JP2013143163A - 磁気ディスク装置、磁気ディスク評価装置および磁気ヘッド - Google Patents

磁気ディスク装置、磁気ディスク評価装置および磁気ヘッド Download PDF

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Abstract

【課題】熱アシスト磁気記録方式における信号の品質を安定化させる。
【解決手段】ノイズ演算部１６は、リード素子３Ａを介して読み出された信号に基づいてノイズレベルを演算し、データ保存部１７は、ノイズ演算部１６にて演算されたノイズレベルを保存し、データ演算部１８は、データ保存部１７に保存されたノイズレベルに基づいて、レーザ光の光強度に対するノイズ分散を演算し、信号品質判断部１９は、ノイズ分散に基づいて、リード素子３Ａにて読み出された信号の品質を判断する。
【選択図】 図１

Description

本発明の実施形態は磁気ディスク装置、磁気ディスク評価装置および磁気ヘッドに関する。
磁気ディスクの高記録密度化が進むにつれて、磁気ディスクに記録されたビットの残留磁化の熱安定性が減少する。このため、異方性磁界強度を高めた強磁性材料を記録層に用いることで、残留磁化の熱安定性を高めることが行われている。一方、異方性磁界強度を高めた強磁性材料を用いると、磁気ヘッドの発生可能な最大記録磁界の伸びが追いつかず、磁気記録に必要な磁界の不足が生じている。
磁気記録に必要な磁界の不足を補償するために、熱アシスト磁気記録方式が提案されている。この熱アシスト磁気記録方式では、記録時に磁気ディスクにレーザ光を照射し、磁気ディスクを局所的に加熱することで、反転磁界強度が低下される。このような熱アシスト磁気記録方式にて信号の品質を安定化させるためには、同一温度に対する保磁力のバラツキを磁気ディスクの記録単位で評価することが重要である。
特開２００８−１０３０３０号公報
本発明の一つの実施形態の目的は、熱アシスト磁気記録方式における信号の品質を安定化させることが可能な磁気ディスク装置、磁気ディスク評価装置および磁気ヘッドを提供することである。
実施形態の磁気ディスク装置によれば、磁気ディスクと、磁気ヘッドと、レーザ光強度制御部と、再生信号検出部と、磁気ディスク評価部が設けられている。磁気ヘッドは、磁気ディスクに記録された信号を読み出したり、前記磁気ディスクにレーザ光を照射しながら磁気記録を行ったりする。レーザ光強度制御部は、前記レーザ光の光強度を制御する。再生信号検出部は、前記磁気ヘッドにて読み出された信号を検出する。磁気ディスク評価部は、前記磁気ヘッドにて読み出された信号から検出されたノイズレベルと、前記レーザ光の光強度との関係に基づいて、前記磁気ヘッドから読み出された信号の品質を評価する。
図１は、第１実施形態に係る磁気ディスク評価装置の概略構成を示すブロック図である。 図２（ａ）は、図１の磁気ディスク１のセクタの構成例を示す平面図、図２（ｂ）は、図２（ａ）の磁気ディスク１の一部を拡大して示す図である。 図３（ａ）は、第１実施形態に係る熱アシスト磁気記録方法を示す断面図、図３（ｂ）は、図３（ａ）の熱アシスト磁気記録方法における磁界領域と加熱領域との関係を示す平面図である。 図４は、図１の磁気ディスク１の加熱温度と保磁力との関係を示す図である。 図５（ａ）は、図１の磁気ディスク１の全ての磁化方向が一方向に向いている時の状態を示す図、図５（ｂ）は、図１の磁気ディスク１の全ての磁化方向が図５（ａ）と反対方向に向いている時の状態を示す図、図５（ｃ）〜図５（ｉ）は磁気ディスク１の直流イレーズを完了させた後、ライト電流一定でレーザ光強度を順次増大させた時の磁化方向の変化を示す図である。 図６（ａ）は、図５（ａ）〜図５（ｉ）におけるレーザ光強度とノイズレベルとの関係を示す図、図６（ｂ）は、図６（ａ）の半値幅と信号品質との関係を示す図である。 図７は、図６（ａ）のレーザ光強度に対するノイズレベルの測定方法を示すフローチャートである。 図８は、第２実施形態に係る磁気ディスク評価装置の概略構成を示すブロック図である。 図９は、図８の磁気ディスク評価装置におけるライト電流に対するノイズレベルの測定方法を示すフローチャートである。 図１０は、第３実施形態に係る磁気ディスク装置の概略構成を示すブロック図である。 図１１は、図１０の磁気ディスク装置における品質評価処理を示すフローチャートである。 図１２は、第４実施形態に係る磁気ディスク装置の概略構成を示すブロック図である。 図１３は、図１２の磁気ディスク装置における品質評価処理を示すフローチャートである。 図１４（ａ）は、第５実施形態に係る熱アシスト磁気記録方法を示す断面図、図１４（ｂ）は、図１４（ａ）の熱アシスト磁気記録方法における磁界領域と加熱領域との関係を示す平面図である。
以下、実施形態に係る磁気ディスク装置、磁気ディスク評価装置および磁気ヘッドについて図面を参照しながら説明する。なお、これらの実施形態により本発明が限定されるものではない。
（第１実施形態）
図１は、第１実施形態に係る磁気ディスク評価装置の概略構成を示すブロック図である。
図１において、磁気ディスク１はスピンドル６を介して支持され、スピンドル６にはスピンドルモータ２が接続されている。また、磁気ディスク１上には磁気ヘッド３が設けられ、磁気ヘッド３はスライダ４を介して支持されている。スライダ４は、サスペンション及びアームを介してボイスコイルモータ５に接続されている。磁気ヘッド３には、磁気ディスク１上にレーザ光を照射するレーザ素子３Ｃ、磁気ディスク１に記録された信号を読み出すリード素子３Ａおよび磁気ディスク１上のレーザ光の照射領域に磁気記録を行うライト磁極３Ｂが設けられている。磁気ヘッド３には、レーザ素子３Ｃの代わりに、レーザ光を導波する光導波路を設けるようにしてもよい。
磁気ディスク評価装置１０Ａには、ボイスコイルモータ制御部１１、スピンドルモータ制御部１２、ライト電流制御部１３、レーザ光強度制御部１４、再生信号検出部１５、ノイズ演算部１６、データ保存部１７、データ演算部１８、信号品質判断部１９および品質評価制御部２０Ａが設けられている。
磁気ディスク評価装置１０Ａは、熱アシスト磁気記録方式における磁気ディスク１の評価を行うことができる。ボイスコイルモータ制御部１１は、ボイスコイルモータ５の駆動を制御することができる。スピンドルモータ制御部１２は、スピンドルモータ２の回転を制御することができる。ライト電流制御部１３は、熱アシスト磁気記録におけるライト電流を制御することができる。レーザ光強度制御部１４は、熱アシスト磁気記録に用いられるレーザ光の光強度を制御することができる。再生信号検出部１５は、リード素子３Ａを介して読み出された信号を検出することができる。ノイズ演算部１６は、リード素子３Ａを介して読み出された信号に基づいてノイズレベルを演算することができる。データ保存部１７は、ノイズ演算部１６にて演算されたノイズレベルを保存することができる。データ演算部１８は、データ保存部１７に保存されたノイズレベルに基づいて、レーザ光の光強度に対するノイズ分散を演算することができる。信号品質判断部１９は、データ保存部１７に保存されたノイズレベルと、レーザ光の光強度との関係に基づいて、リード素子３Ａにて読み出された信号の品質を判断することができる。品質評価制御部２０Ａは、ノイズ演算部１６にて演算されたノイズレベルに基づいてレーザ光の光強度を変化させることができる。
なお、レーザ光の光強度に対するノイズ分散は磁気ディスク１のセクタ単位で演算するとともに、リード素子３Ａを介して読み出された信号の品質をセクタ単位で判断することができる。
図２（ａ）は、図１の磁気ディスク１のセクタの構成例を示す平面図、図２（ｂ）は、図２（ａ）の磁気ディスク１の一部を拡大して示す図である。
図２（ａ）および図２（ｂ）において、磁気ディスク１のディスク面はサーボ領域ＳＢにて区画され、サーボ領域ＳＢ間にデータ領域ＤＴが配置されている。そして、データ領域ＤＴは複数のセクタから構成される。
ここで、磁気ディスク評価装置１０Ａによる磁気ディスク１の評価は、データ領域ＤＴに記録されたセクタごと行なうことができる。
図３（ａ）は、第１実施形態に係る熱アシスト磁気記録方法を示す断面図、図３（ｂ）は、図３（ａ）の熱アシスト磁気記録方法における磁界領域と加熱領域との関係を示す平面図である。なお、ＤＡは周方向、ＤＢは半径方向を示す。
図３（ａ）および図３（ｂ）において、図１の磁気ディスク評価装置１０Ａが磁気ディスク１から読み出される信号の品質評価を行う場合、品質評価制御部２０Ａは、スピンドルモータ２を介して磁気ディスク１を回転させる。そして、リード素子３Ａを介して磁気ディスク１から信号が読み出され、再生信号検出部１５にて検出される。そして、再生信号検出部１５にて検出された信号は品質評価制御部２０Ａに送られ、再生信号検出部１５にて検出された信号に含まれるサーボパターンデータに基づいてボイスコイルモータ５を駆動させることにより、磁気ヘッド３のトラッキング制御を行う。
また、品質評価制御部２０Ａは、ライト電流制御部１３を介してライト電流を固定させたまま、レーザ光強度制御部１４を介してレーザ光の光強度を制御させる。この時、ライト磁極３Ｂにライト電流が流れることにより、ライト磁極３Ｂの周辺に磁束Ｈ１が発生し、磁気ディスク１上にライト磁界ＲＨ１が形成される。また、レーザ素子３Ｃからレーザ光ＬＡ１が磁気ディスク１上に放射されることにより、磁気ディスク１上に照射領域ＲＬ１が形成され、その照射領域ＲＬ１が加熱される。そして、磁気ディスク１上の照射領域ＲＬ１が加熱されると、照射領域ＲＬ１の保磁力が低下し、ライト磁界ＲＨ１が照射領域ＲＬ１と重なる部分では、磁気ディスク１に記録された磁化方向を反転させることができる。この時、磁気ディスク１の記録箇所ごとに保磁力にバラツキがあると、磁化反転が起こる箇所と磁化反転が起こらない箇所が発生する。
また、再生信号検出部１５にて検出された信号はノイズ演算部１６に送られ、再生信号検出部１５にて検出された信号に基づいてノイズレベルが演算され、データ保存部１７に保存される。ここで、品質評価制御部２０Ａは、ライト電流を固定させたままレーザ光の光強度を変化させるごとにノイズレベルをノイズ演算部１６に演算させ、レーザ光強度ごとにデータ保存部１７に保存させる。この時、レーザ光の光強度を増大させると、照射領域ＲＬ１の保磁力の低下分が大きくなることから、磁化反転が起こりやすくなる。
そして、データ演算部１８において、データ保存部１７に保存されたレーザ光強度ごとのノイズレベルに基づいて、レーザ光強度に対するノイズ分散が演算され、信号品質判断部１９に送られる。そして、信号品質判断部１９において、レーザ光強度に対するノイズ分散に基づいて、リード素子３Ａを介して読み出された信号の品質が判断される。
図４は、図１の磁気ディスク１の加熱温度と保磁力との関係を示す図である。
図４において、磁気ディスク１の保磁力Ｈは、加熱温度Ｔによって徐々に低下する。そして、磁気ディスク１は、加熱温度Ｔがキュリー温度Ｔｋに達した時点で保磁力Ｈを失い、常磁性体となる。この時、磁気ディスク１の特定の記録箇所の特性をＨＴとすると、実際は各種要因により、同一磁気ディスク１内で特性ＨＴにバラツキが発生する。
ここで、熱アシスト磁気記録において記録再生の信号品質が良好（高Ｓ／Ｎ比）であるためには、磁気ディスク１に以下のような特性が要求される。
１）加熱温度Ｔの上昇に対する保磁力Ｈの低下感度ΔＨｃ／ΔＴが大きい。
２）同一の加熱温度Ｔに対する保磁力ＨのバラツキＢＨが小さい。
３）同一の保磁力Ｈとなる加熱温度ＴのバラツキＢＴが小さい。
４）保磁力Ｈに対して充分な外部磁場を与えた時に、磁気ディスク１の磁化の向きが全て同方向となる（ＤＣイレーズでのノイズ小）。
図１の構成では、これらの１）〜４）の特性のうち３）および４）の特性を評価することにより、熱アシスト磁気記録における記録再生の信号品質が評価される。
図５（ａ）は、図１の磁気ディスク１の全ての磁化方向が一方向に向いている時の状態を示す図、図５（ｂ）は、図１の磁気ディスク１の全ての磁化方向が図５（ａ）と反対方向に向いている時の状態を示す図、図５（ｃ）〜図５（ｉ）は磁気ディスク１の直流イレーズを完了させた後、ライト電流を前記直流イレーズと逆方向に一定値で流すと同時にレーザ光強度を順次増大させた時の磁化方向の変化を示す図である。
図５（ｃ）〜図５（ｉ）において、図５（ａ）の状態を理想的な状態とすると、図５（ｃ）に示すように、実際に直流イレーズを完了させた状態を初期状態とする。その後、ライト電流を前記直流イレーズと逆方向に一定値で固定させたままレーザ光強度をＰ１〜Ｐ６に順次上昇させると、磁化反転する記録箇所が増大し、磁気ディスク１の全ての磁化方向が反対方向に向いている状態に近づく。この時、磁気ディスク１上の磁化方向の均一性が小さくなるに従って、ノイズレベルが大きくなる。
図６（ａ）は、図５（ａ）〜図５（ｉ）におけるレーザ光強度とノイズレベルとの関係を示す図、図６（ｂ）は、図６（ａ）の半値幅と信号品質との関係を示す図である。
図６（ａ）において、レーザ光強度をＰ１〜Ｐ４に順次上昇させると、磁気ディスク１上の磁化方向の不均一性が増大し、ノイズレベルＮが大きくなる。そして、レーザ光強度Ｐ３でノイズレベルＮがピークに達した後、レーザ光強度をＰ３〜Ｐ６に順次上昇させると、磁気ディスク１上の磁化方向の不均一性が減少し、ノイズレベルＮが小さくなる。
そして、レーザ光強度がＰ６の時を飽和状態とし、初期状態と飽和状態とでノイズレベルＮが等しいとすると、初期状態と飽和状態のノイズレベルＮをベースレベルＥとすることができる。そして、最大値をとる時のノイズレベルＮをピークレベルＤとすると、ノイズレベルＮがこれらの差分の半値Ｆ＝（Ｄ−Ｅ）／２をとる時のレーザ光強度の半値幅Ｇをノイズ分散とすることができる。
そして、図６（ｂ）に示すように、半値幅Ｇが増大するに従って信号品質ＳＮＲが悪化する。また、ベースレベルＥが増大するに従って信号品質ＳＮＲが悪化する。このため、半値幅ＧまたはベースレベルＥを演算することによって、磁気ディスク１から読み出される信号の品質評価を行うことができる。
そして、信号品質ＳＮＲの評価結果に基づいて、例えば、高品質領域Ｒ１と中間領域Ｒ２と低品質領域Ｒ３に磁気ディスク１の記録領域を区分けすることができる。そして、高品質領域Ｒ１はそのまま使用可とし、低品質領域Ｒ３は使用不可とすることができる。また、中間領域Ｒ２は最適化処理を行うことで使用可とすることができる。なお、最適化処理としては、例えば、熱アシスト磁気記録におけるレーザ光強度またはライト電流の最適化処理を採用することができる。
これにより、ヘッド要因を除外し、媒体要因に基づいて信号品質を評価することができ、媒体のみの優劣を判断することが可能となるとともに、ヘッドおよび媒体の組み合わせによる最適化工程をスキップすることができる。
図７は、図６（ａ）のレーザ光強度に対するノイズレベルの測定方法を示すフローチャートである。
図７において、レーザによる充分な加熱を磁気ディスク１に行なった状態で、ライト磁極３Ｂに充分なＤＣ（直流）電流を流しながらライト磁極３Ｂにて磁気ディスク１上を走査し、磁気ディスク１の磁化方向を一方向に揃える（Ｓ１）。
次に、ライト磁極３Ｂにて走査された磁気ディスク１をリード素子３Ａにて走査し、ノイズレベルを測定する（Ｓ２）。そして、この時測定されたノイズレベルをデータ保存部１７に保存する（Ｓ３）。この時、磁気ディスク１が理想的な媒体であれば、図５（ａ）に示すように、磁化方向が全て一方向を向いており、この時のノイズレベルは０となる。ただし、実際には、図５（ｃ）に示すように、直流イレーズを行っても、磁気ディスク１の一部の磁化の向きが揃わずノイズレベルが存在する。
次に、Ｓ１とは逆方向にライト磁極３Ｂに流れるようにＤＣ電流Ｉを固定する。そして、レーザ光強度をＰ１に設定し、ライト磁極３Ｂにて磁気ディスク１上を走査する（Ｓ４）。この時、図５（ｄ）に示すように、保磁力の弱い箇所では磁化反転が起こる。
次に、ライト磁極３Ｂにて走査された磁気ディスク１をリード素子３Ａにて走査し、ノイズレベルを測定する（Ｓ５）。そして、この時測定されたノイズレベルをデータ保存部１７に保存する（Ｓ６）。なお、図６（ａ）に示すように、Ｓ５のノイズレベルはＳ２のノイズレベルよりも増大する。
次に、Ｓ１とは逆方向にライト磁極３Ｂに流れるようにＤＣ電流Ｉを固定したまま、Ｐｎ＞Ｐｎ−１になるようにレーザ光強度をＰｎ（ｎは正の整数）に設定し、ライト磁極３Ｂにて磁気ディスク１上を走査する（Ｓ７）。この時、図５（ｅ）〜図５（ｉ）に示すように、レーザ光強度Ｐｎが増大するに従って磁化反転が起こる箇所が増大する。
次に、ライト磁極３Ｂにて走査された磁気ディスク１をリード素子３Ａにて走査し、ノイズレベルを測定する（Ｓ８）。そして、この時測定されたノイズレベルをレーザ光強度Ｐｎごとにデータ保存部１７に保存する（Ｓ９）。
次に、ノイズレベルがＳ２のノイズレベルと同等またはレーザ光強度Ｐｎを増大させてもノイズレベルが変化しない状態にあるかを判断し（Ｓ１０）、そのような状態にない場合は、Ｓ７に戻ってＳ７〜Ｓ１０の処理を繰り返す。なお、以上の処理は図２（ａ）のデータ領域ＤＴについてのみ行うことができる。
（第２実施形態）
図８は、第２実施形態に係る磁気ディスク評価装置の概略構成を示すブロック図である。
図８において、この磁気ディスク評価装置では、図１の磁気ディスク評価装置１０Ａの代わりに磁気ディスク評価装置１０Ｂが設けられている。磁気ディスク評価装置１０Ｂには、図１の品質評価制御部２０Ａの代わりに品質評価制御部２０Ｂが設けられている。品質評価制御部２０Ｂは、ノイズ演算部１６にて演算されたノイズレベルに基づいてライト電流の電流値を変化させることができる。
なお、図８の構成では、上述した磁気ディスク１に要求される１）〜４）の特性のうち２）および４）の特性を評価することにより、熱アシスト磁気記録における記録再生の信号品質が評価される。
そして、図８の磁気ディスク評価装置１０Ｂが磁気ディスク１から読み出される信号の品質評価を行う場合、品質評価制御部２０Ｂは、スピンドルモータ２を介して磁気ディスク１を回転させる。そして、リード素子３Ａを介して磁気ディスク１から信号が読み出され、再生信号検出部１５にて検出される。そして、再生信号検出部１５にて検出された信号は品質評価制御部２０Ｂに送られ、再生信号検出部１５にて検出された信号に含まれるサーボパターンデータに基づいてボイスコイルモータ５を駆動させることにより、磁気ヘッド３のトラッキング制御を行う。
また、品質評価制御部２０Ｂは、レーザ光強度制御部１４を介してレーザ光の光強度を固定させたまま、ライト電流制御部１３を介してライト電流の電流値を制御させる。そして、レーザ素子３Ｃからレーザ光ＬＡ１が磁気ディスク１上に放射されることにより、磁気ディスク１上の照射領域ＲＬ１が加熱される。この時、ライト磁極３Ｂにライト電流が流れることにより、磁気ディスク１上にライト磁界ＲＨ１が形成される。そして、ライト磁界ＲＨ１が照射領域ＲＬ１と重なる部分では、磁気ディスク１の記録箇所ごとの保磁力に応じて磁化方向が反転される。
また、再生信号検出部１５にて検出された信号はノイズ演算部１６に送られ、再生信号検出部１５にて検出された信号に基づいてノイズレベルが演算され、データ保存部１７に保存される。ここで、品質評価制御部２０Ｂは、レーザ光の光強度を固定させたままライト電流の電流値を変化させるごとにノイズレベルをノイズ演算部１６に演算させ、ライト電流の電流値ごとにデータ保存部１７に保存させる。
そして、データ演算部１８において、データ保存部１７に保存されたライト電流の電流値ごとのノイズレベルに基づいて、ライト電流の電流値に対するノイズ分散が演算され、信号品質判断部１９に送られる。そして、信号品質判断部１９において、ライト電流の電流値に対するノイズ分散に基づいて、リード素子３Ａを介して読み出された信号の品質が判断される。
なお、ライト電流の電流値に対するノイズ分散は磁気ディスク１のセクタ単位で演算するとともに、リード素子３Ａを介して読み出された信号の品質をセクタ単位で判断することができる。
図９は、図８の磁気ディスク評価装置におけるライト電流に対するノイズレベルの測定方法を示すフローチャートである。
図９において、レーザによる充分な加熱を磁気ディスク１に行なった状態で、ライト磁極３Ｂに充分なＤＣ電流を流しながらライト磁極３Ｂにて磁気ディスク１上を走査し、磁気ディスク１の磁化方向を一方向に揃える（Ｓ１１）。
次に、ライト磁極３Ｂにて走査された磁気ディスク１をリード素子３Ａにて走査し、ノイズレベルを測定する（Ｓ１２）。そして、この時測定されたノイズレベルをデータ保存部１７に保存する（Ｓ１３）。
次に、レーザ光強度を固定する。そして、Ｓ１１とは逆方向にライト磁極３Ｂに流れるようにライト電流Ｉの電流値をＩ１に設定し、ライト磁極３Ｂにて磁気ディスク１上を走査する（Ｓ１４）。この時、保磁力の弱い箇所では磁化反転が起こる。
次に、ライト磁極３Ｂにて走査された磁気ディスク１をリード素子３Ａにて走査し、ノイズレベルを測定する（Ｓ１５）。そして、この時測定されたノイズレベルをデータ保存部１７に保存する（Ｓ１６）。なお、Ｓ１５のノイズレベルはＳ１２のノイズレベルよりも増大する。
次に、レーザ光強度を固定したまま、Ｉｎ＞Ｉｎ−１になるようにライト電流Ｉの電流値をＩｎに設定し、ライト磁極３Ｂにて磁気ディスク１上を走査する（Ｓ１７）。この時、ライト電流Ｉの電流値が増大するに従って磁化反転が起こる箇所が増大する。
次に、ライト磁極３Ｂにて走査された磁気ディスク１をリード素子３Ａにて走査し、ノイズレベルを測定する（Ｓ１８）。そして、この時測定されたノイズレベルをライト電流Ｉの電流値Ｉｎごとにデータ保存部１７に保存する（Ｓ１９）。
次に、ノイズレベルがＳ１２のノイズレベルと同等またはライト電流Ｉの電流値Ｉｎを増大させてもノイズレベルが変化しない状態にあるかを判断し（Ｓ２０）、そのような状態にない場合は、Ｓ１７に戻ってＳ１７〜Ｓ２０の処理を繰り返す。なお、以上の処理は図２（ａ）のデータ領域ＤＴについてのみ行うことができる。
（第３実施形態）
図１０は、第３実施形態に係る磁気ディスク装置の概略構成を示すブロック図である。
図１０において、この磁気ディスク装置には、磁気ディスク１、スピンドルモータ２、磁気ヘッド３、スライダ４、ボイスコイルモータ５、スピンドル６および磁気ディスク制御部３０Ａが設けられている。磁気ディスク１はスピンドル６を介して支持され、スピンドル６にはスピンドルモータ２が接続されている。また、磁気ディスク１上には磁気ヘッド３が設けられ、磁気ヘッド３はスライダ４を介して支持されている。スライダ４にはボイスコイルモータ５が接続されている。磁気ヘッド３には、レーザ素子３Ｃ、リード素子３Ａおよびライト磁極３Ｂが設けられている。
磁気ディスク制御部３０Ａには、ボイスコイルモータ制御部１１、スピンドルモータ制御部１２、ライト電流制御部１３、レーザ光強度制御部１４、再生信号検出部１５、リードライト制御部３１Ａおよび磁気ディスク評価部３４Ａが設けられている。
磁気ディスク評価部３４Ａには、ノイズ演算部１６、データ保存部１７、データ演算部１８、信号品質判断部１９、品質評価制御部２０Ａ、ディフェクト登録部３２Ａおよびメモリ３３Ａが設けられている。ディフェクト登録部３２ＡにはテーブルＴ１が設けられ、メモリ３３ＡにはテーブルＴ２が設けられている。
以下、図１の構成と異なる部分について説明する。すなわち、磁気ディスク制御部３０Ａは、熱アシスト磁気記録方式における磁気ディスク１の記録、再生および評価を行うことができる。リードライト制御部３１Ａは、熱アシスト磁気記録方式における磁気ディスク１の記録再生の制御を行うことができる。磁気ディスク評価部３４Ａは、熱アシスト磁気記録方式における磁気ディスク１の評価を行うことができる。ディフェクト登録部３２Ａは、信号品質判断部１９における信号の品質の判断結果に基づいてセクタ単位でディフェクト登録を行うことができる。テーブルＴ１には、セクタ番号１〜Ｎ（Ｎは正の整数）と信号品質の良否との関係を登録することができる。ここで、図１０のテーブルＴ１の例では、図６（ｂ）の高品質領域Ｒ１のセクタ番号を○で示し、低品質領域Ｒ３のセクタ番号を×で示した。メモリ３３Ａは、熱アシスト磁気記録におけるレーザ光の光強度をセクタ単位で記憶することができる。テーブルＴ２には、セクタ番号１〜Ｎとレーザ光強度ＰＷとの関係を登録することができる。ここで、図１０のテーブルＴ２の例では、図６（ｂ）の中間領域Ｒ２のセクタ番号１〜Ｎごとにレーザ光強度ＰＷ１〜ＰＷＮを示した。
そして、図１０の磁気ディスク装置が磁気ディスク１から読み出される信号の品質評価を行う場合、製品出荷前に専用のサーボライタにて磁気ディスク１にサーボパターンデータが予め書き込まれる。あるいは、磁気ディスク装置にセルフサーボライト機能がある場合、セルフサーボライト機能にて磁気ディスク１にサーボパターンデータを予め書き込むようにしてもよい。
そして、品質評価制御部２０Ａは、スピンドルモータ２を介して磁気ディスク１を回転させる。そして、リード素子３Ａを介して磁気ディスク１から信号が読み出され、再生信号検出部１５にて検出される。そして、再生信号検出部１５にて検出された信号は品質評価制御部２０Ａに送られ、再生信号検出部１５にて検出された信号に含まれるサーボパターンデータに基づいてボイスコイルモータ５を駆動させることにより、磁気ヘッド３のトラッキング制御を行う。
また、品質評価制御部２０Ａは、ライト電流制御部１３を介してライト電流を固定させたまま、レーザ光強度制御部１４を介してレーザ光の光強度を制御させる。そして、レーザ素子３Ｃからレーザ光ＬＡ１が磁気ディスク１上に放射されることにより、磁気ディスク１上の照射領域ＲＬが加熱される。この時、ライト磁極３Ｂにライト電流が流れることにより、磁気ディスク１上にライト磁界ＲＨ１が形成される。そして、ライト磁界ＲＨ１が照射領域ＲＬ１と重なる部分では、磁気ディスク１の記録箇所ごとの保磁力に応じて磁化方向が反転される。
また、再生信号検出部１５にて検出された信号はノイズ演算部１６に送られ、再生信号検出部１５にて検出された信号に基づいてノイズレベルが演算され、データ保存部１７に保存される。ここで、品質評価制御部２０Ａは、ライト電流を固定させたままレーザ光の光強度を変化させるごとにノイズレベルをノイズ演算部１６に演算させ、レーザ光強度ごとにデータ保存部１７に保存させる。
そして、データ演算部１８において、データ保存部１７に保存されたレーザ光強度ごとのノイズレベルに基づいて、レーザ光強度に対するノイズ分散が演算され、信号品質判断部１９に送られる。そして、信号品質判断部１９において、レーザ光強度に対するノイズ分散に基づいて、リード素子３Ａを介して読み出された信号の品質が判断される。
そして、信号品質判断部１９は、信号品質ＳＮＲの評価結果に基づいて、例えば、図６（ｂ）に示すように、高品質領域Ｒ１と中間領域Ｒ２と低品質領域Ｒ３に磁気ディスク１の記録領域をセクタ単位で区分けする。そして、ディフェクト登録部３２Ａは、高品質領域Ｒ１はそのまま使用可としてセクタ単位でテーブルＴ１に登録し、低品質領域Ｒ３は使用不可としてセクタ単位でテーブルＴ１に登録する。また、信号品質判断部１９は、中間領域Ｒ２については、最適化処理後のレーザ光強度をセクタ単位でテーブルＴ２に登録する。
一方、図１０の磁気ディスク装置が磁気ディスク１に磁気記録を行う場合、リードライト制御部３１Ａは、スピンドルモータ２を介して磁気ディスク１を回転させる。そして、磁気記録を行うセクタについてテーブルＴ１を参照することにより、そのセクタが使用可かどうかを確認する。そして、そのセクタが使用可である場合は、そのセクタに磁気ヘッド３をシークさせ、そのセクタに磁気記録を行う。一方、磁気記録を行うセクタが使用不可の場合は、テーブルＴ１を検索することにより使用可能なセクタを判別する。そして、そのセクタに磁気ヘッド３をシークさせることにより、そのセクタに磁気記録を行う。
一方、磁気ディスク１の磁気記録において最適化処理を行う場合、磁気記録を行うセクタについてテーブルＴ２を参照することにより、そのセクタについてのレーザ光強度を確認する。そして、リードライト制御部３１Ａは、そのセクタに磁気ヘッド３をシークさせるとともに、そのセクタに対するレーザ光強度をテーブルＴ２で指定された値に設定させ、そのセクタに磁気記録を行う。
図１１は、図１０の磁気ディスク装置における品質評価処理を示すフローチャートである。
図１１において、レーザによる充分な加熱を磁気ディスク１に行なった状態で、ライト磁極３Ｂに充分なＤＣ電流を流しながらライト磁極３Ｂにて磁気ディスク１上を走査し、磁気ディスク１のデータ領域ＤＴの磁化方向を一方向に揃える（Ｓ２１）。
次に、ライト磁極３Ｂにて走査された磁気ディスク１をリード素子３Ａにて走査し、ノイズレベルをセクタ単位で測定する（Ｓ２２）。そして、この時測定されたノイズレベルをセクタ単位でデータ保存部１７に保存する（Ｓ２３）。
次に、Ｓ２１とは逆方向にライト磁極３Ｂに流れるようにＤＣ電流Ｉを固定する。そして、レーザ光強度をＰ１に設定し、ライト磁極３Ｂにて磁気ディスク１上を走査する（Ｓ２４）。
次に、ライト磁極３Ｂにて走査された磁気ディスク１をリード素子３Ａにて走査し、ノイズレベルをセクタ単位で測定する（Ｓ２５）。そして、この時測定されたノイズレベルをセクタ単位でデータ保存部１７に保存する（Ｓ２６）。
次に、Ｓ２１とは逆方向にライト磁極３Ｂに流れるようにＤＣ電流Ｉを固定したまま、Ｐｎ＞Ｐｎ−１になるようにレーザ光強度をＰｎに設定し、ライト磁極３Ｂにて磁気ディスク１上を走査する（Ｓ２７）。
次に、ライト磁極３Ｂにて走査された磁気ディスク１をリード素子３Ａにて走査し、ノイズレベルをセクタ単位で測定する（Ｓ２８）。そして、この時測定されたノイズレベルをレーザ光強度Ｐｎごとにデータ保存部１７にセクタ単位で保存する（Ｓ２９）。
次に、ノイズレベルがＳ２２のノイズレベルと同等またはレーザ光強度Ｐｎを増大させてもノイズレベルが変化しない状態にあるかを判断し（Ｓ３０）、そのような状態にない場合は、Ｓ２７に戻ってＳ２７〜Ｓ３０の処理を繰り返す。
次に、データ保存部１７に保存されたレーザ光強度ごとのノイズレベルに基づいて、レーザ光強度に対するノイズ分散をセクタ単位で求める（Ｓ３１）。
次に、レーザ光強度に対するノイズ分散に基づいて、リード素子３Ａにて読み出された信号の品質をセクタ単位で判断する。そして、信号品質ＳＮＲの判断結果に基づいて、ディフェクト登録または最適化処理をセクタ単位で行う（Ｓ３２）。
（第４実施形態）
図１２は、第４実施形態に係る磁気ディスク装置の概略構成を示すブロック図である。
図１２において、この磁気ディスク装置には、磁気ディスク１、スピンドルモータ２、磁気ヘッド３、スライダ４、ボイスコイルモータ５、スピンドル６および磁気ディスク制御部３０Ｂが設けられている。磁気ヘッド３には、レーザ素子３Ｃ、リード素子３Ａおよびライト磁極３Ｂが設けられている。
磁気ディスク制御部３０Ｂには、ボイスコイルモータ制御部１１、スピンドルモータ制御部１２、ライト電流制御部１３、レーザ光強度制御部１４、再生信号検出部１５、リードライト制御部３１Ｂおよび磁気ディスク評価部３４Ｂが設けられている。
磁気ディスク評価部３４Ｂには、ノイズ演算部１６、データ保存部１７、データ演算部１８、信号品質判断部１９、品質評価制御部２０Ｂ、ディフェクト登録部３２Ｂおよびメモリ３３Ｂが設けられている。ディフェクト登録部３２ＢにはテーブルＴ３が設けられ、メモリ３３ＢにはテーブルＴ４が設けられている。
以下、図８の構成と異なる部分について説明する。すなわち、磁気ディスク制御部３０Ｂは、熱アシスト磁気記録方式における磁気ディスク１の記録、再生および評価を行うことができる。リードライト制御部３１Ｂは、熱アシスト磁気記録方式における磁気ディスク１の記録再生の制御を行うことができる。磁気ディスク評価部３４Ｂは、熱アシスト磁気記録方式における磁気ディスク１の評価を行うことができる。ディフェクト登録部３２Ｂは、信号品質判断部１９における信号の品質の判断結果に基づいてセクタ単位でディフェクト登録を行うことができる。テーブルＴ３には、セクタ番号１〜Ｎ（Ｎは正の整数）と信号品質の良否との関係を登録することができる。ここで、図１２のテーブルＴ３の例では、図６（ｂ）の高品質領域Ｒ１のセクタ番号を○で示し、低品質領域Ｒ３のセクタ番号を×で示した。メモリ３３Ｂは、熱アシスト磁気記録におけるライト電流の電流値をセクタ単位で記憶することができる。テーブルＴ４には、セクタ番号１〜Ｎとライト電流の電流値ＩＷとの関係を登録することができる。ここで、図１２のテーブルＴ４の例では、図６（ｂ）の中間領域Ｒ２のセクタ番号１〜Ｎごとにライト電流の電流値ＩＷ１〜ＩＷＮを示した。
そして、図１２の磁気ディスク装置が磁気ディスク１から読み出される信号の品質評価を行う場合、製品出荷前に専用のサーボライタにて磁気ディスク１にサーボパターンデータが予め書き込まれる。あるいは、磁気ディスク装置にセルフサーボライト機能がある場合、セルフサーボライト機能にて磁気ディスク１にサーボパターンデータを予め書き込むようにしてもよい。
そして、品質評価制御部２０Ｂは、スピンドルモータ２を介して磁気ディスク１を回転させる。そして、リード素子３Ａを介して磁気ディスク１から信号が読み出され、再生信号検出部１５にて検出される。そして、再生信号検出部１５にて検出された信号は品質評価制御部２０Ｂに送られ、再生信号検出部１５にて検出された信号に含まれるサーボパターンデータに基づいてボイスコイルモータ５を駆動させることにより、磁気ヘッド３のトラッキング制御を行う。
また、品質評価制御部２０Ｂは、レーザ光強度制御部１４を介してレーザ光の光強度を固定させたまま、ライト電流制御部１３を介してライト電流の電流値を制御させる。そして、レーザ素子３Ｃからレーザ光ＬＡ１が磁気ディスク１上に放射されることにより、磁気ディスク１上の照射領域ＲＬ１が加熱される。この時、ライト磁極３Ｂにライト電流が流れることにより、磁気ディスク１上にライト磁界ＲＨ１が形成される。そして、ライト磁界ＲＨ１が照射領域ＲＬ１と重なる部分では、磁気ディスク１の記録箇所ごとの保磁力に応じて磁化方向が反転される。
また、再生信号検出部１５にて検出された信号はノイズ演算部１６に送られ、再生信号検出部１５にて検出された信号に基づいてノイズレベルが演算され、データ保存部１７に保存される。ここで、品質評価制御部２０Ｂは、レーザ光の光強度を固定させたままライト電流の電流値を変化させるごとにノイズレベルをノイズ演算部１６に演算させ、ライト電流の電流値ごとにデータ保存部１７に保存させる。
そして、データ演算部１８において、データ保存部１７に保存されたライト電流の電流値ごとのノイズレベルに基づいて、ライト電流の電流値に対するノイズ分散が演算され、信号品質判断部１９に送られる。そして、信号品質判断部１９において、ライト電流の電流値に対するノイズ分散に基づいて、リード素子３Ａを介して読み出された信号の品質が判断される。
そして、信号品質判断部１９は、信号品質ＳＮＲの評価結果に基づいて、例えば、図６（ｂ）に示すように、高品質領域Ｒ１と中間領域Ｒ２と低品質領域Ｒ３に磁気ディスク１の記録領域をセクタ単位で区分けする。そして、ディフェクト登録部３２Ｂは、高品質領域Ｒ１はそのまま使用可としてセクタ単位でテーブルＴ３に登録し、低品質領域Ｒ３は使用不可としてセクタ単位でテーブルＴ３に登録する。また、信号品質判断部１９は、中間領域Ｒ２については、最適化処理後のライト電流の電流値をセクタ単位でテーブルＴ４に登録する。
一方、図１２の磁気ディスク装置が磁気ディスク１に磁気記録を行う場合、リードライト制御部３１Ｂは、スピンドルモータ２を介して磁気ディスク１を回転させる。そして、磁気記録を行うセクタについてテーブルＴ３を参照することにより、そのセクタが使用可かどうかを確認する。そして、そのセクタが使用可である場合は、そのセクタに磁気ヘッド３をシークさせ、そのセクタに磁気記録を行う。一方、磁気記録を行うセクタが使用不可の場合は、テーブルＴ３を検索することにより使用可能なセクタを判別する。そして、そのセクタに磁気ヘッド３をシークさせることにより、そのセクタに磁気記録を行う。
一方、磁気ディスク１の磁気記録において最適化処理を行う場合、磁気記録を行うセクタについてテーブルＴ４を参照することにより、そのセクタについてのライト電流の電流値を確認する。そして、リードライト制御部３１Ｂは、そのセクタに磁気ヘッド３をシークさせるとともに、そのセクタに対するライト電流の電流値をテーブルＴ４にて指定される値に設定させ、そのセクタに磁気記録を行う。
図１３は、図１２の磁気ディスク装置における品質評価処理を示すフローチャートである。
図１３において、レーザによる充分な加熱を磁気ディスク１に行なった状態で、ライト磁極３Ｂに充分なＤＣ電流を流しながらライト磁極３Ｂにて磁気ディスク１上を走査し、磁気ディスク１のデータ領域ＤＴの磁化方向を一方向に揃える（Ｓ４１）。
次に、ライト磁極３Ｂにて走査された磁気ディスク１をリード素子３Ａにて走査し、ノイズレベルを測定する（Ｓ４２）。そして、この時測定されたノイズレベルをデータ保存部１７に保存する（Ｓ４３）。
次に、レーザ光強度を固定する。そして、Ｓ４１とは逆方向にライト磁極３Ｂに流れるようにライト電流Ｉの電流値をＩ１に設定し、ライト磁極３Ｂにて磁気ディスク１上を走査する（Ｓ４４）。
次に、ライト磁極３Ｂにて走査された磁気ディスク１をリード素子３Ａにて走査し、ノイズレベルを測定する（Ｓ４５）。そして、この時測定されたノイズレベルをデータ保存部１７に保存する（Ｓ４６）。
次に、レーザ光強度を固定したまま、Ｉｎ＞Ｉｎ−１になるようにライト電流Ｉの電流値をＩｎに設定し、ライト磁極３Ｂにて磁気ディスク１上を走査する（Ｓ４７）。この時、ライト電流Ｉの電流値が増大するに従って磁化反転が起こる箇所が増大する。
次に、ライト磁極３Ｂにて走査された磁気ディスク１をリード素子３Ａにて走査し、ノイズレベルを測定する（Ｓ４８）。そして、この時測定されたノイズレベルをライト電流Ｉの電流値Ｉｎごとにデータ保存部１７に保存する（Ｓ４９）。
次に、ノイズレベルがＳ４２のノイズレベルと同等またはライト電流Ｉの電流値Ｉｎを増大させてもノイズレベルが変化しない状態にあるかを判断し（Ｓ５０）、そのような状態にない場合は、Ｓ４７に戻ってＳ４７〜Ｓ５０の処理を繰り返す。
次に、データ保存部１７に保存されたライト電流Ｉの電流値ごとのノイズレベルに基づいて、ライト電流Ｉの電流値に対するノイズ分散をセクタ単位で求める（Ｓ５１）。
次に、ライト電流Ｉの電流値に対するノイズ分散に基づいて、リード素子３Ａにて読み出された信号の品質をセクタ単位で判断する。そして、信号品質ＳＮＲの判断結果に基づいて、ディフェクト登録または最適化処理をセクタ単位で行う（Ｓ５２）。
（第５実施形態）
図１４（ａ）は、第５実施形態に係る熱アシスト磁気記録方法を示す断面図、図１４（ｂ）は、図１４（ａ）の熱アシスト磁気記録方法における磁界領域と加熱領域との関係を示す平面図である。
図１４（ａ）において、磁気ヘッド３３には、磁気ディスク１上にレーザ光を照射するレーザ素子３３Ｃ、磁気ディスク１に記録された信号を読み出すリード素子３３Ａおよび磁気ディスク１上のレーザ光の照射領域に磁気記録を行うライト磁極３３Ｂが設けられている。磁気ヘッド３３には、レーザ素子３３Ｃの代わりに、レーザ光を導波する光導波路を設けるようにしてもよい。また、例えば、リード素子３３ＡとしてはＭＲ素子、ライト磁極３３Ｂとしてはコイル素子を用いることができる。
ここで、ライト磁極３３Ｂにライト電流が流れることにより、ライト磁極３３Ｂの周辺に磁束Ｈ２が発生し、磁気ディスク１上にライト磁界ＲＨ２が形成される。また、レーザ素子３３Ｃからレーザ光ＬＡ２が磁気ディスク１上に放射されることにより、磁気ディスク１上の照射領域ＲＬ２が形成され、その照射領域ＲＬ２が加熱される。
ここで、リード素子３３Ａ、ライト磁極３３Ｂおよびレーザ素子３３Ｃの形状および配置は、ライト磁極３３Ｂにて形成される磁気ディスク１上のライト磁界ＲＨ２のうちのリード素子３３Ａの幅ＲＴＷ分の全体が照射領域ＲＬ２と重なるように設定することができる。
例えば、リード素子３３Ａの幅をＲＴＷ、ライト磁極３３Ｂの幅をＷＴＷ、ライト磁極３３Ｂの厚さをＷＴＴ、照射領域ＲＬ２の中心からライト磁極３３Ｂまでの距離をＬＷＤとすると、ＷＴＷ≧１．５×ＲＴＷかつ（ＷＴＴ＋ＬＷＤ）＜０．７５×ＲＴＷという条件を満たすことができる。
ここで、照射領域ＲＬ２のスポット径２×ＲＷが、例えば、√２×ＲＴＷ×２であるとすると、周方向ＤＡではライト磁界ＲＨ２全体が照射領域ＲＬ２に入る。また、半径方向ＤＢにおいてライト磁界ＲＨ２と照射領域ＲＬ２とが重なる部分は、リード素子３３Ａの幅ＲＴＷの１.５倍以上となる。
このため、ライト磁界ＲＨ２と照射領域ＲＬ２とが重なる部分をリード素子３３Ａにて読み取られる範囲に完全に入れることができ、レーザ光強度および記録磁界のいずれかを変化させた時に、ライト磁界ＲＨ２と照射領域ＲＬ２とが重なる部分が変化する場合においても、リード素子３３Ａの読み取り範囲よりも広い範囲で磁界を均一化することが可能となることから、磁気ヘッド３３から読み出された信号の品質の評価精度を向上させることができる。
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
１ 磁気ディスク、２ スピンドルモータ、３ 磁気ヘッド、３Ａ リード素子、３Ｂ ライト磁極、３Ｃ レーザ素子、４ スライダ、５ ボイスコイルモータ、６ スピンドル、１０Ａ、１０Ｂ 磁気ディスク評価装置、１１ ボイスコイルモータ制御部、１２ スピンドルモータ制御部、１３ ライト電流制御部、１４ レーザ光強度制御部、１５ 再生信号検出部、１６ ノイズ演算部、１７ データ保存部、１８ データ演算部、１９ 信号品質判断部、２０Ａ、２０Ｂ 品質評価制御部、ＳＥ セクタ、ＳＢ サーボ領域、ＤＴ データ領域、３０Ａ、３０Ｂ 磁気ディスク制御部、３１Ａ、３１Ｂ リードライト制御部、３２Ａ、３２Ｂ ディフェクト登録部、３３Ａ、３３Ｂ メモリ、３４Ａ、３４Ｂ 磁気ディスク評価部、Ｔ１〜Ｔ４ テーブル

Claims (20)

  1. 磁気ディスクと、
    前記磁気ディスクに記録された信号を読み出したり、前記磁気ディスクにレーザ光を照射しながら磁気記録を行ったりする磁気ヘッドと、
    前記レーザ光の光強度を制御するレーザ光強度制御部と、
    前記磁気ヘッドにて読み出された信号を検出する再生信号検出部と、
    前記磁気ヘッドにて読み出された信号に基づいてノイズレベルを演算するノイズ演算部と、
    前記ノイズ演算部にて演算された前記ノイズレベルを保存するデータ保存部と、
    前記データ保存部に保存されたノイズレベルに基づいて、前記レーザ光の光強度に対するノイズ分散をセクタ単位で演算するデータ演算部と、
    前記ノイズ分散に基づいて、前記磁気ヘッドから読み出された信号の品質を前記セクタ単位で判断する信号品質判断部と、
    前記ノイズレベルに基づいて前記レーザ光の光強度を変化させる品質評価制御部と、
    前記信号の品質の判断結果に基づいて前記セクタ単位でディフェクト登録を行うディフェクト登録部と、
    前記磁気記録における前記レーザ光の光強度を前記セクタ単位で記憶するメモリとを備えることを特徴とする磁気ディスク装置。
  2. 磁気ディスクと、
    前記磁気ディスクに記録された信号を読み出したり、前記磁気ディスクにレーザ光を照射しながら磁気記録を行ったりする磁気ヘッドと、
    前記レーザ光の光強度を制御するレーザ光強度制御部と、
    前記磁気ヘッドにて読み出された信号を検出する再生信号検出部と、
    前記磁気ヘッドにて読み出された信号から検出されたノイズレベルと、前記レーザ光の光強度との関係に基づいて、前記磁気ヘッドから読み出された信号の品質を評価する磁気ディスク評価部とを備えることを特徴とする磁気ディスク装置。
  3. 前記磁気ディスク評価部は、
    前記磁気ヘッドにて読み出された信号に基づいて前記ノイズレベルを演算するノイズ演算部と、
    前記ノイズ演算部にて演算された前記ノイズレベルを保存するデータ保存部と、
    前記データ保存部に保存されたノイズレベルに基づいて、前記レーザ光の光強度に対するノイズ分散を演算するデータ演算部と、
    前記ノイズ分散に基づいて、前記磁気ヘッドから読み出された信号の品質を判断する信号品質判断部と、
    前記ノイズレベルに基づいて前記レーザ光の光強度を変化させる品質評価制御部とを備えることを特徴とする請求項２に記載の磁気ディスク装置。
  4. 前記ノイズ分散は前記磁気ディスクのセクタ単位で演算され、前記セクタ単位で前記信号の品質が判断されることを特徴とする請求項３に記載の磁気ディスク装置。
  5. 前記信号の品質の判断結果に基づいて前記セクタ単位でディフェクト登録を行うディフェクト登録部をさらに備えることを特徴とする請求項４に記載の磁気ディスク装置。
  6. 前記磁気記録における前記レーザ光の光強度を前記セクタ単位で記憶するメモリをさらに備えることを特徴とする請求項４に記載の磁気ディスク装置。
  7. 磁気ディスクと、
    前記磁気ディスクに記録された信号を読み出したり、前記磁気ディスクにレーザ光を照射しながら磁気記録を行ったりする磁気ヘッドと、
    前記磁気記録におけるライト電流を制御するライト電流制御部と、
    前記磁気ヘッドにて読み出された信号を検出する再生信号検出部と、
    前記磁気ヘッドにて読み出された信号から検出されたノイズレベルと、前記ライト電流の電流値との関係に基づいて、前記磁気ヘッドから読み出された信号の品質を評価する磁気ディスク評価部とを備えることを特徴とする磁気ディスク装置。
  8. 前記磁気ディスク評価部は、
    前記磁気ヘッドにて読み出された信号に基づいて前記ノイズレベルを演算するノイズ演算部と、
    前記ノイズ演算部にて演算された前記ノイズレベルを保存するデータ保存部と、
    前記データ保存部に保存されたノイズレベルに基づいて、前記ライト電流の電流値に対するノイズ分散を演算するデータ演算部と、
    前記ノイズ分散に基づいて、前記磁気ヘッドから読み出された信号の品質を判断する信号品質判断部と、
    前記ノイズレベルに基づいて前記ライト電流の電流値を変化させる品質評価制御部とを備えることを特徴とする請求項２に記載の磁気ディスク装置。
  9. 前記ノイズ分散は前記磁気ディスクのセクタ単位で演算され、前記セクタ単位で前記信号の品質が判断されることを特徴とする請求項８に記載の磁気ディスク装置。
  10. 前記信号の品質の判断結果に基づいて前記セクタ単位でディフェクト登録を行うディフェクト登録部をさらに備えることを特徴とする請求項９に記載の磁気ディスク装置。
  11. 前記磁気記録における前記ライト電流の電流値を前記セクタ単位で記憶するメモリをさらに備えることを特徴とする請求項９に記載の磁気ディスク装置。
  12. 前記磁気ヘッドは、
    前記磁気ディスク上に前記レーザ光を照射するレーザ照射部と、
    前記磁気ディスクに記録された信号を読み出すリード素子と、
    前記磁気ディスク上の前記レーザ光の照射領域に磁気記録を行うライト磁極とを備えることを特徴とする請求項１から１１のいずれか１項に記載の磁気ディスク装置。
  13. 熱アシスト磁気記録に用いられるレーザ光の光強度を制御するレーザ光強度制御部と、
    前記熱アシスト磁気記録に用いられる磁気ヘッドにて読み出された信号を検出する再生信号検出部と、
    前記磁気ヘッドにて読み出された信号から検出されたノイズレベルと、前記レーザ光の光強度との関係に基づいて、前記磁気ヘッドから読み出された信号の品質を判断する信号品質判断部とを備えることを特徴とする磁気ディスク評価装置。
  14. 前記磁気ヘッドにて読み出された信号に基づいて前記ノイズレベルを演算するノイズ演算部と、
    前記ノイズ演算部にて演算された前記ノイズレベルを保存するデータ保存部と、
    前記データ保存部に保存されたノイズレベルに基づいて、前記レーザ光の光強度に対するノイズ分散を演算するデータ演算部と、
    前記ノイズレベルに基づいて前記レーザ光の光強度を変化させる品質評価制御部とをさらに備えることを特徴とする請求項１３に記載の磁気ディスク評価装置。
  15. 熱アシスト磁気記録におけるライト電流を制御するライト電流制御部と、
    前記熱アシスト磁気記録に用いられる磁気ヘッドにて読み出された信号を検出する再生信号検出部と、
    前記磁気ヘッドにて読み出された信号から検出されたノイズレベルと、前記ライト電流の電流値との関係に基づいて、前記磁気ヘッドから読み出された信号の品質を判断する信号品質判断部とを備えることを特徴とする磁気ディスク評価装置。
  16. 前記磁気ヘッドにて読み出された信号に基づいて前記ノイズレベルを演算するノイズ演算部と、
    前記ノイズ演算部にて演算された前記ノイズレベルを保存するデータ保存部と、
    前記データ保存部に保存されたノイズレベルに基づいて、前記ライト電流の電流値に対するノイズ分散を演算するデータ演算部と、
    前記ノイズレベルに基づいて前記ライト電流の電流値を変化させる品質評価制御部をさらに備えることを特徴とする請求項１５に記載の磁気ディスク評価装置。
  17. 前記磁気ディスクのセクタ単位で前記信号の品質が判断されることを特徴とする請求項１３から１６のいずれか１項に記載の磁気ディスク評価装置。
  18. 前記磁気ヘッドは、
    前記磁気ディスク上にレーザ光を照射するレーザ照射部と、
    前記磁気ディスクに記録された信号を読み出すリード素子と、
    前記磁気ディスク上の前記レーザ光の照射領域に磁気記録を行うライト磁極とを備え、 前記ライト磁極にて形成される前記磁気ディスク上のライト磁界のうちの前記リード素子の幅分の全体が前記照射領域と重なることを特徴とする請求項１３から１７のいずれか１項に記載の磁気ディスク評価装置。
  19. 磁気ディスク上にレーザ光を照射するレーザ照射部と、
    前記磁気ディスクに記録された信号を読み出すリード素子と、
    前記磁気ディスク上の前記レーザ光の照射領域に磁気記録を行うライト磁極とを備え、 前記ライト磁極にて形成される前記磁気ディスク上のライト磁界のうちの前記リード素子の幅分の全体が前記照射領域と重なることを特徴とする磁気ヘッド。
  20. 前記リード素子の幅をＲＴＷ、前記ライト磁極の幅をＷＴＷ、前記ライト磁極の厚さをＷＴＴ、前記照射領域の中心から前記ライト磁極までの距離をＬＷＤとすると、
    ＷＴＷ≧１．５×ＲＴＷかつ（ＷＴＴ＋ＬＷＤ）＜０．７５×ＲＴＷ
    という条件を満たすことを特徴とする請求項１９に記載の磁気ヘッド。
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