JP2014093785A - エッジ測定ビデオツールパラメータ設定ユーザインタフェース - Google Patents
エッジ測定ビデオツールパラメータ設定ユーザインタフェース Download PDFInfo
- Publication number
- JP2014093785A JP2014093785A JP2013229306A JP2013229306A JP2014093785A JP 2014093785 A JP2014093785 A JP 2014093785A JP 2013229306 A JP2013229306 A JP 2013229306A JP 2013229306 A JP2013229306 A JP 2013229306A JP 2014093785 A JP2014093785 A JP 2014093785A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- edge
- representation
- parameter
- window
- edge element
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title abstract description 9
- 238000003708 edge detection Methods 0.000 claims abstract description 68
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 39
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 23
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims description 5
- 230000006870 function Effects 0.000 description 23
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 18
- 230000008859 change Effects 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 7
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 6
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 description 5
- 238000012549 training Methods 0.000 description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 4
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 4
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 3
- 238000012634 optical imaging Methods 0.000 description 3
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 2
- 230000001174 ascending effect Effects 0.000 description 2
- 230000006399 behavior Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 239000005441 aurora Substances 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 239000003550 marker Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/10—Segmentation; Edge detection
- G06T7/13—Edge detection
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/10—Image acquisition modality
- G06T2207/10004—Still image; Photographic image
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/20—Special algorithmic details
- G06T2207/20172—Image enhancement details
- G06T2207/20192—Edge enhancement; Edge preservation
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
- G06T2207/30108—Industrial image inspection
- G06T2207/30164—Workpiece; Machine component
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
Abstract
【解決手段】エッジ位置特定ビデオツールのパラメータを設定するユーザインタフェースが提供される。ユーザインタフェースは、ユーザが単一のパラメータ組み合わせインジケータを調整して、一度に複数のエッジ検出パラメータを調整することができる多次元パラメータ空間表現を含む。1つ又は複数のエッジ要素表現ウィンドウを提供することができ、これらのウィンドウは、エッジ検出パラメータの現在の配置により検出可能なエッジ要素を示す。
【選択図】図2
Description
マシンビジョン検査システムユーザインタフェースにおいてエッジ位置特定パラメータを定義する方法が提供される。一実施形態では、エッジ位置特定ビデオツールの関心領域(ROI)の複数のエッジ検出パラメータが定義される。多次元パラメータ空間表現が表示され、多次元パラメータ空間表現は、複数のエッジ検出パラメータの可能な組み合わせを示す。一実施態様では、多次元パラメータ空間表現は二次元格子であり、各次元が、エッジ検出パラメータの1つに対応する可能な値を示す。多次元パラメータ空間表現内にパラメータ組み合わせインジケータ(例えば、ユーザインタフェースにおいて選択及びドラッグすることができるパラメータ組み合わせマーカを含む)が配置され、多次元パラメータ空間表現内での該インジケータの位置によりエッジ検出パラメータの組み合わせが示される。エッジ位置特定ビデオツールのROI内に配置されたエッジ要素を表す1つ又は複数のエッジ要素表現ウィンドウが表示される。一実施形態では、パラメータ組み合わせインジケータの現在の配置により示されるエッジ検出パラメータの組み合わせにより検出可能なエッジ要素は、1つ又は複数のエッジ要素表現ウィンドウにおいて自動的に更新される。本明細書において使用されるウィンドウという用語が、従来既知のタイプのユーザインタフェースウィンドウを含むとともに、より一般的に、全体表示エリアよりも小さく作られた表示要素を含み得、及び/又は時によって隠し得(例えば、ユーザによりサイズ変更され、及び/又は配置換えされ、及び/又は隠される)、特定のクラスの情報及び/又は特定のクラスの情報に関連するメニュー又は選択にフォーカスし得る等の1つ又は複数のユーザインタフェース機能を含み得るユーザインタフェースの非従来的な要素も指すことを理解されたい。したがって、本明細書において示される特定の形態のウィンドウは単なる例示であり、限定ではない。例えば、いくつかの実施形態では、「ウィンドウ」は、明確に画定された制限境界等を有さないこともあり、ハイパーリンクのような挙動を有し得、別個及び/又は隔離された表示要素に出現し得る等である。
そのような可視表示は、エッジ検出パラメータTH及びTHSの変化が、別個に、及び組み合わせでエッジ特定にどのように影響するかを理解するに当たりユーザを支援し、アルゴリズムがどのように機能しているかのリアルタイムの表示を提供する。図6に示される場合、検出エッジ点DEPは、現在のパラメータがエッジDE1とDE3とを確実には区別しきれないことを明確に即座に示す。
12 画像測定機
14 制御コンピュータシステム
16 ディスプレイ
18 プリンタ
20 ワークピース
22 ジョイスティック
24 キーボード
26 マウス
32 可動式ワークピースステージ
34 光学撮像システム
120 制御システム部
125 コントローラ
130 入出力インタフェース
131 撮像制御インタフェース
132 運動制御インタフェース
132a 位置制御要素
132b 速度、加速度制御要素
133 照明制御インタフェース
133a〜133n、133fl 照明制御要素
134 レンズ制御インタフェース
136 表示装置
138 入力装置
140 メモリ
140ed エッジ検出メモリ部
141 画像ファイルメモリ部
142 ワークピースプログラムメモリ部
143、143a、143n ビデオツール部
143el エッジ位置特定ツール
143ps パラメータ設定部
143rol 関心領域生成器
170 ワークピースプログラム生成器・実行器
190 電源部
200 ビジョン構成要素部
205 光学アセンブリ部
210 ワークピースステージ
212 中央透明部
220 透過照明光源
221、231、241、281 信号線
222、232、242 光源光
230、230’ 落射照明光源
240 斜め照明光源
250 交換式対物レンズ
255 ワークピース光
260 カメラ系
262、296 信号線
280 ターレットレンズアセンブリ
284 軸
286、288 レンズ
290 ミラー
294 制御可能なモータ
300、600 ユーザインタフェース表示
310 視野ウィンドウ
320、340 選択バー
350 照明制御ウィンドウ
352 ボックスツールGUIウィジェット
355 関心領域インジケータ
360 エッジ検出パラメータウィンドウ
362 走査線輝度ウィンドウ
363 TH線
364 走査線輝度勾配ウィンドウ
365 THS線
370 多次元パラメータ空間表現
372 二次元グラフ
382 THテキストボックス
384 THSテキストボックス
Claims (18)
- マシンビジョン検査システムユーザインタフェースにおいてエッジ位置特定パラメータを定義する方法であって、
エッジ位置特定ビデオツールの関心領域(ROI)の複数のエッジ検出パラメータを定義すること、
前記複数のエッジ検出パラメータの可能な組み合わせの多次元パラメータ空間表現を表示すること、
位置に基づいて前記複数のエッジ検出パラメータのうちの少なくとも2つの組み合わせを示す、前記多次元パラメータ空間表現内に配置されたパラメータ組み合わせインジケータを表示すること、及び
前記エッジ位置特定ビデオツールの前記ROIに配置されたエッジ要素を表す少なくとも1つのエッジ要素表現ウィンドウを表示することであって、前記少なくとも1つのエッジ要素表現ウィンドウは、ユーザにより変更された前記パラメータ組み合わせインジケータの前記配置に応答し、それにより、前記パラメータ組み合わせインジケータの現在の配置により示されるエッジ検出パラメータの前記組み合わせにより検出可能なエッジ要素を、前記少なくとも1つのエッジ要素表現ウィンドウにおいて自動的に更新表示すること、
を含む、方法。 - 前記多次元パラメータ空間表現は二次元格子を含み、各次元は、前記複数のエッジ検出パラメータのうちの1つに対応値を示す、請求項1に記載の方法。
- 前記少なくとも1つのエッジ要素表現ウィンドウは、前記エッジ位置特定ビデオツールの前記関心領域の走査線輝度の表現を含む、請求項1に記載の方法。
- 前記少なくとも1つのエッジ要素表現ウィンドウは、前記エッジ位置特定ビデオツールの前記関心領域の走査線輝度勾配の表現を含む、請求項1に記載の方法。
- 前記少なくとも1つのエッジ要素表現ウィンドウは、前記マシンビジョン検査システムの視野の画像と、前記視野の前記画像に重ねられる前記パラメータ組み合わせインジケータの現在の配置により示されるパラメータの組み合わせにより検出可能な前記エッジ要素の表現と、を含む、請求項1に記載の方法。
- 前記パラメータ組み合わせインジケータの前記現在の配置により示されるパラメータの前記組み合わせにより検出可能な前記エッジ要素の前記表現は、前記視野の前記画像に重ねられた、前記ROIにわたる複数の走査線に対応する複数の検出可能エッジ点を含む、請求項5に記載の方法。
- 第2のエッジ要素表現ウィンドウをさらに含み、前記第2のエッジ要素表現ウィンドウは、前記エッジ位置特定ビデオツールの前記関心領域の走査線輝度及び走査線輝度勾配のうちの少なくとも一方の表現を含む、請求項5に記載の方法。
- 前記少なくとも1つのエッジ要素表現ウィンドウ及び前記多次元パラメータ空間表現は、前記少なくとも1つのエッジ要素表現ウィンドウでの調整又は選択が、前記多次元パラメータ空間表現での対応する表示になるように同期される、請求項1に記載の方法。
- 前記少なくとも1つのエッジ要素表現ウィンドウでの調整又は選択は、閾値レベルの調整又は選択を含み、前記多次元パラメータ空間表現での対応する表示は、前記調整又は選択された閾値レベルに対応する位置への前記パラメータ組み合わせインジケータの移動を含む、請求項8に記載の方法。
- 前記ユーザインタフェースの前記少なくとも1つのエッジ要素表現ウィンドウ及び検出可能なエッジ番号選択要素は、前記少なくとも1つのエッジ要素表現ウィンドウでの検出可能なエッジ選択が、前記エッジ位置特定ビデオツールの走査線方向に沿った前記検出可能なエッジの数の対応する選択に繋がるように同期する、請求項8に記載の方法。
- エッジパラメータを定義するシステムであって、
プログラム命令を記憶するメモリと、
前記プログラム命令を実行して、動作を実行するように構成されたプロセッサと、
を含み、前記動作は、
エッジ位置特定ビデオツールの関心領域(ROI)の複数のエッジ検出パラメータを決定すること、
前記複数のエッジ検出パラメータの可能な組み合わせの多次元パラメータ空間表現を表示すること、
位置に基づいて前記複数のエッジ検出パラメータのうちの少なくとも2つの組み合わせを示す、前記多次元パラメータ空間表現内に配置されたパラメータ組み合わせインジケータを表示すること、及び
前記エッジ位置特定ビデオツールの前記ROIに配置されたエッジ要素を表す少なくとも1つのエッジ要素表現ウィンドウを表示することであって、前記少なくとも1つのエッジ要素表現ウィンドウは、ユーザにより変更された前記パラメータ組み合わせインジケータの前記構成に応答し、それにより、前記パラメータ組み合わせインジケータの現在の配置により示されるエッジ検出パラメータの前記組み合わせにより検出可能なエッジ要素を、前記少なくとも1つのエッジ要素表現ウィンドウにおいて自動的に更新表示すること、
を含む、システム。 - 前記多次元パラメータ空間表現は二次元格子を含み、各次元は、前記複数のエッジ検出パラメータのうちの1つに対応する値を示す、請求項11に記載のシステム。
- 前記少なくとも1つのエッジ要素表現ウィンドウは、前記エッジ位置特定ビデオツールの前記関心領域の走査線輝度又は走査線輝度勾配のうちの少なくとも一方の表現を含む、請求項11に記載のシステム。
- 前記少なくとも1つのエッジ要素表現ウィンドウは、前記マシンビジョン検査システムの視野の画像と、前記視野の前記画像に重ねられる前記パラメータ組み合わせインジケータの現在の配置により示されるパラメータの組み合わせにより検出可能な前記エッジ要素の表現と、を含む、請求項11に記載のシステム。
- 命令が記憶されたコンピュータ可読記憶媒体であって、前記命令は、プロセッサにより実行可能であり、動作を実行し、前記動作は、
エッジ位置特定ビデオツールの関心領域(ROI)の複数のエッジ検出パラメータを決定すること、
前記複数のエッジ検出パラメータの可能な組み合わせの多次元パラメータ空間表現を表示すること、
位置に基づいて前記複数のエッジ検出パラメータのうちの少なくとも2つの組み合わせを示す、前記多次元パラメータ空間表現内に配置されたパラメータ組み合わせインジケータを表示すること、及び
前記エッジ位置特定ビデオツールの前記ROIに配置されたエッジ要素を表す少なくとも1つのエッジ要素表現ウィンドウを表示することであって、前記少なくとも1つのエッジ要素表現ウィンドウは、ユーザにより変更された前記パラメータ組み合わせインジケータの前記構成に応答し、それにより、前記パラメータ組み合わせインジケータの現在の構成により示されるエッジ検出パラメータの前記組み合わせにより検出可能なエッジ要素を、前記少なくとも1つのエッジ要素表現ウィンドウにおいて自動的に更新表示すること、
を含む、コンピュータ可読記憶媒体。 - 前記多次元パラメータ空間表現は二次元格子を含み、各次元は、前記複数のエッジ検出パラメータのうちの1つに対応する可能な値を示す、請求項15に記載のコンピュータ可読記憶媒体。
- 前記少なくとも1つのエッジ要素表現ウィンドウは、前記エッジ位置特定ビデオツールの前記関心領域の走査線輝度又は走査線輝度勾配のうちの少なくとも一方の表現を含む、請求項15に記載のコンピュータ可読記憶媒体。
- 前記少なくとも1つのエッジ要素表現ウィンドウは、前記マシンビジョン検査システムの視野の画像と、前記視野の前記画像に重ねられる前記パラメータ組み合わせインジケータの現在の配置により示されるパラメータの組み合わせにより検出される前記エッジ要素の表現と、を含む、請求項15に記載のコンピュータ可読記憶媒体。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US13/669,333 | 2012-11-05 | ||
US13/669,333 US8689127B1 (en) | 2012-11-05 | 2012-11-05 | Edge measurement video tool parameter-setting user interface |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014093785A true JP2014093785A (ja) | 2014-05-19 |
JP6293453B2 JP6293453B2 (ja) | 2018-03-14 |
Family
ID=50349029
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013229306A Active JP6293453B2 (ja) | 2012-11-05 | 2013-11-05 | エッジ測定ビデオツールパラメータ設定ユーザインタフェース |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8689127B1 (ja) |
JP (1) | JP6293453B2 (ja) |
CN (1) | CN103808259B (ja) |
DE (1) | DE102013217347B4 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9235337B2 (en) * | 2013-05-09 | 2016-01-12 | Mitutoyo Corporation | System, GUI and method for editing step and repeat operation instructions in a machine vision inspection system |
CN104296665A (zh) * | 2014-09-28 | 2015-01-21 | 苏州镭络视觉技术有限公司 | 一种基于机器视觉的工件尺寸测量方法及系统 |
DE102017103951A1 (de) * | 2017-02-24 | 2018-08-30 | Volume Graphics Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Mehrfachkantenerkennung |
EP4285079A1 (en) | 2021-02-11 | 2023-12-06 | Quality Vision International Inc. | Virtual zoom lens |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003108996A (ja) * | 2001-09-28 | 2003-04-11 | Keyence Corp | 画像処理装置および画像処理方法、画像処理プログラムならびにコンピュータで読み取り可能な記憶媒体 |
JP2004047939A (ja) * | 2002-05-23 | 2004-02-12 | Hitachi High-Technologies Corp | 欠陥分類器の生成方法および欠陥自動分類方法 |
JP2008112449A (ja) * | 2006-10-27 | 2008-05-15 | Mitsutoyo Corp | 画像検査システム、グラフィックユーザインターフェースおよび円弧ツール |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
IL131282A (en) | 1999-08-05 | 2009-02-11 | Orbotech Ltd | Apparatus and methods for inspection of objects |
US6542180B1 (en) | 2000-01-07 | 2003-04-01 | Mitutoyo Corporation | Systems and methods for adjusting lighting of a part based on a plurality of selected regions of an image of the part |
US6748110B1 (en) * | 2000-11-09 | 2004-06-08 | Cognex Technology And Investment | Object and object feature detector system and method |
WO2003019523A1 (en) * | 2001-08-23 | 2003-03-06 | Fei Company | Graphical automated machine control and metrology |
US20070282480A1 (en) * | 2003-11-10 | 2007-12-06 | Pannese Patrick D | Methods and systems for controlling a semiconductor fabrication process |
US7324682B2 (en) | 2004-03-25 | 2008-01-29 | Mitutoyo Corporation | System and method for excluding extraneous features from inspection operations performed by a machine vision inspection system |
US8127247B2 (en) * | 2004-06-09 | 2012-02-28 | Cognex Corporation | Human-machine-interface and method for manipulating data in a machine vision system |
US20050276445A1 (en) * | 2004-06-09 | 2005-12-15 | Silver William M | Method and apparatus for automatic visual detection, recording, and retrieval of events |
JP2006106976A (ja) | 2004-10-01 | 2006-04-20 | Canon Inc | 画像処理装置、画像処理方法及びプログラム |
US7454053B2 (en) * | 2004-10-29 | 2008-11-18 | Mitutoyo Corporation | System and method for automatically recovering video tools in a vision system |
US8311311B2 (en) * | 2005-10-31 | 2012-11-13 | Mitutoyo Corporation | Optical aberration correction for machine vision inspection systems |
US7567713B2 (en) * | 2006-02-08 | 2009-07-28 | Mitutoyo Corporation | Method utilizing intensity interpolation for measuring edge locations in a high precision machine vision inspection system |
US7468731B2 (en) * | 2006-04-11 | 2008-12-23 | Invensys Systems, Inc. | Automatic resizing of moved attribute elements on a graphical representation of a control object |
US20090171606A1 (en) * | 2007-12-31 | 2009-07-02 | Takahiro Murata | Semiconductor manufacture performance analysis |
US20120150029A1 (en) * | 2008-12-19 | 2012-06-14 | University Of Miami | System and Method for Detection and Monitoring of Ocular Diseases and Disorders using Optical Coherence Tomography |
US8111938B2 (en) | 2008-12-23 | 2012-02-07 | Mitutoyo Corporation | System and method for fast approximate focus |
US8111905B2 (en) | 2009-10-29 | 2012-02-07 | Mitutoyo Corporation | Autofocus video tool and method for precise dimensional inspection |
US8271895B2 (en) * | 2010-03-22 | 2012-09-18 | Mitutoyo Corporation | GUI for programming step and repeat operations in a machine vision inspection system |
US8280172B1 (en) * | 2011-03-22 | 2012-10-02 | Mitutoyo Corporation | Edge location measurement correction for coaxial light images |
-
2012
- 2012-11-05 US US13/669,333 patent/US8689127B1/en active Active
-
2013
- 2013-08-30 DE DE102013217347.4A patent/DE102013217347B4/de active Active
- 2013-11-05 CN CN201310541404.7A patent/CN103808259B/zh active Active
- 2013-11-05 JP JP2013229306A patent/JP6293453B2/ja active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003108996A (ja) * | 2001-09-28 | 2003-04-11 | Keyence Corp | 画像処理装置および画像処理方法、画像処理プログラムならびにコンピュータで読み取り可能な記憶媒体 |
JP2004047939A (ja) * | 2002-05-23 | 2004-02-12 | Hitachi High-Technologies Corp | 欠陥分類器の生成方法および欠陥自動分類方法 |
JP2008112449A (ja) * | 2006-10-27 | 2008-05-15 | Mitsutoyo Corp | 画像検査システム、グラフィックユーザインターフェースおよび円弧ツール |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN103808259A (zh) | 2014-05-21 |
CN103808259B (zh) | 2017-05-10 |
JP6293453B2 (ja) | 2018-03-14 |
DE102013217347B4 (de) | 2020-07-09 |
DE102013217347A1 (de) | 2014-05-08 |
US8689127B1 (en) | 2014-04-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6243705B2 (ja) | 自動パラメータ設定選択肢を含むエッジ測定ビデオツール及びインタフェース | |
US7394926B2 (en) | Magnified machine vision user interface | |
JP4933785B2 (ja) | 画像検査システムのビデオツール制御方法 | |
JP6355411B2 (ja) | エッジ検出方法 | |
JP6469368B2 (ja) | マシンビジョン検査システム及び高速合焦高さ測定動作を実行する方法 | |
JP6322456B2 (ja) | エッジ分解能強化に利用されるオフセットを有する画像を取得するシステム及び方法 | |
JP6239232B2 (ja) | 高性能エッジフォーカスツール | |
JP4950837B2 (ja) | 画像検査システムおよび画像検査方法 | |
JP4738925B2 (ja) | 画像検査方法および画像検査装置 | |
JP6282508B2 (ja) | 凸凹表面のエッジに向けて強化されたエッジ検出ツール | |
JP5972563B2 (ja) | 構造化照明を用いるエッジ検出 | |
JP6001305B2 (ja) | マシンビジョンシステムにおける潜在的な干渉要素の検査 | |
JP6071452B2 (ja) | マシンビジョンシステムのパートプログラム編集環境内で編集初期化ブロックを利用するシステム及び方法 | |
US7583852B2 (en) | Method of filtering an image for high precision machine vision metrology | |
US20130027538A1 (en) | Multi-region focus navigation interface | |
JPWO2018034057A1 (ja) | 欠陥検査装置、欠陥検査方法、およびプログラム | |
JP6293453B2 (ja) | エッジ測定ビデオツールパラメータ設定ユーザインタフェース | |
EP3839599A1 (en) | Metrology system with transparent workpiece surface mode |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20161007 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20170612 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20170630 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170823 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20180202 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20180214 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6293453 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |