JP2013140059A - Probe pin and socket for electric component - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To make operation of a probe pin smooth and sure and to make a terminal of an IC package hardly damaged by the probe pin, without increasing spring force of a coil spring of the probe pin.SOLUTION: A probe pin 3 comprises: a first plunger 15, a cylindrical barrel 16 whose one end side is fixed to the first plunger; a second plunger 17 slidably engaged with an inside of the other end side of the barrel; and a coil spring 20 that is housed in the inside of the barrel and between the first plunger and the second plunger and that elastically energizes the first plunger and the second plunger in a direction of keeping away. The second plunger includes a plurality of short-circuiting arms 37 that support one end side of the coil spring 20 and that elastically contact with a part formed with the same diameter as an inner peripheral surface 35, and when relatively moving in the barrel, the short-circuiting arms constantly contact the inner peripheral surface with the same contact pressure.

Description

この発明は、電気部品としてのＩＣパッケージを電気的にテストするために使用される
電気部品用ソケット、及びこの電気部品用ソケットを構成するプローブピンに関するもの
である。 The present invention relates to an electrical component socket used for electrically testing an IC package as an electrical component, and a probe pin constituting the electrical component socket.

図１１に示す従来の電気部品用ソケット１００は、ＩＣパッケージ１０１をソケット本
体１０２上に着脱可能に保持し、ＩＣパッケージ１０１の下面１０３に設けられた端子１
０４と外部回路（プリント配線基板）１０５とをソケット本体１０２に収容したプローブ
ピン１０６で電気的に接続し、ＩＣパッケージ１０１の電気的テストを行うようになって
いる。 The conventional electrical component socket 100 shown in FIG. 11 holds the IC package 101 on the socket body 102 in a detachable manner, and the terminals 1 provided on the lower surface 103 of the IC package 101.
04 and an external circuit (printed wiring board) 105 are electrically connected by probe pins 106 accommodated in the socket body 102, and an electrical test of the IC package 101 is performed.

この図１１に示す電気部品用ソケット１００のソケット本体１０２は、外部回路１０５
上に固定される第１プレート１０７と、この第１プレート１０７との間に部分的に隙間１
０８が生じるように第１プレート１０７上に固定された第２プレート１１０と、この第２
プレート１１０上に図示しないばねによって弾性的に支持された昇降プレート１１１と、
からなっている。そして、ソケット本体１０２にはピン収容穴１１２が形成され、このピ
ン収容穴１１２にはプローブピン１０６が収容されている。なお、ピン収容穴１１２及び
プローブピン１０６は、ＩＣパッケージ１０１の端子１０４と一対一に対応するように設
けられている。 The socket body 102 of the electrical component socket 100 shown in FIG.
A gap 1 is partially formed between the first plate 107 fixed on the top and the first plate 107.
A second plate 110 fixed on the first plate 107 so that 08 occurs, and this second
A lifting plate 111 elastically supported on a plate 110 by a spring (not shown);
It is made up of. A pin housing hole 112 is formed in the socket body 102, and a probe pin 106 is housed in the pin housing hole 112. The pin accommodation holes 112 and the probe pins 106 are provided so as to correspond to the terminals 104 of the IC package 101 on a one-to-one basis.

また、図１１に示す電気部品用ソケット１００のプローブピン１０６は、外部回路１０
５に接触する下部接触端子１１３と、ＩＣパッケージ１０１の端子１０４に接触する上部
接触端子１１４と、この上部接触端子１１４を下部接触端子１１３上に弾性的に支持する
コイルバネ１１５と、からなっている（図１２参照）。 In addition, the probe pin 106 of the electrical component socket 100 shown in FIG.
5, a lower contact terminal 113 that contacts the terminal 104, an upper contact terminal 114 that contacts the terminal 104 of the IC package 101, and a coil spring 115 that elastically supports the upper contact terminal 114 on the lower contact terminal 113. (See FIG. 12).

そして、図１１（ａ）に示すように、ＩＣパッケージ１０１及び昇降プレート１１１が
押し下げられる前の状態において、プローブピン１０６は、上部接触端子１１４の下端側
に形成された二面幅部１１６が下部接触端子１１３の一対の弾性片１１７，１１７間に挿
入され、上部接触端子１１４の二面幅部１１６が一対の弾性片１１７，１１７に弾性的に
接触している。 As shown in FIG. 11A, in the state before the IC package 101 and the lifting plate 111 are pushed down, the probe pin 106 has the two-sided width portion 116 formed on the lower end side of the upper contact terminal 114 at the lower side. Inserted between the pair of elastic pieces 117 and 117 of the contact terminal 113, the two-surface width portion 116 of the upper contact terminal 114 is in elastic contact with the pair of elastic pieces 117 and 117.

また、図１１（ｂ）に示すように、ＩＣパッケージ１０１及び昇降プレート１１１が押
し下げられた状態において（ＩＣパッケージ１０１の電気的テスト時において）、プロー
ブピン１０６は、ＩＣパッケージ１０１の端子１０４によって押された上部接触端子１１
４がコイルバネ１１５を押し縮めて下降し、上部接触端子１１４のテーパー面部１１８で
下部接触端子１１３の一対の弾性片１１７，１１７を押し拡げ、上部接触端子１１４のテ
ーパー面部１１８が下部接触端子１１３の一対の弾性片１１７，１１７に弾性的に接触し
ている。 In addition, as shown in FIG. 11B, the probe pin 106 is pushed by the terminal 104 of the IC package 101 when the IC package 101 and the lift plate 111 are pushed down (during an electrical test of the IC package 101). Upper contact terminal 11
4 presses and retracts the coil spring 115, and the pair of elastic pieces 117 and 117 of the lower contact terminal 113 are pushed and expanded by the tapered surface portion 118 of the upper contact terminal 114, and the tapered surface portion 118 of the upper contact terminal 114 is The pair of elastic pieces 117 and 117 are in elastic contact with each other.

このように、図１１に示したプローブピン１０６は、上部接触端子１１４の下端側と下
部接触端子１１３の一対の弾性片１１７，１１７を常時弾性的に接触させ、上部接触端子
１１４と下部接触端子１１３とを電気的に接続できるようになっている（特許文献１参照
）。 As described above, the probe pin 106 shown in FIG. 11 always makes the pair of elastic pieces 117 and 117 of the lower contact terminal 113 elastically contact the lower end side of the upper contact terminal 114 and the upper contact terminal 114 and the lower contact terminal. 113 can be electrically connected (see Patent Document 1).

特許第４６８３９９３号公報Japanese Patent No. 4683993

しかしながら、図１１乃至図１２に示したプローブピン１０６は、上部接触端子１１４
のテーパー面部１１８が下部接触端子１１３の一対の弾性片１１７，１１７を押し拡げて
下降する際に、上部接触端子１１４のテーパー面部１１８と下部接触端子１１３の弾性片
１１７，１１７との接触圧が上部接触端子１１４の下降に従って増加し、上部接触端子１
１４のテーパー面部１１８と下部接触端子１１３の弾性片１１７，１１７との摩擦抵抗が
上部接触端子１１４の下降に従って増加する。その結果、上部接触端子１１４を押し下げ
る力が解除されても、コイルバネ１１５のばね力（弾性復元力）が上部接触端子１１４の
テーパー面部１１８と下部接触端子１１３の弾性片１１７，１１７との接触部に生じる摩
擦抵抗よりも小さいと、上部接触端子１１４が下部接触端子１１３の一対の弾性片１１７
，１１７に挟持された状態で固定され、上部接触端子１１４が図１１（ｂ）の位置（テス
ト位置）から図１１（ａ）の位置（初期位置）に復帰することができない虞が生じる。 However, the probe pin 106 shown in FIGS.
When the tapered surface portion 118 pushes and expands the pair of elastic pieces 117 and 117 of the lower contact terminal 113, the contact pressure between the tapered surface portion 118 of the upper contact terminal 114 and the elastic pieces 117 and 117 of the lower contact terminal 113 is reduced. As the upper contact terminal 114 is lowered, the upper contact terminal 1 increases.
The frictional resistance between the 14 tapered surface portions 118 and the elastic pieces 117 and 117 of the lower contact terminal 113 increases as the upper contact terminal 114 descends. As a result, even if the force that pushes down the upper contact terminal 114 is released, the spring force (elastic restoring force) of the coil spring 115 causes the contact portion between the tapered surface portion 118 of the upper contact terminal 114 and the elastic pieces 117 and 117 of the lower contact terminal 113. When the frictional resistance is smaller than the frictional resistance, the upper contact terminal 114 is a pair of elastic pieces 117 of the lower contact terminal 113.
, 117, and the upper contact terminal 114 may not be returned from the position (test position) in FIG. 11 (b) to the position (initial position) in FIG. 11 (a).

このような不具合を解消するためには、プローブピン１０６のコイルバネ１１５のばね
力を大きくすることが考えられるが、コイルバネ１１５のばね力を大きくすると、ＩＣパ
ッケージ１０１を押し下げる力を大きくすることが必要となり、ＩＣパッケージ１０１を
押し下げるための機構（ＩＣパッケージ押圧機構）が大型化し、この機構（ＩＣパッケー
ジ押圧機構）を備えた電気部品用ソケット１００の大型化が生じるという新たな問題を生
じる。また、プローブピン１０６のコイルバネ１１５のばね力を大きくすると、上部接触
端子１１４の先端とＩＣパッケージ１０１の端子１０４との接触圧が大きくなり、ＩＣパ
ッケージ１０１の端子１０４がプローブピン１０６によって傷付けられやすくなる。 In order to solve such a problem, it is conceivable to increase the spring force of the coil spring 115 of the probe pin 106. However, if the spring force of the coil spring 115 is increased, it is necessary to increase the force for pushing down the IC package 101. As a result, a mechanism for pressing down the IC package 101 (IC package pressing mechanism) becomes larger, and a new problem arises that the size of the socket 100 for electric parts provided with this mechanism (IC package pressing mechanism) increases. Further, when the spring force of the coil spring 115 of the probe pin 106 is increased, the contact pressure between the tip of the upper contact terminal 114 and the terminal 104 of the IC package 101 increases, and the terminal 104 of the IC package 101 is easily damaged by the probe pin 106. Become.

そこで、本発明は、プローブピンのコイルバネのばね力を大きくすることなく、プロー
ブピンの作動を円滑且つ確実にし、ＩＣパッケージの端子がプローブピンによって傷付け
られ難くすることを目的とする。また、本発明は、プローブピンを複数備えた電気部品用
ソケットの大型化の防止を目的とする。 Accordingly, an object of the present invention is to make the operation of the probe pin smooth and reliable without increasing the spring force of the coil spring of the probe pin, and to prevent the terminal of the IC package from being damaged by the probe pin. Another object of the present invention is to prevent an electrical component socket having a plurality of probe pins from becoming large.

本発明は、図３，図４，図５及び図９に示すように、電気部品用ソケット１のソケット
本体２に設けられたピン収容穴３８に収容されて、ＩＣパッケージ１１の端子１４と外部
電気的テスト回路７とを電気的に接続するプローブピン３に関するものである。このプロ
ーブピン３は、前記ＩＣパッケージ１１の端子１４と接触する第１プランジャー１５と、
前記第１プランジャー１５を一端側に固定した円筒状のバレル１６と、前記バレル１６の
他端側の内部にスライド可能に係合されて前記外部電気的テスト回路７に接触する第２プ
ランジャー１７，５０と、前記バレル１６の内部で且つ前記第１プランジャー１５と前記
第２プランジャー１７，５０との間に収容され、前記第１プランジャー１５と前記第２プ
ランジャー１７，５０とを遠ざける方向へ弾性的に付勢するコイルバネ２０と、を有して
いる。この発明のプローブピン３において、前記第２プランジャー１７，５０は、前記コ
イルバネ２０の一端側を支持し且つ前記バレル１６の内周面３５のうちの同一径で形成さ
れた部分に弾性接触する複数の短絡用アーム３７，５２を有し、前記バレル１６内を相対
移動する際に、前記短絡用アーム３７，５２が前記バレル１６の前記内周面３５に同一の
接触圧で常時接触するようになっている。そして、前記第１プランジャー１５，前記バレ
ル１６及び前記第２プランジャー１７，５０が前記ＩＣパッケージ１１の端子１４と前記
外部電気的テスト回路７を電気的に接続するようになっている。 As shown in FIGS. 3, 4, 5, and 9, the present invention is housed in a pin housing hole 38 provided in the socket body 2 of the electrical component socket 1, and the terminal 14 of the IC package 11 and the external This relates to the probe pin 3 for electrically connecting the electrical test circuit 7. The probe pin 3 includes a first plunger 15 that contacts the terminal 14 of the IC package 11,
A cylindrical barrel 16 in which the first plunger 15 is fixed to one end side, and a second plunger that is slidably engaged with the inside of the other end side of the barrel 16 and contacts the external electrical test circuit 7 17 and 50, housed in the barrel 16 and between the first plunger 15 and the second plunger 17, 50, and the first plunger 15 and the second plunger 17, 50 And a coil spring 20 that elastically biases the coil spring 20 in a direction away from the coil spring 20. In the probe pin 3 of the present invention, the second plungers 17 and 50 support one end of the coil spring 20 and elastically contact a portion of the inner peripheral surface 35 of the barrel 16 formed with the same diameter. A plurality of short-circuiting arms 37 and 52 are provided, and the short-circuiting arms 37 and 52 are always in contact with the inner peripheral surface 35 of the barrel 16 with the same contact pressure when moving relative to each other in the barrel 16. It has become. The first plunger 15, the barrel 16, and the second plungers 17 and 50 electrically connect the terminal 14 of the IC package 11 and the external electrical test circuit 7.

本発明に係るプローブピンは、第２プランジャーの短絡用アームとバレルとの接触圧が
両者間の相対的なスライド長さに関係なく一定であり、第２プランジャーの短絡用アーム
とバレルとの摩擦抵抗が一定であるため、コイルバネのばね力を大きくしなくても円滑且
つ確実に作動し（バレルと第２プローブピンとが円滑且つ確実にスライド移動し）、ＩＣ
パッケージの端子を傷付け難い。 In the probe pin according to the present invention, the contact pressure between the shorting arm and the barrel of the second plunger is constant regardless of the relative slide length between the two, and the shorting arm and the barrel of the second plunger Since the frictional resistance of the coil spring is constant, it operates smoothly and reliably without increasing the spring force of the coil spring (the barrel and the second probe pin slide smoothly and reliably), and the IC
Hard to damage package terminals.

本実施形態に係るプローブピンをソケット本体に複数収容してなる電気部品用ソケット
は、プローブピンのコイルバネのばね力を大きくしなくてもよいため、ＩＣパッケージの
端子をプローブピンに押し付けるためのＩＣパッケージ押圧機構を大型化しなくてもよく
、全体構造を大型化しなくてもよい。 The electrical component socket in which a plurality of probe pins according to the present embodiment are accommodated in the socket body does not need to increase the spring force of the coil spring of the probe pin, so that the IC for pressing the terminal of the IC package against the probe pin The package pressing mechanism need not be enlarged, and the overall structure need not be enlarged.

本発明の実施形態に係る電気部品用ソケットを示す図であり、図１（ａ）が電気部品用ソケットの平面図（ソケットカバーを閉じた状態の平面図）、図１（ｂ）が図１（ａ）のＡ１−Ａ１線に沿って切断して示す電気部品用ソケットの正面側断面図、図１（ｃ）が図１（ａ）のＡ２−Ａ２線に沿って切断して示す電気部品用ソケットの右側面側断面図である。It is a figure which shows the socket for electrical components which concerns on embodiment of this invention, FIG. 1 (a) is a top view (plan view of the state which closed the socket cover) of the socket for electrical components, FIG.1 (b) is FIG. FIG. 1A is a front side sectional view of an electrical component socket cut along the line A1-A1 of FIG. 1A, and FIG. 1C shows the electrical component cut along the line A2-A2 of FIG. FIG. 本発明の実施形態に係る電気部品用ソケットのソケットカバーを開いた状態の平面図であり、図２（ａ）がＩＣパッケージをＩＣパッケージ収容部に収容する前の状態図、図２（ｂ）がＩＣパッケージをＩＣパッケージ収容部に収容した後の状態図である。FIG. 2B is a plan view of the electrical component socket according to the embodiment of the present invention in a state where the socket cover is opened, and FIG. FIG. 8 is a state diagram after the IC package is accommodated in the IC package accommodating portion. 本発明の実施形態に係るプローブピンを示す図であり、図３（ａ）がプローブピンの正面図、図３（ｂ）がプローブピンの縦断面図である。It is a figure which shows the probe pin which concerns on embodiment of this invention, Fig.3 (a) is a front view of a probe pin, FIG.3 (b) is a longitudinal cross-sectional view of a probe pin. 図４（ａ）はソケット本体のピン収容穴に収容されたプローブピンを示す断面図であり、図４（ｂ）はプリント配線基板上に取り付けられたソケット本体内のプローブピンを示す断面図であり、図４（ｃ）はＩＣパッケージの電気的テスト時におけるプローブピンを示す断面図である。FIG. 4A is a cross-sectional view showing the probe pins housed in the pin housing holes of the socket body, and FIG. 4B is a cross-sectional view showing the probe pins in the socket body mounted on the printed circuit board. FIG. 4C is a cross-sectional view showing the probe pins during the electrical test of the IC package. 第２プランジャーを示す図であり、図５（ａ）が第２プランジャーの正面図、図５（ｂ）が第２プランジャーの下面図である。It is a figure which shows a 2nd plunger, Fig.5 (a) is a front view of a 2nd plunger, FIG.5 (b) is a bottom view of a 2nd plunger. 本発明に係るプローブピンの作動時の滑り抵抗と従来例に係るプローブピンの作動時の滑り抵抗を対比して示す図である。It is a figure which compares and shows the slip resistance at the time of the action | operation of the probe pin which concerns on this invention, and the slip resistance at the time of the action | operation of the probe pin which concerns on a prior art example. 図７（ａ）は本発明の変形例１を示すプローブピンの一部断面図であり、図７（ｂ）は図７（ａ）のＢ１部を拡大して示す図である。FIG. 7A is a partial cross-sectional view of a probe pin showing a first modification of the present invention, and FIG. 7B is an enlarged view showing a portion B1 of FIG. 7A. 図８（ａ）は本発明の変形例２を示すプローブピンの一部断面図であり、図８（ｂ）は図８（ａ）のＢ２部を拡大して示す図である。FIG. 8A is a partial cross-sectional view of a probe pin showing a second modification of the present invention, and FIG. 8B is an enlarged view showing a portion B2 of FIG. 8A. 図９（ａ）は本発明の変形例３を示すプローブピンの素材形状図（正面図）であり、図９（ｂ）は本発明の変形例３を示すプローブピンの縦断面図である。FIG. 9A is a material shape diagram (front view) of a probe pin showing a third modification of the present invention, and FIG. 9B is a longitudinal sectional view of the probe pin showing the third modification of the present invention. 本発明の変形例４を示す電気部品用ソケットの平面図である。It is a top view of the socket for electrical components which shows the modification 4 of this invention. 図１１（ａ）は従来例に係るプローブピン及びこれを備えた電気部品用ソケットの第１状態図であり、図１１（ｂ）は従来例に係るプローブピン及びこれを備えた電気部品用ソケットの第２状態図である。FIG. 11A is a first state diagram of a conventional probe pin and an electrical component socket including the same, and FIG. 11B is a conventional probe pin and an electrical component socket including the same. FIG. 従来例に係るプローブピンの分解斜視図である。It is a disassembled perspective view of the probe pin which concerns on a prior art example.

以下、本発明の実施の形態を図面に基づき詳述する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

［電気部品用ソケット］
図１乃至図２は、本実施形態に係る電気部品用ソケット１を示す図である。これらの図
に示すように、電気部品用ソケット１は、ソケット本体２と、ソケット本体２に収容され
た複数のプローブピン３と、ソケット本体２の上部側に開閉可能に取り付けられるソケッ
トカバー（ＩＣパッケージ押圧機構）４と、を有している（図３参照）。そして、ソケッ
ト本体２は、第１ソケット本体部５と、この第１ソケット本体部５に組み付けられた第２
ソケット本体部６と、を有している。このような電気部品用ソケット１は、プリント配線
基板（外部電気的テスト回路）７上に取り付けられるようになっている。なお、図１乃至
図２の電気部品用ソケット１において、第１ソケット本体部５と第２ソケット本体部６と
の間には、後に詳述するプローブピン３の作動を可能にするための空間８が形成されてい
る（図３及び図４参照）。なお、プローブピン３を収容する第１ソケット本体部５及び第
２ソケット本体部６は、ガラスエポキシ樹脂等の絶縁性樹脂材料で形成されている。 [Socket for electrical parts]
1 and 2 are views showing an electrical component socket 1 according to the present embodiment. As shown in these drawings, an electrical component socket 1 includes a socket body 2, a plurality of probe pins 3 accommodated in the socket body 2, and a socket cover (IC Package pressing mechanism) 4 (see FIG. 3). The socket body 2 includes a first socket body 5 and a second socket assembled to the first socket body 5.
Socket main body 6. Such an electrical component socket 1 is adapted to be mounted on a printed wiring board (external electrical test circuit) 7. In the electrical component socket 1 shown in FIGS. 1 and 2, there is a space between the first socket body 5 and the second socket body 6 for enabling the operation of the probe pin 3 described in detail later. 8 is formed (see FIGS. 3 and 4). In addition, the 1st socket main-body part 5 and the 2nd socket main-body part 6 which accommodate the probe pin 3 are formed with insulating resin materials, such as a glass epoxy resin.

また、図１乃至図２に示す電気部品用ソケット１は、ソケットカバー４を開いた状態（
図１（ｂ）の二点鎖線で示す状態及び図２に示す状態参照）において、第１ソケット本体
部５上のＩＣパッケージ収容部１０内に電気部品としてのＩＣパッケージ１１を収容でき
、また、第１ソケット本体部５上のＩＣパッケージ収容部１０内に収容したＩＣパッケー
ジ１１をＩＣパッケージ収容部１０から取り出すことができるようになっている。 Moreover, the socket 1 for electrical components shown in FIG. 1 thru | or FIG. 2 is the state which opened the socket cover 4 (
In the state shown by the two-dot chain line in FIG. 1 (b) and the state shown in FIG. 2), the IC package 11 as an electrical component can be accommodated in the IC package accommodating portion 10 on the first socket body portion 5, The IC package 11 accommodated in the IC package accommodating portion 10 on the first socket main body 5 can be taken out from the IC package accommodating portion 10.

また、図１乃至図２に示す電気部品用ソケット１は、ＩＣパッケージ１１をＩＣパッケ
ージ収容部１０内に収容した後、ソケットカバー４を閉じると、ソケットカバー４のプレ
ッシャープレート１２が圧縮コイルスプリング１３のばね力で付勢され、この圧縮コイル
スプリング１３のばね力で付勢されたプレッシャプレート１２がＩＣパッケージ１１の裏
面の端子１４をソケット本体２に収容されたプローブピン３の先端（上端）に押し付ける
ようになっている（図４（ｃ）参照）。その結果、ＩＣパッケージ１１は、プローブピン
３を介してプリント配線基板７に電気的に接続され、プリント配線基板７及びプローブピ
ン３を介して通電されることにより、電気的テストが行われる。 1 and FIG. 2, when the socket cover 4 is closed after the IC package 11 is accommodated in the IC package accommodating portion 10, the pressure plate 12 of the socket cover 4 is compressed by the compression coil spring 13. The pressure plate 12 urged by the spring force of the compression coil spring 13 causes the terminal 14 on the back surface of the IC package 11 to be connected to the tip (upper end) of the probe pin 3 accommodated in the socket body 2. It is designed to be pressed (see FIG. 4C). As a result, the IC package 11 is electrically connected to the printed wiring board 7 through the probe pins 3, and an electrical test is performed by energizing through the printed wiring board 7 and the probe pins 3.

［プローブピン］
図３乃至図４に示すように、プローブピン３は、ＩＣパッケージ１１の端子１４と接触
する第１プランジャー１５と、この第１プランジャー１５を一端側にかしめ固定した円筒
状のバレル１６と、このバレル１６の他端側の内部にスライド可能に係合されてプリント
配線基板７に接触する第２プランジャー１７と、バレル１６の内部空間１８で且つ第１プ
ランジャー１５と第２プランジャー１７の間に収容されて第１プランジャー１５と第２プ
ランジャー１７とを遠ざける方向（＋Ｚ方向、−Ｚ方向）へ弾性的に付勢するコイルバネ
２０と、を有している。なお、第１プランジャー１５，バレル１６及び第２プランジャー
１７は、リン青銅等の導電性に優れた金属で形成されている。また、コイルバネ２０は、
ステンレスばね鋼やピアノ線等で形成されている。 [Probe pin]
As shown in FIGS. 3 to 4, the probe pin 3 includes a first plunger 15 that contacts the terminal 14 of the IC package 11, and a cylindrical barrel 16 that is caulked and fixed to one end of the first plunger 15. The second plunger 17 is slidably engaged with the inside of the other end of the barrel 16 and comes into contact with the printed circuit board 7, the inner space 18 of the barrel 16, and the first plunger 15 and the second plunger. 17 and a coil spring 20 that is accommodated between the first plunger 15 and the second plunger 17 and elastically urges the first plunger 15 and the second plunger 17 away from each other (+ Z direction, −Z direction). In addition, the 1st plunger 15, the barrel 16, and the 2nd plunger 17 are formed with the metal excellent in electroconductivity, such as phosphor bronze. The coil spring 20 is
It is made of stainless spring steel or piano wire.

図３に示すように、第１プランジャー１５は、円板状のフランジ部２１と、このフラン
ジ部２１の一端面から軸方向（−Ｚ軸方向）に沿って延びる丸棒状の固定用軸部２２と、
フランジ部２１の他端面から軸方向（＋Ｚ軸方向）に沿って延びる端子接触部２３と、を
一体に有している。そして、この第１プランジャー１５は、固定用軸部２２がバレル１６
の一端側の開口部分２４に嵌合され、且つ、固定用軸部２２よりも大径の円板状のフラン
ジ部２１がバレル１６の一端側の端面２５に突き当てられた状態において、バレル１６の
塑性変形させられた部分２６が固定用軸部２２の固定用環状溝２７内に嵌り込むように、
固定用軸部２２とバレル１６とがかしめによって固定されている。端子接触部２３は、複
数の三角状突起からなる端子着座部分２８が棒状部分３０の先端側に形成されており、Ｉ
Ｃパッケージ１１の略球状の端子１４が端子着座部分２８に着座して接触するようになっ
ている。なお、端子着座部分２８は、ＩＣパッケージ１１の端子形状に応じた形状に形成
される。 As shown in FIG. 3, the first plunger 15 includes a disk-shaped flange portion 21 and a round rod-shaped fixing shaft portion extending from one end surface of the flange portion 21 along the axial direction (−Z-axis direction). 22,
A terminal contact portion 23 extending along the axial direction (+ Z-axis direction) from the other end surface of the flange portion 21 is integrally provided. The first plunger 15 has a fixing shaft portion 22 with a barrel 16.
In the state where the disc-shaped flange portion 21 which is fitted into the opening portion 24 on one end side and is larger in diameter than the fixing shaft portion 22 is abutted against the end surface 25 on one end side of the barrel 16, the barrel 16. So that the plastically deformed portion 26 fits into the fixing annular groove 27 of the fixing shaft portion 22.
The fixing shaft portion 22 and the barrel 16 are fixed by caulking. The terminal contact portion 23 has a terminal seating portion 28 formed of a plurality of triangular protrusions formed on the distal end side of the rod-shaped portion 30.
The substantially spherical terminal 14 of the C package 11 is seated on and in contact with the terminal seating portion 28. The terminal seating portion 28 is formed in a shape corresponding to the terminal shape of the IC package 11.

図３に示すように、第１プランジャー１５が固定されたバレル１６の内部空間１８には
、コイルバネ２０が収容された後、第２プランジャー１７がコイルバネ２０を押し縮める
ようにして収容される。この際、第２プランジャー１７は、抜け止め突起３１がバレル１
６の他端側の開口端よりもバレル１６の内部空間１８の内方に位置するように収容される
。その後、バレル１６の他端側の開口端が縮径変形させられて、バレル１６の他端側に円
環状の抜け止めフランジ３２が形成される。この抜け止めフランジ３２は、コイルバネ２
０のばね力で付勢された第２プランジャー１７の抜け止め突起３１が引っ掛かるようにな
っており、第２プランジャー１７がバレル１６から抜け出てしまうのを阻止する。また、
バレル１６の外周面３３で且つ軸方向に沿った略中間部には、第１ソケット本体部５と第
２ソケット本体部６との間の空間８に収容される移動規制突起３４が形成されている。ま
た、バレル１６は、少なくとも、後述する第２プランジャー１７の一対の短絡用アームが
弾性接触する内周面３５が同一径の円筒面になっている。 As shown in FIG. 3, after the coil spring 20 is accommodated in the internal space 18 of the barrel 16 to which the first plunger 15 is fixed, the second plunger 17 is accommodated so as to compress the coil spring 20. . At this time, the second plunger 17 has a retaining projection 31 that is positioned on the barrel 1.
6 is accommodated so as to be located inside the internal space 18 of the barrel 16 with respect to the opening end on the other end side. Thereafter, the opening end on the other end side of the barrel 16 is deformed to reduce the diameter, and an annular retaining flange 32 is formed on the other end side of the barrel 16. The retaining flange 32 is provided with the coil spring 2
The retaining protrusion 31 of the second plunger 17 urged by the spring force of 0 is hooked to prevent the second plunger 17 from coming out of the barrel 16. Also,
A movement restricting protrusion 34 that is accommodated in the space 8 between the first socket main body 5 and the second socket main body 6 is formed on the outer peripheral surface 33 of the barrel 16 and substantially in the middle along the axial direction. Yes. Further, the barrel 16 has at least an inner peripheral surface 35 with which a pair of short-circuiting arms of the second plunger 17 described later make elastic contact with a cylindrical surface having the same diameter.

図３及び図５に示すように、第２プランジャー１７は、基板接触部３６と、この基板接
触部３６から二股に分岐する一対の短絡用アーム３７，３７と、を有している。そして、
この第２プランジャー１７は、中心軸Ｃ１を対称軸とする線対称形状になっている（図５
（ａ）参照）。基板接触部３６は、断面形状が矩形形状の棒状部分であって、プリント配
線基板７に接触する先端が円弧状に丸められている。一対の短絡用アーム３７，３７は、
基板接触部３６に接続される根元部分３７ａが円弧状に形成され、基板接触部３６から分
岐する根元部分３７ａに応力集中が生じ難くなっており、撓み変形し難い剛性を有してい
る。また、一対の短絡用アーム３７，３７は、根元部分３７ａから延びる片持ち梁状の弾
性変形部分３７ｂが先端に向かうに従って第２プランジャー１７の中心軸Ｃ１から離れる
ように形成されており、弾性変形部分３７ｂの先端側にコイルバネ２０の一端側を支持す
るためのバネ着座部３７ｃが一体に形成されている。短絡用アーム３７のバネ着座部３７
ｃは、短絡用アーム３７の先端側が外側方（中心軸Ｃ１から遠ざかる方向）へ円弧状に張
り出すように形成されると共に、短絡用アーム３７の先端側が中心軸Ｃ１寄りに張り出す
ように形成され、コイルバネ２０の一端を確実に着座させることができる着座面積が確保
されている。このバネ着座部３７ｃの円弧状の外側面３７ｃ１は、第２プランジャー１７
がバレル１６の内部空間１８に収容された際に、バレル１６の内周面３５に弾性的に接触
する。また、バネ着座部３７ｃの着座面（上面）３７ｃ２には、コイルバネ２０のずれ動
きを規制するためのバネ位置決め突起３７ｃ３が形成されている。これにより、コイルバ
ネ２０は、一対の短絡用アーム３７，３７の着座面３７ｃ２上でずれ動くと、コイル外径
側が一対の短絡用アーム３７，３７のバネ位置決め突起３７ｃ３に引っ掛かって動きが規
制される。また、一対の短絡用アーム３７，３７は、抜け止め突起３１が根元部分３７ａ
とバネ着座部３７ｃの間の弾性変形部分３７ｂの外側面に張り出すように形成されている
。この抜け止め突起３１は、正面側の形状が略三角形状又は略円弧形状となるように形成
されており、第２プランジャー１７がバレル１６内に収容された際に、バレル１６の内周
面３５に当接せず、バレル１６の抜け止めフランジ３２に引っ掛かる寸法に形成されてい
る。なお、第２プランジャー１７は、板状部材をプレスで打ち抜き加工して形成すること
ができる。 As shown in FIGS. 3 and 5, the second plunger 17 has a substrate contact portion 36 and a pair of short-circuiting arms 37, 37 branched from the substrate contact portion 36 into two branches. And
The second plunger 17 has a line-symmetric shape with the central axis C1 as the symmetry axis (FIG. 5).
(See (a)). The substrate contact portion 36 is a rod-shaped portion having a rectangular cross-sectional shape, and a tip that contacts the printed wiring board 7 is rounded in an arc shape. The pair of short-circuiting arms 37, 37 are
A root portion 37a connected to the substrate contact portion 36 is formed in an arc shape, and stress concentration is unlikely to occur in the root portion 37a branched from the substrate contact portion 36, and has rigidity that is difficult to bend and deform. Further, the pair of short-circuiting arms 37 and 37 are formed such that a cantilevered elastic deformation portion 37b extending from the root portion 37a moves away from the central axis C1 of the second plunger 17 toward the tip. A spring seat portion 37c for supporting one end of the coil spring 20 is integrally formed on the distal end side of the deformable portion 37b. Spring seat 37 of the short-circuit arm 37
c is formed so that the distal end side of the short-circuiting arm 37 protrudes outward (in a direction away from the central axis C1) in an arc shape, and the distal end side of the short-circuiting arm 37 is formed to protrude closer to the central axis C1. Thus, a seating area that can securely seat one end of the coil spring 20 is ensured. The arcuate outer surface 37c1 of the spring seat 37c is formed by the second plunger 17
Is elastically brought into contact with the inner peripheral surface 35 of the barrel 16 when it is accommodated in the internal space 18 of the barrel 16. Further, a spring positioning projection 37c3 for restricting the displacement movement of the coil spring 20 is formed on the seating surface (upper surface) 37c2 of the spring seating portion 37c. Accordingly, when the coil spring 20 is displaced on the seating surface 37c2 of the pair of short-circuiting arms 37, 37, the coil outer diameter side is caught by the spring positioning protrusion 37c3 of the pair of short-circuiting arms 37, 37, and the movement is restricted. . Further, the pair of short-circuiting arms 37, 37 has a retaining protrusion 31 having a root portion 37a.
And an elastically deformable portion 37b between the spring seat 37c and the spring seat 37c. The retaining protrusion 31 is formed so that the shape of the front side is a substantially triangular shape or a substantially arc shape, and the inner peripheral surface of the barrel 16 when the second plunger 17 is accommodated in the barrel 16. It is formed in such a size that it does not come into contact with 35 and is caught by the retaining flange 32 of the barrel 16. The second plunger 17 can be formed by punching a plate-like member with a press.

図５に示した第２プランジャー１７は、一対の短絡用アーム３７，３７を中心軸Ｃ１寄
りに弾性変形させた状態で、ばね着座部３７ｃ側からバレル１６の内部空間１８に収容す
る（図３（ｂ）参照）。図３（ｂ）に示すように、バレル１６の内部空間１８に収容され
た第２プランジャー１７は、一対の短絡用アーム３７，３７の弾性復元力（ばね力）によ
ってバネ着座部３７ｃの円弧状の外側面３７ｃ１がバレル１６の同一径で形成された内周
面３５に弾性的に接触する。また、図３（ｂ）に示すように、バレル１６の内部空間１８
に収容された第２プランジャー１７は、コイルバネ２０のばね力によって抜け止め突起３
１がバレル１６の抜け止めフランジ３２に押し付けられ、全体がバレル１６から抜け出て
しまうことがなく、バレル１６内に保持される。そして、バレル１６の内部空間１８に収
容された第２プランジャー１７は、一対の短絡用アーム３７，３７が中心軸Ｃ１とほぼ平
行になるように弾性変形させられている（図３及び図４参照）。 The second plunger 17 shown in FIG. 5 is housed in the internal space 18 of the barrel 16 from the spring seating portion 37c side in a state where the pair of short-circuiting arms 37, 37 are elastically deformed toward the central axis C1 (see FIG. 5). 3 (b)). As shown in FIG. 3B, the second plunger 17 accommodated in the internal space 18 of the barrel 16 is formed by the elastic restoring force (spring force) of the pair of short-circuiting arms 37, 37. The arc-shaped outer surface 37c1 elastically contacts the inner peripheral surface 35 formed with the same diameter of the barrel 16. Further, as shown in FIG. 3 (b), the internal space 18 of the barrel 16.
The second plunger 17 accommodated in the retaining projection 3 is retained by the spring force of the coil spring 20.
1 is pressed against the retaining flange 32 of the barrel 16 so that the whole is not pulled out of the barrel 16 and is held in the barrel 16. The second plunger 17 accommodated in the internal space 18 of the barrel 16 is elastically deformed so that the pair of short-circuiting arms 37 and 37 are substantially parallel to the central axis C1 (FIGS. 3 and 4). reference).

図３及び図４に示したように、コイルバネ２０は、バレル１６の内部空間１８で且つ第
１プランジャー１５と第２プランジャー１７の間に収容され、一端が第２プランジャー１
７のバネ着座部３７ｃに着座し、他端が第１プランジャー１５の固定用軸部２２の端面２
２ａに当接し、第１プランジャー１５と第２プランジャー１７をプローブピン３の軸心Ｃ
０に沿った方向に遠ざけるように付勢している。 As shown in FIGS. 3 and 4, the coil spring 20 is accommodated in the inner space 18 of the barrel 16 and between the first plunger 15 and the second plunger 17, and one end of the coil spring 20 is the second plunger 1.
7 is seated on the spring seat portion 37c, and the other end is the end face 2 of the fixing shaft portion 22 of the first plunger 15.
2a, the first plunger 15 and the second plunger 17 are connected to the axis C of the probe pin 3.
It is energized to move away in the direction along 0.

図４（ａ）は、ソケット本体２のピン収容穴３８に収容されたプローブピン３を示す図
であり、ソケット本体２をプリント配線基板７上に取り付ける前の状態のプローブピン３
の図である。この図４（ａ）において、プローブピン３は、第１ソケット本体部５に形成
された第１ピン収容穴４０に移動規制突起３４よりも上方の部分（第１プランジャー１５
寄りの部分）がスライド可能に嵌合され、第２ソケット本体部６に形成された第２ピン収
容穴４１に移動規制突起３４よりも下方の部分（第２プランジャー１７寄りの部分）がス
ライド可能に嵌合されて、第１ソケット本体部５と第２ソケット本体部６の間の空間８内
に移動規制突起３４が収容されている。このソケット本体２のピン収容穴３８に収容され
たプローブピン３は、第２プランジャー１７の根元部分３７ａがコイルバネ２０のばね力
で付勢されて第２ピン収容穴４１の小径部分４２に押し付けられ、移動規制突起３４が第
１ソケット本体部５の下面４３（第２ソケット本体部６に対向する面）側に開口する第１
ピン収容穴４０の開口縁４４にコイルバネ２０のばね力で押し付けられている。その結果
、プローブピン３は、第２プランジャー１７がソケット本体２に収容される前の状態（図
３（ｂ）の状態）よりもバレル１６の内部に押し込まれ、コイルバネ２０がソケット本体
２に収容される前の状態（図３（ｂ）の状態）よりも第１プランジャー１５と第２プラン
ジャー１７とによって押し縮められている。そして、プローブピン３は、バレル１６の移
動規制突起３４が第１ソケット本体部５の下面４３側に開口する第１ピン収容穴４０の開
口縁４４にコイルバネ２０のばね力で押し付けられ、バレル１６の移動が規制されるため
、第１プランジャ１５の端子接触部２３の先端が位置決めされる。 FIG. 4A is a view showing the probe pins 3 accommodated in the pin accommodation holes 38 of the socket body 2, and the probe pins 3 in a state before the socket body 2 is mounted on the printed wiring board 7.
FIG. In FIG. 4A, the probe pin 3 has a portion (first plunger 15) above the movement restricting projection 34 in a first pin receiving hole 40 formed in the first socket body 5.
The portion closer to the second plunger 17 is slidably fitted into the second pin housing hole 41 formed in the second socket body 6 and the portion below the movement restricting projection 34 (the portion closer to the second plunger 17) slides. The movement restricting projection 34 is accommodated in the space 8 between the first socket main body 5 and the second socket main body 6 so as to be fitted. The probe pin 3 housed in the pin housing hole 38 of the socket body 2 is pressed against the small-diameter portion 42 of the second pin housing hole 41 when the root portion 37a of the second plunger 17 is urged by the spring force of the coil spring 20. The movement restricting projection 34 is opened to the lower surface 43 side (the surface facing the second socket body 6) of the first socket body 5.
The pin receiving hole 40 is pressed against the opening edge 44 by the spring force of the coil spring 20. As a result, the probe pin 3 is pushed into the barrel 16 more than the state before the second plunger 17 is accommodated in the socket body 2 (the state shown in FIG. 3B), and the coil spring 20 is inserted into the socket body 2. It is compressed by the first plunger 15 and the second plunger 17 rather than the state before being accommodated (the state shown in FIG. 3B). The probe pin 3 is pressed by the spring force of the coil spring 20 against the opening edge 44 of the first pin receiving hole 40 where the movement restricting projection 34 of the barrel 16 opens to the lower surface 43 side of the first socket body 5. Therefore, the tip of the terminal contact portion 23 of the first plunger 15 is positioned.

図４（ｂ）は、プリント配線基板７上に固定されたソケット本体２（電子部品用ソケッ
ト１）のプローブピン３を示す図であり、図４（ａ）のソケット本体２がプリント配線基
板７上に固定された場合のプローブピン３を示す図である。この図４（ｂ）において、プ
ローブピン３は、第２プランジャー１７の全体がプリント配線基板７によって第２ピン収
容穴４１内に押し込まれ、コイルバネ２０が第２プランジャー１７と第１プランジャー１
５の間で押し縮められる。その結果、プローブピン３は、コイルバネ２０が第１プランジ
ャー１５及びバレル１６を上方（＋Ｚ方向）へ向けて付勢する力が図４（ａ）の場合に比
較して増大する。なお、図４（ｂ）に示すプローブピン３は、第１プランジャー１５の端
子接触部２３の先端位置が図４（ａ）の場合と同一である。 FIG. 4B is a view showing the probe pins 3 of the socket body 2 (electronic component socket 1) fixed on the printed wiring board 7, and the socket body 2 in FIG. It is a figure which shows the probe pin 3 at the time of being fixed on the top. In FIG. 4B, the entire second plunger 17 of the probe pin 3 is pushed into the second pin accommodating hole 41 by the printed wiring board 7, and the coil spring 20 is connected to the second plunger 17 and the first plunger. 1
It is compressed between 5. As a result, in the probe pin 3, the force by which the coil spring 20 urges the first plunger 15 and the barrel 16 upward (+ Z direction) increases as compared with the case of FIG. In the probe pin 3 shown in FIG. 4B, the tip position of the terminal contact portion 23 of the first plunger 15 is the same as that in FIG.

図４（ｃ）は、ＩＣパッケージ１１の電気的テスト時におけるプローブピン３を示す図
であり、図４（ｂ）に示したプローブピン３の端子先端部２３にＩＣパッケージ１１の端
子１４を押し付けた状態のプローブピン３を示す図である。この図４（ｃ）において、プ
ローブピン３は、ＩＣパッケージ１１がソケットカバー４のプレッシャープレート１２に
よって所定量押し下げられると、第１プランジャー１５及びバレル１６がコイルバネ２０
を押し縮めて所定量押し下げられる（図１参照）。これにより、バレル１６の移動規制突
起３４が第１ソケット本体部５の下面４３側に開口する第１ピン収容穴４０の開口縁４４
から離れる。 FIG. 4C is a diagram showing the probe pin 3 when the IC package 11 is electrically tested. The terminal 14 of the IC package 11 is pressed against the terminal tip 23 of the probe pin 3 shown in FIG. It is a figure which shows the probe pin 3 of the state which was in a state. In FIG. 4C, when the IC package 11 is pushed down by a predetermined amount by the pressure plate 12 of the socket cover 4, the first plunger 15 and the barrel 16 are moved to the coil spring 20 by the probe pin 3.
Is pressed down to a predetermined amount (see FIG. 1). Thus, the opening edge 44 of the first pin housing hole 40 in which the movement restricting protrusion 34 of the barrel 16 opens to the lower surface 43 side of the first socket body 5.
Get away from.

上述のように、図４（ａ）〜（ｃ）において、第２プランジャー１７の一対の短絡用ア
ーム３７，３７は、バレル１６の内周面３５に弾性接触した状態でバレル１６内を相対的
にスライド移動し、コイルバネ２０のばね力をバネ着座部３７ｃに受ける。しかしながら
、バレル１６内に収容された第２プランジャー１７は、一対の短絡用アーム３７，３７が
第２プランジャー１７の中心軸Ｃ１にほぼ平行であり、第２プランジャー１７の根元部分
３７ａが撓み変形し難い剛性を有するため、一対の短絡用アーム３７，３７のバネ着座部
３７ｃに作用するコイルバネ２０のばね力が一対の短絡用アーム３７，３７の長手方向（
図４の−Ｚ軸方向）に作用するものの、一対の短絡用アーム３７，３７がバレル１６と一
定の接触圧で摺接する（図６参照）。このような本実施形態のプローブピン３に対し、図
１１乃至図１２に示した従来のプローブピン１０６は、図６の点線で示すように、上部接
触端子１１４のテーパー面部１１８が下部接触端子１１３の一対の弾性片１１７，１１７
を押し拡げて下降する際に、上部接触端子１１４のテーパー面部１１８と下部接触端子１
１３の一対の弾性片１１７，１１７との接触圧が上部接触端子１１４の下降に従って増加
する。したがって、図４（ｃ）に示した本実施形態のプローブピン３におけるバレル１６
の下降量に対するコイルバネ２０のばね力と、図１１に示した従来のプローブピン１０６
の上部接触端子１１４の下降量（スライド長さ）に対するコイルバネ１１５のばね力とが
等しいとすると、本実施形態のプローブピン３がＩＣパッケージ１１の端子１４を押圧す
る力の方が従来のプローブピン１０６がＩＣパッケージ１０１の端子１０４を押圧する力
よりも小さくなる。 As described above, in FIGS. 4A to 4C, the pair of short-circuiting arms 37 and 37 of the second plunger 17 are relatively moved in the barrel 16 in a state of elastic contact with the inner peripheral surface 35 of the barrel 16. And the spring seating portion 37c receives the spring force of the coil spring 20. However, the second plunger 17 accommodated in the barrel 16 has a pair of short-circuiting arms 37 and 37 that are substantially parallel to the central axis C1 of the second plunger 17, and a root portion 37a of the second plunger 17 is formed. Since it has a rigidity that is difficult to bend and deform, the spring force of the coil spring 20 acting on the spring seating portion 37c of the pair of short-circuiting arms 37, 37 is the longitudinal direction of the pair of short-circuiting arms 37, 37 (
Although acting in the −Z-axis direction in FIG. 4, the pair of short-circuiting arms 37 and 37 are in sliding contact with the barrel 16 with a constant contact pressure (see FIG. 6). In contrast to the probe pin 3 of this embodiment, the conventional probe pin 106 shown in FIGS. 11 to 12 has a tapered surface portion 118 of the upper contact terminal 114 as shown by a dotted line in FIG. A pair of elastic pieces 117, 117
The taper surface portion 118 of the upper contact terminal 114 and the lower contact terminal 1
The contact pressure with the 13 pairs of elastic pieces 117 and 117 increases as the upper contact terminal 114 descends. Therefore, the barrel 16 in the probe pin 3 of the present embodiment shown in FIG.
And the conventional probe pin 106 shown in FIG.
Assuming that the spring force of the coil spring 115 is equal to the lowering amount (slide length) of the upper contact terminal 114, the force with which the probe pin 3 of this embodiment presses the terminal 14 of the IC package 11 is the conventional probe pin. 106 becomes smaller than the force which presses the terminal 104 of the IC package 101.

［本実施形態の効果］
以上の説明のように、本実施形態に係るプローブピン３は、第２プランジャー１７の短
絡用アーム３７とバレル１６との接触圧が両者間の相対的なスライド長さに関係なく一定
であり、第２プランジャー１７の短絡用アーム３７とバレル１６との摩擦抵抗が一定であ
るため、コイルバネ２０のばね力を大きくしなくても円滑且つ確実に作動し（バレル１６
と第２プローブピン１７とが円滑且つ確実にスライド移動し）、ＩＣパッケージ１１の端
子１４を傷付け難い。 [Effect of this embodiment]
As described above, in the probe pin 3 according to the present embodiment, the contact pressure between the shorting arm 37 of the second plunger 17 and the barrel 16 is constant regardless of the relative slide length between the two. Since the frictional resistance between the short-circuit arm 37 of the second plunger 17 and the barrel 16 is constant, the coil spring 20 operates smoothly and reliably without increasing the spring force (barrel 16).
And the second probe pin 17 slide smoothly and reliably), and the terminal 14 of the IC package 11 is hardly damaged.

また、本実施形態に係るプローブピン３は、コイルバネ２０及び第２プランジャー１７
をバレル１６の内部空間に収容して一体化（ユニット化）してあり、第１プランジャー１
５及びバレル１６，コイルバネ２０，第２プランジャー１７が分離してしまうことがない
ため、ソケット本体２への組付け及び取り外し作業が容易になる。したがって、本実施形
態に係るプローブピン３によれば、電気部品用ソケット１の組立作業を効率化することが
できると共に、電気部品用ソケット１の保守作業を効率化することができる。 Further, the probe pin 3 according to the present embodiment includes the coil spring 20 and the second plunger 17.
Is accommodated in the internal space of the barrel 16 and integrated (unitized), and the first plunger 1
5 and the barrel 16, the coil spring 20, and the second plunger 17 are not separated from each other, so that the assembling and detaching operations to the socket body 2 are facilitated. Therefore, according to the probe pin 3 according to the present embodiment, the assembly work of the electrical component socket 1 can be made efficient, and the maintenance work of the electrical component socket 1 can be made efficient.

本実施形態に係るプローブピン３をソケット本体２に複数収容してなる電気部品用ソケ
ット１は、プローブピン３のコイルバネ２０のばね力を大きくしなくてもよいため、ＩＣ
パッケージ１１の端子１４をプローブピン３に押し付けるためのソケットカバー（ＩＣパ
ッケージ押圧機構）４を大型化しなくてもよく、全体構造を大型化しなくてもよい。 The electrical component socket 1 in which a plurality of probe pins 3 according to the present embodiment are accommodated in the socket body 2 does not require the spring force of the coil spring 20 of the probe pin 3 to be increased.
The socket cover (IC package pressing mechanism) 4 for pressing the terminal 14 of the package 11 against the probe pin 3 does not need to be enlarged, and the entire structure does not need to be enlarged.

［変形例１］
図７は、本発明の変形例１に係るプローブピン３の一部断面図である。この図７に示す
ように、本変形例に係るプローブピン３は、第２プランジャー１７の抜け止め突起３１を
鋸歯形状とし、バレル１６の円筒部４５の下端側を内側に直角に折り曲げてバレル１６の
抜け止めフランジ３２にしてある。そして、第２プランジャー１７の抜け止め突起３１は
、バレル１６の抜け止めフランジ３２に当接する面４６と短絡用アーム３７の外側面４７
とのなす角が鋭角になるように形成されている。 [Modification 1]
FIG. 7 is a partial cross-sectional view of the probe pin 3 according to Modification 1 of the present invention. As shown in FIG. 7, the probe pin 3 according to this modification has a barrel-like structure in which the retaining protrusion 31 of the second plunger 17 has a sawtooth shape and the lower end side of the cylindrical portion 45 of the barrel 16 is bent inward at a right angle. Sixteen retaining flanges 32 are provided. Further, the retaining protrusion 31 of the second plunger 17 includes a surface 46 that contacts the retaining flange 32 of the barrel 16 and an outer surface 47 of the short-circuit arm 37.
Are formed so that the angle formed by and becomes an acute angle.

このような構成の本変形例によれば、コイルバネ２０のばね力を受けた第２プランジャ
ー１７の抜け止め突起３１がバレル１６の抜け止めフランジ３２に当接しても、一対の短
絡用アーム３７，３７を中心軸Ｃ１寄りに撓み変形させる力が生じにくく、第２プランジ
ャー１７がバレル１６から抜け出るのを一層効果的に防止できる。 According to this modification having such a configuration, even if the retaining protrusion 31 of the second plunger 17 that receives the spring force of the coil spring 20 contacts the retaining flange 32 of the barrel 16, the pair of short-circuiting arms 37. , 37 are less likely to bend and deform toward the central axis C1, and the second plunger 17 can be more effectively prevented from coming out of the barrel 16.

［変形例２］
図８は、本発明の変形例２に係るプローブピン３の一部断面図である。この図８に示す
ように、本変形例に係るプローブピン３は、第２プランジャー１７がバレル１６内に収容
された状態において、短絡用アーム３７のバネ着座部３７ｃと中心軸Ｃ１との間隔Ｗ１が
短絡用アーム３７の抜け止め突起３１とバレル１６の抜け止めフランジ３２との引っ掛か
り寸法（オーバーラップ寸法）Ｗ２よりも小さくなるように形成されている。 [Modification 2]
FIG. 8 is a partial cross-sectional view of a probe pin 3 according to Modification 2 of the present invention. As shown in FIG. 8, in the probe pin 3 according to this modification, the distance between the spring seat 37c of the short-circuit arm 37 and the central axis C1 in the state where the second plunger 17 is accommodated in the barrel 16. W1 is formed to be smaller than a catching dimension (overlap dimension) W2 between the retaining protrusion 31 of the short-circuit arm 37 and the retaining flange 32 of the barrel 16.

このような構成の本変形例によれば、一対の短絡用アーム３７，３７の抜け止め突起３
１とバレル１６の抜け止めフランジ３２との接触部から一対の短絡用アーム３７，３７を
中心軸Ｃ１寄りに撓み変形させられたとしても、その一対の短絡用アーム３７，３７のバ
ネ着座部３７ｃ，３７ｃ同士が当接することによって一対の短絡用アーム３７，３７の撓
み変形を規制し、一対の短絡用アーム３７，３７の位置決め突起３１がバレル１６の外部
に抜け出るのを一層効果的に防止できる。 According to this modification having such a configuration, the retaining protrusion 3 of the pair of short-circuiting arms 37, 37 is provided.
Even if the pair of short-circuiting arms 37 and 37 are bent and deformed toward the central axis C1 from the contact portion between the 1 and the retaining flange 32 of the barrel 16, the spring seating portion 37c of the pair of short-circuiting arms 37 and 37 is deformed. , 37c are in contact with each other, so that bending deformation of the pair of short-circuiting arms 37, 37 is restricted, and the positioning projections 31 of the pair of short-circuiting arms 37, 37 can be more effectively prevented from coming out of the barrel 16. .

［変形例３］
図９は、本発明の変形例３に係る第２プランジャー５０を示す図である。なお、図９（
ａ）が第２プランジャー５０の素材５０Ａの平面図、図９（ｂ）が第２プランジャー５０
の素材５０Ａの正面図、図９（ｃ）が完成品としての第２プランジャー５０の平面図、図
９（ｄ）が図９（ｃ）のＡ３−Ａ３線に沿って切断して示す第２プランジャー５０の断面
図である。 [Modification 3]
FIG. 9 is a view showing a second plunger 50 according to Modification 3 of the present invention. Note that FIG.
FIG. 9A is a plan view of the material 50A of the second plunger 50, and FIG.
FIG. 9C is a plan view of the second plunger 50 as a finished product, and FIG. 9D is a sectional view taken along line A3-A3 of FIG. 9C. It is sectional drawing of 2 plunger 50. FIG.

図９（ａ）〜（ｂ）に示すように、本変形例に係る第２プランジャー５０の素材５０Ａ
は、基板接触部５１を形作るための丸棒状部分５１Ａと、短絡用アーム５２の根元部分５
２ａを形作るための半球状部分５２ａ１と、短絡用アーム５２の弾性変形部分５２ｂを形
作るためのテーパー状部分５２ｂ１と、短絡用アーム５２のバネ着座部５２ｃを形作るた
めのフランジ状部分５２ｃ１と、短絡用アーム５２の抜け止め突起５２ｄを形作るための
円環状の突状部分５２ｄ１と、を有している。そして、第２プランジャー５０の素材５０
Ａは、肉抜き穴５３がフランジ状部分５２ｃ１の上部端面５２ｃ２から半球状部分５２ａ
１の内部まで中心軸Ｃ１に沿って形成されている。 As shown in FIGS. 9A to 9B, the material 50A of the second plunger 50 according to this modification example.
Are a round bar portion 51A for forming the substrate contact portion 51 and a root portion 5 of the short-circuit arm 52.
2a, a hemispherical portion 52a1, a tapered portion 52b1 for forming the elastically deformable portion 52b of the short-circuit arm 52, a flange-shaped portion 52c1 for forming the spring seat 52c of the short-circuit arm 52, and a short circuit And an annular projecting portion 52d1 for forming a retaining protrusion 52d of the arm 52. And the material 50 of the second plunger 50
A is a semi-spherical portion 52a in which the lightening hole 53 extends from the upper end surface 52c2 of the flange-shaped portion 52c1.
1 is formed along the central axis C1.

図９（ｃ）〜（ｄ）に示す本変形例に係る第２プランジャー５０は、図９（ａ）〜（ｂ
）に示した素材５０Ａのフランジ部分５２ｃ１の上部端面５２ｃ２から半球状部分５２ａ
１とテーパー状部分５２ｂ１の境界位置まで、中心軸Ｃ１に沿って十字状のスリット５４
を切り込むことにより、複数（４本）の短絡用アーム５２を形成したものである。 The second plunger 50 according to this modification shown in FIGS. 9C to 9D is similar to FIGS.
The hemispherical portion 52a from the upper end surface 52c2 of the flange portion 52c1 of the material 50A shown in FIG.
1 to the boundary position between the tapered portion 52b1 and the cross-shaped slit 54 along the central axis C1.
A plurality of (four) short-circuiting arms 52 are formed by cutting.

本変形例に係る第２プランジャー５０は、図５に示した第２プランジャー１７に代えて
使用することができる。なお、短絡用アーム５２の本数は、本変形例に限定されるもので
はなく、スリット５４の幅や数を変更して、３本としてもよく、又は、５本以上としても
よい。 The second plunger 50 according to this modification can be used in place of the second plunger 17 shown in FIG. The number of short-circuiting arms 52 is not limited to this modification, and may be three or five or more by changing the width and number of slits 54.

［変形例４］
図１０は、変形例４に係る電気部品用ソケット５５を示す図である。この図１０に示す
ように、本変形例に係る電気部品用ソケット５５は、プリント配線基板７上にソケット本
体５６を複数（本変形例においては３個）取り付けて、各ソケット本体５６上に収容した
ＩＣパッケージ１１を単一のＩＣパッケージ押圧機構（図示せず）で同時に押圧し、複数
のＩＣパッケージ１１の電気的テストを同時に行えるようにしたものである。なお、本変
形例におけるソケット本体５６は、図１のソケットカバー４を取り外したソケット本体２
のような外観形状になっている。そして、各ソケット本体５６内には、本発明に係るプロ
ーブピン３が複数収容されている。また、図１０において、電気部品用ソケット５５は、
プリント配線基板７上に３個のソケット本体５６を取り付ける例を示したが、ソケット本
体５６の個数はこれに限定されるものではない。 [Modification 4]
FIG. 10 is a view showing an electrical component socket 55 according to the fourth modification. As shown in FIG. 10, the electrical component socket 55 according to this modification is housed on each socket body 56 by attaching a plurality of socket bodies 56 (three in this modification) to the printed wiring board 7. The IC packages 11 are simultaneously pressed by a single IC package pressing mechanism (not shown) so that an electrical test of a plurality of IC packages 11 can be performed simultaneously. The socket body 56 in this modification is the socket body 2 from which the socket cover 4 of FIG. 1 is removed.
It has an appearance like this. In each socket body 56, a plurality of probe pins 3 according to the present invention are accommodated. In FIG. 10, the electrical component socket 55 is
Although the example which attaches the three socket main bodies 56 on the printed wiring board 7 was shown, the number of the socket main bodies 56 is not limited to this.

なお、このような電気部品用ソケット５５に従来例のプローブピン１０６（図１１及び
図１２参照）を使用した場合、本発明に係るプローブピン３よりも従来例のプローブピン
１０６の作動時の抵抗が大きくなるため、ＩＣパッケージ押圧機構の剛性やＩＣパッケー
ジ１１を押す力が不足して、同時に電気的テストを行えるＩＣパッケージ１１の数が減り
、ＩＣパッケージ１１の電気的テストを効率的に行うことが困難になる。 When the conventional probe pin 106 (see FIGS. 11 and 12) is used for such an electrical component socket 55, the resistance of the probe pin 106 of the conventional example is higher than that of the probe pin 3 according to the present invention. Therefore, the rigidity of the IC package pressing mechanism and the force for pressing the IC package 11 are insufficient, and the number of IC packages 11 that can be subjected to an electrical test at the same time is reduced, so that the electrical test of the IC package 11 can be performed efficiently. Becomes difficult.

［その他の変形例］
本発明に係るプローブピン３は、上記実施形態において例示したクラムシェルタイプの
電気部品用ソケット１に適用する場合に限定されず、オープントップタイプの電気部品用
ソケットにも適用することができる。 [Other variations]
The probe pin 3 according to the present invention is not limited to the case of being applied to the clamshell type electrical component socket 1 exemplified in the above embodiment, and can also be applied to an open top type electrical component socket.

１……電気部品用ソケット、２……ソケット本体、３……プローブピン、４……ソケッ
トカバー（ＩＣパッケージ押圧機構）、７……プリント配線基板（外部電気的テスト回路
）、１１……ＩＣパッケージ、１４……端子、１５……第１プランジャー、１６……バレ
ル、１７，５０……第２プランジャー、２０……コイルバネ、３１……抜け止め突起、３
２……抜け止めフランジ、３５……内周面、３７，５２……短絡用アーム、３８……ピン
収容穴 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Socket for electrical components, 2 ... Socket body, 3 ... Probe pin, 4 ... Socket cover (IC package pressing mechanism), 7 ... Printed wiring board (external electrical test circuit), 11 ... IC Package, 14 ... Terminal, 15 ... First plunger, 16 ... Barrel, 17, 50 ... Second plunger, 20 ... Coil spring, 31 ... Retaining protrusion, 3
2 ... Retaining flange, 35 ... Inner circumferential surface, 37, 52 ... Short-circuit arm, 38 ... Pin receiving hole

Claims (3)

電気部品用ソケットのソケット本体に設けられたピン収容穴に収容されて、ＩＣパッケ
ージの端子と外部電気的テスト回路のコンタクトパッドとを電気的に接続するプローブピ
ンにおいて、
前記ＩＣパッケージの端子と接触する第１プランジャーと、
前記第１プランジャーを一端側に固定した円筒状のバレルと、
前記バレルの他端側の内部にスライド可能に係合されて前記外部電気的テスト回路に接
触する第２プランジャーと、
前記バレルの内部で且つ前記第１プランジャーと前記第２プランジャーとの間に収容さ
れ、前記第１プランジャーと前記第２プランジャーとを遠ざける方向へ弾性的に付勢する
コイルバネと、を有し、
前記第２プランジャーは、前記コイルバネの一端側を支持し且つ前記バレルの内周面の
うちの同一径で形成された部分に弾性接触する複数の短絡用アームを有し、前記バレル内
を相対移動する際に、前記短絡用アームが前記バレルの前記内周面に同一の接触圧で常時
接触するようになっており、
前記第１プランジャー，前記バレル及び前記第２プランジャーが前記ＩＣパッケージの
端子と前記外部電気的テスト回路を電気的に接続する、
ことを特徴とするプローブピン。 In a probe pin that is housed in a pin housing hole provided in a socket body of an electrical component socket and electrically connects a terminal of an IC package and a contact pad of an external electrical test circuit,
A first plunger in contact with a terminal of the IC package;
A cylindrical barrel that fixes the first plunger to one end;
A second plunger slidably engaged within the other end of the barrel and in contact with the external electrical test circuit;
A coil spring housed in the barrel and between the first plunger and the second plunger and elastically biasing the first plunger and the second plunger away from each other. Have
The second plunger has a plurality of short-circuiting arms that support one end side of the coil spring and elastically contact a portion of the inner peripheral surface of the barrel that is formed with the same diameter. When moving, the shorting arm is always in contact with the inner peripheral surface of the barrel with the same contact pressure,
The first plunger, the barrel, and the second plunger electrically connect a terminal of the IC package and the external electrical test circuit;
A probe pin characterized by that. 前記バレルの他端側には抜け止めフランジが形成され、
前記第２プランジャーには前記コイルバネのばね力で前記抜け止めフランジに押し付け
られる抜け止め突起が形成され、
前記第２プランジャーは、前記バレルの他端側の内部にスライド可能に係合された状態
で、且つ、前記ソケット本体の前記ピン収容穴に収容される前の状態において、前記抜け
止め突起が前記抜け止めフランジに引っ掛かり、前記バレルの内部に保持される、
ことを特徴とする請求項１に記載のプローブピン。 A retaining flange is formed on the other end of the barrel,
The second plunger is formed with a retaining protrusion that is pressed against the retaining flange by the spring force of the coil spring,
In the state where the second plunger is slidably engaged with the inside of the other end of the barrel and before being received in the pin receiving hole of the socket body, the retaining protrusion is Hooked on the retaining flange and held inside the barrel,
The probe pin according to claim 1. 前記請求項１又は２に記載のプローブピンと、このプローブピンを複数収容するソケッ
ト本体と、このソケット本体に収容された前記プローブピンにＩＣパッケージの端子を押
し付けるＩＣパッケージ押圧機構と、を有する、
ことを特徴とする電気部品用ソケット。 The probe pin according to claim 1, a socket main body that accommodates a plurality of the probe pins, and an IC package pressing mechanism that presses a terminal of the IC package against the probe pin accommodated in the socket main body,
A socket for electrical parts characterized by the above.
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