JP2014107012A - Icp mass spectrometer - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、高周波誘導結合プラズマ(ICP)をイオン源とするICP質量分析装置に関する。 The present invention relates to an ICP mass spectrometer using an inductively coupled plasma (ICP) as an ion source.
ICP質量分析装置は、現在、高感度の元素分析を行える装置として注目されている。図8は、従来のICP質量分析装置の一例を示す概略構成図であり、図9は、第一チェンバの一例を示す断面図である。
ICP質量分析装置101は、プラズマトーチ10と、プラズマトーチ10に隣接して配置されたインターフェース部120と、インターフェース部120に隣接して配置された質量分析部30と、コンピュータ(制御部)140とを備える(例えば、特許文献1参照)。
The ICP mass spectrometer is currently attracting attention as an apparatus capable of highly sensitive elemental analysis. FIG. 8 is a schematic configuration diagram illustrating an example of a conventional ICP mass spectrometer, and FIG. 9 is a cross-sectional view illustrating an example of a first chamber.
The
インターフェース部120は、アルミニウムや銅製のケース状の第一チェンバ121と、第一チェンバ121内を真空状態(例えば100〜150Pa)とするためのロータリーポンプ等の真空ポンプ22とを有し、第一チェンバ121のプラズマトーチ10側の側壁121aには、開口123aを有するサンプリングコーン123が配置されているとともに、第一チェンバ121のプラズマトーチ10側と反対側の側壁121bには、開口24aを有するスキマーコーン24が配置されている。
The
サンプリングコーン123は、円錐形部を中央部に有した金属体であって、円錐形部の中央に円形状の開口123aが形成されており、アースされている。また、サンプリングコーン123の開口123aは、イオン進行方向に対して徐々に広がるような形状となっている。
The
スキマーコーン24は、円錐形部を中央部に有した金属体であって、円錐形部の中央に円形状の開口24aが形成されており、アースされている。また、スキマーコーン24の開口24aは、イオン進行方向に対して徐々に広がるような形状となっている。
The
質量分析部30は、アルミニウムや銅製のケース状の第二チェンバ37と、アルミニウムや銅製のケース状の第三チェンバ31と、第二チェンバ37内を真空状態(例えば10−1Pa)とするためのターボ分子ポンプ等の真空ポンプ36と、第三チェンバ31内を真空状態(例えば10−4Pa以下)とするためのターボ分子ポンプ等の真空ポンプ32とを有する。第二チェンバ37内には、収束レンズ等のイオンレンズ部33が配置され、第三チェンバ31内には、四重極ロッド構造等の質量分離部34が配置され、最後段にエレクトロマルチプライヤ等の検出部35が配置されている。
なお、イオンレンズ部33は、絶縁性素材製のブロック(図示せず)を介して第二チェンバ37に固定され、質量分離部34は、絶縁性素材製のブロック(図示せず)を介して第三チェンバ31に固定されている。このような絶縁性素材としては、例えば、テフロン(登録商標)(PTFE)、ピーク(PEEK;登録商標)樹脂等が挙げられる。
The
The
コンピュータ140は、イオンレンズ部33や質量分離部34に所定の電圧を印加する質量分析部電圧印加部40aと、検出部35からの信号を取得する取得部40bとを有する。
The
このようなICP質量分析装置101では、プラズマトーチ10の誘導コイルに高周波電流を流すことによりプラズマPが生成され、プラズマPの5000〜6000℃の熱によって試料がイオン化し、イオンとプラズマPとがサンプリングコーン123の開口123aを通過して第一チェンバ121内に導入される。そして、第一チェンバ121内に導入されたイオンは、スキマーコーン24の開口24aを通過して第二チェンバ37内に導入される。第二チェンバ37内では、イオンレンズ部33によりインターフェース部120からのイオンを後方の質量分離部34に向けて収束される。
In such an
直流電圧と高周波電圧とを重畳した電圧が印加された質量分離部34では、印加された電圧に応じた質量数(質量m/電荷z)を有するイオンのみが選択的に通過することとなるので、ここで選択されたイオンが検出器35に到達する。このとき、質量分離部34を通過するイオンの質量数は、印加される電圧に依存するので、印加される電圧を走査することにより、所定の質量数を有するイオンについてのイオン強度信号を検出器35で得ることができる。なお、検出器35の出力はコンピュータ140に入力されることになる。
In the
ところで、第一チェンバ121の外部は大気圧であるが、第一チェンバ121の内部は真空状態となっているので、第一チェンバ121の外部と内部で急激な真空度の変化が生じる。このため、サンプリングコーン123の開口123aを通過したプラズマPは、第一チェンバ121内で等エントロピー膨張を起こし、超音速ジェットビームを形成する。そこで、サンプリングコーン123とスキマーコーン24との間の距離L2は、サンプリングコーン123の後方で生成される超音速ジェットビームの所定位置に、スキマーコーン24の先端が位置するように予め計算により求められる。
By the way, although the outside of the
しかしながら、上述したようなインターフェース部120では、サンプリングコーン123とスキマーコーン24との間を予め算出された距離L2としても、超音速ジェットビーム中に含まれるイオンのうち、スキマーコーン24の開口24aへの導入効率は1%程度とされている。つまり、99%のイオンは、真空ポンプ22によって第一チェンバ121外に排気されてしまっている。
そこで、本発明は、スキマーコーンの開口への導入効率を向上させることができるICP質量分析装置を提供することを目的とする。
However, the
Therefore, an object of the present invention is to provide an ICP mass spectrometer that can improve the efficiency of introduction into the opening of a skimmer cone.
上記課題を解決するためになされた本発明のICP質量分析装置は、試料をプラズマによりイオン化するプラズマイオン源と、イオン化された試料を質量分析する質量分析部と、前記プラズマイオン源と前記質量分析部との間に配置されたインターフェース部と、前記質量分析部を制御する制御部とを備え、前記インターフェース部は、チェンバと、当該チェンバ内を真空状態とするための真空ポンプとを有し、前記チェンバのプラズマイオン源側の側壁には、開口を有するサンプリングコーンが配置されているとともに、前記チェンバのプラズマイオン源側と反対側の側壁には、開口を有するスキマーコーンが配置されているICP質量分析装置であって、前記サンプリングコーンと前記スキマーコーンとの間には、イオンガイドが配置されており、前記制御部は、前記イオンガイドに印加する電圧を制御するようにしている。 The ICP mass spectrometer of the present invention made to solve the above-described problems includes a plasma ion source that ionizes a sample with plasma, a mass analyzer that performs mass analysis on the ionized sample, the plasma ion source, and the mass analysis. An interface unit arranged between the unit and a control unit for controlling the mass analyzing unit, the interface unit has a chamber and a vacuum pump for evacuating the chamber, A sampling cone having an opening is disposed on a side wall of the chamber on the plasma ion source side, and a skimmer cone having an opening is disposed on a side wall of the chamber opposite to the plasma ion source side. In the mass spectrometer, an ion guide is disposed between the sampling cone and the skimmer cone. And, the control unit, so as to control the voltage applied to the ion guide.
以上のように、本発明のICP質量分析装置によれば、サンプリングコーンの開口を通過したイオンの持つ運動エネルギーをイオン光学的に制御し、スキマーコーンの開口に導入することができる。これによりスキマーコーンの開口への導入効率を向上させることができ、その結果、質量分析の感度と検出精度とを向上させることができる。 As described above, according to the ICP mass spectrometer of the present invention, the kinetic energy of ions passing through the opening of the sampling cone can be ion-optically controlled and introduced into the opening of the skimmer cone. Thereby, the introduction efficiency to the opening of the skimmer cone can be improved, and as a result, the sensitivity and detection accuracy of mass spectrometry can be improved.
(その他の課題を解決するための手段及び効果)
また、本発明のICP質量分析装置においては、前記サンプリングコーンの開口は、イオン進行方向に対して徐々に狭まった後、徐々に広がるような形状となっているようにしてもよい。
本発明のICP質量分析装置によれば、チェンバの外部と内部とでは、圧力が大気圧から真空に変化するが、流速が連続的に変化するような超音速流を得ることで、チェンバ内部における衝撃波(マッハディスク)の発生を防止することができる。また、これにより、サンプリングコーンの直後にイオンガイドを配置しても、イオン光学的にイオンを正確に制御し、スキマーコーンの開口に導入することができる。
(Means and effects for solving other problems)
In the ICP mass spectrometer of the present invention, the opening of the sampling cone may be shaped so as to gradually widen after being gradually narrowed with respect to the ion traveling direction.
According to the ICP mass spectrometer of the present invention, the pressure changes from the atmospheric pressure to the vacuum inside and outside the chamber, but by obtaining a supersonic flow in which the flow velocity continuously changes, the inside of the chamber can be obtained. Generation of shock waves (Mach disk) can be prevented. In addition, this makes it possible to accurately control ions optically and introduce them into the opening of the skimmer cone even if the ion guide is arranged immediately after the sampling cone.
また、本発明のICP質量分析装置においては、前記サンプリングコーンの開口は、ラバールノズル形状であるようにしてもよい。 In the ICP mass spectrometer of the present invention, the opening of the sampling cone may have a Laval nozzle shape.
また、本発明のICP質量分析装置においては、前記チェンバは金属製であり、前記イオンガイドは、絶縁性高熱伝導率素材製のブロックを介して前記チェンバに固定されているようにしてもよい。
本発明のICP質量分析装置によれば、イオンガイドはプラズマによって熱されるが、ブロックを介してイオンガイドの熱をチェンバに伝導させて放熱することで、イオンガイドの焼損・破損を防止することができる。このとき、イオンガイドをチェンバに直接固定すると、チェンバをアース電位とするため、イオンガイドに印加する電圧を制御することができなくなるが、本発明ではブロックを介してチェンバに固定しているので、イオンガイドに印加する電圧を制御することができる。
In the ICP mass spectrometer of the present invention, the chamber may be made of metal, and the ion guide may be fixed to the chamber through a block made of an insulating high thermal conductivity material.
According to the ICP mass spectrometer of the present invention, the ion guide is heated by the plasma, but the heat of the ion guide is conducted to the chamber through the block to dissipate the heat, thereby preventing the ion guide from being burned or damaged. it can. At this time, if the ion guide is directly fixed to the chamber, since the chamber is set to the ground potential, the voltage applied to the ion guide cannot be controlled, but in the present invention, the ion guide is fixed to the chamber via the block. The voltage applied to the ion guide can be controlled.
また、本発明のICP質量分析装置においては、前記チェンバ及びスキマーコーンは、金属製であり、前記イオンガイドは、絶縁性高熱伝導率素材製のブロックを介して前記スキマーコーンに固定されているようにしてもよい。
本発明のICP質量分析装置によれば、イオンガイドはプラズマによって熱されるが、ブロックを介してイオンガイドの熱をチェンバに伝導させて放熱することで、イオンガイドの焼損・破損を防止することができる。このとき、イオンガイドをスキマーコーンに直接固定すると、スキマーコーンをアース電位とするため、イオンガイドに印加する電圧を制御することができなくなるが、本発明ではブロックを介してスキマーコーンに固定しているので、イオンガイドに印加する電圧を制御することができる。
In the ICP mass spectrometer of the present invention, the chamber and the skimmer cone are made of metal, and the ion guide is fixed to the skimmer cone via a block made of an insulating high thermal conductivity material. It may be.
According to the ICP mass spectrometer of the present invention, the ion guide is heated by the plasma, but the heat of the ion guide is conducted to the chamber through the block to dissipate the heat, thereby preventing the ion guide from being burned or damaged. it can. At this time, if the ion guide is fixed directly to the skimmer cone, the voltage applied to the ion guide cannot be controlled because the skimmer cone is at the ground potential, but in the present invention, the ion guide is fixed to the skimmer cone via the block. Therefore, the voltage applied to the ion guide can be controlled.
また、本発明のICP質量分析装置においては、前記絶縁性高熱伝導率素材は、窒化アルミ又は窒化ボロンであるようにしてもよい。
また、本発明のICP質量分析装置においては、前記イオンガイドは、多重極ロッド構造であるようにしてもよい。
In the ICP mass spectrometer of the present invention, the insulating high thermal conductivity material may be aluminum nitride or boron nitride.
In the ICP mass spectrometer of the present invention, the ion guide may have a multipole rod structure.
また、本発明のICP質量分析装置においては、前記多重極ロッド構造の1本のロッドは、第一の半径と、当該第一の半径より小さい第二の半径とに交互に変化しており、前記ロッドには、高周波電圧が印加されるようにしてもよい。
そして、本発明のICP質量分析装置においては、前記多重極ロッド構造の1本のロッドは、複数枚の平板電極を有し、複数枚の平板電極が一列に配列されており、前記ロッドには、高周波電圧が印加されるようにしてもよい。
さらに、本発明のICP質量分析装置においては、前記イオンガイドは、開口を有する複数枚の平板電極を有し、複数枚の平板電極が一列に配列されており、前記平板電極には、高周波電圧が印加されるようにしてもよい。
In the ICP mass spectrometer of the present invention, one rod of the multipole rod structure alternately changes to a first radius and a second radius smaller than the first radius. A high frequency voltage may be applied to the rod.
In the ICP mass spectrometer of the present invention, one rod of the multipole rod structure has a plurality of plate electrodes, and the plurality of plate electrodes are arranged in a line, A high frequency voltage may be applied.
Furthermore, in the ICP mass spectrometer of the present invention, the ion guide has a plurality of plate electrodes having openings, and the plurality of plate electrodes are arranged in a line, and the plate electrode has a high frequency voltage. May be applied.
以下、本発明の実施形態について図面を用いて説明する。なお、本発明は、以下に説明するような実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々の態様が含まれることはいうまでもない。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. Note that the present invention is not limited to the embodiments described below, and it goes without saying that various aspects are included without departing from the spirit of the present invention.
図1は、本発明に係るICP質量分析装置の一例を示す概略構成図であり、図2は、第一チェンバの一例を示す断面図(a)と、第一チェンバ内に配置されるイオンガイドの構造を示す図(b)である。なお、上述したICP質量分析装置101と同様のものについては、同じ符号を付している。
ICP質量分析装置1は、プラズマトーチ10と、プラズマトーチ10に隣接して配置されたインターフェース部20と、インターフェース部20に隣接して配置された質量分析部30と、コンピュータ(制御部)40とを備える。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram illustrating an example of an ICP mass spectrometer according to the present invention, and FIG. 2 is a cross-sectional view (a) illustrating an example of a first chamber and an ion guide disposed in the first chamber. It is a figure (b) which shows the structure of these. In addition, the same code | symbol is attached | subjected about the thing similar to the ICP
The ICP
インターフェース部20は、アルミニウムや銅製のケース状の第一チェンバ21と、第一チェンバ21内を真空状態とするためのロータリーポンプ等の真空ポンプ22とを有し、第一チェンバ21のプラズマトーチ10側の側壁21aには、開口23aを有するサンプリングコーン23が配置されているとともに、第一チェンバ21のプラズマトーチ10側と反対側の側壁21bには、開口24aを有するスキマーコーン24が配置されている。
The
サンプリングコーン23は、円錐形部を中央部に有した金属体であって、円錐形部の中央に円形状の開口23aが形成されている。また、サンプリングコーン23の開口23aは、ラバールノズル形状(イオン進行方向に対して徐々に狭まり、そして所定の距離において一定の大きさを維持した後、徐々に広がるような形状)となっている。
これにより、開口23aの出口部分の圧力と、開口23aの出口直後の第一チェンバ21内の圧力とが等しくなり、その結果、第一チェンバ21外部の大気圧から内部の真空に圧力が変化しても、第一チェンバ21内部における衝撃波(マッハディスク)の発生を防止することができる。
The
As a result, the pressure at the outlet portion of the
サンプリングコーン23とスキマーコーン24との間の距離は、第一チェンバ21内部における衝撃波の発生を防止するため、距離L1となっている。なお、距離L1は距離L2より長くなっている。つまり、サンプリングコーン23とスキマーコーン24との間に、イオンガイド25を配置する空間が形成されている。
The distance between the sampling
イオンガイド25は、4本の円柱形状のロッド25a〜25dを有する四重極ロッド構造である。4本の円柱形状のロッド25a〜25dは、イオン光軸を軸とする円に外接するように、互いに離間して配置されている。
そして、4本のロッド25a〜25dの一端部は、窒化アルミ製の円柱形状のブロック26を介して第一チャンバ21の内壁面に固定されている。
これにより、イオンガイド25のロッド25a〜25dはプラズマPによって熱されるが、この4本のロッド25a〜25dの熱を、ブロック26を介して第一チェンバ21に伝導させて放熱することで、ロッド25a〜25dの焼損・破損を防止することができる。
The
One end of each of the four
As a result, the
このような4本のロッド25a〜25dは、インターフェース部電圧印加部40cに接続されている。そして、円周方向に隣接するロッド25a〜25dには、同一の直流電圧に互いに位相が反転した高周波電圧が重畳された電圧(換言すると直流的にバイアスされた高周波電圧)が印加されるようになっている。これにより、インターフェース部電圧印加部40cによって制御されることで発生する高周波電場によって、4本のロッド25a〜25dに導入されたイオンは、所定の周期で振動しながら進み、後段へと効率よく送られる。
Such four
コンピュータ40は、イオンレンズ部33や質量分離部34に所定の電圧を印加する質量分析部電圧印加部40aと、検出部35からの信号を取得する取得部40bと、イオンガイド25に所定の電圧を印加するインターフェース部電圧印加部40cとを有する。
The
このようなICP質量分析装置1では、プラズマトーチ10の誘導コイルに高周波電流を流すことによりプラズマPが生成され、プラズマPの5000〜6000℃の熱によって試料がイオン化し、イオンとプラズマPとがサンプリングコーン23の開口23aを通過して第一チェンバ21内に導入される。第一チェンバ21内にはイオンガイド25が設けられており、イオンガイド25により形成される高周波電場によってイオンが加速されるとともに、イオンを所定の周期で振動させながらスキマーコーン24の開口24aに収束するように進行させる。そして、スキマーコーン24の開口24aを通過して第二チェンバ37内に導入される。第二チェンバ37内では、イオンレンズ部33によりインターフェース部20からのイオンを後方の四重極マスフィルタ34に向けて収束される。
In such an ICP
直流電圧と高周波電圧とを重畳した電圧が印加された質量分離部34では、印加された電圧に応じた質量数(質量m/電荷z)を有するイオンのみが選択的に通過することとなるので、ここで選択されたイオンが検出器35に到達する。このとき、質量分離部34を通過するイオンの質量数は、印加される電圧に依存するので、印加される電圧を走査することにより、所定の質量数を有するイオンについてのイオン強度信号を検出器35で得ることができる。なお、検出器35の出力はコンピュータ40に入力されることになる。
In the
以上のように、本発明のICP質量分析装置1によれば、サンプリングコーン23の開口23aを通過したイオンの持つ運動エネルギーをイオン光学的に制御し、スキマーコーン24の開口24aに導入することができる。これによりスキマーコーン24の開口24aへの導入効率を向上させることができ、その結果、質量分析の感度と検出精度とを向上させることができる。
As described above, according to the ICP
<他の実施形態>
(1)上述したICP質量分析装置1において、4本のロッド25a〜25dは、窒化アルミ製の円柱形状のブロック26を介して第一チャンバ21の内壁面に固定されている構成としたが、4本のロッド25a〜25dは、窒化アルミや窒化ボロン製の円柱形状のブロック26を介してスキマーコーン24’の前面に固定されているような構成としてもよい。図3は、本発明に係る第一チャンバ21の他の一例を示す断面図である。
<Other embodiments>
(1) In the ICP
(2)上述したICP質量分析装置1において、サンプリングコーン23の開口23aはラバールノズル形状の構成としたが、サンプリングコーン23’の開口23a’は、イオン進行方向に対して徐々に広がるような形状の構成としてもよい。図4は、本発明に係る第一チャンバ21のさらに他の一例を示す断面図である。
(2) In the ICP
(3)上述したICP質量分析装置1において、イオンガイド25は、4本の円柱形状のロッド25a〜25dを有する四重極ロッド構造としたが、ロッドの構造は、これに限らず六重極や八重極でもよく、さらに、8本以上の複数本のロッドを有する構造としてもよい。
(3) In the ICP
(4)上述したICP質量分析装置1において、ロッド25a〜25dの形状は、円柱形状の構成としたが、第一の半径と、第一の半径より小さい第二の半径とに交互に変化するような形状であってもよく(図5参照)、さらに、複数枚の平板電極が一列に配列されているような形状であってもよい(図6参照)。
(4) In the ICP
(5)上述したICP質量分析装置1において、イオンガイド25は、4本の円柱形状のロッド25a〜25dを有する四重極ロッド構造としたが、ロッドの構造を、開口を有する複数枚の平板電極を有し、複数枚の平板電極が一列に配列されているような構成としてもよい(図7参照)。
(5) In the ICP
本発明は、ICP質量分析装置に利用することができる。 The present invention can be used in an ICP mass spectrometer.
1: ICP質量分析装置
10: プラズマトーチ(プラズマイオン源)
20: インターフェース部
21: 第一チェンバ
22: 真空ポンプ
23: サンプリングコーン
24: スキマーコーン
25: イオンガイド
30: 質量分析部
40: コンピュータ(制御部)
1: ICP mass spectrometer 10: Plasma torch (plasma ion source)
20: Interface unit 21: First chamber 22: Vacuum pump 23: Sampling cone 24: Skimmer cone 25: Ion guide 30: Mass analyzer 40: Computer (control unit)
Claims (10)
イオン化された試料を質量分析する質量分析部と、
前記プラズマイオン源と前記質量分析部との間に配置されたインターフェース部と、
前記質量分析部を制御する制御部とを備え、
前記インターフェース部は、チェンバと、当該チェンバ内を真空状態とするための真空ポンプとを有し、
前記チェンバのプラズマイオン源側の側壁には、開口を有するサンプリングコーンが配置されているとともに、前記チェンバのプラズマイオン源側と反対側の側壁には、開口を有するスキマーコーンが配置されているICP質量分析装置であって、
前記サンプリングコーンと前記スキマーコーンとの間には、イオンガイドが配置されており、
前記制御部は、前記イオンガイドに印加する電圧を制御することを特徴とするICP質量分析装置。 A plasma ion source for ionizing a sample with plasma;
A mass spectrometer for mass-analyzing the ionized sample;
An interface unit disposed between the plasma ion source and the mass spectrometer;
A controller for controlling the mass spectrometer,
The interface unit includes a chamber and a vacuum pump for making the inside of the chamber into a vacuum state,
A sampling cone having an opening is disposed on a side wall of the chamber on the plasma ion source side, and a skimmer cone having an opening is disposed on a side wall of the chamber opposite to the plasma ion source side. A mass spectrometer comprising:
An ion guide is disposed between the sampling cone and the skimmer cone,
The ICP mass spectrometer is characterized in that the controller controls a voltage applied to the ion guide.
前記イオンガイドは、絶縁性高熱伝導率素材製のブロックを介して前記チェンバに固定されていることを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載のICP質量分析装置。 The chamber is made of metal,
The ICP mass spectrometer according to any one of claims 1 to 3, wherein the ion guide is fixed to the chamber via a block made of an insulating high thermal conductivity material.
前記イオンガイドは、絶縁性高熱伝導率素材製のブロックを介して前記スキマーコーンに固定されていることを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載のICP質量分析装置。 The chamber and skimmer cone are made of metal,
The ICP mass spectrometer according to any one of claims 1 to 3, wherein the ion guide is fixed to the skimmer cone through a block made of an insulating high thermal conductivity material.
前記ロッドには、高周波電圧が印加されることを特徴とする請求項7に記載のICP質量分析装置。 One rod of the multipole rod structure alternately changes to a first radius and a second radius smaller than the first radius,
The ICP mass spectrometer according to claim 7, wherein a high frequency voltage is applied to the rod.
複数枚の平板電極が一列に配列されており、
前記ロッドには、高周波電圧が印加されることを特徴とする請求項7に記載のICP質量分析装置。 One rod of the multipole rod structure has a plurality of plate electrodes,
A plurality of plate electrodes are arranged in a row,
The ICP mass spectrometer according to claim 7, wherein a high frequency voltage is applied to the rod.
複数枚の平板電極が一列に配列されており、
前記平板電極には、高周波電圧が印加されることを特徴とする請求項1〜請求項6のいずれか1項に記載のICP質量分析装置。 The ion guide has a plurality of plate electrodes having openings,
A plurality of plate electrodes are arranged in a row,
The ICP mass spectrometer according to claim 1, wherein a high-frequency voltage is applied to the plate electrode.
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