JP2013121437A5 - - Google Patents
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Description
上記課題を解決するために、本発明は、スピンロックRFパルスを用いて被検体のスピンを回転座標系の有効磁場回りにスピンロックするためのスピンロックシーケンス部と、スピンロック中に時定数T1ρで減衰した磁化からのエコー信号を計測する本計測シーケンス部と、からなるT1ρシーケンスに基づいて、被検体からのエコー信号を計測し、計測したエコー信号を用いて、被検体のT1ρ強調画像を取得する。その際、スピンロックRFパルスの印加時間であるスピンロック時間(TSL)の半分(TSL/2)の前又は後で、該スピンロックRFパルスの位相を180°変更したり、180°パルスを印加したりする。
Claims (10)
- スピンロックRFパルスを発生させるためのRFアンプと、
前記スピンロックRFパルスを用いて被検体のスピンを回転座標系の有効磁場回りにスピンロックするためのスピンロックシーケンス部と、スピンロック中に時定数T1ρで減衰した磁化からのエコー信号を計測する本計測シーケンス部と、からなるT1ρシーケンスに基づいて、前記RFアンプを制御して、前記被検体からのエコー信号の計測を制御する計測制御部と、
前記エコー信号を用いて、前記被検体のT1ρ強調画像を取得する演算処理部と、
を備えた磁気共鳴イメージング装置であって、
前記スピンロックRFパルスの位相を180°変更するタイミングを、該スピンロックRFパルスの印加時間であるスピンロック時間(TSL)の半分(TSL/2)の前又は後にシフトするシフト時間を設定するタイミング設定部を備え、
前記計測制御部は、前記スピンロックRFパルスの位相を、前記シフト時間で設定されたタイミングで180°変更することを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。 - スピンロックRFパルスを発生させるためのRFアンプと、
前記スピンロックRFパルスを用いて被検体のスピンを回転座標系の有効磁場回りにスピンロックするためのスピンロックシーケンス部と、スピンロック中に時定数T1ρで減衰した磁化からのエコー信号を計測する本計測シーケンス部と、からなるT1ρシーケンスに基づいて、前記RFアンプを制御して、前記被検体からのエコー信号の計測を制御する計測制御部と、
前記エコー信号を用いて、前記被検体のT1ρ強調画像を取得する演算処理部と、
を備えた磁気共鳴イメージング装置であって、
180°パルスを印加するタイミングを、前記スピンロックRFパルスの印加時間であるスピンロック時間(TSL)の半分(TSL/2)の前又は後にシフトするシフト時間を設定するタイミング設定部を備え、
前記計測制御部は、前記スピンロックRFパルスの印加中に、前記シフト時間で設定されたタイミングで前記180°パルスを印加することを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。 - 請求項1又は2記載の磁気共鳴イメージング装置において、
前記タイミング設定部は、前記シフト時間を変えて得られた複数のFID信号又はエコー信号の信号強度に基づいて、前記シフト時間の最適値を求めることを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。 - 請求項3に記載の磁気共鳴イメージング装置において、
前記T1ρシーケンスの実行条件が変更される毎に、前記シフト時間の最適値を求めることを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。 - 請求項1又は2記載の磁気共鳴イメージング装置において、
前記T1ρシーケンスの撮像パラメータ値と前記シフト時間とを対応付けて記憶する記憶部を備え、
前記タイミング設定部は、前記記憶部から、入力された前記T1ρシーケンスの撮像パラメータ値に対応するシフト時間を取得して、該取得したシフト時間を前記シフト時間とすることを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。 - 請求項5記載の磁気共鳴イメージング装置において、
前記撮像パラメータ値は、前記スピンロック時間(TSL)と前記RFアンプの利得値の少なくとも一方を含むことを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。 - 請求項1乃至6のいずれか一項に記載の磁気共鳴イメージング装置において、
前記タイミング設定部は、前記RFアンプの出力が時間と共に減少する場合には、前記タイミングが前記スピンロック時間(T SL )の半分(T SL /2)の前になるように前記シフト時間を設定することを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。 - スピンロックRFパルスを用いて被検体のスピンを回転座標系の有効磁場回りにスピンロックするスピンロックステップと、
スピンロック中に時定数T1ρで減衰した磁化からのエコー信号を計測する計測ステップと、
前記エコー信号を用いて、前記被検体のT1ρ強調画像を取得するステップと、
を備え、
前記スピンロックステップでは、スピンロックRFパルスの印加時間であるスピンロック時間(T SL )の半分(T SL /2)の前又は後のタイミングで、該スピンロックRFパルスの位相が180°変更されることを特徴とするT1ρイメージング法。 - スピンロックRFパルスを用いて被検体のスピンを回転座標系の有効磁場回りにスピンロックするスピンロックステップと、
スピンロック中に時定数T1ρで減衰した磁化からのエコー信号を計測する計測ステップと、
前記エコー信号を用いて、前記被検体のT1ρ強調画像を取得するステップと、
を備え、
前記スピンロックステップでは、スピンロックRFパルスの印加時間であるスピンロック時間(T SL )の半分(T SL /2)の前又は後のタイミングで、180°パルスが印加されることを特徴とするT1ρイメージング法。 - 請求項8又は9記載の磁気共鳴イメージング装置において、
前記スピンロックステップでは、前記スピンロックRFパルスの強度が時間と共に減少する場合には、前記タイミングが前記スピンロック時間(T SL )の半分(T SL /2)の前にされることを特徴とするT1ρイメージング法。
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JP2011270910A JP5808659B2 (ja) | 2011-12-12 | 2011-12-12 | 磁気共鳴イメージング装置及びT1ρイメージング法 |
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JP2011270910A JP5808659B2 (ja) | 2011-12-12 | 2011-12-12 | 磁気共鳴イメージング装置及びT1ρイメージング法 |
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