JP2014047402A - Etchant, method of producing conductive element, and method of producing processed body - Google Patents

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智男 福田
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an etchant suitably used for a printing method.SOLUTION: An etchant includes iodine, an iodine compound, and a solvent. The solvent includes a solvent having a boiling point of 170°C or more.

Description

本技術は、エッチング液、それを用いる導電性素子の製造方法、および加工体の製造方法に関する。詳しくは、印刷法に用いて好適なエッチング液に関する。   The present technology relates to an etching solution, a method for manufacturing a conductive element using the same, and a method for manufacturing a processed body. Specifically, the present invention relates to an etching solution suitable for use in a printing method.

従来、銀のエッチングでは酸やアルカリ溶液が使用されることが多い(例えば特許文献1、2参照)。しかし、これらのエッチング液は取り扱いが簡便でなく、特に酸は容器や、エッチング槽に何らかの工夫が必要である。金のエッチング液としてシアン化合物やヨウ素溶液などが知られている。シアン化合物は毒性が高いが、ヨウ素溶液は中性で扱いも簡便である(非特許文献1参照)。このヨウ素溶液は銀の溶解にも利用できることが、特許文献3に記載されている。   Conventionally, acid and alkali solutions are often used in silver etching (see, for example, Patent Documents 1 and 2). However, these etching solutions are not easy to handle, and in particular, the acid requires some contrivance in the container and the etching tank. Cyanide compounds and iodine solutions are known as gold etching solutions. Cyanide compounds are highly toxic, but iodine solutions are neutral and easy to handle (see Non-Patent Document 1). Patent Document 3 describes that this iodine solution can also be used for dissolving silver.

特開2004−238656号公報JP 2004-238656 A

特開2004−315887号公報JP 2004-315887 A

特開2003−109949号公報JP 2003-109949 A

Chemical Times 2004 No.3 P.10-16Chemical Times 2004 No.3 P.10-16

しかし、ヨウ素溶液は、エッチング槽でのいわゆるウェットエッチングでは利用可能であるが、エタノールなどが主溶媒では乾燥が速く直接印刷をおこなった場合、エッチングされる前に乾燥してしまう問題がある。   However, the iodine solution can be used in so-called wet etching in an etching tank, but there is a problem that when ethanol or the like is a main solvent and drying is performed quickly and directly printed, it is dried before being etched.

したがって、本技術の目的は、印刷法に用いて好適なエッチング液、それを用いる導電性素子の製造方法、および加工体の製造方法を提供することにある。   Accordingly, an object of the present technology is to provide an etching solution suitable for use in a printing method, a method for manufacturing a conductive element using the same, and a method for manufacturing a processed body.

上述の課題を解決するために、第1の技術は、
ヨウ素と、ヨウ素化合物と、溶媒とを含み、
溶媒は、沸点170℃以上の高沸点溶媒を含むエッチング液である。
In order to solve the above-mentioned problem, the first technique is:
Containing iodine, an iodine compound, and a solvent,
The solvent is an etching solution containing a high boiling point solvent having a boiling point of 170 ° C. or higher.

第2の技術は、
基材表面に設けられた導電層にエッチング液を印刷し、基材表面に絶縁要素のパターンを形成することにより、基材表面に導電部および絶縁部を形成することを含み、
エッチング液は、
ヨウ素と、ヨウ素化合物と、溶媒とを含み、
溶媒は、沸点170℃以上の高沸点溶媒を含む導電性素子の製造方法である。
The second technology is
Forming an electrically conductive portion and an insulating portion on the surface of the substrate by printing an etching solution on the conductive layer provided on the surface of the substrate, and forming a pattern of insulating elements on the surface of the substrate;
Etching solution
Containing iodine, an iodine compound, and a solvent,
A solvent is a manufacturing method of the electroconductive element containing the high boiling point solvent whose boiling point is 170 degreeC or more.

第3の技術は、
薄膜にエッチング液を印刷し、複数の孔部要素を薄膜に形成することを含み、
エッチング液は、
ヨウ素と、ヨウ素化合物と、溶媒とを含み、
溶媒は、沸点170℃以上の高沸点溶媒を含む薄膜のパターニング方法である。
The third technology is
Printing an etchant on the thin film, and forming a plurality of hole elements in the thin film,
Etching solution
Containing iodine, an iodine compound, and a solvent,
The solvent is a method for patterning a thin film containing a high boiling point solvent having a boiling point of 170 ° C. or higher.

本技術によれば、エッチング液は溶媒を含み、この溶媒は、沸点170℃以上の高沸点溶媒を含んでいるので、エッチング液の印刷時において、エッチング液の乾燥を抑制することができる。   According to the present technology, the etching solution contains a solvent, and this solvent contains a high-boiling point solvent having a boiling point of 170 ° C. or higher, so that drying of the etching solution can be suppressed during printing of the etching solution.

以上説明したように、本技術によれば、印刷法に用いて好適なエッチング液を提供できる。   As described above, according to the present technology, an etching solution suitable for use in a printing method can be provided.

図1は、情報入力装置の一構成例を示す断面図である。FIG. 1 is a cross-sectional view illustrating a configuration example of an information input device. 図2Aは、第1の透明導電性素子の一構成例を示す平面図である。図2Bは、図2Aに示したA−A線に沿った断面図である。FIG. 2A is a plan view showing a configuration example of the first transparent conductive element. 2B is a cross-sectional view taken along line AA shown in FIG. 2A. 図3Aは、第1の透明導電性素子の透明電極部の一構成例を示す平面図である。図3Bは、図3Aに示したA−A線に沿った断面図である。図3Cは、第1の透明導電性素子の透明絶縁部の一構成例を示す平面図である。図3Dは、図3Cに示したA−A線に沿った断面図である。FIG. 3A is a plan view illustrating a configuration example of the transparent electrode portion of the first transparent conductive element. 3B is a cross-sectional view taken along line AA shown in FIG. 3A. FIG. 3C is a plan view illustrating a configuration example of the transparent insulating portion of the first transparent conductive element. 3D is a cross-sectional view taken along the line AA shown in FIG. 3C. 図4Aは、透明電極部における孔部要素の第1の配置例を示す略線図である。図4Bは、透明電極部における孔部要素の第2の配置例を示す略線図である。FIG. 4A is a schematic diagram illustrating a first arrangement example of hole elements in a transparent electrode portion. FIG. 4B is a schematic diagram illustrating a second arrangement example of the hole elements in the transparent electrode portion. 図5Aは、透明絶縁部における孔部要素の第1の配置例を示す略線図である。図5Bは、透明絶縁部における孔部要素の第2の配置例を示す略線図である。FIG. 5A is a schematic diagram illustrating a first arrangement example of hole elements in the transparent insulating portion. FIG. 5B is a schematic diagram illustrating a second arrangement example of the hole elements in the transparent insulating portion. 図6Aは、境界部の形状パターンの例を示す平面図である。図6Bは、図6Aに示したA−A線に沿った断面図である。FIG. 6A is a plan view illustrating an example of a shape pattern of a boundary portion. 6B is a cross-sectional view taken along line AA shown in FIG. 6A. 図7Aは、境界部における孔部要素の第1の配置例を示す略線図である。図7Bは、境界部における孔部要素の第2の配置例を示す略線図である。FIG. 7A is a schematic diagram illustrating a first arrangement example of hole elements in a boundary portion. FIG. 7B is a schematic diagram illustrating a second arrangement example of the hole elements in the boundary portion. 図8Aは、第2の透明導電性素子の一構成例を示す平面図である。図8Bは、図8Aに示したA−A線に沿った断面図である。FIG. 8A is a plan view showing a configuration example of the second transparent conductive element. 8B is a cross-sectional view taken along the line AA shown in FIG. 8A. 図9A〜図9Cは、本技術の第2の実施形態に係る第1の透明導電性素子の製造方法の一例について説明するための工程図である。9A to 9C are process diagrams for explaining an example of the method for manufacturing the first transparent conductive element according to the second embodiment of the present technology. 図10Aは、パターニングされた透明電極部の一部を拡大して表す断面図である。図10Bは、絶縁部要素の他の構成例を示す断面図である。FIG. 10A is an enlarged sectional view showing a part of the patterned transparent electrode portion. FIG. 10B is a cross-sectional view illustrating another configuration example of the insulating element. 図11は、ランダムパターンの生成アルゴリズムについて説明するためのフローチャートである。FIG. 11 is a flowchart for explaining a random pattern generation algorithm. 図12A〜図12Dは、ランダムパターンの生成アルゴリズムについて説明するための略線図である。12A to 12D are schematic diagrams for explaining a random pattern generation algorithm. 図13A、図13Bは、グリッドを構成するドット(マス目)と孔部要素との大きさの関係を示す略線図である。FIG. 13A and FIG. 13B are schematic diagrams showing the relationship between the size of dots (squares) constituting the grid and the hole elements. 図14は、本技術の第1の実施形態に係る第1の透明導電性素子の変形例を示す断面図である。FIG. 14 is a cross-sectional view illustrating a modified example of the first transparent conductive element according to the first embodiment of the present technology. 図15Aは、2種のドットサイズを有するグリッドの例を示す略線図である。図15Bは、2種のドットサイズを有するグリッドを用いて形成した透明電極部の例を示す略線図である。図15Cは、2種のドットサイズを有するグリッドを用いて形成した透明絶縁部の例を示す略線図である。FIG. 15A is a schematic diagram illustrating an example of a grid having two types of dot sizes. FIG. 15B is a schematic diagram illustrating an example of a transparent electrode portion formed using a grid having two types of dot sizes. FIG. 15C is a schematic diagram illustrating an example of a transparent insulating portion formed using a grid having two types of dot sizes. 図16Aは、3種のドットサイズを有するグリッドの例を示す略線図である。図16Bは、3種のドットサイズを有するグリッドを用いて形成した透明電極部の例を示す略線図である。図16Cは、3種のドットサイズを有するグリッドを用いて形成した透明絶縁部の例を示す略線図である。FIG. 16A is a schematic diagram illustrating an example of a grid having three types of dot sizes. FIG. 16B is a schematic diagram illustrating an example of a transparent electrode portion formed using a grid having three types of dot sizes. FIG. 16C is a schematic diagram illustrating an example of a transparent insulating portion formed using a grid having three types of dot sizes. 図17Aは、ドット形状を平行四辺形状としたグリッドの例を示す略線図である。図17Bは、ドット形状を平行四辺形状としたグリッドを用いて形成した透明電極部の例を示す略線図である。図17Cは、ドット形状を平行四辺形状としたグリッドを用いて形成した透明絶縁部の例を示す略線図である。FIG. 17A is a schematic diagram illustrating an example of a grid in which the dot shape is a parallelogram shape. FIG. 17B is a schematic diagram illustrating an example of a transparent electrode portion formed using a grid in which the dot shape is a parallelogram shape. FIG. 17C is a schematic diagram illustrating an example of a transparent insulating portion formed using a grid in which the dot shape is a parallelogram shape. 図18は、第5の実施形態に係る配線の形成方法により形成される配線の一構成例を示す平面図である。FIG. 18 is a plan view showing a configuration example of wiring formed by the wiring forming method according to the fifth embodiment. 図19Aは、図18Aに示した領域Rの第1の構成例を示す平面図である。図19Bは、図18Aに示した領域Rの第2の構成例を示す平面図である。FIG. 19A is a plan view showing a first configuration example of the region R shown in FIG. 18A. FIG. 19B is a plan view showing a second configuration example of the region R shown in FIG. 18A.

本技術の実施形態について図面を参照しながら以下の順序で説明する。
1.第1の実施形態(エッチング液の例)
2.第2の実施形態(導電性素子の製造方法の例)
3.第3の実施形態(複数の大きさの孔部要素を有する透明電極部および透明絶縁部の例)
4.第4の実施形態(孔部要素の配列方向を斜め交差の関係とした例)
5.第5の実施形態(配線の形成方法の例)
Embodiments of the present technology will be described in the following order with reference to the drawings.
1. First embodiment (example of etching solution)
2. Second Embodiment (Example of Method for Manufacturing Conductive Element)
3. Third Embodiment (Example of Transparent Electrode Part and Transparent Insulating Part Having Multiple Size Hole Element)
4). Fourth embodiment (example in which the arrangement direction of the hole elements is in an oblique crossing relationship)
5. Fifth Embodiment (Example of Wiring Formation Method)

<1.第1の実施形態>
[エッチング液]
エッチング液は、ヨウ素と、ヨウ素化合物と、溶媒とを含んでいる。溶媒は、単一溶媒、または2種以上の溶媒を含む混合溶媒であり、高沸点溶媒を含んでいる。溶媒は、エッチング液の乾燥を抑制する観点からすると、高沸点溶媒からなる、もしくは高沸点溶媒を主成分とすることが好ましい。ここで、主成分とは、溶媒全体(混合溶媒全体)100質量部に対して50質量部以上100質量部未満の範囲内であることを意味する。
<1. First Embodiment>
[Etching solution]
The etching solution contains iodine, an iodine compound, and a solvent. The solvent is a single solvent or a mixed solvent containing two or more solvents, and includes a high boiling point solvent. From the viewpoint of suppressing the drying of the etching solution, the solvent is preferably composed of a high-boiling solvent or contains a high-boiling solvent as a main component. Here, the main component means that it is within the range of 50 parts by mass or more and less than 100 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the whole solvent (the whole mixed solvent).

高沸点溶媒の沸点は、170℃以上、好ましくは170℃以上310℃以下の範囲内である。高沸点溶媒の沸点が170℃以上であると、エッチング液の印刷時において、エッチング液の乾燥を抑制することができる。一方、高沸点溶媒の沸点が310℃以下であると、高沸点溶媒を市販品として容易に入手することができる。   The boiling point of the high boiling point solvent is 170 ° C or higher, preferably 170 ° C or higher and 310 ° C or lower. When the boiling point of the high-boiling solvent is 170 ° C. or higher, drying of the etching solution can be suppressed during printing of the etching solution. On the other hand, when the boiling point of the high boiling point solvent is 310 ° C. or lower, the high boiling point solvent can be easily obtained as a commercial product.

溶媒が高沸点溶媒を主成分とする場合、その副成分の溶媒としては低沸点溶媒が用いられる。特に、ヨウ素化合物を含む溶液の場合、安価な水を利用でき有機溶媒の配合量を減らすことができるため、エッチング液を低廉化することができる。   When the solvent contains a high-boiling solvent as a main component, a low-boiling solvent is used as a sub-component solvent. In particular, in the case of a solution containing an iodine compound, since inexpensive water can be used and the amount of the organic solvent can be reduced, the etching solution can be reduced in price.

エッチング液は、印刷法に適用して好適なものである。印刷法のうちでも特にインクジェット法に適用して好適なものである。インクジェット法では、印刷の液滴が数pL以下と小さいため、比表面積が大きくなり、乾燥速度が速くなる。しかしながら、本実施形態に係るエッチング液では、上述したように溶媒が高沸点溶媒を含んでいるので、印刷の液滴が数pL以下と小さい場合であっても、乾燥速度の上昇を抑制することができる。したがって、所望の形状の絶縁要素を導電層にパターニングすることができる。すなわち、レジスト成膜や露光などの複雑な工程なしに、直接印刷にて任意のエッチングパターンを形成できる。   The etching solution is suitable for application to a printing method. Among the printing methods, it is particularly suitable when applied to the ink jet method. In the ink jet method, since the printing droplets are as small as several pL or less, the specific surface area is increased and the drying speed is increased. However, in the etching solution according to the present embodiment, since the solvent contains a high boiling point solvent as described above, an increase in the drying speed is suppressed even when printing droplets are as small as several pL or less. Can do. Therefore, the insulating element having a desired shape can be patterned into the conductive layer. That is, an arbitrary etching pattern can be formed by direct printing without complicated processes such as resist film formation and exposure.

エッチング液は、中性であることが好ましい。エッチング液のハンドリングが容易となるからである。ここで、中性とは、水素イオン指数(Ph)が6以上8以下の範囲内であることを意味する。エッチング液は、金属をエッチングする金属用エッチング液として用いて好適なものであり、金属のうちでも銀をエッチングする用途に用いて特に好適なものである。   The etchant is preferably neutral. This is because the etching liquid can be easily handled. Here, neutral means that the hydrogen ion index (Ph) is in the range of 6 to 8. The etching solution is suitable for use as a metal etching solution for etching metal, and is particularly suitable for use in etching silver among metals.

(ヨウ素化合物)
ヨウ素化合物は、I-イオンを供給できるものであれば特に限定されるものではなく、公知の材料を使用できる。例えば、ヨウ化カリウム、ヨウ化テトラブチルアンモニウム、ヨウ化アンモニウムなどを単独または2種以上組み合わせて使用できる。溶媒として水系の溶媒を用いる場合、ヨウ化カリウム溶液を用意し、これにヨウ素を溶解することが好ましい。ヨウ素は水に溶けにくいが、ヨウ化リチウム水溶液には良く溶けるため、所定の濃度までヨウ素を溶解することができるからである。
(Iodine compound)
The iodine compound is not particularly limited as long as it can supply I ions, and a known material can be used. For example, potassium iodide, tetrabutylammonium iodide, ammonium iodide or the like can be used alone or in combination of two or more. When an aqueous solvent is used as the solvent, it is preferable to prepare a potassium iodide solution and dissolve iodine therein. This is because iodine is difficult to dissolve in water, but dissolves well in an aqueous lithium iodide solution, so that iodine can be dissolved to a predetermined concentration.

(高沸点溶媒)
高沸点溶媒は、170℃以上の沸点を有するものであれば特に限定されるものではなく、公知の溶媒を使用できる。例えば、ジエチレングリコール、プロピレングリコール、トリエチレングリコール、エチレングリコール、ジエチレングリコールモノエチルエーテル、エチレングリコールモノメチルエーテル、ジプロピレングリコールメチルエーテル、トリプロピレングリコールメチルエーテル、ジプロピレングリコールn−プロピルエーテル、プロピレングリコールn−ブチルエーテル、ジプロピレングリコールn−ブチルエーテル、トリプロピレングリコールn−ブチルエーテル、プロピレングリコールフェニルエーテル、ジプロピレングリコールジメチルエーテル、ジプロピレングリコールメチルエーテルアセテート、プロピレングリコールジアセテート、1,3−ブチレングリコールジアセテート、エチレングリコールモノブチルエーテルアセテート、ジエチレングリコールモノエチルエーテルアセテート、ジエチレングリコールモノブチルエーテルアセテート、3−メトキシブタノール、ジメチルスルホキシド、ブチルカルビトール、N−メチルピロリドンなどを単独または2種以上組み合わせて使用できる。特に、グリコール系、エーテル系は水との相溶性もよく、ヨウ化カリウム水溶液と簡便に混合できる。
(High boiling point solvent)
A high boiling point solvent will not be specifically limited if it has a boiling point of 170 degreeC or more, A well-known solvent can be used. For example, diethylene glycol, propylene glycol, triethylene glycol, ethylene glycol, diethylene glycol monoethyl ether, ethylene glycol monomethyl ether, dipropylene glycol methyl ether, tripropylene glycol methyl ether, dipropylene glycol n-propyl ether, propylene glycol n-butyl ether, Dipropylene glycol n-butyl ether, tripropylene glycol n-butyl ether, propylene glycol phenyl ether, dipropylene glycol dimethyl ether, dipropylene glycol methyl ether acetate, propylene glycol diacetate, 1,3-butylene glycol diacetate, ethylene glycol monobutyl ether acetate The , Diethylene glycol monoethyl ether acetate, diethylene glycol monobutyl ether acetate, 3-methoxy butanol, dimethyl sulfoxide, butyl carbitol, N- such methylpyrrolidone may be used alone or in combination of two or more. In particular, glycol-based and ether-based compounds have good compatibility with water and can be easily mixed with an aqueous potassium iodide solution.

(その他の溶媒)
高沸点溶媒と混合するその他の溶媒は、例えば、170℃以下の低沸点溶媒である。低沸点溶媒は、170℃以下の沸点を有するものであれば特に限定されるものではなく、公知の溶媒を使用できる。例えば、純水、エタノール、イソプロピルアルコール(IPA)、メチルエチルケトン(MEK)、トルエン(TOL)、シクロヘキサノン、アセトニトリルなどを単独または2種以上組み合わせて使用できる。
(Other solvents)
The other solvent mixed with the high boiling point solvent is, for example, a low boiling point solvent at 170 ° C. or lower. A low boiling point solvent will not be specifically limited if it has a boiling point of 170 degrees C or less, A well-known solvent can be used. For example, pure water, ethanol, isopropyl alcohol (IPA), methyl ethyl ketone (MEK), toluene (TOL), cyclohexanone, acetonitrile and the like can be used alone or in combination of two or more.

(増粘剤)
エッチング液は、高粘度化の観点からすると、増粘剤をさらに含んでいることが好ましい。増粘剤は特に限定されるものではなく、公知の増粘剤を使用できる。例えば、セルロース、エチルセルロース、メチルセルロース、ヒドロキシプロピルメチルセルロース、高級脂肪酸アマイド、カーボンブラック、モンモリロナイトなど粘土鉱物、シリカ、アクリル樹脂、ウレタン樹脂、エポキシ樹脂、ポリエステル樹脂、ゼラチン、アルブミン、カゼイン、ポリアミド系化合物、ポリエーテル系化合物、ポリグリコール系化合物、ポリビニル系化合物、ポリアルキレンオキサイド化合物、ポリアクリル酸系化合物などを単独または2種以上組み合わせて使用できる。
(Thickener)
From the viewpoint of increasing the viscosity, the etching solution preferably further contains a thickener. The thickener is not particularly limited, and a known thickener can be used. For example, cellulose, ethyl cellulose, methyl cellulose, hydroxypropyl methyl cellulose, higher fatty acid amide, carbon black, montmorillonite and other clay minerals, silica, acrylic resin, urethane resin, epoxy resin, polyester resin, gelatin, albumin, casein, polyamide compound, polyether A compound, a polyglycol compound, a polyvinyl compound, a polyalkylene oxide compound, a polyacrylic acid compound and the like can be used alone or in combination of two or more.

(被エッチング対象物)
エッチング液によりエッチング(腐食)される被エッチング対象物の形状は、薄膜状、板状、ブロック状、薄片状、所定のパターン形状などが挙げられるが、これらの形状に限定されるものではない。所定のパターン形状としては、ランダム形状および規則的形状のいずれであってもよく、例えば、メッシュ状、ストライプ状などの線状が挙げられるが、これに限定されるものではない。被エッチング対象物をエッチングして得られる部材としては、例えば、電極や配線などの導電部が挙げられる。具体的な被エッチング対象物としては、メッシュ状に印刷したもの、ナノワイヤーを作製し、基材に塗布したいわゆる透明導電層、めっき膜、ナノ粒子層、スパッタや蒸着による金属層などの導電層、ナノ粒子ペーストによる配線などを例示できるが、これに限定されるものではない。
(Object to be etched)
Examples of the shape of the object to be etched (corroded) by the etchant include a thin film shape, a plate shape, a block shape, a flake shape, a predetermined pattern shape, and the like, but are not limited to these shapes. The predetermined pattern shape may be either a random shape or a regular shape, and examples thereof include a linear shape such as a mesh shape and a stripe shape, but are not limited thereto. Examples of the member obtained by etching the object to be etched include conductive portions such as electrodes and wirings. Specific objects to be etched include what is printed in a mesh, nanowires are produced and applied to a substrate, so-called transparent conductive layers, plated films, nanoparticle layers, and metal layers by sputtering or vapor deposition. Examples of wiring using a nanoparticle paste are not limited thereto.

被エッチング対象物の材料(被腐食材料)としては、例えば、金属、金属合金、金属化合物が挙げられる。金属化合物としては、例えば、金属酸化物が挙げられる。金属および金属合金としては、例えば、銀、金、銅、ニッケル、およびそれらの合金などが挙げられる。特に銀へのエッチング性能が良好である。また、エッチング液を浸透可能である保護層であれば、透明導電層の表面に設けられていてもよい。保護層の材料としては、例えばUV硬化樹脂、熱硬化樹脂などを用いることができる。   Examples of the material to be etched (corroded material) include metals, metal alloys, and metal compounds. As a metal compound, a metal oxide is mentioned, for example. Examples of the metal and metal alloy include silver, gold, copper, nickel, and alloys thereof. Particularly, the etching performance to silver is good. Moreover, if it is a protective layer which can permeate | etch an etching liquid, you may be provided in the surface of the transparent conductive layer. As a material for the protective layer, for example, UV curable resin, thermosetting resin, or the like can be used.

(印刷法)
印刷法としては、公知の方法を使用できる。例えば、インクジェット法、凸版印刷法、凹版印刷法、孔版印刷法などを使用でき、これらの印刷法のうちでもインクジェット法が好ましい。流動性が良好な低粘度溶液を直接印刷できるため、エッチングスピードを速くすることができるからである。印刷法として凸版印刷法、凹版印刷法、孔版印刷法などを用いる場合には、エッチング液が増粘剤を含んでいることが好ましい。これらの印刷法では、エッチング液が高粘度であることが要求されるからである。
(Printing method)
A known method can be used as the printing method. For example, an inkjet method, a relief printing method, an intaglio printing method, a stencil printing method, and the like can be used, and among these printing methods, the inkjet method is preferable. This is because a low-viscosity solution having good fluidity can be directly printed, so that the etching speed can be increased. When using a relief printing method, an intaglio printing method, a stencil printing method, etc. as a printing method, it is preferable that the etching liquid contains the thickener. This is because these printing methods require the etchant to have a high viscosity.

[効果]
第1の実施形態によれば、エッチング液は溶媒を含み、この溶媒は沸点170℃以上の溶媒を含んでいる。このため、エッチング液の印刷時において、エッチング液の乾燥を抑制することができる。したがって、被エッチング対象物に所望のエッチングパターンを形成することができる。
[effect]
According to the first embodiment, the etching solution contains a solvent, and this solvent contains a solvent having a boiling point of 170 ° C. or higher. For this reason, drying of an etching liquid can be suppressed at the time of printing of an etching liquid. Therefore, a desired etching pattern can be formed on the object to be etched.

直接印刷によりエッチングを行うことで、フォトレジストやドライフィルムなどの副資材が必要なくなるため、露光や現像などの工程を省くことができる。したがって、導電性素子(例えば電極基板や回路基板など)の生産性を向上することができる。また、第1の実施形態に係るエッチング液は中性であるため、エッチング液のハンドリングが容易である。   Etching by direct printing eliminates the need for auxiliary materials such as a photoresist and a dry film, so that steps such as exposure and development can be omitted. Therefore, the productivity of conductive elements (for example, electrode substrates and circuit boards) can be improved. Moreover, since the etching liquid which concerns on 1st Embodiment is neutral, handling of an etching liquid is easy.

<2.第2の実施形態>
第2の実施形態では、上述の第1の実施形態に係るエッチング液を用いた透明導電性素子の製造方法について説明する。この製造方法により得られる透明導電性素子は、情報入力装置や表示装置に用いて好適なものである。以下に、この製造方法により得られる導電性素子およびそれを用いた情報入力装置について説明する
<2. Second Embodiment>
In the second embodiment, a method for manufacturing a transparent conductive element using the etching solution according to the first embodiment will be described. The transparent conductive element obtained by this production method is suitable for use in information input devices and display devices. Hereinafter, a conductive element obtained by this manufacturing method and an information input device using the same will be described.

[情報入力装置の構成]
図1は、情報入力装置の一構成例を示す断面図である。図1に示すように、情報入力装置10は、電子機器の一例である表示装置4の表示面上に設けられる。情報入力装置10は、例えば貼合層5により表示装置4の表示面に貼り合わされている。
[Configuration of information input device]
FIG. 1 is a cross-sectional view illustrating a configuration example of an information input device. As shown in FIG. 1, the information input device 10 is provided on the display surface of a display device 4 which is an example of an electronic device. The information input device 10 is bonded to the display surface of the display device 4 by, for example, a bonding layer 5.

(表示装置)
情報入力装置10が適用される表示装置4は特に限定されるものではないが、例示するならば、液晶ディスプレイ、CRT(Cathode Ray Tube)ディスプレイ、プラズマディスプレイ(Plasma Display Panel:PDP)、エレクトロルミネッセンス(Electro Luminescence:EL)ディスプレイ、表面伝導型電子放出素子ディスプレイ(Surface-conduction Electron-emitter Display:SED)などの各種表示装置が挙げられる。
(Display device)
The display device 4 to which the information input device 10 is applied is not particularly limited. For example, a liquid crystal display, a CRT (Cathode Ray Tube) display, a plasma display panel (PDP), electroluminescence ( Various display devices such as an electro luminescence (EL) display and a surface-conduction electron-emitter display (SED) can be used.

(情報入力装置)
情報入力装置10は、いわゆる投影型静電容量方式タッチパネルであり、第1の透明導電性素子1と、この第1の透明導電性素子1の表面上に設けられた第2の透明導電性素子2とを備え、第1の透明導電性素子1と第2の透明導電性素子2とは貼合層6を介して貼り合わされている。また、必要に応じて、第2の透明導電性素子2の表面上に光学層3をさらに備えるようにしてもよい。
(Information input device)
The information input device 10 is a so-called projected capacitive touch panel, and includes a first transparent conductive element 1 and a second transparent conductive element provided on the surface of the first transparent conductive element 1. 2, and the first transparent conductive element 1 and the second transparent conductive element 2 are bonded together via a bonding layer 6. Moreover, you may make it further provide the optical layer 3 on the surface of the 2nd transparent conductive element 2 as needed.

(第1の透明導電性素子)
図2Aは、第1の透明導電性素子の一構成例を示す平面図である。図2Bは、図2Aに示したA−A線に沿った断面図である。図2Aおよび図2Bに示すように、第1の透明導電性素子1は、表面を有する基材11と、この表面に設けられた透明導電層12とを備える。ここでは、基材11の面内において直交交差の関係にある2方向をX軸方向(第1方向)およびY軸方向(第2方向)と定義する。
(First transparent conductive element)
FIG. 2A is a plan view showing a configuration example of the first transparent conductive element. 2B is a cross-sectional view taken along line AA shown in FIG. 2A. As shown in FIGS. 2A and 2B, the first transparent conductive element 1 includes a substrate 11 having a surface and a transparent conductive layer 12 provided on the surface. Here, two directions that are orthogonally crossed in the plane of the substrate 11 are defined as an X-axis direction (first direction) and a Y-axis direction (second direction).

透明導電層12は、透明電極部(透明導電部)13と透明絶縁部14とを備える。透明電極部13は、X軸方向に延在されたX電極部である。透明絶縁部14は、いわゆるダミー電極部であり、X軸方向に延在されるとともに、透明電極部13の間に介在されて、隣り合う透明電極部13の間を絶縁する絶縁部である。これらの透明電極部13と透明絶縁部14とが、基材11の表面にY軸方向に向かって平面的に交互に隣接して設けられている。なお、図2A、図2Bにおいて、第1の領域R1は透明電極部13の形成領域を示し、第2の領域R2は透明絶縁部14の形成領域を示す。 The transparent conductive layer 12 includes a transparent electrode part (transparent conductive part) 13 and a transparent insulating part 14. The transparent electrode portion 13 is an X electrode portion that extends in the X-axis direction. The transparent insulating portion 14 is a so-called dummy electrode portion, is an insulating portion that extends in the X-axis direction and is interposed between the transparent electrode portions 13 to insulate between the adjacent transparent electrode portions 13. These transparent electrode portions 13 and transparent insulating portions 14 are provided on the surface of the base material 11 so as to be alternately adjacent in a plane in the Y-axis direction. 2A and 2B, the first region R 1 indicates a formation region of the transparent electrode portion 13, and the second region R 2 indicates a formation region of the transparent insulating portion 14.

(透明電極部、透明絶縁部)
透明電極部13の形状は、画面形状や駆動回路などに応じて適宜選択することが好ましく、例えば、直線状、複数の菱形状(ダイヤモンド形状)を直線状に連結した形状などが挙げられるが、特にこれらの形状に限定されるものではない。なお、図2A、図2Bでは、透明電極部13の形状を直線状とした構成が例示されている。
(Transparent electrode part, transparent insulation part)
The shape of the transparent electrode portion 13 is preferably appropriately selected according to the screen shape, the drive circuit, and the like, and examples thereof include a linear shape and a shape in which a plurality of rhombus shapes (diamond shapes) are linearly connected. In particular, it is not limited to these shapes. 2A and 2B illustrate a configuration in which the shape of the transparent electrode portion 13 is a linear shape.

図3Aは、第1の透明導電性素子の透明電極部の一構成例を示す平面図である。図3Bは、図3Aに示したA−A線に沿った断面図である。透明電極部13は、複数の孔部要素(絶縁要素)13aが基材11の表面のX軸方向およびY軸方向に2次元的にランダムに配列するように形成された透明導電層12である。このようにランダムに複数の孔部要素13aを形成することで、モアレの発生を抑制することができる。隣接列においてX軸方向に隣り合う孔部要素同士、およびY軸方向に隣り合う孔部要素同士が繋がっている。   FIG. 3A is a plan view illustrating a configuration example of the transparent electrode portion of the first transparent conductive element. 3B is a cross-sectional view taken along line AA shown in FIG. 3A. The transparent electrode portion 13 is a transparent conductive layer 12 formed so that a plurality of hole elements (insulating elements) 13 a are randomly arranged two-dimensionally in the X-axis direction and the Y-axis direction on the surface of the substrate 11. . In this way, the formation of moire can be suppressed by forming the plurality of hole elements 13a at random. In adjacent rows, hole elements adjacent in the X-axis direction and hole elements adjacent in the Y-axis direction are connected.

複数の孔部要素13aは、例えば、X軸方向に繋がってまたは離間して形成されている。複数の孔部要素13aは、例えば、Y軸方向に繋がってまたは離間して形成されている。このように繋がってまたは離間して形成された孔部要素13aにより、透明電極部13の孔部13bが形成されている。すなわち、孔部13bは、1または複数の孔部要素13aにより形成されている。隣接列においてX軸方向またはY軸方向に対して斜め方向の孔部要素13a同士は離間していることが好ましい。これにより、透明電極部13と透明絶縁部14との透明導電材料の被覆率差を小さくするために、透明電極部13の孔部要素13aの割合を増やした場合であっても、X軸方向またはY軸方向に対して斜め方向の導電パスを確保することができる。すなわち、低い表面抵抗を維持することができる。   The plurality of hole elements 13a are formed, for example, connected or separated from each other in the X-axis direction. The plurality of hole elements 13a are formed, for example, connected in the Y-axis direction or separated from each other. The hole 13b of the transparent electrode portion 13 is formed by the hole elements 13a formed so as to be connected or separated from each other. That is, the hole 13b is formed by one or a plurality of hole elements 13a. In adjacent rows, it is preferable that the hole elements 13a in the oblique direction with respect to the X-axis direction or the Y-axis direction are separated from each other. Thereby, in order to reduce the difference in coverage of the transparent conductive material between the transparent electrode portion 13 and the transparent insulating portion 14, even when the ratio of the hole element 13a of the transparent electrode portion 13 is increased, the X-axis direction Alternatively, a conductive path oblique to the Y-axis direction can be ensured. That is, a low surface resistance can be maintained.

より具体的には、透明電極部13は、複数の孔部13bが離間してランダムに形成された透明導電層12であり、隣り合う孔部13bの間には透明導電部13cが介在されている。孔部13bは、一つの孔部要素13aまたは繋がった複数の孔部要素13aにより形成されている。孔部13bの形状は、基材11の表面においてランダムに変化している。透明導電部13cは、例えば、透明導電材料を主成分としている。この透明導電部13cにより、透明電極部13の導電性が得られる。   More specifically, the transparent electrode portion 13 is a transparent conductive layer 12 formed by randomly separating a plurality of hole portions 13b, and a transparent conductive portion 13c is interposed between adjacent hole portions 13b. Yes. The hole 13b is formed by one hole element 13a or a plurality of connected hole elements 13a. The shape of the hole 13b changes randomly on the surface of the substrate 11. The transparent conductive portion 13c has, for example, a transparent conductive material as a main component. The conductivity of the transparent electrode portion 13 is obtained by the transparent conductive portion 13c.

図4Aは、透明電極部における孔部要素の第1の配置例を示す略線図である。図4Aに示す第1の配置例では、隣接列においてX軸方向に隣り合う孔部要素13a同士、およびY軸方向に隣り合う孔部要素13a同士は繋がっているとともに、隣接列においてX軸方向またはY軸方向に対して斜めの方向で隣り合う孔部要素13a同士も繋がっている。ここで、X軸方向またはY軸方向に対して斜め方向は、具体的には、45度、135度、225度および315度の方向である。   FIG. 4A is a schematic diagram illustrating a first arrangement example of hole elements in a transparent electrode portion. In the first arrangement example shown in FIG. 4A, the hole elements 13a adjacent to each other in the X-axis direction in the adjacent row and the hole elements 13a adjacent to each other in the Y-axis direction are connected to each other. Alternatively, the hole elements 13a adjacent to each other in an oblique direction with respect to the Y-axis direction are also connected. Here, the oblique directions with respect to the X-axis direction or the Y-axis direction are specifically directions of 45 degrees, 135 degrees, 225 degrees, and 315 degrees.

図4Bは、透明電極部における孔部要素の第2の配置例を示す略線図である。図4Bに示す第2の配置例では、隣接列においてX軸方向に隣り合う孔部要素13a同士、およびY軸方向に隣り合う孔部要素13a同士は繋がっているのに対して、隣接列においてX軸方向またはY軸方向に対して斜め方向に隣り合う孔部要素13a同士は透明導電部13cにより離間されている。   FIG. 4B is a schematic diagram illustrating a second arrangement example of the hole elements in the transparent electrode portion. In the second arrangement example shown in FIG. 4B, the hole elements 13a adjacent to each other in the X axis direction and the hole elements 13a adjacent to each other in the Y axis direction are connected to each other in the adjacent line. The hole elements 13a adjacent in the oblique direction with respect to the X-axis direction or the Y-axis direction are separated from each other by the transparent conductive portion 13c.

第1の配置例では、斜め方向に隣り合う孔部要素13a間が繋がって、斜め方向の導電パスは切断されるのに対して、第2の配置例では、斜め方向に隣り合う孔部要素13a間が離間されて、斜め方向の導電パスは確保されている。したがって、第2の配置例では、第1の配置例に比して高い孔部要素13aの割合でも(すなわち、第1の配置例に比して低い透明導電材料の被覆率でも)、透明電極部13を電極部として機能させることができる。したがって、透明電極部13の構成として第2の配置例を採用した場合には、透明電極部13の表面抵抗の上昇を抑制しつつ、透明電極部13と透明絶縁部14との透明導電材料の被覆率差を小さくして、透明電極部13のパターン見えを抑制することができる。   In the first arrangement example, the hole elements 13a adjacent in the oblique direction are connected to each other, and the conductive path in the oblique direction is cut, whereas in the second arrangement example, the hole elements adjacent in the oblique direction are cut. 13a are separated from each other, and an oblique conductive path is secured. Therefore, in the second arrangement example, the transparent electrode has a higher ratio of the hole elements 13a than in the first arrangement example (that is, a low coverage ratio of the transparent conductive material as compared with the first arrangement example). The part 13 can function as an electrode part. Accordingly, when the second arrangement example is adopted as the configuration of the transparent electrode portion 13, the transparent conductive material of the transparent electrode portion 13 and the transparent insulating portion 14 is suppressed while suppressing the increase in the surface resistance of the transparent electrode portion 13. It is possible to reduce the coverage difference and suppress the pattern appearance of the transparent electrode portion 13.

図3Cは、第1の透明導電性素子の透明絶縁部の一構成例を示す平面図である。図3Dは、図3Cに示したA−A線に沿った断面図である。透明絶縁部14は、複数の孔部要素(絶縁要素)14aが基材表面のX軸方向およびY軸方向に2次元的にランダムに配列するように形成された透明導電層である。このようにランダムに複数の孔部要素14aを形成することで、モアレの発生を抑制することができる。隣接列においてX軸方向に隣り合う孔部要素同士、およびY軸方向に隣り合う孔部要素同士が繋がっている。   FIG. 3C is a plan view illustrating a configuration example of the transparent insulating portion of the first transparent conductive element. 3D is a cross-sectional view taken along the line AA shown in FIG. 3C. The transparent insulating part 14 is a transparent conductive layer formed such that a plurality of hole elements (insulating elements) 14a are randomly arranged two-dimensionally in the X-axis direction and the Y-axis direction on the substrate surface. In this way, the formation of moire can be suppressed by forming the plurality of hole elements 14a at random. In adjacent rows, hole elements adjacent in the X-axis direction and hole elements adjacent in the Y-axis direction are connected.

複数の孔部要素14aは、例えば、X軸方向に繋がってまたは離間して形成されている。複数の孔部要素14aは、例えば、Y軸方向に繋がってまたは離間して形成されている。このように繋がってまたは離間して形成された孔部要素14aにより、透明絶縁部14の離間部14cが形成されている。隣接列においてX軸方向またはY軸方向に対して斜め方向の孔部要素14a同士は繋がっていることが好ましい。これにより、透明電極部13と透明絶縁部14との透明導電材料の被覆率差を小さくするために、透明絶縁部14の孔部要素14aの割合を減らした場合であっても、X軸方向またはY軸方向に対して斜め方向の導電パスを減らすことができる。すなわち、高い表面抵抗を維持することができる。   The plurality of hole elements 14a are formed, for example, connected in the X-axis direction or separated from each other. The plurality of hole elements 14a are formed, for example, connected to or separated from each other in the Y-axis direction. The gap portion 14c of the transparent insulating portion 14 is formed by the hole elements 14a formed so as to be connected or separated from each other. In adjacent rows, it is preferable that the hole elements 14a in the oblique direction with respect to the X-axis direction or the Y-axis direction are connected to each other. Thereby, in order to reduce the coverage difference of the transparent conductive material between the transparent electrode portion 13 and the transparent insulating portion 14, even when the ratio of the hole element 14a of the transparent insulating portion 14 is reduced, the X-axis direction Alternatively, the conductive paths oblique to the Y axis direction can be reduced. That is, high surface resistance can be maintained.

より具体的には、透明絶縁部14は、離間部14cにより離間された複数の島部14bからなる。複数の島部14bは、ランダムパターンで基材11の表面に形成されている。離間部14cは、一つの孔部要素14aまたは繋がった複数の孔部要素14aにより形成されている。この離間部14cにより、島部14b間が電気的に絶縁される。島部14bの形状は、基材11の表面においてランダムに変化している。島部14aは、例えば、透明導電材料を主成分としている。   More specifically, the transparent insulating portion 14 is composed of a plurality of island portions 14b separated by a separation portion 14c. The plurality of island portions 14b are formed on the surface of the base material 11 in a random pattern. The spacing portion 14c is formed by one hole element 14a or a plurality of connected hole elements 14a. The islands 14b are electrically insulated by the spacing part 14c. The shape of the island part 14 b changes randomly on the surface of the base material 11. The island part 14a has, for example, a transparent conductive material as a main component.

図5Aは、透明絶縁部における孔部要素の第2の配置例を示す略線図である。図5Aに示す第1の配置例では、隣接列においてX軸方向に隣り合う孔部要素14a同士、およびY軸方向に隣り合う孔部要素14a同士は繋がっているとともに、隣接列においてX軸方向またはY軸方向に対して斜め方向に隣り合う孔部要素14a同士も繋がっている。ここで、X軸方向またはY軸方向に対して斜め方向は、具体的には、45度、135度、225度および315度の方向である。   FIG. 5A is a schematic diagram illustrating a second arrangement example of hole elements in the transparent insulating portion. In the first arrangement example shown in FIG. 5A, the hole elements 14a adjacent to each other in the X-axis direction in the adjacent row and the hole elements 14a adjacent to each other in the Y-axis direction are connected to each other, and the X-axis direction in the adjacent row Alternatively, the hole elements 14a adjacent to each other in the oblique direction with respect to the Y-axis direction are also connected. Here, the oblique directions with respect to the X-axis direction or the Y-axis direction are specifically directions of 45 degrees, 135 degrees, 225 degrees, and 315 degrees.

図5Bは、透明絶縁部における孔部要素の第1の配置例を示す略線図である。図5Bに示す第2の配置例では、隣接列においてX軸方向またはY軸方向に隣り合う孔部要素14a同士は繋がっているのに対して、隣接列においてX軸方向またはY軸方向に対して斜めの方向で隣り合う孔部要素14a同士は島部14bにより離間されている。   FIG. 5B is a schematic diagram illustrating a first arrangement example of hole elements in the transparent insulating portion. In the second arrangement example shown in FIG. 5B, the hole elements 14a adjacent in the X-axis direction or the Y-axis direction are connected to each other in the adjacent row, whereas in the adjacent row, the hole elements 14a are connected to the X-axis direction or the Y-axis direction. The hole elements 14a adjacent to each other in an oblique direction are separated from each other by an island part 14b.

第1の配置例では、斜め方向に隣り合う島部14b間が離間されて、斜め方向の導電パスは切断されるのに対して、第2の配置例では、斜め方向に隣り合う島部14b間が繋がって、斜め方向の導電パスは確保されている。したがって、第1の配置例では、第2の配置例に比して低い孔部要素14aの割合でも(すなわち、第2の配置例に比して高い透明導電層の被覆率でも)、透明絶縁部14を絶縁部として機能させることができる。したがって、透明絶縁部14の構成として第1の配置例を採用した場合には、透明電極部13の表面抵抗の低下を抑制しつつ、透明電極部13と透明絶縁部14との透明導電材料の被覆率差を小さくして、透明電極部13のパターン見えを抑制することができる。   In the first arrangement example, the island portions 14b adjacent in the oblique direction are separated from each other and the conductive path in the oblique direction is cut, whereas in the second arrangement example, the island portions 14b adjacent in the oblique direction are cut. They are connected, and a conductive path in an oblique direction is secured. Therefore, in the first arrangement example, the transparent insulating layer has a lower ratio of the hole elements 14a than in the second arrangement example (that is, even in the high coverage ratio of the transparent conductive layer as compared with the second arrangement example). The part 14 can function as an insulating part. Therefore, when the first arrangement example is adopted as the configuration of the transparent insulating portion 14, the transparent conductive material of the transparent electrode portion 13 and the transparent insulating portion 14 is prevented from decreasing the surface resistance of the transparent electrode portion 13. It is possible to reduce the coverage difference and suppress the pattern appearance of the transparent electrode portion 13.

なお、図4A〜図5Bでは、インクジェット印刷法により孔部要素13a、14aを形成した場合の透明電極部13および透明絶縁部14の例が示されている。インクジェット印刷法により孔部要素13a、14aを形成する場合には、孔部要素13a、14aの形状は円形状、ほぼ円形状、楕円形状またはほぼ楕円形状などとなる。   4A to 5B show examples of the transparent electrode portion 13 and the transparent insulating portion 14 when the hole elements 13a and 14a are formed by the ink jet printing method. When the hole elements 13a and 14a are formed by the ink jet printing method, the hole elements 13a and 14a have a circular shape, a substantially circular shape, an elliptical shape, a substantially elliptical shape, or the like.

孔部要素13a、14aの形成にインクジェット印刷法が用いられているか否かは次のようにして確認することができる。すなわち、顕微鏡などにより透明電極部13および透明絶縁部14を観察し、孔部要素13aおよび孔部要素14aの形状に円弧、ほぼ円弧、楕円弧、ほぼ楕円弧状などの形状が含まれるか否かを判別する。孔部要素13aおよび孔部要素14aの形状にこれらの形状のうちいずれかが含まれていれば、孔部要素13aおよび孔部要素14aの形成にインクジェット印刷法が用いられていると推測できる。   Whether or not the ink jet printing method is used to form the hole elements 13a and 14a can be confirmed as follows. That is, the transparent electrode portion 13 and the transparent insulating portion 14 are observed with a microscope or the like, and whether or not the shape of the hole element 13a and the hole element 14a includes a shape such as a circular arc, a substantially circular arc, an elliptical arc, or a substantially elliptical arc shape. Determine. If any of these shapes is included in the shapes of the hole element 13a and the hole element 14a, it can be assumed that the ink jet printing method is used to form the hole element 13a and the hole element 14a.

孔部要素13a、14aの形状としては、例えば、ドット状を用いることができる。ドット状としては、例えば、円形状、ほぼ円形状、楕円形状またはほぼ楕円形状を用いることができる。孔部要素13aと孔部要素14aとで異なる形状を採用するようにしてもよい。ここで、ほぼ円形状は、数学的に定義される完全な円(真円)に多少の歪みが付与された円形を意味する。ほぼ楕円形状は、数学的に定義される完全な楕円に多少の歪みが付与された楕円を意味し、ほぼ楕円形状には、例えば長円、卵型なども含まれる。   As the shape of the hole elements 13a and 14a, for example, a dot shape can be used. As the dot shape, for example, a circular shape, a substantially circular shape, an elliptical shape, or a substantially elliptical shape can be used. Different shapes may be adopted for the hole element 13a and the hole element 14a. Here, the substantially circular shape means a circle in which some distortion is given to a perfect circle (perfect circle) defined mathematically. The almost elliptical shape means an ellipse in which some distortion is given to a mathematically defined complete ellipse, and the elliptical shape includes, for example, an ellipse and an egg shape.

孔部要素13aおよび孔部要素14aは、目視により認識できないサイズであることが好ましい。また、孔部要素13aと孔部要素14aとで異なる大きさを採用するようにしてもよい。   It is preferable that the hole element 13a and the hole element 14a have a size that cannot be visually recognized. Moreover, you may make it employ | adopt a different magnitude | size with the hole element 13a and the hole element 14a.

孔部13bおよび島部14bは、目視により認識できないサイズであることが好ましい。具体的には、孔部13bおよび島部14bのサイズは、好ましくは100μm以下、より好ましくは60μm以下であることが好ましい。ここで、サイズ(径)は、孔部13bおよび島部14bの差し渡しの長さのうち最大ものを意味している。孔部13bおよび島部14bのサイズを100μm以下にすると、目視による孔部13bおよび島部14bの視認を抑制することができる。   It is preferable that the hole 13b and the island part 14b have a size that cannot be recognized visually. Specifically, the size of the hole 13b and the island 14b is preferably 100 μm or less, more preferably 60 μm or less. Here, the size (diameter) means the maximum one of the passing lengths of the hole portion 13b and the island portion 14b. When the size of the hole 13b and the island 14b is 100 μm or less, the visual recognition of the hole 13b and the island 14b can be suppressed.

第1の領域R1では、例えば、複数の孔部13bが基材表面の露出領域となるのに対して、隣り合う孔部13b間に介在された透明導電部13cが基材表面の被覆領域となる。一方、第2の領域R2では、複数の島部14bが基材表面の被覆領域となるのに対して、隣り合う島部14b間に介在された離間部14cが基材表面の露出領域となる。 In the first region R 1 , for example, the plurality of hole portions 13b are exposed regions on the substrate surface, whereas the transparent conductive portion 13c interposed between the adjacent hole portions 13b is a covered region on the substrate surface. It becomes. On the other hand, in the second region R 2 , the plurality of island portions 14b serve as the covering region of the base material surface, whereas the separated portions 14c interposed between the adjacent island portions 14b are separated from the exposed region of the base material surface. Become.

透明電極部13の単位区画当たりの孔部要素13aの平均割合P1は、好ましくはP1≦50[%]、より好ましくはP1≦40[%]、さらに好ましくはP1≦30[%]の関係を満たしている。P1≦50[%]の関係を満たすことで、透明電極部13の電気抵抗の上昇を抑制して、透明電極部13の電極としての機能を向上させることができるからである。   The average ratio P1 of the hole elements 13a per unit section of the transparent electrode part 13 is preferably P1 ≦ 50 [%], more preferably P1 ≦ 40 [%], and further preferably P1 ≦ 30 [%]. Satisfies. This is because by satisfying the relationship of P1 ≦ 50 [%], an increase in electrical resistance of the transparent electrode portion 13 can be suppressed and the function of the transparent electrode portion 13 as an electrode can be improved.

透明絶縁部14の単位区画当たりの孔部要素14aの平均割合P2は、好ましくは50[%]<P2、より好ましくは60[%]<P2の関係を満たしている。50[%]<P2の関係を満たすことで、透明絶縁部14の電気抵抗の低下を抑制して、透明絶縁部14の絶縁部としての機能を向上させることができるからである。   The average ratio P2 of the hole elements 14a per unit section of the transparent insulating portion 14 preferably satisfies the relationship of 50 [%] <P2, more preferably 60 [%] <P2. This is because by satisfying the relationship of 50 [%] <P2, it is possible to suppress a decrease in the electrical resistance of the transparent insulating portion 14 and improve the function of the transparent insulating portion 14 as an insulating portion.

透明電極部13の単位区画当たりの孔部要素13aの平均割合P1と、透明絶縁部14の単位区画当たりの孔部要素14aの平均割合P2との差ΔP(=P2−P1)は、好ましくはΔP≦30[%]、より好ましくはΔP≦20[%]、さらに好ましくはΔP≦10[%]の関係を満たす。この関係を満たすことで、透明電極部13と透明絶縁部14とを目視により比較したとき、透明導電層12が第1の領域R1と第2の領域R2とで同じように被覆されているように感じられるため、透明電極部13および透明絶縁部14の視認を抑制することができる。 The difference ΔP (= P2−P1) between the average ratio P1 of the hole elements 13a per unit section of the transparent electrode section 13 and the average ratio P2 of the hole elements 14a per unit section of the transparent insulating section 14 is preferably ΔP ≦ 30 [%], more preferably ΔP ≦ 20 [%], and still more preferably ΔP ≦ 10 [%]. By satisfying this relationship, when the transparent electrode portion 13 and the transparent insulating portion 14 are visually compared, the transparent conductive layer 12 is covered in the same manner in the first region R 1 and the second region R 2. Therefore, the visual recognition of the transparent electrode portion 13 and the transparent insulating portion 14 can be suppressed.

透明電極部13の単位区画当たりの孔部要素13aの平均割合P1は、以下のようにして求めることができる。
まず、透明電極部13の画像を顕微鏡により撮影する。次に、撮影した画像に100×100のグリッド(単位区画)を設定し、グリッドを構成する各ドット(マス目)位置に孔部要素13aが形成されているか否かを判断し、孔部要素13aが形成されているドットの個数nをカウントする。ここでは、100×100のグリッドが設定される区画を単位区画という。次に、孔部要素13aの割合pを以下の式を用いて求める。
p=(n/N)×100
n:100×100のグリッドを構成するドットのうち、孔部要素13aが形成されているドットの個数
N:100×100のグリッドを構成するドットの総和
The average ratio P1 of the hole elements 13a per unit section of the transparent electrode part 13 can be obtained as follows.
First, an image of the transparent electrode portion 13 is taken with a microscope. Next, a 100 × 100 grid (unit section) is set in the photographed image, and it is determined whether or not the hole element 13a is formed at each dot (square) position constituting the grid. The number n of dots on which 13a is formed is counted. Here, a section in which a 100 × 100 grid is set is referred to as a unit section. Next, the ratio p of the hole element 13a is obtained using the following equation.
p = (n / N) × 100
n: Number of dots in which the hole element 13a is formed among the dots constituting the grid of 100 × 100 N: Sum of dots constituting the grid of 100 × 100

この処理を透明電極部13から任意に選び出された10箇所にて行い、透明電極部13の単位区画当たりの孔部要素13aの割合p1、p2、・・・・、p10を求める。次に、上述のようにして求めたドットの個数を単純に平均(算術平均)して、透明電極部13の単位区画当たりの孔部要素13aの平均割合P1を求める。
透明絶縁部14の単位区画当たりの孔部要素14aの平均割合P2も、上述の透明電極部13の単位区画当たりの孔部要素13aの平均割合P1と同様にして求めることができる。
This process is performed at 10 locations arbitrarily selected from the transparent electrode portion 13, and the ratios p1, p2,..., P10 of the hole element 13a per unit section of the transparent electrode portion 13 are obtained. Next, the average number P1 of the hole elements 13a per unit section of the transparent electrode portion 13 is obtained by simply averaging (arithmetic average) the number of dots obtained as described above.
The average ratio P2 of the hole elements 14a per unit section of the transparent insulating portion 14 can also be obtained in the same manner as the average ratio P1 of the hole elements 13a per unit section of the transparent electrode section 13 described above.

(境界部)
図6Aは、境界部の形状パターンの例を示す平面図である。図6Bは、図6Aに示したA−A線に沿った断面図である。透明電極部13と透明絶縁部14との境界部には、ランダムな形状パターンが設けられていることが好ましい。このように境界部にランダムな形状パターンを設けることで、境界部の視認を抑制することができる。ここで、境界部とは、透明電極部13と透明絶縁部14との間の領域のことを示し、境界Lとは、透明電極部13と透明絶縁部14とを区切る境界線のことを示す。なお、境界部の形状パターンによっては、境界Lは実線ではなく仮想線の場合もある。
(Boundary part)
FIG. 6A is a plan view illustrating an example of a shape pattern of a boundary portion. 6B is a cross-sectional view taken along line AA shown in FIG. 6A. A random shape pattern is preferably provided at the boundary between the transparent electrode portion 13 and the transparent insulating portion 14. Thus, by providing a random shape pattern at the boundary part, the visual recognition of the boundary part can be suppressed. Here, the boundary portion indicates a region between the transparent electrode portion 13 and the transparent insulating portion 14, and the boundary L indicates a boundary line that separates the transparent electrode portion 13 and the transparent insulating portion 14. . Depending on the shape pattern of the boundary portion, the boundary L may be a virtual line instead of a solid line.

図7Aは、境界部における孔部要素の第1の配置例を示す略線図である。透明電極部13および透明絶縁部14の境界部には、該境界部の延在方向に向かって孔部要素13aおよび孔部要素14aがランダムに配列されていることが好ましい。このような配列を採用する場合、孔部要素13aは、例えば、透明電極部13側の境界Lに接するようにして、または境界Lに重なるようにして配列される。また、孔部要素14aは、例えば、透明絶縁部14側の境界Lに接して、または境界Lに重なるようにして配列されている。   FIG. 7A is a schematic diagram illustrating a first arrangement example of hole elements in a boundary portion. It is preferable that the hole element 13a and the hole element 14a are randomly arranged in the boundary part between the transparent electrode part 13 and the transparent insulating part 14 in the extending direction of the boundary part. When such an arrangement is adopted, the hole elements 13a are arranged so as to be in contact with or overlap the boundary L on the transparent electrode part 13 side, for example. The hole elements 14a are arranged so as to be in contact with or overlap the boundary L on the transparent insulating portion 14 side, for example.

なお、境界部における孔部要素13aおよび孔部要素14aの配列は、ランダム配列に限定されるものではなく、境界部においてのみ孔部要素13aおよび孔部要素14aを規則的に配列するようにしてもよい。   The arrangement of the hole elements 13a and the hole elements 14a at the boundary is not limited to a random arrangement, and the hole elements 13a and the hole elements 14a are regularly arranged only at the boundary. Also good.

図7Bに示すように、境界Lにおいて孔部13bおよび島部14bが、境界Lの延在方向に同期して配列するようにしてもよい。また、境界Lにおいて孔部要素13aおよび孔部要素14a、または孔部13bおよび島部14bを境界Lの延在方向に同期して配列するようにしてもよい。   As shown in FIG. 7B, the holes 13 b and the islands 14 b may be arranged at the boundary L in synchronization with the extending direction of the boundary L. Moreover, the hole element 13a and the hole element 14a, or the hole 13b and the island part 14b may be arranged at the boundary L in synchronization with the extending direction of the boundary L.

(基材)
基材11としては、例えば、透明性を有する無機基材またはプラスチック基材を用いることができる。基材11の形状としては、例えば、透明性を有するフィルム、シート、基板などを用いることができる。無機基材の材料としては、例えば、石英、サファイア、ガラス、クレイフィルムなどが挙げられる。プラスチック基材の材料としては、例えば、公知の高分子材料を用いることができる。公知の高分子材料としては、具体的には例えば、トリアセチルセルロース(TAC)、ポリエステル(TPEE)、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート(PEN)、ポリイミド(PI)、ポリアミド(PA)、アラミド、ポリエチレン(PE)、ポリアクリレート、ポリエーテルスルフォン、ポリスルフォン、ポリプロピレン(PP)、ジアセチルセルロース、ポリ塩化ビニル、アクリル樹脂(PMMA)、ポリカーボネート(PC)、エポキシ樹脂、尿素樹脂、ウレタン樹脂、メラミン樹脂、シクロオレフィンポリマー(COP)、シクロオレフィンコポリマー(COC)などが挙げられる。プラスチック基材の厚さは、生産性の観点から3〜500μmであることが好ましいが、この範囲に特に限定されるものではない。
(Base material)
As the substrate 11, for example, a transparent inorganic substrate or plastic substrate can be used. As the shape of the base material 11, for example, a transparent film, sheet, substrate or the like can be used. Examples of the inorganic base material include quartz, sapphire, glass, and clay film. As a material for the plastic substrate, for example, a known polymer material can be used. Specific examples of known polymer materials include triacetyl cellulose (TAC), polyester (TPEE), polyethylene terephthalate (PET), polyethylene naphthalate (PEN), polyimide (PI), polyamide (PA), and aramid. , Polyethylene (PE), polyacrylate, polyether sulfone, polysulfone, polypropylene (PP), diacetyl cellulose, polyvinyl chloride, acrylic resin (PMMA), polycarbonate (PC), epoxy resin, urea resin, urethane resin, melamine resin , Cycloolefin polymer (COP), cycloolefin copolymer (COC) and the like. The thickness of the plastic substrate is preferably 3 to 500 μm from the viewpoint of productivity, but is not particularly limited to this range.

(透明導電層)
透明導電層12の材料としては、例えば、電気的導電性を有する金属酸化物材料、および金属材料などからなる群より選ばれる1種以上を用いることができる。金属酸化物材料としては、例えば、インジウム錫酸化物(ITO)、酸化亜鉛、酸化インジウム、アンチモン添加酸化錫、フッ素添加酸化錫、アルミニウム添加酸化亜鉛、ガリウム添加酸化亜鉛、シリコン添加酸化亜鉛、酸化亜鉛−酸化錫系、酸化インジウム−酸化錫系、酸化亜鉛−酸化インジウム−酸化マグネシウム系などが挙げられる。金属材料としては、例えば、金属ナノ粒子、金属ワイヤーなどを用いることができる。それらの具体的材料としては、例えば、銅、銀、金、白金、パラジウム、ニッケル、錫、コバルト、ロジウム、イリジウム、鉄、ルテニウム、オスミウム、マンガン、モリブデン、タングステン、ニオブ、タンタル、チタン、ビスマス、アンチモン、鉛などの金属、またはこれらの合金などが挙げられる。
(Transparent conductive layer)
As the material of the transparent conductive layer 12, for example, one or more selected from the group consisting of a metal oxide material having electrical conductivity, a metal material, and the like can be used. Examples of the metal oxide material include indium tin oxide (ITO), zinc oxide, indium oxide, antimony-added tin oxide, fluorine-added tin oxide, aluminum-added zinc oxide, gallium-added zinc oxide, silicon-added zinc oxide, and zinc oxide. -Tin oxide system, indium oxide-tin oxide system, zinc oxide-indium oxide-magnesium oxide system, etc. are mentioned. As the metal material, for example, metal nanoparticles, metal wires, and the like can be used. Specific examples of such materials include copper, silver, gold, platinum, palladium, nickel, tin, cobalt, rhodium, iridium, iron, ruthenium, osmium, manganese, molybdenum, tungsten, niobium, tantalum, titanium, bismuth, Examples thereof include metals such as antimony and lead, and alloys thereof.

(第2の透明導電性素子)
図8Aは、第2の透明導電性素子の一構成例を示す平面図である。図8Bは、図8Aに示したA−A線に沿った断面図である。図8Aおよび図8Bに示すように、第2の透明導電性素子2は、表面を有する基材21と、この表面に設けられた透明導電層22とを備える。ここでは、基材21の面内において直交する2方向をX軸方向およびY軸方向と定義する。
(Second transparent conductive element)
FIG. 8A is a plan view showing a configuration example of the second transparent conductive element. 8B is a cross-sectional view taken along the line AA shown in FIG. 8A. As shown in FIGS. 8A and 8B, the second transparent conductive element 2 includes a base material 21 having a surface and a transparent conductive layer 22 provided on the surface. Here, two directions orthogonal to each other in the plane of the substrate 21 are defined as an X-axis direction and a Y-axis direction.

透明導電層22は、透明電極部(透明導電部)23と透明絶縁部24とを備える。透明電極部23は、Y軸方向に延在されたY電極部である。透明絶縁部24は、いわゆるダミー電極部であり、Y軸方向に延在されるとともに、透明電極部23の間に介在されて、隣り合う透明電極部23の間を絶縁する絶縁部である。これらの透明電極部23と透明絶縁部24とが、基材21の表面にX軸方向に向かって平面的に交互に隣接して設けられている。第1の透明導電性素子1が有する透明電極部13および透明絶縁部14と、第2の透明導電性素子2が有する透明電極部23および透明絶縁部24とは、例えば互いに直交する関係にある。なお、図8A、図8Bにおいて、第1の領域R1は透明電極部23の形成用領域を示し、第2の領域R2は透明絶縁部24の形成領域を示す。
第2の透明導電性素子2において、上記以外のことは第1の透明導電性素子1と同様である。
The transparent conductive layer 22 includes a transparent electrode part (transparent conductive part) 23 and a transparent insulating part 24. The transparent electrode portion 23 is a Y electrode portion that extends in the Y-axis direction. The transparent insulating portion 24 is a so-called dummy electrode portion, is an insulating portion that extends in the Y-axis direction and is interposed between the transparent electrode portions 23 to insulate between the adjacent transparent electrode portions 23. These transparent electrode portions 23 and transparent insulating portions 24 are provided on the surface of the base material 21 so as to be alternately adjacent in a plane in the X-axis direction. The transparent electrode portion 13 and the transparent insulating portion 14 included in the first transparent conductive element 1 and the transparent electrode portion 23 and the transparent insulating portion 24 included in the second transparent conductive element 2 are, for example, orthogonal to each other. . 8A and 8B, the first region R 1 indicates a region for forming the transparent electrode portion 23, and the second region R 2 indicates a region for forming the transparent insulating portion 24.
The second transparent conductive element 2 is the same as the first transparent conductive element 1 except for the above.

(光学層)
光学層3は、例えば、経時変化抑制のための保護層である。光学層3の材料は透明なものであればよく特に制限されるものではないが、例示するならば、UV(紫外線)硬化樹脂、熱硬化樹脂、熱可塑性樹脂などが挙げられる。具体的には、アクリル樹脂、ウレタン樹脂、ポリエステル樹脂、ポリエステルポリウレタン樹脂、エポキシ樹脂、尿素樹脂、メラミン脂、シクロオレフィンポリマー(COP)、シクロオレフィンコポリマー(COC)、エチルセルロース、ポリビニルアルコール(PVA)、シリコーン樹脂などの公知の材料が挙げられる。
(Optical layer)
The optical layer 3 is, for example, a protective layer for suppressing change with time. The material of the optical layer 3 is not particularly limited as long as it is transparent, but examples thereof include UV (ultraviolet) curable resins, thermosetting resins, and thermoplastic resins. Specifically, acrylic resin, urethane resin, polyester resin, polyester polyurethane resin, epoxy resin, urea resin, melamine fat, cycloolefin polymer (COP), cycloolefin copolymer (COC), ethyl cellulose, polyvinyl alcohol (PVA), silicone Well-known materials, such as resin, are mentioned.

[透明導電性素子の製造方法]
次に、図9A〜図9Cを参照しながら、以上のように構成される第1の透明導電性素子1の製造方法の一例について説明する。なお、第2の透明導電性素子2は、第1の透明導電性素子1とほぼ同様にして製造することができるので、第2の透明導電性素子2の製造方法については説明を省略する。
[Method for producing transparent conductive element]
Next, an example of a method for manufacturing the first transparent conductive element 1 configured as described above will be described with reference to FIGS. 9A to 9C. Note that the second transparent conductive element 2 can be manufactured in substantially the same manner as the first transparent conductive element 1, and therefore the description of the method for manufacturing the second transparent conductive element 2 is omitted.

(成膜工程)
まず、図9Aに示すように、基材11の表面上に薄膜としての透明導電層12を成膜することにより、透明導電性基材1aを作製する。透明導電層12の成膜方法としては、ドライ系およびウエット系のいずれの成膜方法を用いることができる。
(Film formation process)
First, as shown to FIG. 9A, the transparent conductive base material 1a is produced by forming the transparent conductive layer 12 as a thin film on the surface of the base material 11. As shown in FIG. As a method for forming the transparent conductive layer 12, any of dry and wet film forming methods can be used.

ドライ系の成膜方法としては、例えば、熱CVD、プラズマCVD、光CVD、ALD(Atomic Layer Disposition(原子層堆積法))などのCVD法(Chemical Vapor Deposition(化学蒸着法):化学反応を利用して気相から薄膜を析出させる技術)のほか、真空蒸着、プラズマ援用蒸着、スパッタリング、イオンプレーティングなどのPVD法(Physical Vapor Deposition(物理蒸着法):真空中で物理的に気化させた材料を基板上に凝集させ、薄膜を形成する技術)を用いることができる。   Examples of dry film forming methods include CVD (Chemical Vapor Deposition): chemical reaction such as thermal CVD, plasma CVD, photo-CVD, and ALD (Atomic Layer Disposition). In addition to PVD methods (Physical Vapor Deposition) such as vacuum deposition, plasma-assisted deposition, sputtering, and ion plating: materials vaporized physically in vacuum Can be used on the substrate to form a thin film.

ドライ系の成膜方法を用いる場合には、透明導電層12の成膜後に、必要に応じて、透明導電層12に対してアニール処理を施してもよい。これにより、透明導電層12が、例えばアモルファスと多結晶との混合状態、または多結晶状態となり、透明導電層12の導電性が向上する。   In the case of using a dry film forming method, after the transparent conductive layer 12 is formed, the transparent conductive layer 12 may be annealed as necessary. Thereby, the transparent conductive layer 12 becomes, for example, a mixed state of amorphous and polycrystalline or a polycrystalline state, and the conductivity of the transparent conductive layer 12 is improved.

ウエット系の成膜方法としては、例えば、導電性フィラーを含む透明導電塗料を基材11の表面に塗布または印刷して基材11の表面に塗膜を形成した後、乾燥および/または焼成する方法を用いることができる。塗布法としては、例えば、マイクログラビアコート法、ワイヤーバーコート法、ダイレクトグラビアコート法、ダイコート法、ディップ法、スプレーコート法、リバースロールコート法、カーテンコート法、コンマコート法、ナイフコート法、スピンコート法などを用いることができるが、特にこれに限定されるものではない。また、印刷法としては、例えば、凸版印刷法、オフセット印刷法、グラビア印刷法、凹版印刷法、ゴム版印刷法、スクリーン印刷法などを用いることができるが、特にこれに限定されるものではない。また、透明導電性基材1として、市販のものを用いることも可能である。   As a wet film forming method, for example, a transparent conductive paint containing a conductive filler is applied or printed on the surface of the base material 11 to form a coating film on the surface of the base material 11, and then dried and / or baked. The method can be used. Examples of the coating method include a micro gravure coating method, a wire bar coating method, a direct gravure coating method, a die coating method, a dip method, a spray coating method, a reverse roll coating method, a curtain coating method, a comma coating method, a knife coating method, and a spin coating method. A coating method or the like can be used, but is not particularly limited thereto. Further, as the printing method, for example, a relief printing method, an offset printing method, a gravure printing method, an intaglio printing method, a rubber plate printing method, a screen printing method and the like can be used, but not particularly limited thereto. . Moreover, as the transparent conductive substrate 1, a commercially available material can be used.

(エッチング工程)
次に、図9Bに示すように、透明導電層12の第1の領域R1にエッチング液を印刷(描画)し、このエッチング液により透明導電層12を溶解する。これにより、基材11の表面のX軸方向(第1方向)およびY軸方向(第2方向)に2次元的にランダムに配列するように孔部要素13aが形成される。次に、必要に応じて、透明導電層12を洗浄することにより、エッチングの進行を止める。これにより、透明導電層12の第1の領域R1がパターニングされて、透明電極部13が得られる。
(Etching process)
Next, as shown in FIG. 9B, an etching solution is printed (drawn) on the first region R 1 of the transparent conductive layer 12, and the transparent conductive layer 12 is dissolved by this etching solution. Thereby, the hole elements 13a are formed so as to be randomly arranged two-dimensionally in the X-axis direction (first direction) and the Y-axis direction (second direction) of the surface of the base material 11. Next, the progress of etching is stopped by cleaning the transparent conductive layer 12 as necessary. Thus, the first region R 1 of the transparent conductive layer 12 is patterned, a transparent electrode 13 is obtained.

次に、図9Cに示すように、透明導電層12の第2の領域R2にエッチング液を印刷(描画)し、このエッチング液により透明導電層12を溶解する。これにより、基材11の表面のX軸方向(第1方向)およびY軸方向(第2方向)に2次元的にランダムに配列するように孔部要素14aが形成される。次に、必要に応じて、透明導電層12を洗浄することにより、エッチングの進行を止める。これにより、透明導電層12の第2の領域R2がパターニングされて、透明絶縁部14が得られる。 Next, as shown in FIG. 9C, an etching solution is printed (drawn) on the second region R 2 of the transparent conductive layer 12, and the transparent conductive layer 12 is dissolved by this etching solution. Thereby, the hole elements 14a are formed so as to be randomly arranged two-dimensionally in the X-axis direction (first direction) and the Y-axis direction (second direction) of the surface of the substrate 11. Next, the progress of etching is stopped by cleaning the transparent conductive layer 12 as necessary. Thus, the second region R 2 of the transparent conductive layer 12 is patterned, a transparent insulating portion 14 is obtained.

上述の第1の領域R1および第2の領域R2のエッチング工程を繰り返して、基材11の表面に平面的に交互に設けられた透明電極部13および透明絶縁部14を形成する。 By repeating the etching process of the first region R 1 and the second region R 2 described above, the transparent electrode portions 13 and the transparent insulating portions 14 that are alternately provided in a plane on the surface of the base material 11 are formed.

エッチング液としては、上述の第1の実施形態に係るエッチング液を用いる。印刷法としては、例えば、凸版印刷法、オフセット印刷法、グラビア印刷法、凹版印刷法、ゴム版印刷法、インクジェット印刷法、マイクロコンタクト印刷法、またはスクリーン印刷法などを用いることができ、これらの方法のうちでもインクジェット印刷法を用いることが好ましい。版を作製する必要が無く、オンデマンドでの印刷が可能だからである。なお、図9B、図9Cでは、インクジェット印刷法によりノズル33からエッチング液を塗出することにより、透明導電層12にエッチング液を印刷(描画)する例が示されている。   As the etchant, the etchant according to the first embodiment described above is used. As the printing method, for example, a relief printing method, an offset printing method, a gravure printing method, an intaglio printing method, a rubber plate printing method, an ink jet printing method, a micro contact printing method, a screen printing method, or the like can be used. Among the methods, it is preferable to use an ink jet printing method. This is because there is no need to produce a plate and printing on demand is possible. 9B and 9C show an example in which the etching solution is printed (drawn) on the transparent conductive layer 12 by applying the etching solution from the nozzle 33 by the ink jet printing method.

エッチング液の印刷(描画)は、例えば、予め生成されたランダムパターンに基づき行われる。具体的には、ランダムパターンは、白色ドットおよび黒色ドットがランダムパターンで配列されたラスター画像として記憶部に予め記憶されており、このラスター画像に基づきエッチング液の印刷(描画)が行われる。なお、白色ドットおよび黒色ドットがランダムパターンで配列されたラスター画像の作成アルゴリズムの詳細については後述する。   The etching liquid is printed (drawn) based on, for example, a random pattern generated in advance. Specifically, the random pattern is stored in advance in the storage unit as a raster image in which white dots and black dots are arranged in a random pattern, and the etching liquid is printed (drawn) based on the raster image. The details of the algorithm for creating a raster image in which white dots and black dots are arranged in a random pattern will be described later.

印刷の解像度は印刷方式により適宜選択することが好ましい。例えば、インクジェット印刷法では、その性能により1ドットのサイズから解像度(Dots Per Inch(dpi))を決め、描画する必要がある。   It is preferable to select the printing resolution appropriately depending on the printing method. For example, in the inkjet printing method, it is necessary to determine the resolution (Dots Per Inch (dpi)) from the size of one dot depending on the performance and to draw.

表1に、1ドットのサイズと解像度との関係の例を示す。

Figure 2014047402
以上により、図2Aおよび図2Bに示す第1の透明導電性素子1が得られる。 Table 1 shows an example of the relationship between the size of one dot and the resolution.
Figure 2014047402
Thus, the first transparent conductive element 1 shown in FIGS. 2A and 2B is obtained.

図10Aは、パターニングされた透明電極部13の一部を拡大して表す断面図である。なお、図10Aでは、金属ワイヤー101およびバインダ102を含む透明導電層12の例が示されている。エッチング工程では、エッチング液を滴下した部分の透明導電層12が除去され、絶縁要素としての孔部要素13aが形成される。すなわち、エッチング工程では、透明導電層12を構成する部材である金属ワイヤー101やバインダ102などが除去される。また、図10Aに示すように、透明導電層12に含まれる金属ナノワイヤー101の一部が透明導電層12の表面から突出していることが好ましい。この金属ナノワイヤー101の突出部分を介して、透明電極部13と外部のFPC(Flexible Printed Circuit)や駆動回路などとを電気的に接続することが可能となるからである。ここでは、透明電極部13の孔部要素13aについて説明したが、透明絶縁部14の孔部要素14aについても同様である。   FIG. 10A is an enlarged sectional view showing a part of the patterned transparent electrode portion 13. In FIG. 10A, an example of the transparent conductive layer 12 including the metal wire 101 and the binder 102 is shown. In the etching step, the portion of the transparent conductive layer 12 where the etching solution is dropped is removed, and a hole element 13a as an insulating element is formed. That is, in the etching process, the metal wire 101 and the binder 102 which are members constituting the transparent conductive layer 12 are removed. 10A, it is preferable that a part of the metal nanowire 101 included in the transparent conductive layer 12 protrudes from the surface of the transparent conductive layer 12. This is because the transparent electrode portion 13 and an external FPC (Flexible Printed Circuit), a drive circuit, and the like can be electrically connected through the protruding portion of the metal nanowire 101. Here, the hole element 13 a of the transparent electrode portion 13 has been described, but the same applies to the hole element 14 a of the transparent insulating portion 14.

図10Bは、絶縁部要素の他の構成例を示す断面図である。絶縁部要素は、上述の孔部要素13aに限定されるものではなく、図10Bに示すように、エッチング工程において、エッチング液を滴下した部分の透明導電層12に含まれる金属ワイヤー101が分断されて絶縁状態となることで、絶縁要素13dが形成されるようにしてもよい。この場合には、透明導電層12において絶縁部要素13dとなる部分にも膜が残存することになる。ここでは、透明電極部13の絶縁部要素について説明したが、透明絶縁部14の絶縁部要素についても同様である。   FIG. 10B is a cross-sectional view illustrating another configuration example of the insulating element. The insulating element is not limited to the above-described hole element 13a. As shown in FIG. 10B, in the etching process, the metal wire 101 included in the transparent conductive layer 12 where the etching solution is dropped is divided. Thus, the insulating element 13d may be formed by being in an insulated state. In this case, the film also remains in the portion of the transparent conductive layer 12 that becomes the insulating element 13d. Although the insulating part element of the transparent electrode part 13 has been described here, the same applies to the insulating part element of the transparent insulating part 14.

[ラスター画像の作成アルゴリズム]
以下、図11を参照して、ラスター画像の作成アルゴリズムについて説明する。
まず、ステップS1において、ドットサイズおよび全体サイズが設定されると、ステップS2において、図12Aに示すように、設定したドットサイズの単位で全体サイズを区切ったグリッドを作成する。上述のエッチング工程では、グリッドの各ドットの位置にエッチング液が印刷(描画)されて、孔部要素13a、14aが形成される。なお、グリッドを構成するドットは矩形状であるが、インクジェット印刷法によりエッチング液を印刷(描画)した場合には、孔部要素13a、14aは上述のように円形状、ほぼ円形状、楕円形状またはほぼ楕円形状となるため、両者の形状は異なっている。
[Raster image creation algorithm]
Hereinafter, a raster image creation algorithm will be described with reference to FIG.
First, when the dot size and the overall size are set in step S1, a grid in which the overall size is divided in units of the set dot size is created in step S2 as shown in FIG. 12A. In the above-described etching process, the etching solution is printed (drawn) at the positions of the dots of the grid to form the hole elements 13a and 14a. The dots constituting the grid are rectangular, but when the etching solution is printed (drawn) by the ink jet printing method, the hole elements 13a and 14a are circular, almost circular, or elliptical as described above. Or since it becomes a substantially elliptical shape, both shapes differ.

次に、ステップS3において、図12Bに示すように、作成したグリッドの各ドットにアドレス(n1、n2)を設定する。ここで、n1が行方向(X軸方向(第1方向))のアドレスであり、n2が列方向(Y軸方向(第2方向))のアドレスである。次に、ステップS4において、孔部要素を形成するドットの割合pが設定されると、ステップS5において、アドレス(n1、n2)を初期値であるアドレス(1、1)に設定する。ここで、ドットの割合pは、0以上100以下の数値である。なお、以下では、ドットの割合pに「%」を付して示すことがある。 Next, in step S3, as shown in FIG. 12B, an address (n 1 , n 2 ) is set to each dot of the created grid. Here, n 1 is an address in the row direction (X-axis direction (first direction)), and n 2 is an address in the column direction (Y-axis direction (second direction)). Next, when the dot ratio p forming the hole element is set in step S4, the address (n 1 , n 2 ) is set to the initial address (1, 1) in step S5. Here, the dot ratio p is a numerical value of 0 or more and 100 or less. In the following description, “%” may be added to the dot ratio p.

ここで、孔部要素を形成するドットの割合pは、全体サイズを構成する全ドットのうち孔部要素を形成するドットの割合(すなわち、エッチング液を印刷(描画)するドットの割合)を示す。この孔部要素を形成するドットの割合pは、上述の孔部要素13aの平均割合P1および孔部要素14aの平均割合P2に対応する。透明電極部13を形成するためのランダムパターンを生成する場合には、ドットの割合pを、好ましくはp≦50[%]、より好ましくはp≦40[%]、さらに好ましくはp≦30[%]の範囲内に設定することが好ましい。一方、透明絶縁部14を形成するためのランダムパターンを生成する場合には、ドットの割合pを、好ましくは50[%]<p、より好ましくは60[%]<pの範囲内に設定することが好ましい。   Here, the ratio p of the dots forming the hole elements indicates the ratio of the dots forming the hole elements among all the dots constituting the entire size (that is, the ratio of the dots for printing (drawing) the etching solution). . The ratio p of the dots forming the hole element corresponds to the average ratio P1 of the hole elements 13a and the average ratio P2 of the hole elements 14a. When generating a random pattern for forming the transparent electrode portion 13, the dot ratio p is preferably p ≦ 50 [%], more preferably p ≦ 40 [%], and still more preferably p ≦ 30 [%]. %] Is preferable. On the other hand, when generating a random pattern for forming the transparent insulating portion 14, the dot ratio p is preferably set within a range of 50 [%] <p, more preferably 60 [%] <p. It is preferable.

透明電極部13を形成するためのランダムパターンのドットの割合p1と、透明絶縁部14を形成するためのランダムパターンのドットの割合p2との差Δp(=p2−p1)を、好ましくはΔp≦30[%]、より好ましくはΔp≦20[%]、さらに好ましくはΔp≦10[%]の範囲内に設定することが好ましい。   The difference Δp (= p2−p1) between the dot ratio p1 of the random pattern for forming the transparent electrode portion 13 and the dot ratio p2 of the random pattern for forming the transparent insulating portion 14 is preferably Δp ≦ It is preferable to set within a range of 30 [%], more preferably Δp ≦ 20 [%], and still more preferably Δp ≦ 10 [%].

次に、ステップS6において、ステップS5、ステップS12またはステップS13にて設定されたアドレス(n1、n2)(以下、「設定アドレス」という。)のドットに対して、0以上100以下の一様な乱数Nrを発生させる。乱数Nrの発生アルゴリズムとしては、例えば、メルセンヌ・ツイスタ(Mersenne twister(MT))を用いることができる。次に、ステップS7において、ステップ6にて発生させた乱数Nrが、ステップS4にて設定されたドットの割合pの以下(Nr≦p)であるか否かを判別する。 Next, in step S6, the dot of the address (n 1 , n 2 ) (hereinafter referred to as “set address”) set in step S5, step S12 or step S13 is 0 or more and 100 or less. A random number Nr is generated. As an algorithm for generating the random number Nr, for example, Mersenne twister (MT) can be used. Next, in step S7, it is determined whether or not the random number Nr generated in step 6 is equal to or less than the dot ratio p set in step S4 (Nr ≦ p).

表2に、乱数Nrと印刷情報(2値情報)との関係を示す。

Figure 2014047402
Table 2 shows the relationship between the random number Nr and the print information (binary information).
Figure 2014047402

乱数Nrがドットの割合p以下である場合には、ステップS8において、図12Cに示すように、設定アドレス(n1、n2)のドットを印刷に設定する。一方、乱数Nrが孔部要素の割合Pより大きい場合には、ステップS8において、図12Cに示すように、設定アドレス(n1、n2)のドットを印刷しない(以下、「非印刷」という。)に設定する。 If the random number Nr is equal to or less than the dot ratio p, in step S8, as shown in FIG. 12C, the dot at the set address (n 1 , n 2 ) is set for printing. On the other hand, when the random number Nr is larger than the hole element ratio P, in step S8, as shown in FIG. 12C, the dot at the set address (n 1 , n 2 ) is not printed (hereinafter referred to as “non-printing”). )).

図12Cでは、印刷に設定したドットを「黒色ドット」で表し、非印刷に設定したドットを「白色ドット」で表した例が示されている。また、図12Cでは、矢印で示す順序で各ドットに対して印刷情報(「印刷」および「非印刷」の2値情報)のいずれかを設定する例が示されているが、この設定の順序は一例であって、印刷情報の設定の順序はこの例に限定されるものではない。   FIG. 12C shows an example in which dots set for printing are represented by “black dots” and dots set for non-printing are represented by “white dots”. FIG. 12C shows an example in which one of print information (binary information “print” and “non-print”) is set for each dot in the order indicated by the arrows. Is an example, and the order of setting print information is not limited to this example.

次に、ステップS10において、アドレスn1が行方向のアドレスの最大値N1であるか否かを判断する。アドレスn1が最大値N1である場合には、処理はステップS11に移行する。一方、アドレスn1が最大値N1でない場合には、ステップS12において、アドレスn1をインクリメントして、処理はステップS6に戻る。 Next, in step S10, it is determined whether or not the address n 1 is the maximum address value N 1 in the row direction. If the address n 1 is the maximum value N 1 , the process proceeds to step S11. On the other hand, if the address n 1 is not the maximum value N 1 , the address n 1 is incremented in step S12, and the process returns to step S6.

ステップS11において、アドレスn2が列方向のアドレスの最大値N2であるか否かを判断する。アドレスn2が最大値N2でない場合には、ステップS13において、アドレスn2をインクリメントして、処理はステップS6に戻る。一方、アドレスn2が最大値N2である場合には、図12Dに示すように、グリッドを構成する全てのドットに対して印刷情報(2値情報)が設定されて、白色ドット32および黒色ドット31がランダムパターンで配列されたラスター画像が完成されて、処理はステップS14に移行する。次に、ステップS14において、このラスター画像(2値画像)を記憶部に記憶するようにしてもよい。 In step S11, it is determined whether or not the address n 2 is the maximum address value N 2 in the column direction. If the address n 2 is not the maximum value N 2 , the address n 2 is incremented in step S13, and the process returns to step S6. On the other hand, when the address n 2 is the maximum value N 2 , as shown in FIG. 12D, print information (binary information) is set for all the dots constituting the grid, and white dots 32 and black A raster image in which dots 31 are arranged in a random pattern is completed, and the process proceeds to step S14. Next, in step S14, the raster image (binary image) may be stored in the storage unit.

上述のエッチング工程では、ラスター画像を記憶部から読み出し、このラスター画像の各ドットに対応する透明導電層12上の位置にインクジェットヘッドのノズルを順次移動させながら、ラスター画像の印刷情報に基づきインクジェットヘッドからエッチング液を塗出する。   In the above-described etching process, the raster image is read from the storage unit, and the inkjet head nozzle is sequentially moved to the position on the transparent conductive layer 12 corresponding to each dot of the raster image, based on the printing information of the raster image. Etch the etchant.

具体的には、ラスター画像の印刷に設定されているドット(例えば、「黒色ドット31」)に対応する透明導電層12上の位置では、インクジェットヘッドからエッチング液を塗出する。一方、ラスター画像の非印刷に設定されているドット(例えば、「白色ドット32」)に対応する透明導電層12上の位置では、インクジェットヘッドからエッチング液を塗出させない。これにより、ラスター画像の白色ドット32および黒色ドット31のランダムパターンに対応するエッチングパターンが透明導電層12に形成される。なお、上述のインクジェットヘッドの動作制御の説明では、印刷位置および非印刷位置のすべてにインクジェットヘッドを移動させる例について説明したが、インクジェットヘッドの動作制御はこの例に限定されるものではない。例えば、インクジェットヘッドが印刷位置のみに順次移動するように、インクジェットヘッドの動作制御を行うようにしてもよい。   Specifically, the etching liquid is applied from the inkjet head at a position on the transparent conductive layer 12 corresponding to a dot (for example, “black dot 31”) set for raster image printing. On the other hand, the etching liquid is not applied from the inkjet head at a position on the transparent conductive layer 12 corresponding to a dot (for example, “white dot 32”) set to non-printing of the raster image. Thereby, an etching pattern corresponding to the random pattern of the white dots 32 and the black dots 31 of the raster image is formed in the transparent conductive layer 12. In the above description of the operation control of the inkjet head, the example in which the inkjet head is moved to all of the printing position and the non-printing position has been described. However, the operation control of the inkjet head is not limited to this example. For example, the operation control of the ink jet head may be performed so that the ink jet head sequentially moves only to the printing position.

図13A、図13Bは、グリッドを構成するドット(マス目)と孔部要素との大きさの関係を示す略線図である。図13Aに示すように、正方形状のドットの角より孔部要素の周(例えば円周)が外側に位置する場合には、隣接例においてX軸方向またはY軸方向に隣り合う孔部要素13aのみならず、隣接例においてX軸方向またはY軸方向に対して斜めの方向で隣り合う孔部要素13a同士も繋がって、1つの孔部13bが形成される。一方、図13Bに示すように、正方形状のドットの角より孔部要素の周(例えば円周)が内側に位置する場合には、隣接例においてX軸方向またはY軸方向に対して斜めの方向で隣り合う孔部要素13a同士は繋がらず、離間した孔部13bが形成される。   FIG. 13A and FIG. 13B are schematic diagrams showing the relationship between the size of dots (squares) constituting the grid and the hole elements. As shown in FIG. 13A, when the circumference (for example, the circumference) of the hole element is located outside the corner of the square dot, the hole element 13a adjacent in the X axis direction or the Y axis direction in the adjacent example. In addition, in the adjacent example, the hole elements 13a adjacent to each other in an oblique direction with respect to the X-axis direction or the Y-axis direction are also connected to form one hole 13b. On the other hand, as shown in FIG. 13B, when the circumference (for example, the circumference) of the hole element is located on the inner side than the corner of the square dot, in the adjacent example, it is oblique to the X axis direction or the Y axis direction. The hole elements 13a adjacent to each other in the direction are not connected to each other, and a hole 13b that is spaced apart is formed.

[効果]
第2の実施形態では、基材表面のX軸方向およびY軸方向に2次元的に複数の孔部要素(絶縁部要素)13aおよび孔部要素(絶縁部要素)14aを透明導電層12にランダムに配列しているので、印刷法、特にインクジェット印刷法により孔部要素13a、14aを容易に作製することができる。
[effect]
In the second embodiment, a plurality of hole elements (insulating part elements) 13a and hole elements (insulating part elements) 14a are two-dimensionally formed on the transparent conductive layer 12 in the X-axis direction and the Y-axis direction of the substrate surface. Since they are arranged at random, the hole elements 13a and 14a can be easily produced by a printing method, particularly an ink jet printing method.

X軸方向に隣り合う孔部要素14a同士、およびY軸方向に隣り合う孔部要素14a同士を繋げることで、透明導電層12の電気的パスを切断し、透明導電層12を透明絶縁部14として機能させることができる。   By connecting the hole elements 14a adjacent in the X-axis direction and the hole elements 14a adjacent in the Y-axis direction, the electrical path of the transparent conductive layer 12 is cut, and the transparent conductive layer 12 is replaced with the transparent insulating part 14 Can function as.

基材表面に平面的に交互に透明電極部13および透明絶縁部14を設けているので、透明電極部13が設けられている第1の領域R1と透明電極部13が設けられていない第2の領域R2との反射率差を低減できる。また、透明電極部13にも孔部要素13aを設けているので、第1の領域R1と第2の領域R2との反射率差をさらに低減できる。したがって、透明電極部13のパターンの視認を抑制することができる。 Since the transparent electrode portions 13 and the transparent insulating portions 14 are alternately provided on the substrate surface in a plane, the first region R 1 where the transparent electrode portion 13 is provided and the transparent electrode portion 13 where the transparent electrode portion 13 is not provided. Thus, the difference in reflectance from the region R 2 can be reduced. Further, since the provided hole elements 13a to the transparent electrode 13, the first region R 1 and the reflectance difference between the second region R 2 can be further reduced. Therefore, the visual recognition of the pattern of the transparent electrode part 13 can be suppressed.

ラスター画像を用いてランダムパターンを作成した場合には、印刷法、特にインクジェット印刷法にマッチングしたランダムパターンを形成することができる。インクジェット印刷はオンデマンド印刷であるため版の作製が必要なく、試作設計などのフィードバックが容易になる。また、インクジェット印刷法は、少量多品種用途に向いており、製品の変更がめざましいモバイル機器のタッチパネル用途などに用いて好適である。   When a random pattern is created using a raster image, a random pattern matched with a printing method, particularly an ink jet printing method can be formed. Inkjet printing is on-demand printing, so there is no need to produce a plate, and feedback such as trial design becomes easy. Further, the ink jet printing method is suitable for use in a small amount and a variety of products, and is suitable for use as a touch panel of a mobile device in which product changes are remarkable.

[変形例]
(保護層)
図14に示すように、透明導電層12の表面に保護層61をさらに設けるようにしてもよい。保護層61が金属ナノワイヤーを含んでいる場合には、金属ナノワイヤーの一部が保護層61の表面から突出していることが好ましい。この金属ナノワイヤーの突出部分を介して、透明電極部13と外部のFPC(Flexible Printed Circuit)83や駆動回路などとを電気的に接続することが可能となるからである。
[Modification]
(Protective layer)
As shown in FIG. 14, a protective layer 61 may be further provided on the surface of the transparent conductive layer 12. When the protective layer 61 includes metal nanowires, it is preferable that part of the metal nanowires protrude from the surface of the protective layer 61. This is because the transparent electrode portion 13 and an external FPC (Flexible Printed Circuit) 83, a drive circuit, and the like can be electrically connected through the protruding portion of the metal nanowire.

保護層61は、透明導電層12を保護するものであり、ハードコート層としての機能を有していてもよい。保護層61の材料としては、例えば、光または電子線などにより硬化する電離放射線硬化型樹脂、または熱により硬化する熱硬化型樹脂を用いることが好ましく、紫外線により硬化する感光性樹脂が最も好ましい。このような感光性樹脂としては、例えば、ウレタンアクリレート、エポキシアクリレート、ポリエステルアクリレート、ポリオールアクリレート、ポリエーテルアクリレート、メラミンアクリレートなどのアクリレート系樹脂を用いることができる。例えば、ウレタンアクリレート樹脂は、ポリエステルポリオールにイソシアネートモノマー、あるいはプレポリマーを反応させ、得られた生成物に、水酸基を有するアクリレートまたはメタクリレート系のモノマーを反応させることによって得られる。   The protective layer 61 protects the transparent conductive layer 12 and may have a function as a hard coat layer. As the material of the protective layer 61, for example, an ionizing radiation curable resin that is cured by light or an electron beam or a thermosetting resin that is cured by heat is preferably used, and a photosensitive resin that is cured by ultraviolet rays is most preferable. As such a photosensitive resin, for example, acrylate resins such as urethane acrylate, epoxy acrylate, polyester acrylate, polyol acrylate, polyether acrylate, and melamine acrylate can be used. For example, a urethane acrylate resin is obtained by reacting a polyester polyol with an isocyanate monomer or a prepolymer, and reacting the resulting product with an acrylate or methacrylate monomer having a hydroxyl group.

保護層61の形成工程は、例えば、透明導電層12の成膜工程とエッチング工程との間、もしくは透明導電層12のエッチング工程後に設けられる。すなわち、保護層61は、パターニング前またはパターニング後の透明導電層12の表面に形成される。パターニング前の透明導電層12に保護層61を形成する場合には、透明導電層12は以下のようにしてエッチングされる。まず、エッチング液を保護層61の表面に滴下すると、滴下したエッチング液が保護層61に浸透し、透明導電層12に到達する。その後、この到達したエッチング液により透明導電層12がエッチングされる。   The formation process of the protective layer 61 is provided between the film-forming process and the etching process of the transparent conductive layer 12, or after the etching process of the transparent conductive layer 12, for example. That is, the protective layer 61 is formed on the surface of the transparent conductive layer 12 before or after patterning. When the protective layer 61 is formed on the transparent conductive layer 12 before patterning, the transparent conductive layer 12 is etched as follows. First, when an etching solution is dropped on the surface of the protective layer 61, the dropped etching solution penetrates the protective layer 61 and reaches the transparent conductive layer 12. Thereafter, the transparent conductive layer 12 is etched by the reached etching solution.

保護層の形成方法としては、例えば、塗布法または印刷法を用いることができる。塗布方法としては、例えば、マイクログラビアコート法、ワイヤーバーコート法、ダイレクトグラビアコート法、ダイコート法、ディップ法、スプレーコート法、リバースロールコート法、カーテンコート法、コンマコート法、ナイフコート法またはスピンコート法などを用いることができる。印刷方法としては、例えば、凸版印刷法、オフセット印刷法、グラビア印刷法、凹版印刷法、ゴム版印刷法、インクジェット印刷、マイクロコンタクト印刷またはスクリーン印刷法などを用いることができる。   As a method for forming the protective layer, for example, a coating method or a printing method can be used. Examples of the coating method include a micro gravure coating method, a wire bar coating method, a direct gravure coating method, a die coating method, a dip method, a spray coating method, a reverse roll coating method, a curtain coating method, a comma coating method, a knife coating method, or a spin coating method. A coating method or the like can be used. As a printing method, for example, a relief printing method, an offset printing method, a gravure printing method, an intaglio printing method, a rubber plate printing method, an ink jet printing, a micro contact printing or a screen printing method can be used.

(孔部要素のパターン)
上述の第2の実施形態では、複数の孔部要素13a、14aを基材11の表面のX軸方向およびY軸方向に2次元的にランダムに形成して配列する例について説明したが、複数の孔部要素13a、14aの形成パターンはこの例に限定されるものではない。例えば、複数の孔部要素13a、14aを基材11の表面のX軸方向およびY軸方向に2次元的に規則的に形成して配列することも可能である。また、複数の孔部要素13a、14aの一方を基材11の表面のX軸方向およびY軸方向に2次元的にランダムに形成して配列するのに対して、他方を2次元的に規則的に形成して配列するようにしてもよい。また、第2の領域(絶縁領域)R2においてのみ基材11の表面に孔部要素14aを形成し、第1の領域(電極領域)R1においては基材11の表面に孔部要素13aを形成せず、連続的に設けられた透明導電層(連続膜)12とするようにしてもよい。
(Pole element pattern)
In the second embodiment described above, an example in which a plurality of hole elements 13a and 14a are randomly formed and arranged two-dimensionally in the X-axis direction and the Y-axis direction on the surface of the base material 11 has been described. The formation pattern of the hole elements 13a and 14a is not limited to this example. For example, the plurality of hole elements 13 a and 14 a can be regularly formed and arranged two-dimensionally in the X-axis direction and the Y-axis direction on the surface of the base material 11. In addition, one of the plurality of hole elements 13a and 14a is two-dimensionally randomly arranged in the X-axis direction and the Y-axis direction on the surface of the substrate 11, and the other is ruled two-dimensionally. They may be formed and arranged as desired. Further, a hole element 14a on the surface of the substrate 11 only the second region in the (insulating region) R 2 form, the first region (electrode region) hole elements 13a on the surface of the substrate 11 in R 1 The transparent conductive layer (continuous film) 12 may be provided continuously without forming the film.

<3.第3の実施形態>
第3の実施形態は、2種以上の大きさの孔部要素13a、14aを有している点において、第1の実施形態とは異なっている。2種以上の大きさの孔部要素13a、14aを形成するためには、例えば、グリッドのドットサイズを2種以上とすればよい。
<3. Third Embodiment>
The third embodiment is different from the first embodiment in that the hole elements 13a and 14a have two or more kinds of sizes. In order to form the hole elements 13a and 14a having two or more types of sizes, for example, the dot size of the grid may be set to two or more types.

図15Aでは、2種のドットサイズを有するグリッドの例が示されている。図15Bおよび図15Cにはそれぞれ、このグリッドを用いて形成した透明電極部13および透明絶縁部14の例が示されている。この透明電極部13および透明絶縁部14は、2種の大きさの孔部要素13a、14aを有している。   FIG. 15A shows an example of a grid having two types of dot sizes. FIGS. 15B and 15C show examples of the transparent electrode portion 13 and the transparent insulating portion 14 formed using this grid, respectively. The transparent electrode portion 13 and the transparent insulating portion 14 have two types of hole elements 13a and 14a.

図16Aでは、3種のドットサイズを有するグリッドの例が示されている。図16Bおよび図16Cにはそれぞれ、このグリッドを用いて形成した透明電極部13および透明絶縁部14の例が示されている。この透明電極部13および透明絶縁部14は、3種の大きさの孔部要素13a、14aを有している。   FIG. 16A shows an example of a grid having three types of dot sizes. FIGS. 16B and 16C show examples of the transparent electrode portion 13 and the transparent insulating portion 14 formed using this grid, respectively. The transparent electrode portion 13 and the transparent insulating portion 14 have hole elements 13a and 14a having three kinds of sizes.

<4.第4の実施形態>
第4の実施形態は、X軸方向(第1方向)とY軸方向(第2方向)とが斜め交差の関係にあり、この関係にあるX軸方向およびY軸方向に孔部要素13a、14aが2次元的にランダムに配列するように形成されている点において第1の実施形態とは異なっている。斜め交差の関係にあるX軸方向(第1方向)とY軸方向(第2方向)に孔部要素13a、14aを形成するためには、例えば、グリッドのドット形状を平行四辺形状などの形状にすればよい。
<4. Fourth Embodiment>
In the fourth embodiment, the X-axis direction (first direction) and the Y-axis direction (second direction) are in a diagonally intersecting relationship, and the hole elements 13a in the X-axis direction and the Y-axis direction in this relationship, 14a is different from the first embodiment in that it is formed so as to be randomly arranged two-dimensionally. In order to form the hole elements 13a and 14a in the X-axis direction (first direction) and the Y-axis direction (second direction) that are in an oblique intersection relationship, for example, the grid dot shape is a shape such as a parallelogram shape. You can do it.

図17Aでは、ドット形状を平行四辺形状としたグリッドの例が示されている。図17Bおよび図17Cにはそれぞれ、このグリッドを用いて形成した透明電極部13および透明絶縁部14の例が示されている。   FIG. 17A shows an example of a grid in which the dot shape is a parallelogram shape. FIGS. 17B and 17C show examples of the transparent electrode portion 13 and the transparent insulating portion 14 formed using this grid, respectively.

<5.第5の実施形態>
第5の実施形態では、上述の第1の実施形態に係るエッチング液を用いた配線の形成方法について説明する。
<5. Fifth Embodiment>
In the fifth embodiment, a wiring forming method using the etching solution according to the first embodiment will be described.

図18は、第5の実施形態に係る配線の形成方法により形成される配線の一構成例を示す。なお、第5の実施形態において第1の実施形態と同様の箇所には同一の符号を付して説明を省略する。   FIG. 18 shows a configuration example of wiring formed by the wiring forming method according to the fifth embodiment. Note that in the fifth embodiment, the same portions as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted.

透明電極部13の一端にはそれぞれ、配線82が電気的に接続され、この配線82と駆動回路(図示省略)とがFPC(Flexible Printed Circuit)83を介して接続されている。配線82の間には、線状などの細長い形状を有する絶縁部84が設けられており、この絶縁部84を解して隣り合う配線82同士が電気的に絶縁されている。なお、図18では、透明電極部13が菱形(ダイヤモンド形)を有する例が示されている。   A wiring 82 is electrically connected to one end of the transparent electrode portion 13, and the wiring 82 and a drive circuit (not shown) are connected via an FPC (Flexible Printed Circuit) 83. Between the wirings 82, an insulating part 84 having a long and narrow shape such as a linear shape is provided, and adjacent wirings 82 are electrically insulated from each other through the insulating part 84. In addition, in FIG. 18, the example in which the transparent electrode part 13 has a rhombus (diamond shape) is shown.

図19Aは、配線82および絶縁部84の一部を拡大して表す平面図である。配線82は、図19Aに示すように、基材11の表面を孔部要素によって露出することなく、連続的に設けられた線状の導電層(連続膜)である。連続膜である導電層は、ほぼ一様な膜厚を有していることが好ましい。導電層は、金属材料または透明導電材料を主成分としている。配線82間の絶縁部84は、島部14bが金属材料または透明導電材料を主成分としている以外のことは上述の第2の実施形態における透明絶縁部14と同様の構成を有している。絶縁部84の孔部要素14aも上述の第2の実施形態と同様にインクジェット印刷法などの印刷法により形成することができる。   FIG. 19A is a plan view illustrating a part of the wiring 82 and the insulating portion 84 in an enlarged manner. As shown in FIG. 19A, the wiring 82 is a linear conductive layer (continuous film) provided continuously without exposing the surface of the base material 11 by the hole element. The conductive layer, which is a continuous film, preferably has a substantially uniform film thickness. The conductive layer contains a metal material or a transparent conductive material as a main component. The insulating portion 84 between the wirings 82 has the same configuration as that of the transparent insulating portion 14 in the above-described second embodiment except that the island portion 14b has a metal material or a transparent conductive material as a main component. The hole element 14a of the insulating portion 84 can also be formed by a printing method such as an ink jet printing method as in the second embodiment.

図19Bに示すように、配線82間に配線82の延在方向に伸びる1列または2列以上の孔部要素14aの列からなる絶縁部84を形成するようにしてもよい。この際、延在方向および延在方向に垂直な方向において隣り合う孔部要素14a同士が繋がるようにする。これにより、配線82間が孔部要素14aにより絶縁される。延在方向および延在方向に垂直な方向に対して斜めの方向において隣り合う孔部要素14a同士も繋がるようにすることが好ましい。この孔部要素14aも上述の第2の実施形態と同様にインクジェット印刷法などの印刷法により形成することができる。   As illustrated in FIG. 19B, an insulating portion 84 formed of one row or two or more rows of hole element 14 a extending in the extending direction of the wiring 82 may be formed between the wirings 82. At this time, the adjacent hole elements 14a are connected in the extending direction and the direction perpendicular to the extending direction. Thereby, the wiring 82 is insulated by the hole element 14a. It is preferable that adjacent hole elements 14a are also connected in an oblique direction with respect to the extending direction and the direction perpendicular to the extending direction. This hole element 14a can also be formed by a printing method such as an ink jet printing method as in the second embodiment.

以下、実施例により本技術を具体的に説明するが、本技術はこれらの実施例のみに限定されるものではない。   Hereinafter, the present technology will be specifically described by way of examples. However, the present technology is not limited only to these examples.

(実施例1〜8)
まず、ヨウ素とヨウ化カリウム(ヨウ素化合物)とジエチレングリコールモノエチルエーテル(高沸点溶媒)と純水(低沸点溶媒)を表4に示す配合で混合した後、超音波にて溶解を行うことにより、混合液を調製した。次に、この混合液を80℃のオーブンにて30分暖めることで均一なエッチング液を得た。
(Examples 1-8)
First, iodine, potassium iodide (iodine compound), diethylene glycol monoethyl ether (high boiling point solvent) and pure water (low boiling point solvent) were mixed in the formulation shown in Table 4, and then dissolved by ultrasound. A mixture was prepared. Next, this mixed solution was heated in an oven at 80 ° C. for 30 minutes to obtain a uniform etching solution.

(実施例9)
ヨウ素とヨウ化カリウム(ヨウ素化合物)とジエチレングリコールモノエチルエーテル(高沸点溶媒)と純水(低沸点溶媒)を表5に示す配合で混合する以外は、実施例1〜8と同様にしてエッチング液を得た。
Example 9
Etching solution in the same manner as in Examples 1 to 8, except that iodine, potassium iodide (iodine compound), diethylene glycol monoethyl ether (high boiling point solvent) and pure water (low boiling point solvent) are mixed in the formulation shown in Table 5. Got.

(実施例10)
ヨウ素とヨウ化カリウム(ヨウ素化合物)とプロピレングリコール(高沸点溶媒)と純水(低沸点溶媒)を表5に示す配合で混合する以外は、実施例1〜8と同様にしてエッチング液を得た。
(Example 10)
Etching solution was obtained in the same manner as in Examples 1 to 8, except that iodine, potassium iodide (iodine compound), propylene glycol (high boiling point solvent) and pure water (low boiling point solvent) were mixed in the formulation shown in Table 5. It was.

(実施例11)
ヨウ素とヨウ化カリウム(ヨウ素化合物)とエチレングリコールモノメチルエーテル(高沸点溶媒)と純水(低沸点溶媒)を表5に示す配合で混合する以外は、実施例1〜8と同様にしてエッチング液を得た。
(Example 11)
Etching solution in the same manner as in Examples 1 to 8, except that iodine, potassium iodide (iodine compound), ethylene glycol monomethyl ether (high boiling point solvent) and pure water (low boiling point solvent) are mixed in the formulation shown in Table 5. Got.

(実施例12)
ヨウ素とヨウ化カリウム(ヨウ素化合物)とジメチルスルホキシド(高沸点溶媒)と純水(低沸点溶媒)を表5に示す配合で混合する以外は、実施例1〜8と同様にしてエッチング液を得た。
(Example 12)
Etching solution was obtained in the same manner as in Examples 1 to 8, except that iodine, potassium iodide (iodine compound), dimethyl sulfoxide (high boiling point solvent) and pure water (low boiling point solvent) were mixed in the formulation shown in Table 5. It was.

(実施例13〜15)
ヨウ素とヨウ化カリウム(ヨウ素化合物)とジエチレングリコールモノエチルエーテル(高沸点溶媒)と純水(低沸点溶媒)とを表5に示す配合で混合した後、超音波にて溶解を行うことにより、混合液を調製した。次に、この混合液に、表2に示す添加量のヒドロキシプロピルメチルセルロース(増粘剤)を添加した後、80℃のオーブンにて30分暖めることで均一なエッチング液を得た。
(Examples 13 to 15)
After mixing iodine, potassium iodide (iodine compound), diethylene glycol monoethyl ether (high boiling point solvent) and pure water (low boiling point solvent) with the composition shown in Table 5, the mixture is dissolved by ultrasonic waves. A liquid was prepared. Next, after adding the addition amount of hydroxypropylmethylcellulose (thickening agent) shown in Table 2 to this mixed solution, it was heated in an oven at 80 ° C. for 30 minutes to obtain a uniform etching solution.

(実施例16)
ヨウ素とヨウ化テトラブチルアンモニウム(ヨウ素化合物)とジメチルスルホキシド(高沸点溶媒)とを表5に示す配合で混合する以外は、実施例1〜8と同様にしてエッチング液を得た。
(Example 16)
Etching solutions were obtained in the same manner as in Examples 1 to 8, except that iodine, tetrabutylammonium iodide (iodine compound), and dimethyl sulfoxide (high boiling point solvent) were mixed in the formulation shown in Table 5.

(比較例1)
ヨウ素とヨウ化カリウム(ヨウ素化合物)とエタノール(低沸点溶媒)と純水(低沸点溶媒)とを表6に示す配合で混合する以外は、実施例1〜8と同様にしてエッチング液を得た。
(Comparative Example 1)
Etching solution was obtained in the same manner as in Examples 1 to 8, except that iodine, potassium iodide (iodine compound), ethanol (low boiling point solvent) and pure water (low boiling point solvent) were mixed in the formulation shown in Table 6. It was.

(比較例2)
ヨウ素とヨウ化カリウム(ヨウ素化合物)とイソプロピルアルコール(低沸点溶媒)と純水(低沸点溶媒)とを表6に示す配合で混合する以外は、実施例1〜8と同様にしてエッチング液を得た。
(Comparative Example 2)
Etching solution was prepared in the same manner as in Examples 1 to 8, except that iodine, potassium iodide (iodine compound), isopropyl alcohol (low boiling point solvent) and pure water (low boiling point solvent) were mixed in the formulation shown in Table 6. Obtained.

(比較例3)
ヨウ素とヨウ化カリウム(ヨウ素化合物)とメチルエチルケトン(低沸点溶媒)とを表6に示す配合で混合する以外は、実施例1〜8と同様にしてエッチング液を得た。
(Comparative Example 3)
Etching solutions were obtained in the same manner as in Examples 1 to 8, except that iodine, potassium iodide (iodine compound), and methyl ethyl ketone (low boiling point solvent) were mixed in the formulation shown in Table 6.

(比較例4)
ヨウ素とヨウ化カリウム(ヨウ素化合物)とトルエン(低沸点溶媒)とを表6に示す配合で混合する以外は、実施例1〜8と同様にしてエッチング液を得た。
(Comparative Example 4)
Etching liquids were obtained in the same manner as in Examples 1 to 8, except that iodine, potassium iodide (iodine compound), and toluene (low boiling point solvent) were mixed in the formulation shown in Table 6.

(比較例5)
ヨウ素とヨウ化カリウム(ヨウ素化合物)とシクロヘキサン(低沸点溶媒)とを表6に示す配合で混合する以外は、実施例1〜8と同様にしてエッチング液を得た。
(Comparative Example 5)
Etching liquids were obtained in the same manner as in Examples 1 to 8, except that iodine, potassium iodide (iodine compound), and cyclohexane (low boiling point solvent) were mixed in the formulation shown in Table 6.

(比較例6)
ヨウ素とヨウ化カリウム(ヨウ素化合物)とアセトニトリル(低沸点溶媒)とを表6に示す配合で混合する以外は、実施例1〜8と同様にしてエッチング液を得た。
(Comparative Example 6)
Etching solutions were obtained in the same manner as in Examples 1 to 8, except that iodine, potassium iodide (iodine compound), and acetonitrile (low boiling point solvent) were mixed in the formulation shown in Table 6.

<エッチング性能>
上述のようにして得られた実施例1〜16、比較例1〜6のエッチング液を用いて以下のようにしてエッチング性能を評価した。エッチング液1μLを保護膜なしの銀ナノワイヤー層に滴下し、常温環境下にてその滴下から数秒経過後の銀ナノワイヤー層を光学顕微鏡で観察し、以下の基準でエッチング性能を評価した。その結果を表8に示す。
○:エッチング液を滴下した部分の銀ナノワイヤー層が完全に溶解
△:エッチング液を滴下した部分の銀ナノワイヤー層が一部溶解
×:エッチング液を滴下した部分の銀ナノワイヤー層が溶解せず
<Etching performance>
Etching performance was evaluated as follows using the etching solutions of Examples 1 to 16 and Comparative Examples 1 to 6 obtained as described above. 1 microliter of etching liquid was dripped at the silver nanowire layer without a protective film, the silver nanowire layer after several seconds passed from the dripping under normal temperature environment was observed with the optical microscope, and the etching performance was evaluated on the following references | standards. The results are shown in Table 8.
○: The silver nanowire layer where the etching solution was dropped completely dissolved Δ: The silver nanowire layer where the etching solution was dropped partially dissolved ×: The silver nanowire layer where the etching solution was dropped Z

エッチング液1μLを保護膜ありの銀ナノワイヤー層に滴下し、温度60℃または80℃の環境下にて、その滴下から2分経過後および3分経過後の銀ナノワイヤー層を光学顕微鏡で観察し、上記基準でエッチング性能を評価した。その結果を表8に示す。   1 μL of an etching solution is dropped on a silver nanowire layer with a protective film, and the silver nanowire layer after the lapse of 2 minutes and after the lapse of 3 minutes has been observed with an optical microscope in an environment at a temperature of 60 ° C. or 80 ° C. The etching performance was evaluated based on the above criteria. The results are shown in Table 8.

なお、上述の保護膜なしの銀ナノワイヤー層は以下のようにして作製した。
まず、銀ナノワイヤー(Blue nano社製)、バインダとしてヒドロキシプロピルメチルセルロース、およびイソシアネートを溶媒に投入し、分散させることにより、銀ナノワイヤー塗料を調製した。なお、銀ワイヤーとバインダの質量比は1:1とした。ヒドロキシプロピルメチルセルロースとイソシアネートの比率とは、ヒドロキシプロピルメチルセルロース100質量部に対してイソシアネート20質量部とした。溶媒としては、水とエタノールとを質量比1:1で混合した混合溶媒を用いた。銀ナノワイヤー塗料の固形分は2質量%に調製した。次に、調製した銀ナノワイヤー塗料を、PET(ポリエチレンテレフタレート)基材(厚さ100μm)の表面にバーコーターにて10μm塗布し、乾燥させることにより、銀ナノワイヤー層を形成した。
In addition, the silver nanowire layer without the above-mentioned protective film was produced as follows.
First, silver nanowire paint (manufactured by Blue nano), hydroxypropylmethylcellulose as a binder, and isocyanate were charged into a solvent and dispersed to prepare a silver nanowire paint. The mass ratio of the silver wire and the binder was 1: 1. The ratio of hydroxypropylmethylcellulose to isocyanate was 20 parts by mass of isocyanate with respect to 100 parts by mass of hydroxypropylmethylcellulose. As the solvent, a mixed solvent in which water and ethanol were mixed at a mass ratio of 1: 1 was used. The solid content of the silver nanowire paint was adjusted to 2% by mass. Next, the prepared silver nanowire coating was applied to the surface of a PET (polyethylene terephthalate) substrate (thickness: 100 μm) with a bar coater at 10 μm and dried to form a silver nanowire layer.

保護膜ありの銀ナノワイヤー層は以下のようにして作製した。
まず、上述の保護膜なしの銀ナノワイヤー層と同様にして、PET基材の表面に銀ナノワイヤー層を形成した。次に、以下の配合の紫外線硬化性樹脂組成物を調製し、銀ナノワイヤー層の表面にバーコーターにて3μmになるよう塗布し、UVランプからUV光を照射して硬化した。これにより、銀ナノワイヤー層の表面に保護層が形成された。
The silver nanowire layer with a protective film was produced as follows.
First, a silver nanowire layer was formed on the surface of a PET substrate in the same manner as the silver nanowire layer without the protective film described above. Next, an ultraviolet curable resin composition having the following composition was prepared, applied to the surface of the silver nanowire layer with a bar coater to a thickness of 3 μm, and cured by irradiating UV light from a UV lamp. Thereby, the protective layer was formed on the surface of the silver nanowire layer.

(紫外線硬化性樹脂組成物の配合)
ウレタンアクリレート(日本合成化学工業株式会社製、商品名:UV1700B):28.5質量%
重合開始剤(チバスペシャリティーケミカルズ社製、商品名:イルガキュア184D):1.5質量%
酢酸ブチル:70質量%
(Formulation of UV curable resin composition)
Urethane acrylate (manufactured by Nippon Synthetic Chemical Industry Co., Ltd., trade name: UV1700B): 28.5% by mass
Polymerization initiator (manufactured by Ciba Specialty Chemicals, trade name: Irgacure 184D): 1.5% by mass
Butyl acetate: 70% by mass

<粘度測定>
上述のようにして得られた実施例5、13〜15のエッチング液の粘度を測定した。その測定にはE型粘度計を用い、測定温度は25℃とした。
<Viscosity measurement>
The viscosities of the etching solutions of Examples 5 and 13 to 15 obtained as described above were measured. An E-type viscometer was used for the measurement, and the measurement temperature was 25 ° C.

<描画テスト>
上述のようにして得られた実施例5のエッチング液を用い、実際に産業用インクジェットによる描画テストを行った。その結果、乾燥によるエッチング不良は起こらず、任意の描画が可能であった。
<Drawing test>
Using the etching solution of Example 5 obtained as described above, a drawing test using an industrial inkjet was actually performed. As a result, etching failure due to drying did not occur and arbitrary drawing was possible.

表3は、実施例1〜16、比較例1〜6のエッチング液に含まれる溶媒の沸点を示す。

Figure 2014047402
Table 3 shows the boiling points of the solvents contained in the etching solutions of Examples 1 to 16 and Comparative Examples 1 to 6.
Figure 2014047402

表4は、実施例1〜8のエッチング液の組成を示す。なお、表2中の各成分の数値の単位は、「質量%」である。

Figure 2014047402
Table 4 shows the compositions of the etching solutions of Examples 1-8. In addition, the unit of the numerical value of each component in Table 2 is “mass%”.
Figure 2014047402

表5は、実施例9〜16のエッチング液の組成を示す。なお、表3中の各成分の数値の単位は、「質量%」である。

Figure 2014047402
Table 5 shows the compositions of the etching solutions of Examples 9-16. In addition, the unit of the numerical value of each component in Table 3 is “mass%”.
Figure 2014047402

表6は、比較例1〜6のエッチング液の組成を示す。なお、表4中の各成分の数値の単位は、「質量%」である。

Figure 2014047402
Table 6 shows the compositions of the etching solutions of Comparative Examples 1-6. In addition, the unit of the numerical value of each component in Table 4 is “mass%”.
Figure 2014047402

表7は、実施例5、13〜15のエッチング液の粘度を示す。

Figure 2014047402
Table 7 shows the viscosities of the etching solutions of Examples 5 and 13-15.
Figure 2014047402

表8は、実施例1〜16、比較例1〜6のエッチング液の評価結果を示す。

Figure 2014047402
Table 8 shows the evaluation results of the etching solutions of Examples 1 to 16 and Comparative Examples 1 to 6.
Figure 2014047402

上記評価結果から以下のことがわかる。
実施例1〜15:エッチング液の溶媒として、沸点170℃以上の溶媒(高沸点溶媒)を主成分とする混合溶媒を用いることで、微少な液滴の滴下でもエッチングが可能である。
実施例16:エッチング液の溶媒として、沸点170℃以上の溶媒からなる単一溶媒を用いることで、微少な液滴の滴下でもエッチングが可能である。また、ヨウ素化合物としてヨウ化カリウムに代えてヨウ化テトラブチルアンモニウムを用いた場合にも、ヨウ素化合物としてヨウ化カリウムを用いた場合と同様のエッチング性能が得られる。
実施例1〜8:ヨウ素とヨウ素化合物との配合比に依らず、良好なエッチング性能が得られる。
実施例13〜15:エッチング液が増粘剤を含む場合には、エッチング速度が低下する傾向がある。
実施例9〜12:主溶媒は沸点170℃以上の特性を有していれば、その種類に依らず、良好なエッチング性能が得られる。
比較例1、2:沸点170℃未満の低沸点溶媒を含む混合溶媒を用いているため、微少な液滴の滴下ではエッチングができない。
比較例3〜6:沸点170℃未満の低沸点溶媒からなる単一溶媒を用いているため、微少な液滴の滴下ではエッチングができない。
The following can be seen from the above evaluation results.
Examples 1 to 15: As a solvent for an etching solution, a mixed solvent containing a solvent having a boiling point of 170 ° C. or higher (high boiling point solvent) as a main component can be used to etch even a minute droplet.
Example 16: By using a single solvent composed of a solvent having a boiling point of 170 ° C. or higher as a solvent for an etching solution, etching can be performed even when a small droplet is dropped. Further, when tetrabutylammonium iodide is used as the iodine compound instead of potassium iodide, the same etching performance as that obtained when potassium iodide is used as the iodine compound can be obtained.
Examples 1 to 8: Good etching performance is obtained regardless of the mixing ratio of iodine and iodine compound.
Examples 13 to 15: When the etching solution contains a thickener, the etching rate tends to decrease.
Examples 9 to 12: If the main solvent has a boiling point of 170 ° C. or higher, good etching performance can be obtained regardless of the type.
Comparative Examples 1 and 2: Since a mixed solvent containing a low-boiling solvent having a boiling point of less than 170 ° C. is used, etching cannot be performed by dropping fine droplets.
Comparative Examples 3 to 6: Since a single solvent composed of a low-boiling solvent having a boiling point of less than 170 ° C. is used, etching cannot be performed by dropping fine droplets.

以上により、エッチング液が溶媒として沸点170℃以上の高沸点溶媒を含むことで、印刷法に用いて好適なエッチング液を提供することができる。
エッチング液の溶媒としては、沸点170℃以上の高沸点溶媒からなる単一溶媒、または沸点170℃以上の高沸点溶媒を主成分とする混合溶媒であることが好ましい。
As described above, when the etching solution contains a high boiling point solvent having a boiling point of 170 ° C. or higher as the solvent, an etching solution suitable for use in the printing method can be provided.
The solvent for the etching solution is preferably a single solvent composed of a high boiling point solvent having a boiling point of 170 ° C. or higher, or a mixed solvent containing a high boiling point solvent having a boiling point of 170 ° C. or higher as a main component.

以上、本技術の実施形態および実施例について具体的に説明したが、本技術は、上述の実施形態および実施例に限定されるものではなく、本技術の技術的思想に基づく各種の変形が可能である。   The embodiments and examples of the present technology have been specifically described above. However, the present technology is not limited to the above-described embodiments and examples, and various modifications based on the technical idea of the present technology are possible. It is.

例えば、上述の実施形態および実施例において挙げた構成、方法、工程、形状、材料および数値などはあくまでも例に過ぎず、必要に応じてこれと異なる構成、方法、工程、形状、材料および数値などを用いてもよい。   For example, the configurations, methods, steps, shapes, materials, numerical values, and the like given in the above-described embodiments and examples are merely examples, and different configurations, methods, steps, shapes, materials, numerical values, and the like are necessary as necessary. May be used.

また、上述の実施形態および実施例の構成、方法、工程、形状、材料および数値などは、本技術の主旨を逸脱しない限り、互いに組み合わせることが可能である。   The configurations, methods, steps, shapes, materials, numerical values, and the like of the above-described embodiments and examples can be combined with each other without departing from the gist of the present technology.

また、本技術は以下の構成を採用することもできる。
(1)
ヨウ素と、ヨウ素化合物と、溶媒とを含み、
上記溶媒は、沸点170℃以上の高沸点溶媒を含むエッチング液。
(2)
上記溶媒は、沸点170℃以上の高沸点溶媒からなる、もしくは沸点170℃以上の高沸点溶媒を主成分とする(1)に記載のエッチング液。
(3)
増粘剤をさらに含んでいる(1)から(2)のいずれかに記載のエッチング液。
(4)
水素イオン指数が、6以上8以下である(1)から(3)のいずれかに記載のエッチング液。
(5)
基材表面に設けられた導電層にエッチング液を印刷し、上記基材表面に絶縁要素のパターンを形成することにより、上記基材表面に導電部および絶縁部を形成することを含み、
上記エッチング液は、
ヨウ素と、ヨウ素化合物と、溶媒とを含み、
上記溶媒は、沸点170℃以上の高沸点溶媒を含む導電性素子の製造方法。
(6)
上記絶縁要素は、上記基材表面の第1方向および第2方向に2次元的に形成され、
上記導電部および絶縁部は、上記基材表面に平面的に交互に設けられる(5)に記載の導電性素子の製造方法。
(7)
上記第1方向に隣り合う絶縁要素同士、および上記第2方向に隣り合う絶縁要素同士が繋がっている(6)に記載の導電性素子の製造方法。
(8)
上記印刷は、インクジェット法による印刷である(5)から(7)のいずれかに記載の導電性素子の製造方法。
(9)
上記基材表面に仮想的なグリッドを設定し、設定した該グリッドに基づき、上記エッチング液の印刷を行う(5)から(8)のいずれかに記載の導電性素子の製造方法。
(10)
上記絶縁要素は、孔部要素である(5)から(9)のいずれかに記載の導電性素子の製造方法。
(11)
上記導電層は、金属フィラーを含んでいる(5)から(10)のいずれかに記載の導電性素子の製造方法。
(12)
上記金属フィラーは、金属ナノワイヤーである(11)に記載の導電性素子の製造方法。
(13)
上記エッチング液の印刷により、上記導電層に含まれる上記金属ナノワイヤーが分断される(12)に記載の導電性素子の製造方法。
(14)
上記導電層は、透明導電層または金属層である(5)から(13)のいずれかに記載の導電性素子の製造方法。
(15)
上記導電層は、銀を含んでいる(5)から(14)のいずれかに記載の導電性素子の製造方法。
(16)
上記導電部は、電極または配線である(5)から(15)のいずれかに記載の導電性素子の製造方法。
(17)
被エッチング対象物にエッチング液を印刷し、複数の絶縁要素を上記被エッチング対象物に形成することを含み、
上記エッチング液は、
ヨウ素と、ヨウ素化合物と、溶媒とを含み、
上記溶媒は、沸点170℃以上の高沸点溶媒を含む加工体の製造方法。
(18)
上記被エッチング対象物は、薄膜である(17)に記載の加工体の製造方法。
The present technology can also employ the following configurations.
(1)
Containing iodine, an iodine compound, and a solvent,
The said solvent is an etching liquid containing the high boiling point solvent whose boiling point is 170 degreeC or more.
(2)
The said solvent consists of a high boiling point solvent with a boiling point of 170 degreeC or more, or the etching liquid as described in (1) which has a high boiling point solvent with a boiling point of 170 degreeC or more as a main component.
(3)
The etching solution according to any one of (1) to (2), further containing a thickener.
(4)
The etching solution according to any one of (1) to (3), wherein the hydrogen ion index is 6 or more and 8 or less.
(5)
Forming an electrically conductive portion and an insulating portion on the surface of the base material by printing an etching solution on the conductive layer provided on the surface of the base material, and forming a pattern of an insulating element on the surface of the base material.
The etchant is
Containing iodine, an iodine compound, and a solvent,
The said solvent is a manufacturing method of the electroconductive element containing the high boiling point solvent whose boiling point is 170 degreeC or more.
(6)
The insulating element is two-dimensionally formed in a first direction and a second direction of the substrate surface,
The said electroconductive part and an insulating part are the manufacturing methods of the electroconductive element as described in (5) by which the said base-material surface is alternately provided planarly.
(7)
The method for producing a conductive element according to (6), wherein the insulating elements adjacent in the first direction and the insulating elements adjacent in the second direction are connected to each other.
(8)
The said printing is a manufacturing method of the electroconductive element in any one of (5) to (7) which is printing by the inkjet method.
(9)
The method for manufacturing a conductive element according to any one of (5) to (8), wherein a virtual grid is set on the substrate surface, and the etching solution is printed based on the set grid.
(10)
The method for manufacturing a conductive element according to any one of (5) to (9), wherein the insulating element is a hole element.
(11)
The said conductive layer is a manufacturing method of the electroconductive element in any one of (5) to (10) containing the metal filler.
(12)
The said metal filler is a manufacturing method of the electroconductive element as described in (11) which is metal nanowire.
(13)
The method for producing a conductive element according to (12), wherein the metal nanowires included in the conductive layer are divided by printing the etchant.
(14)
The method for producing a conductive element according to any one of (5) to (13), wherein the conductive layer is a transparent conductive layer or a metal layer.
(15)
The conductive layer manufacturing method according to any one of (5) to (14), wherein the conductive layer contains silver.
(16)
The conductive part according to any one of (5) to (15), wherein the conductive part is an electrode or a wiring.
(17)
Printing an etchant on the object to be etched, and forming a plurality of insulating elements on the object to be etched,
The etchant is
Containing iodine, an iodine compound, and a solvent,
The said solvent is a manufacturing method of the processed body containing the high boiling point solvent whose boiling point is 170 degreeC or more.
(18)
The method for manufacturing a processed body according to (17), wherein the object to be etched is a thin film.

1 第1の透明導電性素子
2 第2の透明導電性素子
3 光学層
4 表示装置
5、6 貼合層
10 情報入力装置
11、21 基材
12、22 透明導電層
13、23 透明電極部
14、24 透明絶縁部
13a 孔部要素
13b 孔部
13c 透明導電部
14a 島部要素
14b 島部
14c 間隙部
L 境界
1 第1の領域
2 第2の領域
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 1st transparent conductive element 2 2nd transparent conductive element 3 Optical layer 4 Display apparatus 5, 6 Bonding layer 10 Information input device 11, 21 Base material 12, 22 Transparent conductive layer 13, 23 Transparent electrode part 14 , 24 Transparent insulating part 13a Hole element 13b Hole part 13c Transparent conductive part 14a Island part 14b Island part 14c Gap part L Boundary R 1 First area R 2 Second area

Claims (18)

ヨウ素と、ヨウ素化合物と、溶媒とを含み、
上記溶媒は、沸点170℃以上の高沸点溶媒を含むエッチング液。
Containing iodine, an iodine compound, and a solvent,
The said solvent is an etching liquid containing the high boiling point solvent whose boiling point is 170 degreeC or more.
上記溶媒は、沸点170℃以上の高沸点溶媒からなる、もしくは沸点170℃以上の高沸点溶媒を主成分とする請求項1に記載のエッチング液。   The etching solution according to claim 1, wherein the solvent comprises a high-boiling solvent having a boiling point of 170 ° C. or higher, or a high-boiling solvent having a boiling point of 170 ° C. or higher as a main component. 増粘剤をさらに含んでいる請求項1に記載のエッチング液。   The etching solution according to claim 1, further comprising a thickener. 水素イオン指数が、6以上8以下である請求項1に記載のエッチング液。   The etching solution according to claim 1, wherein the hydrogen ion index is 6 or more and 8 or less. 基材表面に設けられた導電層にエッチング液を印刷し、上記基材表面に絶縁要素のパターンを形成することにより、上記基材表面に導電部および絶縁部を形成することを含み、
上記エッチング液は、
ヨウ素と、ヨウ素化合物と、溶媒とを含み、
上記溶媒は、沸点170℃以上の高沸点溶媒を含む導電性素子の製造方法。
Forming an electrically conductive portion and an insulating portion on the surface of the base material by printing an etching solution on the conductive layer provided on the surface of the base material, and forming a pattern of an insulating element on the surface of the base material.
The etchant is
Containing iodine, an iodine compound, and a solvent,
The said solvent is a manufacturing method of the electroconductive element containing the high boiling point solvent whose boiling point is 170 degreeC or more.
上記絶縁要素は、上記基材表面の第1方向および第2方向に2次元的に形成され、
上記導電部および絶縁部は、上記基材表面に平面的に交互に設けられる請求項5に記載の導電性素子の製造方法。
The insulating element is two-dimensionally formed in a first direction and a second direction of the substrate surface,
The method for manufacturing a conductive element according to claim 5, wherein the conductive portion and the insulating portion are alternately provided in a planar manner on the surface of the base material.
上記第1方向に隣り合う絶縁要素同士、および上記第2方向に隣り合う絶縁要素同士が繋がっている請求項6に記載の導電性素子の製造方法。   The method for manufacturing a conductive element according to claim 6, wherein insulating elements adjacent in the first direction and insulating elements adjacent in the second direction are connected to each other. 上記印刷は、インクジェット法による印刷である請求項5に記載の導電性素子の製造方法。   The method for producing a conductive element according to claim 5, wherein the printing is printing by an inkjet method. 上記基材表面に仮想的なグリッドを設定し、設定した該グリッドに基づき、上記エッチング液の印刷を行う請求項5に記載の導電性素子の製造方法。   The method for manufacturing a conductive element according to claim 5, wherein a virtual grid is set on the substrate surface, and the etching solution is printed based on the set grid. 上記絶縁要素は、孔部要素である請求項5に記載の導電性素子の製造方法。   The method for manufacturing a conductive element according to claim 5, wherein the insulating element is a hole element. 上記導電層は、金属フィラーを含んでいる請求項5に記載の導電性素子の製造方法。   The method for producing a conductive element according to claim 5, wherein the conductive layer contains a metal filler. 上記金属フィラーは、金属ナノワイヤーである請求項11に記載の導電性素子の製造方法。   The method for producing a conductive element according to claim 11, wherein the metal filler is a metal nanowire. 上記エッチング液の印刷により、上記導電層に含まれる上記金属ナノワイヤーが分断される請求項12に記載の導電性素子の製造方法。   The method for producing a conductive element according to claim 12, wherein the metal nanowires included in the conductive layer are divided by printing the etching solution. 上記導電層は、透明導電層または金属層である請求項5に記載の導電性素子の製造方法。   The method for manufacturing a conductive element according to claim 5, wherein the conductive layer is a transparent conductive layer or a metal layer. 上記導電層は、銀を含んでいる請求項5に記載の導電性素子の製造方法。   The method for manufacturing a conductive element according to claim 5, wherein the conductive layer contains silver. 上記導電部は、電極または配線である請求項5に記載の導電性素子の製造方法。   The method for manufacturing a conductive element according to claim 5, wherein the conductive portion is an electrode or a wiring. 被エッチング対象物にエッチング液を印刷し、複数の絶縁要素を上記被エッチング対象物に形成することを含み、
上記エッチング液は、
ヨウ素と、ヨウ素化合物と、溶媒とを含み、
上記溶媒は、沸点170℃以上の高沸点溶媒を含む加工体の製造方法。
Printing an etchant on the object to be etched, and forming a plurality of insulating elements on the object to be etched,
The etchant is
Containing iodine, an iodine compound, and a solvent,
The said solvent is a manufacturing method of the processed body containing the high boiling point solvent whose boiling point is 170 degreeC or more.
上記被エッチング対象物は、薄膜である請求項17に記載の加工体の製造方法。   The method for manufacturing a workpiece according to claim 17, wherein the object to be etched is a thin film.
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CN109164947A (en) * 2016-01-26 2019-01-08 苏州诺菲纳米科技有限公司 Preparation method of touch sensor and touch sensor
WO2022158481A1 (en) * 2021-01-21 2022-07-28 関東化学株式会社 Gold or gold alloy etching solution composition and etching method

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