JP6764635B2 - Anti-reflective articles and image display devices - Google Patents
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Description
本発明は、反射防止を図る電磁波の波長帯域の最短波長以下の間隔で多数の微小突起を密接配置して反射防止を図る反射防止物品に関するものである。 The present invention relates to an antireflection article for antireflection by closely arranging a large number of microprojections at intervals equal to or less than the shortest wavelength of the wavelength band of electromagnetic waves for antireflection.
近年、フィルム形状の反射防止物品である反射防止フィルムに関して、透明基材(透明フィルム)の表面に多数の微小突起を密接して配置することにより、反射防止を図る方法が提案されている(特許文献1〜3参照)。この方法は、いわゆるモスアイ(moth eye(蛾の目))構造の原理を利用したものであり、入射光に対する屈折率を基板の厚み方向に連続的に変化させ、これにより屈折率の不連続界面を消失させて反射防止を図るものである。 In recent years, with respect to an antireflection film which is a film-shaped antireflection article, a method for preventing reflection by arranging a large number of microprojections closely on the surface of a transparent base material (transparent film) has been proposed (patent Refer to Documents 1 to 3). This method utilizes the principle of the so-called moth eye structure, in which the refractive index for incident light is continuously changed in the thickness direction of the substrate, thereby discontinuous interface of the refractive index. Is intended to prevent reflection.
このモスアイ構造に係る反射防止物品では、隣接する微小突起の間隔dが、反射防止を図る電磁波の波長帯域の最短波長Λmin以下(d≦Λmin)となるように、微小突起が密接して配置される。また各微小突起は、透明基材に植立するように、さらに透明基材より先端側に向かうに従って徐々に断面積が小さくなるように(先細りとなるように)作製される。 In the antireflection article related to this moth-eye structure, the microprojections are closely arranged so that the distance d between adjacent microprojections is equal to or less than the shortest wavelength Λmin (d ≦ Λmin) in the wavelength band of the electromagnetic wave for antireflection. To. Further, each microprojection is produced so as to be planted on a transparent base material and the cross-sectional area gradually decreases (tapered) toward the tip side of the transparent base material.
また特許文献4にはこの種の反射防止物品に関して、微小突起の作成周期に比して大きな周期によりうねりを呈するように微小突起の付け根部分を作成した構成が開示されている。またこの特許文献4には、賦型用樹脂を使用した賦型処理により基材の表面に微小突起を作成してこの種の反射防止物品を作成する構成が開示されている。 Further, Patent Document 4 discloses a configuration in which a base portion of a microprojection is created so as to exhibit a swell with a period larger than that of the microprojection formation cycle for this type of antireflection article. Further, Patent Document 4 discloses a configuration in which microprojections are formed on the surface of a base material by a shaping process using a shaping resin to prepare an antireflection article of this type.
ところで従来の反射防止フィルムを画像表示パネルのパネル面に貼り付けると、最表面の反射を低減できることにより、映り込み等を低減して表示画面の視認性を向上することができる。しなしながら画像表示パネルにおいては、例えば、液晶セルを構成する出射面側のガラス基板とフィルム材との境界のように、内部で屈折率が急激に変化する境界が存在し、この境界で外来光が反射する。その結果、反射防止フィルムを貼り付けた場合でも、この内部反射により映り込みが発生し、表示画面の品位を損ねる問題がある。 By the way, when the conventional antireflection film is attached to the panel surface of the image display panel, the reflection on the outermost surface can be reduced, so that the reflection and the like can be reduced and the visibility of the display screen can be improved. However, in the image display panel, for example, there is a boundary in which the refractive index changes abruptly, such as the boundary between the glass substrate on the exit surface side and the film material constituting the liquid crystal cell, and the boundary is foreign. Light is reflected. As a result, even when the antireflection film is attached, there is a problem that reflection occurs due to this internal reflection and the quality of the display screen is impaired.
本発明はこのような状況に鑑みてなされたものであり、モスアイ構造の反射防止物品に関して、内部反射による映り込みを従来に比して一段と低減することを目的とする。 The present invention has been made in view of such a situation, and an object of the present invention is to further reduce the reflection due to internal reflection of an antireflection article having a moth-eye structure as compared with the conventional case.
本発明者は、上記課題を解決するために鋭意研究を重ね、問題となる内部反射を生じる境界に近接させて、光拡散粒子を備えた光拡散層を設ける、との着想に至り、本発明を完成するに至った。 The present inventor has repeated diligent research in order to solve the above problems, and has come up with the idea of providing a light diffusing layer provided with light diffusing particles in the vicinity of a boundary that causes a problematic internal reflection. Has been completed.
具体的には、本発明では、以下のようなものを提供する。 Specifically, the present invention provides the following.
(1) 微小突起が密接して配置され、隣接する前記微小突起の間隔が、反射防止を図る電磁波の波長帯域の最短波長以下である反射防止物品において、
前記微小突起は、中間保持層を介して透明フィルム材による基材の表面に保持され、
前記中間保持層の前記基材側に、光拡散粒子を備えた光拡散層を備える反射防止物品。
(1) In an antireflection article in which microprojections are closely arranged and the distance between adjacent microprojections is equal to or less than the shortest wavelength of the wavelength band of electromagnetic waves for antireflection.
The microprojections are held on the surface of the base material by the transparent film material via the intermediate holding layer.
An antireflection article comprising a light diffusing layer having light diffusing particles on the base material side of the intermediate holding layer.
(1)によれば、内部反射光を発生源に近接した箇所で散乱させることができ、効率良く内部反射光を散乱させて内部反射による映り込みを低減することができる。また光拡散層により映り込みを低減するようにして、表面にモスアイ構造が形成されていることにより、十分に光拡散層により内部反射光を散乱させるようにしても、その結果発生する散乱光の最表面における散乱を充分に低減することができる。これにより光拡散層に係る光拡散粒子を多量に混入して内部反射による映り込みを効率良く低減して、ヘイズ値の劣化による表示画面の白味等を有効に回避することができる。 According to (1), the internally reflected light can be scattered at a location close to the source, and the internally reflected light can be efficiently scattered to reduce the reflection due to the internal reflection. Further, even if the internally reflected light is sufficiently scattered by the light diffusing layer by forming the moth-eye structure on the surface by reducing the reflection by the light diffusing layer, the scattered light generated as a result Scattering on the outermost surface can be sufficiently reduced. As a result, a large amount of light diffusing particles related to the light diffusing layer are mixed to efficiently reduce reflection due to internal reflection, and whiteness of the display screen due to deterioration of the haze value can be effectively avoided.
(2) (1)において、
前記中間保持層が、
前記光拡散粒子を備えた前記微小突起の賦型処理に供する賦型用樹脂層であり、
前記賦型用樹脂層において、前記基材側で前記光拡散粒子の粒子間距離が相対的に短くなって前記光拡散層が形成され、
前記賦型用樹脂層において、前記微小突起側で前記光拡散粒子の粒子間距離が相対的に長くなって、前記微小突起側に透過光の散乱を抑圧する光透過層が形成された反射防止物品。
(2) In (1)
The intermediate holding layer
A molding resin layer provided with the light diffusing particles and used for the shaping treatment of the microprojections.
In the shaping resin layer, the distance between the light diffusing particles is relatively short on the base material side to form the light diffusing layer.
In the shaping resin layer, the distance between the particles of the light diffusing particles is relatively long on the microprojection side, and an antireflection layer is formed on the microprojection side to suppress scattering of transmitted light. Goods.
(2)によれば、賦型用樹脂層に混入した光拡散粒子の偏析により、又は同一又は異なる樹脂による光拡散層と光透過層との積層により、中間保持層を作製して、内部反射による映り込みを従来に比して一段と低減することできる。 According to (2), an intermediate holding layer is produced by segregation of light diffusing particles mixed in the molding resin layer, or by laminating a light diffusing layer and a light transmitting layer with the same or different resin, and internal reflection is performed. It is possible to further reduce the reflection caused by the image as compared with the conventional case.
(3) (1)又は(2)において、
前記光拡散層と前記基材との間に、さらに基材側中間保持層が設けられた反射防止物品。
(3) In (1) or (2)
An antireflection article in which an intermediate holding layer on the base material side is further provided between the light diffusion layer and the base material.
(3)によれば、基材と賦型用樹脂層との密着力を強化することが可能な各種の材料層を適用して反射防止物品を構成して、内部反射による映り込みを従来に比して一段と低減することできる。 According to (3), various material layers capable of strengthening the adhesion between the base material and the resin layer for shaping are applied to form an antireflection article, and reflection due to internal reflection is conventionally performed. In comparison, it can be further reduced.
(4) (1)において、
前記中間保持層が、
基材側中間保持層と微小突起側中間保持層との積層体であり、
前記基材側中間保持層への前記光拡散粒子が混入されて前記基材側中間保持層により前記光拡散層が形成された反射防止物品。
(4) In (1)
The intermediate holding layer
It is a laminate of the base material side intermediate holding layer and the microprojection side intermediate holding layer.
An antireflection article in which the light diffusing particles are mixed into the base material side intermediate holding layer and the light diffusing layer is formed by the base material side intermediate holding layer.
(4)によれば、基材と賦型用樹脂層との密着力を強化することが可能な各種の材料層を適用して基材側中間保持層を構成する場合に、この基材側中間保持層への光拡散粒子の混入により光拡散層を形成することができる。 According to (4), when various material layers capable of strengthening the adhesion between the base material and the molding resin layer are applied to form the base material side intermediate holding layer, the base material side is formed. A light diffusing layer can be formed by mixing light diffusing particles into the intermediate holding layer.
(5) (1)〜(4)の何れかに記載の反射防止物品が、直線偏光板と積層されて一体化されている反射防止物品。 (5) An antireflection article in which the antireflection article according to any one of (1) to (4) is laminated and integrated with a linear polarizing plate.
(5)によれれば、微小突起に係る基材を直線偏光板に係る基材と共用化して構成を簡略化することができる。 According to (5), the base material related to the microprojections can be shared with the base material related to the linear polarizing plate to simplify the configuration.
(6) (1)〜(4)の何れかに記載の反射防止物品を、画像表示パネルのパネル面に配置した画像表示装置。 (6) An image display device in which the antireflection article according to any one of (1) to (4) is arranged on the panel surface of the image display panel.
(6)によれば、モスアイ構造の反射防止物品を配置した画像表示装置に関して、内部反射による映り込みを従来に比して一段と低減することができる。 According to (6), with respect to the image display device in which the antireflection article having the moth-eye structure is arranged, the reflection due to the internal reflection can be further reduced as compared with the conventional case.
モスアイ構造の反射防止物品に関して、内部反射による映り込みを従来に比して一段と低減することができる。 With respect to the antireflection article having a moth-eye structure, the reflection due to internal reflection can be further reduced as compared with the conventional case.
以下、図面を参照しながら本発明の実施形態を詳述する。なお以下において、適宜、頂点を複数有する微小突起を多峰性微小突起と呼び、頂点が1つのみの微小突起を単峰性の微小突起と呼ぶ。また以下において、単に微小突起と呼称する場合は単峰性微小突起及び多峰性微小突起の両方を包含するものとする。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In the following, microprojections having a plurality of vertices will be referred to as multimodal microprojections, and microprojections having only one apex will be referred to as monomodal microprojections. Further, in the following, when simply referred to as a microprojection, both a monomodal microprojection and a multimodal microprojection are included.
〔第1実施形態〕
図1は、本発明の第1実施形態に係る画像表示装置を示す図(概念斜視図)である。この画像表示装置100は、液晶表示装置であり、バックライト装置101、液晶表示パネル102が順次配置される。ここでバックライト装置101は、エッジライト型、直射型等、種々の構成を広く適用することができる。液晶表示パネル102は、液晶セル103を直線偏光板104及び105により挟持して構成される。また液晶セル103は、液晶材料による液晶層110を、透明電極を作製したガラス基板111、112により挟持して形成される。画像表示装置100では、この液晶表示パネル102の出射面にフィルム状の反射防止物品である反射防止フィルム1が配置される。
[First Embodiment]
FIG. 1 is a diagram (conceptual perspective view) showing an image display device according to the first embodiment of the present invention. The image display device 100 is a liquid crystal display device, and the backlight device 101 and the liquid crystal display panel 102 are sequentially arranged. Here, the backlight device 101 can be widely applied to various configurations such as an edge light type and a direct irradiation type. The liquid crystal display panel 102 is configured by sandwiching the liquid crystal cell 103 between the linear polarizing plates 104 and 105. Further, the liquid crystal cell 103 is formed by sandwiching the liquid crystal layer 110 made of a liquid crystal material between the glass substrates 111 and 112 on which transparent electrodes are produced. In the image display device 100, the antireflection film 1 which is a film-like antireflection article is arranged on the exit surface of the liquid crystal display panel 102.
ここで直線偏光板104及び105は、それぞれ保護層として機能する透明フィルム材である基材107及び108により直線偏光板としての機能を担う光学機能層(いわゆる偏光子である)106を挟持して形成される。この実施形態では、これらの直線偏光板104及び105のうちの、出射面側直線偏光板105においては、出射面側基材108が、反射防止フィルム1の基材2を兼用するように構成されて、反射防止フィルム1が直線偏光板と一体化して作製され、これにより全体の構成を簡略化すると共に、全体の厚みを薄くすることができるように構成される。なお反射防止フィルム1は、直線偏光板と別体に作製するようにしてもよい。 Here, the linear polarizing plates 104 and 105 sandwich an optical functional layer (so-called polarizer) 106 that functions as a linear polarizing plate by the base materials 107 and 108, which are transparent film materials that function as protective layers, respectively. It is formed. In this embodiment, among these linear polarizing plates 104 and 105, in the exit surface side linear polarizing plate 105, the exit surface side base material 108 is configured to also serve as the base material 2 of the antireflection film 1. Therefore, the antireflection film 1 is manufactured integrally with the linear polarizing plate, whereby the overall configuration can be simplified and the overall thickness can be reduced. The antireflection film 1 may be manufactured separately from the linear polarizing plate.
ここで反射防止フィルム1は、透明フィルムの形状(形態)の基材2の表面に多数の微小突起5、5A、5Bを密接配置して作製される。ここで基材2は、例えばTAC(Triacetylcellulose)、等のセルロース(纖維素)系樹脂、PMMA(ポリメチルメタクリレート)等のアクリル系樹脂、PET(Polyethylene terephthalate)等のポリエステル系樹脂、PP(ポリプロピレン)等のポリオレフィン系樹脂、PVC(ポリ塩化ビニル)等のビニル系樹脂、PC(Polycarbonate)等の各種透明樹脂フィルムを適用することができる。なお反射防止フィルム1が画像表示装置に使用される場合は、基材2にはTACやアクリルが好ましく用いられる。 Here, the antireflection film 1 is produced by closely arranging a large number of microprojections 5, 5A, and 5B on the surface of the base material 2 in the shape (form) of the transparent film. Here, the base material 2 is, for example, a cellulose-based resin such as TAC (Triacetylcellulose), an acrylic resin such as PMMA (polymethylmethacrylate), a polyester-based resin such as PET (Polyethylene terephthalate), and PP (polypropylene). Polyester resin such as PVC (polyvinyl chloride), vinyl resin such as PVC (polycarbonate), and various transparent resin films such as PC (Polycarbonate) can be applied. When the antireflection film 1 is used in an image display device, TAC or acrylic is preferably used as the base material 2.
反射防止フィルム1は、基材2上に、微小突起群からなる微細な凹凸形状の受容層となる未硬化状態の樹脂層(いわゆる賦型用樹脂層であり、適宜、受容層とも呼ぶ)4を形成し、該受容層4を賦型処理して硬化せしめ、これにより基材2の表面に微小突起が密接して配置される。この実施形態では、この受容層4に、賦型処理に供する賦型用樹脂の1つであるアクリレート系紫外線硬化性樹脂が適用され、基材2上に紫外線硬化性樹脂層により受容層4が形成される。反射防止フィルム1は、この微小突起による凹凸形状により厚み方向に徐々に屈折率が変化するように作製され、モスアイ構造の原理により広い波長範囲で入射光の反射を低減する。またこれによりこの反射防止フィルム1は、微小突起5の密接配置による微小突起層5Xが形成され、この微小突起層5Xを基材2の上に保持する中間保持層が、受容層4による賦型用樹脂層により構成されることになる。 The antireflection film 1 is an uncured resin layer (a so-called shaping resin layer, which is also appropriately referred to as a receiving layer) which is a receiving layer having a fine uneven shape composed of microprojections on the base material 2. Is formed, and the receiving layer 4 is shaped and cured, whereby microprojections are closely arranged on the surface of the base material 2. In this embodiment, an acrylate-based ultraviolet curable resin, which is one of the shaping resins to be subjected to the shaping treatment, is applied to the receiving layer 4, and the receiving layer 4 is formed on the base material 2 by the ultraviolet curable resin layer. It is formed. The antireflection film 1 is manufactured so that the refractive index gradually changes in the thickness direction due to the uneven shape due to the minute protrusions, and the reflection of incident light is reduced in a wide wavelength range by the principle of the moth-eye structure. Further, in the antireflection film 1, the microprojection layer 5X is formed by the close arrangement of the microprojections 5, and the intermediate holding layer that holds the microprojection layer 5X on the base material 2 is shaped by the receiving layer 4. It will be composed of a resin layer for use.
なお反射防止フィルム1は、必要に応じて、この中間保持層である受容層4の密着力を強化する下地層(基材側中間保持層である)が、中間保持層の基材2側形成される。このような中間保持層としては、基材2と受容層4に係る樹脂材料との密着力を強化することが可能な各種の材料層を広く適用でき、例えば紫外線硬化樹脂や熱硬化樹脂などが適用される。紫外線硬化樹脂を用いる場合は、ハーフキュア処理などもよく適用される。ここで基材側中間保持層と微小突起側中間保持層の屈折率差が大きいと、基材側中間保持層と微小突起側中間保持層における層間反射が大きくなるため、この屈折率差はなるべく小さいことが好ましく、屈折率差は0.03より小さいことがと好ましい。また基材2にPETフィルム等による透明フィルム材を適用する場合には、基材側中間保持層を設けるようにして、さらにこの基材側中間保持層の基材側に、密着力を強化し、かつ界面反射を軽減するように屈折率を調整した易接着層が設けられる。 In the antireflection film 1, if necessary, the base layer (which is the base material side intermediate holding layer) for strengthening the adhesion of the receiving layer 4 which is the intermediate holding layer is formed on the base material 2 side of the intermediate holding layer. Will be done. As such an intermediate holding layer, various material layers capable of strengthening the adhesion between the base material 2 and the resin material related to the receiving layer 4 can be widely applied, and for example, an ultraviolet curable resin or a thermosetting resin can be used. Applies. When an ultraviolet curable resin is used, half-cure treatment or the like is often applied. Here, if the difference in refractive index between the intermediate holding layer on the base material side and the intermediate holding layer on the microprojection side is large, the interlayer reflection between the intermediate holding layer on the base material side and the intermediate holding layer on the microprojection side becomes large, so this difference in refractive index is as much as possible. It is preferably small, and the difference in refractive index is preferably smaller than 0.03. Further, when a transparent film material such as PET film is applied to the base material 2, an intermediate holding layer on the base material side is provided, and the adhesive force is further strengthened on the base material side of the intermediate holding layer on the base material side. In addition, an easy-adhesion layer whose refractive index is adjusted so as to reduce interfacial reflection is provided.
さらにこの実施形態において、受容層4の作製に供する紫外線硬化性樹脂には、光拡散粒子8が混入される。ここでこの光拡散粒子8は、この反射防止物品において、反射防止に供する最短波長に比して十分に大きく、透過光を散乱可能な大きさにより作製され、その結果、微小突起5の付け根部分より各段に大きな大きさにより構成される。より具体的に、光拡散粒子は、粒径2μm以上、10μm以下により構成される。 Further, in this embodiment, the light diffusing particles 8 are mixed in the ultraviolet curable resin used for producing the receiving layer 4. Here, the light diffusing particles 8 are produced in the antireflection article with a size sufficiently larger than the shortest wavelength used for antireflection and capable of scattering transmitted light, and as a result, the root portion of the microprojection 5 is formed. It is composed of larger sizes in each stage. More specifically, the light diffusing particles are composed of a particle size of 2 μm or more and 10 μm or less.
さらにこの実施形態では、符号Aにより部分的に拡大して示すように、この受容層4による中間保持層において、この光拡散粒子8が基材2側に偏析するように、すなわち基材2側では光拡散粒子の粒子間距離が相対的に短く、基材2から遠ざかるに従って徐々に粒子間距離が長くなって、微小突起5側では相対的に粒子間距離が長くなるように作成される。これによりこの実施形態では、この中間保持層において、基材2に近い側に、光拡散粒子を備えた光拡散層4Bが作製される。また光拡散粒子8を備えた微小突起の賦型処理に供する賦型用樹脂層によりこの中間保持層を構成するようにして、この賦型用樹脂層において、基材2側で光拡散粒子8の粒子間距離が相対的に短くなって光拡散層4Bが形成され、微小突起5側で光拡散粒子の粒子間距離が相対的に長くなって、透過光の散乱を抑圧する光透過層4Aが形成される。なおこのように光拡散粒子8の偏析により光拡散層4B及び光透過層4Aを作製することにより、この実施形態では、基材2から遠ざかるに従って徐々に粒子間距離が長くなって、光拡散層4Bと光透過層4Aとはその境界が明確に把握できないように構成されるものの、符号Bにより示すように、光拡散層4Bと光透過層4Aとの境界を明確に把握できるように構成してもよい。なおこのように構成する場合には、光拡散層4Bに係る塗工液を塗工した後、光拡散層4Bとは同一又は異なる樹脂材料による光拡散粒子を混入していない光透過層4Aに係る塗工液を塗工することにより、又は光拡散層4Bに係る塗工液を塗工して硬化させた後、光拡散層4Bとは同一又は異なる樹脂材料による光拡散粒子を混入していない光透過層4Aに係る塗工液を塗工することにより、光拡散層B、光透過層4Aを積層して作成することができる。 Further, in this embodiment, as shown by being partially enlarged by reference numeral A, in the intermediate holding layer formed by the receiving layer 4, the light diffusing particles 8 are segregated toward the base material 2, that is, the base material 2 side. The interparticle distance of the light diffusing particles is relatively short, the interparticle distance gradually increases as the distance from the base material 2 increases, and the interparticle distance becomes relatively long on the microprojection 5 side. As a result, in this embodiment, in this intermediate holding layer, a light diffusing layer 4B having light diffusing particles is produced on the side close to the base material 2. Further, the intermediate holding layer is formed by the shaping resin layer to be subjected to the shaping treatment of the microprojections provided with the light diffusing particles 8, and the light diffusing particles 8 are formed on the substrate 2 side in the shaping resin layer. The inter-particle distance is relatively short to form the light diffusing layer 4B, and the inter-particle distance of the light diffusing particles is relatively long on the microprojection 5 side to suppress the scattering of transmitted light. Is formed. By producing the light diffusing layer 4B and the light transmitting layer 4A by segregation of the light diffusing particles 8 in this way, in this embodiment, the distance between the particles gradually increases as the distance from the base material 2 increases, and the light diffusing layer Although the boundary between 4B and the light transmitting layer 4A is configured so as not to be clearly grasped, as indicated by reference numeral B, the boundary between the light diffusing layer 4B and the light transmitting layer 4A is configured to be clearly grasped. You may. In the case of such a configuration, after applying the coating liquid according to the light diffusing layer 4B, the light transmitting layer 4A is not mixed with the light diffusing particles made of the same or different resin material as the light diffusing layer 4B. By applying the coating liquid, or after applying the coating liquid related to the light diffusing layer 4B and curing it, light diffusing particles made of the same or different resin material as the light diffusing layer 4B are mixed. By applying the coating liquid according to the non-light transmitting layer 4A, the light diffusing layer B and the light transmitting layer 4A can be laminated and produced.
このように光拡散層4Bを設ける場合には、この光拡散層4Bにより、内部反射光の発生源に近い側で内部反射光を散乱させることができることにより、効率良く内部反射光を散乱させて内部反射による映り込みを低減することができる。また光拡散層により映り込みを低減するようにして、表面にモスアイ構造が形成されていることにより、十分に光拡散層により内部反射光を散乱させるようにしても、その結果発生する散乱光の最表面における反射、散乱を低減することができる。これにより光拡散層に係る光拡散粒子を多量に混入して内部反射による映り込みを効率良く低減して、ヘイズ値の劣化による表示画面の白味等を有効に回避することができる。 When the light diffusion layer 4B is provided in this way, the internally reflected light can be scattered on the side close to the source of the internally reflected light by the light diffusion layer 4B, so that the internally reflected light can be efficiently scattered. Reflection due to internal reflection can be reduced. Further, even if the internally reflected light is sufficiently scattered by the light diffusion layer due to the moth-eye structure formed on the surface by reducing the reflection by the light diffusion layer, the scattered light generated as a result It is possible to reduce reflection and scattering on the outermost surface. As a result, a large amount of light diffusing particles related to the light diffusing layer are mixed to efficiently reduce reflection due to internal reflection, and whiteness of the display screen due to deterioration of the haze value can be effectively avoided.
より具体的に、実験した結果によれば、それぞれヘイズ値38%、42%、59%の光拡散層を備えたフィルム材を基材2に適用して微小突起を作製して反射防止フィルムを作製したところ、それぞれヘイズ値は20%、25%、30%と成り、微小突起5を設けることにより、ヘイズ値を格段に小さくすることが確認された。このようなヘイズ値の減少は、微小突起を設けていない場合には、光拡散層により拡散された拡散光が、フィルム材の表面で反射したり拡散したりすることにより、光拡散層による内部ヘイズ値に比して、フィルム材として実測されるヘイズ値が大きくなるのに対し、微小突起を配置した場合には、このような表面での反射、拡散が低減されることにより、内部ヘイズ値にほぼ等しい値によるヘイズ値がフィルム材により計測されるものと考えられる。これにより効率良く内部反射による映り込みを低減することができ、さらにこの内部反射光の拡散により映り込みを防止することによる表示画面が白味を帯びる等の現象を実用上十分に抑圧することができる。なおこれらフィルム材による実験においては、微小突起を配置することによる正面反射率は、何れも0.18%であり、内部反射光を散乱させるようにしても、十分にモスアイ構造により反射率を低減できることが確認された。なおこのように内部反射光を拡散させる場合には、モスアイ構造のフィルム材を画像表示パネルのパネル面に配置して発生する表示画面のぎらつきについても、十分に抑圧することができる。 More specifically, according to the results of the experiment, a film material having a haze value of 38%, 42%, and 59%, respectively, was applied to the base material 2 to produce microprojections to obtain an antireflection film. As a result, the haze values were 20%, 25%, and 30%, respectively, and it was confirmed that the haze value was remarkably reduced by providing the microprojections 5. Such a decrease in the haze value is caused by the diffused light diffused by the light diffusing layer being reflected or diffused on the surface of the film material when the microprojections are not provided, thereby causing the inside of the light diffusing layer. While the haze value actually measured as a film material is larger than the haze value, when microprojections are arranged, the reflection and diffusion on such a surface are reduced, so that the internal haze value is increased. It is considered that the haze value with a value substantially equal to is measured by the film material. As a result, the reflection due to internal reflection can be efficiently reduced, and the phenomenon that the display screen becomes whitish due to the prevention of reflection by the diffusion of the internally reflected light can be sufficiently suppressed in practical use. it can. In the experiments using these film materials, the front reflectance by arranging the minute protrusions was 0.18% in each case, and even if the internally reflected light was scattered, the reflectance was sufficiently reduced by the moth-eye structure. It was confirmed that it could be done. When the internally reflected light is diffused in this way, the glare of the display screen generated by arranging the film material having a moth-eye structure on the panel surface of the image display panel can be sufficiently suppressed.
ここでこのような内部反射による映り込みの低減効果を確保するためには、十分に内部反射光を散乱させることが必要であるものの、散乱の程度が大きすぎると、表示画面が白味がかって観察されることにより、却って視認性が劣化することになる。そこで光拡散粒子8は、光拡散層4Bに対して重量比により2割以上、5割以下、添加される。またこのように添加量を設定しても、光拡散層4Bの厚みが薄い場合には、十分に透過光を拡散し得ず、映り込みが発生するのに対し、光拡散層4Bの厚みが厚い場合には、透過光の拡散が過ぎることになる。これによりこの実施形態において、中間保持層4は厚み5μm以上、50μm以下により構成される。なお符号Bにより示す構成においては、光拡散層4Bが厚み5μm以上、50μm以下により構成される。また光拡散粒子にあっては、受容層を構成する樹脂材料に対して屈折率の異なるアクリル系やスチレン系等の樹脂材料、シリカに代表される白色の材料等、種々の材料を広く適用することができる。 Here, in order to secure the effect of reducing reflection due to such internal reflection, it is necessary to sufficiently scatter the internally reflected light, but if the degree of scattering is too large, the display screen becomes whitish. By being observed, the visibility is rather deteriorated. Therefore, the light diffusing particles 8 are added in an amount of 20% or more and 50% or less based on the weight ratio with respect to the light diffusing layer 4B. Further, even if the addition amount is set in this way, when the thickness of the light diffusing layer 4B is thin, the transmitted light cannot be sufficiently diffused and reflection occurs, whereas the thickness of the light diffusing layer 4B is large. If it is thick, the transmitted light will be diffused too much. Thereby, in this embodiment, the intermediate holding layer 4 is composed of a thickness of 5 μm or more and 50 μm or less. In the configuration indicated by reference numeral B, the light diffusion layer 4B has a thickness of 5 μm or more and 50 μm or less. Further, for the light diffusing particles, various materials such as acrylic and styrene resin materials having different refractive indexes and white materials typified by silica are widely applied to the resin materials constituting the receiving layer. be able to.
このようにして光拡散層4Bを作製することにより、反射防止フィルム1においては、直線偏光板に係る光学機能層106、基材108を設けない状態でヘイズ値が10以上、50以下により作製される。なおこのヘイズ値は好ましくは20以上40以下である。なおヘイズ値が低い場合には、内部反射の映り込みをぼかす効果が弱く、ヘイズ値が高いと白っぽさが目立ってくることになる。 By producing the light diffusing layer 4B in this way, the antireflection film 1 is produced with a haze value of 10 or more and 50 or less without providing the optical functional layer 106 and the base material 108 related to the linearly polarizing plate. To. The haze value is preferably 20 or more and 40 or less. When the haze value is low, the effect of blurring the reflection of internal reflection is weak, and when the haze value is high, whitishness becomes conspicuous.
〔微小突起の形状〕
反射防止フィルム1では、単峰性微小突起と多峰性微小突起5A、5Bとが混在するように設定される。ここで多峰性微小突起5A、5Bは、頂点を複数有する微小突起であり、単峰性微小突起は、頂点が1つのみの微小突起である。これによりこの実施形態では、反射防止物品の耐擦傷性を向上する。
[Shape of microprojections]
In the antireflection film 1, monomodal microprojections and multimodal microprojections 5A and 5B are set to coexist. Here, the multimodal microprojections 5A and 5B are microprojections having a plurality of vertices, and the monomodal microprojections are microprojections having only one apex. Thereby, in this embodiment, the scratch resistance of the antireflection article is improved.
すなわち図2は、この多峰性微小突起5A、5B及び単峰性微小突起の説明に供する図である。なおこの図2は、理解を容易にするために模式的に示す図であり、図2(a)は、連続する微小突起の頂点を結ぶ折れ線により断面を取って示す図である。この図2(b)及び(c)において、xy方向は、基材2の面内方向であり、z方向は微小突起の高さ方向である。 That is, FIG. 2 is a diagram provided for explaining the multimodal microprojections 5A and 5B and the monomodal microprojections. Note that FIG. 2 is a diagram schematically shown for ease of understanding, and FIG. 2 (a) is a diagram showing a cross section taken along a polygonal line connecting the vertices of continuous microprojections. In FIGS. 2B and 2C, the xy direction is the in-plane direction of the base material 2, and the z direction is the height direction of the microprojections.
反射防止フィルム1において、多くの微小突起5は、基材2より離れて頂点に向かうに従って徐々に断面積(高さ方向に直交する面(図2においてXY平面と平行な面)で切断した場合の断面積)が小さくなって、頂点が1つにより作製される。しかしながら中には、複数の微小突起が結合したかのように、先端部分に溝gが形成され、頂点が2つになったもの(5A)、頂点が3つになったもの(5B)、さらには頂点が4つ以上のもの(図示略)を存在させることができる。単峰性微小突起5の形状は、概略、回転放物面の様な頂部の丸い形状、或いは円錐の様な頂点の尖った形状で近似することができる。一方、多峰性微小突起5A、5Bの形状は、概略、単峰性微小突起5の頂部近傍に溝状の凹部を切り込んで、頂部を複数の峰に分割したような形状で近似される。 In the antireflection film 1, many microprojections 5 are gradually cut along a cross-sectional area (a plane orthogonal to the height direction (a plane parallel to the XY plane in FIG. 2) toward the apex away from the base material 2). The cross-sectional area of) becomes smaller, and one vertex is produced. However, some of them have a groove g formed at the tip portion and have two vertices (5A) and three vertices (5B) as if a plurality of microprojections were combined. Further, those having four or more vertices (not shown) can exist. The shape of the unimodal microprojection 5 can be roughly approximated by a round shape at the top such as a rotating paraboloid or a pointed shape at the apex such as a cone. On the other hand, the shapes of the multimodal microprojections 5A and 5B are roughly approximated by cutting a groove-shaped recess in the vicinity of the top of the monomodal microprojections 5 and dividing the top into a plurality of peaks.
このような頂点を複数有する多峰性微小突起は、単峰性微小突起に比して、頂点近傍の寸法に対する裾の部分の太さが相対的に太く、多峰性微小突起に比して周長が長い。これにより、多峰性微小突起は、単峰性微小突起に比して機械的強度が優れていると言える。これにより頂点を複数有する多峰性微小突起が存在する場合、反射防止物品では、単峰性微小突起のみによる場合に比して耐擦傷性が向上することになる。具体的に反射防止物品に外力が加わった場合、単峰性微小突起のみの場合に比して、外力をより多くの頂点で分散して受ける為、各頂点に加わる外力を低減し、微小突起が損傷し難いようにすることができ、これにより反射防止機能の局所的な劣化を低減し、さらに外観不良の発生を低減することができる。また仮に微小突起が損傷した場合でも、その損傷個所の面積を低減することができる。更に、多峰性微小突起は、外力を先ず各峰部分が受止めて犠牲的に損傷することによって、該多峰性微小突起の峰より低い本体部分、及び該多峰性微小突起よりも高さの低い微小突起の損耗を防ぐことができる。これによっても反射防止機能の局所的な劣化を低減し、さらに外観不良の発生を低減することができる。 The multimodal microprojection having a plurality of such vertices has a relatively thicker hem with respect to the dimension near the apex as compared with the monomodal microprojection, and is compared with the multimodal microprojection. The circumference is long. Therefore, it can be said that the multimodal microprojections are superior in mechanical strength to the monomodal microprojections. As a result, when there are multimodal microprojections having a plurality of vertices, the antireflection article has improved scratch resistance as compared with the case where only monomodal microprojections are used. Specifically, when an external force is applied to the antireflection article, the external force is distributed and received at more vertices than when only the monomodal microprojections are applied, so that the external force applied to each apex is reduced and the microprojections are microprojections. Can be made less likely to be damaged, thereby reducing local deterioration of the antireflection function and further reducing the occurrence of poor appearance. Further, even if the microprojection is damaged, the area of the damaged portion can be reduced. Further, the multimodal microprojections are lower than the peaks of the multimodal microprojections and higher than the multimodal microprojections by first receiving the external force by each peak portion and causing sacrificial damage. It is possible to prevent the wear of low-pitched microprojections. This also reduces the local deterioration of the antireflection function and further reduces the occurrence of poor appearance.
なお多峰性微小突起は、その存在により耐擦傷性を向上できるものの、充分に存在しない場合には、この耐擦傷性を向上する効果を十分に発揮できないことは言うまでもない。係る観点より、表面に存在する全微小突起中における多峰性微小突起の個数の比率は10%以上とすることが望まれる。特に多峰性微小突起による耐擦傷性を向上する効果を十分に奏する為には、該多峰性微小突起の比率は30%以上、好ましくは50%以上であることが望まれる。又、多峰性微小突起の比率を増やすに伴い製造工程の管理の難度が増す為、当該比率は好ましくは90%以下、より好ましくは80%以下とする。またこのように単峰性微小突起の存在比率を設定することにより、スティッキングを生じ難くすることができ、その結果、スティッキングによる特性の劣化を有効に回避することができる。またさらに単峰性微小突起と多峰性微小突起とを混在させる場合には、アスペクト比の異なる単峰性微小突起を混在させた場合と同様に、広い波長帯域で反射率を低減することができる。 It is needless to say that the multimodal microprojections can improve the scratch resistance due to their presence, but if they are not sufficiently present, the effect of improving the scratch resistance cannot be sufficiently exhibited. From this point of view, it is desirable that the ratio of the number of multimodal microprojections in all the microprojections existing on the surface is 10% or more. In particular, in order to sufficiently exert the effect of improving the scratch resistance of the multimodal microprojections, it is desirable that the ratio of the multimodal microprojections is 30% or more, preferably 50% or more. Further, since the difficulty of controlling the manufacturing process increases as the ratio of the multimodal microprojections increases, the ratio is preferably 90% or less, more preferably 80% or less. Further, by setting the abundance ratio of the unimodal microprojections in this way, sticking can be made less likely to occur, and as a result, deterioration of the characteristics due to sticking can be effectively avoided. Further, when the monomodal microprojections and the multimodal microprojections are mixed, the reflectance can be reduced in a wide wavelength band as in the case where the monomodal microprojections having different aspect ratios are mixed. it can.
なおアスペクト比とは、微小突起の高さHを谷底における径W(幅又は太さと言う事もできる)で除した比、H/Wとして定義される。ここで、谷底における径とは、微小突起の谷底近傍の形状が円柱であれば、該円柱の(底面の)直径と一致する。微小突起の谷底近傍形状が円柱では無く、谷底を連ねた仮想的平面と微小突起とが交叉して得られる底面の径の大きさが面内方向によって異なる場合は、その最大値を該微小突起の径とする。例えば、微小突起の底面形状が楕円の場合は、径はその長径となる。又、微小突起の底面形状が多角形の場合は、径はその最大の対角線長となる。又、谷底部(高さの極小点からなる領域)の幅が径に比べて小さく2割以下の場合には、各微小突起のアスペクト比H/Wの平均値(H/W)aveは、設計上は実質、Have/daveと見做すことができる。 The aspect ratio is defined as H / W, which is the ratio obtained by dividing the height H of the minute protrusions by the diameter W (which can also be called width or thickness) at the valley bottom. Here, the diameter at the valley bottom coincides with the diameter (of the bottom surface) of the cylinder if the shape of the microprojection near the valley bottom is a cylinder. If the shape near the valley bottom of the microprojection is not a cylinder and the diameter of the bottom surface obtained by crossing the virtual plane connecting the valley bottoms and the microprojection differs depending on the in-plane direction, the maximum value is set to the microprojection. The diameter of. For example, when the bottom surface shape of the microprojection is elliptical, the diameter is the major axis thereof. When the bottom surface of the microprojection is polygonal, the diameter is the maximum diagonal length. Further, when the width of the valley bottom (the region consisting of the minimum points of the height) is smaller than the diameter and is 20% or less, the average value (H / W) ave of the aspect ratio H / W of each microprojection is. In terms of design, it can be regarded as Have / Dave.
図3は、頂点が複数の微小突起を示す写真であり、図3(a)は、AFMによるものであり、図3(b)及び(c)は、SEMによるものである。図3(a)では、溝g及び3つの頂点を有する微小突起、及び溝g及び2つの頂点を有する微小突起(2峰の多峰性微小突起)を見て取ることができ、図3(b)では、溝g及び4つの頂点を有する微小突起(4峰の多峰性微小突起)、及び溝g及び2つの頂点を有する微小突起を見て取ることができ、図3(c)では、溝g及び3つの頂点を有する微小突起(3峰の多峰性微小突起)、溝g及び2つの頂点を有する微小突起を見て取ることができる。 FIG. 3 is a photograph showing a plurality of microprojections with a plurality of vertices, FIG. 3 (a) is by AFM, and FIGS. 3 (b) and 3 (c) are by SEM. In FIG. 3 (a), a groove g and a microprojection having three vertices, and a groove g and a microprojection having two vertices (two-peak multimodal microprojections) can be seen, and FIG. 3 (b) Can be seen in the groove g and the microprojections having four vertices (multimodal microprojections with four peaks), and the groove g and the microprojections having two vertices. Microprojections with three vertices (three-peak multimodal microprojections), grooves g and microprojections with two vertices can be seen.
[隣接突起間距離]
反射防止フィルム1に作製される微小突起は、隣接する微小突起の間隔dが、反射防止を図る電磁波の波長帯域の最短波長Λmin以下(d≦Λmin)となるように密接して配置される。この実施形態では、画像表示パネルに配置して視認性を向上させることを主目的とするため、この最短波長は、個人差、視聴条件を加味した可視光領域の最短波長(380nm)に設定され、間隔dは、ばらつきを考慮して100〜300nmとされる。またこの間隔dに係る隣接する微小突起は、いわゆる隣り合う微小突起であり、基材2側の付け根部分である微小突起の裾の部分が接している突起である。反射防止フィルム1では微小突起が密接して配置されることにより、微小突起間の谷の部位を順次辿るようにして線分を作製すると、平面視において各微小突起を囲む多角形状領域を多数連結してなる網目状の模様が作製されることになる。間隔dに係る隣接する微小突起は、この網目状の模様を構成する一部の線分を共有する突起である。
[Distance between adjacent protrusions]
The microprojections produced on the antireflection film 1 are closely arranged so that the distance d between adjacent microprojections is equal to or less than the shortest wavelength Λmin (d ≦ Λmin) in the wavelength band of the electromagnetic wave for which antireflection is to be achieved. In this embodiment, since the main purpose is to arrange it on the image display panel to improve visibility, this shortest wavelength is set to the shortest wavelength (380 nm) in the visible light region in consideration of individual differences and viewing conditions. The interval d is set to 100 to 300 nm in consideration of variation. Further, the adjacent microprojections related to this interval d are so-called adjacent microprojections, and are protrusions in which the hem portion of the microprojections, which is the base portion on the base material 2 side, is in contact. In the antireflection film 1, the microprojections are closely arranged, and when a line segment is created by sequentially tracing the valleys between the microprojections, a large number of polygonal regions surrounding the microprojections are connected in a plan view. A mesh-like pattern will be produced. The adjacent microprojections related to the interval d are projections that share a part of the line segments constituting this mesh-like pattern.
なお微小突起に関しては、より詳細には以下のように定義される。モスアイ構造による反射防止では、透明基材表面とこれに隣接する媒質との界面における有効屈折率を、厚み方向に連続的に変化させて反射防止を図るものであることから、微小突起に関しては一定の条件を満足することが必要である。この条件のうちの1つである突起の間隔に関して、例えば特開昭50−70040号公報、特許第4632589号公報等に開示のように、微小突起が一定周期で規則正しく配置されている場合、隣接する微小突起の間隔dは、突起配列の周期P(d=P)となる。これにより可視光線帯域の最長波長をλmax、最短波長をλminとした場合に、最低限、可視光線帯域の最長波長において反射防止効果を奏し得る必要最小限の条件は、Λmin=λmaxであるため、P≦λmaxとなり、可視光線帯域の全波長に対して反射防止効果を奏し得る必要十分の条件は、Λmin=λminであるため、P≦λminとなる。 The microprojections are defined in more detail as follows. Anti-reflection by the moth-eye structure is intended to prevent reflection by continuously changing the effective refractive index at the interface between the surface of the transparent base material and the medium adjacent to it in the thickness direction. It is necessary to satisfy the conditions of. Regarding the distance between protrusions, which is one of these conditions, when the minute protrusions are regularly arranged at regular intervals, as disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 50-70040, Japanese Patent No. 4632589, etc., they are adjacent to each other. The interval d of the microprojections to be formed is the period P (d = P) of the projection arrangement. As a result, when the longest wavelength of the visible light band is λmax and the shortest wavelength is λmin, the minimum necessary condition for achieving the antireflection effect at the longest wavelength of the visible light band is Λmin = λmax. Since P ≦ λmax and the necessary and sufficient condition for exhibiting the antireflection effect for all wavelengths in the visible light band is Λmin = λmin, P ≦ λmin.
なお波長λmax、λminは、観察条件、光の強度(輝度)、個人差等にも依存して多少幅を持ち得るが、標準的には、λmax=780nm及びλmin=380nmとされる。これらにより可視光線帯域の全波長に対する反射防止効果をより確実に奏し得る好ましい条件は、d≦300nmであり、より好ましい条件は、斜め方向(基材2表面の法線に対して45度以上に角度をなす方向)から見た場合の白濁感を低減させる点から、d≦200nmとなる。なお反射防止効果の発現及び反射率の等方性(低角度依存性)の確保等の理由から、周期dの下限値は、通常、d≧50nm、好ましくは、d≧100nmとされる。これに対して突起の高さHは、十分な反射防止効果を発現させる観点より、H≧0.2×λmax=156nm(λmax=780nmとして)とされる。 The wavelengths λmax and λmin may have some width depending on the observation conditions, light intensity (luminance), individual differences, etc., but are standardly set to λmax = 780 nm and λmin = 380 nm. A preferable condition in which the antireflection effect for all wavelengths in the visible light band can be more reliably achieved is d ≦ 300 nm, and a more preferable condition is an oblique direction (45 degrees or more with respect to the normal of the surface of the base material 2). D ≦ 200 nm from the viewpoint of reducing the white turbidity when viewed from (the direction forming the angle). The lower limit of the period d is usually d ≧ 50 nm, preferably d ≧ 100 nm, for the reason of exhibiting the antireflection effect and ensuring the isotropic property (low angle dependence) of the reflectance. On the other hand, the height H of the protrusion is set to H ≧ 0.2 × λmax = 156 nm (assuming λmax = 780 nm) from the viewpoint of exhibiting a sufficient antireflection effect.
しかしながらこの実施形態のように、微小突起が不規則に配置されている場合には、隣接する微小突起間の間隔dはばらつきを有することになる。より具体的には、図4に示すように、基材の表面又は裏面の法線方向から見て平面視した場合に、微小突起が一定周期で規則正しく配列されていない場合、突起の繰り返し周期Pによっては隣接突起間の間隔dは規定し得ず、また隣接突起の概念すら疑念が生じることになる。そこでこのような場合、以下のように算定される。 However, when the microprojections are irregularly arranged as in this embodiment, the distance d between adjacent microprojections will vary. More specifically, as shown in FIG. 4, when the microprojections are not regularly arranged at regular intervals when viewed in a plan view from the normal direction of the front surface or the back surface of the base material, the repetition period P of the projections P. Depending on the situation, the distance d between adjacent protrusions cannot be specified, and even the concept of adjacent protrusions becomes questionable. Therefore, in such a case, it is calculated as follows.
(1)すなわち先ず、原子間力顕微鏡(Atomic Force Microscope(以下、AFMと呼ぶ))又は走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope(以下、SEMと呼ぶ))を用いて突起の面内配列(突起配列の平面視形状)を検出する。なお図4は、実際に原子間力顕微鏡により求められた拡大写真である。AFMのデータには微小突起群の高さの面内分布データを付随するため、この写真は輝度により高さの面内分布を示す写真であると言える。 (1) That is, first, an in-plane arrangement of protrusions (projection arrangement) using an atomic force microscope (Atomic Force Microscope (hereinafter referred to as AFM)) or a scanning electron microscope (Scanning Electron Microscope (hereinafter referred to as SEM)). (Plan view shape) is detected. Note that FIG. 4 is an enlarged photograph actually obtained by an atomic force microscope. Since the AFM data is accompanied by the in-plane distribution data of the height of the microprojection group, it can be said that this photograph shows the in-plane distribution of the height by the brightness.
(2)続いてこの求められた面内配列から各突起の高さの極大点(以下、単に極大点と呼ぶ)を検出する。ここで極大点とは、高さが、其の近傍周辺の何れの点と比べても大(極大値)となる点を意味する。なお極大点を求める方法としては、(a)平面視形状の拡大写真上における平面座標とこれと対応する断面形状から求めた高さデータとを逐次対比して極大点を求める方法、(b)AFMで得られた基材上の平面座標における高さ分布データを2次元画像化してなる平面視拡大写真の画像処理によって極大点を求める方法等、種々の手法を適用することができる。図4はAFMによる拡大写真(画像濃度が高さに対応する)であり、図5は、図4に示した拡大写真に係る画像データの処理による極大点の検出結果を示す図であり、この図において黒点により示す個所がそれぞれ各突起の極大点である。なおこの処理では4.5×4.5画素のガウシアン特性によるローパスフィルタにより事前に画像データを処理し、これによりノイズによる極大点の誤検出を防止した。また8画素×8画素による最大値検出用のフィルタを順次スキャンすることにより1nm(=1画素)単位で極大点を求めた。 (2) Subsequently, the maximum point of the height of each protrusion (hereinafter, simply referred to as the maximum point) is detected from the obtained in-plane arrangement. Here, the maximum point means a point whose height is larger (maximum value) than any point in the vicinity thereof. As a method of obtaining the maximum point, (a) a method of sequentially comparing the plane coordinates on the enlarged photograph of the plan view shape and the height data obtained from the corresponding cross-sectional shape, and (b). Various methods can be applied, such as a method of obtaining the maximum point by image processing of a plan view magnified photograph obtained by converting the height distribution data in the plane coordinates on the substrate obtained by AFM into a two-dimensional image. FIG. 4 is an enlarged photograph by AFM (the image density corresponds to the height), and FIG. 5 is a diagram showing the detection result of the maximum point by processing the image data related to the enlarged photograph shown in FIG. The points indicated by black dots in the figure are the maximum points of each protrusion. In this processing, image data was processed in advance by a low-pass filter having a Gaussian characteristic of 4.5 × 4.5 pixels, thereby preventing erroneous detection of a maximum point due to noise. Further, the maximum point was obtained in units of 1 nm (= 1 pixel) by sequentially scanning a filter for detecting the maximum value with 8 pixels × 8 pixels.
(3)次に検出した極大点を母点とするドロネー図(Delaunary Diagram)を作製する。ここでドロネー図とは、各極大点を母点としてボロノイ分割を行った場合に、ボロノイ領域が隣接する母点同士を隣接母点と定義し、各隣接母点同士を線分で結んで得られる3角形の集合体からなる網状図形である。各3角形は、ドロネー3角形と呼ばれ、各3角形の辺(隣接母点同士を結ぶ線分)は、ドロネー線と呼ばれる。図6は、図5から求められるドロネー図(白色の線分により表される図である)を図5による原画像と重ね合わせた図である。ドロネー図は、ボロノイ図(Voronoi diagram)と双対の関係に有る。またボロノイ分割とは、各隣接母点間を結ぶ線分(ドロネー線)の垂直2等分線同士によって画成される閉多角形の集合体からなる網状図形で平面を分割することを言う。ボロノイ分割により得られる網状図形がボロノイ図であり、各閉領域がボロノイ領域である。 (3) Next, a Delaunay diagram (Delaunay Diagram) having the detected maximum point as a mother point is prepared. Here, the Delaunay diagram is obtained by defining the Voronoi regions adjacent to each other as adjacent matrix points and connecting the adjacent matrix points with a line segment when the Voronoi division is performed with each maximum point as the matrix point. It is a net-like figure composed of an aggregate of triangles. Each triangle is called a Dronay triangle, and the sides of each triangle (the line segment connecting adjacent mother points) are called the Dronay line. FIG. 6 is a diagram in which the Delaunay diagram (a diagram represented by a white line segment) obtained from FIG. 5 is superimposed on the original image according to FIG. The Delaunay diagram has a dual relationship with the Voronoi diagram. Voronoi division refers to dividing a plane by a network figure consisting of a collection of closed polygons defined by perpendicular bisectors of line segments (Dronoi lines) connecting adjacent matrix points. The network figure obtained by Voronoi division is a Voronoi diagram, and each closed region is a Voronoi region.
(4)次に、各ドロネー線の線分長の度数分布、すなわち隣接する極大点間の距離(以下、隣接突起間距離と呼ぶ)の度数分布を求める。図7は、図6のドロネー図から作製した度数分布のヒストグラムである。なお図4において符号5A及び5Bにより示すように、突起の頂部に溝状等の凹部が存在したり、あるいは頂部が複数の峰に分裂している場合は、求めた度数分布から、このような突起の頂部に凹部が存在する微細構造、頂部が複数の峰に分裂している微細構造に起因するデータを除去し、突起本体自体のデータのみを選別して度数分布を作製する。 (4) Next, the frequency distribution of the line segment length of each Dronay line, that is, the frequency distribution of the distance between adjacent maximum points (hereinafter referred to as the distance between adjacent protrusions) is obtained. FIG. 7 is a histogram of the frequency distribution prepared from the Delaunay diagram of FIG. As shown by reference numerals 5A and 5B in FIG. 4, when a recess such as a groove is present at the top of the protrusion, or when the top is divided into a plurality of peaks, such a recess is obtained from the obtained frequency distribution. Data due to the microstructure in which a recess exists at the top of the protrusion and the microstructure in which the top is divided into a plurality of peaks are removed, and only the data of the protrusion body itself is selected to create a frequency distribution.
具体的には、突起の頂部に凹部が存在する微細構造、頂部が複数の峰に分裂している多峰性微小突起に係る微細構造においては、このような微細構造を備えてい無い単峰性微小突起の場合の数値範囲から、隣接極大点間距離が明らかに大きく異なることになる。これによりこの特徴を利用して対応するデータを除去することにより突起本体自体のデータのみを選別して度数分布を検出する。より具体的には、例えば図4に示すような微小突起(群)の平面視の拡大写真から、5〜20個程度の互いに隣接する単峰性微小突起を選んで、その隣接極大点間距離の値を標本抽出し、この標本抽出して求められる数値範囲から明らかに小さい方向に外れる値(通常、標本抽出して求められる隣接極大点間距離平均値に対して、値が1/2以下のデータ)を除外して度数分布を検出する。図7の例では、隣接極大点間距離が56nm以下のデータ(矢印Aにより示す左端の小山)を除外する。なお図5は、このような除外する処理を行う前の度数分布を示すものである。因みに上述の極大点検用のフィルタの設定により、このような除外する処理を実行してもよい。 Specifically, in the microstructure in which a recess exists at the top of the protrusion and the microstructure related to the multimodal microprojection in which the top is divided into a plurality of peaks, the microstructure does not have such a microstructure. From the numerical range in the case of minute protrusions, the distance between adjacent maximum points is clearly significantly different. As a result, by utilizing this feature and removing the corresponding data, only the data of the protrusion body itself is selected and the frequency distribution is detected. More specifically, for example, from the enlarged photograph of the microprojections (groups) shown in FIG. 4 in a plan view, about 5 to 20 unimodal microprojections adjacent to each other are selected, and the distance between the adjacent maximum points is selected. The value of is sampled, and the value clearly deviates from the numerical range obtained by sampling (usually, the value is 1/2 or less of the mean distance between adjacent maximum points obtained by sampling). The frequency distribution is detected by excluding the data). In the example of FIG. 7, data having a distance between adjacent maximum points of 56 nm or less (the leftmost hill indicated by arrow A) is excluded. Note that FIG. 5 shows a frequency distribution before such an exclusion process is performed. Incidentally, such an exclusion process may be executed by setting the filter for maximum inspection described above.
(5)このようにして求めた隣接突起間距離dの度数分布から平均値dAVG及び標準偏差σを求める。ここでこのようにして得られる度数分布を正規分布とみなして平均値dAVG及び標準偏差σを求めると、図7の例では、平均値dAVG=158nm、標準偏差σ=38nmとなった。これにより隣接突起間距離dの最大値を、dmax=dAVG+2σとし、この例ではdmax=234nmとなる。 (5) The mean value d AVG and the standard deviation σ are obtained from the frequency distribution of the distance d between adjacent protrusions thus obtained. Here, when the frequency distribution obtained in this way is regarded as a normal distribution and the mean value d AVG and the standard deviation σ are obtained, in the example of FIG. 7, the mean value d AVG = 158 nm and the standard deviation σ = 38 nm. As a result, the maximum value of the distance d between adjacent protrusions is dmax = d AVG + 2σ, and in this example, dmax = 234 nm.
なお同様の手法を適用して突起の高さを定義する。この場合、上述の(2)により求められる極大点から、特定の基準位置からの各極大点位置の相対的な高さの差を取得してヒストグラム化する。図8は、このようにして求められる突起付け根位置を基準(高さ0)とした突起高さHの度数分布のヒストグラムを示す図である。このヒストグラムによる度数分布から突起高さの平均値HAVG、標準偏差σを求める。ここでこの図8の例では、平均値HAVG=178nm、標準偏差σ=30nmである。これによりこの例では、突起の高さは、平均値HAVG=178nmとなる。なお図8に示す突起高さHのヒストグラムにおいて、多峰性微小突起の場合は、頂点を複数有していることにより、1つの突起に対してこれら複数のデータが混在することになる。そこでこの場合は麓部が同一の微小突起に属するそれぞれ複数の頂点の中から高さの最も高い頂点を、当該微小突起の突起高さとして採用して度数分布を求める。また麓部を共有する全峰が同一高さの場合は、其の同一の高さを以って該微小突起の高さとする。 The height of the protrusion is defined by applying the same method. In this case, the difference in relative height of each maximum point position from a specific reference position is acquired from the maximum point obtained in (2) above and made into a histogram. FIG. 8 is a diagram showing a histogram of the frequency distribution of the protrusion height H with the protrusion base position obtained in this way as a reference (height 0). From the frequency distribution based on this histogram, the average value HAVG of the protrusion height and the standard deviation σ are obtained. Here in the example of FIG. 8, the mean value H AVG = 178 nm, the standard deviation sigma = 30 nm. Thus in this example, the height of the projections is an average value H AVG = 178 nm. In the histogram of the protrusion height H shown in FIG. 8, in the case of the multimodal microprojection, since the plurality of vertices are provided, these plurality of data are mixed for one projection. Therefore, in this case, the highest apex among the plurality of vertices belonging to the same microprojection at the foot is adopted as the protrusion height of the microprojection to obtain the frequency distribution. When all the peaks sharing the foot are at the same height, the same height is used as the height of the microprojections.
なお上述した突起の高さを測る際の基準位置は、隣接する微小突起の間の谷底(高さの極小点)を高さ0の基準とする。但し、例えば後述するように、谷底の高さが微小突起の隣接突起間距離に比べて大きな周期でウネリを有する場合において、係る谷底の高さ自体が場所によって異なる場合は、(1)先ず、基材2の表面又は裏面から測った各谷底の高さの平均値を、該平均値が收束するに足る面積の中で算出する。(2)次いで、該平均値の高さを持ち、基材2の表面又は裏面と平行な面を基準面として考える。(3)その後、該基準面を改めて高さ0として、該基準面からの各微小突起の高さを算出する。 As the reference position when measuring the height of the above-mentioned protrusions, the valley bottom (minimum point of height) between the adjacent minute protrusions is used as the reference for the height of 0. However, as will be described later, for example, when the height of the valley bottom has swells at a period larger than the distance between adjacent protrusions of the microprojections, and the height of the valley bottom itself differs depending on the location, (1) First, The average value of the heights of the valley bottoms measured from the front surface or the back surface of the base material 2 is calculated within the area where the average value is sufficient for convergence. (2) Next, a surface having a height of the average value and parallel to the front surface or the back surface of the base material 2 is considered as a reference surface. (3) After that, the height of each microprojection from the reference plane is calculated by setting the reference plane to the height of 0 again.
突起が不規則に配置されている場合には、このようにして求められる隣接突起間距離の最大値dmax=dAVG+2σ、突起の高さの平均値HAVGが、規則正しく配置されている場合の上述の条件を満足することが必要であることが判った。具体的には、反射防止効果を発現する微小突起間距離の条件は、dmax≦Λminとなる。最低限、可視光線帯域の最長波長において反射防止効果を奏し得る必要最短限の条件は、Λmin=λmaxであるため、dmax≦λmaxとなり、可視光線帯域の全波長に対して反射防止効果を奏し得る必要十分の条件は、Λmin=λminであるため、dmax≦λminとなる。そして、可視光線帯域の全波長に対する反射防止効果をより確実に奏し得る好ましい条件は、dmax≦300nmであり、更に好ましい条件は、dmax≦200nmである。また反射防止効果の発現及び反射率の等方性(低角度依存性)の確保等の理由から、通常、dmax≧50nmであり、好ましくは、dmax≧100nmとされる。また突起高さについては、十分な反射防止効果を発現する為には、HAVG≧0.2×λmax=156nm(λmax=780nmとして)とされる。しかしながら実用上十分な程度に反射防止機能を確保する観点からは、平均突起間距離daveを、dave≦λminとしても良い。 When the protrusions are arranged irregularly, the maximum value dmax = d AVG + 2σ of the distance between adjacent protrusions obtained in this way and the average value H AVG of the heights of the protrusions are regularly arranged. It was found that it is necessary to satisfy the above conditions. Specifically, the condition of the distance between the microprojections that exhibits the antireflection effect is dmax ≦ Λmin. At a minimum, the minimum necessary condition that can exert the antireflection effect at the longest wavelength of the visible light band is Λmin = λmax, so dmax ≤ λmax, and the antireflection effect can be exerted for all wavelengths of the visible light band. Since the necessary and sufficient condition is Λmin = λmin, dmax ≦ λmin. A preferable condition for more reliably achieving the antireflection effect for all wavelengths in the visible light band is dmax ≦ 300 nm, and a more preferable condition is dmax ≦ 200 nm. Further, for the reason of exhibiting the antireflection effect and ensuring the isotropic property (low angle dependence) of the reflectance, dmax ≧ 50 nm is usually set, and dmax ≧ 100 nm is preferably set. The height of the protrusion is set to HAVG ≧ 0.2 × λmax = 156 nm (assuming λmax = 780 nm) in order to exhibit a sufficient antireflection effect. However, from the viewpoint of ensuring the antireflection function to a practically sufficient level, the average inter-projection distance dave may be set to dave ≦ λmin.
因みに、図4〜図8の例により説明するとdmax=234nm≦λmax=780nmとなり、dmax≦λmaxの条件を満足して十分に反射防止効果を奏し得ることが判る。また可視光線帯域の最短波長λminが380nmであることから、可視光線の全波長帯域において反射防止効果を発現する十分条件dmax≦λminも満たすことが判る。またdave≦dmaxであることから、dave≦λminの条件も満足していることが判る。また平均突起高さHAVG=178nmであることにより、平均突起高さHAVG≧0.2×λmax=156nmとなり(可視光波長帯域の最長波長λmax=780nmとして)、十分な反射防止効果を実現するための突起の高さに関する条件も満足していることが判る。なお標準偏差σ=30nmであることから、HAVG−σ=148nm<0.2×λmax=156nmとの関係式が成立することから、統計学上、全突起の50%以上、84%以下が、突起の高さに係る条件(178nm以上)の条件を満足していることが判る。なおAFM及びSEMによる観察結果、並びに微小突起の高さ分布の解析結果から、多峰性微小突起は相対的に高さの低い微小突起よりも高さの高い微小突起でより多く生じる傾向にあることが判明した。 Incidentally, when described by the examples of FIGS. 4 to 8, dmax = 234 nm ≦ λmax = 780 nm, and it can be seen that the antireflection effect can be sufficiently exhibited by satisfying the condition of dmax ≦ λmax. Further, since the shortest wavelength λmin in the visible light band is 380 nm, it can be seen that the sufficient condition dmax ≦ λmin for exhibiting the antireflection effect in the entire wavelength band of visible light is also satisfied. Further, since dave ≦ dmax, it can be seen that the condition of dave ≦ λmin is also satisfied. Further, since the average protrusion height H AVG = 178 nm, the average protrusion height H AVG ≧ 0.2 × λmax = 156 nm (assuming the longest wavelength λmax = 780 nm in the visible light wavelength band), and a sufficient antireflection effect is realized. It can be seen that the conditions regarding the height of the protrusions for this are also satisfied. Note since the standard deviation sigma = 30 nm, since the relationship between the H AVG -σ = 148nm <0.2 × λmax = 156nm is satisfied, statistically, more than 50% of the total protrusions, 84% or less It can be seen that the condition relating to the height of the protrusion (178 nm or more) is satisfied. From the observation results by AFM and SEM and the analysis result of the height distribution of the microprojections, the multimodal microprojections tend to occur more in the microprojections with higher height than in the microprojections with relatively low height. It has been found.
なお上述の図7、図8の計測結果は、隣接突起間距離の説明に供するための測定結果であり、この実施形態に係る計測結果とは異なるものである。 The measurement results of FIGS. 7 and 8 described above are measurement results for use in explaining the distance between adjacent protrusions, and are different from the measurement results according to this embodiment.
〔高さ分布〕
ここで、反射防止物品上に形成される多峰性の微小突起は、上述の可視光域に係る入射光に対する反射防止機能を向上させるために、以下の条件を満たすようにして形成される必要がある。
[Height distribution]
Here, the multimodal microprojections formed on the antireflection article need to be formed so as to satisfy the following conditions in order to improve the antireflection function for the incident light related to the above-mentioned visible light region. There is.
図9は、反射防止物品に形成される微小突起の高さhの度数分布の例を示す図である。図9に示すように、微小突起の高さhの度数分布における高さの平均値をmとし、標準偏差をσとし、h<m−σの領域を微小突起の低高度領域とし、m−σ≦h≦m+σの領域を中高度領域とし、m+σ<hの領域を高高度領域とした場合に、各領域内の多峰性の微小突起の数Nmと、度数分布全体における微小突起の総数Ntとの比率が、以下の(a)、(b)の関係を満たすように作製される。
(a)中高度領域のNm/Nt>低高度領域のNm/Nt
(b)中高度領域のNm/Nt>高高度領域のNm/Nt
FIG. 9 is a diagram showing an example of a frequency distribution of the height h of the microprojections formed on the antireflection article. As shown in FIG. 9, the mean value of the heights in the frequency distribution of the height h of the microprojections is m, the standard deviation is σ, the region of h <m−σ is the low altitude region of the microprojections, and m− When the region of σ ≦ h ≦ m + σ is the middle altitude region and the region of m + σ <h is the high altitude region, the number of multimodal microprojections in each region is Nm and the total number of microprojections in the entire frequency distribution. It is prepared so that the ratio with Nt satisfies the following relationships (a) and (b).
(A) Nm / Nt in the middle altitude region> Nm / Nt in the low altitude region
(B) Nm / Nt in the medium altitude region> Nm / Nt in the high altitude region
図10は、この実施形態に係る反射防止物品の高さの計測結果を示す図である。この図13において、微小突起の高さの平均値がm=145.7nmであり、その標準偏差がσ=22.1nmである。ここで、微小突起の高さhの度数分布において、低高度領域は、h<m−σ=123.6nmとなり、中高度領域は、m−σ=123.6nm≦h≦m+σ=167.8nmとなり、高高度領域は、h>m+σ=167.8nmとなる。 FIG. 10 is a diagram showing a measurement result of the height of the antireflection article according to this embodiment. In FIG. 13, the average value of the heights of the microprojections is m = 145.7 nm, and the standard deviation thereof is σ = 22.1 nm. Here, in the frequency distribution of the height h of the microprojections, the low altitude region has h <m-σ = 123.6 nm, and the medium altitude region has m-σ = 123.6 nm ≦ h ≦ m + σ = 167.8 nm. Therefore, the high altitude region is h> m + σ = 167.8 nm.
度数分布全体の微小突起の総数Ntは、263個である。また、中高度領域の多峰性の微小突起の数Nmは、23個であるので、中高度領域のNm/Ntは、0.087となる。低高度領域の多峰性の微小突起の数Nmは、2個であるので、低高度領域のNm/Ntは、0.008となる。高高度領域の多峰性の微小突起の数Nmは、5個であるので、高高度領域のNm/Ntは、0.019となる。 The total number Nt of microprojections in the entire frequency distribution is 263. Further, since the number Nm of the multimodal microprojections in the medium altitude region is 23, the Nm / Nt in the medium altitude region is 0.087. Since the number Nm of the multimodal microprojections in the low altitude region is two, the Nm / Nt in the low altitude region is 0.008. Since the number Nm of the multimodal microprojections in the high altitude region is 5, the Nm / Nt in the high altitude region is 0.019.
従って、本実施例の反射防止物品は、上述の(a)、(b)の関係、すなわち、
(a)中高度領域のNm/Nt=0.087>低高度領域のNm/Nt=0.008
(b)中高度領域のNm/Nt=0.087>高高度領域のNm/Nt=0.019
を満足する。
Therefore, the antireflection article of this embodiment has the relationship of (a) and (b) described above, that is,
(A) Nm / Nt = 0.087 in the medium altitude region> Nm / Nt = 0.008 in the low altitude region
(B) Nm / Nt = 0.087 in the medium altitude region> Nm / Nt = 0.019 in the high altitude region
To be satisfied.
このように中高度領域における多峰性の微小突起の数(Nm)と度数分布における微小突起の総数(Nt)との比率(Nm/Nt)が、低高度領域及び高高度領域の比率よりも大きくなるように多峰性の微小突起を形成することにより可視光域に係る入射光に対する反射率を低減することができ、反射防止物品の反射防止機能の広帯域化を図ることができる。 Thus, the ratio (Nm / Nt) of the number of multimodal microprojections (Nm) in the medium-altitude region to the total number of microprojections (Nt) in the frequency distribution is larger than the ratio of the low-altitude region and the high-altitude region. By forming multimodal microprojections so as to be large, the reflectance for incident light in the visible light region can be reduced, and the antireflection function of the antireflection article can be widened.
また、この反射防止物品は、このような高さ分布において、多峰性の微小突起(頂点数が2つ及び3つのものをそれぞれ二峰、三峰により示す)についても、ほぼ高さの平均値が一致した正規分布とすることができるので、視野角特性を制限すると共に、光学干渉による虹ムラを抑制し、視聴者にとって低反射かつ視覚上好ましい画面を作ることができる。また、効率良く多峰性の微小突起の耐擦傷性を向上させることができる。 In addition, in such a height distribution, this antireflection article also has a substantially average height of multimodal microprojections (two and three peaks are indicated by two peaks and three peaks, respectively). Since the normal distribution can be made to match, the viewing angle characteristics can be limited, rainbow unevenness due to optical interference can be suppressed, and a screen with low reflection and visually favorable for the viewer can be created. In addition, the scratch resistance of the multimodal microprojections can be efficiently improved.
更に、上述の構成にすることによって、反射防止物品は、高さが高い(180nm以上)微小突起に分布する多峰性の微小突起の比率が小さく、単峰性の微小突起の比率が多いので、他の物体が微小突起に摩擦接触したとしても、高さの高い単峰性の微小突起が先に接触することとなり、反射防止機能を主に向上させる多峰性の微小突起に接触してしまうのを抑制することができる。 Further, by adopting the above configuration, the antireflection article has a small ratio of multimodal microprojections distributed in high-height (180 nm or more) microprojections and a large proportion of monomodal microprojections. Even if another object makes frictional contact with the microprojections, the tall monomodal microprojections will come into contact first, and will come into contact with the multimodal microprojections that mainly improve the antireflection function. It can be suppressed from being stored.
なお、これら多峰性の微小突起の特徴は、賦型用金型の対応する形状を備えた微細穴により作製される多峰性の微小突起の固有の特徴であり、特開2012−037670号公報に開示の樹脂の充填不良により生じる多峰性微小突起によっては得ることができない特徴である。すなわち樹脂の充填不良による多峰性の微小突起は、本来、単峰性の微小突起として作製される微細穴に十分に樹脂が充填されないことにより作製されるものであるので、頂点間の間隔が極めて微小であり、これにより耐擦傷性を十分に向上することが困難であり、また上述したような光学特性の向上も困難である。 It should be noted that the characteristics of these multimodal microprojections are unique characteristics of the multimodal microprojections produced by the microholes having the corresponding shapes of the molding die, and are unique to JP2012-307670. This is a feature that cannot be obtained by the multimodal microprojections caused by poor filling of the resin disclosed in the publication. That is, the multimodal microprojections due to poor resin filling are produced by not sufficiently filling the micropores originally produced as monomodal microprojections with resin, so that the distance between the vertices is large. It is extremely minute, and it is difficult to sufficiently improve the scratch resistance, and it is also difficult to improve the optical characteristics as described above.
また、充填不良による多峰性の微小突起にあっては、再現性が乏しく、これにより均一な製品を量産できない欠点もあり、これに対して、この実施形態に係る多峰性の微小突起は、いわゆる金型により高い再現性を確保することができる。また、上述の実施例について詳述するように、多峰性の微小突起の高さ分布について制御できるのに対し、充填不良の多峰性の微小突起については、このような制御が困難である。 In addition, the multimodal microprojections due to poor filling have poor reproducibility, which makes it impossible to mass-produce uniform products. On the other hand, the multimodal microprojections according to this embodiment have a drawback. High reproducibility can be ensured by the so-called mold. Further, as described in detail in the above-described embodiment, the height distribution of the multimodal microprojections can be controlled, whereas such control is difficult for the multimodal microprojections with poor filling. ..
〔製造工程〕
図11は、この反射防止フィルム1の製造工程を示す図である。この製造工程10は、樹脂供給工程において、ダイ11により帯状フィルム形態の基材2に受容層4を構成する未硬化で液状のアクリレート系紫外線硬化性樹脂を塗布する。なおこれらの塗工液の塗布については、ダイ11による場合に限らず、各種の手法を適用することができる。続いてこの製造工程10は、受容層4に係る塗工液をレベリング処理、乾燥処理する。この実施形態では、このレベリング処理において、重力により光拡散粒子8が偏析して光拡散層4B及び光透過層4Aを構成することができるように、塗工液を塗布した側が基材2の上側となるように工程が設定されると共に、塗工液に係る溶剤量、レベリング工程の時間が設定される。続いてこの工程は、押圧ローラ14により、反射防止物品の賦型用金型であるロール版13の周側面に基材2を加圧押圧し、これにより基材2に未硬化状態で液状の紫外線硬化性樹脂を密着させると共に、ロール版13の周側面に作製された微細な凹凸形状の凹部に紫外線硬化性樹脂を充分に充填する。この製造工程は、この状態で、紫外線の照射により紫外線硬化性樹脂を硬化させ、これにより基材2の表面に微小突起群を作製する。この製造工程は、続いて剥離ローラ15を介してロール版13から、硬化した紫外線硬化性樹脂と一体に基材2を剥離する。製造工程10は、必要に応じてこの基材2に粘着層等を作製した後、所望の大きさに切断して反射防止フィルム1を作製する。これにより反射防止フィルム1は、ロール材による長尺の基材2に、賦型用金型であるロール版13の周側面に作製された微細形状を順次賦型して、効率良く大量生産される。なお図1において符号Bにより示すように、光拡散層4Bと光透過層4Aとを積層により作製する場合には、それぞれ塗工液を塗布する工程が設けられ、必要に応じて硬化工程が追加される。また基材側中間保持層を配置する場合には、ダイ11による塗工液の塗工前に、この基材側中間保持層に係る塗工液を塗布して乾燥や硬化等する工程が設けられる。また易接着層を設ける場合、事前に基材2に易接着層を作製する工程が設けられる。
〔Manufacturing process〕
FIG. 11 is a diagram showing a manufacturing process of the antireflection film 1. In this manufacturing step 10, in the resin supply step, an uncured and liquid acrylate-based ultraviolet curable resin constituting the receiving layer 4 is applied to the base material 2 in the form of a strip film by the die 11. It should be noted that various methods can be applied to the application of these coating liquids, not limited to the case of using the die 11. Subsequently, in this manufacturing step 10, the coating liquid related to the receiving layer 4 is leveled and dried. In this embodiment, in this leveling process, the side to which the coating liquid is applied is the upper side of the base material 2 so that the light diffusing particles 8 can be segregated by gravity to form the light diffusing layer 4B and the light transmitting layer 4A. The process is set so as to be, and the amount of solvent related to the coating liquid and the time of the leveling process are set. Subsequently, in this step, the base material 2 is pressed and pressed against the peripheral side surface of the roll plate 13, which is a mold for shaping the antireflection article, by the pressing roller 14, whereby the base material 2 is uncured and liquid. The ultraviolet curable resin is brought into close contact with the roll plate 13, and the fine uneven concave portions formed on the peripheral side surface of the roll plate 13 are sufficiently filled with the ultraviolet curable resin. In this manufacturing process, in this state, the ultraviolet curable resin is cured by irradiation with ultraviolet rays, whereby microprojections are produced on the surface of the base material 2. In this manufacturing step, the base material 2 is subsequently peeled from the roll plate 13 via the peeling roller 15 together with the cured ultraviolet curable resin. In the manufacturing step 10, an adhesive layer or the like is formed on the base material 2 as needed, and then cut into a desired size to produce an antireflection film 1. As a result, the antireflection film 1 is efficiently mass-produced by sequentially molding the fine shape formed on the peripheral side surface of the roll plate 13, which is a molding die, onto the long base material 2 made of a roll material. To. As shown by reference numeral B in FIG. 1, when the light diffusing layer 4B and the light transmitting layer 4A are manufactured by laminating, a step of applying a coating liquid is provided for each, and a curing step is added as necessary. Will be done. When the base material side intermediate holding layer is arranged, a step of applying the coating liquid related to the base material side intermediate holding layer and drying or curing is provided before the coating liquid is applied by the die 11. Be done. Further, when the easy-adhesion layer is provided, a step of forming the easy-adhesion layer on the base material 2 is provided in advance.
このようにして基材2の一方の面に微小突起5を作製した後、製造工程は、基材2の他方の面を鹸化処理した後、光学機能層106、基材107が順次設けられ、これにより基材2を兼用して直線偏光板と一体化される。 After the microprojections 5 are produced on one surface of the base material 2 in this manner, in the manufacturing process, the other surface of the base material 2 is saponified, and then the optical functional layer 106 and the base material 107 are sequentially provided. As a result, the base material 2 is also used and integrated with the linear polarizing plate.
〔ロール版作製工程〕
図12は、ロール版13の構成を示す斜視図である。ロール版13は、円筒形状の金属材料である母材の周側面に、陽極酸化処理、エッチング処理の繰り返しにより、微細な凹凸形状が作製され、この微細な凹凸形状が基材2に賦型される。このためロール版13は、少なくとも周側面に純度の高いアルミニウム層が設けられた円柱形状又は円筒形状の部材が母材に適用される。より具体的に、この実施形態では、母材に中空のステンレスパイプが適用され、直接に又は各種の中間層を介して、純度の高いアルミニウム層が、谷底の包絡面9に対応する曲面形状により設けられる。なおステンレスパイプに代えて、銅やアルミニウム等のパイプ材等を適用してもよい。ロール版13は、陽極酸化処理とエッチング処理との繰り返しにより、母材の周側面に微細穴が密に作製され、この微細穴を掘り進めると共に、開口部に近付くに従ってより大きな径となるようにこの微細穴の穴径を徐々に拡大して凹凸形状が作製される。これによりロール版13は、深さ方向に徐々に穴径が小さくなる微細穴が密に作製され、反射防止フィルム1には、この微細穴に対応して、頂部に近付くに従って徐々に径が小さくなる多数の微小突起により微細な凹凸形状が作製される。
[Roll plate manufacturing process]
FIG. 12 is a perspective view showing the configuration of the roll plate 13. In the roll plate 13, a fine uneven shape is formed on the peripheral side surface of the base material, which is a cylindrical metal material, by repeating anodizing treatment and etching treatment, and this fine uneven shape is formed on the base material 2. To. Therefore, in the roll plate 13, a cylindrical or cylindrical member provided with a high-purity aluminum layer on at least the peripheral side surface is applied to the base material. More specifically, in this embodiment, a hollow stainless steel pipe is applied to the base metal, and the high-purity aluminum layer is provided by the curved shape corresponding to the envelope surface 9 at the valley bottom, either directly or through various intermediate layers. Provided. Instead of the stainless steel pipe, a pipe material such as copper or aluminum may be applied. In the roll plate 13, fine holes are densely formed on the peripheral side surface of the base material by repeating the anodizing treatment and the etching treatment, and the fine holes are dug and the diameter becomes larger as it approaches the opening. A concave-convex shape is created by gradually expanding the hole diameter of the fine holes. As a result, the roll plate 13 is densely formed with fine holes whose hole diameter gradually decreases in the depth direction, and the antireflection film 1 has a diameter gradually decreasing as it approaches the top corresponding to these fine holes. A fine uneven shape is produced by a large number of minute protrusions.
図13は、ロール版13の製造工程を示す図である。この製造工程は、電解溶出作用と、砥粒による擦過作用の複合による電解複合研磨法によって母材の周側面を超鏡面化する(電解研磨)。 FIG. 13 is a diagram showing a manufacturing process of the roll plate 13. In this manufacturing process, the peripheral side surface of the base metal is made into a super mirror surface by an electrolytic composite polishing method that combines an electrolytic elution action and an abrasion action by abrasive grains (electropolishing).
アルミニウム層形成工程において、母材の周側面にアルミニウムをスパッタリングし、純度の高いアルミニウム層を作製する。続いてこの工程は、陽極酸化工程A1、…、AN、エッチング工程E1、…、ENを交互に繰り返して母材を処理し、ロール版13を作製する。 In the aluminum layer forming step, aluminum is sputtered on the peripheral side surface of the base material to prepare a high-purity aluminum layer. Subsequently, in this step, the base metal is processed by alternately repeating the anodizing steps A1, ..., AN, the etching steps E1, ..., EN to prepare the roll plate 13.
より具体的に、この製造工程において、陽極酸化工程A1、…、ANでは、陽極酸化法により母材の周側面に微細な穴を作製し、さらにこの作製した微細な穴を掘り進める。ここで陽極酸化工程では、例えば負極に炭素棒、ステンレス板材等を使用する場合のように、アルミニウムの陽極酸化に適用される各種の手法を広く適用することができる。また溶解液についても、中性、酸性の各種溶解液を使用することができ、より具体的には、例えば硫酸水溶液、シュウ(蓚)酸水溶液、リン酸水溶液等を使用することができる。この製造工程A1、…、ANは、液温、印加する電圧、陽極酸化に供する時間等の管理により、微細な穴をそれぞれ目的とする深さ及び微小突起形状に対応する形状に作製する。 More specifically, in this manufacturing process, in the anodizing steps A1, ..., AN, fine holes are formed on the peripheral side surface of the base metal by the anodizing method, and the prepared fine holes are further dug. Here, in the anodizing step, various methods applied to anodizing aluminum can be widely applied, for example, when a carbon rod, a stainless plate material, or the like is used for the negative electrode. As the solution, various neutral and acidic solutions can be used, and more specifically, for example, a sulfuric acid aqueous solution, a oxalic acid aqueous solution, and a phosphoric acid aqueous solution can be used. In the manufacturing steps A1, ..., AN, by controlling the liquid temperature, the applied voltage, the time for anodizing, etc., the fine holes are made into the desired depth and the shape corresponding to the fine protrusion shape, respectively.
続くエッチング工程E1、…、ENは、母材をエッチング液に浸漬し、陽極酸化工程A1、…、ANにより作製、掘り進めた微細な穴の穴径をエッチングにより拡大し、深さ方向に向かって滑らか、かつ徐々に穴径が小さくなるように、これら微細な穴を整形する。なおエッチング液については、この種の処理に適用される各種エッチング液を広く適用することができ、より具体的には、例えば硫酸水溶液、シュウ酸水溶液、リン酸水溶液等を使用することができる。これらによりこの製造工程では、陽極酸化処理とエッチング処理とを交互にそれぞれ複数回実行することにより、賦型に供する微細穴を母材の周側面に作製する。尚、陽極酸化処理で用いたシュウ酸水溶液等の陽極酸化処理液自体は、電圧を印加することなく、母材に接触させればエッチング液として機能する。従って、陽極酸化処理液とエッチング液とを同じ液とし、同液を入れた槽中に母材を浸漬したまま、順次、所定時間所定電圧を印加することで陽極酸化処理を行い、電圧無印加で所定時間浸漬することによってエッチング処理を行うこともできる。 In the subsequent etching steps E1, ..., EN, the base material is immersed in an etching solution, and the hole diameters of the fine holes produced and dug by the anodic oxidation steps A1, ..., AN are enlarged by etching and directed toward the depth direction. These fine holes are shaped so that they are smooth and the hole diameter gradually decreases. As the etching solution, various etching solutions applied to this kind of treatment can be widely applied, and more specifically, for example, a sulfuric acid aqueous solution, an oxalic acid aqueous solution, a phosphoric acid aqueous solution and the like can be used. As a result, in this manufacturing process, the anodizing treatment and the etching treatment are alternately performed a plurality of times to prepare fine holes to be used for shaping on the peripheral side surface of the base material. The anodizing solution itself, such as the oxalic acid aqueous solution used in the anodizing process, functions as an etching solution when it is brought into contact with the base material without applying a voltage. Therefore, the anodic oxidation treatment liquid and the etching liquid are made the same liquid, and the anodic oxidation treatment is performed by sequentially applying a predetermined voltage for a predetermined time while the base material is immersed in the tank containing the same liquid, and no voltage is applied. It is also possible to perform the etching process by immersing in the above for a predetermined time.
〔陽極酸化処理、エッチング処理の詳細〕
図14は、このような単峰性微小突起と多峰性微小突起とを混在させる場合について、図13における陽極酸化処理、エッチング処理を詳細に示す図である。ここで陽極酸化処理の印加電圧と作製される微細穴のピッチとは比例関係である。しかしながら実際上、処理に供するアルミニウムの粒界等により微細穴のピッチは種々にばらつく。但し、この図14においては、このようなばらつきが無いものとして、また微細穴が規則正しい配列により作製されるものとして説明する。なお図14(a)〜(e)は、それぞれ各工程により作製される微細穴を平面視した図、及びa−a線により切り取って示す対応する断面図である。
[Details of anodizing and etching]
FIG. 14 is a diagram showing in detail the anodizing treatment and the etching treatment in FIG. 13 in the case where such monomodal microprojections and multimodal microprojections are mixed. Here, the applied voltage of the anodizing treatment and the pitch of the prepared fine holes are in a proportional relationship. However, in practice, the pitch of the fine holes varies depending on the grain boundaries of the aluminum used for the treatment. However, in FIG. 14, it will be described that there is no such variation and that the fine holes are produced in a regular arrangement. 14 (a) to 14 (e) are a plan view of the fine holes produced by each step and a corresponding cross-sectional view cut out along the line aa.
ここで始めにこの実施形態では、低い印加電圧V1により第1の陽極酸化処理を実行した後、エッチング処理(以下、適宜、第1工程と呼ぶ)を実行し、これにより図14(a)に示すように、この低い印加電圧V1に係る基本ピッチによる微細穴f1を作製する。ここでこの第1の陽極酸化処理は、アルミニウム層の表面に、後続する陽極酸化のきっかけを作製するものである。なおこの場合、必要に応じてこの第1工程のエッチング処理を省略してもよい。 Here, first, in this embodiment, after performing the first anodizing treatment with a low applied voltage V1, an etching treatment (hereinafter, appropriately referred to as a first step) is performed, whereby FIG. 14 (a) shows. As shown, a fine hole f1 having a basic pitch related to this low applied voltage V1 is produced. Here, this first anodizing treatment creates a trigger for subsequent anodizing on the surface of the aluminum layer. In this case, the etching process of the first step may be omitted if necessary.
続いてこの実施形態では、第1の陽極酸化時より高い印加電圧V2(V2>V1)により第2の陽極酸化処理を実行した後、エッチング処理を実行する(以下、適宜、第2工程と呼ぶ)。ここでこの場合、図14(b)に示すように、印加電圧を上昇させたことにより、第1の陽極酸化処理により作製された微細穴f1のうち、この第2の陽極酸化処理に係る印加電圧に対応する微細穴のみ深さ方向に掘り進められ(符号f2により示す)、エッチング処理されることになる。これによりこの第2の工程により、例えば2段階により印加電圧を可変すれば、深さの異なる分布を呈する微細穴を混在させることができる。 Subsequently, in this embodiment, the second anodizing treatment is executed at an applied voltage V2 (V2> V1) higher than that at the time of the first anodizing, and then the etching treatment is executed (hereinafter, appropriately referred to as a second step). ). Here, in this case, as shown in FIG. 14B, among the fine holes f1 produced by the first anodic oxidation treatment by increasing the applied voltage, the application related to the second anodic oxidation treatment is applied. Only the fine holes corresponding to the voltage are dug in the depth direction (indicated by reference numeral f2) and etched. As a result, by this second step, for example, if the applied voltage is changed in two steps, it is possible to mix fine holes having different depth distributions.
続いてこの実施形態では、第2の陽極酸化時より高い印加電圧V3(V3>V2)により第3の陽極酸化処理を実行した後、エッチング処理を実行する(以下、適宜、第3工程と呼ぶ)(図14(c))。ここでこの第3工程は、ピッチの異なる微細穴を作製するための工程である。このためこの工程では、第2の陽極酸化工程における印加電圧V2から徐々に印加電圧を上昇させる。ここでこの印加電圧の上昇を離散的に(段階的に)実行すると、微小突起の高さ分布を離散的に設定することができ、深さの分布が異なる微細穴を混在させることができる。またこの印加電圧の上昇を連続的に変化させると、深さ分布を正規分布に設定することができる。 Subsequently, in this embodiment, the third anodizing treatment is executed at an applied voltage V3 (V3> V2) higher than that at the time of the second anodizing, and then the etching treatment is executed (hereinafter, appropriately referred to as a third step). ) (Fig. 14 (c)). Here, this third step is a step for producing fine holes having different pitches. Therefore, in this step, the applied voltage is gradually increased from the applied voltage V2 in the second anodizing step. Here, if this increase in the applied voltage is performed discretely (stepwise), the height distribution of the microprojections can be set discretely, and microholes having different depth distributions can be mixed. Further, by continuously changing the increase in the applied voltage, the depth distribution can be set to a normal distribution.
さらにこの第3の工程において、陽極酸化に係る特定電圧の印加時間、エッチング処理の時間が、第1、第2工程よりも長く設定され、これにより符号f3により示すように、第1工程、第2工程で作製された微細穴f1、f2を飲み込むように、これら微細穴f1、f2と合体して底部の略平坦な微細穴が作製される。 Further, in this third step, the application time of the specific voltage related to anodic oxidation and the etching processing time are set longer than those in the first and second steps, whereby the first step and the first step are set as indicated by reference numeral f3. As if swallowing the fine holes f1 and f2 produced in the two steps, the fine holes f1 and f2 are combined to form a substantially flat microhole at the bottom.
続いてこの実施形態では、第3の陽極酸化時より高い印加電圧V4(V4>V3)により第4の陽極酸化処理を実行した後、エッチング処理を実行する(以下、適宜、第4工程と呼ぶ)(図14(d))。ここでこの第4工程は、目的とする突起間間隔によるピッチにより微細穴を作製するための工程であり、これによりこの印加電圧V4はこのピッチに対応する電圧である。この第4工程において、印加電圧を上昇させることにより、第3工程により大きく掘り進められた微細穴の一部がさらに一段と掘り進められて、この掘り進められた微細穴が単峰性微小突起に対応する微細穴f4となる。 Subsequently, in this embodiment, the fourth anodizing treatment is executed at an applied voltage V4 (V4> V3) higher than that at the time of the third anodizing, and then the etching treatment is executed (hereinafter, appropriately referred to as a fourth step). ) (Fig. 14 (d)). Here, the fourth step is a step for forming fine holes by a pitch according to a target inter-projection spacing, whereby the applied voltage V4 is a voltage corresponding to this pitch. In this fourth step, by increasing the applied voltage, a part of the fine holes that were greatly dug in the third step is further dug, and the dug fine holes become monomodal microprojections. It becomes the corresponding fine hole f4.
続いてこの実施形態では、第1工程における印加電圧V1により第5の陽極酸化処理を実行した後、エッチング処理を実行する(図14(e))。ここでこの第5の工程において、第3工程により底面が平坦面とされた微細穴であって、第4の工程の陽極酸化処理の影響を受けていない微細穴について、底面に微細な穴が複数個形成され、これにより多峰突起用の微細穴f5が作製される。ここでこの第5工程の印加電圧V1の大きさを調整することによって、底面に形成される微細な穴f5の数を増やしたり、減らしたりすることができる。 Subsequently, in this embodiment, the fifth anodizing treatment is executed by the applied voltage V1 in the first step, and then the etching treatment is executed (FIG. 14 (e)). Here, in the fifth step, the fine holes whose bottom surface is made flat by the third step and which are not affected by the anodizing treatment in the fourth step have fine holes on the bottom surface. A plurality of microholes f5 for multi-peak projections are formed. Here, by adjusting the magnitude of the applied voltage V1 in the fifth step, the number of fine holes f5 formed on the bottom surface can be increased or decreased.
ここでこの一連の工程では、第1及び第2の工程により作製された深さの異なる微細穴f1、f2を、第3の工程で掘り進めて底面の略平坦な微小突起f3を作製し、第4の工程において、単峰性微小突起に係る微細穴を作製し、また第5の工程において、底面が平坦な微小突起f3の底面を加工して単峰性微小突起に係る微細穴を作製していることにより、これら第1〜第4の工程に係る陽極酸化処理の印加電圧、処理時間、エッチング処理の処理時間等を制御して各工程で作製される微細穴の深さ等を制御することにより、微小突起の高さの分布、多峰性微小突起の高さの分布を制御することができる。なおこれら第1〜第5の工程は、必要に応じて省略したり、繰り返したり、工程を一体化してもよいことは言うまでも無い。 Here, in this series of steps, the microholes f1 and f2 having different depths produced in the first and second steps are dug in the third step to produce microprojections f3 having a substantially flat bottom surface. In the fourth step, the microholes related to the unimodal microprojections are produced, and in the fifth step, the bottom surface of the microprojections f3 having a flat bottom surface is processed to produce the microholes related to the monomodal microprojections. By doing so, the applied voltage of the anodic oxidation treatment, the treatment time, the treatment time of the etching treatment, etc. related to the first to fourth steps are controlled to control the depth of the fine holes produced in each step. By doing so, the height distribution of the microprojections and the height distribution of the multimodal microprojections can be controlled. Needless to say, these first to fifth steps may be omitted, repeated, or integrated as necessary.
なおこの実施形態では、高さ分布を上述したように正規分布の特性とすることにより、陽極酸化工程とエッチング工程とを5回繰り返すようにして、第1回目の陽極酸化工程の印加電圧をV1(15V〜35Vの範囲の一定電圧である)とし、第2回目、第3回目、第4回目、第5回目の陽極酸化工程の印加電圧をそれぞれ2V1、3.5V1、5V1、V1とした。なお陽極酸化処理は、濃度0.02Mのシュウ酸水溶液を使用して100秒実施した。エッチング工程は、濃度0.02Mのシュウ酸水溶液を使用して45秒間エッチング処理した後、濃度1.0Mのリン酸水溶液を使用して110秒間エッチング処理した。 In this embodiment, the height distribution has the characteristics of the normal distribution as described above, so that the anodic oxidation step and the etching step are repeated 5 times, and the applied voltage of the first anodic oxidation step is V1. (It is a constant voltage in the range of 15V to 35V), and the applied voltages of the second, third, fourth, and fifth anodic oxidation steps were 2V1, 3.5V1, 5V1, and V1, respectively. The anodizing treatment was carried out for 100 seconds using an aqueous oxalic acid solution having a concentration of 0.02 M. In the etching step, an etching treatment was performed for 45 seconds using an aqueous oxalic acid solution having a concentration of 0.02 M, and then an etching treatment was performed for 110 seconds using an aqueous phosphoric acid solution having a concentration of 1.0 M.
以上の構成によれば、中間保持層の基材2側に光拡散層4Bを設けることにより、内部反射による映り込みを防止することができる。 According to the above configuration, by providing the light diffusion layer 4B on the base material 2 side of the intermediate holding layer, it is possible to prevent reflection due to internal reflection.
またこの中間保持層を、光拡散粒子を備えた賦型用樹脂層により構成するようにして、この賦型用樹脂層において、基材側で光拡散粒子の粒子間距離が相対的に短くなって光拡散層を形成するようにし、微小突起側で光拡散粒子の粒子間距離が相対的に長くなって光透過層を形成することにより、賦型用樹脂層に混入した光拡散粒子の偏析により、又は同一又は異なる樹脂による光拡散層と光透過層との積層により、中間保持層を作製して、内部反射による映り込みを従来に比して一段と低減することできる。 Further, the intermediate holding layer is composed of a shaping resin layer provided with light diffusing particles, so that the distance between the particles of the light diffusing particles is relatively short on the substrate side in this shaping resin layer. By forming a light-diffusing layer and forming a light-transmitting layer in which the distance between the light-diffusing particles is relatively long on the microprojection side, segregation of the light-diffusing particles mixed in the molding resin layer is performed. By laminating a light diffusing layer and a light transmitting layer made of the same or different resins, an intermediate holding layer can be produced, and reflection due to internal reflection can be further reduced as compared with the conventional case.
また光拡散層と前記基材との間に、さらに基材側中間保持層を設けることにより、基材と賦型用樹脂層との密着力を強化することが可能な各種の材料層を適用して反射防止フィルムを構成して、内部反射による映り込みを従来に比して一段と低減することできる。 Further, by further providing an intermediate holding layer on the base material side between the light diffusion layer and the base material, various material layers capable of strengthening the adhesion between the base material and the molding resin layer are applied. As a result, the antireflection film can be formed to further reduce the reflection due to internal reflection as compared with the conventional case.
またこのような反射防止フィルムを直線偏光板と一体化することにより、微小突起に係る基材を直線偏光板に係る基材と共用化して構成を簡略化することができる。 Further, by integrating such an antireflection film with the linear polarizing plate, the base material related to the microprojections can be shared with the base material related to the linear polarizing plate, and the configuration can be simplified.
〔第2実施形態〕
図15は、図1との対比により本発明の第2実施形態に係る反射防止物品を示す図である。この反射防止物品21は、中間保持層4の受容層(微小突起側中間保持層)6に代えて下地層7(基材側中間保持層)に光拡散粒子が混入され、これにより受容層6に代えて下地層7が光拡散層として機能する。この反射防止物品21は、この光拡散層に関する構成が異なる点を除いて、第1実施形態に係る反射防止フィルム1と同一に構成される。
[Second Embodiment]
FIG. 15 is a diagram showing an antireflection article according to a second embodiment of the present invention in comparison with FIG. In this antireflection article 21, light diffusing particles are mixed in the base layer 7 (base material side intermediate holding layer) instead of the receiving layer (microprojection side intermediate holding layer) 6 of the intermediate holding layer 4, whereby the receiving layer 6 Instead, the base layer 7 functions as a light diffusing layer. The antireflection article 21 is configured in the same manner as the antireflection film 1 according to the first embodiment, except that the configuration relating to the light diffusion layer is different.
なおこれによりこの反射防止物品21においては、光拡散層に係る光拡散粒子の粒径、混入量が、第1実施形態に係る反射防止フィルム1と同一に設定されて、下地層7により受容層6と基材2との密着力を充分に確保できるように、かつこの下地層7が光拡散層として十分に機能して内部反射による映り込みを防止できるように、厚み1μm以上、30μm以下、より好ましくは5μm以上、15μm以下により作製される。 As a result, in the antireflection article 21, the particle size and the mixing amount of the light diffusing particles related to the light diffusing layer are set to be the same as those of the antireflection film 1 according to the first embodiment, and the receiving layer is formed by the base layer 7. The thickness is 1 μm or more and 30 μm or less so that the adhesion between 6 and the base material 2 can be sufficiently secured, and the base layer 7 functions sufficiently as a light diffusion layer to prevent reflection due to internal reflection. More preferably, it is produced by 5 μm or more and 15 μm or less.
この第2実施形態のように、中間保持層が基材側中間保持層と微小突起側中間保持層との積層体である場合に、この基材側中間保持層に光拡散粒子を混入して光拡散層を形成するようにしても、第1実施形態と同様の効果を得ることができる。またこの場合、基材と賦型用樹脂層との密着力を強化することが可能な各種の材料層を適用して基材側中間保持層を構成する場合に、この基材側中間保持層への光拡散粒子の混入により光拡散層を形成することができる。 When the intermediate holding layer is a laminate of the base material side intermediate holding layer and the microprojection side intermediate holding layer as in the second embodiment, the light diffusing particles are mixed in the base material side intermediate holding layer. Even if the light diffusion layer is formed, the same effect as that of the first embodiment can be obtained. Further, in this case, when the base material side intermediate holding layer is formed by applying various material layers capable of strengthening the adhesion between the base material and the shaping resin layer, the base material side intermediate holding layer is formed. A light diffusing layer can be formed by mixing the light diffusing particles into the light diffusing particles.
またこのようにして反射防止フィルムを構成するようにして、反射防止フィルムを直線偏光板と一体化することにより、微小突起に係る基材を直線偏光板に係る基材と共用化して構成を簡略化することができる。 Further, by forming the antireflection film in this way and integrating the antireflection film with the linear polarizing plate, the base material related to the microprojections can be shared with the base material related to the linear polarizing plate to simplify the configuration. Can be transformed into.
〔比較検討結果〕
図16は、実施例の検討結果を示す図表である。この図16において、比較例は、上述の第1実施形態の構成において、光拡散粒子の混入を中止した構成であり、光拡散層を設けない構成である。より具体的に比較例においては、基材2に厚み80μmのTACフィルムを適用した。またペンタエリスリトールトリアクリレート又はイソホロンジイソシアネートを溶剤により希釈して塗工液を作製し、この塗工液の塗布、乾燥、硬化により厚み1μmによる下地層を作製した。またポリエチレングリコールジアクリレートとペンタエリスリトールトリアクリレートとの70wt%及び30wt%による混合物、又はポリエチレングリコールジアクリレートとヘキサメチレンジイソシアネートとの70wt%及び30wt%による混合物を溶剤により希釈し、シリコーンオイル系の重合性樹脂に係る受容層の塗工液を作製し、この塗工液を塗工、乾燥、賦型処理して微小突起を作製するようにして受容層を厚み40〜50μmにより作製した。
[Comparison results]
FIG. 16 is a chart showing the examination results of the examples. In FIG. 16, the comparative example is the configuration in which the mixing of the light diffusing particles is stopped in the configuration of the first embodiment described above, and the light diffusing layer is not provided. More specifically, in the comparative example, a TAC film having a thickness of 80 μm was applied to the base material 2. Further, pentaerythritol triacrylate or isophorone diisocyanate was diluted with a solvent to prepare a coating liquid, and a base layer having a thickness of 1 μm was prepared by applying, drying and curing the coating liquid. Further, a mixture of polyethylene glycol diacrylate and pentaerythritol triacrylate at 70 wt% and 30 wt% or a mixture of polyethylene glycol diacrylate and hexamethylene diisocyanate at 70 wt% and 30 wt% is diluted with a solvent to make the silicone oil-based polymerizable. A coating liquid for the receiving layer related to the resin was prepared, and the coating liquid was coated, dried, and shaped to produce microprojections, whereby the receiving layer was prepared with a thickness of 40 to 50 μm.
従ってこの比較例では、微小突起層のみが作製されていることになり、この微小突起層のみによるヘイズ値は、0.50、反射率は、0.14%であった。 Therefore, in this comparative example, only the microprojection layer was produced, and the haze value due to the microprojection layer alone was 0.50 and the reflectance was 0.14%.
また実施例1、実施例2、実施例3は、上述の第1実施形態の構成であり、比較例1の構成において、受容層の塗工液に光拡散微粒子を混入して光拡散粒子の偏析により光拡散層を作製した構成である。実施例1〜3は、この塗工液中の光拡散粒子と樹脂の重量比がそれぞれ10%、15%、20%に設定され、これにより光拡散層のみのヘイズ値が38.0、42.0、59.0%に設定された。なおこの光拡散層のみのヘイズ値は、賦型処理することなく受容層を硬化させて計測した。なお混入した光拡散粒子は、アクリル系樹脂によるものであり、粒径は2μm〜6μmであった。 Further, Examples 1, 2 and 3 are the configurations of the first embodiment described above, and in the configuration of Comparative Example 1, the light diffusing fine particles are mixed with the coating liquid of the receiving layer to form the light diffusing particles. This is a configuration in which a light diffusion layer is produced by segregation. In Examples 1 to 3, the weight ratios of the light diffusing particles and the resin in the coating liquid were set to 10%, 15%, and 20%, respectively, so that the haze values of only the light diffusing layer were 38.0 and 42. It was set to 0.0 and 59.0%. The haze value of only the light diffusion layer was measured by curing the receiving layer without any shaping treatment. The mixed light diffusing particles were made of an acrylic resin and had a particle size of 2 μm to 6 μm.
比較例では、内部反射により輪郭がシャープな映り込みが見て取られ、この映り込みにより表示画面の品位の劣化が知覚された。しかしながら実施例1〜3では、完全には映り込みを防止することができないまでも、映り込んだ対象物及びその輪郭がぼやけて観察され、これにより映り込みによる品位の劣化が格段的に低減することが確認された。図16においては、この評価を「小」により示す。 In the comparative example, a reflection with a sharp outline was observed due to internal reflection, and the deterioration of the quality of the display screen was perceived by this reflection. However, in Examples 1 to 3, even if the reflection cannot be completely prevented, the reflected object and its outline are observed to be blurred, whereby the deterioration of the quality due to the reflection is remarkably reduced. It was confirmed that. In FIG. 16, this evaluation is indicated by “small”.
なおこの対象物及び輪郭のぼけ具合にあっては、光拡散微粒子とその周囲の樹脂との屈折率差や光拡散微粒子のサイズ、P/V比、光拡散層厚み等で調整することができる。ヘイズ値が強すぎると画面が白味を帯びて観察されるものの、この実施例1〜3の範囲においては、十分に映り込みを低減することができ、これら実施例1〜3で最も好適な構成あっては、ユーザーによる好みにより異なる所であり、この実施例1〜3の範囲は、ユーザに依存する範囲である。 The degree of blurring of the object and the contour can be adjusted by the difference in refractive index between the light diffusing fine particles and the resin around them, the size of the light diffusing fine particles, the P / V ratio, the thickness of the light diffusing layer, and the like. .. If the haze value is too strong, the screen is observed to be whitish, but in the range of Examples 1 to 3, the reflection can be sufficiently reduced, and these Examples 1 to 3 are the most suitable. The configuration is different depending on the preference of the user, and the range of Examples 1 to 3 is a range depending on the user.
なおこの図16による評価結果においては、ヘイズ値にあっては、十分に小さな値が得られており、また透過率にあっても、十分に大きな値が得られており、これらにより何ら実用に問題の無いことが判る。また反射率にあっても、0.4%以下であることにより、最表面での反射による正面物体の映り込みついても十分に防止できることが判る。 In the evaluation result according to FIG. 16, a sufficiently small value was obtained for the haze value, and a sufficiently large value was obtained for the transmittance, which was practically used. It turns out that there is no problem. Further, it can be seen that even if the reflectance is 0.4% or less, it is possible to sufficiently prevent the reflection of the front object due to the reflection on the outermost surface.
これらによりこれら実施例によれば、十分に映り込みを低減できることが判る。 From these, it can be seen that the reflection can be sufficiently reduced according to these examples.
〔他の実施形態〕
以上、本発明の実施に好適な具体的な構成を詳述したが、本発明は、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で、上述の実施形態の構成を種々に変更し、さらには従来構成と組み合わせることができる。
[Other Embodiments]
Although the specific configuration suitable for carrying out the present invention has been described in detail above, the present invention has variously modified the configurations of the above-described embodiments as long as the gist of the present invention is not deviated. Can be combined.
すなわち上述の実施形態では、基材の上に下地層等を順次作製する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、種々の作成手法を広く適用することができ、例えば押し出し成型により基材と一体に微小突起を作製するようにして、この成型に係る樹脂材料に光拡散粒子を混入して基材自体が光拡散層として機能するように設定してもよい。 That is, in the above-described embodiment, the case where the base layer or the like is sequentially prepared on the base material has been described, but the present invention is not limited to this, and various preparation methods can be widely applied, for example, the base layer is formed by extrusion molding. The microprojections may be formed integrally with the material, and the light diffusing particles may be mixed with the resin material involved in this molding so that the base material itself functions as a light diffusing layer.
また上述の実施形態では、ロール版を使用した賦型処理によりフィルム形状による反射防止物品を生産する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、反射防止物品の形状に係る透明基材の形状に応じて、例えば平板、特定の曲面形状による賦型用金型を使用した枚葉の処理により反射防止物品を作成する場合等、賦型処理に係る工程、金型は、反射防止物品の形状に係る透明基材の形状に応じて適宜変更することができる。 Further, in the above-described embodiment, the case where the antireflection article having a film shape is produced by the molding process using the roll plate has been described, but the present invention is not limited to this, and the transparent base material according to the shape of the antireflection article is used. Depending on the shape, for example, when an antireflection article is produced by processing a flat plate or a sheet using a molding die having a specific curved surface shape, the process related to the shaping process, the mold is an antireflection article. It can be appropriately changed according to the shape of the transparent base material according to the shape.
また上述の実施形態では、賦型用樹脂にアクリレート系の紫外線硬化性樹脂を適用する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、エポキシ系、ポリエステル系等の各種紫外線硬化性樹脂、或いはアクリレート系、エポキシ系、ポリエステル系等の電子線硬化性樹脂、ウレタン系、エポキシ系、ポリシロキサン系等の熱硬化性樹脂等の各種材料及び各種硬化形態の賦型用樹脂を使用する場合にも広く適用することができる。 Further, in the above-described embodiment, the case where an acrylate-based ultraviolet curable resin is applied to the shaping resin has been described, but the present invention is not limited to this, and various ultraviolet curable resins such as epoxy-based and polyester-based resins, or Even when various materials such as electron beam curable resins such as acrylate, epoxy and polyester, thermosetting resins such as urethane, epoxy and polysiloxane, and various curing forms of shaping resins are used. It can be widely applied.
また上述の実施形態では、図1にも図示の如く、基材2の一方の面上にのみ(直接或いは他の層を介して)微小突起群5、5A、5B、・・を形成しているが、本発明はかかる形態には限定され無い。基材2の両面上に(直接或いは他の層を介して)各々微小突起群5、5A、5B、・・を形成した構成であっても良い。
また、図示は略すが、図1等に図示の如き本発明の反射防止フィルム1において、基材2の微小突起群形成面とは反対側の面(図1においては基材2の下側面)に各種接着剤層を形成し、更に該接着剤層表面に離型フィルム(離型紙)を剥離可能に積層してなる接着加工品の形態とすることも出来る。かかる形態においては、離型フィルムを剥離除去して接着剤層を露出せしめ、該接着剤層により所望の物品の所望の表面上に本発明の反射防止フィルム1を貼り合わせ、積層することが出来、簡便に所望の物品に反射防止性能を付与することが出来る。接着剤としては、粘着剤(感圧接着剤)、2液硬化型接着剤、紫外線硬化型接着剤、熱硬化型接着剤、熱熔融型接着剤等の公知の接着形態のものが各種使用出来る。
Further, in the above-described embodiment, as shown in FIG. 1, microprojection groups 5, 5A, 5B, ... Are formed only on one surface of the base material 2 (directly or via another layer). However, the present invention is not limited to such a form. The microprojection groups 5, 5A, 5B, ... May be formed on both sides of the base material 2 (directly or via another layer).
Further, although not shown, in the antireflection film 1 of the present invention as shown in FIG. 1 and the like, the surface of the base material 2 opposite to the surface on which the microprojection group is formed (the lower side surface of the base material 2 in FIG. 1). It is also possible to form an adhesive processed product in which various adhesive layers are formed on the surface of the adhesive layer, and a release film (release paper) is releasably laminated on the surface of the adhesive layer. In such a form, the release film can be peeled off to expose the adhesive layer, and the antireflection film 1 of the present invention can be laminated and laminated on a desired surface of a desired article by the adhesive layer. , It is possible to easily impart antireflection performance to a desired article. As the adhesive, various known adhesive forms such as an adhesive (pressure sensitive adhesive), a two-component curable adhesive, an ultraviolet curable adhesive, a heat curable adhesive, and a heat melting type adhesive can be used. ..
また、図示は略すが、図1等に図示の如き本発明の反射防止フィルム1において、微小突起群5、5A、5B、・・形成面上に剥離可能な保護フィルムを仮接着した状態で保管、搬送、売買、後加工乃至施工を行い、しかる後に適時、該保護フィルムを剥離除去する形態とすることも出来る。かかる形態においては、保管、搬送等の間に微小突起群が損傷乃至は汚染して反射防止性能が低下することを防止することが出来る。 Further, although not shown, in the antireflection film 1 of the present invention as shown in FIG. 1 and the like, the microprojection groups 5, 5A, 5B, ... It is also possible to carry out transportation, sale, post-processing or construction, and then peel off and remove the protective film in a timely manner. In such a form, it is possible to prevent the microprojections from being damaged or contaminated during storage, transportation, etc., and the antireflection performance from being deteriorated.
また、上述の実施形態では、図1、図2(a)に示すように、各隣接微小突起間の谷底(高さの極小点)を連ねた面は高さが一定な平面であったが、本発明はこれに限らず、図17に示すように、各微小突起間の谷底を連ねた包絡面が、可視光線帯域の最長波長λmax以上の周期D(すなわちD>λmaxである)でうねった構成としてもよい。又該周期的なうねりは、基材2の表裏面に平行なXY平面(図2参照)における1方向(例えばX方向)のみでこれと直交する方向(例えばY方向)には一定高さであっても良いし、或いはXY平面における2方向(X方向及びY方向)共にうねりを有していても良い。D>λmaxを満たす周期Dでうねった凹凸面9が多数の微小突起からなる微小突起群に重畳することによって、微小突起群で完全に反射防止し切れずに残った反射光を散乱し、残留反射光、とくに鏡面反射光を更に視認し難くし、以って、反射防止効果を一段と向上させることができる。 Further, in the above-described embodiment, as shown in FIGS. 1 and 2A, the surface connecting the valley bottoms (minimum points of height) between the adjacent microprojections was a plane having a constant height. The present invention is not limited to this, and as shown in FIG. 17, the envelope surface connecting the valley bottoms between the microprojections has a period D (that is, D> λmax) of the longest wavelength λmax or more in the visible light band. May be configured. Further, the periodic swell has a constant height in only one direction (for example, the X direction) in the XY plane (see FIG. 2) parallel to the front and back surfaces of the base material 2 and in a direction orthogonal to this (for example, the Y direction). It may be present, or it may have undulations in both directions (X direction and Y direction) in the XY plane. By superimposing the uneven surface 9 undulating at the period D satisfying D> λmax on the microprojection group consisting of a large number of microprojections, the reflected light that cannot be completely prevented from being reflected by the microprojection group is scattered and remains. The reflected light, particularly the specularly reflected light, is made more difficult to see, and thus the antireflection effect can be further improved.
尚、係る凹凸面9の周期Dが前面に渡って一定では無く分布を有する場合は、該凹凸面について凸部間距離の度数分布を求め、その平均値をDAVG、標準偏差をΣとしたときの、
DMIN=DAVG―2Σ
として定義する最小隣接突起間距離を以って周期Dの代わりとして設計する。即ち、微小突起群の殘留反射光の散乱効果を十分奏し得る条件は、
DMIN>λmax
である。通常、D又はDMINは1〜200μm、好ましくは10〜100μmとされる。
各微小突起の谷底を連ねた包絡面形が、D(又はDMIN)>λmax、なる凹凸面9を呈する樣な微小突起群を形成する具体的な製造方法の一例を挙げると以下の通りである。即ち、ロール版13の製造工程において、円筒(又は円柱)形状の母材の表面にサンドブラスト又はマット(つや消し)メッキによって凹凸面9の凹凸形状に対応する凹凸形状を賦形する。次いで、該凹凸形状の面上に、直接或いは必要に応じて適宜の中間層を形成した後、アルミニウム層を積層する。その後、該凹凸形状表面に対応した表面形状を賦形されたアルミニウム層に上述の実施形態と同様にして陽極酸化処理及びエッチング処理を施して微小突起5、5A、5Bを含む微小突起群を形成する。
When the period D of the uneven surface 9 is not constant over the front surface and has a distribution, the frequency distribution of the distance between the convex portions is obtained for the uneven surface, the average value is DAVG , and the standard deviation is Σ. When
D MIN = D AVG- 2Σ
Designed as an alternative to period D with the minimum distance between adjacent protrusions defined as. That is, the condition for sufficiently exerting the scattering effect of the residual reflected light of the microprojection group is
D MIN > λmax
Is. Generally, D or D MIN is 1 to 200 μm, preferably 10 to 100 μm.
The following is an example of a specific manufacturing method for forming a group of fine microprojections in which the envelope surface shape in which the valley bottoms of each microprojection are connected forms an uneven surface 9 having D (or D MIN )> λmax. is there. That is, in the manufacturing process of the roll plate 13, a concavo-convex shape corresponding to the concavo-convex shape of the concavo-convex surface 9 is formed on the surface of the cylindrical (or columnar) -shaped base material by sandblasting or matte (matte) plating. Next, an appropriate intermediate layer is formed directly or if necessary on the uneven surface, and then an aluminum layer is laminated. After that, the aluminum layer having a surface shape corresponding to the uneven surface is subjected to anodizing treatment and etching treatment in the same manner as in the above-described embodiment to form a microprojection group including microprojections 5, 5A and 5B. To do.
また上述の実施形態では、陽極酸化処理とエッチング処理との繰り返しにより微細穴を作製する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、フォトリソグラフィーの手法を適用して微細穴を作製する場合にも広く適用することができる。 Further, in the above-described embodiment, the case where the fine holes are formed by repeating the anodizing treatment and the etching treatment has been described, but the present invention is not limited to this, and the case where the fine holes are formed by applying the photolithography method. It can also be widely applied to.
また上述の実施形態では画像表示パネルのパネル面に反射防止物品を配置する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えば壁材、家具材等の表面に配置される化粧用フィルム材の表面に配置する場合等にも広く適用することができる。この場合には、化粧用フィルム材において、内部反射による映り込みを防止できることにより、極端に艶消しした化粧フィルム、種々の方向から見て化粧に係る木目模様等が損なわれることの無い化粧フィルム等を提供することができる。 Further, in the above-described embodiment, the case where the antireflection article is arranged on the panel surface of the image display panel has been described, but the present invention is not limited to this, and for example, a decorative film material arranged on the surface of a wall material, a furniture material, or the like. It can also be widely applied when it is placed on the surface of. In this case, in the cosmetic film material, by preventing reflection due to internal reflection, an extremely matte decorative film, a decorative film in which the wood grain pattern related to makeup is not impaired when viewed from various directions, etc. Can be provided.
また上述の実施形態では、反射防止フィルムに係る画像表示パネルにフィルム形状による反射防止物品を配置する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、種々の用途に適用することができる。具体的には、画像表示パネルの画面上に間隙を介して設置されるタッチパネル、各種の窓材、各種光学フィルタ等による表面側部材の裏面(画像表示パネル側)に配置する用途に適用することができる。 Further, in the above-described embodiment, the case where the antireflection article having a film shape is arranged on the image display panel related to the antireflection film has been described, but the present invention is not limited to this, and can be applied to various uses. Specifically, it is applied to the application of placing on the back surface (image display panel side) of the front surface side member by a touch panel, various window materials, various optical filters, etc., which are installed on the screen of the image display panel through a gap. Can be done.
また店舗のショウウインドウや商品展示箱、美術館の展示物の展示窓や展示箱等に使用する硝子板表面(外界側)、或いは表面及び裏面(商品又は展示物側面)の両面に配置するようにしても良い。なおこの場合、該硝子板表面の光反射防止による商品、美術品等の顧客や観客に対する視認性を向上することができる。 In addition, it should be placed on the front surface (outside world side) of the glass plate used for the show window and product display box of the store, the exhibition window and display box of the museum exhibit, or on both the front and back surfaces (side of the product or exhibit). You may. In this case, it is possible to improve the visibility of products, fine arts, etc. to customers and spectators by preventing light reflection on the surface of the glass plate.
また眼鏡、望遠鏡、写真機、ビデオカメラ、銃砲の照準鏡(狙撃用スコープ)、双眼鏡、潜望鏡等の各種光学機器に用いるレンズ又はプリズムの表面に配置する場合にも広く適用することができる。この場合、レンズ又はプリズム表面の光反射防止による視認性を向上することができる。またさらに書籍の印刷部(文字、写真、図等)表面に配置する場合にも適用して、文字等の表面の光反射を防止し、文字等の視認性向上することができる。また看板、ポスター、其の他各種店頭、街頭、外壁等における各種表示(道案内、地図、或いは禁煙、入口、非常口、立入禁止等)の表面に配置して、これらの視認性を向上することができる。またさらに白熱電球、発光ダイオード、螢光燈、水銀燈、EL(電場発光)等を用いた照明器具の窓材(場合によっては、拡散板、集光レンズ、光学フィルタ等も兼ねる)の入光面側に配置するようにして、窓材入光面の光反射を防止し、光源光の反射損失を低減し、光利用効率を向上することができる。またさらに時計、其の他各種計測機器の表示窓表面(表示観察者側)に配置して、これら表示窓表面の光反射を防止し、視認性を向上することができる。 It can also be widely applied to the surface of a lens or prism used in various optical devices such as eyeglasses, telescopes, cameras, video cameras, gun sights (sniper scopes), binoculars, and periscopes. In this case, visibility can be improved by preventing light reflection on the surface of the lens or prism. Further, it can be applied to the case of arranging it on the surface of a printed portion (characters, photographs, figures, etc.) of a book to prevent light reflection on the surface of the characters and improve the visibility of the characters and the like. In addition, place it on the surface of signboards, posters, and other various displays (direction guidance, maps, or non-smoking, entrances, emergency exits, off-limits, etc.) on various storefronts, streets, outer walls, etc. to improve their visibility. Can be done. Furthermore, the light entry surface of the window material (in some cases, also serves as a diffuser plate, condensing lens, optical filter, etc.) of a lighting fixture using an incandescent lamp, a light emitting diode, a light lamp, a mercury lamp, an EL (electric field emission), etc. By arranging it on the side, it is possible to prevent light reflection on the light entering surface of the window material, reduce the reflection loss of the light source light, and improve the light utilization efficiency. Further, it can be arranged on the display window surface (display observer side) of a clock or other various measuring instruments to prevent light reflection on the display window surface and improve visibility.
またさらに、自動車、鉄道車両、船舶、航空機等の乗物の操縦室(運転室、操舵室)の窓の室内側、室外側、あるいはその両側の表面に配置して窓における室内外光を反射防止して、操縦者(運転者、操舵者)の外界視認性を向上することができる。またさらに、防犯等の監視、銃砲の照準、天体観測等に用いる暗視装置のレンズないしは窓材表面に配置して、夜間、暗闇での視認性を向上することができる。 Furthermore, it is placed on the indoor side, outdoor side, or both sides of the window of the cockpit (driver's cab, wheelhouse) of vehicles such as automobiles, railroad vehicles, ships, and aircraft to prevent reflection of indoor and outdoor light in the window. As a result, the visibility of the outside world of the driver (driver, steering wheel) can be improved. Furthermore, by arranging it on the lens or window material surface of a night-vision device used for monitoring crime prevention, aiming a gun, astronomical observation, etc., visibility at night and in the dark can be improved.
またさらに、住宅、店舗、事務所、学校、病院等の建築物の窓、扉、間仕切、壁面等を構成する透明基板(窓硝子等)の表面(室内側、室外側、あいはその両側)の表面に配置して、外界の視認性、あるいは採光効率を向上することができる。またさらに、温室、農業用ビニールハウスの透明シート、ないしは透明板(窓材)の表面に配置して、太陽光の採光効率を向上することができる。さらにまた、太陽電池表面に配置して、太陽光の利用効率(発電効率)を向上することができる。 Furthermore, the surface of transparent substrates (window glass, etc.) that make up windows, doors, partitions, walls, etc. of buildings such as houses, stores, offices, schools, and hospitals (indoor side, outdoor side, and both sides). It can be placed on the surface of the window to improve the visibility of the outside world or the lighting efficiency. Furthermore, it can be placed on the surface of a transparent sheet or a transparent plate (window material) of a greenhouse or an agricultural greenhouse to improve the efficiency of sunlight collection. Furthermore, it can be arranged on the surface of the solar cell to improve the utilization efficiency of sunlight (power generation efficiency).
またさらに透明の部位以外の、不透明な部位についても、広く適用して、反射防止を図る場合に広く適用することができる。 Further, it can be widely applied to an opaque portion other than the transparent portion to prevent reflection.
またさらに、上述の実施形態においては、反射防止を図る電磁波の波長帯域を、専ら、可視光線帯域(の全域又は一部帯域)としたが、本発明はこれに限らず、反射防止を図る電磁波の波長帯域を赤外線、紫外線等の可視光線以外の波長帯域に設定しても良い。その場合は前記の各条件式中において、電磁波の波長帯域の最短波長Λminを、それぞれ、赤外線、紫外線等の波長帯域における反射防止効果を希望する最短波長に設定すれば良い。例えば、最短波長Λminが850nmの赤外線帯域の反射防止を希望する場合は、隣接突起間距離d(乃至は其の最大値dmax)を850nm以下、例えば、d(dmax)=800nmと設計すれば良い。尚、この場合は、可視光線帯域(380〜780nm)においては反射防止効果は期待し得ず、專ら波長850nm以上の赤外線に対しての反射防止効果を奏する反射防止物品が得られる。 Furthermore, in the above-described embodiment, the wavelength band of the electromagnetic wave for anti-reflection is exclusively the visible light band (entire or partial band), but the present invention is not limited to this, and the electromagnetic wave for anti-reflection is not limited to this. The wavelength band of may be set to a wavelength band other than visible light such as infrared rays and ultraviolet rays. In that case, in each of the above conditional expressions, the shortest wavelength Λmin in the wavelength band of the electromagnetic wave may be set to the shortest wavelength at which the antireflection effect in the wavelength band such as infrared rays and ultraviolet rays is desired. For example, when it is desired to prevent reflection in the infrared band having the shortest wavelength Λmin of 850 nm, the distance d between adjacent protrusions (or its maximum value dmax) may be designed to be 850 nm or less, for example, d (dmax) = 800 nm. .. In this case, the antireflection effect cannot be expected in the visible light band (380 to 780 nm), and an antireflection article having an antireflection effect on infrared rays having a wavelength of 850 nm or more can be obtained.
以上例示の各種実施形態において、硝子板等の透明基板の表面、裏面、或いは表裏両面に本発明のフィルム状の反射防止物品を配置する場合、該透明基板の全面に亙って配置、被覆する以外に、一部分の領域にのみ配置することも出来る。かかる例としては、例えば、1枚の窓硝子について、其の中央部分の正方形領域において、室内側表面にのみフィルム状の反射防止物品を粘着剤で貼着し、その他領域には反射防止物品を貼着し無い場合を挙げることが出来る。透明基板の一部分の領域にのみ反射防止物品を配置する形態の場合は、特別な表示や衝突防止柵等の設置無しでも、該透明基板の存在を視認し易くして、人が該透明基板に衝突、負傷する危険性を低減する効果、及び室内(屋内)の覗き見防止と該透明基板の(該反射防止物品の配置領域における)透視性とが両立出来ると言う効果を奏し得る。 In the various embodiments illustrated above, when the film-like antireflection article of the present invention is arranged on the front surface, the back surface, or both front and back surfaces of a transparent substrate such as a glass plate, the film-like antireflection article of the present invention is arranged and covered over the entire surface of the transparent substrate. Besides, it can be arranged only in a part of the area. As an example of this, for example, for one window glass, a film-like antireflection article is attached only to the indoor surface in a square area in the central portion thereof, and an antireflection article is attached to the other area. The case where it is not attached can be mentioned. In the case where the antireflection article is placed only in a part of the transparent substrate, the presence of the transparent substrate can be easily visually recognized by a person on the transparent substrate without installing a special display or a collision prevention fence. The effect of reducing the risk of collision and injury, and the effect of preventing peeping indoors (indoors) and the transparency of the transparent substrate (in the area where the antireflection article is arranged) can be achieved at the same time.
1、21 反射防止物品
2、107、108 基材
4、6 中間保持層、受容層(賦型用樹脂層)
5、5A、5B 微小突起
5X 微小突起層
7 下地層
8 光拡散粒子
10 製造工程
11 ダイ
13 ロール版
14、15 ローラ
100 画像表示装置
101 バックライト装置
102 画像表示パネル
103 液晶セル
104、105 直線偏光板
106 光学機能層
g 溝
1,21 Anti-reflective article 2,107,108 Base material 4,6 Intermediate holding layer, receiving layer (resin layer for shaping)
5, 5A, 5B Microprojection 5X Microprojection layer 7 Underlayer 8 Light diffusing particles 10 Manufacturing process 11 Die 13 Roll plate 14, 15 Roller 100 Image display device 101 Backlight device 102 Image display panel 103 Liquid crystal cell 104, 105 Linearly polarized light Plate 106 Optical functional layer g groove
Claims (8)
前記微小突起は、
中間保持層を介して透明フィルム材による基材の表面に保持され、
複数の頂点を有する多峰性微小突起と、1つの頂点を有する単峰性微小突起とから構成され、
前記中間保持層が、
基材側中間保持層と微小突起側中間保持層との積層体であり、
前記基材側中間保持層は、光拡散粒子が混入されて光拡散層を構成しており、
前記光拡散粒子は、粒径2μm以上、10μm以下であり、
前記光拡散粒子は、前記光拡散層に対して重量比で2割以上、5割以下、添加されており、
前記光拡散層は、厚みが5μm以上、50μm以下により構成されており、
前記微小突起側中間保持層は、前記光拡散粒子を含まず構成されている
反射防止物品。 In an antireflection article in which the microprojections are closely arranged and the distance between the adjacent microprojections is equal to or less than the shortest wavelength of the wavelength band of the electromagnetic wave for antireflection.
The microprojections
It is held on the surface of the base material by the transparent film material via the intermediate holding layer,
It is composed of multimodal microprojections with multiple vertices and monomodal microprojections with one vertex.
The intermediate holding layer
It is a laminate of the base material side intermediate holding layer and the microprojection side intermediate holding layer.
The intermediate holding layer on the base material side is mixed with light diffusing particles to form a light diffusing layer .
The light diffusing particles have a particle size of 2 μm or more and 10 μm or less.
The light diffusing particles are added in an amount of 20% or more and 50% or less by weight with respect to the light diffusing layer.
The light diffusion layer has a thickness of 5 μm or more and 50 μm or less.
The antireflection article formed such that the intermediate holding layer on the microprojection side does not contain the light diffusing particles.
h<m−σの領域を低高度領域とし、
m−σ≦h≦m+σの領域を中高度領域とし、
m+σ<hの領域を高高度領域とし、
各領域内の前記多峰性微小突起の数Nmと、前記度数分布全体における前記微小突起の総数Ntとの比率が、
中高度領域のNm/Nt>低高度領域のNm/Nt、かつ、
中高度領域のNm/Nt>高高度領域のNm/Nt
という関係を満たすこと、
を特徴とする請求項1に記載の反射防止物品。 Let h be the height of the microprojections, m be the mean value in the frequency distribution of this height h, and σ be the standard deviation.
The region of h <m-σ is defined as the low altitude region.
The region of m-σ ≤ h ≤ m + σ is defined as the medium altitude region.
The region of m + σ <h is defined as the high altitude region.
The ratio of the number Nm of the multimodal microprojections in each region to the total number Nt of the microprojections in the entire frequency distribution is
Nm / Nt in the middle altitude region> Nm / Nt in the low altitude region, and
Nm / Nt in the medium altitude region> Nm / Nt in the high altitude region
To satisfy the relationship,
The antireflection article according to claim 1.
を特徴とする請求項1又は請求項2に記載の反射防止物品。 The ratio of the number of multimodal microprojections to the total number of microprojections is 10% or more.
The antireflection article according to claim 1 or 2.
を特徴とする請求項1から請求項3までの何れか1項に記載の反射防止物品。 The ratio of the number of multimodal microprojections to the total number of microprojections is 90% or less.
The antireflection article according to any one of claims 1 to 3, wherein the antireflection article is characterized.
を特徴とする請求項1から請求項4までの何れか1項に記載の反射防止物品。 The amount of the light diffusing particles added to the light diffusing layer shall be 20% or more and 50% or less by weight with respect to the light diffusing layer.
The antireflection article according to any one of claims 1 to 4, wherein the antireflection article is characterized.
を特徴とする請求項1から請求項5までの何れか1項に記載の反射防止物品。 Haze value is 10 or more and 50 or less
The antireflection article according to any one of claims 1 to 5, wherein the antireflection article is characterized.
反射防止物品。 An antireflection article in which the antireflection article according to any one of claims 1 to 6 is laminated and integrated with a linear polarizing plate.
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