JP2013190348A - 光線路監視装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】光線路内に存在する反射点の位置を高精度に測定することができる光線路監視装置を提供する。
【解決手段】単一波長で発振する半導体レーザ5と、半導体レーザ5の出力光が被測定光線路内の反射位置からの反射戻り光との位相を調整する位相調整器6と、半導体レーザの出力光を被測定光線路16と監視用光線路12に分岐する光分波器7と、監視用光線路12の伝搬光の周波数スペクトルを観測する周波数スペクトル観測器9とから構成され、半導体レーザ5の出力光と反射戻り光が互いに共振し、複数の周波数においてモードが生じ、周波数スペクトルの前記モード間隔から被測定光線路内の反射位置を特定する機能を有する。
【選択図】図2

Description

本発明は、光ファイバによって構成される光線路内に存在する反射点を監視し、反射点の位置を提供するための装置に関する。
これまで、光線路内に発生する損失や破断点を検出するために、OTDR(Optical Time Domain Reflectometer)が使用されてきた(特許文献1)。特許文献1に開示されている方式は、光パルスを光線路内に出力し、破断点や接続点で発生する反射戻り光強度と光パルスの伝搬時間を計測し反射位置を観測する方式である。従来の汎用的なパルス式OTDRの概略を図1に示す。パルス式OTDR1から出力光パルス2を被測定光線路3内に出力する。出力された出力光パルス2は被測定光線路3内を伝搬し、反射端(Reflection point)4において反射された後、後方へ伝搬し、OTDR1に戻り光として入射する。OTDR1と反射端4との間の距離L0は、パルス型OTDR1から出力光パルス2が出力されOTDR1に戻り光として入射するまでの時間と、被測定光線路3の実効屈折率とから計算される。
この様な光パルス方式においては、空間分解能はパルス幅や後方散乱光の影響度に依存する。
特開07−174666号公報
図1に示すような、従来のパルス式OTDRでは、出力光パルスのパルス幅は10-9sec程度であり、空間分解能は数十cm程度に留まり、これ以下のレンジを正確に測定することは不可能である。また、後方散乱の影響範囲内に反射点が存在する等、一般的な系では、観測される反射戻り光強度の時間波形は、大小様々な曲率を含んでいるため、高精度に反射位置を特定することが難しい。
上記目的を達成するために、本発明は、単一波長で発振する半導体レーザと、半導体レーザと光線路を介して接続された位相調整器であって、半導体レーザの出力光と、被測定光線路内の反射位置において半導体レーザの出力光が反射した反射戻り光との位相を調整する位相調整機能を有する、位相調整器と、位相調整器と光線路を介して接続され、さらに被測定光線路と監視用光線路に接続され、半導体レーザの出力光を被測定光線路と監視用光線路に分岐する光分波器と、光分波器と監視用光線路を介して接続され、監視用光線路の伝搬光の周波数スペクトルを観測する周波数スペクトル観測器とから構成される光線路監視装置であって、半導体レーザの出力光と、反射戻り光とは、複数の特定の位相を有する場合互いに共振し、周波数スペクトルの複数の周波数においてモードが生じ、周波数スペクトルの前記モード間隔から被測定光線路内の反射位置を特定する機能を有する。
以上説明したように、本発明の光線路監視装置は、光線路内に存在する反射点の位置を、パルス式OTDRよりも高精度に測定することができる。
従来の光線路監視装置であるパルス型OTDRの概略図である。 本発明の実施例1にかかる光路線監視装置の構成図である。 本発明の実施例1にかかる、観測される半導体レーザの周波数スペクトルを示すグラフである。 本発明の実施例1にかかる、モード間隔と反射端間距離の関係を示すグラフである。 本発明の実施例2にかかる光路線監視装置の構成図である。
[実施例1]
図2に、本発明の実施例1にかかる光線路監視装置を示す。本発明の光線路監視装置は、半導体レーザ5、位相調整器6、光分波器7、受光器8、スペクトルアナライザ9から構成される。本実施例では、半導体レーザ5として分布帰還型半導体レーザダイオード(DFB−LD)を、位相調整器6として偏波コントローラ(Polarization Controller、PC)を、光分波器7として光カップラを、受光器8としてPIN−フォトダイオード(PIN−PD)を、スペクトルアナライザ9として電気スペクトラムアナライザ(Electric Spectrum Analyzer、ESA)を用いた。これらのうち光部品間は、シングルモードファイバ10、11、12、13で接続し、PIN−フォトダイオード(PIN−PD)8と電気スペクトラムアナライザ(ESA)9との間は、同軸ケーブル14で接続する。光カップラ7は1:1の入出力分岐比を有し、ポート1はDFB−LD5側、ポート2は無反射終端(Terminator、TM)15、ポート3はPIN−PD8側、ポート4は被測定光線路16に各々接続されている。光カップラ7のポート3とPIN−PD8の間の光線路内には、DFB−LD5側へのPIN−PD8およびESA9からの戻り光を遮断するため、光アイソレータを挿入することが望ましい。偏波コントローラ6は、回転式の1/2波長板と1/4波長板から構成され、透過光の偏波状態を調整することができる。光カップラ7においては、DFB−LD5及び被測定光線路16方向の光アイソレーションに配慮する必要がある。光カップラ7のポート2は、パワーモニタ等、任意の光測定器に置換しても良い。
以下に、被測定光線路16内の反射端4の位置を測定する原理を説明する。DFB−LD5の出力端をP1、被測定光線路内に存在する反射端をP2とする。DFB−LD5から出力する単一波長の発振光は、偏波コントローラ6、光カップラ7、被測定光線路16内を伝搬し、P2において反射した後、後方へ伝搬し、DFB−LD5に戻り光として入射する。P1−P2間には、互いに進行方向が異なる2つの光波が存在し、これらはP1およびP2における反射を繰り返し、いくつかの特定の位相を持つ光波が安定に存在する(共振する)ことが許される。この共振状態をモードと呼ぶ。この状態のとき、DFB−LD5の出力光は、モード間隔Δfの周波数で振動しており、ESAで観測すると、図3の様な周波数スペクトルが得られる。共振周波数の間隔Δf (スペクトルのモード間隔)は、DFB−LD5の出力端P1と反射端P2との間の距離をLとすると、Lと一定の関係がある。ここで、ΔλとLの関係式は一般的に式1で表わされる。ただし、Δλはモード間隔、λは発振波長、Lは反射端間距離、neffは実効屈折率(被測定光線路の実効屈折率)であり、
Δλ=λ2/(2・neff・L) (式1)
である。λ、およびneffは既知であり、neffは、大部分がファイバ線路として、1.45とする。スペクトルのモード間隔Δfは、式1のΔλに対応し、スペクトルのモード間隔Δfから、反射端間距離Lを算出することができる。図4に、スペクトルから計測されるモード間隔Δfと算出された反射端間距離Lの関係の例を示す。このときのneffの値は1.45とする。図4のグラフの実線は、式1に基づく理論値であり、プロットは、計測値を示す。測定可能な反射端間距離Lのレンジと精度は、ESAの受信帯域に比例して拡大することが可能である。本実施例では、ESAの受信帯域は、30Hzから26.5GHzであり、10-5mから105mのオーダーで反射端間距離を測定することが可能である。
また、偏波コントローラ6によって、偏波コントローラを透過する光波の偏波状態を制御することができる。光線路内を伝搬する光波の偏波が結合すると、共振ピークが、ESA9で観測される。ここで、これらのピークレベルを検出し、検出値を、位相と偏波面を制御する偏波コントローラにフィードバックし、DFB−LD5の出力光の発振周波数に相当するピークを除いた任意のピークレベルが最大となるように偏波の位相状態を制御することで、常に共振モードを維持することが可能である。この偏波の位相状態を制御する機能を、図2に偏波調整機能として示す。
[実施例2]
図5に、本発明の実施例2にかかる光線路監視装置を示す。本実施例では、実施例1の光線路監視装置の光線路16内にファイバ増幅器17を挿入する。
反射減衰量が大きい場合(例えば14dB以上)、上記共振ピークが小さくなり、計測感度が低下する。その場合、ファイバ増幅器の利得を調整し、反射減衰量を所定の値(例えば9dB)以下にすることで、共振ピークレベルを高め、計測感度を向上させる。尚、光カップラのポート2に光パワーモニタ18を設置して反射戻り光強度を検出し、その検出値をファイバ増幅器にフィードバックすることにより、利得の制御が可能である。この機能を、図5に光強度調整機能として示す。
1 パルス型OTDR
2 出力光パルス
3 被測定光線路
4 反射端(Reflection point)
5 分布帰還型半導体レーザダイオード(DFB−LD)
6 偏波コントローラ
7 光カップラ
8 PIN−フォトダイオード(PIN−PD)
9 電気スペクトラムアナライザ(ESA)
10、11、12、13 シングルモードファイバ
14 同軸ケーブル
15 無反射終端(TM)
16 被測定光線路
17 ファイバ増幅器
18 光パワーモニタ

Claims (6)

  1. 単一波長で発振する半導体レーザと、
    前記半導体レーザと光線路を介して接続された位相調整器であって、前記半導体レーザの出力光と、被測定光線路内の反射位置において前記半導体レーザの出力光が反射した反射戻り光との位相を調整する位相調整機能を有する、位相調整器と、
    前記位相調整器と光線路を介して接続され、さらに前記被測定光線路と監視用光線路に接続され、前記半導体レーザの出力光を前記被測定光線路と前記監視用光線路に分岐する光分波器と、
    前記光分波器と前記監視用光線路を介して接続され、前記監視用光線路の伝搬光の周波数スペクトルを観測する周波数スペクトル観測器と
    から構成され、前記半導体レーザの出力光と、前記反射戻り光とは、複数の特定の位相を有する場合互いに共振し、前記周波数スペクトルの複数の周波数においてモードが生じ、前記周波数スペクトルの前記モード間隔から被測定光線路内の反射位置を特定する機能を有することを特徴とする光線路監視装置。
  2. 前記周波数スペクトル観測器は、前記監視用光線路の伝搬光を光電気変換する受光器と、前記モード間隔を測定可能な周波数分解能を有するスペクトルアナライザとから構成されることを特徴とする請求項1に記載の光線路監視装置。
  3. 前記位相調整器は、光線路内を伝搬する光の偏波状態を変化させる偏波制御器から構成されることを特徴とする請求項1に記載の光線路監視装置。
  4. 前記被測定光線路内に存在する前記反射戻り光の強度を増幅する光増幅器を備えることを特徴とする請求項1に記載の光線路監視装置。
  5. 前記位相調整機能は、前記周波数スペクトル観測器で観測される前記周波数スペクトルにおいて、前記半導体レーザの発振周波数に相当するピークを除いた任意のピークのレベルが最大となるように、前記位相調整器を透過する光波の位相を制御する機能であることを特徴とする請求項1に記載の光線路監視装置。
  6. 前記光増幅器は、前記被測定光線路内に存在する前記反射戻り光の光強度が所定の強度以上となるように、前記光増幅器の増幅率を制御する機能を備えることを特徴とする請求項4に記載の光線路監視装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013231657A (ja) * 2012-04-27 2013-11-14 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 光線路監視装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6246227A (ja) * 1985-08-24 1987-02-28 Anritsu Corp 光部品の反射点測定方法
JPH04218744A (ja) * 1990-03-27 1992-08-10 Sony Tektronix Corp オプティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータ
US5644389A (en) * 1994-11-15 1997-07-01 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method for measuring distance between reflection points along light transmission line and reflectance thereof
JPH11287738A (ja) * 1998-03-31 1999-10-19 Ntt Advanced Technology Corp マイケルソン型光回路とこの光回路を用いた光反射減衰量測定器
JP2008116278A (ja) * 2006-11-02 2008-05-22 Central Res Inst Of Electric Power Ind 光デバイスを含む光ファイバ線路の障害点検出方法及び障害点検出システム

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6246227A (ja) * 1985-08-24 1987-02-28 Anritsu Corp 光部品の反射点測定方法
JPH04218744A (ja) * 1990-03-27 1992-08-10 Sony Tektronix Corp オプティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータ
US5644389A (en) * 1994-11-15 1997-07-01 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method for measuring distance between reflection points along light transmission line and reflectance thereof
JPH11287738A (ja) * 1998-03-31 1999-10-19 Ntt Advanced Technology Corp マイケルソン型光回路とこの光回路を用いた光反射減衰量測定器
JP2008116278A (ja) * 2006-11-02 2008-05-22 Central Res Inst Of Electric Power Ind 光デバイスを含む光ファイバ線路の障害点検出方法及び障害点検出システム

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
JPN6014003745; 押味 孝志、他5名: '「安定化光源および光パワーメータ機能を内蔵したミニOTDR用光ユニット」' アンリツテクニカル No. 76, 199810, p. 64-69 *
JPN6014003745; 押味 孝志、坂本 貴司、亀山 仁、加藤 敬太、岩崎 王亮、玉腰 政昭: '「安定化光源および光パワーメータ機能を内蔵したミニOTDR用光ユニット」' アンリツテクニカル No. 76, 199810, p. 64-69 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013231657A (ja) * 2012-04-27 2013-11-14 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 光線路監視装置

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