JP2014025745A - 画像検査装置及び画像検査方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】差分抽出部47は、フィルタ処理参照ブロック画像と、平均値化検査ブロック画像とを比較して差分画像を抽出する。フィルタ処理参照ブロック画像は、副走査方向に画像が圧縮されるとともに膨張処理が施されたものであり、平均値化検査ブロック画像は、副走査方向に画像が圧縮されているものであるので、それらの差分により、画像のエッジ部の微小な差異を低減することができる。したがって、パターンが混み合ったような領域においても副走査方向における線状の汚れの過検出・誤検出を抑制できる。
【選択図】図1
Description
すなわち、従来の装置は、エッジマスクによって感度低減を図っているので、文字領域などのパターンが混み合ったような領域において、インク垂れなどによる細かい線状の汚れが発生した場合には、参照画像と検査画像とに差異があったとしてもエッジマスクによって見逃しが生じることがある。つまり、従来の装置では、パターンが混み合ったような領域において、細かい線状の汚れの検査精度を向上できないという問題がある。
すなわち、請求項1に記載の発明は、印刷処理によって得られた画像を検査する画像検査装置において、前記印刷処理によって得られた画像を検査画像とし、副走査方向に短辺を有する所定の単位で前記検査画像を分割して検査ブロック画像を作成する検査画像分割手段と、前記印刷処理に使用した印刷データに基づく画像を参照画像とし、副走査方向に短辺を有する所定の単位で前記参照画像を分割して参照ブロック画像を作成する参照画像分割手段と、前記検査ブロック画像及び前記参照ブロック画像に対して、画素値が所定の閾値以上のものを最大の画素値に変更する閾値処理を施して、閾値化検査ブロック画像及び閾値化参照ブロック画像を作成する閾値処理手段と、前記閾値化検査ブロック画像及び前記閾値化参照ブロック画像について、ブロック画像ごとに副走査方向における平均値を求める平均値化処理を施して、平均値化検査ブロック画像及び平均値化参照ブロック画像を作成する平均値化処理手段と、前記平均値化参照ブロック画像に対して、画像を膨張させるフィルタ処理を行ってフィルタ処理参照ブロック画像を作成するフィルタ処理手段と、前記フィルタ処理参照ブロック画像と前記平均値化検査ブロック画像とを比較して差分画像を抽出する差分抽出手段と、を備えていることを特徴とするものである。
図1は、実施例に係るインクジェット印刷システムの全体構成を示すブロック図である。
検査画像分割部35は、検査画像を受信し、副走査方向に短辺を有する所定の単位で分割し、検査ブロック画像FCを作成する。図3(a)では、検査画像に文字列が画像として印刷され、文字列の画像の両側に表面印刷による裏写りが生じている。また、文字列には、副走査方向に線状の汚れ(インク垂れ)が重なっている。また、複数個のブロック画像を一点鎖線で分割して示してある。参照画像分割部37は、参照画像に対して、同様の分割を行って参照ブロック画像FRを作成する。図3(a)では、参照画像FRに文字列のみが画像として存在している。
閾値処理部39は、検査ブロック画像FC及び参照ブロック画像FRに対して閾値処理を施して、閾値化検査ブロック画像と閾値化参照ブロック画像を作成する。
階調反転部41は、図3(b)に示すように、閾値化検査ブロック画像に対して階調反転処理を施して階調反転検査ブロック画像FC1を作成する。また、同様に、閾値化参照ブロック画像に対して階調反転処理を施して階調反転参照ブロック画像FR1を作成する。
平均値化処理部43は、階調反転検査ブロック画像FC1と階調反転参照ブロック画像FR1に対して平均値化処理を施し、平均値化検査ブロック画像FC2と平均値化参照ブロック画像FR2を作成する。平均値化処理について、階調反転検査ブロック画像FC1を例に採って説明する。図4(a)に示すように、階調反転検査ブロック画像FC1のブロック画像ごとに、副走査方向に並んで存在する全画素の画素値について平均値を求め、この平均値をブロック画像の副走査方向の画素値とする。したがって、階調反転検査ブロック画像FC1は、ブロック画像の情報が残されたままで副走査方向に圧縮される。同様に階調反転参照ブロック画像FR1についても平均値化処理を行って平均値化参照ブロック画像FR2を作成する。図4(b)には、平均値化検査ブロック画像FC2と平均値化参照ブロック画像FR2を示す。
フィルタ処理部45は、平均値化参照ブロック画像FR2に対してフィルタ処理(最大値フィルタ)を施し、平均値化参照ブロック画像FR2における画像に対して膨張処理を施し、図5(b)に示すようにフィルタ処理参照ブロック画像FR3を作成する。
差分抽出部47は、図5(a)及び図5(b)に示すように、平均値化検査ブロック画像FC2とフィルタ処理参照ブロック画像FR3とを比較して、差分画像FDを抽出する。この例では、差分画像FDにおいて、副走査方向に線状の汚れ(インク垂れ)に応じた画像が抽出される。したがって、印刷制御部27は、差分画像FDに基づいて欠陥が生じたことを判断することができる。
なお、本発明は、上述した画像検査装置33において階調反転部41及びステップS3を省略した構成としてもよい。この場合の処理について、図6及び図7を参照して説明する。
3 … インクジェット印刷機
31 … 印刷制御部
33 … 画像検査装置
35 … 検査画像分割部
37 … 参照画像分割部
39… 閾値処理部
41 … 階調反転部
43 … 平均値化処理部
45 … フィルタ処理部
47 … 差分抽出部
FC … 検査ブロック画像
FR … 参照ブロック画像
Claims (14)
- 印刷処理によって得られた画像を検査する画像検査装置において、
前記印刷処理によって得られた画像を検査画像とし、副走査方向に短辺を有する所定の単位で前記検査画像を分割して検査ブロック画像を作成する検査画像分割手段と、
前記印刷処理に使用した印刷データに基づく画像を参照画像とし、副走査方向に短辺を有する所定の単位で前記参照画像を分割して参照ブロック画像を作成する参照画像分割手段と、
前記検査ブロック画像及び前記参照ブロック画像に対して、画素値が所定の閾値以上のものを最大の画素値に変更する閾値処理を施して、閾値化検査ブロック画像及び閾値化参照ブロック画像を作成する閾値処理手段と、
前記閾値化検査ブロック画像及び前記閾値化参照ブロック画像について、ブロック画像ごとに副走査方向における平均値を求める平均値化処理を施して、平均値化検査ブロック画像及び平均値化参照ブロック画像を作成する平均値化処理手段と、
前記平均値化参照ブロック画像に対して、画像を膨張させるフィルタ処理を行ってフィルタ処理参照ブロック画像を作成するフィルタ処理手段と、
前記フィルタ処理参照ブロック画像と前記平均値化検査ブロック画像とを比較して差分画像を抽出する差分抽出手段と、
を備えていることを特徴とする画像検査装置。 - 請求項1に記載の画像検査装置において、
前記閾値化検査ブロック画像及び前記閾値化参照ブロック画像に対して階調反転処理を行い、階調反転検査ブロック画像及び階調反転参照ブロック画像を作成する階調反転手段をさらに備え、
前記平均値化処理手段は、前記階調反転検査ブロック画像及び前記階調反転参照ブロック画像を前記閾値化検査ブロック画像及び前記閾値化参照ブロック画像として処理することを特徴とする画像検査装置。 - 請求項1に記載の画像検査装置において、
前記フィルタ処理手段は、最小値フィルタを前記フィルタ処理として実行することを特徴とする画像検査装置。 - 請求項2に記載の画像検査装置において、
前記フィルタ処理手段は、最大値フィルタを前記フィルタ処理として実行することを特徴とする画像検査装置。 - 請求項1から4のいずれかに記載の画像検査装置において、
前記閾値処理手段は、最大の画素値を255とする閾値処理を行うことを特徴とする画像検査装置。 - 請求項1から5のいずれかに記載の画像検査装置において、
前記印刷処理は、インクジェット印刷機によって行われることを特徴とする画像検査装置。 - 印刷処理によって得られた画像を検査する画像検査方法において、
前記印刷処理によって得られた画像を検査画像とし、前記印刷処理に使用した印刷データに基づく画像を参照画像とし、副走査方向に短辺を有する所定の単位で前記検査画像及び前記参照画像を分割して検査ブロック画像及び参照ブロック画像を作成する画像分割工程と、
前記検査ブロック画像及び前記参照ブロック画像に対して、画素値が所定の閾値以上のものを最大の画素値に変更する閾値処理を施して、閾値化検査ブロック画像及び閾値化参照ブロック画像を作成する閾値処理工程と、
前記閾値化検査ブロック画像及び前記閾値化参照ブロック画像について、ブロック画像ごとに副走査方向における平均値を求める平均値化処理を施して、平均値化検査ブロック画像及び平均値化参照ブロック画像を作成する平均値化処理工程と、
前記平均値化参照ブロック画像に対して、画像を膨張させるフィルタ処理を行ってフィルタ処理参照ブロック画像を作成するフィルタ処理工程と、
前記フィルタ処理参照ブロック画像と前記平均値化検査ブロック画像とを比較して差分画像を抽出する差分抽出工程と、
を有することを特徴とする画像検査方法。 - 請求項7に記載の画像検査方法において、
前記閾値処理工程と前記平均値化処理工程との間に、前記閾値化検査ブロック画像及び前記閾値化参照ブロック画像に対して階調反転処理を行い、階調反転検査ブロック画像及び階調反転参照ブロック画像を作成する階調反転工程をさらに備え、
前記平均値化処理工程は、前記階調反転検査ブロック画像及び前記階調反転参照ブロック画像を前記閾値化検査ブロック画像及び前記閾値化参照ブロック画像として処理することを特徴とする画像検査方法。 - 請求項7に記載の画像検査方法において、
前記フィルタ処理工程は、最小値フィルタを前記フィルタ処理として実行することを特徴とする画像検査方法。 - 請求項8に記載の画像検査方法において、
前記フィルタ処理工程は、最大値フィルタを前記フィルタ処理として実行することを特徴とする画像検査方法。 - 請求項7から10のいずれかに記載の画像検査方法において、
前記閾値処理工程は、最大の画素値を255とする閾値処理を行うことを特徴とする画像検査方法。 - 請求項7から11のいずれかに記載の画像検査方法において、
前記印刷処理は、インクジェット印刷機によって行われることを特徴とする画像検査方法。 - 印刷画像に生じた副走査方向への線状のインク垂れを検出する画像検査方法において、
前記印刷処理によって得られた画像を検査画像とし、前記印刷処理に使用した印刷データに基づく画像を参照画像とし、副走査方向に短辺を有する所定の単位で前記検査画像及び前記参照画像を分割して検査ブロック画像及び参照ブロック画像を作成する画像分割工程と、
前記検査ブロック画像及び前記参照ブロック画像に対して、画素値が所定の閾値以上のものを最大の画素値に変更する閾値処理を施して、閾値化検査ブロック画像及び閾値化参照ブロック画像を作成する閾値処理工程と、
前記閾値化検査ブロック画像及び前記閾値化参照ブロック画像について、ブロック画像ごとに副走査方向における平均値を求める平均値化処理を施して、平均値化検査ブロック画像及び平均値化参照ブロック画像を作成する平均値化処理工程と、
前記平均値化参照ブロック画像に対して、画像を膨張させるフィルタ処理を行ってフィルタ処理参照ブロック画像を作成するフィルタ処理工程と、
前記フィルタ処理参照ブロック画像と前記平均値化検査ブロック画像とを比較してインク垂れを検出するインク垂れ検出工程と、
を有することを特徴とする画像検査方法。 - 請求項13に記載の画像検査方法において、
前記閾値処理工程と前記平均値化処理工程との間に、前記閾値化検査ブロック画像及び前記閾値化参照ブロック画像に対して階調反転処理を行い、階調反転検査ブロック画像及び階調反転参照ブロック画像を作成する階調反転工程をさらに備え、
前記平均値化処理工程は、前記階調反転検査ブロック画像及び前記階調反転参照ブロック画像を前記閾値化検査ブロック画像及び前記閾値化参照ブロック画像として処理することを特徴とする画像検査方法。
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017017548A (ja) * | 2015-07-01 | 2017-01-19 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置および画像処理方法 |
CN110779877A (zh) * | 2019-11-08 | 2020-02-11 | 吴永慧 | 医学文献状态定时检测平台 |
WO2020202981A1 (ja) * | 2019-04-03 | 2020-10-08 | 株式会社イメージ・マジック | 情報処理システム、情報処理方法、及びプログラム |
CN112129700A (zh) * | 2020-09-01 | 2020-12-25 | 中山德著智能科技有限公司 | 一种柔性电路板的图像检测方法及检测装置 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09330411A (ja) * | 1996-06-12 | 1997-12-22 | Dainippon Printing Co Ltd | 画像検査方法および装置 |
JP2000168262A (ja) * | 1998-12-04 | 2000-06-20 | Dainippon Printing Co Ltd | 乱丁検出方法 |
JP2003094627A (ja) * | 2001-09-27 | 2003-04-03 | Dainippon Printing Co Ltd | インクジェット印字部検査装置 |
JP2005091329A (ja) * | 2003-09-19 | 2005-04-07 | Dainippon Printing Co Ltd | 画像位置補正装置および方法 |
-
2012
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09330411A (ja) * | 1996-06-12 | 1997-12-22 | Dainippon Printing Co Ltd | 画像検査方法および装置 |
JP2000168262A (ja) * | 1998-12-04 | 2000-06-20 | Dainippon Printing Co Ltd | 乱丁検出方法 |
JP2003094627A (ja) * | 2001-09-27 | 2003-04-03 | Dainippon Printing Co Ltd | インクジェット印字部検査装置 |
JP2005091329A (ja) * | 2003-09-19 | 2005-04-07 | Dainippon Printing Co Ltd | 画像位置補正装置および方法 |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017017548A (ja) * | 2015-07-01 | 2017-01-19 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置および画像処理方法 |
WO2020202981A1 (ja) * | 2019-04-03 | 2020-10-08 | 株式会社イメージ・マジック | 情報処理システム、情報処理方法、及びプログラム |
JP2020170344A (ja) * | 2019-04-03 | 2020-10-15 | 株式会社イメージ・マジック | 情報処理システム、情報処理方法、及びプログラム |
CN110779877A (zh) * | 2019-11-08 | 2020-02-11 | 吴永慧 | 医学文献状态定时检测平台 |
CN112129700A (zh) * | 2020-09-01 | 2020-12-25 | 中山德著智能科技有限公司 | 一种柔性电路板的图像检测方法及检测装置 |
CN112129700B (zh) * | 2020-09-01 | 2024-03-01 | 真贺科技(江苏)有限公司 | 一种柔性电路板的图像检测方法及检测装置 |
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