JP2013514532A5 - - Google Patents

Description

本開示の範囲および内容は、上記実施形態に限定されず、かつ範囲および内容に関して、開示の実施形態を開示の主題および請求項の範囲および思想から逸脱しない範囲で変更し、そして変形することができる態様を考慮に入れていると捉えられるべきであり、これらの変更および変形のうちの幾つかは上に記述されている。
また、本願は以下に記載する態様を含む。
（態様１）
外側および内側の表面を有する複数の壁により画定される内部開口部を有する構造を検査するための非破壊検査装置であって、
複数の外部プローブユニット壁を有する検査装置外部プローブユニットを備えており、各外部プローブユニット壁が、各構造壁の複数の外側表面の１つに対応する表面を有し、外部プローブユニットが第１外部プローブ部材と第２外部プローブ部材とを含み、これら第１外部プローブ部材および第２外部プローブ部材が互いに対して磁気結合することによって、第１外部プローブユニット部材の磁石と第２外部プローブユニット部材の磁石との間の磁気吸着力により、第１外部プローブユニット部材の少なくとも１つの外部プローブユニット壁と第２外部プローブユニット部材の少なくとも１つの外部プローブユニット壁とが、構造の対応する外側表面に接近する、検査装置外部プローブユニットと、
磁気天秤の磁石と第２外部プローブユニット部材の磁石との間の磁気反発力により、第２外部プローブユニット部材と第１外部プローブユニット部材との磁気結合が強くなる方向に、第２外部プローブユニット部材を押しやるように配置された磁気天秤と
を備える非破壊検査装置。
（態様２）
非破壊検査装置が、複数の内部プローブユニット壁を有する検査装置内部プローブユニットをさらに備え、各内部プローブユニット壁が、構造の内側表面のうちの１つの内側表面に対応する表面を有しており、
内部プローブユニットの磁石および外部プローブユニットの磁石の磁気吸着力により、構造を介して外部プローブユニットと内部プローブユニットを磁気結合させて、構造の内側部分を通るように外部プローブユニットと一緒に内部プローブユニットを移動させる、態様１に記載の非破壊検査装置。
（態様３）
内部プローブユニットが第１内部プローブユニット部材と第２内部プローブユニット部材とを含み、これら第１内部プローブユニット部材および第２内部プローブユニット部材のうちの少なくとも一方が、第１内部プローブユニット部材および第２内部プローブユニット部材のうちの一方の磁石と、第１外部プローブユニット部材および第２外部プローブユニット部材のうちの一方の磁石との間の磁気吸着力により、第１外部プローブユニット部材および第２外部プローブユニット部材のうちの少なくとも一方に磁気結合されて、第１内部プローブユニット部材および第２内部プローブユニット部材のうちの一方、および第１外部プローブユニット部材および第２外部プローブユニット部材のうちの一方の各々を構造の一つの壁の近くに保持する、態様２に記載の非破壊検査装置。
（態様４）
第１内部プローブユニット部材の磁石と第２内部プローブユニット部材の磁石との間の磁気反発力により、第１内部プローブユニット部材と第２内部プローブユニット部材とを引き離す、態様３に記載の非破壊検査装置。
（態様５）
磁気天秤ガイドロッドが、第１外部プローブユニット部材から第２外部プローブユニット部材を通って磁気天秤まで延びて、第１外部プローブユニット部材と磁気天秤との間での第２外部プローブユニット部材の移動を誘導する、態様１に記載の非破壊検査装置。
（態様６）
第１外部プローブユニット部材、および第２外部プローブユニット部材のうちの少なくとも一方に、非破壊検査探傷器用トランスデューサが搭載されている、態様１に記載の非破壊検査装置。
（態様７）
第１外部プローブユニット部材、第２外部プローブユニット部材、および内部プローブユニットのうちの少なくとも１つに、非破壊検査探傷器が搭載されている、態様２に記載の非破壊検査装置。
（態様８）
第１外部プローブユニット部材、第２外部プローブユニット部材、第１内部プローブユニット部材、および第２内部プローブユニット部材のうちの少なくとも１つに、非破壊検査探傷器用トランスデューサが搭載されている、態様３に記載の非破壊検査装置。
（態様９）
外側および内側の表面を有する複数の壁により画定される内部開口部を有する構造の検査方法であって、
複数の外部プローブユニット壁を有する検査装置外部プローブユニットであって、各外部プローブユニット壁が、各構造壁の複数の外側表面の１つに対応する表面を有し、外部プローブユニットが第１外部プローブ部材と第２外部プローブ部材とを含み、これら第１外部プローブ部材および第２外部プローブ部材が互いに磁気結合することによって、第１外部プローブユニット部材の磁石と第２外部プローブユニット部材の磁石との間の磁気吸着力により、第１外部プローブユニット部材の少なくとも１つの外部プローブユニット壁、および第２外部プローブユニット部材の少なくとも１つの外部プローブユニット壁を、構造の各外側表面に接近させる検査装置外部プローブユニットと；磁気天秤であって、磁気天秤の磁石と第２外部プローブユニット部材の磁石との間の磁気反発力により、第１外部プローブユニット部材と第２外部プローブユニット部材との磁気結合が強くなる方向に、第２外部プローブユニット部材を押しやるように配置された磁気天秤とを提供するステップと、
複数の内部プローブユニット壁を有する検査装置内部プローブユニットを提供するステップであって、各内部プローブユニット壁が、構造の内側表面のうちの１つに対応する表面を有するステップと、
内部プローブユニットの磁石および外部プローブユニットの磁石の磁気吸着力により、構造を介して外部プローブユニットと内部プローブユニットとを磁気結合させて、構造の内側部分を通るように外部プローブユニットと一緒に内部プローブユニットを移動させるステップと、
プローブが構造に沿って移動するときに、検査信号を構造に送信して、検査信号を構造から受信するステップと
を含む方法。
（態様１０）
内部プローブユニットが第１内部プローブユニット部材と第２内部プローブユニット部材とを含み、これら第１内部プローブユニット部材および第２内部プローブユニット部材のうちの少なくとも一方が、第１内部プローブユニット部材および第２内部プローブユニット部材のうちの一方の磁石と、第１外部プローブユニット部材および第２外部プローブユニット部材のうちの一方の磁石との間の磁気吸着力により、第１外部プローブユニット部材および第２外部プローブユニット部材のうちの少なくとも一方に磁気結合されて、第１内部プローブユニット部材および第２内部プローブユニット部材のうちの一方、および第１外部プローブユニット部材および第２外部プローブユニット部材のうちの一方の各々を、構造の一つの壁の近くに保持する、態様９に記載の方法。
（態様１１）
第１内部プローブユニット部材の磁石と第２内部プローブユニット部材の磁石との間の磁気反発力により、第１内部プローブユニット部材と第２内部プローブユニット部材とを引き離す、態様１０に記載の方法。
（態様１２）
磁気天秤ガイドロッドが、第１外部プローブユニット部材から第２外部プローブユニット部材を通って磁気天秤まで延びて、第１外部プローブユニット部材と磁気天秤との間での第２外部プローブユニット部材の移動を誘導する、態様９に記載の方法。
（態様１３）
第１外部プローブユニット部材および第２外部プローブユニット部材のうちの少なくとも一方に非破壊検査探傷用トランスデューサを搭載する、態様９に記載の方法。
（態様１４）
第１外部プローブユニット部材、第２外部プローブユニット部材、および内部プローブユニットのうちの少なくとも１つに、非破壊検査探傷器を搭載する、態様１０に記載の方法。
（態様１５）
第１外部プローブユニット部材、第２外部プローブユニット部材、第１内部プローブユニット部材、および第２内部プローブユニット部材のうちの少なくとも１つに、非破壊検査探傷用トランスデューサを搭載する、態様１２に記載の方法。

Claims (9)

1. 外側および内側の表面を有する複数の壁により画定される内部開口部を有する構造を検査するための非破壊検査装置であって、
   複数の外部プローブユニット壁を有する検査装置外部プローブユニットを備えており、各外部プローブユニット壁が、各構造壁の複数の外側表面の１つに対応する表面を有し、外部プローブユニットが第１外部プローブ部材と第２外部プローブ部材とを含み、これら第１外部プローブ部材および第２外部プローブ部材が互いに対して磁気結合することによって、第１外部プローブユニット部材の磁石と第２外部プローブユニット部材の磁石との間の磁気吸着力により、第１外部プローブユニット部材の少なくとも１つの外部プローブユニット壁と第２外部プローブユニット部材の少なくとも１つの外部プローブユニット壁とが、構造の対応する外側表面に接近する、検査装置外部プローブユニットと、
   磁気天秤の磁石と第２外部プローブユニット部材の磁石との間の磁気反発力により、第２外部プローブユニット部材と第１外部プローブユニット部材との磁気結合が強くなる方向に、第２外部プローブユニット部材を押しやるように配置された磁気天秤と
   を備える非破壊検査装置。
2. 非破壊検査装置が、複数の内部プローブユニット壁を有する検査装置内部プローブユニットをさらに備え、各内部プローブユニット壁が、構造の内側表面のうちの１つの内側表面に対応する表面を有しており、
   内部プローブユニットの磁石および外部プローブユニットの磁石の磁気吸着力により、構造を介して外部プローブユニットと内部プローブユニットを磁気結合させて、構造の内側部分を通るように外部プローブユニットと一緒に内部プローブユニットを移動させる、請求項１に記載の非破壊検査装置。
3. 内部プローブユニットが第１内部プローブユニット部材と第２内部プローブユニット部材とを含み、これら第１内部プローブユニット部材および第２内部プローブユニット部材のうちの少なくとも一方が、第１内部プローブユニット部材および第２内部プローブユニット部材のうちの少なくとも一方ならびに第１外部プローブユニット部材および第２外部プローブユニット部材のうちの少なくとも一方上の磁石間の磁気吸着力により、第１外部プローブユニット部材および第２外部プローブユニット部材のうちの少なくとも一方に磁気結合されて、第１内部プローブユニット部材および第２内部プローブユニット部材のうちの少なくとも一方、および第１外部プローブユニット部材および第２外部プローブユニット部材のうちの少なくとも一方の各々を構造の一つの壁の近くに保持する、請求項２に記載の非破壊検査装置。
4. 第１内部プローブユニット部材の磁石と第２内部プローブユニット部材の磁石との間の磁気反発力により、第１内部プローブユニット部材と第２内部プローブユニット部材とを引き離す、請求項３に記載の非破壊検査装置。
5. 磁気天秤ガイドロッドが、第１外部プローブユニット部材から第２外部プローブユニット部材を通って磁気天秤まで延びて、第１外部プローブユニット部材と磁気天秤との間での第２外部プローブユニット部材の移動を誘導する、請求項１に記載の非破壊検査装置。
6. 外側および内側の表面を有する複数の壁により画定される内部開口部を有する構造の検査方法であって、
   複数の外部プローブユニット壁を有する検査装置外部プローブユニットであって、各外部プローブユニット壁が、各構造壁の複数の外側表面の１つに対応する表面を有し、外部プローブユニットが第１外部プローブ部材と第２外部プローブ部材とを含み、これら第１外部プローブ部材および第２外部プローブ部材が互いに磁気結合することによって、第１外部プローブユニット部材の磁石と第２外部プローブユニット部材の磁石との間の磁気吸着力により、第１外部プローブユニット部材の少なくとも１つの外部プローブユニット壁、および第２外部プローブユニット部材の少なくとも１つの外部プローブユニット壁を、構造の各外側表面に接近させる検査装置外部プローブユニットと；磁気天秤であって、磁気天秤の磁石と第２外部プローブユニット部材の磁石との間の磁気反発力により、第１外部プローブユニット部材と第２外部プローブユニット部材との磁気結合が強くなる方向に、第２外部プローブユニット部材を押しやるように配置された磁気天秤とを提供するステップと、
   複数の内部プローブユニット壁を有する検査装置内部プローブユニットを提供するステップであって、各内部プローブユニット壁が、構造の内側表面のうちの１つに対応する表面を有するステップと、
   内部プローブユニットの磁石および外部プローブユニットの磁石の磁気吸着力により、構造を介して外部プローブユニットと内部プローブユニットとを磁気結合させて、構造の内側部分を通るように外部プローブユニットと一緒に内部プローブユニットを移動させるステップと、
   プローブが構造に沿って移動するときに、検査信号を構造に送信して、検査信号を構造から受信するステップと
   を含む方法。
7. 内部プローブユニットが第１内部プローブユニット部材と第２内部プローブユニット部材とを含み、これら第１内部プローブユニット部材および第２内部プローブユニット部材のうちの少なくとも一方が、第１内部プローブユニット部材および第２内部プローブユニット部材のうちの少なくとも一方ならびに第１外部プローブユニット部材および第２外部プローブユニット部材のうちの少なくとも一方上の磁石間の磁気吸着力により、第１外部プローブユニット部材および第２外部プローブユニット部材のうちの少なくとも一方に磁気結合されて、第１内部プローブユニット部材および第２内部プローブユニット部材のうちの少なくとも一方、および第１外部プローブユニット部材および第２外部プローブユニット部材のうちの少なくとも一方の各々を構造の一つの壁の近くに保持する、請求項６に記載の方法。
8. 第１内部プローブユニット部材の磁石と第２内部プローブユニット部材の磁石との間の磁気反発力により、第１内部プローブユニット部材と第２内部プローブユニット部材とを引き離す、請求項７に記載の方法。
9. 磁気天秤ガイドロッドが、第１外部プローブユニット部材から第２外部プローブユニット部材を通って磁気天秤まで延びて、第１外部プローブユニット部材と磁気天秤との間での第２外部プローブユニット部材の移動を誘導する、請求項６に記載の方法。