JP2014149740A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2014149740A5
JP2014149740A5 JP2013018785A JP2013018785A JP2014149740A5 JP 2014149740 A5 JP2014149740 A5 JP 2014149740A5 JP 2013018785 A JP2013018785 A JP 2013018785A JP 2013018785 A JP2013018785 A JP 2013018785A JP 2014149740 A5 JP2014149740 A5 JP 2014149740A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
unit
irradiation
target plane
adjustment
detection device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2013018785A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JP6111706B2 (ja
JP2014149740A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2013018785A priority Critical patent/JP6111706B2/ja
Priority claimed from JP2013018785A external-priority patent/JP6111706B2/ja
Priority to CN201410038221.8A priority patent/CN103970369B/zh
Priority to US14/165,269 priority patent/US9465480B2/en
Publication of JP2014149740A publication Critical patent/JP2014149740A/ja
Publication of JP2014149740A5 publication Critical patent/JP2014149740A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6111706B2 publication Critical patent/JP6111706B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

JP2013018785A 2013-02-01 2013-02-01 位置検出装置、調整方法、および調整プログラム Active JP6111706B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013018785A JP6111706B2 (ja) 2013-02-01 2013-02-01 位置検出装置、調整方法、および調整プログラム
CN201410038221.8A CN103970369B (zh) 2013-02-01 2014-01-26 位置检测装置、调整方法以及调整程序
US14/165,269 US9465480B2 (en) 2013-02-01 2014-01-27 Position detection apparatus, adjustment method, and adjustment program

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013018785A JP6111706B2 (ja) 2013-02-01 2013-02-01 位置検出装置、調整方法、および調整プログラム

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2014149740A JP2014149740A (ja) 2014-08-21
JP2014149740A5 true JP2014149740A5 (enExample) 2016-03-03
JP6111706B2 JP6111706B2 (ja) 2017-04-12

Family

ID=51239952

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013018785A Active JP6111706B2 (ja) 2013-02-01 2013-02-01 位置検出装置、調整方法、および調整プログラム

Country Status (3)

Country Link
US (1) US9465480B2 (enExample)
JP (1) JP6111706B2 (enExample)
CN (1) CN103970369B (enExample)

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6075122B2 (ja) * 2013-03-05 2017-02-08 株式会社リコー システム、画像投影装置、情報処理装置、情報処理方法およびプログラム
US9817489B2 (en) * 2014-01-27 2017-11-14 Apple Inc. Texture capture stylus and method
WO2016063323A1 (ja) * 2014-10-20 2016-04-28 Ｎｅｃディスプレイソリューションズ株式会社 赤外光の調整方法及び位置検出システム
US10459575B2 (en) * 2015-02-05 2019-10-29 Sony Corporation Irradiation optical system and projector
JP2016212291A (ja) * 2015-05-11 2016-12-15 株式会社リコー 画像投影システム、画像処理装置、及びプログラム
US10296142B2 (en) * 2015-12-22 2019-05-21 Ricoh Company, Ltd. Information display device, system, and recording medium
JP2018005806A (ja) * 2016-07-08 2018-01-11 株式会社スクウェア・エニックス 位置特定プログラム、コンピュータ装置、位置特定方法、及び、位置特定システム
US10567715B2 (en) * 2017-03-24 2020-02-18 Seiko Epson Corporation Image display apparatus and method for controlling the same
US10789729B2 (en) * 2017-12-07 2020-09-29 Ti Training Corp. System and method(s) for determining projectile impact location
JP2018106724A (ja) * 2018-01-12 2018-07-05 Ｎｅｃディスプレイソリューションズ株式会社 プログラム及びキャリブレーション方法
JP7063769B2 (ja) * 2018-08-21 2022-05-09 株式会社日立製作所 放射線モニタ
CN113950711B (zh) * 2019-06-19 2023-11-21 三菱电机株式会社 配对显示装置、配对显示系统以及配对显示方法
JP6965910B2 (ja) * 2019-08-27 2021-11-10 セイコーエプソン株式会社 動作方法および表示装置
JP7243527B2 (ja) * 2019-08-27 2023-03-22 セイコーエプソン株式会社 制御方法、検出装置および表示装置
JP7415439B2 (ja) * 2019-10-28 2024-01-17 セイコーエプソン株式会社 プロジェクターの制御方法及びプロジェクター
EP3985484A1 (en) * 2020-10-19 2022-04-20 ameria AG Calibration method, calibration device and control method for touchless gesture control
CN115385210A (zh) * 2022-08-25 2022-11-25 快意电梯股份有限公司 视觉光幕的布防区域确定方法、检测方法、设备及介质

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000222111A (ja) * 1999-01-29 2000-08-11 Ricoh Elemex Corp 座標入力装置および電子黒板システム
US6710770B2 (en) 2000-02-11 2004-03-23 Canesta, Inc. Quasi-three-dimensional method and apparatus to detect and localize interaction of user-object and virtual transfer device
JP2002351615A (ja) * 2001-05-24 2002-12-06 Ricoh Co Ltd ディスプレイ装置
JP4759189B2 (ja) * 2001-09-19 2011-08-31 株式会社リコー 座標入力装置
US6996249B2 (en) 2002-01-11 2006-02-07 Nec Laboratories America, Inc. Applying informed coding, informed embedding and perceptual shaping to design a robust, high-capacity watermark
US7710391B2 (en) * 2002-05-28 2010-05-04 Matthew Bell Processing an image utilizing a spatially varying pattern
US7348963B2 (en) * 2002-05-28 2008-03-25 Reactrix Systems, Inc. Interactive video display system
US7170492B2 (en) * 2002-05-28 2007-01-30 Reactrix Systems, Inc. Interactive video display system
JP4001775B2 (ja) * 2002-05-31 2007-10-31 株式会社リコー レーザー曲がり量判定装置、レーザー曲がり量判定方法、レーザー曲がり量判定プログラムおよび記録媒体
JP3934658B2 (ja) 2005-07-28 2007-06-20 株式会社コナミデジタルエンタテインメント 位置検出システム
US8180114B2 (en) * 2006-07-13 2012-05-15 Northrop Grumman Systems Corporation Gesture recognition interface system with vertical display
CN104932690B (zh) 2007-02-15 2018-07-13 高通股份有限公司 使用闪烁电磁辐射的增强输入
US8139110B2 (en) * 2007-11-01 2012-03-20 Northrop Grumman Systems Corporation Calibration of a gesture recognition interface system
US20090219253A1 (en) * 2008-02-29 2009-09-03 Microsoft Corporation Interactive Surface Computer with Switchable Diffuser
US8373657B2 (en) * 2008-08-15 2013-02-12 Qualcomm Incorporated Enhanced multi-touch detection
CN102132239B (zh) * 2008-08-26 2015-11-25 多点触控有限公司 交互式显示屏
CN101727244B (zh) * 2008-10-28 2012-02-29 广达电脑股份有限公司 校正装置及校正方法
CN102096517B (zh) * 2009-12-11 2015-07-29 联想(北京)有限公司 一种便携式电子设备及输入方法
JP2011122870A (ja) * 2009-12-09 2011-06-23 Seiko Epson Corp 光学式位置検出装置及び投射型表示装置
JP2011248041A (ja) * 2010-05-26 2011-12-08 Seiko Epson Corp 取り付け装置及び投写型表示装置
JP5696559B2 (ja) * 2010-09-24 2015-04-08 株式会社デンソーウェーブ レーザ測定装置
CN201859422U (zh) * 2010-10-19 2011-06-08 异奇科技有限公司 光学式触控系统
US20140362052A1 (en) * 2012-01-20 2014-12-11 Light Blue Optics Ltd Touch Sensitive Image Display Devices

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2014149740A5 (enExample)
US8462137B2 (en) Object detection calibration system of an optical touch screen and method thereof
US11202614B2 (en) X-ray imaging apparatus and control method thereof
US9582119B2 (en) Interactive input system and method
CN103974047B (zh) 一种穿戴式投影装置及其调焦方法、投影方法
JP6075122B2 (ja) システム、画像投影装置、情報処理装置、情報処理方法およびプログラム
JP6111706B2 (ja) 位置検出装置、調整方法、および調整プログラム
CN103135860B (zh) 校正光学触控模块的旋转角度的方法及光学触控模块
KR102227083B1 (ko) 손 검출 및 추적 방법과 디바이스
JP2017126870A5 (enExample)
JP2008224516A (ja) 工事支援装置及び工事支援方法
JP2015159529A5 (enExample)
JP2019078845A5 (enExample)
CN107085493A (zh) 触控式投影系统及其触控灵敏度的调整方法
JP2017098884A5 (enExample)
TWI470513B (zh) 光學觸控裝置以及亮度校正裝置
CN105302381B (zh) 红外线触摸屏精准度调整方法及装置
EP2775721A3 (en) Projector
EP3306919B1 (en) Projection terminal keystone correction method and device, and projection terminal and storage medium
JP6207764B2 (ja) 作業支援システム、作業支援装置及び作業支援方法
JP2018181032A5 (enExample)
JP2013152529A5 (enExample)
KR101828376B1 (ko) 휴대용 3차원 문서 스캐닝 장치 및 방법
JP2011227683A5 (enExample)
KR20120137050A (ko) 모바일 프로젝터의 화상 보정 방법