JP2014020817A - 放射温度計用校正装置及び放射温度計の校正方法 - Google Patents

放射温度計用校正装置及び放射温度計の校正方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2014020817A
JP2014020817A JP2012157356A JP2012157356A JP2014020817A JP 2014020817 A JP2014020817 A JP 2014020817A JP 2012157356 A JP2012157356 A JP 2012157356A JP 2012157356 A JP2012157356 A JP 2012157356A JP 2014020817 A JP2014020817 A JP 2014020817A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
radiation thermometer
light emitting
light
emitting element
calibration
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2012157356A
Other languages
English (en)
Inventor
Masaki Shibata
雅希 柴田
Hisao Sato
尚男 佐藤
Hirokatsu Inoue
浩克 井上
Junichi Irie
純一 入江
Masayuki Noguchi
雅行 野口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Steel Corp
Original Assignee
Nippon Steel and Sumitomo Metal Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Steel and Sumitomo Metal Corp filed Critical Nippon Steel and Sumitomo Metal Corp
Priority to JP2012157356A priority Critical patent/JP2014020817A/ja
Publication of JP2014020817A publication Critical patent/JP2014020817A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

【課題】小型化可能であり、例えば製造ラインに設置された放射温度計をオンラインで校正可能な、放射温度計用校正装置を提供する。
【解決手段】発光素子と当該発光素子からの光を拡散するとともに透過する拡散手段とを備える放射温度計用校正装置とする。
【選択図】図2

Description

本発明は、例えば製造ラインに設置された放射温度計をオンラインで校正可能な、放射温度計用校正装置及び放射温度計の校正方法に関する。
従来、放射温度計の校正は黒体炉を基準光源として行われてきた。しかしながら、黒体炉は昇温から温度安定に至るまでに長時間を要し、また、大型機器であるため製造ラインに設置された放射温度計をオンラインで校正することができないという問題があった。そのため、製造ラインの長期停機のタイミングでしか放射温度計の校正を行うことができず、オンラインで簡易的に放射温度計の校正を行うことが可能な装置が必要とされていた。
放射温度計の校正装置として特許文献1〜3には、内面が拡散反射面とされた積分球と積分球の内面に光を照射する光源とにより擬似黒体炉を構成し、積分球の開口部から一様な輝度分布の光(面光源)を射出し、射出された光を用いて放射温度計の校正を行うものが開示されている。
特公平5−4011号公報 特開平6−160192号公報 特開2003−106901号公報
放射温度計の測定視野は光学的に決定される面積を持っており、放射温度計は、当該面積内の輝度エネルギーを平均化し、温度に換算している。そのため、放射温度計の校正の際に照射される面光源は、輝度ムラがなく一様であることが必要不可欠となる。特許文献1〜3に開示された放射温度計用校正装置においては、輝度ムラのない面光源を作成するために積分球を用いていた。積分球とは、図1に示すように、内壁を反射性・拡散性に優れたものとし、光源からの光を内壁で反射・拡散させるものである。内壁で反射・拡散を繰り返した光は、空間的に積分され、積分球からは、光源の広がりや角度に依存しない、光源の強度にのみ依存した一様な面光源を射出させることができる。しかしながら、積分球を用いた校正装置にあっては、積分球内の表面積が射出部面積よりも十分大きくなければならず、射出部面積を大きくするためには積分球本体を大きくしなければならない。そのため、装置が大型化してしまい、放射温度計の校正の際は、装置を据置として、放射温度計を製造ラインから取り外してオフラインにて校正をせざるを得ないという問題があった。また、積分球の内壁は、光源の波長により材質等を逐一選択する必要があり、特定の光源しか適用することができないという問題もあった。
そこで本発明は、小型化可能であり、例えば製造ラインに設置された放射温度計をオンラインで校正可能な、放射温度計用校正装置を提供することを課題とする。
本発明者らは、複数の発光素子を2次元に配置して光源とし、当該光源を用いて放射温度計の校正を行うことを着想した。さらに、発光素子の前面に光を拡散する拡散手段を配置することで、積分球を用いた場合と同様、放射温度計の校正用に適した輝度ムラの低減された面光源を得ることができることを知見した。これにより、積分球のような大型装置とすることなく、発光素子及び光拡散手段という簡易な構成で放射温度計用校正装置を完成することができたのである。
本発明は、上記知見に基づいてなされたものである。すなわち、
第1の本発明は、発光素子と当該発光素子からの光を拡散するとともに透過する拡散手段とを備える放射温度計用校正装置である。
本発明において「発光素子」とは、電圧を加えることで一定の波長の光を発生させることが可能な素子であれば特に限定されるものではなく、通常の発光ダイオードを用いることができる。「拡散手段」とは、発光素子からの光を屈折させ、所定の角度に拡散させつつ透過させることが可能な手段であればよく、その形状についても、板状、フィルム状等の種々の形状を例示できる。
第1の本発明において、複数の発光素子が2次元に配置されてなることが好ましい。複数の発光素子を設けることで、より広範且つ輝度ムラのない面光源を得ることができ、放射温度計の校正用に一層適したものとなるためである。
第1の本発明において、発光素子と拡散手段とが離隔して設けられていることが好ましい。得られる面光源の輝度ムラが一層低減されるためである。
第1の本発明において、拡散手段の光拡散角度が20°以上であることが好ましい。得られる面光源の輝度ムラが一層低減されるためである。
第1の本発明において、拡散手段が、すりガラス、オパールガラス又はレンズ拡散板(LSD)のいずれかであることが好ましい。
特に拡散手段がレンズ拡散板(LSD)であることが好ましい。
第1の本発明において、発光素子からの光が複数の拡散手段を介して拡散されることが好ましい。光の拡散がより大きくなり、得られる面光源の輝度ムラが一層低減されるためである。
第1の本発明において、拡散手段を介して得られる面光源が略円形状となるように発光素子を複数配置してなることが好ましい。放射温度計の視野は同心円であり、これに合わせて面光源の形状を略円形状とすることで、放射温度計の校正に一層最適なものとなるとともに、複数の発光素子を設置する場合に発光素子の数を減らすことができ、消費電力を削減することができるためである。
第2の本発明は、拡散手段を介して発光素子からの光を拡散させるとともに透過させて面光源とし、当該面光源を用いて放射温度計の校正を行う、放射温度計の校正方法である。
本発明においては、発光素子と拡散手段という簡易な構成で、放射温度計の校正に適した一様な面光源を得ることができる。すなわち、本発明によれば、小型化可能であり、例えば、製造ラインに設置された放射温度計をオンラインで校正可能な放射温度計用校正装置を提供することができる。
積分球を用いた従来方式を説明するための図である。 一実施形態に係る本発明の校正装置10を説明するための概略図である。 (A)が発光素子の発散角度θを説明するための概略図、(B)が拡散手段の光拡散角度θを説明するための概略図である。 一実施形態に係る本発明の校正装置20を説明するための概略図である。 図4の矢印Vに係る矢視図であって校正装置における発光素子の配置や拡散手段の形状等を説明するための概略図である。 一実施形態に係る本発明の校正装置30を説明するための概略図である。 実施例に係る校正装置により得られる面光源の状態を示す写真図である。 実施例に係る校正装置により得られる面光源の状態を示す写真図である。
1.放射温度計用校正装置10
図2に、一実施形態に係る本発明の放射温度計用校正装置10を概略的に示す。図2に示すように、校正装置10は、発光素子1と該発光素子1からの光を拡散させつつ透過させる拡散手段2とを備えることに特徴を有する。拡散手段2において拡散・透過した光は、放射温度計の校正に好適な、輝度ムラの低減された一様な面光源5となる。
1.1.発光素子1
発光素子1は、一定の波長の光を発生させることが可能な素子であれば特に限定されるものではなく、通常の発光ダイオードを用いることができるが、放射温度計が適用される温度域によって、放射温度計の検出素子が異なるので、その検出素子の感度が高い波長帯の輝度が高い発光素子を選択することが好ましい。例えば高温用(検出素子:Si)であれば0.5nm〜0.96nm、好ましくは0.9nm〜0.94nmであり、中温用(検出素子:InGaAs)であれば1.1nm〜1.7nm、好ましくは1.55nm〜1.65nmの波長を有する光を発生させることが可能な発光素子を用いるとよい。
面光源の輝度ムラを一層低減する観点からは、発光素子1からの光が所定の発散角度にて広がりを持って射出されることが好ましい。すなわち、図3(A)に示す発光素子1の発散角度θが20°以上であることが好ましい。
発光素子1の形状、大きさについては、装置の小型化を達成しつつ一様な面光源を得ることが可能であれば、特に限定されるものではない。例えば、図2に示すような発光素子が単数(またはごく少数)の場合は、発光部の面積が比較的の大きな発光素子(たとえば単数の場合、径Rとしては放射温度計の受光部と同程度)を用いるのがよい。しかし、面積の大きな発光素子は面内での輝度ムラが生じやすいことから、後述する放射温度計用校正装置20(図4参照)のように、複数の発光素子1、1、…が2次元に配列されている形態が好ましい。
1.2.拡散手段2
拡散手段2は、発光素子1からの光を拡散させつつ透過させ、一様な面光源に変換可能なものであればよいが、面光源の輝度ムラを一層低減する観点からは、拡散手段2は一定以上の拡散角度を有するものが好ましい。より具体的には、図3(B)に示す拡散角度θが、好ましくは20°以上、より好ましくは40°以上であり、好ましくは80°以下の拡散手段を用いるとよい。また、拡散手段2を介したことによる光の減衰を抑える観点から、拡散手段2は光の透過率が高いものが好ましい。
拡散手段2の形状は特に限定されるものではないが、光の屈折を低減し、一様な面光源をより容易に得ることができる観点から板状或いはフィルム状等の平面状の拡散手段を用いることが好ましい。拡散手段2の好ましい形態としては、すりガラス、オパールガラス又はレンズ拡散板(LSD)が挙げられ、この中でも光の透過率が高いレンズ拡散板(LSD)を用いることが特に好ましい。
発光素子1と拡散手段2との配置については、発光素子1からの光が拡散手段2において適切に拡散され、透過される形態であれば特に限定されるものではない。ただし、発光素子1が所定の発散角度θを有する場合、図2に示すように、発光素子1と拡散手段2との間を離隔させて配置することで、得られる面光源が広範となるとともに輝度ムラが一層低減され好ましい。発散角度θや拡散角度θによるが、例えば、発光素子1と拡散手段2との距離(図2の距離L)を10mm〜40mmとすることが好ましく、30mm〜40mmとすることがより好ましい。
校正装置10において、発光素子1と拡散手段2とは、例えば、所定の筐体内に収容・固定することにより、容易に持ち運びが可能である。筐体の材質・形状や発光素子と電源との配線については、発光素子1と拡散手段2との配置関係に悪影響を及ぼさない限り、いずれの形態も採用することができる。尚、校正装置10と電源とを着脱可能にしておくことで、持ち運びが一層容易となる。
本発明に係る校正装置10は、発光素子1と拡散手段2という簡易な構成で、発光素子1からの光を拡散手段2によって拡散・透過させて輝度ムラのない一様な面光源5を得ることができる。当該面光源5によれば、放射温度計の測定値を精度よく確認することができ、放射温度計を適切に校正することができる。よって、校正装置10は小型化可能であり、例えば製造ラインに設置された放射温度計をオンラインで校正可能である。
2.放射温度計用校正装置20
図4に、一実施形態に係る本発明の放射温度計用校正装置20を概略的に示す。図4に示すように、校正装置20は、複数の発光素子1、1、…と、当該複数の発光素子1からの光を拡散させつつ透過させる一つの拡散手段2とを備えることに特徴を有する。
図5に、図4の矢印Vに係る矢視概略図を示す。図4、5から明らかなように、校正装置20においては、複数の発光素子1、1、…が2次元に配列されており、複数の発光素子1、1、…の前面に円板状の拡散手段2が設けられている。
校正装置20において、複数の発光素子1、1、…を2次元に配置することで、より広範且つ輝度ムラのない面光源を得ることができ、放射温度計の校正用に一層適したものとなる。ここで、発光素子1、1、…を2次元に配置する際は、拡散手段2を介して得られる面光源が略円形状となるように配置するとよい。校正対象である放射温度計は同心円状の視野を有しており、これに合わせて面光源の形状を略円形状とすることで、放射温度計の校正に一層最適なものとなるためである。また、略円形状の面光源とすることで、角部の発光素子を削減できるため、全体として発光素子1、1、…の数を減らすことができ、消費電力を削減することもできる。
図5において、発光素子1は、例えば発光部の径Rがφ3〜5mm程度のものを用い、これを10mm四方の密度が3〜4個程度となるように配置することが好ましい。サイズが小さな発光素子を密に配置すると発熱量が増加する虞があり、サイズが大きな発光素子は前述したように面内に光源にムラができやすい。また、円板状の拡散手段2の大きさ(R)については、発光素子1の大きさや数、放射温度計の受光部の大きさ等に合わせて適宜決定することができる。例えば、φ70〜100mmである。
なお、発光素子1を複数配置する場合の発光素子1の数については、図5で示された数に限定されるものではなく、発光素子1の大きさ、配置の仕方に合わせて適宜決定することができる。また、発光素子1の配列についても、図5で示された碁盤目状に限定されるものではなく、例えば千鳥状に配列してもよい。
3.放射温度計用校正装置30
図6に、一実施形態に係る本発明の放射温度計用校正装置30を概略的に示す。図6に示すように、校正装置30は、発光素子1と、当該発光素子1からの光を拡散させつつ透過させる第1の拡散手段2aと、第1の拡散手段2aにより拡散・透過された光をさらに拡散させつつ透過させる第2の拡散手段2bとを備えることに特徴を有する。言い換えれば、校正装置30においては発光素子1からの光が複数の拡散手段2a、2bを介して拡散される。
校正装置30において、複数の拡散手段2a、2bを設けることで、より広範且つ輝度ムラのない面光源を得ることができ、放射温度計の校正用に一層適したものとなる。ここで、拡散手段2a、2bは、互いに全く異なる拡散手段を用いてもよいし、同等の拡散手段を用いてもよい。特に、異なる拡散角を有する拡散手段を組み合わせて用いることが好ましい。
また、発光素子1と拡散手段2aとを離隔させることと同様の趣旨から、拡散手段2aと拡散手段2bとの間も所定の距離Lだけ離隔させることが好ましい。発光素子の発散角度や拡散手段の拡散角度、さらには上記した距離L等にもよるが、例えば、距離Lを15mm〜35mmとすることが好ましい。
4.放射温度計の校正方法
上記の説明では、本発明について放射温度計用校正装置としての側面を説明した。一方、本発明は放射温度計の校正方法としての側面も有する。すなわち、本発明に係る放射温度計の校正方法は、拡散手段を介して発光素子からの光を拡散させるとともに透過させて面光源とし、該面光源を用いて放射温度計の校正を行うことに特徴を有する。既に説明したように、拡散手段を介して得られる面光源は、輝度ムラが低減された一様なものであり、当該面光源を用いることで簡易な構成で精度よく放射温度計の校正を行うことができる。
以下、実施例により、本発明に係る放射温度計用校正装置について、より詳しく説明する。以下の実施例では、発光素子を用いた校正装置を複数作成し、拡散手段を介して得られる面光源を評価した。
<実施例1>
発光素子を図5で示されるように複数配置し、当該発光素子の前面に拡散手段としての円板状のオパールガラスを図6で示されるように2枚配置して実施例1に係る校正装置を作成した。発光素子の発光部の大きさ(R)はφ5mm、発散角度θは44°とし、オパールガラスは厚み0.8mm、φ50mmとした。発光素子の設置密度は4個/100mmとし、発光素子から20mmの位置(L=20mm)にオパールガラスを一枚、発光素子から40mmの位置(L=20mm)にオパールガラスを一枚設置した。
<比較例1>
拡散手段を設置しないこと以外は、実施例1と同様にして比較例1に係る校正装置を作成した。
実施例1に係る校正装置について、得られる面光源を図7(A)に示す。図7(A)から明らかなように、発光素子の前面に拡散手段を設置することによって一様な面光源を得ることができた。
実施例1に係る校正装置から得られる面光源に対して、実際に放射温度計を用いて温度の測定を行い、輝度ムラの評価を行った。結果を図7(B)に示す。図7(B)から明らかなように、面光源のいずれの箇所においても、測定温度は±10℃以内とほぼ同等であり、輝度ムラのない一様な面光源であることが確認できた。すなわち、本発明により得られる面光源は、放射温度計の校正に好適に用いることができるといえる。
一方で、比較例1に係る校正装置から得られる面光源は、拡散板を設置しなかったことで、発光素子一つ一つについて、それぞれ中心の輝度が高くなっており、面光源として輝度ムラが大きく、放射温度計の校正には不適なものであった。
拡散手段として種々のレンズ拡散板(LSD)を用いて、「同輝度の面光源とするために必要な発光素子の電流量」、「拡散性」を評価した。結果を下記表1に示す。
表1に示すように、光透過性の低いすりガラスを用いた場合、同輝度の面光源とするために必要な発光素子の電流量が増大し、消費電力が増大した。この観点では、光透過率の高いレンズ拡散板(LSD)を用いることが好ましいといえる。また、LSDを複数組み合わせることで、消費電力を低減しつつ、拡散性を極めて良好とすることができることが分かった。特に拡散角度が20°以上のLSDを複数枚組み合わせることで、拡散性を向上させることができることが分かった。尚、表1から明らかなように、最も好ましい組み合わせは、拡散角度20°のLSDと拡散角度40°のLSDとの組み合わせであった。
上記実施例1の発光素子(発散角度θ=44°)に替えて、発散角度θが20°と小さな発光素子を用い、且つ、発光素子の前面に種々の拡散手段を設置して種々の校正装置を作成した。当該校正装置により得られる面光源を図8(A)〜(H)に示す。
図8(A)〜(E)は、拡散手段が1枚の場合に得られる面光源である。図8(A)〜(D)から明らかなように、拡散手段がLSD1枚の場合、その拡散角度が10°の場合でも光の拡散によって輝度ムラをある程度低減できた。さらにその拡散角度が40°〜80°の場合に、輝度ムラのない特に均一な面光源を得ることができた。また、図8(E)から明らかなように、すりガラスを用いた場合でも光の拡散によって輝度ムラを低減できた。
図8(F)〜(H)は、拡散手段が2枚の場合に得られる面光源である。図(A)〜(E)と図8(F)〜(H)との比較から明らかなように、拡散手段を1枚設置した場合よりも2枚設置した場合のほうが、面光源の輝度ムラを低減することができた。以上のように、発光素子の発散角度が小さい場合は、拡散手段の拡散角度が大きなものを用いるか、或いは、拡散手段を複数枚設けることで、放射温度計の校正により好適な輝度ムラのない面光源を得ることができた。
以上、現時点において、もっとも、実践的であり、かつ、好ましいと思われる実施形態に関連して本発明を説明したが、本発明は、本願明細書中に開示された実施形態に限定されるものではなく、請求の範囲及び明細書全体から読み取れる発明の要旨或いは思想に反しない範囲で適宜変更可能であり、そのような変更を伴う放射温度計用校正装置及び放射温度計の校正方法もまた本発明の技術的範囲に包含されるものとして理解されなければならない。
本発明に係る放射温度計用校正装置は、簡易な構成よりなるものであり、小型化により持ち運びが可能である。そのため、例えば、製造ラインに設置された放射温度計をオンラインで簡易校正する際に好適に用いることができる。
1 発光素子
2、2a、2b 拡散手段
5 面光源
10、20、30 放射温度計用校正装置

Claims (9)

  1. 発光素子と該発光素子からの光を拡散するとともに透過する拡散手段とを備える放射温度計用校正装置。
  2. 複数の前記発光素子が2次元に配置されてなる、請求項1に記載の放射温度計用校正装置。
  3. 前記発光素子と前記拡散手段とが離隔して設けられている、請求項1又は2に記載の放射温度計用校正装置。
  4. 前記拡散手段の光拡散角度が20°以上である、請求項1〜3のいずれかに記載の放射温度計用校正装置。
  5. 前記拡散手段が、すりガラス、オパールガラス又はレンズ拡散板(LSD)のいずれかである、請求項1〜4のいずれかに記載の放射温度計用校正装置。
  6. 前記拡散手段がレンズ拡散板(LSD)である、請求項5に記載の放射温度計用校正装置。
  7. 前記発光素子からの光が複数の前記拡散手段を介して拡散される、請求項1〜6のいずれかに記載の放射温度計用校正装置。
  8. 前記拡散手段を介して得られる面光源が略円形状となるように前記発光素子を複数配置してなる、請求項1〜7のいずれかに記載の放射温度計用校正装置。
  9. 拡散手段を介して発光素子からの光を拡散させるとともに透過させて面光源とし、該面光源を用いて放射温度計の校正を行う、放射温度計の校正方法。
JP2012157356A 2012-07-13 2012-07-13 放射温度計用校正装置及び放射温度計の校正方法 Pending JP2014020817A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012157356A JP2014020817A (ja) 2012-07-13 2012-07-13 放射温度計用校正装置及び放射温度計の校正方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012157356A JP2014020817A (ja) 2012-07-13 2012-07-13 放射温度計用校正装置及び放射温度計の校正方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2014020817A true JP2014020817A (ja) 2014-02-03

Family

ID=50195887

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012157356A Pending JP2014020817A (ja) 2012-07-13 2012-07-13 放射温度計用校正装置及び放射温度計の校正方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2014020817A (ja)

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5021586U (ja) * 1973-06-21 1975-03-11
JPS62217128A (ja) * 1986-03-19 1987-09-24 Yokogawa Electric Corp 放射温度計の校正方法
JP2003214982A (ja) * 2002-01-25 2003-07-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd 受光デバイスの検査装置、その調整方法、およびそれを用いたノイズ測定方法
JP2004226100A (ja) * 2003-01-20 2004-08-12 Mitsubishi Electric Corp 観測システム
US20050270776A1 (en) * 2004-06-04 2005-12-08 Allen David W Portable LED-illuminated radiance source
JP2006237114A (ja) * 2005-02-23 2006-09-07 Asahi Kasei Chemicals Corp Led用拡散ユニット
JP2007157398A (ja) * 2005-12-01 2007-06-21 Nissei Electric Co Ltd 照射ヘッド
JP2007311731A (ja) * 2006-05-17 2007-11-29 Ikuo Iwai Ledを用いた発光装置
US20090108201A1 (en) * 2007-10-30 2009-04-30 Raytheon Company Calibration source infrared assembly for an infrared detector
JP2012009740A (ja) * 2010-06-28 2012-01-12 Renesas Electronics Corp 半導体装置の製造方法

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5021586U (ja) * 1973-06-21 1975-03-11
JPS62217128A (ja) * 1986-03-19 1987-09-24 Yokogawa Electric Corp 放射温度計の校正方法
JP2003214982A (ja) * 2002-01-25 2003-07-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd 受光デバイスの検査装置、その調整方法、およびそれを用いたノイズ測定方法
JP2004226100A (ja) * 2003-01-20 2004-08-12 Mitsubishi Electric Corp 観測システム
US20050270776A1 (en) * 2004-06-04 2005-12-08 Allen David W Portable LED-illuminated radiance source
JP2006237114A (ja) * 2005-02-23 2006-09-07 Asahi Kasei Chemicals Corp Led用拡散ユニット
JP2007157398A (ja) * 2005-12-01 2007-06-21 Nissei Electric Co Ltd 照射ヘッド
JP2007311731A (ja) * 2006-05-17 2007-11-29 Ikuo Iwai Ledを用いた発光装置
US20090108201A1 (en) * 2007-10-30 2009-04-30 Raytheon Company Calibration source infrared assembly for an infrared detector
JP2012009740A (ja) * 2010-06-28 2012-01-12 Renesas Electronics Corp 半導体装置の製造方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5486692B2 (ja) 積分球光度計およびその測定方法
JP2016534513A (ja) 均一な照明を生成する光学系
JP2012526339A5 (ja)
JP6154153B2 (ja) 標準光源および測定方法
KR20120138795A (ko) 중공체를 균질하게 조사하기 위한 led 램프
JP2008002836A (ja) ライン型照明装置
CN109477911A (zh) 微透镜阵列漫射器
JP6351881B1 (ja) 複数のledからの光を組み合わせた発光装置
JP5732157B1 (ja) 光照射装置
JP2019075434A (ja) プローバ装置およびウェハチャック
TW201219691A (en) Solar simulator and solar cell examination apparatus
US8668370B2 (en) Dimpled light distribution plates
Kumar et al. A novel freeform lens design for collimating UV light emitted from an LED with large divergent angle
CN110823364A (zh) 一种强光照度计定标装置及定标方法
TWI663384B (zh) 試驗裝置以及發光裝置的製造方法
JP2014020817A (ja) 放射温度計用校正装置及び放射温度計の校正方法
KR20100124150A (ko) 적외선 검출기 검사 장치
JP5013415B2 (ja) 光源装置および擬似太陽光照射装置
JP2006202665A (ja) 光源装置
KR101126140B1 (ko) 적분구 광도계 및 그 측정방법
JP7338441B2 (ja) 光加熱装置
JP6432262B2 (ja) 光束測定装置及び光束測定方法
JP6417723B2 (ja) 検査装置
Pitzschke et al. Determination of the radiance of cylindrical light diffusers: design of a one-axis charge-coupled device camera-based goniometer setup
Li et al. The measurement of luminous flux for single LEDs

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20140811

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20150423

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20150526

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150708

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20151124

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20160614

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20160803

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20170110