JP2014130138A - インライン測定装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】本発明は、インライン上において振動及びブレによる撮影映像の歪曲を減少することができるインライン測定装置を提供する。
【解決手段】本発明のインライン測定装置は、被検査体を一定方向に移送させる移送部と、被検査体の上部から所定角度で光を照射する照明部と、被検査体で反射される光を受光して被検査体を撮影する撮影部とを備え、前記撮影部は、移送部のうち前記被検査体と接する部分を撮影するように撮影箇所が設定される。
【選択図】図2
【解決手段】本発明のインライン測定装置は、被検査体を一定方向に移送させる移送部と、被検査体の上部から所定角度で光を照射する照明部と、被検査体で反射される光を受光して被検査体を撮影する撮影部とを備え、前記撮影部は、移送部のうち前記被検査体と接する部分を撮影するように撮影箇所が設定される。
【選択図】図2
Description
本発明は、測定装置に関するものであって、より詳しくは、インライン測定装置に関するものである。
一般的に、パターン化リターダ(Patterned Retarder)は、偏光眼鏡方式の立体画像表示装置に適用され、立体映像の具現に利用することができる。また、パターン化リターダは、半透過型LCDなどの一面に提供され、反射部及び透過部の光学特性をそれぞれ最適化する補償フィルムの機能を備えることによって、外部の光の明るさに関わらず良好なLCD画像の識別力を得るために利用することもできる。パターン化リターダは複屈折媒質又は位相差フィルムともいう。
図1は、一般的なパターン化リターダを示した斜視図である。
図1を参照すると、パターン化リターダ10は、基材フィルム11、配向層13、及び液晶コーティング層15を備える。ここで、液晶コーティング層15は、第1の偏光パターン領域21と第2の偏光パターン領域23とがストライプ(Stripe)の形状をなして交互に繰り返し配置される構造を有する。
第1の偏光パターン領域21は、透過する光を左円偏光(Left Circularly Polarization)させるように構成することができ、第2の偏光パターン領域23は、透過する光を右円偏光(Right Circularly Polarization)させるように構成することができる。すなわち、液晶コーティング層15は、透過する光を左円偏光させる領域と右円偏光させる領域とが交互に繰り返し配置される構造を有する。
第1の偏光パターン領域21を透過した光は、使用者の偏光眼鏡で左円偏光フィルムを通過し、第2の偏光パターン領域23を透過した光は、使用者の偏光眼鏡で右円偏光フィルムを通過する。このように、第1の偏光パターン領域21及び第2の偏光パターン領域23を通じて、使用者の両眼において互いに異なるイメージを形成することで、立体映像を具現することが可能となる。
第1の偏光パターン領域21及び第2の偏光パターン領域23は、立体画像表示装置の画素領域のうち、それぞれ奇数番目の画素ライン及び偶数番目の画素ラインに対応し形成される。このとき、第1の偏光パターン領域21及び第2の偏光パターン領域23の幅が既設定された幅と異なるように形成されるか、或いは第1の偏光パターン領域21及び第2の偏光パターン領域23が直線で形成されず、屈曲されるように形成された場合、クロストーク(Cross―Talk)現象が生じて映像が霞んで見えるようになり、そのため視聴者は目眩を覚えるようになる。従って、第1の偏光パターン領域21及び第2の偏光パターン領域23の幅が既設定された幅のとおりに形成されたか否か、且つ第1の偏光パターン領域21及び第2の偏光パターン領域23がある一定の直進度を有して形成されたか否かを測定する必要がある。
しかしながら、現在生産中であるインライン(In―line)上においてパターン化リターダ10を撮影して測定する場合、モータの周期的な振動又は外部衝撃による不規則な振動及びブレによってパターン化リターダ10を撮影した映像が歪曲され、第1の偏光パターン領域21及び第2の偏光パターン領域23の幅及び直進度を正確に分析し難いという問題点がある。
本発明の目的は、インライン上において振動及びブレによる撮影映像の歪曲を減少することができるインライン測定装置を提供することにある。
1.本発明の一実施形態によるインライン測定装置は、被検査体を一定方向に移送させる移送部と、前記被検査体の上部から所定角度で光を照射する照明部と、前記被検査体で反射される光を受光して前記被検査体を撮影する撮影部とを備え、前記撮影部は、前記移送部のうち前記被検査体と接する部分を撮影するように撮影箇所が設定される。
2.前記項目1において、前記被検査体は、第1の偏光パターン領域と第2の偏光パターン領域とが交互に形成されるパターン化リターダであることを特徴とする。
3.前記項目2において、前記インライン測定装置は、前記照明部と前記パターン化リターダとの間に設けられる線形偏光フィルタと、前記パターン化リターダと前記撮影部との間に設けられる円形偏光フィルタと、前記パターン化リターダの撮影映像を分析して、前記第1の偏光パターン領域の幅、前記第2の偏光パターン領域の幅、前記第1の偏光パターン領域の直進度、前記第2の偏光パターン領域の直進度、及び前記パターン化リターダの全体幅のうち少なくとも一つを測定する映像分析部とをさらに備える。
4.前記項目3において、前記円形偏光フィルタは、前記第1の偏光パターン領域及び前記第2の偏光パターン領域の何れか一の位相差と同一の位相差を有する。
5.前記項目3において、前記映像分析部は、前記第1の偏光パターン領域の幅、前記第2の偏光パターン領域の幅、前記第1の偏光パターン領域の直進度、前記第2の偏光パターン領域の直進度、及び前記パターン化リターダの全体幅のうち少なくとも一つを測定した結果、測定した値が既設定された基準値から逸脱する場合、警告イベント信号を警告部に発生させる。
6.前記項目1において、前記インライン測定装置は、前記被検査体の移送速度を測定する移送速度測定部をさらに備え、前記撮影部は、前記被検査体の移送速度によって撮影周期を調節する。
7.前記項目1において、前記移送部は、ロール、ローラーコンベヤ、無限軌道型(crawler―type)ベルト、及び移送ステージからなる群から選択される。
本発明の実施形態によれば、インライン上でパターン化リターダが一定方向に移送されるとき、撮影部が常に移送部上に位置されるパターン化リターダを撮影するようにすることにより、モータの周期的な振動又は外部衝撃による不規則な振動及びブレが発生しても、パターン化リターダの撮影映像が歪曲されることを減少させることができるようになり、それによってインライン上でも第1の偏光パターン領域及び第2の偏光パターン領域の幅及び直進度をリアルタイムに分析することができるようになる。また、照明部とパターン化リターダとの間に線形偏光フィルタを設置し、パターン化リターダと撮影部との間に円形偏光フィルタを設置することにより、パターン化リターダの撮影映像で第1の偏光パターン領域と第2の偏光パターン領域とが明確に区別されるようにすることができ、これにより第1の偏光パターン領域及び第2の偏光パターン領域の幅及び直進度を容易に分析することができるようになる。
以下、図2乃至図3を参照して、本発明のインライン測定装置の具体的な実施形態を説明する。しかしながら、これらは例示としての実施例に過ぎず、本発明はこれらに制限されるものではない。
本発明を説明するにあたって、本発明に関わる公知技術に関する具体的な説明が、本発明の要旨を不要に逸脱し得ると判断される場合は、その詳細な説明を省略することとする。そして後述する用語は、本発明の機能を考慮して定義された用語であり、これらは使用者、運用者の意図又は慣例などによって変わり得る。従って、その定義は本明細書の全般にわたって記載された内容に基づいて定義されるべきである。
本発明の技術的思想は、特許請求の範囲の記載により定められ、以下の実施形態は、進歩的な本発明の技術的思想を本発明が属する技術分野における通常の知識を有する者に対して効率的に説明するための一手段に過ぎない。
図2は、本発明の一実施形態によるインライン測定装置の構成を示した図面であり、図3は、本発明の一実施形態によるパターン化リターダを示した平面図である。ここでは、インライン測定装置を通じてパターン化リターダを撮影して分析するものとして説明するが、インライン測定装置の適用対象はこれに限定されるものではなく、パターン化リターダの他、様々な被検査体に適用されることができることはいうまでもない。
図2及び図3を参照して、インライン測定装置100は、移送ロール102、照明部104、第1の偏光フィルタ106、第2の偏光フィルタ108、撮影部110、移送速度測定部112、映像分析部114、及び警告部116を備える。
移送ロ−ル102は、インライン(In―Line)上でパターン化リターダ150を一定方向に移動させる役割を果たす。本発明において、移送部は、フィルムを移送することができる手段であれば特に制限されないが、例えばロール、ローラーコンベヤ、無限軌道型ベルト、及び移送ステージからなる群から選択され得る。本実施形態では、ロールを例示として説明する。
また、ここでは、説明の便宜上、一の移送ロ−ル102を示したが、これに限定されるものではなく、パターン化リターダ150を製造生産するインライン設備内には、パターン化リターダ150を移送させるための複数の移送ロ−ル102が相互離隔して形成され得る。このとき、移送ロ−ル102の回転速度によりパターン化リターダ150の移送速度が決められる。
パターン化リターダ150には、図3に示すように、第1の偏光パターン領域152と第2の偏光パターン領域154とがストライプ形状をなして交互に形成される。このとき、第1の偏光パターン領域152の液晶配向角度をαとし、第2の偏光パターン領域154の液晶配向角度をβとする。第1の偏光パターン領域152の液晶配向角度αと第2の偏光パターン領域154の液晶配向角度βとは互いに垂直をなす。α及びβは、第1の偏光パターン領域152及び第2の偏光パターン領域154の長手方向を基準軸としたとき、基準軸となす角度をいう。第1の偏光パターン領域152は、αの液晶配向角度を有することによって、αの位相差を有するようになり、第2の偏光パターン領域154は、βの液晶配向角度を有することによって、βの位相差を有するようになる。このとき、α及びβが互いに垂直をなすため、第1の偏光パターン領域152は照射された光を左円偏光させ、第2の偏光パターン領域154は照射された光を右円偏光させるようになる。
照明部104は、パターン化リターダ150の映像を取得するために、光を照射する役割を果たす。照明部104は、パターン化リターダ150の上部において一定角度θで光を照射することができる。照明部104は、例えば、LEDランプ、蛍光灯、白熱電球、及びハロゲンランプなど、様々な光源装置を用いることができる。
第1の偏光フィルタ106は、照明部104とパターン化リターダ150との間に設けられる。この場合、照明部104で照射された光は、第1の偏光フィルタ106を透過した後、パターン化リターダ150で反射される。第1の偏光フィルタ106は、線形偏光フィルタ(PL)が用いられ得る。この場合、1次偏光フィルタ106は、照明部104で照射される光のうち一定方向の線形偏光のみを透過させ、残りの方向の偏光を遮断させる。第1の偏光フィルタ106は、当分野で用いられる線形偏光フィルタを制限なく用いることができ、例えば、硝子や透明高分子基板上に接合された線形偏光子層を備える構造を有することができる。
第2の偏光フィルタ108は、パターン化リターダ150と撮影部110との間に設けられる。この場合、パターン化リターダ150で反射された光は、第2の偏光フィルタ108を透過した後、撮影部110で受光される。第2の偏光フィルタ108は、円形偏光フィルタ(CPL)が用いられ得る。このとき、第2の偏光フィルタ108は、第1の偏光パターン領域152及び第2の偏光パターン領域154のうち何れか一の位相差と同一の位相差を有する円形偏光フィルタを用いる。この場合、パターン化リターダ150の何れか一の偏光パターン領域で反射された光は遮断し、他の一の偏光パターン領域で反射された光は通過させるため、パターン化リターダ150を撮影した映像で第1の偏光パターン領域152と第2の偏光パターン領域154との間に明度対比が高く示されるようになる。第2の偏光フィルタ108は、当分野で用いられる円形偏光フィルタを制限なく用いることができ、例えば、硝子や透明高分子基板上に接合された線形偏光子層及び1/4波長板を備える構造を有することができる。このとき、第2の偏光フィルタ108の線形偏光子層は、その吸収軸が第1の偏光フィルタ106の線形偏光子層の吸収軸と平行ではないものが選択され、好ましくは、垂直であるものが選択される。
撮影部110は、パターン化リターダ150の上部に設けられる。撮影部110は、パターン化リターダ150で反射される光を受光し、パターン化リターダ150を撮影する。撮影部110は、パターン化リターダ150で反射される光の角度に対応して設置され得る。撮影部110は、映像分析部114が発生する撮影制御信号によって、パターン化リターダ150を撮影することができる。このとき、撮影部110は、撮影制御信号によって、パターン化リターダ150を撮影する撮影周期を調節することができる。撮影部110は、パターン化リターダ150を撮影した撮影映像を映像分析部114に伝送する。
撮影部110は、移送ロ−ル102のうちパターン化リターダ150と接する部分を撮影するように、撮影箇所が予め設定され得る。そうすると、パターン化リターダ150が一定方向に移送されるとき、撮影部110は常に移送ロ−ル102上に位置するパターン化リターダ150を撮影するようになる。この場合、パターン化リターダ150の撮影の際にパターン化リターダ150の撮影される部分は、常に移送ロ−ル102により支持され、平坦性が一定の水準に維持されるため、振動やブレによる撮影映像の歪曲を減少させることができるようになる。
ここで、撮影部110が常に移送ロ−ル102上に位置するパターン化リターダ150を撮影するため、撮影部110は、反射照明を用いてパターン化リターダ150を撮影するようになる。そのため、照明部104は、パターン化リターダ150の上部で一定角度θで光を照射するように設置される。
移送速度測定部112は、パターン化リターダ150の移送速度を測定する。移送速度測定部112は、例えば、移送ロ−ル102と連動して設けられるエンコーダであり得る。この場合、移送ロ−ル102の回転速度を計測してパターン化リターダ150の移送速度を測定することができるようになる。ここでは、移送速度測定部112が移送ロ−ル102と連動して設けられたエンコーダであるとして示したが、これに限定されるものではなく、移送速度測定部112は、その他の様々な速度測定手段であり得る。移送速度測定部112は、パターン化リターダ150の移送速度を映像分析部114に伝送することができる。このとき、移送速度測定部112は、パターン化リターダ150の移送速度を一定周期で伝送することができる。
映像分析部114は、移送速度測定部112から伝送されたパターン化リターダ150の移送速度によって、撮影周期を調節するように撮影制御信号を撮影部110に発生させることができる。ここでは、映像分析部114が撮影制御信号を撮影部110に発生させるものとして示したが、これに限定されるものではなく、移送速度測定部112が撮影制御信号を直接に撮影部110に発生させることもできる。
映像分析部114は、パターン化リターダ150の撮影映像を通じて、第1の偏光パターン領域152の幅W1、第2の偏光パターン領域154の幅W2、第1の偏光パターン領域152の直進度、第2の偏光パターン領域154の直進度、及びパターン化リターダ150の全体幅TWを測定することができる。
具体的には、照明部104で照射され、パターン化リターダ150で反射された光は、円形偏光フィルタ(CPL)である第2の偏光フィルタ108を透過した後、撮影部110に受光される。このとき、第2の偏光フィルタ108が第1の偏光パターン領域152及び第2の偏光パターン領域154のうち何れか一の位相差と同一の位相差を有する場合、第2の偏光フィルタ108と同一の位相差を有する偏光パターン領域で反射された光は通過させ、第2の偏光フィルタ108と異なる位相差を有する偏光パターン領域で反射された光は遮断させるようになる。そうすると、パターン化リターダ150を撮影した映像で第2の偏光フィルタ108と同一の位相差を有する偏光パターン領域は明るく示され、第2の偏光フィルタ108と異なる位相差を有する偏光パターン領域は暗く示されるため、第1の偏光パターン領域152と第2の偏光パターン領域154との間に明暗対比が明確に示されるようになる。この場合、映像分析部114がパターン化リターダ150の撮影映像で第1の偏光パターン領域152と第2の偏光パターン領域154とを明確に区別することができるため、各偏光パターン領域の幅及び直進度を容易に測定することができるようになる。このとき、映像分析部114は、第1の偏光パターン領域152と第2の偏光パターン領域154との境界をより明確にするために、パターン化リターダ150の撮影映像にエッジフィルタを適用することができる。
映像分析部114は、第1の偏光パターン領域152の幅W1、第2の偏光パターン領域154の幅W2、第1の偏光パターン領域152の直進度、第2の偏光パターン領域154の直進度、及びパターン化リターダ150の全体幅TWをそれぞれ測定した結果、測定した各々の値が第1の偏光パターン領域152の幅W1、第2の偏光パターン領域154の幅W2、第1の偏光パターン領域152の直進度、第2の偏光パターン領域154の直進度、及びパターン化リターダ150の全体幅TWに対してそれぞれ既設定された基準値から逸脱する場合、警告イベント信号を警告部116に発生させる。
警告部116は、映像分析部114から警告イベント信号を受信する場合、警告音を発生するか、或いは警告灯を点灯してパターン化リターダ150の製造過程に異常が発生したことを知らせることができる。この場合、管理者は、速かに該当問題に対して措置をとることができるようになる。
本発明の実施形態によれば、インライン上でパターン化リターダ150が一定方向に移送されるとき、撮影部110が常に移送ロール102上に位置するパターン化リターダ150を撮影するようにすることにより、モータの周期的な振動又は外部衝撃による不規則な振動及びブレが発生しても、パターン化リターダ150の撮影映像が歪曲されることを減少させることができるようになり、それによってインライン上でも第1の偏光パターン領域152及び第2の偏光パターン領域154の幅及び直進度をリアルタイムに分析することができるようになる。また、照明部104とパターン化リターダ150との間に線形偏光フィルタを設置し、パターン化リターダ150と撮影部110との間に円形偏光フィルタを設置することにより、パターン化リターダ150の撮影映像で第1の偏光パターン領域152と第2の偏光パターン領域154とが明確に区別されるようにすることができ、これにより第1の偏光パターン領域152及び第2の偏光パターン領域154の幅及び直進度を容易に分析することができるようになる。
以上、代表的な実施形態を通じて本発明について詳細に説明したが、本発明が属する技術分野における通常の知識を有する者は、上述した実施形態に対して本発明の範疇から逸脱しない範囲内で、様々な変形が可能であることを理解する。従って、本発明の権利範囲は、説明した実施形態に限定して定めてはならず、後述する特許請求の範囲のみならず、この特許請求の範囲と均等なものなどによって定められなければならない。
100:インライン測定装置
102:移送ロ−ル
104:照明部
106:第1の偏光フィルタ
108:第2の偏光フィルタ
110:撮影部
112:移送速度測定部
114:映像分析部
116:警告部
150:パターン化リターダ
152:第1の偏光パターン領域
154:第2の偏光パターン領域
102:移送ロ−ル
104:照明部
106:第1の偏光フィルタ
108:第2の偏光フィルタ
110:撮影部
112:移送速度測定部
114:映像分析部
116:警告部
150:パターン化リターダ
152:第1の偏光パターン領域
154:第2の偏光パターン領域
Claims (6)
- 第1の偏光パターン領域と第2の偏光パターン領域とが交互に形成されるパターン化リターダを一定方向に移送させる移送部と、
前記パターン化リターダの上部から所定角度で光を照射する照明部と、
前記パターン化リターダで反射される光を受光して前記パターン化リターダを撮影する撮影部と
を備え、前記撮影部は、前記移送部のうち前記パターン化リターダと接する部分を撮影するように撮影箇所が設定される、インライン測定装置。 - 前記照明部と前記パターン化リターダとの間に設けられる線形偏光フィルタと、
前記パターン化リターダと前記撮影部との間に設けられる円形偏光フィルタと、
前記パターン化リターダの撮影映像を分析して、前記第1の偏光パターン領域の幅、前記第2の偏光パターン領域の幅、前記第1の偏光パターン領域の直進度、前記第2の偏光パターン領域の直進度、及び前記パターン化リターダの全体幅のうち少なくとも一つを測定する映像分析部と
をさらに備える、請求項1に記載のインライン測定装置。 - 前記円形偏光フィルタは、前記第1の偏光パターン領域及び前記第2の偏光パターン領域のうち何れか一の位相差と同一の位相差を有する、請求項2に記載のインライン測定装置。
- 前記映像分析部は、前記第1の偏光パターン領域の幅、前記第2の偏光パターン領域の幅、前記第1の偏光パターン領域の直進度、前記第2の偏光パターン領域の直進度、及び前記パターン化リターダの全体幅のうち少なくとも一つを分析した結果、測定した値が既設定された基準値から逸脱する場合、警告イベント信号を警告部に発生させる、請求項2に記載のインライン測定装置。
- 前記インライン測定装置は、前記パターン化リターダの移送速度を測定する移送速度測定部をさらに備え、前記撮影部は、前記パターン化リターダの移送速度によって撮影周期を調節する、請求項1に記載のインライン測定装置。
- 前記移送部は、ロール、ローラーコンベヤ、無限軌道型ベルト、及び移送ステージからなる群から選択される、請求項1に記載のインライン測定装置。
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