JP2013179038A - 銅および鉛・テルル酸化物を含有する厚膜銀ペーストならびに半導体デバイスの製造におけるその使用 - Google Patents

銅および鉛・テルル酸化物を含有する厚膜銀ペーストならびに半導体デバイスの製造におけるその使用 Download PDF

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Abstract

【課題】銅および鉛・テルル酸化物を含有する厚膜銀ペーストならびに半導体デバイスの製造におけるその使用を提供する。
【解決手段】本発明は、(i)銀、(ii)銅、および(iii)Pb−Te−Oを含み、そのすべてが有機媒体に分散されている厚膜銀ペーストに関する。本発明は、そのペーストから形成された電極、およびそのような電極を含む、半導体デバイス、特に太陽電池にさらに関する。これらの電極は、良好な電気的性能を提供する。
【選択図】図1F

Description

本発明は、厚膜銀ペーストおよび厚膜銀ペーストから形成された電極に主に関する。本発明は、シリコン半導体デバイスにさらに関し、特に、太陽電池の電極の形成における厚膜ペーストの使用に関する。
p型基材を有する従来の太陽電池構造は、電池の前面または太陽面の上に一般的にある負極、および背面の上に正極を有する。半導体本体のpn接合に入射する適切な波長の射光は、その本体内に電子正孔対を生成するための外部エネルギー源としての働きをする。pn接合に存在する電位差のため、正孔と電子は接合を横切って反対方向に移動し、それによって、外部回路に電力を送達することができる電流の流れを生じさせる。ほとんどの太陽電池は、メタライゼーションが施された、すなわち、電気伝導性であるメタル電極が設けられたシリコンウェハの形態をとっている。厚膜ペーストまたはインク(以下、単に「ペースト」と呼ぶ)は、通常、基板上にスクリーン印刷され、電極を形成するために焼成される。
シリコンウェハの前面または太陽面は、入射する太陽光の反射損失を防止し、したがって太陽電池の効率を増加させるために、反射防止コーティング(ARC)で多くの場合コーティングされる。通常、二次元の電極グリッドパターン、すなわち「前面電極」が、シリコンのn型側へ接続され、反対側の面のアルミニウムのコーティング(背面電極)が、シリコンのp型側へ接続される。これらの接点が、pn接合から外部の負荷への電気の出口である。
シリコン太陽電池の前面電極は、ペーストのスクリーン印刷により一般に形成される。通常、ペーストは、電気伝導性粒子、ガラスフリット、および有機媒体を含む。スクリーン印刷の後に、ウェハおよびペーストは150℃で数分間乾燥され、次いで電気伝導性の線の高密度な固形物を形成するために、空気中で、通常650℃〜1000℃の炉設定値温度で数秒間焼成される。有機成分は、この焼成ステップにおいて燃焼除去される。さらにこの焼成ステップ中に、ガラスフリットおよび任意の付加的なフラックスは、反射防止コーティングと反応し、それをエッチングし通り抜け、密接なシリコン−電極の接点を形成するのに役立つ。ガラスフリットおよび任意の付加的なフラックスは、さらに、基板への付着力を提供し、後ではんだ付けされるリード線の、電極への付着力を援助する。基板への良好な付着力およびリード線の電極への高度なはんだ付着力は、ソーラーモジュールの生産性および信頼性に加えて太陽電池の性能にとって重要である。
電気的性能を維持しながら銀含有量が低減される電極をもたらすペースト組成物を提供する努力が継続されている。
本発明は、
(a)銀、
(b)銅、
(c)Pb−Te−O、および
(d)有機媒体
を含み、銀、銅、およびPb−Te−Oが、有機媒体中に分散する厚膜銀ペーストを提供する。
厚膜銀ペーストは、ペーストの全重量に基づいて50〜95重量%の無機固形物、すなわち、銀、銅、およびPb−Te−Oの合計含有量を含む。
本発明は、本厚膜ペーストから形成された電極を有し、有機媒体を除去し電極を形成するためにこの厚膜ペーストが焼成されている、半導体デバイス、特に太陽電池をさらに提供する。一実施形態において、この電極は、前面電極である。別の実施形態において、この電極は、背面電極、例えばタブ電極である。
半導体デバイスの製作過程を図示する。 半導体デバイスの製作過程を図示する。 半導体デバイスの製作過程を図示する。 半導体デバイスの製作過程を図示する。 半導体デバイスの製作過程を図示する。 半導体デバイスの製作過程を図示する。
本発明の厚膜銀ペーストは、使用される銀の量が低減されるためにコストが低減されるばかりでなく、良好な電気的特性および改善された接着特性も示す電極を形成する能力を同時に提供する。厚膜銀ペーストは、スクリーン印刷、めっき、インクジェット印刷、押出し、成形印刷もしくは多重印刷、またはリボンなどによって所望のパターンで印刷または適用をすることができる。
厚膜銀ペーストは、銀、銅、Pb−Te−O、および有機媒体を含む。一実施形態において、厚膜ペーストは、50〜95体積%の銀および5〜50体積%の銅を含み、体積%は、銀、および銅の全体積に基づく。
本発明の厚膜銀ペーストは、電気的性能を維持しながら、付着力が改善され、かつ、銀含有量が低減される電極を提供する。
本発明の厚膜銀ペーストの各成分を、以下に詳細に説明する。

銀(Ag)は、銀の金属、銀の合金、またはそれらの混合物の形態であってもよい。通常、銀の粉末中で銀の粒子は、フレーク形態、球状の形態、粒状の形態、結晶の形態、他の不規則な形態、およびそれらの混合物である。銀は、コロイド懸濁液中に提供することができる。銀は、銀レジネート(有機金属の銀);酸化銀(AgO);AgCl、AgNO、AgOOCCH(酢酸銀)、AgOOCF(トリフルオロ酢酸銀)、およびオルト燐酸銀(AgPO)などの銀塩;またはそれらの混合物の形態であってもよい。他の成分と適合する他の形態の銀も、使用することができる。
一実施形態において、厚膜ペーストは、50〜95体積%の銀を含み、体積%は銀および銅の全体積に基づく。別の実施形態において、厚膜ペーストは70〜90体積%の銀を含み、体積%は銀および銅の全体積に基づく。別の実施形態において、厚膜ペーストは、50〜60体積%の銀を含み、体積%は銀および銅の全体積に基づく。
一実施形態において、厚膜ペーストは、電気的伝導性である、コーティングされた銀粒子を含む。適切なコーティングは、界面活性剤およびリン含有の化合物を含む。適切な界面活性剤は、ポリエチレンオキシド、ポリエチレングリコール、ベンゾトリアゾール、ポリ(エチレングリコール)酢酸、ラウリン酸、オレイン酸、カプリン酸、ミリスチン酸、リノール酸、ステアリン酸、パルミチン酸、ステアリン酸塩塩類、パルミチン酸塩塩類、およびそれらの混合物を含む。塩の対イオンは、アンモニウム、ナトリウム、カリウム、およびそれらの混合物であり得る。
銀の粒径には、特別な限定はない。一実施形態において、平均粒子径は15μm未満であり、別の実施形態において、平均粒子径は1〜6μmの範囲にある。

銅(Cu)は、粒状の粒子を有する粉末の形態をしている。通常、平均粒子径は15μm未満である。一実施形態において、粉末の粒径分布は、平均粒子径が3〜15μmの間にある状況である。
一実施形態において、銅微粒子は、表面がコーティングされた銅微粒子である。表面コーティング材料は、電気伝導体材料、または熱的に分解可能な非導電性の材料を含んでもよい。1つのそのような実施形態において、銅微粒子は、脂肪酸をコーティングされた銅微粒子である。適切な脂肪酸の例として、ラウリン酸、オレイン酸、カプリン酸、ミリスチン酸、リノール酸、ステアリン酸、およびそれらの混合物が挙げられる。別のそのような実施形態において、銅微粒子は、スズをコーティングされた銅微粒子である。別のそのような実施形態において、銅微粒子は、銀をコーティングされた銅微粒子である。
一実施形態において、厚膜ペーストは、5〜50体積%の銅を含み、体積%は銀および銅の全体積に基づく。別の実施形態において、厚膜ペーストは、10〜30体積%の銅を含み、体積%は銀および銅の全体積に基づく。また別の実施形態において、厚膜ペーストが40〜50体積%の銅を含み、体積%は銀および銅の全体積に基づく。
鉛・テルル酸化物
ペーストの一成分は、鉛・テルル酸化物(Pb−Te−O)である。一実施形態において、この酸化物はガラス組成物(例えばガラスフリット)である。別の実施形態において、この酸化物は、結晶、部分的に結晶、アモルファス、部分的にアモルファス、またはそれらの組合せである。一実施形態において、Pb−Te−Oは2つ以上のガラス組成物を含んでもよい。一実施形態において、Pb−Te−O組成物は、ガラス組成物、および結晶状の組成物などの付加的な組成物を含んでもよい。
鉛・テルル酸化物(Pb−Te−O)は、当業者に理解される技法を用いて、TeO、酸化鉛、およびそこに組込まれる他の酸化物(または加熱されたとき所望の酸化物へ分解する他の材料の混合により調製される。酸化鉛は、PbO、Pb、およびPbOからなる群から選択される1つ又は複数の成分を含んでもよい。そのような調製技法は、融解物を形成するために混合物を空気または酸素含有雰囲気中で加熱すること、融解物を急冷すること、ならびに、摩砕すること、粉砕すること、および/または、所望の粒径を有する粉末を提供するために急冷された材料をふるい分けすることを含み得る。そこに組込まれる鉛酸化物、テルル酸化物および他の酸化物の混合物の融解は、800〜1200℃のピーク温度までで、通常処理される。融解した混合物は、小板を形成するために急冷を、例えば、ステンレス鋼のプラテンの上で、または相互逆回転するステンレス鋼のローラーの間で行うことができる。結果として得られる小板を、粉砕し粉末を形成することができる。通常、粉砕された粉末は、0.1〜3.0ミクロンのd50を有する。ガラスフリットを作製する当業者は、限定はしないが、水焼入れ、ゾル−ゲル、噴霧熱分解、またはガラスの粉末形態を作製するのに適切な他の技法など、代替の合成技法を用いてもよい。
上記のプロセスの酸化物生成物は通常、本質的にアモルファス(非晶質)固形物、すなわちガラスである。しかしながらいくつかの実施形態において、結果として得られる酸化物は、アモルファス、部分的にアモルファス、部分的に結晶、結晶、またはそれらの組合せである。本明細書で使用するとき、「ガラスフリット」はそのような生成物をすべて含む。
ガラス組成物はガラスフリットとも呼ぶが、ある特定の成分をある割合で含むものとして本明細書において記述する。具体的には、この割合は、ガラス組成物を形成するために本明細書に記述する通りに後で処理される開始原料において使用されている成分の割合である。そのような用語法は当業者には一般的である。言いかえれば、組成物はある特定の成分を含んでおり、それらの成分の割合が、対応する酸化物の形での割合として表わされる。ガラス化学における当業者によって認識されているように、ガラスを製造する工程中に、揮発性の化学種のある程度の部分は放出される。揮発性の化学種の一例は、酸素である。ガラスは、アモルファス材料として挙動する一方、結晶質材料の小さい部分を含む可能性があることも認識すべきである。
焼成されたガラスで始める場合、当業者は、本明細書に記述する出発成分の割合を当業者に周知の方法を用いて計算してもよく、それらは以下のものを含むが限定ではなく、誘導結合プラズマ質量分析(ICP−MS)、誘導結合プラズマ原子発光分析(ICP−AES)、および同種のものである。さらに、以下の例示的な技術、すなわち、蛍光X線分光分析法(XRF)、核磁気共鳴法(NMR)、電子常磁性共鳴分光(EPR)、メスバウアー分光、電子マイクロプローブエネルギー分散方式分光(EDS)、電子マイクロプローブ波長分散方式分光(WDS)、または陰極ルミネセンス(CL)が使用される。
当業者であれば、原料の選択品には、処理工程中にガラスへ取り込まれる不純物が、意図せずに含まれ得ることを認識するであろう。たとえば、不純物は、数百ppmから数千ppmの範囲で存在する。不純物が存在しても、ガラス、組成物例えば厚膜組成物、または焼成されたデバイスの特性は変化しないであろう。たとえば、厚膜組成物を含む太陽電池は、その厚膜組成物が不純物を含んでいても本明細書に記述された効率を有し得る。
通常、Pb−Te−Oを作製するために使用されるPbOおよびTeOの粉末の混合物は、混ぜ合わせた粉末に基づいて、5〜95mol%の酸化鉛のおよび5〜95mol%の酸化テルルを含む。一実施形態において、PbOおよびTeOの粉末の混合物は、混ぜ合わせた粉末に基づいて、25〜85mol%の酸化鉛および15〜75mol%の酸化テルルを含む。別の実施形態において、PbOおよびTeOの粉末の混合物は、混ぜ合わせた粉末に基づいて、25〜65mol%の酸化鉛および35〜75mol%の酸化テルルを含む。
一実施形態において、電気伝導性ペーストは、0.5〜10重量%のPb−Te−Oを含み、重量%は厚膜ペーストの全重量に基づく。別の実施形態において、厚膜ペーストは、0.5〜5重量%のPb−Te−Oを含み、重量%は組成物の全重量に基づく。
いくつかの実施形態において、PbOおよびTeOの粉末の混合物は、1つ又は複数の他の金属化合物をさらに含む。適切な他の金属化合物は、TiO、LiO、B、PbF、SiO、NaO、KO、RbO、CsO、Al、MgO、CaO、SrO、BaO、V、ZrO、MoO、Mn、AgO、ZnO、Ga、GeO、In、SnO、Sb、Bi、BiF、P、CuO、NiO、Cr、Fe、CoO、Co、およびCeOを含む。
表1は、鉛・テルル酸化物の作製に使用可能である、PbO、TeO、および他の任意選択の金属化合物を含む粉末混合物のいくつかの例を記載する。このリストは、例示を意図したものであり、限定的ではない。表1で、化合物の量は、重量%として示され、ガラス組成物全体の重量に基づく。
したがって本明細書で使用するとき、用語「Pb−Te−O」は、Si、Sn、Li、Ti、B、Ag、Na、K、Rb、Cs、Ge、Ga、In、Ni、Zn、Ca、Mg、Sr、Ba、Se、Mo、W、Y、As、La、Nd、Co、Pr、Gd、Sm、Dy、Eu、Ho、Yb、Lu、Bi、Ta、V、Fe、Hf、Cr、Cd、Sb、F、Zr、Mn、P、Cu、Ce、およびNbからなる群から選択される1つ又は複数の元素の酸化物を含む金属酸化物も包含する。
Figure 2013179038
一実施形態において、Pb−Te−Oはホウ素を含み、すなわち、Pb−Te−OはPb−Te−B−Oとなる。Pb−Te−B−Oを作製するために使用される開始混合物は、(開始混合物全体の重量に基づいて)25〜75重量%、30〜60重量%、または30〜50重量%であるPbO;10〜70重量%、25〜60重量%、または40〜60重量%であるTeO;0.1〜15重量%、0.25〜5重量%、または0.4〜2重量%であるBを含む。
一実施形態において、PbO、TeO、およびBは、Pb−Te−B−O組成物の80〜100重量%である。別の実施形態において、PbO、TeO、およびBは、Pb−Te−B−O組成物の85〜100重量%、または90〜100重量%である。
別の実施形態において、上記のPbO、TeO、およびBに加えて、Pb−Te−B−Oを作製するために使用される開始混合物は、PbF2、SiO2、BiF、SnO、LiO、Bi、ZnO、V、NaO、TiO、Al、CuO、ZrO2、CeO、またはAgOの1つ又は複数を含む。一実施形態において、これらの成分の1つ又は複数は、Pb−Te−B−O組成物の0.1〜20重量%、0.1〜15重量%、または0.1〜10重量%である。この実施形態の態様において(開始混合物全体の重量に基づいて):
PbFは、0.1〜20重量%、0.1〜15重量%、または5〜10重量%である;
SiOは、0.1〜11重量%、0.1〜5重量%、0.25〜4重量%、または0.1〜0.5重量%である;
BiFは、0.1〜15重量%、0.1〜10重量%、または1〜10重量%である;
SnOは、0.1〜5重量%、0.1〜2重量%、または0.5〜1.5重量%である;
ZnOは、0.1〜5重量%、0.1〜3重量%、または2〜3重量%である;
は、0.1〜5重量%、0.1〜1重量%、または0.5〜1重量%である;
NaOは、0.1〜5重量%、0.1〜3重量%、または0.1〜1.5重量%である;
CuOは、0.1〜5重量%、0.1〜3重量%、または2〜3重量%である;
ZrOは、0.1〜3重量%、0.1〜2重量%、または0.1〜1重量%である;
CeOは、0.1〜5重量%、0.1〜3重量%、または0.1〜2.5重量%である;
LiOは、0.1〜5重量%、0.1〜3重量%、または0.25〜2重量%である;
Biは、0.1〜15重量%、0.1〜10重量%、または5〜8重量%である;
TiOは、0.1〜5重量%、0.25〜5重量%、または0.25〜2.5重量%である;
Alは、0.1〜3重量%、0.1〜2.5重量%、または0.1〜2重量%である;、および
AgOは、0.1〜10重量%、1〜10重量%、または1〜8重量%である。
一実施形態において、Pb−Te−B−Oは均質の粉末である。別の実施形態においてPb−Te−B−Oは2つ以上の粉末の組合せであり、各粉末は、単独では均質の集団であり得る。多数の粉末の全部の組合せの組成は、上述の範囲内にある。例えば、Pb−Te−B−Oは、2つ以上の異なる粉末の組合せを含んでもよく、単独では、これらの粉末は異なる組成を有してもよく、かつ上述の範囲内にあってもよいし、なくてもよい。しかしながら、これらの粉末の組合せは、上述の範囲内にある。
一実施形態において、Pb−Te−B−O組成物は、Pb、Te、B、およびOの群の元素のいくつかは含むがすべては含まない均質の粉末を含む1つの粉末、ならびに、Pb、Te、B、およびOの群の元素の1つまたは複数を含む第2の粉末を含んでもよい。例えば、Pb−Te−B−O組成物は、Pb、Te、およびOを含む第1の粉末、ならびに、Bを含む第2の粉末を含んでもよい。この実施形態の一態様において、これらの粉末は、均一な組成を形成するために一緒に融解される。この実施形態の別の態様において、粉末は、厚膜組成物に単独に加えられる。
一実施形態において、Li2Oのうちのいくらかまたはすべては、NaO、KO、CsO、またはRbOと取り替えられ、上記のリストに記載された組成物と同様の特性を有するガラス組成物を結果として生ずる。この実施形態において、全アルカリ金属酸化物含有量は、0.1〜5重量%、0.1〜3重量%、または0.25〜3重量%である。
別の実施形態において、本明細書のPb−Te−B−O組成物は、GeO、Ga、In、NiO、CoO、ZnO、CaO、MgO、SrO、MnO、BaO、SeO、MoO、WO、Y、As、La、Nd、Bi、Ta、V、FeO、HfO、Cr、CdO、Sb、PbF、ZrO、Mn、P、CuO、Pr、Gd、Sm、Dy、Eu、Ho、Yb、Lu、CeO、SnO、SiO、AgO、Nb、TiO、RbO、SiO、NaO、KO、CsO、Lu、SnO、および金属ハロゲン化物(例えばNaCl、KBr、NaI、LiF、ZnF)の成分の第3のセットの1つまたは複数を含んでもよい。
したがって本明細書で使用するとき、用語「Pb−Te−B−O」は、Si、Sn、Li、Ti、Ag、Na、K、Rb、Cs、Ge、Ga、In、Ni、Zn、Ca、Mg、Sr、Ba、Se、Mo、W、Y、As、La、Nd、Co、Pr、Gd、Sm、Dy、Eu、Ho、Yb、Lu、Bi、Ta、V、Fe、Hf、Cr、Cd、Sb、F、Zr、Mn、P、Cu、Ce、およびNbからなる群から選択される元素の1つ又は複数の酸化物を含む金属酸化物をさらに包含してもよい。
別の実施形態において、Pb−Te−Oは、リチウムを含み、すなわち、Pb−Te−OはPb−Te−Li−Oになる。Pb−Te−Li−Oの作製に使用される開始混合物は、(開始混合物全体の重量に基づいて)
30〜60重量%、40〜55重量%、または45〜50重量%であるPbO、
40〜65重量%、45〜60重量%または50〜55重量%であるTeO、および
0.1〜5重量%、0.2〜3重量%または0.3〜1重量%であるLi2O
を含む。
別の実施形態において、上記のPbO、TeO、およびLiOに加えて、Pb−Te−Li−Oを作製するために使用される開始混合物は、1つ又は複数の、SiO、SnO、B、AgO、BiF、V、NaO、ZrO、TiO、CeO、Bi、Nb、Ta、KO、MgO、P、SeO、Co、PdO、RuO、NiO、ZnO、CuO、MnO、Cr、またはAlを含む。この実施形態の態様において(開始混合物全体の重量に基づいて):
SiOは、0.1〜11重量%、0.1〜5重量%、0.25〜4重量%、または0.1〜0.5重量%である;
SnOは、0.1〜5重量%、0.1〜2重量%、または0.5〜1.5重量%である;
は、0.1〜10重量%、0.1〜5重量%、または0.5〜5重量%である;
AgOは、0.1〜30重量%、0.1〜20重量%、3〜15重量%、または1〜8重量%である;
TiOは、0.1〜5重量%、0.25〜5重量%、または0.25〜2.5重量%である;
PbFは、0.1〜20重量%、0.1〜15重量%、または5〜10重量%である;
BiFは、0.1〜15重量%、0.1〜10重量%、または1〜10重量%である;
ZnOは、0.1〜5重量%、0.1〜3重量%、または2〜3重量%である;
は、0.1〜5重量%、0.1〜1重量%、または0.5〜1重量%である;
NaOは、0.1〜5重量%、0.1〜3重量%、または0.1〜1.5重量%である;
CuOは、0.1〜5重量%、0.1〜3重量%、または2〜3重量%である;
ZrOは、0.1〜3重量%、0.1〜2重量%、または0.1〜1重量%である;
CeOは、0.1〜5重量%、0.1〜3重量%または0.1〜2.5重量%である;
Biは、0.1〜15重量%、0.1〜10重量%または5〜8重量%である;および
Alは、0.1〜3重量%、0.1〜2.5重量%または0.1〜2重量%である。
そのような一実施形態において、上記のPbO、TeO、およびLiOに加えて、Pb−Te−Li−Oを作製するために使用される開始混合物は、B、ならびに、Bi、BiF、またはBiとBiFとの混合物を含む。この実施形態において、Pb−Te−Li−Oは、Pb−Te−Li−B−Bi−Oとなる。
一実施形態において、Pb−Te−Li−Oは、均質の粉末である。別の実施形態において、Pb−Te−Li−Oは、2つ以上の粉末の組合せであり、各粉末は単独では均質の集団であり得る。2つの粉末の全部の組合せの組成は、上述の範囲内にある。例えば、Pb−Te−Li−Oは2つ以上の異なる粉末の組合せを含んでもよく、単独では、これらの粉末は異なる組成を有してもよく、かつ上述の範囲内にあってもよいし、なくてもよい。しかしながら、これらの粉末の組合せは、上述の範囲内にある。
一実施形態において、Pb−Te−Li−O組成物は、Pb、Te、Li、およびOの群の元素のいくつかは含むがすべては含まない均質の粉末を含む1つの粉末、ならびに、Pb、Te、Li、およびOの群の元素の1つまたは複数を含む第2の粉末を含んでもよい。
一実施形態において、LiOのうちのいくらかまたはすべては、NaO、KO、CsO、またはRbOと取り替えられ、上記のリストに記載された組成物と同様の特性を有するガラス組成物を結果として生ずる。この実施形態において、全アルカリ金属酸化物含有量は、0.1〜5重量%、0.1〜3重量%、または0.25〜3重量%である。
別の実施形態において、本明細書のガラスフリット組成物は、GeO、GaO3、In、NiO、CoO、ZnO、CaO、MgO、SrO、MnO、BaO、SeO、MoO、WO、Y、As、La、Nd、Bi、B、Ta、V、FeO、HfO、Cr、CdO、Sb、PbF、ZrO、Mn、P、CuO、La、Pr、Nd、Gd、Sm、Dy、Eu、Ho、Lu、CeO、BiF、SnO、SiO、AgO、Nb、TiO、および金属ハロゲン化物(例えばNaCl、KBr、NaI、LiF)の成分の第3のセットの1つまたは複数を含む。
したがって、本明細書で使用するとき、用語「Pb−Te−Li−O」は、Si、Sn、Ti、Ag、Na、K、Rb、Cs、Ge、Ga、In、Ni、Zn、Ca、Mg、Sr、Ba、Se、Mo、W、Y、As、La、Nd、Co、Pr、Gd、Sm、Dy、Eu、Ho、Yb、Lu、Bi、B、Ta、V、Fe、Hf、Cr、Cd、Sb、F、Zr、Mn、P、Cu、Ce、およびNbからなる群から選択される1つ又は複数の元素を含む金属酸化物を包含する。
表2は、鉛・テルル・リチウム酸化物を作製するために使用可能な、PbO、TeO2、Li2Oを含む粉末混合物のいくつかの例を記載する。このリストは、例示を意図したものであり、限定的ではない。表2で、化合物の量は、重量%として示され、ガラス組成物全体の重量に基づく。
Figure 2013179038
別の実施形態において、Pb−Te−Oは、リチウムおよびチタンを含み、すなわち、Pb−Te−Oは、Pb−Te−Li−Ti−Oとなる。Pb−Te−Li−Ti−Oを作製するために使用される開始混合物は、Pb−Te−Li−Ti−Oの開始混合物の全重量に基づいて、25〜65重量%のPbO、25〜70の重量%のTeO、0.1〜5重量%のLiO、および0.1−5重量%のTiOを含む。一実施形態において、Pb−Te−Li−Ti−Oを作製するために使用される開始混合物は、Pb−Te−Li−Ti−Oの開始混合物の全重量に基づいて、30〜60重量%のPbO、30〜65の重量%のTeO、0.25〜3重量%のLiO、および0.25〜5重量%のTiOを含む。別の実施形態において、開始混合物は、30〜50重量%のPbO、50〜65の重量%のTeO、0.5〜2.5重量%のLiO、および0.5〜3重量%のTiOを含む。
上記の実施形態のいずれにおいても、PbO、TeO、Li、およびTiOは、Pb−Te−Li−Ti−O組成物の80〜100重量%である。別の実施形態において、PbO、TeO、Li、およびTiOは、Pb−Te−Li−Ti−O組成物の85〜100重量%または90〜100重量%である。
別の実施形態において、上記のPbO、TeO、LiO、およびTiOに加えて、Pb−Te−Li−Ti−Oは、SiO、SnO、B、ZnO、Nb、CeO、V、Al、AgO、およびそれらの混合物からなる群から選択される酸化物をさらに含む。この実施形態の態様において(開始混合物全体の重量に基づいて):
SiOは、0.1〜10重量%、0.1〜9重量%、または2〜9重量%である;
SnOは、0.1〜5重量%、0.1〜4重量%、または0.5〜1.5重量%である;
は、0.1〜10重量%、0.1〜5重量%、または1〜5重量%である;および
Ag、0.1〜30重量%、0.1〜20重量%、または3〜15重量%である。
さらに、上記の実施形態のいずれにおいても、本明細書のガラスフリット組成物は、GeO、Ga、In、NiO、ZnO、CaO、MgO、SrO、BaO、SeO、MoO、WO、Y、As、La、Nd、Bi、BiF、Ta、FeO、HfO、Cr、CdO、Sb、PbF、ZrO、Mn、P、CuO。RbO、NaO、KO、CsO、Lu、および金属ハロゲン化物(例えばNaCl、KBr、NaI、LiF、ZnF)の成分の第3のセットの1つまたは複数を含み得る。
したがって、本明細書で使用するとき、用語「Pb−Te−Li−Ti−O」は、Si、Sn、B、Ag、Na、K、Rb、Cs、Ge、Ga、In、Ni、Zn、Ca、Mg、Sr、Ba、Se、Mo、W、Y、As、La、Nd、Bi、Ta、V、Fe、Hf、Cr、Cd、Sb、Zr、Mn、P、Cu、Lu、Ce、Al、およびNbからなる群から選択される1つ又は複数の元素の酸化物を含む酸化物をさらに包含する。
表3および表4に、鉛・テルル・リチウム・チタン酸化物を作製するために使用可能な、PbO、TeO、LiO、TiO、および他の任意選択の化合物を含む粉末混合物のいくつかの例を記載する。このリストは、例示を意図したものであり、限定的ではない。表3および表4において、化合物の量は、Pb−Te−Li−Ti−O組成物全体の重量に基づいて、重量パーセントとして示される。
表3の鉛・テルル・リチウム・チタン酸化物(Pb−Te−Li−Ti−O)組成物は、ガラス組成物全体の重量に基づき、表3に示す重量百分率を有する酸化物の組成物を提供するために、Pb、TeO、LiCO、およびTiOの粉末、さらに、任意選択的に表3に示すように、SiO、B、AgO、および/または、SnOの粉末の各量を混合し混練することによって調製された。
Figure 2013179038
表4の鉛・テルル・リチウム・チタン酸化物(Pb−Te−Li−Ti−O)組成物は、ガラス組成物全体の重量に基づき、表4に示す重量百分率を有する酸化物の組成物を提供するために、Pb、TeO、LiCO、およびTiOの粉末、さらに、任意選択的に表4に示すように、B、ZnO、Nb、CeO、および/または、Vの粉末の各量を混合し混練することによって調製された。
Figure 2013179038
一実施形態において、Pb−Te−Li−Ti−Oは、均質の粉末である。別の実施形態において、Pb−Te−Li−Ti−Oは、2つ以上の粉末の組合せであり、各粉末は単独では均質の集団であり得る。2つの粉末の全部の組合せの組成は上述の範囲内にある。例えば、Pb−Te−Li−Ti−Oは、2つ以上の異なる粉末の組合せを含んでもよく、単独では、これらの粉末は異なる組成を有してもよく、かつ上述の範囲内にあってもよいし、なくてもよい。しかしながら、これらの粉末の組合せは、上述の範囲内にある。
一実施形態において、Pb−Te−Li−Ti−O組成物は、Pb−Te−Li−Ti−O組成物の所望の元素のいくつかは含むがすべては含まない均質の粉末を含む1つの粉末、および、1つまたは複数の他の所望の元素を含む第2の粉末を含んでもよい。例えば、Pb−Te−Li−Ti−O組成物は、Pb、Te、Li、およびOを含む第1の粉末、およびTiOを含む第2の粉末を含んでもよい。この実施形態の一態様において、粉末は、均一な組成を形成するために一緒に融解される。この実施形態の別の態様において、粉末は、厚膜組成物に別々に加えられる。
一実施形態において、任意のLiOのうちのいくらかまたはすべては、NaO、KO、CsO、またはRbOと取り替えられ、上記のリストに記載された組成物と同様の特性を有するガラス組成物を結果として生ずる。この実施形態において、全アルカリ金属含有量は、LiOに対して上述されたものになる。
有機媒体
印刷に適切なコンシステンシー(粘稠度)およびレオロジー(流動性)を有する、粘性の厚膜ペースト、または粘性がより少ないインクを形成するために、ペーストの無機の成分は、有機媒体と混合される。様々な不活性の粘性物質を、有機媒体として使用することができる。有機媒体は、その中に無機の成分が、スクリーン印刷する工程中の印刷スクリーン上における適切な安定度に加えて、ペーストまたはインクの生産、出荷、および貯蔵の間における適切な安定度を有して分散されるものであり得る。
適切な有機媒体は、固形物の安定した分散、印刷に対して適切な粘度およびチキソトロピー、基板およびペースト固形物の適切なぬれ性、良好な乾燥速度、ならびに良好な焼成特性、を提供するレオロジー特性を有する。有機媒体は、シックナー、安定剤、界面活性剤、および/または、他の一般的な添加剤を含み得る。そのようなチキソトロピーのシックナーは、Thixatrol(登録商標)(Elementis plc,London,UK)である。有機媒体は、ポリマーが溶媒に溶けた液であり得る。適切なポリマーは、エチルセルロース、エチルヒドロキシエチルセルローズ、ウッドロジン、エチルセルロースおよびフェノール樹脂の混合物、低級アルコールのポリメタクリレート、ならびにエチレングリコールモノアセテートのモノブチルエーテルを含む。適切な溶媒は、αまたはβテルピネオールなどのテルペン、または灯油などの他の溶媒とのそれらの混合物;フタル酸ジブチル;ブチルカルビトール;ブチルカルビトールアセテート;ヘキシレングリコールおよび150℃を超える沸点を有するアルコール;ならびにアルコールエステルを含む。他の適切な有機媒体成分は、ビス(2−(2−ブトキシエトキシ)エチルアジパート;DBE、DBE−2、DBE−3、DBE−4、DBE−5、DBE−6、DBE−9、およびDBE 1Bなどの二塩基のエステル;オクチルエポキシタレート;イソテトラデカノール;ならびに水素添加ロジンのペンタエリトリトールエステルを含む。有機媒体は、基板上にペースト組成物を適用した後での急速な硬化を促進するために、揮発性の液体をさらに含み得る。
ペースト中の有機媒体の最適な量は、組成物を適用する方法、使用される具体的な有機媒体、およびペーストが使用される目的に依存する。ペーストは、組成物の全重量に基づいて、5〜50重量%の有機媒体を含む。
有機媒体が、ポリマーを含む場合、ポリマーは、有機組成物の8〜15重量%を通常含む。
ペーストの調製
一実施形態において、ペーストは、銀、銅、Pb−Te−O、および有機媒体を任意の順に混合することにより調製し得る。いくつかの実施形態において、無機材料は最初に混合され、次いで、それらは有機媒体に加えられる。別の実施形態において、銀が、それは無機物の大部分であるが、有機媒体に徐々に加えられる。粘度は、溶媒の追加によって必要な場合調整することができる。高い剪断力を提供する混合方法が有用である。
電極の形成
ペーストは、例えば、スクリーン印刷、めっき、押出し、インクジェット印刷、成形印刷もしくは多重印刷、またはリボンによって堆積することができる。
この電極形成プロセスにおいて、ペーストは、有機媒体を除去し、かつ無機材料を焼結するために、最初に乾燥され、次いで、加熱される。加熱は、空気中または酸素含有の雰囲気中で実行することができる。このステップは、「焼成」と一般に呼ばれる。焼成温度プロファイルは、乾燥されたペースト組成物からの有機バインダー材料、ならびに、存在する他のあらゆる有機材料が燃え尽きることを可能にするように通常設定される。一実施形態において、焼成温度は、700℃〜950℃である。焼成は、ベルト炉中で、高い移送速度、例えば、100〜500cm/分で、結果として0.03〜5分のホールドアップ時間を有する速度を使用して、処理することができる。多数温度ゾーン、例えば、3〜11のゾーンを所望の熱のプロファイルを制御するために使用することができる。
一実施形態において、半導体デバイスが、接合を有する半導体基板およびその主表面上に形成された窒化ケイ素絶縁膜を含む物品から製造される。本ペーストは、絶縁膜上に、所定の形状および厚さで、および所定位置に適用される(例えば、コーティングされるかまたはスクリーン印刷される)。本ペーストは、絶縁層を貫通する能力を有する。次いで、焼成が実行され、ペーストが絶縁膜と反応し、絶縁膜を貫通し、それによってシリコン基板との電気的接触をもたらし、その結果電極が形成される。
電極を形成するこの方法の一例を図1A〜図1Fと併せて以下に記述する。
図1Aは、単結晶または多結晶のp型シリコン基板10を示す。
図1B中において、逆導電型のn型拡散層20が、リンの源としてオキシ塩化リンを使用するリンの熱拡散によって形成される。特別な変更を何もしない場合は、拡散層20は、シリコンp型基板10の表面全体の上に形成される。拡散層の深さは、拡散の温度および時間の制御によって、変えることができ、0.3〜0.5ミクロンの厚さ範囲に一般に形成される。n型拡散層は、数十オーム/スクエアから約120オーム/スクエアまでのシート抵抗率を有してもよい。
レジストなどで、この拡散層の前面を保護した後、図1Cに示すように拡散層20は、前面でのみ残存するようにエッチングすることによって表面の他の部分から除去される。次いで、レジストは、有機溶媒などを使用して除去される。
次いで、図1Dに示すように、反射防止コーティング(ARC)の役目もする絶縁層30が、n型拡散層20上に形成される。絶縁層は、一般に窒化ケイ素であるが、SiNx:H膜(すなわち、絶縁膜は、後続の焼成処理工程中でのパシベーション用水素を含む)、酸化チタン膜、酸化ケイ素膜、または酸化シリコン/酸化チタン膜でもあり得る。窒化ケイ素膜の約700〜900Åの厚さは、約1.9〜2.0の屈折率に対して適切である。絶縁層30の堆積は、スパッタリング、化学的気相成長法または他の方法によって遂行できる。
次に、電極が形成される。図1Eに示すように、本発明の厚膜ペースト500が、絶縁膜30上に、前面電極を作成するためにスクリーン印刷され、次に、乾燥される。さらに、背面の銀または銀/アルミニウムのペースト70、および、アルミニウムペースト60が、基板の背面上に、次いで、スクリーン印刷され、引き続いて乾燥される。焼成は、赤外線ベルト炉中で、約750℃〜950℃の温度領域で、数秒から数十分の間、実行される。
したがって、図1Fに示すように、焼成中に、アルミニウムは、背面でアルミニウムペースト60からシリコン基板10の中へ拡散し、それによって高濃度のアルミニウムドーパントを含有するp+層40を形成する。この層は、裏面電界(BSF)層と一般に呼ばれ、太陽電池のエネルギー変換効率を改善するのに役立つ。
焼成は、乾燥されたアルミニウムペースト60をアルミニウム背面電極61に転化させる。背面の銀または銀/アルミニウムのペースト70は、同時に焼成され、銀または銀/アルミニウムの背面電極71になる。焼成中に、背面アルミニウムと、背面の銀または銀/アルミニウムとの間の境界は、合金状態を呈し、それによって電気的接続を達成する。背面電極のほとんどの面積は、アルミニウム電極61によって占められるが、1つにはp+層40を形成する必要があるためである。アルミニウム電極へのはんだ付けは不可能であるので、銀または銀/アルミニウムの背面電極71が、銅リボンなどによって太陽電池を相互に連結させるための電極として背面の部分上に形成される。さらに、本発明の前面厚膜ペースト500は、焼成中に、焼結し、絶縁膜30を貫通し、それによって、n型層20と電気的接触を達成する。この種のプロセスは、「ファイアスルー」と一般に呼ばれる。図1Fの焼成された電極501は、ファイアスルーの結果を明白に示す。
太陽電池の電気的測定
市販の電流電圧(JV)試験装置ST−1000(Telecom−STV Ltd.,Moscow,Russia)を、多結晶シリコン光電池の効率および曲線因子の測定を行うために使用した。2つの電気的接続を、一つは電圧に対して、一つは電流に対して、各光電池の上部および下部で行った。シリコン光電池を加熱することを避けるために、および、標準温度条件(25℃)でのJVカーブを得るために、過渡的な光励起を使用した。太陽スペクトルと類似のスペクトルの出力を有するフラッシュランプで、1mの垂直の距離から光電池を照明した。ランプ電力を14ミリ秒間一定に保持した。サンプル表面での強度は、外部の太陽電池に対して較正されたとき、この期間中に1000W/m(または1sun)だった。この14ミリ秒の間に、JV試験装置は、サンプル上の疑似的な電気的負荷を短絡から開放まで変えた。JV試験装置は、負荷が、上記の負荷範囲を変わる間の、光電池を通る光誘起電流および光電池の両端の電圧を記録した。このデータから、各電圧レベルで電流と電圧の積をとることにより、電力対電圧カーブを得た。太陽電池効率の計算のために、電力対電圧カーブの最大値を太陽電池の固有の出力電力とした。この最大電力をサンプルの面積で割り、1sunの強度での最大電力密度を得た。次いで、これを入射強度の1000W/mで割り、効率を得て、次いで、これに100を掛け、結果をパーセントでの効率で示した。この同じ電流−電圧曲線から他の関心のあるパラメーターも得た。そのような1つのパラメーターは、太陽電池からの最大電力の、開路電圧および短絡電流の積に対する比率をとることにより得られる曲線因子(FF)である。FFは、太陽電池からの最大電力の、VocおよびIscの積に対する比率に100を掛けたものとして定義される。
比較実験A
86.01gの銀、2.01gのPb−Te−Li−O、および9.41gの有機媒体を、プラスチック瓶において、THINKY(登録商標) ARE−310ミキサー(THINKY Corp.,Laguna Hills,CA)を使用して2000 rpmで1分間混合することによって、厚膜ペーストの1つのバッチを作製した。このステップを、さらに2回繰り返し、完全に混合された混練物を得た。次いで、分散混合物を3本ロールミル(Charles Ross & Son Company,Floor Model,4インチ×8インチ)で混練し、1ミルの間隔で、0psiで3回通過させ、さらに、100psiで3回通過させ、厚いペーストを得た。最終ペーストの粘度を、Brookfield HADV−1 Prime Viscometer(Brookfield Engineering Labs,Inc.,Middleboro,MA)を使用し、サーモスタットで調温した小標本アダプターを用いて、約10rpmで測定し、288Pa・sを得た。最終ペーストの固形分は、約90.3重量%であると算定された。
Pb−Te−Li−Oは以下のように調製した。Te:Pb:Liの%カチオン比率を57:38:5とした、TeO粉末(99超%の純度)、PbO粉末(ACS試薬等級、99超%の純度)、およびLiCOの混合物を、ポリエチレン容器において30分間回転し、開始粉末を混合した。開始粉末の混合物を白金ルツボに入れ、10℃/分の昇温速度で空気中で900℃に加熱し、次いで900℃で1時間保持し、混合物を融解した。白金ルツボを炉からの取り出し、さらにステンレス鋼プラテン上に融解物を注ぐことにより、融解物を900℃から急冷した。結果として得た材料を乳鉢および乳棒で100メッシュ未満にまで摩砕した。次いで、摩砕された材料を、ジルコニア球およびイソプロピルアルコール入りのポリエチレン容器内でボールミル粉砕をし、平均粒子径(d50)を、0.5〜0.7ミクロンまでにした。次いで、ボールミル粉砕をされた材料を、粉砕球から分離し、乾燥し、100メッシュスクリーンを通し、厚膜ペースト調製において使用されるPbO−TeO−LiO粉末(Pb−Te−Li−O)を提供した。
厚膜ペーストの有機媒体成分および使用した量を表5に示す。有機媒体を、これらの成分の混合により調製した。
Figure 2013179038
結果として得たペーストを、比較実験Aにおいて使用した。ペーストを、200μm厚で28mmx28mmの多結晶シリコンウェハの前面に印刷し、前面電極を形成し、次いで、乾燥した。市販のアルミニウムペーストPV381(DuPont Co.,Wilmington,DE)を、シリコンウェハの背面にスクリーン印刷し、背面電極を形成し、次いで、乾燥した。本質的に同様なウェハを、同様の方法で付加的に調製した。これらのウェハを、910℃〜955℃の範囲の4つの異なる最高焼成温度で焼成し、太陽電池の前面および背面の電極を形成した。少なくとも3〜5枚のウェハを、各温度で焼成した。上記のように測定した太陽電池効率および曲線因子(FF)のメジアンを、各最高焼成温度で調製されたサンプルに対して表6に示す。この比較実験において作製され、使用されたペーストは、Agは含むが銅は含まないので、それを、Agおよび銅の全体積に基づいて、100体積%のAgの組成物を有するとして明示する。
実施例1
厚膜ペーストの第2のバッチを、実質上比較実験Aで記載した通りに作製した。但し、Agの量、すなわちAgの体積については、その体積の75%が、Agであり、その体積の25%が、脂肪酸をコーティングされた銅である、Agおよび銅の混合物に取り替えたという点は除く。脂肪酸をコーティングされた銅は、3.3μmのメジアン粒径d50を有する銅(CuLox Technologies,Inc.,Naugatuck,CTから入手したロット番号7032−2)の上に0.1%の脂肪酸コーティングを含んでいた。このペーストを、Agおよび銅の全体積に基づいて、75体積%のAg/25体積%の脂肪酸をコーティングされた銅(Cu)の組成を有するとして明示する。比較実験Aにおいて記述したように、太陽電池を作製し、測定値を得た。上記のように測定した、太陽電池効率および曲線因子のメジアンを、各最高焼成温度で調製されたサンプルに対して表6に示す。
実施例2
厚膜ペーストの第3のバッチを、実質上比較実験Aで記載した通りに作製した。但し、Agの量、すなわちAgの体積については、その体積の75%が、Agであり、その体積の25%が、スズ(Sn)をコーティングされた銅であって、スズは1.25体積%を構成する銅である、Agおよび銅の混合物に取り替えたという点は除く。スズコーティングされた銅は、13μmのメジアン粒径d50を有していた(Technic,Inc.,Cranston,RIから入手したロット番号3205−2)。このペーストを、AgおよびCuの全体積に基づいて、75体積%のAg/25体積%のSnコーティングされた銅の組成を有するとして明示する。比較実験Aにおいて記述したように、太陽電池を作製し、測定値を得た。上記のように測定した、太陽電池効率および曲線因子のメジアンを、各最高焼成温度で調製されたサンプルに対して表6に示す。
実施例3
厚膜ペーストの第4のバッチを、実質上比較実験Aで記載した通りに作製した。但し、Agの量、すなわちAgの体積については、その体積の75%が、Agであり、その体積の25%が、銅である、Agおよび銅の混合物に取り替えたという点は除く。銅は、4.3μmのメジアン粒径d50を有していた(ACuPowder International,LLC,Union,NJから入手したロット番号56109150802)。このペーストを、AgおよびCuの全体積に基づいて、75体積%のAg/25体積%のCuの組成を有するとして明示する。比較実験Aにおいて記述したように、太陽電池を作製し、測定値を得た。上記のように測定された、太陽電池効率および曲線因子のメジアンを、各最高焼成温度で調製されたサンプルに対して表6に示す。
Figure 2013179038
10:p型シリコン基板
20:n型拡散層
30:ARC(例えば窒化ケイ素膜、酸化チタン膜または酸化ケイ素膜)
40:p+層(裏面電界、BSF)
60:背面に堆積されたアルミニウムペースト
61:アルミニウム背面電極(背面アルミニウムペーストの焼成により得られた)
70:背面上に堆積された銀/アルミニウムペースト
71:銀/アルミニウム背面電極(背面銀/アルミニウムペーストの焼成により得られた)
500:前面に堆積された本発明のペースト
501:前面電極(前面ペースト500の焼成により形成された)

Claims (6)

  1. (a)銀;
    (b)銅;
    (c)Pb−Te−O;および
    (d)有機媒体;
    を含み、前記銀、前記銅、および前記Pb−Te−Oが、前記有機媒体に分散し、かつ前記銀、前記銅、および前記Pb−Te−Oの合計含有量が、前記厚膜銀ペーストの全重量に基づいて、50〜95重量%である、厚膜銀ペースト。
  2. 前記厚膜銀ペーストが、50〜95体積%の銀および5〜50体積%の銅を含み、前記体積%は、前記銀および前記銅の全体積に基づく、請求項1に記載の厚膜銀ペースト。
  3. 前記銅が、脂肪酸をコーティングされた銅、スズをコーティングされた銅、銀をコーティングされた銅、およびそれらの混合物からなる群から選択される、表面コーティングされた銅である、請求項1に記載の厚膜銀ペースト。
  4. 前記厚膜銀ペーストが、0.5〜10重量%のPb−Te−Oを含み、前記重量%は、前記厚膜銀ペーストの全重量に基づく、請求項1に記載の厚膜銀ペースト。
  5. 前記Pb−Te−Oが、Pb−Te−Li−O、Pb−Te−Li−Ti−O、Pb−Te−Li−B−Bi−O、およびそれらの混合物からなる群から選択される、請求項6に記載の厚膜銀ペースト。
  6. 請求項1〜5のいずれか一項に記載の厚膜銀ペーストから形成された電極を含み、前記厚膜銀ペーストが、有機媒体を除去し、前記電極を形成するために焼成されている太陽電池。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015092567A (ja) * 2013-10-25 2015-05-14 碩禾電子材料股▲ふん▼有限公司 太陽電池用導電性ペーストおよびその方法
CN110066108A (zh) * 2018-01-23 2019-07-30 Agc株式会社 玻璃、玻璃的制造方法、导电糊剂和太阳能电池

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014146306A1 (zh) * 2013-03-22 2014-09-25 深圳首创光伏有限公司 太阳能电池正面电极导电浆料及其制备方法
WO2014117409A1 (zh) * 2013-02-04 2014-08-07 深圳首创光伏有限公司 晶体硅太阳能电池正面电极导电浆料及其制备方法
CN104347151A (zh) * 2013-08-02 2015-02-11 上海匡宇电子技术有限公司 一种导电银浆及其制备方法
TWI480357B (zh) * 2013-12-17 2015-04-11 Ind Tech Res Inst 導電膠組成物與電極的形成方法
US20150206992A1 (en) 2014-01-17 2015-07-23 Heraeus Precious Metals North America Conshohocken Llc Lead-tellurium inorganic reaction systems
EP2913139B1 (en) 2014-02-26 2019-04-03 Heraeus Precious Metals North America Conshohocken LLC A glass comprising molybdenum and lead in a solar cell paste
EP2913312A1 (en) * 2014-02-26 2015-09-02 Heraeus Precious Metals North America Conshohocken LLC Silver-lead-silicate glass for electroconductive paste composition
EP2913140B1 (en) * 2014-02-26 2018-01-03 Heraeus Precious Metals North America Conshohocken LLC Molybdenum-containing glass frit for electroconductive paste composition
EP2918371A1 (en) * 2014-03-11 2015-09-16 Heraeus Precious Metals North America Conshohocken LLC Solderable conductive polymer thick film composition
GB201407418D0 (en) * 2014-04-28 2014-06-11 Johnson Matthey Plc Conductive paste, electrode and solar cell
US10636540B2 (en) 2015-03-27 2020-04-28 Heraeus Deutschland GmbH & Co. KG Electro-conductive pastes comprising an oxide additive
US10056508B2 (en) 2015-03-27 2018-08-21 Heraeus Deutschland GmbH & Co. KG Electro-conductive pastes comprising a metal compound
CN106328244A (zh) * 2015-06-19 2017-01-11 江苏正能电子科技有限公司 一种晶体硅太阳能电池背场铝浆
CN110305523A (zh) * 2019-07-02 2019-10-08 黄山市晶特美新材料有限公司 一种丝印抗冲击玻璃油墨及其制备方法
CN110451805B (zh) * 2019-09-19 2021-11-26 成都光明光电有限责任公司 封接玻璃
KR102238252B1 (ko) * 2019-10-24 2021-04-09 주식회사 베이스 글라스 프릿 및 이를 포함하는 태양전지 전극용 페이스트 조성물
CN114122187B (zh) * 2021-11-26 2022-06-14 湖北大学 铁电-半导体异质结型日盲紫外光电探测器及其制备方法
CN114283963B (zh) * 2021-12-20 2023-05-26 江苏索特电子材料有限公司 导电浆料组合物及其制备方法和应用、晶硅太阳能电池

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0897011A (ja) * 1994-09-26 1996-04-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd 酸化亜鉛バリスタ用電極材料
JP2011171272A (ja) * 2010-01-25 2011-09-01 Hitachi Chem Co Ltd 電極用ペースト組成物及び太陽電池

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1204567C (zh) * 2002-06-06 2005-06-01 华中科技大学 一种用于激光直写的导电浆料
KR100712185B1 (ko) * 2006-01-25 2007-04-27 삼성에스디아이 주식회사 유기전계발광표시장치 및 그 제조방법
JP5447397B2 (ja) * 2010-02-03 2014-03-19 日立化成株式会社 p型拡散層形成組成物、p型拡散層の製造方法、及び太陽電池セルの製造方法
JP5746325B2 (ja) * 2010-05-04 2015-07-08 イー・アイ・デュポン・ドウ・ヌムール・アンド・カンパニーE.I.Du Pont De Nemours And Company 鉛−テルル−ホウ素−酸化物を含有する厚膜ペーストと半導体デバイスの製造においてのそれらの使用
US8512463B2 (en) * 2011-04-05 2013-08-20 E I Du Pont De Nemours And Company Thick film paste containing bismuth-tellurium-oxide and its use in the manufacture of semiconductor devices
US8771554B2 (en) * 2011-10-20 2014-07-08 E I Du Pont De Nemours And Company Thick film silver paste containing Al2O3 and lead-tellurium—oxide and its use in the manufacture of semiconductor devices

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0897011A (ja) * 1994-09-26 1996-04-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd 酸化亜鉛バリスタ用電極材料
JP2011171272A (ja) * 2010-01-25 2011-09-01 Hitachi Chem Co Ltd 電極用ペースト組成物及び太陽電池

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015092567A (ja) * 2013-10-25 2015-05-14 碩禾電子材料股▲ふん▼有限公司 太陽電池用導電性ペーストおよびその方法
CN110066108A (zh) * 2018-01-23 2019-07-30 Agc株式会社 玻璃、玻璃的制造方法、导电糊剂和太阳能电池

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Publication number Publication date
CN103219063A (zh) 2013-07-24
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