JP6495071B2 - 磁気共鳴イメージング装置及び磁気共鳴イメージング方法 - Google Patents

磁気共鳴イメージング装置及び磁気共鳴イメージング方法 Download PDF

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Description

本発明の実施形態は、磁気共鳴イメージング装置及び磁気共鳴イメージング方法に関する。
磁気共鳴イメージングは、静磁場中に置かれた被検体の原子核スピンを、そのラーモア(Larmor)周波数のRF(Radio Frequency)パルスで磁気的に励起し、励起に伴い発生する磁気共鳴信号のデータから画像を生成する撮像法である。撮像に用いられる磁場は、種々の環境条件や装置の設定条件等により影響を受けることが知られている。
米国特許第6025715号明細書
Vannesjo et al., "Gradient System Characterization by Impulse Response Measurements with a Dynamic Field Camera," Magnetic Resonance in Medicine, vol. 69, pp. 583-593, 2013 Addy et al., "Simple Method for MR Gradient System Characterization and k-Space Trajectory Estimation," Magnetic Resonance in Medicine, vol. 68, pp. 120-129, 2012 Atkinson et al., "Characterization of System Delays and Eddy Currents for MR Imaging with Ultrashort Echo-Time and Time-Varying Gradients," Magnetic Resonance in Medicine, vol. 62, pp. 532-537, 2009 Beaumont et al., "Improved k-Space Trajectory Measurement with Signal Shifting," Magnetic Resonance in Medicine, vol. 58, pp. 200-205, 2007 Zhang et al., "A Novel k-Space Trajectory Measurement Technique," Magnetic Resonance in Medicine, vol. 39, pp. 999-1004, 1998
本発明が解決しようとする課題は、磁場の時間変化を正確に測定することができる磁気共鳴イメージング装置及び磁気共鳴イメージング方法を提供することである。
実施形態の磁気共鳴イメージング装置は、実行部と、測定部と、格納部とを備える。実行部は、複数のスライスのそれぞれに対して、RFパルス及びスライス選択傾斜磁場パルスの印加後に、当該スライス選択傾斜磁場パルスと同じ方向に所定の振幅を有する少なくとも一つの傾斜磁場パルスを所定の条件下で同極性で印加し、当該傾斜磁場パルスの少なくとも一つが印加されている期間、及び、当該傾斜磁場パルスが印加された後の期間の少なくとも一方において、連続するサンプル点のデータを収集するシーケンスを実行する。測定部は、前記サンプル点における複数のスライス間の位相差の勾配に基づいて、各サンプル点の磁場の時間変化を測定する。格納部は、前記磁場の時間変化を表す情報を所定の記憶部に格納する。
図1は、実施形態に係るMRIシステムの一例を示すブロック図である。 図2は、実施形態に係るパルスシーケンスの一例を示す図(1)である。 図3は、実施形態に係るMRIシステムにおける処理を説明するためのフローチャート(1)である。 図4は、実施形態に係るパルスシーケンスの一例を示す図(2)である。 図5は、実施形態に係るMRIシステムにおける処理を説明するためのフローチャート(2)である。 図6は、実施形態に係るMRIシステムにおける処理を説明するためのフローチャート(3)である。
以下、図面を参照して、実施形態に係る磁気共鳴イメージング装置(以下、「MRI(Magnetic Resonance Imaging)システム」とも表記する)及び磁気共鳴イメージング方法を説明する。
(実施形態)
図1は、実施形態に係るMRIシステムの一例を示すブロック図である。図1に示すMRIシステムは、ガントリ10(概略断面で示す)と、これに接続された各種の関連するシステム構成要素20とを有する。通常、少なくともガントリ10は、シールドルーム内に設置される。図1に示すMRIシステムの構造は、実質的に同軸の円筒状に配置された静磁場B磁石12と、Gx、Gy及びGzの傾斜磁場コイル14と、大型の全身用RF(Radio Frequency)コイル(Whole Body RF Coil:WBC)16とを有する。寝台11に支持された被検体9の頭部を実質的に取り囲んでいるイメージングボリューム18が、これら円筒状アレイの水平軸に沿って設けられている。当然のことながら、ある種の用途のために、人間の生体組織の代わりに、ファントムをイメージングボリューム18内の所望の位置に配置してもよい。1つ以上の小型のアレイRFコイル19を、イメージングボリューム18内の被検体の頭部に、より近接して接続してもよい。当業者には明らかなように、全身用コイル(Whole Body Coil:WBC)や比較的小型のコイル、表面コイルのようなアレイコイルは、特定の身体部分(例えば、腕、肩、肘、手首、膝、脚、胸、背骨等)に合わせて設計されることが多い。そのような小型のコイルをアレイコイル(Array Coil:AC)やフェイズドアレイコイル(Phased Array Coils:PAC)と称する。それらは、RF信号をイメージングボリューム18内に送信するように構成された1つ以上のコイルと、イメージングボリューム18内にあるオブジェクト、例えば前述した被検体の頭部等からのRF信号を受信するように構成された複数の受信コイルを含む。心拍信号収集装置8(被検体の生体組織に適宜に取り付けられる)を用いて、MRIシーケンス制御部30のトリガーとなる末梢脈波や心臓ゲーティング信号13を提供してもよい。
MRIシステム制御部22は、ディスプレイ24、キーボード26及びプリンタ28と接続された入出力ポートを備えている。当然のことながら、ディスプレイ24は、制御入力もできるようにタッチスクリーンタイプのものでもよく、マウスやその他の入出力機器を備えていてもよい。
MRIシステム制御部22は、RF送信機34及び送信/受信スイッチ36(送受信に同じRFコイルを用いる場合)並びに傾斜磁場コイルドライバ32を制御するMRIシーケンス制御部30に接続される。MRIシーケンス制御部30は、パラレルイメージングを含むこともあるMRIイメージング(核磁気共鳴(Nuclear Magnetic Resonance:NMR)イメージングとしても知られている)技術を実装するための適切なプログラムコード構造38を有する。後述するように、MRIシーケンス制御部30は、MRI診断画像の基になるNMRエコーデータ(「エコーデータ」)を収集するために、所定のパルスシーケンスや設定パラメータに基づいて形成されるパルスシーケンスを実行するように構成されてもよい。収縮期のエコーデータと拡張期のエコーデータを別々に収集するために、心拍信号収集装置8からの心臓ゲーティング信号13を用いて被検体の領域に向けてパルスシーケンスを送信するようにして、異なる画像が得られるようにMRIシーケンス制御部30を構成してもよい。また、MRIシーケンス制御部30を、エコープラナーイメージング(Echo Planer Imaging:EPI)用やパラレルイメージング用に構成してもよい。更に、MRIシーケンス制御部30は、1回以上の準備スキャン(プリスキャン)シーケンスと、メインスキャンMR画像(診断画像とも言うことがある)を得るためのスキャンシーケンスとを容易に実行することができる。
システム構成要素20は、ディスプレイ24に送られる処理画像データを作成するために、入力をMRIデータプロセッサ42に送るRF受信機40を含む。また、MRIデータプロセッサ42は、前に生成されたMRデータ、画像、マップ、システム構成パラメータ46、画像再構成プログラムコード構造44、及びプログラム記憶装置50に接続可能に構成される。
また、図1に、プログラム記憶装置50の一般的説明を示す。MRIシステムのプログラム記憶装置50では、(例えば、画像再構成や、MRI傾斜磁場軌跡マッピングや、MRI後処理等をするための)格納されたプログラムコード構造38が、MRIシステムの各種データ処理構成要素へアクセス可能な非一時的コンピュータ可読記憶媒体に格納されている。高速スピンエコー(Fast Acquisition Spin Echo:FASE)のようなパルスシーケンスにおけるリフォーカシングパルス用のリフォーカシングフリップ角設定や、TR(Repetition Time)間隔設定などを含むパルスシーケンス設定といった操作者入力を得るためのプログラムコードが格納されていてもよい。当業者には明らかなように、プログラム記憶装置50をセグメント化して、少なくとも一部分を、システム構成要素20の処理コンピュータのうち、通常動作においてそのような格納されたプログラムコード構造38を最優先で必要とする別のコンピュータに直接接続してもよい(すなわち、MRIシステム制御部22に格納したり直接接続したりするのではない)。
実際に、当業者には明らかなように、図1は、後述する例示的な実施形態を実現するために変更された典型的なMRIシステムの、非常に大まかな概略図を示したものである。システム構成要素20は、さまざまな論理集合の「ボックス」に分割することができ、通常、多数のデジタル信号プロセッサ(Digital Signal Processor:DSP)と、マイクロプロセッサと、専用処理回路(例えば、高速A/D(Analog/Digital)変換用、高速フーリエ変換用、アレイ処理等用)とを含む。これらのプロセッサの各々は、通常、クロック制御された「状態マシン」であり、物理データ処理回路は、クロックサイクル(又は、所定数のクロックサイクル)毎に、ある物理状態から別の物理状態に移る。
処理回路(例えば、CPU(Central Processing Unit)、レジスタ、バッファ、演算装置)の物理状態が、その動作過程で、あるクロックサイクルから別のクロックサイクルまでに徐々に変化するだけでなく、関連データ記憶媒体の物理状態(例えば、磁気記憶媒体内のビット記憶場所)も、このようなシステムの動作過程において、ある状態から別の状態に変換される。例えば、画像再構成処理や場合によっては制御画像とタギング画像から減算画像を生成する処理(後述)の終わりに、物理的記憶媒体内のコンピュータ可読でアクセス可能なデータ値の記憶場所の配列は、ある先行状態(例えば、すべて一様に「0」値、又はすべて「1」値)から新しい状態に変換され、そのような配列における物理的場所の物理状態は、最小値と最大値との間で変化して、実世界の物理的事象及び物理的条件(例えば、イメージングボリューム18内の、被検体の内部物理構造)を表す。当業者には明らかなように、そのような記憶データ値の配列は、命令レジスタに順次読み込まれ、システム構成要素20の1つ以上のCPUによって実行されたとき、MRIシステム内で特定のシーケンスの動作状態を引き起こし遷移させる特定構造のコンピュータ制御プログラムコードと同様に、物理的構造を表し構成する。
以下に示す実施形態は、傾斜磁場パルスや渦電流応答等によるNMRスピンに、実際に課される磁場の時間変化を測定する。そのようなデータは、傾斜磁場パルスに応じたk空間におけるNMR原子核の軌跡マッピングに用いることができる。磁場の時間変化の測定結果として得られる情報は、k空間データのより精密なリグリッディング等、画像再構成に先立つさまざまな用途に用いることができる。好ましい実施形態では、印加される傾斜磁場パルスの時間領域における形状を仮定する必要が無いことに加え、時間マッピング分解能を、読出しサンプリングレートにすることができる。
k空間において、いくつかの、或いはすべてのサンプルポイント(サンプル点)が不均一に収集されるため、収集されたk空間データを「リグリッド」することは一般的に行われている。この不均一は、意図的な不均一性(すなわち、傾斜磁場の遷移中にサンプリングした)か意図的でないバラツキ(deviation)(すなわち、渦電流のような物理的要因、傾斜磁場システムのキャリブレーションミス、あるいは理想的でない傾斜磁場システム性能)によるものと考えられる。NMR原子核に印加された磁場の時間変化を表す正確な情報に基づかない限り、そのようなリグリッディングを正確に行うことはできない。
傾斜磁場の測定方法は、特許文献1及び非特許文献1〜5に開示されている。
よく知られているように、MRI撮像に求められる傾斜磁場波形と、スピンに影響するそれらの傾斜磁場との間には偏差がある。MRIシステムの性能の中でも特に傾斜磁場増幅器の性能は、さまざまなストレス条件の関数として非線形に振る舞う。傾斜磁場システムは、温度変化、機械的振動、増幅器の電流と電力のデューティ比(デューティサイクル)、及びその他の要因から影響(ストレス)を受けることがある。その結果、傾斜磁場システムによって生成され、物理的に与えられる傾斜磁場が、理想的でないものになり得る。更に、非理想性の特性は、ストレス条件(以下、単に「条件」とも表記する)のセット(組み合わせ)に応じて変化し得る。例えば、ストレス条件は、ピーク電力傾斜磁場増幅器出力レベル、傾斜磁場増幅器スルーレート、ある期間にわたる傾斜磁場増幅器デューティサイクル、複数の期間にわたる傾斜磁場増幅器デューティサイクル、及び傾斜磁場増幅器温度等である。言い換えると、ストレス条件は、傾斜磁場増幅器の出力レベル、スルーレート、デューティサイクル、及び温度のうち、少なくとも一つを含む。
要するに、MRIシーケンスにおける傾斜磁場パルスが、物理的要因(渦電流)やハードウェア要因(増幅器の非線形性)により、理想的ではなくなる場合がある。NMR原子核が実際に曝露している傾斜磁場パルス波形を直接測定すればよい。したがって、システムの性能を特徴付ける印加磁場測定ツールは特に望ましい。
それらバラツキを特徴付けることに注力した、既知の撮像シナリオに適用される従来の方法は、付加的な専用ハードウェアや、システム出力の範囲を超えて収集されたデータを必要とする。ここで、本実施形態は、付加的なハードウェアを必要とすることなく、MRIシステムの動作空間内の特定サブボリュームにおいて当該MRIシステムを特徴付けるロバストな測定モデルを提案する。検討されるMRI撮像の動作空間の例示的な次元は、出力傾斜磁場電圧、動作傾斜磁場周波数、物理的位置、及び傾斜磁場デューティ比を含むが、これに限定されるものではない。MRIスキャナー動作エンベロープ全体に対する傾斜磁場応答の精密モデルは、NMRスピンの結果として観察されるように、すべてのイメージング技術に関して画像アーチファクトを最小化することを要求される。
本実施形態は、傾斜磁場を直接測定する方法を提示する。まず、iをADC(Analog-to-Digital Converter)読出サンプルインデックス、jをスライス、すなわちTx(送信部)周波数オフセットステップとする。次に、MRI試験を行うと、スライス選択(同時Gss(Gは矢印付き)を伴うRF章動パルス)後に、スライス選択傾斜磁場(Gss(Gは矢印付き)パルス)と同じ方向にある1つ以上の傾斜磁場ローブが続く。更に、G(Gは矢印付き)は、試験中のすべての繰返しにわたって最大振幅が一定であると仮定するGss(Gは矢印付き)と平行であり、ΔB(t’)は空間的に不変量であるか、B(渦電流によって発生すると考えられる)の変化にともない、ゆっくりと空間的に変化する周波数を含む。また、φ(i,j)は、残留B不均一性からの位相オフセット、送信部と受信部との間の位相不整合、又は残留システム電流を表す。Δtは、試験用のサンプリングレートである(すなわち、収集されたデータサンプルポイントiとi+1の間隔であり、通常は数マイクロ秒、例えば、10マイクロ秒以下で、一例として1〜2マイクロ秒である)。ADC読出ウィンドウ内の任意の点におけるNMRスピンの位相(i,j)は、以下の式(1)のように与えられる。
Figure 0006495071
ここでγを核磁気回転比とすると、以下の式(2)及び式(3)が成り立つ。
Figure 0006495071
Figure 0006495071
残念ながらこれらの値は、いずれも知られていないが、合理的に仮定することができる。ΔB(x,t’)は、G(t’)が一定である限りすべての試験において一定であり、TRは注目している最長の時定数よりも長い。例えば、時定数が100マイクロ秒程度であれば、回復時間は数ミリ秒で十分である。しかしながら、長周期渦電流磁場マッピングでは、時定数の大きさのオーダーは、より長くなり得る(例えば、100ミリ秒)。したがって、当業者には明らかなように、必要なTR範囲は状況に応じて適宜に変化する。例えば、G(t’)は、以下の式(3−1)によって表される。
Figure 0006495071
ここで、Gother(t’)は、渦電流や傾斜増幅器フィードバック等により生成される。O(G(t’))は、それが望ましい場合は測定することもできるが、無視してもよい第2の(又は、より上位の)構成要素である。B(x,t’)は、位置の関数としてG(t’)と比較してゆっくりと変化し、線形でないと予想される。Bに関するこの仮定は、上述したk空間サンプリングの文献全体に記載されており、そのすべての文献において正しいと認められる。
任意の2つの連続した点i−1,iの間の位相関係が既知なので、この位相の差からGを(サンプリング時刻iの間の期間Δtに対して)直接測定することができる。つまり、以下の式(4)が成り立つ。
Figure 0006495071
ここで、短い期間に対してφB0(i)を定数と仮定する。
2点間のみの位相の測定では間違ったGの値を導く可能性があるので、複数のスライス間の位相差勾配を求めることが望ましい。求められた勾配に適合させることで、バックグラウンドソース(φB0(i))からの位相寄与を消すことができる。各iに対してG(iΔt)を求めるために、以下の式(5)又は式(6)による分析を行うことができる。
Figure 0006495071
Figure 0006495071
図2は、実施形態に係るパルスシーケンスの一例を示す図(1)である。任意のスライスjに対して、選択されたスライス内でNMR原子核が章動するように、対応する周波数オフセットRF章動パルス(例えば90°とするが、任意の章動角が利用できる)と同時にスライス選択傾斜磁場パルスが適用される。RF章動パルスの、精密に決定されたオフセット周波数を適切に変更することによって、非常に正確且つ精密に後続のスライスjを選択することができる。
また、図2に示すように、ストレス条件下において、マッピング用の傾斜磁場波形(例えば、1つ又はいくつでもよい望ましい数のパルス)が、スライス選択傾斜磁場と同じ方向に連続的に適用される。ADCサンプリングウィンドウは、傾斜磁場波形の分析したい部分を囲むように開いている(例えば、特に非線形なコーナー等)。時間サンプルポイントiが短い間隔で(例えば、2マイクロ秒毎に)収集される。
点線の矩形で囲まれたマッピング用の傾斜磁場波形を、双曲線、正弦波、又はより複雑な傾斜磁場の波形などの任意の形状に変換してもよい。例示の方法は、測定される傾斜磁場の形状を限定しない。実際に、NMR原子核が曝露した傾斜磁場を測定するために必要な位相情報を得るための処理を繰り返すたびに、送信RFパルスの周波数オフセットだけが変更される。
本質的に同じ方法を、直接測定による渦電流の調査に用いることができる。例えば、図4に図示するように、傾斜磁場パルスの印加に起因する渦電流が発生させた残留磁場を測定するために、マッピング用の傾斜磁場の印加後にADCサンプリングウィンドウを開いてもよい(あるいは単に、ADCサンプリングウィンドウを傾斜磁場より拡大してもよい)。なお、図4は、実施形態に係るパルスシーケンスの一例を示す図(2)である。
図3は、実施形態に係るMRIシステムにおける処理を説明するためのフローチャート(1)である。傾斜磁場軌跡マッピングの例を図3に図示する。ここで、コンピュータプログラムコード構造は、(例えば、全体を統括するオペレーティングシステムなどから)傾斜磁場マッピングの処理300を開始する。イメージングボリューム18内の所望の位置に所望のファントムがあるか確認する(ステップS302)。ファントムが所望の位置にない場合(ステップS302否定)、所望の位置に所望のファントムが配置される(ステップS304)。そして、制御は、各スライスjの時間サンプルポイントi,i+1,・・・を収集するために、マッピング用の傾斜磁場を用いたNMRデータ収集シーケンスが、複数のスライスjに対して行われる(ステップS306)。言い換えると、実行部としてのMRIシステム制御部22は、複数のスライスのそれぞれに対して、RFパルス及びスライス選択傾斜磁場パルスの印加後に、そのスライス選択傾斜磁場パルスと同じ方向に所定の振幅を有する少なくとも一つの傾斜磁場パルスを所定の条件下で印加し、その傾斜磁場パルスの少なくとも一つが印加されている期間において、連続するサンプル点のデータを収集するシーケンスを実行する。なお、ファントムが所望の位置にある場合(ステップS302肯定)、ステップS306に移行する。
その後、複数のスライスj間の位相差勾配Δφと時刻iに基づき、各サンプルポイントiにおいて磁場の時間変化が測定される(ステップS308)。言い換えると、測定部としてのMRIシステム制御部22は、サンプル点における複数のスライス間の位相差の勾配に基づいて、各サンプル点の磁場の時間変化を測定する。
ステップS310の判定で、渦電流の確認オプションが与えられる。確認オプション(渦電流磁場チェック)を選択すると(ステップS310肯定)、ステップS312で、渦電流によって発生した磁場に関連する位相データを更に収集するために、1つのストレス傾斜磁場パルス(あるいは複数のパルス)の後で、ADCウィンドウが開かれる(あるいは開いたままにされる)。そして、複数のスライスj間の位相差勾配に基づき、各サンプルポイントiにおいて渦電流磁場の変化が測定され、その結果は、後のMRIシステム動作に使用するために、渦電流磁場の時間変化として格納される。言い換えると、実行部としてのMRIシステム制御部22は、複数のスライスのそれぞれに対して、RFパルス及びスライス選択傾斜磁場パルスの印加後に、そのスライス選択傾斜磁場パルスと同じ方向に所定の振幅を有する少なくとも一つの傾斜磁場パルスを所定の条件下で印加し、その傾斜磁場パルスが印加された後の期間において、連続するサンプル点のデータを収集するシーケンスを実行する。そして、測定部としてのMRIシステム制御部22は、サンプル点における複数のスライス間の位相差の勾配に基づいて、各サンプル点の磁場の時間変化を測定する。そして、格納部としてのMRIシステム制御部22は、磁場の時間変化を表す情報を所定の記憶部に格納する。
そして、ステップS308において測定された磁場の時間変化は、後のMRIシステムの動作において使用するために、格納及び/又は表示される(ステップS314)。言い換えると、格納部としてのMRIシステム制御部22は、磁場の時間変化を表す情報を所定の記憶部に格納する。なお、確認オプション(渦電流磁場チェック)を行わない場合(ステップS310否定)、ステップS314に移行する。
ステップS316の判定で、傾斜磁場パルスを印加した条件の別のセット(組み合わせ)に対して、測定された磁場の時間変化を表す情報のライブラリを構築するか否かを選択することができる。言い換えると、格納部としてのMRIシステム制御部22は、傾斜磁場パルスが印加された条件を示す条件情報に関連付けて、磁場の時間変化を表す情報を所定の記憶部に格納する。このオプションを選択すると(ステップS316肯定)、1つ以上の傾斜磁場パルスを印加した条件に対して磁場の時間変化のライブラリを構築するよう、ステップS318のブロックに制御が進み、別のストレス条件のためにシステムをリセットする。その後、更に別のストレス条件の、測定された磁場の時間変化を表す情報を格納/表示するために、ステップS306のブロックに制御が戻る。
最後に、図3の傾斜磁場軌跡マッピングの処理は、ステップS320で呼び出しプログラムへのリターン制御により終了する。
なお、図3に例示した処理手順は、一例に過ぎない。例えば、上述したように、ADCウィンドウが開いたままにされる場合には、傾斜磁場パルスが印加されている期間にデータを収集する処理(ステップS306)、及び、傾斜磁場パルスが印加された後の期間にデータを収集する処理(ステップS312)は、一度に実行されてもよい。具体的には、所望の位置に所望のファントムが配置される場合に(ステップS302肯定)、MRIシステム制御部22は、複数のスライスのそれぞれに対して、RFパルス及びスライス選択傾斜磁場パルスの印加後に、そのスライス選択傾斜磁場パルスと同じ方向に所定の振幅を有する少なくとも一つの傾斜磁場パルスを所定の条件下で印加し、その傾斜磁場パルスの少なくとも一つが印加されている期間から印加された後の期間までを含む期間において、上記のシーケンスを実行する。そして、MRIシステム制御部22は、磁場の時間変化を測定する処理(ステップS308)を実行し、磁場の時間変化を表す情報を格納する処理(ステップS314)を実行する。
また、例えば、傾斜磁場パルスが印加されている期間にデータを収集する処理(ステップS306)は、必ずしも実行されなくてもよい。具体的には、所望の位置に所望のファントムが配置される場合に(ステップS302肯定)、MRIシステム制御部22は、ステップS312の処理を実行して、渦電流による磁場の時間変化を測定し、渦電流による磁場の時間変化を表す情報を格納する。
図5は、実施形態に係るMRIシステムにおける処理を説明するためのフローチャート(2)である。図5は、図3の処理の結果として得られる測定された磁場の時間変化を表す情報のその後の使用の一例を図示する。まず、(例えば、再び、全体を統括するオペレーティングシステム等から)MRIデータ収集の処理500が実行される。ステップS502において、特定のデータ収集パルスシーケンスを用いてk空間用にMRIデータを収集する。言い換えると、実行部としてのMRIシステム制御部22は、被検体の撮像を行う撮像用シーケンスを所定の条件下で実行する。次に、ステップS504において、測定された磁場の時間変化の格納された表現を用いて、収集されたk空間データをリグリッドする。再構成部としてのMRIシステム制御部22は、撮像用シーケンスによって得られた被検体のk空間データを、格納部によって格納された磁場の時間変化を表す情報に基づいてリグリッドする。当然のことながら、渦電流の表現も利用可能な場合は、それらもリグリッド処理に用いられる。また、リグリッドに用いられる磁場の時間変化を表す情報は、撮像用シーケンスが実行された際のストレス条件と同一の条件で収集された情報であることが好ましい。
ステップS506において、ステップS504にてリグリッドされたk空間データを用いて空間領域のMR画像を再構成する。言い換えると、再構成部としてのMRIシステム制御部22は、リグリッドされたk空間データを用いてMR画像を再構成する。当業者には明らかなように、ステップS508で、その後の使用のために、空間領域で再構成された画像を表示や格納する。
図5のMRIデータ収集の処理は、呼び出しプログラムへのリターン制御によりステップS510で終了する。なお、MRIシステムは、格納部によって格納された磁場の時間変化を表す情報に基づいて、所定の動作パラメータの関数として、撮像に関する動作モデルを生成してもよい。例えば、動作モデルは、渦電流等を含む、MRIシステムの動作を数学的に表現したものである。一例としては、指数関数的減衰は、渦電流の影響を表す。
図2と図4の直接測定法は、小さな傾斜磁場振幅に対して有効であるとともに、(例えば渦電流由来の)残留傾斜磁場の測定にも適している。
アトキンソン法は構造が本方法と似ている。しかし、アトキンソン法は、傾斜磁場振幅を連続的に増大させる。すなわち、試験中の傾斜磁場システム条件(スルー、振幅、電力デューティ及び電流デューティ)は一定ではない。広範な傾斜磁場システムの出力から収集されたデータは、傾斜磁場測定値の解に統合される。そのため、傾斜磁場測定値は、傾斜磁場システムのストレス条件の、固定のセットを代表しない。
本方法の利点は、ストレス条件の固定のセットに対する傾斜磁場システムの性能を直接的に収集する能力である。試験において、収集されたすべてのデータの傾斜磁場パルスの波形と振幅は同じである。このように、傾斜磁場システム条件によって生じたあらゆる理想的でない効果は、すべてのデータに一貫する。したがって、本方法は、ある特定の(あるいは複数の)ストレス条件のセットに対応したシステムの性能に注目する手段を提供することができる。
本方法は、磁石の別の空間領域におけるG(t)の調査に用いることもできる。本実施形態は、MRIシステムの区分的空間局所化を可能にする(例えば、信号の応答が異なった振る舞いを示すかを調べるために、ファントムを磁石の中央や任意の軸に沿って配置してもよい)。
上記の例では、MRIデータ収集シーケンスは、スライス選択方向にそって伸びるとともに、さまざまなスライス位置で反復される傾斜磁場波形(1つ以上の傾斜磁場パルス)を含む。サンプルポイントの位相変化をスライス位置の関数として評価した結果は、収集した個々のピクセル又はボクセルにおける磁場の傾斜を仮定するために用いられる。一次位相分析は線形にすることができるので、ロバストな傾斜磁場測定が可能である。適切な周波数オフセットを用いることによって、磁石のアイソセンターあるいは各軸周りのアイソセンターから外れた位置で測定することができる。これによってイメージングボリューム18の異なる領域を調査することが可能となる。更に、特定の傾斜磁場波形を仮定する必要がない。そのうえ、試験中に正の振幅の傾斜磁場ローブ又は、負の振幅の傾斜磁場ローブを用いて応答の極性を調べることができる。
本実施形態は、調査対象のイメージングボリューム18の適切な位置に配置された標準ファントムを用いて実施された。例えば、ミネラルオイルなどを充填した10センチメートル角のアクリル製の立方体を、適当なファントムとすることができる。しかし、測定可能なNMR信号の応答を返すものであれば、どのようなファントムでも使用することができる。例えば、固体のアクリル製ファントムを使用することもできる。
例示の方法には、この問題に対処する従来技術に対していくつか利点がある。例えば、ある従来技術は、特定のストレス条件下では、高分解能データを収集しない。更に例示の方法は、特別なハードウェアやファントム設定を必要とすることなく、それらの利点を実現する。複数の傾斜磁場レベルをひとまとめにすることが必要な従来手法は、変化をシステム条件の関数としてマスクする。
従来の方法は、複数のストレス条件下でデータを収集するものとは考えられない。例えば、特定の性能あるいはストレスレベルにおいて傾斜磁場を測定する。あるいは、φとΔBパルスとを分離可能にする。あるいは、ファントムの移動やスライス選択周波数の変更により、空間的に局所化された傾斜磁場軌跡の変化を調査可能にする。しかし、上記した本実施形態は、それらすべてを提供する。
上記方法は、傾斜磁場波形の高分解能測定を提供する。それらの測定は、特定のストレス条件又は、高ピーク電力及び高スルーレートあるいはピーク電力出力といったシステム条件のもとで行われる。正の傾斜磁場極性と負の傾斜磁場極性のような特定の条件も、調査することができる。上記方法は、複雑な正弦波状あるいはその他形状の傾斜磁場波形の測定にも用いることができる。
傾斜磁場G(t’)を印加していなくても、MRIシステムには依然として線形的で高次の残留磁場変化、言い換えると、以下の式(7)に示す負荷がかかるおそれがある。アイソセンターから離れたボリュームをパラメータ化するとき、この条件は特に当てはまる。
Figure 0006495071
この場合、システムの磁場は、以下の式(8)のように表すことができる。
Figure 0006495071
傾斜磁場G(t’)の測定値は、以下の式(9)に示す残留バックグラウンド磁場を含むことがある。
Figure 0006495071
傾斜磁場測定値にバイアスがかからないようにするために、残留磁場を正確に測定してその源を特定し、以降の測定値からその影響を除去する必要がある。これは、傾斜磁場を印加しない状態(G(t’)=0)で測定することによって実現し、残留バックグラウンド磁場の影響を除去することを可能とする。
図6は、実施形態に係るMRIシステムにおける処理を説明するためのフローチャート(3)である。図6において、任意のバックグラウンド磁場チェックの処理600が、(例えば、全体を統括するオペレーティングシステム等から)開始される。次に、ステップS602において、ADCサンプリング時間iの間に測定される印加傾斜磁場の波形を使うことなく、複数のスライスjに対して図2のデータ収集シーケンスを行う。言い換えると、実行部としてのMRIシステム制御部22は、複数のスライスのそれぞれに対して、RFパルス及びスライス選択傾斜磁場パルスの印加後に、傾斜磁場パルスを印加することなくシーケンスを実行する。そして、測定部としてのMRIシステム制御部22は、傾斜磁場パルスが印加されることなく収集されたサンプル点における複数のスライス間の位相差の勾配に基づいて、各サンプル点の磁場の時間変化を測定する。複数のスライスjの間において、測定されたB(t)が零勾配を呈することが期待できる。そうでない場合は、ステップS604の判定部で、リキャブリレーションやリシミング等を行うオプションが与えられる。そして、ステップS602のブロックで再びバックグラウンドをチェックする前に、ステップS606のブロックで所望のリキャブリレーションやリシミングを行う。B(t)が零勾配を呈する場合、若しくは任意のタイミングにて、バックグラウンド磁場チェックの処理600を終了する(ステップS608)。この後に、例えば、図2のデータ収集シーケンスを行うことで、残留バックグラウンド磁場を含まない磁場の時間変化が測定されることが期待される。
特定の実施形態を説明したが、これらの実施形態は、単なる例として示したものであり、発明の範囲を限定するものではない。実際、本明細書で説明した新規の実施形態は、さまざまな別の態様で具体化が可能である。更には、本発明の要旨を逸脱することなく、本明細書で説明した実施形態の態様においてさまざまな省略、置換、及び変更が可能である。添付された請求の範囲及びその均等物は、発明の範囲及び要旨に包含されているものとして、そのような種々の様式及び変形例を含んでいる。
以上説明した少なくともひとつの実施形態によれば、付加的なハードウェアを用いることなく、磁場の時間変化を正確に測定することができる。
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。
22 MRIシステム制御部
30 MRIシーケンス制御部

Claims (10)

  1. 複数のスライスのそれぞれに対して、RFパルス及びスライス選択傾斜磁場パルスの印加後に、当該スライス選択傾斜磁場パルスと同じ方向に所定の振幅を有する少なくとも一つの傾斜磁場パルスを所定の条件下で同極性で印加し、当該傾斜磁場パルスの少なくとも一つが印加されている期間、及び、当該傾斜磁場パルスが印加された後の期間の少なくとも一方において、連続するサンプル点のデータを収集するシーケンスを実行する実行部と、
    前記サンプル点における複数のスライス間の位相差の勾配に基づいて、各サンプル点の磁場の時間変化を測定する測定部と、
    前記磁場の時間変化を表す情報を所定の記憶部に格納する格納部と
    を備える、磁気共鳴イメージング装置。
  2. 複数のスライスのそれぞれに対して、RFパルス及びスライス選択傾斜磁場パルスの印加後に、当該スライス選択傾斜磁場パルスと同じ方向に所定の振幅を有する少なくとも一つの傾斜磁場パルスを所定の条件下で印加し、当該傾斜磁場パルスの少なくとも一つが印加されている期間、及び、当該傾斜磁場パルスが印加された後の期間の少なくとも一方において、連続するサンプル点のデータを収集するシーケンスを実行する実行部と、
    前記サンプル点における複数のスライス間の位相差の勾配に基づいて、各サンプル点の磁場の時間変化を測定する測定部と、
    前記磁場の時間変化を表す情報を所定の記憶部に格納する格納部と
    を備え、
    前記実行部は、複数のスライスのそれぞれに対して、RFパルス及びスライス選択傾斜磁場パルスの印加後に、前記傾斜磁場パルスを印加することなく前記シーケンスを実行し、
    前記測定部は、前記傾斜磁場パルスが印加されることなく収集されたサンプル点における複数のスライス間の位相差の勾配に基づいて、各サンプル点の磁場の時間変化を測定する、磁気共鳴イメージング装置。
  3. 前記格納部は、前記傾斜磁場パルスが印加された条件を示す条件情報に関連付けて、前記磁場の時間変化を表す情報を前記所定の記憶部に格納する、請求項1又は2に記載の磁気共鳴イメージング装置。
  4. 被検体から収集されたk空間データを用いてMR画像を再構成する再構成部を更に備え、
    前記実行部は、前記被検体の撮像を行う撮像用シーケンスを前記所定の条件下で実行し、
    前記再構成部は、前記撮像用シーケンスによって得られた被検体のk空間データを、前記格納部によって格納された磁場の時間変化を表す情報に基づいてリグリッドし、リグリッドされたk空間データを用いてMR画像を再構成する、請求項1〜3のいずれか一つに記載の磁気共鳴イメージング装置。
  5. 複数のスライスのそれぞれに対して、RFパルス及びスライス選択傾斜磁場パルスの印加後に、当該スライス選択傾斜磁場パルスと同じ方向に所定の振幅を有する少なくとも一つの傾斜磁場パルスを所定の条件下で印加し、当該傾斜磁場パルスの少なくとも一つが印加されている期間、及び、当該傾斜磁場パルスが印加された後の期間の少なくとも一方において、連続するサンプル点のデータを収集するシーケンスを実行する実行部と、
    前記サンプル点における複数のスライス間の位相差の勾配に基づいて、各サンプル点の磁場の時間変化を測定する測定部と、
    前記磁場の時間変化を表す情報を所定の記憶部に格納する格納部と
    を備え、
    前記測定部は、前記磁場の時間変化を、前記サンプル点のサンプリングレートと同じ時間分解能で測定する、磁気共鳴イメージング装置。
  6. 前記測定部は、測定すべき磁場の予想される時間変化の形状を仮定することなく、前記磁場の時間変化を測定する、請求項1〜5のいずれか一つに記載の磁気共鳴イメージング装置。
  7. 前記実行部は、イメージングボリューム内の所定の位置にファントムが配置されているときに、前記シーケンスを実行する、請求項1〜6のいずれか一つに記載の磁気共鳴イメージング装置。
  8. 前記所定の条件は、傾斜磁場増幅器の出力レベル、スルーレート、デューティサイクル、及び温度のうち、少なくとも一つを含む、請求項1〜7のいずれか一つに記載の磁気共鳴イメージング装置。
  9. 前記格納部によって格納された磁場の時間変化を表す情報に基づいて、所定の動作パラメータの関数として、撮像に関する動作モデルを生成する、請求項1〜8のいずれか一つに記載の磁気共鳴イメージング装置。
  10. 複数のスライスのそれぞれに対して、RFパルス及びスライス選択傾斜磁場パルスの印加後に、当該スライス選択傾斜磁場パルスと同じ方向に所定の振幅を有する少なくとも一つの傾斜磁場パルスを所定の条件下で同極性で印加し、当該傾斜磁場パルスの少なくとも一つが印加されている期間、及び、当該傾斜磁場パルスが印加された後の期間の少なくとも一方において、連続するサンプル点のデータを収集するシーケンスを実行し、
    前記サンプル点における複数のスライス間の位相差の勾配に基づいて、各サンプル点の磁場の時間変化を測定し、
    前記磁場の時間変化を表す情報を所定の記憶部に格納する
    ことを含む、磁気共鳴イメージング方法。
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