JP6349830B2 - Method for manufacturing antireflection article and method for manufacturing mold for manufacturing antireflection article - Google Patents

Method for manufacturing antireflection article and method for manufacturing mold for manufacturing antireflection article

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JP6349830B2 JP2014060008A JP2014060008A JP6349830B2 JP 6349830 B2 JP6349830 B2 JP 6349830B2 JP 2014060008 A JP2014060008 A JP 2014060008A JP 2014060008 A JP2014060008 A JP 2014060008A JP 6349830 B2 JP6349830 B2 JP 6349830B2
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Description

本発明は、反射防止を図る電磁波の波長帯域の最短波長以下の間隔で多数の微小突起を密接配置して反射防止を図る反射防止物品に関するものである。   The present invention relates to an antireflection article for preventing reflection by closely arranging a large number of minute protrusions at intervals equal to or shorter than the shortest wavelength of an electromagnetic wave wavelength band for preventing reflection.

近年、フィルム形状の反射防止物品である反射防止フィルムに関して、透明基材(透明フィルム)の表面に多数の微小突起を密接して配置することにより、反射防止を図る方法が提案されている(特許文献1〜3参照)。この方法は、いわゆるモスアイ(moth eye(蛾の目))構造の原理を利用したものであり、入射光に対する屈折率を基板の厚み方向に連続的に変化させ、これにより屈折率の不連続界面を消失させて反射防止を図るものである。   In recent years, regarding an antireflection film, which is a film-shaped antireflection article, there has been proposed a method for preventing reflection by arranging a large number of microprotrusions closely on the surface of a transparent substrate (transparent film) (patent) References 1-3). This method utilizes the principle of a so-called moth-eye structure, and the refractive index for incident light is continuously changed in the thickness direction of the substrate, whereby a discontinuous interface of refractive index is obtained. Is eliminated to prevent reflection.

このモスアイ構造に係る反射防止物品では、隣接する微小突起の間隔dが、反射防止を図る電磁波の波長帯域の最短波長Λmin以下(d≦Λmin)となるように、微小突起が密接して配置される。また各微小突起は、透明基材に植立するように、さらに透明基材より先端側に向かうに従って徐々に断面積が小さくなるように(先細りとなるように)作製される。   In the antireflection article according to this moth-eye structure, the microprojections are closely arranged so that the distance d between adjacent microprojections is equal to or less than the shortest wavelength Λmin (d ≦ Λmin) of the wavelength band of the electromagnetic wave to prevent reflection. The Moreover, each microprotrusion is produced so that a cross-sectional area may become small gradually toward the front end side from a transparent base material so that it may be planted on a transparent base material.

この種のモスアイ構造に係る反射防止フィルムでは、反射率を低くできることにより、例えば液晶表示装置等の画像表示装置に適用して、コントラストを改善し、視認性を向上することができる。しかしながらこのような画像表示装置の視認性については、一段と改善することが求められ、このためには一段と写り込みを低減することが求められる。   In the antireflection film according to this type of moth-eye structure, since the reflectance can be lowered, it can be applied to an image display device such as a liquid crystal display device to improve contrast and improve visibility. However, the visibility of such an image display device is required to be further improved. For this purpose, it is required to further reduce the reflection.

特開昭50−70040号公報Japanese Patent Laid-Open No. 50-70040 特表2003−531962号公報Special Table 2003-531962 特許第4632589号公報Japanese Patent No. 4632589

本発明はこのような状況に鑑みてなされたものであり、モスアイ構造の反射防止物品に関して、従来に比して一段と写り込みを低減することを目的とする。   The present invention has been made in view of such a situation, and an object of the present invention is to further reduce the reflection of an antireflection article having a moth-eye structure as compared with the conventional art.

本発明者は、上記課題を解決するために鋭意研究を重ね、反射光を散乱させて反射防止を図る防眩層の表面形状にモスアイ構造に係る微小突起を作成するようにして、この防眩層に係る表面形状を適切に設定する、との着想に至り、本発明を完成するに至った。   In order to solve the above-mentioned problems, the present inventor has made intensive research and created micro-projections related to the moth-eye structure on the surface shape of the anti-glare layer for preventing reflection by scattering the reflected light. The idea of appropriately setting the surface shape of the layer has been reached, and the present invention has been completed.

具体的には、本発明では、以下のようなものを提供する。     Specifically, the present invention provides the following.

(1) 微小突起が密接して配置され、隣接する前記微小突起の間隔が、反射防止を図る電磁波の波長帯域の最短波長以下である反射防止物品において、
前記微小突起の付け根部分を順次辿って作成される谷底の包絡面がうねりを呈するように形成され、
前記谷底の包絡面は、
平均間隔Smが100μm以上、600μm以下であり、
平均傾斜角θaが0.1度以上、1.2度以下であり、
10点平均粗さRzが0.2μm超過、1.0μm以下である。
(1) In an antireflection article in which microprotrusions are closely arranged, and an interval between the adjacent microprotrusions is equal to or less than the shortest wavelength of the wavelength band of electromagnetic waves for antireflection,
Formed so that the envelope surface of the valley bottom, which is created by sequentially following the root portion of the microprotrusions, exhibits undulations,
The envelope of the valley bottom is
The average interval Sm is 100 μm or more and 600 μm or less,
The average inclination angle θa is not less than 0.1 degrees and not more than 1.2 degrees,
The 10-point average roughness Rz is more than 0.2 μm and not more than 1.0 μm.

(1)によれば、モスアイ構造による反射防止機能に、谷底の包絡面の曲面形状により反射防止を図る機能を適切に付加し、写り込みを一段と低減することができる。   According to (1), it is possible to appropriately add a function of preventing reflection by the curved surface shape of the envelope surface of the valley bottom to the reflection preventing function by the moth-eye structure, thereby further reducing the reflection.

(2) (1)において、
前記微小突起は、
頂点を複数有する微小突起である多峰性微小突起と、頂点が1つの微小突起である単峰性微小突起とが混在している。
(2) In (1),
The microprotrusions are
Multimodal microprojections that are microprojections having a plurality of vertices and single-peak microprojections that have one microprojection are mixed.

(2)によれば、さらに耐擦傷性を向上し、さらには反射防止機能を向上することができる。   According to (2), the scratch resistance can be further improved, and further the antireflection function can be improved.

(3) (1)又は(2)に記載の反射防止物品を画像表示パネルのパネル面に配置した画像表示装置。   (3) An image display device in which the antireflection article according to (1) or (2) is arranged on the panel surface of the image display panel.

(3)によれば、写り込みを一段と低減して、十分に反射防止を図るようにしてなる画像表示装置を提供することができる。   According to (3), it is possible to provide an image display device in which the reflection is further reduced and the reflection is sufficiently prevented.

(4) 反射防止物品の製造に供する反射防止物品の製造用金型において、
前記反射防止物品は、
微小突起が密接して配置され、隣接する前記微小突起の間隔が、反射防止を図る電磁波の波長帯域の最短波長以下である反射防止物品であり、
前記微小突起の付け根部分を順次辿って作成される谷底の包絡面がうねりを呈するように形成され、
前記反射防止物品の製造用金型は、
前記微小突起に対応する微細穴が密接して作製され、
前記微細穴の作製された面が、前記谷底の包絡面に対応してうねりを呈する凹凸面であり、
平均間隔Smが100μm以上、600μm以下であり、
平均傾斜角θaが0.1度以上、1.2度以下であり、
10点平均粗さRzが0.2μm超過、1.0μm以下である。
(4) In a mold for manufacturing an antireflective article used for manufacturing an antireflective article,
The antireflective article is
The microprojections are closely arranged, and the interval between the adjacent microprojections is an antireflection article that is equal to or shorter than the shortest wavelength of the wavelength band of the electromagnetic wave for preventing reflection,
Formed so that the envelope surface of the valley bottom, which is created by sequentially following the root portion of the microprotrusions, exhibits undulations,
The mold for manufacturing the antireflection article is:
A minute hole corresponding to the minute protrusion is produced closely,
The surface on which the fine holes are formed is an uneven surface that exhibits undulation corresponding to the envelope surface of the valley bottom,
The average interval Sm is 100 μm or more and 600 μm or less,
The average inclination angle θa is not less than 0.1 degrees and not more than 1.2 degrees,
The 10-point average roughness Rz is more than 0.2 μm and not more than 1.0 μm.

(4)によれば、モスアイ構造による反射防止機能に、谷底の包絡面の曲面形状により反射防止を図る機能を適切に付加し、写り込みを一段と低減することができる反射防止物品に関して、賦型処理により効率良く生産することができる。   According to (4), with respect to the antireflection article capable of further reducing the reflection by appropriately adding the antireflection function by the moth-eye structure to the antireflection function by the curved shape of the envelope surface of the valley bottom, It can be produced efficiently by processing.

(5) 微小突起が密接して配置され、隣接する前記微小突起の間隔が、反射防止を図る電磁波の波長帯域の最短波長以下である反射防止物品の製造方法において、
賦型処理用の製造用金型を作製する金型作製工程と、
前記製造用金型を使用した賦型処理により前記反射防止物品を作製する賦型処理工程とを備え、
前記金型作製工程は、
母材の表面に、うねりを呈する表面形状による下地層を作製する下地層の作製工程と、
陽極酸化処理とエッチング処理との繰り返しにより、前記下地層に前記微小突起に対応する微細穴を作製する微細穴作製工程とを備え、
前記下地層の作製工程は、
前記母材の表面に、前記うねりに対応する表面形状による凹凸面層を作製する凹凸面層の作製工程と、
前記凹凸面層の表面にアルミニウム層を作製するアルミニウム層の作製工程とを備える。
(5) In the method for producing an antireflection article, in which microprotrusions are closely arranged, and the interval between the adjacent microprotrusions is equal to or shorter than the shortest wavelength of the wavelength band of the electromagnetic wave for antireflection,
A mold making process for producing a manufacturing mold for the molding process;
A shaping treatment step of producing the antireflection article by a shaping treatment using the production mold,
The mold making process includes
On the surface of the base material, a base layer manufacturing process for preparing a base layer with a surface shape exhibiting undulation,
A micro-hole manufacturing step for manufacturing micro-holes corresponding to the micro-protrusions in the base layer by repeating anodization and etching,
The manufacturing process of the underlayer includes
On the surface of the base material, a process for producing an uneven surface layer for producing an uneven surface layer with a surface shape corresponding to the undulation,
An aluminum layer forming step of forming an aluminum layer on the surface of the uneven surface layer.

(5)によれば、反射光を散乱させて反射防止を図る防眩層の作製手法を有効に利用して凹凸面層を作製した後、この凹凸面層の表面形状による曲面に微小突起に対応する微細穴を作製することができる。   According to (5), after producing an uneven surface layer by effectively using a method for producing an antiglare layer that scatters reflected light to prevent reflection, a microprojection is formed on the curved surface according to the surface shape of the uneven surface layer. Corresponding fine holes can be made.

(6) 微小突起が密接して配置され、隣接する前記微小突起の間隔が、反射防止を図る電磁波の波長帯域の最短波長以下である反射防止物品の製造方法において、
賦型処理用の製造用金型を作製する金型作製工程と、
前記製造用金型を使用した賦型処理により前記反射防止物品を作製する賦型処理工程とを備え、
前記金型作製工程は、
支持体の表面に、うねりを呈する表面形状による凹凸面層を作製する凹凸面層の作製工程と、
前記凹凸面層の表面に、転写用支持体層を作製する転写層用支持体の作製工程と、
前記転写用支持体層を前記凹凸面層より剥離する剥離工程と、
前記剥離工程で剥離した前記転写用支持体層の表面にアルミニウム層を作製するアルミニウム層の作製工程と、
陽極酸化処理とエッチング処理との繰り返しにより、前記アルミニウム層の表面に前記微小突起に対応する微細穴を作製する微細穴作製工程と、
前記微細穴を作製してなるアルミニウム層と前記転写用支持体層との積層体を母材に配置する配置工程とを備える。
(6) In the method for producing an antireflection article, in which microprotrusions are closely arranged, and the interval between adjacent microprotrusions is equal to or shorter than the shortest wavelength of the wavelength band of the electromagnetic wave for preventing reflection,
A mold making process for producing a manufacturing mold for the molding process;
A shaping treatment step of producing the antireflection article by a shaping treatment using the production mold,
The mold making process includes
On the surface of the support, a process for producing an uneven surface layer for producing an uneven surface layer with a surface shape exhibiting undulation,
On the surface of the concavo-convex surface layer, a transfer layer support producing step for producing a transfer support layer,
A peeling step of peeling the transfer support layer from the uneven surface layer;
A production step of an aluminum layer for producing an aluminum layer on the surface of the transfer support layer peeled in the peeling step;
A microhole creating step of creating microholes corresponding to the microprotrusions on the surface of the aluminum layer by repetition of anodizing treatment and etching treatment,
A disposing step of disposing a laminate of the aluminum layer formed by forming the fine holes and the support layer for transfer on a base material.

(6)によれば、反射光を散乱させて反射防止を図る防眩層の作製手法を有効に利用して凹凸面層を作製した後、この凹凸面層の表面形状による曲面に微小突起に対応する微細穴を作製することができ、これにより反射光を散乱させて反射防止を図る防眩層の作製手法を有効に利用して、写り込みを一段と低減することができる反射防止物品を効率良く生産することができる。   According to (6), after producing an uneven surface layer by effectively using a method for producing an antiglare layer that scatters reflected light to prevent reflection, a microprojection is formed on the curved surface according to the surface shape of the uneven surface layer. Corresponding micro holes can be manufactured, which effectively uses anti-glare layer manufacturing techniques that scatter reflected light to prevent reflections, effectively reducing anti-reflection articles that can further reduce reflections Can be produced well.

(7) 微小突起が密接して配置され、隣接する前記微小突起の間隔が、反射防止を図る電磁波の波長帯域の最短波長以下である反射防止物品の製造用金型の製造方法において、
母材の表面に、うねりを呈する表面形状による下地層を作製する下地層の作製工程と、
陽極酸化処理とエッチング処理との繰り返しにより、前記下地層に前記微小突起に対応する微細穴を作製する微細穴作製工程とを備え、
前記下地層の作製工程は、
前記母材の表面に、前記うねりに対応する表面形状による凹凸面層を作製する凹凸面層の作製工程と、
前記凹凸面層の表面にアルミニウム層を作製するアルミニウム層の作製工程とを備える。
(7) In the method of manufacturing a mold for manufacturing an antireflective article, in which microprotrusions are closely arranged, and the interval between adjacent microprotrusions is equal to or less than the shortest wavelength of the wavelength band of electromagnetic waves to prevent reflection,
On the surface of the base material, a base layer manufacturing process for preparing a base layer with a surface shape exhibiting undulation,
A micro-hole manufacturing step for manufacturing micro-holes corresponding to the micro-protrusions in the base layer by repeating anodization and etching,
The manufacturing process of the underlayer includes
On the surface of the base material, a process for producing an uneven surface layer for producing an uneven surface layer with a surface shape corresponding to the undulation,
An aluminum layer forming step of forming an aluminum layer on the surface of the uneven surface layer.

(7)によれば、賦型処理により反射防止物品を作製する場合に、反射光を散乱させて反射防止を図る防眩層の作製手法を有効に利用して凹凸面層を作製した後、この凹凸面層の表面形状による曲面に微小突起に対応する微細穴を作製することができる。   According to (7), when producing an anti-reflection article by a shaping process, after producing an uneven surface layer by effectively using a method for producing an anti-glare layer that scatters reflected light to prevent reflection, Fine holes corresponding to the fine protrusions can be formed on the curved surface formed by the surface shape of the uneven surface layer.

(8) 微小突起が密接して配置され、隣接する前記微小突起の間隔が、反射防止を図る電磁波の波長帯域の最短波長以下である反射防止物品の製造用金型の製造方法において、
支持体の表面に、うねりを呈する表面形状による凹凸面層を作製する凹凸面層の作製工程と、
前記凹凸面層の表面に、転写用支持体層を作製する転写用支持体層の作製工程と、
前記転写用支持体層を前記凹凸面層より剥離する剥離工程と、
前記剥離工程で剥離した前記転写用支持体層の表面にアルミニウム層を作製するアルミニウム層の作製工程と、
陽極酸化処理とエッチング処理との繰り返しにより、前記アルミニウム層の表面に前記微小突起に対応する微細穴を作製する微細穴作製工程と、
前記微細穴を作製してなるアルミニウム層と前記転写用支持体層との積層体を母材に配置する配置工程とを備える。
(8) In the method of manufacturing a mold for manufacturing an antireflection article, in which microprotrusions are arranged in close proximity, and the interval between adjacent microprotrusions is equal to or less than the shortest wavelength of the wavelength band of electromagnetic waves to prevent reflection,
On the surface of the support, a process for producing an uneven surface layer for producing an uneven surface layer with a surface shape exhibiting undulation,
On the surface of the concavo-convex surface layer, a transfer support layer producing step for producing a transfer support layer,
A peeling step of peeling the transfer support layer from the uneven surface layer;
A production step of an aluminum layer for producing an aluminum layer on the surface of the transfer support layer peeled in the peeling step;
A microhole creating step of creating microholes corresponding to the microprotrusions on the surface of the aluminum layer by repetition of anodizing treatment and etching treatment,
A disposing step of disposing a laminate of the aluminum layer formed by forming the fine holes and the support layer for transfer on a base material.

(8)によれば、賦型処理により反射防止物品を作製する場合に、この賦型処理に供する製造用金型を、反射光を散乱させて反射防止を図る防眩層の作製手法を有効に利用して作製することができる。   According to (8), when an antireflection article is produced by a shaping process, the production method of the antiglare layer for preventing the reflection by scattering the reflected light from the manufacturing mold used for the shaping process is effective. It can be produced by using.

モスアイ構造の反射防止物品に関して、従来に比して一段と写り込みを低減することができる。   With respect to the antireflection article having the moth-eye structure, the reflection can be further reduced as compared with the conventional case.

本発明の第1実施形態に係る反射防止物品を示す概念斜視図である。1 is a conceptual perspective view showing an antireflection article according to a first embodiment of the present invention. 図1の反射防止物品の詳細を示す図である。It is a figure which shows the detail of the reflection preventing article of FIG. 多峰性微小突起の説明に供する図である。It is a figure where it uses for description of a multimodal microprotrusion. 多峰性微小突起の写真である。It is a photograph of multimodal microprotrusions. 隣接突起の説明に供する図である。It is a figure where it uses for description of an adjacent protrusion. 極大点の説明に供する図である。It is a figure where it uses for description of the maximum point. ドロネー図を示す図である。It is a figure which shows a Delaunay figure. 隣接突起間距離の計測に供する度数分布図である。It is a frequency distribution diagram used for measurement of the distance between adjacent protrusions. 微小高さの説明に供する度数分布図である。It is a frequency distribution figure with which it uses for description of minute height. 実施例と比較例との比較結果を示す図表である。It is a graph which shows the comparison result of an Example and a comparative example. 図10とは異なる検討結果を示す図表である。It is a chart which shows the examination result different from FIG. 写り込みの詳細検討に供した計測系を示す図である。It is a figure which shows the measurement system used for the detailed examination of a reflection. 比較検討用の試料の計測結果を示す図である。It is a figure which shows the measurement result of the sample for comparative examination. 比較例1の計測結果を示す図である。It is a figure which shows the measurement result of the comparative example 1. 比較例4の計測結果を示す図である。It is a figure which shows the measurement result of the comparative example 4. 実施例の計測結果を示す図である。It is a figure which shows the measurement result of an Example. 図13〜図16の計測結果を入射角80度についてまとめた図である。It is the figure which summarized the measurement result of FIGS. 13-16 about the incident angle of 80 degree | times. 図13〜図16の計測結果を入射角10度についてまとめた図である。It is the figure which put together the measurement result of FIGS. 13-16 about the incident angle of 10 degree | times. 図1の反射防止物品の製造工程を示す図である。It is a figure which shows the manufacturing process of the antireflection article | item of FIG. 図1の反射防止物品に係るロール版を示す図である。It is a figure which shows the roll plate which concerns on the reflection preventing article of FIG. 図20のロール版の作製工程を示す図である。It is a figure which shows the preparation processes of the roll plate of FIG. 下地層の作製工程を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the preparation processes of a base layer. 下地層の作製工程を示す図である。It is a figure which shows the preparation process of a base layer. 陽極酸化処理とエッチング処理との詳細説明に供する図である。It is a figure where it uses for detailed description of an anodizing process and an etching process. 本発明の第2実施形態に係る金型作製工程の説明に供する図である。It is a figure where it uses for description of the metal mold | die production process which concerns on 2nd Embodiment of this invention.

以下、図面を参照しながら本発明の実施形態を詳述する。なお以下において、適宜、頂点を複数有する微小突起を多峰性微小突起と呼び、頂点が1つのみの微小突起を単峰性の微小突起と呼ぶ。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In the following, a microprotrusion having a plurality of vertices will be referred to as a multimodal microprotrusion, and a microprotrusion having only one apex will be referred to as a unimodal microprotrusion.

〔第1実施形態〕
図1は、本発明の第1実施形態に係る反射防止物品を示す図(概念斜視図)である。この反射防止物品1は、全体形状がフィルム形状により形成された反射防止フィルムである。この実施形態に係る画像表示装置では、この反射防止物品1が画像表示パネルの視聴者側面(パネル面)に貼り付けられて保持され、この反射防止物品1により日光、電燈光等の外来光の画面における反射を低減して視認性を向上する。なお反射防止物品は、その形状を平坦なフィルム形状とする場合に限らず、平坦なシート形状、平板形状(相対的に厚みの薄い順に、フィルム、シート、板と呼称する)とすることもでき、また平坦な形状に代えて、湾曲形状、立体形状を呈したフィルム形状、シート形状、板形状とすることもでき、さらには各種レンズ、各種プリズム等の立体形状のものを用途に応じて適宜採用することができる。
[First Embodiment]
FIG. 1 is a diagram (conceptual perspective view) showing an antireflection article according to a first embodiment of the present invention. This antireflection article 1 is an antireflection film whose overall shape is formed by a film shape. In the image display device according to this embodiment, the antireflection article 1 is attached to and held on the viewer side surface (panel surface) of the image display panel, and the antireflection article 1 prevents external light such as sunlight and electric light. Visibility is improved by reducing reflection on the screen. The antireflection article is not limited to a flat film shape, but may be a flat sheet shape or a flat plate shape (referred to as a film, a sheet, or a plate in order of relatively small thickness). In addition, instead of a flat shape, a curved shape, a three-dimensional film shape, a sheet shape, or a plate shape can be used, and various lenses, prisms, and other three-dimensional shapes are appropriately used depending on the application. Can be adopted.

ここで反射防止物品1は、透明フィルムによる基材2の表面に多数の微小突起を密接配置して作製される。ここで基材2は、例えばTAC(Triacetylcellulose)、等のセルロース(纖維素)系樹脂、PMMA(ポリメチルメタクリレート)等のアクリル系樹脂、PET(Polyethylene terephthalate)等のポリエステル系樹脂、PP(ポリプロピレン)等のポリオレフィン系樹脂、PVC(ポリ塩化ビニル)等のビニル系樹脂、PC(Polycarbonate)等の各種透明樹脂フィルムを適用することができる。なお上述したように反射防止物品の形状はフィルム形状に限らず、種々の形状を採用可能であることにより、基材2は、反射防止物品の形状に応じて、これらの材料の他に、例えばソーダ硝子、カリ硝子、鉛ガラス等の硝子、PLZT等のセラミックス、石英、螢石等の各種透明無機材料等を適用することができる。   Here, the antireflection article 1 is produced by closely arranging a large number of minute protrusions on the surface of the substrate 2 made of a transparent film. Here, the base material 2 is, for example, a cellulose resin such as TAC (Triacetylcellulose), an acrylic resin such as PMMA (polymethyl methacrylate), a polyester resin such as PET (Polyethylene terephthalate), or PP (polypropylene). Polyolefin resins such as PVC, vinyl resins such as PVC (polyvinyl chloride), and various transparent resin films such as PC (polycarbonate) can be applied. As described above, the shape of the antireflection article is not limited to the film shape, and various shapes can be adopted, so that the base material 2 can be used in addition to these materials, for example, according to the shape of the antireflection article. Various transparent inorganic materials such as glass such as soda glass, potash glass, lead glass, ceramics such as PLZT, quartz, and meteorite can be applied.

反射防止物品1は、基材2上に、微小突起群からなる微細な凹凸形状の受容層となる未硬化状態の樹脂層(以下、適宜、受容層と呼ぶ)を形成し、該受容層を賦型処理して硬化せしめ、これにより基材2の表面に微小突起が密接して配置される。この実施形態では、この受容層4に、賦型処理に供する賦型用樹脂の1つであるアクリレート系紫外線硬化性樹脂が適用され、基材2上に紫外線硬化性樹脂層(4)が形成される。反射防止物品1は、この微小突起による凹凸形状により厚み方向に徐々に屈折率が変化するように作製され、モスアイ構造の原理により広い波長範囲で入射光の反射を低減する。   In the antireflection article 1, an uncured resin layer (hereinafter, referred to as a receiving layer as appropriate) is formed on a base material 2 to be a receiving layer having a fine concavo-convex shape composed of a group of minute protrusions. The molding process is cured by curing, whereby fine protrusions are placed in close contact with the surface of the substrate 2. In this embodiment, an acrylate ultraviolet curable resin, which is one of the molding resins used for the molding process, is applied to the receiving layer 4, and the ultraviolet curable resin layer (4) is formed on the substrate 2. Is done. The antireflection article 1 is manufactured so that the refractive index gradually changes in the thickness direction due to the uneven shape by the microprotrusions, and reduces the reflection of incident light in a wide wavelength range by the principle of the moth-eye structure.

〔受容層の表面形状〕
反射防止物品1は、図2に示すように、受容層4の厚みが、面内方向で変動するように受容層4の表面形状が作製され、その結果、微小突起5の付け根部分を順次辿って作成される曲面(微小突起5の谷底に係る包絡面であり、以下、谷底の包絡面と呼ぶ)6が、所定のうねりを呈するように形成される。この実施形態において、このうねりは、谷底の包絡面6の表面形状が、反射光を散乱させて反射防止を図る防眩層の表面形状(防眩フィルムの表面形状である)と等しい形状になるように設定され、これにより従来に比して一段と写り込みを低減する。
[Surface shape of receiving layer]
As shown in FIG. 2, in the antireflection article 1, the surface shape of the receiving layer 4 is prepared so that the thickness of the receiving layer 4 varies in the in-plane direction, and as a result, the base portion of the microprojections 5 is sequentially traced. A curved surface 6 (which is an envelope surface related to the valley bottom of the microprojections 5 and hereinafter referred to as an envelope surface of the valley bottom) 6 is formed so as to exhibit a predetermined swell. In this embodiment, the undulation is such that the surface shape of the envelope surface 6 at the bottom of the valley is equal to the surface shape of the antiglare layer (which is the surface shape of the antiglare film) that scatters reflected light to prevent reflection. Thus, the reflection is further reduced as compared with the conventional case.

すなわち微小突起の密接配置により反射防止を図る場合であっても、単に平坦面上に微小突起を密接配置して反射防止フィルムを構成した場合、例えば画像表示パネルのパネル面にこの反射防止フィルムを貼り付けて斜め方向よりパネル面を観察すると、ぼやけてはいるもの天井の蛍光管の写り込みを見て取ることができる。これによりこの種の反射防止物品では、写り込みの低減に改善の余地がある。   That is, even when antireflection is intended by close arrangement of the microprojections, when the antireflection film is configured simply by arranging microprojections closely on the flat surface, for example, the antireflection film is applied to the panel surface of the image display panel. When the panel surface is observed from an oblique direction after being attached, it is possible to see the reflection of the fluorescent tube on the ceiling even though it is blurred. As a result, this type of antireflection article has room for improvement in reduction of reflection.

種々に検討したところ、この実施形態のように、谷底の包絡面6を、反射光を散乱させて反射防止を図る防眩層の表面形状と等しい形状とすれば、モスアイ構造に係る反射防止の効果に、防眩層による反射防止の効果を付与することができ、これによりモスアイ構造による反射防止物品に関して、従来に比して一段と写りこみを低減し、かつ広い角度でその効果を発現することができる。   As a result of various studies, as in this embodiment, if the envelope surface 6 at the bottom of the valley is made to have a shape equal to the surface shape of the antiglare layer that scatters reflected light to prevent reflection, the antireflection effect related to the moth-eye structure can be prevented. The anti-glare layer can be added to the anti-reflection effect, thereby reducing the reflection of the anti-reflection article with the moth-eye structure and producing the effect at a wide angle. Can do.

ここで谷底の包絡面6は、凹凸の平均間隔Sm(符号Dにより示す間隔の平均値である)が、100μm以上、600μm以下に、より好ましくは、200μm以上、500μm以下に設定される。ここで平均間隔Smが100μmより小さくなると、平坦面に微小突起を密接配置した場合の状態に近づき、(ここでは凹凸形状は最表面上に現れるものとする)表面における乱反射成分が増加し、上に述べた様に十分に写り込みを低減できなくなるからである。また平均間隔Smが、600μmより大きくなると、表面にざらつき感、もしくは凸部において視覚的に点状のムラ感が感じられることになるからである。   Here, in the envelope surface 6 of the valley bottom, the average interval Sm (the average value of the interval indicated by the symbol D) is set to 100 μm or more and 600 μm or less, and more preferably 200 μm or more and 500 μm or less. Here, when the average interval Sm is smaller than 100 μm, it approaches the state in which microprotrusions are closely arranged on a flat surface (here, the uneven shape appears on the outermost surface), and the irregular reflection component on the surface increases, This is because the reflection cannot be reduced sufficiently as described in (1). In addition, when the average interval Sm is larger than 600 μm, a rough feeling on the surface or a visually pointed unevenness is felt on the convex portion.

また谷底の包絡面6は、凹凸面の平均傾斜角θaが、0.1度以上、1.2度以下に、より好ましくは0.3度以上、1.0度以下に、設定される。ここで平均傾斜角θaが、0.1度より小さくなると、平坦度の増加により平滑な状態に近づき、あるいは平坦面下に微小突起を密接配置した場合の状態に近づき、上に述べた様に十分に写り込みを低減できなくなるからである。また均傾斜角θaが1.2度より大きくなると、表面にざらつき感が感じられ易くなるからである。   Further, the envelope surface 6 of the valley bottom is set such that the average inclination angle θa of the concavo-convex surface is 0.1 degrees or more and 1.2 degrees or less, more preferably 0.3 degrees or more and 1.0 degrees or less. Here, when the average inclination angle θa is smaller than 0.1 degree, it approaches a smooth state due to an increase in flatness, or approaches a state in which minute projections are closely arranged below the flat surface, as described above. This is because the reflection cannot be reduced sufficiently. Further, when the uniform inclination angle θa is larger than 1.2 degrees, it is easy to feel a rough feeling on the surface.

また谷底の包絡面6は、10点平均粗さRzが0.2μm超過、1.0μm以下に、より好ましくは、10点平均粗さRzが0.4μm以上、0.8μm以下に設定される。ここで10点平均粗さRzが小さすぎる場合には、平滑な状態に近づき、あるいは平坦面下に微小突起を密接配置した場合の状態に近づいて上に述べた様に十分に写り込みを低減できなくなるからであり、大きすぎる場合には、表面での乱反射成分の増加により画面が視認しにくくなったり、表面にざらつき感が感じられ易くなるからである。これによりこの実施形態では、谷底の包絡面6を防眩層の表面形状と等しい形状に設定して、効果的に写り込みを低減することができる。   In addition, the envelope surface 6 of the valley bottom is set such that the 10-point average roughness Rz exceeds 0.2 μm and is 1.0 μm or less, and more preferably, the 10-point average roughness Rz is 0.4 μm or more and 0.8 μm or less. . Here, if the 10-point average roughness Rz is too small, it approaches a smooth state, or approaches a state where minute projections are closely arranged under a flat surface, and sufficiently reduces reflection as described above. This is because if the screen is too large, it becomes difficult to visually recognize the screen due to an increase in the diffuse reflection component on the surface, or a rough feeling is likely to be felt on the surface. Thereby, in this embodiment, the envelope surface 6 of the valley bottom can be set to a shape equal to the surface shape of the antiglare layer, and reflection can be effectively reduced.

なお10点平均粗さRzは、谷底の包絡面6の表面形状を2次元又は3次元のプロファイルとして測定して求められる。より具体的に、表面形状は、走査型プローブ顕微鏡又は原子間力顕微鏡を用いて2次元又は3次元のプロファイルを測定し、測定により求められたプロファイル曲線データから10点平均粗さRzを算出する。因みに、10点平均粗さRzとは、平均値からもとめた偏差の値のうち、最大のものから上位5つの偏差の値の平均と、最小のものから下位5つの偏差の値の絶対値の平均の値の和として表される。   The 10-point average roughness Rz is obtained by measuring the surface shape of the envelope surface 6 at the bottom of the valley as a two-dimensional or three-dimensional profile. More specifically, as for the surface shape, a two-dimensional or three-dimensional profile is measured using a scanning probe microscope or an atomic force microscope, and a 10-point average roughness Rz is calculated from profile curve data obtained by the measurement. . By the way, the 10-point average roughness Rz is the average of the deviation values from the largest to the top five deviations, and the absolute value of the smallest to the least five deviations among the deviation values calculated from the average value. Expressed as the sum of the average values.

また平均間隔Sm、平均傾斜角θaは、例えば表面粗さ測定器(型番:SE−3400/(株)小坂研究所製)を使用して計測することができる。なお平均傾斜角θaは、縦横比率Δaにより傾斜を表して、θa(度)=tan−1Δa=tan−1(各凹凸の極小部と極大部の差(各凸部の高さに相当)の総和/基準長さ)で求められる。「基準長さ」は、例えば2.5mmである。   Moreover, average space | interval Sm and average inclination | tilt angle (theta) a can be measured, for example using a surface roughness measuring device (model number: SE-3400 / made by Kosaka Laboratory). The average inclination angle θa represents the inclination by the aspect ratio Δa, and θa (degree) = tan−1Δa = tan−1 (the difference between the minimum and maximum portions of each unevenness (corresponding to the height of each convex portion)). (Total / reference length). The “reference length” is, for example, 2.5 mm.

〔微小突起の形状〕
さらに反射防止物品1では、単峰性微小突起と多峰性微小突起5A、5Bとが混在するように設定される。ここで多峰性微小突起5A、5Bは、頂点を複数有する微小突起であり、単峰性微小突起は、頂点が1つのみの微小突起である。これによりこの実施形態では、反射防止物品の耐擦傷性を向上する。
[Shape of microprojection]
Furthermore, in the antireflection article 1, the single-peak microprojections and the multi-peak microprojections 5A and 5B are set to be mixed. Here, the multimodal microprotrusions 5A and 5B are microprotrusions having a plurality of apexes, and the single-peak microprotrusions are microprotrusions having only one apex. Thereby, in this embodiment, the scratch resistance of the antireflection article is improved.

すなわち図3は、この多峰性微小突起5A、5B及び単峰性微小突起の説明に供する図である。なおこの図3は、理解を容易にするために模式的に示す図であり、図3(a)は、連続する微小突起の頂点を結ぶ折れ線により断面を取って示す図である。この図3(b)及び(c)において、xy方向は、基材2の面内方向であり、z方向は微小突起の高さ方向である。   That is, FIG. 3 is a diagram for explaining the multimodal microprotrusions 5A and 5B and the single-peak microprotrusions. Note that FIG. 3 is a diagram schematically showing for easy understanding, and FIG. 3A is a diagram showing a cross-section by a broken line connecting the vertices of continuous minute protrusions. 3B and 3C, the xy direction is the in-plane direction of the substrate 2, and the z direction is the height direction of the microprojections.

反射防止物品1において、多くの微小突起5は、基材2より離れて頂点に向かうに従って徐々に断面積(高さ方向に直交する面(図11においてXY平面と平行な面)で切断した場合の断面積)が小さくなって、頂点が1つにより作製される。しかしながら中には、複数の微小突起が結合したかのように、先端部分に溝gが形成され、頂点が2つになったもの(5A)、頂点が3つになったもの(5B)、さらには頂点が4つ以上のもの(図示略)を存在させることができる。単峰性微小突起5の形状は、概略、回転放物面の様な頂部の丸い形状、或いは円錐の様な頂点の尖った形状で近似することができる。一方、多峰性微小突起5A、5Bの形状は、概略、単峰性微小突起5の頂部近傍に溝状の凹部を切り込んで、頂部を複数の峰に分割したような形状で近似される。   In the antireflection article 1, many microprotrusions 5 are gradually cut in a cross-sectional area (a plane perpendicular to the height direction (a plane parallel to the XY plane in FIG. 11)) toward the apex away from the base material 2. The cross-sectional area) is reduced, and one vertex is produced. However, in some cases, as if a plurality of microprotrusions were combined, a groove g was formed at the tip, and the apex was two (5A), the apex was three (5B), Furthermore, there can be one having four or more vertices (not shown). The shape of the unimodal microprotrusions 5 can be approximated by a round shape at the top, such as a paraboloid of revolution, or a sharp shape at the apex, such as a cone. On the other hand, the shape of the multimodal microprotrusions 5A and 5B is approximately approximated by a shape in which a groove-shaped recess is cut in the vicinity of the top of the single-peak microprotrusion 5 and the top is divided into a plurality of peaks.

このような頂点を複数有する多峰性微小突起は、単峰性微小突起に比して、頂点近傍の寸法に対する裾の部分の太さが相対的に太く、多峰性微小突起に比して周長が長い。これにより、多峰性微小突起は、単峰性微小突起に比して機械的強度が優れていると言える。これにより頂点を複数有する多峰性微小突起が存在する場合、反射防止物品では、単峰性微小突起のみによる場合に比して耐擦傷性が向上することになる。具体的に反射防止物品に外力が加わった場合、単峰性微小突起のみの場合に比して、外力をより多くの頂点で分散して受ける為、各頂点に加わる外力を低減し、微小突起が損傷し難いようにすることができ、これにより反射防止機能の局所的な劣化を低減し、さらに外観不良の発生を低減することができる。また仮に微小突起が損傷した場合でも、その損傷個所の面積を低減することができる。更に、多峰性微小突起は、外力を先ず各峰部分が受止めて犠牲的に損傷することによって、該多峰性微小突起の峰より低い本体部分、及び該多峰性微小突起よりも高さの低い微小突起の損耗を防ぐことができる。これによっても反射防止機能の局所的な劣化を低減し、さらに外観不良の発生を低減することができる。   The multimodal microprotrusions having a plurality of vertices are relatively thicker at the hem than the unimodal microprotrusions, compared to the multimodal microprotrusions. Long perimeter. Thereby, it can be said that the multimodal microprotrusions are superior in mechanical strength to the single-peak microprotrusions. As a result, when multi-peaked microprojections having a plurality of vertices are present, the anti-reflective article has improved scratch resistance compared to the case of using only single-peaked microprojections. Specifically, when external force is applied to the anti-reflective article, the external force is distributed and received at more vertices than when only single-peaked microprotrusions are received. Can be made difficult to damage, thereby reducing local deterioration of the antireflection function and further reducing the occurrence of poor appearance. Moreover, even if a microprotrusion is damaged, the area of the damaged portion can be reduced. In addition, the multi-peak microprojections are higher than the multi-peak micro-projections and lower body parts than the multi-peak micro-projections by first receiving each external force and sacrificing damage. It is possible to prevent wear of small protrusions. This also reduces local deterioration of the antireflection function and further reduces the occurrence of appearance defects.

なお多峰性微小突起は、その存在により耐擦傷性を向上できるものの、充分に存在しない場合には、この耐擦傷性を向上する効果を十分に発揮できないことは言うまでもない。係る観点より、表面に存在する全微小突起中における多峰性微小突起の個数の比率は10%以上とすることが望まれる。特に多峰性微小突起による耐擦傷性を向上する効果を十分に奏する為には、該多峰性微小突起の比率は30%以上、好ましくは50%以上であることが望まれる。またこのように単峰性微小突起の存在比率を設定することにより、スティッキングを生じ難くすることができ、その結果、スティッキングによる特性の劣化を有効に回避することができる。またさらに単峰性微小突起と多峰性微小突起とを混在させる場合には、アスペクト比の異なる単峰性微小突起を混在させた場合と同様に、広い波長帯域で反射率を低減することができる。   Needless to say, although the multimodal microprotrusions can improve the scratch resistance due to their presence, if they do not exist sufficiently, the effect of improving the scratch resistance cannot be fully exhibited. From such a viewpoint, it is desirable that the ratio of the number of multimodal microprotrusions in all the microprotrusions existing on the surface be 10% or more. In particular, in order to sufficiently exhibit the effect of improving the scratch resistance by the multimodal microprotrusions, the ratio of the multimodal microprotrusions is desired to be 30% or more, preferably 50% or more. In addition, by setting the existence ratio of the single-peaked microprotrusions in this manner, sticking can be made difficult to occur, and as a result, deterioration of characteristics due to sticking can be effectively avoided. Furthermore, when unimodal microprojections are mixed with multimodal microprojections, the reflectance can be reduced over a wide wavelength band, as with unimodal microprojections with different aspect ratios. it can.

図4は、頂点が複数の微小突起を示す写真であり、図4(a)は、AFMによるものであり、図4(b)及び(c)は、SEMによるものである。図4(a)では、溝g及び3つの頂点を有する微小突起、及び溝g及び2つの頂点を有する微小突起(2峰の多峰性微小突起)を見て取ることができ、図4(b)では、溝g及び4つの頂点を有する微小突起(4峰の多峰性微小突起)、及び溝g及び2つの頂点を有する微小突起を見て取ることができ、図4(c)では、溝g及び3つの頂点を有する微小突起(3峰の多峰性微小突起)、溝g及び2つの頂点を有する微小突起を見て取ることができる。   FIG. 4 is a photograph showing a plurality of minute protrusions at the apex, FIG. 4 (a) is based on AFM, and FIGS. 4 (b) and (c) are based on SEM. In FIG. 4 (a), a groove g and a microprojection having three vertices, and a microprotrusion having a groove g and two vertices (two-peaked multimodal microprojections) can be seen, and FIG. In FIG. 4 (c), the groove g and the microprotrusions having four vertices (four-peak multimodal microprotrusions) and the groove g and the microprotrusions having two vertices can be seen. One can see microprojections with three vertices (three-peak multimodal microprojections), groove g and microprojections with two vertices.

[隣接突起間距離]
反射防止物品1に作製される微小突起は、隣接する微小突起の間隔dが、反射防止を図る電磁波の波長帯域の最短波長Λmin以下(d≦Λmin)となるように密接して配置される。この実施形態では、画像表示パネルに配置して視認性を向上させることを主目的とするため、この最短波長は、個人差、視聴条件を加味した可視光領域の最短波長(380nm)に設定され、間隔dは、ばらつきを考慮して100〜300nmとされる。またこの間隔dに係る隣接する微小突起は、いわゆる隣り合う微小突起であり、基材2側の付け根部分である微小突起の裾の部分が接している突起である。反射防止物品1では微小突起が密接して配置されることにより、微小突起間の谷の部位を順次辿るようにして線分を作製すると、平面視において各微小突起を囲む多角形状領域を多数連結してなる網目状の模様が作製されることになる。間隔dに係る隣接する微小突起は、この網目状の模様を構成する一部の線分を共有する突起である。
[Distance between adjacent protrusions]
The microprotrusions produced in the antireflection article 1 are closely arranged so that the distance d between adjacent microprotrusions is equal to or less than the shortest wavelength Λmin (d ≦ Λmin) of the wavelength band of the electromagnetic wave to prevent reflection. In this embodiment, since the main purpose is to improve visibility by arranging the image display panel, the shortest wavelength is set to the shortest wavelength (380 nm) in the visible light region in consideration of individual differences and viewing conditions. The distance d is set to 100 to 300 nm in consideration of variation. The adjacent minute protrusions related to the distance d are so-called adjacent minute protrusions, which are in contact with the hem portions of the minute protrusions, which are the base portions on the base 2 side. In the anti-reflective article 1, the minute protrusions are closely arranged so that when a line segment is formed so as to sequentially follow the valley portions between the minute protrusions, a large number of polygonal regions surrounding each minute protrusion are connected in plan view. Thus, a mesh-like pattern is produced. The adjacent minute protrusions related to the distance d are protrusions that share a part of the line segments constituting the mesh pattern.

なお微小突起に関しては、より詳細には以下のように定義される。モスアイ構造による反射防止では、透明基材表面とこれに隣接する媒質との界面における有効屈折率を、厚み方向に連続的に変化させて反射防止を図るものであることから、微小突起に関しては一定の条件を満足することが必要である。この条件のうちの1つである突起の間隔に関して、例えば特開昭50−70040号公報、特許第4632589号公報等に開示のように、微小突起が一定周期で規則正しく配置されている場合、隣接する微小突起の間隔dは、突起配列の周期P(d=P)となる。これにより可視光線帯域の最長波長をλmax、最短波長をλminとした場合に、最低限、可視光線帯域の最長波長において反射防止効果を奏し得る必要最小限の条件は、Λmin=λmaxであるため、P≦λmaxとなり、可視光線帯域の全波長に対して反射防止効果を奏し得る必要十分の条件は、Λmin=λminであるため、P≦λminとなる。   The minute protrusions are defined in more detail as follows. In the antireflection by the moth-eye structure, the effective refractive index at the interface between the transparent substrate surface and the adjacent medium is continuously changed in the thickness direction to prevent reflection. It is necessary to satisfy the following conditions. With respect to the protrusion interval, which is one of these conditions, when the minute protrusions are regularly arranged at a constant period as disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 50-70040 and Japanese Patent No. 4632589, the adjacent spaces are adjacent to each other. The interval d between the minute projections to be performed is the projection arrangement period P (d = P). Thus, when the longest wavelength in the visible light band is λmax and the shortest wavelength is λmin, the minimum necessary condition that can exhibit the antireflection effect at the longest wavelength in the visible light band is Λmin = λmax. P ≦ λmax, and the necessary and sufficient condition that can exhibit the antireflection effect for all wavelengths in the visible light band is Λmin = λmin, and therefore P ≦ λmin.

なお波長λmax、λminは、観察条件、光の強度(輝度)、個人差等にも依存して多少幅を持ち得るが、標準的には、λmax=780nm及びλmin=380nmとされる。これらにより可視光線帯域の全波長に対する反射防止効果をより確実に奏し得る好ましい条件は、d≦300nmであり、より好ましい条件は、斜め方向(基材2表面の法線に対して45度以上に角度をなす方向)から見た場合の白濁感を低減させる点から、d≦200nmとなる。なお反射防止効果の発現及び反射率の等方性(低角度依存性)の確保等の理由から、周期dの下限値は、通常、d≧50nm、好ましくは、d≧100nmとされる。これに対して突起の高さHは、十分な反射防止効果を発現させる観点より、H≧0.2×λmax=156nm(λmax=780nmとして)とされる。   The wavelengths λmax and λmin may have some width depending on observation conditions, light intensity (luminance), individual differences, and the like, but are typically λmax = 780 nm and λmin = 380 nm. A preferable condition that can more reliably exhibit the antireflection effect for all wavelengths in the visible light band is d ≦ 300 nm, and a more preferable condition is an oblique direction (at least 45 degrees with respect to the normal of the surface of the substrate 2). D ≦ 200 nm from the viewpoint of reducing the cloudiness when viewed from an angle direction. Note that the lower limit value of the period d is usually d ≧ 50 nm, preferably d ≧ 100 nm, for reasons such as the expression of the antireflection effect and the securing of the isotropic (low angle dependency) of the reflectance. On the other hand, the height H of the protrusion is set to H ≧ 0.2 × λmax = 156 nm (assuming λmax = 780 nm) from the viewpoint of exhibiting a sufficient antireflection effect.

しかしながらこの実施形態のように、微小突起が不規則に配置されている場合には、隣接する微小突起間の間隔dはばらつきを有することになる。より具体的には、図5に示すように、基材の表面又は裏面の法線方向から見て平面視した場合に、微小突起が一定周期で規則正しく配列されていない場合、突起の繰り返し周期Pによっては隣接突起間の間隔dは規定し得ず、また隣接突起の概念すら疑念が生じることになる。そこでこのような場合、以下のように算定される。   However, when the minute protrusions are irregularly arranged as in this embodiment, the distance d between the adjacent minute protrusions varies. More specifically, as shown in FIG. 5, when the microprotrusions are not regularly arranged at a constant period when seen in a plan view when viewed from the normal direction of the front surface or the back surface of the base material, the repetition period P of the protrusions In some cases, the distance d between adjacent protrusions cannot be defined, and even the concept of adjacent protrusions is suspicious. Therefore, in such a case, it is calculated as follows.

(1)すなわち先ず、原子間力顕微鏡(Atomic Force Microscope;AFM)又は走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope:SEM)を用いて突起の面内配列(突起配列の平面視形状)を検出する。なお図5は、実際に原子間力顕微鏡により求められた拡大写真である。   (1) That is, first, an in-plane arrangement of projections (planar shape of projection arrangement) is detected using an atomic force microscope (AFM) or a scanning electron microscope (SEM). FIG. 5 is an enlarged photograph actually obtained by an atomic force microscope.

(2)続いてこの求められた面内配列から各突起の高さの極大点(以下、単に極大点と呼ぶ)を検出する。なお極大点を求める方法としては、(a)平面視形状の拡大写真上における平面座標とこれと対応する断面形状から求めた高さデータとを逐次対比して極大点を求める方法、(b)AFMで得られた基材上の平面座標における高さ分布データを2次元画像化してなる平面視拡大写真の画像処理によって極大点を求める方法等、種々の手法を適用することができる。図5はAFMによる拡大写真(画像濃度が高さに対応する)であり、図6は、図5に示した拡大写真に係る画像データの処理による極大点の検出結果を示す図であり、この図において黒点により示す個所がそれぞれ各突起の極大点である。なおこの処理では4.5×4.5画素のガウシアン特性によるローパスフィルタにより事前に画像データを処理し、これによりノイズによる極大点の誤検出を防止した。また8画素×8画素による最大値検出用のフィルタを順次スキャンすることにより1nm(=1画素)単位で極大点を求めた。   (2) Subsequently, the maximum point of the height of each protrusion (hereinafter simply referred to as the maximum point) is detected from the obtained in-plane arrangement. As a method for obtaining the maximum point, (a) a method for obtaining the maximum point by sequentially comparing the plane coordinates on the enlarged photograph of the planar view shape and the height data obtained from the corresponding cross-sectional shape, (b) Various methods such as a method of obtaining a local maximum point by image processing of a planar view enlarged photograph obtained by converting the height distribution data in the plane coordinates on the base material obtained by AFM into a two-dimensional image can be applied. FIG. 5 is an enlarged photograph by AFM (image density corresponds to the height), and FIG. 6 is a diagram showing a detection result of the maximum point by processing of image data related to the enlarged photograph shown in FIG. In the figure, each point indicated by a black dot is the maximum point of each protrusion. In this process, image data is processed in advance by a low-pass filter having a Gaussian characteristic of 4.5 × 4.5 pixels, thereby preventing erroneous detection of the maximum point due to noise. Further, a maximum point was obtained in units of 1 nm (= 1 pixel) by sequentially scanning a filter for detecting a maximum value of 8 pixels × 8 pixels.

(3)次に検出した極大点を母点とするドロネー図(Delaunary Diagram)を作製する。ここでドロネー図とは、各極大点を母点としてボロノイ分割を行った場合に、ボロノイ領域が隣接する母点同士を隣接母点と定義し、各隣接母点同士を線分で結んで得られる3角形の集合体からなる網状図形である。各3角形は、ドロネー3角形と呼ばれ、各3角形の辺(隣接母点同士を結ぶ線分)は、ドロネー線と呼ばれる。図7は、図6から求められるドロネー図(白色の線分により表される図である)を図6による原画像と重ね合わせた図である。ドロネー図は、ボロノイ図(Voronoi diagram)と双対の関係に有る。またボロノイ分割とは、各隣接母点間を結ぶ線分(ドロネー線)の垂直2等分線同士によって画成される閉多角形の集合体からなる網状図形で平面を分割することを言う。ボロノイ分割により得られる網状図形がボロノイ図であり、各閉領域がボロノイ領域である。   (3) Next, a Delaunay diagram (Delaunary Diagram) having the detected maximum point as a generating point is created. Here, Delaunay diagram is obtained by dividing the Voronoi region adjacent to the Voronoi region when the Voronoi division is performed with each local maximum as the generating point, and connecting the adjacent generating points with line segments. This is a net-like figure made up of triangular aggregates. Each triangle is called a Delaunay triangle, and a side of each triangle (a line segment connecting adjacent generating points) is called a Delaunay line. 7 is a diagram in which the Delaunay diagram (represented by white line segments) obtained from FIG. 6 is superimposed on the original image of FIG. The Delaunay diagram has a dual relationship with the Voronoi diagram. Voronoi division means that a plane is divided by a net-like figure made up of a closed polygon aggregate defined by perpendicular bisectors of line segments (Droney lines) connecting between adjacent generating points. A network figure obtained by Voronoi division is a Voronoi diagram, and each closed region is a Voronoi region.

(4)次に、各ドロネー線の線分長の度数分布、すなわち隣接する極大点間の距離(以下、隣接突起間距離と呼ぶ)の度数分布を求める。図8は、図7のドロネー図から作製した度数分布のヒストグラムである。なお図5において符号5A及び5Bにより示すように、突起の頂部に溝状等の凹部が存在したり、あるいは頂部が複数の峰に分裂している場合は、求めた度数分布から、このような突起の頂部に凹部が存在する微細構造、頂部が複数の峰に分裂している微細構造に起因するデータを除去し、突起本体自体のデータのみを選別して度数分布を作製する。   (4) Next, the frequency distribution of the line segment length of each Delaunay line, that is, the frequency distribution of the distance between adjacent maximum points (hereinafter referred to as the distance between adjacent protrusions) is obtained. FIG. 8 is a frequency distribution histogram prepared from the Delaunay diagram of FIG. In addition, as shown by reference numerals 5A and 5B in FIG. 5, when a concave portion such as a groove exists at the top of the projection, or when the top is split into a plurality of peaks, from the obtained frequency distribution, A frequency distribution is created by removing data resulting from a fine structure having a concave portion at the top of the protrusion and a fine structure in which the top is split into a plurality of peaks, and selecting only the data of the protrusion main body itself.

具体的には、突起の頂部に凹部が存在する微細構造、頂部が複数の峰に分裂している多峰性微小突起に係る微細構造においては、このような微細構造を備えてい無い単峰性微小突起の場合の数値範囲から、隣接極大点間距離が明らかに大きく異なることになる。これによりこの特徴を利用して対応するデータを除去することにより突起本体自体のデータのみを選別して度数分布を検出する。より具体的には、例えば図5に示すような微小突起(群)の平面視の拡大写真から、5〜20個程度の互いに隣接する単峰性微小突起を選んで、その隣接極大点間距離の値を標本抽出し、この標本抽出して求められる数値範囲から明らかに外れる値(通常、標本抽出して求められる隣接極大点間距離平均値に対して、値が1/2以下のデータ)を除外して度数分布を検出する。図8の例では、隣接極大点間距離が56nm以下のデータ(矢印Aにより示す左端の小山)を除外する。なお図6は、このような除外する処理を行う前の度数分布を示すものである。因みに上述の極大点検用のフィルタの設定により、このような除外する処理を実行してもよい。   Specifically, in the fine structure in which there is a concave portion on the top of the protrusion, or in the fine structure related to a multi-peak microprotrusion in which the top is divided into a plurality of peaks, the single peak property that does not have such a fine structure From the numerical range in the case of a microprotrusion, the distance between adjacent maximum points is clearly greatly different. Thus, by removing the corresponding data using this feature, only the data of the projection body itself is selected and the frequency distribution is detected. More specifically, for example, about 5 to 20 adjacent single-peaked microprojections are selected from an enlarged photograph of the microprojections (group) in plan view as shown in FIG. 5, and the distance between adjacent maximum points is selected. The value of is sampled and the value clearly deviates from the numerical range obtained by sampling (usually data whose value is ½ or less of the average distance between adjacent maximum points obtained by sampling) To detect the frequency distribution. In the example of FIG. 8, data having a distance between adjacent maximal points of 56 nm or less (the leftmost small mountain indicated by arrow A) is excluded. FIG. 6 shows a frequency distribution before such exclusion processing is performed. Incidentally, such exclusion processing may be executed by setting the above-described maximum inspection filter.

(5)このようにして求めた隣接突起間距離dの度数分布から平均値dAVG及び標準偏差σを求める。ここでこのようにして得られる度数分布を正規分布とみなして平均値dAVG及び標準偏差σを求めると、図8の例では、平均値dAVG=158nm、標準偏差σ=38nmとなった。これにより隣接突起間距離dの最大値を、dmax=dAVG+2σとし、この例ではdmax=234nmとなる。 (5) The average value d AVG and the standard deviation σ are obtained from the frequency distribution of the distance d between adjacent protrusions thus obtained. Here, when the frequency distribution obtained in this way is regarded as a normal distribution and the average value d AVG and the standard deviation σ are obtained, the average value d AVG = 158 nm and the standard deviation σ = 38 nm are obtained in the example of FIG. As a result, the maximum value of the distance d between adjacent protrusions is set to dmax = d AVG + 2σ, and in this example, dmax = 234 nm.

なお同様の手法を適用して突起の高さを定義する。この場合、上述の(2)により求められる極大点から、特定の基準位置からの各極大点位置の相対的な高さの差を取得してヒストグラム化する。図9は、このようにして求められる突起付け根位置を基準(高さ0)とした突起高さHの度数分布のヒストグラムを示す図である。このヒストグラムによる度数分布から突起高さの平均値HAVG、標準偏差σを求める。ここでこの図9の例では、平均値HAVG=178nm、標準偏差σ=30nmである。これによりこの例では、突起の高さは、平均値HAVG=178nmとなる。なお図9に示す突起高さHのヒストグラムにおいて、多峰性微小突起の場合は、頂点を複数有していることにより、1つの突起に対してこれら複数のデータが混在することになる。そこでこの場合は麓部が同一の微小突起に属するそれぞれ複数の頂点の中から高さの最も高い頂点を、当該微小突起の突起高さとして採用して度数分布を求める。 The same method is applied to define the height of the protrusion. In this case, a relative height difference of each local maximum point position from a specific reference position is acquired from the local maximum point obtained by the above (2), and is histogrammed. FIG. 9 is a diagram showing a histogram of the frequency distribution of the protrusion height H with the protrusion root position thus obtained as a reference (height 0). The average value HAVG of the protrusion height and the standard deviation σ are obtained from the frequency distribution based on the histogram. Here in the example of FIG. 9, the average value H AVG = 178 nm, the standard deviation sigma = 30 nm. Thus in this example, the height of the projections is an average value H AVG = 178 nm. In the histogram of the protrusion height H shown in FIG. 9, in the case of a multi-peak microprotrusion, the plurality of data are mixed for one protrusion because of having a plurality of vertices. Therefore, in this case, the frequency distribution is obtained by adopting the vertex having the highest height from among the plurality of vertices belonging to the same microprotrusion as the protuberance.

なお上述した突起の高さを測る際の基準位置は、隣接する微小突起の間の谷底(高さの極小点)を高さ0の基準とする。但し、例えば図2について上述したように、谷底の高さが微小突起の隣接突起間距離に比べて大きな周期でウネリを有する場合において、係る谷底の高さ自体が場所によって異なる場合は、(1)先ず、基材2の表面又は裏面から測った各谷底の高さの平均値を、該平均値が收束するに足る面積の中で算出する。(2)次いで、該平均値の高さを持ち、基材2の表面又は裏面と平行な面を基準面として考える。(3)その後、該基準面を改めて高さ0として、該基準面からの各微小突起の高さを算出する。   In addition, the reference position when measuring the height of the protrusion described above is based on the valley bottom (minimum point of height) between the adjacent minute protrusions as a reference of height 0. However, as described above with reference to FIG. 2, for example, when the height of the valley bottom has undulation with a period larger than the distance between the adjacent protrusions of the minute protrusions, ) First, the average value of the height of each valley bottom measured from the front surface or the back surface of the base material 2 is calculated within an area sufficient for the average value to converge. (2) Next, a surface having the height of the average value and parallel to the front surface or the back surface of the substrate 2 is considered as a reference surface. (3) Then, the height of each microprotrusion from the reference surface is calculated by setting the reference surface to a height of 0 again.

突起が不規則に配置されている場合には、このようにして求められる隣接突起間距離の最大値dmax=dAVG+2σ、突起の高さの平均値HAVGが、規則正しく配置されている場合の上述の条件を満足することが必要であることが判った。具体的には、反射防止効果を発現する微小突起間距離の条件は、dmax≦Λminとなる。最低限、可視光線帯域の最長波長において反射防止効果を奏し得る必要最短限の条件は、Λmin=λmaxであるため、dmax≦λmaxとなり、可視光線帯域の全波長に対して反射防止効果を奏し得る必要十分の条件は、Λmin=λminであるため、dmax≦λminとなる。そして、可視光線帯域の全波長に対する反射防止効果をより確実に奏し得る好ましい条件は、dmax≦300nmであり、更に好ましい条件は、dmax≦200nmである。また反射防止効果の発現及び反射率の等方性(低角度依存性)の確保等の理由から、通常、dmax≧50nmであり、好ましくは、dmax≧100nmとされる。また突起高さについては、十分な反射防止効果を発現する為には、HAVG≧0.2×λmax=156nm(λmax=780nmとして)とされる。 If the protrusions are irregularly arranged, when this way the maximum value of the adjacent protrusions distance obtained by dmax = d AVG + 2σ, average H AVG height of projections are arranged regularly It has been found necessary to satisfy the above conditions. Specifically, the condition of the distance between the microprotrusions that exhibits the antireflection effect is dmax ≦ Λmin. The minimum necessary condition that can exhibit the antireflection effect at the longest wavelength in the visible light band is Λmin = λmax, and therefore dmax ≦ λmax, and the antireflection effect can be achieved for all wavelengths in the visible light band. The necessary and sufficient condition is Λmin = λmin, and therefore dmax ≦ λmin. A preferable condition that can more reliably exhibit the antireflection effect for all wavelengths in the visible light band is dmax ≦ 300 nm, and a more preferable condition is dmax ≦ 200 nm. Also, dmax ≧ 50 nm is usually satisfied and dmax ≧ 100 nm is preferable because of the antireflection effect and ensuring the isotropic (low angle dependency) of the reflectance. The height of the protrusion is set to HAVG ≧ 0.2 × λmax = 156 nm (assuming λmax = 780 nm) in order to exhibit a sufficient antireflection effect.

因みに、図5〜図9の例により説明するとdmax=234nm≦λmax=780nmとなり、dmax≦λmaxの条件を満足して十分に反射防止効果を奏し得ることが判る。また可視光線帯域の最短波長λminが380nmであることから、可視光線の全波長帯域において反射防止効果を発現する十分条件dmax≦λminも満たすことが判る。また平均突起高さHAVG=178nmであることにより、平均突起高さHAVG≧0.2×λmax=156nmとなり(可視光波長帯域の最長波長λmax=780nmとして)、十分な反射防止効果を実現するための突起の高さに関する条件も満足していることが判る。なお標準偏差σ=30nmであることから、HAVG−σ=148nm<0.2×λmax=156nmとの関係式が成立することから、統計学上、全突起の50%以上、84%以下が、突起の高さに係る条件(178nm以上)の条件を満足していることが判る。なおAFM及びSEMによる観察結果、並びに微小突起の高さ分布の解析結果から、多峰性微小突起は相対的に高さの低い微小突起よりも高さの高い微小突起でより多く生じる傾向にあることが判明した。 5 to 9, dmax = 234 nm ≦ λmax = 780 nm, and it can be seen that the antireflection effect can be sufficiently achieved by satisfying the condition of dmax ≦ λmax. In addition, since the shortest wavelength λmin in the visible light band is 380 nm, it can be seen that the sufficient condition dmax ≦ λmin for exhibiting the antireflection effect in all visible light wavelength bands is also satisfied. When the average protrusion the height H AVG = 178 nm Also, the average projection height H AVG ≧ 0.2 × λmax = 156nm becomes (as the longest wavelength .lambda.max = 780 nm in the visible light wavelength band), realizing a sufficient antireflection effect It can be seen that the conditions regarding the height of the protrusions to satisfy are also satisfied. Note since the standard deviation sigma = 30 nm, since the relationship between the H AVG -σ = 148nm <0.2 × λmax = 156nm is satisfied, statistically, more than 50% of the total protrusions, 84% or less It can be seen that the condition of the height of the protrusion (178 nm or more) is satisfied. In addition, from the observation result by AFM and SEM and the analysis result of the height distribution of the microprojections, the multi-peak microprojections tend to be generated more frequently in the microprojections having a higher height than the microprojections having a relatively low height. It has been found.

〔計測結果〕
図10及び図11は、この実施形態に係る反射防止物品(実施例)と比較例とについて、画像表示パネルのパネル面に配置する場合についての評価結果を示す図表である。ここで実施例(包絡面+微小突起)は、図8及び図9の計測に供した微小突起を備え、包絡面6における凹凸の平均間隔Smが100μm、平均傾斜角θaが1.2度、10点平均粗さRzが1.0μmである。比較例1(平坦面+微小突起)は、谷底の包絡面6の平均間隔Sm、平均傾斜角θa、10点平均粗さRzの何れもが上述した実施形態に比して平坦であり、この谷底の包絡面6に係る構成を除いて、実施例1と同一に構成されたモスアイ構造のみによる反射防止物品である。比較例2(包絡面のみ(実施形態の範囲外)+微小突起)は、実施例1に係る谷底の包絡面と同一の表面形状による凹凸面のみにより反射防止を図る反射防止フィルムである。また比較例3(包絡面(実施形態の範囲外)+微小突起)は、平均間隔Smが90μm、平均傾斜角θaが1.5度、10点平均粗さRzが1.5μmによる凹凸面のみにより反射防止を図る反射防止フィルムであり、比較例4(包絡面(実施形態の範囲外)+微小突起)は、この比較例3の凹凸面と同一の表面形状による谷底の包絡面6に図8、図9の計測に供した微小突起を設けたものである。
〔Measurement result〕
10 and 11 are charts showing the evaluation results for the case where the antireflection article (Example) according to this embodiment and the comparative example are arranged on the panel surface of the image display panel. Here, the example (envelope surface + microprojection) includes the microprojections provided for the measurement in FIGS. 8 and 9, the average interval Sm of the irregularities on the envelope surface 6 is 100 μm, the average inclination angle θa is 1.2 degrees, The 10-point average roughness Rz is 1.0 μm. In Comparative Example 1 (flat surface + minute protrusion), the average interval Sm, the average inclination angle θa, and the 10-point average roughness Rz of the envelope surface 6 at the bottom of the valley are flat compared to the above-described embodiment. Except for the configuration related to the envelope surface 6 of the valley bottom, this is an antireflection article having only the moth-eye structure configured the same as in Example 1. Comparative Example 2 (envelope surface only (outside the scope of the embodiment) + microprojection) is an antireflection film that provides antireflection only by the uneven surface having the same surface shape as the envelope surface of the valley bottom according to Example 1. Further, Comparative Example 3 (envelope surface (outside the scope of the embodiment) + microprojection) is an uneven surface with an average interval Sm of 90 μm, an average inclination angle θa of 1.5 degrees, and an average roughness Rz of 1.5 μm. Comparative Example 4 (envelope surface (outside the scope of the embodiment) + microprojection) is shown on the valley bottom envelope surface 6 having the same surface shape as the uneven surface of Comparative Example 3. 8 and FIG. 9 are provided with minute projections used for the measurement.

低反射性能は、正面方向の反射率を評価したものであり、正反射性は、斜め45度の入射角による入射光についての、正反射率を評価したものである。ここで◎印は、画像表示パネルのパネル面に配置して十分に実用に供する低反射率であることを示し、○印は、◎印の場合程ではないものの、十分に実用に供する程度に低反射率であることを示す。また×印は、反射率が大きく、実用に供しない場合を示し、△印は、×印による場合程、反射率は大きくないものの、実用に供するには不十分と判断される場合である。   The low reflection performance is an evaluation of the reflectance in the front direction, and the regular reflection property is an evaluation of the regular reflectance of incident light with an oblique incident angle of 45 degrees. Here, ◎ indicates that the reflectance is low enough for practical use when placed on the panel surface of the image display panel, and ○ indicates that it is sufficiently practical for use, although not as good as ◎. Indicates low reflectivity. The x mark indicates a case where the reflectivity is large and is not practically used, and the Δ mark is a case where the reflectivity is not as great as in the case of the x mark, but is determined to be insufficient for practical use.

写り込みは、正面方向から観察した場合の写りこみの評価であり、斜め写り込みは、斜め方向から観察した場合の評価である。ここで◎印は、蛍光灯等の光源の写り込みを殆んど認識できない場合であり、○印は、実用に供する程度に十分に写り込みが低減されてはいるものの、蛍光灯の写り込みを把握することができる場合である。△印及び×印は、写り込みに改善の余地がある場合であって、この改善の余地の大小による判定である。写り込みに係る角度依存性は、見る角度の変化による写り込みの程度の変化を評価するものであり、この変化の小さい場合を「角度依存性小」とし、変化の大きい場合を「角度依存性あり」とした。   Reflection is an evaluation of reflection when observed from the front direction, and oblique reflection is an evaluation when observed from the oblique direction. Here, ◎ indicates that the reflection of a light source such as a fluorescent lamp is hardly recognized. ○ indicates that the reflection of a fluorescent lamp is sufficiently reduced to be practically used. It is a case where it can grasp. The Δ mark and the X mark are cases where there is room for improvement in the reflection, and the determination is based on the size of the room for improvement. The angle dependency related to the reflection is to evaluate the change in the degree of reflection due to the change in the viewing angle. When this change is small, the angle dependency is small, and when the change is large, the angle dependency is Yes. "

またつやあり黒表現は、表示画面の見え方の評価であり、○印は、表面に透明感があり、表示画面を黒色により見て取ることができる場合であり、×印は、表面に透明感が欠け、表示画面が白っぽく見える場合である。総合性能は、これらの評価を総合的に判断した評価であり、◎印は、実用に供する程度以上に十分に各種の性能が優れている場合であり、△印は一部の性能が不十分な場合であり、×印は、殆んどの性能が不十分な場合である。   The glossy black expression is an evaluation of the appearance of the display screen. The ◯ mark indicates that the surface is transparent and the display screen can be seen in black. The X mark indicates that the surface is transparent. This is a case where the display screen appears whitish. The overall performance is an evaluation based on a comprehensive judgment of these evaluations. The symbol ◎ indicates that the various performances are sufficiently superior for practical use, and the symbol Δ indicates that some performance is insufficient. In this case, the mark “X” indicates that most of the performance is insufficient.

この図10の比較結果によれば、モスアイ構造のみによる反射防止物品(比較例1)に係る欠点を、谷底の包絡面の設定により改善し、十分に写り込みを低減することができ、また角度依存性も小さくすることができ、さらに表示画面を、透明感を有する黒色に設定できることが判る。   According to the comparison result of FIG. 10, the defect related to the antireflection article (Comparative Example 1) having only the moth-eye structure can be improved by setting the envelope surface of the valley bottom, and the reflection can be sufficiently reduced. It can be seen that the dependency can be reduced, and the display screen can be set to black with transparency.

また図11と図10との比較により、谷底の包絡面の形状が上述した範囲より逸脱する場合には、モスアイ構造にとの組み合わせに係る場合(比較例4)でも、谷底の包絡面6の表面形状のみによる場合(比較例3)でも、十分に写り込みを低減できないことが判り、また表示画面も白味を帯びたものになることが判る。   11 and FIG. 10, when the shape of the envelope surface of the valley bottom deviates from the above-described range, even when the combination with the moth-eye structure is used (Comparative Example 4), the envelope surface 6 of the valley bottom is Even when the surface shape alone is used (Comparative Example 3), it can be seen that the reflection cannot be reduced sufficiently, and the display screen is also white.

〔写り込みの詳細検討〕
図12(A)は、写り込みの評価に供する計測系の説明に供する図である。この実施形態では、この図12(A)に示す計測系を使用してより詳細に写り込みを評価した。ここでこの計測系は、線状光源を使用して写り込み計測用の基準光を作成し、この基準光を試料表面に斜め入射し、この資料表面に形成される光源像を基準光の正反射方向からデジタルカメラにより撮影して評価する。
[Detailed examination of reflection]
FIG. 12A is a diagram for explaining a measurement system used for evaluation of reflection. In this embodiment, reflection was evaluated in more detail using the measurement system shown in FIG. Here, this measurement system uses a linear light source to create a reference light for reflection measurement, this reference light is obliquely incident on the surface of the sample, and the light source image formed on the surface of this material is converted to the correct reference light. Take a picture with a digital camera from the reflection direction and evaluate it.

より具体的に、この計測系では、平行光線を出射する光源(図示せず)の前に、スリットS(スリット幅2mm)を有する遮光板を、このスリットSの延長方向が試料表面と並行になるように、かつ試料に斜め入射する基準光の光軸に対して遮光板が直交するように、遮光板を配置して線状光源を形成する。このようにして基準光の正反射方向から試料表面を観察すると、図12(B)により示すように、写り込みによる光源像が試料表面に形成され、写り込みの低減効果が高い程、この光源像を認識できなくなる。   More specifically, in this measurement system, a light-shielding plate having a slit S (slit width 2 mm) is provided in front of a light source (not shown) that emits parallel light, and the extension direction of the slit S is parallel to the sample surface. The linear light source is formed by arranging the light shielding plate so that the light shielding plate is orthogonal to the optical axis of the reference light obliquely incident on the sample. When the sample surface is observed from the regular reflection direction of the reference light in this way, as shown in FIG. 12B, a light source image by reflection is formed on the sample surface. The image cannot be recognized.

この実施形態では、この基準光の入射角θを順次段階的に変化させ、各入射角θで、基準光の正反射方向から試料表面の光源像を撮影する。また符号Lにより示すように、光源像を横切る方向に撮影結果の諧調を順次計測して評価した。諧調は、輝度レベルを一定の判定基準値によりクリップし、このクリップした輝度レベルを256諧調とし、黒の輝度レベルを0諧調として表現した。   In this embodiment, the incident angle θ of the reference light is sequentially changed step by step, and a light source image on the sample surface is photographed from the regular reflection direction of the reference light at each incident angle θ. Further, as indicated by the symbol L, the gradation of the photographing result was sequentially measured and evaluated in the direction across the light source image. In the gradation, the luminance level is clipped according to a certain determination reference value, and the clipped luminance level is expressed as 256 gradation, and the black luminance level is expressed as 0 gradation.

なおこの実施形態では、全ての試料で撮像結果より写り込みを観察可能に、デジタルカメラに係る各種パラメータ(例えば絞り、露光時間等である)を設定して撮影したことにより、この256諧調以上の光量については、飽和して測定困難となっており、その結果、後述する計測結果では、判定基準値以上の光量である正反射成分の光量については、計測困難となっている。   In this embodiment, since all the samples can be observed from the imaging result, various parameters relating to the digital camera (for example, aperture, exposure time, etc.) are set and photographed. As for the amount of light, it is difficult to measure due to saturation. As a result, in the measurement results described later, it is difficult to measure the amount of regular reflection component that is greater than the criterion value.

しかしながらこのような判定基準値以上の光量計測については、撮影方法に次の改善を加えることで、測定不能領域を低減し個々の実施形態の光源像の差をより明確にできる。すなわち(1)全ての試料の、輝度の高い光源像から輝度の低い試料表面まで写り込むように、デジタルカメラの絞り値・シャッター速度を調整する。(2)ダイナミックレンジの広いハイダイナミックレンジ撮影することで、撮影可能な輝度レベルの範囲を拡げることができ、判定基準値をより高く設定できる。これにより、試料の測定不能領域を減らし、試料同士の鏡面反射の差をより明確にできる。(3)ゴニオフォトメータを用いて試料表面の鏡面反射のエネルギーを測定する。これにより、各試料の鏡面反射の光強度を絶対値で比較することができる。   However, for the light amount measurement above the determination reference value, by adding the following improvement to the photographing method, the non-measurable area can be reduced and the difference between the light source images of the individual embodiments can be made clearer. That is, (1) The aperture value and shutter speed of the digital camera are adjusted so that all the samples are reflected from the light source image with high luminance to the sample surface with low luminance. (2) By taking a high dynamic range image with a wide dynamic range, the range of luminance levels that can be imaged can be expanded, and the determination reference value can be set higher. Thereby, the non-measurable area | region of a sample can be reduced and the difference in the specular reflection between samples can be made clearer. (3) Measure specular reflection energy on the sample surface using a goniophotometer. Thereby, the specular reflection light intensity of each sample can be compared in absolute value.

図13は、比較検討用の試料の計測結果を示す図である。この試料は、表面が鏡面であるいわゆる黒アクリルであり、横軸は、光源像を横切る方向の位置である。この比較検討用の計測結果によれば、入射角θを種々に変化させた場合にあっても、光源像のエッジに対応する箇所で諧調が急激に判定基準値(上述の256階調であり、今回測定設定範囲では、映りこみ改善に注力したため上限を超え測定不能領域である)以上に立ち上がっており、著しい写り込みの発生を確認することができる。   FIG. 13 is a diagram illustrating measurement results of a sample for comparative study. This sample is so-called black acrylic whose surface is a mirror surface, and the horizontal axis is a position in a direction crossing the light source image. According to this comparative measurement result, even when the incident angle θ is variously changed, the gradation is abruptly determined at the position corresponding to the edge of the light source image (the above-mentioned 256 gradations). In this measurement setting range, since the focus was on improving reflection, it has risen beyond the upper limit (which is an unmeasurable area), and the occurrence of significant reflection can be confirmed.

図14は、比較例1の計測結果を示す図である。この場合、比較検討用試料の計測結果に比して、判定基準値以上に諧調が立ち上がっている範囲が狭いことにより、図13の例に比して、視認される光源像が細って観察されることが判る。また入射角θが小さくなるに従ってピークの諧調が徐々に低下しており、またピーク値自体も図13の例に比して小さいことにより、写り込みの低減効果を見て取ることができる。しかしながら諧調の急激な立ち上がりが存在することにより、光源像自体、見て取ることができる。これらにより映り込みの低減については、未だ改善の余地が存在することが判る。   FIG. 14 is a diagram illustrating measurement results of Comparative Example 1. In this case, compared with the measurement result of the comparative examination sample, the range in which the gradation rises more than the determination reference value is narrow, so that the visible light source image is observed more thinly than in the example of FIG. I understand that Further, the gradation of the peak gradually decreases as the incident angle θ decreases, and the peak value itself is smaller than that in the example of FIG. 13, so that the effect of reducing the reflection can be seen. However, due to the presence of a sharp rise in gradation, the light source image itself can be seen. These show that there is still room for improvement in reducing reflection.

図15は、比較例4の計測結果を示す図である。この場合、図14の例に比して諧調の急激な変化が緩和されていることにより、光源像がぼやけていること判り、これにより谷の包絡面を凹凸形状とした効果を見て取ることができる。しかしながら各入射角θにおけるピーク値は、図14の例に比して大差無く、これによりぼやけてはいるものの光源像の明るさに変化が無いことが判る。   FIG. 15 is a diagram illustrating measurement results of Comparative Example 4. In this case, it can be seen that the light source image is blurred because the rapid change in gradation is reduced as compared with the example of FIG. 14, and thus the effect of making the valley envelope surface uneven can be seen. . However, the peak value at each incident angle θ is not much different from that in the example of FIG. 14, and it can be seen that there is no change in the brightness of the light source image although it is blurred.

図16は、実施例の計測結果を示す図である。この場合、図15の例に比して一段と諧調の急激な変化が緩和されていることにより、一段と光源像がぼやけて観察されること判り、これにより谷の包絡面を上述した曲面形状による凹凸形状とした効果を見て取ることができる。また各入射角θにおけるピーク値も、図14、図15の例に比して一段と低減されており、これによっても光源像が一段と判り難くなっていることが判る。なお図13〜図16における0諧調を基準とした相対値による計測結果と目視確認結果との比較により、別途計測した絶対値光量による比較例、実施例の計測結果(黒を0基準とした計測結果である)と目視確認結果との比較により、この実施形態に係る計測系による50諧調以下については、目視により写り込みを視認できないことが判明した。これにより図16では、50諧調より大きな諧調の領域が図13〜図15の計測結果に比して格段的に小さいく、さらにこの50諧調以上の諧調にあっても、50諧調からの立ち上がりが小さいことにより、従来に比して格段的に写り込みを抑圧できることが判る。   FIG. 16 is a diagram illustrating measurement results of the example. In this case, it can be seen that the sharp change in gradation is alleviated compared to the example of FIG. 15, and that the light source image is observed more blurry, thereby making the valley envelope uneven by the curved shape described above. You can see the effect of the shape. Further, the peak value at each incident angle θ is further reduced as compared with the examples of FIGS. 14 and 15, and it is understood that the light source image is more difficult to understand. In addition, the comparison result by the absolute value light quantity measured separately and the measurement result of an Example by the comparison with the measurement result by the relative value on the basis of 0 gradation in FIGS. It is found that the reflection cannot be visually recognized with respect to 50 gradation or less by the measurement system according to this embodiment. Accordingly, in FIG. 16, the gradation area larger than 50 gradations is much smaller than the measurement results of FIGS. 13 to 15, and even when the gradation is 50 gradations or more, the rising from 50 gradations is achieved. It can be seen that, by being small, the reflection can be remarkably suppressed as compared with the conventional case.

図17及び図18は、この図13〜図16の計測結果を、入射角θ=10度及び80度についてまとめた図である。符号L1は、実施例を示し、符号L2、L3、L4は、比較例4、比較例1、比較検討用の試料による計測結果である。この図17及び図18によれば、実施例における写り込みの低減効果を比較例1等との比較により確認することができる   FIGS. 17 and 18 are graphs summarizing the measurement results of FIGS. 13 to 16 for the incident angles θ = 10 degrees and 80 degrees. Reference numeral L1 indicates an example, and reference numerals L2, L3, and L4 indicate measurement results of Comparative Example 4, Comparative Example 1, and a sample for comparative study. According to FIGS. 17 and 18, the effect of reducing the reflection in the embodiment can be confirmed by comparison with Comparative Example 1 or the like.

〔製造工程〕
図19は、この反射防止物品1の製造工程を示す図である。この製造工程10は、樹脂供給工程において、ダイ12により帯状フィルム形態の基材2に微小突起形状の受容層4を構成する未硬化で液状のアクリレート系紫外線硬化性樹脂を塗布する。なお紫外線硬化性樹脂の塗布については、ダイ12による場合に限らず、各種の手法を適用することができる。続いてこの製造工程10は、押圧ローラ14により、反射防止物品の賦型用金型であるロール版13の周側面に基材2を加圧押圧し、これにより基材2に未硬化状態で液状の紫外線硬化性樹脂を密着させると共に、ロール版13の周側面に作製された微細な凹凸形状の凹部に紫外線硬化性樹脂を充分に充填する。この製造工程は、この状態で、紫外線の照射により紫外線硬化性樹脂を硬化させ、これにより基材2の表面に微小突起群を作製する。この製造工程は、続いて剥離ローラ15を介してロール版13から、硬化した紫外線硬化性樹脂と一体に基材2を剥離する。製造工程10は、必要に応じてこの基材2に粘着層等を作製した後、所望の大きさに切断して反射防止物品1を作製する。これにより反射防止物品1は、ロール材による長尺の基材2に、賦型用金型であるロール版13の周側面に作製された微細形状を順次賦型して、効率良く大量生産される。
〔Manufacturing process〕
FIG. 19 is a diagram illustrating a manufacturing process of the antireflection article 1. In the manufacturing process 10, in the resin supplying process, an uncured and liquid acrylate-based UV curable resin constituting the microprojection-shaped receiving layer 4 is applied to the belt-shaped substrate 2 by the die 12. In addition, about application | coating of an ultraviolet curable resin, not only the case by the die | dye 12 but various methods are applicable. Subsequently, in this manufacturing process 10, the substrate 2 is pressed and pressed onto the peripheral side surface of the roll plate 13 which is a mold for shaping the antireflection article by the pressing roller 14, and thereby the substrate 2 is uncured. A liquid ultraviolet curable resin is brought into close contact, and the concave and convex portions formed on the peripheral side surface of the roll plate 13 are sufficiently filled with the ultraviolet curable resin. In this state, in this manufacturing process, the ultraviolet curable resin is cured by irradiation with ultraviolet rays, and thereby a microprojection group is produced on the surface of the substrate 2. In this manufacturing process, the substrate 2 is peeled off from the roll plate 13 through the peeling roller 15 together with the cured ultraviolet curable resin. In the production process 10, an anti-reflection article 1 is produced by producing an adhesive layer or the like on the substrate 2 as necessary, and then cutting it into a desired size. Accordingly, the antireflection article 1 is mass-produced efficiently by sequentially molding the fine shape produced on the peripheral side surface of the roll plate 13 which is a mold for molding on the long base material 2 made of a roll material. The

〔ロール版作製工程〕
図20は、ロール版13の構成を示す斜視図である。ロール版13は、円筒形状の金属材料である母材の周側面の表面形状が、谷底の包絡面6に対応する曲面形状とされた後、陽極酸化処理、エッチング処理の繰り返しにより、この曲面形状に微細な凹凸形状が作製され、この微細な凹凸形状が、谷底の包絡面6に係る曲面形状と共に基材2に賦型される。このためロール版13は、少なくとも周側面に純度の高いアルミニウム層が設けられた円柱形状又は円筒形状の部材が母材に適用される。またこのアルミニウム層の表面形状が、谷底の包絡面6に対応する曲面形状とされる。より具体的に、この実施形態では、母材に中空のステンレスパイプが適用され、直接に又は各種の中間層を介して、純度の高いアルミニウム層が、谷底の包絡面6に対応する曲面形状により設けられる。なおステンレスパイプに代えて、銅やアルミニウム等のパイプ材等を適用してもよい。ロール版13は、陽極酸化処理とエッチング処理との繰り返しにより、母材の周側面に微細穴が密に作製され、この微細穴を掘り進めると共に、開口部に近付くに従ってより大きな径となるようにこの微細穴の穴径を徐々に拡大して凹凸形状が作製される。これによりロール版13は、深さ方向に徐々に穴径が小さくなる微細穴が密に作製され、反射防止物品1には、この微細穴に対応して、頂部に近付くに従って徐々に径が小さくなる多数の微小突起により微細な凹凸形状が作製される。
[Roll plate making process]
FIG. 20 is a perspective view showing the configuration of the roll plate 13. The roll plate 13 is formed by repeating the anodizing treatment and the etching treatment after the surface shape of the peripheral side surface of the base material, which is a cylindrical metal material, is a curved shape corresponding to the envelope surface 6 of the valley bottom. A fine uneven shape is formed, and this fine uneven shape is formed on the base material 2 together with the curved surface shape related to the envelope surface 6 of the valley bottom. For this reason, as for the roll plate 13, a columnar or cylindrical member in which a high purity aluminum layer is provided at least on the peripheral side surface is applied to the base material. The surface shape of the aluminum layer is a curved shape corresponding to the envelope surface 6 of the valley bottom. More specifically, in this embodiment, a hollow stainless steel pipe is applied to the base material, and a high-purity aluminum layer has a curved shape corresponding to the envelope surface 6 of the valley bottom, either directly or through various intermediate layers. Provided. In addition, it may replace with a stainless steel pipe and may apply pipe materials, such as copper and aluminum. In the roll plate 13, fine holes are densely formed on the peripheral side surface of the base material by repeating the anodizing treatment and the etching treatment, and the fine holes are dug, and the diameter of the roll plate 13 increases as it approaches the opening. The concavo-convex shape is produced by gradually increasing the diameter of the fine holes. As a result, the roll plate 13 is closely formed with fine holes whose diameter gradually decreases in the depth direction, and the diameter of the antireflection article 1 gradually decreases as it approaches the top corresponding to the fine holes. A fine concavo-convex shape is produced by a large number of fine protrusions.

図21は、ロール版13の製造工程を示す図である。この製造工程は、電解溶出作用と、砥粒による擦過作用の複合による電解複合研磨法によって母材の周側面を超鏡面化する(電解研磨)。   FIG. 21 is a diagram showing a manufacturing process of the roll plate 13. In this manufacturing process, the peripheral side surface of the base material is made into a super mirror surface by an electrolytic composite polishing method that combines electrolytic elution action and abrasion action by abrasive grains (electrolytic polishing).

続いてこの工程は、下地層作製工程により、谷底の包絡面6に対応する曲面形状を備え、さらに表面がアルミニウム層による下地層が母材の周側面に作製され、これにより母材の周側面の曲面形状が包絡面6に対応する曲面形状とされる。続いてこの工程は、陽極酸化工程A1、…、AN、エッチング工程E1、…、ENを交互に繰り返して下地層に微細穴を作製し、これによりロール版13を作製する。   Subsequently, this step is provided with a curved surface shape corresponding to the envelope surface 6 of the valley bottom in the base layer manufacturing step, and further, a base layer made of an aluminum layer is formed on the peripheral side surface of the base material, thereby the peripheral side surface of the base material Is a curved surface shape corresponding to the envelope surface 6. Subsequently, in this process, anodizing processes A1,..., AN, etching processes E1,..., EN are alternately repeated to form fine holes in the underlayer, and thereby roll plate 13 is manufactured.

より具体的に、この製造工程において、陽極酸化工程A1、…、ANでは、陽極酸化法により母材の周側面に微細な穴を作製し、さらにこの作製した微細な穴を掘り進める。ここで陽極酸化工程では、例えば負極に炭素棒、ステンレス板材等を使用する場合のように、アルミニウムの陽極酸化に適用される各種の手法を広く適用することができる。また溶解液についても、中性、酸性の各種溶解液を使用することができ、より具体的には、例えば硫酸水溶液、シュウ(蓚)酸水溶液、リン酸水溶液等を使用することができる。この製造工程A1、…、ANは、液温、印加する電圧、陽極酸化に供する時間等の管理により、微細な穴をそれぞれ目的とする深さ及び微小突起形状に対応する形状に作製する。   More specifically, in this manufacturing process, in the anodic oxidation process A1,..., AN, a fine hole is produced on the peripheral side surface of the base material by an anodic oxidation method, and the produced fine hole is further dug. Here, in the anodic oxidation step, various methods applied to the anodic oxidation of aluminum can be widely applied, for example, when a carbon rod, a stainless steel plate, or the like is used for the negative electrode. Further, as the solution, various neutral and acidic solutions can be used, and more specifically, for example, sulfuric acid aqueous solution, oxalic acid aqueous solution, phosphoric acid aqueous solution and the like can be used. In the manufacturing steps A1,..., AN, the fine holes are formed in shapes corresponding to the target depth and the shape of the fine protrusions, respectively, by managing the liquid temperature, the applied voltage, the time for anodization, and the like.

続くエッチング工程E1、…、ENは、母材をエッチング液に浸漬し、陽極酸化工程A1、…、ANにより作製、掘り進めた微細な穴の穴径をエッチングにより拡大し、深さ方向に向かって滑らか、かつ徐々に穴径が小さくなるように、これら微細な穴を整形する。なおエッチング液については、この種の処理に適用される各種エッチング液を広く適用することができ、より具体的には、例えば硫酸水溶液、シュウ酸水溶液、リン酸水溶液等を使用することができる。これらによりこの製造工程では、陽極酸化処理とエッチング処理とを交互にそれぞれ複数回実行することにより、賦型に供する微細穴を母材の周側面に作製する。尚、陽極酸化処理で用いたシュウ酸水溶液等の陽極酸化処理液自体は、電圧を印加することなく、母材に接触させればエッチング液として機能する。従って、陽極酸化処理液とエッチング液とを同じ液とし、同液を入れた槽中に母材を浸漬したまま、順次、所定時間所定電圧を印加することで陽極酸化処理を行い、電圧無印加で所定時間浸漬することによってエッチング処理を行うこともできる。   In the subsequent etching step E1,..., EN, the base material is immersed in an etching solution, the hole diameter of the fine hole produced and dug in the anodizing step A1,. These fine holes are shaped so that the hole diameter becomes smaller and smoother. As the etching solution, various etching solutions that are applied to this type of treatment can be widely applied. More specifically, for example, a sulfuric acid aqueous solution, an oxalic acid aqueous solution, a phosphoric acid aqueous solution, or the like can be used. As a result, in this manufacturing process, the anodizing process and the etching process are alternately performed a plurality of times, so that fine holes for forming are formed on the peripheral side surface of the base material. The anodizing solution itself such as an oxalic acid aqueous solution used in the anodizing treatment functions as an etching solution if it is brought into contact with the base material without applying a voltage. Therefore, the anodizing treatment solution and the etching solution are the same solution, and the anodizing treatment is performed by sequentially applying a predetermined voltage for a predetermined time while the base material is immersed in a bath containing the same solution, and no voltage is applied. Etching can also be performed by immersing in a predetermined time.

図22は、下地層作製工程を詳細に示すフローチャートであり、図23は、このフローチャートに係る詳細構成を示す図である。下地層作製工程は、図23(A)に示すように、始めに凹凸面作製工程により、母材21の周側面に、谷底の包絡面に対応する曲面形状を作製する。ここで谷底の包絡面の曲面形状が、反射光を散乱させて反射防止を図る防眩層の表面形状と等しい形状であることにより、凹凸面作製工程では、この種の反射防止フィルムにおける防眩層の作製に供する手法を適用して母材21の周側面に凹凸面層22を作製することにより、谷底の包絡面に対応する曲面形状を作製する。   FIG. 22 is a flowchart showing in detail the underlayer manufacturing process, and FIG. 23 is a diagram showing a detailed configuration according to this flowchart. As shown in FIG. 23A, in the underlayer manufacturing process, first, a curved surface shape corresponding to the envelope surface of the valley bottom is manufactured on the peripheral side surface of the base material 21 by the uneven surface manufacturing process. Here, the curved surface shape of the envelope surface of the valley bottom is the same shape as the surface shape of the antiglare layer that scatters reflected light to prevent reflection, so that in the uneven surface preparation process, antiglare in this type of antireflection film By applying the technique used for the production of the layer to produce the irregular surface layer 22 on the peripheral side surface of the base material 21, a curved surface shape corresponding to the envelope surface of the valley bottom is produced.

このような凹凸面層22の作製手法としては、例えば特許5170634号明細書に開示されている手法である、1)樹脂に微粒子を添加した防眩性用組成物を用いて凹凸形状を有した防眩層を形成する方法、2)微粒子を添加しないで、樹脂等のみを含んだ防眩性用組成物を用いて凹凸形状を有した防眩層を形成する方法、3)凹凸形状を付与する処理を用いて防眩層を形成する方法を適用することができる。これによりこの実施形態では、塗工液をダイ等により塗工した後、硬化等の処理を実行して凹凸面層22を作製する。なお凹凸面層22は、厚さが0.5μm以上、27μm以下であることが好ましいものの、より好ましくは1μm以上、12μm以下が望ましい。   As a method for producing such an uneven surface layer 22, for example, a method disclosed in Japanese Patent No. 5170634, 1) having an uneven shape using an anti-glare composition obtained by adding fine particles to a resin. A method for forming an antiglare layer, 2) a method for forming an antiglare layer having a concavo-convex shape using a composition for antiglare without adding fine particles, and 3) providing a concavo-convex shape A method of forming an antiglare layer using the treatment to be applied can be applied. Thereby, in this embodiment, after coating a coating liquid with a die | dye etc., processing, such as hardening, is performed and the uneven surface layer 22 is produced. The uneven surface layer 22 preferably has a thickness of 0.5 μm or more and 27 μm or less, more preferably 1 μm or more and 12 μm or less.

この凹凸面層22は、表面形状が谷底の包絡面6に対応する形状(反転した形状)により作製されることにより、包絡面6の凹凸形状について上述したと同様、平均間隔Smが100μm以上、600μm以下、平均傾斜角θaが0.1度以上、1.2度以下、10点平均粗さRzが0.2μm超過、1.0μm以下による表面形状により作製される。   The uneven surface layer 22 is produced by a shape corresponding to the envelope surface 6 of the valley bottom (inverted shape), so that the average interval Sm is 100 μm or more as described above for the uneven shape of the envelope surface 6. The surface shape is 600 μm or less, the average inclination angle θa is 0.1 ° or more and 1.2 ° or less, and the 10-point average roughness Rz is more than 0.2 μm and 1.0 μm or less.

続いてこの製造工程は、凹凸面層22の表面に、電鋳処理により中間層23を作製した後、中間層23の表面にスパッタリングにより陽極酸化処理に供するアルミニウム層24を作製する(図23(B))。ここで中間層23は、アルミニウム層24と凹凸面層22との密着力を強化する目的で設けられ、この種の処理に適用可能な種々の材料を適用することができるものの、この実施形態ではニッケルが適用される。なお必要に応じて電鋳処理以外のCVD(Chemical Vapor Deposition)等の手法により中間層を作製しても良く、実用上十分な場合には、中間層を省略してもよい。   Subsequently, in this manufacturing process, an intermediate layer 23 is formed on the surface of the uneven surface layer 22 by electroforming, and then an aluminum layer 24 to be subjected to an anodic oxidation process is formed on the surface of the intermediate layer 23 by sputtering (FIG. 23 ( B)). Here, the intermediate layer 23 is provided for the purpose of strengthening the adhesion between the aluminum layer 24 and the concavo-convex surface layer 22, and various materials applicable to this type of treatment can be applied. Nickel is applied. If necessary, the intermediate layer may be produced by a method such as CVD (Chemical Vapor Deposition) other than electroforming, and the intermediate layer may be omitted if practically sufficient.

これによりこの実施形態では、凹凸面層22、中間層23、アルミニウム層24の積層体により下地層が作製され、この下地層に、微小突起5に対応する微細穴が作製されてロール版13が作製される(図23(C))。   Thereby, in this embodiment, a base layer is manufactured by the laminated body of the uneven surface layer 22, the intermediate layer 23, and the aluminum layer 24, and microholes corresponding to the microprojections 5 are formed in the base layer, and the roll plate 13 is formed. It is manufactured (FIG. 23C).

〔陽極酸化処理、エッチング処理の詳細〕
図24は、このような単峰性微小突起と多峰性微小突起とを混在させる場合について、図21における陽極酸化処理、エッチング処理を詳細に示す図である。ここで陽極酸化処理の印加電圧と作製される微細穴のピッチとは比例関係である。しかしながら実際上、処理に供するアルミニウムの粒界等により微細穴のピッチは種々にばらつく。但し、この図24においては、このようなばらつきが無いものとして、また微細穴が規則正しい配列により作製されるものとして説明する。なお図24(a)〜(e)は、それぞれ各工程により作製される微細穴を平面視した図、及びa−a線により切り取って示す対応する断面図である。
[Details of anodizing and etching]
FIG. 24 is a diagram showing in detail the anodic oxidation process and the etching process in FIG. 21 in the case where such single-peak microprojections and multi-peak microprojections are mixed. Here, the applied voltage of the anodizing treatment is proportional to the pitch of the fine holes to be produced. In practice, however, the pitch of the fine holes varies depending on the grain boundaries of aluminum used for processing. However, in FIG. 24, it is assumed that there is no such variation, and that the fine holes are produced by regular arrangement. FIGS. 24A to 24E are a plan view and a corresponding cross-sectional view cut out along the line aa, respectively, of the fine holes produced by the respective steps.

ここで始めにこの実施形態では、低い印加電圧V1により第1の陽極酸化処理を実行した後、エッチング処理(以下、適宜、第1工程と呼ぶ)を実行し、これにより図24(a)に示すように、この低い印加電圧V1に係る基本ピッチによる微細穴f1を作製する。ここでこの第1の陽極酸化処理は、アルミニウム層の表面に、後続する陽極酸化のきっかけを作製するものである。なおこの場合、必要に応じてこの第1工程のエッチング処理を省略してもよい。   First, in this embodiment, after the first anodizing process is performed with the low applied voltage V1, an etching process (hereinafter, referred to as a first process as appropriate) is performed, whereby FIG. As shown, a fine hole f1 with a basic pitch according to this low applied voltage V1 is produced. Here, the first anodic oxidation treatment is to produce a trigger for the subsequent anodic oxidation on the surface of the aluminum layer. In this case, the etching process in the first step may be omitted as necessary.

続いてこの実施形態では、第1の陽極酸化時より高い印加電圧V2(V2>V1)により第2の陽極酸化処理を実行した後、エッチング処理を実行する(以下、適宜、第2工程と呼ぶ)。ここでこの場合、図24(b)に示すように、印加電圧を上昇させたことにより、第1の陽極酸化処理により作製された微細穴f1のうち、この第2の陽極酸化処理に係る印加電圧に対応する微細穴のみ深さ方向に掘り進められ(符号f2により示す)、エッチング処理されることになる。これによりこの第2の工程により、例えば2段階により印加電圧を可変すれば、深さの異なる分布を呈する微細穴を混在させることができる。   Subsequently, in this embodiment, the second anodic oxidation process is performed with the applied voltage V2 (V2> V1) higher than that during the first anodic oxidation, and then the etching process is performed (hereinafter referred to as a second process as appropriate). ). Here, in this case, as shown in FIG. 24 (b), the applied voltage related to the second anodizing treatment among the fine holes f1 produced by the first anodizing treatment by increasing the applied voltage. Only the fine hole corresponding to the voltage is dug in the depth direction (indicated by reference numeral f2) and etched. Accordingly, if the applied voltage is varied in two steps, for example, fine holes having different depth distributions can be mixed in the second step.

続いてこの実施形態では、第2の陽極酸化時より高い印加電圧V3(V3>V2)により第3の陽極酸化処理を実行した後、エッチング処理を実行する(以下、適宜、第3工程と呼ぶ)(図24(c))。ここでこの第3工程は、ピッチの異なる微細穴を作製するための工程である。このためこの工程では、第2の陽極酸化工程における印加電圧V2から徐々に印加電圧を上昇させる。ここでこの印加電圧の上昇を離散的に(段階的に)実行すると、微小突起の高さ分布を離散的に設定することができ、深さの分布が異なる微細穴を混在させることができる。またこの印加電圧の上昇を連続的に変化させると、深さ分布を正規分布に設定することができる。   Subsequently, in this embodiment, the third anodic oxidation process is performed with the applied voltage V3 (V3> V2) higher than that during the second anodic oxidation, and then the etching process is performed (hereinafter referred to as a third process as appropriate). (FIG. 24 (c)). Here, the third step is a step for producing fine holes having different pitches. Therefore, in this step, the applied voltage is gradually increased from the applied voltage V2 in the second anodic oxidation step. Here, when the increase in the applied voltage is executed discretely (stepwise), the height distribution of the microprotrusions can be set discretely, and microholes having different depth distributions can be mixed. Further, when the increase in the applied voltage is continuously changed, the depth distribution can be set to a normal distribution.

さらにこの第3の工程において、陽極酸化に係る特定電圧の印加時間、エッチング処理の時間が、第1、第2工程よりも長く設定され、これにより符号f3により示すように、第1工程、第2工程で作製された微細穴f1、f2を飲み込むように、これら微細穴f1、f2と合体して底部の略平坦な微細穴が作製される。   Further, in this third step, the application time of the specific voltage related to the anodic oxidation and the time of the etching process are set longer than those in the first and second steps, so that the first step, The fine holes f1 and f2 formed in the two steps are combined with the fine holes f1 and f2 so as to form a substantially flat fine hole at the bottom.

続いてこの実施形態では、第3の陽極酸化時より高い印加電圧V4(V4>V3)により第4の陽極酸化処理を実行した後、エッチング処理を実行する(以下、適宜、第4工程と呼ぶ)(図24(d))。ここでこの第4工程は、目的とする突起間間隔によるピッチにより微細穴を作製するための工程であり、これによりこの印加電圧V4はこのピッチに対応する電圧である。この第4工程において、印加電圧を上昇させることにより、第3工程により大きく掘り進められた微細穴の一部がさらに一段と掘り進められて、この掘り進められた微細穴が単峰性微小突起に対応する微細穴f4となる。   Subsequently, in this embodiment, after performing the fourth anodic oxidation process with the applied voltage V4 (V4> V3) higher than that in the third anodic oxidation, the etching process is performed (hereinafter, referred to as a fourth process as appropriate). (FIG. 24D). Here, the fourth step is a step for producing a fine hole with a pitch according to a target interprotrusion interval, and the applied voltage V4 is a voltage corresponding to this pitch. In this fourth step, by increasing the applied voltage, a part of the fine hole dug deeply in the third step is further dug further, and the dug fine hole becomes a unimodal microprotrusion. The corresponding fine hole f4 is obtained.

続いてこの実施形態では、第1工程における印加電圧V1により第5の陽極酸化処理を実行した後、エッチング処理を実行する(図24(e))。ここでこの第5の工程において、第3工程により底面が平坦面とされた微細穴であって、第4の工程の陽極酸化処理の影響を受けていない微細穴について、底面に微細な穴が複数個形成され、これにより多峰突起用の微細穴f5が作製される。ここでこの第5工程の印加電圧V1の大きさを調整することによって、底面に形成される微細な穴f5の数を増やしたり、減らしたりすることができる。   Subsequently, in this embodiment, the fifth anodic oxidation process is performed by the applied voltage V1 in the first process, and then the etching process is performed (FIG. 24E). Here, in the fifth step, a fine hole whose bottom surface is flattened by the third step and is not affected by the anodizing treatment of the fourth step, a fine hole is formed on the bottom surface. A plurality of microholes f5 for multi-peak protrusions are formed. Here, by adjusting the magnitude of the applied voltage V1 in the fifth step, the number of fine holes f5 formed on the bottom surface can be increased or decreased.

ここでこの一連の工程では、第1及び第2の工程により作製された深さの異なる微細穴f1、f2を、第3の工程で掘り進めて底面の略平坦な微小突起f3を作製し、第4の工程において、単峰性微小突起に係る微細穴を作製し、また第5の工程において、底面が平坦な微小突起f3の底面を加工して単峰性微小突起に係る微細穴を作製していることにより、これら第1〜第4の工程に係る陽極酸化処理の印加電圧、処理時間、エッチング処理の処理時間等を制御して各工程で作製される微細穴の深さ等を制御することにより、微小突起の高さの分布、多峰性微小突起の高さの分布を制御することができる。なおこれら第1〜第5の工程は、必要に応じて省略したり、繰り返したり、工程を一体化してもよいことは言うまでも無い。   In this series of steps, the fine holes f1 and f2 having different depths produced in the first and second steps are dug in the third step to produce a substantially flat microprojection f3 on the bottom surface. In the fourth step, a fine hole related to the single-peaked microprojection is formed, and in the fifth step, the bottom surface of the microprojection f3 having a flat bottom surface is processed to form a microhole related to the single-peaked microprojection. By controlling the applied voltage, the processing time, the etching processing time, etc. of the anodizing treatment according to these first to fourth steps, the depth of the fine hole produced in each step is controlled. By doing so, it is possible to control the height distribution of the microprojections and the height distribution of the multimodal microprojections. Needless to say, these first to fifth steps may be omitted, repeated, or integrated as necessary.

以上の構成によれば、モスアイ構造による反射防止機能に、谷底の包絡面の曲面形状により反射防止を図る機能を付加することができ、写り込みを効率良く低減することができ、その結果、モスアイ構造の反射防止物品に関して、従来に比して一段と写り込みを低減することができる。   According to the above configuration, the anti-reflection function by the moth-eye structure can be added with the function of preventing reflection by the curved shape of the envelope surface of the valley bottom, and the reflection can be efficiently reduced. With respect to the antireflection article having the structure, the reflection can be further reduced as compared with the conventional case.

また上述の構成によれば、このように谷底の包絡面の曲面形状の設定により写り込みを低減するモスアイ構造による反射防止物品の生産に適した、生産用金型(ロール版)、金型及び反射防止物品の生産方法を提供することができる。すなわちこの実施形態によれば、反射光を散乱させて反射防止を図る防眩層の生産手法を適用して、谷底の包括面にうねりを作製することができ、これにより防眩層の作製手法を有効に利用して、写り込みを効率良く低減することができる。特にこのような防眩層にあっては、その表面粗さ等の設定手法が種々に提供されており、これにより谷底の包絡面について、その曲面形状を所望の形状により作製することができる。   In addition, according to the above-described configuration, a production mold (roll plate), a mold, and a mold suitable for production of an antireflection article with a moth-eye structure that reduces reflection by setting the curved surface shape of the envelope surface of the valley bottom as described above A method for producing an antireflective article can be provided. That is, according to this embodiment, the production method of the antiglare layer that scatters the reflected light to prevent reflection can be applied to produce the undulation on the inclusive surface of the valley bottom, thereby producing the antiglare layer production method. Can be effectively used to effectively reduce the reflection. In particular, in such an antiglare layer, various methods for setting the surface roughness and the like are provided, and thereby, the curved surface shape of the envelope surface of the valley bottom can be produced in a desired shape.

またこの実施形態では、母材に下地層を作製して微細穴を作製することにより、生産による包絡面の曲面形状の変化等を有効に回避することができ、耐久力を充分に確保してなるロール版を生産することができる。   Also, in this embodiment, by making a base layer in the base material and making fine holes, it is possible to effectively avoid changes in the curved shape of the envelope surface due to production, etc., ensuring sufficient durability. Can be produced in roll version.

〔第2実施形態〕
図25は、本発明の第2実施形態に係るロール版の製造工程の説明に供する図である。この実施形態では、このロール版の製造工程に係る構成が異なる点を除いて、第1実施形態と同一に構成される。
[Second Embodiment]
FIG. 25 is a diagram for explaining a roll plate manufacturing process according to the second embodiment of the present invention. This embodiment has the same configuration as that of the first embodiment except that the configuration related to the manufacturing process of the roll plate is different.

ここでこの実施形態においては、支持体31の表面に、第1の実施形態について上述したと同様にして凹凸面層22を作製し、これにより支持体31の表面に、谷底の包絡面に対応する曲面形状を作製する(図25(A))。ここでこの実施形態において、支持体31は、後述する処理により取り除かれる部材であることにより、防眩フィルムの作製に供する透明フィルム等による各種基材を適用することができるものの、不透明なフィルム材、各種のシート材、板材等を広く適用することができる。またこのように支持体31の表面に凹凸面層22を作製する代わりに、同様の凹凸面が作製されてなる防眩フィルム等を適用してもよい。   Here, in this embodiment, the uneven surface layer 22 is produced on the surface of the support 31 in the same manner as described above for the first embodiment, and thereby the surface of the support 31 corresponds to the envelope of the valley bottom. A curved surface shape is produced (FIG. 25A). Here, in this embodiment, the support 31 is a member that is removed by a process that will be described later, so that various substrates such as a transparent film that is used for producing an antiglare film can be applied, but an opaque film material. Various sheet materials, plate materials and the like can be widely applied. Moreover, you may apply the anti-glare film etc. by which the same uneven surface is produced instead of producing the uneven surface layer 22 on the surface of the support body 31 in this way.

続いてこの工程は、電鋳処理により凹凸面層22の表面に、中間層23を作製する(図25(B))。ここでこの工程における中間層23は、凹凸面層22の表面形状の転写に供する際の支持体層であり、この実施形態では、例えばニッケルにより作製されるものの種々の材料を広く適用することができ、またさらに電鋳処理に代えてCVD等、種々の手法を適用することができる。   Subsequently, in this step, an intermediate layer 23 is formed on the surface of the uneven surface layer 22 by electroforming (FIG. 25B). Here, the intermediate layer 23 in this step is a support layer for use in transferring the surface shape of the concavo-convex surface layer 22. In this embodiment, various materials, for example, made of nickel, can be widely applied. In addition, various methods such as CVD can be applied instead of electroforming.

続いてこの工程は、凹凸面層22から中間層23を引きはがし、この引きはがしてなる凹凸面層22側であった面に、スパッタリングによりアルミニウム層24を作製する(図25(C))。なおこれに代えてこれとは逆側面にアルミニウム層を作製するようにしても良く、この場合には、アルミニウム層を作製した後に、又は後述する微細穴を作製した後に、凹凸面層22から引きはがすようにしてもよく、これらの場合においては、実用上十分な場合には、転写用支持体層を省略してもよい。   Subsequently, in this step, the intermediate layer 23 is peeled off from the uneven surface layer 22, and an aluminum layer 24 is produced by sputtering on the surface that was on the uneven surface layer 22 side to be peeled off (FIG. 25C). Instead of this, an aluminum layer may be formed on the opposite side surface. In this case, the aluminum layer is drawn from the uneven surface layer 22 after the aluminum layer is formed or after a microhole described later is formed. In these cases, the transfer support layer may be omitted if practically sufficient.

続いてこの工程は、陽極酸化処理とエッチング処理との繰り返しにより、微小突起に対応する微細穴をアルミニウム層24の表面に作製する(図25(D))。続いてこのようにして作製した積層体を、別途、表面を平滑化してなる母材の表面に配置し、これによりロール版を作製する。   Subsequently, in this step, fine holes corresponding to the fine protrusions are formed on the surface of the aluminum layer 24 by repeating the anodizing treatment and the etching treatment (FIG. 25D). Subsequently, the laminate produced in this manner is separately placed on the surface of a base material having a smoothed surface, whereby a roll plate is produced.

この実施形態よれば、谷底の包絡面の形状に係る凹凸形状を転写して賦型用金型を作製することにより、既存の防眩フィルム材に係る凹凸形状を転写して製造用金型であるロール版を作製することができる。   According to this embodiment, the uneven shape related to the shape of the envelope surface of the valley bottom is transferred to produce the mold for molding, thereby transferring the uneven shape related to the existing anti-glare film material to the production mold. A roll version can be produced.

〔他の実施形態〕
以上、本発明の実施に好適な具体的な構成を詳述したが、本発明は、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で、上述の実施形態の構成を種々に変更し、さらには従来構成と組み合わせることができる。
[Other Embodiments]
The specific configuration suitable for the implementation of the present invention has been described in detail above. However, the present invention can be variously modified from the configuration of the above-described embodiment without departing from the spirit of the present invention, and further the conventional configuration. Can be combined.

すなわち上述の実施形態では、第1実施形態では、母材の表面に下地層を作製してロール版を作製する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、既存の防眩フィルム材にアルミニウム層を作製した後、微細穴を作製し、その後、このフィルム材を母材表面に配置するようにしても良い。またこれに代えて母材の表面に、既存の防眩フィルム材を配置した後、アルミニウム層を作製し、その後、微細穴を作製するようにしても良い。   That is, in the above-described embodiment, in the first embodiment, the case where the base layer is formed on the surface of the base material and the roll plate is manufactured is described. However, the present invention is not limited to this, and the existing anti-glare film material is used. After producing the aluminum layer, fine holes may be produced, and then this film material may be disposed on the base material surface. Alternatively, an existing anti-glare film material may be disposed on the surface of the base material, and then an aluminum layer may be produced, and then a fine hole may be produced.

また上述の実施形態では、ロール版を使用した賦型処理によりフィルム形状による反射防止物品を生産する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、反射防止物品の形状に係る透明基材の形状に応じて、例えば平板、特定の曲面形状による賦型用金型を使用した枚葉の処理により反射防止物品を作成する場合等、賦型処理に係る工程、金型は、反射防止物品の形状に係る透明基材の形状に応じて適宜変更することができる。   Moreover, although the above-mentioned embodiment described the case where the anti-reflective article by a film shape was produced by the shaping process using a roll plate, this invention is not limited to this, The transparent base material which concerns on the shape of an anti-reflective article Depending on the shape, for example, when creating an antireflection article by processing a sheet using a shaping mold with a specific curved shape, such as a flat plate, the process related to the shaping process, the mold is the antireflection article It can change suitably according to the shape of the transparent base material which concerns on a shape.

また上述の実施形態では、賦型用樹脂にアクリレート系の紫外線硬化性樹脂を適用する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、エポキシ系、ポリエステル系等の各種紫外線硬化性樹脂、或いはアクリレート系、エポキシ系、ポリエステル系等の電子線硬化性樹脂、ウレタン系、エポキシ系、ポリシロキサン系等の熱硬化性樹脂等の各種材料及び各種硬化形態の賦型用樹脂を使用する場合にも広く適用することができ、さらには例えば加熱した熱可塑性の樹脂を押圧して賦型する場合等にも広く適用することができる。   In the above-described embodiment, the case where an acrylate-based ultraviolet curable resin is applied to the shaping resin has been described. However, the present invention is not limited thereto, and various ultraviolet curable resins such as epoxy-based and polyester-based resins, or Also when using various materials such as acrylate-based, epoxy-based, polyester-based electron beam curable resins, urethane-based, epoxy-based, polysiloxane-based thermosetting resins, and various types of curing resins The present invention can be widely applied. Further, for example, the present invention can be widely applied to the case of shaping by pressing a heated thermoplastic resin.

また、上述の実施形態では、図1に図示の如く、基材2の一方の面上に受容層(紫外線硬化性樹脂層)4を積層してなる積層体の該受容層4上に微小突起群5、5A、5B、・・を賦形し、該受容層4を硬化せしめて反射防止物品1を形成している。層構成としては2層の積層体となる。但し、本発明は、かかる形態のみに限定される訳では無い。本発明の反射防止物品1は、図示は略すが、基材2の一方の面上に、他の層を介さずに直接、微小突起群5、5A、5B、・・を賦形した単層構成であっても良い。或いは、基材2の一方の面に1層以上の中間層(層間の密着性、塗工適性、表面平滑性等の基材表面性能を向上させる層。プライマー層、アンカー層等とも呼称される。)を介して受容層4を形成し、該受容層表面に微小突起群5、5A、5B、・・を賦形した3層以上の積層体であっても良い。   Further, in the above-described embodiment, as shown in FIG. 1, microprojections are formed on the receiving layer 4 of the laminate formed by laminating the receiving layer (ultraviolet curable resin layer) 4 on one surface of the substrate 2. The groups 5, 5A, 5B,... Are shaped and the receiving layer 4 is cured to form the antireflection article 1. The layer structure is a two-layer laminate. However, the present invention is not limited to such a form. Although not shown, the antireflection article 1 of the present invention is a single layer in which the microprojections 5, 5A, 5B,... Are directly formed on one surface of the substrate 2 without interposing another layer. It may be a configuration. Alternatively, one or more intermediate layers on one surface of the substrate 2 (layers that improve substrate surface performance such as interlayer adhesion, coating suitability, surface smoothness, etc. Also referred to as primer layer, anchor layer, etc. .) May be formed, and a laminate of three or more layers in which the microprotrusions 5, 5A, 5B,... Are formed on the surface of the receptor layer may be used.

更に、上述の実施形態では、図1にも図示の如く、基材2の一方の面上にのみ(直接或いは他の層を介して)微小突起群5、5A、5B、・・を形成しているが、本発明はかかる形態には限定され無い。基材2の両面上に(直接或いは他の層を介して)各々微小突起群5、5A、5B、・・を形成した構成であっても良い。
また、図示は略すが、図1等に図示の如き本発明の反射防止物品1において、基材2の微小突起群形成面とは反対側の面(図1においては基材2の下側面)に各種接着剤層を形成し、更に該接着剤層表面に離型フィルム(離型紙)を剥離可能に積層してなる接着加工品の形態とすることも出来る。かかる形態においては、離型フィルムを剥離除去して接着剤層を露出せしめ、該接着剤層により所望の物品の所望の表面上に本発明の反射防止物品1を貼り合わせ、積層することが出来、簡便に所望の物品に反射防止性能を付与することが出来る。接着剤としては、粘着剤(感圧接着剤)、2液硬化型接着剤、紫外線硬化型接着剤、熱硬化型接着剤、熱熔融型接着剤等の公知の接着形態のものが各種使用出来る。
Further, in the above-described embodiment, as shown in FIG. 1, the microprojections 5, 5A, 5B,... Are formed only on one surface of the base material 2 (directly or via another layer). However, the present invention is not limited to such a form. The microprojection groups 5, 5A, 5B,... May be formed on both surfaces of the substrate 2 (directly or via other layers).
Although not shown, in the antireflection article 1 of the present invention as shown in FIG. 1 and the like, the surface opposite to the surface on which the microprojections are formed of the substrate 2 (the lower surface of the substrate 2 in FIG. 1). Various adhesive layers are formed on the adhesive layer, and a release film (release paper) is laminated on the surface of the adhesive layer so as to be peelable. In such a form, the release film is peeled and removed to expose the adhesive layer, and the antireflection article 1 of the present invention can be laminated and laminated on the desired surface of the desired article by the adhesive layer. The antireflection performance can be easily imparted to a desired article. As the adhesive, various types of known adhesive forms such as a pressure-sensitive adhesive (pressure-sensitive adhesive), a two-component curable adhesive, an ultraviolet curable adhesive, a thermosetting adhesive, and a hot melt adhesive can be used. .

また、図示は略すが、図1等に図示の如き本発明の反射防止物品1において、微小突起群5、5A、5B、・・形成面上に剥離可能な保護フィルムを仮接着した状態で保管、搬送、売買、後加工乃至施工を行い、しかる後に適時、該保護フィルムを剥離除去する形態とすることも出来る。かかる形態においては、保管、搬送等の間に微小突起群が損傷乃至は汚染して反射防止性能が低下することを防止することが出来る。   Although not shown, in the antireflection article 1 of the present invention as shown in FIG. 1 etc., the microprojections 5, 5 A, 5 B,... The protective film may be peeled and removed at an appropriate time after carrying, carrying, buying and selling, post-processing or construction. In such a form, it is possible to prevent the antireflection performance from being deteriorated due to damage or contamination of the microprojection group during storage, transportation and the like.

また上述の実施形態では、陽極酸化処理とエッチング処理との繰り返しにより微細穴を作製する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、フォトリソグラフィーの手法を適用して微細穴を作製する場合にも広く適用することができる。   Further, in the above-described embodiment, the case where the fine hole is produced by repeating the anodizing treatment and the etching treatment has been described. However, the present invention is not limited to this, and the case where the fine hole is produced by applying a photolithography technique. Can also be widely applied.

また上述の実施形態では、反射防止フィルムに係る画像表示パネルにフィルム形状による反射防止物品を配置する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、種々の用途に適用することができる。具体的には、画像表示パネルの画面上に間隙を介して設置されるタッチパネル、各種の窓材、各種光学フィルタ等による表面側部材の裏面(画像表示パネル側)に配置する用途に適用することができる。   Moreover, although the above-mentioned embodiment described the case where the anti-reflective article by a film shape is arrange | positioned to the image display panel which concerns on an anti-reflective film, this invention is applicable not only to this but to various uses. Specifically, it should be applied to applications that are placed on the back surface (image display panel side) of the surface side member such as a touch panel, various window materials, various optical filters, etc. installed on the screen of the image display panel through a gap. Can do.

また店舗のショウウインドウや商品展示箱、美術館の展示物の展示窓や展示箱等に使用する硝子板表面(外界側)、或いは表面及び裏面(商品又は展示物側面)の両面に配置するようにしても良い。なおこの場合、該硝子板表面の光反射防止による商品、美術品等の顧客や観客に対する視認性を向上することができる。   In addition, it is arranged on the glass plate surface (external side) used for the store show window and product display box of the store, the display window and display box of the exhibition of the museum, or both of the front and back surfaces (product or display side). May be. In this case, it is possible to improve the visibility for customers and spectators of products, artworks, etc. by preventing light reflection on the surface of the glass plate.

また眼鏡、望遠鏡、写真機、ビデオカメラ、銃砲の照準鏡(狙撃用スコープ)、双眼鏡、潜望鏡等の各種光学機器に用いるレンズ又はプリズムの表面に配置する場合にも広く適用することができる。この場合、レンズ又はプリズム表面の光反射防止による視認性を向上することができる。またさらに書籍の印刷部(文字、写真、図等)表面に配置する場合にも適用して、文字等の表面の光反射を防止し、文字等の視認性向上することができる。また看板、ポスター、其の他各種店頭、街頭、外壁等における各種表示(道案内、地図、或いは禁煙、入口、非常口、立入禁止等)の表面に配置して、これらの視認性を向上することができる。またさらに白熱電球、発光ダイオード、螢光燈、水銀燈、EL(電場発光)等を用いた照明器具の窓材(場合によっては、拡散板、集光レンズ、光学フィルタ等も兼ねる)の入光面側に配置するようにして、窓材入光面の光反射を防止し、光源光の反射損失を低減し、光利用効率を向上することができる。またさらに時計、其の他各種計測機器の表示窓表面(表示観察者側)に配置して、これら表示窓表面の光反射を防止し、視認性を向上することができる。   Further, the present invention can be widely applied to the case where the lens or prism is used on various optical devices such as glasses, a telescope, a camera, a video camera, a gun sighting mirror (sniper scope), binoculars, a periscope, and the like. In this case, the visibility by preventing light reflection on the lens or prism surface can be improved. Furthermore, it can also be applied to the case where it is arranged on the surface of a printed part (characters, photos, drawings, etc.) of a book to prevent light reflection on the surface of characters and the like and improve the visibility of characters and the like. In addition, it should be placed on the surface of signs (posters, posters, various other stores, streets, exterior walls, etc.) (road guidance, maps, smoking cessation, entrances, emergency exits, no entry, etc.) to improve visibility. Can do. In addition, a light entrance surface of a window material for a lighting fixture using an incandescent bulb, light emitting diode, fluorescent lamp, mercury lamp, EL (electroluminescence), etc. By arranging it on the side, it is possible to prevent the light reflection of the light incident surface of the window material, reduce the reflection loss of the light source light, and improve the light utilization efficiency. Furthermore, it can arrange | position on the display window surface (display observer side) of a timepiece and other various measuring devices, the light reflection of these display window surfaces can be prevented, and visibility can be improved.

またさらに、自動車、鉄道車両、船舶、航空機等の乗物の操縦室(運転室、操舵室)の窓の室内側、室外側、あるいはその両側の表面に配置して窓における室内外光を反射防止して、操縦者(運転者、操舵者)の外界視認性を向上することができる。またさらに、防犯等の監視、銃砲の照準、天体観測等に用いる暗視装置のレンズないしは窓材表面に配置して、夜間、暗闇での視認性を向上することができる。   Furthermore, it is placed on the inside, outside, or both sides of the windows of the cockpits (driver's cabs, wheelhouses) of vehicles such as automobiles, railway vehicles, ships, and aircraft to prevent reflection of indoor and outdoor light from the windows. Thus, it is possible to improve the visibility of the outside world of the driver (driver, driver). Furthermore, it can be arranged on the surface of a night vision device lens or window material used for crime prevention monitoring, gun sighting, astronomical observation, etc. to improve visibility at night and in the dark.

またさらに、住宅、店舗、事務所、学校、病院等の建築物の窓、扉、間仕切、壁面等を構成する透明基板(窓硝子等)の表面(室内側、室外側、あいはその両側)の表面に配置して、外界の視認性、あるいは採光効率を向上することができる。またさらに、温室、農業用ビニールハウスの透明シート、ないしは透明板(窓材)の表面に配置して、太陽光の採光効率を向上することができる。さらにまた、太陽電池表面に配置して、太陽光の利用効率(発電効率)を向上することができる。   Furthermore, the surface of the transparent substrate (window glass, etc.) that constitutes windows, doors, partitions, wall surfaces, etc. of buildings such as houses, stores, offices, schools, hospitals, etc. (inside, outside, or both sides) It is possible to improve the visibility of the outside world or the daylighting efficiency. Furthermore, it can arrange | position on the surface of a greenhouse, the transparent sheet | seat of an agricultural greenhouse, or a transparent board (window material), and can improve the sunlight lighting efficiency. Furthermore, it can arrange | position on the solar cell surface and can improve the utilization efficiency (power generation efficiency) of sunlight.

またさらに透明の部位以外の、不透明な部位についても、広く適用して、反射防止を図る場合に広く適用することができる。   Further, it can be widely applied to an opaque portion other than a transparent portion in order to prevent the reflection widely.

またさらに、上述の実施形態においては、反射防止を図る電磁波の波長帯域を、専ら、可視光線帯域(の全域又は一部帯域)としたが、本発明はこれに限らず、反射防止を図る電磁波の波長帯域を赤外線、紫外線等の可視光線以外の波長帯域に設定しても良い。その場合は前記の各条件式中において、電磁波の波長帯域の最短波長Λminを、それぞれ、赤外線、紫外線等の波長帯域における反射防止効果を希望する最短波長に設定すれば良い。例えば、最短波長Λminが850nmの赤外線帯域の反射防止を希望する場合は、隣接突起間距離d(乃至は其の最大値dmax)を850nm以下、例えば、d(dmax)=800nmと設計すれば良い。尚、この場合は、可視光線帯域(380〜780nm)においては反射防止効果は期待し得ず、專ら波長850nm以上の赤外線に対しての反射防止効果を奏する反射防止物品が得られる。   Furthermore, in the above-described embodiment, the wavelength band of the electromagnetic wave for preventing reflection is exclusively the visible light band (all or part of the visible light band), but the present invention is not limited to this, and the electromagnetic wave for preventing reflection. May be set to a wavelength band other than visible light rays such as infrared rays and ultraviolet rays. In that case, the shortest wavelength Λmin in the wavelength band of the electromagnetic wave may be set to the shortest wavelength in which the antireflection effect in the wavelength band of infrared rays, ultraviolet rays, etc. is desired in each conditional expression. For example, when it is desired to prevent reflection in the infrared band where the shortest wavelength Λmin is 850 nm, the distance d between adjacent protrusions (or its maximum value dmax) may be designed to be 850 nm or less, for example, d (dmax) = 800 nm. . In this case, an antireflection effect cannot be expected in the visible light band (380 to 780 nm), and an antireflection article exhibiting an antireflection effect for infrared rays having a wavelength of 850 nm or more can be obtained.

以上例示の各種実施形態において、硝子板等の透明基板の表面、裏面、或いは表裏両面に本発明のフィルム状の反射防止物品を配置する場合、該透明基板の全面に亙って配置、被覆する以外に、一部分の領域にのみ配置することも出来る。かかる例としては、例えば、1枚の窓硝子について、其の中央部分の正方形領域において、室内側表面にのみフィルム状の反射防止物品を粘着剤で貼着し、その他領域には反射防止物品を貼着し無い場合を挙げることが出来る。透明基板の一部分の領域にのみ反射防止物品を配置する形態の場合は、特別な表示や衝突防止柵等の設置無しでも、該透明基板の存在を視認し易くして、人が該透明基板に衝突、負傷する危険性を低減する効果、及び室内(屋内)の覗き見防止と該透明基板の(該反射防止物品の配置領域における)透視性とが両立出来ると言う効果を奏し得る。   In the various exemplary embodiments described above, when the film-shaped antireflection article of the present invention is disposed on the front surface, back surface, or both front and back surfaces of a transparent substrate such as a glass plate, it is disposed and covered over the entire surface of the transparent substrate. In addition, it can be arranged only in a partial area. As an example of this, for example, for a single window glass, a film-shaped antireflection article is attached to the indoor side surface only with an adhesive in a square area at the center, and an antireflection article is provided in the other areas. The case where it does not stick can be mentioned. In the case where the antireflection article is arranged only in a partial area of the transparent substrate, it is easy to visually recognize the presence of the transparent substrate without special display or a collision prevention fence, etc. The effect of reducing the risk of collision and injury, and the effect that both the prevention of peeping indoors (indoors) and the transparency of the transparent substrate (in the region where the antireflection article is disposed) can be achieved.

1 反射防止物品
2 基材
4 紫外線硬化性樹脂層、受容層
5、5A、5B 微小突起
6 凹凸面
10 製造工程
12 ダイ
13 ロール版
14、15 ローラ
21 母材
22 凹凸面層
23 中間層
24 アルミニウム層
31 支持体
g 溝
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Anti-reflective article 2 Base material 4 Ultraviolet curable resin layer, receiving layer 5, 5A, 5B Microprotrusion 6 Irregular surface 10 Manufacturing process 12 Die 13 Roll plate 14, 15 Roller 21 Base material 22 Uneven surface layer 23 Intermediate layer 24 Aluminum Layer 31 Support g Groove

Claims (2)

微小突起が密接して配置され、隣接する前記微小突起の間隔が、反射防止を図る電磁波の波長帯域の最短波長以下である反射防止物品の製造方法において、
賦型処理用の製造用金型を作製する金型作製工程と、
前記製造用金型を使用した賦型処理により前記反射防止物品を作製する賦型処理工程とを備え、
前記金型作製工程は、
支持体の表面に、うねりを呈する表面形状による凹凸面層を作製する凹凸面層の作製工程と、
前記凹凸面層の表面に、転写用支持体層を作製する転写用支持体層の作製工程と、
前記転写用支持体層を前記凹凸面層より剥離する剥離工程と、
前記剥離工程で剥離した前記転写用支持体層の表面にアルミニウム層を作製するアルミニウム層の作製工程と、
陽極酸化処理とエッチング処理との繰り返しにより、前記アルミニウム層の表面に前記微小突起に対応する微細穴を作製する微細穴作製工程と、
前記微細穴を作製してなるアルミニウム層と前記転写用支持体層との積層体を母材に配置する配置工程とを備える
反射防止物品の製造方法。
In the method for producing an antireflection article, in which microprotrusions are closely arranged, and the interval between adjacent microprotrusions is equal to or less than the shortest wavelength of the wavelength band of the electromagnetic wave to prevent reflection,
A mold making process for producing a manufacturing mold for the molding process;
A shaping treatment step of producing the antireflection article by a shaping treatment using the production mold,
The mold making process includes
On the surface of the support, a process for producing an uneven surface layer for producing an uneven surface layer with a surface shape exhibiting undulation,
On the surface of the concavo-convex surface layer, a transfer support layer producing step for producing a transfer support layer,
A peeling step of peeling the transfer support layer from the uneven surface layer;
A production step of an aluminum layer for producing an aluminum layer on the surface of the transfer support layer peeled in the peeling step;
A microhole creating step of creating microholes corresponding to the microprotrusions on the surface of the aluminum layer by repetition of anodizing treatment and etching treatment,
The manufacturing method of an antireflection article provided with the arrangement | positioning process which arrange | positions the laminated body of the aluminum layer formed by producing the said fine hole, and the said support body for transcription | transfer on a base material.
微小突起が密接して配置され、隣接する前記微小突起の間隔が、反射防止を図る電磁波の波長帯域の最短波長以下である反射防止物品の製造用金型の製造方法において、
支持体の表面に、うねりを呈する表面形状による凹凸面層を作製する凹凸面層の作製工程と、
前記凹凸面層の表面に、転写用支持体層を作製する転写用支持体層の作製工程と、
前記転写用支持体層を前記凹凸面層より剥離する剥離工程と、
前記剥離工程で剥離した前記転写用支持体層の表面にアルミニウム層を作製するアルミニウム層の作製工程と、
陽極酸化処理とエッチング処理との繰り返しにより、前記アルミニウム層の表面に前記微小突起に対応する微細穴を作製する微細穴作製工程と、
前記微細穴を作製してなるアルミニウム層と前記転写用支持体層との積層体を母材に配置する配置工程とを備える
反射防止物品の製造用金型の製造方法。
In the method of manufacturing a mold for manufacturing an antireflective article, in which microprotrusions are closely arranged, and the interval between adjacent microprotrusions is equal to or shorter than the shortest wavelength of the wavelength band of electromagnetic waves to prevent reflection,
On the surface of the support, a process for producing an uneven surface layer for producing an uneven surface layer with a surface shape exhibiting undulation,
On the surface of the concavo-convex surface layer, a transfer support layer producing step for producing a transfer support layer,
A peeling step of peeling the transfer support layer from the uneven surface layer;
A production step of an aluminum layer for producing an aluminum layer on the surface of the transfer support layer peeled in the peeling step;
A microhole creating step of creating microholes corresponding to the microprotrusions on the surface of the aluminum layer by repetition of anodizing treatment and etching treatment,
The manufacturing method of the metal mold | die for manufacture of an antireflective article provided with the arrangement | positioning process which arrange | positions the laminated body of the aluminum layer formed by producing the said fine hole, and the said support body for transcription | transfer on a base material.
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