JP2014071521A - 情報処理装置、印影評価方法、および印影評価プログラム - Google Patents

Abstract

【課題】印影の印影枠全体の連続性を重複なく評価する。
【解決手段】情報処理装置１は、印影６から印影枠７の概形となる概形枠８を生成し、生成した概形枠８の一部が矩形の領域内に位置するように評価領域９を重複なしに複数配置して、概形枠８の全部が複数配置したいずれかの評価領域９の領域内に位置するように評価領域９を設定する。情報処理装置１は、設定した評価領域毎に領域内に位置する印影枠７の一部の連続性を評価し、評価領域９毎の印影枠７の一部の連続性の評価にもとづいて印影枠７の全部の連続性を評価することで、印影６が照合に適した押印状態であるか否かを評価する。
【選択図】図１

Description

情報処理装置、印影評価方法、および印影評価プログラムに関する。

金融機関における手続きにおいて、手続者の本人確認が必要とされる場合がある。手続者の本人確認は、たとえば、口座開設時などに登録した印鑑の印影と、手続者が記入した帳票（振替依頼書など）に記載の印影との印鑑照合（同一性の照合）によっておこなう。

したがって、印鑑登録された印影が不適切であると、本人確認のために押印された印影との印鑑照合時に、照合精度が低下する場合がある。照合に不適切な印影とは、たとえば、印影の一部に欠けやカスレなどのある印影がある。

適切な印影を登録するための具体的な方法として、登録時に印影の状態判定をおこない登録に不適切な印影を検出し、適切な印影を登録する方法がある（たとえば、特許文献１参照）。

特開２０１２−４８５１３号公報

しかしながら、特許文献１に示される判定方法は、印影の印影枠に検査領域を設定し、検査領域に位置する印影枠について検査するものであって、印影の印影枠のすべてを検査対象として検査するものでないため、不適切な印影の検出に失敗するおそれがある。

また、検査領域が重複することがあり、印影枠の箇所によって判定結果に与える影響の大きさが異なり、適切な評価がおこなえない場合がある。
本発明は、このような点に鑑みてなされたものであり、印影の押印状態を適切に評価可能な情報処理装置、印影評価方法、および印影評価プログラムの提供を目的とする。

上記課題を解決するために、本発明の情報処理装置は、生成部と設定部と一部評価部と全部評価部とを備える。生成部は、印影から印影枠の概形となる概形枠を生成する。設定部は、概形枠の一部が矩形の領域内に位置する評価領域を重複なしに複数配置して、概形枠が複数の評価領域のうちいずれかの評価領域の領域内に位置するように設定する。一部評価部は、評価領域毎に領域内に位置する印影枠の一部の連続性を評価する。全部評価部は、評価領域毎の評価にもとづいて印影枠の全部の連続性を評価する。

また、上記課題を解決するために、本発明は、以下に示すような処理をコンピュータがおこなう印影評価方法、および以下に示すような処理をコンピュータに実行させる印影評価プログラムを提供する。コンピュータは、印影から印影枠の概形となる概形枠を生成し、概形枠の一部が矩形の領域内に位置する評価領域を重複なしに複数配置して、概形枠が複数の評価領域のうちいずれかの評価領域の領域内に位置するように設定し、評価領域毎に領域内に位置する印影枠の一部の連続性を評価し、評価領域毎の評価にもとづいて印影枠の全部の連続性を評価する。

上記の情報処理装置、印影評価方法、および印影評価プログラムによれば、印影の押印状態を適切に評価できる。

第一の実施形態における情報処理装置の構成を示す図である。 第二の実施形態における印鑑照合システムの一例を示す図である。 第二の実施形態における端末装置のハードウェアの構成を示す図である。 第二の実施形態における印影の一例を示す図である。 第二の実施形態における印影枠評価処理のフローチャートである。 第二の実施形態における概形枠の一例を示す図である。 第二の実施形態における評価領域の一例を示す図である。 第二の実施形態における評価領域設定処理のフローチャートである。 第二の実施形態における評価領域の伸長の一例を示す図である。 第二の実施形態における円印の概形枠における評価領域の設定の一例を示す図である。 第二の実施形態における楕円印の概形枠における評価領域の設定の一例を示す図である。 第二の実施形態における角印の概形枠における評価領域の設定の一例を示す図である。 第二の実施形態における一部評価処理のフローチャートである。 第二の実施形態における全部評価処理のフローチャートである。 第三の実施形態における評価領域設定処理のフローチャートである。 第三の実施形態における円印の概形枠における評価領域の設定の一例を示す図である。

以下、実施形態を図面を参照して説明する。
［第一の実施形態］
図１は、第一の実施形態における情報処理装置の構成を示す図である。情報処理装置１は、印影６の印影枠７の連続性を評価する装置である。印影６は、印鑑の印影である。印鑑は、所定形状の印鑑枠を有し、たとえば、円印、角印、楕円印がある。印影枠７は、印影６の枠、すなわち印影６のうち印鑑枠に相当する部分である。

たとえば、印影枠７に連続性がない印影６は、「欠け」や「かすれ」などの不連続部分がある印影であり、照合に適さない押印状態である。なお、不連続部分は、印影枠７に連続性のない部分であり、たとえば、印影枠７が線としてつながっていない部分である。また、印影枠７に連続性がある印影６は、「欠け」や「かすれ」がない印影であり、照合に適した押印状態である。連続性がない印影枠７とは、枠に所定以上の数の不連続部分がある印影枠、または枠に所定以上の大きさの不連続部分がある印影枠である。

たとえば、情報処理装置１は、印影枠７の連続性を評価することで照合に適した押印状態の印影６を取得する。情報処理装置１は、登録対象の印影６を登録する登録機能を有することで印鑑登録装置となり、照合対象の印影６を照合する照合機能を有する場合に印鑑照合装置となる。

情報処理装置１は、生成部２と設定部３と一部評価部４と全部評価部５とを備える。生成部２は、印影６から印影枠７の概形となる概形枠８を生成する。生成部２は、印影枠７と重なる位置に概形枠８を生成する。概形枠８は、印影枠７の概形となる枠、すなわち印影枠７をおおよその形で表した枠である。生成部２は、たとえば印影枠７の一部に不連続部分があり連続していない場合であっても、印影枠７の概形として連続した枠を持つ概形枠８を生成する。

設定部３は、生成部２が生成した概形枠８上に、評価領域９を重複なしに複数配置する。評価領域９は、一部評価部４が印影枠７の連続性の評価をおこなう領域であり、矩形である。概形枠８の一部は、いずれかの評価領域９に位置する。

そして、設定部３は、概形枠８が複数の評価領域９のうちいずれかの評価領域９に位置するように評価領域９を設定する。たとえば、設定部３は、概形枠８に評価領域９ａ、９ｂ、９ｃ、９ｄ、９ｅ、９ｆを設定する。評価領域９ａ、９ｂ、９ｃ、９ｄ、９ｅ、９ｆは重複なく配置されている。また、評価領域９ａ、９ｂ、９ｃ、９ｄ、９ｅ、９ｆは、それぞれ概形枠８の一部が位置している。また、概形枠８の一部は評価領域９ａ、９ｂ、９ｃ、９ｄ、９ｅ、９ｆのいずれかの領域内に位置する。

これにより、設定部３は、不連続部分を有するおそれのある印影枠７に代えて、不連続部分のない概形枠８を用いて評価領域９を設定できる。
一部評価部４は、設定部３が設定した評価領域９毎に領域内の印影枠７の連続性を評価する。すなわち、一部評価部４は、印影枠７のうち評価領域９内に位置する部分（印影枠７の一部）の連続性を評価する。一部評価部４は、評価領域９内の印影枠７が領域内で連続しているか否かを評価することで、評価領域９単位で連続性を評価する。一部評価部４は、たとえば、評価領域９ａ、９ｂに位置する印影枠７の連続性がないと評価し、評価領域９ａ、９ｂを不連続領域と評価する。また、一部評価部４は、評価領域９ｃ、９ｄ、９ｅ、９ｆに位置する印影枠７の連続性があると評価し、評価領域９ｃ、９ｄ、９ｅ、９ｆを連続領域と評価する。

全部評価部５は、一部評価部４がおこなった評価領域毎の印影枠７の連続性の評価にもとづいて印影枠７の全部の連続性を評価する。全部評価部５は、評価領域９に位置する印影枠７の連続性がないと評価された評価領域９（不連続領域）が所定数以上ある場合に印影枠７の全体としての連続性がないと評価する。また、全部評価部５は、評価領域９に位置する印影枠７の連続性がないと評価された評価領域９（不連続領域）が所定数以上連続している場合に印影枠７の全体としての連続性がないと評価する。

このように情報処理装置１は、印影６から印影枠７の概形となる概形枠８を生成する。そして、情報処理装置１は、概形枠８の一部が矩形の領域内に位置する評価領域９を重複なしに複数配置して、概形枠８が複数の評価領域９のうちいずれかの評価領域９の領域内に位置するように設定する。そして、情報処理装置１は、評価領域毎に領域内に位置する印影枠７の一部の連続性を評価する。そして、情報処理装置１は、評価領域毎の評価にもとづいて印影枠７の全部の連続性を評価する。

これらによれば、情報処理装置１は、印影の押印状態を適切に評価できる。
［第二の実施形態］
次に、第二の実施形態について説明をおこなう。図２は、第二の実施形態における印鑑照合システムの一例を示す図である。

印鑑照合システム１０は、印鑑の印影の照合をおこなうシステムである。印鑑照合システム１０は、たとえば、金融機関等で本人確認に利用される。印鑑照合システム１０は、照合時に取得した印鑑の印影と、あらかじめ登録した印鑑の印影との同一性を判定する。印鑑照合システム１０は、印影枠の連続性の観点で印影の押印状態を評価し、照合に適した印影を登録や照合に用いることで、照合精度の向上を図る。

印鑑照合システム１０は、ホストコンピュータ１４と、端末装置１１とを含んで構成される。ホストコンピュータ１４は、データセンタ１５に備えられ、端末装置１１は、営業店１２に備えられる。ホストコンピュータ１４と複数の端末装置１１は、ネットワーク１３を介して接続する。

営業店１２は、たとえば、金融機関の店舗であり、端末装置１１を用いて印鑑登録や印鑑照合をおこなう。端末装置１１は、印鑑登録帳票や振替依頼帳票などの押印のある帳票から、スキャナを用いて印影のイメージデータを取得する。また、端末装置１１は、取得した印影の印影枠の連続性を評価し、印影が照合に適した押印状態か否かを評価する。端末装置１１は、たとえば、印影を利用者の情報として印鑑登録する登録装置であり、印影と、あらかじめ登録している印影との印鑑照合をおこなう照合装置である。

データセンタ１５は、金融機関の業務全体を統括するホストコンピュータ１４などが設置され、各種データベースにより金融機関の業務を管理する。ホストコンピュータ１４は、利用者の登録情報等を有し、端末装置１１からの要求に応じて取引処理を実行する。登録情報は、印鑑の印影の他に、たとえば、氏名、住所、口座番号などの付帯情報を含む。取引処理とは、口座振替、印鑑登録、入金、および引出などの取引に関する処理である。

ホストコンピュータ１４は、端末装置１１が印鑑登録をおこなう場合に、端末装置１１から取得した登録情報を保持したり、更新したりする。また、ホストコンピュータ１４は、端末装置１１が口座振替等で印鑑照合をおこなう場合に、端末装置１１にあらかじめ登録している印影のイメージデータを送信する。そして、端末装置１１の印鑑照合の結果にもとづいて口座振替等をおこなう。

なお、印鑑照合システム１０は、ホストコンピュータ１４で印鑑照合をおこなうようにしてもよい。その場合、端末装置１１は、印影枠の連続性評価をすることで印影が照合に適している押印状態であるか否かを評価し、印影のイメージデータと評価結果をホストコンピュータ１４に送信する。そしてホストコンピュータ１４は、評価結果にもとづいて取得した印影のイメージデータとあらかじめ登録してある印影との印鑑照合をおこなう。

次に端末装置１１のハードウェア構成について図３を用いて説明する。図３は、第二の実施形態における端末装置のハードウェアの構成を示す図である。
端末装置１１は、プロセッサ２１によって装置全体が制御されている。プロセッサ２１には、バス２９を介してＲＡＭ（Random Access Memory）２２と複数の周辺機器が接続されている。プロセッサ２１は、マルチプロセッサであってもよい。プロセッサ２１は、たとえばＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＭＰＵ（Micro Processing Unit）、ＤＳＰ（Digital Signal Processor）、ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）、またはＰＬＤ（Programmable Logic Device）である。またプロセッサ２１は、ＣＰＵ、ＭＰＵ、ＤＳＰ、ＡＳＩＣ、ＰＬＤのうちの２以上の要素の組み合わせであってもよい。

ＲＡＭ２２は、端末装置１１の主記憶装置として使用される。ＲＡＭ２２には、プロセッサ２１に実行させるＯＳ（Operating System）のプログラムやアプリケーションプログラムの少なくとも一部が一時的に格納される。また、ＲＡＭ２２には、プロセッサ２１による処理に必要な各種データが格納される。

バス２９に接続されている周辺機器としては、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）２３、グラフィック処理装置２４、入力インタフェース２５、光学ドライブ装置２６、機器接続インタフェース２７およびネットワークインタフェース２８がある。

ＨＤＤ２３は、内蔵したディスクに対して、磁気的にデータの書き込みおよび読出しをおこなう。ＨＤＤ２３は、端末装置１１の補助記憶装置として使用される。ＨＤＤ２３には、ＯＳのプログラム、アプリケーションプログラム、および各種データが格納される。なお、補助記憶装置としては、フラッシュメモリなどの半導体記憶装置を使用することもできる。

グラフィック処理装置２４には、モニタ３１が接続されている。グラフィック処理装置２４は、プロセッサ２１からの命令に従って、画像をモニタ３１の画面に表示させる。モニタ３１としては、ＣＲＴ（Cathode Ray Tube）を用いた表示装置や液晶表示装置などがある。

入力インタフェース２５には、キーボード３２とマウス３３とスキャナ３４とが接続されている。入力インタフェース２５は、キーボード３２やマウス３３やスキャナ３４から送られてくる信号をプロセッサ２１に送信する。なお、マウス３３は、ポインティングデバイスの一例であり、他のポインティングデバイスを使用することもできる。他のポインティングデバイスとしては、タッチパネル、タブレット、タッチパッド、トラックボールなどがある。

光学ドライブ装置２６は、レーザ光などを利用して、光ディスク３５に記録されたデータの読取りをおこなう。光ディスク３５は、光の反射によって読取り可能なようにデータが記録された可搬型の記録媒体である。光ディスク３５には、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＣＤ−ＲＯＭ（Compact Disc Read Only Memory）、ＣＤ−Ｒ（Recordable）／ＲＷ（ReWritable）などがある。

機器接続インタフェース２７は、端末装置１１に周辺機器を接続するための通信インタフェースである。たとえば機器接続インタフェース２７には、メモリ装置３６やメモリリーダライタ３７を接続できる。メモリ装置３６は、機器接続インタフェース２７との通信機能を搭載した記録媒体である。メモリリーダライタ３７は、メモリカード３８へのデータの書き込み、またはメモリカード３８からのデータの読出しをおこなう装置である。メモリカード３８は、カード型の記録媒体である。

ネットワークインタフェース２８は、ネットワーク１３に接続されている。ネットワークインタフェース２８は、ネットワーク１３を介して、他のコンピュータまたは通信機器との間でデータの送受信をおこなう。

以上のようなハードウェア構成によって、第二の実施形態における処理機能を実現できる。なお、第一の実施形態に示した装置も、図３に示した端末装置１１と同様のハードウェアにより実現できる。

端末装置１１は、たとえばコンピュータが読取り可能な記録媒体に記録されたプログラムを実行することにより、第二の実施形態における処理機能を実現する。端末装置１１に実行させる処理内容を記述したプログラムは、様々な記録媒体に記録しておくことができる。たとえば、端末装置１１に実行させるプログラムをＨＤＤ２３に格納しておくことができる。プロセッサ２１は、ＨＤＤ２３内のプログラムの少なくとも一部をＲＡＭ２２にロードし、プログラムを実行する。また端末装置１１に実行させるプログラムを、光ディスク３５、メモリ装置３６、メモリカード３８などの可搬型記録媒体に記録しておくこともできる。可搬型記録媒体に格納されたプログラムは、たとえばプロセッサ２１からの制御により、ＨＤＤ２３にインストールされた後、実行可能となる。またプロセッサ２１が、可搬型記録媒体から直接プログラムを読出して実行することもできる。

次に、印影枠の連続性について図４を用いて説明する。図４は、第二の実施形態における印影の一例を示す図である。印影７０は、印鑑の印影である。印影７０は、たとえば、円印の印影、角印の印影、楕円印の印影がある。印影枠７１は、印影７０の枠、すなわち印影７０のうち印鑑枠に相当する部分である。

図４（Ａ）に示すように、印影枠７１ａは、印鑑の適切な押印状態の一例であり、枠に不連続部分がない。このような印影枠７１ａを有する印影７０ａは、印字も適切な押印状態である場合が多い。

したがって、端末装置１１は、印影７０ａを照合や登録に用いることで、印鑑照合の照合精度を向上させることができる。
図４（Ｂ）に示すように、印影枠７１ｂは、印鑑の不適切な押印状態の一例であり、枠の左上に左上四分の一の大きさの不連続部分がある。端末装置１１は、印影７０ｂを照合や登録に用いると照合精度が落ち、合致印を相違印と判断してしまうなどの不都合が生じる場合がある。これは、大きな不連続部分がある印影枠７１ｂを有する印影７０ｂは、印影枠７１ｂの不連続部分に対応する領域の印字が欠落している可能性が高いためである。

このように大きな不連続部分がある印影枠７１ｂを有する印影７０ｂを登録や照合に利用する事は好ましくないため、端末装置１１は、印影枠７１の連続性を評価することで、印影７０の押印状態を評価する。

なお、印影枠７１ｂは、たとえば、印鑑自体が欠けている場合、印鑑の一部に朱肉がついていない場合、および押印時に力のバランスが悪い場合などに生じる。したがって、端末装置１１は、印影枠７１の連続性の評価で大きな不連続部分が印影枠７１にあると評価した場合に、大きな不連続部分が生じる理由について報知するようにしてもよい。

図４（Ｃ）に示すように、印影枠７１ｃは、印鑑の不適切な押印状態の一例であり、枠に複数の不連続部分がある。端末装置１１は、印影７０ｃを照合や登録に用いると照合精度が落ち、合致印を相違印と判断してしまうなどの不都合が生じる場合がある。これは、複数の不連続部分がある印影枠７１ｃを有する印影７０ｃは、印字に切れ目がある、印字が薄い、または印字の線が細い可能性が高いためである。

このように複数の不連続部分がある印影枠７１ｃを有する印影７０ｃを登録や照合に利用する事は好ましくないため、端末装置１１は、印影枠７１の連続性を評価することで、印影７０の押印状態を評価する。

なお、印影枠７１ｃは、たとえば、朱肉が印鑑全体に適切についてない場合、および押印時の力が弱い場合などに生じる。したがって、端末装置１１は、印影枠７１の連続性の評価で複数の不連続部分が印影枠７１にあると評価した場合に、複数の不連続部分が生じる理由について報知するようにしてもよい。

次に、印影枠評価処理について図５を用いて説明する。図５は、第二の実施形態における印影枠評価処理のフローチャートである。
印影枠評価処理では、端末装置１１が、印影枠７１の概形枠の生成をおこない、生成した概形枠に評価領域を設定し、評価領域毎に印影枠７１の連続性を評価し、評価の結果にもとづいて印影枠７１の全体としての連続性を評価する。

［ステップＳ１１］端末装置１１は、印影枠７１の推定、補完をおこなうことで概形枠を生成する。概形枠は既知の方法によって生成できる。たとえば、端末装置１１は、円印である場合には、印影７０に対してハフ変換をおこなうことで印影枠７１の概形枠を生成できる。

ここで、概形枠について図６を用いて説明する。図６は、第二の実施形態における概形枠の一例を示す図である。
概形枠９０は、印影枠７１の概形となる枠である。端末装置１１は、印影枠７１が連続していない場合であっても、印影枠７１の推定や補完をすることで連続した枠を概形枠９０として生成する。そして、端末装置１１は、枠の太さを正規化、細線化などをおこない概形枠９０の枠の太さを一定の太さにする。したがって印鑑の形状が同じ場合には、端末装置１１は、異なる印影７０から同様の概形枠９０を生成できる。すなわち端末装置１１は、印影７０ａと、印影７０ｂと、印影７０ｃとから同様の概形枠９０を生成できる。端末装置１１は、たとえば、印影枠７１の概形となる枠として枠の太さを細線化することで、枠の太さが最小の太さの概形枠９０を印影７０ａ、７０ｂ、７０ｃから生成する。

このように端末装置１１は、連続していない印影枠７１に代えて、不連続部分のない概形枠９０を生成することで、不連続部分のない概形枠９０を用いて評価領域を設定できる。端末装置１１は、概形枠９０に不連続部分がないため、評価領域を設定する際に、概形枠９０を用いることで評価領域の配置を容易に決めることができる。

なお、端末装置１１は、枠の太さの正規化や、細線化をおこなわなくてもよい。この場合に、概形枠９０は、印影枠７１の連続部分に対応する部分では印影枠７１と同様の太さとなり、印影枠７１の不連続部分に対応する部分では端末装置１１が印影枠７１を補完した太さとなる。なお、端末装置１１は、印鑑が角印、楕円印である場合にも円印と同様の方法で概形枠９０を生成する。以下、概形枠９０の枠の太さが一定であるとして説明する。

［ステップＳ１２］端末装置１１は、評価領域設定処理をおこなう。端末装置１１は、概形枠９０に評価領域が重複しないように評価領域を隣接して配置していき、概形枠９０がいずれかの評価領域に位置するように設定する。評価領域設定処理については、後で図８を用いて詳細に説明する。

［ステップＳ１３］端末装置１１は、一部評価処理をおこなう。端末装置１１は、設定した評価領域毎に領域内に位置する印影枠７１の連続性を評価する。一部評価処理については、後で図１３を用いて詳細に説明する。

［ステップＳ１４］端末装置１１は、全部評価処理をおこなう。端末装置１１は、一部評価処理の結果にもとづいて印影枠７１全部の（全体としての）連続性を評価する。端末装置１１は、一部評価処理で評価した印影枠７１の連続性の評価結果を全部併せて評価することで印影枠７１の全体としての連続性を評価する。全部評価処理については、後で図１４を用いて詳細に説明する。端末装置１１は、全部評価処理を終えると印影枠評価処理を終了する。

次に、評価領域について図７を用いて説明する。図７は、第二の実施形態における評価領域の一例を示す図である。
評価領域１２０は、端末装置１１が印影枠７１の連続性の評価をおこなう領域である。評価領域１２０は、短辺と長辺からなる矩形の領域である。評価領域１２０は、概形枠９０の大きさに応じて、端末装置１１によって短辺と、長辺の初期値が決定される。なお、端末装置１１は、概形枠９０の大きさにかかわらずあらかじめ評価領域１２０の短辺と、長辺の初期値を設定していてもよい。評価領域１２０は、端末装置１１が評価領域１２０を配置する位置の概形枠９０の形状に応じて、端末装置１１によって長辺方向に伸長される。

評価領域１２０の短辺は、概形枠９０の大きさに応じて初期値が決定され、複数の評価領域１２０で同一の長さである。評価領域１２０の短辺の長さについては、図１０、図１１、図１２を用いて後で詳細に説明する。

評価領域１２０の長辺は、概形枠９０の大きさに応じて初期値が決定され、端末装置１１が評価領域１２０を配置する位置の概形枠９０の形状に応じて、端末装置１１によって初期値の長さから変えられる。

評価領域１２０は、包含領域（第一領域）と、付加領域（第二領域）とで構成される。包含領域は、概形枠９０が評価領域１２０を通過する領域である通過領域を含んで設定される領域である。すなわち概形枠９０は、評価領域１２０の包含領域に含まれる（位置する）。包含領域は、矩形の領域であり、評価領域１２０の短辺方向に沿った向きの辺の長さが評価領域１２０の短辺と同一の長さである。

付加領域は、包含領域を挟んで付加される領域であり、印影枠７１を評価する際に評価領域１２０外に印影枠７１が位置することを抑止するための領域である。付加領域は、評価領域１２０の長辺方向にあたる包含領域の両端にそれぞれ付加される。付加領域は、あらかじめ決められた大きさの領域（固定長）であり、複数の評価領域１２０で同一の大きさである。包含領域は、矩形の領域であり、評価領域１２０の短辺方向に沿った向きの辺の長さが評価領域１２０の短辺と同一の長さである。包含領域は、評価領域１２０の長辺方向に沿った向きの辺の長さが可変長である。

たとえば、端末装置１１は、包含領域が通過領域を含まないように評価領域１２０を配置した場合には、包含領域が通過領域を含むまで包含領域を、評価領域１２０の長辺方向に沿った向きに伸長する。このように、包含領域に概形枠９０が含むまで端末装置１１が包含領域を伸長することで、評価領域１２０の長辺の長さが初期値から変わる。評価領域１２０の伸長については、後で図９を用いて詳細に説明する。

このような評価領域１２０であれば、端末装置１１は、それぞれの評価領域１２０を短辺方向に隣接させて概形枠９０に複数配置することで、概形枠９０の全体が複数の評価領域１２０のいずれかに位置するように設定できる。

また、端末装置１１は、付加領域を設定することで、印影枠ににじみ等があっても印影枠７１の一部が評価領域１２０外に位置することを抑止できる。印影枠のにじみとは、印影枠の太さが一定の太さに定まらず、印影枠が概形枠９０よりも太くなっている状態である。

なお、図面上下方向を評価領域１２０の長辺とし、左右方向を短辺としたが、図面左右方向に評価領域１２０の長辺をとり、上下方向に短辺をとることもできる。
次に評価領域設定処理について図８を用いて説明する。図８は、第二の実施形態における評価領域設定処理のフローチャートである。

端末装置１１は、印影枠評価処理のステップＳ１２で評価領域設定処理をおこなう。評価領域設定処理では端末装置１１は、印影７０から生成した概形枠９０が、いずれかの評価領域１２０内に位置するように複数の評価領域１２０を隣接させて設定する。

［ステップＳ２１］端末装置１１は、概形枠９０の中心座標を取得する。
［ステップＳ２２］端末装置１１は、取得した中心座標を交点とする水平軸と垂直軸を設定する。

［ステップＳ２３］端末装置１１は、概形枠９０に設定した水平軸と垂直軸にもとづいて評価領域１２０を生成する。
たとえば、端末装置１１が生成する評価領域１２０の長辺は、概形枠９０に設定した垂直軸と概形枠９０との交点を結ぶ線分（以下、垂直軸線分）を複数等分した長さ（以下、等分長）である。また、端末装置１１が生成する評価領域１２０の短辺は、概形枠９０に設定した水平軸と概形枠９０との交点を結ぶ線分（以下、水平軸線分）を複数等分した長さである。

なお、端末装置１１は、水平軸と垂直軸にもとづいて評価領域１２０を生成することに限らない。たとえば、端末装置１１は、あらかじめ評価領域１２０の短辺と長辺の初期値を設定してもよい。

［ステップＳ２４］端末装置１１は、水平軸と概形枠９０の交点の一方を始点とし、始点が評価領域１２０の中心と重なるように最初の評価領域１２０を概形枠９０に配置する。なお、端末装置１１が最初の評価領域１２０を設定する位置は、水平軸と概形枠９０との交点に限らない。たとえば端末装置１１は、垂直軸と概形枠９０との交点を始点として評価領域１２０を配置してもよい。

［ステップＳ２５］端末装置１１は、概形枠９０が評価領域１２０の包含領域に含まれるか否かを判定する。端末装置１１は、概形枠９０が評価領域１２０の包含領域に含まれると判定した場合にステップＳ２７へすすみ、概形枠９０が評価領域１２０の包含領域に含まれないと判定した場合にステップＳ２６へすすむ。

［ステップＳ２６］端末装置１１は、評価領域１２０を所定の長さ伸長し、ステップＳ２５へすすむ。端末装置１１は、評価領域の長辺方向に沿った向きに包含領域を所定の長さ伸長することで、評価領域を所定の長さ伸長する。たとえば、端末装置１１は、評価領域１２０の長辺方向に沿った向きの付加領域の辺の長さと同一の長さだけ、包含領域を評価領域１２０の長辺方向に沿った向きに伸長する。

たとえば、概形枠９０が包含領域の両端にある付加領域の一方に含まれている場合には、端末装置１１は、概形枠９０を含んでいる付加領域の方向に包含領域を伸長する。また、概形枠９０が包含領域の両端にある付加領域それぞれに含まれている場合には、端末装置１１は、包含領域の両端にある付加領域の方向に包含領域を伸長する。

端末装置１１は、ステップＳ２５とステップＳ２６を繰り返すことで、概形枠９０が包含領域に含まれるまで、評価領域１２０の長辺方向に沿った向きに包含領域を伸長する。
ここで評価領域１２０の伸長について図９を用いて説明する。図９は、第二の実施形態における評価領域の伸長の一例を示す図である。

図９（Ａ）に示すように、評価領域１３０の包含領域と、両端の付加領域に概形枠１２５が含まれ、評価領域の上下の短辺と概形枠１２５とが交差する。このような場合に、端末装置１１は、概形枠１２５が包含領域の両端にある付加領域に含まれているため、包含領域の両端にある付加領域の方向に包含領域を伸長することで、付加領域の大きさを変えることなく評価領域１３５を伸長する。このように包含領域を伸長することで、端末装置１１は、図９（Ｃ）のように、評価領域１４０の包含領域に概形枠１２５を含ませる。

図９（Ｂ）に示すように、評価領域１３５の包含領域と、両端の付加領域に概形枠１２５が含まれ、評価領域の長辺と概形枠１２５が２か所で交差する。このような場合に、概形枠１２５が包含領域の両端にある付加領域に含まれているため、包含領域の両端にある付加領域の方向に包含領域を伸長することで、付加領域の大きさを変えることなく評価領域１３５を伸長する。このように包含領域を伸長することで、端末装置１１は、図９（Ｃ）のように、評価領域１４０の包含領域に概形枠１２５を含ませる。

図９（Ｃ）に示すように、評価領域１４０の包含領域に概形枠１２５が含まれ、評価領域の長辺と概形枠１２５が２か所で交差する。たとえば、端末装置１１は、評価領域１４１の包含領域が概形枠１２５を含むように評価領域１４０と評価領域１４１を隣接させて概形枠１２５に設定することで、評価領域１４０、１４１のように評価領域を設定できる。

評価領域１４０は、評価領域１４０の中心に概形枠１２５に設定した始点を備え、評価領域１４０の長辺で概形枠１２５と２か所で交差する。また、評価領域１４１は、評価領域１４１の左右の長辺で概形枠１２５と交差する。したがって評価領域１４０、１４１に位置する概形枠１２５の長さは、少なくとも評価領域１４０、１４１の短辺の長さ以上となる。

なお、評価領域は、評価領域の短辺が水平軸線分の等分長であり、端末装置１１によって短辺方向に評価領域が隣接するように設定される。したがって、評価領域は、水平軸と概形枠１２５の他方の交点においても、評価領域１２０の短辺方向の中心と水平軸と概形枠１２５の交点が重なる。

したがって、端末装置１１は、概形枠１２５に設定された複数の評価領域において、少なくとも評価領域の短辺の長さ以上の印影枠７１を連続性の評価に用いることができる。このように、評価領域１２０の包含領域が概形枠９０を含むように評価領域１２０を設定することで、端末装置１１は、評価に用いる印影枠７１の長さをコントロールできる。

また、端末装置１１は、評価領域１４０、１４１のように概形枠１２５を含む包含領域の両端に付加領域が設定するため、印影７０の印影枠７１ににじみ等がある場合でも印影枠７１が評価領域外に位置することを抑止できる。

［ステップＳ２７］端末装置１１は、概形枠９０の全てがいずれかの評価領域１２０内に位置しているか否かを判定する。端末装置１１は、概形枠９０の全てがいずれかの評価領域１２０内に位置していないと判定した場合にステップＳ２８へすすみ、概形枠９０の全てがいずれかの評価領域１２０内に位置していると判定した場合に評価領域設定処理を終了する。なお、端末装置１１は、評価領域１２０の短辺が水平軸線分のｎ等分長である場合に、概形枠９０には評価領域が２ｎ個設定される。

［ステップＳ２８］端末装置１１は、評価領域１２０の長辺と概形枠９０が交差する交点を抽出する。
［ステップＳ２９］端末装置１１は、次の評価領域１２０を配置する。端末装置１１は、評価領域１２０の長辺と概形枠９０の交点が、次に配置する評価領域１２０の長辺の中心と重なるように次の評価領域１２０を配置する。

なお、端末装置１１は、評価領域１２０の長辺と概形枠９０の交点が、次に配置する評価領域１２０の長辺の中心と重なるように次の評価領域１２０を配置することに限らない。端末装置１１は、評価領域１２０の長辺と概形枠９０の交点が、次に配置する評価領域１２０の長辺の包含領域と重なるように次の評価領域１２０を配置すればよい。

評価領域設定処理によれば、端末装置１１は、印影枠７１が漏れなく評価領域１２０に位置し、なおかつ印影枠７１が複数の評価領域１２０に位置しないように評価領域１２０を設定できる。したがって、端末装置１１は、印影枠７１全体を漏れなく、なおかつ重複することなく評価できる。

次に印影７０が円印である場合の評価領域１２０の設定について図１０を用いて説明する。図１０は、第二の実施形態における円印の概形枠における評価領域の設定の一例を示す図である。図１０（Ａ）は、始点を水平軸と概形枠の交点として、評価領域を設定した図である。

図１０（Ａ）に示すように、評価領域１５０は、評価領域１５０の中心と始点が重なるように設定されている。端末装置１１は、評価領域の包含領域が概形枠１４５を包含するように評価領域１５０ａ、１５０ｂ、…、１５０ｃ、…、１５０ｄ、１５０ｅ、１５０ｆ、…、１５０ｇと順々に設定する。この時、評価領域１５０ｅでは、水平軸と概形枠１４５の他方の交点と、評価領域１５０ｅの短辺方向の中心が重なる。これは、評価領域１５０の短辺が水平軸線分の等分長であり、概形枠１４５に設定される複数の評価領域１５０の短辺が同一の長さであるためである。

また、評価領域は、短辺が水平軸線分の等分長であるため、垂直軸を挟んで対向する評価領域（たとえば、評価領域１５０と評価領域１５０ｅ）に位置する概形枠１４５の長さが等しくなる。また、複数の評価領域は、短辺が同一の長さであるため、水平軸を挟んで対向する評価領域（たとえば、評価領域１５０ｄと評価領域１５０ｆ）に位置する概形枠１４５の長さが等しくなる。

なお、評価領域は、短辺が水平軸線分の等分長でない場合には、始点に設定された評価領域１５０に位置する概形枠１４５と、水平軸と概形枠１４５の他方の交点に設定された評価領域１５０ｅに位置する概形枠１４５の長さが異なる。このような場合に、端末装置１１は、適切に評価するのに申し分のない長さの概形枠１４５が評価領域１５０ｅに位置するように評価領域を設定できないことがある。

したがって、水平軸と概形枠の交点を始点とする場合に、端末装置１１は、評価領域の短辺を、水平軸線分の等分長にするとよい。
なお、端末装置１１は、評価領域１５０を設定した後に、評価領域１５０ａと評価領域１５０ｇの両側から同時に順々と評価領域を設定するようにしてもよい。

図１０（Ｂ）は、評価領域の短辺が概形枠の水平軸線分の偶数等分長である場合に、始点を垂直軸と概形枠との交点として、評価領域を設定した図である。
図１０（Ｂ）に示すように、評価領域１５５は、評価領域１５５の中心と始点が重なるように設定されている。端末装置１１は、評価領域の包含領域が概形枠１４５を包含するように評価領域１５５ａ、…、１５５ｂ、１５５ｃと順々に設定する。この時、水平軸を始点とした場合と同様に、評価領域１５５ｃでは、水平軸と概形枠１４５の交点と、評価領域１５５ｃの短辺方向の中心が重なる。これは、評価領域の短辺が水平軸線分の偶数等分長であり、概形枠１４５に設定される複数の評価領域の短辺が同一の長さであるためである。

また、評価領域は、短辺が水平軸線分の等分長であるため、垂直軸を挟んで対向する評価領域に位置する概形枠１４５の長さが等しくなる。また、複数の評価領域は、短辺が同一の長さであるため、水平軸を挟んで対向する評価領域に位置する概形枠１４５の長さが等しくなる。

なお、評価領域の短辺を水平軸線分の奇数等分長とすると、水平軸と概形枠１４５との交点と、評価領域の長辺が重なる。このような評価領域では、印影枠７１の一部が評価領域外に位置する場合がある。したがって、垂直軸と概形枠１４５との交点を始点とする場合には、評価領域の短辺を、概形枠１４５の水平軸線分の偶数等分長にするとよい。

次に印影７０が楕円印である場合の評価領域１２０の設定について図１１を用いて説明する。図１１は、第二の実施形態における楕円印の概形枠における評価領域の設定の一例を示す図である。円印の概形枠９０における評価領域１２０の設定と同様の点については適宜省略する。

端末装置１１は、概形枠１６５の傾きを正規化（補正）することで、概形枠１６５の長軸（長手方向）に水平軸を引き、概形枠１６５の短軸に垂直軸を引く。端末装置１１は、評価領域を短辺方向に隣接して設定するため、このように端末装置１１が概形枠１６５の傾きを正規化し、長軸に水平軸を引き短軸に垂直軸を引くことで、水平軸が概形枠を最大に切断する。したがって端末装置１１は、概形枠の短軸に水平軸を引き長軸に垂直軸を引く場合に比べてより多くの評価領域１７０を概形枠１６５に設定できる。

評価領域１７０は、概形枠１６５と水平軸の交点を始点とし、評価領域１７０の中心と始点が重なるように設定されている。端末装置１１は、評価領域の包含領域が概形枠１６５を包含するように評価領域１７０ａ、…、１７０ｂ、…、１７０ｃと設定する。この時、評価領域１７０ｃでは、水平軸と概形枠１６５の他方の交点と、評価領域１７０ｃの短辺方向の中心が重なる。これは、評価領域１７０の短辺が水平軸線分の等分長であり、概形枠１６５に設定される複数の評価領域の短辺が同一の長さであるためである。

なお、端末装置１１は、円印と同様に垂直軸を始点として評価領域１７０を設定できる。この場合に端末装置１１は、評価領域１７０の短辺を円印の場合同様に概形枠１６５の水平軸線分の偶数等分長にするとよい。

次に印影７０が角印である場合の評価領域１２０の設定について図１２を用いて説明する。図１２は、第二の実施形態における角印の概形枠における評価領域の設定の一例を示す図である。円印の概形枠９０における評価領域１２０の設定と同様の点については適宜省略する。

端末装置１１は、概形枠１７５の傾きを正規化（補正）することで、概形枠１７５の対角線上（長手方向）に水平軸を引く。なお、概形枠１７５が正方形である場合には、概形枠１７５の傾きを正規化することで対角線上に水平軸と垂直軸を引く。

このように端末装置１１が概形枠１７５の傾きを正規化し、対角線に水平軸を引くことで、水平軸が概形枠１７５を最大に切断する。このように端末装置１１は、概形枠１７５の水平軸線分が長くなる方向に水平軸を引くことで、より多くの評価領域を設定できる。評価領域１８０は、概形枠１７５と水平軸の交点を始点とし、評価領域１８０の中心と始点が重なるように設定されている。端末装置１１は、評価領域の包含領域が概形枠１７５を包含するように評価領域１８０ａ、…、１８０ｂ、…、１８０ｃと設定する。この時、評価領域１８０ｃでは、水平軸と概形枠１７５の交点と、評価領域１８０ｃの短辺方向の中心が重なる。これは、評価領域１８０の短辺が水平軸線分の等分長であり、概形枠１７５に設定される複数の評価領域の短辺が同一の長さであるためである。

なお、端末装置１１は、角印が正方形の印影枠である場合には、概形枠１７５の対角線上に水平軸と垂直軸を引くことで、それぞれの評価領域に位置する概形枠１７５の長さが等しくなる。

なお、端末装置１１は、角印の印影枠７１が正方形である場合には、円印と同様に垂直軸を始点として評価領域１２０を設定できる。この場合に端末装置１１は、評価領域１２０の短辺を円印の場合と同様に概形枠９０の水平軸線分の偶数等分長にするとよい。

次に一部評価処理について図１３を用いて説明する。図１３は、第二の実施形態における一部評価処理のフローチャートである。
端末装置１１は、印影枠評価処理のステップＳ１３で一部評価処理をおこなう。一部評価処理では、端末装置１１は、設定した評価領域毎に印影枠７１の連続性を評価する。

［ステップＳ３１］端末装置１１は、概形枠９０に設定した評価領域１２０にもとづいて印影７０に評価領域１２０を設定する。端末装置１１は、たとえば、概形枠９０と印影枠７１を置換することで評価領域１２０を印影枠７１に設定する。

なお、端末装置１１は、印影枠７１と重なる位置に概形枠９０を生成し、評価領域１２０を設定した場合には、改めて印影枠７１に評価領域１２０を設定する必要はない。
［ステップＳ３２］端末装置１１は、評価をおこなう評価領域１２０を選択する。端末装置１１は、たとえば、始点が位置する評価領域１２０から順番に評価する評価領域１２０を選択する。

［ステップＳ３３］端末装置１１は、評価領域１２０内に位置する印影枠７１が評価領域１２０の長辺と２つの交点を持つか否かを判定する。端末装置１１は、印影枠７１が評価領域１２０の長辺と２つの交点を持つと判定した場合にステップＳ３４にすすみ、印影枠７１が評価領域１２０の長辺と２つの交点を持たない場合にステップＳ３５にすすむ。

なお、端末装置１１は、評価領域１２０によって判定内容を変えてもよい。たとえば、水平軸と概形枠９０の交点が位置する評価領域１２０では、端末装置１１は、印影枠７１が評価領域１２０の長辺のどちらか一方と２つの交点を持つか否かを判定する。そして、それ以外の評価領域１２０では、端末装置１１は、印影枠７１が評価領域１２０の長辺のそれぞれに交点を持つか否かを判定する。

［ステップＳ３４］端末装置１１は、２つの交点が評価領域１２０で連続している（繋がっている）か否かを判定する。端末装置１１は、２つの交点が評価領域１２０で連続している場合にステップＳ３６にすすみ、２つの交点が評価領域１２０で連続していない場合にステップＳ３５にすすむ。

［ステップＳ３５］端末装置１１は、評価領域１２０を不連続領域と評価する。端末装置１１は、評価領域１２０に位置する印影枠７１が連続していないため、評価領域１２０を不連続領域であると評価する。

［ステップＳ３６］端末装置１１は、評価領域１２０を連続領域と評価する。端末装置１１は、評価領域１２０内で印影枠７１が連続しているため、評価領域１２０を連続領域であると評価する。

［ステップＳ３７］端末装置１１は、不連続領域の連続出現数をカウントアップする。連続出現数は、不連続領域と評価された評価領域が連続して出現した数である。
［ステップＳ３８］端末装置１１は、不連続領域の総数をカウントアップする。

［ステップＳ３９］端末装置１１は、不連続領域の連続出現数をクリアする。
［ステップＳ４０］端末装置１１は、不連続領域の連続出現数が最大連続出現数以上であるか否かを判定する。端末装置１１は、不連続領域の連続出現数が最大連続出現数以上であると判定した場合にステップＳ４１にすすみ、不連続領域の連続出現数が最大連続出現数以上でないと判定した場合にステップＳ４２にすすむ。

［ステップＳ４１］端末装置１１は、現在の不連続領域の連続出現数を最大連続出現数として更新する。端末装置１１は、現在の不連続領域の連続出現数が最大連続出現数以上であるため、現在の不連続領域の連続出現数を新たに最大連続出現数として更新する。

［ステップＳ４２］端末装置１１は、全ての評価領域１２０について評価をおこなったか否かを判定する。端末装置１１は、全ての評価領域１２０について評価をおこなっていないと判定した場合にステップＳ３２にすすみ、全ての評価領域１２０について評価をおこなったと判定した場合に一部評価処理を終了する。

なお、評価領域１２０に位置する概形枠９０の長さが異なるため、端末装置１１が評価に用いる印影枠７１の長さも異なり、評価結果に与える影響の大きさが異なる。
したがって、より緻密な評価をおこなうために端末装置１１は、たとえば、評価領域１２０に位置する概形枠９０の長さに応じて各評価領域１２０に重みづけをして評価をおこなってもよい。また、円印である場合には、端末装置１１は、概形枠９０を所定の角度（たとえば、９０°）傾けて一部評価処理を複数回おこない、不連続領域の最大連続出現数と、不連続領域の総数の最大値を取得してもよい。このように端末装置１１は、重みづけや、複数回の評価をおこなうことで、評価領域１２０に位置する印影枠７１の長さが異なることによる、評価結果に与える影響の違いを軽減することができる。

次に全部評価処理について図１４を用いて説明する。図１４は、第二の実施形態における全部評価処理のフローチャートである。
端末装置１１は、印影枠評価処理のステップＳ１４で全部評価処理をおこなう。全部評価処理では、端末装置１１は、一部評価処理の結果にもとづいて、印影枠７１の連続性を評価する。

［ステップＳ５１］端末装置１１は、不連続領域の最大連続出現数が所定値以上であるか否かを判定する。端末装置１１は、不連続領域の最大連続出現数が所定値以上であると判定した場合にステップＳ５４にすすみ、不連続領域の最大連続出現数が所定値以上でないと判定した場合にステップＳ５２にすすむ。

［ステップＳ５２］端末装置１１は、不連続領域の総数が所定値以上であるか否かを判定する。端末装置１１は、不連続領域の総数が所定値以上であると判定した場合にステップＳ５４にすすみ、不連続領域の総数が所定値以上でないと判定した場合にステップＳ５３にすすむ。

［ステップＳ５３］端末装置１１は、印影枠７１の全体としての連続性があると評価し、全部評価処理を終了する。
［ステップＳ５４］端末装置１１は、印影枠７１の全体としての連続性がないと評価し、全部評価処理を終了する。

以上が第二の実施形態の端末装置１１である。このような端末装置１１によれば、印影７０から印影枠７１の概形となる概形枠９０を生成する。そして、端末装置１１は、生成した概形枠９０の一部が矩形の領域内に位置する評価領域１２０を重複なしに複数配置して、概形枠９０が複数の評価領域１２０のうちいずれかの評価領域１２０の領域内に位置するように設定する。そして、端末装置１１は、設定した評価領域１２０を用いて評価領域毎に領域内に位置する印影枠７１の連続性を評価する。そして、端末装置１１は、評価領域毎の評価にもとづいて印影枠７１の全体としての連続性を評価する。

これによれば、端末装置１１は、印影７０の押印状態を適切に評価できる。
［第三の実施形態］
次に第二の実施形態の変形例である第三の実施形態について説明する。第二の実施形態と同様の構成とできる点については同様の符号を用いて説明する。

第三の実施形態では第二の実施形態と評価領域の設定の方法が異なる。第二の実施形態では、端末装置１１は、水平軸の上方に位置する概形枠９０の一部と、水平軸の下方に位置する概形枠９０が評価領域１２０に位置するように、水平軸の上方と水平軸の下方それぞれで評価領域１２０を設定している（たとえば、図１０（Ａ）の評価領域１５０ｂ、１５０ｇ）。

第三の実施形態では、端末装置１１は、あらかじめ長辺が十分長い評価領域１２０を生成する。たとえば、端末装置１１は、評価領域１２０の長辺が、評価領域１２０の長辺方向に沿った向きの付加領域の辺の２倍の長さと、垂直軸線分の長さを足した長さである評価領域１２０を生成する。そして端末装置１１は、評価領域１２０を概形枠９０に設定することで、評価領域１２０の包含領域に水平軸の上方に位置する概形枠９０と水平軸の下方に位置する概形枠９０が位置するように設定する。その後、端末装置１１は、水平軸を用いて評価領域１２０を分割することで、全ての評価領域１２０に概形枠９０が１つ位置するように設定する。

ここで評価領域設定処理について、図１５を用いて説明する。図１５は、第三の実施形態における評価領域設定処理のフローチャートである。
端末装置１１は、印影枠評価処理のステップＳ１２で評価領域設定処理をおこなう。評価領域設定処理では端末装置１１は、印影７０から生成した概形枠９０が、いずれかの評価領域１２０内に位置するように複数の評価領域１２０を短辺方向に隣接して設定する。

［ステップＳ６１］端末装置１１は、概形枠９０の中心座標を取得する。
［ステップＳ６２］端末装置１１は、取得した中心座標を交点とする水平軸と垂直軸を設定する。

［ステップＳ６３］端末装置１１は、概形枠９０に設定した水平軸と垂直軸にもとづいて評価領域１２０を生成する。
たとえば、端末装置１１が生成する評価領域１２０の短辺は、水平軸線分の等分長である。また、端末装置１１が生成する評価領域１２０の長辺は、評価領域１２０の長辺方向に沿った向きの付加領域の辺の２倍の長さと、垂直軸線分の長さを足した長さである。

このような評価領域１２０であれば、端末装置１１は、包含領域を伸長せずに水平軸の上方に位置する概形枠９０と、水平軸の下方に位置する概形枠９０がそれぞれ評価領域１２０の包含領域に含まれるように評価領域１２０を設定できる。

なお、端末装置１１は、水平軸と垂直軸にもとづいて評価領域１２０を生成することに限らない。たとえば、端末装置１１は、あらかじめ評価領域１２０の短辺と長辺の初期値を設定してもよい。

［ステップＳ６４］端末装置１１は、水平軸と概形枠９０の交点の一方を始点とし、始点が評価領域１２０の中心が重なるように最初の評価領域１２０を配置する。
［ステップＳ６５］端末装置１１は、概形枠９０の全てがいずれかの評価領域１２０に位置しているか否かを判定する。端末装置１１は、概形枠９０の全てがいずれかの評価領域１２０に位置していないと判定した場合にステップＳ６６へすすみ、概形枠９０の全てがいずれかの評価領域１２０内に位置していると判定した場合にステップＳ６７へすすむ。

［ステップＳ６６］端末装置１１は、次の評価領域１２０を短辺方向に隣接させて設定する。たとえば、端末装置１１は、評価領域１２０の長辺の中心と水平軸が重なるように次の評価領域１２０を設定する。

なお、評価領域１２０の長辺が垂直軸線分と比べて十分長いため、包含領域は、水平軸の上方に位置する概形枠９０と、水平軸の下方に位置する概形枠９０を含む。
［ステップＳ６７］端末装置１１は、水平軸を用いて評価領域１２０を２つに分割する。端末装置１１は、１つの評価領域１２０に概形枠９０が１つ位置するように水平軸を用いて評価領域１２０を２つに分割する。評価領域１２０の分割については、図１６を用いて詳細に説明する。

なお、端末装置１１は、評価領域１２０を分割すると評価領域１２０の短辺が水平軸線分のｎ等分長である場合に、概形枠９０には評価領域が２ｎ＋２個設定される。
次に、評価領域を設定した具体例について説明する。図１６は、第三の実施形態における円印の概形枠における評価領域の設定の一例を示す図である。

図１６（Ａ）は、概形枠１８５に長辺が垂直軸線分と比べて十分長い評価領域１２０を設定した図である。
概形枠１８５には評価領域１２０が、評価領域１９０、１９１、１９２、１９３、１９４、１９５、１９６、１９７、１９８と長辺が垂直軸線分と比べて十分長い評価領域１２０が設定されている。

評価領域１９０、１９１、１９２、１９３、１９４、１９５、１９６、１９７、１９８では、包含領域が水平軸の上方に位置する概形枠１８５と、水平軸の下方に位置する概形枠１８５を含む。

図１６（Ｂ）は評価領域１９１である。評価領域１９１の包含領域は、水平軸の上方に位置する概形枠１８５と、水平軸の下方に位置する概形枠１８５を含んでいる。
評価領域１９１は、水平軸を用いて評価領域１９１ａと評価領域１９１ｂに分割されている。このように端末装置１１が評価領域１９１を水平軸で分割しているため、評価領域１９１ａと評価領域１９１ｂの間では印影の漏れが生じない。したがって、評価領域１９１ａと評価領域１９１ｂでは、包含領域の水平軸側の端部には付加領域が付加されていない。このように端末装置１１は、水平軸を用いて評価領域を分割することで、新たに評価領域を生成し、評価領域に概形枠が１つ位置するように設定できる。

なお、水平軸で評価領域を分割した場合に、概形枠１８５が評価領域１２０の短辺と交差する場合が生じる。具体的には、評価領域１９０を分割した評価領域１９０ａと評価領域１９０ｂでは、短辺の中心と概形枠１８５が交点をもつ。このような短辺の中心と概形枠が交点を持つ評価領域であっても、端末装置１１は、少なくとも評価領域の短辺の半分の長さ以上の印影枠７１を連続性の評価に用いることができる。したがって、端末装置１１は、評価に用いる印影枠７１の長さをコントロールできる。なお、角印（正方形、長方形（詳細例は省略する））、楕円印も同様の方法で評価領域１２０を設定できる。

以上が第三の実施形態の端末装置１１である。これによれば、端末装置１１は、評価領域１２０の包含領域が概形枠９０を含むため、包含領域を伸長することなく評価領域１２０を設定できる。したがって、端末装置１１は、より迅速に評価領域１２０を概形枠９０に設定できる。

なお、上記の処理機能は、コンピュータによって実現できる。その場合、情報処理装置１、または端末装置１１が有すべき機能の処理内容を記述したプログラムが提供される。そのプログラムをコンピュータで実行することにより、上記処理機能がコンピュータ上で実現される。処理内容を記述したプログラムは、コンピュータで読取り可能な記録媒体（可搬型記録媒体を含む）に記録しておくことができる。コンピュータで読取り可能な記録媒体としては、磁気記録装置、光ディスク、光磁気記録媒体、半導体メモリなどがある。磁気記録装置には、ハードディスク装置（ＨＤＤ）、フレキシブルディスク（ＦＤ）、磁気テープなどがある。光ディスクには、ＤＶＤ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ／ＲＷなどがある。光磁気記録媒体には、ＭＯ（Magneto-Optical disk）などがある。

プログラムを流通させる場合には、たとえば、そのプログラムが記録されたＤＶＤ、ＣＤ−ＲＯＭなどの可搬型記録媒体が販売される。また、プログラムをサーバコンピュータの記憶装置に格納しておき、ネットワークを介して、サーバコンピュータから他のコンピュータにそのプログラムを転送することもできる。

プログラムを実行するコンピュータは、たとえば、可搬型記録媒体に記録されたプログラムもしくはサーバコンピュータから転送されたプログラムを、自己の記憶装置に格納する。そして、コンピュータは、自己の記憶装置からプログラムを読取り、プログラムにしたがった処理を実行する。なお、コンピュータは、可搬型記録媒体から直接プログラムを読取り、そのプログラムにしたがった処理を実行することもできる。また、コンピュータは、サーバコンピュータからプログラムが転送されるごとに、逐次、受け取ったプログラムにしたがった処理を実行することもできる。

なお、上述の実施形態は、実施形態の要旨を逸脱しない範囲内において種々の変更を加えることができる。
さらに、上述の実施形態は、多数の変形、変更が当業者にとって可能であり、説明した正確な構成および応用例に限定されるものではない。

１ 情報処理装置
２ 生成部
３ 設定部
４ 一部評価部
５ 全部評価部
６、７０、７０ａ、７０ｂ、７０ｃ 印影
７、７１、７１ａ、７１ｂ、７１ｃ 印影枠
８、９０ 概形枠
９、９ａ、９ｂ、９ｃ、９ｄ、９ｅ、９ｆ、１２０ 評価領域
１０ 印鑑照合システム
１１ 端末装置

Claims (8)

1. 印影から印影枠の概形となる概形枠を生成する生成部と、
   前記概形枠の一部が矩形の領域内に位置する評価領域を重複なしに複数配置して、前記概形枠が前記複数の評価領域のうちいずれかの評価領域の領域内に位置するように設定する設定部と、
   前記評価領域毎に前記領域内に位置する前記印影枠の一部の連続性を評価する一部評価部と、
   前記評価領域毎の前記評価にもとづいて前記印影枠の全部の連続性を評価する全部評価部と、
   を備えることを特徴とする情報処理装置。
2. 前記評価領域は、短辺と長辺とからなる矩形の領域であって、
   前記長辺を可変長にして前記概形枠を包含する第一領域と、
   前記評価領域の長辺の両端に位置する固定長の第二領域と、
   から構成されることを特徴とする請求項１記載の情報処理装置。
3. 前記設定部は、前記概形枠の長手方向に前記複数の評価領域を並べて配置することを特徴とする請求２記載の情報処理装置。
4. 前記短辺は、
   前記長手方向の長さを所定等分した長さであることを特徴とする請求項２または請求項３いずれか１つに記載の情報処理装置。
5. 前記設定部は、前記評価領域の中心に前記長手方向の両端部が位置するように前記評価領域を設定することを特徴とする請求項４記載の情報処置装置。
6. 前記設定部は、前記概形枠の長手方向を水平軸または垂直軸に揃えることを特徴とする請求項３記載の情報処理装置。
7. コンピュータが、
   印影から印影枠の概形となる概形枠を生成し、
   前記概形枠の一部が矩形の領域内に位置する評価領域を重複なしに複数配置して、前記概形枠が前記複数の評価領域のうちいずれかの評価領域の領域内に位置するように設定し、
   前記評価領域毎に前記領域内に位置する前記印影枠の一部の連続性を評価し、
   前記評価領域毎の前記評価にもとづいて前記印影枠の全部の連続性を評価する、
   ことを特徴とする印影評価方法。
8. コンピュータに、
   印影から印影枠の概形となる概形枠を生成させ、
   前記概形枠の一部が矩形の領域内に位置する評価領域を重複なしに複数配置させて、前記概形枠が前記複数の評価領域のうちいずれかの評価領域の領域内に位置するように設定させ、
   前記評価領域毎に前記領域内に位置する前記印影枠の一部の連続性を評価させ、
   前記評価領域毎の前記評価にもとづいて前記印影枠の全部の連続性を評価させる、
   ことを特徴とする印影評価プログラム。

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