JP2013146448A5 - - Google Patents

Description

本発明の撮影装置の一つは、
被検体の平面画像を取得する平面画像取得手段と、
前記被検体の断層画像を取得する断層画像取得手段と、
前記平面画像取得手段の光学系の一部と前記断層画像取得手段の光学系の一部との共通光路に設けられ、前記平面画像を取得するための測定光及び前記断層画像を取得するための測定光の偏光状態を調整する偏光調整部材と、を有する。
また、本発明の撮影装置の一つは、
被検体の偏光平面画像を取得する平面画像取得手段と、
前記被検体の偏光断層画像を取得する断層画像取得手段と、
前記平面画像取得手段の光学系の一部と前記断層画像取得手段の光学系の一部との共通光路に設けられる光学部材と、を有する。

Claims (11)

1. 被検体の平面画像を取得する平面画像取得手段と、
   前記被検体の断層画像を取得する断層画像取得手段と、
   前記平面画像取得手段の光学系の一部と前記断層画像取得手段の光学系の一部との共通光路に設けられ、前記平面画像を取得するための測定光及び前記断層画像を取得するための測定光の偏光状態を調整する偏光調整部材と、
   を有することを特徴とする撮影装置。
2. 前記平面画像と前記断層画像とを表示手段の同一画面に並べて表示させる表示制御手段を有することを特徴とする請求項１に記載の撮影装置。
3. 前記平面画像取得手段が、前記偏光調整部材により偏光状態を調整された測定光を照射した前記被検体からの戻り光を分割して得た互いに異なる偏光の光に基づいて、該被検体の偏光平面画像を前記平面画像として取得し、
   前記断層画像取得手段が、前記偏光調整部材により偏光状態を調整された測定光を照射した前記被検体からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光を分割して得た互いに異なる偏光の光に基づいて、該被検体の偏光断層画像を前記断層画像として取得し、
   前記表示制御手段が、前記被検体の偏光平面画像と該被検体の偏光断層画像とを前記表示手段の同一画面に並べて表示させることを特徴とする請求項２に記載の撮影装置。
4. 前記断層画像取得手段が、前記被検体の第一及び第二の偏光に対応する断層画像に基づいて該被検体の断層輝度画像を前記断層画像として取得し、
   前記表示制御手段が、前記断層輝度画像を前記表示手段に表示させることを特徴とする請求項２に記載の撮影装置。
5. 前記平面画像取得手段が、前記被検体の第一及び第二の偏光に対応する平面画像に基づいて該被検体の平面輝度画像を前記平面画像として取得し、
   前記表示制御手段が、前記平面輝度画像を前記表示手段に表示させることを特徴とする請求項２に記載の撮影装置。
6. 前記平面画像取得手段の光学系の光路と前記断層画像取得手段の光学系の光路とを分岐する分岐手段を更に有し、
   前記偏光調整部材が、前記分岐手段に対して前記被検体の側である前記共通光路に設けられることを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の撮影装置。
7. 被検体の偏光平面画像を取得する平面画像取得手段と、
   前記被検体の偏光断層画像を取得する断層画像取得手段と、
   前記平面画像取得手段の光学系の一部と前記断層画像取得手段の光学系の一部との共通光路に設けられる光学部材と、
   を有することを特徴とする撮影装置。
8. 前記平面画像取得手段の光学系の光路と前記断層画像取得手段の光学系の光路とを分岐する分岐手段を更に有し、
   前記光学部材が、対物レンズであり、
   前記対物レンズが、前記分岐手段に対して前記被検体の側である前記共通光路に設けられることを特徴とする請求項７に記載の撮影装置。
9. 前記平面画像取得手段が、前記対物レンズを介して測定光を照射した前記被検体からの戻り光を分割して得た互いに異なる偏光の光に基づいて前記偏光平面画像を取得し、
   前記断層画像取得手段が、前記対物レンズを介して測定光を照射した前記被検体からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを合波した光を分割して得た互いに異なる偏光の光に基づいて前記偏光断層画像を取得することを特徴とする請求項８に記載の撮影装置。
10. 前記偏光平面画像と前記偏光断層画像とを表示手段の同一画面に並べて表示させる表示制御手段を更に有することを特徴とする請求項７乃至９のいずれか１項に記載の撮影装置。
11. 前記被検体が、被検眼であることを特徴とする請求項１乃至１０のいずれか１項に記載の撮影装置。