JP2014120545A - 電磁レンズ及び電子ビーム露光装置 - Google Patents

電磁レンズ及び電子ビーム露光装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2014120545A
JP2014120545A JP2012273068A JP2012273068A JP2014120545A JP 2014120545 A JP2014120545 A JP 2014120545A JP 2012273068 A JP2012273068 A JP 2012273068A JP 2012273068 A JP2012273068 A JP 2012273068A JP 2014120545 A JP2014120545 A JP 2014120545A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electromagnetic
electron beam
gap
electromagnetic coil
inner peripheral
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2012273068A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5667618B2 (ja
Inventor
Akio Yamada
章夫 山田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Advantest Corp filed Critical Advantest Corp
Priority to JP2012273068A priority Critical patent/JP5667618B2/ja
Priority to US14/090,943 priority patent/US8957389B2/en
Priority to DE102013113476.9A priority patent/DE102013113476B4/de
Publication of JP2014120545A publication Critical patent/JP2014120545A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5667618B2 publication Critical patent/JP5667618B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/04Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement, ion-optical arrangement
    • H01J37/10Lenses
    • H01J37/14Lenses magnetic
    • H01J37/141Electromagnetic lenses
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/10Lenses
    • H01J2237/14Lenses magnetic
    • H01J2237/1405Constructional details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/10Lenses
    • H01J2237/14Lenses magnetic
    • H01J2237/1405Constructional details
    • H01J2237/141Coils
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/10Lenses
    • H01J2237/14Lenses magnetic
    • H01J2237/1405Constructional details
    • H01J2237/1415Bores or yokes, i.e. magnetic circuit in general
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/30Electron or ion beam tubes for processing objects
    • H01J2237/317Processing objects on a microscale
    • H01J2237/3175Lithography
    • H01J2237/31774Multi-beam

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Electron Beam Exposure (AREA)

Abstract

【課題】外径を小さくしても、発熱量を増加させることなく所望の磁場を発生させることができる電磁レンズ及び電子ビーム露光装置を提供する。
【解決手段】電子ビームの光軸に対して回転対称に巻かれた電磁コイル3と、電磁コイル3を覆うポールピース2とを有する電磁レンズにおいて、ポールピース2の内周側に形成された内周壁2b又は電子ビームの出射側の端部に形成された下端壁2dの何れか一方または両者の境界の部分に一体的にギャップ2aを形成する。そして、内周壁2bを、ギャップ2aに近い部分を最も薄くし、ギャップ2aから離れるにしたがって徐々に厚くなるように形成する。また、内周壁2bの厚さの変化に応じて、電磁レンズ3の半径方向の幅をギャップ2aに近くなるほど大きくなるように形成する。
【選択図】図4

Description

本発明は、電磁レンズ及び電子ビーム露光装置に関する。
電子ビーム露光装置では、電子銃から放出された電子ビームを矩形開口又は所定のパターンの形状の開口が形成されたステンシルマスクを透過させた後、電子光学系で例えば1/20倍に縮小してウエハに投影して露光を行なう。
また、露光に要する時間を短縮するべく、電子ビームの投影に用いる電子銃及び電子光学系を含んだ電子ビームコラムを小型化し、その電子ビームコラム(コラムセル)を複数個集めたマルチコラム型の電子ビーム露光装置も提案されている。マルチコラム電子ビーム露光装置では複数のコラムセルで並列して露光を行うため、単一のコラムセルを用いる電子ビーム露光装置に比べて、電子ビームコラムの数に応じた倍率で処理速度が向上する。
更なるスループットの向上を図るために電子ビーム露光装置のコラムセル数を増加させることが好ましく、電子ビームコラムの更なる小型化が望まれる。
特開2001−110351号公報
電子ビームコラムを小径化するためには、電子ビームを収束させるための電磁レンズの外径を小さくする必要がある。
ところが、電磁レンズの外径を小さくすると、電磁レンズに含まれる電磁コイルのサイズが小さくなり、電磁コイルの巻数が不足して所望の磁界を発生させるために必要な起磁力電流が大きくなる。その結果、電磁コイルの発熱量が増加してしまうという問題がある。
また、電磁コイルの巻き数を増大させるために電磁レンズを縦長にすると、電磁コイルを覆うポールピースが磁気飽和を起こしてしまい、所望の磁界を発生させることができないという問題が生じる。
そこで、外径を小さくしても発熱量を増加させることなく所望の磁場を発生させることができる電磁レンズ及び電子ビーム露光装置を提供することを目的とする。
一観点によれば、電子ビームの光軸に対して回転対称に巻かれた電磁コイルと、前記電磁コイルの内周側を覆う内周壁と、前記電子ビームの入射側で前記電磁コイルを覆う上端壁と、前記電子ビームの出射側で前記電磁コイルを覆う下端壁と、前記電磁コイルの外周側を覆う外周壁と、前記内周壁、下端壁及び上端壁の少なくとも一部分を前記光軸に対して回転対称に切り欠いたギャップと、を有するポールピースとを備え、前記内周壁の厚さは、前記ギャップに近い部分が最も薄く、前記ギャップからの距離の増加に伴って徐々に厚くなると共に、前記電磁コイルの半径方向の幅は、前記ギャップに近くなるほど増加する電磁レンズが提供される。
上記観点の電磁レンズによれば、ポールピースにおいて最も磁束密度が高くなりやすい、内周壁のギャップから離れた部分において、内周壁の厚さを厚くしている。これにより、内周壁において磁束が通過可能な部分が増加し、磁束密度の増加が緩和される。また、内周壁の厚さを徐々に変化させることにより内周壁で磁束がスムーズに流れ、磁束密度の高い部分の発生を抑制できる。
これにより、ポールピースとしてより縦方向に長い形状を採用することができ、電磁コイルの巻き数を増加させることができる。
その結果、外径を小さくしても、電磁コイルの発熱を抑制しつつ所望の磁場を発生させることができ、電磁レンズが得られる。
図1(a)は、予備的事項に係る電磁レンズの断面図であり、図1(b)は図1(a)の電磁レンズの一部を切断して示す斜視図である。 図2(a)〜(d)は、種々の形状の電磁レンズについて、ポールピース内の磁束密度の分布を計算によって求めた結果を示す図である。 図3は、予備的事項において検討を行った電磁レンズの球面収差係数と、発熱量との関係を示すグラフである。 図4(a)、(b)は、第1実施形態に係る電磁レンズを示す斜視図である。 図5(a)は、第1実施形態の実施例1に係る電磁レンズの断面図であり、図5(b)は第1実施形態の実施例2に係る電磁レンズの断面図であり、図5(c)は比較例に係る電磁レンズの断面図である。 図6(a)〜(c)は、それぞれ図5(a)〜(c)の電磁レンズのポールピース内の磁束密度の分布を計算によって求めた結果を示す図である。 図7は、第2実施形態に係る電子ビーム露光装置のブロック図である。 図8は、図7の1つのコラムセルを示すブロック図である。 図9(a)は、図7の電子ビーム露光装置に搭載された複数の電磁レンズの配置を示す図であり、図9(b)は図9(a)の電磁レンズの断面図である。 図10は、第3実施形態に係る電磁レンズを示す斜視図である。
実施形態の説明に先立って、予備的事項について説明する。
図1(a)は、予備的事項に係る電磁レンズを示す断面図であり、図1(b)は図1(a)の電磁レンズの一部を切断して示す斜視図である。図中の矢印Aは電子ビームの出射方向を示している。
図1(a)、(b)に示す電磁レンズ84は、電子ビームEBの光軸Cを中心として回転対称に形成された電磁コイル83を備えており、その電磁コイル83は周囲をポールピース82によって覆われている。
ポールピース82は、内周側の部分に形成された内周壁82bと、電子ビームEBの入射側で電磁コイル83を覆う上端壁82cと、電子ビームEBの出射側で電磁コイル83を覆う下端壁82dと、電磁コイル83の外周側を覆う外周壁82eとを備える。
図示の電磁レンズ84は、電子ビームが照射されるウエハ12の表面に電子ビームを収束させる対物レンズであり、ウエハ12と対向する下端壁82dに光軸Cを中心とする円環状のギャップ82aが形成されている。
電磁コイル83の磁極からもれた磁束は、磁性材料によって形成されたポールピース82内を通過して、ギャップ82a部分から外部に漏れだして、ウエハ12の上方に磁場を発生させる。像面80に結像された電子ビームの像S1は、電磁レンズ84の貫通孔を通過してウエハ12の表面(像面)に至る過程で、電磁レンズ84の磁場によって収束される。これにより、ウエハ12の表面(像面)に像S2が形成される。
ところで、電磁レンズ84によって形成される像S2の最小サイズを決める光軸上の球面収差の値は、電磁レンズ84の球面収差係数Cs[mm]及び電子ビームEBの開き角度α[rad]に対してCsα3に比例する。十分な解像度を得るためには電磁レンズ84で発生させる磁場を、ウエハ12の表面付近に局在させ、かつ強度を大きくして球面収差係数Csを小さくすることが好ましい。
電子ビーム露光装置のコラムセル数を増加させるためには、所定の球面収差係数Csを維持しながら電磁レンズの外径を小さくすることが求められる。
電磁レンズ84の外径を小さくすると、電磁コイル83も小さくする必要がある。そのため、電磁コイル83の巻数部分の断面積が制限されて発熱量が増加し、電磁コイル83の冷却が困難になるという問題がある。
そこで、ポールピース82及び電磁コイル83の形状を変えた種々のモデルを作成し、電磁レンズ84の球面収差、起磁力及び発熱量と、ポールピース82内の磁束密度分布を調べた。
図2(a)〜(d)は、種々の形状の電磁レンズについて、ポールピース内の磁束密度の分布を計算によって求めた結果を示す図である。なお、図2に示す断面は、電子ビームEBの光軸cに平行な面で電磁レンズ84を切断した断面図であり、各図の下側が光軸c側であり、矢印の方向が電子ビームEBの出射方向に対応している。また、電磁レンズ84の断面及び磁束密度分布は光軸cに回転対称に表れるため、光軸cを挟んだもう一方の断面の図示は省略している。
計算では、電磁レンズ84の外径をφ60[mm]に小型化し、電磁コイル83と磁性体ポールピース82から構成される図2(a)〜(d)形状の電磁レンズ84により、加速電圧50KeVの電子ビームを所定の像面に収束させるレンズ磁場強度を発生するのに必要な、電磁コイル83の起磁力電流、磁性体ポールピース内の電流密度等を求めた。また、その条件で電磁レンズ84とその周囲に発生する磁束密度分布を求め、電子ビームの軌道計算を行うことにより球面収差係数Csを求めた。
図2(a)の電磁レンズは、電磁レンズ84の外径を増加させずに電磁コイル83の巻数を増加させるべく、ポールピース82の光軸方向の長さを、図2(a)〜(d)の4つの例の中で最も長い31[mm]とした。
図中の領域91は、磁束密度が、ポールピース82を構成する磁性体の飽和磁束密度である2.2[T](テスラ)付近になっている領域であり、斜線を付した領域92は、磁束密度が磁性体の飽和磁束密度である2.2[T](テスラ)を超えた領域である。また、それら領域以外の何も付していない領域は、磁束密度が、飽和磁束密度である2.2[T](テスラ)よりも十分に低い領域である。なお、磁気飽和に達する可能性がある領域91、あるいは磁気飽和を起こした領域92がポールピース82の内周壁82bの内側(光軸cに近い側)から外側(電磁コイル83に近い側)の全域に亘って現れると、ポールピース82から磁束が漏えいして電子ビームEBの軌道が乱れてしまう。そのため、電磁コイル83の起磁力は、ポールピース82の磁気飽和によって制約される。
図2(a)の場合には、電磁コイルの起磁力は3022[A・T](アンペアターン)であり、このときの電磁コイルの発熱量は202[W]であり、球面収差係数Csは10.0[mm]であった。
一方、図2(b)は、ポールピースの光軸方向の長さを図2(a)のポールピースよりも短い26[mm]とした場合の計算結果を示している。
図2(b)の電磁レンズでは、ポールピースの長さを短くしたことにより、ポールピースの磁気飽和が起こり難くなる。その結果、電磁コイルの起磁力は3438[A・T](アンペアターン)であり、球面収差係数Csが8.2[mm]に減少する。但し、電磁コイルが小さくなり巻数が減少したことにともなって、電磁コイルの発熱量が359[W]に増加している。
図2(c)の電磁レンズは、ポールピースの長さを図2(b)のポールピースよりも短い21[mm]とした場合の計算結果を示している。図2(c)のポールピース82は、図2(a)、(b)のポールピース82よりも更に磁気飽和を起こし難くなり、電磁コイル83の起磁力は3783[A・T]であり、球面収差係数Csが6.7mmまで減少する。一方で、電磁コイル83の巻数は図2(a)、(b)よりも更に少なくなり、起磁力電流が増加するため、電磁コイル83の発熱量は946[W]まで増加する。
図2(d)の電磁レンズは、ポールピースの長さを図2(c)の電磁レンズと同様としつつ、ギャップを図2(c)の電磁レンズよりも広げている。
この電磁レンズでは、電磁コイル83の起磁力は4882[A・T]であり、球面収差係数Csが5.4[mm]まで減少する。
しかし、電磁コイル83の発熱量は1850[W]まで増加している。
図3は、予備的事項において検討を行った電磁レンズの球面収差係数と、発熱量との関係を求めた結果を示すグラフである。
図3に示すように、電磁レンズの球面収差係数を減少させようとすると、電磁コイルの発熱量が急激に増加することが判明した。
このような発熱量の急増による問題を解消するべく、下記に説明する実施形態を着想するに至った。
(第1実施形態)
図4(a)は、第1実施形態に係る電磁レンズ4を示す斜視図であり、図4(b)は図4(a)の電磁レンズ4のポールピース2を示す斜視図である。なお、図4(a)、(b)は、内部の構造を示すために一部を切り欠いた状態で示している。また、図中の一点鎖線は電子ビームEBの光軸cを示しており電子ビームEBは、図中の矢印の方向に進む。
図4(a)に示すように、本実施形態の電磁レンズ4は電子ビームEBの光軸cの周り形成された電磁コイル3と電磁コイル3を覆うポールピース2とを備えている。電磁コイル3及びポールピース2は光軸cに対して回転対称に形成されている。
図4(b)に示すように、ポールピース2は、飽和磁束密度が比較的高い磁性材料で形成されている。ポールピース2は、光軸cに近い内周側に形成された内周壁2bと、電子ビームEBの入射側の端部に形成された上端壁2cと、電子ビームEBの出射側の端部に形成された下端壁2dと、上端壁2c及び下端壁2dの周縁部に接続された円筒状の外周壁2eとを有する。そして、ポールピース2の内周壁2b、上端壁2c、下端壁2d及び外周壁2eに囲まれた部分にコイル収容部2fが形成されている。
また、ポールピース2には、下端壁2dの一部が光軸c周りに円形に切り欠かれてなるギャップ2aが形成されている。このギャップ2aの部分で磁束が漏れ出して、電子ビームEBの照射対象としての試料(不図示)の上方に電子ビームを収束させるための磁場を発生させる。
本実施形態のポールピース2では、内周壁2bの光軸cの半径方向の厚さ(図中のTの部分の厚さ)が、ギャップ2aから離れるにしたがって徐々に増加している。
これにより、ポールピース2において、磁気飽和を起こしやすいギャップ2aから離れた部分の内周壁2bの厚さが増し、内周壁2bにおける磁気飽和を抑制できる。
また、内壁部2bの厚さが、ギャップ2aに向けて徐々に変化することにより、内壁部2bを磁束がスムーズに通ることができ、局所的な磁束密度の増加を防ぐことができ、磁気飽和が更に起こり難くなる。
その結果、ポールピース2の光軸方向の長さを増加させた場合であっても、磁気飽和を起こし難くなるため、ポールピース2の光軸方向の長さを増加させて、より巻数の大きな電磁コイル3を使用できる。
さらに、図4(a)に示すように、電磁レンズ4では、電磁コイル3の断面が台形状に形成されており、電磁コイル3の半径方向の幅が、ギャップ2aに近づくにつれて徐々に大きくなるように形成されている。
これにより、電磁コイル3を、断面が矩形の円筒状に形成する場合に比べて電磁コイル3を巻く部分の面積を内側(光軸に近い側)に大きくとることができる。
その結果、電磁コイル3の発熱量を抑制しつつ、起磁力をより大きくすることができ、小型化しても発熱を抑制しつつ球面収差係数Csを小さくできる。
図5(a)は、第1実施形態の実施例1に係る電磁レンズ1Aの断面図であり、図5(b)は第1実施形態の実施例2に係る電磁レンズ1Bの断面図であり、図5(c)は比較例に係る電磁レンズ84の断面図である。図では、電磁レンズの一方の断面のみを示している。また、図中の数字は、各電磁レンズの寸法[mm]を表す。
図5(a)に示す実施例1の電磁レンズ1Aは、外径がφ60[mm]である。この電磁レンズ1Aの光軸方向の長さは、図2(a)に示す電磁レンズよりも長い40[mm]となっている。直径0.5[mm]の導線を用いた場合の電磁コイル3の巻数は893ターンである。
また、図5(b)に示す実施例2の電磁レンズ1Bは、外径がφ40[mm]と、図5(a)の電磁レンズ1Aよりも外径が縮小されている。直径0.5[mm]の導線を用いた場合の電磁コイル3の巻数は416ターンである。
一方、図5(c)に示す比較例の電磁レンズ84は、図2(c)の電磁レンズと同様の構造となっており、その外径はφ60[mm]であり、光軸方向の長さは27[mm]である。
次に、上記の電磁レンズ1A、1B、82について所定の球面収差係数Csが得られる条件の下で、ポールピース内の磁束密度の分布を計算によって求めた結果ついて説明する。
図6(a)〜(c)は、図5(a)〜(c)の電磁レンズ1A、1B、82のポールピース内の磁束密度の分布を計算によって求めた結果を示す図である。
図6(a)は、図5(a)の電磁レンズ1A(実施例1)のポールピース2内の磁束密度の分布を表している。実施例1の電磁レンズ1Aでは、電磁コイルの起磁力を3521[A・T](アンペアターン)としたときに、球面収差係数Csが7.5[mm]となり、この条件での発熱量が162[W]となった。
また、図示のように、ポールピース2内において飽和磁束密度を超える部分が殆ど発生しておらず、磁気飽和を効果的に抑制できることが確認できた。
図6(b)は、図5(b)の電磁レンズ1B(実施例2)のポールピース2内の磁束密度の分布を表している。実施例2の電磁レンズ1Bでは、電磁コイルの起磁力を2983[A・T](アンペアターン)としたときに、球面収差係数Csが7.5[mm]となり、この条件での発熱量が167[W]となった。
図示のように、ポールピース2内において飽和磁束密度に達している部分は一部分にとどまっており、電子ビームの光軸側への磁束の漏えい発生していない。
以上の結果から、実施例2の電磁レンズ1Bのように、外径を40[mm]程度に縮小した場合であっても、磁気飽和を抑制でき、且つ発熱量の増加が抑えられることが確認できた。
図6(c)は、図5(c)の電磁レンズ84(比較例)のポールピース内の磁束密度の分布を表している。比較例の電磁レンズ84では、ポールピースの光軸方向の長さが27[mm]であり、図6(a)の電磁レンズ1Aよりも短い。それにもかかわらず、電磁コイルの起磁力を3158[A・T](アンペアターン)のときにポールピース2の内周壁の厚み方向の全域に亘って飽和磁束密度に達している領域91が発生している。この時の球面収差係数Csは10[mm]にとどまり、発熱量は202[W]と実施例の電磁レンズ1A、1Bよりも増加している。
以上の結果から、本実施形態の電磁レンズ1A、1Bによれば、外径を小型化した場合であっても、所望の球面収差係数Csが得られるとともに、電磁コイルの発熱を効果的に抑制できることがわかる。
(第2実施形態)
図7は、本実施形態に係るマルチコラム電子ビーム露光装置の概略構成図である。
マルチコラム電子ビーム露光装置は、電子ビームコラム10と電子ビームコラム10を制御する制御部20に大別される。このうち、電子ビームコラム10は、同等なコラムセル11が複数、例えば16集まって、全体のコラムが構成されている。全てのコラムセル11は、同じユニットで構成される。コラムセル11の下には、例えば300[mm]ウエハ12を搭載したウエハステージ13が配置されている。
一方、制御部20は、電子銃高圧電源21、レンズ電源22、デジタル制御部23、ステージ駆動コントローラ24及びステージ位置センサ25を有する。これらのうち、電子銃高圧電源21は電子ビームコラム10内の各コラムセル11の電子銃を駆動させるための電源を供給する。レンズ電源22は電子ビームコラム10内の各コラムセルの電磁レンズを駆動させるための電源を供給する。コラムセル制御部23は、コラムセル11内の各偏向器の偏向出力をコントロールする電気回路であり、ハイスピードな偏向出力などを出力する。デジタル制御部23はコラムセル11の数に対応する分だけ用意される。
ステージ駆動コントローラ24は、ステージ位置センサ25からの位置情報を基に、ウエハ12の所望の位置に電子ビームが照射されるようにウエハステージ13を移動させる。上記の各部21〜25は、ワークステーションなどの統合制御系26によって統合的に制御される。
図8は、マルチコラム電子ビーム露光装置に使用される各コラムセル11の概略構成図である。
各コラムセル11は、露光部100と、露光部100を制御するコラムセル制御部31とに大別される。このうち、露光部100は、電子ビーム生成部130、マスク偏向部140及び基板偏向部150によって構成される。
電子ビーム生成部130では、電子銃101から生成した電子ビームEBが第1電磁レンズ102で収束作用を受けた後、ビーム成形用マスク103の矩形アパーチャ103a通過し、電子ビームEBの断面が矩形に整形される。
その後、電子ビームEBは、マスク偏向部140の第2電磁レンズ105によって露光マスク110上に結像される。そして、電子ビームEBは、第1、第2静電偏向器104、106により露光マスク110に形成された特定のパターンPに偏向され、その断面がパターンPの形状に整形される。
なお、露光マスク110は電子ビームコラム10内のマスクステージ123に固定されるが、そのマスクステージ123は水平面内において移動可能であって、第1、第2静電偏向器104、106の偏向範囲(ビーム偏向範囲)を超える部分にあるパターンPを使用する場合、マスクステージ123を移動することにより、そのパターンPをビーム偏向範囲内に移動させる。
露光マスク110の上下に配置された第3、第4電磁レンズ108,111は、電子ビームEBを基板上で結像させる役割を担う。
露光マスク110を通った電子ビームEBは、第3、第4静電偏向器112,113の偏向作用によって光軸cに振り戻された後、第5電磁レンズ114によってそのサイズが縮小される。
マスク偏向部140には、第1、第2補正コイル107、109が設けられており、それらにより、第1〜第4静電偏向器104、106、112、113で発生するビーム偏向収差が補正される。
その後、電子ビームEBは、基板偏向部150を構成する遮蔽板115のアパーチャ115aを通過し、第1、第2投影用電磁レンズ116,121によって基板上に投影される。これにより、露光マスク110のパターンの像が所定の縮小率、例えば1/10の縮小率で基板に転写される。
基板偏向部150には、第5静電偏向器119と電磁偏向器120とが設けられており、これらの偏向器119、120によって電子ビームEBが偏向され、基板の所定の位置に露光マスクのパターンの像が投影される。
更に、基板偏向部150には、基板上における電子ビームEBの偏向収差を補正するための第3、第4補正コイル117、118が設けられる。
一方、コラムセル制御部31は、電子銃制御部202、電子光学系制御部203、マスク偏向制御部204、マスクステージ制御部205、ブランキング制御部206及び基板偏向制御部207を有する。これらのうち、電子銃制御部202は電子銃101を制御して、電子ビームEBの加速電圧やビーム放射条件などを制御する。また、電子光学系制御部203は、電磁レンズ102、105、108、111、114、116及び121への電流量を調整して、これらの電磁レンズが構成される電子光学系の倍率や焦点位置を調節する。ブランキング制御部206は、ブランキング電極127への印加電圧をせいぎょすることにより、露光開始前のから発生している電子ビームEBを遮蔽板115上に偏向し、露光前に基板上に電子ビームEBが照射されるのを防ぐ。
基板偏向制御部207は、第5静電偏向器119への印加電圧と、電磁偏向器120への電流量を制御することにより、基板の所定位置上に電子ビームEBが偏向されるようにする。上記の各部202〜207は、ワークステーションなどの統合制御系26によって統合的に制御される。
図9(a)は、図7のマルチコラム電子ビーム露光装置に搭載された電磁レンズ121を示す図であり、図9(b)は図9(a)の中の一つの電磁レンズ121の断面図である。
図9(a)に示すように、電磁レンズ121は、各コラムセルを収容する筐体14内に並列して配置されている。筐体14の直径は150[mm]程度であり、電磁レンズ121の配置間隔であるピッチPは、コラムセルの配置数に応じて決まる。
例えば、筐体14内に4(2×2)本のコラムセルが配置される場合には、電磁レンズ121のピッチPは66[mm]となり、9(3×3)本のコラムセルが配置される場合にはピッチPは44[mm]となる。また、図示のように筐体14内に16(4×4)本のコラムセルが配置されている場合には、電磁レンズ121のピッチは、約33[mm]となる。電磁レンズ121の外径は、このピッチPよりも小型化することが求められる。
図9(b)に示すように、電磁レンズ121は、保持板15、16を介して筐体14内に位置決めされて保持される。本実施形態の電磁レンズ121は、図4に示す電磁レンズ4のポールピース2とほぼ同じ形状のポールピース2を備えている。そして、ポールピース2のコイル収容部2f内には断面が台形状の電磁コイル3が配置されている。
本実施形態の電磁レンズ121では、電磁コイル3とポールピース2との間に冷媒流路2gが設けられており、その冷媒流路2gには、冷媒として例えば冷却水を流すことができる。さらに、ポールピース2のギャップ2aは、非磁性材料よりなる封止部材5で塞がれており、冷媒の流出を防いでいる。
間隙2gの一端には導入口6aが設けられ、間隙2gの他端には排出口6bが設けられており、これらの導入口6a及び排出口6bは循環冷却機構(不図示)に接続されている。循環冷却機構から供給される冷媒は、冷媒流路2gを介して循環することで、電磁コイル3を冷却する。
以上のような本実施形態の電磁レンズ121でも、図4に示す電磁レンズのポールピースと同様のポールピース2を備えているため磁気飽和を起こし難くなる。そのため、電磁レンズ121の外径を縮小した場合であっても、ポールピース2の光軸方向の長さを増大さえることで電磁コイル3の容積を大きくすることができ、電磁コイル3の発熱を抑制できる。
(第3実施形態)
図10は、本実施形態に係る電磁レンズ50を示す斜視図である。なお、図示の電磁レンズは、内部の構造を理解しやすくするために電子ビームの光軸cに平行な面で切断して示したものであり、実際には電子ビームの光軸cまわりに回転対称に形成されている。また図中の矢印は電子ビームの出射方向を示している。
図示のように、電磁レンズ50は、光軸cに対して回転対称に形成された電磁コイル53と、その電磁コイル53を覆うポールピース52とを備えている。本実施形態のポールピース52は、光軸cの周囲に形成された内周壁52bの光軸方向の中央部分にギャップ52aが設けられている。
内周壁52bは、ギャップ52aの付近の部分が光軸側に突出するように形成されている。これにより、電磁レンズ50は光軸c方向の中央部に極大値を有する磁場を形成でき、対物レンズ以外の部分に好適に用いることができる。
また、ポールピース52の内周壁52bの光軸cからの半径方向の厚さ(図においてTの部分の厚さ)は、ギャップ52aから離れるほど大きくなっている。これにより、内周壁52bにおいて磁気飽和を起こし難くなっている。
また、電磁コイル53は、内周壁52bの形状に応じてギャップ52aの近傍の部分が電子ビームの光軸側に突出した凸状に形成されている。
このように、電磁コイル53は、ポールピース52の形状に合わせてギャップ部分付近で凸状に形成されるため、断面積S0が増加し、その分で巻数を増加させることができる。
さらに、電磁コイル53が光軸c寄りに突出した凸状に形成されることで、電磁コイル53の巻線の1巻の平均長さL0が、凸状に形成されない場合に比べて少なくなる。
電磁コイル53の起磁力をN[A・T](アンペアターン)とし、巻線の抵抗率をρとしたときに、コイル部の発熱量は、ρ(L0/S0)(N)2に比例する。すなわち、電磁コイル53の発熱量は、起磁力が一定の条件の下では、巻線の平均の長さL0に比例し、電磁コイル53の断面積S0に反比例する。
したがって、本実施形態の電磁コイル53では、ギャップ52a付近の部分が光軸c寄りに突出した凸状に形成されることで、巻き線L0が減少するとともに断面積S0が増加することにより、電磁コイル53の発熱量を抑制できる。
1A、1B、4、50、84、121…電磁レンズ、2、82…ポールピース、2a、82a…ギャップ、2b、52b、82b…内周壁、2c、52c、82c…上端壁、2d、52d、82d…下端壁、2e、52e、82e…外周壁、2g…冷媒流路、3、50、83…電磁コイル、6a…導入口、6b…排出口、10…電子ビームコラム、11…コラムセル、12…ウエハ、13…ウエハステージ、14…筐体、15、16…保持板、20…制御部、21…電子銃高圧電源、22…レンズ電源、23…デジタル制御部、24…ステージ駆動コントローラ、25…ステージ位置センサ、26…統合制御系、31…コラムセル制御部、80…像面、100…露光部、101…電子銃、102、105、108、111、114、116、121…電磁レンズ、103…ビーム成形用マスク、103a…矩形アパーチャ、104、106、112、113、119、120…偏向器、110…露光用マスク(ステンシルマスク)、107、109、117、118…補正用コイル、115a…アパーチャ、123…マスクステージ、130…電子ビーム生成部、140…マスク偏向部、150…基板偏向部、202…電子銃制御部、203…電子光学系制御部、204…マスク偏向制御部、205…マスクステージ制御部、206…ブランキング制御部、207…基板偏向制御部。

Claims (10)

  1. 電子ビームの光軸に対して回転対称に巻かれた電磁コイルと、
    前記電磁コイルの内周側を覆う内周壁と、前記電子ビームの入射側で前記電磁コイルを覆う上端壁と、前記電子ビームの出射側で前記電磁コイルを覆う下端壁と、前記電磁コイルの外周側を覆う外周壁と、前記内周壁、下端壁及び上端壁の少なくとも一部分を前記光軸に対して回転対称に切り欠いたギャップと、を有するポールピースとを備え、
    前記内周壁の厚さは、前記ギャップに近い部分が最も薄く、前記ギャップからの距離の増加に伴って徐々に厚くなると共に、
    前記電磁コイルの半径方向の幅は、前記ギャップに近くなるほど増加すること
    を特徴とする電磁レンズ。
  2. 前記内周壁の最も厚い部分の厚さは、前記外周壁の厚さよりも厚いことを特徴とする請求項1に記載の電磁レンズ。
  3. 前記ギャップは前記内周壁、下端壁及び上端壁の少なくとも一部に形成されており、前記内周壁の前記光軸側の面が光軸に平行であり、且つ前記内周壁の前記電磁コイル側の面が前記ギャップにかけて前記光軸側に近づくように傾斜していることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の電磁レンズ。
  4. 前記電磁コイルは前記光軸に平行な面で切断した断面が台形状となっていることを特徴とする請求項3に記載の電磁レンズ。
  5. 前記ギャップが形成された前記内周壁及び下端壁の少なくとも一部分が、前記電子ビームを結像させる試料の表面に対向させて配置されることを特徴とする請求項3又は請求項4に記載の電磁レンズ。
  6. 前記ギャップは前記内周壁の中央に形成されていることを特徴とする請求項1ないし請求項3の何れか1項に記載の電磁レンズ。
  7. 前記ポールピースと前記電磁コイルとの隙間が冷媒の流路となっていることを特徴とする請求項1ないし請求項6の何れか1項に記載の電磁レンズ。
  8. 前記ポールピースのギャップは、非磁性材料よりなる封止部材によって封止されていることを特徴とする請求項7に記載の電磁レンズ。
  9. 電子ビームの光軸に対して回転対称に巻かれた電磁コイルと、前記電磁コイルの内周側を覆う内周壁と、前記電子ビームの入射側で前記電磁コイルを覆う上端壁と、前記電子ビームの出射側で前記電磁コイルを覆う下端壁と、前記電磁コイルの外周側を覆う外周壁と、前記内周壁、下端壁及び上端壁の少なくとも一部分を前記光軸に対して回転対称に切り欠いたギャップと、を有するポールピースとを備え、前記内周壁の厚さは、前記ギャップに近い部分が最も薄く、前記ギャップからの距離の増加に伴って徐々に厚くなると共に、前記電磁コイルの半径方向の幅は、前記ギャップに近くなるほど増加する電磁レンズを備えた電子ビーム露光装置。
  10. さらに、電子ビームを放出する複数の電子銃を有し、前記電磁レンズを前記各電子ビームの光軸上に複数備えてなる請求項9に記載の電子ビーム露光装置。
JP2012273068A 2012-12-14 2012-12-14 電磁レンズ及び電子ビーム露光装置 Active JP5667618B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012273068A JP5667618B2 (ja) 2012-12-14 2012-12-14 電磁レンズ及び電子ビーム露光装置
US14/090,943 US8957389B2 (en) 2012-12-14 2013-11-26 Electromagnetic lens for electron beam exposure apparatus
DE102013113476.9A DE102013113476B4 (de) 2012-12-14 2013-12-04 Elektromagnetische Objektivlinse für ein Multisäulen-Elektronenstrahl-Belichtungsgerät sowie Elektronenstrahl-Belichtungsgerät

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012273068A JP5667618B2 (ja) 2012-12-14 2012-12-14 電磁レンズ及び電子ビーム露光装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014120545A true JP2014120545A (ja) 2014-06-30
JP5667618B2 JP5667618B2 (ja) 2015-02-12

Family

ID=50821561

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012273068A Active JP5667618B2 (ja) 2012-12-14 2012-12-14 電磁レンズ及び電子ビーム露光装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US8957389B2 (ja)
JP (1) JP5667618B2 (ja)
DE (1) DE102013113476B4 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016121225A1 (ja) * 2015-01-30 2016-08-04 松定プレシジョン株式会社 荷電粒子線装置及び走査電子顕微鏡
EP3200216A1 (en) 2016-01-26 2017-08-02 Advantest Corporation Charged particle beam lens apparatus, charged particle beam column, and charged particle beam exposure apparatus
KR101813467B1 (ko) 2016-11-29 2017-12-29 주식회사 다원시스 진공내 설치 및 운용이 가능한 솔레노이드 자기장 렌즈의 구성 방법과 그 장치
US10497535B2 (en) 2015-12-03 2019-12-03 Matsusada Precision, Inc. Charged particle beam device and scanning electron microscope

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102014112558A1 (de) 2014-09-01 2016-03-03 Endress + Hauser Flowtec Ag Sensorbaugruppe für einen Sensor, Sensor sowie damit gebildetes Meßsystem
US20180104510A1 (en) * 2016-05-27 2018-04-19 Faye Hendley Elgart Orthogonal double dipole cancer therapy treatment beam scanning apparatus and method of use thereof
CN113711330A (zh) 2019-04-19 2021-11-26 Asml荷兰有限公司 电流源装置和方法
CN110303041B (zh) * 2019-07-05 2020-04-21 燕山大学 一种用于线材连续化轧制生产的加热装置及其加工方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08316128A (ja) * 1995-05-22 1996-11-29 Fujitsu Ltd 電子ビーム露光装置及びその操作方法
JPH09167732A (ja) * 1995-12-15 1997-06-24 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 電子ビーム照射装置
JP2000090870A (ja) * 1998-09-17 2000-03-31 Nikon Corp 冷却機構、それを備えた荷電粒子線露光装置及びデバイスの製造方法
JP2007311117A (ja) * 2006-05-17 2007-11-29 Hitachi High-Technologies Corp 電子レンズ及びそれを用いた荷電粒子線装置
WO2012057166A1 (ja) * 2010-10-27 2012-05-03 株式会社Param 電子レンズおよび電子ビーム装置

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5731586A (en) * 1995-05-25 1998-03-24 Jeol Ltd. Magnetic-electrostatic compound objective lens
US6037589A (en) * 1997-01-16 2000-03-14 Seiko Instruments Inc. Electron beam device
DE19732093B4 (de) * 1997-07-25 2008-09-25 Carl Zeiss Nts Gmbh Korpuskularstrahlgerät
JP2001110351A (ja) 1999-10-05 2001-04-20 Hitachi Ltd 走査電子顕微鏡
KR20140061480A (ko) * 2005-11-28 2014-05-21 칼 짜이스 에스엠테 게엠베하 입자 광학 구성요소
EP1970935B1 (en) * 2007-03-14 2011-01-12 ICT, Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH Lens coil cooling of a magnetic lens
EP2418672B1 (en) * 2010-08-11 2013-03-20 ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH Multi-axis lens, beam system making use of the compound lens, and method of manufacturing the compound lens

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08316128A (ja) * 1995-05-22 1996-11-29 Fujitsu Ltd 電子ビーム露光装置及びその操作方法
JPH09167732A (ja) * 1995-12-15 1997-06-24 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 電子ビーム照射装置
JP2000090870A (ja) * 1998-09-17 2000-03-31 Nikon Corp 冷却機構、それを備えた荷電粒子線露光装置及びデバイスの製造方法
JP2007311117A (ja) * 2006-05-17 2007-11-29 Hitachi High-Technologies Corp 電子レンズ及びそれを用いた荷電粒子線装置
WO2012057166A1 (ja) * 2010-10-27 2012-05-03 株式会社Param 電子レンズおよび電子ビーム装置

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016121225A1 (ja) * 2015-01-30 2016-08-04 松定プレシジョン株式会社 荷電粒子線装置及び走査電子顕微鏡
JP2016143513A (ja) * 2015-01-30 2016-08-08 松定プレシジョン株式会社 荷電粒子線装置
CN107430971A (zh) * 2015-01-30 2017-12-01 松定精度株式会社 荷电粒子线装置及扫描电子显微镜
KR101828763B1 (ko) 2015-01-30 2018-02-13 마쯔사다 프리지션 인코포레이티드 하전 입자선 장치 및 주사 전자 현미경
CN107430971B (zh) * 2015-01-30 2018-11-09 松定精度株式会社 荷电粒子线装置及扫描电子显微镜
US10153129B2 (en) 2015-01-30 2018-12-11 Matsusada Precision, Inc. Charged particle beam device and scanning electron microscope
US10438770B2 (en) 2015-01-30 2019-10-08 Matsusada Precision, Inc. Charged particle beam device and scanning electron microscope
US10541106B2 (en) 2015-01-30 2020-01-21 Matsusada Precision, Inc. Charged particle beam device and scanning electron microscope
US10497535B2 (en) 2015-12-03 2019-12-03 Matsusada Precision, Inc. Charged particle beam device and scanning electron microscope
EP3200216A1 (en) 2016-01-26 2017-08-02 Advantest Corporation Charged particle beam lens apparatus, charged particle beam column, and charged particle beam exposure apparatus
KR101877633B1 (ko) * 2016-01-26 2018-07-12 인텔 코포레이션 하전 입자 빔 렌즈 장치, 하전 입자 빔 컬럼 및 하전 입자 빔 노광 장치
KR101813467B1 (ko) 2016-11-29 2017-12-29 주식회사 다원시스 진공내 설치 및 운용이 가능한 솔레노이드 자기장 렌즈의 구성 방법과 그 장치

Also Published As

Publication number Publication date
DE102013113476A1 (de) 2014-06-18
DE102013113476B4 (de) 2017-04-06
US20140166893A1 (en) 2014-06-19
JP5667618B2 (ja) 2015-02-12
US8957389B2 (en) 2015-02-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5667618B2 (ja) 電磁レンズ及び電子ビーム露光装置
EP2587517B1 (en) Electron lens and the electron beam device
US8390201B2 (en) Multi-column electron beam exposure apparatus and magnetic field generation device
US7046767B2 (en) X-ray generator
US10181389B2 (en) X-ray tube having magnetic quadrupoles for focusing and collocated steering coils for steering
JP6490772B2 (ja) 荷電粒子ビーム装置
EP1471561B1 (en) Electron gun
US10008359B2 (en) X-ray tube having magnetic quadrupoles for focusing and magnetic dipoles for steering
US7067820B2 (en) Particle-optical apparatus with a permanent-magnetic lens and an electrostatic lens
TWI381413B (zh) 具有離子束/電荷粒子束的照射系統
JP2016126969A (ja) X線管装置
JP6138454B2 (ja) 荷電粒子線装置
JP2023160972A (ja) 荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法
JP4601923B2 (ja) 電子銃とそれを用いた電子ビーム照射装置
JP7073668B2 (ja) マルチ荷電粒子ビーム描画装置
JPH1097979A (ja) 縮小投影装置
JP2010021462A (ja) 荷電粒子ビーム描画装置
JP3502002B2 (ja) 電子線描画装置、電子線を用いた描画方法及び電磁コイルの製造方法
JP2010232204A (ja) 電子ビーム描画装置
JP2000067792A (ja) 荷電粒子線露光装置
JP2010129421A (ja) 電子レンズ用磁気回路装置

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140715

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140731

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20141209

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20141212

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5667618

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250