JP2013244313A - 光測定装置 - Google Patents

Abstract

【課題】照明光が被測定光のスペクトル解析に悪影響を及ぼさないようにするとともに、観察と測定を行う場合においてもユーザーが簡単に装置を使用できるようにする。
【解決手段】光測定装置１は、励起光を発する第一光源５４と、照明光を発する第二光源５６と、ケーブル状に設けられたプローブ３０と、プローブ３０の基端まで伝達した光の少なくとも特定波長の光量を測定する光検出器５５と、制御部６０と、を備える。制御部６０が、第二光源５６が点灯している時にプローブ３０の先端と測定対象物の近接の有無を判定する近接判定処理と、近接判定処理の判定が近接の旨である場合に第二光源５６を消灯する第二光源消灯処理と、第二光源消灯処理後に第一光源５４を点灯した状態で光検出器５５に測定を行わせる測定制御処理と、測定制御処理後に第二光源５６を点灯する第二光源点灯処理と、を実行する。
【選択図】図１

Description

本発明は、生体の管腔内に挿入されるプローブを有する光測定装置に関する。

内視鏡を用いて、管腔内の生体組織に光を照射し、その生体組織から放射される蛍光などの放射光を解析することによって、生体組織が正常か異常かなどの診断を行う方法が提案されている（例えば、特許文献１参照）。また、内視鏡に設けられたチャンネルに、測定のための光を照射する照射用ファイバーと患部からの光を受光する受光用ファイバーとを備えたケーブル状のプローブを挿通し、このプローブが挿通された内視鏡によって測定を行うことも提案されている（例えば、特許文献２参照）。なお、特許文献３には、触針を有する内視鏡装置であって、触針により患部の硬度を検知し、検知された硬度に応じて陥没領域の大小を判断し、それに基づいて照射光の種類を切り替えるようにした内視鏡装置が記載されている。また、特許文献４には、身体の皮膚に励起ビームを照射し、その皮膚の下の関心体積から発した放射光をスペクトル解析する装置が記載されている。特許文献４に記載される測定装置は、生体の管腔内に挿入されるプローブを有するものではないが、接触センサーが皮膚への接触を検知しているときだけ励起ビームを照射し、接触センサーが皮膚への接触を検知しない場合は励起ビームの照射を禁止することが記載されている。

特許第３６５４３２４号公報 特開平９−２４８２８１号公報 特開２０１２−１６０号公報 特表２００７−５３６０５３号公報

ところで、特許文献２に記載されるような、内視鏡のチャンネルに挿通されるプローブを用いて測定を行う装置においては、プローブの先端から管腔内の測定箇所に照射する光として、紫外光、赤外光、特定波長の可視光などの特定波長域の光が励起光として利用される。その場合、測定箇所から発した被測定光（例えば、蛍光、ラマン散乱光等）がプローブによって分光測定器に伝達され、その被測定光のスペクトル解析が行われる。電子内視鏡が励起光に感受性を持たないか、励起光の波長域が狭い範囲に限定されていると、励起光が測定箇所に照射されても、観察のための光量が不足しており、その様子を電子内視鏡によって観察することができない。従って、プローブの先端及びその周囲の様子を電子内視鏡によって観察するためには、電子内視鏡の照明を利用する必要がある。しかし、電子内視鏡の照明が点灯した状態でスペクトル解析が行われると、被測定光のみならず照明光もプローブの先端に入射して、照明光が被測定光のスペクトル解析に影響を及ぼし正しい測定を行うことができない。

そのような悪影響を排除するために、ユーザーが電子内視鏡の照明や励起光光源を操作し、その照明やその励起光光源の点灯・消灯をしなければならない。例えば、ユーザーがプローブの先端を測定箇所に狙いを定める際には電子内視鏡の照明を点灯し、そのプローブの先端を測定箇所に接触させた後、電子内視鏡の照明を消灯し、励起光光源を点灯するという操作が必要である。従って、ユーザーにとって操作が煩雑になってしまう。同様の問題は、特許文献１のように内視鏡自体で測定を行うものにおいても発生する。なお、特許文献３は、患部の陥没領域の大小を認識するために、触針を使って患部の硬度を検知するものであるが、観察から測定へと切り替える場合や、観察と測定とを繰り返す場合における操作の煩雑さの解消という課題解決については記載されていない。また、特許文献４には、安全のために接触センサーで身体の皮膚への接触を検知するものであるが、やはり観察から測定へと切り替える場合や観察と測定とを繰り返す場合における操作の煩雑さの解消という課題解決については記載されていない。

本発明が解決しようとする課題は、照明光が被測定光のスペクトル解析に悪影響を及ぼさないようにするとともに、観察と測定を行う場合においてもユーザーが簡単に装置を使用できるようにすることである。

以上の課題を解決するための請求項１に係る発明は、測定用の励起光を発する第一光源と、観察用の照明光を発する第二光源と、ケーブル状に設けられ、前記第一光源から発した励起光を基端から取り込んで先端まで伝達してその先端から出射し、前記第二光源から発した照明光を前記基端から取り込んで前記先端まで伝達してその先端から出射し、前記先端から出射された励起光によって測定対象物から発した被測定光を前記先端から取り込んで前記基端まで伝達し、前記先端から出射されて前記測定対象物で反射された照明反射光を前記先端から取り込んで前記基端まで伝達するプローブと、前記プローブの前記基端まで伝達した光の少なくとも特定波長の光の光量を測定する光検出器と、制御部と、を備え、前記制御部が、前記第二光源が点灯しているときに、前記プローブの前記先端と前記測定対象物との近接の有無を判定する近接判定処理と、前記近接判定処理における近接有りとの判定に基づいて、前記第二光源を消灯する第二光源消灯処理と、前記第二光源消灯処理後に、前記第一光源を点灯した状態で前記光検出器に測定を行わせる測定制御処理と、前記測定制御処理後に、前記第二光源を点灯する第二光源点灯処理とを実行する、ことを特徴とする光測定装置である。

請求項２に係る発明は、前記光検出器が、前記プローブの前記基端まで伝達した照明反射光の強度を検出し、その強度を前記制御部に出力し、前記制御部が、前記近接判定処理において、前記光検出器の出力を所定の第一閾値と比較し、前記光検出器の出力が前記第一閾値以上である場合に近接有りと判定し、前記光検出器の出力が前記第一閾値を下回る場合に近接無しと判定する、ことを特徴とする請求項１に記載の光測定装置である。

請求項３に係る発明は、前記制御部が、前記測定制御処理において前記光検出器によって測定された光量を所定の第二閾値と比較する比較処理を実行し、前記制御部が、前記比較処理の比較の結果前記光検出器によって測定された光量が前記第二閾値以上である場合に前記測定制御処理を継続し、前記制御部が、前記比較処理の比較の結果前記光検出器によって測定された光量が前記第二閾値を下回る場合に、前記測定制御処理を終了する、ことを特徴とする請求項２に記載の光測定装置である。

請求項４に係る発明は、前記制御部は、複数回の短時間測定を繰り返すことで前記測定制御処理を行い、前記制御部が、前記比較処理の比較の結果前記光検出器によって測定された光量が前記第二閾値以上である場合に前記短時間測定の実行回数が所定回数になるまで前記比較処理及び前記短時間測定を繰り返し実行し、前記短時間測定が繰り返されることによって測定された光量を積算する、ことを特徴とする請求項３に記載の光測定装置である。

請求項５に係る発明は、前記プローブが、その先端に設けられ、前記先端と前記測定対象物との近接を検知する近接センサーを有し、前記制御部が、前記近接判定処理において前記近接センサーによって近接が検知された場合に近接有りと判定し、前記制御部が、前記近接センサーによって近接が検知されない場合に近接無しと判定する、ことを特徴とする請求項１に記載の光測定装置である。

請求項６に係る発明は、前記制御部が、前記測定制御処理中に、前記近接センサーによって近接の有無を判定する判定処理を実行し、前記制御部が、前記判定処理で近接有りと判定された場合に前記測定制御処理を継続し、前記制御部が、前記判定処理で近接無しと判定された場合に前記測定制御処理を終了する、ことを特徴とする請求項５に記載の光測定装置である。

請求項７に係る発明は、先端に電子カメラを有するとともに、基端側から前記先端まで形成されているとともに前記プローブが挿通されるチャネルを有した内視鏡をさらに備え、前記電子カメラによって撮像される画像信号が前記制御部に入力され、前記制御部が、前記近接判定処理において、前記電子カメラによって撮像された画像の平均階調値を所定の第一閾値と比較し、前記制御部が、前記平均階調値が前記第一閾値以上である場合に近接有りと判定し、前記制御部が、前記平均階調値が前記第一閾値を下回る場合に近接無しと判定する、ことを特徴とする請求項１に記載の光測定装置である。

請求項８に係る発明は、前記制御部が、前記測定制御処理終了後に、前記プローブの測定対象物からの離間を条件として、前記第二光源点灯処理を実行する、ことを特徴とする請求項３から６の何れか一項に記載の光測定装置である。

請求項９に係る発明は、前記制御部が、前記測定制御処理終了後に、前記第二光源点灯処理を実行し、前記プローブの測定対象物からの離間を条件として、次回の前記近接判定処理に移行する、ことを特徴とする請求項１、２、７の何れか一項に記載の光測定装置である。

請求項１０に係る発明は、前記制御部が、前記近接判定処理の後であって前記測定制御処理の前に、前記第一光源を点灯する第一光源点灯処理と、前記測定制御処理の後に、前記第一光源を消灯する第一光源消灯処理と、を実行する、ことを特徴とする請求項１から９の何れか一項に記載の光測定装置である。

請求項１１に係る発明は、前記制御部が、前記測定制御処理より前に前記第一光源を点灯する第一光源点灯処理を実行して、その後前記第一光源の点灯を継続する、
ことを特徴とする請求項１から９の何れか一項に記載の光測定装置である。

本発明によれば、第二光源が点灯していると、第二光源から発した照明光がプローブによって先端まで伝達されて、プローブの先端の周囲が照明されるので、ユーザーがプローブの先端の周囲を観察して、プローブの先端を測定箇所に狙いを定めることができる。そして、ユーザーがプローブの先端を測定箇所に近接させると、制御部による近接判定処理により近接有りと判定され、制御部が第二光源の消灯処理を実行し、その後に測定制御処理を実行する。従って、照明光や照明が反射された光がプローブの先端に入射されず、被測定光がプローブの先端に入射されて、その被測定光の少なくとも特定波長毎の光量が光検出器によって測定される。そのため、被測定光のスペクトル解析が照明光に影響されず、被測定光の少なくとも特定波長の光量を正確に測定することができる。しかも、ユーザーが観察から測定への照明の切り替えの操作及び測定から観察への照明の切り替えを行う必要がなく、煩雑な操作を回避することができる。

本発明の第１実施形態に係る光測定装置の構成図である。 同実施形態に係る内視鏡の部分断面斜視図である。 同実施形態に係るプローブの概略断面図である。 同実施形態に係るプローブの先端部の斜視図である。 同実施形態に係る光測定装置の使用手順を示したフローチャートである。 同実施形態に係る光測定装置の制御部が行う処理の流れを示したフローチャートである。 同実施形態に係る光測定装置の光検出器によって検出される照明光の波長毎の強度を示したスペクトルグラフである。 同実施形態に係るプローブの先端から管腔の内壁までの距離と照明光の強度との関係を示したグラフである。 本発明の第２実施形態に係る光測定装置の制御部が行う処理の流れを示したフローチャートである。 本発明の第３実施形態に係る光測定装置のプローブの概略断面図である。 本発明の第３実施形態に係る光測定装置の制御部が行う処理の流れを示したフローチャートである。 本発明の第３実施形態に係る光測定装置の制御部が行う処理の流れを示したフローチャートである。

以下に、本発明を実施するための形態について図面を用いて説明する。但し、以下に述べる実施形態には、本発明を実施するために技術的に好ましい種々の限定が付されているが、本発明の技術的範囲を以下の実施形態及び図示例に限定するものではない。

〔第１の実施の形態〕
図１は、光測定装置１の概略構成図である。図１に示すように、この光測定装置１は、内視鏡１０、伝送ケーブル２０、内視鏡プロセッサ２５、プローブ３０及びベースユニット５０等を備える。

図２は、内視鏡１０を一部破断した状態で示した部分断面斜視図である。図１及び図２に示すように、内視鏡１０が挿入部１１及び操作部１２等を有し、挿入部１１が操作部１２から延び出るように設けられている。光測定装置１の使用時には、挿入部１１が患者の管腔に挿入される。挿入部１１が可撓性を有し、管腔の形状に合わせて挿入部１１が曲げられる。

挿入部１１の先端には、電子カメラ１３が設けられている。電子カメラ１３は、挿入部１１の先端の先方の像を撮像して、その像を映像信号に変換する。伝送ケーブル２０の一端部が内視鏡プロセッサ２５に接続される。伝送ケーブル２０が操作部１２に接続し、その伝送ケーブル２０が挿入部１１の長手方向に沿って挿入部１１の内部に設けられ、その伝送ケーブル２０の他端部が電子カメラ１３及び照明部１４に接続される。伝送ケーブル２０は、電子カメラ１３によって撮像された画像の映像信号を電子カメラ１３から内視鏡プロセッサ２５に伝送する。内視鏡プロセッサ２５は、伝送された映像信号をベースユニット５０のビデオ入力インターフェース５３に出力する。

内視鏡プロセッサ２５は、伝送された映像信号を内視鏡表示モニターに出力する。内視鏡表示モニターは、内視鏡プロセッサ２５によって出力された映像信号を入力するとともに、その映像信号に従った画像を表示する。また、内視鏡プロセッサ２５は、ユーザーからの指示を受け付けるためのスイッチやダイヤルなどの不図示の指示手段を備えている。

挿入部１１の先端には、照明部１４が設けられている。照明部１４が発光素子等からなる場合、挿入部１１の長手方向に沿って挿入部１１の内部に設けられた配線を通じて照明部１４に電力が供給されることで、照明部１４が点灯する。照明部１４がライトガイドの先端である場合には、そのライトガイドが挿入部１１の長手方向に沿って挿入部１１の内部に設けられ、そのライトガイドの基端が光源に接続される。その光源は、例えば、内視鏡プロセッサ２５に内蔵されている。

挿入部１１には、チャネル１５が挿入部１１の長手方向に沿って設けられている。チャネル１５の先端側の開口１６が挿入部１１の先端において開口し、チャネル１５の基端側の開口１７が操作部１２において開口する。例えば、チャネル１５は、鉗子等の処置具を通す処置具用チャネルである。

プローブ３０がケーブル状（線状）に設けられている。プローブ３０は経内視鏡的に使用される。つまり、図２に示すように、プローブ３０が内視鏡１０のチャネル１５の基端側の開口１７を通ってチャネル１５へ挿入され、図４に示すように、プローブ３０の遠位部分がチャネル１５からその先端の開口１６を通って体腔内へ突出する。

図３は、プローブ３０の概略断面図である。図３に示すように、プローブ３０は、可撓性シース３１、励起光（例えば、紫外光、赤外光、特定波長の可視光）用の第一ライトガイド３２、被測定光（例えば、蛍光、散乱光、弾性散乱光、非弾性散乱光、ラマン散乱光）用の第二ライトガイド３３、照明光（白色光など広波長帯域の可視光）用の第三ライトガイド３４、励起光及び被測定光用の投光受光部３５、照明用の投光部３６及びコネクタ３７等を備える。プローブ３０についての近位とは、ベースユニット５０やコネクタ３７に近い方をいい、遠位とは、ベースユニット５０やコネクタ３７から遠い方をいう。

可撓性シース３１は、中空を有した細い筒状のチューブである。可撓性シース３１の基端（基端）３１ａがコネクタ３７に接続される。可撓性シース３１の先端３１ｂには、投光受光部３５及び投光部３６が設けられている。投光受光部３５及び投光部３６は光学素子であり、具体的にはレンズ、プリズム若しくは反射ミラー又はこれらの光学部材を複数組み合わせたものである。

ライトガイド３２，３３，３４は一本又は複数本の光ファイバーからなる。ライトガイド３２，３３，３４が可撓性シース３１に挿入されている。ライトガイド３２，３３，３４が可撓性シース３１の基端３１ａから先端３１ｂにかけて可撓性シース３１に沿って設けられ、ライトガイド３２，３３，３４の基端３２ａ，３３ａ，３４ａがコネクタ３７に固定され、ライトガイド３２，３３，３４の先端３２ｂ，３３ｂ，３４ｂがホルダー等によって可撓性シース３１に固定されている。ライトガイド３２，３３，３４の基端３２ａ，３３ａ，３４ａがコネクタ３７の表面において露出し、ライトガイド３２，３３の先端３２ｂ，３３ｂの先方に投光受光部３５が配置され、第三ライトガイド３４の先端３４ｂの先方に投光部３６が配置される。

第一ライトガイド３２は、その基端３２ａで励起光を取り込み、取り込んだ励起光をその基端３２ａからその先端３２ｂまで伝達して、その先端３２ｂから励起光を出射する。投光受光部３５は、第一ライトガイド３２の先端３２ｂから出射された励起光を測定対象物（例えば、生体組織、管腔や管腔臓器の内壁等）９９に投射する。

励起光が測定対象物９９に入射されると、測定対象物９９から光（被測定光）が発せられ、その被測定光がプローブ３０の先端に取り込まれる。具体的には、測定対象物９９から発せられた被測定光が投光受光部３５に入射され、投光受光部３５がその被測定光を第二ライトガイド３３の先端３３ｂに集光する。第二ライトガイド３３は、その先端３３ｂで被測定光を取り込み、取り込んだ被測定光をその先端３３ｂからその基端３３ａまで伝達して、その基端３３ａから被測定光を出射する。

第三ライトガイド３４は、その基端３４ａで照明光を取り込み、取り込んだ照明光をその基端３４ａからその先端３４ｂまで伝達して、その先端３４ｂから照明光を出射する。投光部３６は、第三ライトガイド３４の先端３４ｂから出射された照明光を測定対象物９９に投射する。これにより、測定対象物９９が照明される。照明光が照射された測定対象物９９で反射された光（以下、照明反射光）が投光受光部３５によって第二ライトガイド３３の先端３３ｂに集光され、その照明反射光が第二ライトガイド３３によって基端３３ａへ伝達される。
なお、プローブ３０は内視鏡１０のよりも外径が小さいため、プローブ３０の先端をより患部などの測定対象部位の近くまで近接させやすい。このため、患部付近において照明を行うことにより、効率よく観察のための照明を行うことができる。従って、使用できる照明の自由度が比較的大きく、応答性のよい光源を採用しやすい。

図１に示すように、コネクタ３７はベースユニット５０のプローブ接続部５７に接続される。ベースユニット５０は、入力装置５１、出力装置５２、ビデオ入力インターフェース５３、第一光源（励起光光源）５４、光検出器５５、第二光源（照明光光源）５６、プローブ接続部５７、スピーカー５８及び制御部６０等を備える。

入力装置５１は、入力ユーザーインターフェイスである。つまり、入力装置５１は、キーボード、マウス若しくはスイッチ又はこれらの組み合わせである。入力装置５１が操作されると、入力装置５１が操作内容に応じたコマンド信号を制御部６０に出力する。

出力装置５２は、表示装置（ディスプレイ）又は印刷装置（プリンター）である。出力装置５２は、制御部６０によって出力された信号（例えば、映像信号、制御信号）が入力するとともに、その入力信号に従った出力（表示又は印刷）を行う。

ビデオ入力インターフェース５３は、内視鏡プロセッサ２５によって出力された映像信号を受け取り、その映像信号を制御部６０に出力する。

プローブ３０のコネクタ３７はプローブ接続部５７に対して着脱可能である。コネクタ３７がプローブ接続部５７に接続されると、ライトガイド３２，３３，３４の基端３２ａ，３３ａ，３４ａが第一光源５４、光検出器５５及び第二光源５６にそれぞれ光学的に接続される。

第一光源５４は測定用の励起光を発するものである。励起光光源５４が点灯すると、励起光が第一ライトガイド３２によって基端３２ａから先端３２ｂまで伝達される。
第二光源５６は観察用の照明光を発するものである。第二光源５６が点灯すると、照明光が第三ライトガイド３４によって基端３４ａから先端３４ｂまで伝達される。

光検出器５５は、測定対象部位の組織が正常なのか異常であるのかを識別できるような特定波長の光を少なくとも検出できるものであり、本実施形態では可視光領域を含む広波長帯域の光を波長毎に強度検知できる分光測定器である。光検出器５５は、第二ライトガイド３３の基端３３ａから発した被測定光や照明反射光の強度を波長毎に検出する。光検出器５５は、検出した波長毎の強度を電気信号として制御部６０に出力する。
また、光検出器５５は被測定光や照明反射光の光量（強度の時間積分）を波長毎に測定する。光検出器５５は、測定した波長毎の光量を電気信号として制御部６０に出力する。なお、微小時間（単位時間）当たりの被測定光の光量が被測定光の強度であり、微小時間（単位時間）当たりの照明反射光の光量が照明反射光の強度である。微小時間（単位時間）は、例えば、光検出器５５によって被測定光や照明反射光の強度を検出する際のサンプリング周期である。

制御部６０は、ＣＰＵ、ＲＡＭ、記憶装置（ＲＯＭ、ハードディスク、不揮発性半導体メモリー等）、システムバス、ドライバ、ＡＤコンバーター及びＤＡコンバーター等を有するコンピューターである。制御部６０の記憶装置には、制御部６０にとって読取可能・実行可能なプログラムが格納されている。このプログラムは制御部６０に機能を実現させるものであり、制御部６０がプログラムに従って処理を行う。

図５のフローチャートを参照して、光測定装置１の使用方法について説明する。

ステップＳ１：起動
まず、ユーザーがプローブ３０のコネクタ３７をプローブ接続部５７に接続する。そして、ユーザーが内視鏡１０、内視鏡プロセッサ２５及びベースユニット５０を起動する。ベースユニット５０が起動されると、制御部６０、第一光源５４、光検出器５５及び第二光源５６の初期化処理が行われ、第一光源５４及び第二光源５６が消灯される。なお、内視鏡プロセッサ２５を起動することで、内視鏡１０の各部の初期化と起動処理が行われる。そして、内視鏡プロセッサ２５の不図示の指示手段をユーザーが操作することにより、内視鏡１０に内蔵される照明の点灯と、内視鏡１０に内蔵される電子カメラによる撮像が開始される。

ステップＳ２：内視鏡１０を挿入
次に、ユーザーが内視鏡１０の挿入部１１を患者の管腔に挿入する。この際、照明部１４から照射される照明光により、管腔が照明される。更に、電子カメラ１３によって撮像された画像の映像信号が電子カメラ１３から内視鏡プロセッサ２５を経由して内視鏡表示モニターに伝送される。そのため、ユーザーが内視鏡表示モニターの表示画像を通じて管腔を観察しながら、挿入部１１を管腔に挿入する。

ステップＳ３：プローブ３０を挿入
次に、ユーザーがプローブ３０の先端をチャネル１５の基端側の開口１７に差し込む。そして、ユーザーがプローブ３０をチャネル１５に挿入していき、プローブ３０の先端をチャネル１５の先端側の開口１６から突き出す。

ステップＳ４：内視鏡１０の照明部１４を消灯
次に、内視鏡１０の照明部１４が消灯される。例えば、ユーザーが内視鏡プロセッサ２５の不図示の指示手段を用いて照明部１４を消灯する。

ステップＳ５：第二光源５６を点灯
次に、ユーザーが入力装置５１を操作すると、点灯コマンドが入力装置５１から制御部６０へ出力され、制御部６０がその点灯コマンドに従って照明光の点灯処理（第二光源点灯処理）を行う。つまり、制御部６０が第二光源５６を点灯する。そうすると、第二光源５６から発した照明光が第三ライトガイド３４によって先端３４ｂへ伝達される。第三ライトガイド３４の先端３４ｂから出射された照明光が投光部３６によって管腔の内壁に照射され、管腔の内壁が照明光によって照明される。

ステップＳ６：観察及び光測定
次に、ユーザーが内視鏡表示モニターの表示画像を通じて管腔の内壁を観察して診断する。そして、ユーザーが管腔の内壁の所定の箇所を光測定する。

光測定について具体的に説明する。ユーザーが管腔の内壁の測定箇所に狙いを定めて、その測定箇所にプローブ３０の先端を近接させる。ここで、近接とは、プローブ３０の先端が測定対象物に十分に接近しており、測定が可能になるような距離に達したことを意味する。プローブ３０の先端が測定対象物に接触していてもよい。測定箇所にプローブ３０が近接すると、第二光源５６が自動的に消灯し、第一光源５４が自動的に点灯する。第一光源５４から発した励起光が第一ライトガイド３２によって先端３２ｂへ伝達される。第一ライトガイド３２の先端３２ｂから出射された励起光が投光受光部３５によって管腔の内壁の測定箇所に照射される。励起光によって被測定光が測定箇所から発して、その被測定光が投光受光部３５によって第二ライトガイド３３の先端３３ｂに集光される。投光受光部３５によって集光された被測定光が第二ライトガイド３３によって光検出器５５へ伝達され、その被測定光の波長毎の強度・光量が光検出器５５によって検出・測定され、検出・測定された波長毎の強度・光量を表す電気信号が光検出器５５によって制御部６０に出力される。測定開始時から所定時間が経過したら、光測定が終了し、スピーカー５８から終了音を発してユーザーに測定終了を報知する。その後、第二光源５６が自動的に点灯し、第一光源５４が自動的に消灯する。ユーザーは測定終了後にプローブ３０の先端を管腔の内壁から離し、別の測定箇所に向けてプローブを移動する。
以後、ユーザーは以上のような操作を繰り返すことによって、複数の測定箇所を順次測定する。

図６のフローチャートを参照して、制御部６０がプログラムに従って行う処理について説明する。図５に示すステップＳ６の際に、制御部６０が図６に示す処理を実行する。つまり、図５に示すステップＳ５においてユーザーが入力装置５１を操作することによって照明点灯コマンドが入力装置５１から制御部６０に入力されると、制御部６０が図６に示す処理を開始する。

制御部６０が図６に示す処理を開始した時には、第二光源５６が点灯している（ステップＳ５参照）。管腔の内壁が照明光によって照明されると、管腔の内壁の表面で反射された照明反射光が投光受光部３５によって第二ライトガイド３３の先端３３ｂに集光される。投光受光部３５によって集光された照明反射光が第二ライトガイド３３によって光検出器５５へ伝達される。光検出器５５は、反射照明光の波長域に感度を有しており、照明反射光の波長毎の強度が光検出器５５によって検出される。検出された波長毎の強度を表す電気信号が光検出器５５によって制御部６０に出力される。なお、光検出器５５は波長毎の強度の総和、つまり、光検出器５５によって検出される波長帯域全体としての強度を制御部６０に出力してもよい。

ステップＳ１１：近接判定処理
ステップＳ１１では、プログラムが制御部６０に近接判定処理を実行させる。つまり、制御部６０は、光検出器５５の出力（特定の波長λ1（図７参照）の検出強度）に基づいて、プローブ３０の先端が管腔の内壁に近接したか否かを判定する。具体的には、制御部６０は、光検出器５５の出力をモニタリングして、光検出器５５の出力を所定の第一閾値Ｔｈと比較し、その結果に基づいて近接有り／近接無しを判定する。なお、制御部６０は、光検出器５５は波長毎の強度の総和を第一閾値（但し、その値はＴｈと異なることが好ましい）と比較してもよい。

第一閾値Ｔｈについて説明する。図７は、管腔の内壁で反射されて投光受光部３５及び第二ライトガイド３３の先端３３ｂに入射される照明反射光の波長毎の強度を示した分光分布図である。図７の曲線Ａに示すように、プローブ３０の先端が管腔の内壁に近接すると、投光受光部３５及び第二ライトガイド３３の先端３３ｂに入射される照明反射光の強度が高くなる。一方、図７の曲線Ｃに示すように、プローブ３０の先端が管腔の内壁から離れると、投光受光部３５及び第二ライトガイド３３の先端３３ｂに入射される照明反射光の強度が低くなる。曲線Ｂにおけるプローブ３０の先端と管腔の内壁の距離は、曲線Ｃにおけるプローブ３０の先端と管腔の内壁の距離よりも短い。

図８は、管腔の内壁で反射されて投光受光部３５及び第二ライトガイド３３の先端３３ｂに入射される波長λ1の照明反射光の強度と、プローブ３０の先端から管腔の内壁までの距離との関係を示したグラフである。図８に示すように、プローブ３０の先端が管腔の内壁に近づくほど、投光受光部３５及び第二ライトガイド３３の先端３３ｂに入射される照明反射光の強度が高くなる。一方、プローブ３０の先端が管腔の内壁から離れるほど、投光受光部３５及び第二ライトガイド３３の先端３３ｂに入射される照明反射光の強度が低くなる。

図８に示された第一閾値Ｔｈは、プローブ３０の先端が管腔の内壁に近接した状態における照明光の強度と、プローブ３０の先端が管腔の内壁から離れた状態における照明反射光の強度とを仕切るものである。第一閾値Ｔｈは、予め実験等によって求められたもの、あるいは、測定前にキャリブレーションを行いそれに基づいて決定したものである。制御部６０は、この第一閾値Ｔｈと光検出器５５の出力（特定の波長λ1の検出強度）を比較する（ステップＳ１１）。

ユーザーがプローブ３０の先端を管腔の内壁に近接させないと、光検出器５５の出力が第一閾値Ｔｈを下回るので、制御部６０はプローブ３０の先端が管腔の内壁に近接していない、つまり近接無し、と判定する（ステップＳ１１：ＮＯ）。そして、制御部６０は、プローブ３０の先端が管腔の内壁に近接したか否かの判定を継続する。つまり、制御部６０は、継続して、光検出器５５の出力をモニタリングするとともに、光検出器５５の出力を第一閾値Ｔｈと比較する。

一方、ユーザーがプローブ３０の先端を管腔の内壁に近接させると、光検出器５５の出力が第一閾値Ｔｈ以上になる。そうすると、制御部６０はプローブ３０の先端が管腔の内壁に近接した、つまり近接有り、と判定し（ステップＳ１１：ＹＥＳ）、制御部６０の処理がステップＳ１２に移行する。なお、プローブ３０の先端を測定対象物に接触させたときに、測定対象物によりプローブ３０の先端が覆われて照明ができなくなる場合は、接触する前の光量の変化の度合いを経時的にモニターしておき、光量が急激に低下したことを検出することでプローブ３０が接触したことを検知することができる。

ステップＳ１２：照明光の消灯処理
ステップＳ１２では、プログラムが制御部６０に照明光の消灯処理（第二光源消灯処理）を実行させる。つまり、制御部６０が第二光源５６を消灯する。これにより、照明光が管腔の内壁に照射されず、管腔の内壁が暗くなる。

ステップＳ１３：励起光の点灯処理
ステップＳ１３では、プログラムが制御部６０に励起光の点灯処理（第一光源点灯処理）を実行させる。つまり、制御部６０が第一光源５４を点灯する。これにより、励起光が管腔の内壁に照射され、被測定光が管腔の内壁から発して、その被測定光が光検出器５５まで伝達される。なお、ステップＳ１３の処理はステップＳ１２の処理と同時に行われてもよいし、ステップＳ１２の前に行われてもよい。

ステップＳ１４：測定制御処理
ステップＳ１４では、プログラムが制御部６０に測定制御処理を実行させる。つまり、制御部６０は、露光信号を光検出器５５に出力することによって、所定時間だけ光検出器５５を露光させて、光検出器５５に光量測定を行わせる。そうすると、被測定光の波長毎の光量が光検出器５５によって測定され、被測定光の波長毎の光量が電気信号として光検出器５５から制御部６０に出力される。そして、制御部６０は、光検出器５５から入力した被測定光の波長毎の光量を記憶する。

測定対象部位の状態判別のための必要な情報を得るのに十分な所定時間の露光が終了したら、制御部６０が出力装置５２を制御して、露光及び測定の終了の旨が出力装置５２によって出力される。或いは、制御部６０がスピーカー５８に音声信号を出力し、スピーカー５８から終了音が出力される。そうすると、ユーザーが露光・測定の終了を認識し、ユーザーがプローブ３０の先端を管腔の内壁から離す。

ステップＳ１５：励起光の消灯処理
ステップＳ１５では、プログラムが制御部６０に励起光の消灯処理（第一光源消灯処理）を実行させる。つまり、制御部６０が第一光源５４を消灯する。

ステップＳ１６：照明光の点灯処理
ステップＳ１６では、プログラムが制御部６０に照明光の点灯処理を実行させる。つまり、制御部６０が第二光源５６を点灯する。なお、ステップＳ１６の処理はステップＳ１５と同時に行われてもよいし、ステップＳ１５の処理の前に行われてもよい。

ステップＳ１７：離間の確認処理
第二光源５６の点灯後、プログラムが制御部６０に離間判定処理を実行させる。つまり、制御部６０は、光検出器５５の出力（例えば、特定の波長λ1の検出強度）に基づいて、プローブ３０の先端が管腔の内壁から離間したかどうかを判定する。具体的には、制御部６０は、光検出器５５の出力をモニタリングして、光検出器５５の出力を所定の閾値（この所定閾値は第一閾値Ｔｈと等しいか、第一閾値Ｔｈより低い。）と比較する。

ユーザーがプローブ３０の先端を管腔の内壁から離さないと、光検出器５５の出力が所定閾値以上であるので、制御部６０はプローブ３０の先端が管腔の内壁から離間していない、つまり離間無しと、判定する（ステップＳ１７：ＮＯ）。そして、制御部６０は、プローブ３０の先端が管腔の内壁から離間したか否かの判定を継続する（ステップＳ１７）。

一方、ユーザーがプローブ３０の先端を管腔の内壁から離すと、光検出器５５の出力が所定閾値を下回る。そうすると、制御部６０はプローブ３０の先端が管腔の内壁から離間した、つまり離間有り、と判定し（ステップＳ１７：ＹＥＳ）、制御部６０の処理がステップＳ１１に戻る。

ステップＳ１７を経ることで、プローブ３０の先端が測定対象物からの離間を条件として次の測定のための判断（ステップＳ１１）に移るので、プローブ３０の先端を次の測定箇所に移動させる前に、測定が開始されてしまうことを防止する。なお、ステップＳ１７における所定閾値がステップＳ１１における第一閾値Ｔｈより低いと、ステップＳ１７において離間の旨が判定された時のプローブ３０の先端から管腔の内壁までの距離は、ステップＳ１１において近接が判定された時のプローブ３０の先端から管腔の内壁の距離よりも長い。そのため、プローブ３０の先端が管腔の内壁から十分に離れたことを検出するべく、ステップＳ１７の所定閾値がステップＳ１１の第一閾値Ｔｈより低いことが好ましい。

制御部６０の処理がステップＳ１１に移行したら、制御部６０は上述したステップＳ１１〜Ｓ１７の処理を繰り返し行う。なお、制御部６０がステップＳ１１〜Ｓ１７の処理を繰り返し行っている際に、ユーザーが入力装置５１を操作することによって測定終了コマンドが入力装置５１から制御部６０に入力されると、制御部６０が図６に示す処理を中止する。制御部６０が図６に示す処理を中止する際に、光源５４，５６が点灯されていれば、制御部６０が光源５４，５６を消灯する。

本実施形態の光測定装置１は以下のような効果をもたらす。

（１） ユーザーがプローブ３０の先端を測定箇所に近接させる際には、第二光源５６が点灯しているので（ステップＳ５、ステップＳ１６参照）、プローブ３０の先端の周囲が照明される。そのため、ユーザーは、プローブ３０の先端の周囲を観察しながらプローブ３０の先端を測定箇所に狙いを定めることができる。

（２） ユーザーがプローブ３０の先端を測定箇所に近接させると、第二光源５６が自動的に消灯するから（ステップＳ１２）、その後の分光測定時（ステップＳ１４）において被測定光のスペクトル解析を正確に行うことができる。

（３） 制御部６０がステップＳ１１〜ステップＳ１４の処理を行うので、ユーザーがプローブ３０の先端を測定箇所に近接させるだけで、分光測定（ステップＳ１４）が自動的に行われる。そのため、ユーザーが光測定装置１を簡単に使用することができる。

（４） 分光測定の終了後に第二光源５６が自動的に点灯するから（ステップＳ１６）、次の測定箇所の光測定の際にもユーザーがプローブ３０の先端の周囲を観察しながらプローブ３０の先端を測定箇所に狙いを定めることができる。

（５） 制御部６０がステップＳ１１〜Ｓ１７の処理を繰り返すことによって、ユーザーがプローブ３０の先端を引いたり突き出したりするだけで、あるいは、内視鏡１０とともにプローブ３０を移動させるだけで、容易に複数の想定箇所を次々に光測定することができる。

（６） 制御部６０がステップＳ１７の処理を行うことによって、同一の測定箇所を連続して光測定することを防止することができる。

（７） 照明光の検出強度を利用して、プローブ３０の先端が管腔の内壁に近接したこと及び離間したことが検知されるから、プローブ３０の先端に別途センサーを設けなくても済む。よって、プローブ３０の部品・製造コストの削減を図ることができる。

〔第２の実施の形態〕
第２実施形態における光測定装置について説明する。以下では、第２実施形態の光測定装置と第１実施形態の光測定装置とが相違する点について説明する。
第２実施形態において制御部６０が行う処理（図９参照）は、主として、上述した第１実施形態のステップＳ１４（図６参照）の測定制御処理をステップＳ２１〜２５からなる測定制御処理に置き換えたものである。

図９に示すように、まず、制御部６０は、図６のステップＳ１１〜Ｓ１３と同様の処理を実行する。但し、第２実施形態においては、ステップＳ１３において、第一光源５４が点灯された後、制御部６０が計数値をゼロにリセットする。計数値は、後述のステップＳ２１の処理を行った回数を表す。

ステップＳ２１：短時間測定処理
ステップＳ２１では、プログラムが制御部６０に短時間の測定処理を実行させる。つまり、制御部６０は、露光信号を光検出器５５に出力することによって、所定時間だけ光検出器５５を露光させて、光検出器５５に光量測定を行わせる。そうすると、被測定光の波長毎の光量が光検出器５５によって測定され、被測定光の波長毎の光量が電気信号として光検出器５５から制御部６０に出力される。ステップＳ２１における露光時間はステップＳ１４における露光時間よりも短く、例えば上述した単位時間とすることができる。
制御部６０は、光検出器５５から入力した被測定光の波長毎の光量を記憶する。また、制御部６０が計数値に１を加算することで計数値を更新する。

ステップＳ２２：近接判定処理（比較処理）
ステップＳ２２では、プログラムが制御部６０に近接判定処理（比較処理）を実行させる。つまり、制御部６０は、ステップＳ２１において光検出器５５によって測定された第二特定波長（第二特定波長と特定波長λ1が互いに等しいか、又は互いに異なる。）の光量に基づいて、プローブ３０の先端が管腔の内壁に近接したか否かを判定する。具体的には、制御部６０は、光検出器５５によって測定された第二特定波長の光量を所定の第二閾値と比較し、その結果に基づいて近接有り／近接無しを判定する。第二閾値と第一閾値Ｔｈが互いに等しいか、又は互いに異なる。第二閾値は、プローブ３０の先端が管腔の内壁に近接した状態における被測定光の光量と、プローブ３０の先端が管腔の内壁から離れた状態における被測定光の光量とを仕切るものである。

ユーザーがプローブ３０の先端を管腔の内壁から離してしまうと、投光受光部３５に入射される被測定光の強度が低下する。そのため、光検出器５５によって測定された第二特定波長の光量が第二閾値を下回る。そうすると、制御部６０はプローブ３０の先端が管腔の内壁に近接していない、つまり近接無し、と判定し（ステップＳ２２：ＮＯ）、制御部６０の処理がステップＳ２３に移行する。

一方、ユーザーがプローブ３０の先端を管腔の内壁に近接させた状態を保っていると、投光受光部３５に入射される被測定光の強度が低下せずにほぼ一定に保たれる。そのため、光検出器５５によって測定された第二特定波長の光量が第二閾値以上である。そうすると、制御部６０はプローブ３０の先端が管腔の内壁に近接している、つまり近接あり、と判定し（ステップＳ２２：ＹＥＳ）、制御部６０の処理がステップＳ２４に移行する。

ステップＳ２３：エラー処理
ステップＳ２３では、制御部６０が出力装置５２を制御して、測定エラーの旨が出力装置５２によって出力される。或いは、制御部６０がスピーカー５８に音声信号を出力し、スピーカー５８から警告音が出力される。そして、制御部６０は図７に示す処理を終了し、制御部６０の処理がステップＳ１５に移行する。

ステップＳ２４：測定回数の判定
ステップＳ２４では、制御部６０はステップＳ２１の処理を行った回数が所定回数であるか否かを判定する。つまり、制御部６０は、ステップＳ２１で更新した計数値が所定回数であるか否かを判定する。

ステップＳ２１の処理を行った回数（計数値）が所定回数未満であれば、制御部６０の処理がステップＳ２１に戻る（ステップＳ２４：ＮＯ）。これにより、ステップＳ２１の処理が所定回数に到達するまで、ステップＳ２１，Ｓ２２，Ｓ２４の処理が繰り返される。ステップＳ２１が繰り返されることによって、制御部６０は光検出器５５から入力した被測定光の波長毎の光量を順次記憶する。
一方、ステップＳ２１の処理を行った回数（計数値）が所定回数に到達していれば、制御部６０の処理がステップＳ２５に移行する（ステップＳ２４：ＹＥＳ）。

ステップＳ２５：総光量を算出
ステップＳ２５では、制御部６０は、順次記憶した光量を積算して、それらの光量の総和を算出する。その後、制御部６０は、第１実施形態の図６に示したステップＳ１５〜Ｓ１７と同様の処理（ステップＳ３０〜Ｓ３２）を実行する。

以上に説明したことを除いて、第２実施形態の光測定装置は第１実施形態の光測定装置１と同じである。第２実施形態の光測定装置は、第１実施形態の光測定装置１の効果（１）〜（７）と同様の効果のほか、次のような効果をもたらす。

（１） 光測定中、つまり制御部６０が図９に示すステップＳ２１、Ｓ２２，Ｓ２４の処理を繰り返している最中に、ユーザーがプローブ３０の先端を測定箇所から離すと、制御部６０の処理がステップＳ２５に移行し、光測定が中止される。そのため、不正確な測定が行われない。

（２） 測定の中止後に第二光源５６が自動的に点灯するから（ステップＳ２２：ＮＯ、ステップＳ３１）、再度の光測定の際にもユーザーがプローブ３０の先端の周囲を観察しながらプローブ３０の先端を測定箇所に狙いを定めることができる。

なお、測定中止時点（例えば、ステップＳ２２：ＮＯ、ステップＳ２３）で、それまでに測定した回数と得られたデータを、記憶装置などに記録して残しておき後に活用できるようにしてもよいし、無効にしてもよい。

〔第３の実施の形態〕
第３実施形態における光測定装置について説明する。以下では、第３実施形態の光測定装置と第１実施形態又は第２実施形態の光測定装置とが相違する点について説明する。

第３の実施の形態では、図１０に示すようにプローブ３０が、検出器である近接センサー（近接スイッチ）３８を有する。近接センサー３８は、プローブ３０の先端つまり可撓性シース３１の先端３１ｂに取り付けられている。リード線３９が可撓性シース３１に挿入されている。リード線３９が可撓性シース３１の基端３１ａから先端３１ｂにかけて可撓性シース３１に沿って設けられ、リード線３９の基端が端子としてコネクタ３７に固定され、リード線３９の先端が近接センサー３８に接続されている。コネクタ３７がプローブ接続部５７に接続されると、リード線３９の基端がベースユニット５０の制御部６０に接続される。

近接センサー３８は、プローブ３０の先端が測定対象物９９に近接したことを検知するものである。つまり、プローブ３０の先端及び近接センサー３８が測定対象物９９に近接する場合には、近接センサー３８の出力がハイレベルであり、そのハイレベルの信号が制御部６０に入力される。一方、プローブ３０の先端及び近接センサー３８が測定対象物９９に近接しない場合には、近接センサー３８の出力がローレベルであり、そのローレベルの信号が制御部６０に入力される。なお、逆に、近接センサー３８が測定対象物９９に近接する場合に近接センサー３８の出力がローレベルであり、近接センサー３８が測定対象物９９に近接しない場合に近接センサー３８の出力がハイレベルであってもよい。また、近接センサー３８がプッシュスイッチであってもよい。なお、２値的な出力を発生する近接センサーだけでなく、出力が連続的に変化するようなタイプの近接センサーを用いて、近接センサーの出力が所定の閾値を超えるか否かで近接を判定するようにしてもよい。

第３実施形態では、制御部６０が図１１及び図１２に示す処理を実行する。第１又は第２実施形態では、制御部６０はプローブ３０の先端が管腔の内壁に近接したか否かを光検出器５５の出力に基づいて判定する（図６又は図９のステップＳ１１参照）のに対して、第３実施形態では、制御部６０はプローブ３０の先端が管腔の内壁に近接したか否かを近接センサー３８の出力に基づいて判定する。具体的には、プローブ３０の先端が測定対象物９９に近接したことが近接センサー３８によって検知されない場合、制御部６０が第二光源５６の点灯を継続する。一方、近接センサー３８の出力により、プローブ３０の先端が管腔の内壁に近接したことを検知すると、制御部６０は、図１１に示す各ステップの処理を実行する。図１１に示すフローチャートのステップＳ１１２〜Ｓ１１７は、図６に示すフローチャートのステップＳ１２〜Ｓ１７に相当し、第二光源消灯（Ｓ１１２）、第一光源点灯（Ｓ１１３）、測定制御（Ｓ１１４），第一光源消灯（Ｓ１１５）、第二光源点灯（Ｓ１１６）及び離間判定（Ｓ１１７）の各処理を実行する。

本実施形態においては、ステップＳ１１４において光検出器５５が露光されて、被測定光の波長毎の光量が光検出器５５によって測定されている期間も含め、制御部６０は、図１のフローチャートに示す処理を実行している間も、プローブ３０の先端が管腔の内壁に近接したか否かを近接センサー３８の出力に基づいて判定する。

従って、プローブ３０の先端及び近接センサー３８が測定対象物９９に近接したことが近接センサー３８によって検知されなくなった場合には、測定制御処理中であったとしても、図１２に示すフローチャートに移行する。そして、現在測定中であることを条件に（ステップＳ１２０）、制御部６０が露光中止信号を光検出器５５に出力することによって、光検出器５５による光量の測定を中止する。また、制御部６０が出力装置５２を制御して、測定エラーの旨が出力装置５２によって出力される（ステップＳ１２１）。或いは、制御部６０がスピーカー５８に音声信号を出力し、スピーカー５８から警告音が出力される。その後、制御部６０の処理が次の処理に移行し、第一光源の消灯処理（ステップＳ１２２）及び第二光源の点灯処理（ステップＳ１２３）を実行する。ステップＳ１２０において、測定制御処理中でなければ元のフローに戻る。

なお、第３の実施の形態では、測定終了後のプローブ３０の離間判定の際に照明が不要であるため、図１１に示すステップＳ１１７の処理は、ステップＳ１１４とステップＳ１１５の間、ステップＳ１１５とステップＳ１１６の間の何れに行われてもよい。

以上に説明したことを除いて、第３実施形態の光測定装置は第１実施形態の光測定装置１又は第２実施形態の光測定装置と同じである。第３実施形態の光測定装置は、第１実施形態の光測定装置１の効果（１）〜（６）、及び、第２実施形態の光測定装置の効果（１）〜（２）と同様の効果をもたらす。更に、第３実施形態の光測定装置は、次のような効果ももたらす。

（１） プローブ３０の先端に近接センサー３８が設けられているから、プローブ３０の先端が管腔の内壁に近接したことを正確に検知することができる。

〔第４の実施の形態〕
第１実施形態では、制御部６０はプローブ３０の先端が管腔の内壁に近接したか否かをプローブ３０側のシステムを構成する光検出器５５の出力に基づいて判定する。それに対して、第４実施形態では、電子カメラ１３の出力映像信号が内視鏡プロセッサ２５を介して制御部６０に入力され、制御部６０はプローブ３０の先端が管腔の内壁に近接したか否かを電子カメラ１３の出力映像信号に基づいて判定する。

具体的には、第一実施形態の図６に示すフローチャートと同様に制御を行う。すなわち、まず、制御部６０は、内視鏡プロセッサ２５から入力した映像信号に基づく画像の平均階調値を算出する。そして、制御部６０は、平均階調値を所定の第一閾値と比較する。第一閾値は、プローブ３０の先端が管腔の内壁に近接した状態における画像の平均階調値と、プローブ３０の先端が管腔の内壁から離れた状態における画像の平均階調値とを仕切るものである。なお、制御部６０は、内視鏡プロセッサ２５から入力した映像信号のフレーム毎にステップＳ１１の判定処理を行う。

ユーザーがプローブ３０の先端を管腔の内壁に近接させないと、電子カメラ１３に入射される照明光の強度が低い。そのため、平均階調値が所定の第一閾値を下回るので、制御部６０はプローブ３０の先端が管腔の内壁に近接していない（近接無し）と判定する（ステップＳ１１：ＮＯ）。そして、制御部６０は、継続して、内視鏡プロセッサ２５から入力した映像信号に基づく画像の平均階調値を算出して、それを所定の第一閾値と比較する（ステップＳ１１）。

一方、ユーザーがプローブ３０の先端を管腔の内壁に近接させると、電子カメラ１３に入射される照明光の強度が高くなる。そのため、平均階調値が所定の第一閾値以上になる。そうすると、制御部６０はプローブ３０の先端が管腔の内壁に近接した（近接有り）と判定し（ステップＳ１１：ＹＥＳ）、制御部６０の処理がステップＳ１２に移行する。

また、第４実施形態では、ステップＳ１７の時に、制御部６０は、プローブ３０の先端が管腔の内壁から離間したか否かを電子カメラ１３の出力映像信号に基づいて判定する。つまり、制御部６０は、内視鏡プロセッサ２５から入力した映像信号に基づく画像の平均階調値を算出し、平均階調値を所定の閾値と比較する（ステップＳ１７）。従って、ユーザーがプローブ３０の先端を管腔の内壁から離さないと、平均階調値が所定閾値以上であるので、プローブ３０の先端が管腔の内壁から離れるまで制御部６０がステップＳ１７の判定処理を継続する（ステップＳ１７：ＮＯ）。一方、ユーザーがプローブ３０の先端を管腔の内壁から離すと、平均階調値が所定閾値を下回るので、制御部６０の処理がステップＳ１１に移行する（ステップＳ１７：ＹＥＳ）。

以上に説明したことを除いて、第４実施形態の光測定装置は第１実施形態の光測定装置１と同じである。第４実施形態の光測定装置は、第１実施形態の光測定装置１の効果（１）〜（７）と同様の効果をもたらす。

〔変形例〕
以下、変形例１〜４について説明する。以下の変形例１〜３は上述した第１〜第４の何れの実施の形態にも適用される。以下の変形例４は第１、第２及び第４の何れの実施の形態にも適用される。

〔変形例１〕
上記第１〜第４の実施の形態では、プローブ３０と内視鏡１０が別体であり、プローブ３０をチャネル１５に挿入したり、プローブ３０をチャネル１５から引き抜いたりすることができる。それに対して、本変形例１は、プローブ３０と内視鏡１０を一体としている。プローブ３０の先端が挿入部１１の先端から突出した状態でプローブ３０と内視鏡１０が固定されていてもよい。

〔変形例２〕
本変形例２においては、図５に示すステップＳ５において、ユーザーが入力装置５１を操作したら、制御部６０が第二光源５６とともに第一光源５４を点灯する。制御部６０が図６に示す処理を開始した後も制御部６０が第一光源５４の点灯を継続し、例えば、図６に示す処理においてはステップＳ１３及びステップＳ１５の処理が省略される。そして、制御部６０がステップＳ１１，Ｓ１２，Ｓ１４，Ｓ１７の処理を繰り返し行っている際に、ユーザーが入力装置５１を操作することによって光測定終了コマンドが入力装置５１から制御部６０に入力されると、制御部６０が第一光源５４を消灯する。図９、図１１のフローチャートにおいても同様である。第一光源５４が常時点灯されるから、励起光が安定し、第二光源５６の点灯後すぐに光測定を行うことができる。なお、制御部６０が図６、図９、図１１に示す処理を中止する際に、第二光源５６が点灯されていれば、制御部６０が第二光源５６も消灯する。

〔変形例３〕
上述した図９のステップＳ２４において、測定回数に基づいて測定の完了を判断しているが、これに限るものではなく、例えば測定した光量に基づいて測定の完了を判断することもできる。すなわち、測定した光量を積算しておき、その積算光量が所定の閾値を超えるか否かで測定の完了を判断する。このようにすると、測定回数のカウントが不要となる。図６、図１１についても同様である。

〔変形例４〕
第１、第２及び第４実施形態においては、測定制御処理終了後に、第二光源５６を点灯し第二光源５６による照明反射光を検出することで、プローブ３０の先端が一旦離間したことを判断しているが、これに限るものではなく、第一光源５４の照射光に基づく被測定光を用いて離間を判断するようにしてもよい。具体的には、以下のように構成する。制御部６０は、図６に示すステップＳ１４の後であってステップＳ１５の前に、ステップＳ１７の判定処理を行う。また、制御部６０は、ステップＳ２３又はステップＳ２５の後であってステップＳ３０の前に、図９に示すステップＳ３２の判定処理を行う。

変形例４においては、測定終了後の離間判定処理の際に第一光源５４が点灯しているため、励起光が管腔の内壁に照射され、被測定光が光検出器５５まで伝達され、更に被測定光が電子カメラ１３に入射する。

ステップＳ１７、Ｓ３２において、制御部６０が光検出器５５によって測定された所定波長の強度を所定閾値と比較する。或いは、ステップＳ１７、Ｓ３２において、制御部６０が内視鏡プロセッサ２５から入力した映像信号に基づく画像の平均階調値を算出し、平均階調値を所定の閾値と比較する。

従って、ユーザーがプローブ３０の先端を管腔の内壁から離さないと、光検出器５５によって測定された強度が所定閾値以上であるので（或いは、平均階調値が所定閾値以上であるので）、プローブ３０の先端が管腔の内壁から離れるまで制御部６０がステップＳ１７、Ｓ３２の判定処理を継続する（ステップＳ１７、Ｓ３２：ＮＯ）。一方、ユーザーがプローブ３０の先端を管腔の内壁から離すと、光検出器５５によって測定された強度が所定閾値を下回るので（或いは、平均階調値が所定閾値を下回るので）、制御部６０の処理がステップＳ１５、Ｓ３０に移行する（ステップＳ１７、Ｓ３２：ＹＥＳ）。このように、プローブ３０が測定対象物から離間したことを検知してから、第二光源５６を点灯させるので、測定終了後、プローブ３０が患部から離間せずに近接したままで光照射され続けることを防止することができる。

以上に幾つかの実施形態及び変形例について説明した。本発明の技術的範囲は上述した実施形態や変形例に限定されず、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で上述の実施形態や変形例から適宜変更可能である。

１ 光測定装置
１０ 内視鏡
１５ チャネル
３０ プローブ
３８ 近接センサー
５４ 第一光源
５５ 光検出器
５６ 第二光源
６０ 制御部

Claims (11)

1. 測定用の励起光を発する第一光源と、
   観察用の照明光を発する第二光源と、
   ケーブル状に設けられ、前記第一光源から発した励起光を基端から取り込んで先端まで伝達してその先端から出射し、前記第二光源から発した照明光を前記基端から取り込んで前記先端まで伝達してその先端から出射し、前記先端から出射された励起光によって測定対象物から発した被測定光を前記先端から取り込んで前記基端まで伝達し、前記先端から出射されて前記測定対象物で反射された照明反射光を前記先端から取り込んで前記基端まで伝達するプローブと、
   前記プローブの前記基端まで伝達した光の少なくとも特定波長の光の光量を測定する光検出器と、
   制御部と、を備え、
   前記制御部が、
   前記第二光源が点灯しているときに、前記プローブの前記先端と前記測定対象物との近接の有無を判定する近接判定処理と、
   前記近接判定処理における近接有りとの判定に基づいて、前記第二光源を消灯する第二光源消灯処理と、
   前記第二光源消灯処理後に、前記第一光源を点灯した状態で前記光検出器に測定を行わせる測定制御処理と、
   前記測定制御処理後に、前記第二光源を点灯する第二光源点灯処理とを実行する、
   ことを特徴とする光測定装置。
2. 前記光検出器が、前記プローブの前記基端まで伝達した照明反射光の強度を検出し、その強度を前記制御部に出力し、
   前記制御部が、前記近接判定処理において、前記光検出器の出力を所定の第一閾値と比較し、前記光検出器の出力が前記第一閾値以上である場合に近接有りと判定し、前記光検出器の出力が前記第一閾値を下回る場合に近接無しと判定する、
   ことを特徴とする請求項１に記載の光測定装置。
3. 前記制御部が、前記測定制御処理において前記光検出器によって測定された光量を所定の第二閾値と比較する比較処理を実行し、
   前記制御部が、前記比較処理の比較の結果前記光検出器によって測定された光量が前記第二閾値以上である場合に前記測定制御処理を継続し、
   前記制御部が、前記比較処理の比較の結果前記光検出器によって測定された光量が前記第二閾値を下回る場合に、前記測定制御処理を終了する、
   ことを特徴とする請求項２に記載の光測定装置。
4. 前記制御部は、複数回の短時間測定を繰り返すことで前記測定制御処理を行い、
   前記制御部が、前記比較処理の比較の結果前記光検出器によって測定された光量が前記第二閾値以上である場合に前記短時間測定の実行回数が所定回数になるまで前記比較処理及び前記短時間測定を繰り返し実行し、前記短時間測定が繰り返されることによって測定された光量を積算する、
   ことを特徴とする請求項３に記載の光測定装置。
5. 前記プローブが、その先端に設けられ、前記先端と前記測定対象物との近接を検知する近接センサーを有し、
   前記制御部が、前記近接判定処理において前記近接センサーによって近接が検知された場合に近接有りと判定し、
   前記制御部が、前記近接センサーによって近接が検知されない場合に近接無しと判定する、
   ことを特徴とする請求項１に記載の光測定装置。
6. 前記制御部が、前記測定制御処理中に、前記近接センサーによって近接の有無を判定する判定処理を実行し、
   前記制御部が、前記判定処理で近接有りと判定された場合に前記測定制御処理を継続し、
   前記制御部が、前記判定処理で近接無しと判定された場合に前記測定制御処理を終了する、
   ことを特徴とする請求項５に記載の光測定装置。
7. 先端に電子カメラを有するとともに、基端側から前記先端まで形成されているとともに前記プローブが挿通されるチャネルを有した内視鏡をさらに備え、
   前記電子カメラによって撮像される画像信号が前記制御部に入力され、
   前記制御部が、前記近接判定処理において、前記電子カメラによって撮像された画像の平均階調値を所定の第一閾値と比較し、
   前記制御部が、前記平均階調値が前記第一閾値以上である場合に近接有りと判定し、
   前記制御部が、前記平均階調値が前記第一閾値を下回る場合に近接無しと判定する、
   ことを特徴とする請求項１に記載の光測定装置。
8. 前記制御部が、前記測定制御処理終了後に、前記プローブの測定対象物からの離間を条件として、前記第二光源点灯処理を実行する、
   ことを特徴とする請求項３から６の何れか一項に記載の光測定装置。
9. 前記制御部が、前記測定制御処理終了後に、前記第二光源点灯処理を実行し、前記プローブの測定対象物からの離間を条件として、次回の前記近接判定処理に移行する、
   ことを特徴とする請求項１、２、７の何れか一項に記載の光測定装置。
10. 前記制御部が、
    前記近接判定処理の後であって前記測定制御処理の前に、前記第一光源を点灯する第一光源点灯処理と、
    前記測定制御処理の後に、前記第一光源を消灯する第一光源消灯処理と、を実行する、
    ことを特徴とする請求項１から９の何れか一項に記載の光測定装置。
11. 前記制御部が、前記測定制御処理より前に前記第一光源を点灯する第一光源点灯処理を実行して、その後前記第一光源の点灯を継続する、
    ことを特徴とする請求項１から９の何れか一項に記載の光測定装置。

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