JP2014092477A - 検査装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】比較的簡素な処理で検査面の形状異常を検出することができる検査装置を得る。
【解決手段】検査装置は、出射する光の波長が相互に異なる複数の光源を有し、検査面と相対移動されながら前記複数の光源から前記検査面に光を照射し、前記複数の光源が前記相対移動方向で相互に異なる位置に位置された照明装置と、前記照明装置とともに前記検査面と相対移動されながら、前記照明装置から出射された光の前記検査面での反射光を受光する撮像部と、前記撮像部が受光した前記反射光の波長の変化に基づいて前記検査面の形状異常を検出する検出部と、を備えた。
【選択図】図6
【解決手段】検査装置は、出射する光の波長が相互に異なる複数の光源を有し、検査面と相対移動されながら前記複数の光源から前記検査面に光を照射し、前記複数の光源が前記相対移動方向で相互に異なる位置に位置された照明装置と、前記照明装置とともに前記検査面と相対移動されながら、前記照明装置から出射された光の前記検査面での反射光を受光する撮像部と、前記撮像部が受光した前記反射光の波長の変化に基づいて前記検査面の形状異常を検出する検出部と、を備えた。
【選択図】図6
Description
本発明は、検査装置に関する。
従来、検査面に光を照射し、検査面からの反射光を受光し、受光した反射光に基づいて当該検査面の形状異常を検出する検査装置が知られている。
この種の検査装置では、比較的簡素な処理で検査面の形状異常を検出することができることが望まれている。
そこで、本発明は、一例としては、比較的簡素な処理で検査面の形状異常を検出することができる検査装置を得ることを目的の一つとする。
本発明の実施形態にかかる検査装置は、出射する光の波長が相互に異なる複数の光源を有し、検査面と相対移動されながら前記複数の光源から前記検査面に光を照射し、前記複数の光源が前記相対移動方向で相互に異なる位置に位置された照明装置と、前記照明装置とともに前記検査面と相対移動されながら、前記照明装置から出射された光の前記検査面での反射光を受光する撮像部と、前記撮像部が受光した前記反射光の波長の変化に基づいて前記検査面の形状異常を検出する検出部と、を備えた。
本発明によれば、一例としては、比較的簡素な構成で異常を検出できる検査装置を得ることができる。
図1に示すように、本実施形態の検査装置1は、照明装置2と撮像部3とを備えている。照明装置2と撮像部3とは、移動装置30(図5)によって、検査対象である検査物100の検査面100aと相対移動される。検査装置1は、照明装置2によって光を照射した検査面100aを撮像部3によって撮像し、その撮像結果を用いて、検査面100aの形状異常を検出する。本実施形態では、一例として、撮像部3が、検査面100aに対する照明装置2の移動方向Fで照明装置2の前方に位置されている。検査面100aは、一例として、光沢面である。
移動装置30は、一例として、照明装置2と撮像部3とを一体に支持している。移動装置30は、一例として、モータ等の駆動源を有しており、駆動源の駆動力によって、照明装置2と撮像部3とを、位置固定された検査面100aに沿って移動させる。なお、移動装置30は、検査物100を支持して、検査物100を、位置固定された照明装置2と撮像部3とに対して移動させる構成であってもよい。
照明装置2は、出射する光の波長(波長域)が相互に異なる複数の光源4を有し、検査面100aと相対移動されながら複数の光源4から検査面100aに光を照射する。本実施形態では、照明装置2は、複数の光源4として、光源4R、光源4G、光源4Bを有している。光源4Rは、赤色の光を出射し、光源4Gは、緑色の光を出射し、光源4Bは、青色の光を出射する。これらの赤色の光、緑色の光、青色の光は、相互に波長(波長域)が異なるものである。本実施形態では、光源4Gが、第一の光源に相当し、光源4Rが第二の光源に相当し、光源4Bが第三の光源に相当する。なお、本実施形態では、出射する光の波長が相互に異なる複数の光源4として、三つの光源4R,4G,4Bの例を示したが、出射する光の波長が相互に異なる光源4は、例えば四つ以上であってもよい。各光源4は、一例として、照明装置2の移動方向Fと直交する方向に沿って配置された複数のLED(light emitting diode)を有し、移動方向Fと直交する方向に延在したライン状の照明光を検査面100aにおける撮像部3の撮像領域に照射する。照明装置2は、各光源4から同時に検査面100aの同一領域(撮像部3の撮像領域)に向けて光を照射する。光源4から出射された光の検査面100aでの正反射光(検査面100aに照射された光の検査面100aの法線L2に対する入射光と等角に反射した反射光)は、撮像部3に入射する。
複数の光源4は、検査面100aに対する相対移動方向で相互に異なる位置に位置されている。本実施形態では、照明装置2の移動方向Fで光源4Gの前方に光源4Rが位置され、照明装置2の移動方向Fで光源4Gの後方に光源4Bが位置されている。また、一例として、光源4Gは、図2に示すように、面100a1(第一の面)に照射した光の正反射光が撮像部3に入射する位置に、位置されている。光源4Rは、図3に示すように、面100a1に対して傾斜した面100a2(第二の面)に照射した光の正反射光が撮像部3に入射する位置に、位置されている。光源4Bは、図4に示すように、面100a1に対して面100a2とは反対方向に傾斜した面100a3(第三の面)に照射した光の正反射光が撮像部3に入射する位置に、位置されている。図2〜図4中の矢印は、照明光の進行方向を示している。また、光源4Rから出射された光の面100a2での正反射光の反射角(反射波の進行方向L3と面100a2の法線L2とがなす角)α2は、光源4Gから出射された光の面100a1での正反射光の反射角α1よりも大きい。また、光源4Bから出射された光の面100a3での正反射光の反射角α3は、光源4Gから出射された光の面100a1での正反射光の反射角α1よりも小さい。
撮像部3は、照明装置2とともに検査面100aと相対移動されながら、照明装置2から出射された光の検査面100aでの反射光を受光する。撮像部3は、照明装置2から出射された光の検査面100aでの正反射光を、受光する。一例として、撮像部3は、ラインカメラ(ラインセンサ)として構成されている。撮像部3は、検査面100aとの相対移動方向と直交する方向であって光源4のライン状の照明光の延在方向に沿って一列に配置された複数の光電変換素子(撮像素子、図示されず)を有する。すなわち、撮像部3は、検査面100aとの相対移動方向と直交する方向に沿った線状の画像(画像データ、撮像データ、各光電変換素子に対応した画素毎の輝度値のデータ、輝度値のデータ列)を取得する。各撮像素子では、例えば256階調で輝度値のデータが取得される。撮像部3は、一例として、各撮像素子について複数(例えば、R(赤色)G(緑色)B(青色)の三つ)の画像データが取得される。図1中の線L1は、撮像部3の光軸を示している。
本実施形態では、一例として、図5に示すように、検査装置1は、制御部20(例えばCPU(central processing unit)等)や、ROM21(read only memory)、RAM22(random access memory)、SSD23(solid state drive)、光照射コントローラ24、撮像コントローラ25、移動コントローラ26、表示コントローラ27等を備えることができる。光照射コントローラ24は、制御部20からの制御信号に基づいて、照明装置2の発光等を制御する。撮像コントローラ25は、制御部20からの制御信号に基づいて、撮像部3による撮像を制御する。移動コントローラ26は、制御部20から受けた制御信号に基づいて、移動装置30を制御し、照明装置2および撮像部3の移動(開始、停止、速度等)を制御する。表示コントローラ27は、制御部20からの制御信号に基づいて、表示装置40(例えば、LCD(liquid crystal display)、OELD(organic electroluminescent display)等)を制御する。また、制御部20は、不揮発性の記憶部としてのROM21やSSD23等にインストールされたプログラム(アプリケーション)を読み出して実行する。RAM22は、制御部20がプログラムを実行して種々の演算処理を実行する際に用いられる各種データを一時的に記憶する。なお、図5に示されるハードウエアの構成はあくまで一例であって、例えばチップやパッケージにする等、種々に変形して実施することが可能である。また、各種演算処理は、並列処理することが可能であり、制御部20等は、並列処理が可能なハードウエア構成とすることが可能である。
また、本実施形態では、一例として、制御部20は、ハードウエアとソフトウエア(プログラム)との協働によって、検査装置1の少なくとも一部として機能(動作)する。一例として、制御部20は、検出部等として機能して、表面形状検査処理を実行する。
制御部20は、表面形状検査処理において異常判定処理を行う。異常判定処理の一例として、制御部20は、撮像部3が受光した反射光(光源4から出射された光の検査面100aでの反射光)の波長(波長域)の変化(時系列での変化)に基づいて検査面100aの形状異常を検出する。一例として、制御部20は、複数の光源4のうちのある光源4から出射された光の正反射光を撮像部3が受光した後に、検査面100aに対する照明装置2の移動方向Fで上記ある光源4の前後の光源4のうちの一方の光源4から出射された光の正反射光を撮像部3が受光し、当該受光の後に、上記ある光源4の前後の光源4のうちの他方の光源から出射された光の正反射光を撮像部3が受光した場合に、検査面100aに形状異常が有ると判定する(判定処理)。つまり、制御部20は、光源4Gから出射された光の正反射光を撮像部3が受光した後に、光源4Rから出射された光の正反射光および光源4Bから出射された光の正反射光を撮像部3が受光した場合に、検査面100aに形状異常が有ると判定する。このとき、制御部20は、撮像部3から出力された画像データ(撮像データ)に含まれる輝度値を用いる。例えば、制御部20は、赤色の光の輝度値が規定値以上の場合、撮像部3が光源4Rから出射された光の正反射光を受光したと判定する。また、制御部20は、緑色の光の輝度値が規定値以上の場合、撮像部3が光源4Gから出射された光の正反射光を受光したと判定する。また、制御部20は、青色の光の輝度値が規定値以上の場合、撮像部3が光源4Bから出射された光の正反射光を受光したと判定する。
一例として、制御部20は、図6に示すように、光源4Gから出射された光の正反射光を撮像部3が受光した後に、光源4Rから出射された光の正反射光、光源4Bから出射された光の正反射光の順に、光源4Rから出射された光の正反射光および光源4Bから出射された光の正反射光を撮像部3が受光した場合には、検査面100aに凹状の形状異常があると判定する。ここで、図6に示される検査物100は、照明装置2の搬送方向Fに対して平坦な領域P1と、領域P1と連続していて照明装置2の搬送方向Fに対する下り坂を構成する領域P2と、領域P2と連続していて照明装置2の搬送方向Fに対する上り坂を構成する領域P3と、領域P3と連続していて照明装置2の搬送方向Fに対して平坦な領域P4と、を有しており、領域P2,P3の部分が凹状の形状異常となっている。図6の例では、制御部20は、領域P1において光源4Gから出射された光の正反射光を受光し、領域P2において光源4Rから出射された光の正反射光を受光し、領域P3において光源4Bから出射された光の正反射光を受光し、領域P4において光源4Gから出射された光の正反射光を受光するので、検査面100aに凹状の形状異常があると判定する。
また、一例として、制御部20は、図7に示すように、光源4Gから出射された光の正反射光を撮像部3が受光した後に、光源4Bから出射された光の正反射光、光源4Rから出射された光の正反射光の順に、光源4Rから出射された光の正反射光および光源4Bから出射された光の正反射光を撮像部3が受光した場合には、検査面100aに凸状の形状異常が有ると判定する。ここで、図7に示される検査物100は、照明装置2の搬送方向Fに対して平坦な領域P5と、領域P5と連続していて照明装置2の搬送方向Fに対する上り坂を構成する領域P6と、領域P6と連続していて照明装置2の搬送方向Fに対する下り坂を構成する領域P7と、領域P7と連続していて照明装置2の搬送方向Fに対して平坦な領域P8を有しており、領域P6,P7の部分が凸状の形状異常となっている。図7の例では、制御部20は、領域P5において光源4Gから出射された光の正反射光を受光し、領域P6において光源4Bから出射された光の正反射光を受光し、領域P7において光源4Rから出射された光の正反射光を受光し、領域P8において光源4Gから出射された光の正反射光を受光するので、検査面100aに凸状の形状異常があると判定する。
以上から分かるように、本実施形態では、凹状の形状異常と凸状の形状異常とでは、光源4Gから出射された光の正反射光を撮像部3が受光した後の、撮像部3が受光する、光源4Bから出射された光の正反射光と光源4Rから出射された光の正反射光との順番が逆になっている。そして、本実施形態では、この受光順の違いを利用して凹状の形状異常と凸状の形状異常とを判別している。
次に、制御部20が実行する表面形状検査処理の流れを図8に示すフローチャートに沿って説明する。まず、制御部20は、撮像部3から出力された画像データ(撮像データ)を取得する(ステップS1)。次に、制御部20は、取得した画像データを用いて、上述した異常判定処理を行い、検査面100aの形状異常の有無を判定(検出)する(ステップS2)。制御部20は、検査面100aに形状異常が有ると判定した場合(ステップS3のYes)、検査面100aに異常が有る旨を示す異常情報を表示装置40に表示出力させる(ステップS4)。この異常情報は、形状異常を示した画像を含んでよい。一方、制御部20は、検査面100aに形状異常が無いと判定した場合(ステップS3のNo)、処理を終了する。なお、検査面100aに形状異常が無いと判定した場合、制御部20は、検査面100aに異常が無い旨を示す情報を表示装置40に表示出力させてもよい。
以上説明したとおり、本実施形態では、制御部20が、撮像部3が受光した反射光の波長の変化に基づいて検査面100aの形状異常を検出する。よって、比較的簡素な処理で検査面100aの形状異常を検出することができる。
また、本実施形態では、撮像部3における、光源4Gから出射された光の正反射光を撮像部3が受光した後の、撮像部3における光源4Bから出射された光の正反射光と、光源4Rから出射された光の正反射光との受光の順番が逆となっていることを利用して、凹状の形状異常と凸状の形状異常とを判別している。よって、比較的簡素な処理で検査面100aの凹状および凸状の形状異常を判別することができる。
次に、本実施形態の変形例を説明する。図9に示すように、本変形例では、照明装置2の光源4が四つ以上設けられている。光源4として、光源4B、光源4R、光源4G、光源4B、光源4R、光源4G、光源4Bが設けられている。これらの光源4は、照明装置2の搬送方向Fで、光源4Bを先頭にして、その後方に、光源4R、光源4G、光源4B、光源4R、光源4G、光源4Bが順に配置されている。
制御部20は、撮像部3が受光した反射光の波長(波長域)の変化に基づいて検査面100aの形状異常を検出する。一例として、制御部20は、撮像部3が撮像した画像において基準となる基準領域と、基準領域以外の領域を抽出して、それらの領域の位置関係を利用して、検査面100aの形状異常を検出する。基準領域は、例えば、画像中で規定数以上の画素で示されている色の部位である。図10〜図13は、撮像部3が撮像した検査面100aの画像50を示している。
図10の画像50では、赤色の基準領域50a(基準面)に囲まれた位置に、青色の領域50bと緑色の領域50cとが搬送方向Fに沿って存在している。つまり、このとき、撮像部3におけるある光電変換素子(撮像素子)は、光源4Rから出射された赤色の光の正反射光を受光し、次に、光源4Bから出射された青色の光の正反射光を受光し、次に、光源4Gから出射された緑色の光の正反射光を受光し、次に、光源4Rから出射された光の正反射光を受光したことが分かる。したがって、この場合、制御部20は、検査面100aに凹状の形状異常が有ると判定する。
図11の画像50では、赤緑色(赤色および緑色が混在した色)の基準領域50dに囲まれた位置に、赤色の領域50eと青色の領域50fと緑色の領域50gが搬送方向Fに沿って存在している。つまり、このとき、撮像部3におけるある光電変換素子は、光源4R,4Gから出射された赤色および緑色の光の正反射光を受光し、次に、光源4Rから出射された赤色の光の正反射光を受光し、次に、光源4Bから出射され青色の光の正反射光を受光し、次に、光源4Gから出射された緑色の正反射光を受光し、次に、光源4R,4Gから出射された赤色および緑色の光の正反射光を受光したことが分かる。この場合、制御部20は、検査面100aに凹状の形状異常が有ると判定する。
図12の画像50では、比較的輝度の小さい緑色の基準領域50hに囲まれた位置、基準領域50hよりも輝度が大きい緑色の領域50iと、赤色の領域50jとが搬送方向Fに沿って存在している。つまり、このとき、撮像部3におけるある光電変換素子は、光源4Gから出射された緑色の光の正反射光を第一の量だけ受光し、次に、光源4Gから出射された緑色の光の正反射光を第一の量よりも多く受光し、次に、光源4Rから出射された赤色の光の正反射光を受光し、次に、光源4Gから出射された緑色の光の正反射光を第一の量と略同じ量だけ受光したことが分かる。したがって、この場合、制御部20は、検査面100aに凸状の形状異常が有ると判定する。
図13の画像50では、青色の基準領域50kに囲まれた位置に、赤色の領域50mと、緑色の領域50nと、赤色の領域50qと、が搬送方向Fに沿って存在している。また、緑色の領域50nの内側には青色の領域50pが存在している。このとき、撮像部3におけるある光電変換素子は、光源4Bから出射された青色の光の正反射光を受光し、次に、光源4Rから出射された赤色の光の正反射光を受光し、次に、光源4Gから出射された緑色の光の正反射光を受光し、次に、光源4Bから出射された青色の光の正反射光を受光し、次に、光源4Gから出射された緑色の光の正反射光を受光し、次に、光源4Rから出射された赤色の光の正反射光を受光したことが分かる。したがって、この場合、制御部20は、検査面100aに凸状の形状異常が有ると判定する。
以上、本発明の実施形態を例示したが、上記実施形態はあくまで一例である。実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、組み合わせ、変更を行うことができる。また、実施形態の構成や形状は、部分的に他の構成や形状と入れ替えて実施することも可能である。また、各構成や形状等のスペック(構造や、種類、方向、角度、形状、大きさ、長さ、幅、厚さ、高さ、数、配置、位置、材質等)は、適宜に変更して実施することができる。
1…検査装置
2…照明装置
3…撮像部
4,4B,4G,4R…光源
20…制御部(検出部)
100a…検査面
2…照明装置
3…撮像部
4,4B,4G,4R…光源
20…制御部(検出部)
100a…検査面
Claims (6)
- 出射する光の波長が相互に異なる複数の光源を有し、検査面と相対移動されながら前記複数の光源から前記検査面に光を照射し、前記複数の光源が前記相対移動方向で相互に異なる位置に位置された照明装置と、
前記照明装置とともに前記検査面と相対移動されながら、前記照明装置から出射された光の前記検査面での反射光を受光する撮像部と、
前記撮像部が受光した前記反射光の波長の変化に基づいて前記検査面の形状異常を検出する検出部と、
を備えた検査装置。 - 前記撮像部は、前記照明装置から出射された光の前記検査面での正反射光を、受光する請求項1に記載の検査装置。
- 前記検出部は、前記複数の光源のうちのある光源から出射された光の正反射光を前記撮像部が受光した後に、前記検査面に対する前記照明装置の移動方向で前記ある光源の前後の前記光源のうちの一方の光源から出射された光の正反射光を前記撮像部が受光し、当該受光の後に、前記ある光源の前後の前記光源のうちの他方の光源から出射された光の正反射光を前記撮像部が受光した場合に、前記検査面に形状異常が有ると判定する請求項2に記載の検査装置。
- 前記照明装置は、出射する光の波長が相互に異なる三つの前記光源を有した請求項1ないし3のいずれか一項に記載の検査装置。
- 前記照明装置は、複数の前記光源として、第一の光源と第二の光源と第三の光源とを有し、
前記第一の光源は、第一の面に照射した光の正反射光が前記撮像部に入射する位置に、位置され、
前記第二の光源は、前記第一の面に対して傾斜した第二の面に照射した光の正反射光が前記撮像部に入射する位置に、位置され、
前記第三の光源は、前記第一の面に対して前記第二の面とは反対方向に傾斜した第三の面に照射した光の正反射光が前記撮像部に入射する位置に、位置され、
前記第二の光源から出射された光の前記第二の面での正反射光の反射角は、前記第一の光源から出射された光の前記第一の面での正反射光の反射角よりも大きく、
前記第三の光源から出射された光の前記第三の面での正反射光の反射角は、前記第一の光源から出射された光の前記第一の面での正反射光の反射角よりも小さい、請求項1ないし4のいずれか一項に記載の検査装置。 - 前記撮像部は、前記検査面に対する前記照明装置の移動方向で前記照明装置の前方に位置され、
前記検出部は、前記第一の光源から出射された光の正反射光を前記撮像部が受光した後に、前記第二の光源から出射された光の正反射光、前記第三の光源から出射された光の正反射光の順に、前記第二の光源から出射された光の正反射光および前記第三の光源から出射された光の正反射光を前記撮像部が受光した場合には、前記検査面に凹状の形状異常があると判定し、前記第一の光源から出射された光の正反射光を前記撮像部が受光した後に、前記第三の光源から出射された光の正反射光、前記第二の光源から出射された光の正反射光の順に、前記第二の光源から出射された光の正反射光および前記第三の光源から出射された光の正反射光を前記撮像部が受光した場合には、前記検査面に凸状の形状異常が有ると判定する、請求項5に記載の検査装置。
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2016035975A1 (ko) * | 2014-09-03 | 2016-03-10 | 레이트론(주) | 필터 오염 측정 장치 및 필터 오염 측정 방법 |
CN110118787A (zh) * | 2018-02-07 | 2019-08-13 | 欧姆龙株式会社 | 图像检查装置以及照明装置 |
EP4343315A1 (en) * | 2022-09-20 | 2024-03-27 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Optical inspection apparatus, optical inspection system, optical inspection method, and optical inspection program |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010019657A (ja) * | 2008-07-10 | 2010-01-28 | Rozefu Technol:Kk | カラー照明を用いた検査装置 |
JP2010112941A (ja) * | 2008-10-10 | 2010-05-20 | Toyota Motor Corp | 表面検査装置 |
JP2011208941A (ja) * | 2010-03-26 | 2011-10-20 | Fujitsu Ltd | 欠陥検査装置およびその方法 |
-
2012
- 2012-11-05 JP JP2012243633A patent/JP2014092477A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010019657A (ja) * | 2008-07-10 | 2010-01-28 | Rozefu Technol:Kk | カラー照明を用いた検査装置 |
JP2010112941A (ja) * | 2008-10-10 | 2010-05-20 | Toyota Motor Corp | 表面検査装置 |
JP2011208941A (ja) * | 2010-03-26 | 2011-10-20 | Fujitsu Ltd | 欠陥検査装置およびその方法 |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2016035975A1 (ko) * | 2014-09-03 | 2016-03-10 | 레이트론(주) | 필터 오염 측정 장치 및 필터 오염 측정 방법 |
KR101621205B1 (ko) * | 2014-09-03 | 2016-05-16 | 레이트론(주) | 필터 오염 측정 장치 및 필터 오염 측정 방법 |
US9709507B2 (en) | 2014-09-03 | 2017-07-18 | Raytron Co., Ltd | Apparatus and method for measuring contamination of filter |
CN110118787A (zh) * | 2018-02-07 | 2019-08-13 | 欧姆龙株式会社 | 图像检查装置以及照明装置 |
EP3524966A1 (en) * | 2018-02-07 | 2019-08-14 | Omron Corporation | Image inspection device and illumination device |
US10761405B2 (en) | 2018-02-07 | 2020-09-01 | Omron Corporation | Image inspection device and illumination device |
CN110118787B (zh) * | 2018-02-07 | 2022-01-18 | 欧姆龙株式会社 | 图像检查装置 |
EP4343315A1 (en) * | 2022-09-20 | 2024-03-27 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Optical inspection apparatus, optical inspection system, optical inspection method, and optical inspection program |
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