JP2013205390A - 吸収分光計測装置 - Google Patents

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典彦 西澤
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Abstract

【課題】高速・高精度・高分解能な吸収分光計測装置を実現すること。
【解決手段】吸収分光計測装置は、SC光源10、長尺光ファイバ20、時間波形計測装置30を有している。SC光源10から出力されるSC光(スーパーコンティニューム光)は、長尺光ファイバ20に入力され、その波長分散によって時間幅が拡大されて出力される。そして、長尺光ファイバ20から出力されたSC光は試料40に照射され、時間波形計測装置30によって試料40を透過したSC光の時間波形が計測される。この時間波形とSC光のスペクトルとの対応から、吸収分光計測を行う。SC光源10には、パルス光からソリトンパルスを生成し、ソリトンパルスを非線形光学効果によってSC光に変換して出力するものを用いる。
【選択図】図1

Description

本発明は、高速、広帯域、高感度、高分解能な吸収分光計測装置に関する。
吸光分光計測は、膜厚測定、プラズマモニター、濃度・成分測定などに重要な基本的計測技術である。これまで、吸光分光計測では、主に広帯域光源(スペクトル幅の広い光源)と、分光器とを用いている。また、波長可変光源と受光器を用いた計測も行われている。その方法では時間ドメインでのため高速で測定することができる。
他にも、パルス光を長尺な光ファイバに通し、光ファイバの分散特性によってパルス幅を拡大し、その光を試料に照射し、試料による吸収を受けた光の時間波形を計測することにより吸収分光計測を行う方法も知られている(非特許文献1〜3)。この方法は時間ドメインであるため高速に測定することができる。
また、他の技術として、波長帯域が数百nmに及ぶ広帯域な光であるスーパーコンティニューム光(SC光)を生成する技術が知られている。そのスーパーコンティニューム光を生成する方法として、超短パルス光からソリトンパルスを生成し、ソリトンパルスを正常分散特性の高非線形光ファイバに導入することにより、ソリトンパルスをスーパーコンティニューム光に変換して生成する技術が知られている(特許文献1、2、非特許文献4〜6)。このような方法によって生成したスーパーコンティニューム光は、波長帯域および半値幅が数百nmの非常に広帯域な光であり、また非常に平坦かつなめらかなスペクトル形状である。さらに雑音も低減され、微細構造も形成されていない。
非特許文献1〜3には、光源としてスーパーコンティニューム光を用いる旨の記載がある。しかし、そのスーパーコンティニューム光の生成方法は上記のようなソリトンパルスをスーパーコンティニューム光に変換する方法ではない。非特許文献1は時間幅の広いnsパルスとシングルモード光ファイバを用いてスーパーコンティニューム光を生成する方法であり、非特許文献3は、時間幅の広いnsパルスとフォトニック結晶ファイバを用いてスーパーコンティニューム光を生成する方法である。
特開2008−216716号公報 特開2009−169041号公報
C. F. Kaminski, R. S. Watt, A. D. Elder, J. H. Frank, J. Hult, Appl. Phy. B 92, 367-378(2008) S. T. Sanders, Appl. Phys. B 75, 799-802(2002) Y. Sych, R. Engelbrecht, B. Schmauss, D. Kozlov, T. Seeger, A. Leipertz, OPTICS EXPRESS No.22 Vol.18, 22762-22771(2010) J.Takayanagi, N. Nishizawa, Jpn. Appl. Phys., Vol.45, No.16, (2006), L441-L443 N. Nishizawa, J. Takayanagi, J. Opt. Soc. Am. B/Vol.24, No.8(2007) N. Nishizawa, Masaru Hori, Appl. Phys. Express 1 (2008) 022009
広帯域光源と分光器を用いた従来の吸光分光計測では、広帯域光源の単位スペクトル当たりの輝度が低く、感度が悪いため、測定に積算のための時間がかかった。また、高速・高感度な分光器も存在しなかった。さらに、分光器を用いると、測定波長範囲と分解能はトレードオフの関係にあるため、広い測定波長帯域と高い分解能とを両立させることはできなかった。また、波長可変光源と受光器を用いた従来の吸収分光計測では、波長可変光源のスペクトル幅よりも狭い吸収線を測定することができず、分解能の低さが問題である。
また、非特許文献1〜3に記載の吸収分光計測では、検出系の時間応答(時間分解能)は、周波数応答の逆数になる。たとえばデジタルオシロスコープの帯域が20GHzならば、時間応答は50psである。この時間応答よりも光のパルス幅が広いと、それは時間的なゆらぎの成分となる。したがって、検出系の時間応答が50psである場合、スーパーコンティニューム光のパルス幅(時間幅)は50ps以下である方が、より精度のよい計測を行うことができる。
しかし、非特許文献1では、nsパルスを用いてスーパーコンティニューム光を生成しており、生成されるスーパーコンティニューム光のパルス幅は広い。そのため、上記のように時間的なゆらぎ成分が多く、測定誤差が大きくなってしまう。
また、非特許文献2では、超短パルスレーザーとゼロ分散波長がレーザー光の波長に近い高非線形ファイバを用いてスーパーコンティニューム光を生成しており、そのようなスーパーコンティニューム光は雑音が大きく、測定誤差が大きい。
また、非特許文献3では、波長1μmの高出力短パルスから複数のソリトンの重ね合わせによってスーパーコンティニューム光を生成しており、その時間幅がかなり広がっている。したがって、時間的なゆらぎによって雑音が大きく、やはり測定誤差が大きい。
そこで本発明は、高速・高精度・高分解能・広帯域な吸収分光計測装置を実現することを目的とする。
請求項1に記載の発明は、パルス光からソリトンパルスを生成し、ソリトンパルスを非線形光学効果によってスーパーコンティニューム光に変換して出力する光源と、光源からのスーパーコンティニューム光を入射させ、分散によりスーパーコンティニューム光のパルス幅を拡大させて出力する光ファイバと、光ファイバから出力されるスーパーコンティニューム光を試料に照射し、試料を透過した光の、あるいは試料によって反射された光の時間波形を測定する測定装置と、を有し、光源の出力するスーパーコンティニューム光の波長帯域は、光ファイバのゼロ分散波長以上の領域もしくはゼロ分散波長以下の領域にのみ存在する、ことを特徴とする吸収分光計測装置である。
光源におけるパルス光を生成する手段には、任意のレーザーを用いることができ、たとえばエルビウムドープファイバーレーザーやチタンサファイアレーザーなどを用いることができる。レーザーの波長、繰り返し周波数は任意であるが、パルス幅は1ps以下であることが望ましい。より望ましくは500fs以下である。レーザーの波長により、光源の生成するスーパーコンティニューム光の波長帯域を制御することができる。また、光源におけるパルス光からソリトンパルスを生成する手段には、エルビウムなどの希土類元素ドープのファイバや、大口径フォトニック結晶ファイバなどを用いることができる。単一のパルスから単一のソリトンパルスを生成する手段であることが望ましい。また、光源におけるソリトンパルスからスーパーコンティニューム光を生成する手段には、高非線形ファイバなどを用いることができる。ソリトンパルスを生成する手段は、単一のパルスから単一のソリトンパルスを生成する手段であることが望ましく、スーパーコンティニューム光を生成する手段は、正常分散の特性を示す光ファイバによる非線形光学効果によって生成する手段であることが望ましい。より雑音の小さなスーパーコンティニューム光を生成することができ、より高精度な吸収分光計測が可能となる。
光源が出力するスーパーコンティニューム光の波長帯域幅は、100nm以上であることが望ましい。広帯域に分光測定を行うことができる。より望ましくは200〜2000nmである。また、時間幅は、測定装置の時間分解能以下であることが望ましい。スーパーコンティニューム光の時間的なゆらぎ成分が少なくなり、より高精度に吸収分光計測を行うことができる。
光ファイバは、分散の大きなものを用いることが望ましい。たとえばスーパーコンティニューム光の中心波長における分散が17ps/(km・nm)以上のものを用いることが望ましい。スーパーコンティニューム光のパルス幅を十分に拡大させるために必要な光ファイバの長さを短くすることができ、光ファイバによる光の損失を低減することができるからである。スーパーコンティニューム光のパルス幅は、なるべく広げた方が分解能の高い測定ができ望ましいが、広げすぎると前後のパルスと重なってしまう。そのため、パルスの繰り返し周波数の逆数以下のパルス幅とする必要がある。パルス幅は30ns以上に拡大させることが望ましい。30nsよりも小さいと、分光測定において波長分解能が低くなって望ましくない。また、波長分解能向上のため、パルス幅は、3万倍以上に拡大させることが望ましい。
光ファイバから出力されるスーパーコンティニューム光の、パルス幅に対する波長帯域幅の比は、小さいほど波長分解能が高くなる。そのため、測定対象や測定装置の時間応答に応じて、パルス幅に対する波長帯域幅の比を設計する。具体的には、パルス幅に対する波長帯域幅の比を、測定装置の時間分解能に対する測定に必要な波長分解能の比以下の値に設計することで、高精度な吸収分光計測を行うことができる。測定に必要な波長分解能とは、たとえば試料の全体のスペクトル形状を測定したい場合には、各吸収スペクトルの間隔を分解できればよいので、吸収スペクトルの間隔が測定に必要な波長分解能である。また、吸収スペクトルの幅を測定したい場合には、その幅が測定に必要な波長分解能である。
光ファイバには、シングルモード光ファイバや分散シフトシングルモード光ファイバ、分散補償ファイバーなどを用いることができる。特に分散補償ファイバーは単位長さ当たりの分散量が大きく、短い長さで効率的にパルス幅を広げることができる。
スーパーコンティニューム光の波長帯域は、光ファイバのゼロ分散波長以上の領域もしくはゼロ分散波長以下の領域にのみ存在するようにする必要がある。ゼロ分散波長を含むと、ゼロ分散波長を中心として折り返しを生じ、スーパーコンティニューム光のスペクトルと時間波形とが1対1に対応しないため、分光計測の精度が悪化してしまうためである。スーパーコンティニューム光の波長帯域をこのような範囲とするためには、光源の生成するパルス光の波長などを制御することで波長帯域を制御する方法を用いてもよいし、光学フィルタによってゼロ分散波長よりも大きい波長、あるいは小さい波長をカットする方法を用いてもよい。
測定装置は、数パルス分の時間波形を計測して積算し平均化してもよい。積算することによりノイズの影響を低減することができ、より高精度・高分解能な吸収分光計測が可能である。
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の発明において、光源は、パルス光から単一のソリトンパルスを生成し、そのソリトンパルスを正常分散の特性を示す光ファイバにおける非線形効果によってスーパーコンティニューム光に変換する、ことを特徴とする吸収分光計測装置である。
請求項3に記載の発明は、請求項1または請求項2に記載の発明において、光ファイバから出力される前記スーパーコンティニューム光は、パルス幅に対する波長帯域幅の比が、測定装置の時間分解能に対する測定に必要な波長分解能の比以下であることを特徴とする吸収分光計測装置である。
請求項4に記載の発明は、請求項1から請求項3に記載の発明において、光源の出力するスーパーコンティニューム光の時間幅は、測定装置の時間分解能以下である、ことを特徴とする吸収分光計測装置である。
請求項5に記載の発明は、請求項1から請求項4に記載の発明において、光源は、パルス光を生成するファイバーレーザーと、パルス光を入射させ、ソリトンパルスを生成して出力する大口径フォトニック結晶ファイバと、ソリトンパルスを入射させ、ソリトンパルスをスーパーコンティニューム光に変換する高非線形ファイバと、を有することを特徴とする吸収分光計測装置である。
本発明によれば、スーパーコンティニューム光の時間波形の計測により吸収分光計測を行うため、高速に測定が可能である。また、ソリトンパルスを非線形光学効果によりスーパーコンティニューム光に変換したものを用いているため、時間波形の雑音によるゆらぎが少なく、高精度・高分解能な吸収分光計測を行うことができる。また、スーパーコンティニューム光を用いるため、広帯域な吸収分光計測が可能である。
本発明の吸収分光計測装置は、高精度・高分解能であるため、ガスなどの細い吸収線を有したスペクトルの測定に有効である。
実施例1の吸収分光計測装置の構成を示した図。 SC光源10の出力するSC光のスペクトルを示したグラフ。 SC光源10の構成を示した図。 SC光の波長と時間との対応を示したグラフ。 長尺光ファイバ20から出力されるSC光のスペクトルを示した図。 長尺光ファイバ20から出力されるSC光の時間波形を示した図。 図6の時間波形の一部を拡大して示した図。 試料40を透過したSC光の時間波形の一部を拡大して示した図。 積算して平均化したSC光の時間波形を示した図。 試料40を透過したSC光のスペクトルを光スペクトルアナライザによって測定した図。
以下、本発明の具体的な実施例について図を参照に説明するが、本発明は実施例に限定されるものではない。
図1は、実施例1の吸収分光計測装置の構成を示した図である。実施例1の吸収分光計測装置は、SC光源10と、長尺光ファイバ20と、時間波形計測装置30と、によって構成されている。また、図1には、各段階におけるスーパーコンティニューム光(SC光)の時間波形を上側に、スペクトルを下側に模式的に図示している。以下、装置の各構成について詳しく説明する。
[SC光源10]
SC光源10は、スーパーコンティニューム光(SC光)を出力する光源である。SC光源10が出力するSC光のスペクトルは、図2に示すように、波長帯域が1310〜2050nmまで広がり、半値幅がおよそ350nmの広帯域な光である。一方、SC光の時間波形は、半値幅6.7ps、繰り返し周波数200kHzのパルス光である。なお、図2のスペクトルにおいて1800〜1950nmに吸収線が見られるが、これはSC光源10を構成するファイバに含まれる水によって吸収を受けたものと考えられる。
SC光源10の出力するSC光の波長帯域は上記範囲に限るものではないが、後述する理由により長尺光ファイバ20の正常分散領域か異常分散領域の一方の領域にのみ、SC光の波長帯域が存在するようにする必要がある。そのような範囲であれば、波長帯域幅は任意である。ただし、波長帯域幅が広いほど広帯域に分光計測を行うことができ望ましく、100nm以上の波長帯域幅であることが望ましい。より望ましくは200〜2000nmである。また、時間幅は、時間波形計測装置30の時間分解能以下とすることが望ましい。SC光の時間的なゆらぎ成分が少なくなり、より高精度に吸収分光計測を行うことができる。実施例1では、後述のように時間波形計測装置30の時間分解能は50psであり、SC光源10の出力するSC光の時間幅はこれよりも小さな6.7psとなっている。
図3は、SC光源10の詳細な構成を示した図である。SC光源10は、ファイバーレーザー100と、大口径フォトニック結晶ファイバ110と、高非線形ファイバ120と、によって構成されている。ファイバーレーザー100は、パルス幅1ps、パルスエネルギー1μJ、繰り返し周波数200kHzのパルス光を出力する。大口径フォトニック結晶ファイバ110は、ファイバーレーザー100の出力するパルス光の単一のパルスを単一のソリトンパルスに変換する。大口径フォトニック結晶ファイバ110から出力された光はLPF(ローパスフィルタ)によって短波長側がカットされた後、正常分散の特性を示す高非線形ファイバ120に入力され、非線形光学効果によってソリトンパルスがSC光に変換されて出力される。
なお、ファイバーレーザー100には、psオーダー以下のパルス幅のパルス光を発生させる任意のレーザーを用いることができる。たとえば、リング型のエルビウムドープファイバーレーザーを用いることが可能である。レーザーの波長は任意であり、その波長によりSC光源10の出力するSC光の波長帯域を設計することができる。パルス光のパルス幅は1ps以下が望ましく、500fs以下がより望ましい。
また、SC光源10ではソリトンパルスを生成する手段として大口径フォトニック結晶ファイバ110を用いたが、他の手段を用いてソリトンパルスを生成してもよい。たとえば、エルビウム等の希土類元素ドープのファイバーを用い、WDM(波長分割多重装置)を用いて励起光を希土類元素ドープのファイバーに導入することで、ラマンソリトンパルスを生成する手段であってもよい。ソリトンパルスのパルス幅(半値幅)は500fs以下が望ましく、200fs以下がより望ましい。特に、パルス光の単一のパルスを単一のソリトンパルスに変換する手段であることが望ましい。
また、SC光源10では、非線形光学効果によりソリトンパルスからSC光を生成する手段として、高非線形ファイバ120を用いているが、非線形光学効果を生じさせるものであれば他の手段を用いてもよい。
[長尺光ファイバ20]
長尺光ファイバ20は、長さ10kmのシングルモード光ファイバであり、ゼロ分散波長は1310nmである。長尺光ファイバ20には、SC光源10からのSC光が入力され、分散によってSC光のパルス幅(時間幅)が拡大されて出力される。長尺光ファイバ20から出力されるSC光は、試料(CH4 が封入されたガスセル)40に照射される。
長尺光ファイバ20には、通常のシングルモード光ファイバ以外にも、波長分散を有する任意の構造の光ファイバを用いることができる。たとえば、ゼロ分散波長が通常のシングルモード光ファイバとは異なる波長にシフトされた分散シフト・シングルモード光ファイバや、分散補償ファイバー(DCF;Dispersion compensation fiber )を用いることができる。特に、分散補償ファイバーは、単位長さ当たりの分散量が大きく、短いファイバーでも効率的にパルス幅を広げることができる。
長尺光ファイバ20の長さは、実施例1では10kmとしたが、入力されるSC光の時間幅を十分に拡大させる長さであればよい。長尺光ファイバ20が長いほどSC光の時間幅を拡大させることができ、分光測定の波長分解能を高くすることができるが、長すぎると長尺光ファイバ20による光の損失が増大して望ましくない。
長尺光ファイバ20から出力されるSC光の、パルス幅(時間幅)に対する波長帯域幅の比は、実施例1では5nm/nsである。この比は小さいほど分光測定の波長分解能が高くなる。そこで、測定対象の測定に必要な波長分解能や時間波形計測装置30の応答時間に応じて、パルス幅に対する波長帯域幅の比を設計する。この比は、長尺光ファイバ20によってSC光の時間幅をどれだけ拡大させるかを示す値でもある。
たとえば、CH4 ガス全体の吸収スペクトル形状を計測したい場合、CH4 ガスの吸収スペクトルの間隔は2nmであるため、2nmを分解できればよい。時間波形計測装置30の応答時間(時間分解能)は後述のように50psであるため、パルス幅に対する波長帯域幅の比は40nm/ns以下にすればよい。したがって、長尺光ファイバ20によってSC光の時間幅を12.5ns以上に拡大させればよい。
また、H2 Oガス全体の吸収スペクトル形状を計測したい場合、H2 Oガスの吸収スペクトルは多数あり、間隔が約0.1nmである。そのため、0.1nmを分解できればよい。この場合、パルス幅に対する波長帯域幅の比は2nm/ns以下とすればよい。したがって、長尺光ファイバ20によってSC光の時間幅を250ns以上に拡大させればよい。
また、CH4 ガスの吸収スペクトルの幅を計測したい場合、吸収スペクトルの幅は38pm程度であるため、パルス幅に対する波長帯域幅の比は0.77nm/ns以下とする必要がある。したがって、長尺光ファイバ20によってSC光の時間幅を650ns以上に拡大させればよい。
このように、長尺光ファイバ20から出力されるSC光のパルス幅(時間幅)に対する波長帯域幅の比は、時間波形計測装置30の時間分解能に対する測定に必要な波長分解能の比以下の値に設計することで、精度のよい吸収分光計測を行うことが可能となる。
また、長尺光ファイバ20には、分散が大きい特性を有したものを用いることが好ましい。光の時間幅を十分に拡大させるために必要な長尺光ファイバ20の長さを短くすることができ、長尺光ファイバ20による光の損失を減少させることができるためである。入射させるSC光の中心波長における分散は17ps/(km・nm)以上のものを用いることが望ましい。
また、SC光源10は出力するSC光の波長帯域が1310nm以上であり、長尺光ファイバ20のゼロ分散波長1310nmを含まない波長帯域となっている。つまり、SC光の波長帯域は、長尺光ファイバ20の異常分散領域にのみ存在している。しかし、SC光源10として長尺光ファイバ20のゼロ分散波長を含む波長帯域のSC光を生成するものを用い、そのSC光を光学フィルタに通すことで、ゼロ分散波長1310nmより短波長側(あるいは長波長側)をカットすることで、SC光の波長帯域内に長尺光ファイバ20のゼロ分散波長が含まれないようにしてもよい。
逆に、SC光源10は出力するSC光の波長帯域を、長尺光ファイバ20のゼロ分散波長1310nm以下となるようにしてもよい。つまり、長尺光ファイバ20の正常分散領域にのみ存在するようにしてもよい。
いずれにしろ、SC光の波長帯域は長尺光ファイバ20のゼロ分散波長を含む連続した帯域ではなく、長尺光ファイバ20の正常分散領域か異常分散領域の一方にのみ存在している。SC光の波長帯域が長尺光ファイバ20のゼロ分散波長を含む連続した帯域だと、図4(a)のように、ゼロ分散波長λ0を中心として折り返しが生じ、SC光のパルスの時間と波長とが1対1に対応せず、SC光のスペクトルと時間波形との対応が取れず分光測定することができない、あるいは測定精度を著しく低下させてしまう。一方、SC光の波長帯域が長尺光ファイバ20の正常分散領域か異常分散領域の一方にのみ存在していると、図4(b)、(c)のように、SC光のパルスの時間と波長とが1対1に対応し、SC光のスペクトルと時間波形とを1対1に対応付けることができる。そのため、後述のようにSC光の時間波形の測定により分光測定が可能となる。
[時間波形計測装置30]
時間波形計測装置30は、光の時間波形を測定する装置であり、光を受光して電気信号に変換するPINフォトダイオードと、PINフォトダイオードによって変換された電気信号の時間波形を測定する高速オシロスコープで構成されている。この時間波形計測装置30により、試料40を透過した長尺光ファイバ20からの光の時間波形を測定する。PINフォトダイオードの帯域は45GHz(時間応答は約22.2ps)であり、高速オシロスコープの帯域は20GHz(時間応答は50ps)である。そのため、時間波形計測装置30の時間応答は50psである。
次に、実施例1の吸収分光計測装置を用いた吸収分光計測方法を説明する。
SC光源10から出力されるSC光は、長尺光ファイバ20に入力され、その波長分散によってパルスの時間幅が拡大されて出力される。そして、長尺光ファイバ20から出力されたSC光は試料40(CH4 が封入されたガスセル)に照射され、時間波形計測装置30によって試料40を透過したSC光の時間波形が計測される。この計測した時間波形とSC光のスペクトルとの対応から、吸収分光計測を行う。
図5は、長尺光ファイバ20から出力されるSC光のスペクトルを示した図であり、図6は、長尺光ファイバ20から出力されるSC光の時間波形を示した図である。また、図7は、その時間波形の一部(図6の5〜25nsの範囲)を拡大した図である。
図5のように、長尺光ファイバ20から出力されるSC光は、波長帯域が1310nmから1850nmで、半値幅がおよそ250nmの広帯域な光であることがわかる。なお、図2と図5を比較すると、長尺光ファイバ20に入力することで1850〜2050nmの帯域の光強度が消滅しているが、これは長尺光ファイバ20に含まれる水によって吸収されてしまったためと考えられる。
また、図6のように、長尺光ファイバ20から出力されるSC光の時間波形は、パルスの中心を0nsとして、−25〜40nsに広がっており、時間幅(半値幅)はおよそ40nsである。この時間波形において、時間の小さい側はSC光の短波長側に対応し、時間の大きい側は長波長側に対応している。SC光の波長帯域が長尺光ファイバ20の異常分散領域にあるので(図4(b)参照)、波長が長いほど群速度が遅くなり、到達時間が遅れ、波長が短いほど群速度が速くなり、到達時間が速くなるためである。また、時間波形の時間と、SC光の波長とは1対1に対応している。したがって、時間波形計測装置30において測定したSC光の時間波形から、SC光のスペクトルを測定することができる。
図8は、時間波形計測装置30によって測定したSC光の時間波形の一部(図7と同一の範囲)を拡大して示した図である。図8は1パルス分の測定であり、測定時間は5μsである。また、図9は、測定を16回繰り返して積算し平均化したSC光の時間波形の一部(図7と同一の範囲)である。この図8に示した時間波形の5〜25nsの範囲は、SC光の波長にして1620〜1720nmの範囲である。
試料40による吸収を受ける前のSC光の時間波形(図7)と、試料40による吸収を受けたSC光の時間波形(図8、9)とを比較すると、図8、9には、試料40(CH4 ガス)による吸収によって、図8、9のAの範囲に複数の細い吸収線が見られることがわかる。また、図9のように、測定を複数回繰り返して平均化することで、吸収線をより明確に測定することができることがわかる。
比較のため、試料40を透過したSC光のスペクトルを光スペクトルアナライザによって測定した。測定時間は5sである。図10は、そのスペクトルを示した図である。図10のように、試料40による非常に細い吸収線が複数見られることがわかる。また、図10のスペクトルには、1665nmに大きな吸収が見られるが、この吸収は図9のBの吸収に対応している。また、図10における1665nmの吸収の左側1630〜1650nmの帯域に見られる複数の細い吸収線は、図、8、9のAの範囲に見られる複数の細い吸収線に対応している。図10と図8、9とを比較すると、実施例1による時間波形の計測による吸収分光計測であっても、光スペクトルアナライザによる測定に見られる試料40の大きな吸収だけでなく、細い吸収線も測定できていることが確認できる。
また、長尺光ファイバ20の長さを10kmから6km、16kmに替えて測定を行ったところ、長くなるほど分散によりSC光の時間幅が広がり、逆に光の損失は長くなるほど大きくなることが確認できた。この両者の兼ね合いから、10kmとすることが最もよい測定結果を得ることができた。
実施例1の吸収分光計測装置による分光測定の波長分解能は、時間波形計測装置30の時間分解能と、照射するSC光の時間幅(長尺光ファイバ20によりSC光の時間幅をどれだけ拡張したか)に依存する。時間波形計測装置30では、PINフォトダイオードの帯域が45GHzであり、高速オシロスコープの帯域が20GHzであるため、時間分解能は50psである。また、SC光の時間幅がおよそ55nsであるのに対し、波長帯域幅はおよそ500nmである。したがって、実施例1の吸収分光計測装置による分光測定では、450pm程度の波長分解能が得られる。これは、分光器を用いた分光測定の波長分解能と同等またはそれ以上のオーダーであり、実施例1の吸収分光計測装置は高い波長分解能で分光測定可能であることがわかる。
また、パルス間隔は5μsであるから、1回当たりの測定時間は5μsであり、光スペクトルアナライザを用いた場合の測定時間は5sである。したがって、実施例1の吸収分光計測装置による分光測定は、光スペクトルアナライザによる測定の百万分の1の時間で測定することが可能である。
また、SC光として、ソリトンパルスを非線形光学効果により変換して生成したものを用いているため、雑音によるゆらぎが少なく、高精度に分光測定を行うことができる。また、波長帯域の広いSC光を用いるため、広帯域に分光測定を行うことができる。
以上のように、実施例1の吸収分光計測装置を用いると、高速・高精度・高分解能・広帯域な分光測定を行うことができる。
なお、実施例1では試料40の透過光の吸収分光計測を行っているが、試料40による反射光の吸収分光計測を行うことも可能である。
また、本明細書中におけるパルス幅(時間幅)や波長帯域幅は、いずれも半値幅を示すものである。
本発明によると、高速で高分解能な吸収分光計測を行うことができるので、ガスなどの細い吸収線を有した吸収スペクトルを測定するのに有効である。たとえば、ガソリンの燃焼室内の気体成分などの時間変化を計測することができる。
10:SC光源
20:長尺光ファイバ
30:時間波形計測装置
40:試料
100:ファイバーレーザー
110:大口径フォトニック結晶ファイバ
120:高非線形ファイバ

Claims (5)

  1. パルス光からソリトンパルスを生成し、ソリトンパルスを非線形光学効果によってスーパーコンティニューム光に変換して出力する光源と、
    前記光源からのスーパーコンティニューム光を入射させ、分散によりスーパーコンティニューム光のパルス幅を拡大させて出力する光ファイバと、
    前記光ファイバから出力されるスーパーコンティニューム光を試料に照射し、前記試料を透過した光の、あるいは前記試料によって反射された光の時間波形を測定する測定装置と、
    を有し、
    前記光源の出力するスーパーコンティニューム光の波長帯域は、前記光ファイバのゼロ分散波長以上の領域もしくはゼロ分散波長以下の領域にのみ存在する、
    ことを特徴とする吸収分光計測装置。
  2. 前記光源は、パルス光から単一のソリトンパルスを生成し、そのソリトンパルスを正常分散の特性を示す光ファイバにおける非線形効果によってスーパーコンティニューム光に変換する、ことを特徴とする請求項1に記載の吸収分光計測装置。
  3. 前記光ファイバから出力される前記スーパーコンティニューム光は、パルス幅に対する波長帯域幅の比が、前記測定装置の時間分解能に対する測定に必要な波長分解能の比以下であることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の吸収分光計測装置。
  4. 前記光源の出力するスーパーコンティニューム光の時間幅は、前記測定装置の時間分解能以下である、ことを特徴とする請求項1ないし請求項3の何れか1項に記載の吸収分光計測装置。
  5. 前記光源は、
    パルス光を生成するファイバーレーザーと、
    前記パルス光を入射させ、ソリトンパルスを生成して出力する大口径フォトニック結晶ファイバと、
    前記ソリトンパルスを入射させ、前記ソリトンパルスをスーパーコンティニューム光に変換する高非線形ファイバと、
    を有することを特徴とする請求項1ないし請求項4のいずれか1項に記載の吸収分光計測装置。
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