JP2014093754A - 撮像素子、撮像方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】照度をより正確に算出できるようにする。
【解決手段】複数の露光時間を制御する露光制御部と、露光時間で得られる複数のデータのうちの少なくとも1つのデータを用いて、飽和しているか否かを判定する判定部と、判定部により飽和していると判定された場合、判定に用いたデータとは異なるデータを用いて照度を算出する照度算出部とを備える。判定部は、例えば、データの平均値がしきい値以上である場合、飽和していると判定する。本技術は、CMOSなどの撮像素子に適用できる。
【選択図】図1

Description

本技術は、撮像素子、撮像方法に関する。詳しくは、より精度良く照度を算出できるようにする撮像素子、撮像方法に関する。
近年、携帯電話機やデジタルカメラなどは、小型化や高機能化が進んでいる。高機能化が進むことにより、消費電力が増大してきているため、低消費電力化への対応がとられ、小型化が進むことにより、バッテリーの小型化などによる対応がとられている。携帯電話機などにおいては、LCDやキーライトの明るさについては、暗い場所でも見やすくなるように高輝度に設計されているが、高輝度化を図ると消費電力を増加させることとなる。このため、照度センサを搭載し、これによる照度データを基に、LCDやキーライトの輝度を調整し、輝度を最適化することで消費電力の低減が図られている。
しかしながら、そのためには、端末に照度センサを搭載する必要がある。照度センサを搭載する場所は、照度測定に適した場所でなければならないため実装上の制約が大きく、受光するためのスクリーンの設計も必要となるため、実装上だけでなくデザイン上でも制約となる。照度センサの機能とカメラモジュールの機能とを省スペースで実装することを目的とした従来技術としては、特許文献1乃至3に開示される携帯電話機がある。
特開2003−110681号公報 特開2008−042846号公報 特開2002−300447号公報
特許文献1乃至3に記載の発明のように、カメラモジュールのデータから照度を検出することも可能ではある。しかしながら、単一露光時間での照度検出では、例えば、飽和している状態でも照度算出が行われてしまい、精度良い照度算出が行えない可能性がある。
本技術は、このような状況に鑑みてなされたものであり、より精度良く照度検出ができるようにするものである。
本技術の一側面の撮像素子は、複数の露光時間を制御する露光制御部と、前記露光時間で得られる複数のデータのうちの少なくとも1つのデータを用いて、飽和しているか否かを判定する判定部と、前記判定部により飽和していると判定された場合、前記判定に用いたデータとは異なるデータを用いて照度を算出する照度算出部とを備える。
前記判定部は、前記データの平均値を算出し、前記平均値としきい値との比較結果により、飽和しているか否かを判定するようにすることができる。
前記判定部は、第1の露光時間で得られるデータの平均値を算出し、前記平均値が、しきい値以上である場合、飽和していると判定し、前記照度算出部は、前記判定部により飽和していると判定された場合、前記第1の露光時間より短い第2の露光時間で得られるデータを取得し、照度を算出するようにすることができる。
前記データと第1のしきい値を比較する比較部と、前記比較部からの比較結果のうち、所定の条件を満たす比較結果をカウントするカウント部とをさらに備え、前記判定部は、前記カウント部によるカウント値と第2のしきい値との比較結果により、飽和しているか否かを判定するようにすることができる。
第1の露光時間で得られる前記データと第1のしきい値を比較する比較部と、前記比較部からの比較結果のうち、前記データが前記第1のしきい値以上である比較結果をカウントするカウント部とをさらに備え、前記判定部は、前記カウント部によるカウント値が、第2のしきい値以上である場合、飽和していると判定し、前記照度算出部は、前記判定部により飽和していると判定された場合、前記第1の露光時間より短い第2の露光時間で得られるデータを取得し、照度を算出するようにすることができる。
前記データと第1のしきい値を比較する比較部と、前記比較部からの比較結果として、前記データと前記第1のしきい値との比較結果を表すコードを出力する出力部と、前記出力部からの前記コードのうち、所定の条件を満たすコードをカウントするカウント部とをさらに備え、前記判定部は、前記カウント部によるカウント値と第2のしきい値との比較結果により、飽和しているか否かを判定するようにすることができる。
第1の露光時間で得られる前記データと第1のしきい値を比較する比較部と、前記比較部からの比較結果が、前記データが前記第1のしきい値以上であるか否かを表すコードを出力する出力部と、前記出力部からの前記コードのうち、前記データが前記第1のしきい値以上であることを表すコードをカウントするカウント部とをさらに備え、前記判定部は、前記カウント部によるカウント値が、第2のしきい値以上である場合、飽和していると判定し、前記照度算出部は、前記判定部により飽和していると判定された場合、前記第1の露光時間より短い第2の露光時間で得られるデータを取得し、照度を算出するようにすることができる。
本技術の一側面の撮像方法は、露光制御部、判定部、照度算出部を備える撮像素子の撮像方法において、前記露光制御部が、複数の露光時間を制御し、前記判定部が、前記露光時間で得られる複数のデータのうちの少なくとも1つのデータを用いて、飽和しているか否かを判定し、前記照度算出部が、前記判定部により飽和していると判定された場合、前記判定に用いたデータとは異なるデータを用いて照度を算出するステップを含む。
本技術の一側面の撮像装置、撮像方法においては、複数の露光時間が制御され、複数の露光時間で得られる複数のデータのうちの少なくとも1つのデータが用いられて、飽和しているか否かが判定され、飽和していると判定された場合、判定に用いられたデータとは異なるデータが用いられて照度が算出される。
本技術の一側面によれば、より精度良い照度検出が可能となる。
本技術を適用した固体撮像素子の一実施の形態の構成を示す図である。 ADCの動作について説明するためのタイミングチャートである。 照度算出に係わる判定処理について説明するためのフローチャートである。 飽和について説明するための図である。 固体撮像素子の他の実施の形態の構成を示す図である。 照度算出に係わる他の判定処理について説明するためのフローチャートである。 照度算出に係わる判定処理について説明するための図である。 飽和について説明するための図である。 固体撮像素子の他の実施の形態の構成を示す図である。 固体撮像素子の他の実施の形態の構成を示す図である。 照度算出に係わる他の判定処理について説明するためのフローチャートである。 照度算出に係わる判定処理について説明するための図である。 固体撮像素子の他の実施の形態の構成を示す図である。 裏面照射型の固体撮像素子の構成を示す図である。 撮像装置の構成を示す図である。 記録媒体について説明するための図である。
以下に、本技術を実施するための形態(以下、実施の形態という)について説明する。なお、説明は、以下の順序で行う。
1.第1の実施の形態
2.第2の実施の形態
3.第3の実施の形態
4.第4の実施の形態
5.裏面照射型への適用
6.撮像装置の構成について
7.記録媒体について
<第1の実施の形態>
図1は、本技術を適用した実施の形態における固体撮像素子100の構成を示す図である。図1に示した固体撮像素子100は、列並列ADC搭載固体撮像素子(CMOSイメージセンサ)の構成例を示すブロック図である。
図1に示した固体撮像素子100は、画素部101、ADC102、水平転送走査回路103、デジタル−アナログ変換装置(DAC)104、垂直走査回路105、演算制御部106、出力制御回路107、および出力制御回路108から構成されている。
画素部101は、フォトダイオード(光電変換素子)と画素内アンプとを含む単位画素121がマトリクス状(行列状)に配置されて構成される。また画素部101は、行列状の画素配列に対して行毎に画素駆動線(不図示)が図の左右方向(画素行の画素の配列方向)に沿って形成され、列ごとに垂直信号線122−1乃至122−Nが図の上下方向(画素列の画素の配列方向)に沿って形成されている。なお、以下の説明において、垂直信号線122−1乃至122−Nを個々に区別する必要がない場合、単に垂直信号線122と記述する。他の部分も同様の記載を行う。
垂直走査回路105は、シフトレジスタやアドレスデコーダなどによって構成され、画素部101の各画素を、全画素同時あるいは行単位等で駆動する画素駆動部である。この垂直走査回路105は、その具体的な構成については図示を省略するが、読み出し走査系と、掃き出し走査系あるいは、一括掃き出し、一括転送を有する構成となっている。
垂直走査回路105によって選択走査された画素行の各単位画素から出力される画素信号は、垂直信号線122−1乃至122−Nの各々を通してADC102−1乃至102−Nに供給される。ADC102は、画素部101の画素列ごとに、選択行の各単位画素から垂直信号線122を通して出力される画素信号に対して所定の信号処理を行い、水平転送走査回路103に供給される。ADC105における処理については、図2を参照して後述する。
水平転送走査回路103は、シフトレジスタやアドレスデコーダなどによって構成され、ADC102−1乃至102−Nの画素列に対応する単位回路を順番に選択する。この水平転送走査回路103による選択走査により、ADC102で信号処理された画素信号が順番に演算制御部106に出力される。
ここで、図2を参照し、ADC102における処理について説明する。ADC102は、比較器141とカウンタ142から構成される。図2は、ADC102のタイミングチャートである。図1に示したADC102においては、比較器141でDAC104から参照電圧Vrampのスイープが開始されると同時に、カウンタ142のカウント動作が開始される。参照電圧Vrampが入力電圧VSLを下回った際に、比較器141の出力信号VCOがハイレベルからローレベルに反転する。この立ち下りエッジでカウンタ142のカウント動作が停止される。カウント値VCNTは参照電圧Vrampがスイープした電圧幅と1対1の関係であり、このカウント値VCNTが入力電圧をアナログデジタル(AD)変換した結果となる。
ADC102からのデータは、水平転送走査回路103の処理により、演算制御部106に供給される。演算制御部106は、画像信号処理部161、データ選択部162、照度算出部163、判定部164、および露光制御部165を含む構成とされている。画像信号処理部161は、水平転送走査回路103からのデータを処理し、画像信号を生成し、出力制御回路108に出力する。水平転送走査回路103からのデータは、データ選択部162と判定部164にも供給される。
データ選択部162は、判定部164による判定の結果に応じたデータを選択し、照度算出部163に出力する。判定部164は、長蓄積データを選択するか、短蓄積データを選択するかを判定し、その判定結果を、データ選択部162と露光制御部165に出力する。長蓄積データは、第1の露光時間に対応した第1のデジタル電気信号出力であり、短蓄積データは、第2の露光時間に対応した第2のデジタル電気信号出力である。第1の露光時間は、第2の露光時間より長い時間とされている。
長蓄積データは、長時間露光されたときに得られるデータであり、短蓄積データは、短時間露光されたときに得られるデータである。第1の露光時間と第2の露光時間は、固定された時間であっても良いし、所定の条件において可変とされる時間であっても良い。
判定部164は、供給される長蓄積データと短蓄積データから、所定の演算にてデータを生成し、そのデータに基づいて、飽和している状態か否かを判断し、飽和していないと判断される露光時間を判定結果として出力する。飽和していないと判定された露光時間に対応するデータが、データ選択部162において選択され、照度算出部163に出力される。照度算出部163は、データ選択部162において選択された長蓄積データまたは短蓄積データを用いて照度を算出し、出力制御回路107に出力する。
照度は、以下の式(1)に基づき算出される。
照度=(長蓄積データまたは短蓄積データ[LSB]×1LSB電圧値[mV/LSB])
/(感度[mv/(lux・s)]×長蓄積時間または短蓄積時間[s])
・・・(1)
式(1)において、“長蓄積データまたは短蓄積データ”の部分は、選択されたデータが用いられ、“長蓄積時間または短蓄積時間”の部分は、選択されたデータに対応する蓄積時間(露光時間)が用いられる。
判定部164による判定結果は、露光制御部165にも供給され、露光の制御、例えば、短時間露光にするか、長時間露光にするかの制御に用いられる。露光制御部165は、垂直走査回路105を制御し、垂直方向での読み出しタイミングを制御する。
第1の実施の形態として、判定部164による判定が、供給された長蓄積データまたは短蓄積データの平均値を算出することで行われる形態を例に挙げて説明する。図3は、照度の算出に係わる処理について説明するためのフローチャートである。
ステップS101において、判定部164は、長蓄積データを取得する。この長蓄積データは、各単位画素121において、第1の露光時間だけ露光された間に蓄積された電荷量に関するデータである。画素部101を構成する全ての単位画素121から電荷量に関するデータが取得されるようにしても良いが、間引いた状態で取得されるようにしても良い。
例えば、全画素行ではなく、間引いた画素行で垂直走査され、走査された画素行から、列毎の垂直信号線122に、入射光量に応じた出力がされるようにしても良い。間引いた画素行で垂直走査されることで、消費電力の低減や、平均値を出すために一旦データを記憶するためのバッファの容量を小さくすることが可能となる。また、扱うデータ量が少なくなることで、処理能力の低減をはかることが可能となる。
このような間引いたデータを取得する場合、照度を算出するためのデータ取得時には、そのような読み出しが行われるように、露光制御部165は、判定部164からの指示に基づき垂直走査回路105を制御する。判定部164は、照度算出時には、露光制御部165に指示を出す。このことにより、露光制御部165は、照度算出時の読み出しの制御と、画像信号を取得するための読み出しの制御を切り替えることが可能となる。
ステップS102において、判定部164は、長蓄積データから平均値を算出する。このステップS102において算出された平均値が、飽和したときの値(しきい値)を超えていないか否かが判断されることで、長時間露光のときに、飽和状態でないか否かが判定される。
ステップS103において、判定部164により、飽和しているか否かの判定が行われる。ステップS103において、飽和していないと判定された場合、すなわち長時間露光で飽和していないと判定された場合、ステップS104に処理が進められる。ステップS104において、長蓄積データが選択される。
判定部164が、長蓄積データが選択されたことを、データ選択部162に通知すると、データ選択部162は、長蓄積データを選択し、照度算出部163に出力する。照度算出部163は、ステップS106において、データ選択部162において選択され、出力された長蓄積データを取得し、上記式(1)に基づき、照度を算出し、出力制御回路107に出力される。
一方、ステップS103において、飽和していると判定された場合、すなわち長時間露光だと飽和してしまうと判定された場合、ステップS105に処理が進められる。ステップS105において、短蓄積データが選択される。
判定部164が、短蓄積データが選択されたことを、データ選択部162に通知すると、データ選択部162は、短蓄積データを選択し、照度算出部163に出力する。データ選択部162に、長蓄積データが供給された後、短蓄積データが供給されるように構成されていた場合、長蓄積データに基づき、判定部164による判定が行われた間に、短蓄積データが取得され、その短蓄積データが選択されるように構成することができる。
照度算出部163は、ステップS106において、データ選択部162において選択され、出力された短蓄積データを取得し、上記式(1)に基づき、照度を算出し、出力制御回路107に出力される。
なおここでは、長蓄積データから平均値が求められ、長時間露光では飽和してしまうか否かが判定されるとして説明したが、短蓄積データから平均値が求められ、判定が行われるようにしても良い。短蓄積データから平均値が求められ、判定が行われるようにした場合、算出された平均値が、所定のしきい値よりも小さいか否かが判定される。
平均値が所定のしきい値より小さい場合、露光時間が短いと判定され、不十分な出力であるため、長時間露光での長蓄積データが選択される。一方で、平均値が所定のしきい値より大きい場合、露光時間が十分であると判定され、短時間露光での短蓄積データが選択される。このように、短蓄積データの平均値を用いた場合でも、露光時間が適切であるか否かの判定を行うことが可能であり、長蓄積データまたは短蓄積データの選択に係わる判定を行うことができる。
また、短蓄積データから平均値が求められ、判定が行われるようにした場合、データ選択部162には、短蓄積データが供給された後、長蓄積データが供給されるようにすれば、上記した場合と同じく、判定部164による短蓄積データに基づく判定が行われた後に、長蓄積データをデータ選択部162が取得できる構成とすることができる。
なおここでは、長蓄積データまたは短蓄積データから平均値が求められ、判定が行われるとして説明をしたが、長蓄積データと短蓄積データのそれぞれから平均値が求められ、判定が行われるように構成することも可能である。
例えば、長蓄積データから求められた平均値が所定の値以上であるために、長時間露光では飽和してしまうと判断され、短蓄積データから求められた平均値が所定の値以下であるために、短時間露光では露光時間が足りないと判断されるような状況にも対応することができる。このような状況のときには、長時間露光と短時間露光(第1の露光時間と第2の露光時間)との間の露光時間が用いられるようにするという制御が可能となり、より細かい照度制御が可能となる。
このように、長蓄積データまたは短蓄積データから平均値が求められ、飽和しているか否かの判定が行われるようにすることで、適切な照度を算出し、その照度に基づいた制御を行うことが可能となる。
ここでは、長蓄積データと短蓄積データの2つのデータが用いられる例を挙げて説明したが、複数のデータが用いられるように構成することも可能である。露光制御部165を、複数の露光時間を制御することが可能な構成とし、複数の露光時間のうちの1つの露光時間で制御されたときのデータが、判定部164により取得されるように構成する。
判定部164は、取得されたデータから平均値を算出し、そのデータが取得された露光時間では飽和してしまうか否かを判定する。その判定結果に応じて、例えば、飽和していると判定されたときには、異なるデータを用いて照度が算出されるように、データ選択部162がデータを選択し、照度算出部163に対して出力されるように構成する。
また、露光制御部165は、データ選択部162と照度算出部163が、異なるデータを用いて照度が算出できるように、露光時間を制御するように構成する。
このように、露光制御部165で、複数の露光時間が制御できるようにし、判定部164で、複数の露光時間から得られる複数のデータのうちの少なくとも1つのデータを用いて、飽和しているか否かが判定されるように構成することも可能である。また、飽和していると判定されるときには、飽和していないであろう他のデータ(判定に用いられたデータとは異なるデータ)が、データ選択部162により選択され、照度算出部163により選択されたデータから照度が算出されるように構成することも可能である。
上記した平均値を算出し、その平均値で飽和しているか否かの判定を行う場合、特定の条件下で飽和レベルを超えている画素があっても、長蓄積データが選択され、判定が行われる可能性がある。図4を参照し、特定の条件下で飽和レベルを超えている画素がある場合について説明する。
図4A乃至Cに示したグラフは、入力光分布に関するグラフである。図4A乃至Cにおいて、太線の直線の実線は飽和レベルを表し、細線の直線の実線はしきい値を表し、直線の点線は算出された平均値を表し、曲線の実線は、平均値が算出された基のデータである長蓄積データの分布を表す。
図4A乃至Cは、しきい値より平均値が小さい場合であるため、長蓄積データが照度算出のためのデータとして選択される。このような場合であり、図4Aに示したような長蓄積データの全てが、飽和レベルを下回っている場合、長蓄積データが選択され、長蓄積データから照度が算出されるのは正しい処理である。
図4Bに示したように、長蓄積データの一部が、飽和レベルを超えているような場合であっても、その飽和レベルを超えた部分以外の部分の値が低ければ、平均値としては、しきい値以下になることもある。例えば、画像内の一部分に光源があり、その光源は明るいが、その光源の周りは暗いような局所光源の画像の場合、図4Bに示したような状態になる可能性がある。
また、例えば、徐々に明るくなるようなグラデーションの画像の場合、図4Cに示したように、長蓄積データの一部が、飽和レベルを超えてしまう可能性がある。
図4Bに示した状態や図4Cに示した状態の場合であっても、平均値はしきい値以下であるため、長蓄積データが選択され、長蓄積データから照度が算出されてしまう。このような場合、照度算出の精度が低下してしまう。このような局所光源や、グラデーションなどが撮影されるときの照度を精度良く算出するために、平均値以外のデータを用いて判定を行う実施の形態を以下に説明する。
<第2の実施の形態>
図5は、第2の実施の形態における固体撮像素子200の構成を示す図である。図5に示した固体撮像素子200は、画素部101、ADC102、水平転送走査回路103、DAC104、垂直走査回路105、出力制御回路107、出力制御回路108、および演算制御部201から構成されている。
図5に示した固体撮像素子200は、図1に示した固体撮像素子100と比較し、演算制御部201の構成が、図1に示した演算制御部106と異なり、他の部分は同様である。図1に示した固体撮像素子100と同一の部分には同一の符号を付し、その説明は適宜省略する。
演算制御部201は、画像信号処理部202、データ選択部203、照度算出部204、飽和判定部205を含み、飽和判定部205は、スイッチ211、デジタルコンパレータ212、カウンタ213、判定部214を含む構成とされている。
演算制御部201のデータ選択部203と、スイッチ211を介してデジタルコンパレータ212には、水平転送走査回路103から、長蓄積データまたは短蓄積データが供給される。デジタルコンパレータ212には参照電圧Vrefが供給されており、この参照電圧Vrefと長蓄積データまたは短蓄積データが比較される。ここでは、長蓄積データが比較されるとして説明を続ける。
カウンタ213は、デジタルコンパレータ212から出力されるデータのうち、長蓄積データの方が、参照電圧Vrefよりも大きいと判定されたデータの数をカウントする。判定部214は、カウンタ213でカウントされた値が、しきい値以上であるか否かを判定する。例えば、判定部214におけるしきい値は、長蓄積データを取得する画素数の5%の数と設定される。
長蓄積データは、各単位画素121において、第1の露光時間だけ露光された間に蓄積された電荷量に関するデータとすることができる。また、全画素行ではなく、間引いた画素行で垂直走査され、走査された画素行から、列毎の垂直信号線122に、入射光量に応じた出力がされるようにしても良い。
間引いたデータを取得する場合、照度を算出するためのデータ取得時には、そのような読み出しが行われるように、露光制御部206は、判定部214からの指示に基づき垂直走査回路105を制御する。判定部214は、照度算出時には、露光制御部206に指示を出す。このことにより、露光制御部206は、照度算出時の読み出しの制御と、画像信号を取得するための読み出しの制御を切り替えることが可能となる。
図5では図示していないが、このような切り換えの指示を出すための信号線が、判定部214から露光制御部206に設けられる。または、露光制御部206に、図示していない制御部から、そのような切り替えの信号が供給されるようにしても良い。
図6のフローチャートを参照し、固体撮像素子200における照度の算出に係わる処理について説明する。ステップS201において、N=N+1に設定される。Nの初期値は0であり、処理すべき画素を特定するための値である。例えば、画素部101の左上に位置する画素から右下に位置する画素の順に番号が割り当てられ、その番号にNの値がなったとき、その番号が割り当てられた画素のデータが処理対象とされる。
ステップS202において、N個目の長蓄積データがしきい値以上であるか否かが判定される。デジタルコンパレータ212は、入力されたN個目の長蓄積データが、参照電圧Vref(しきい値)以上である場合、プラスの値を出力し、しきい値以下の場合、マイナスの値を出力する。カウンタ213は、デジタルコンパレータ212からの値が、プラスの場合、処理対象とされた長蓄積データは、しきい値以上である判定し、マイナスの場合、処理対象とされた長蓄積データは、しきい値以下であると判定する。
参照電圧Vrefは、飽和レベル値よりも小さい値であるが、その値を超えると飽和する可能性が高い値とされ、飽和している状態であるか否かの判定を行う際のしきい値として用いられる。デジタルコンパレータ212で用いられるしきい値は、例えば、飽和レベルの90%の値として設定されている。このしきい値は、固定値であっても良いし、可変値であっても良い。なお、90%とは一例であり、限定を示すものではない。
ステップS202において、処理対象とされた長蓄積データは、しきい値以上であると判定された場合、ステップS203に処理が進められる。ステップS203において、カウンタ213は、カウンタ値を1だけ増加した値に更新する。
ステップS203の処理後、またはステップS202において、処理対象とされた長蓄積データは、しきい値以上ではない判定された場合、処理はステップS204に進められる。ステップS204において、Nが処理対象とされる画素数に達したか否かが判定される。ステップS204において、N=対象画素数ではないと判定された場合、ステップS201に処理が戻され、それ以降の処理が繰り返される。すなわち、次の画素が処理対象の画素に設定され、しきい値以上であるか否かの判定がなされる。
一方、ステップS204において、N=対象画素数であると判定された場合、ステップS205に処理が進められる。ステップS205において、判定部214により、カウンタ213でカウントされたカウント値は、しきい値以上であるか否かが判定される。判定部214におけるしきい値は、例えば、処理対象とされた画素数、換言すれば、ステップS204における処理で、N=対象画素数との判定が行われるときの対象画素数の5%の個数とされる。
なお、5%とは一例であり、限定を示すものではなく、単位画素121の特性などを考慮して、設定される。また、判定部214におけるしきい値は、固定値であっても良いし、可変値であっても良い。
ステップS205において、カウント値はしきい値以上ではないと判定された場合、ステップS206に処理が進められる。ステップS206において、長蓄積データが選択される。この場合、長時間露光で飽和していないと判定されたことになるので、ステップS206に処理が進められ、長蓄積データが選択される。
判定部214が、長蓄積データが選択されたことを、データ選択部203に通知すると、データ選択部203は、長蓄積データを選択し、照度算出部204に出力する。照度算出部204は、ステップS208において、データ選択部203において選択され、出力された長蓄積データを取得し、上記式(1)に基づき、照度を算出し、出力制御回路107に出力する。
一方、ステップS205において、カウント値はしきい値以上であると判定された場合、すなわち、長時間露光だと飽和してしまうと判定された場合、ステップS207に処理が進められる。ステップS207において、短蓄積データが選択される。
判定部214が、短蓄積データが選択されたことを、データ選択部203に通知すると、データ選択部203は、短蓄積データを選択し、照度算出部204に出力する。照度算出部204は、ステップS208において、データ選択部203において選択され、出力された短蓄積データを取得し、上記式(1)に基づき、照度を算出し、出力制御回路107に出力する。
なおここでは、長蓄積データとしきい値(第1のしきい値とする)が比較され、第1のしきい値以上の値を有するデータ数がカウントされ、そのカウント値がしきい値(第2のしきい値とする)以上であるか否かが判定されることで、長時間露光では飽和してしまうか否かが判定されるとして説明した。
しかしながら、長蓄積データではなく短蓄積データから判定が行われるようにしても良い。短蓄積データと第3のしきい値が比較されるようにした場合、短蓄積データが、第3のしきい値以下であるか否かが判定される。
短蓄積データが第3のしきい値以下であると判定され、カウントされたカウント値が、第4のしきい値以上である場合、露光時間が短いと判定され、不十分な出力であるため、長時間露光での長蓄積データが選択される。
一方で、カウント値が第4のしきい値以下である場合、露光時間が十分であると判定され、短時間露光での短蓄積データが選択される。このように、短蓄積データから得られるカウント値を用いた場合でも、露光時間が適切であるか否かの判定を行うことが可能であり、長蓄積データまたは短蓄積データの選択に係わる判定を行うことができる。
ここで、図7を参照し、再度、固体撮像素子200における照度の算出に係わる処理について説明する。時刻T1から時刻T2は、第1の露光時間(長蓄積時間)に相当し、その第1の露光時間で露光されたデータが、飽和判定部205(図5)により取得される。飽和判定部205では、ステップS201乃至S204の処理が繰り返されることで、デジタルコンパレータ212でしきい値を超えた値の個数がカウントされる。
時刻T2の時点で、判定部214により判定が行われる。この処理は、ステップS205における処理に該当する。時刻T2の時点で判定が行われた結果、長蓄積データが選択されるか、短蓄積データが選択されるかが決定される。時刻T3から時刻T4は、第2の露光時間(短蓄積時間)に相当し、その第2の露光時間で露光されたデータが、必要に応じて取得される。
判定部214による判定で、長蓄積データを選択すると判定されていた場合には、データ選択部203において、長蓄積データが選択される(ステップS206の処理に該当)。このときデータ選択部203において選択される長蓄積データは、時刻T1から時刻T2の第1の露光時間で得られた長蓄積データであっても良いし、時刻T5から時刻T6の第1の露光時間で得られた長蓄積データであっても良い。
一方、判定部214による判定で、短蓄積データを選択すると判定されていた場合には、データ選択部203において、短蓄積データが選択される(ステップS207の処理に該当)。このときデータ選択部203において選択される短蓄積データは、時刻T3から時刻T4の第2の露光時間で得られた短蓄積データである。
照度算出部204は、長蓄積データまたは短蓄積データから照度を算出し、出力する(ステップS208の処理に該当)。照度の出力は、例えば、時刻T6の時点で行われる。時刻T6の時点では、長蓄積データと短蓄積データの両方が取得されている状態であるため、長蓄積データと短蓄積データのどちらが選択されても、照度を算出することができる。
なお、長蓄積データが選択された場合、時刻T3から時刻T4の間で行われる短蓄積データの取得は、省略するようにしても良い。また、長蓄積データが選択された場合であり、時刻T1から時刻T2の間で取得された長蓄積データが照度算出のために用いられるようにした場合、時刻T2から時刻T3の間で照度が算出され、出力されるようにしても良い。
また、図7に示した例では、時刻T1から時刻T2までの第1の露光時間で取得される長蓄積データと、時刻T3から時刻T4までの第2の露光時間で取得される短蓄積データをペアとしたが、例えば、時刻T3から時刻T4までの第2の露光時間で取得される短蓄積データと、時刻T5から時刻T6までの第1の露光時間で取得される長蓄積データをペアとしても良い。
このように、第1のしきい値を超えた長蓄積データをカウントし、そのカウントされたカウント値が第2のしきい値を超えたか否かを判断することで、飽和状態であるか否かを判定することで、より精度良く照度を算出することができる。ここで、図8を参照し、飽和したデータを用いずに照度を算出することができることについて説明を加える。
図8A乃至Cは、図4A乃至Cに示したグラフと同じく、入力光分布に関するグラフである。図4A乃至Cと同じく、図8A乃至Cにおいて、太線の直線の実線は飽和レベルを表し、細線の直線の実線は第1のしきい値を表し、曲線の実線は、第1のしきい値と比較された長蓄積データの分布を表す。
図8A乃至Cにおいて、楕円を付した部分は、第1のしきい値を超えている。この第1のしきい値を超えているデータ数が、判定部214における第2のしきい値を超えていなければ、長蓄積データが選択され、超えていれば短蓄積データが選択される。第2のしきい値は、例えば、長蓄積データのデータ数の5%にあたる数とされる。
図4Bを参照して説明したように、局所光源がある画像を撮像しているような場合、画像内の一部分の画素が飽和状態となる可能性がある。このような局所光源があるような場合であっても、図8Bに示したように、第1のしきい値を超えるデータ数が、第2のしきい値以上であれば、長蓄積データは飽和していると判定され、照度算出には用いられないようにすることができる。よって、飽和レベルを超えるようなデータを用いて照度が算出されるようなことを防ぐことができる。
また図4Cを参照して説明したように、徐々に明るくなるようなグラデーションがかかった画像を撮像している場合も、画像内の一部分の画素が飽和状態となる可能性がある。このようなグラデーションがあるような場合であっても、図8Cに示したように、第1のしきい値を超えるデータ数が、第2のしきい値以上であれば、長蓄積データは飽和していると判定され、照度算出には用いられないようにすることができる。よって、飽和レベルを超えるようなデータを用いて照度が算出されるようなことを防ぐことができる。
このように、第1のしきい値を超えた長蓄積データをカウントし、そのカウントされたカウント値が第2のしきい値を超えたか否かを判断することで、飽和状態であるか否かを判定することで、より精度良く照度を算出することができる。また、第1のしきい値を超えた長蓄積データをカウントするために必要な構成は簡易な構成とすることができ、低消費電力を実現できる。
なおここでは、長蓄積データと短蓄積データの2つのデータが用いられる例を挙げて説明したが、複数のデータが用いられるように構成することも可能である。露光制御部206を、複数の露光時間を制御することが可能な構成とし、複数の露光時間のうちの1つの露光時間で制御されたときのデータが、デジタルコンパレータ212により取得されるように構成する。
デジタルコンパレータ212からの比較結果は、カウンタ213に供給され、上記した場合と同じく、所定の条件、例えば、しきい値以上であるとの条件を満たすデータ数がカウントされる。そのカウント値に基づき、判定部214は、そのデータが取得された露光時間では飽和してしまうか否かを判定する。その判定結果に応じて、例えば、飽和していると判定されたときには、異なるデータを用いて照度が算出されるように、データ選択部203がデータを選択し、照度算出部204に対して出力されるように構成する。
このように、露光制御部206で、複数の露光時間が制御できるようにし、判定部214で、複数の露光時間から得られる複数のデータのうちの少なくとも1つのデータを用いて、飽和しているか否かが判定されるように構成することも可能である。また、飽和していると判定されるときには、飽和していないであろう他のデータ(判定に用いられたデータとは異なるデータ)が、データ選択部203により選択され、照度算出部204により選択されたデータから照度が算出されるように構成することも可能である。
<第3の実施の形態>
図9は、第3の実施の形態における固体撮像素子300の構成を示す図である。図5に示した固体撮像素子300は、画素部101、水平転送走査回路103、垂直走査回路105、出力制御回路107、出力制御回路108、DAC310、カウンタ制御部320、ADC330、および演算制御部340から構成されている。
図9に示した固体撮像素子300は、図1に示した固体撮像素子100と比較し、画素部101、水平転送走査回路103、垂直走査回路105、出力制御回路107、出力制御回路108の構成は同じであるため、固体撮像素子100と同一の部分には同一の符号を付し、その説明は適宜省略する。
DAC310は、Vslop311、Vcons312、およびスイッチ313を備える。カウンタ制御部320は、10bit count321、1bit count322、およびスイッチ323を備える。ADC330は、比較器331とカウンタ332を備える。
固体撮像素子300の出力制御回路108から画像信号を出力する場合、図10に示すように、DAC301のスイッチ313は、Vslop311側に接続される。また、図10に示すように、カウント制御部320のスイッチ323は、10bit count321側に接続される。
画像信号が生成されるときには、DAC310のVslop311から、図2を参照して説明した参照電圧Vrampの信号が生成され、ADC330−1乃至330−Nの比較器331−1乃至331−Nのそれぞれに供給される。また、ADC330−1乃至330−Nのカウンタ332−1乃至332−Nのそれぞれには、カウンタ制御部320の10bit count321から、10bitでの出力をするように指示する制御信号が供給される。
一方で、固体撮像素子300の出力制御回路107から照度信号を出力する場合、図9に示すように、DAC301のスイッチ313は、Vcons312側に接続される。また、図9に示すように、カウント制御部320のスイッチ323は、1bit count322側に接続される。
照度信号が生成されるときには、DAC310のVcons312から、定電圧Vconsが生成され、ADC330−1乃至330−Nの比較器331−1乃至331−Nのそれぞれに供給される。また、ADC330−1乃至330−Nのカウンタ332−1乃至332−Nのそれぞれには、カウンタ制御部320の1bit count322から、1bitでの出力をするように指示する制御信号が供給される。
以下の説明は、照度信号の生成に係わるため、図9に示した固体撮像素子300のブロック図を参照しながら説明を続ける。また、ここでは、第1の露光時間(長蓄積)のときに、照度算出のための長蓄積データが取得され、図9に示したような状態にスイッチ313、スイッチ323がそれぞれ接続されるとして説明を続ける。
第1の露光時間(長蓄積)のときのADC330の動作は、比較器(コンパレータ)331の一方に、DAC310のVcons312からの定電圧Vconsが入力され、他方に垂直信号線122を介した単位画素121からの入力電圧Vslが入力される。定電圧Vconsは、参照電圧として用いられ、この参照電圧はしきい値として用いられる。また、この参照電圧は、図5に示した飽和判定部205のデジタルコンパレータ212の参照電圧Vref(デジタル)に相当するアナログ電圧である。
ADC330では、比較器331で参照電圧(低電圧Vcons)と入力電圧Vslとが比較され、比較器331の出力信号が反転したことをトリガとして、反転した比較器331の出力信号に応答して1bit count322で生成されたデジタルコード(例えば、参照電圧より大奇異場合1、小さい場合0)をカウンタ332(ラッチ部)へラッチする。
ラッチされたデジタルコードは、水平転送走査回路103により、列毎に演算制御部340に転送される。このDAC310、カウンタ制御部320、およびADC330の動作により第2の実施の形態のカウンタ213(図5)が得られるデジタルコンパレータ212からの出力に相当する出力が、水平転送走査回路103からの出力で得られる。
このような構成となることで、演算制御部340では、デジタルコンパレータ212を備えない構成とすることができ、図9に示したような構成となる。演算制御部340は、画像信号処理部341、照度算出部342、飽和判定部343、露光制御部344を含み、飽和判定部343は、カウンタ351、判定部352を含む構成とされている。
演算制御部340には、水平転送走査回路103から、1または0の値を有するデジタルコードが供給される。デジタルコードは、飽和判定部343のカウンタ351に供給される。カウンタ351は、デジタルコードの値が1であるデータ数をカウントする。判定部352は、カウンタ351でカウントされたカウント値が、しきい値以上であるか否かを判定する。
カウンタ351と判定部352の処理は、図5のカウンタ213と判定部214の処理と基本的に同様である。すなわち、判定部352は、カウンタ351でカウントされたカウント値が、設定されているしきい値以上の場合、長蓄積露光では飽和すると判定する。
判定部352での判定結果は、露光制御部344に供給される。判定部352で、長蓄積露光では飽和すると判定された場合、露光制御部344で短蓄積露光制御が選択され、露光が開始される。
一方で、カウンタ351でカウントされたカウント値が、設定されているしきい値以下の場合、判定部352により長蓄積露光では飽和しないと判定され、露光制御部344で長蓄積露光制御が選択され、露光が開始される。
このような、固体撮像素子300における照度の算出に係わる処理について、図11のフローチャートを参照して説明する。ステップS301において、カウンタ351は、N=N+1に設定する。Nの初期値は0であり、処理すべき画素(処理すべきデジタルコード)を特定するための値である。例えば、画素部101の左上に位置する画素から右下に位置する画素の順に番号が割り当てられ、その番号にNの値がなったとき、その画素のデジタルコードが処理対象とされる。
ステップS302において、N個目の画素の値が1であるか否かが判定される。カウンタ351には、水平転送走査回路103から、1または0の値を有するデジタルコードが供給される。カウンタ351は、供給されたデジタルコードが1の場合、カウンタ値を1だけ増加し、供給されたデジタルコードが0の場合、カウントせずに次のデジタルコードに処理を移行する。
すなわち、ステップS302において、処理対象とされたデジタルコードの値は1である判定された場合、ステップS303に処理が進められ、カウンタ351は、カウンタ値を1だけ増加した値に更新する。
ステップS303の処理後、またはステップS302において、処理対象とされたデジタルコードの値は、1ではない判定された場合、処理はステップS304に進められる。ステップS304において、Nが処理対象とされる画素数に達したか否かが判定される。ステップS304において、N=対象画素数ではないと判定された場合、ステップS301に処理が戻され、それ以降の処理が繰り返される。すなわち、次の画素が処理対象の画素に設定され、その画素からのデジタルコードの値が1であるか否かの判定がなされる。
一方、ステップS304において、N=対象画素数であると判定された場合、ステップS305に処理が進められる。ステップS305において、判定部352により、カウンタ351でカウントされたカウント値は、しきい値以上であるか否かが判定される。判定部352におけるしきい値は、例えば、処理対象とされた画素数、換言すれば、ステップS304における処理で、N=対象画素数との判定が行われるときの対象画素数の5%の個数とされる。
ステップS305において、カウント値はしきい値以上ではないと判定された場合、ステップS306に処理が進められる。ステップS306において、長蓄積露光時間が設定される。この場合、長時間露光で飽和していないと判定されたことになるので、ステップS306に処理が進められ、長蓄積露光時間が設定される。
判定部352は、長蓄積露光時間が選択されたことを、露光制御部344に通知する。露光制御部344は、長蓄積露光時間で、垂直走査回路105による読み出しを制御することで、照度算出部342には、長蓄積露光時間で露光されたときの長蓄積データが供給される。ステップS308において、照度算出部342は、長蓄積データを取得する。そして、ステップS309において、照度算出部342は、上記式(1)に基づき、照度を算出し、出力制御回路107に出力する。
一方、ステップS305において、カウント値はしきい値以上であると判定された場合、すなわち、長時間露光だと飽和してしまうと判定された場合、ステップS307に処理が進められる。ステップS307において、短蓄積露光時間が設定される。
判定部352は、短蓄積露光時間が選択されたことを、露光制御部344に通知する。露光制御部344は、短蓄積露光時間で、垂直走査回路105による読み出しを制御することで、照度算出部342には、短蓄積露光時間で露光されたときの短蓄積データが供給される。ステップS308において、照度算出部342は、短蓄積データを取得する。そして、ステップS309において、照度算出部342は、上記式(1)に基づき、照度を算出し、出力制御回路107に出力する。
ここで、図12を参照し、再度、固体撮像素子300における照度の算出に係わる処理について説明する。時刻T11から時刻T12は、第1の露光時間(長蓄積露光時間)に相当し、その第1の露光時間で露光されたデジタルコードが、カウンタ351(図9)により、ステップS301乃至S304の処理が繰り返されることで取得される。
時刻T12の時点で、判定部352により判定が行われる。この処理は、ステップS305における処理に該当する。時刻T12の時点で判定が行われた結果、長蓄積露光時間が設定されるか、短蓄積露光時間が設定されるかが決定される。短蓄積露光時間が設定された場合(ステップS307の処理が実行される場合)、時刻T13から時刻T14の第2の露光時間(短蓄積時間)で露光されたデータが取得される。
判定部214による判定で、長蓄積露光時を設定すると判定されていた場合、露光制御部344に長蓄積露光時間が設定され、長蓄積データが、照度算出部342に供給される(ステップS306の処理に該当)。このとき照度算出部342に供給される長蓄積データは、時刻T11から時刻T12の第1の露光時間で得られた長蓄積データであっても良いし、時刻T15から時刻T16の第1の露光時間で得られた長蓄積データであっても良い。
照度算出部342は、長蓄積データまたは短蓄積データから照度を算出し、出力する(ステップS308,S309の処理に該当)。照度の出力は、例えば、時刻T16の時点で行われる。時刻T16の時点では、長蓄積データと短蓄積データの両方が取得できている状態であるため、長蓄積データと短蓄積データのどちらが選択されても、照度を算出することができる。
なお、長蓄積露光時間が設定された場合、時刻T13から時刻T14の間で行われる短蓄積データの取得は、省略するようにしても良い。また、長蓄積露光時間が設定された場合であり、時刻T11から時刻T12の間で取得された長蓄積データが照度算出のために用いられるようにした場合、時刻T12から時刻T13の間で照度が算出され、出力されるようにしても良い。
このように、ADC330の比較器331に参照電圧(第1のしきい値)を供給し、カウンタ332で、第1のしきい値を超えたか否かを表すデジタルコードを生成し、そのデジタルコードに基づき、飽和判定部343のカウンタ351でカウントが行われる。そして、カウンタ351でカウントされたカウント値が第2のしきい値を超えたか否かが判定部352で判定されることで、飽和状態であるか否かが判定される。
このように飽和状態を判定することで、より精度良く照度を算出することができる。この場合も、図8を参照して説明したように、飽和したデータを用いずに照度を算出することができ、精度良く照度を算出することができる。また、このような方式によれば、消費電力が大きいADC動作を長蓄積または短蓄積のいずれか1回のみでよいため、低消費電力にすることができる。
なおここでは、長蓄積データと短蓄積データの2つのデータが用いられる例を挙げて説明したが、複数のデータが用いられるように構成することも可能である。露光制御部344を、複数の露光時間を制御することが可能な構成とし、複数の露光時間のうちの1つの露光時間で制御されたときのデータからのデジタルコードが、カウンタ351により取得されるように構成する。
水平転送走査回路103からのデジタルコードは、カウンタ351に供給され、上記した場合と同じく、所定の条件、例えば、値が1であるとの条件を満たすデジタルコードの数がカウントされる。そのカウント値に基づき、判定部352は、そのデジタルコードが取得された露光時間では飽和してしまうか否かを判定する。
その判定結果に応じて、例えば、飽和していると判定されたときには、異なる露光時間でのデータを用いて照度が算出されるように、露光制御部344に異なる露光時間が設定され、その異なる露光時間での蓄積データが、照度算出部342に対して出力されるように構成する。
このように、露光制御部344で、複数の露光時間が制御できるようにし、判定部352で、複数の露光時間から得られる複数のデータのうちの少なくとも1つのデータを用いて、飽和しているか否かが判定されるように構成することも可能である。また、飽和していると判定されるときには、飽和していないであろう他の露光時間におけるデータ(判定に用いられたデータが取得されたときの露光時間とは異なる露光時間でのデータ)が、照度算出部342に供給され、照度が算出されるように構成することも可能である。
<第4の実施の形態>
図13は、第4の実施の形態における固体撮像素子400の構成を示す図である。図13に示した固体撮像素子400は、図5に示した固体撮像素子200と、図9に示した固体撮像素子300を組み合わせた構成とされている。
図13に示した固体撮像素子400のうち、画素部101、水平転送走査回路103、垂直走査回路105、出力制御回路107、出力制御回路108、DAC310、カウンタ制御部320、ADC330は、図9に示した固体撮像素子300と同様な構成のため、同じ符号を付し、その説明を省略する。
演算制御部410は、図5に示した演算制御部201と基本的な構成は同一であるが、カウンタ423でカウントする値を、図5に示した演算制御部201のように、演算制御部410内で生成するか、または、図9に示した演算制御部340のように、ADC330からデジタルコードとして供給されるかを選択するスイッチを備える点が異なる。
すなわち演算制御部401は、画像信号処理部411、スイッチ412、データ選択部413、照度算出部414、飽和判定部415、露光制御部416を含み、飽和判定部415は、スイッチ421、デジタルコンパレータ422、カウンタ423、判定部424、スイッチ425を含む構成とされている。
演算制御部410のスイッチ412は、ADC330からデジタルコードの供給を受け、照度を算出するときには、照度算出部414側に接続される。また、演算制御部410のスイッチ412は、判定部424からの判定結果により、長蓄積データまたは短蓄積データを取得し、照度を算出するときには、データ選択部413側に接続される。
飽和判定部415のスイッチ425は、ADC330からデジタルコードの供給を受け、照度を算出するときには、露光制御部416側に接続される。また、飽和判定部415のスイッチ425は、判定部424からの判定結果により、長蓄積データまたは短蓄積データを取得し、照度を算出するときには、データ選択部413側に接続される。
このように、図13に示した固体撮像素子400は、図5に示した固体撮像素子200での照度の算出(第1の照度算出とする)の仕方と、図9に示した固体撮像素子300での照度の算出(第2の照度算出とする)の仕方を切り換えて照度を算出することができる。
第1の照度算出は、図5乃至図8を参照して説明したように照度算出が行われ、第2の照度算出は、図9乃至図12を参照して説明したように照度算出が行われる。第1の照度算出と第2の照度算出のどちらを用いて照度算出を行うかは、所定の条件を満たすか否かにより切り換えられるようにすることができる。所定の条件とは、例えば、シャッタースピードであり、シャッタースピードにより、第1の照度算出または第2の照度算出が切り換えられる。
図13に示した固体撮像素子400においても、第1の照度算出または第2の照度算出により照度が算出されるため、上記した場合と同じく、より精度良く照度を算出することができる。
<裏面照射型への適用>
上記した第1の実施の形態における固体撮像素子100、第2の実施の形態における固体撮像素子200、第3の実施の形態における固体撮像素子300、第4の実施の形態における固体撮像素子400は、それぞれ裏面照射型の撮像素子に適用できる。ここで、裏面照射型の撮像素子について説明を加える。
図14には、裏面照射型(BSI)CMOS型の固体撮像素子の構成例が示されており、3画素に対応する部分が抜き出されて図示されている。図14に示した固体撮像素子500は、上側から順に、オンチップマイクロレンズ510、カラーフィルタ層511、フォトダイオード層512、および信号配線層513が積層されて構成されている。
オンチップマイクロレンズ510は、フォトダイオード層512に効率よく光を導くための光学素子である。カラーフィルタ層511は、例えば、三原色(例えば、赤色、青色、緑色など)の可視波長成分を選択的に透過させる有機分子または顔料からなる層である。
フォトダイオード層512は、受光した光を電荷に変換する光電変換層である。また、フォトダイオード層512では、STI(Shallow Trench Isolation)などの酸化膜や、不純物のインプランテイションによるEDI構造またはCION構造などにより、隣接するフォトダイオードどうしが電気的に分離されている。
信号配線層513は、フォトダイオード層512に蓄積された電荷を読み取るための配線520が設けられる層である。
このように、固体撮像素子500では、オンチップマイクロレンズ510により集光された光は、カラーフィルタ層511により所望の波長成分が選択された後、その透過光がフォトダイオード層512に到達する。透過光は、フォトダイオード層512によって光電変換される。フォトダイオード層512での光電変換によって発生したキャリアは、信号配線層513に設けられた配線520を経由して、固体撮像素子500の外部に画素信号として出力される。
このように構成される裏面照射型の固体撮像素子500に、上述した第1乃至第4の実施の形態における固体撮像素子100,200,300,400を適用することができる。
<撮像装置の構成について>
第1乃至第4の実施の形態における固体撮像素子100,200,300,400は、撮像装置の一部を構成することができる。図15は、撮像装置の構成例を示すブロック図である。
図15に示すように、撮像装置600は、光学系601、撮像素子602、信号処理回路603、モニタ604、およびメモリ606を備えて構成され、静止画像および動画像を撮像可能である。光学系601は、1枚または複数枚のレンズを有して構成され、被写体からの像光(入射光)を撮像素子602に導き、撮像素子602の受光面(センサ部)に結像させる。
撮像素子602としては、上述した構成の画素部101を備える固体撮像素子100,200,300,400を適用できる。撮像素子602には、光学系601を介して受光面に結像される像に応じて、一定期間、電子が蓄積される。そして、撮像素子602に蓄積された電子に応じた信号が信号処理回路603に供給される。
信号処理回路603は、撮像素子602から出力された信号電荷に対して各種の信号処理を施す。信号処理回路603が信号処理を施すことにより得られた画像(画像データ)は、モニタ604に供給されて表示されたり、メモリ606に供給されて記憶(記録)されたりする。
このように構成されている撮像装置600では、撮像素子602や信号処理回路603の一部分としてとして、上述したような構成の固体撮像素子100,200,300,400を適用することにより、適切な照度での制御が可能となり、画質を向上させることができる。
また、本技術における固体撮像素子100,200,300,400は、上記した裏面照射型のCMOS型固体撮像素子や、表面照射型のCMOS型固体撮像素子、CCD型固体撮像素子などに採用することができる。
また、本技術における固体撮像素子100,200,300,400は、デジタルスチルカメラやデジタルビデオカメラなどの撮像装置の他、携帯電話端末やパーソナルコンピュータなど様々な電子機器に搭載することができる。
<記録媒体について>
上述した一連の処理は、ハードウエアにより実行することもできるし、ソフトウエアにより実行することもできる。一連の処理をソフトウエアにより実行する場合には、そのソフトウエアを構成するプログラムが、コンピュータにインストールされる。ここで、コンピュータには、専用のハードウエアに組み込まれているコンピュータや、各種のプログラムをインストールすることで、各種の機能を実行することが可能な、例えば汎用のパーソナルコンピュータなどが含まれる。
図16は、上述した一連の処理をプログラムにより実行するコンピュータのハードウエアの構成例を示すブロック図である。コンピュータにおいて、CPU(Central Processing Unit)1001、ROM(Read Only Memory)1002、RAM(Random Access Memory)1003は、バス1004により相互に接続されている。バス1004には、さらに、入出力インタフェース1005が接続されている。入出力インタフェース1005には、入力部1006、出力部1007、記憶部1008、通信部1009、及びドライブ1010が接続されている。
入力部1006は、キーボード、マウス、マイクロフォンなどよりなる。出力部1007は、ディスプレイ、スピーカなどよりなる。記憶部1008は、ハードディスクや不揮発性のメモリなどよりなる。通信部1009は、ネットワークインタフェースなどよりなる。ドライブ1010は、磁気ディスク、光ディスク、光磁気ディスク、又は半導体メモリなどのリムーバブルメディア1011を駆動する。
以上のように構成されるコンピュータでは、CPU1001が、例えば、記憶部1008に記憶されているプログラムを、入出力インタフェース1005及びバス1004を介して、RAM1003にロードして実行することにより、上述した一連の処理が行われる。
コンピュータ(CPU1001)が実行するプログラムは、例えば、パッケージメディア等としてのリムーバブルメディア1011に記録して提供することができる。また、プログラムは、ローカルエリアネットワーク、インターネット、デジタル衛星放送といった、有線または無線の伝送媒体を介して提供することができる。
コンピュータでは、プログラムは、リムーバブルメディア1011をドライブ1010に装着することにより、入出力インタフェース1005を介して、記憶部1008にインストールすることができる。また、プログラムは、有線または無線の伝送媒体を介して、通信部1009で受信し、記憶部1008にインストールすることができる。その他、プログラムは、ROM1002や記憶部1008に、あらかじめインストールしておくことができる。
なお、コンピュータが実行するプログラムは、本明細書で説明する順序に沿って時系列に処理が行われるプログラムであっても良いし、並列に、あるいは呼び出しが行われたとき等の必要なタイミングで処理が行われるプログラムであっても良い。
また、本明細書において、システムとは、複数の装置により構成される装置全体を表すものである。
なお、本技術の実施の形態は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、本技術の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更が可能である。
なお、本技術は以下のような構成も取ることができる。
(1)
複数の露光時間を制御する露光制御部と、
前記露光時間で得られる複数のデータのうちの少なくとも1つのデータを用いて、飽和しているか否かを判定する判定部と、
前記判定部により飽和していると判定された場合、前記判定に用いたデータとは異なるデータを用いて照度を算出する照度算出部と
を備える撮像素子。
(2)
前記判定部は、前記データの平均値を算出し、前記平均値としきい値との比較結果により、飽和しているか否かを判定する
前記(1)に記載の撮像素子。
(3)
前記判定部は、第1の露光時間で得られるデータの平均値を算出し、前記平均値が、しきい値以上である場合、飽和していると判定し、
前記照度算出部は、前記判定部により飽和していると判定された場合、前記第1の露光時間より短い第2の露光時間で得られるデータを取得し、照度を算出する
前記(1)に記載の撮像素子。
(4)
前記データと第1のしきい値を比較する比較部と、
前記比較部からの比較結果のうち、所定の条件を満たす比較結果をカウントするカウント部と
をさらに備え、
前記判定部は、前記カウント部によるカウント値と第2のしきい値との比較結果により、飽和しているか否かを判定する
前記(1)乃至(3)のいずれかに記載の撮像素子。
(5)
第1の露光時間で得られる前記データと第1のしきい値を比較する比較部と、
前記比較部からの比較結果のうち、前記データが前記第1のしきい値以上である比較結果をカウントするカウント部と
をさらに備え、
前記判定部は、前記カウント部によるカウント値が、第2のしきい値以上である場合、飽和していると判定し、
前記照度算出部は、前記判定部により飽和していると判定された場合、前記第1の露光時間より短い第2の露光時間で得られるデータを取得し、照度を算出する
前記(1)乃至(3)のいずれかに記載の撮像素子。
(6)
前記データと第1のしきい値を比較する比較部と、
前記比較部からの比較結果として、前記データと前記第1のしきい値との比較結果を表すコードを出力する出力部と、
前記出力部からの前記コードのうち、所定の条件を満たすコードをカウントするカウント部と
をさらに備え、
前記判定部は、前記カウント部によるカウント値と第2のしきい値との比較結果により、飽和しているか否かを判定する
前記(1)乃至(5)のいずれかに記載の撮像素子。
(7)
第1の露光時間で得られる前記データと第1のしきい値を比較する比較部と、
前記比較部からの比較結果が、前記データが前記第1のしきい値以上であるか否かを表すコードを出力する出力部と、
前記出力部からの前記コードのうち、前記データが前記第1のしきい値以上であることを表すコードをカウントするカウント部と
をさらに備え、
前記判定部は、前記カウント部によるカウント値が、第2のしきい値以上である場合、飽和していると判定し、
前記照度算出部は、前記判定部により飽和していると判定された場合、前記第1の露光時間より短い第2の露光時間で得られるデータを取得し、照度を算出する
前記(1)乃至(5)のいずれかに記載の撮像素子。
(8)
露光制御部、判定部、照度算出部を備える撮像素子の撮像方法において、
前記露光制御部が、複数の露光時間を制御し、
前記判定部が、前記露光時間で得られる複数のデータのうちの少なくとも1つのデータを用いて、飽和しているか否かを判定し、
前記照度算出部が、前記判定部により飽和していると判定された場合、前記判定に用いたデータとは異なるデータを用いて照度を算出する
ステップを含む撮像方法。
100 撮像素子, 101 画素部, 102 ADC, 103 水平転送走査回路, 104 DAC, 105 垂直走査回路, 106 演算制御部, 121 単位画素, 122 垂直信号線, 141 比較器, 142 カウンタ, 161 画像信号処理部, 162 データ選択部, 163 照度算出部, 164 判定部, 165 露光制御部, 201 演算制御部, 202 画像信号処理部, 203 データ選択部, 204 照度算出部, 205 飽和判定部, 206 露光制御部, 212 デジタルコンパレータ, 213 カウンタ, 214 判定部, 300 固体撮像素子, 310 DAC, 320 カウンタ制御部

Claims (8)

  1. 複数の露光時間を制御する露光制御部と、
    前記露光時間で得られる複数のデータのうちの少なくとも1つのデータを用いて、飽和しているか否かを判定する判定部と、
    前記判定部により飽和していると判定された場合、前記判定に用いたデータとは異なるデータを用いて照度を算出する照度算出部と
    を備える撮像素子。
  2. 前記判定部は、前記データの平均値を算出し、前記平均値としきい値との比較結果により、飽和しているか否かを判定する
    請求項1に記載の撮像素子。
  3. 前記判定部は、第1の露光時間で得られるデータの平均値を算出し、前記平均値が、しきい値以上である場合、飽和していると判定し、
    前記照度算出部は、前記判定部により飽和していると判定された場合、前記第1の露光時間より短い第2の露光時間で得られるデータを取得し、照度を算出する
    請求項1に記載の撮像素子。
  4. 前記データと第1のしきい値を比較する比較部と、
    前記比較部からの比較結果のうち、所定の条件を満たす比較結果をカウントするカウント部と
    をさらに備え、
    前記判定部は、前記カウント部によるカウント値と第2のしきい値との比較結果により、飽和しているか否かを判定する
    請求項1に記載の撮像素子。
  5. 第1の露光時間で得られる前記データと第1のしきい値を比較する比較部と、
    前記比較部からの比較結果のうち、前記データが前記第1のしきい値以上である比較結果をカウントするカウント部と
    をさらに備え、
    前記判定部は、前記カウント部によるカウント値が、第2のしきい値以上である場合、飽和していると判定し、
    前記照度算出部は、前記判定部により飽和していると判定された場合、前記第1の露光時間より短い第2の露光時間で得られるデータを取得し、照度を算出する
    請求項1に記載の撮像素子。
  6. 前記データと第1のしきい値を比較する比較部と、
    前記比較部からの比較結果として、前記データと前記第1のしきい値との比較結果を表すコードを出力する出力部と、
    前記出力部からの前記コードのうち、所定の条件を満たすコードをカウントするカウント部と
    をさらに備え、
    前記判定部は、前記カウント部によるカウント値と第2のしきい値との比較結果により、飽和しているか否かを判定する
    請求項1に記載の撮像素子。
  7. 第1の露光時間で得られる前記データと第1のしきい値を比較する比較部と、
    前記比較部からの比較結果が、前記データが前記第1のしきい値以上であるか否かを表すコードを出力する出力部と、
    前記出力部からの前記コードのうち、前記データが前記第1のしきい値以上であることを表すコードをカウントするカウント部と
    をさらに備え、
    前記判定部は、前記カウント部によるカウント値が、第2のしきい値以上である場合、飽和していると判定し、
    前記照度算出部は、前記判定部により飽和していると判定された場合、前記第1の露光時間より短い第2の露光時間で得られるデータを取得し、照度を算出する
    請求項1に記載の撮像素子。
  8. 露光制御部、判定部、照度算出部を備える撮像素子の撮像方法において、
    前記露光制御部が、複数の露光時間を制御し、
    前記判定部が、前記露光時間で得られる複数のデータのうちの少なくとも1つのデータを用いて、飽和しているか否かを判定し、
    前記照度算出部が、前記判定部により飽和していると判定された場合、前記判定に用いたデータとは異なるデータを用いて照度を算出する
    ステップを含む撮像方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2017208638A1 (ja) * 2016-05-30 2017-12-07 ソニー株式会社 撮像装置、固体撮像素子、および、撮像装置の制御方法

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20180031288A (ko) 2016-09-19 2018-03-28 삼성전자주식회사 이미지 센서 및 이를 포함하는 촬상 장치
US11044411B2 (en) * 2017-02-10 2021-06-22 Canon Kabushiki Kaisha Imaging element and imaging apparatus
ES2724212B2 (es) * 2018-03-02 2021-03-31 Visionapp Solutions S L Metodo implementado en ordenador y sistema para la prevencion del deterioro de la vision causado por el uso prolongado de pantallas electronicas en condiciones de baja iluminacion.

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3882522B2 (ja) 2001-03-29 2007-02-21 セイコーエプソン株式会社 カメラ付き携帯端末
JP2003110681A (ja) 2001-10-02 2003-04-11 Sharp Corp 携帯電話機
JP3912366B2 (ja) * 2003-11-21 2007-05-09 コニカミノルタセンシング株式会社 測光装置およびその非線形性補正方法
JP4952128B2 (ja) 2006-08-10 2012-06-13 日本電気株式会社 照度センサ機能を備えたカメラモジュール及びこれを用いた携帯端末
JP4325703B2 (ja) * 2007-05-24 2009-09-02 ソニー株式会社 固体撮像装置、固体撮像装置の信号処理装置および信号処理方法、ならびに撮像装置
JP5476190B2 (ja) * 2010-03-31 2014-04-23 本田技研工業株式会社 固体撮像装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2017208638A1 (ja) * 2016-05-30 2017-12-07 ソニー株式会社 撮像装置、固体撮像素子、および、撮像装置の制御方法
JPWO2017208638A1 (ja) * 2016-05-30 2019-03-28 ソニー株式会社 撮像装置、固体撮像素子、および、撮像装置の制御方法
US11039095B2 (en) 2016-05-30 2021-06-15 Sony Corporation Image pickup apparatus, solid-state image pickup device, and control method for image pickup apparatus

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