JP2013121437A - MAGNETIC RESONANCE IMAGING APPARATUS AND T1ρ IMAGING METHOD - Google Patents

MAGNETIC RESONANCE IMAGING APPARATUS AND T1ρ IMAGING METHOD Download PDF

Info

Publication number
JP2013121437A
JP2013121437A JP2011270910A JP2011270910A JP2013121437A JP 2013121437 A JP2013121437 A JP 2013121437A JP 2011270910 A JP2011270910 A JP 2011270910A JP 2011270910 A JP2011270910 A JP 2011270910A JP 2013121437 A JP2013121437 A JP 2013121437A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
spin
pulse
time
lock
spin lock
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2011270910A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2013121437A5 (en
JP5808659B2 (en
Inventor
Masayuki Nonaka
正幸 野中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Healthcare Manufacturing Ltd
Original Assignee
Hitachi Medical Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Medical Corp filed Critical Hitachi Medical Corp
Priority to JP2011270910A priority Critical patent/JP5808659B2/en
Publication of JP2013121437A publication Critical patent/JP2013121437A/en
Publication of JP2013121437A5 publication Critical patent/JP2013121437A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5808659B2 publication Critical patent/JP5808659B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a magnetic resonance imaging apparatus and a T1ρ imaging method which are configured such that even if a magnetic field of RF radiation is temporally varied, spatial inhomogeneity of the magnetic field of RF radiation is compensated, and generation of artifact in a T1ρ-weighted image is prevented.SOLUTION: Based on T1ρ sequence consisting of a spin-lock sequence for locking the spins in a subject around an effective magnetic field in a rotating coordinate system, using a spin-lock RF pulse, and a main measurement sequence for measuring an echo signal from magnetization decayed with a time constant T1ρ during the spin-locking, the echo signal from the subject is measured, and the measured echo signal is used to obtain a T1ρ-weighted image of the subject. At the time, around half (T/2) of a spin-lock time (T) being a time for application of spin-lock RF pulse, the phase of the spin-lock RF pulse is changed by 180°, or a 180 degree pulse is applied.

Description

本発明は、核磁気共鳴現象を利用した磁気共鳴イメージング装置(以下「MRI装置」という)に係わり、特に、RFパルスを連続的に印加するスピンロックRFパルスを用い、回転座標系における縦緩和時間T1ρを利用したT1ρ強調画像もしくはT1ρ値画像を得る技術に関する。   The present invention relates to a magnetic resonance imaging apparatus (hereinafter referred to as “MRI apparatus”) using a nuclear magnetic resonance phenomenon, and in particular, a longitudinal relaxation time in a rotating coordinate system using a spin-locked RF pulse to which an RF pulse is continuously applied. The present invention relates to a technique for obtaining a T1ρ-weighted image or a T1ρ-value image using T1ρ.

MRI装置は、被検体、特に人体の組織を構成する原子核スピンが発生するNMR信号を計測し、その頭部、腹部、四肢等の形態や機能を2次元的に或いは3次元的に画像化する装置である。撮影においては、NMR信号には、傾斜磁場によって異なる位相エンコードが付与されるとともに周波数エンコードされて、時系列データとして計測される。計測されたNMR信号は、2次元又は3次元フーリエ変換されることにより画像に再構成される。   The MRI device measures NMR signals generated by the spins of the subject, especially the tissues of the human body, and visualizes the form and function of the head, abdomen, limbs, etc. in two or three dimensions Device. In imaging, the NMR signal is given different phase encoding depending on the gradient magnetic field, frequency-encoded, and measured as time series data. The measured NMR signal is reconstructed into an image by two-dimensional or three-dimensional Fourier transform.

上記MRI装置において、回転座標系における磁化(スピン)のT1緩和の時定数であるT1ρを用いて、T1ρ強調画像もしくはT1ρ値画像を得る技術が知られている(例えば、特許文献1)。この技術は、スピンロックRFパルスによりT1ρ緩和により重み付けを行った後、勾配エコー法などのイメージング方法によりT1ρ強調画像を得るのが一般的である。そして、スピンロックRFパルスの印加時間を変更して複数回撮像することでT1ρ強調度合いの異なる複数のT1ρ強調画像を取得し、これら複数のT1ρ強調画像を用いて画素毎にT1ρ値を算出してT1ρ値画像を得る。   In the MRI apparatus, a technique for obtaining a T1ρ-weighted image or a T1ρ value image using T1ρ that is a time constant of T1 relaxation of magnetization (spin) in a rotating coordinate system is known (for example, Patent Document 1). In this technique, weighting is performed by T1ρ relaxation with a spin-lock RF pulse, and then a T1ρ-weighted image is generally obtained by an imaging method such as a gradient echo method. Then, multiple T1ρ-weighted images with different T1ρ-weighted degrees are acquired by changing the application time of the spin-lock RF pulse and imaging multiple times, and T1ρ values are calculated for each pixel using these multiple T1ρ-weighted images. To obtain a T1ρ value image.

スピンロック中では、スピンは回転座標系での有効磁場回りの回転となるので、このようなスピン回転は静磁場や照射RF磁場に依存することになる。そのため、静磁場の空間的不均一や、照射RF磁場の空間的不均一或いは時間的変動が、スピン回転に悪影響を及ぼすので、T1ρイメージング法はアーチファクトの発生しやすい方法であるといえる。   In the spin lock, the spin rotates around the effective magnetic field in the rotating coordinate system, and such spin rotation depends on the static magnetic field and the irradiation RF magnetic field. Therefore, the spatial nonuniformity of the static magnetic field and the spatial nonuniformity or temporal variation of the irradiation RF magnetic field adversely affect the spin rotation. Therefore, it can be said that the T1ρ imaging method is prone to generate artifacts.

そこで、照射RF磁場の空間的不均一を補償するために、スピンロックRFパルスの照射時間の丁度半分で照射RF磁場の位相を反転させる技術(非特許文献1)がある。或いは、スピンロックRFパルスの照射時間の丁度半分の時点で180°パルスを印加する技術も提案されている(非特許文献2)。   Therefore, in order to compensate for the spatial non-uniformity of the irradiation RF magnetic field, there is a technique (Non-patent Document 1) that reverses the phase of the irradiation RF magnetic field at exactly half the irradiation time of the spin lock RF pulse. Alternatively, a technique for applying a 180 ° pulse at just half the irradiation time of a spin-lock RF pulse has also been proposed (Non-Patent Document 2).

特開昭60-231145号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 60-231145

Charagundla et. al. J. Magn. Reson. 162(2003)113-121Charagundla et. Al. J. Magn. Reson. 162 (2003) 113-121 Witschey et. al. J. Magn. Reson. 186(2007)75-85Witschey et. Al. J. Magn. Reson. 186 (2007) 75-85

上述したように、スピンロックRFパルスの照射時間の丁度半分で、照射RF磁場の位相を反転させる技術や180°パルスを印加する技術は、照射RF磁場の空間的不均一を補償する技術である。   As described above, the technology that reverses the phase of the irradiation RF magnetic field and the technology that applies the 180 ° pulse in just half the irradiation time of the spin-lock RF pulse are technologies that compensate for the spatial nonuniformity of the irradiation RF magnetic field. .

一方、T1ρイメージング法では、強い強度の照射RF磁場を長時間印加し続けなければならないが、そのためのRFアンプの出力を長時間に亘って一定に保つことは困難な場合がある。つまり、RFアンプの出力変動のために照射RF磁場が時間的に変動する場合がある。上記のスピンロックRFパルスの照射時間の丁度半分で、照射RF磁場の位相を反転させる技術や180°パルスを印加する技術だけでは、このような照射RF磁場の時間的変動を補償できない。その結果、照射RF磁場の空間的不均一性を補償することはできずにT1ρ強調画像にアーチファクトが発生し、これよりT1ρ値画像を算出した場合には定量性が低下する。   On the other hand, in the T1ρ imaging method, an irradiation RF magnetic field with a strong intensity must be applied for a long time, but it may be difficult to keep the output of the RF amplifier constant for a long time. That is, the irradiation RF magnetic field may fluctuate with time due to fluctuations in the output of the RF amplifier. Such a temporal variation of the irradiation RF magnetic field cannot be compensated only by a technique of inverting the phase of the irradiation RF magnetic field or a technique of applying a 180 ° pulse in exactly half the irradiation time of the spin lock RF pulse. As a result, the spatial inhomogeneity of the irradiation RF magnetic field cannot be compensated, and an artifact is generated in the T1ρ-weighted image. When the T1ρ value image is calculated from this, the quantitativeness is lowered.

そこで、本発明は、上記課題を鑑みてなされたものであり、照射RF磁場が時間的に変動しても、照射RF磁場の空間不均一を補償でき、T1ρ強調画像にアーチファクトが発生することを防ぐことが可能なMRI装置及びT1ρイメージング法を提供することである。   Therefore, the present invention has been made in view of the above problems, and even if the irradiation RF magnetic field fluctuates with time, spatial nonuniformity of the irradiation RF magnetic field can be compensated for, and artifacts are generated in the T1ρ-weighted image. It is to provide an MRI apparatus and T1ρ imaging method that can be prevented.

上記課題を解決するために、本発明は、スピンロックRFパルスを用いて被検体のスピンを回転座標系の有効磁場回りにスピンロックするためのスピンロックシーケンス部と、スピンロック中に時定数T1ρで減衰した磁化からのエコー信号を計測する本計測シーケンス部と、からなるT1ρシーケンスに基づいて、被検体からのエコー信号を計測し、計測したエコー信号を用いて、被検体のT1ρ強調画像を取得する。その際、スピンロックRFパルスの印加時間であるスピンロック時間(TSL)の半分(TSL/2)の前後で、該スピンロックRFパルスの位相を180°変更したり、180°パルスを印加したりする。 In order to solve the above problems, the present invention provides a spin lock sequence unit for spin-locking a spin of an object around an effective magnetic field of a rotating coordinate system using a spin-lock RF pulse, and a time constant T1ρ during spin lock. Based on the T1ρ sequence consisting of this measurement sequence unit that measures the echo signal from the magnetization attenuated in step 1, the echo signal from the subject is measured, and the T1ρ-weighted image of the subject is measured using the measured echo signal get. At that time, the phase of the spin lock RF pulse is changed by 180 ° or a 180 ° pulse is applied before and after half of the spin lock time (T SL ) which is the application time of the spin lock RF pulse (T SL / 2). To do.

本発明のMRI装置及びT1ρイメージング法によれば、照射RF磁場が時間的に変動しても、照射RF磁場の空間不均一を補償でき、T1ρ強調画像にアーチファクトが発生することを防ぐことが可能となる。   According to the MRI apparatus and the T1ρ imaging method of the present invention, even if the irradiation RF magnetic field fluctuates with time, it is possible to compensate for the spatial nonuniformity of the irradiation RF magnetic field and to prevent occurrence of artifacts in the T1ρ-weighted image. It becomes.

本発明に係るMRI装置の一実施例の全体構成を示すブロック図。1 is a block diagram showing the overall configuration of an embodiment of an MRI apparatus according to the present invention. T1ρイメージング法を実現するためのパルスシーケンスの一例であって、その内のRFパルスの印加順序を詳細に示したシーケンスチャート。It is an example of the pulse sequence for implement | achieving T1 (rho) imaging method, Comprising: The sequence chart which showed the application order of the RF pulse in it in detail. (a)は、スピンロックパルスの位相をスピンロック時間(TSL)のちょうど半分(TSL/2)で180°反転させる技術を説明する図。(b)は、スピンロックRFパルスの照射時間の半分の時点で180°パルスを印加する技術を説明する図。(a) is a diagram for explaining a technique for inverting the phase of the spin lock pulse by 180 ° with exactly half the spin lock time (T SL ) (T SL / 2). (b) is a diagram for explaining a technique for applying a 180 ° pulse at half the irradiation time of a spin-lock RF pulse. スピンロックRFパルスの印加中にRFアンプの出力が次第に低下していくことにより、スピンロックRFパルスの振幅が次第に減少していく様子を示す図。The figure which shows a mode that the amplitude of a spin lock RF pulse reduces gradually by the output of RF amplifier falling gradually during application of a spin lock RF pulse. (a)スピンロックRFパルス203の位相を180°変更するタイミングを、該スピンロックRFパルス203の印加時間の中心(TSL/2)からΔtだけ増減した例を示す図。(b)は、スピンロックRFパルス203の印加時間の中心(TSL/2)からΔtだけ増減したタイミングで180°パルスを印加する例を示す図。(a) The figure which shows the example which increased / decreased the timing which changes the phase of the spin lock RF pulse 203 180 degree | times from the center ( TSL / 2) of the application time of this spin lock RF pulse 203. FIG. FIG. 6B is a diagram showing an example in which a 180 ° pulse is applied at a timing increased or decreased by Δt from the center (T SL / 2) of the application time of the spin lock RF pulse 203. (a)は、実施例1のT1ρイメージング法を実現するための演算処理部114の各機能を示す機能ブロック図。(b)は、本実施例1の処理フローを示すフローチャート。FIG. 4A is a functional block diagram illustrating functions of an arithmetic processing unit 114 for realizing the T1ρ imaging method according to the first embodiment. (b) is a flowchart showing a processing flow of the first embodiment. (a)は、実施例2のT1ρイメージング法を実現するための演算処理部114の各機能を示す機能ブロック図。(b)は、本実施例2の処理フローを示すフローチャート。(a) is a functional block diagram showing each function of the arithmetic processing unit 114 for realizing the T1ρ imaging method of the second embodiment. (b) is a flowchart showing a processing flow of the second embodiment. スピンロック時間の中心(TSL/2)の前後で、単位時間τを単位としてシフト時間Δtを複数回変更して、それぞれエコー信号又はFID信号を取得するシーケンスチャート。A sequence chart in which an echo signal or an FID signal is obtained by changing the shift time Δt a plurality of times with the unit time τ as a unit before and after the center of the spin lock time (T SL / 2). 図8のシーケンスで計測された各FID信号又は勾配エコー信号の信号強度と、シフト時間Δtとの関係をグラフで示した図。FIG. 9 is a graph showing the relationship between the signal strength of each FID signal or gradient echo signal measured in the sequence of FIG. 8 and the shift time Δt. (a)は、実施例3のT1ρイメージング法を実現するための演算処理部114の各機能を示す機能ブロック図。(b)は、本実施例3の処理フローを示すフローチャート。(a) is a functional block diagram showing each function of the arithmetic processing unit 114 for realizing the T1ρ imaging method of the third embodiment. (b) is a flowchart showing the processing flow of the third embodiment. (a)は、実施例4のT1ρイメージング法を実現するための演算処理部114の各機能を示す機能ブロック図。(b)は、本実施例4の処理フローを示すフローチャート。(a) is a functional block diagram showing each function of the arithmetic processing unit 114 for realizing the T1ρ imaging method of the fourth embodiment. (b) is a flowchart showing the processing flow of the fourth embodiment.

以下、添付図面に従って本発明のMRI装置の好ましい実施例について詳説する。なお、発明の実施例を説明するための全図において、同一機能を有するものは同一符号を付け、その繰り返しの説明は省略する。   Hereinafter, preferred embodiments of the MRI apparatus of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In all the drawings for explaining the embodiments of the invention, those having the same function are given the same reference numerals, and their repeated explanation is omitted.

最初に、本発明に係るMRI装置を図1に基づいて説明する。図1は、本発明に係るMRI装置の一実施例の全体構成を示すブロック図である。   First, an MRI apparatus according to the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 1 is a block diagram showing the overall configuration of an embodiment of an MRI apparatus according to the present invention.

このMRI装置は、NMR現象を利用して被検体101の断層画像を得るもので、図1に示すように、静磁場発生磁石102と、傾斜磁場コイル103及び傾斜磁場電源109と、RF送信コイル104及びRF送信部110と、RF受信コイル105及び信号処理部107と、計測制御部111と、全体制御部112と、表示・操作部113と、被検体101を搭載する天板を静磁場発生磁石102の内部に出し入れするベッド106と、を備えて構成される。   This MRI apparatus uses a NMR phenomenon to obtain a tomographic image of a subject 101. As shown in FIG. 1, a static magnetic field generating magnet 102, a gradient magnetic field coil 103, a gradient magnetic field power supply 109, and an RF transmission coil 104 and RF transmitter 110, RF receiver coil 105 and signal processor 107, measurement control unit 111, overall control unit 112, display / operation unit 113, and top plate on which the subject 101 is mounted generates a static magnetic field. And a bed 106 to be taken in and out of the magnet 102.

静磁場発生磁石102は、垂直磁場方式であれば被検体101の体軸と直交する方向に、水平磁場方式であれば体軸方向に、それぞれ均一な静磁場を発生させるもので、被検体101の周りに永久磁石方式、常電導方式あるいは超電導方式の静磁場発生源が配置されている。   The static magnetic field generating magnet 102 generates a uniform static magnetic field in the direction perpendicular to the body axis of the subject 101 in the vertical magnetic field method and in the body axis direction in the horizontal magnetic field method. A permanent magnet type, normal conducting type or superconducting type static magnetic field generating source is arranged around the.

傾斜磁場コイル103は、MRI装置の実空間座標系(静止座標系)であるX、Y、Zの3軸方向に巻かれたコイルであり、それぞれの傾斜磁場コイルは、それを駆動する傾斜磁場電源109に接続され電流が供給される。具体的には、各傾斜磁場コイルの傾斜磁場電源109は、それぞれ後述の計測制御部111からの命令に従って駆動されて、それぞれの傾斜磁場コイルに電流を供給する。これにより、X、Y、Zの3軸方向に傾斜磁場Gx、Gy、Gzが発生する。   The gradient magnetic field coil 103 is a coil wound in the three-axis directions of X, Y, and Z that are the real space coordinate system (stationary coordinate system) of the MRI apparatus, and each gradient magnetic field coil is a gradient magnetic field that drives it. A current is supplied to the power source 109. Specifically, the gradient magnetic field power supply 109 of each gradient coil is driven according to a command from the measurement control unit 111 described later, and supplies a current to each gradient coil. Thereby, gradient magnetic fields Gx, Gy, and Gz are generated in the three-axis directions of X, Y, and Z.

2次元スライス面の撮像時には、スライス面(撮像断面)に直交する方向にスライス傾斜磁場パルス(Gs)が印加されて被検体101に対するスライス面が設定され、そのスライス面に直交して且つ互いに直交する残りの2つの方向に位相エンコード傾斜磁場パルス(Gp)と周波数エンコード(リードアウト)傾斜磁場パルス(Gf)が印加されて、NMR信号(エコー信号)にそれぞれの方向の位置情報がエンコードされる。   When imaging a two-dimensional slice plane, a slice gradient magnetic field pulse (Gs) is applied in a direction orthogonal to the slice plane (imaging cross section) to set a slice plane for the subject 101, orthogonal to the slice plane and orthogonal to each other. Phase encoding gradient magnetic field pulse (Gp) and frequency encoding (leadout) gradient magnetic field pulse (Gf) are applied in the remaining two directions, and position information in each direction is encoded in the NMR signal (echo signal). .

RF送信コイル104は、被検体101に照射RF磁場パルス(以下、RFパルスと略記する)を照射するコイルであり、RF送信部110に接続され高周波パルス電流が供給される。これにより、被検体101の生体組織を構成する原子のスピンにNMR現象が誘起される。具体的には、RF送信部110が、後述の計測制御部111からの命令に従って駆動されて、高周波パルスを振幅変調し、増幅した後に被検体101に近接して配置されたRF送信コイル104に供給することにより、RFパルスが被検体101に照射される。   The RF transmission coil 104 is a coil that irradiates the subject 101 with an irradiation RF magnetic field pulse (hereinafter abbreviated as an RF pulse), and is connected to the RF transmission unit 110 and supplied with a high-frequency pulse current. As a result, an NMR phenomenon is induced in the spins of atoms constituting the living tissue of the subject 101. Specifically, the RF transmission unit 110 is driven in accordance with a command from the measurement control unit 111 (to be described later), amplitude-modulates and amplifies the high-frequency pulse, and then the RF transmission unit 104 is placed near the subject 101 after being amplified. By supplying, the subject 101 is irradiated with the RF pulse.

RF受信コイル105は、被検体101の生体組織を構成するスピンのNMR現象により放出されるエコー信号を受信するコイルであり、信号処理部107に接続されて受信したエコー信号が信号処理部107に送られる。   The RF receiving coil 105 is a coil that receives an echo signal emitted by the NMR phenomenon of spin that constitutes the living tissue of the subject 101, and is connected to the signal processing unit 107 so that the received echo signal is sent to the signal processing unit 107. Sent.

信号処理部107は、RF受信コイル105で受信されたエコー信号の検出処理を行う。具体的には、後述の計測制御部111からの命令に従って、信号処理部107が、受信されたエコー信号を増幅し、直交位相検波により直交する二系統の信号に分割し、それぞれを所定数(例えば128、256、512等)サンプリングし、各サンプリング信号をA/D変換してディジタル量に変換する。 従って、エコー信号は所定数のサンプリングデータからなる時系列のデジタルデータ(以下、エコーデータという)として得られる。そして、信号処理部107は、エコーデータに対して各種処理を行い、処理したエコーデータを計測制御部111に送る。   The signal processing unit 107 performs detection processing of the echo signal received by the RF receiving coil 105. Specifically, in accordance with a command from the measurement control unit 111 described later, the signal processing unit 107 amplifies the received echo signal and divides it into two orthogonal signals by quadrature detection, For example, 128, 256, 512, etc.) are sampled, and each sampling signal is A / D converted into a digital quantity. Therefore, the echo signal is obtained as time-series digital data (hereinafter referred to as echo data) composed of a predetermined number of sampling data. Then, the signal processing unit 107 performs various processes on the echo data, and sends the processed echo data to the measurement control unit 111.

計測制御部111は、被検体101の断層画像の再構成に必要なエコーデータ収集のための種々の命令を、主に、傾斜磁場電源109と、RF送信部110と、信号処理部107に送信してこれらを制御する制御部である。具体的には、計測制御部111は、後述する全体制御部112の制御で動作し、ある所定のシーケンスの制御データに基づいて、傾斜磁場電源109、RF送信部110及び信号処理部107を制御して、被検体101へのRFパルスの照射及び傾斜磁場パルスの印加と、被検体101からのエコー信号の検出と、を繰り返し実行し、被検体101の撮像領域についての画像の再構成に必要なエコーデータの収集を制御する。繰り返しの際には、2次元撮像の場合には位相エンコード傾斜磁場の印加量を、3次元撮像の場合には更にスライスエンコード傾斜磁場の印加量も、変えて行なう。位相エンコードの数は通常1枚の画像あたり128、256、512等の値が選ばれ、スライスエンコードの数は、通常16、32、64等の値が選ばれる。これらの制御により信号処理部107からのエコーデータを全体制御部112に出力する。   The measurement control unit 111 mainly transmits various commands for collecting echo data necessary for reconstruction of the tomographic image of the subject 101 to the gradient magnetic field power source 109, the RF transmission unit 110, and the signal processing unit 107. And a control unit for controlling them. Specifically, the measurement control unit 111 operates under the control of the overall control unit 112 described later, and controls the gradient magnetic field power source 109, the RF transmission unit 110, and the signal processing unit 107 based on a predetermined sequence of control data. Then, it is necessary to reconstruct the image of the imaging region of the subject 101 by repeatedly performing the irradiation of the RF pulse and the application of the gradient magnetic field pulse to the subject 101 and the detection of the echo signal from the subject 101. Control the collection of accurate echo data. In the repetition, the application amount of the phase encoding gradient magnetic field is changed in the case of two-dimensional imaging, and the application amount of the slice encoding gradient magnetic field is further changed in the case of three-dimensional imaging. Values such as 128, 256, and 512 are normally selected as the number of phase encodings, and values such as 16, 32, and 64 are normally selected as the number of slice encodings. With these controls, echo data from the signal processing unit 107 is output to the overall control unit 112.

全体制御部112は、計測制御部111の制御、及び、各種データ処理と処理結果の表示及び保存等の制御を行うものであって、演算処理部(CPU)114と、メモリ113と、磁気ディスク等の内部記憶部115と、外部ネットワークとのインターフェースを行うネットワークIF116と、を有して成る。   The overall control unit 112 controls the measurement control unit 111 and controls various data processing and processing result display and storage, and includes an arithmetic processing unit (CPU) 114, a memory 113, and a magnetic disk. And the like, and a network IF 116 that interfaces with an external network.

また、全体制御部112には、光ディスク等の外部記憶部117が接続されていても良い。具体的には、計測制御部111を制御してエコーデータの収集を実行させ、計測制御部111からのエコーデータが入力されると、演算処理部114がそのエコーデータに印加されたエンコード情報に基づいて、メモリ113内のk空間に相当する領域に記憶させる。以下、エコーデータをk空間に配置する旨の記載は、エコーデータをメモリ113内のk空間に相当する領域に記憶させることを意味する。   Further, an external storage unit 117 such as an optical disk may be connected to the overall control unit 112. Specifically, the measurement control unit 111 is controlled to execute the collection of echo data, and when the echo data is input from the measurement control unit 111, the arithmetic processing unit 114 converts the encoded information applied to the echo data. Based on this, it is stored in an area corresponding to the k space in the memory 113. Hereinafter, the statement that the echo data is arranged in the k space means that the echo data is stored in an area corresponding to the k space in the memory 113.

また、メモリ113内のk空間に相当する領域に記憶されたエコーデータ群をk空間データともいう。そして演算処理部114は、このk空間データに対して信号処理やフーリエ変換による画像再構成等の処理を実行し、その結果である被検体101の画像を、後述の表示・操作部113に表示させ、内部記憶部115や外部記憶部117に記録させた、りネットワークIF116を介して外部装置に転送したりする。   A group of echo data stored in an area corresponding to the k space in the memory 113 is also referred to as k space data. The arithmetic processing unit 114 performs processing such as signal processing and image reconstruction by Fourier transform on the k-space data, and displays the resulting image of the subject 101 on the display / operation unit 113 described later. The data is recorded in the internal storage unit 115 or the external storage unit 117, or transferred to an external device via the network IF 116.

表示・操作部113は、再構成された被検体101の画像を表示する表示部と、MRI装置の各種制御情報や上記全体制御部112で行う処理の制御情報を入力するトラックボール又はマウス及びキーボード等の操作部と、から成る。この操作部は表示部に近接して配置され、操作者が表示部を見ながら操作部を介してインタラクティブにMRI装置の各種処理を制御する。   The display / operation unit 113 includes a display unit for displaying the reconstructed image of the subject 101, a trackball or a mouse and a keyboard for inputting various control information of the MRI apparatus and control information for processing performed by the overall control unit 112. Etc., and an operation unit. The operation unit is disposed in the vicinity of the display unit, and an operator interactively controls various processes of the MRI apparatus through the operation unit while looking at the display unit.

現在MRI装置の撮像対象核種は、臨床で普及しているものとしては、被検体の主たる構成物質である水素原子核(プロトン)である。プロトン密度の空間分布や、励起状態の緩和時間の空間分布に関する情報を画像化することで、人体頭部、腹部、四肢等の形態または、機能を2次元もしくは3次元的に撮像する。   At present, the radionuclide to be imaged by the MRI apparatus is a hydrogen nucleus (proton) which is a main constituent material of the subject as being widely used clinically. By imaging information on the spatial distribution of proton density and the spatial distribution of relaxation time in the excited state, the form or function of the human head, abdomen, limbs, etc. is imaged two-dimensionally or three-dimensionally.

(T1ρイメージング法について)
最初に、T1ρイメージング法について説明する。図2は、T1ρイメージング法を実現するためのパルスシーケンスの一例であって、その内のRFパルスの印加順序を詳細に示したシーケンスチャートである。
(About T1ρ imaging method)
First, the T1ρ imaging method will be described. FIG. 2 is an example of a pulse sequence for realizing the T1ρ imaging method, and is a sequence chart showing in detail the application order of RF pulses therein.

T1ρイメージング法は、スピンを回転座標系の有効磁場回りにロックする(スピンロック)ためのスピンロックシーケンス部201と、スピンロック中に時定数T1ρで減衰した磁化からのエコー信号を計測する本計測シーケンス部211と、からなるT1ρシーケンスを繰り返し時間(TR)毎に繰り返して、T1ρ強調画像を取得するものである。   The T1ρ imaging method uses a spin lock sequence unit 201 to lock the spin around the effective magnetic field of the rotating coordinate system (spin lock), and this measurement to measure echo signals from magnetization attenuated by the time constant T1ρ during spin lock A T1ρ sequence composed of the sequence unit 211 is repeated every repetition time (TR) to acquire a T1ρ-weighted image.

スピンロックシーケンス部201は、位相が180°異なる一対の90°パルス(202,204)と、該一対の90°パルスの間に挟まれたスピンロックRFパルス203とを有して成る。   The spin lock sequence unit 201 includes a pair of 90 ° pulses (202, 204) having a phase difference of 180 ° and a spin lock RF pulse 203 sandwiched between the pair of 90 ° pulses.

一対の90°パルスは、例えば図2に示すように、回転座標系において磁化を、x軸の周りに+90°励起する90°+xパルス202と、x軸の周りに-90°励起する90°-xパルス204と、で構成することができる。即ち、90°+xパルス202で励起された磁化と90°-xパルス204で励起された磁化とは反対方向を向くことになり、それ故、これら一対の90°パルス(202,204)の位相が互いに180°異なることになる。   A pair of 90 ° pulses, for example, as shown in FIG. 2, excites magnetization in a rotating coordinate system by 90 ° + x pulse 202 that excites + 90 ° around the x axis and −90 ° around the x axis. 90 ° -x pulse 204. That is, the magnetization excited by the 90 ° + x pulse 202 and the magnetization excited by the 90 ° -x pulse 204 are directed in opposite directions. Therefore, the phase of the pair of 90 ° pulses (202, 204) is They will be 180 ° different from each other.

スピンロックRFパルス203は、その印加時間(スピンロック時間(TSL))が数msから数十ms以上(被写体のT1ρ値程度、例えば50msec以下の値)のRFパルスであり、このスピンロック時間(TSL)において磁化が回転座標系のT1緩和の時定数T1ρで減衰すること、磁化が重み付けされる。従来のT1ρイメージング法では、スピンロックRFパルスの照射強度は一定とする。 The spin lock RF pulse 203 is an RF pulse whose application time (spin lock time (T SL )) is several ms to several tens of ms or more (about the T1ρ value of the subject, for example, a value of 50 msec or less). In (T SL ), the magnetization is attenuated by the time constant T1ρ of T1 relaxation in the rotating coordinate system, and the magnetization is weighted. In the conventional T1ρ imaging method, the irradiation intensity of the spin lock RF pulse is constant.

そして、本計測シーケンス部211で、上記のように重み付けされた磁化からのエコー信号が計測されるので、この計測されたエコー信号の強度も時定数T1ρで重み付けされたものとなる。それ故、このエコー信号から再構成される画像が時定数T1ρで強調され、T1ρ強調画像を得ることができる。   Then, since the echo signal from the magnetization weighted as described above is measured by the measurement sequence unit 211, the intensity of the measured echo signal is also weighted by the time constant T1ρ. Therefore, an image reconstructed from this echo signal is enhanced with the time constant T1ρ, and a T1ρ-weighted image can be obtained.

また、スピンロック時間(TSL)を変更して、複数のT1ρ強調の程度が異なる画像を取得して、これら複数のT1ρ強調画像を用いて画素毎にT1ρ値を算出することができるので、画素毎のT1ρ値の分布を表すT1ρ値画像を取得することもできる。 In addition, by changing the spin lock time (T SL ), acquiring a plurality of images with different degrees of T1ρ enhancement, and calculating the T1ρ value for each pixel using the plurality of T1ρ enhanced images, A T1ρ value image representing the distribution of T1ρ values for each pixel can also be acquired.

(照射RF磁場の空間的不均一の影響)
スピンロックにおいて、スピンは回転系でみると有効磁場回りに回転をする為、有効磁場の方向に影響を与える静磁場と照射RF磁場の両方の空間的不均一により磁化の振る舞いが空間的に変動する。このことにより静磁場と照射RF磁場の両方の空間的な均一性が十分でなく不均一がある場合には、これらの空間的不均一に依存してT1ρ強調画像に縞状のアーチファクトが発生してしまう場合がある。
(Effect of spatial nonuniformity of irradiation RF magnetic field)
In spin lock, since the spin rotates around the effective magnetic field when viewed in the rotating system, the behavior of magnetization varies spatially due to the spatial inhomogeneity of both the static magnetic field and the irradiation RF magnetic field that affect the direction of the effective magnetic field. To do. As a result, when the spatial uniformity of both the static magnetic field and the irradiated RF magnetic field is not sufficient and non-uniform, striped artifacts appear in the T1ρ-weighted image depending on these spatial non-uniformities. May end up.

そこで、これらの影響の内で、照射RF磁場の空間的不均一を補償する第1の方法としては、図3(a)に示すように、スピンロック中の照射RF磁場(スピンロックRFパルス)の位相をスピンロック時間(TSL)のちょうど半分(TSL/2)で180°反転させる技術がある。図3(a)における+y,-yは、照射RF磁場の位相を示しており、それぞれ90°パルスに対しては90°位相が異なること、そして互いに180°位相が異なることを表している。具体的には、スピンロック時間を2分割して、回転座標系において磁化を、y軸の周りに回転させる+yパルス203-1をスピンロック時間の前半の半分(TSL/2)印加した後に、y軸の周りに反回転させる-yパルス203-2をスピンロック時間の後半の半分(TSL/2)印加する。これにより、照射RF磁場の空間的不均一があっても、前半の+yパルス203-1の印加中に生じた回転量(位相)の空間的不均一が、後半の-yパルス203-2の印加中に生じた反回転量(反極性位相)の空間的不均一でキャンセルされる。その結果、スピンロック時間(TSL)の終了直後で90°-xパルス203の直前において、照射RF磁場の空間的不均一の影響が無くなることになる。 Therefore, among these effects, as a first method for compensating the spatial non-uniformity of the irradiation RF magnetic field, as shown in FIG. 3 (a), the irradiation RF magnetic field in the spin lock (spin lock RF pulse) There is a technique that reverses the phase of 180 ° by exactly half the spin lock time (T SL ) (T SL / 2). In FIG. 3 (a), + y and -y indicate the phases of the irradiation RF magnetic field, indicating that the 90 ° phase is different for the 90 ° pulse and that the 180 ° phase is different from each other. . Specifically, the spin lock time was divided into two, and the + y pulse 203-1 that rotates the magnetization around the y axis in the rotating coordinate system was applied to the first half of the spin lock time (T SL / 2). Later, a -y pulse 203-2 that counter-rotates around the y-axis is applied for the second half of the spin lock time (T SL / 2). As a result, even if there is a spatial non-uniformity of the irradiation RF magnetic field, the spatial non-uniformity of the rotation amount (phase) generated during the application of the + y pulse 203-1 in the first half is changed to the -y pulse 203-2 in the second half. The amount of anti-rotation (anti-polarity phase) generated during the application of is canceled by the spatial nonuniformity. As a result, immediately after the end of the spin lock time (T SL ) and immediately before the 90 ° -x pulse 203, the influence of spatial nonuniformity of the irradiation RF magnetic field is eliminated.

また、照射RF磁場の空間的不均一を補償する第2の方法としては、図3(b)に示すように、スピンロックRFパルスの照射時間の半分の時点で180°パルスを印加する技術がある。この第2の方法では、スピンロックRFパルス203の位相をスピンロック時間(TSL)中に変えずに、図3(b)の例では、+yパルスとしている。その代わりに、スピンロック時間(TSL)の半分の時点(TSL/2)で、180°パルスを印加する。スピンロック時間(TSL)の半分の時点(TSL/2)で180°パルスを印加することによって、スピンロック時間の前半の半分(TSL/2)の+yパルス203-1の印加中に生じた回転量(位相)の空間的不均一が、180°パルスによりその極性が反転し、後半の半分(TSL/2)の+yパルス203-2の印加中に生じた回転量(位相)の空間的不均一によってキャンセルされる。その結果、第1の方法と同様に、スピンロック時間(TSL)の終了直後で90°-xパルス203の直前において、照射RF磁場の空間的不均一の影響が無くなることになる。 As a second method for compensating for the spatial nonuniformity of the irradiation RF magnetic field, as shown in FIG. 3 (b), there is a technique in which a 180 ° pulse is applied at half the irradiation time of the spin lock RF pulse. is there. In the second method, the phase of the spin lock RF pulse 203 is not changed during the spin lock time (T SL ), and in the example of FIG. 3B, a + y pulse is used. Instead, a 180 ° pulse is applied at half the time (T SL / 2) of the spin lock time (T SL ). By applying a 180 ° pulse in the spin lock time (T SL) in half the time (T SL / 2), during the application of + y pulse 203-1 of the first half of half the spin lock time (T SL / 2) The spatial non-uniformity of the rotation amount (phase) generated in Fig. 2 is reversed in polarity by the 180 ° pulse, and the rotation amount generated during the application of the second half (T SL / 2) + y pulse 203-2 ( Canceled by spatial non-uniformity in phase). As a result, as in the first method, immediately after the end of the spin lock time (T SL ) and immediately before the 90 ° -x pulse 203, the influence of spatial nonuniformity of the irradiation RF magnetic field is eliminated.

(本願発明の課題とその解決方法の概要)
スピンロックRFパルスは、一般的に強度が強く印加時間の長いRFパルスとなる。一方、RFアンプは、その特性により、長時間に渡って高出力を一定に保つことが困難で、長時間に渡って高出力を続けると一般的に発熱などの影響によりドループと呼ばれるような次第に出力が低下してしまう場合がある。このRFアンプの出力低下がスピンロックRFパルスの印加中に発生した場合の例を図4に示す。図4では、スピンロックRFパルスの印加中にRFアンプの出力が次第に低下していくことにより、スピンロックRFパルス203-1,203-2の振幅が次第に減少していく様子を示している。
(Outline of the subject of the present invention and its solution)
The spin lock RF pulse is generally an RF pulse having a high intensity and a long application time. On the other hand, due to its characteristics, it is difficult for RF amplifiers to keep high output constant for a long time. When high output is continued for a long time, it is generally called droop due to the influence of heat generation etc. The output may decrease. FIG. 4 shows an example in which the output reduction of the RF amplifier occurs during application of the spin lock RF pulse. FIG. 4 shows how the amplitude of the spin-lock RF pulses 203-1 and 203-2 gradually decreases as the output of the RF amplifier gradually decreases during application of the spin-lock RF pulse.

このことから、照射RF磁場の均一性については、空間的不均一だけでなく時間的不均一をも考慮しなければならないことになる。このようなスピンロックRFパルスの時間的な強度の不安定性がある場合には、スピンロック時間(TSL)の丁度半分で、位相の180°変更や180°パルスの印加を行っても照射RF磁場の空間的不均一を十分に補償することができない。 From this, the uniformity of the irradiation RF magnetic field must consider not only spatial nonuniformity but also temporal nonuniformity. If there is instability in the temporal intensity of such a spin-lock RF pulse, the irradiation RF will be applied even if the phase is changed by 180 ° or a 180 ° pulse is applied at just half the spin-lock time (T SL ). The spatial inhomogeneity of the magnetic field cannot be sufficiently compensated.

そこで、本発明は、スピンロックRFパルスの位相を180°変更するタイミング又は180°パルスを印加するタイミングを、スピンロック時間の丁度半分(TSL/2)とせずに、TSL/2の前後に調整(時間的シフト)することで、照射RF磁場の空間的不均一をより精度よく補償することを基本とする。RFアンプの出力は、一般的に、時間経過とともに低下するので、スピンロックRFパルスの印加強度も時間とともに減少することになる。その場合には、スピンロック時間の半分(TSL/2)より前に、180°位相変更や180°パルス印加となる。以下、スピンロックRFパルスの180°位相変更や180°パルス印加を該スピンロック時間の半分(TSL/2)の前後で行う本発明の各実施例を詳細に説明する。 Therefore, in the present invention, the timing for changing the phase of the spin lock RF pulse by 180 ° or applying the 180 ° pulse is not half of the spin lock time (T SL / 2), but before and after T SL / 2. Basically, the spatial nonuniformity of the irradiation RF magnetic field is compensated more accurately by adjusting (time shift) to. Since the output of the RF amplifier generally decreases with time, the application intensity of the spin lock RF pulse also decreases with time. In that case, 180 ° phase change or 180 ° pulse application occurs before half of the spin lock time (T SL / 2). Hereinafter, each embodiment of the present invention in which the 180 ° phase change of the spin lock RF pulse and the 180 ° pulse application are performed before and after half of the spin lock time (T SL / 2) will be described in detail.

(実施例1)
最初に、本発明のMRI装置及びT1ρイメージング法についての実施例1を説明する。本実施例1は、スピンロックRFパルスの印加時間の中心(半分)からΔtだけ増減したタイミングで、該スピンロックRFパルスの位相を180°変更する。以下、図5(a)と図6に基づいて、本実施例1を詳細に説明する。
(Example 1)
First, a first embodiment of the MRI apparatus and T1ρ imaging method of the present invention will be described. In the first embodiment, the phase of the spin lock RF pulse is changed by 180 ° at a timing increased or decreased by Δt from the center (half) of the application time of the spin lock RF pulse. Hereinafter, the first embodiment will be described in detail based on FIG. 5 (a) and FIG.

最初に、図5(a)を用いて、本実施例1の概要を説明する。図5(a)は、スピンロックRFパルス203の位相を180°変更するタイミングを、該スピンロックRFパルス203の印加時間の中心(TSL/2)からΔtだけ増減した例を示す図である。具体的には、全体のスピンロック時間(TSL)を同一にする条件の下で、前半の+yパルス203-1の印加時間をTSL/2-Δtとし、後半の-yパルス203-2の印加時間をTSL/2+Δtとする。 First, the outline of the first embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 5 (a) is a diagram showing an example in which the timing for changing the phase of the spin lock RF pulse 203 by 180 ° is increased or decreased by Δt from the center (T SL / 2) of the application time of the spin lock RF pulse 203. . Specifically, under the condition that the entire spin lock time (T SL ) is the same, the application time of the first half + y pulse 203-1 is T SL / 2-Δt, and the second half -y pulse 203- The application time of 2 is T SL / 2 + Δt.

このシフト時間Δtは、計測条件に応じて調整する必要があるが、主に、スピンロック時間(TSL)やRFアンプの特性に依存する値である。 This shift time Δt needs to be adjusted according to the measurement conditions, but is a value mainly depending on the spin lock time (T SL ) and the characteristics of the RF amplifier.

一般的に、T1ρイメージング法は、照射RF磁場の周りの磁化の回転の速度(Hz)が数百Hz程度となるように、スピンロックRFパルスの印加強度(Hz)を固定して、このようにスピンロックされた磁化からのエコー信号を測定する。そして、被検体などの計測対象や受信コイルなどの計測条件が変更された場合にも、スピンロックRFパルスの印加強度(Hz)を同一に保つために、RFアンプの利得(ゲイン)が変更される場合が一般的である。RFアンプの利得(ゲイン)が変更されると、スピンロックRFパルスの印加強度の時間的変動の程度が変わる。よって、計測条件に応じて、シフト時間Δtの最適値を求めた方が良い。   In general, the T1ρ imaging method is such that the applied intensity (Hz) of the spin lock RF pulse is fixed so that the rotation speed (Hz) of magnetization around the irradiation RF magnetic field is about several hundred Hz. The echo signal from the spin-locked magnetization is measured. Even when the measurement target such as the subject or the measurement conditions such as the receiving coil is changed, the gain of the RF amplifier is changed to keep the applied intensity (Hz) of the spin lock RF pulse the same. This is common. When the gain (gain) of the RF amplifier is changed, the degree of temporal variation of the application intensity of the spin lock RF pulse changes. Therefore, it is better to obtain the optimum value of the shift time Δt according to the measurement conditions.

一方、RFアンプの利得とスピンロック時間(TSL)が決まれば、RFアンプの出力の時間的変動とその結果であるスピンロックRFパルスの印加強度の時間的変動について、ある程度の再現性を期待できる。よって、RFアンプの利得とスピンロック時間(TSL)をパラメータとして、これら2つのパラメータの値に対するシフト時間Δtの好適値又は最適値(以下、好適値の場合も含めて纏めて最適値という)を設定すればよいことになる。 On the other hand, if the gain of the RF amplifier and the spin lock time (T SL ) are determined, a certain degree of reproducibility is expected for the temporal variation of the output of the RF amplifier and the resulting temporal variation of the applied intensity of the spin lock RF pulse. it can. Therefore, using the gain of the RF amplifier and the spin lock time (T SL ) as parameters, a suitable value or optimum value of the shift time Δt with respect to the values of these two parameters (hereinafter referred to as an optimum value collectively including preferred values) It will be sufficient to set.

スピンロック時間(TSL)は、所望のT1ρ強調度合いの画像を得るために、操作者が計測条件として設定入力する値であり、数msから数十msの値が入力設定される。一方、RFアンプの利得特性は、RFアンプ毎に異なり、且つ、計測条件に基づいて決定されるRFアンプの出力値(つまり、スピンロックRFパルスの印加強度)にも依存する。以上のことから、スピンロック時間(TSL)やRFアンプの出力値が変わるような計測条件の変更がある度に、シフト時間Δtの最適値を求めることが望ましい。 The spin lock time (T SL ) is a value that is set and input as a measurement condition by the operator in order to obtain an image with a desired T1ρ enhancement degree, and a value of several ms to several tens of ms is input and set. On the other hand, the gain characteristic of the RF amplifier differs for each RF amplifier, and also depends on the output value of the RF amplifier (that is, the applied intensity of the spin lock RF pulse) determined based on the measurement conditions. From the above, it is desirable to obtain the optimum value of the shift time Δt each time the measurement conditions are changed such that the spin lock time (T SL ) or the output value of the RF amplifier changes.

以下、シフト時間Δtの最適値として、事前に設定された値、例えば、内部記憶部115や外部記憶部117記憶された値、を用いるものとして、本実施例1を説明する。   Hereinafter, the first embodiment will be described assuming that a preset value, for example, a value stored in the internal storage unit 115 or the external storage unit 117, is used as the optimum value of the shift time Δt.

次に、本実施例1のT1ρイメージング法を実現するための演算処理部114の各機能を、図6(a)に示す機能ブロック図に基づいて説明する。本実施例1に係る演算処理部114は、撮像条件設定部601と、スピンロック時間設定部602と、RFアンプ利得設定部603と、位相変更タイミング設定部604と、T1ρシーケンス設定部605と、を有して成る。   Next, each function of the arithmetic processing unit 114 for realizing the T1ρ imaging method of the first embodiment will be described based on the functional block diagram shown in FIG. The arithmetic processing unit 114 according to the first embodiment includes an imaging condition setting unit 601, a spin lock time setting unit 602, an RF amplifier gain setting unit 603, a phase change timing setting unit 604, a T1ρ sequence setting unit 605, It has.

撮像条件設定部601は、表示・操作部113の表示部に撮像条件の設定GUIを表示し、撮像条件に関する各種撮像パラメータの値の操作者による設定入力を受け付ける。特に、スピンロック時間(TSL)の設定GUIの表示と、その設定入力を受け付ける。 The imaging condition setting unit 601 displays an imaging condition setting GUI on the display unit of the display / operation unit 113, and accepts setting input by the operator for the values of various imaging parameters regarding the imaging conditions. In particular, the display of a spin lock time (T SL ) setting GUI and its setting input are accepted.

スピンロック時間設定部602は、撮像条件設定部601を介して入力設定された撮像条件に関する撮像パラメータの値に基づいて、スピンロック時間(TSL)の値を設定する。 The spin lock time setting unit 602 sets the value of the spin lock time (T SL ) based on the value of the imaging parameter related to the imaging condition input and set via the imaging condition setting unit 601.

RFアンプ利得設定部603は、撮像条件設定部601により設定された撮像条件に基づいて、スピンロックRFパルス203を所望の印加強度で被検体に照射するためのRFアンプ利得を設定する。例えば、基準RFパルス(例えば90°パルス)を出力するためのRFアンプ利得を基に、所定の係数を掛けて、スピンロックRFパルス203を所望の印加強度とするためのRFアンプ利得を求めても良い。   Based on the imaging conditions set by the imaging condition setting unit 601, the RF amplifier gain setting unit 603 sets an RF amplifier gain for irradiating the subject with the spin lock RF pulse 203 with a desired applied intensity. For example, based on the RF amplifier gain for outputting a reference RF pulse (for example, 90 ° pulse), a predetermined coefficient is multiplied to obtain an RF amplifier gain for making the spin lock RF pulse 203 have a desired applied intensity. Also good.

位相変更タイミング設定部604は、スピンロック時間設定部602で設定されたスピンロック時間(TSL)と、RFアンプ利得設定部603で設定されたRFアンプ利得と、に基づいて、スピンロックRFパルス203の位相を180°変更するタイミングについてのシフト時間である、スピンロック時間の中心(TSL/2)から増減させるシフト時間Δtを設定する。本実施例1では、スピンロック時間(TSL)とRFアンプ利得に応じて事前に設定された値、例えば、内部記憶部115や外部記憶部117記憶された値、をシフト時間Δtとして用いる。 The phase change timing setting unit 604 is based on the spin lock time (T SL ) set by the spin lock time setting unit 602 and the RF amplifier gain set by the RF amplifier gain setting unit 603. A shift time Δt to be increased / decreased from the center (T SL / 2) of the spin lock time, which is a shift time for changing the phase of 203 by 180 °, is set. In the first embodiment, a value set in advance according to the spin lock time (T SL ) and the RF amplifier gain, for example, a value stored in the internal storage unit 115 or the external storage unit 117 is used as the shift time Δt.

T1ρシーケンス設定部605は、撮像条件設定部601で設定された撮像条件と、スピンロック時間設定部602で設定されたスピンロック時間(TSL)と、RFアンプ利得設定部603で設定されたRFアンプ利得と、位相変更タイミング設定部604で設定されたシフト時間Δtと、に基づいて、図5(a)に示すT1ρシーケンスの各種制御値を具体的に生成して、計測制御部111に通知してT1ρシーケンスを実行させる。 The T1ρ sequence setting unit 605 includes the imaging conditions set by the imaging condition setting unit 601, the spin lock time (T SL ) set by the spin lock time setting unit 602, and the RF set by the RF amplifier gain setting unit 603. Based on the amplifier gain and the shift time Δt set by the phase change timing setting unit 604, various control values of the T1ρ sequence shown in FIG. 5 (a) are specifically generated and notified to the measurement control unit 111. To execute the T1ρ sequence.

次に、上記各機能部が連携して行なう本実施例1の処理フローを図6(b)に示すフローチャートに基づいて説明する。本処理フローは、予めプログラムとして内部記憶装置115に記憶されており、演算処理部114が内部記憶装置115からそのプログラムを読み込んで実行することにより実施される。以下、各処理ステップの処理内容を詳細に説明する。   Next, the processing flow of the first embodiment performed in cooperation with each of the functional units will be described based on the flowchart shown in FIG. 6 (b). This processing flow is stored in advance in the internal storage device 115 as a program, and is executed by the arithmetic processing unit 114 reading the program from the internal storage device 115 and executing it. Hereinafter, the processing contents of each processing step will be described in detail.

ステップ651で、撮像条件設定部601は、表示・操作部113の表示部に撮像条件の設定GUIを表示し、撮像条件に関する各種撮像パラメータの値の操作者による設定入力を受け付ける。特に、撮像条件設定部601は、スピンロック時間(TSL)の設定GUIを表示して、その設定入力を受け付ける。 In step 651, the imaging condition setting unit 601 displays an imaging condition setting GUI on the display unit of the display / operation unit 113, and accepts setting input by the operator for the values of various imaging parameters regarding the imaging conditions. In particular, the imaging condition setting unit 601 displays a spin lock time (T SL ) setting GUI and accepts the setting input.

ステップ652で、スピンロック時間設定部602は、ステップ651で設定された撮像条件に基づいて、スピンロック時間(TSL)を設定する。 In step 652, the spin lock time setting unit 602 sets the spin lock time (T SL ) based on the imaging condition set in step 651.

ステップ653で、RFアンプ利得設定部603は、ステップ651で設定された撮像条件に基づいて、スピンロックRFパルス203を所望の印加強度で被検体に照射するためのRFアンプ利得を設定する。具体的設定方法については前述したとおりである。   In step 653, the RF amplifier gain setting unit 603 sets an RF amplifier gain for irradiating the subject with the spin lock RF pulse 203 with a desired application intensity based on the imaging conditions set in step 651. The specific setting method is as described above.

ステップ654で、位相変更タイミング設定部604は、ステップ652で設定されたスピンロック時間(TSL)と、ステップ653で設定されたRFアンプ利得とに基づいて、スピンロックRFパルス203の位相を180°変更するタイミングについてのシフト時間Δtを設定する。具体的設定方法については前述したとおりである。 In step 654, the phase change timing setting unit 604 changes the phase of the spin lock RF pulse 203 by 180 based on the spin lock time (T SL ) set in step 652 and the RF amplifier gain set in step 653. ° Set shift time Δt for changing timing. The specific setting method is as described above.

ステップ655で、撮像条件設定部605は、ステップ651で設定された撮像条件と、ステップ652で設定されたスピンロック時間(TSL)と、ステップ653で設定されたRFアンプ利得と、ステップ654で設定されたシフト時間Δtと、に基づいて、図5に示すT1ρシーケンスの各種制御値を具体的に生成して、計測制御部111に通知してT1ρシーケンスを実行させる。 In step 655, the imaging condition setting unit 605 sets the imaging condition set in step 651, the spin lock time (T SL ) set in step 652, the RF amplifier gain set in step 653, and the step 654. Based on the set shift time Δt, various control values of the T1ρ sequence shown in FIG. 5 are specifically generated and notified to the measurement control unit 111 to execute the T1ρ sequence.

ステップ656で、計測制御部111は、ステップ655で生成されたT1ρシーケンスを実行して、前述のT1ρ強調画像を取得するためのエコー信号の計測制御を行う。
以上までが、本実施例1の処理フローの説明である。
In step 656, the measurement control unit 111 executes the T1ρ sequence generated in step 655, and performs measurement control of the echo signal for acquiring the above-described T1ρ-weighted image.
The above is the description of the processing flow of the first embodiment.

以上説明したように、本実施例1のMRI装置及びT1ρイメージング法は、スピンロックRFパルスの位相を180°変更するタイミングを、該スピンロックRFパルスの印加時間であるスピンロック時間(TSL)の半分(TSL/2)の前後にシフトするシフト時間を設定するタイミング設定部を備え、計測制御部は、スピンロックRFパルスの位相を、シフト時間で設定されたタイミングで180°変更する。つまり、スピンロックRFパルス203の印加時間の中心(TSL/2)からΔtだけ増減したタイミングで、スピンロックRFパルス203の位相を180°変更する。 As described above, in the MRI apparatus and the T1ρ imaging method of the first embodiment, the timing for changing the phase of the spinlock RF pulse by 180 ° is the spinlock time (T SL ) that is the application time of the spinlock RF pulse. And a timing setting unit that sets a shift time for shifting to about half (T SL / 2), and the measurement control unit changes the phase of the spin lock RF pulse by 180 ° at the timing set by the shift time. That is, the phase of the spin lock RF pulse 203 is changed by 180 ° at a timing that is increased or decreased by Δt from the center (T SL / 2) of the application time of the spin lock RF pulse 203.

これにより、スピンロックRFパルス203の印加強度が時間的に変動しても、スピンロックRFパルス203の印加強度の空間不均一を補償でき、T1ρ強調画像にアーチファクトが発生することを防ぐことが可能になる。   As a result, even if the application intensity of the spin lock RF pulse 203 fluctuates over time, it is possible to compensate for the spatial nonuniformity of the application intensity of the spin lock RF pulse 203 and to prevent occurrence of artifacts in the T1ρ-weighted image. become.

具体的には、スピンロックするためには数十msを越えるような長時間のRFパルス出力が必要な為、RFアンプの出力特性によっては、一定の出力を長時間維持することが困難で出力に多少の変動があるような場合でも、この影響によるT1ρ値の変動を補償し、結果としてT1ρ強調画像においては高い再現性を保ち、T1ρ値画像においては定量性を向上させることができる。   Specifically, in order to achieve spin lock, a long RF pulse output exceeding several tens of ms is required, so depending on the output characteristics of the RF amplifier, it is difficult to maintain a constant output for a long time. Even if there is a slight fluctuation, the fluctuation of the T1ρ value due to this influence can be compensated, and as a result, high reproducibility can be maintained in the T1ρ-weighted image, and quantitativeness can be improved in the T1ρ value image.

(実施例2)
次に、本発明のMRI装置及びT1ρイメージング法についての実施例2を説明する。本実施例2は、スピンロックRFパルス203の位相を途中で変更することなく、スピンロックRFパルス203の印加時間の中心(TSL/2)からΔtだけ増減したタイミングで、180°パルスを印加する。以下、図5(b)と図7に基づいて本実施例2を詳細に説明する。
(Example 2)
Next, a second embodiment of the MRI apparatus and T1ρ imaging method of the present invention will be described. In Example 2, a 180 ° pulse is applied at a timing that is increased or decreased by Δt from the center (T SL / 2) of the application time of the spin lock RF pulse 203 without changing the phase of the spin lock RF pulse 203 in the middle. To do. Hereinafter, the second embodiment will be described in detail based on FIG. 5 (b) and FIG.

最初に、図5(b)を用いて、本実施例2の概要を説明する。図5(b)は、スピンロックRFパルス203の印加時間の中心(TSL/2)からΔtだけ増減したタイミングで180°パルスを印加する例を示す図である。具体的には、全体のスピンロックRFパルス(+yパルス)の印加時間TSLを同一にする条件の下で、180°パルスを印加するタイミングを(TSL/2)からΔtだけ早めて、前半の+yパルス203-1の印加開始から180°パルスの中心までの時間をTSL/2-Δtとし、後半の180°パルスの中心から+yパルス203-2の印加終了までの時間をTSL/2+Δtとする。 First, the outline of the second embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 5 (b) is a diagram showing an example in which a 180 ° pulse is applied at a timing increased or decreased by Δt from the center (T SL / 2) of the application time of the spin lock RF pulse 203. Specifically, under the condition that the application time T SL of the entire spin lock RF pulse (+ y pulse) is the same, the timing of applying the 180 ° pulse is advanced by Δt from (T SL / 2), The time from the start of + y pulse 203-1 application to the center of the 180 ° pulse in the first half is T SL / 2-Δt, and the time from the center of the latter 180 ° pulse to the end of application of the + y pulse 203-2 T SL / 2 + Δt.

このシフト時間Δtは、前述の実施例1と同様に、計測条件に応じて調整する必要があるが、主に、スピンロック時間(TSL)やRFアンプの特性に依存する値である。 The shift time Δt needs to be adjusted according to the measurement conditions, as in the first embodiment, but is a value mainly depending on the spin lock time (T SL ) and the characteristics of the RF amplifier.

次に、本実施例2のT1ρイメージング法を実現するための演算処理部114の各機能を図7(a)に示す機能ブロック図に基づいて説明する。本実施例2の演算処理部114の各機能は、前述の実施例1で説明した図6(a)に示した位相変更タイミング設定部604の代わりに、180°パルス印加タイミング設定部614を備える。他の機能は、前述の実施例1と同じである。以下、前述の実施例1と異なる機能のみ説明し、同一の機能の説明を省略する。   Next, each function of the arithmetic processing unit 114 for realizing the T1ρ imaging method of the second embodiment will be described based on a functional block diagram shown in FIG. Each function of the arithmetic processing unit 114 of the second embodiment includes a 180 ° pulse application timing setting unit 614 instead of the phase change timing setting unit 604 illustrated in FIG. 6A described in the first embodiment. . Other functions are the same as those of the first embodiment. Hereinafter, only functions different from those of the first embodiment will be described, and description of the same functions will be omitted.

180°パルス印加タイミング設定部614は、スピンロック時間設定部602で設定されたスピンロック時間(TSL)と、RFアンプ利得設定部603で設定されたRFアンプ利得と、に基づいて、スピンロック時間の中心(TSL/2)の前後で180°パルスを印加するタイミングについてのシフト時間である、該スピンロック時間の中心(TSL/2)から増減させる時間Δtを設定する。具体的設定方法は、前述の実施例1の位相変更タイミング設定部604での設定方法と同じである。 The 180 ° pulse application timing setting unit 614 is based on the spin lock time (T SL ) set by the spin lock time setting unit 602 and the RF amplifier gain set by the RF amplifier gain setting unit 603. a shift time for the timing of applying the 180 ° pulses before and after the center of the time (T SL / 2), setting the time Δt is increased or decreased from the center of the spin lock time (T SL / 2). A specific setting method is the same as the setting method in the phase change timing setting unit 604 of the first embodiment.

次に、上記各機能部が連携して行なう本実施例2の処理フローを図7(b)に示すフローチャートに基づいて説明する。本処理フローは、予めプログラムとして内部記憶装置115に記憶されており、演算処理部114が内部記憶装置115からそのプログラムを読み込んで実行することにより実施される。本実施例2の処理フローは、前述の実施例1で説明した図6(b)に示したステップ654の代わりに、ステップ664を備える。他のステップは、前述の実施例1と同じである。以下、前述の実施例1と異なるステップのみ説明し、同一のステップの説明を省略する。   Next, the processing flow of the second embodiment performed in cooperation with the above functional units will be described based on the flowchart shown in FIG. This processing flow is stored in advance in the internal storage device 115 as a program, and is executed by the arithmetic processing unit 114 reading the program from the internal storage device 115 and executing it. The processing flow of the second embodiment includes a step 664 instead of the step 654 shown in FIG. 6B described in the first embodiment. Other steps are the same as those in the first embodiment. Hereinafter, only steps different from those of the first embodiment will be described, and description of the same steps will be omitted.

ステップ664で、180°パルス印加タイミング設定部614は、テップ652で設定されたスピンロック時間(TSL)と、ステップ653で設定されたRFアンプ利得とに基づいて、180°パルスを印加するタイミングについてのシフト時間Δtを設定する。具体的設定方法については前述したとおりである。
以上までが、本実施例2の処理フローの説明である。
In step 664, the 180 ° pulse application timing setting unit 614 applies a 180 ° pulse based on the spin lock time (T SL ) set in step 652 and the RF amplifier gain set in step 653. Set the shift time Δt for. The specific setting method is as described above.
The above is the description of the processing flow of the second embodiment.

以上説明したように、本実施例2のMRI装置及びT1ρイメージング法は、180°パルスを印加するタイミングを、スピンロックRFパルスの印加時間であるスピンロック時間(TSL)の半分(TSL/2)の前後にシフトするシフト時間を設定するタイミング設定部を備え、計測制御部は、スピンロックRFパルスの印加中に、シフト時間で設定されたタイミングで前記180°パルスを印加する。つまり、スピンロックRFパルスの印加時間の中心(半分)(TSL/2)からΔtだけ増減したタイミングで、180°パルスを印加する。 As described above, in the MRI apparatus and the T1ρ imaging method of the second embodiment, the timing of applying the 180 ° pulse is half the spin lock time (T SL ) that is the spin lock RF pulse application time (T SL / A timing setting unit for setting a shift time for shifting before and after 2) is provided, and the measurement control unit applies the 180 ° pulse at a timing set by the shift time during application of the spin lock RF pulse. That is, the 180 ° pulse is applied at a timing that is increased or decreased by Δt from the center (half) (T SL / 2) of the application time of the spin lock RF pulse.

これにより、前述の実施例1のスピンロックRFパルスの180°位相を変更することと同様に、スピンロックRFパルスの印加強度が時間的に変動しても、スピンロックRFパルスの印加強度の空間不均一を補償でき、T1ρ強調画像にアーチファクトが発生することを防ぐことが可能になる。   As a result, as in the case of changing the 180 ° phase of the spin-lock RF pulse in Example 1 described above, even if the application intensity of the spin-lock RF pulse fluctuates with time, the space of the application intensity of the spin-lock RF pulse can be changed. Nonuniformity can be compensated, and artifacts can be prevented from occurring in the T1ρ-weighted image.

(実施例3)
次に、本発明のMRI装置及びT1ρイメージング法についての実施例3を説明する。本実施例3は、シフト時間Δtの最適値を求める準備計測をT1ρシーケンス実行の前に実行する。この準備計測では、スピンロックRFパルス203の印加時間の中心(TSL/2)の前後でシフト時間Δtを複数回変更して、それぞれエコー信号又はFID信号を取得し、その強度が最大になるΔtをシフト時間Δtの値とする。以下、前述の実施例1で説明したスピンロックRFパルスの位相を180°変更する場合を例に本実施例3を詳細に説明するが、前述の実施例2で説明した180°パルスを印加する場合にもついても同様である。
(Example 3)
Next, a third embodiment of the MRI apparatus and T1ρ imaging method of the present invention will be described. In the third embodiment, the preparation measurement for obtaining the optimum value of the shift time Δt is executed before the execution of the T1ρ sequence. In this preparatory measurement, the shift time Δt is changed multiple times before and after the center of the application time of the spin lock RF pulse 203 (T SL / 2), and the echo signal or the FID signal is acquired respectively, and the intensity is maximized. Let Δt be the value of the shift time Δt. Hereinafter, the third embodiment will be described in detail by taking the case where the phase of the spin lock RF pulse described in the first embodiment is changed by 180 ° as an example. The 180 ° pulse described in the second embodiment is applied. The same applies to the case.

最初に、準備計測について図8に基づいて説明する。図8は、スピンロック時間の中心(TSL/2)の前後で、単位時間τを単位としてシフト時間Δtを複数回変更して、それぞれエコー信号又はFID信号を取得するシーケンスチャートを示す。図8(a)は、シフト時間Δt=3τの場合、つまり、前半の+yパルス203-1の印加時間をTSL/2-3τとし、後半の-yパルス203-2の印加時間をTSL/2+3τとする例を示す。図8(b)は、シフト時間Δt=2τの場合、つまり、前半の+yパルス203-1の印加時間をTSL/2-2τとし、後半の-yパルス203-2の印加時間をTSL/2+2τとする例を示す。図8(c)は、シフト時間Δt=τの場合、つまり、前半の+yパルス203-1の印加時間をTSL/2-τとし、後半の-yパルス203-2の印加時間をTSL/2+τとする例を示す。いずれもこのようにシフト時間Δtが設定されたスピンロックシーケンス部201の後に、本計測シーケンス部211で、読み出し傾斜磁場801を印加してFID信号又は勾配エコー信号802が計測される。 First, preparation measurement will be described with reference to FIG. FIG. 8 shows a sequence chart in which the shift time Δt is changed a plurality of times with the unit time τ as a unit before and after the center of the spin lock time (T SL / 2), and the echo signal or the FID signal is respectively acquired. FIG. 8 (a) shows the case where the shift time Δt = 3τ, that is, the application time of the first + y pulse 203-1 is T SL / 2-3τ, and the application time of the second half -y pulse 203-2 is T An example of SL / 2 + 3τ is shown. FIG. 8 (b) shows the case where the shift time Δt = 2τ, that is, the application time of the first + y pulse 203-1 is T SL / 2-2τ, and the application time of the second -y pulse 203-2 is T An example of SL / 2 + 2τ is shown. FIG. 8 (c) shows the case where the shift time Δt = τ, that is, the application time of the first + y pulse 203-1 is T SL / 2-τ and the application time of the second -y pulse 203-2 is T An example of SL / 2 + τ is shown. In any case, after the spin lock sequence unit 201 in which the shift time Δt is set in this way, the measurement sequence unit 211 applies the readout gradient magnetic field 801 and measures the FID signal or the gradient echo signal 802.

以上のようにして、計測された各FID信号又は勾配エコー信号の信号強度と、シフト時間Δtとの関係をグラフで示した例を図9に示す。曲線901は、各実測値のプロット点を近似する曲線であり、この近似曲線901の最大値902に対応するΔt(図9の例ではやく1.5τ)903をシフト時間Δtの最適値とする。   FIG. 9 shows an example in which the relationship between the signal strength of each FID signal or gradient echo signal measured as described above and the shift time Δt is shown in a graph. A curve 901 is a curve that approximates the plot points of each measured value, and Δt (1.5τ in the example of FIG. 9) 903 corresponding to the maximum value 902 of the approximate curve 901 is set as the optimum value of the shift time Δt.

次に、本実施例3のT1ρイメージング法を実現するための演算処理部114の各機能を、図10(a)に示す機能ブロック図に基づいてを説明する。本実施例3の演算処理部114の各機能は、前述の実施例1と同様であり、図6(a)に示す機能ブロック図と同じであるが、位相変更タイミング設定部604及びT1ρシーケンス設定部605の機能が異なる。その結果、位相変更タイミング設定部604、T1ρシーケンス設定部605及び計測制御部111間のデータの流れが双方向となる。以下、前述の実施例1と異なる機能のみ説明し、同一の機能の説明を省略する。   Next, each function of the arithmetic processing unit 114 for realizing the T1ρ imaging method of the third embodiment will be described based on the functional block diagram shown in FIG. Each function of the arithmetic processing unit 114 of the third embodiment is the same as that of the first embodiment, and is the same as the functional block diagram shown in FIG. 6 (a), but the phase change timing setting unit 604 and the T1ρ sequence setting. The function of the part 605 is different. As a result, the data flow among the phase change timing setting unit 604, the T1ρ sequence setting unit 605, and the measurement control unit 111 is bidirectional. Hereinafter, only functions different from those of the first embodiment will be described, and description of the same functions will be omitted.

位相変更タイミング設定部604は、シフト時間Δtの最適値を求めるために、以下の処理を行う。   The phase change timing setting unit 604 performs the following processing in order to obtain the optimum value of the shift time Δt.

1)単位時間τの整数(m=0、±1、±2、‥)倍の値をシフト時間Δt=mτと仮設定して、T1ρシーケンス設定部605にこのシフト時間mτでの準備計測を実行させる。
2)計測されたFID信号又はエコー信号のデータからその信号強度を求める。
3)上記1)と2)の処理を、整数mを変更して繰り返す。
4)整数(m)値毎に得られた信号強度の変化を近似する曲線901を求め、該求めた曲線が最大となる値902に対応する時間903をシフト時間Δtの最適値とする。
1) A value that is an integer multiple of unit time τ (m = 0, ± 1, ± 2,...) Is temporarily set as shift time Δt = mτ, and T1ρ sequence setting unit 605 performs preliminary measurement at this shift time mτ. Let it run.
2) Obtain the signal strength from the measured FID signal or echo signal data.
3) Repeat steps 1) and 2) above, changing the integer m.
4) A curve 901 that approximates the change in signal intensity obtained for each integer (m) value is obtained, and the time 903 corresponding to the value 902 at which the obtained curve is maximum is set as the optimum value of the shift time Δt.

ここで、単位時間τは、予め内部記憶部115又は外部記憶部117に記憶された時間をτとして用いても良い。或いは、前述の実施例1の位相変更タイミング設定部604でのシフト時間Δtの設定方法と同じ方法で求めたシフト時間を候補値Δtcndとして、単位時間τをシフト時間の候補値Δtcndの自然数n分の一としてもよい。すなわち、τ=Δtcnd/nとしても良い。 Here, as the unit time τ, a time previously stored in the internal storage unit 115 or the external storage unit 117 may be used as τ. Alternatively, the shift time obtained by the same method as the method for setting the shift time Δt in the phase change timing setting unit 604 of the first embodiment is set as the candidate value Δt cnd and the unit time τ is a natural number of the shift time candidate value Δt cnd It may be 1 / n. That is, τ = Δt cnd / n may be set.

T1ρシーケンス設定部605は、位相変更タイミング設定部604により設定されたシフト時間Δtの仮設定値で、図5(a)に示すT1ρシーケンスの各種制御値を具体的に生成して、計測制御部111に通知して準備計測シーケンスを実行させる。そして、計測して得られたFID信号又はエコー信号のデータを位相変更タイミング設定部604に通知する。また、位相変更タイミング設定部604より設定されたシフト時間Δtの最適値で、図5(a)に示すT1ρシーケンスの各種制御値を具体的に生成して、計測制御部111に通知して本計測シーケンスを実行させる。   The T1ρ sequence setting unit 605 is a temporary setting value of the shift time Δt set by the phase change timing setting unit 604, and specifically generates various control values of the T1ρ sequence shown in FIG. Notify 111 to execute the preparation measurement sequence. Then, the phase change timing setting unit 604 is notified of the data of the FID signal or echo signal obtained by the measurement. Also, various control values of the T1ρ sequence shown in FIG. 5 (a) are specifically generated with the optimum value of the shift time Δt set by the phase change timing setting unit 604, and notified to the measurement control unit 111 to be Run the measurement sequence.

次に、上記各機能部が連携して行なう本実施例3の処理フローを図10(b)に示すフローチャートに基づいて説明する。本処理フローは、予めプログラムとして内部記憶装置115に記憶されており、演算処理部114が内部記憶装置115からそのプログラムを読み込んで実行することにより実施される。本実施例3の本処理フローは、前述の実施例1で説明した図6(b)に示したステップ654の代わりにステップ674を備え、さらにステップ676、ステップ677、ステップ678を備える。他のステップは、前述の実施例1と同じである。以下、前述の実施例1と異なるステップのみ説明し、同一のステップの説明を省略する。   Next, the processing flow of the third embodiment performed in cooperation with the above functional units will be described based on the flowchart shown in FIG. This processing flow is stored in advance in the internal storage device 115 as a program, and is executed by the arithmetic processing unit 114 reading the program from the internal storage device 115 and executing it. The processing flow of the third embodiment includes step 674 instead of step 654 shown in FIG. 6B described in the first embodiment, and further includes steps 676, 677, and 678. Other steps are the same as those in the first embodiment. Hereinafter, only steps different from those of the first embodiment will be described, and description of the same steps will be omitted.

ステップ674で、位相変更タイミング設定部604は、ステップ652で設定されたスピンロック時間(TSL)と、ステップ653で設定されたRFアンプ利得とに基づいて、準備計測のための、スピンロックRFパルス203の位相を180°変更するタイミングについての単位時間τを設定する。具体的設定方法は前述したとおりである。そして、位相変更タイミング設定部604は、単位時間τの整数(m)倍の値をシフト時間Δt=mτと仮設定して、T1ρシーケンス設定部605に通知して、T1ρシーケンス設定部605にこのシフト時間mτでの準備計測を実行させる。 In step 674, the phase change timing setting unit 604 performs spin lock RF for preparatory measurement based on the spin lock time (T SL ) set in step 652 and the RF amplifier gain set in step 653. A unit time τ is set for the timing of changing the phase of the pulse 203 by 180 °. The specific setting method is as described above. Then, the phase change timing setting unit 604 temporarily sets a value that is an integer (m) times the unit time τ as the shift time Δt = mτ, notifies the T1ρ sequence setting unit 605, and notifies the T1ρ sequence setting unit 605 Preparation measurement is executed at the shift time mτ.

ステップ675で、撮像条件設定部605は、ステップ651で設定された撮像条件と、ステップ652で設定されたスピンロック時間(TSL)と、ステップ653で設定されたRFアンプ利得と、ステップ674で仮設定されたシフト時間Δt=mτと、に基づいて、図5(a)に示すT1ρシーケンスを準備計測シーケンスとして、その各種制御値を具体的に生成して、計測制御部111に通知して準備計測シーケンスを実行させる。 In step 675, the imaging condition setting unit 605, the imaging condition set in step 651, the spin lock time (T SL ) set in step 652, the RF amplifier gain set in step 653, and the step 674 Based on the temporarily set shift time Δt = mτ, the T1ρ sequence shown in FIG. 5 (a) is used as a preparation measurement sequence, and various control values are specifically generated and notified to the measurement control unit 111. Run the preparatory measurement sequence.

ステップ676で、計測制御部111は、ステップ675で設定された準備計測シーケンスを実行し、計測したFID信号又はエコー信号のデータを、T1ρシーケンス設定部605を介して位相変更タイミング設定部604に通知する。   In step 676, the measurement control unit 111 executes the preparation measurement sequence set in step 675, and notifies the phase change timing setting unit 604 of the measured FID signal or echo signal data via the T1ρ sequence setting unit 605. To do.

ステップ677で、位相変更タイミング設定部604は、シフト時間Δt=mτのmを変更して準備計測を繰り返す回数が、終了したか否か判定し、終了していなければ(No)、mを変えてステップ674に移行する。終了していれば(Yes)、ステップ656に移行する。   In Step 677, the phase change timing setting unit 604 determines whether or not the number of times of repeating the preparation measurement by changing m of the shift time Δt = mτ is finished, and if not finished (No), m is changed. To step 674. If completed (Yes), the process proceeds to step 656.

ステップ678で、位相変更タイミング設定部604は、整数(m)値毎に計測されたFID信号又はエコー信号のデータからそれぞれ信号強度を求め、整数(m)値毎に得られた信号強度の変化を近似する曲線901を求め、該求めた曲線901が最大値902となる時間903をシフト時間の最適値とする。そして、求めたシフト時間Δtの最適値をT1ρシーケンス設定部605に通知する。   In step 678, the phase change timing setting unit 604 obtains the signal strength from the FID signal or echo signal data measured for each integer (m) value, and the change in signal strength obtained for each integer (m) value. Is obtained, and a time 903 at which the obtained curve 901 is the maximum value 902 is determined as the optimum value of the shift time. Then, the optimum value of the obtained shift time Δt is notified to the T1ρ sequence setting unit 605.

ステップ656で、T1ρシーケンス設定部605は、ステップ658で算出されたシフト時間Δtの最適値を用いて、図5(a)に示すT1ρシーケンスの各種制御値を具体的に生成して、計測制御部111に通知してT1ρシーケンスを実行させる。   In step 656, the T1ρ sequence setting unit 605 uses the optimum value of the shift time Δt calculated in step 658 to specifically generate various control values for the T1ρ sequence shown in FIG. The unit 111 is notified to execute the T1ρ sequence.

以上までが、本実施例3の処理フローの説明である。   The above is the description of the processing flow of the third embodiment.

なお、T1ρ値画像を得る為には、スピンロックRFパルスを印加する時間であるスピンロック時間(TSL)を変更して、T1ρ強調度の異なるT1ρ強調画像を複数回撮像する必要がある。スピンロック時間(TSL)を変更するとスピンロックRFパルスの印加強度の時間的変動も変化するので、スピンロック時間(TSL)を変化させる毎に本実施例3の準備計測を実行してシフト時間Δtの最適値を求めることによって、より最適なT1ρ値画像を得ることができる。 In order to obtain a T1ρ value image, it is necessary to change the spin lock time (T SL ), which is the time for applying the spin lock RF pulse, and to capture T1ρ emphasized images having different T1ρ enhancement degrees a plurality of times. When the spin lock time (T SL ) is changed, the temporal variation of the spin lock RF pulse application intensity also changes, so every time the spin lock time (T SL ) is changed, the preparation measurement of Example 3 is executed and shifted. By obtaining the optimum value of time Δt, a more optimum T1ρ value image can be obtained.

以上説明したように、本実施例3のMRI装置及びT1ρイメージング法は、スピンロック時間の中心(TSL/2)の前後でシフト時間Δtを複数回変更して、それぞれFID信号又はエコー信号を取得し、その強度が最大になるΔtをシフト時間Δtの最適値とする。これにより、照射RF磁場の空間不均一を最適に補償でき、T1ρ強調画像にアーチファクトが発生することを防ぐことが可能になる。 As described above, the MRI apparatus and the T1ρ imaging method of the third embodiment change the shift time Δt a plurality of times before and after the center of the spin lock time (T SL / 2), and respectively change the FID signal or the echo signal. Acquired and Δt at which the intensity is maximum is set as the optimum value of the shift time Δt. As a result, the spatial nonuniformity of the irradiation RF magnetic field can be optimally compensated, and artifacts can be prevented from occurring in the T1ρ-weighted image.

(実施例4)
次に、本発明のMRI装置及びT1ρイメージング法についての実施例4を説明する。本実施例4は、T1ρシーケンスの撮像パラメータ値とシフト時間Δtの実測値との関係を予め記憶しておき、該関係に基づいて、設定入力されたT1ρシーケンスの撮像パラメータ値に応じて、シフト時間Δtを求める。以下、前述の実施例1で説明したスピンロックRFパルスの位相を180°変更する場合を例に本実施例4を詳細に説明するが、前述の実施例2で説明した180°パルスを印加する場合にもついても同様である。
(Example 4)
Next, a fourth embodiment of the MRI apparatus and T1ρ imaging method of the present invention will be described. In the fourth embodiment, the relationship between the imaging parameter value of the T1ρ sequence and the actually measured value of the shift time Δt is stored in advance, and based on the relationship, the shift is performed according to the imaging parameter value of the set input T1ρ sequence. Find the time Δt. Hereinafter, the present Example 4 will be described in detail by taking as an example the case where the phase of the spin-lock RF pulse described in Example 1 is changed by 180 °, but the 180 ° pulse described in Example 2 is applied. The same applies to the case.

最初に、T1ρシーケンスの撮像パラメータ値とシフト時間Δtの実測値との関係について説明する。   First, the relationship between the imaging parameter value of the T1ρ sequence and the actually measured value of the shift time Δt will be described.

前述の実施例1〜3により、T1ρシーケンスの撮像パラメータ値とシフト時間Δtの実測値との関係が、個別に撮像毎に求められる。これら個別に撮像毎に求められたシフト時間Δtの実測値をT1ρシーケンスの撮像パラメータ値に関連付けて内部記憶部115又は外部記憶部117に記憶しておく。   According to the above-described Examples 1 to 3, the relationship between the imaging parameter value of the T1ρ sequence and the actually measured value of the shift time Δt is individually obtained for each imaging. These actually measured values of the shift time Δt obtained for each imaging are stored in the internal storage unit 115 or the external storage unit 117 in association with the imaging parameter values of the T1ρ sequence.

そして、別の新規撮像時においては、入力設定されたT1ρシーケンスの撮像パラメータ値を基に、内部記憶部115又は外部記憶部117に記憶されたシフト時間Δtの値を検索し、入力設定されたT1ρシーケンスの撮像パラメータ値に一致する、或いは、最も近い撮像パラメータの値に対応するシフト時間Δtの値を取得する。この取得したシフト時間Δtの値を用いてT1ρシーケンスを生成して、実行する。   At the time of another new imaging, the value of the shift time Δt stored in the internal storage unit 115 or the external storage unit 117 is searched based on the imaging parameter value of the T1ρ sequence that has been input and set. The value of the shift time Δt corresponding to the imaging parameter value of the T1ρ sequence or corresponding to the closest imaging parameter value is acquired. A T1ρ sequence is generated and executed using the acquired value of the shift time Δt.

なお、内部記憶部115又は外部記憶部117に、入力設定されたT1ρシーケンスの撮像パラメータ値に対応するシフト時間Δtの値が無い場合には、前述の実施例1〜3を実施して、該入力設定されたT1ρシーケンスの撮像パラメータ値に対応するシフト時間Δtを新たに求める。そして、この求めた値を該入力設定されたT1ρシーケンスの撮像パラメータ値に対応付けて内部記憶部115又は外部記憶部117に記憶する。   In the case where the internal storage unit 115 or the external storage unit 117 does not have the value of the shift time Δt corresponding to the imaging parameter value of the input T1ρ sequence, the above-described Examples 1 to 3 are performed, A shift time Δt corresponding to the imaging parameter value of the input T1ρ sequence is newly obtained. Then, the obtained value is stored in the internal storage unit 115 or the external storage unit 117 in association with the imaging parameter value of the T1ρ sequence that has been input and set.

前述したように、シフト時間Δtに主に関連する撮像パラメータは、スピンロック時間(TSL)とRFアンプ利得であるので、これらの値とシフト時間Δtの実測値とを対応付けて記憶しておく。 As described above, since the imaging parameters mainly related to the shift time Δt are the spin lock time (T SL ) and the RF amplifier gain, these values and the measured values of the shift time Δt are stored in association with each other. deep.

次に、本実施例4のT1ρイメージング法を実現するための演算処理部114の各機能を、図11(a)に示す機能ブロック図に基づいて説明する。本実施例4に係る演算処理部114は、前述の実施例1で説明した各機能の内で、スピンロック時間設定部602と、RFアンプ利得設定部603が無く、位相変更タイミング設定部604の処理内容が異なる。以下、前述の実施例1と異なる機能のみ説明し、同一の機能の説明を省略する。   Next, each function of the arithmetic processing unit 114 for realizing the T1ρ imaging method of the fourth embodiment will be described based on the functional block diagram shown in FIG. The arithmetic processing unit 114 according to the fourth embodiment does not include the spin lock time setting unit 602 and the RF amplifier gain setting unit 603 among the functions described in the first embodiment, and includes the phase change timing setting unit 604. Processing contents are different. Hereinafter, only functions different from those of the first embodiment will be described, and description of the same functions will be omitted.

位相変更タイミング設定部604は、入力設定されたT1ρシーケンスの撮像パラメータ値を基に、内部記憶部115又は外部記憶部117に記憶されたシフト時間Δtの値を検索し、入力設定されたT1ρシーケンスの撮像パラメータ値に対応するシフト時間Δtの値を取得して、その値をシフト時間Δtとする。   The phase change timing setting unit 604 searches for the value of the shift time Δt stored in the internal storage unit 115 or the external storage unit 117 based on the imaging parameter value of the input T1ρ sequence, and inputs the set T1ρ sequence. The value of the shift time Δt corresponding to the imaging parameter value is acquired, and the value is set as the shift time Δt.

入力設定されたT1ρシーケンスの撮像パラメータ値に一致する撮像パラメータの値が内部記憶部115又は外部記憶部117に記憶されていない場合には、入力設定されたT1ρシーケンスの撮像パラメータ値に近い撮像パラメータの値に対応するシフト時間Δtの値を取得して、撮像条件の補間によりシフト時間Δtを求める。或いは、本実施例4を中断して、前述の実施例1〜4を実施して、新たにシフト時間Δtを求め、この求めた値を入力設定されたT1ρシーケンスの撮像パラメータ値に対応付けて内部記憶部115又は外部記憶部117に記憶する。   When the imaging parameter value that matches the imaging parameter value of the input T1ρ sequence is not stored in the internal storage unit 115 or the external storage unit 117, the imaging parameter close to the imaging parameter value of the input T1ρ sequence The value of the shift time Δt corresponding to the value of is acquired, and the shift time Δt is obtained by interpolation of the imaging conditions. Alternatively, the fourth embodiment is interrupted and the first to fourth embodiments described above are performed to newly determine the shift time Δt, and this calculated value is associated with the imaging parameter value of the input T1ρ sequence. The data is stored in the internal storage unit 115 or the external storage unit 117.

次に、上記各機能部が連携して行なう本実施例4の処理フローを図11(b)に示すフローチャートに基づいて説明する。本処理フローは、予めプログラムとして内部記憶装置115に記憶されており、演算処理部114が内部記憶装置115からそのプログラムを読み込んで実行することにより実施される。本実施例4の処理フローは、前述の実施例1で説明した図6(b)に示したステップ654の代わりに、ステップ684を備え、ステップ652,653が無い。他のステップは、前述の実施例1と同じである。以下、前述の実施例1と異なるステップのみ説明し、同一のステップの説明を省略する。   Next, the processing flow of the fourth embodiment performed in cooperation with the above functional units will be described with reference to the flowchart shown in FIG. This processing flow is stored in advance in the internal storage device 115 as a program, and is executed by the arithmetic processing unit 114 reading the program from the internal storage device 115 and executing it. The processing flow of the fourth embodiment includes step 684 instead of step 654 shown in FIG. 6B described in the first embodiment and does not include steps 652 and 653. Other steps are the same as those in the first embodiment. Hereinafter, only steps different from those of the first embodiment will be described, and description of the same steps will be omitted.

ステップ684で、位相変更タイミング設定部604は、ステップ651で設定されたT1ρシーケンスの撮像パラメータ値に基づいて、内部記憶部115又は外部記憶部117に記憶されたシフト時間Δtの値を検索し、入力設定されたT1ρシーケンスの撮像パラメータ値に一致する、或いは、補間により求めた撮像パラメータ値に対応するシフト時間Δtの値を取得して、その値をシフト時間Δtとする。   In step 684, the phase change timing setting unit 604 searches for the value of the shift time Δt stored in the internal storage unit 115 or the external storage unit 117 based on the imaging parameter value of the T1ρ sequence set in step 651, The value of the shift time Δt that corresponds to the imaging parameter value of the T1ρ sequence that has been input or that corresponds to the imaging parameter value obtained by interpolation is acquired, and that value is taken as the shift time Δt.

なお、入力設定されたT1ρシーケンスの撮像パラメータ値に一致する撮像パラメータの値が内部記憶部115又は外部記憶部117に記憶されていない場合には、本処理フローを中断して、前述の実施例1〜3のいずれかに移行してもよい。
以上までが、本実施例4の処理フローの説明である。
Note that if the imaging parameter value that matches the imaging parameter value of the input T1ρ sequence is not stored in the internal storage unit 115 or the external storage unit 117, this processing flow is interrupted, and the above-described embodiment You may transfer to any one of 1-3.
The above is the description of the processing flow of the fourth embodiment.

以上説明したように、本実施例4のMRI装置及びT1ρイメージング法は、T1ρシーケンスの撮像パラメータ値とシフト時間とを対応付けて記憶する記憶部を備え、タイミング設定部は、記憶部から、入力された前記T1ρシーケンスの撮像パラメータ値に対応するシフト時間を取得して、該取得したシフト時間を前記シフト時間とする。つまり、T1ρシーケンスの撮像パラメータ値とシフト時間Δtの実測値との関係を予め記憶しておき、該関係に基づいて、設定入力されたT1ρシーケンスの撮像パラメータ値に応じてシフト時間Δtを求める。これにより、別途シフト時間Δtを求める計算や準備計測を行う必要がなくなり、簡易に、照射RF磁場が時間的に変動しても、照射RF磁場の空間不均一を補償でき、T1ρ強調画像にアーチファクトが発生することを防ぐことが可能になる。   As described above, the MRI apparatus and the T1ρ imaging method of the fourth embodiment include the storage unit that stores the imaging parameter value of the T1ρ sequence and the shift time in association with each other, and the timing setting unit is input from the storage unit. The shift time corresponding to the imaging parameter value of the T1ρ sequence thus obtained is acquired, and the acquired shift time is set as the shift time. That is, the relationship between the imaging parameter value of the T1ρ sequence and the actually measured value of the shift time Δt is stored in advance, and the shift time Δt is obtained based on the input imaging parameter value of the T1ρ sequence based on the relationship. This eliminates the need for separate calculation and preparatory measurement to determine the shift time Δt, and even if the irradiation RF magnetic field fluctuates over time, it can compensate for the spatial nonuniformity of the irradiation RF magnetic field, resulting in artifacts in the T1ρ-weighted image. Can be prevented from occurring.

以上、本発明の各実施例を説明したが、本発明はこれらの各実施例に限定されることは無い。例えば、RFアンプ利得の特性が、時間と共に増加する場合には、スピンロックパルスの位相を180°変更するタイミング又は180°パルスを印加するタイミングは、スピンロック時間の中心(TSL/2)以後になる。つまり、シフト時間Δtはマイナスの値になる。 While the embodiments of the present invention have been described above, the present invention is not limited to these embodiments. For example, when the RF amplifier gain characteristics increase with time, the timing to change the phase of the spin lock pulse by 180 ° or the timing to apply the 180 ° pulse is after the center of the spin lock time (T SL / 2) become. That is, the shift time Δt has a negative value.

101 被検体、102 静磁場発生磁石、103 傾斜磁場コイル、104 送信RFコイル、105 RF受信コイル、106 寝台、107 信号処理部、108 全体制御部、109 傾斜磁場電源、110 RF送信部、111 計測制御部、113 表示・操作部、114 演算処理部(CPU)、115 内部記憶部、116 ネットワークIF、117 外部記憶部   101 subject, 102 static magnetic field generating magnet, 103 gradient magnetic field coil, 104 transmitting RF coil, 105 RF receiving coil, 106 bed, 107 signal processing unit, 108 overall control unit, 109 gradient magnetic field power source, 110 RF transmitting unit, 111 measurement Control unit, 113 Display / operation unit, 114 Arithmetic processing unit (CPU), 115 Internal storage unit, 116 Network IF, 117 External storage unit

Claims (8)

スピンロックRFパルスを発生させるためのRFアンプと、
前記スピンロックRFパルスを用いて被検体のスピンを回転座標系の有効磁場回りにスピンロックするためのスピンロックシーケンス部と、スピンロック中に時定数T1ρで減衰した磁化からのエコー信号を計測する本計測シーケンス部と、からなるT1ρシーケンスに基づいて、前記RFアンプを制御して、前記被検体からのエコー信号の計測を制御する計測制御部と、
前記エコー信号を用いて、前記被検体のT1ρ強調画像を取得する演算処理部と、
を備えた磁気共鳴イメージング装置であって、
前記スピンロックRFパルスの位相を180°変更するタイミングを、該スピンロックRFパルスの印加時間であるスピンロック時間(TSL)の半分(TSL/2)の前後にシフトするシフト時間を設定するタイミング設定部を備え、
前記計測制御部は、前記スピンロックRFパルスの位相を、前記シフト時間で設定されたタイミングで180°変更することを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
An RF amplifier for generating spin-locked RF pulses;
A spin-lock sequence unit for spin-locking the spin of the subject around the effective magnetic field of the rotating coordinate system using the spin-lock RF pulse, and an echo signal from magnetization attenuated by the time constant T1ρ during the spin-lock are measured. A measurement control unit that controls the measurement of an echo signal from the subject by controlling the RF amplifier based on a T1ρ sequence comprising the measurement sequence unit;
An arithmetic processing unit that acquires a T1ρ-weighted image of the subject using the echo signal;
A magnetic resonance imaging apparatus comprising:
A shift time for shifting the timing of changing the phase of the spin lock RF pulse by 180 ° to about half of the spin lock time (T SL ) that is the application time of the spin lock RF pulse (T SL / 2) is set. It has a timing setting unit,
The magnetic resonance imaging apparatus, wherein the measurement control unit changes the phase of the spin lock RF pulse by 180 ° at a timing set by the shift time.
スピンロックRFパルスを発生させるためのRFアンプと、
前記スピンロックRFパルスを用いて被検体のスピンを回転座標系の有効磁場回りにスピンロックするためのスピンロックシーケンス部と、スピンロック中に時定数T1ρで減衰した磁化からのエコー信号を計測する本計測シーケンス部と、からなるT1ρシーケンスに基づいて、前記RFアンプを制御して、前記被検体からのエコー信号の計測を制御する計測制御部と、
前記エコー信号を用いて、前記被検体のT1ρ強調画像を取得する演算処理部と、
を備えた磁気共鳴イメージング装置であって、
180°パルスを印加するタイミングを、前記スピンロックRFパルスの印加時間であるスピンロック時間(TSL)の半分(TSL/2)の前後にシフトするシフト時間を設定するタイミング設定部を備え、
前記計測制御部は、前記スピンロックRFパルスの印加中に、前記シフト時間で設定されたタイミングで前記180°パルスを印加することを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
An RF amplifier for generating spin-locked RF pulses;
A spin-lock sequence unit for spin-locking the spin of the subject around the effective magnetic field of the rotating coordinate system using the spin-lock RF pulse, and an echo signal from magnetization attenuated by the time constant T1ρ during the spin-lock are measured. A measurement control unit that controls the measurement of an echo signal from the subject by controlling the RF amplifier based on a T1ρ sequence comprising the measurement sequence unit;
An arithmetic processing unit that acquires a T1ρ-weighted image of the subject using the echo signal;
A magnetic resonance imaging apparatus comprising:
A timing setting unit for setting a shift time for shifting the timing of applying the 180 ° pulse to about half of the spin lock time (T SL ) that is the application time of the spin lock RF pulse (T SL / 2);
The measurement control unit applies the 180 ° pulse at a timing set by the shift time during the application of the spin lock RF pulse.
請求項1又は2記載の磁気共鳴イメージング装置において、
前記タイミング設定部は、前記シフト時間を変えて得られた複数のFID信号又はエコー信号の信号強度に基づいて、前記シフト時間の最適値を求めることを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
The magnetic resonance imaging apparatus according to claim 1 or 2,
The magnetic resonance imaging apparatus, wherein the timing setting unit obtains an optimum value of the shift time based on signal intensities of a plurality of FID signals or echo signals obtained by changing the shift time.
請求項3に記載の磁気共鳴イメージング装置において、
前記T1ρシーケンスの実行条件が変更される毎に、前記シフト時間の最適値を求めることを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
The magnetic resonance imaging apparatus according to claim 3.
The magnetic resonance imaging apparatus, wherein an optimum value of the shift time is obtained each time the execution condition of the T1ρ sequence is changed.
請求項1又は2記載の磁気共鳴イメージング装置において、
前記T1ρシーケンスの撮像パラメータ値と前記シフト時間とを対応付けて記憶する記憶部を備え、
前記タイミング設定部は、前記記憶部から、入力された前記T1ρシーケンスの撮像パラメータ値に対応するシフト時間を取得して、該取得したシフト時間を前記シフト時間とすることを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
The magnetic resonance imaging apparatus according to claim 1 or 2,
A storage unit that stores the imaging parameter value of the T1ρ sequence and the shift time in association with each other;
The timing setting unit acquires a shift time corresponding to the input imaging parameter value of the T1ρ sequence from the storage unit, and uses the acquired shift time as the shift time. apparatus.
請求項5記載の磁気共鳴イメージング装置において、
前記撮像パラメータ値は、前記スピンロック時間(TSL)と前記RFアンプの利得値の少なくとも一方を含むことを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
The magnetic resonance imaging apparatus according to claim 5.
The magnetic resonance imaging apparatus characterized in that the imaging parameter value includes at least one of the spin lock time (T SL ) and the gain value of the RF amplifier.
スピンロックRFパルスを用いて被検体のスピンを回転座標系の有効磁場回りにスピンロックするスピンロックステップと、
スピンロック中に時定数T1ρで減衰した磁化からのエコー信号を計測する計測ステップと、
前記エコー信号を用いて、前記被検体のT1ρ強調画像を取得するステップと、
を備え、
前記スピンロックステップでは、スピンロックRFパルスの印加時間であるスピンロック時間(TSL)の半分(TSL/2)の前後で、該スピンロックRFパルスの位相が180°変更されることを特徴とするT1ρイメージング法。
A spin lock step for spin-locking the spin of the subject around the effective magnetic field of the rotating coordinate system using a spin-lock RF pulse;
A measurement step for measuring an echo signal from magnetization attenuated by a time constant T1ρ during spin lock;
Obtaining a T1ρ-weighted image of the subject using the echo signal;
With
In the spin lock step, the phase of the spin lock RF pulse is changed by 180 ° before and after half of the spin lock time (T SL ) that is the application time of the spin lock RF pulse (T SL / 2). T1ρ imaging method.
スピンロックRFパルスを用いて被検体のスピンを回転座標系の有効磁場回りにスピンロックするスピンロックステップと、
スピンロック中に時定数T1ρで減衰した磁化からのエコー信号を計測する計測ステップと、
前記エコー信号を用いて、前記被検体のT1ρ強調画像を取得するステップと、
を備え、
前記スピンロックステップでは、スピンロックRFパルスの印加時間であるスピンロック時間(TSL)の半分(TSL/2)の前後で、180°パルスが印加されることを特徴とするT1ρイメージング法。
A spin lock step for spin-locking the spin of the subject around the effective magnetic field of the rotating coordinate system using a spin-lock RF pulse;
A measurement step for measuring an echo signal from magnetization attenuated by a time constant T1ρ during spin lock;
Obtaining a T1ρ-weighted image of the subject using the echo signal;
With
In the spin lock step, a 180 ° pulse is applied before and after half (T SL / 2) of a spin lock time (T SL ) that is an application time of a spin lock RF pulse.
JP2011270910A 2011-12-12 2011-12-12 Magnetic resonance imaging apparatus and T1ρ imaging method Active JP5808659B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011270910A JP5808659B2 (en) 2011-12-12 2011-12-12 Magnetic resonance imaging apparatus and T1ρ imaging method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011270910A JP5808659B2 (en) 2011-12-12 2011-12-12 Magnetic resonance imaging apparatus and T1ρ imaging method

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2013121437A true JP2013121437A (en) 2013-06-20
JP2013121437A5 JP2013121437A5 (en) 2015-01-15
JP5808659B2 JP5808659B2 (en) 2015-11-10

Family

ID=48773793

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011270910A Active JP5808659B2 (en) 2011-12-12 2011-12-12 Magnetic resonance imaging apparatus and T1ρ imaging method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5808659B2 (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104714198A (en) * 2013-12-17 2015-06-17 北京大学 Magnetic susceptibility artifact removing method for exerting self-adaptive change shimming gradient in selection layer direction
CN108175409A (en) * 2018-01-05 2018-06-19 郜发宝 A kind of quantitative quick frequency locking MR imaging method
CN112201611A (en) * 2020-12-01 2021-01-08 上海隐冠半导体技术有限公司 Magnetic suspension gravity compensation device and moving platform comprising same
WO2023187768A1 (en) * 2022-04-01 2023-10-05 Illuminatio Medical Technology Limited Method and apparatus for quantitative magnetic resonance imaging using spin-lock radio frequency trains

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104714198A (en) * 2013-12-17 2015-06-17 北京大学 Magnetic susceptibility artifact removing method for exerting self-adaptive change shimming gradient in selection layer direction
CN108175409A (en) * 2018-01-05 2018-06-19 郜发宝 A kind of quantitative quick frequency locking MR imaging method
CN112201611A (en) * 2020-12-01 2021-01-08 上海隐冠半导体技术有限公司 Magnetic suspension gravity compensation device and moving platform comprising same
CN112201611B (en) * 2020-12-01 2021-03-02 上海隐冠半导体技术有限公司 Magnetic suspension gravity compensation device and moving platform comprising same
WO2023187768A1 (en) * 2022-04-01 2023-10-05 Illuminatio Medical Technology Limited Method and apparatus for quantitative magnetic resonance imaging using spin-lock radio frequency trains

Also Published As

Publication number Publication date
JP5808659B2 (en) 2015-11-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2611082C2 (en) Magnetic resonance (mr) imaging with b1-image
JP6071905B2 (en) Magnetic resonance imaging apparatus and area imaging method
JP5726203B2 (en) Magnetic resonance imaging apparatus, irradiation magnetic field measurement method
JPWO2011155461A1 (en) Magnetic resonance imaging apparatus and transmission sensitivity distribution calculation method
JP2015530175A (en) Metal-resistant MR imaging reference scan
JP2017530761A (en) Zero echo time MR imaging
JP2016533215A (en) MR imaging with temperature mapping
JP4698231B2 (en) Magnetic resonance diagnostic equipment
JP5808659B2 (en) Magnetic resonance imaging apparatus and T1ρ imaging method
JP6017443B2 (en) Magnetic resonance imaging apparatus and irradiation magnetic field distribution measuring method
JP4912802B2 (en) Magnetic resonance imaging apparatus, transmission sensitivity distribution measuring apparatus, and transmission sensitivity distribution measuring method
JP5508165B2 (en) Magnetic resonance imaging apparatus and T2 map acquisition method
JP2011078574A (en) Magnetic resonance imaging apparatus and method for suppressing residual magnetic field
JP6788510B2 (en) Magnetic resonance imaging device
JP6487554B2 (en) Magnetic resonance imaging system
JP6157976B2 (en) Magnetic resonance imaging apparatus and method
JP2014087442A (en) Method for controlling flip angle of refocus rf pulse and magnetic resonance imaging apparatus
JP2014087442A5 (en)
JP5758230B2 (en) Magnetic resonance imaging apparatus and inversion RF pulse phase control method
JP5942265B2 (en) Magnetic resonance imaging apparatus and RF pulse control method
JP2012095891A (en) Magnetic resonance imaging apparatus
JP2016131847A (en) Magnetic resonance imaging apparatus and magnetic resonance imaging method
JP5283213B2 (en) Magnetic resonance imaging system
JP6233965B2 (en) Magnetic resonance imaging apparatus and RF shimming method
JP4079399B2 (en) Magnetic resonance imaging system

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20141126

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20141126

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20150807

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20150825

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20150909

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5808659

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350