JP2013253824A - 過渡回復電圧測定装置、過渡回復電圧測定方法及び過渡回復電圧測定プログラム - Google Patents
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Abstract
【課題】多重周波の回復電圧波形から規約値を求めるべく、原点から波高部までに存在する隆起部と、波高部に対する隆起部との間に引く共通接線を容易に生成すること。
【解決手段】多重周波からなる過渡回復電圧波形を記憶する波形記憶部20と、過渡回復電圧波形を時間微分する波形変換部12と、変換した波形から定数を減算して積分する波形演算部12Aと、積分した波形中の2つの隆起の各最大値の一致を判定する波高判定部13と、各最大値が一致したと判定するまで、前記波形演算部での定数を調整する調整部12Bと、一致を判定した2点に対応する前記過渡回復電圧波形の2点を検出する接点検出部14と、検出した2点を通る第1の接線を生成する第1の接線生成部15とを備える。
【選択図】図1
【解決手段】多重周波からなる過渡回復電圧波形を記憶する波形記憶部20と、過渡回復電圧波形を時間微分する波形変換部12と、変換した波形から定数を減算して積分する波形演算部12Aと、積分した波形中の2つの隆起の各最大値の一致を判定する波高判定部13と、各最大値が一致したと判定するまで、前記波形演算部での定数を調整する調整部12Bと、一致を判定した2点に対応する前記過渡回復電圧波形の2点を検出する接点検出部14と、検出した2点を通る第1の接線を生成する第1の接線生成部15とを備える。
【選択図】図1
Description
本発明は、たとえば遮断器が電流を遮断した後の過渡回復電圧の規約値を求めるべく、過渡回復電圧の波形に接線を引くための過渡回復電圧測定装置、過渡回復電圧測定方法及び過渡回復電圧測定プログラムに関する。
遮断器が電流を遮断した後には、遮断器の接点間に、過渡回復電圧と呼ばれる電圧が発生する。この過渡回復電圧は、単一周波または多重周波の波形となる。この波形から、波高値や上昇値などの過渡回復電圧を表現するための規約値(パラメータ)を読み取ることができる。(非特許文献1参照)
単一周波の波形の場合には、2パラメータ法により過渡回復電圧を表現する。
2パラメータ法では、波高値及び初期波高時間(あるいは上昇率)の2つのパラメータにより過渡回復電圧を表現する。
単一周波の波形の場合には、2パラメータ法により過渡回復電圧を表現する。
2パラメータ法では、波高値及び初期波高時間(あるいは上昇率)の2つのパラメータにより過渡回復電圧を表現する。
図4は、単一周波の波形から2つのパラメータを求める手法を説明する図である。まず、過渡回復電圧波形Vに対し、原点から接線αを引いてその接点をS1とする。さらに、過渡回復電圧波形Vのピークとなる波高部(波高部Uc)の位置で、時間軸と平行な接線βを引く。この接線βと過渡回復電圧波形Vの接点をS2とする。そして、接線αと接線βとの交点Cを求める。この交点Cに対する時間を、初期波高時間t3とする。
一方、多重周波の波形では、4パラメータ法により過渡回復電圧を表現する。4パラメータ法では、初期波高値、初期波高時間(または上昇率)、波高値及び波高時間の計4つのパラメータにより、過渡回復電圧を表現できる。
図5は、多重周波の波形から4つのパラメータを求める手法を説明する図である。まず、前記図4で示した2パラメータ法の各接線α,βのほかに、過渡回復電圧波形V1上の原点と波高部との間に存在する隆起部A1と、波高部に対応する隆起部A2との間に、共通接線γを引く。そして、共通接線γと接線α,βとの交点C1,C2を求める。接線αと共通接線γとの交点C2の電圧を波高値Uc、同交点C2に対する時間を波高時間t2とする。
なお前記図5において、隆起部A1での共通接線γとの接点をS3、隆起部A1の過渡回復電圧波形Vのピーク値をP1とする。同様に、隆起部A2での共通接線γとの接点をS4、隆起部A2の過渡回復電圧波形Vのピーク値をP2とする。このピーク値P2は、接線βとの接点S2と共通となる。
電気学会 電気規格調査標準規格 交流遮断器 JEC-2300-1998
ところで、ある曲線における接線の傾きは、その曲線の微分値となる。したがって、曲線上の2点間の共通接線を引くとき、曲線の微分値が同じになる2点を求めることが必要となる。
しかし、微分値が同じになる2点を通る直線には、共通ではないが、互いに平行な2直線も含まれる。このため、微分値が同じになる2点間に引いた直線が、必ずしも共通の接線とは限らない。
そのため、一般的に曲線上の2点間に共通接線を引くことは困難であった。特に、コンピュータによって演算を行なう場合には、演算量が膨大となる可能性が高かった。
本発明が解決しようとする課題は、多重周波の回復電圧波形から過渡回復電圧規約値を求めるために、原点から波高部までに存在する隆起部と、波高部に対する隆起部との間に引く共通接線を容易に生成することが可能な過渡回復電圧装置、過渡回復電圧測定方法及び過渡回復電圧プログラムを提供することにある。
実施形態に係る過渡回復電圧測定装置は、多重周波からなる過渡回復電圧波形を記憶する波形記憶部と、前記波形記憶部が記憶する過渡回復電圧波形を時間微分する波形変換部と、前記波形変換部で変換した波形から定数を減算して積分する波形演算部と、前記波形演算部で積分した波形中の2つの隆起の各最大値の一致を判定する波高判定部と、前記波高判定部で各最大値が一致したと判定するまで、前記波形演算部での定数を調整する調整部と、前記波高判定部で一致を判定した2点に対応する前記過渡回復電圧波形の2点を検出する接点検出部と、前記接点検出部で検出した2点を通る第1の接線を生成する第1の接線生成部とを備えたことを特徴とする。
本発明によれば、多重周波の回復電圧波形から過渡回復電圧規約値を求めるために、原点から波高部までに存在する隆起部と、波高部に対する隆起部との間に引く共通接線を容易に生成することが可能となる。
以下、図面を参照して一実施形態について説明する。
[構成]
図1は、一実施形態に係る過渡回復電圧測定装置1の構成を示すブロック図である。本実施形態の過渡回復電圧測定装置1は、コンピュータを所定のプログラムで制御することによって、あるいは専用のハードウェアを有する電子回路によって実現できる。前記前者の場合のプログラムは、コンピュータのハードウェアを物理的に活用することで、以下に述べるような各部の処理を現実するものである。なお、各部の処理を実行する方法、プログラム及びプログラムを記憶した記憶媒体も、本実施形態の一態様である。また、前記後者のハードウェアを有する電子回路で処理する範囲、プログラムを含むソフトウェアで処理する範囲をどのように設定するかは、特定の態様に限定されない。
[構成]
図1は、一実施形態に係る過渡回復電圧測定装置1の構成を示すブロック図である。本実施形態の過渡回復電圧測定装置1は、コンピュータを所定のプログラムで制御することによって、あるいは専用のハードウェアを有する電子回路によって実現できる。前記前者の場合のプログラムは、コンピュータのハードウェアを物理的に活用することで、以下に述べるような各部の処理を現実するものである。なお、各部の処理を実行する方法、プログラム及びプログラムを記憶した記憶媒体も、本実施形態の一態様である。また、前記後者のハードウェアを有する電子回路で処理する範囲、プログラムを含むソフトウェアで処理する範囲をどのように設定するかは、特定の態様に限定されない。
過渡回復電圧測定装置1は、波形処理部10、記録部20、入力部30、及び出力部40を有する。
入力部30は、この過渡回復電圧測定装置1に必要な情報の入力、処理の選択や指示を入力する。この入力部30としては、たとえば、キーボード、マウス、タッチパネル(表示装置に構成されたものを含む)等が考えられる。ただし、現在または将来において利用可能なあらゆる入力装置を含む。また、入力部30には、通常の監視用配線や通信ネットワークからの入力を受け付けるインターフェース等も含む。
測定処理部10は、後述するようなプログラムの働きにより機能する波形生成部11、波形変換部12、波高判定部13、接点検出部14、接線生成部15、交点検出部16、及びパラメータ算出部17を有する。
波形生成部11は、入力部30から入力した過渡回復電圧の検出値に基づいて、過渡回復電圧波形を生成する。
波形変換部12は、波形生成部11で生成した過渡回復電圧波形を変換する。この波形変換部12は、演算部12Aと調整部12Bとを有する。
演算部12Aは、所定の式に基づく演算により、過渡回復電圧波形を変換した波形を生成する。本実施形態では、たとえば、時間微分を行なう。
調整部12Bは、演算部12Aが生成する波形が変化するように、所定の式のパラメータを変更する。本実施形態では、たとえば、定数を引き算させ、積分をさせる処理を行なう。
波高判定部13は、波形変換部12によって変換した波形に対し、最大値(ピーク値)が同じとなる2点が存在するか否かを判定する。
接点検出部14は、波高判定部13が判定した2点に対応する過渡回復電圧波形上の2点を検出する。本実施形態において、たとえば、波高判定部13が、時刻判定部、接点判定部としての機能を有する。時刻判定部は、波高判定部13が判定した時刻に対応する過渡回復電圧波形の2点を判定処理する。
接線生成部15は、4パラメータ法に必要となる接線を生成する。この接線生成部15は、第1接線、第2接線、及び第3の接線を生成する。このため、接線生成部15は、第1の接線生成部、第2の接線生成部、第3の接線生成部としての機能を有する。
第1の接線は、接点判定部14によって求めた2点を通る接線(後述する接線L1)である。第2の接線は、原点から過渡回復電圧波形への接線である(後述する接線α)。第3の接線は、過渡回復電圧波形の最大値(ピーク値)を接点とする時間軸と平行な接線(後述する接線β)である。なお、第2の接線及び第3の接線それぞれの生成は、周知技術であるため、説明を省略する。
交点検出部16は、第1の接線、第2の接線及び第3の接線の交点を検出する。この交点検出部16は、第1の交点及び第2の交点を検出する。このため、交点検出部16は、第1の交点検出部、第2の交点検出部としての機能を有する。第1の交点は、第1の接線と第2の接線との交点である。第2の交点は、第1の接線と第3の接線との交点である。
パラメータ算出部17は、4パラメータ法の4つのパラメータ(規約値)を算出する処理部である。このため、パラメータ算出部17は、初期波高値算出部、初期波高時間(あるいは初期上昇率)算出部、波高値算出部、波高時間算出部としての機能を有する。
初期波高値及び初期波高時間は、第1の交点から求めることができる。波高値及び波高時間は、第2の交点から求めることができる。これらの手法は、周知技術であるため、説明を省略する。
記憶部20は、測定処理部10の処理に必要なデータ、検出部、演算結果、生成されたデータ等各種の情報を記憶する。なお、過渡回復電圧波形については、波形生成部11により生成されたものを記憶しても良いし、あるいは、あらかじめ外部において生成されてから入力部30で入力されたものを記憶してもよい。つまり、本実施形態では、測定処理部10が処理可能な状態となるように、過渡回復電圧波形が記憶されていればよい。このような過渡回復電圧波形を記憶した領域が、波形記憶部を構成する。
また、記憶部20には、測定処理部10の処理に必要な各種の設定を記憶した設定記憶部も構成される。この設定には、たとえば、演算式、演算式に用いるパラメータの初期値、その変化量等の各種の処理の基準が含まれる。記憶部20に記憶される情報は、たとえば入力部30を介して外部から入力された情報でもよい。
このような記憶部20は、典型的にはコンピュータに内蔵、またはコンピュータに外部接続された各種メモリ、ハードディスク、光ディスク等により構成できるが、現在または将来において利用可能なあらゆる記憶媒体を利用可能とする。
演算に用いるレジスタ等も、記憶部20の一部として捉えることができる。すでに情報が記憶された記憶媒体を、その媒体用の読み取り装置に装着することにより、測定処理部10において利用可能となる態様でもよい。
出力部40は、各種データ、過渡回復電圧波形、変換された波形、接線、交点、演算されたパラメータ値等を、管理者、操作者等も含むユーザが認識可能となるように出力する。この出力部40としては、たとえば表示装置、プリンタ等が考えられる。但し、現在または将来において利用可能なあらゆる出力装置を含む。
[動作]
次いで前記実施形態の動作について図2及び図3を用いて説明する。
図2は、前記過渡回復電圧測定装置1で実行する処理内容を示すフローチャートである。まず波形生成部11が、予め記憶部20に記憶されるか、あるいは外部から入力部30を介して入力し、記録部20に記憶させた過渡回復電圧検出値に基づいて、過渡回復電圧波形を生成して記録部20に記憶させる(ステップS01)。
次いで前記実施形態の動作について図2及び図3を用いて説明する。
図2は、前記過渡回復電圧測定装置1で実行する処理内容を示すフローチャートである。まず波形生成部11が、予め記憶部20に記憶されるか、あるいは外部から入力部30を介して入力し、記録部20に記憶させた過渡回復電圧検出値に基づいて、過渡回復電圧波形を生成して記録部20に記憶させる(ステップS01)。
図3(A)は、このとき生成した過渡回復電圧波形V1を例示する。この波形V1は多重周波からなる波形であり、遮断器電流を遮断した後の過渡回復電圧(TRV)の波形として考えられる。電圧波形の場合、横軸(X軸)を時間(μs)、縦軸(Y軸)を電圧(kV)として生成する。
同図(A)中、L1は、本実施形態で生成することを目的とする接線(後述する第1の接線)である。この接線L1は、後述する過程での処理の結果、波形V1における原点から波高部の間の隆起部A1と、波高部に対応する隆起部A2との間に引かれる。この波形V1において、接線L1を引いたときに接点となる2点をa点及びb点とする。
なお、波形V1に関しては、予め生成されて記憶部20に記憶されている過渡回復電圧波形を用いてもよい。
波形変換部12の調整部12Bは、演算部12Aで波形を時間微分した後(ステップS02)、定数を引き算し(ステップS03)、その差に対して積分を施すことで元の過渡回復電圧波形を変換する(ステップS04)。
図3(B)は、前記図3(A)の過渡回復電圧波形V1を微分した時間微分波形V2を示す。さらに図3(C)は、前記図3(B)の時間微分波形V2に対し、予め設定された定数を減算した変形波形V3を示す。この減算の結果としての差分波形に対して定数積分を施すことで、変換波形を得る。
波高判定部13は、変換された波形において、最大値(ピーク値)を判定し(ステップS05)、この最大値に一致する値を示す点があるか否かを比較判定する(ステップS06)。
この判定の結果、最大値が一致しない場合には、波高判定部13の判定に基づいて調整部12Bが、所定の基準に従って引き算する定数の値を変更して調整した上で(ステップS07)、前記ステップS03からの処理に戻る。
こうして前記ステップS03〜S07の処理を繰返し実行することで、2つの最大値が一致するまで減算に用いる定数を調整しながら処理を続行する。
しかして、2つの最大値が一致した場合、ステップS06で波高判定部13が一致を判定すると、次いで接点検出部14がそれら2つの最大値に対応する過渡回復電圧波形での2点(接点)を検出する(ステップS08)。
この2点の判定は、たとえば前記接点検出部14に設定された時刻判定部、接点判定部によって行なう。すなわち、時刻判定部が、最大値の2点の時刻を求める。そして、接点判定部が、その時刻における過渡回復電圧波形の2点を判定する。
図3(D)は、前記図3(C)の波形V3を定数積分した波形V4である。同図(D)中、L2は、波形V1を変換した波形V2が最大値(ピーク値)と同じとなる2点が存在するに至った場合に、その2点に接する接線である。
ここで、波形V1と接線L1との接点となる前記a点及びb点に対応する点が、変換された波形V4上ではa′点及びb′点となる。これらa′点及びb′点は、元のa点及びb点と、横軸の時間値ta,tbは同じである。
前記波形V3におけるa点とb点は、時間に対応する値が0となるように、定数を適切に設定して積分の演算処理を施すことにより、a′点及びb′点の間に引いた接線L2が横軸と平行となる。
そこで、波形V1を前述した如く変換した波形V4において、a′点及びb′点の値が同じになるように定数を減算して積分の演算処理を実行し、図3(D)に示した時間値ta,tbを求める。これら時間値ta,tbは、そのまま元の波形V1における接線L1が接するa点及びb点の横軸の値となる。これにより、元の波形V1におけるa点及びb点の値が導出できるため、接線L1を簡単に引くことができる。
具体的に過渡回復電圧測定装置1では、接線生成部15が、接点検出部14が検出した2つの接点を通る直線を、第1の接線(図3(A)のL1,図5のγ参照)として生成する(ステップS09)。また、接線生成部15は、原点から過渡回復電圧波形への接線を、第2の接線(図5のα参照)として生成する(ステップS10)。そして、交点検出部16が、第1の接線と第2の接線との交点を、第1の交点(図5(A)のC1参照)として検出する(ステップS11)。
パラメータ算出部17は、交点検出部16が検出した第1の交点に基づいて、初期波高値U1及び初期波高時間t1(あるいは初期上昇率)を算出し(ステップS12)、記録部20に記憶させる。
さらに、接線生成部15は、波高値における時間軸と平行なる接線を、第3の接線(図5のβ参照)として生成する(ステップS13)。そして、交点検出部16が第1の接線と第3の接線との交点を、第2の交点(図5のC2参照)として検出する(ステップS14)。
パラメータ算出部17は、第2の交点に基づいて、既に判定済の波高値Uc及び波高時間t2を算出して記録部20に記憶させ(ステップS15)、以上で図2に示す一連の処理を終了する。
なお、前記一連の処理で算出された各パラメータは、過渡回復電圧波形とともに記憶部20に記憶される。これらのパラメータは、入力部30での操作に応じて、記録部20に記憶された内容を出力部40に出力させる等により利用可能となる。
[効果]
以上詳述した如く本実施形態によれば、多重周波となる過渡回復電圧において、波高部と原点との間に存在する隆起部と、波高部に対応する隆起部との間に引く共通接線を、簡易な演算処理により高速に生成することができる。このため、4パラメータ法における規約値を、高速に求めることができる。
以上詳述した如く本実施形態によれば、多重周波となる過渡回復電圧において、波高部と原点との間に存在する隆起部と、波高部に対応する隆起部との間に引く共通接線を、簡易な演算処理により高速に生成することができる。このため、4パラメータ法における規約値を、高速に求めることができる。
特に、演算処理において調整する要素が減算で用いる定数1つであり、コンピュータで構成する過渡回復電圧測定装置1のソフトウェア実行時の演算処理の負担が軽く、高速に算出できる。
なお、前記した処理手順は、前記図2のフローチャートで示した例には限定されない。たとえば、前記の実施形態においては第1の接線を生成した後に、第2の接線、第3の接線を順に生成した。しかし、過渡回復電圧波形に対する第2の接線、第3の接線は、どの段階で求めてもよい。少なくとも過渡回復電圧波形が存在すれば、第2の接線及び第3の接線のいずれか一方、もしくは双方は、第1の接線の生成前に予め生成しておくことも可能である。
たとえば、図2におけるステップS01の波形生成の処理後に、ステップS10での第2の接戦を生成する処理を行ない、その後、ステップS03以降の処理を行なうようにしてもよい。または、ステップS01の波形生成の処理後に、ステップS12での初期波高値及び初期波高時間の算出処理を行ない、その後に前記ステップS03以降の処理を行なうようにしてもよい。
さらに、ステップS01の波形生成の処理後に、ステップ10及びステップ13の処理を行ない、その後、ステップ03以降の処理を行なうようにしてもよい。なお、交点の検出も、2接線の生成毎に行なうのではなく、すべての接線を生成した後にまとめて行なってもよい。
また、前記の「隆起部」とは、波形が上昇と下降を示す部分を広く含む意であり、「凸部」、「突出部」等とも言い換えることもできる。また、極性が逆の場合には、波形が窪んでいて「窪み部」、「凹部」、「凹み部」等とも言えるような部分についても、前記の「隆起部」と実質的には同じである。また、表示画面上で極性を反転させれば、「隆起」も「窪み」も同様となる。
また、波形変換部12の調整部12Bによる調整の対象となる値(減算に用いる定数)について、初期値や変化量(インクリメント、デクリメント、増分、差分等)をどのように設定するかは、自由である。たとえば、変化量を大きくして処理速度を早くしてもよいし、変化量を小さくして精度を高めてもよい。さらに、処理の開始時は、変化量を大きく設定し、処理が進行するに従って(所定の時間経過後、所定の回数変化後、所定の変化量だけで変化した後、等々)、変化量を小さくすることにより、処理速度と精度を最適化してもよい。また、たとえば、波形の極性が逆となる場合等に、減算が加算になるような場合、変化させる定数の値が増加ではなく、減少となる場合等があっても、実質的には同じ処理である。
また、前記の実施形態においては、接線検出部14における時刻判定部が、波高判定部13が判定した2点の時刻を求め、波高判定部が、その時刻に対応する過渡回復電圧波形の2点を判定している。ここで、時間、時刻は、2次元座標の横軸(X軸)を意味する。このため、時刻判定部による判定処理は、2点に対応する横軸の値を判定する判定処理と同じである。つまり、接点検出部による接線の検出は、2点の直上の(横軸の値を同じくする)2点を検出できればよい。したがって、接線検出部14は、最大値の2点と横軸の値が一致する過渡回復電圧波形の2点を求める処理を行なえばよい。
また、前記の実施形態における測定装置、測定処理における「測定」とは、波形を表現するための情報を得ることを含む広い意味である。たとえば、各種情報の収集、検出、生成、算出、判定、特定等を含む。したがって、接線の生成、規約値の算出等も「測定」に含まれる。
このため、前記の実施形態における過渡回復電圧測定装置及び測定処理は、第1の接線を生成するための構成及び処理について着目すると、過渡回復電圧波形の接線生成装置、接線生成方法、接線生成プログラムとしても表現できる。これに対応する前記の実施形態の構成は、たとえば、波形生成部11(または予め生成された波形の記憶部)、波形変換部12、波高判定部13、接点検出部14、接線生成部15等が挙げられる。
また、前記の実施形態における過渡回復電圧測定装置及び測定処理は、4パラメータ法の規約値を算出するための構成及び処理について着目すると、過渡回復電圧の規約値(パラメータ)算出装置、算出方法、算出プログラムとしても表現できる。これに対応する前記の実施形態の構成としては、たとえば、前記の接線生成装置の構成に、交点検出部16、パラメータ算出部17を加えたものが挙げられる。
さらに、前記の実施形態において対象となる波形は、過渡回復電圧の波形に限定されず、波形一般に適用することもできる。つまり、波形の接線生成装置、接線生成方法及び接線生成プログラムとしても把握できる。これに対応する前記の実施形態の構成は、たとえば、前記の接線生成装置おいて、波形生成部11により生成される波形(もしくははあらかじめ生成され、波形記憶部に記憶された波形)を、一般の波形(多重周波を含む)としたものが考えられる。
以上、本発明の一実施形態を説明したが、実施形態は例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の趣旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行なうことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。
1…過渡回復電圧測定装置、10…波形処理部、11…波形生成部、12…波形変換部、12A…演算部、12B…調整部、13…波高判定部、14…接点検出部、15…接線生成部、16…交点検出部、17…パラメータ算出部、20…記録部、30…入力部、40…出力部。
Claims (10)
- 多重周波からなる過渡回復電圧波形を記憶する波形記憶部と、
前記波形記憶部が記憶する過渡回復電圧波形を時間微分する波形変換部と、
前記波形変換部で変換した波形から定数を減算して積分する波形演算部と、
前記波形演算部で積分した波形中の2つの隆起の各最大値の一致を判定する波高判定部と、
前記波高判定部で各最大値が一致したと判定するまで、前記波形演算部での定数を調整する調整部と、
前記波高判定部で一致を判定した2点に対応する前記過渡回復電圧波形の2点を検出する接点検出部と、
前記接点検出部で検出した2点を通る第1の接線を生成する第1の接線生成部と
を備えたことを特徴とする過渡回復電圧測定装置。 - 多重周波からなる過渡回復電圧波形を記憶する波形記憶部と、
前記波形記憶部が記憶する過渡回復電圧波形を時間微分する波形変換部と、
前記波形変換部で変換した波形から定数を減算して積分する波形演算部と、
前記波形演算部で積分した波形中の2つの隆起部の各最大値の一致を判定する波高判定部と、
前記波高判定部で各最大値が一致したと判定するまで、前記波形演算部での定数を調整する調整部と、
前記波高判定部で一致を判定した2点に基づき、前記過渡回復電圧波形の2つの隆起部間に第1の接線を生成する第1の接線生成部と
を備えたことを特徴とする過渡回復電圧測定装置。 - 前記接点検出部は、
前記波高判定部により一致を判定した2点における2つの時刻を判定する時刻判定部と、
前記波形記憶部が記憶する過渡回復電圧波形中の前記時刻判定部で判定した時刻に対応する2点を判定する接点判定部と
を備えたことを特徴とする請求項1記載の過渡回復電圧測定装置。 - 前記第1の接線生成部は、前記波高判定部で一致を判定した2点を通る接線に基づいて第1の接線を生成することを特徴とする請求項2記載の過渡回復電圧測定装置。
- 前記波形記憶部が記憶する原点から過渡回復電圧波形に引いた第2の接線を生成する第2の接線生成部と、
前記第2の接線生成部で生成した第2の接線と、前記第1の接線生成部で生成した第1の接線との交点を算出する第1の交点算出部と、
前記第1の交点算出部で算出した第1の交点に基づき、過渡回復電圧の規約値を算出する規約値算出部と
をさらに備えたことを特徴とする請求項1または2記載の過渡回復電圧測定装置。 - 前記波形記憶部が記憶する過渡回復電圧波形の最大波高値を通り、時間軸と平行な第3の接線を生成する第3の接線生成部と、
前記第3の接線生成部で生成した第3の接線と、前記第1の接線生成部で生成した第1の接線との交点を算出する第2の交点算出部と、
前記第2の交点算出部で算出した第2の交点に基づき、過渡回復電圧の規約値を算出する規約値算出部と
をさらに備えたことを特徴とする請求項1または2記載の過渡回復電圧測定装置。 - 多重周波からなる過渡回復電圧波形を記憶する波形工程と、
前記波形記憶工程で記憶した過渡回復電圧波形を時間微分する波形変換工程と、
前記波形変換工程で変換した波形から定数を減算して積分する波形演算工程と、
前記波形演算工程で積分した波形中の2つの隆起の各最大値の一致を判定する波高判定工程と、
前記波高判定工程で各最大値が一致したと判定するまで、前記波形演算工程での定数を調整する調整工程と、
前記波高判定工程で一致を判定した2点に対応する前記過渡回復電圧波形の2点を検出する接点検出工程と、
前記接点検出工程で検出した2点を通る第1の接線を生成する第1の接線生成工程と
を有したことを特徴とする過渡回復電圧測定方法。 - 多重周波からなる過渡回復電圧波形を記憶する波形記憶工程と、
前記波形記憶部で記憶した過渡回復電圧波形を時間微分する波形変換工程と、
前記波形変換工程で変換した波形から定数を減算して積分する波形演算工程と、
前記波形演算工程で積分した波形中の2つの隆起部の各最大値の一致を判定する波高判定工程と、
前記波高判定工程で各最大値が一致したと判定するまで、前記波形演算工程での定数を調整する調整工程と、
前記波高判定工程で一致を判定した2点に基づき、前記過渡回復電圧波形の2つの隆起部間に第1の接線を生成する第1の接線生成工程と
を有したことを特徴とする過渡回復電圧測定方法。 - コンピュータが実行可能なプログラムであって、
前記コンピュータに、
多重周波からなる過渡回復電圧波形を記憶する波形処理と、
前記波形記憶処理で記憶した過渡回復電圧波形を時間微分する波形変換処理と、
前記波形変換処理で変換した波形から定数を減算して積分する波形演算処理と、
前記波形演算処理で積分した波形中の2つの隆起の各最大値の一致を判定する波高判定処理と、
前記波高判定処理で各最大値が一致したと判定するまで、前記波形演算処理での定数を調整する調整処理と、
前記波高判定処理で一致を判定した2点に対応する前記過渡回復電圧波形の2点を検出する接点検出処理と、
前記接点検出処理で検出した2点を通る第1の接線を生成する第1の接線生成処理と
を実行させることを特徴とする過渡回復電圧測定プログラム。 - コンピュータが実行可能なプログラムであって、
前記コンピュータに、
多重周波からなる過渡回復電圧波形を記憶する波形記憶処理と、
前記波形記憶部で記憶した過渡回復電圧波形を時間微分する波形変換処理と、
前記波形変換処理で変換した波形から定数を減算して積分する波形演算処理と、
前記波形演算処理で積分した波形中の2つの隆起部の各最大値の一致を判定する波高判定処理と、
前記波高判定処理で各最大値が一致したと判定するまで、前記波形演算処理での定数を調整する調整処理と、
前記波高判定処理で一致を判定した2点に基づき、前記過渡回復電圧波形の2つの隆起部間に第1の接線を生成する第1の接線生成処理と
を実行させることを特徴とする過渡回復電圧測定プログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012128730A JP2013253824A (ja) | 2012-06-06 | 2012-06-06 | 過渡回復電圧測定装置、過渡回復電圧測定方法及び過渡回復電圧測定プログラム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2012128730A JP2013253824A (ja) | 2012-06-06 | 2012-06-06 | 過渡回復電圧測定装置、過渡回復電圧測定方法及び過渡回復電圧測定プログラム |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JP2013253824A true JP2013253824A (ja) | 2013-12-19 |
Family
ID=49951444
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2012128730A Pending JP2013253824A (ja) | 2012-06-06 | 2012-06-06 | 過渡回復電圧測定装置、過渡回復電圧測定方法及び過渡回復電圧測定プログラム |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2013253824A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107480104A (zh) * | 2017-07-28 | 2017-12-15 | 中国西电电气股份有限公司 | 基于坐标系转换的trv波形包络线与标准值参数计算方法 |
CN111965409A (zh) * | 2020-07-17 | 2020-11-20 | 浙江理工大学 | 基于分段差分波形有效值的电压暂态扰动检测方法 |
CN113376515A (zh) * | 2020-03-09 | 2021-09-10 | 西门子股份公司 | 确定断路器的关合时间的方法及装置、计算机可读介质 |
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2012
- 2012-06-06 JP JP2012128730A patent/JP2013253824A/ja active Pending
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CN107480104A (zh) * | 2017-07-28 | 2017-12-15 | 中国西电电气股份有限公司 | 基于坐标系转换的trv波形包络线与标准值参数计算方法 |
CN107480104B (zh) * | 2017-07-28 | 2020-09-25 | 中国西电电气股份有限公司 | 基于坐标系转换的trv波形包络线与标准值参数计算方法 |
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