate, 2-acryloyloxyethyl maleate and the like.

紫外線硬化性樹脂組成物に含有される重合開始剤としては、一般的な紫外線硬化性樹脂組成物の重合時に用いられる重合開始剤を用いることができる。   As a polymerization initiator contained in the ultraviolet curable resin composition, a polymerization initiator used during polymerization of a general ultraviolet curable resin composition can be used.

具体的には、アセトフェノン、アセトフェノンベンジルケタール、1−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン、2,2−ジメトキシ−2−フェニルアセトフェノン、キサントン、フルオレノン、べンズアルデヒド、フルオレン、アントラキノン、トリフェニルアミン、カルバゾール、3−メチルアセトフェノン、4−クロロベンゾフェノン、4,4’−ジメトキシベンゾフェノン、4,4’−ジアミノベンゾフェノン、ミヒラーケトン、ベンゾインプロピルエーテル、ベンゾインエチルエーテル、ベンジルジメチルケタール、1−(4−イソプロピルフェニル)−2−ヒドロキシ−2−メチルプロパン−1−オン、2−ヒドロキシ−2−メチル−1−フェニルプロパン−1−オン、チオキサントン、ジエチルチオキサントン、2−イソプロピルチオキサントン、2−クロロチオキサントン、2−メチル−1−[4−(メチルチオ)フェニル]−2−モルホリノ−プロパン−1−オン、2,4,6−トリメチルベンゾイルジフェニルフォスフィンオキサイド、ビス−(2,6−ジメトキシベンゾイル)−2,4,4−トリメチルペンチルフォスフィンオキシド、エチル−2,4,6−トリメチルベンゾイルエトキシフェニルォスフィンオキシドなどが挙げられる。   Specifically, acetophenone, acetophenone benzyl ketal, 1-hydroxycyclohexyl phenyl ketone, 2,2-dimethoxy-2-phenylacetophenone, xanthone, fluorenone, benzaldehyde, fluorene, anthraquinone, triphenylamine, carbazole, 3-methyl Acetophenone, 4-chlorobenzophenone, 4,4′-dimethoxybenzophenone, 4,4′-diaminobenzophenone, Michler's ketone, benzoin propyl ether, benzoin ethyl ether, benzyldimethyl ketal, 1- (4-isopropylphenyl) -2-hydroxy- 2-methylpropan-1-one, 2-hydroxy-2-methyl-1-phenylpropan-1-one, thioxanthone, diethylthioxanthone, 2-isopropyl Pyrthioxanthone, 2-chlorothioxanthone, 2-methyl-1- [4- (methylthio) phenyl] -2-morpholino-propan-1-one, 2,4,6-trimethylbenzoyldiphenylphosphine oxide, bis- (2 , 6-dimethoxybenzoyl) -2,4,4-trimethylpentylphosphine oxide, ethyl-2,4,6-trimethylbenzoylethoxyphenylphosphine oxide, and the like.

また市販される重合開始剤としては、例えば、Irgacure184、369、651、500、819、907、784、2959、CGI1700、CGI1750、CGI11850、CG24−61、Darocurl116、1173(以上、チバ・スペシャルティ・ケミカルズ株式会社製)、LucirinLR8728、8893X(以上BASF社製)、ユベクリルP36(UCB社製)、KIP150(ランベルティ社製)等を用いることができる。   Commercially available polymerization initiators include, for example, Irgacure 184, 369, 651, 500, 819, 907, 784, 2959, CGI 1700, CGI 1750, CGI 11850, CG 24-61, Darocurl 116, 1173 (above, Ciba Specialty Chemicals Co., Ltd.) For example, Lucirin LR8728, 8893X (manufactured by BASF), Ubekrill P36 (manufactured by UCB), KIP150 (manufactured by Lamberti) and the like can be used.

重合開始剤の配合量としては、全組成物中に0.01重量%〜10重量%の範囲内であることが好ましく、0.5重量%〜7重量%の範囲内であることが特に好ましい。   The blending amount of the polymerization initiator is preferably in the range of 0.01% by weight to 10% by weight in the total composition, and particularly preferably in the range of 0.5% by weight to 7% by weight. .

〔隣接突起間距離の詳細〕
なお微小突起に関しては、より詳細には以下のように定義される。モスアイ構造による反射防止では、透明基材表面とこれに隣接する媒質との界面における有効屈折率を、厚み方向に連続的に変化させて反射防止を図るものであることから、微小突起に関しては一定の条件を満足することが必要である。この条件のうちの1つである突起の間隔に関して、例えば特開昭50−70040号公報、特許第4632589号公報等に開示のように、微小突起が一定周期で規則正しく配置されている場合、隣接する微小突起の間隔dは、突起配列の周期P(d=P)となる。これにより可視光線帯域の最長波長をλmax、最短波長をλminとした場合に、最低限、可視光線帯域の最長波長において反射防止効果を奏し得る必要最小限の条件は、Λmin=λmaxであるため、P≦λmaxとなり、可視光線帯域の全波長に対して反射防止効果を奏し得る必要十分の条件は、Λmin=λminであるため、P≦λminとなる。
[Details of distance between adjacent protrusions]
The minute protrusions are defined in more detail as follows. In the antireflection by the moth-eye structure, the effective refractive index at the interface between the transparent substrate surface and the adjacent medium is continuously changed in the thickness direction to prevent reflection. It is necessary to satisfy the following conditions. With respect to the protrusion interval, which is one of these conditions, when the minute protrusions are regularly arranged at a constant period as disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 50-70040 and Japanese Patent No. 4632589, the adjacent spaces are adjacent to each other. The interval d between the minute projections to be performed is the projection arrangement period P (d = P). Thus, when the longest wavelength in the visible light band is λmax and the shortest wavelength is λmin, the minimum necessary condition that can exhibit the antireflection effect at the longest wavelength in the visible light band is Λmin = λmax. P ≦ λmax, and the necessary and sufficient condition that can exhibit the antireflection effect for all wavelengths in the visible light band is Λmin = λmin, and therefore P ≦ λmin.

なお波長λmax、λminは、観察条件、光の強度(輝度)、個人差等にも依存して多少幅を持ち得るが、標準的には、λmax=780nm及びλmin=380nmとされる。これらにより可視光線帯域の全波長に対する反射防止効果をより確実に奏し得る好ましい条件は、d≦300nmであり、より好ましい条件は、d≦200nmとなる。なお反射防止効果の発現及び反射率の等方性(低角度依存性)の確保等の理由から、周期dの下限値は、通常、d≧50nm、好ましくは、d≧100nmとされる。これに対して突起の高さHは、十分な反射防止効果を発現させる観点より、H≧0.2×λmax=156nm(λmax=780nmとして)とされる。   The wavelengths λmax and λmin may have some width depending on observation conditions, light intensity (luminance), individual differences, and the like, but are typically λmax = 780 nm and λmin = 380 nm. A preferable condition that can more reliably exhibit an antireflection effect for all wavelengths in the visible light band is d ≦ 300 nm, and a more preferable condition is d ≦ 200 nm. Note that the lower limit value of the period d is usually d ≧ 50 nm, preferably d ≧ 100 nm, for reasons such as the expression of the antireflection effect and the securing of the isotropic (low angle dependency) of the reflectance. On the other hand, the height H of the protrusion is set to H ≧ 0.2 × λmax = 156 nm (assuming λmax = 780 nm) from the viewpoint of exhibiting a sufficient antireflection effect.

しかしながらこの実施形態のように、微小突起が不規則に配置されている場合には、隣接する微小突起間の間隔dはばらつきを有することになる。より具体的には、図2に示すように、基材の表面又は裏面の法線方向から見て平面視した場合に、微小突起が一定周期で規則正しく配列されていない場合、突起の繰り返し周期Pによっては隣接突起間の間隔dは規定し得ず、また隣接突起の概念すら疑念が生じることになる。そこでこのような場合、以下のように算定される。   However, when the minute protrusions are irregularly arranged as in this embodiment, the distance d between the adjacent minute protrusions varies. More specifically, as shown in FIG. 2, when viewed from the normal direction of the front or back surface of the substrate, when the microprojections are not regularly arranged at a constant period, the repetition period P of the protrusions In some cases, the distance d between adjacent protrusions cannot be defined, and even the concept of adjacent protrusions is suspicious. Therefore, in such a case, it is calculated as follows.

(1)すなわち先ず、原子間力顕微鏡(Atomic Force Microscope;AFM)又は走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope:SEM)を用いて突起の面内配列(突起配列の平面視形状)を検出する。なお図2は、実際に原子間力顕微鏡により求められた拡大写真である。   (1) That is, first, an in-plane arrangement of projections (planar shape of projection arrangement) is detected using an atomic force microscope (AFM) or a scanning electron microscope (SEM). FIG. 2 is an enlarged photograph actually obtained by an atomic force microscope.

(2)続いてこの求められた面内配列から各突起の高さの極大点(以下、単に極大点と呼ぶ)を検出する。なお極大点を求める方法としては、平面視形状と対応する断面形状の拡大写真とを逐次対比して極大点を求める方法、平面視拡大写真の画像処理によって極大点を求める方法等、種々の手法を適用することができる。図3は、図2に示した拡大写真に係る画像データの処理による極大点の検出結果を示す図であり、この図において黒点により示す個所がそれぞれ各突起の極大点である。なおこの処理では4.5×4.5画素のガウシアン特性によるローパスフィルタにより事前に画像データを処理し、これによりノイズによる極大点の誤検出を防止した。また8画素×8画素による最大値検出用のフィルタを順次スキャンすることにより1nm(=1画素)単位で極大点を求めた。   (2) Subsequently, the maximum point of the height of each protrusion (hereinafter simply referred to as the maximum point) is detected from the obtained in-plane arrangement. There are various methods for obtaining the maximum point, such as a method of sequentially comparing the planar view shape and the enlarged photograph of the corresponding cross-sectional shape to obtain the maximum point, and a method of obtaining the maximum point by image processing of the plan view enlarged photo. Can be applied. FIG. 3 is a diagram showing the detection result of the maximum point by the processing of the image data relating to the enlarged photograph shown in FIG. 2, and the portions indicated by black dots in this figure are the maximum points of the respective protrusions. In this process, image data is processed in advance by a low-pass filter having a Gaussian characteristic of 4.5 × 4.5 pixels, thereby preventing erroneous detection of the maximum point due to noise. Further, a maximum point was obtained in units of 1 nm (= 1 pixel) by sequentially scanning a filter for detecting a maximum value of 8 pixels × 8 pixels.

(3)次に検出した極大点を母点とするドロネー図(Delaunary Diagram)を作成する。ここでドロネー図とは、各極大点を母点としてボロノイ分割を行った場合に、ボロノイ領域が隣接する母点同士を隣接母点と定義し、各隣接母点同士を線分で結んで得られる3角形の集合体からなる網状図形である。各3角形は、ドロネー3角形と呼ばれ、各3角形の辺(隣接母点同士を結ぶ線分)は、ドロネー線と呼ばれる。図4は、図3から求められるドロネー図(白色の線分により表される図である)を図3による原画像と重ね合わせた図である。ドロネー図は、ボロノイ図(Voronoi diagram)と双対の関係に有る。またボロノイ分割とは、各隣接母点間を結ぶ線分(ドロネー線)の垂直2等分線同士によって画成される閉多角形の集合体からなる網状図形で平面を分割することを言う。ボロノイ分割により得られる網状図形がボロノイ図であり、各閉領域がボロノイ領域である。   (3) Next, a Delaunay diagram with the detected maximum point as a generating point is created. Here, Delaunay diagram is obtained by dividing the Voronoi region adjacent to the Voronoi region when the Voronoi division is performed with each local maximum as the generating point, and connecting the adjacent generating points with line segments. This is a net-like figure made up of triangular aggregates. Each triangle is called a Delaunay triangle, and a side of each triangle (a line segment connecting adjacent generating points) is called a Delaunay line. FIG. 4 is a diagram in which the Delaunay diagram (represented by white line segments) obtained from FIG. 3 is superimposed on the original image of FIG. The Delaunay diagram has a dual relationship with the Voronoi diagram. Voronoi division means that a plane is divided by a net-like figure made up of a closed polygon aggregate defined by perpendicular bisectors of line segments (Droney lines) connecting between adjacent generating points. A network figure obtained by Voronoi division is a Voronoi diagram, and each closed region is a Voronoi region.

(4)次に、各ドロネー線の線分長の度数分布、すなわち隣接する極大点間の距離(以下、隣接突起間距離と呼ぶ)の度数分布を求める。図5は、図4のドロネー図から作成した度数分布のヒストグラムである。なお図2、図7に示すように、突起の頂部に溝状等の凹部が存在したり、あるいは頂部が複数の峰に分裂している場合は、求めた度数分布から、このような突起の頂部に凹部が存在する微細構造、頂部が複数の峰に分裂している微細構造に起因するデータを除去し、突起本体自体のデータのみを選別して度数分布を作成する。   (4) Next, the frequency distribution of the line segment length of each Delaunay line, that is, the frequency distribution of the distance between adjacent maximum points (hereinafter referred to as the distance between adjacent protrusions) is obtained. FIG. 5 is a histogram of the frequency distribution created from the Delaunay diagram of FIG. As shown in FIG. 2 and FIG. 7, when a concave portion such as a groove exists at the top of the protrusion, or the top is divided into a plurality of peaks, the distribution of such protrusion is determined from the obtained frequency distribution. A frequency distribution is created by removing data resulting from a fine structure having a concave portion at the top and a fine structure in which the top is split into a plurality of peaks, and selecting only the data of the projection body itself.

具体的には、突起の頂部に凹部が存在する微細構造、頂部が複数の峰に分裂している多峰性の微小突起に係る微細構造においては、このような微細構造を備えていない単峰性の微小突起の場合の数値範囲から、隣接極大点間距離が明らかに大きく異なることになる。これによりこの特徴を利用して対応するデータを除去することにより突起本体自体のデータのみを選別して度数分布を検出する。より具体的には、例えば図2に示すような微小突起(群)の平面視の拡大写真から、5〜20個程度の互いに隣接する単峰性微小突起を選んで、その隣接極大点間距離の値を標本抽出し、この標本抽出して求められる数値範囲から明らかに外れる値(通常、標本抽出して求められる隣接極大点間距離平均値に対して、値が1/2以下のデータ)を除外して度数分布を検出する。図5の例では、隣接極大点間距離が56nm以下のデータ(矢印Aにより示す左端の小山)を除外する。なお図5は、このような除外する処理を行う前の度数分布を示すものである。因みに上述の極大点検用のフィルタの設定により、このような除外する処理を実行してもよい。   Specifically, in a fine structure in which a concave portion exists at the top of the protrusion, or a fine structure related to a multi-modal micro protrusion in which the top is divided into a plurality of peaks, a single peak that does not have such a fine structure. The distance between adjacent local maximum points is clearly different from the numerical value range in the case of a sexual microprojection. Thus, by removing the corresponding data using this feature, only the data of the projection body itself is selected and the frequency distribution is detected. More specifically, for example, about 5 to 20 adjacent single-peaked microprojections are selected from an enlarged photograph of a microprojection (group) in plan view as shown in FIG. 2, and the distance between adjacent maximum points is selected. The value of is sampled and the value clearly deviates from the numerical range obtained by sampling (usually data whose value is ½ or less of the average distance between adjacent maximum points obtained by sampling) To detect the frequency distribution. In the example of FIG. 5, data having a distance between adjacent maximal points of 56 nm or less (the leftmost small mountain indicated by the arrow A) is excluded. FIG. 5 shows a frequency distribution before performing such exclusion processing. Incidentally, such exclusion processing may be executed by setting the above-described maximum inspection filter.

(5)このようにして求めた隣接突起間距離dの度数分布から平均値dAVG及び標準偏差σを求める。ここでこのようにして得られる度数分布を正規分布とみなして平均値dAVG及び標準偏差σを求めると、図5の例では、平均値dAVG=158nm、標準偏差σ=38nmとなった。これにより隣接突起間距離dの最大値を、dmax=dAVG+2σとし、この例ではdmax=234nmとなる。 (5) The average value d AVG and the standard deviation σ are obtained from the frequency distribution of the distance d between adjacent protrusions thus obtained. Here, when the frequency distribution obtained in this way is regarded as a normal distribution and the average value d AVG and the standard deviation σ are obtained, the average value d AVG = 158 nm and the standard deviation σ = 38 nm are obtained in the example of FIG. As a result, the maximum value of the distance d between adjacent protrusions is set to dmax = d AVG + 2σ, and in this example, dmax = 234 nm.

なお同様の手法を適用して突起の高さを定義する。この場合、上述の(2)により求められる極大点から、特定の基準位置からの各極大点位置の相対的な高さの差を取得してヒストグラム化する。図6は、このようにして求められる突起付け根位置を基準(高さ0)とした突起高さHの度数分布のヒストグラムを示す図である。このヒストグラムによる度数分布から突起高さの平均値HAVG、標準偏差σを求める。ここでこの図6の例では、平均値HAVG=178nm、標準偏差σ=30nmである。これによりこの例では、突起の高さは、平均値HAVG=178nmとなる。なお図6に示す突起高さHのヒストグラムにおいて、多峰性の微小突起の場合は、頂点を複数有していることにより、1つの突起に対してこれら複数のデータが混在することになる。そこでこの場合は麓部が同一の微小突起に属するそれぞれ複数の頂点の中から高さの最も高い頂点を、当該微小突起の突起高さとして採用して度数分布を求める。 The same method is applied to define the height of the protrusion. In this case, a relative height difference of each local maximum point position from a specific reference position is acquired from the local maximum point obtained by the above (2), and is histogrammed. FIG. 6 is a diagram showing a histogram of the frequency distribution of the protrusion height H with the protrusion root position obtained in this way as a reference (height 0). The average value HAVG of the protrusion height and the standard deviation σ are obtained from the frequency distribution based on the histogram. Here in the example of FIG. 6, the mean value H AVG = 178 nm, the standard deviation sigma = 30 nm. Thus in this example, the height of the projections is an average value H AVG = 178 nm. In the histogram of the projection height H shown in FIG. 6, in the case of a multi-peak microprojection, the plurality of data are mixed for one projection because it has a plurality of vertices. Therefore, in this case, the frequency distribution is obtained by adopting the vertex having the highest height from among the plurality of vertices belonging to the same microprotrusion as the protuberance.

なお上述した突起の高さを測る際の基準位置は、隣接する微小突起の間の谷底(高さの極小点)を高さ0の基準とする。但し、係る谷底の高さ自体が場所によって異なる場合(例えば、谷底の高さが微小突起の隣接突起間距離に比べて大きな周期でウネリを有する場合等)は、(1)先ず、基材2の表面又は裏面から測った各谷底の高さの平均値を、該平均値が收束するに足る面積の中で算出する。(2)次いで、該平均値の高さを持ち、基材2の表面又は裏面と平行な面を基準面として考える。(3)その後、該基準面を改めて高さ0として、該基準面からの各微小突起の高さを算出する。   In addition, the reference position when measuring the height of the protrusion described above is based on the valley bottom (minimum point of height) between the adjacent minute protrusions as a reference of height 0. However, when the height of the valley bottom itself varies depending on the location (for example, when the height of the valley bottom has undulation with a period larger than the distance between adjacent projections of the microprojections), (1) First, the base material 2 The average value of the height of each valley bottom measured from the front surface or the back surface is calculated in an area sufficient for the average value to be collected. (2) Next, a surface having the height of the average value and parallel to the front surface or the back surface of the substrate 2 is considered as a reference surface. (3) Then, the height of each microprotrusion from the reference surface is calculated by setting the reference surface to a height of 0 again.

突起が不規則に配置されている場合には、このようにして求められる隣接突起間距離の最大値dmax=dAVG+2σ、突起の高さの平均値HAVGが、規則正しく配置されている場合の上述の条件を満足することが必要であることが判った。具体的には、反射防止効果を発現する微小突起間距離の条件は、dmax≦Λminとなる。最低限、可視光線帯域の最長波長において反射防止効果を奏し得る必要最短限の条件は、Λmin=λmaxであるため、dmax≦λmaxとなり、可視光線帯域の全波長に対して反射防止効果を奏し得る必要十分の条件は、Λmin=λminであるため、dmax≦λminとなる。そして、可視光線帯域の全波長に対する反射防止効果をより確実に奏し得る好ましい条件は、dmax≦300nmであり、更に好ましい条件は、dmax≦200nmである。また反射防止効果の発現及び反射率の等方性(低角度依存性)の確保等の理由から、通常、dmax≧50nmであり、好ましくは、dmax≧100nmとされる。また突起高さについては、十分な反射防止効果を発現する為には、HAVG≧0.2×λmax=156nm(λmax=780nmとして)とされる。 If the protrusions are irregularly arranged, when this way the maximum value of the adjacent protrusions distance obtained by dmax = d AVG + 2σ, average H AVG height of projections are arranged regularly It has been found necessary to satisfy the above conditions. Specifically, the condition of the distance between the microprotrusions that exhibits the antireflection effect is dmax ≦ Λmin. The minimum necessary condition that can exhibit the antireflection effect at the longest wavelength in the visible light band is Λmin = λmax, and therefore dmax ≦ λmax, and the antireflection effect can be achieved for all wavelengths in the visible light band. The necessary and sufficient condition is Λmin = λmin, and therefore dmax ≦ λmin. A preferable condition that can more reliably exhibit the antireflection effect for all wavelengths in the visible light band is dmax ≦ 300 nm, and a more preferable condition is dmax ≦ 200 nm. Also, dmax ≧ 50 nm is usually satisfied and dmax ≧ 100 nm is preferable because of the antireflection effect and ensuring the isotropic (low angle dependency) of the reflectance. The height of the protrusion is set to HAVG ≧ 0.2 × λmax = 156 nm (assuming λmax = 780 nm) in order to exhibit a sufficient antireflection effect.

因みに、図2〜図6の例により説明するとdmax=234nm≦λmax=780nmとなり、dmax≦λmaxの条件を満足して十分に反射防止効果を奏し得ることが判る。また可視光線帯域の最短波長λminが380nmであることから、可視光線の全波長帯域において反射防止効果を発現する十分条件dmax≦λminも満たすことが判る。また平均突起高さHAVG=178nmであることにより、平均突起高さHAVG≧0.2×λmax=156nmとなり(可視光波長帯域の最長波長λmax=780nmとして)、十分な反射防止効果を実現するための突起の高さに関する条件も満足していることが判る。なお標準偏差σ=30nmであることから、HAVG−σ=148nm<0.2×λmax=156nmとの関係式が成立することから、統計学上、全突起の50%以上、84%以下が、突起の高さに係る条件(178nm以上)の条件を満足していることが判る。なおAFM及びSEMによる観察結果、並びに微小突起の高さ分布の解析結果から、多峰性の微小突起は相対的に高さの低い微小突起よりも高さの高い微小突起でより多く生じる傾向にあることが判明した。 2 to 6, dmax = 234 nm ≦ λmax = 780 nm, and it can be seen that the antireflection effect can be sufficiently achieved by satisfying the condition of dmax ≦ λmax. In addition, since the shortest wavelength λmin in the visible light band is 380 nm, it can be seen that the sufficient condition dmax ≦ λmin for exhibiting the antireflection effect in all visible light wavelength bands is also satisfied. When the average protrusion the height H AVG = 178 nm Also, the average projection height H AVG ≧ 0.2 × λmax = 156nm becomes (as the longest wavelength .lambda.max = 780 nm in the visible light wavelength band), realizing a sufficient antireflection effect It can be seen that the conditions regarding the height of the protrusions to satisfy are also satisfied. Note since the standard deviation sigma = 30 nm, since the relationship between the H AVG -σ = 148nm <0.2 × λmax = 156nm is satisfied, statistically, more than 50% of the total protrusions, 84% or less It can be seen that the condition of the height of the protrusion (178 nm or more) is satisfied. From the observation results by AFM and SEM, and the analysis result of the height distribution of the microprojections, the multi-peak microprojections tend to occur more frequently with the microprojections with a higher height than the microprojections with a relatively low height. It turned out to be.

〔微小突起の詳細〕
ところで種々に製造条件を変更して反射防止物品を詳細に検討したところ、従来のこの種の反射防止物品のように、多角錘形状や回転放物面形状のような1つの頂点のみを持つ単峰性の微小突起のみからなり、各頂点の高さも一様に作製されている場合には、例えば他の物体が接触した場合に、広い範囲で微小突起の形状が一様に損なわれ、これにより反射防止機能が局所的に劣化し、また接触個所に白濁、傷等が発生して外観不良が発生することが判った。しかしながら製造条件を変更すると、このような耐擦傷性が改善されることが判った。
[Details of microprotrusions]
By the way, when the production conditions were changed in various ways and the antireflection article was examined in detail, the single antireflection article having a single apex such as a polygonal pyramid shape and a rotating paraboloid shape like this conventional antireflection article. When only ridge-shaped microprojections are made and the height of each apex is made uniform, for example, when another object touches, the shape of the microprojections is uniformly damaged over a wide range. As a result, it was found that the antireflection function locally deteriorated, and that the appearance was poor due to the occurrence of white turbidity, scratches, etc. However, it has been found that changing the manufacturing conditions improves such scratch resistance.

このような耐擦傷性が改善された反射防止物品の表面形状をAFM(Atomic Force Microscope:原子間力顕微鏡)及びSEM(Scanning Electron Microscope:走査型電子顕微鏡)により観察したところ、多数の微小突起の中に、頂点を複数有する多峰性の微小突起が存在することが判った。多峰性の微小突起は、頂部に形成された放射状の溝により、各頂点に係る峰に頂部が分割された形状により作成され、対応する形状の微細穴より作成される突起である。なおここで微細形状の観察のために、種々の方式の顕微鏡が提供されているものの、微細構造を損なわないようにして反射防止物品の表面形状を観察する場合には、AFM及びSEMが適している。   When the surface shape of such an antireflection article with improved scratch resistance was observed with an AFM (Atomic Force Microscope) and SEM (Scanning Electron Microscope), a large number of microprojections were observed. It was found that there are multimodal microprojections having a plurality of vertices. A multi-peak microprotrusion is a protrusion that is created by a shape in which a top portion is divided into ridges associated with each vertex by a radial groove formed at the top portion, and is created from a microhole having a corresponding shape. Although various types of microscopes are provided here for observing the fine shape, AFM and SEM are suitable for observing the surface shape of the antireflection article without damaging the fine structure. Yes.

図7は、この頂点を複数有する多峰性の微小突起の説明に供する図である。図7(a))は、連続する微小突起の頂点を結ぶ折れ線により断面を取って示す図であり、図7(b)及び図7(c)は、多峰性の微小突起の斜視図及び平面図である。なおこの図7は、理解を容易にするために模式的に示す図である。反射防止物品1において、多くの微小突起5は、基材2より離れて頂点に向かうに従って徐々に断面積(高さ方向に直交する面(図7においてXY平面と平行な面)で切断した場合の断面積)が小さくなって、頂点が1つにより作製される。しかしながら中には、複数の微小突起が結合したかのように、先端部分に溝gが形成され、頂点が2つになったもの(5A)、頂点が3つになったもの(5B)、さらには頂点が4つ以上のもの(図示略)が存在した。なお単峰性の微小突起5の形状は、概略、回転放物面の様な頂部の丸い形状、或いは円錐の様な頂点の尖った形状で近似することができる。一方、多峰性の微小突起5A、5Bの形状は、概略、単峰性の微小突起5の頂部近傍に溝状の凹部を切り込んで、頂部を複数の峰に分割したような形状で近似される。多峰性の微小突起5A、5Bの形状は、或いは、複数の峰を含み高さ方向(図7ではZ軸方向)を含む仮想的切断面で切断した場合の縦断面形状が、極大点を複数個含み各極大点近傍が上に凸の曲線になる代数曲線Z=a+a+・・+a2n2n+・・で近似されるような形状である。 FIG. 7 is a diagram for explaining the multimodal microprotrusions having a plurality of vertices. FIG. 7 (a)) is a diagram showing a section taken along a polygonal line connecting the vertices of continuous microprotrusions. FIGS. 7 (b) and 7 (c) are perspective views of multi-peak microprotrusions and It is a top view. FIG. 7 is a diagram schematically showing for easy understanding. In the antireflection article 1, many microprotrusions 5 are gradually cut in a cross-sectional area (a plane perpendicular to the height direction (a plane parallel to the XY plane in FIG. 7)) as they move away from the base material 2 toward the top. The cross-sectional area) is reduced, and one vertex is produced. However, in some cases, as if a plurality of microprotrusions were combined, a groove g was formed at the tip, and the apex was two (5A), the apex was three (5B), Furthermore, there were those having four or more vertices (not shown). The shape of the unimodal microprotrusions 5 can be approximated by a round shape at the top, such as a paraboloid of revolution, or a pointed shape, such as a cone. On the other hand, the shape of the multimodal microprotrusions 5A and 5B is roughly approximated by a shape in which a groove-shaped recess is cut in the vicinity of the top of the monomodal microprotrusion 5 and the top is divided into a plurality of peaks. The The shape of the multi-peaked microprotrusions 5A, 5B, or the vertical cross-sectional shape when cutting along a virtual cut surface including a plurality of peaks and including the height direction (Z-axis direction in FIG. 7) is the maximum point. It is a shape that is approximated by an algebraic curve Z = a 2 X 2 + a 4 X 4 +... + A 2n X 2n +.

このような頂点を複数有する多峰性の微小突起は、単峰性の微小突起に比して、頂点近傍の寸法に対する裾の部分の太さが相対的に太くなる。これにより、多峰性の微小突起は、単峰性の微小突起に比して機械的強度が優れていると言える。これにより頂点を複数有する多峰性の微小突起が存在する場合、反射防止物品では、単峰性の微小突起のみによる場合に比して耐擦傷性が向上するものと考えられる。さらに、具体的に反射防止物品に外力が加わった場合、単峰性の微小突起のみの場合に比して、外力をより多くの頂点で分散して受ける為、各頂点に加わる外力を低減し、微小突起が損傷し難いようにすることができ、これにより反射防止機能の局所的な劣化を低減し、さらに外観不良の発生を低減することができる。また仮に微小突起が損傷した場合でも、その損傷個所の面積を低減することができる。更に、多峰性の微小突起の多くは、最高峰高さ(麓が同じ微小突起に属する最も高い峰の高さ)が突起高さの平均値HAVG以上の微小突起に生じる為、外力を先ず各峰部分が受止めて犠牲的に損傷することによって、該微小突起の峰より低い本体部分、及び該多峰性の微小突起よりも高さの低い微小突起の損耗を防ぐ。これによっても反射防止機能の局所的な劣化を低減し、さらに外観不良の発生を低減することができる。 In such multi-peak microprojections having a plurality of vertices, the thickness of the skirt portion relative to the size in the vicinity of the vertices is relatively thicker than that of a single-peak microprojection. Thereby, it can be said that the multimodal microprotrusions are superior in mechanical strength to the single-peak microprotrusions. Thus, when there are multi-peaked microprojections having a plurality of vertices, it is considered that the anti-reflective article has improved scratch resistance as compared with the case of using only single-peak microprojections. In addition, when an external force is applied to the anti-reflective article, the external force is distributed and received at more vertices than when only a single-peaked microprojection is used. Thus, it is possible to make the microprotrusions less likely to be damaged, thereby reducing local deterioration of the antireflection function, and further reducing the appearance defects. Moreover, even if a microprotrusion is damaged, the area of the damaged portion can be reduced. Furthermore, many of the multimodal microprojections, highest peak height (foot height of the highest peaks belonging to the same microprojections) is to produce the average value H AVG or more microprojections of the projection height, the external force First, each peak portion is received and sacrificially damaged, thereby preventing wear of the main body portion lower than the peak of the microprojection and the microprojection having a height lower than that of the multimodal microprojection. This also reduces local deterioration of the antireflection function and further reduces the occurrence of appearance defects.

なお上述した図2〜図6に係る測定結果は、本実施形態に係る反射防止物品の測定結果であり、図5に示す度数分布においては、隣接突起間距離d(横軸の値)について、20nm及び40nmの短距離の極大値と120nm及び164nmの長距離の極大値との2種類の極大値が存在する。これらの極大値のうちの長距離の極大値は、微小突起本体(頂部よりも下の中腹から麓にかけての部分)の配列に対応し、一方、短距離の極大値は頂部近傍に存在する複数の頂点(峰)に対応する。これにより極大点間距離の度数分布によっても、多峰性の微小突起の存在を見て取ることができる。   2 to 6 described above are measurement results of the antireflection article according to the present embodiment, and in the frequency distribution shown in FIG. 5, the distance d between adjacent protrusions (value on the horizontal axis) There are two types of local maxima, short maxima of 20 nm and 40 nm and long maxima of 120 nm and 164 nm. Among these maximum values, the maximum value of the long distance corresponds to the arrangement of the microprojection bodies (the part from the middle to the heel below the top part), while the maximum value of the short distance exists in the vicinity of the top part. Corresponds to the apex (peak) of. As a result, the presence of multi-peaked microprotrusions can be seen also from the frequency distribution of the distance between the maximal points.

なお多峰性の微小突起は、その存在により耐擦傷性を向上できるものの、充分に存在しない場合には、この耐擦傷性を向上する効果を十分に発揮できないことは言うまでもない。係る観点より、本発明においては、表面に存在する全微小突起中における多峰性の微小突起の個数の比率は10%以上とする。特に多峰性の微小突起による耐擦傷性を向上する効果を十分に奏する為には、該多峰性の微小突起の比率は30%以上、好ましくは50%以上とする。   Needless to say, the multi-peak microprotrusions can improve the scratch resistance due to their presence, but if they do not exist sufficiently, the effect of improving the scratch resistance cannot be fully exhibited. From such a viewpoint, in the present invention, the ratio of the number of multimodal microprojections in all the microprojections present on the surface is set to 10% or more. In particular, in order to sufficiently exhibit the effect of improving the scratch resistance due to the multimodal microprojections, the ratio of the multimodal microprojections is 30% or more, preferably 50% or more.

さらにこのような多峰性の微小突起5A、5Bを含む微小突起群(5、5A、5B、・・)を有する反射防止物品を詳細に検討したところ、各微小突起の高さが種々に異なることが判った(図6、図7(a)参照)。なおここで各微小突起の高さとは、上述したように、麓(付け根)部を共有するある特定の微小突起について、その頂部に存在する最高高さを有する峰(最高峰)の高さを言う。図7(a)の微小突起5の如くの単峰性の微小突起の場合は、頂部における唯一の峰(極大点)の高さが該微小突起の突起高さとなる。また図7(a)の微小突起5A、5Bのような多峰性の微小突起の場合は、頂部に在る麓部を共有する複数の峰のうちの最高峰の高さをもって該微小突起の高さとする。このように微小突起の高さが種々に異なる場合には、例えば物体の接触により高さの高い微小突起の形状が損なわれた場合でも、高さの低い微小突起においては、形状が維持されることになる。これによっても反射防止物品では、反射防止機能の局所的な劣化を低減し、さらには外観不良の発生を低減することができ、その結果、耐擦傷性を向上することができる。   Further, when the antireflection article having such a microprojection group (5, 5A, 5B,...) Including the multimodal microprotrusions 5A and 5B is examined in detail, the heights of the microprojections are variously different. (See FIGS. 6 and 7 (a)). Here, as described above, the height of each microprotrusion is the height of the peak (highest peak) having the highest height at the top of a specific microprotrusion that shares the ridge (root). say. In the case of a single-peak microprojection such as the microprojection 5 in FIG. 7A, the height of the only peak (maximum point) at the top is the projection height of the microprojection. In addition, in the case of a multimodal microprotrusion such as the microprotrusions 5A and 5B in FIG. 7A, the height of the microprotrusions has the highest peak height among a plurality of ridges sharing a ridge at the top. The height. In this way, when the heights of the microprojections are variously different, for example, even when the shape of the microprojections having a high height is damaged by contact with an object, the shape is maintained in the microprojections having a low height. It will be. Also in this case, in the antireflection article, local deterioration of the antireflection function can be reduced, and furthermore, occurrence of defective appearance can be reduced, and as a result, scratch resistance can be improved.

また反射防止物品表面の微小突起群と物体との間に塵埃が付着すると、当該物品が反射防止物品に対して相対的に摺動した際に、該塵埃が研磨剤として機能して微小突起(群)の磨耗、損傷が促進されることになる。この場合に、微小突起群を構成する各微小突起間に高低差が有ると、塵埃は高さの高い微小突起に強く接触し、これを損傷させる。一方で低高さの微小突起との接触は弱まり、高さの低い微小突起については損傷が軽減され、無傷ないしは軽微な傷で残存した高さの低い微小突起によって反射防止性能が維持される。   Further, when dust adheres between the microprojection group on the surface of the antireflection article and the object, when the article slides relative to the antireflection article, the dust functions as an abrasive to form microprojections ( Group) wear and damage are promoted. In this case, if there is a difference in height between the microprojections constituting the microprojection group, the dust strongly contacts the microprojections having a high height and is damaged. On the other hand, the contact with the low-height microprotrusions is weakened, and damage to the low-height microprotrusions is reduced, and the antireflection performance is maintained by the low-height microprotrusions that remain intact or light.

またこれに加えて、各微小突起の高さに分布(高低差)の有る微小突起群は、反射防止性能が広帯域化され、白色光のような多波長の混在する光、あるいは広帯域スペクトルを持つ光に対して、全スペクトル帯域で低反射率を実現するのに有利である。これは、かかる微小突起群によって良好な反射防止性能を発現し得る波長帯域が、隣接突起間距離dの他に、突起高さにも依存する為である。   In addition to this, the microprotrusion group with distribution (height difference) in the height of each microprotrusion has a broad antireflection performance and has light with multiple wavelengths such as white light or a broadband spectrum. For light, it is advantageous to realize a low reflectance in the entire spectral band. This is because the wavelength band in which good antireflection performance can be exhibited by such a microprojection group depends not only on the distance d between adjacent projections but also on the projection height.

またこの場合には、多数の微小突起のうちの高さの高い微小突起のみが、例えば反射防止物品1と対向するように配置された各種の部材表面と接触することになる。これにより高さが同一の微小突起のみによる場合に比して格段的に滑りを良くすることができ、製造工程等における反射防止物品の取り扱いを容易とすることができる。なおこのように滑りを良くする観点から、ばらつきは、標準偏差により規定した場合に、10nm以上必要であるものの、50nmより大きくなると、このばらつきによる表面のざらつき感が感じられるようになる。従ってこの高さのばらつきは、10nm以上、50nm以下であることが好ましい。   Further, in this case, only the high microprojections out of the many microprojections come into contact with various member surfaces arranged to face the antireflection article 1, for example. Thereby, it is possible to remarkably improve the slip as compared with the case where only the minute protrusions having the same height are used, and it is possible to easily handle the antireflection article in the manufacturing process or the like. From the viewpoint of improving the slip as described above, the variation needs to be 10 nm or more when defined by the standard deviation. However, when the variation is larger than 50 nm, the surface becomes rough. Therefore, the height variation is preferably 10 nm or more and 50 nm or less.

またこのように多峰性の微小突起が混在する場合には、単峰性の微小突起のみによる場合に比して反射防止の性能を向上することができる。すなわち図2、図7等に示すような多峰性の微小突起5A、5B等は、隣接突起間距離が同じ場合であっても、また突起高さが同じ場合であっても、単峰性の微小突起と比べて、より光の反射率が低減することになる。その理由は、多峰性の微小突起5A、5B等は、頂部より下(中腹及び麓)の形状が同じ単峰性の微小突起よりも、頂部近傍における有効屈折率の高さ方向の変化率が小さくなる為である。   In addition, when multi-peaked microprojections coexist in this way, the antireflection performance can be improved as compared with the case of using only single-peaked microprojections. That is, the multi-peak microprotrusions 5A, 5B, etc. as shown in FIG. 2, FIG. 7 and the like are unimodal even when the distance between adjacent protrusions is the same or when the protrusion height is the same. Compared with the microprotrusions, the light reflectance is further reduced. The reason for this is that the multi-modal microprotrusions 5A, 5B, etc. have a higher rate of change in the effective refractive index in the vicinity of the apex than the monomodal microprotrusions below the apex (in the middle and the heel). This is because becomes smaller.

すなわち図7において、z=0を高さH=0とおき、高さ方向(Z軸方向)に直交する仮想的切断面Z=zで微小突起5、5A等を切断したと仮定した場合の面Z=zにおける微小突起と周辺の媒質(通常は空気)との屈折率の平均値として得られる有効屈折率nefは、切断面Z=zにおける周辺媒質(ここでは空気とする)の屈折率をn=1、微小突起5、5A、・・の構成材料の屈折率をn>1とし、又周辺媒質(空気)の断面積の合計値をS(z)、微小突起5、5A、・・の断面積の合計値をS(z)としたとき、
ef(z)=1×S(z)/(S(z)+S(z))+n×S(z)/(S(z)+S(z))(式1)
で表される。これは、周辺媒質の屈折率n及び微小突起構成材料の屈折率nを、各々周辺媒質の合計断面積S(z)及び微小突起の合計断面積の合計値S(z)で比例配分した値となる。
That is, in FIG. 7, assuming that z = 0 is the height H = 0, and it is assumed that the microprojections 5, 5A, etc. are cut at a virtual cutting plane Z = z orthogonal to the height direction (Z-axis direction). The effective refractive index n ef obtained as an average value of the refractive indexes of the microprojections on the surface Z = z and the surrounding medium (usually air) is the refraction of the surrounding medium (here, air) on the cut surface Z = z. The refractive index of the constituent material of n A = 1, the minute protrusions 5, 5A,... Is n M > 1, and the total value of the sectional area of the peripheral medium (air) is S A (z). When the total value of the cross-sectional areas of 5A,... Is S M (z),
n ef (z) = 1 × S A (z) / (S A (z) + S M (z)) + n A × S M (z) / (S A (z) + S M (z)) (Formula 1 )
It is represented by This is because the refractive index n A of the peripheral medium and the refractive index n M of the constituent material of the microprojections are respectively expressed as a total sectional area S A (z) of the peripheral medium and a total value S M (z) of the total sectional area of the microprojections. Proportionally distributed value.

ここで、単峰性の微小突起5を基準にして考えたときに、多峰性の微小突起5A、5B、・・は、頂部近傍が複数の峰に分裂している。そのため、頂部近傍を切断する仮想的切断面Z=zにおいて、多峰性の微小突起5A、5B、・・は、単峰性の微小突起5、・・に比べて相対的に低屈折率である周辺媒質の合計断面積S(z)の比率が、相対的に高屈折率である微小突起の合計断面積S(z)の比率に比べて、より増大することになる。 Here, when considering the single-peaked microprojections 5 as a reference, the multi-peak microprojections 5A, 5B,... Therefore, in the virtual cutting plane Z = z that cuts the vicinity of the top, the multimodal microprotrusions 5A, 5B,... Have a relatively low refractive index compared to the single-peak microprotrusions 5,. The ratio of the total cross-sectional area S A (z) of a certain peripheral medium is further increased as compared with the ratio of the total cross-sectional area S M (z) of the microprojections having a relatively high refractive index.

その結果、仮想的切断面Z=zにおける有効屈折率nef(z)は、多峰性の微小突起5A、5B、・・の方が単峰性の微小突起5、・・に比べて、より周辺媒質の屈折率nに近くなる。面Z=zにおける多峰性の微小突起の有効屈折率と周辺媒質の屈折率との差を|nef(z)−n(z)|multi、単峰性の微小突起の有効屈折率と周辺媒質の屈折率との差を|nef(z)−n(z)|monoとすると、
|nef(z)−n(z)|multi<|nef(z)−n(z)|mono(式2)
となる。ここでn(z)=1とすると、
|nef(z)−1|multi<|nef(z)−1|mono(式2A)
となる。
As a result, the effective refractive index n ef (z) at the virtual cut surface Z = z is larger than that of the multimodal microprotrusions 5A, 5B,. It becomes closer to the refractive index n A of the peripheral medium. The difference between the refractive index of the effective refractive index and the surrounding medium multimodal microprotrusions in the plane Z = z | n ef (z ) -n A (z) | multi, the effective refractive index of the unimodal microprojection the difference between the refractive index of the surrounding medium and | n ef (z) -n a (z) | When mono,
| N ef (z) −n A (z) | multi <| n ef (z) −n A (z) | mono (Expression 2)
It becomes. Here, if n A (z) = 1,
| N ef (z) -1 | multi <| n ef (z) -1 | mono (Formula 2A)
It becomes.

これにより頂部近傍において、多峰性の微小突起を含む微小突起群(各微小突起間に周辺媒質を含む)については、単峰性の微小突起のみからなる突起群に比べて、その有効屈折率と周辺媒質(空気)の屈折率との差、より詳細に言えば、微小突起の高さ方向の単位距離当たりの屈折率の変化率をより低減化すること、換言すれば、屈折率の高さ方向変化の連続性をより高めること)が可能になることが判る。   As a result, the effective refractive index of the microprojection group including the multi-peak microprojections (including the peripheral medium between the microprojections) in the vicinity of the top portion is higher than that of the single-peak microprojection group. And, more specifically, the rate of change of the refractive index per unit distance in the height direction of the microprojections is further reduced, in other words, the refractive index is high. It can be seen that it is possible to further increase the continuity of the change in direction.

一般に、隣接する屈折率nの媒質と屈折率nの媒質との界面に光が入射する場合に、該界面における光の反射率Rは、入射角=0として、
R=(n−n/(n+n(式3)
となる。この式より界面両側の媒質の屈折率差n−nが小さいほど界面での光の反射率Rは減少し、(n−n)が値0に近づけばRも値0に近づくことになる。
In general, when light is incident on an interface between an adjacent medium having a refractive index n 0 and a medium having a refractive index n 1 , the reflectance R of the light at the interface is set as an incident angle = 0.
R = (n 1 −n 0 ) 2 / (n 1 + n 0 ) 2 (Formula 3)
It becomes. From this equation, the smaller the refractive index difference n 1 -n 0 between the media on both sides of the interface, the lower the light reflectivity R at the interface, and as (n 1 -n 0 ) approaches 0, R also approaches 0. It will be.

(式2)、(式2A)及び(式3)より、多峰性の微小突起5A、5B、・・を含む微小突起群(各微小突起間に周辺媒質を含む)については、単峰性の微小突起5、・・のみからなる突起群に比べて光の反射率が低減する。   From (Expression 2), (Expression 2A), and (Expression 3), the microprotrusion group (including the peripheral medium between the microprotrusions) including the multimodal microprotrusions 5A, 5B,. The light reflectance is reduced as compared with the projection group consisting of only the minute projections 5.

なお単峰性の微小突起5のみからなる微小突起群を用いても、隣接突起間距離の最大値dmaxを反射防止を図る電磁波の波長帯域の最短波長λmin以下の十分小さな値にすることによって、十分な反射防止効果を発現することは可能である。但し、その場合、隣接峰間の距離と隣接微小突起間距離とが同一となる為、隣接微小突起間が接触、一体複合化する現象(いわゆるスティッキング)が発生し易くなる。スティッキングを生じると、実質上の隣接突起間距離dは一体複合化した微小突起数の分だけ増加する。   Even if a microprojection group consisting of only single-peak microprojections 5 is used, by setting the maximum value dmax of the distance between adjacent projections to a sufficiently small value not more than the shortest wavelength λmin of the wavelength band of the electromagnetic wave for preventing reflection, It is possible to exhibit a sufficient antireflection effect. However, in this case, since the distance between adjacent peaks and the distance between adjacent minute protrusions are the same, a phenomenon (so-called sticking) in which adjacent minute protrusions are brought into contact with each other and integrated together is likely to occur. When sticking occurs, the substantial distance d between adjacent protrusions increases by the number of minute protrusions integrated together.

例えば、d=200nmの微小突起が4個スティッキングすると、実質上、スティッキングして一体化した突起の大きさは、d=4×200nm=800nm>可視光線帯域の最長波長(780nm)となり、これにより局所的に反射防止効果を損なうことになる。   For example, when four microprojections with d = 200 nm are stuck, the size of the stuck and integrated projection is substantially d = 4 × 200 nm = 800 nm> the longest wavelength in the visible light band (780 nm). The antireflection effect is locally impaired.

一方、多峰性の微小突起5A、5B、・・からなる微小突起群の場合、頂部近傍の各峰間の隣接突起間距離dPEAKは、麓から中腹にかけての微小突起本体部の隣接突起間距離dBASEよりも小さくなり(dPEAK<dBASE)、通常、dPEAK=dBASE/4〜dBASE/2程度である。その為、各峰間の隣接突起間距離dPEAK≪λminとすることで十分な反射防止性能を得ることができる。但し、多峰性の微小突起の各峰部は、麓部の幅に対する峰部の高さの比が小さく、単峰性の微小突起の麓部の幅に対する頂点の高さの比の1/2〜1/10程度である。従って、同じ外力に対して、多峰性微小突起の峰部は単峰性の微小突起に比べての変形し難い。且つ、多峰性微小突起の本体部自体は峰部よりも隣接突起間距離は大であり、且つ強度も大である。その為、結局、多峰性の微小突起からなる微小突起群は、単峰性の微小突起からなる突起群に比べて、スティッキングの生じ難さと低反射率とを容易に両立させることができる。 On the other hand, in the case of a microprojection group consisting of multimodal microprotrusions 5A, 5B,..., The distance between adjacent protuberances d PEAK between the peaks in the vicinity of the apex is between the adjacent protuberances of the microprotrusion main body from the heel to the middle It is smaller than the distance d BASE (d PEAK <d BASE ), and is usually about d PEAK = d BASE / 4 to d BASE / 2. Therefore, sufficient antireflection performance can be obtained by setting the distance d PEAK << λmin between adjacent protrusions between the peaks. However, each peak of the multi-peak microprojection has a small ratio of the height of the peak to the width of the ridge, and 1 / of the ratio of the height of the apex to the width of the ridge of the single-peak microprojection. It is about 2 to 1/10. Therefore, for the same external force, the peak of the multimodal microprotrusions is less likely to deform than the single-peak microprotrusions. In addition, the main body itself of the multimodal microprotrusions has a greater distance between adjacent protrusions and a greater strength than the ridges. Therefore, after all, the microprojection group composed of multimodal microprotrusions can easily achieve both the difficulty of sticking and the low reflectance as compared with the projection group composed of monomodal microprotrusions.

なお可視光の反射防止用途の他の用途であっても、又は可視光環境下であっても、当該反射防止材料が設置、使用される環境条件に応じて、想定する反射防止波長に応じたモスアイ構造を形成し、高さ分布を持たせる事により、前記の通り、従来のものより耐擦傷性があり、かつ、プロセス要件などで低硬度の材料を使用した場合においても互いのスティッキングを防止し、光学的必要性能を合わせ持つ反射防止材料を作製する事が可能となる。例えば、380nm前後の紫外領域について反射防止性能を得たい場合はモスアイの高さが約50μmでも可能であり、同様に700nm前後の赤外領域については約150μm〜実用上を考慮し400μmであれば可能である。なお、前記の通りモスアイの配置ピッチについては高さについて飽和するような製作条件を見出し、モスアイの反射率を効果的に操作する事が可能である。さらに、モスアイの頂部構造についても、従来の単峰から改良を加える事で高さと反射率を両立し、かつ物理的にスティッキングを起こしにくく、効果的に反射率を低減する事が可能となっている。   In addition, even if it is other uses for antireflection of visible light, or under a visible light environment, the antireflection material depends on the assumed antireflection wavelength depending on the environmental conditions where the antireflection material is installed and used. By forming a moth-eye structure and having a height distribution, as mentioned above, even when materials with lower hardness due to process requirements are used, they prevent sticking to each other. In addition, it is possible to produce an antireflection material having both optically required performance. For example, when it is desired to obtain antireflection performance in the ultraviolet region around 380 nm, the moth-eye height can be about 50 μm. Similarly, the infrared region around 700 nm is about 150 μm to 400 μm in consideration of practical use. Is possible. As described above, it is possible to find manufacturing conditions that saturate the height of the arrangement pitch of the moth-eye, and to effectively control the reflectance of the moth-eye. In addition, the top structure of the moth-eye can be improved from the conventional single peak to achieve both height and reflectivity, and it is difficult to cause physical sticking and can effectively reduce reflectivity. Yes.

〔潤滑層〕
図7(a)に示すように、反射防止物品1は、微小突起5に係る樹脂表面に、フッ素系潤滑剤形成後に電離放射線を照射してなる潤滑層3が設けられる。ここで潤滑層3は、パーフルオロアルキルポリエーテルを含有するフッ素系潤滑剤である。
(Lubricating layer)
As shown to Fig.7 (a), the antireflection article 1 is provided with the lubricating layer 3 which irradiates the ionizing radiation after forming a fluorine-type lubricant on the resin surface which concerns on the microprotrusion 5. FIG. Here, the lubricating layer 3 is a fluorine-based lubricant containing perfluoroalkyl polyether.

フッ素系潤滑剤として、本発明においては、パーフルオロアルキルポリエーテルを含有するフッ素系潤滑剤を用いる。パーフルオロアルキルポリエーテルは、例えば下記一般式で表されるパーフルオロアルキルポリエーテルを分子骨格に持つフッ素化合物である。   As the fluorine-based lubricant, in the present invention, a fluorine-based lubricant containing perfluoroalkyl polyether is used. The perfluoroalkyl polyether is a fluorine compound having a perfluoroalkyl polyether represented by the following general formula as a molecular skeleton, for example.

[化1]
RfA−(RfN−O−)n−RfZ
(RfAは水素原子、フッ素原子、及びフッ素原子で置換されていても良いアルキル基を示し、RfN、RfZは一部、又はすべてがフッ素原子で置換されていても良いアルキレン基を示し、同一でも異なっていても良い。nは1以上の整数を示し、nが2以上の場合、複数のRfNは同一でも異なっていても良い。ただし、RfA、RfN、RfZのうちの少なくとも1つはフッ素置換基を有する。)
[Chemical 1]
Rf A- (Rf N -O-) n -Rf Z
(Rf A represents a hydrogen atom, a fluorine atom and an alkyl group which may be substituted with a fluorine atom, and Rf N and Rf Z represent an alkylene group which may be partially or entirely substituted with a fluorine atom. N may be the same or different, and n represents an integer of 1 or more, and when n is 2 or more, a plurality of Rf N may be the same or different, but of Rf A , Rf N , and Rf Z At least one of which has a fluorine substituent.)

具体的には、例えば、図9の一般式で表されるデュポン社製のKrytox(登録商標)100から107のような、ポリ(ヘキサフルオロプロピレンオキサイド)が好ましく挙げられる。基油が図9に示す低分子量のヘキサフルオロプロピレンエポキシドであり、この基油は末端がフッ素で封鎖されたホモポリモノマーである。   Specifically, for example, poly (hexafluoropropylene oxide) such as Krytox (registered trademark) 100 to 107 manufactured by DuPont represented by the general formula of FIG. 9 is preferable. The base oil is a low molecular weight hexafluoropropylene epoxide shown in FIG. 9, and this base oil is a homopolymonomer whose ends are blocked with fluorine.

フッ素系潤滑剤としては、好ましくはフッ素系液状潤滑剤(オイル)が適用され、フッ素系潤滑剤の40℃における粘度が、1mm/S以上1000mm/S以下であることが好ましい。 As the fluorine-based lubricant, a fluorine-based liquid lubricant (oil) is preferably applied, and the viscosity of the fluorine-based lubricant at 40 ° C. is preferably 1 mm 2 / S or more and 1000 mm 2 / S or less.

潤滑層は、全面に塗布して、微小突起に係る反射防止物品1表面の凹凸形状を損なって反射防止機能を損なうことがない程度の薄い膜厚、例えば塗布量で0.5〜10g/mにより作成される。 The lubricating layer is applied to the entire surface, and is thin enough to prevent the irregular shape on the surface of the antireflective article 1 related to the fine protrusions from being impaired, for example, 0.5 to 10 g / m in application amount. 2 is created.

本発明においては、この潤滑層に対して電離放射線を照射することにより、最終的に潤滑層3を形成するが、これについては後述の製造方法について述べる。   In the present invention, the lubricating layer 3 is finally formed by irradiating the lubricating layer with ionizing radiation. This will be described in the manufacturing method described later.

これらによりこの実施形態では、微小突起の表面にフッ素系潤滑剤をコーティングし、更に電離放射線照射することで、微小突起表面を超低摩擦表面とすることができ、反射防止性能を損なうことなく、乾拭きで汚れを拭き取ることが可能になる。またこの種の反射防止物品に係る汚れのうちで、最も処理の困難な指紋であっても、乾拭きで汚れを拭き取ることが可能になる。   Thus, in this embodiment, the surface of the fine protrusion is coated with a fluorine-based lubricant, and further irradiated with ionizing radiation, the surface of the fine protrusion can be an ultra-low friction surface, without impairing the antireflection performance, It becomes possible to wipe off dirt by dry wiping. Further, among the dirts related to this type of antireflection article, even the most difficult fingerprints can be wiped off by dry wiping.

すなわち、本発明の潤滑層3は、十分な撥水性を確保して滑り性(潤滑性)を確保することができる。これにより表面に付着した指紋等にかかる汚れにあっては、乾拭きにより簡易に表面より引き剥がすことができる。またこのように引き剥がした汚れにあっては、突起間の谷に落ち込まないようにして、速やかに除去することができ、これにより指紋にあっても乾拭きにより簡易に除去することができる。   That is, the lubricating layer 3 of the present invention can ensure sufficient water repellency and ensure slipperiness (lubricity). As a result, dirt on fingerprints attached to the surface can be easily removed from the surface by dry wiping. In addition, the peeled-off dirt can be quickly removed without falling into the valleys between the protrusions, so that even fingerprints can be easily removed by dry wiping.

〔製造工程〕
図8は、この反射防止物品1の製造工程を示す図である。この製造工程は、金型作成工程(ステップSP2)において、微小突起の作成に供する賦型処理用金型が作成される。また賦型工程(ステップSP3)において、この金型を使用した賦型処理により基材2に微小突起5が作成される。また続いて潤滑層作成工程(ステップSP4)において、潤滑層が形成され、その後に電離放射線照射工程(ステップSP5)が行われて最終的に潤滑層3が形成される。この製造工程は、さらに画像表示パネルに配置するための粘着剤層、セパレータフィルム等が設けられ、所望の大きさに切断して反射防止物品が作製される。
〔Manufacturing process〕
FIG. 8 is a diagram illustrating a manufacturing process of the antireflection article 1. In this manufacturing process, a mold for forming process is prepared in the mold creating process (step SP2). Further, in the molding process (step SP3), the fine protrusions 5 are created on the base material 2 by the molding process using this mold. Further, subsequently, in the lubricating layer creating step (step SP4), a lubricating layer is formed, and thereafter the ionizing radiation irradiation step (step SP5) is performed to finally form the lubricating layer 3. In this manufacturing process, an adhesive layer, a separator film, and the like for further placement on the image display panel are provided, and an antireflection article is produced by cutting into a desired size.

図10は、ステップSP3に係る反射防止物品1の製造工程を示す図である。この製造工程10は、樹脂供給工程において、ダイ12により帯状フィルム形態の基材2に微小突起形状の受容層を構成する未硬化で液状の紫外線硬化性樹脂を塗布する。なお紫外線硬化性樹脂の塗布については、ダイ12による場合に限らず、各種の手法を適用することができる。続いてこの製造工程10は、押圧ローラ14により、反射防止物品の賦型用金型であるロール版13の周側面に基材2を加圧押圧し、これにより基材2に未硬化状態で液状のアクリレート系紫外線硬化性樹脂を密着させると共に、ロール版13の周側面に作製された微細な凹凸形状の凹部に紫外線硬化性樹脂を充分に充填する。この製造工程は、この状態で、紫外線の照射により紫外線硬化性樹脂を硬化させ、これにより基材2の表面に微小突起群を作製する。この製造工程は、続いて剥離ローラ15を介してロール版13から、硬化した紫外線硬化性樹脂と一体に基材2を剥離する。製造工程10は、必要に応じてこの基材2に粘着層等を作製した後、所望の大きさに切断して反射防止物品1を作製する。これにより反射防止物品1は、ロール材による長尺の基材2に、賦型用金型であるロール版13の周側面に作製された微細形状を順次賦型して、効率良く大量生産される。   FIG. 10 is a diagram illustrating a manufacturing process of the antireflection article 1 according to Step SP3. In the manufacturing process 10, in the resin supply process, an uncured and liquid ultraviolet curable resin that forms a microprojection-shaped receiving layer is applied to the base material 2 in the form of a belt-shaped film by the die 12. In addition, about application | coating of an ultraviolet curable resin, not only the case by the die | dye 12 but various methods are applicable. Subsequently, in this manufacturing process 10, the substrate 2 is pressed and pressed onto the peripheral side surface of the roll plate 13 which is a mold for shaping the antireflection article by the pressing roller 14, and thereby the substrate 2 is uncured. The liquid acrylate-based ultraviolet curable resin is brought into close contact, and the fine concavo-convex recesses formed on the peripheral side surface of the roll plate 13 are sufficiently filled with the ultraviolet curable resin. In this state, in this manufacturing process, the ultraviolet curable resin is cured by irradiation with ultraviolet rays, and thereby a microprojection group is produced on the surface of the substrate 2. In this manufacturing process, the substrate 2 is peeled off from the roll plate 13 through the peeling roller 15 together with the cured ultraviolet curable resin. In the production process 10, an anti-reflection article 1 is produced by producing an adhesive layer or the like on the substrate 2 as necessary, and then cutting it into a desired size. Accordingly, the antireflection article 1 is mass-produced efficiently by sequentially molding the fine shape produced on the peripheral side surface of the roll plate 13 which is a mold for molding on the long base material 2 made of a roll material. The

〔賦型用金型〕
図11は、ロール版13の構成を示す斜視図である。ロール版13は、円筒形状の金属材料である母材の周側面に、陽極酸化処理、エッチング処理の繰り返しにより、微細な凹凸形状が作製され、この微細な凹凸形状が上述したように基材2に賦型される。このため母材は、少なくとも周側面に純度の高いアルミニウム層が設けられた円柱形状又は円筒形状の部材が適用される。より具体的に、この実施形態では、母材に中空のステンレスパイプが適用され、直接に又は各種の中間層を介して、純度の高いアルミニウム層が設けられる。なおステンレスパイプに代えて、銅やアルミニウム等のパイプ材等を適用してもよい。ロール版13は、陽極酸化処理とエッチング処理との繰り返しにより、母材の周側面に微細穴が密に作製され、この微細穴を掘り進めると共に、開口部に近付くに従ってより大きな径となるようにこの微細穴の穴径を徐々に拡大して凹凸形状が作製される。これによりロール版13は、深さ方向に徐々に穴径が小さくなる微細穴が密に作製され、反射防止物品1には、この微細穴に対応して、頂部に近付くに従って徐々に径が小さくなる多数の微小突起により微細な凹凸形状が作製される。その際に、アルミニウム層の純度(不純物量)や結晶粒径、陽極酸化処理及び/又はエッチング処理等の諸条件を適宜調整することによって、本発明特有の微小突起形状とする。
[Molding mold]
FIG. 11 is a perspective view showing the configuration of the roll plate 13. The roll plate 13 has a fine concavo-convex shape formed on the peripheral side surface of the base material, which is a cylindrical metal material, by repeating anodizing treatment and etching treatment, and the fine concavo-convex shape is formed on the substrate 2 as described above. It is shaped. For this reason, a columnar or cylindrical member in which a high-purity aluminum layer is provided at least on the peripheral side surface is used as the base material. More specifically, in this embodiment, a hollow stainless steel pipe is applied to the base material, and a high-purity aluminum layer is provided directly or via various intermediate layers. In addition, it may replace with a stainless steel pipe and may apply pipe materials, such as copper and aluminum. In the roll plate 13, fine holes are densely formed on the peripheral side surface of the base material by repeating the anodizing treatment and the etching treatment, and the fine holes are dug, and the diameter of the roll plate 13 increases as it approaches the opening. The concavo-convex shape is produced by gradually increasing the diameter of the fine holes. As a result, the roll plate 13 is closely formed with fine holes whose diameter gradually decreases in the depth direction, and the diameter of the antireflection article 1 gradually decreases as it approaches the top corresponding to the fine holes. A fine concavo-convex shape is produced by a large number of fine protrusions. At that time, by appropriately adjusting various conditions such as the purity (impurity amount), crystal grain size, anodizing treatment and / or etching treatment of the aluminum layer, the shape of the fine protrusion unique to the present invention is obtained.

〔陽極酸化処理、エッチング処理〕
図12は、ロール版13の製造工程を示す図である。この製造工程は、電解溶出作用と、砥粒による擦過作用の複合による電解複合研磨法によって母材の周側面を超鏡面化する(電解研磨)。続いてこの工程は、母材の周側面にアルミニウムをスパッタリングし、純度の高いアルミニウム層を作製する。続いてこの工程は、陽極酸化工程A1、…、AN、エッチング工程E1、…、ENを交互に繰り返して母材を処理し、ロール版13を作製する。
[Anodic oxidation treatment, etching treatment]
FIG. 12 is a diagram illustrating a manufacturing process of the roll plate 13. In this manufacturing process, the peripheral side surface of the base material is made into a super mirror surface by an electrolytic composite polishing method that combines electrolytic elution action and abrasion action by abrasive grains (electrolytic polishing). Subsequently, in this step, aluminum is sputtered on the peripheral side surface of the base material to produce a high-purity aluminum layer. Subsequently, in this process, the base material is processed by alternately repeating the anodic oxidation processes A1,..., AN, and the etching processes E1,.

この製造工程において、陽極酸化工程A1、…、ANでは、陽極酸化法により母材の周側面に微細な穴を作製し、さらにこの作製した微細な穴を掘り進める。ここで陽極酸化工程では、例えば負極に炭素棒、ステンレス板材等を使用する場合のように、アルミニウムの陽極酸化に適用される各種の手法を広く適用することができる。また溶解液についても、中性、酸性の各種溶解液を使用することができ、より具体的には、例えば硫酸水溶液、シュウ酸水溶液、リン酸水溶液等を使用することができる。この製造工程A1、…、ANは、液温、印加する電圧、陽極酸化に供する時間等の管理により、微細な穴をそれぞれ目的とする深さ及び微小突起形状に対応する形状に作製する。   In this manufacturing process, in the anodic oxidation steps A1,..., AN, a fine hole is produced on the peripheral side surface of the base material by an anodic oxidation method, and the produced fine hole is further dug. Here, in the anodic oxidation step, various methods applied to the anodic oxidation of aluminum can be widely applied, for example, when a carbon rod, a stainless steel plate, or the like is used for the negative electrode. Further, as the solution, various neutral and acid solutions can be used. More specifically, for example, a sulfuric acid aqueous solution, an oxalic acid aqueous solution, a phosphoric acid aqueous solution and the like can be used. In the manufacturing steps A1,..., AN, the fine holes are formed in shapes corresponding to the target depth and the shape of the fine protrusions, respectively, by managing the liquid temperature, the applied voltage, the time for anodization, and the like.

続くエッチング工程E1、…、ENは、金型をエッチング液に浸漬し、陽極酸化工程A1、…、ANにより作製、掘り進めた微細な穴の穴径をエッチングにより拡大し、深さ方向に向かって滑らか、かつ徐々に穴径が小さくなるように、これら微細な穴を整形する。なおエッチング液については、この種の処理に適用される各種エッチング液を広く適用することができ、より具体的には、例えば硫酸水溶液、シュウ酸水溶液、リン酸水溶液等を使用することができる。これらによりこの製造工程では、陽極酸化処理とエッチング処理とを交互にそれぞれ複数回実行することにより、賦型に供する微細穴を母材の周側面に作製する。   In the subsequent etching process E1,..., EN, the mold is immersed in an etching solution, the hole diameter of the fine hole produced and dug in the anodizing process A1,. These fine holes are shaped so that the hole diameter becomes smaller and smoother. As the etching solution, various etching solutions that are applied to this type of treatment can be widely applied. More specifically, for example, a sulfuric acid aqueous solution, an oxalic acid aqueous solution, a phosphoric acid aqueous solution, or the like can be used. As a result, in this manufacturing process, the anodizing process and the etching process are alternately performed a plurality of times, so that fine holes for forming are formed on the peripheral side surface of the base material.

この実施形態ではこのように陽極酸化処理とエッチング処理との交互の繰り返しにより、穴径を拡大しながら微細穴を掘り進め、これにより微小突起の賦型に供する微細穴が作製される。多峰性の微小突起は、係る構造の頂部に対応する形状の凹部を備えた微小穴により作成されるものであり、このような微小穴は、極めて近接して作製された微細穴が、エッチング処理により、一体化して作製されるものである。これにより多峰性の微小突起と単峰性の微小突起とを混在させるには、陽極酸化により作製される微細穴の間隔を大きくばらつかせることにより実現することができ、陽極酸化処理におけるばらつきを大きくすることにより実現することができる。   In this embodiment, by repeating the anodic oxidation process and the etching process in this way, the micro hole is dug while expanding the hole diameter, and thereby the micro hole for forming the minute projection is produced. Multi-modal microprotrusions are created by microholes having a concave shape corresponding to the top of the structure, and such microholes are etched very closely. It is produced integrally by processing. This makes it possible to mix multi-peak microprojections and single-peak microprotrusions by greatly varying the distance between the microholes produced by anodization, and variations in anodization treatment. This can be realized by increasing.

また微細穴の高さのばらつきは、ロール版に作製される微細穴の深さのばらつきによるものであり、このような微細穴の深さのばらつきについても、陽極酸化処理におけるばらつきに起因するものと言える。   In addition, the variation in the height of the fine hole is due to the variation in the depth of the fine hole produced in the roll plate, and this variation in the depth of the fine hole is also caused by the variation in the anodizing process. It can be said.

これらによりこの実施形態では、ばらつきが大きくなるように、陽極酸化処理における条件を設定し、頂点が複数の微小突起と単峰性の微小突起とが混在し、かつ微小突起の高さがばらついた反射防止物品を生産する。   Accordingly, in this embodiment, the conditions in the anodizing process are set so that the variation is large, the apexes are a mixture of a plurality of microprojections and unimodal microprojections, and the heights of the microprojections vary. Produce anti-reflective articles.

ここで陽極酸化処理における印加電圧(化成電圧)と微細穴の間隔とは比例関係にあり、さらに一定範囲より印加電圧が逸脱するとばらつきが大きくなる。これにより例えば濃度0.01M〜0.03Mの硫酸、シュウ酸、リン酸の水溶液を使用して、電圧15V(第1工程)〜35V(第2工程:第1工程に対して約2.3倍)の印加電圧により、多峰性の微小突起と単峰性の微小突起とが混在し、かつ微小突起の高さがばらついた反射防止物品生産用のロール版を作製することができる。この条件の基で、印加電圧が変動すると、微細穴の間隔のばらつきが大きくなることにより、例えば直流電源によりバイアスした交流電源を使用して印加用電圧を生成したり、印加電圧を意図的に変動させたり、電圧変動率の大きな電源を使用して陽極酸化処理することによりばらつきを大きくすることができる。   Here, the applied voltage (formation voltage) in the anodic oxidation treatment and the interval between the fine holes are in a proportional relationship, and the variation increases when the applied voltage deviates from a certain range. Thus, for example, using an aqueous solution of sulfuric acid, oxalic acid, and phosphoric acid having a concentration of 0.01 M to 0.03 M, a voltage of 15 V (first step) to 35 V (second step: about 2.3 with respect to the first step). A roll plate for producing an antireflective article in which multi-peaked microprojections and monomodal microprojections coexist and the heights of the microprojections vary can be produced. If the applied voltage fluctuates under this condition, the variation in the space between the micro holes increases, so that for example, an applied voltage can be generated using an AC power source biased by a DC power source, or the applied voltage can be intentionally The variation can be increased by performing anodization using a power source having a large voltage variation rate.

〔潤滑層作成工程〕
潤滑層作成工程では、フッ素系液状潤滑剤を一定の膜厚により塗布し、潤滑層を作成する。なお塗布方法にあっては、例えばマイヤーバーにより塗布する場合等、種々の塗布方向を広く適用することができる。
[Lubrication layer creation process]
In the lubrication layer creation step, a fluorine-based liquid lubricant is applied with a certain film thickness to create a lubrication layer. In the application method, various application directions can be widely applied, for example, when applying with a Meyer bar.

〔電離放射線照射工程〕
電離放射線としては、電子線、α線、β線、陽子線などの直接電離放射線の他、X、ガンマ線、中性子線などの間接電離放射線が挙げられるが、なかでも電子線が好ましい。従来公知の電子線照射装置を用いることができ、照射量は30kGyから120kGyが好ましく、30kGy未満であると本発明の指紋等の汚れ除去で効果が十分得られず、また塗布物の変性に及ばず反射率の低下がみられない。一方120kGyを超えると、微小突起を構成する樹脂の劣化などが生じやすく、塗布物の分解により、指紋除去等の効果が十分に得られなくなるので好ましくない。
[Ionizing radiation irradiation process]
Examples of the ionizing radiation include direct ionizing radiation such as electron beam, α-ray, β-ray, and proton beam, and indirect ionizing radiation such as X, gamma ray, and neutron beam, among which electron beam is preferable. A conventionally known electron beam irradiation apparatus can be used, and the irradiation amount is preferably from 30 kGy to 120 kGy, and if it is less than 30 kGy, the effect of removing dirt such as fingerprints of the present invention cannot be sufficiently obtained, and the coating material can be modified. No decrease in reflectivity is observed. On the other hand, if it exceeds 120 kGy, the resin constituting the microprotrusions is likely to be deteriorated, and the effect of removing the fingerprint cannot be sufficiently obtained due to the decomposition of the coated material.

なお、この電離放射線照射工程を経て、潤滑層3表面の接触角が、水に対する接触角で100度以上、n−ヘキサンに対する接触角で50度以上となる程度まで行うことが好ましい。   In addition, it is preferable to carry out through this ionizing radiation irradiation process to such an extent that the contact angle of the surface of the lubricating layer 3 becomes 100 degrees or more in water contact angle and 50 degrees or more in n-hexane contact angle.

〔他の実施形態〕
以上、本発明の実施に好適な具体的な構成を詳述したが、本発明は、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で、上述の実施形態の構成を種々に変更し、さらには従来構成と組み合わせることができる。
Other Embodiment
The specific configuration suitable for the implementation of the present invention has been described in detail above. However, the present invention can be variously modified from the configuration of the above-described embodiment without departing from the spirit of the present invention, and further the conventional configuration. Can be combined.

すなわち上述の実施形態では、陽極酸化処理とエッチング処理との繰り返し回数をそれぞれ3(〜5)回に設定する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、繰り返し回数をこれ以外の回数に設定してもよく、またこのように複数回処理を繰り返して、最後の処理を陽極酸化処理とする場合にも広く適用することができる。   That is, in the above-described embodiment, the case where the number of repetitions of the anodizing treatment and the etching treatment is set to 3 (to 5) each is described, but the present invention is not limited to this, and the number of repetitions is set to other times. In addition, the present invention can be widely applied to the case where the process is repeated a plurality of times and the final process is anodizing.

本発明の反射防止物品は、例えば、液晶表示パネル、電場発光表示パネル、プラズマ表示パネル等の各種画像表示パネルの表側面に配置して視認性を向上する用途に好適に用いられるが、本発明はこれに限らず、例えば液晶表示パネルの裏面側に配置してバックライトから液晶表示パネルへの入射光の反射損失を低減させる場合(入射光利用効率を増大させる場合)にも広く適用することができる。尚、ここで画像表示パネルの表面側とは、該画像表示パネルの画像光の出光面であり、画像観察者側の面でもある。又、画像表示パネルの裏面側とは、該画像表示パネルの表面の反対側面であり、バックライト(背面光源)を用いる透過型画像表示裝置の場合は、該バックライトからの照明光の入光面でもある。   The antireflective article of the present invention is preferably used for the purpose of improving the visibility by arranging it on the front side of various image display panels such as a liquid crystal display panel, an electroluminescent display panel, a plasma display panel, etc. However, the present invention is not limited to this. For example, it can be widely applied to the case where it is arranged on the back side of the liquid crystal display panel to reduce the reflection loss of incident light from the backlight to the liquid crystal display panel (in the case of increasing incident light utilization efficiency). Can do. Here, the surface side of the image display panel is a light output surface of the image display panel and also a surface on the image observer side. The back side of the image display panel is the opposite side of the surface of the image display panel. In the case of a transmissive image display apparatus using a backlight (back light source), the incident light from the backlight is incident. It is also a surface.

また、上述の実施形態では、賦型用樹脂にアクリレート系の紫外線硬化性樹脂を適用する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、エポキシ系、ポリエステル系等の各種紫外線硬化性樹脂、或いはアクリレート系、エポキシ系、ポリエステル系等の電子線硬化性樹脂、ウレタン系、エポキシ系、ポリシロキサン系等の熱硬化性樹脂等の各種材料及び各種硬化形態の賦型用樹脂を使用する場合にも広く適用することができ、さらには例えば加熱した熱可塑性の樹脂を押圧して賦型する場合等にも広く適用することができる。   Moreover, in the above-described embodiment, the case where an acrylate-based ultraviolet curable resin is applied to the shaping resin has been described. However, the present invention is not limited thereto, and various ultraviolet curable resins such as epoxy-based and polyester-based resins, Or when using various materials such as acrylate-based, epoxy-based, polyester-based and other electron-beam curable resins, urethane-based, epoxy-based, polysiloxane-based thermosetting resins, and various curing forms of molding resins. Can also be widely applied. For example, the present invention can also be widely applied to the case of shaping by pressing a heated thermoplastic resin.

また、上述の実施形態では、図1に図示の如く、基材2の一方の面上に受容層(紫外線硬化性樹脂層)4を積層してなる積層体の該受容層4上に微小突起群5、5A、5B、・・を賦形し、該受容層4を硬化せしめて反射防止物品1を形成している。層構成としては2層の積層体となる。但し、本発明は、かかる形態のみに限定される訳では無い。本発明の反射防止物品1は、図示は略すが、基材2の一方の面上に、他の層を介さずに直接、微小突起群5、5A、5B、・・を賦形した単層構成であっても良い。或いは、基材2の一方の面に1層以上の中間層(層間の密着性、塗工適性、表面平滑性等の基材表面性能を向上させる層。プライマー層、アンカー層等とも呼称される。)を介して受容層4を形成し、該受容層表面に微小突起群5、5A、5B、・・を賦形した3層以上の積層体であっても良い。   Further, in the above-described embodiment, as shown in FIG. 1, microprojections are formed on the receiving layer 4 of the laminate formed by laminating the receiving layer (ultraviolet curable resin layer) 4 on one surface of the substrate 2. The groups 5, 5A, 5B,... Are shaped and the receiving layer 4 is cured to form the antireflection article 1. The layer structure is a two-layer laminate. However, the present invention is not limited to such a form. Although not shown, the antireflection article 1 of the present invention is a single layer in which the microprojections 5, 5A, 5B,... Are directly formed on one surface of the substrate 2 without interposing another layer. It may be a configuration. Alternatively, one or more intermediate layers on one surface of the substrate 2 (layers that improve substrate surface performance such as interlayer adhesion, coating suitability, surface smoothness, etc. Also referred to as primer layer, anchor layer, etc. .) May be formed, and a laminate of three or more layers in which the microprotrusions 5, 5A, 5B,... Are formed on the surface of the receptor layer may be used.

更に、上述の実施形態では、図1にも図示の如く、基材2の一方の面上にのみ(直接或いは他の層を介して)微小突起群5、5A、5B、・・を形成しているが、本発明はかかる形態には限定されない。基材2の両面上に(直接或いは他の層を介して)各々微小突起群5、5A、5B、・・を形成した構成であっても良い。
また、図示は略すが、図1等に図示の如き本発明の反射防止物品1において、基材2の微小突起群形成面とは反対側の面(図1においては基材2の下側面)に各種接着剤層を形成し、更に該接着剤層表面に離型フィルム(離型紙)を剥離可能に積層してなる接着加工品の形態とすることも出来る。かかる形態においては、離型フィルムを剥離除去して接着剤層を露出せしめ、該接着剤層により所望の物品の所望の表面上に本発明の反射防止物品1を貼り合わせ、積層することが出来、簡便に所望の物品に反射防止性能を付与することが出来る。接着剤としては、粘着剤(感圧接着剤)、2液硬化型接着剤、紫外線硬化型接着剤、熱硬化型接着剤、熱熔融型接着剤等の公知の接着形態のものが各種使用出来る。
Further, in the above-described embodiment, as shown in FIG. 1, the microprojections 5, 5A, 5B,... Are formed only on one surface of the base material 2 (directly or via another layer). However, the present invention is not limited to such a form. The microprojection groups 5, 5A, 5B,... May be formed on both surfaces of the substrate 2 (directly or via other layers).
Although not shown, in the antireflection article 1 of the present invention as shown in FIG. 1 and the like, the surface opposite to the surface on which the microprojections are formed of the substrate 2 (the lower surface of the substrate 2 in FIG. 1). Various adhesive layers are formed on the adhesive layer, and a release film (release paper) is laminated on the surface of the adhesive layer so as to be peelable. In such a form, the release film is peeled and removed to expose the adhesive layer, and the antireflection article 1 of the present invention can be laminated and laminated on the desired surface of the desired article by the adhesive layer. The antireflection performance can be easily imparted to a desired article. As the adhesive, various types of known adhesive forms such as a pressure-sensitive adhesive (pressure-sensitive adhesive), a two-component curable adhesive, an ultraviolet curable adhesive, a thermosetting adhesive, and a hot melt adhesive can be used. .

また、図示は略すが、図1等に図示の如き本発明の反射防止物品1において、微小突起群5、5A、5B、・・形成面上に剥離可能な保護フィルムを仮接着した状態で保管、搬送、売買、後加工乃至施工を行い、しかる後に適時、該保護フィルムを剥離除去する形態とすることも出来る。かかる形態においては、保管、搬送等の間に微小突起群が損傷乃至は汚染して反射防止性能が低下することを防止することが出来る。   Although not shown, in the antireflection article 1 of the present invention as shown in FIG. 1 etc., the microprojections 5, 5 A, 5 B,... The protective film may be peeled and removed at an appropriate time after carrying, carrying, buying and selling, post-processing or construction. In such a form, it is possible to prevent the antireflection performance from being deteriorated due to damage or contamination of the microprojection group during storage, transportation and the like.

また、上述の実施形態では、図1、図7(a)に示すように、各隣接微小突起間の谷底(高さの極小点)を連ねた面は高さが一定な平面であったが、本発明はこれに限らず、図12に示すように、各微小突起間の谷底を連ねた包絡面が、可視光線帯域の最長波長λmax以上の周期D(すなわちD>λmaxである)でうねった構成としてもよい。又該周期的なうねりは、基材2の表裏面に平行なXY平面(図7、図12参照)における1方向(例えばX方向)のみでこれと直交する方向(例えばY方向)には一定高さであっても良いし、或いはXY平面における2方向(X方向及びY方向)共にうねりを有していても良い。D>λmaxを満たす周期Dでうねった凹凸面6が多数の微小突起からなる微小突起群に重畳することによって、微小突起群で完全に反射防止し切れずに残った反射光を散乱し、殘留反射光、とくに鏡面反射光を更に視認し難くし、以って、反射防止効果を一段と向上させることができる。   Further, in the above-described embodiment, as shown in FIGS. 1 and 7A, the surface connecting the valley bottoms (minimum points of height) between adjacent minute protrusions is a flat surface having a constant height. However, the present invention is not limited to this, and as shown in FIG. 12, the envelope surface connecting the valley bottoms between the microprojections is undulated with a period D (that is, D> λmax) equal to or longer than the longest wavelength λmax of the visible light band. It is good also as a structure. Further, the periodic undulation is constant in only one direction (for example, the X direction) on the XY plane (see FIGS. 7 and 12) parallel to the front and back surfaces of the base material 2 and in a direction (for example, the Y direction) perpendicular thereto. The height may be sufficient, or the two directions (X direction and Y direction) in the XY plane may have undulations. The uneven surface 6 that undulates with a period D satisfying D> λmax is superimposed on a microprojection group composed of a large number of microprojections, so that the reflected light remaining without being completely prevented from being reflected by the microprojection group is scattered, so that Reflected light, particularly specularly reflected light, can be made more difficult to visually recognize, and the antireflection effect can be further improved.

尚、係る凹凸面6の周期Dが前面に渡って一定では無く分布を有する場合は、該凹凸面について凸部間距離の度数分布を求め、その平均値をDAVG、標準偏差をΣとしたときの、
MIN=DAVG―2Σ
として定義する最小隣接突起間距離を以って周期Dの代わりとして設計する。即ち、微小突起群の殘留反射光の散乱効果を十分奏し得る条件は、
MIN>λmax
である。通常、D又はDMINは1〜200μm、好ましくは10〜100μmとされる。
各微小突起の谷底を連ねた包絡面形が、D(又はDMIN)>λmax、なる凹凸面6を呈する樣な微小突起群を形成する具体的な製造方法の一例を挙げると以下の通りである。即ち、ロール版13の製造工程において、円筒(又は円柱)形状の母材の表面にサンドブラスト又はマット(つや消し)メッキによって凹凸面6の凹凸形状に対応する凹凸形状を賦形する。次いで、該凹凸形状の面上に、直接或いは必要に応じて適宜の中間層を形成した後、アルミニウム層を積層する。その後、該凹凸形状表面に対応した表面形状を賦形されたアルミニウム層に上述の実施形態と同様にして陽極酸化処理及びエッチング処理を施して微小突起5、5A、5Bを含む微小突起群を形成する。
In addition, when the period D of the uneven surface 6 has a distribution that is not constant over the front surface, the frequency distribution of the distance between the protrusions is obtained for the uneven surface, and the average value is D AVG and the standard deviation is Σ. When
D MIN = D AVG -2Σ
Designed as an alternative to period D with a minimum inter-protrusion distance defined as That is, conditions that can sufficiently exhibit the scattering effect of the reflected light of the microprojections are as follows:
D MIN > λmax
It is. Usually, D or D MIN is 1 to 200 μm, preferably 10 to 100 μm.
An example of a specific manufacturing method for forming a concavo-convex microprojection group having an uneven surface 6 in which the envelope surface connecting the valley bottoms of each microprojection is D (or D MIN )> λmax is as follows. is there. That is, in the manufacturing process of the roll plate 13, a concavo-convex shape corresponding to the concavo-convex shape of the concavo-convex surface 6 is formed on the surface of a cylindrical (or columnar) base material by sandblasting or mat (matte) plating. Next, an appropriate intermediate layer is formed directly or if necessary on the uneven surface, and then an aluminum layer is laminated. Thereafter, an aluminum layer formed with a surface shape corresponding to the uneven surface is subjected to anodizing treatment and etching treatment in the same manner as in the above embodiment to form a microprojection group including microprojections 5, 5A, 5B. To do.

また上述の実施形態では、ロール版を使用した賦型処理によりフィルム形状による反射防止物品を生産する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、反射防止物品の形状に係る透明基材の形状に応じて、例えば平板、特定の曲面形状による賦型用金型を使用した枚葉の処理により反射防止物品を作成する場合等、賦型処理に係る工程、金型は、反射防止物品の形状に係る透明基材の形状に応じて適宜変更することができる。   Moreover, although the above-mentioned embodiment described the case where the anti-reflective article by a film shape was produced by the shaping process using a roll plate, this invention is not limited to this, The transparent base material which concerns on the shape of an anti-reflective article Depending on the shape, for example, when creating an antireflection article by processing a sheet using a shaping mold with a specific curved shape, such as a flat plate, the process related to the shaping process, the mold is the antireflection article It can change suitably according to the shape of the transparent base material which concerns on a shape.

また上述の実施形態では、画像表示パネルの表側面、或いは照明光の入射面にフィルム形状による反射防止物品を配置する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、種々の用途に適用することができる。具体的には、画像表示パネルの画面上に間隙を介して設置されるタッチパネル、各種の窓材、各種光学フィルタ等による表面側部材の裏面(画像表示パネル側)に配置する用途に適用することができる。なおこの場合には、画像表示パネルと表面側部材との間の光の干渉によるニュートンリング等の干渉縞の発生の防止、画像表示パネルの出光面と表面側部材の入光面側との間の多重反射によるゴースト像の防止、さらには画面から出光されてこれら表面側部材に入光する画像光について、反射損失の低減等の効果を奏することができる。   In the above-described embodiment, the case where the antireflection article with the film shape is arranged on the front side surface of the image display panel or the incident surface of the illumination light has been described. However, the present invention is not limited to this and is applied to various applications. be able to. Specifically, it should be applied to applications that are placed on the back surface (image display panel side) of the surface side member such as a touch panel, various window materials, various optical filters, etc. installed on the screen of the image display panel through a gap. Can do. In this case, it is possible to prevent interference fringes such as Newton rings due to light interference between the image display panel and the surface side member, and between the light emission surface of the image display panel and the light incident surface side of the surface side member. Thus, it is possible to prevent ghost images due to multiple reflections, and to achieve effects such as reduction of reflection loss with respect to image light emitted from the screen and entering these surface side members.

或いは、タッチパネルを構成する透明電極を、フィルム或いは板状の透明基材上に本発明特定の微小突起群を形成し、更に該微小突起群上にITO(酸化インジウム錫)等の透明導電膜を形成したものを用いることが出来る。この場合には、該タッチパネル電極とこれと隣接する対向電極又は各種部材との間での光反射を防止して、干渉縞、ゴースト像等の発生を低減させる効果を奏することが出来る。   Alternatively, a transparent electrode constituting the touch panel is formed on a film or plate-like transparent substrate with a group of microprojections specific to the present invention, and a transparent conductive film such as ITO (indium tin oxide) is further formed on the group of microprojections. The formed one can be used. In this case, it is possible to prevent light reflection between the touch panel electrode and the counter electrode or various members adjacent to the touch panel electrode, thereby reducing the occurrence of interference fringes, ghost images, and the like.

また店舗のショウウインドウや商品展示箱、美術館の展示物の展示窓や展示箱等に使用する硝子板表面(外界側)、或いは表面及び裏面(商品又は展示物側面)の両面に配置するようにしても良い。なおこの場合、該硝子板表面の光反射防止による商品、美術品等の顧客や観客に対する視認性を向上することができる。   In addition, it is arranged on the glass plate surface (external side) used for the store show window and product display box of the store, the display window and display box of the exhibition of the museum, or both of the front and back surfaces (product or display side). May be. In this case, it is possible to improve the visibility for customers and spectators of products, artworks, etc. by preventing light reflection on the surface of the glass plate.

また眼鏡、望遠鏡、写真機、ビデオカメラ、銃砲の照準鏡(狙撃用スコープ)、双眼鏡、潜望鏡等の各種光学機器に用いるレンズ又はプリズムの表面に配置する場合にも広く適用することができる。この場合、レンズ又はプリズム表面の光反射防止による視認性を向上することができる。またさらに書籍の印刷部(文字、写真、図等)表面に配置する場合にも適用して、文字等の表面の光反射を防止し、文字等の視認性向上することができる。また看板、ポスター、其の他各種店頭、街頭、外壁等における各種表示(道案内、地図、或いは禁煙、入口、非常口、立入禁止等)の表面に配置して、これらの視認性を向上することができる。またさらに白熱電球、発光ダイオード、螢光燈、水銀燈、EL(電場発光)等を用いた照明器具の窓材(場合によっては、拡散板、集光レンズ、光学フィルタ等も兼ねる)の入光面側に配置するようにして、窓材入光面の光反射を防止し、光源光の反射損失を低減し、光利用効率を向上することができる。またさらに時計、其の他各種計測機器の表示窓表面(表示観察者側)に配置して、これら表示窓表面の光反射を防止し、視認性を向上することができる。   Further, the present invention can be widely applied to the case where the lens or prism is used on various optical devices such as glasses, a telescope, a camera, a video camera, a gun sighting mirror (sniper scope), binoculars, a periscope, and the like. In this case, the visibility by preventing light reflection on the lens or prism surface can be improved. Furthermore, it can also be applied to the case where it is arranged on the surface of a printed part (characters, photos, drawings, etc.) of a book to prevent light reflection on the surface of characters and the like and improve the visibility of characters and the like. In addition, it should be placed on the surface of signs (posters, posters, various other stores, streets, exterior walls, etc.) (road guidance, maps, smoking cessation, entrances, emergency exits, no entry, etc.) to improve visibility. Can do. In addition, a light entrance surface of a window material for a lighting fixture using incandescent bulbs, light emitting diodes, fluorescent lamps, mercury lamps, EL (electroluminescence), etc. (in some cases, it also serves as a diffuser plate, condenser lens, optical filter, etc.) By arranging it on the side, it is possible to prevent the light reflection of the light incident surface of the window material, reduce the reflection loss of the light source light, and improve the light utilization efficiency. Furthermore, it can arrange | position on the display window surface (display observer side) of a timepiece and other various measuring devices, the light reflection of these display window surfaces can be prevented, and visibility can be improved.

またさらに、自動車、鉄道車両、船舶、航空機等の乗物の操縦室(運転室、操舵室)の窓の室内側、室外側、あるいはその両側の表面に配置して窓における室内外光を反射防止して、操縦者(運転者、操舵者)の外界視認性を向上することができる。またさらに、防犯等の監視、銃砲の照準、天体観測等に用いる暗視装置のレンズないしは窓材表面に配置して、夜間、暗闇での視認性を向上することができる。   Furthermore, it is placed on the inside, outside, or both sides of the windows of the cockpits (driver's cabs, wheelhouses) of vehicles such as automobiles, railway vehicles, ships, and aircraft to prevent reflection of indoor and outdoor light from the windows. Thus, it is possible to improve the visibility of the outside world of the driver (driver, driver). Furthermore, it can be arranged on the surface of a night vision device lens or window material used for crime prevention monitoring, gun sighting, astronomical observation, etc. to improve visibility at night and in the dark.

またさらに、住宅、店舗、事務所、学校、病院等の建築物の窓、扉、間仕切、壁面等を構成する透明基板(窓硝子等)の表面(室内側、室外側、あいはその両側)の表面に配置して、外界の視認性、あるいは採光効率を向上することができる。またさらに、温室、農業用ビニールハウスの透明シート、ないしは透明板(窓材)の表面に配置して、太陽光の採光効率を向上することができる。さらにまた、太陽電池表面に配置して、太陽光の利用効率(発電効率)を向上することができる。   Furthermore, the surface of the transparent substrate (window glass, etc.) that constitutes windows, doors, partitions, wall surfaces, etc. of buildings such as houses, stores, offices, schools, hospitals, etc. (inside, outside, or both sides) It is possible to improve the visibility of the outside world or the daylighting efficiency. Furthermore, it can arrange | position on the surface of a greenhouse, the transparent sheet | seat of an agricultural greenhouse, or a transparent board (window material), and can improve the sunlight lighting efficiency. Furthermore, it can arrange | position on the solar cell surface and can improve the utilization efficiency (power generation efficiency) of sunlight.

またさらに、上述の実施形態においては、反射防止を図る電磁波の波長帯域を、専ら、可視光線帯域(の全域又は一部帯域)としたが、本発明はこれに限らず、反射防止を図る電磁波の波長帯域を赤外線、紫外線等の可視光線以外の波長帯域に設定しても良い。その場合は前記の各条件式中において、電磁波の波長帯域の最短波長Λminを、それぞれ、赤外線、紫外線等の波長帯域における反射防止効果を希望する最短波長に設定すれば良い。例えば、最短波長Λminが850nmの赤外線帯域の反射防止を希望する場合は、隣接突起間距離d(乃至は其の最大値dmax)を850nm以下、例えば、d(dmax)=800nmと設計すれば良い。尚、この場合は、可視光線帯域(380〜780nm)に於いては反射防止効果は期待し得ず、專ら波長850nm以上の赤外線に対しての反射防止効果を奏する反射防止物品が得られる。   Furthermore, in the above-described embodiment, the wavelength band of the electromagnetic wave for preventing reflection is exclusively the visible light band (all or part of the visible light band), but the present invention is not limited to this, and the electromagnetic wave for preventing reflection. May be set to a wavelength band other than visible light rays such as infrared rays and ultraviolet rays. In that case, the shortest wavelength Λmin in the wavelength band of the electromagnetic wave may be set to the shortest wavelength in which the antireflection effect in the wavelength band of infrared rays, ultraviolet rays, etc. is desired in each conditional expression. For example, when it is desired to prevent reflection in the infrared band where the shortest wavelength Λmin is 850 nm, the distance d between adjacent protrusions (or its maximum value dmax) may be designed to be 850 nm or less, for example, d (dmax) = 800 nm. . In this case, an antireflection effect cannot be expected in the visible light band (380 to 780 nm), and an antireflection article exhibiting an antireflection effect for infrared rays having a wavelength of 850 nm or more can be obtained.

以上例示の各種実施形態において、硝子板等の透明基板の表面、裏面、或いは表裏両面に本発明のフィルム状の反射防止物品を配置する場合、該透明基板の全面に亙って配置、被覆する以外に、一部分の領域にのみ配置することも出来る。かかる例としては、例えば、1枚の窓硝子について、其の中央部分の正方形領域において、室内側表面にのみフィルム状の反射防止物品を粘着剤で貼着し、その他領域には反射防止物品を貼着し無い場合を挙げることが出来る。透明基板の一部分の領域にのみ反射防止物品を配置する形態の場合は、特別な表示や衝突防止柵等の設置無しでも、該透明基板の存在を視認し易くして、人が該透明基板に衝突、負傷する危険性を低減する効果、及び室内(屋内)の覗き見防止と該透明基板の(該反射防止物品の配置領域における)透視性とが両立出来ると言う効果を奏し得る。   In the various exemplary embodiments described above, when the film-shaped antireflection article of the present invention is disposed on the front surface, back surface, or both front and back surfaces of a transparent substrate such as a glass plate, it is disposed and covered over the entire surface of the transparent substrate. In addition, it can be arranged only in a partial area. As an example of this, for example, for a single window glass, a film-shaped antireflection article is attached to the indoor side surface only with an adhesive in a square area at the center, and an antireflection article is provided in the other areas. The case where it does not stick can be mentioned. In the case where the antireflection article is arranged only in a partial area of the transparent substrate, it is easy to visually recognize the presence of the transparent substrate without special display or a collision prevention fence, etc. The effect of reducing the risk of collision and injury, and the effect that both the prevention of peeping indoors (indoors) and the transparency of the transparent substrate (in the region where the antireflection article is disposed) can be achieved.

〔実施例1〕
図8のSP1からSP3に沿って、基材2(TAC)上に微小突起5(紫外線硬化性樹脂組成物としてモノマーEO変性ビスフェノールAジアクリレート30質量部、EO変性トリメチロールプロパンアクリレート20質量部、ドデシルアクリレート50質量部、重合開始剤として、ジフェニル(2,4,6−トリメトキシベンゾイル)ホスフィンオキシド(ルシリンTPO)1質量部)を形成してなる微細凹凸層形成樹脂(微小突起間d=150nm、高さ=200nm)を作成した。次に、パーフルオロアルキルポリエーテルであるKrytox(登録商標)101(一般式:F−[CF(CF)CFO]−CF(CF)(40℃粘度8mm/S))をマイヤーバー#2で塗布して潤滑層を形成した反射防止物品を得た(塗布量で4.0g/m)。この反射防止物品の接触角を測定したところ、水、n−ヘキサデカン共に5度以下であった。
[Example 1]
Along the SP1 to SP3 in FIG. 8, on the substrate 2 (TAC), the fine protrusions 5 (30 parts by mass of monomer EO-modified bisphenol A diacrylate as an ultraviolet curable resin composition, 20 parts by mass of EO-modified trimethylolpropane acrylate, Fine concavo-convex layer forming resin (d = 150 nm between minute protrusions) formed by forming 50 parts by weight of dodecyl acrylate and 1 part by weight of diphenyl (2,4,6-trimethoxybenzoyl) phosphine oxide (lucillin TPO) as a polymerization initiator. , Height = 200 nm). Next, Krytox (registered trademark) 101 (general formula: F- [CF (CF 3 ) CF 2 O] n -CF (CF 3 ) (40 ° C. viscosity 8 mm 2 / S)) which is a perfluoroalkyl polyether is used. An anti-reflective article coated with a Mayer bar # 2 to form a lubricating layer was obtained (a coating amount of 4.0 g / m 2 ). When the contact angle of this antireflective article was measured, both water and n-hexadecane were 5 degrees or less.

次に、この潤滑層を形成した反射防止物品に対して、電子線照射装置(岩崎電気LB1023)を用いて120kGyの強度で電子線照射を行ない潤滑層3を形成した。この反射防止物品の接触角を測定したところ、水で120°、n−ヘキサデカンで82°であり撥水撥油性を確認できた。   Next, the antireflection article on which the lubricating layer was formed was irradiated with an electron beam at an intensity of 120 kGy using an electron beam irradiation apparatus (Iwasaki Electric LB1023) to form the lubricating layer 3. When the contact angle of this antireflective article was measured, it was 120 ° with water and 82 ° with n-hexadecane, confirming water and oil repellency.

〔比較例1〕
実施例1において、Krytox(登録商標)101の代わりに、アクリル酸1H,1H,2H,2H−ヘプタデカフルオロデシルを塗布した。この反射防止物品の接触角を測定したところ、水で118°、n−ヘキサデカンで80°であった。
[Comparative Example 1]
In Example 1, acrylic acid 1H, 1H, 2H, 2H-heptadecafluorodecyl was applied instead of Krytox (registered trademark) 101. When the contact angle of this antireflection article was measured, it was 118 ° with water and 80 ° with n-hexadecane.

〔指紋拭き取り試験〕
このようにして作成した実施例1、比較例1を、それぞれ潤滑層を表側面にして粘着層つきの黒アクリル板に貼り付けた後、指を押し付けて指紋を付着させた。その後、ザヴィーナミニマックス(富士ケミカル製)にて指紋を乾拭きした。乾拭きは3kg/cm2程度の力で10往復行い、拭取り後の外観を評価した。実施例1では、指紋汚れが視認できない程度にまで指紋汚れを拭取ることができたが、比較例1では、指紋付着跡に若干の色味が視認されて完全に拭取ることができなかった。
[Fingerprint wiping test]
Example 1 and Comparative Example 1 prepared in this manner were each attached to a black acrylic plate with an adhesive layer with the lubricating layer as the front side, and then a finger was pressed to attach the fingerprint. Thereafter, the fingerprint was wiped dry with Zavina Minimax (Fuji Chemical). Dry wiping was performed 10 times with a force of about 3 kg / cm 2 , and the appearance after wiping was evaluated. In Example 1, the fingerprint stain could be wiped to such an extent that the fingerprint stain could not be visually recognized, but in Comparative Example 1, a slight color tone was visually recognized on the fingerprint adhering trace and could not be completely wiped off. .

〔反射防止機能〕
実施例1、比較例1を、それぞれ潤滑層を表側面にして粘着層つきの黒アクリル板に貼り付けた後、反射率のSCI値の測定をXPM Enable(コニカミノルタ製)を用いて行った結果、潤滑層形成前の未処理品が0.3%であったのに対し、実施例1では0.38%、比較例1では2.43%であった。
(Antireflection function)
Example 1 and Comparative Example 1 were each bonded to a black acrylic plate with an adhesive layer with the lubricating layer as the front side, and then the SCI value of reflectance was measured using XPM Enable (manufactured by Konica Minolta). The untreated product before forming the lubricating layer was 0.3%, whereas 0.38% in Example 1 and 2.43% in Comparative Example 1.

1 反射防止物品
2 基材
3 潤滑層
4 紫外線硬化性樹脂層、受容層
5、5A、5B 微小突起
6 凹凸面
10 製造工程
12 ダイ
13 ロール版
14、15 ローラ
g 溝
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Anti-reflective article 2 Base material 3 Lubricating layer 4 Ultraviolet curable resin layer, receiving layer 5, 5A, 5B Minute protrusion 6 Uneven surface 10 Manufacturing process 12 Die 13 Roll plate 14, 15 Roller g Groove

Claims (7)

微小突起が密接して配置され、隣接する前記微小突起の間隔が、反射防止を図る電磁波の最短波長以下である反射防止物品の製造方法であって、
前記微小突起を構成する樹脂表面に、パーフルオロアルキルポリエーテルを含むフッ素系潤滑剤による潤滑層を形成した後、電離放射線を照射することを特徴とする反射防止物品の製造方法。
A method for producing an antireflection article in which microprojections are closely arranged, and the interval between adjacent microprojections is equal to or shorter than the shortest wavelength of an electromagnetic wave for preventing reflection,
A method for producing an antireflective article, comprising: forming a lubricating layer of a fluorine-based lubricant containing perfluoroalkyl polyether on a resin surface constituting the microprojections, and then irradiating with ionizing radiation.
前記パーフルオロアルキルポリエーテルが、下記一般式である請求項1に記載の反射防止物品の製造方法。
[化1]
F−[CF(CF3)CF2O]n−CF2(CF3
(nは7以上60以下の整数を示す。)
The method for producing an antireflective article according to claim 1, wherein the perfluoroalkyl polyether has the following general formula.
[Chemical 1]
F- [CF (CF 3 ) CF 2 O] n —CF 2 (CF 3 )
(N represents an integer of 7 to 60.)
前記電離放射線が30kGyから120kGyの照射強度の電子線である請求項1又はは2に記載の反射防止物品の製造方法。   The method for producing an antireflective article according to claim 1 or 2, wherein the ionizing radiation is an electron beam having an irradiation intensity of 30 kGy to 120 kGy. 前記フッ素系潤滑剤の40℃における粘度が、1mm/S以上1000mm/S以下である請求項1から3のいずれかに記載の反射防止物品の製造方法。 The method for producing an antireflection article according to any one of claims 1 to 3, wherein the fluorine-based lubricant has a viscosity at 40 ° C of 1 mm 2 / S or more and 1000 mm 2 / S or less. 前記微小突起を構成する樹脂が、(メタ)アクリレート化合物の硬化物である請求項1から4のいずれかに記載の反射防止物品の製造方法。   The method for producing an antireflective article according to any one of claims 1 to 4, wherein the resin constituting the fine protrusions is a cured product of a (meth) acrylate compound. 前記微小突起の少なくとも一部が、
頂点を複数有し、頂部に形成された放射状の溝により、各頂点に係る峰に頂部が分割された形状により作成された多峰性の微小突起である請求項1から5のいずれかに記載の反射防止物品の製造方法。
At least a part of the microprojections is
6. A multi-peaked microprojection having a plurality of vertices and formed by a shape in which the top portion is divided into ridges related to each vertex by a radial groove formed at the top portion. Manufacturing method of antireflection article.
画像表示パネルの出光面上に、請求項1から6のいずれかに記載の製造方法によって得られる反射防止物品を配置する画像表示装置。   The image display apparatus which arrange | positions the antireflection article obtained by the manufacturing method in any one of Claim 1 to 6 on the light emission surface of an image display panel.
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