JP2013185969A - 溶接欠陥検出方法及び溶接欠陥検出装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】簡便に指示部を抽出し、抽出した指示部のエコーを識別できる溶接欠陥検出方法及び溶接欠陥検出装置を提供する。
【解決手段】溶接欠陥検出方法及び溶接欠陥検出装置は、検出対象部を透過する超音波信号を検出するステップと、最も伝播経路の短い検出信号の検出レベルに応じて検出レベルを調整するステップと、調整したレベルで検出した信号の波形から、波数の増加を判別するステップとを備える。
【選択図】図4
【解決手段】溶接欠陥検出方法及び溶接欠陥検出装置は、検出対象部を透過する超音波信号を検出するステップと、最も伝播経路の短い検出信号の検出レベルに応じて検出レベルを調整するステップと、調整したレベルで検出した信号の波形から、波数の増加を判別するステップとを備える。
【選択図】図4
Description
本発明は、検査対象物の溶接部における欠陥を検出する溶接欠陥検出方法及び溶接欠陥検出装置に関する。
溶接欠陥検出方法及び溶接欠陥検出装置の一例が特許文献1に記載されている。特許文献1の溶接欠陥検出方法及び溶接欠陥検出装置は、垂直センサ信号の補正断面Cスコープ表示により、微細な信号である母材と付着物との境界面からのエコーを検出し、母材と付着物との境界面の位置を精度よく特定する。また、特許文献1の溶接欠陥検出方法及び溶接欠陥検出装置は、内表面検出装置において、多数の観測点での時系列信号により求めた内表面位置を平滑化することにより内表面位置を特定する。そして、特許文献1の溶接欠陥検出方法及び溶接欠陥検出装置は、垂直センサ信号により求めた母材と付着物との境界面位置を斜角センサ信号での位置に換算する。更に、特許文献1の溶接欠陥検出方法及び溶接欠陥検出装置は、精度良く求めた斜角センサ信号での境界面位置と、評価対象エコーの位置との関係により、評価対象エコーが母材の傷からのエコーか、付着物による疑似エコーかを特定する。
溶接欠陥検出方法及び溶接欠陥検出装置の他例が特許文献2に記載されている。特許文献2の溶接欠陥検出方法及び溶接欠陥検出装置は、正規化透過量の周波数パターンを、特定の周波数における正規化透過量を基準とする。また、特許文献2の溶接欠陥検出方法及び溶接欠陥検出装置は、正規化透過量を、更に正規化した透過量パターンとし、予め深さの異なる種々の表面傷を用いて、透過量パターンを求めて基準パターンとして記憶しておく。そして、特許文献2の溶接欠陥検出方法及び溶接欠陥検出装置は、探傷の際には透過量パターンと記憶された基準パターンとのパターンマッチングを行い、最も一致率の高い基準パターンに対応する表面傷の種類と深さを検出値とする。
通常、原子力発電所等では、その安全性や信頼性を確保するために定期的に検査を行っており、配管や圧力容器の検査には、主として超音波を使った溶接欠陥検出方法である非破壊検査方法(UT:Ultrasonic Testing)がある。非破壊検査方法は、材料の内部検査が可能であり、多くの箇所に適用されているが、検査面側が平滑ではない複雑な形状を有している部位では、UTプローブの倣い性が悪いといった問題点がある。また、近年、原子力発電所等における非破壊検査方法は、運転を開始してからの高経年化が叫ばれており、健全性を確保するニーズが高まっている。そのため、非破壊検査方法による欠陥の定量化ニーズは高まりを見せており、精度の高い非破壊検査方法が望まれている。
ところで、溶接欠陥検出方法として、図14および図15に示す提案がある。このような透過法による探傷は、検査対象物101上のUTプローブ102(センサ)から、検出対象部である溶接部103に超音波信号を透過させてエコー高さを検出する。そして、このような透過法による探傷は、検出したエコー高さが設定したしきい値以下に下がった場合に指示として検出することにより、指示が欠陥部104であるか、健全部105であるかを判定する。ところが、図16に示すように、このような透過法による探傷は、UTプローブ102の設置面106の表面凹凸107の影響により、透過エコーのビーム方向A100に変動を生ずることがある。そのため、このような透過法による探傷は、健全部であってもエコー高さを低下したものとして検出する場合がある。従って、このような透過法による探傷は、UTプローブ102からのビームの伝播方向や超音波の入射効率に変動を生ずることにより、透過エコーが低下(変動)し、欠陥によるエコー低下と識別が困難となる場合がある。
一方、特許文献1の溶接欠陥検出方法及び溶接欠陥検出装置は、傷エコーと疑似エコーとを精度良く識別することができるものの、伝熱管外表面側のノイズ識別方法であるために、欠陥エコーと表面形状に伴うエコー低下との識別ができない。
他方、特許文献2の溶接欠陥検出方法及び溶接欠陥検出装置は、被検査対象に音響的に不均一な部分があったり、表面波の発生効率や伝播効率が変動したりする場合でも、傷の方向にかかわりなく、表面傷の種類と深さを精度良く検出できる。しかし、特許文献2の溶接欠陥検出方法及び溶接欠陥検出装置は、透過法の信号振幅に着目して、欠陥深さを推定する手法であるために、特許文献1と同様に、欠陥エコーと表面形状に伴うエコー低下との識別ができない。
本発明は、前述した課題を解決するためになされたものであり、その目的は、簡便に指示部を抽出し、抽出した指示部のエコーを識別できる溶接欠陥検出方法及び溶接欠陥検出装置を提供することにある。
本発明に係る溶接欠陥検出方法は、検出対象部を透過する超音波信号を検出するステップと、最も伝播経路の短い検出信号の検出レベルに応じて検出レベルを調整するステップと、調整したレベルで検出した信号の波形から、波数の増加を判別するステップとを備える。
本発明に係る溶接欠陥検出装置は、検出対象部を透過する超音波信号を検出するプローブ走査装置を備え、前記プローブ走査装置が検出した最も伝播経路の短い検出信号の検出レベルに応じて検出レベルを調整し、調整したレベルで検出された信号の波形から、波数の増加を判別する。
本発明に係る溶接欠陥検出方法及び溶接欠陥検出装置によれば、簡便に指示部を抽出し、抽出した指示部のエコーを識別できるという効果を奏する。
以下、本発明に係る複数の実施形態の溶接欠陥検出方法について図面を参照して説明する。図1に示すように、本発明に係る第1実施形態の溶接欠陥検出方法を実行する溶接欠陥検出装置10は、検査対象物1の溶接部2に対して超音波信号を透過させて検出するプローブ走査装置11を備えている。そして、溶接欠陥検出装置10は、プローブ走査装置11からの電気信号を画像に変換する超音波探傷器本体12と、超音波探傷器本体12で変換した画像を表示して判定を行うためのデータ表示分析画面14を表示するモニタ13と、を備えている。モニタ13のデータ表示分析画面14には、Aスコープ画像18(図5参照)およびBスコープ画像19(図5参照)を表示することができる。なおまた、溶接部2は、この発明における「検出対象部」の一例であってよい。
図2に示すように、プローブ走査装置11は、透過法を適用し、走査方向AXを有する、一対の第1プローブ15と、一対の第2プローブ16と、一対の第3プローブ17とを備えている。第1プローブ15は、検査対象物1の溶接部2の長手方向の基準線A0に対して135度の傾斜角度θ1を有して配置している。第2プローブ16は、基準線A0に対して90度の傾斜角度θ2を有して配置しており、第3プローブ17は、基準線A0に対して45度の傾斜角度θ3を有して配置している。このように、プローブ走査装置11は、検査対象物1の溶接部2に対して、基準線A0に対する135度と、基準線A0に対する90度と、基準線A0に対する45度と、の3方向から超音波信号を透過させる。図3に示すように、各プローブ15,16,17から出射し、検査対象物1の溶接部2を透過した超音波反射信号は、超音波探傷器本体12において画像に変換してモニタ13に転送する。
次に、本発明に係る第1実施形態の溶接欠陥検出方法について説明する。図4に示すように、まず、各プローブ15,16,17から超音波信号を出射して検査対象物1の溶接部2を透過した超音波反射信号を超音波探傷器本体12に取り込んで、採取データを表示する(S11)。採取データの表示は、データ表示分析画面14上に、Aスコープ画像18およびBスコープ画像19を表示する。次に、エコー感度の調整を行う(S12)。エコー感度の調整は、ビーム路程の最も短いエコーに着目し、測定範囲(走査範囲)内で最も高い透過エコーの高さをCRT80%に設定し、その後に、エコー感度を2倍に上げる(6dBアップ)。または、そのままの感度を用いてもよい。
続いて、色調表示の調整を行う(S13)。色調表示の調整は、分析画面の色調表示をグレイスケールに変更する。または、そのままのカラースケールでもよい。そして、指示箇所の抽出を行う(S14)。指示箇所の抽出は、CRT80%以下にエコー高さが低下した個所を指示として抽出する。なお、感度を2倍(6dBアップ)にしない場合は、CRT40%以下にエコー高さが低下した個所を指示として抽出する。
次に、欠陥指示と形状変化エコーとの識別の前段を行う(S15)。欠陥指示と形状変化エコーとの識別の前段は、RF表示のBスコープ画像19の連続性による識別である。形状変化部(凹凸部)は、Bスコープ画像19が連続的変化を示し、欠陥部は、Bスコープ画像19が下方に凸の変化を示す。
続いて、欠陥指示と形状変化エコーとの識別の後段を行う(S16)。欠陥指示と形状変化エコーとの識別の後段は、RF波形の波数による識別である。形状変化部(凹凸部)は、波数に変化無し。であり、欠陥部は、波数が増加する場合が認められる。
そして、欠陥指示と形状変化エコーとの識別の前段および欠陥指示と形状変化エコーとの識別の後段の一方または両方が認められた場合に、欠陥指示として抽出する。
次に、図4に示した各ステップにおける詳細について説明する。図5に示すように、Aスコープ画像18(Aスコープ表示)は全波整流波形であり、Bスコープ画像19(Bスコープ表示)はAC(全波整流)波形であってグレイスケールである。図4に示したステップS11〜S14において、Bスコープ画像19は、1波,2波,3波・・・に途切れが生じており、欠陥部3と大きな形状変化部4(凹凸部)とを指示候補として抽出する。
図6に示すように、図4に示したステップS15において、RF波形のBスコープ画像19の連続性に着目することにより、形状変化部4がBスコープ画像19において連続的変化を示し、欠陥部3がBスコープ画像19において下方に凸の変化を示す。
図7に示すように、図4に示したステップS16において、RF波形のBスコープ画像19の波数の違いに着目することにより、形状変化部4がBスコープ画像19において連続的変化を示し、欠陥部3がBスコープ画像19において下方に凸の変化を示す。このように、指示部を簡便に抽出することができ、抽出した指示部が欠陥部3であって欠陥エコー(欠陥信号)によるものか、或いは、形状変化部4であって形状(凹凸、うねり)エコー(形状信号)によるものかを識別できる。
図8に示すように、欠陥部3におけるAスコープ画像18およびBスコープ画像19の連動画像により明らかなように、Aスコープ画像18において有意にエコー高さが低下している欠陥部3の位置を簡便に識別できる。
図9に示すように、健全部5におけるAスコープ画像18およびBスコープ画像19の連動画像により明らかなように、Aスコープ画像18において有意にエコー高さが低下している箇所がないので、健全部5であることを簡便に識別できる。
以上、説明したように、本発明の第1実施形態の溶接欠陥検出方法によれば、指示部を簡便に抽出することができ、抽出した指示部が欠陥部3であって欠陥エコーによるものか、或いは、形状変化部4であって形状エコーによるものかを確実に識別できる。
また、溶接欠陥検出方法によれば、検査対象物1における超音波反射信号を検出し、超音波反射信号の有無によって欠陥の有無を判別するために、外乱の影響を受けずに処理できる。
そして、溶接欠陥検出方法によれば、RF波形のBスコープ画像19の連続性に着目して、Bスコープ画像19において下方に凸の変化を示す欠陥部3を確実に識別できる。
更に、溶接欠陥検出装置10によれば、指示部を簡便に抽出することができ、抽出した指示部が欠陥部3であって欠陥エコーによるものか、或いは、形状変化部4であって形状エコーによるものかを確実に識別できる。
更にまた、溶接欠陥検出装置10によれば、検査対象物1における超音波反射信号を検出し、超音波反射信号の有無によって欠陥の有無を判別するために、外乱の影響を受けることを少なく処理できる。
加えて、溶接欠陥検出装置10によれば、RF波形のBスコープ画像19の連続性に着目して、Bスコープ画像19において下方に凸の変化を示す欠陥部3を確実に識別できる。
次に、本発明に係る第2実施形態の溶接欠陥検出方法及び溶接欠陥検出装置について説明する。なおまた、以下の各実施形態において、前述した第1実施形態と重複する構成要素や機能的に同様な構成要素については、図中に同一符号あるいは相当符号を付することによって説明を簡略化あるいは省略する。
図10に示すように、本発明に係る第2実施形態の溶接欠陥検出方法を実行する溶接欠陥検出装置30は、集束型探触子を内蔵したプローブ31を装備している。集束型探触子を有するプローブ31は、欠陥部3の先端部に起因するエコーが、より明確となる。図11に示すように、比較に用いた溶接欠陥検出装置150は、通常接触子を有するプローブ151を装備している。この溶接欠陥検出装置150では、プローブ151から出射した超音波信号における欠陥部3の先端部に起因するエコーの強度が小さい。
第2実施形態の溶接欠陥検出方法及び溶接欠陥検出装置30によれば、集束型探触子を内蔵したプローブ31を装備しているために、欠陥部3の先端部に起因するエコーの強度が大きくなって識別性の向上を図ることができる。
次に、本発明に係る第3実施形態の溶接欠陥検出方法及び溶接欠陥検出装置について説明する。図12に示すように、本発明に係る第3実施形態の溶接欠陥検出方法を実行する溶接欠陥検出装置40は、プローブ走査装置41に、反射法を適用した、第1プローブ42と、第2プローブ43と、第3プローブ44と、を備えている。そして、プローブ走査装置41は、透過法を適用した、第1プローブ15と、第2プローブ16と、第3プローブ17とを併用している。溶接欠陥検出装置40は、各プローブ15,16,17から出射した超音波信号が検査対象物1の溶接部2を透過する。同時に、各プローブ42,43,44から出射した超音波信号が検査対象物1の溶接部2において反射して各プローブ42,43,44に取り込む。
溶接欠陥検出装置40は、欠陥からの反射エコーが検出されることにより欠陥部3を識別する。これに対して、反射源が無く、反射エコーを検出しないことにより形状変化部4を識別する。このように、溶接欠陥検出装置40は、透過法によるエコー低下部の評価が可能となる。すなわち、欠陥であれば、反射エコーが得られ、形状に起因する場合、反射エコーは得られない。
次に、溶接欠陥検出装置40が実行する溶接欠陥検出方法について説明する。図13に示すように、まず、透過法を適用して指示部の選択を行う(S21)。次に、透過法により選択した指示部について、各プローブ42,43,44により反射法による指示部の抽出を行う(S22)。続いて、抽出した指示部において反射エコーの有無を判別し、反射法を適用した反射エコーが存在する場合は欠陥部3であることを識別する(S23→S24)。これとは異なり、抽出した指示部において反射エコーの有無を判別し、反射法を適用した反射エコーが存在しない場合は形状エコーであって形状変化部4であることを識別する(S23→S25)。
第3実施形態の溶接欠陥検出方法及び溶接欠陥検出装置40によれば、反射法を適用した各プローブ42,43,44と、透過法を適用した各プローブ15,16,17とを併用しているために、欠陥部3と形状変化部4とのエコー変動の識別性を向上できる。
なおまた、本発明の溶接欠陥検出方法及び溶接欠陥検出装置は、前述した各実施形態に限定するものでなく、適宜な変形や改良等が可能である。
以上述べたように、本発明の溶接欠陥検出方法及び溶接欠陥検出装置によれば、簡便に指示部を抽出し、抽出した指示部のエコーを識別できる。以上の結果として、原子力プラントやライニングピット等の分野に適用でき、本発明の産業上の利用可能性は大といえる。
1 検査対象物
2 溶接部
10,30,40 溶接欠陥検出装置
11,41 プローブ走査装置
15 第1プローブ
16 第2プローブ
17 第3プローブ
42 第1プローブ
43 第2プローブ
44 第3プローブ
2 溶接部
10,30,40 溶接欠陥検出装置
11,41 プローブ走査装置
15 第1プローブ
16 第2プローブ
17 第3プローブ
42 第1プローブ
43 第2プローブ
44 第3プローブ
Claims (6)
- 検出対象部を透過する超音波信号を検出するステップと、
最も伝播経路の短い検出信号の検出レベルに応じて検出レベルを調整するステップと、
調整したレベルで検出した信号の波形から、波数の増加を判別するステップと
を備える溶接欠陥検出方法。 - 前記検出対象部における超音波反射信号を検出するステップと、
前記超音波反射信号の有無によって欠陥の有無を判別するステップと
を更に備える請求項1に記載の溶接欠陥検出方法。 - 調整されたレベルで検出された前記信号の波形から、前記信号の連続性を判別するステップ
を更に備える請求項1に記載の溶接欠陥検出方法。 - 検出対象部を透過する超音波信号を検出するプローブ走査装置を備え、
前記プローブ走査装置が検出した最も伝播経路の短い検出信号の検出レベルに応じて検出レベルを調整し、調整したレベルで検出された信号の波形から、波数の増加を判別する溶接欠陥検出装置。 - 前記検出対象部における超音波反射信号を検出し、前記超音波反射信号の有無によって欠陥の有無を判別する
請求項4に記載の溶接欠陥検出装置。 - 調整されたレベルで検出された前記信号の波形から、前記信号の連続性を判別する
請求項4に記載の溶接欠陥検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012051465A JP2013185969A (ja) | 2012-03-08 | 2012-03-08 | 溶接欠陥検出方法及び溶接欠陥検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012051465A JP2013185969A (ja) | 2012-03-08 | 2012-03-08 | 溶接欠陥検出方法及び溶接欠陥検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013185969A true JP2013185969A (ja) | 2013-09-19 |
Family
ID=49387521
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012051465A Pending JP2013185969A (ja) | 2012-03-08 | 2012-03-08 | 溶接欠陥検出方法及び溶接欠陥検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2013185969A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110807773A (zh) * | 2019-11-12 | 2020-02-18 | 中广核检测技术有限公司 | 一种核电站表面缺陷全景图像检测方法 |
CN115953366A (zh) * | 2022-12-14 | 2023-04-11 | 广州市斯睿特智能科技有限公司 | 基于反射图像的焊缝检测方法、系统、装置和存储介质 |
-
2012
- 2012-03-08 JP JP2012051465A patent/JP2013185969A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110807773A (zh) * | 2019-11-12 | 2020-02-18 | 中广核检测技术有限公司 | 一种核电站表面缺陷全景图像检测方法 |
CN110807773B (zh) * | 2019-11-12 | 2023-04-11 | 中广核检测技术有限公司 | 一种核电站表面缺陷全景图像检测方法 |
CN115953366A (zh) * | 2022-12-14 | 2023-04-11 | 广州市斯睿特智能科技有限公司 | 基于反射图像的焊缝检测方法、系统、装置和存储介质 |
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