JP2013121437A5 - - Google Patents

Description

上記課題を解決するために、本発明は、スピンロックRFパルスを用いて被検体のスピンを回転座標系の有効磁場回りにスピンロックするためのスピンロックシーケンス部と、スピンロック中に時定数T1ρで減衰した磁化からのエコー信号を計測する本計測シーケンス部と、からなるT1ρシーケンスに基づいて、被検体からのエコー信号を計測し、計測したエコー信号を用いて、被検体のT1ρ強調画像を取得する。その際、スピンロックRFパルスの印加時間であるスピンロック時間(T_SL)の半分(T_SL/2)の前又は後で、該スピンロックRFパルスの位相を180°変更したり、180°パルスを印加したりする。

Claims (10)

1. スピンロックＲＦパルスを発生させるためのＲＦアンプと、
   前記スピンロックＲＦパルスを用いて被検体のスピンを回転座標系の有効磁場回りにスピンロックするためのスピンロックシーケンス部と、スピンロック中に時定数Ｔ１ρで減衰した磁化からのエコー信号を計測する本計測シーケンス部と、からなるＴ１ρシーケンスに基づいて、前記ＲＦアンプを制御して、前記被検体からのエコー信号の計測を制御する計測制御部と、
   前記エコー信号を用いて、前記被検体のＴ１ρ強調画像を取得する演算処理部と、
   を備えた磁気共鳴イメージング装置であって、
   前記スピンロックＲＦパルスの位相を１８０°変更するタイミングを、該スピンロックＲＦパルスの印加時間であるスピンロック時間（Ｔ_ＳＬ）の半分（Ｔ_ＳＬ／２）の前又は後にシフトするシフト時間を設定するタイミング設定部を備え、
   前記計測制御部は、前記スピンロックＲＦパルスの位相を、前記シフト時間で設定されたタイミングで１８０°変更することを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
2. スピンロックＲＦパルスを発生させるためのＲＦアンプと、
   前記スピンロックＲＦパルスを用いて被検体のスピンを回転座標系の有効磁場回りにスピンロックするためのスピンロックシーケンス部と、スピンロック中に時定数Ｔ１ρで減衰した磁化からのエコー信号を計測する本計測シーケンス部と、からなるＴ１ρシーケンスに基づいて、前記ＲＦアンプを制御して、前記被検体からのエコー信号の計測を制御する計測制御部と、
   前記エコー信号を用いて、前記被検体のＴ１ρ強調画像を取得する演算処理部と、
   を備えた磁気共鳴イメージング装置であって、
   １８０°パルスを印加するタイミングを、前記スピンロックＲＦパルスの印加時間であるスピンロック時間（Ｔ_ＳＬ）の半分（Ｔ_ＳＬ／２）の前又は後にシフトするシフト時間を設定するタイミング設定部を備え、
   前記計測制御部は、前記スピンロックＲＦパルスの印加中に、前記シフト時間で設定されたタイミングで前記１８０°パルスを印加することを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
3. 請求項１又は２記載の磁気共鳴イメージング装置において、
   前記タイミング設定部は、前記シフト時間を変えて得られた複数のFID信号又はエコー信号の信号強度に基づいて、前記シフト時間の最適値を求めることを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
4. 請求項３に記載の磁気共鳴イメージング装置において、
   前記Ｔ１ρシーケンスの実行条件が変更される毎に、前記シフト時間の最適値を求めることを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
5. 請求項１又は２記載の磁気共鳴イメージング装置において、
   前記Ｔ１ρシーケンスの撮像パラメータ値と前記シフト時間とを対応付けて記憶する記憶部を備え、
   前記タイミング設定部は、前記記憶部から、入力された前記Ｔ１ρシーケンスの撮像パラメータ値に対応するシフト時間を取得して、該取得したシフト時間を前記シフト時間とすることを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
6. 請求項５記載の磁気共鳴イメージング装置において、
   前記撮像パラメータ値は、前記スピンロック時間（Ｔ_ＳＬ）と前記ＲＦアンプの利得値の少なくとも一方を含むことを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
7. 請求項１乃至６のいずれか一項に記載の磁気共鳴イメージング装置において、
   前記タイミング設定部は、前記RFアンプの出力が時間と共に減少する場合には、前記タイミングが前記スピンロック時間（Ｔ _ＳＬ ）の半分（Ｔ _ＳＬ ／２）の前になるように前記シフト時間を設定することを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
8. スピンロックＲＦパルスを用いて被検体のスピンを回転座標系の有効磁場回りにスピンロックするスピンロックステップと、
   スピンロック中に時定数Ｔ１ρで減衰した磁化からのエコー信号を計測する計測ステップと、
   前記エコー信号を用いて、前記被検体のＴ１ρ強調画像を取得するステップと、
   を備え、
   前記スピンロックステップでは、スピンロックＲＦパルスの印加時間であるスピンロック時間（Ｔ _ＳＬ ）の半分（Ｔ _ＳＬ ／２）の前又は後のタイミングで、該スピンロックＲＦパルスの位相が１８０°変更されることを特徴とするＴ１ρイメージング法。
9. スピンロックＲＦパルスを用いて被検体のスピンを回転座標系の有効磁場回りにスピンロックするスピンロックステップと、
   スピンロック中に時定数Ｔ１ρで減衰した磁化からのエコー信号を計測する計測ステップと、
   前記エコー信号を用いて、前記被検体のＴ１ρ強調画像を取得するステップと、
   を備え、
   前記スピンロックステップでは、スピンロックＲＦパルスの印加時間であるスピンロック時間（Ｔ _ＳＬ ）の半分（Ｔ _ＳＬ ／２）の前又は後のタイミングで、１８０°パルスが印加されることを特徴とするＴ１ρイメージング法。
10. 請求項８又は９記載の磁気共鳴イメージング装置において、
    前記スピンロックステップでは、前記スピンロックＲＦパルスの強度が時間と共に減少する場合には、前記タイミングが前記スピンロック時間（Ｔ _ＳＬ ）の半分（Ｔ _ＳＬ ／２）の前にされることを特徴とするＴ１ρイメージング法。