JP2013127698A - 情報処理装置および不正加工検出方法 - Google Patents

Abstract

【課題】耐タンパー機能を向上させることを可能にした情報処理装置を提供する。
【解決手段】筺体が開状態および閉状態のいずれの状態であるかを検出するスイッチと、スイッチが筺体の開状態および閉状態のいずれも検出しないテスト状態にスイッチを動作させる動作部と、動作部を動作させたとき、スイッチがテスト状態になったか否かに基づいてスイッチが正常であるか否かを判定する制御部と、を有する。
【選択図】図１

Description

本発明は、タンパー検出のためのスイッチを有する情報処理装置および不正加工検出方法に関する。

デビットカードやクレジットカード等を扱う決済端末には、これらのカードから秘密情報を読み取る磁気カードリーダ等が設けられている。磁気カードリーダ等が不正に改造されないように、これらの決済端末にはタンパー行為を検出するタンパー検出器が実装されているものがある。

タンパー検出器として、端末が閉じた状態（閉状態）と端末が開いた状態（開状態）の２つの状態を検出可能にしたスイッチが設けられた装置の一例が、特許文献１に開示されている。不正加工を行う者が決済端末にスキミング機器等の不正読取装置を端末に取り付ける際、端末の蓋を外すと、スイッチが端末の開状態を検出する。この検出結果により、不正に加工された可能性のあることが正規の使用者に通知される。

特開２００１−２９１０５０号公報

上述の対策を施した端末に対して、近年、不正加工を行う者が、端末の蓋を開ける前に、タンパー検出器の近くに穴を開け、スイッチ全体を樹脂などで固めてスイッチが動かないように加工することがある。この場合、スイッチは端末が開状態になっても動作しないため、タンパー検出器として機能せず、不正加工が行われても、そのことが正規の使用者に通知されないという問題があった。

本発明は上述したような技術が有する問題点を解決するためになされたものであり、耐タンパー機能を向上させることを可能にした情報処理装置および不正加工検出方法を提供することを目的とする。

上記目的を達成するための本発明の情報処理装置は、
筺体が開状態および閉状態のいずれの状態であるかを検出するスイッチと、
前記スイッチが前記筺体の前記開状態および閉状態のいずれも検出しないテスト状態に前記スイッチを動作させる動作部と、
前記動作部を動作させたとき、前記スイッチが前記テスト状態になったか否かに基づいて、前記スイッチが正常であるか否かを判定する制御部と、
を有する構成である。

また、本発明の不正加工検出方法は、
筺体が開状態および閉状態のいずれの状態であるかを検出するスイッチと、該スイッチが前記筺体の前記開状態および閉状態のいずれも検出しないテスト状態に該スイッチを動作させる動作部と、制御部とを有する情報処理装置による不正加工検出方法であって、
前記制御部は所定のタイミングで前記動作部を動作させ、
前記制御部は、前記スイッチが前記テスト状態になったか否かに基づいて、前記スイッチが正常であるか否かを判定するものである。

本発明によれば、耐タンパー機能の向上を図ることができる。

本実施形態の情報処理装置の一構成例を示すブロック図である。 実施例１の情報処理装置の構成を説明するための図である。 実施例１において、装置が閉状態のときのスイッチの動作状態を示す図である。 実施例１において、装置が開状態のときのスイッチの動作状態を示す図である。 実施例１において、スイッチが機能しているかを確認するときのスイッチの動作状態を示す図である。 実施例１の情報処理装置に対して不正に加工された場合の一例を示す図である。 実施例１の情報処理装置の動作手順を示すフローチャートである。 実施例２の情報処理装置におけるスイッチの構成を示す図である。 実施例２において、スイッチが機能しているかを確認するときのスイッチの動作状態を示す図である。

本実施形態の情報処理装置の構成を説明する。本実施形態の情報処理装置は、デビットカードやクレジットカード等を扱う決済端末を含む装置である。

図１は本実施形態の情報処理装置の一構成例を示すブロック図である。

図１に示すように、本実施形態の情報処理装置１０は、装置の開閉状態を検出するスイッチ１２と、開状態および閉状態のいずれとも異なるテスト状態にスイッチ１２を動作させる動作部１３と、スイッチ１２に異常がある旨を使用者に通知するための通知部１４と、各部を制御する制御部１５とを有する。上述の構成により、制御部１５は、動作部１３に動作を指示したとき、スイッチ１２がテスト状態になったか否かに基づいて、スイッチ１２が正常であるか否かを判定することが可能となる。

以下に、本実施形態の情報処理装置についての実施例を説明する。

本実施例の情報処理装置の構成を説明する。図２は本実施例の情報処理装置の構成を説明するための図である。ここでは、方向を決めて説明する必要がある場合を考慮して、図２に示すように、Ｘ軸およびＹ軸を定義する。

図２に示すように、本実施例の情報処理装置１１は、スイッチ１２と、動作部１３に相当する電磁石３１と、通知部１４に相当する異常通知素子４１と、制御部１５とを有する。制御部１５は、プログラムにしたがって処理を実行するＣＰＵ（Central Processing Unit）（不図示）と、プログラムを記憶するメモリ（不図示）とを有する。制御部１５に設けられる半導体集積回路はＣＰＵに限らず、ゲートアレイ等のＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）であってもよい。

スイッチ１２は、装置の開状態および閉状態の他に、スイッチ１２の動作確認（テスト）状態を合わせた３つの状態のうち、いずれの状態にあるかを検出する。スイッチ１２は、スイッチ板２１と、３つの端子２２ａ〜２２ｃと、支持部２３と、バネ２４とを有する。

スイッチ板２１は、３つの端子２２ａ〜２２ｃのいずれかと接触することで、上記３つの状態のいずれの状態であるかを検出する検出片としての役目を果たす。スイッチ板２１は、本実施例では材料が鉄の棒状のものであるが、導電性があり、磁性体を含む材料であれば鉄以外の材料であってもよく、また、導電性があるが、磁性体を含まない棒状の部材に磁性体を含む板が貼り付けられていてもよい。スイッチ板２１は接地されており、接地電位（ＧＮＤ）に保たれている。

端子２２ａは装置の開状態に対応し、端子２２ｂは装置の閉状態に対応し、端子２２ｃはスイッチ１２のテスト状態に対応している。端子２２ａ〜２２ｃのそれぞれは信号線２５ａ〜２５ｃのそれぞれを介して制御部１５と接続されている。信号線２５ａ〜２５ｃのそれぞれは抵抗素子２６ａ〜２６ｃのそれぞれを介して電源に接続されている。本実施例では、信号線２５ａ〜１５ｃのそれぞれに抵抗素子２６ａ〜２６ｃのそれぞれを介して印加される電圧が等しいものとし、以下では、その電圧をＶａとする。

支持部２３は、スイッチ板２１がスイッチ１２から抜け落ちないようにスイッチ板２１を支持する。支持部２３は、スイッチ板２１を支持する支点を軸にして、スイッチ板２１を所定の回転角の範囲で回転可能にしている。この構成により、スイッチ板２１は３つの端子２２ａ〜２２ｃのいずれとも接触可能となる。

バネ２４は、Ｘ軸方向に対して、支持部２３と端子２２ａ〜２２ｃとの間に位置している。バネ２４は、一方の端がスイッチ板２１に接続され、他方の端がスイッチ１２の本体に接続されている。バネ２４は、スイッチ板２１が端子２２ｂと接触する位置にあるとき、スイッチ板２１をＹ軸のプラス方向に押し上げる力をスイッチ板２１に加える。バネ２４は、スイッチ板２１に押し上げる力を加える弾性体の一例であり、弾性体であれば、バネ以外のものであってもよい。

電磁石３１は、Ｘ軸に対して支持部２３を基準にするとバネ２４とは反対側、かつ、Ｙ軸に対してスイッチ板２１を基準にするとバネ２４とは反対側に配置されている。電磁石３１は、制御部１５と接続されており、制御部１５から電流が供給されると、磁力を発生し、磁力によってスイッチ板２１を自分の方に引きつける。

スイッチ板押さえ板５１は、情報処理装置１１が閉状態であるときに、スイッチ板２１を端子２２ｂに接触させた状態を維持するものである。例えば、情報処理装置１１の筺体が上部筺体と下部筺体の２つに分かれているものとする。この場合、下部筺体にスイッチ１２が設けられているとすると、上部筺体にスイッチ板押さえ板５１が設けられている。使用者が情報処理装置１１の上部筺体が開いた状態から上部筺体を閉じると、スイッチ板押さえ板５１が下部筺体のスイッチ１２に入り込み、スイッチ板２１を端子２２ａに接触した状態から端子２２ｂに接触した状態にする。

異常通知素子４１は、例えば、ＬＥＤ（Light Emitting Diode）等の発光素子である。異常通知素子４１は、制御部１５と接続されており、点灯を指示する旨の制御信号を制御部１５から受信すると、筺体が開かれたことを使用者に通知するために点灯する。本実施例では、通知部１４が異常通知素子４１の場合で説明するが、通知部１４がＬＣＤ（Liquid Crystal Display）等の表示装置であってもよい。通知部１４が表示装置である場合、表示装置は、制御部１５から制御信号を受信すると、筺体が開かれた旨のメッセージを表示する。

制御部１５は、信号線２５ａの電位がＧＮＤである場合、装置が開状態であると認識し、信号線２５ｂの電位がＧＮＤである場合、装置が閉状態であると認識する。また、使用者が情報処理装置１１の電源をオンしたとき（起動時）、電磁石３１を動作させるために電流を電磁石３１に供給し、信号線２５ｃの電位がＶａからＧＮＤに変化するか否かを調べる。そして、信号線２５ｃの電位がＶａからＧＮＤに変化しない場合、制御部１５は、不正加工されたものと判定し、異常通知素子４１に点灯を指示する旨の制御信号を送信する。

電磁石３１への電流供給のタイミングは、装置の起動時に限らず、所定の時刻、または、起動時から所定の時間が経過する毎でもよい。所定の時刻とは、１日のうちで、予め決められた１回の時刻であってもよく、予め決められた複数の時刻であってもよい。これらの所定の時刻や所定の時間の情報は、制御部１５内のメモリ（不図示）に予め登録されている。

なお、情報処理装置１１の電源がオフの場合は、図に示さない電池によって装置の開状態を検出すればよく、その際の処理として、特許文献１に開示された技術を適用することが可能であるため、本実施例では、その詳細な説明を省略する。例えば、図２に示す情報処理装置１１に電池（不図示）を設けた場合、制御部１５は、次のように動作すればよい。情報処理装置１１の電源がオフの間、電池（不図示）が抵抗素子２６ａ〜２６ｃおよび制御部１５に電力を供給する。信号線２２ａの電位がＶａからＧＮＤに変化すると、制御部１５は、装置の電源がオフの間に開状態になった情報をメモリ（不図示）に保持し、装置の電源がオンになって外部から電力の供給が開始されると、異常通知素子４１に点灯の指示を送る。

また、信号線２５ａ〜２５ｃに抵抗素子２６ａ〜２６ｃを介して接続される電源の電圧は、情報処理装置１１の電源電圧であってもよく、情報処理装置１１の電源電圧よりも低い電圧であってもよい。

次に、装置が開状態および閉状態、ならびにスイッチ１２がテスト状態の３つの状態のそれぞれにおける、情報処理装置１１の動作を簡単に説明する。

図３Ａは装置が閉状態のときのスイッチの動作状態を示し、図３Ｂは装置が開状態のときのスイッチの動作状態を示し、図３Ｃはスイッチが機能しているかを確認するときのスイッチの動作状態を示す。

図３Ａに示すように、バネ２４がスイッチ板２１に押し上げる力を加えることで、スイッチ板２１が支持部２３と接触する点を支点にして回転しようとするが、スイッチ板押さえ板５１によって物理的に動作することができない。そのため、スイッチ板２１は端子２２ｂと接触した状態を維持する。

図３Ａに示す状態では、信号線２５ａ、２５ｃに電圧Ｖａが印加されているが、信号線２５ｂはスイッチ板２１を介して接地されるため、信号線２５ｂにはＧＮＤが印加されている。その結果、制御部１５は、信号線２５ｂの電位がＧＮＤであることを検出すると、装置が閉状態であると認識することが可能となる。

続いて、装置が開状態の場合を説明する。装置を開状態にすると、図３Ｂに示すように、スイッチ板２１を押さえていたスイッチ板押さえ板５１がなくなるので、バネ２４がスイッチ板２１に押し上げる力によって、スイッチ板２１が支持部２３と接触する点を支点にして回転する。そして、スイッチ板２１が接触する端子が端子２２ｂから端子２２ａに切り替わる。

図３Ａに示す状態から図３Ｂに示す状態になると、信号線２５ｂ、２５ｃに電圧Ｖａが印加されるが、信号線２５ａはスイッチ板２１を介して接地されるため、信号線２５ａにはＧＮＤが印加される。その結果、制御部１５は、信号線２５ａの電位がＧＮＤであることを検出すると、装置が開状態であると認識することが可能となる。このようにして、スイッチが正常に機能している場合、使用者が装置を開状態にすると、制御部１５がその状態を検出することができる。

続いて、図３Ａに示す状態でスイッチ１２の動作を確認する場合を説明する。

制御部１５が電磁石３１に対して電流の供給を開始すると、電磁石３１に磁力が発生し、スイッチ板２１を引きつける。バネ２４がスイッチ板２１に押し上げる力よりも電磁石３１がスイッチ板２１を引きつける力の方が大きいので、図３Ｃに示すように、スイッチ板２１が支持部２３と接触する点を支点にして、図３Ｂの場合とは反対方向に回転し、バネ２４が縮む。そして、スイッチ板２１が接触する端子が端子２２ｂから端子２２ｃに切り替わる。

図３Ａに示す状態から図３Ｃに示す状態になると、信号線２５ａ、２５ｂに電圧Ｖａが印加されているが、信号線２５ｃはスイッチ板２１を介して接地されるため、信号線２５ｃにはＧＮＤが印加される。その結果、制御部１５は、信号線２５ｃの電位がＧＮＤであることを検出すると、スイッチ１２が正常に機能していることを認識することが可能となる。

次に、本実施例の情報処理装置１１について、不正に加工された場合の動作を説明する。ここでは、制御部１５は、装置の起動時だけでなく、予め登録された所定の時刻にも、電磁石３１に電流を供給する処理を行うものとする。

図４は本実施例の情報処理装置に対して不正に加工された場合の一例を示す図である。図５は本実施例の情報処理装置の動作手順を示すフローチャートである。

図４を参照すると、スイッチ板２１が樹脂５３でスイッチ１２の外枠に固定されている。この場合、装置が開状態になっているにもかかわらず、図４に示すように、スイッチ板２１は物理的に動作できないため、端子２２ｂに接触した状態を維持する。

使用者が情報処理装置１１の電源をオンにすると、制御部１５は、スイッチ１２の動作をチェックするために（ステップ１０１）、電磁石３１に電流を供給する。制御部１５は、信号線２５ａ〜２５ｃの電位をモニタし、信号線２５ｃの電位がＶａからＧＮＤに変化するか否かを調べることで、スイッチの動作が正常か否かを判定する（ステップ１０２）。

ステップ１０２の判定で、スイッチ１２が図４に示す状態であると、信号線２５ｃの電位がＶａからＧＮＤに変化しないため、制御部１５は、スイッチ１２が正常に機能しないと判定し、異常である旨を使用者に通知するために、制御信号を異常通知素子４１に送信する（ステップ１０３）。異常通知素子４１は、制御部１５から制御信号を受信すると、点灯する。

一方、ステップ１０２の判定で、信号線２５ｃの電位がＶａからＧＮＤに変化した場合、制御部１５は、スイッチ１２が正常に機能していると判定し、ステップ１０４に進む。その後、制御部１５は、所定の時刻になる度に、ステップ１０１に戻る。情報処理装置１１の電源がオフになるまで、制御部１５はステップ１０１〜１０４の処理を繰り返す。

本実施形態の情報処理装置では、実施例１で詳しく説明したように、装置の開閉状態を検出するスイッチが正常に機能しているか否かを確認可能にしている。スイッチに対する不正改造を検出可能にすることで、装置内部に不正な加工がされているか否かを判定することができる。その結果、装置の開閉状態だけを検出可能な場合に比べて、耐タンパー機能を向上させることができる。

本実施例は、スイッチ１２が実施例１とは異なる構成である。

本実施例の情報処理装置の構成を説明する。なお、本実施例では、実施例１と異なる構成について詳しく説明し、実施例１と同様な構成についての詳細な説明を省略する。

図６は本実施例の情報処理装置におけるスイッチの構成を示す図である。図６においても、説明のために、Ｘ軸およびＺ軸を定義する。

図６に示すように、本実施例の情報処理装置は、上部筺体６１と下部筺体６３とを有する。上部筺体６１にはスイッチ棒押さえ板６４が設けられている。図に示さないが、下部筺体６３に、図２に示した制御部１５、信号線２５ａ〜２５ｃ、抵抗素子２６ａ〜２６ｃおよび抵抗素子２６ａ〜２６ｃに電源を供給する回路等が設けられている。異常通知素子４１は、装置が閉状態で使用者から見える位置であれば、上部筺体６１と下部筺体６３のうち、いずれに設けられていてもよい。

下部筺体６３にはスイッチ１２が設けられている。スイッチ１２は、スイッチ棒６２と、バネ６５と、電磁石６７と、３つのセンサ７１〜７３とを有する。スイッチ棒６２は、実施例１で説明した検出片として機能する。スイッチ棒６２は、本実施例では材料が鉄の棒状のものであるが、磁性体を含む材料であれば鉄以外の材料であってもよく、また、磁性体を含まない棒状の部材の下端に磁性体を含む部材が貼り付けられていてもよい。電磁石６７は制御部１５と接続されており、制御部１５から電流が供給されると、スイッチ棒６２をＺ軸のマイナス方向に引きつける。バネ６５は弾性体の一例である。

装置開検知センサ７１は信号線２５ａを介して制御部１５と接続され、装置閉検知センサ７２は信号線２５ｂを介して制御部１５と接続され、スイッチ確認センサ７３は信号線２５ｃを介して制御部１５と接続されている。これら３つのセンサ７１〜７３は、スイッチ棒６２の下端を検出すると、オン信号を制御部１５に送信する。なお、スイッチ棒６２は、装置が開状態となったとき、装置開検知センサ７１がその下端を検出する位置となるように図示しない機構で規制される。

制御部１５は、装置開検知センサ７１からオン信号を受信する場合、装置が開状態であると認識し、装置閉検知センサ７２からオン信号を受信する場合、装置が閉状態であると認識する。また、制御部１５は、装置の起動時、所定の時刻、および所定の時間経過毎のうち、少なくともいずれかのタイミングで、電磁石６７に電流を供給する。そして、制御部１５は、スイッチ確認センサ７３から受信する信号がオフ信号のままであると、不正加工されたものと判定し、異常通知素子４１に点灯を指示する旨の制御信号を送信する。

なお、本実施例では、３つのセンサ７１〜７３がスイッチ棒６２の下端を検出するものであったが、光をスイッチ棒６２に反射させて反射光を検出する反射型フォトインタラプタのようなものであってもよい。この場合、制御部１５は、装置が開状態のとき、装置開検知センサ７１だけからオン信号を受信し、装置が閉状態のとき、装置開検知センサ７１および装置閉検知センサ７２のそれぞれからオン信号を受信し、スイッチ確認状態のとき、３つのセンサ７１〜７３の全てからオン信号を受信することで、それぞれの状態を認識することができる。

次に、本実施例の情報処理装置における、スイッチの動作の確認方法を簡単に説明する。図７はスイッチが機能しているかを確認するときのスイッチの動作状態を示す図である。

図６は装置が閉状態の場合であり、バネ６５がスイッチ棒６２をＺ軸のプラス方向に押しているが、スイッチ棒押さえ板６４がスイッチ棒６２を上から押えこんでいる。そのため、スイッチ棒６２の下端がちょうど装置閉検知センサ７２に位置している。この状態では、制御部１５は、装置閉検知センサ７２からオン信号を受信しており、装置が閉状態であることを認識している。

続いて、図７に示すように、制御部１５が電磁石６７に電流を供給すると、電磁石６７に磁力が発生する。スイッチ棒６２が樹脂などで固定されていなければ、スイッチ棒６２は電磁石６７に引きつけられる。電磁石６７がスイッチ棒６２を引きつける力の方が、バネ６５がスイッチ棒６２を押す力よりも強いので、スイッチ棒６２はＺ軸のマイナス方向に移動する。スイッチ棒６２はその下端がスイッチ確認センサ７３の位置になるまで下がる。

制御部１５は、装置閉検知センサ７２から受信する信号がオンからオフに変わり、スイッチ確認センサ７３から受信する信号がオフからオンに変わることで、スイッチ１２が正常に機能していることを確認することが可能となる。

本実施例では、スイッチ１２の構成が実施例１と異なっているが、実施例１と同様な効果が得られる。また、実施例１では、図１に示した動作部１３に相当する電磁石がスイッチとは別に設けられていたが、本実施例のように、電磁石がスイッチ内部に含まれていてもよい。

上記の実施例１および実施例２では、図１に示した動作部１３が電磁石の場合で説明したが、スイッチ１２を開状態および閉状態のうち、いずれの状態も検出しない状態に動作可能であれば電磁石に限らず、他の手段であってもよい。例えば、動作部１３がモータであってもよい。実施例２において、電磁石６７の代わりにモータを設けた場合について簡単に説明する。

スイッチ棒６２の下端とモータの回転軸とを紐状のもので予め接続しておく。スイッチ１２が正常に機能するか否かを確認する際、制御部１５がモータに電流を供給してモータの回転軸を回転させる。スイッチ棒６２が樹脂などで固定されていなければ、スイッチ棒６２とモータとを接続する紐状のものがモータに巻き取られ、スイッチ棒６２はその下端がスイッチ確認センサ７３の位置になるまで下がる。制御部１５は、スイッチ確認センサ７３から受信する信号がオフからオンに変わると、スイッチ１２が正常に機能していることを確認することが可能となる。

１０、１１ 情報処理装置
１２ スイッチ
１３ 動作部
１４ 通知部
１５ 制御部
３１ 電磁石
４１ 異常通知素子

Claims (5)

1. 筺体が開状態および閉状態のいずれの状態であるかを検出するスイッチと、
   前記スイッチが前記筺体の前記開状態および閉状態のいずれも検出しないテスト状態に前記スイッチを動作させる動作部と、
   前記動作部を動作させたとき、前記スイッチが前記テスト状態になったか否かに基づいて、前記スイッチが正常であるか否かを判定する制御部と、
   を有する情報処理装置。
2. 請求項１記載の情報処理装置において、
   前記スイッチは、
   前記筺体が前記閉状態から開状態に変化したとき、所定の方向に物理的に動作することによって前記開状態を検出する検出片を有し、
   前記動作部は、
   前記制御部から動作の指示があると、前記所定の方向とは異なる方向に前記検出片を物理的に動作させる、情報処理装置。
3. 請求項１または２記載の情報処理装置において、
   前記制御部は、
   自装置の起動時、所定の時刻、および所定の時間経過毎のうち、少なくともいずれかのタイミングで、前記動作部を動作させる、情報処理装置。
4. 請求項１から３のいずれか１項記載の情報処理装置において、
   使用者に異常を通知するための通知部をさらに有し、
   前記制御部は、
   前記スイッチが正常でないと判定すると、前記通知部を動作させる、情報処理装置。
5. 筺体が開状態および閉状態のいずれの状態であるかを検出するスイッチと、該スイッチが前記筺体の前記開状態および閉状態のいずれも検出しないテスト状態に該スイッチを動作させる動作部と、制御部とを有する情報処理装置による不正加工検出方法であって、
   前記制御部は所定のタイミングで前記動作部を動作させ、
   前記制御部は、前記スイッチが前記テスト状態になったか否かに基づいて、前記スイッチが正常であるか否かを判定する、不正加工検出方法。

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