JP2013102055A - Transparent electrode substrate and method for manufacturing the same - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、有機薄膜太陽電池、色素増感太陽電池、有機EL素子等に使用可能な透明電極基材に関する。 The present invention relates to a transparent electrode substrate that can be used in organic thin-film solar cells, dye-sensitized solar cells, organic EL elements, and the like.
有機薄膜太陽電池(OPV)、色素増感太陽電池(DSC)など光電変換素子の受光面側、有機EL素子(OLED)など発光素子の発光面側には透明電極が用いられる。 Transparent electrodes are used on the light-receiving surface side of photoelectric conversion elements such as organic thin-film solar cells (OPV) and dye-sensitized solar cells (DSC), and on the light-emitting surface side of light-emitting elements such as organic EL elements (OLED).
OPVの構造の一例を図2に示す。OPV31は、ホール輸送層35、活性層36および電子輸送層37などの機能層が、透明基材2’上に形成された透明電極33と、アルミニウム電極38とで挟まれた構造を有し、透明基材2’の表面が受光面11’となっている。この透明電極33にはインジウム錫酸化物(ITO)が用いられることが多いが、十分に低い抵抗を得るにはITOを300〜400nmの厚さに成膜する必要があり、生産性が悪くコストがかかるという問題があった。また、透明基材2’に樹脂等からなるフレキシブルな(可撓性のある)素材を用いた場合でも、ITO層が硬いためにOPVの可撓性が損なわれるという問題があった。 An example of the structure of OPV is shown in FIG. The OPV 31 has a structure in which functional layers such as a hole transport layer 35, an active layer 36, and an electron transport layer 37 are sandwiched between a transparent electrode 33 formed on the transparent substrate 2 ′ and an aluminum electrode 38, The surface of the transparent substrate 2 ′ is a light receiving surface 11 ′. Indium tin oxide (ITO) is often used for the transparent electrode 33. However, in order to obtain a sufficiently low resistance, it is necessary to form a ITO film with a thickness of 300 to 400 nm, resulting in poor productivity and cost. There was a problem that it took. Further, even when a flexible material made of resin or the like is used for the transparent substrate 2 ′, there is a problem that the flexibility of the OPV is impaired because the ITO layer is hard.
これに対して、機能層の全面と接するITO層とグリッド状の金属電極(以下、単に「グリッド電極」という。)とを組み合わせた電極が開発されている。これにより、電極全体の抵抗値を維持しながらITOの膜厚を薄くすることができるので、より生産性を高め、コストを下げることができる。また、これにより、可撓性を有する透明基材を用いた場合に、OPVの可撓性を損なわずに維持することができる。 On the other hand, an electrode that combines an ITO layer in contact with the entire surface of the functional layer and a grid-like metal electrode (hereinafter simply referred to as “grid electrode”) has been developed. Thereby, since the film thickness of ITO can be made thin, maintaining the resistance value of the whole electrode, productivity can be improved more and cost can be reduced. Moreover, when this uses the transparent base material which has flexibility, it can maintain without impairing the flexibility of OPV.
このとき、単に透明基材上にグリッド電極を形成して、その上にITO層を成膜すると、透明基材とグリッド電極の段差部分でITO膜が途切れ、連続した膜を形成できないことがある。グリッド電極の厚さが典型的には数〜数十μmであるのに対して、ITO膜の厚さが典型的には数十nmであるからである。そこで、グリッド電極の開口部を樹脂で埋めて、段差を小さくする方法が開発されている。 At this time, if a grid electrode is simply formed on a transparent substrate and an ITO layer is formed thereon, the ITO film may be interrupted at the step between the transparent substrate and the grid electrode, and a continuous film may not be formed. . This is because the thickness of the grid electrode is typically several to several tens of μm, whereas the thickness of the ITO film is typically several tens of nm. Therefore, a method has been developed in which the opening of the grid electrode is filled with resin to reduce the step.
特許文献1には、DSC用の透明電極基板として、透明基材上に開口部を有する金属膜が設けられ、この開口部に金属膜とほぼ同じ厚さになるように透明樹脂膜が設けられ、金属膜及び透明樹脂膜上に透明導電膜が設けられた構成が記載されている。 In Patent Document 1, as a transparent electrode substrate for DSC, a metal film having an opening is provided on a transparent base material, and a transparent resin film is provided in the opening so as to have substantially the same thickness as the metal film. A configuration in which a transparent conductive film is provided on a metal film and a transparent resin film is described.
特許文献2には、DSC用の電極基板として、透明基材の片面に透明電極と多孔質半導体電極が順次形成されたものが記載されている。その透明電極は、多数の開口部を有する金属製の第1導電層と、その開口部に埋設された平坦化透明層と、第1導電層と平坦化透明層との上に形成された金属酸化物製の第2導電層とを含むものである。 Patent Document 2 describes an electrode substrate for DSC in which a transparent electrode and a porous semiconductor electrode are sequentially formed on one side of a transparent base material. The transparent electrode includes a metal first conductive layer having a large number of openings, a planarized transparent layer embedded in the openings, and a metal formed on the first conductive layer and the planarized transparent layer. And a second conductive layer made of an oxide.
しかしながら、特許文献1および2に記載された透明電極基材では、金属電極表面と開口部の透明樹脂層または平坦化透明層との間には、どうしても数μm程度の段差が残ってしまうことが分かった。これは、金属電極開口部に透明樹脂層を塗布した後に、表面が露出した状態で透明樹脂層を硬化させるためである。例えば、感光性樹脂を用いて、透明基材側から露光し、金属電極上の露光されなかった樹脂分を洗浄する方法では、金属電極開口部の樹脂層が厚くなることは避けられない。また、硬化前にスキージ等で余剰の樹脂を除去しても表面は完全には平坦にならないし、さらに硬化に伴う樹脂の収縮等の影響が残る。 However, in the transparent electrode substrate described in Patent Documents 1 and 2, a step of about several μm may inevitably remain between the metal electrode surface and the transparent resin layer or planarized transparent layer of the opening. I understood. This is because the transparent resin layer is cured with the surface exposed after the transparent resin layer is applied to the metal electrode opening. For example, in a method in which a photosensitive resin is used for exposure from the transparent substrate side and the unexposed resin portion on the metal electrode is washed, it is inevitable that the resin layer at the metal electrode opening becomes thick. Further, even if the excess resin is removed with a squeegee before curing, the surface does not become completely flat, and the influence of shrinkage of the resin accompanying the curing remains.
金属電極表面と開口部の樹脂層の表面との間に段差があると、両者の上に形成されたITOその他の透明電極の表面にもその段差がそのまま再現される。これはITO等の膜厚が当該段差よりも桁違いに小さいからである。特許文献1および2ではDSC用途を想定しており、ITOなどの透明導電膜が途切れなく成膜できればよいので、この程度の段差は問題とはならないかもしれない。しかしOPV用途では、機能層の厚さが100〜200nm程度と薄いため、この段差が問題となり得る。また、OPVとほとんど同じ素子構造を有するOLED用途でも、この段差が問題となり得る。 If there is a step between the surface of the metal electrode and the surface of the resin layer in the opening, the step is reproduced as it is on the surface of the ITO or other transparent electrode formed on the both. This is because the film thickness of ITO or the like is orders of magnitude smaller than the step. Patent Documents 1 and 2 assume DSC applications, and it is sufficient that a transparent conductive film such as ITO can be formed without interruption, so this level difference may not be a problem. However, in the OPV application, since the thickness of the functional layer is as thin as about 100 to 200 nm, this step can be a problem. Further, even in an OLED application having an element structure almost the same as OPV, this step can be a problem.
一方、製造方法に関して、従来の技術ではフォトリソグラフィー、ハロゲン化銀の現像、レーザー露光等のプロセスを用いてグリッド電極を作製したり、作製したグリッドをめっき等の方法で太く成長させたりすることが行われている。しかし、これらは安価なプロセスとは言えず、また製品の大面積化にも適していない。 On the other hand, with regard to the manufacturing method, in the conventional technique, a grid electrode can be produced using processes such as photolithography, silver halide development, and laser exposure, or the produced grid can be grown thickly by a method such as plating. Has been done. However, these are not cheap processes and are not suitable for increasing the product area.
本発明はこれらの点を考慮してなされたものであり、OPVやOLEDでの使用にも適した透明電極基材を提供することを目的とする。併せて、安価で、かつ製品の大面積化が容易な透明電極基材の製造方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made in consideration of these points, and an object thereof is to provide a transparent electrode substrate suitable for use in OPV and OLED. In addition, an object of the present invention is to provide a method for producing a transparent electrode substrate that is inexpensive and can easily increase the product area.
本発明の透明電極基材は、板状の透明基材と、前記透明基材の片側に形成された透明樹脂層と、前記透明樹脂層の前記透明基材とは反対側の面に埋め込まれたパターン電極と、前記透明樹脂層および前記パターン電極の直上に形成された透明な集電電極とを有し、前記集電電極の表面が平坦であることを特徴とする。この構成により、OPVやOLEDへの使用にも適した透明電極基材とすることができる。 The transparent electrode substrate of the present invention is embedded in a plate-like transparent substrate, a transparent resin layer formed on one side of the transparent substrate, and a surface of the transparent resin layer opposite to the transparent substrate. And the transparent resin layer and the transparent current collecting electrode formed immediately above the pattern electrode, and the surface of the current collecting electrode is flat. By this structure, it can be set as the transparent electrode base material suitable also for use to OPV and OLED.
好ましくは、前記パターン電極の断面形状が椀型であることを特徴とする。
また、好ましくは、前記パターン電極が導電性粒子を含むことを特徴とする。
また、好ましくは、前記パターン電極が銀を主成分とすることを特徴とする。
Preferably, the pattern electrode has a saddle shape in cross section.
Preferably, the pattern electrode includes conductive particles.
Preferably, the pattern electrode is mainly composed of silver.
また、好ましくは、前記集電電極の表面において、前記パターン電極上に形成された部分と前記透明樹脂層上に形成された部分との段差が、前記集電電極表面の前記パターン電極上の部分の表面粗さRz以下であるか、または前記集電電極表面の前記透明樹脂層上の部分の表面粗さRz以下であることを特徴とする。
また、好ましくは、前記集電電極表面の前記透明樹脂層上の部分の表面粗さRzが100nm以下であることを特徴とする。
また、前記集電電極の表面において、前記パターン電極上に形成された部分の表面粗さRzが前記透明樹脂層上に形成された部分の表面粗さRz以上であることを特徴とする。
ここで、表面粗さRzとは、JISB0601−2001(ISO4287−1997と同一内容)に定める輪郭曲線の最大高さRzのことをいい、本明細書中で単に「表面粗さ」という場合はこのRzを意味する。
Preferably, a step between a portion formed on the pattern electrode and a portion formed on the transparent resin layer on the surface of the collecting electrode is a portion on the pattern electrode on the surface of the collecting electrode. The surface roughness Rz is less than or equal to or less than the surface roughness Rz of the portion of the collector electrode surface on the transparent resin layer.
Preferably, the surface roughness Rz of the portion on the transparent resin layer on the surface of the current collecting electrode is 100 nm or less.
Further, the surface roughness Rz of the portion formed on the pattern electrode on the surface of the current collecting electrode is equal to or greater than the surface roughness Rz of the portion formed on the transparent resin layer.
Here, the surface roughness Rz refers to the maximum height Rz of the contour curve defined in JIS B0601-2001 (the same content as ISO4287-1997). Rz is meant.
本発明の透明電極基材製造方法は上記いずれかの透明電極基材を製造する方法であって、離型フィルムの表面にパターン電極を印刷する工程と、前記離型フィルムおよび前記パターン電極の表面に透明樹脂層を形成する工程と、前記透明樹脂層の上に透明基材を積層する工程と、前記離型フィルムを剥離する工程と、前記透明樹脂層およびその表面に埋め込まれたパターン電極の表面に透明な集電電極を形成する工程とを有することを特徴とする。 The method for producing a transparent electrode substrate of the present invention is a method for producing any one of the above transparent electrode substrates, the step of printing a pattern electrode on the surface of the release film, and the surface of the release film and the pattern electrode A step of forming a transparent resin layer, a step of laminating a transparent substrate on the transparent resin layer, a step of peeling the release film, a pattern electrode embedded in the transparent resin layer and the surface thereof And a step of forming a transparent current collecting electrode on the surface.
本発明の別の透明電極基材製造方法は、離型フィルムの表面にパターン電極を印刷する工程と、透明基材の上に透明樹脂層を形成する工程と、前記透明樹脂層の表面に、前記パターン電極側を内側にして前記離型フィルムを積層する工程と、前記透明樹脂層を硬化させる工程と、前記離型フィルムを剥離する工程と、前記透明樹脂層およびその表面に埋め込まれたパターン電極の表面に透明な集電電極を形成する工程とを有することを特徴とする。 Another transparent electrode substrate manufacturing method of the present invention includes a step of printing a pattern electrode on the surface of a release film, a step of forming a transparent resin layer on the transparent substrate, and a surface of the transparent resin layer. The step of laminating the release film with the pattern electrode side inward, the step of curing the transparent resin layer, the step of peeling the release film, the pattern embedded in the transparent resin layer and the surface thereof Forming a transparent current collecting electrode on the surface of the electrode.
本発明の別の透明電極基材製造方法は、離型フィルムの表面に透明な集電電極を形成する工程と、前記集電電極の表面にパターン電極を印刷する工程と、前記離型フィルムおよび前記パターン電極の表面に透明樹脂層を形成する工程と、前記透明樹脂層の上に透明基材を積層する工程と、前記離型フィルムを剥離する工程とを有することを特徴とする。 Another transparent electrode substrate manufacturing method of the present invention includes a step of forming a transparent collector electrode on the surface of a release film, a step of printing a pattern electrode on the surface of the collector electrode, the release film, The method includes a step of forming a transparent resin layer on the surface of the pattern electrode, a step of laminating a transparent substrate on the transparent resin layer, and a step of peeling the release film.
好ましくは、上記いずれの製造方法においても、前記パターン電極を印刷する工程が、導電性粒子を含むペーストをスクリーン印刷する工程であることを特徴とする。
また、好ましくは、上記いずれの製造方法においても、前記離型フィルムの表面粗さRzが50nm以下であることを特徴とする。
Preferably, in any of the above manufacturing methods, the step of printing the pattern electrode is a step of screen printing a paste containing conductive particles.
Preferably, in any of the above manufacturing methods, the release film has a surface roughness Rz of 50 nm or less.
本発明の透明電極基材は十分な平坦度を有することにより、OPVやOLEDでの使用にも適する。また、本発明の透明電極基材の製造方法によれば、安価に、かつ大面積の製品を製造することができる。 Since the transparent electrode substrate of the present invention has sufficient flatness, it is suitable for use in OPV and OLED. Moreover, according to the manufacturing method of the transparent electrode base material of this invention, a product of a large area can be manufactured cheaply.
本発明の透明電極基材について、その一実施形態を図1に基づいて説明する。 One embodiment of the transparent electrode substrate of the present invention will be described with reference to FIG.
本実施形態にかかる透明電極基材1は、透明基材2の上に透明樹脂層3が形成され、透明樹脂層3の上面にはパターン電極4が埋め込まれており、透明樹脂層3およびパターン電極4の直上に透明な集電電極5を有している。集電電極5の表面15は平坦である。また、集電電極−透明樹脂層界面13および集電電極−パターン電極界面14もそれぞれ平坦であり、両界面13、14には段差がない。透明電極基材1をOPVに用いるときには、集電電極5の表面15上に機能層が形成され、受光面11側から光が入射する。 In the transparent electrode substrate 1 according to this embodiment, a transparent resin layer 3 is formed on a transparent substrate 2, and a pattern electrode 4 is embedded on the upper surface of the transparent resin layer 3. A transparent collector electrode 5 is provided immediately above the electrode 4. The surface 15 of the current collecting electrode 5 is flat. The collector electrode-transparent resin layer interface 13 and the collector electrode-pattern electrode interface 14 are also flat, and there is no step between the interfaces 13 and 14. When the transparent electrode substrate 1 is used for OPV, a functional layer is formed on the surface 15 of the collector electrode 5 and light enters from the light receiving surface 11 side.
透明電極基材においては、その透過率が重要な特性である。本実施形態の透明電極基材1では、受光面11に垂直に入射した光の全光線透過率が80%以上であることが好ましく、85%以上であることがさらに好ましい。本明細書中において、全光線透過率とはJISK7105−1981の規格に従って測定された値をいう。 In the transparent electrode substrate, the transmittance is an important characteristic. In the transparent electrode substrate 1 of the present embodiment, the total light transmittance of light perpendicularly incident on the light receiving surface 11 is preferably 80% or more, and more preferably 85% or more. In this specification, the total light transmittance refers to a value measured according to the standard of JISK7105-1981.
透明電極基材においては、その抵抗値も重要な特性である。抵抗値が高すぎると製品である素子の内部抵抗が大きくなって、OVPでは発電効率が悪くなるからである。本実施形態の透明電極基材1では、その面抵抗値が50Ω/□以下であることが好ましく、5Ω/□以下であることがさらに好ましい。面抵抗値は、JISK7194−1994の規格に従って4探針法によって測定することができる。その測定に際しては、中央の2本の探針(電圧測定用の探針)の間にパターン電極の電極線が1本以上含まれるようにする。 In the transparent electrode substrate, the resistance value is also an important characteristic. This is because if the resistance value is too high, the internal resistance of the device, which is a product, increases, and the power generation efficiency of OVP deteriorates. In the transparent electrode substrate 1 of the present embodiment, the sheet resistance value is preferably 50Ω / □ or less, and more preferably 5Ω / □ or less. The sheet resistance value can be measured by a four-probe method according to the standard of JISK 7194-1994. In the measurement, at least one electrode wire of the pattern electrode is included between the two central probes (voltage measurement probes).
透明基材2には、各種ガラス基板や樹脂フィルムを用いることができる。中でも可撓性を有する樹脂フィルムは、フレキシブルな製品を製造することができる点で好ましい。樹脂フィルムとしては、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート(PEN)、環状ポリオレフィン(COP)、ポリカーボネート(PC)、PMMAなどアクリル樹脂、その他各種樹脂からなる単層または多層のフィルムを用いることができる。透明基材2の厚さは特に限定されないが、樹脂フィルムであれば厚さ50〜350μmのものを好適に用いることができる。 Various glass substrates and resin films can be used for the transparent substrate 2. Among these, a flexible resin film is preferable in that a flexible product can be manufactured. As the resin film, a single-layer or multilayer film made of polyethylene terephthalate (PET), polyethylene naphthalate (PEN), cyclic polyolefin (COP), polycarbonate (PC), acrylic resin such as PMMA, and other various resins can be used. . The thickness of the transparent substrate 2 is not particularly limited, but a resin film having a thickness of 50 to 350 μm can be suitably used.
また、透明基材2の表面には耐摩耗層(ハードコート)や反射防止層が形成されていてもよい。これによって、透明電極基材の耐摩耗性や全光線透過率が向上する。また、透明基材2や該耐摩耗層、反射防止層は紫外線(UV)吸収剤を含むものであってもよい。これによって、透明電極基材1を用いた製品の使用期間中に、UVに起因する透明電極基材1の劣化、黄変等を抑制することができる。なお、後述するようにUV硬化樹脂からなる透明樹脂層3を用いる場合であっても、照射するUVの強度を適切に選択すれば、UV吸収剤を含む透明基材2越しにUV照射して透明樹脂層3を硬化させることが可能である。 Further, an abrasion resistant layer (hard coat) or an antireflection layer may be formed on the surface of the transparent substrate 2. This improves the wear resistance and the total light transmittance of the transparent electrode substrate. Further, the transparent substrate 2, the wear-resistant layer, and the antireflection layer may contain an ultraviolet (UV) absorber. Thereby, degradation of the transparent electrode base material 1 resulting from UV, yellowing, etc. can be suppressed during the use period of the product using the transparent electrode base material 1. Even when the transparent resin layer 3 made of a UV curable resin is used as will be described later, if the intensity of UV to be irradiated is appropriately selected, UV irradiation is performed through the transparent base material 2 containing the UV absorber. The transparent resin layer 3 can be cured.
透明樹脂層3は、透明基材2の片側に形成されている。透明樹脂層は透明基材の表面に直接形成されていてもよいし、透明基材上に適当な接着層を介して形成されていてもよい。透明樹脂層3には、アクリル系、エステル系、シリコーン系、エポキシ系、その他各種の透明な樹脂を用いることができる。中でも、後述する製造工程において硬化処理が容易になる点から、活性エネルギー線硬化樹脂を用いるのが好ましく、UV硬化樹脂を用いるのがさらに好ましい。透明樹脂層3は単一の層であってもよいし、複数の層から構成されていてもよい。 The transparent resin layer 3 is formed on one side of the transparent substrate 2. The transparent resin layer may be directly formed on the surface of the transparent substrate, or may be formed on the transparent substrate via an appropriate adhesive layer. For the transparent resin layer 3, acrylic, ester, silicone, epoxy, and other various transparent resins can be used. Especially, it is preferable to use active energy ray curable resin, and it is more preferable to use UV curable resin from the point which a hardening process becomes easy in the manufacturing process mentioned later. The transparent resin layer 3 may be a single layer or may be composed of a plurality of layers.
パターン電極4は、透明樹脂層3の透明基材2とは反対側の面に埋め込まれている。すなわち、図1において、パターン電極4の上面(平面部)を除く側面および底面全体が透明樹脂層3と接している。この構造によって、OPVなど製品を曲げたときにも、変形による応力が透明樹脂層内で緩和され、パターン電極−透明樹脂層界面に応力が集中することがなく、パターン電極の損傷、剥離、脱落を防止することができる。また、パターン電極4の側面および底面全体が透明樹脂層3に覆われているので、パターン電極4は透明基材2とは接していない。パターン電極が導電性微粒子を含む場合に、パターン電極と透明基材が接していると製品の変形時に導電性微粒子が脱落しやすいが、この構造によって導電性微粒子の脱落を防止することができる。 The pattern electrode 4 is embedded in the surface of the transparent resin layer 3 opposite to the transparent substrate 2. That is, in FIG. 1, the entire side surface and bottom surface of the pattern electrode 4 except the top surface (planar portion) are in contact with the transparent resin layer 3. With this structure, even when a product such as OPV is bent, the stress due to deformation is relieved in the transparent resin layer, and the stress is not concentrated at the interface between the pattern electrode and the transparent resin layer. Can be prevented. Moreover, since the entire side surface and bottom surface of the pattern electrode 4 are covered with the transparent resin layer 3, the pattern electrode 4 is not in contact with the transparent substrate 2. When the pattern electrode includes conductive fine particles, if the pattern electrode and the transparent substrate are in contact with each other, the conductive fine particles easily fall off during deformation of the product, but this structure can prevent the conductive fine particles from falling off.
パターン電極4が透明樹脂層3に埋め込まれた構造を実現するために、透明樹脂層3の厚さは、パターン電極4の厚さよりも大きいことを要する。また、パターン電極4の底部と接する透明樹脂層が薄すぎると製品変形時の応力緩和効果が小さくなるので、透明樹脂層3の厚さはパターン電極4の厚さ以上であり、1.5倍以上であることが好ましい。 In order to realize a structure in which the pattern electrode 4 is embedded in the transparent resin layer 3, the thickness of the transparent resin layer 3 needs to be larger than the thickness of the pattern electrode 4. Further, if the transparent resin layer in contact with the bottom of the pattern electrode 4 is too thin, the stress relaxation effect at the time of product deformation is reduced, so the thickness of the transparent resin layer 3 is equal to or greater than the thickness of the pattern electrode 4 and is 1.5 times The above is preferable.
パターン電極4の材料としては、銀、銅、金、ニッケル、アルミニウム、錫などの各種金属もしくはそれらの合金、またはこれらとカーボンとの混合物など、各種の導電性の物質を用いることができる。中でもパターン電極4が導電性微粒子を含むことが好ましく、銀微粒子を含むことがさらに好ましい。パターン電極が導電性微粒子を含む場合には、いわゆるアンカー効果によって、パターン電極と集電電極の密着性が向上し、集電電極−パターン電極界面14の電気抵抗が小さくなるという効果が得られる。前記金属微粒子が銀微粒子であり、集電電極がITOからなる場合には、両材料の「馴染み」が良くないため、このアンカー効果が特に有効である。さらに、パターン電極が金属微粒子を含む場合には、結合剤として機能する有機物を同時に含むことが好ましい。 As the material of the pattern electrode 4, various conductive materials such as various metals such as silver, copper, gold, nickel, aluminum, tin, or alloys thereof, or a mixture of these and carbon can be used. Among these, the pattern electrode 4 preferably contains conductive fine particles, and more preferably contains silver fine particles. When the pattern electrode includes conductive fine particles, the so-called anchor effect improves the adhesion between the pattern electrode and the current collecting electrode, resulting in an effect of reducing the electrical resistance at the current collecting electrode-pattern electrode interface 14. This anchor effect is particularly effective when the metal fine particles are silver fine particles and the current collecting electrode is made of ITO because both materials are not “familiar”. Furthermore, when the pattern electrode includes metal fine particles, it is preferable to simultaneously include an organic substance that functions as a binder.
パターン電極4の断面形状は、図1に示すように椀型であることが好ましい。すなわち、断面形状において、集電電極−パターン電極界面14部分は直線であって、この界面14に平行な幅は界面14近くで最大で、界面14から遠くなるにしたがってなだらかに減少し、パターン電極4と透明樹脂層3の界面が尖った部分を有しないことが好ましい。図3に基づいてさらに説明すると、断面形状は典型的には図3Aの如くであるが、椀の底に相当する部分には略直線状の部分があってもよいし(図3B)、パターン電極の厚さが中央部で最大にならなくてもよい(図3C)。本明細書において椀型とは、図3Aのみならず図3Bや図3Cのような形状も含むものである。パターン電極がこのような断面形状を有することによって、OPVなど製品を曲げたときの応力集中を避け、界面の剥離、透明樹脂層3やパターン電極4の損傷を防止することができる。 The cross-sectional shape of the pattern electrode 4 is preferably a bowl shape as shown in FIG. That is, in the cross-sectional shape, the collector electrode-pattern electrode interface 14 portion is a straight line, and the width parallel to the interface 14 is maximum near the interface 14 and gradually decreases as the distance from the interface 14 increases. It is preferable that the interface between 4 and the transparent resin layer 3 does not have a sharp portion. Further explanation based on FIG. 3, the cross-sectional shape is typically as shown in FIG. 3A, but the portion corresponding to the bottom of the ridge may have a substantially linear portion (FIG. 3B) The electrode thickness need not be maximized at the center (FIG. 3C). In the present specification, the saddle shape includes not only FIG. 3A but also shapes such as FIG. 3B and FIG. 3C. When the pattern electrode has such a cross-sectional shape, stress concentration when the product such as OPV is bent can be avoided, and peeling of the interface and damage to the transparent resin layer 3 and the pattern electrode 4 can be prevented.
パターン電極4の断面寸法は、電極を構成する材料の導電率等に応じて設計することができるが、その最大幅は10〜100μmであることが好ましく、厚さは1〜50μmであることが好ましい。断面が小さすぎると断線するおそれが大きくなるし、断面が大きすぎると光線透過率が小さくなるからである。 The cross-sectional dimension of the pattern electrode 4 can be designed according to the conductivity of the material constituting the electrode, but the maximum width is preferably 10 to 100 μm and the thickness is 1 to 50 μm. preferable. This is because if the cross section is too small, the possibility of disconnection increases, and if the cross section is too large, the light transmittance decreases.
パターン電極4の形状(模様)は、特に限定されないが、矩形、菱形、亀甲などの形状を好適に用いることができる。パターン電極を格子形状とすると各開口部は矩形、菱形等の形状を有するが、このとき各開口部の角は尖っていないことが好ましい。図4を例に説明すると、パターン電極4の開口部16が正方形で、開口部16の角17(正方形の頂点)が尖っていない。開口部の角17の曲率半径は1μm以上であることが好ましい。開口部の角17が尖っていないことによって、OPVなど製品を曲げたときの応力集中を避け、透明樹脂層3とパターン電極4の界面の剥離を防止することができる。 The shape (pattern) of the pattern electrode 4 is not particularly limited, but a shape such as a rectangle, a rhombus, and a turtle shell can be suitably used. When the pattern electrode has a lattice shape, each opening has a shape such as a rectangle or a rhombus. At this time, it is preferable that the corner of each opening is not sharp. Referring to FIG. 4 as an example, the opening 16 of the pattern electrode 4 is square, and the corner 17 (vertex of the square) of the opening 16 is not sharp. The radius of curvature of the corner 17 of the opening is preferably 1 μm or more. Since the corner 17 of the opening is not sharp, stress concentration when a product such as OPV is bent can be avoided, and peeling of the interface between the transparent resin layer 3 and the pattern electrode 4 can be prevented.
パターン電極4の開口率は、全光線透過率を大きくするために、95%以上であることが好ましく、97%以上であることがさらに好ましい。 The aperture ratio of the pattern electrode 4 is preferably 95% or more, and more preferably 97% or more, in order to increase the total light transmittance.
集電電極5は、透明樹脂層3およびパターン電極4を覆うように形成されている。これにより、集電電極はパターン電極4と電気的に接続される。集電電極5を構成する材料としては、インジウム錫酸化物(ITO)、フッ素ドープ酸化錫(FTO)、酸化亜鉛等の酸化物や、ポリスチレンスルホン酸をドープしたポリ(3,4−エチレンジオキシチオフェン)(PEDOT/PSS)等の導電性ポリマーなど、各種の透明な導電性物質を用いることができる。集電電極5は単一の層であってもよいし、複数の層から構成されていてもよい。集電電極5の厚さは、薄すぎると抵抗が大きくなり、厚すぎると生産性が悪く、コストがかかり、製品の可撓性を損なうという問題がある。したがって、集電電極5の厚さは10〜150nmであることが好ましく、10〜30nmであることがさらに好ましい。 The collecting electrode 5 is formed so as to cover the transparent resin layer 3 and the pattern electrode 4. Thereby, the current collecting electrode is electrically connected to the pattern electrode 4. Examples of the material constituting the collecting electrode 5 include oxides such as indium tin oxide (ITO), fluorine-doped tin oxide (FTO), and zinc oxide, and poly (3,4-ethylenedioxy) doped with polystyrene sulfonic acid. Various transparent conductive materials such as a conductive polymer such as thiophene (PEDOT / PSS) can be used. The collecting electrode 5 may be a single layer or may be composed of a plurality of layers. If the thickness of the current collecting electrode 5 is too thin, the resistance increases, and if it is too thick, the productivity is poor, the cost is increased, and the flexibility of the product is impaired. Therefore, the thickness of the collecting electrode 5 is preferably 10 to 150 nm, and more preferably 10 to 30 nm.
集電電極5の表面15は平坦である。OPVの機能層(図2の35、36、37)の厚さは合計で100〜200nmであり、ホール輸送層(同35)の厚さは30〜100nmである。したがって、これらの機能層を集電電極5の表面15に積層したときにその機能が損なわれないためには、集電電極5の表面15は十分に平坦である必要がある。 The surface 15 of the current collecting electrode 5 is flat. The total thickness of the OPV functional layers (35, 36, and 37 in FIG. 2) is 100 to 200 nm, and the thickness of the hole transport layer (35) is 30 to 100 nm. Therefore, when these functional layers are laminated on the surface 15 of the current collecting electrode 5, the surface 15 of the current collecting electrode 5 needs to be sufficiently flat so that the function is not impaired.
集電電極表面15の平坦度は透明電極基材1の製造方法に強く依存する。集電電極5を透明樹脂層3およびパターン電極4の表面上に形成する場合には、集電電極表面15の形状は、集電電極を形成する前の透明樹脂層3およびパターン電極4の表面形状とほとんど同じになる。これは、集電電極5の厚さが数十〜数百nmと小さいからである。集電電極5を蒸着、スパッタ等の方法で形成する場合には、膜厚の均一性が高いために、この傾向が特に顕著になる。図5はこの場合の集電電極の断面形状を模式的に示したものである。図5において、集電電極の表面粗さRzは、透明樹脂層上に形成された部分の表面粗さ23は下地となる透明樹脂層の表面粗さ23’と、パターン電極上に形成された部分の表面粗さ24は下地となるパターン電極の表面粗さ24’とほぼ等しくなる。また、下地となる透明樹脂層表面13とパターン電極表面14に段差25’があると、集電電極の表面においても、パターン電極上に形成された部分と透明樹脂層上に形成された部分に段差25が再現される。 The flatness of the collector electrode surface 15 strongly depends on the method of manufacturing the transparent electrode substrate 1. When the current collecting electrode 5 is formed on the surface of the transparent resin layer 3 and the pattern electrode 4, the shape of the current collecting electrode surface 15 is the surface of the transparent resin layer 3 and the pattern electrode 4 before forming the current collecting electrode. Almost the same as the shape. This is because the thickness of the collecting electrode 5 is as small as several tens to several hundreds nm. In the case where the collecting electrode 5 is formed by a method such as vapor deposition or sputtering, this tendency is particularly remarkable because the uniformity of the film thickness is high. FIG. 5 schematically shows the cross-sectional shape of the current collecting electrode in this case. In FIG. 5, the surface roughness Rz of the current collecting electrode is the surface roughness 23 of the portion formed on the transparent resin layer, and the surface roughness 23 'of the transparent resin layer that is the base is formed on the pattern electrode. The surface roughness 24 of the portion is substantially equal to the surface roughness 24 ′ of the pattern electrode serving as the base. In addition, if there is a step 25 ′ between the transparent resin layer surface 13 and the pattern electrode surface 14 as a base, the surface formed on the pattern electrode and the portion formed on the transparent resin layer also on the surface of the collecting electrode The step 25 is reproduced.
もし集電電極表面15において、前記段差25が透明樹脂層上に形成された部分の表面粗さ23またはパターン電極上に形成された部分の表面粗さ24よりも小さければ、段差25は集電電極表面の凹凸に埋もれてしまうので、段差25の影響は小さなものとなる。したがって、集電電極表面15の段差25が、集電電極表面のパターン電極上の部分の表面粗さRz24以下であるか、集電電極表面の透明樹脂層上の部分の表面粗さRz23以下であることが好ましい。 If the step 25 is smaller than the surface roughness 23 of the portion formed on the transparent resin layer or the surface roughness 24 of the portion formed on the pattern electrode on the current collecting electrode surface 15, the step 25 is Since it will be buried in the unevenness | corrugation of the electrode surface, the influence of the level | step difference 25 will become small. Therefore, the level difference 25 on the surface of the collecting electrode 15 is less than the surface roughness Rz24 of the portion on the pattern electrode on the surface of the collecting electrode, or less than the surface roughness Rz23 on the portion of the surface of the collecting electrode on the transparent resin layer. Preferably there is.
また、集電電極表面の大部分を占める、透明樹脂層上の部分の表面粗さ23自体が大きければ、やはり集電電極表面の平坦性が損なわれる。したがって、集電電極表面の透明樹脂層上の部分の表面粗さ23は100nm以下であることが好ましく、50nm以下であることがさらに好ましい。さらに、前記段差は20nm以下であることが好ましく、10nm以下であることがさらに好ましい。 Further, if the surface roughness 23 itself of the portion on the transparent resin layer that occupies most of the surface of the current collecting electrode is large, the flatness of the surface of the current collecting electrode is also impaired. Therefore, the surface roughness 23 of the portion on the transparent resin layer on the surface of the current collecting electrode is preferably 100 nm or less, and more preferably 50 nm or less. Furthermore, the step is preferably 20 nm or less, and more preferably 10 nm or less.
本発明の透明電極基材の構成は、以上の実施形態に限定されるものではない。例えば、透明基材2と透明樹脂層3との間には接着層が設けられていてもよい。後述するように、透明樹脂層3を硬化させる前に透明基材2を積層すれば、別途接着層を設けなくても透明基材と透明樹脂層を貼り合わせることができる。しかし、製造方法によっては、透明樹脂層3を硬化させた後に、接着層を介して透明基材2を貼り合わせることも可能である。なお、この場合にも、パターン電極4の側面および底面全体が透明樹脂層3と接しており、パターン電極4は接着層とは接していないことを要する。 The configuration of the transparent electrode substrate of the present invention is not limited to the above embodiment. For example, an adhesive layer may be provided between the transparent substrate 2 and the transparent resin layer 3. As will be described later, if the transparent substrate 2 is laminated before the transparent resin layer 3 is cured, the transparent substrate and the transparent resin layer can be bonded together without providing a separate adhesive layer. However, depending on the manufacturing method, after the transparent resin layer 3 is cured, the transparent substrate 2 can be bonded through an adhesive layer. Also in this case, it is necessary that the entire side surface and bottom surface of the pattern electrode 4 are in contact with the transparent resin layer 3 and the pattern electrode 4 is not in contact with the adhesive layer.
次に、本発明の透明電極基材製造方法の実施の形態について、図6〜9に基づいて説明する。 Next, an embodiment of the transparent electrode substrate manufacturing method of the present invention will be described with reference to FIGS.
図6に透明電極基材製造方法の一実施形態の工程フローを示す。離型フィルム6の表面にパターン電極4を印刷し(図6A)、離型フィルム6およびパターン電極4の上に透明樹脂層3を形成し(図6B)、樹脂フィルム7の片側にハードコート層8、反射防止層9が順次形成された透明基材2を樹脂フィルム7側を内側にして積層し(図6C)、この状態で受光面11側からUVを照射して透明樹脂層3を硬化させ(図6D)、剥離フィルム6を除去し(図6E)、透明樹脂層3およびパターン電極4の表面に集電電極5を形成する(図6F)。 The process flow of one Embodiment of a transparent electrode base material manufacturing method is shown in FIG. The pattern electrode 4 is printed on the surface of the release film 6 (FIG. 6A), the transparent resin layer 3 is formed on the release film 6 and the pattern electrode 4 (FIG. 6B), and the hard coat layer is formed on one side of the resin film 7 8. Laminated transparent substrate 2 with antireflection layer 9 sequentially formed with resin film 7 side inside (FIG. 6C), and in this state, UV is irradiated from light receiving surface 11 side to cure transparent resin layer 3 (FIG. 6D), the release film 6 is removed (FIG. 6E), and the collector electrode 5 is formed on the surfaces of the transparent resin layer 3 and the pattern electrode 4 (FIG. 6F).
図7に透明電極基材製造方法の別の実施形態の工程フローを示す。離型フィルム6の表面にパターン電極4を印刷する(図7A)。樹脂フィルム7の片側にハードコート層8、反射防止層9が順次形成された透明基材2の反射防止層とは反対側に透明樹脂層3を形成し(図7B)、離型フィルム6と透明基材2を、それぞれパターン電極4側と透明樹脂層3側を内側にして積層し(図7C)、この状態で受光面11側からUVを照射して透明樹脂層3を硬化させ(図7D)、剥離フィルム6を除去し(図7E)、透明樹脂層3およびパターン電極4の表面に集電電極5を形成する(図7F)。 FIG. 7 shows a process flow of another embodiment of the transparent electrode substrate manufacturing method. The pattern electrode 4 is printed on the surface of the release film 6 (FIG. 7A). A transparent resin layer 3 is formed on the side opposite to the antireflection layer of the transparent substrate 2 in which the hard coat layer 8 and the antireflection layer 9 are sequentially formed on one side of the resin film 7 (FIG. 7B). The transparent substrate 2 is laminated with the pattern electrode 4 side and the transparent resin layer 3 side inside, respectively (FIG. 7C). In this state, the transparent resin layer 3 is cured by irradiating UV from the light receiving surface 11 side (FIG. 7D), the release film 6 is removed (FIG. 7E), and the collecting electrode 5 is formed on the surfaces of the transparent resin layer 3 and the pattern electrode 4 (FIG. 7F).
図8に透明電極基材製造方法の別の実施形態の工程フローを示す。離型フィルム6の表面にパターン電極4を印刷し(図8A)、離型フィルム6およびパターン電極4の上に透明樹脂層3を形成した後(図8B)、透明樹脂層3を硬化させる(図8C)。透明樹脂層3表面に、接着層10を介して、樹脂フィルム7の片側にハードコート層8、反射防止層9が順次形成された透明基材2を積層し(図8D)、剥離フィルム6を除去し(図8E)、透明樹脂層3およびパターン電極4の表面に集電電極5を形成する(図8F)。 FIG. 8 shows a process flow of another embodiment of the transparent electrode substrate manufacturing method. The pattern electrode 4 is printed on the surface of the release film 6 (FIG. 8A), and after forming the transparent resin layer 3 on the release film 6 and the pattern electrode 4 (FIG. 8B), the transparent resin layer 3 is cured ( FIG. 8C). A transparent substrate 2 having a hard coat layer 8 and an antireflection layer 9 sequentially formed on one side of the resin film 7 is laminated on the surface of the transparent resin layer 3 with an adhesive layer 10 (FIG. 8D). It removes (FIG. 8E) and forms the current collection electrode 5 on the surface of the transparent resin layer 3 and the pattern electrode 4 (FIG. 8F).
図9に透明電極基材製造方法の別の実施形態の工程フローを示す。離型フィルム6の表面に集電電極5を成膜し(図9A)、その表面にパターン電極4を印刷し(図9B)、集電電極5およびパターン電極4の上に透明樹脂層3を形成し(図9C)、樹脂フィルム7の片側にハードコート層8、反射防止層9が順次形成された透明基材2を樹脂フィルム7側を内側にして積層し(図9D)、この状態で受光面11側からUVを照射して透明樹脂層3を硬化させ(図9E)、剥離フィルム6を除去する(図9F)。 FIG. 9 shows a process flow of another embodiment of the transparent electrode substrate manufacturing method. The collector electrode 5 is formed on the surface of the release film 6 (FIG. 9A), the pattern electrode 4 is printed on the surface (FIG. 9B), and the transparent resin layer 3 is formed on the collector electrode 5 and the pattern electrode 4 (FIG. 9C) and laminating the transparent base material 2 in which the hard coat layer 8 and the antireflection layer 9 are sequentially formed on one side of the resin film 7 with the resin film 7 side inward (FIG. 9D). The transparent resin layer 3 is cured by irradiating UV from the light receiving surface 11 side (FIG. 9E), and the release film 6 is removed (FIG. 9F).
図6〜図8に示した方法によれば、離型フィルム6の表面上にパターン電極4および透明樹脂層3が接した状態で透明樹脂層3を硬化させるので、離型フィルム−パターン電極界面と離型フィルム−透明樹脂層界面に段差を生じず、透明樹脂層硬化時の収縮等の影響も受けにくい。そのため、集電電極形成前の段階で(図6E、図7E、図8E)、透明樹脂層表面とパターン電極表面に段差が生じにくい。結果として、透明電極5の表面において、透明樹脂層上に形成された部分とパターン電極上に形成された部分とに段差が生じにくい。また、図9に示した方法では、離型フィルム9の表面に集電電極5を形成するので、集電電極の表面には段差を生じない。 According to the method shown in FIGS. 6 to 8, the transparent resin layer 3 is cured in a state where the pattern electrode 4 and the transparent resin layer 3 are in contact with the surface of the release film 6, so that the release film-pattern electrode interface And no step at the release film-transparent resin layer interface, and is less susceptible to shrinkage and the like when the transparent resin layer is cured. Therefore, in the stage before forming the current collecting electrode (FIGS. 6E, 7E, and 8E), there is hardly any step between the transparent resin layer surface and the pattern electrode surface. As a result, on the surface of the transparent electrode 5, a step is hardly generated between a portion formed on the transparent resin layer and a portion formed on the pattern electrode. Moreover, in the method shown in FIG. 9, since the current collection electrode 5 is formed on the surface of the release film 9, a level | step difference does not arise in the surface of a current collection electrode.
図6〜図8に示した方法において、集電電極5形成前(図6E、図7E、図8E)の透明樹脂層3およびパターン電極4の表面粗さは、離型フィルム6の表面粗さの影響を強く受ける。結果として、集電電極の表面粗さは離型フィルムの表面粗さの影響を強く受ける。また、図9に示した方法では、集電電極の表面粗さは離型フィルムの表面粗さの影響を直接受ける。したがって、離型フィルムの表面粗さRzは小さい方が好ましい。離型フィルムの表面粗さRzは50nm以下であることが好ましく、20nm以下であることがさらに好ましい。 6 to 8, the surface roughness of the transparent resin layer 3 and the pattern electrode 4 before the formation of the collecting electrode 5 (FIGS. 6E, 7E, and 8E) is the surface roughness of the release film 6. Strongly influenced by. As a result, the surface roughness of the collecting electrode is strongly influenced by the surface roughness of the release film. In the method shown in FIG. 9, the surface roughness of the current collecting electrode is directly affected by the surface roughness of the release film. Therefore, it is preferable that the release film has a smaller surface roughness Rz. The surface roughness Rz of the release film is preferably 50 nm or less, and more preferably 20 nm or less.
以上の方法において、パターン電極4を印刷する方法は特に限定されないが、スクリーン印刷によることが好ましい。スクリーン印刷法を用いることによって、パターン電極の断面形状を容易に椀型にすることができる。また、導電性微粒子を含むペーストをスクリーン印刷することによって、金属微粒子および結着剤となるバインダーを含むパターン電極を容易に形成することができる。さらに、スクリーン印刷法を用いることによって、製品の大面積化が容易となる。 In the above method, the method for printing the pattern electrode 4 is not particularly limited, but screen printing is preferable. By using the screen printing method, the cross-sectional shape of the pattern electrode can be easily formed into a bowl shape. Moreover, the pattern electrode containing the metal fine particle and the binder used as a binder can be easily formed by screen-printing the paste containing the conductive fine particle. Further, by using the screen printing method, the product area can be easily increased.
また、パターン電極4を形成する際には、パターン電極の開口部形状には尖った部分がないように形成することが好ましい。パターン電極の開口部の角が尖っていないことと、パターン電極の断面形状が椀型であることによって、離型フィルム6、パターン電極4および透明樹脂層3の界面に泡残りが生じにくいという効果が得られる。 Moreover, when forming the pattern electrode 4, it is preferable to form so that there may be no pointed part in the opening shape of a pattern electrode. The effect that bubbles remain at the interfaces of the release film 6, the pattern electrode 4, and the transparent resin layer 3 due to the fact that the corners of the opening of the pattern electrode are not sharp and the cross-sectional shape of the pattern electrode is saddle-shaped. Is obtained.
なお、離型フィルム6と透明基材2を積層するには、各種のプレス方法を用いることができる。その際、パターン電極4の離型フィルム側の平面部を除く側面および底面全体が透明樹脂層3に覆われているので、パターン電極が導電性微粒子を有する場合でも、透明基材との接触によって導電性微粒子が脱落することが起こりにくい。 In order to laminate the release film 6 and the transparent substrate 2, various pressing methods can be used. At that time, since the entire side surface and bottom surface of the pattern electrode 4 excluding the plane portion on the release film side are covered with the transparent resin layer 3, even when the pattern electrode has conductive fine particles, It is difficult for the conductive fine particles to fall off.
また、図8に示した方法によれば、透明樹脂層3の片面が大気に露出した状態で透明樹脂層を硬化させるため(図8C)、活性エネルギー線硬化樹脂以外の樹脂を用いた場合にも迅速に硬化させることができる。これにより、透明樹脂層に用いる材料の選択の幅が広がる。接着層10としては、例えば、アクリル系粘着剤等を使用した厚さが25μm程度の市販の高透明性粘着テープなどを用いることができる。 Further, according to the method shown in FIG. 8, in order to cure the transparent resin layer with one surface of the transparent resin layer 3 exposed to the atmosphere (FIG. 8C), when a resin other than the active energy ray curable resin is used. Can be cured quickly. Thereby, the range of selection of the material used for a transparent resin layer spreads. As the adhesive layer 10, for example, a commercially available highly transparent adhesive tape having a thickness of about 25 μm using an acrylic adhesive or the like can be used.
次に、上記実施形態について、実施例に基づいてより詳細に説明する。 Next, the above embodiment will be described in more detail based on examples.
(実施例1)
実施例1は図6に示した方法によるものである。
Example 1
Example 1 is based on the method shown in FIG.
厚さ50μmの環状ポリオレフィンからなる離型フィルム6の表面に、スクリーン印刷によって銀ペーストをグリッド形状に印刷し、120℃で30分間乾燥してパターン電極4を形成した(図6A)。離型フィルム6の表面粗さRzは18nmであった。印刷に用いた刷版はステンレス製の500メッシュのものを用いた。銀ペーストは、平均粒径1μmの銀微粒子を含むものであった。形成されたパターン電極は、断面形状が椀型、銀のグリッド線の幅が46μm、厚さが3μmで、パターン(グリッド)の形状はピッチ2.0mmの正方格子で、正方形の開口部の角の曲率半径は50〜60μmであった。 A silver paste was printed in a grid shape on the surface of a release film 6 made of a cyclic polyolefin having a thickness of 50 μm by screen printing, and dried at 120 ° C. for 30 minutes to form a pattern electrode 4 (FIG. 6A). The surface roughness Rz of the release film 6 was 18 nm. The printing plate used for printing was a stainless steel 500 mesh. The silver paste contained silver fine particles having an average particle diameter of 1 μm. The formed pattern electrode has a square cross section, a silver grid line width of 46 μm, a thickness of 3 μm, and a pattern (grid) shape of a square lattice with a pitch of 2.0 mm. The curvature radius was 50-60 μm.
次に離型フィルム6およびパターン電極4の上に、アクリル系の紫外線(UV)硬化樹脂を塗布して透明樹脂層3を形成し(図6B)、厚さ125μmのPETフィルム7の片側にハードコート層8、反射防止層9が順次形成された透明基材2を、PETフィルム7側を内側にして積層した(図6C)。この状態で受光面11側からUVを照射して透明樹脂層3を硬化させた(図6D)。UVの照射は、高圧水銀灯を用いて行い、UV光度計(日本電池株式会社、UV−350N)の測定値を元に計算した積算照射光量は500mJ/cm2であった。UV硬化後の透明樹脂層3の膜厚は8μmであった。 Next, an acrylic ultraviolet (UV) curable resin is applied on the release film 6 and the pattern electrode 4 to form a transparent resin layer 3 (FIG. 6B), and hardened on one side of a 125 μm thick PET film 7. The transparent base material 2 on which the coating layer 8 and the antireflection layer 9 were sequentially formed was laminated with the PET film 7 side inside (FIG. 6C). In this state, the transparent resin layer 3 was cured by irradiating UV from the light receiving surface 11 side (FIG. 6D). UV irradiation was performed using a high-pressure mercury lamp, and the integrated irradiation light amount calculated based on the measurement value of a UV photometer (Nihon Batteries Co., Ltd., UV-350N) was 500 mJ / cm 2 . The film thickness of the transparent resin layer 3 after UV curing was 8 μm.
次に剥離フィルム6を除去した後(図6E)、透明樹脂層3およびパターン電極4の表面にITO薄膜を集電電極5として形成した(図6F)。ITO薄膜は、ITOターゲットを用い、Ar/O2雰囲気でスパッタ法によって成膜し、その厚さは30nmであった。以上の工程により、透明電極基材1を得た。 Next, after removing the release film 6 (FIG. 6E), an ITO thin film was formed as a collecting electrode 5 on the surfaces of the transparent resin layer 3 and the pattern electrode 4 (FIG. 6F). The ITO thin film was formed by sputtering in an Ar / O2 atmosphere using an ITO target, and the thickness was 30 nm. The transparent electrode base material 1 was obtained by the above process.
(実施例2)
実施例2は、パターン電極のグリッド線の幅が95μmであり、グリッド形状がピッチ5.3mmであったこと以外は、実施例1と同じ方法および条件で透明電極基材を作製した。
(Example 2)
In Example 2, a transparent electrode substrate was produced by the same method and conditions as Example 1 except that the width of the grid line of the pattern electrode was 95 μm and the grid shape was a pitch of 5.3 mm.
(実施例3)
実施例3は図7に示した方法によるものである。ただし、透明基材にはハードコート層および反射防止膜を有しないものを用いた。
(Example 3)
Example 3 is based on the method shown in FIG. However, a transparent substrate having no hard coat layer and antireflection film was used.
環状ポリオレフィンからなる離型フィルム6の表面に、スクリーン印刷によって銀ペーストをグリッド形状に印刷し、乾燥してパターン電極4を形成した(図7A)。使用した材料、印刷および焼成条件、パターン電極の形状はすべて実施例1と同じである。 On the surface of the release film 6 made of cyclic polyolefin, a silver paste was printed in a grid shape by screen printing and dried to form a pattern electrode 4 (FIG. 7A). The materials used, printing and firing conditions, and the shape of the pattern electrode are all the same as in Example 1.
次に、厚さ125μmのPETフィルム7(ハードコート層8および反射防止層9は有しない)を透明基材2として、この表面に実施例1と同じUV硬化樹脂を塗布し(図7B)、この上にパターン電極側を内側にして透明基材2を積層した(図7C)。この状態で受光面11側からUVを照射して透明樹脂層3を硬化させた(図7D)。UV照射条件およびUV硬化後の透明樹脂層3の厚さは実施例1と同じであった。 Next, a PET film 7 having a thickness of 125 μm (the hard coat layer 8 and the antireflection layer 9 are not provided) is used as the transparent base material 2, and the same UV curable resin as in Example 1 is applied to the surface (FIG. 7B). A transparent substrate 2 was laminated thereon with the pattern electrode side inside (FIG. 7C). In this state, the transparent resin layer 3 was cured by irradiating UV from the light receiving surface 11 side (FIG. 7D). The UV irradiation conditions and the thickness of the transparent resin layer 3 after UV curing were the same as in Example 1.
次に剥離フィルム6を除去した後(図7E)、透明樹脂層3およびパターン電極4の表面にITO薄膜を集電電極5として形成した(図7F)。ITOの成膜条件および膜厚は実施例1と同じであった。 Next, after removing the release film 6 (FIG. 7E), an ITO thin film was formed as a collecting electrode 5 on the surfaces of the transparent resin layer 3 and the pattern electrode 4 (FIG. 7F). The ITO film formation conditions and film thickness were the same as in Example 1.
(実施例4)
実施例4は、図6に示した方法によるものである。透明樹脂層にアクリルウレタン系のUV硬化樹脂を用いたことと、UV硬化後の透明樹脂層の厚さが15μmであったこと以外は、実施例1と同じ方法および条件で透明電極基材を作製した。
Example 4
Example 4 is based on the method shown in FIG. A transparent electrode substrate was prepared by the same method and conditions as in Example 1 except that an acrylic urethane-based UV curable resin was used for the transparent resin layer and the thickness of the transparent resin layer after UV curing was 15 μm. Produced.
表1に実施例1〜4の作製条件および得られた透明電極基材の特性を示す。全光線透過率は、ヘーズメーター(日本電色工業株式会社、NDH2000)を用いて、前述の方法によって測定した。表面抵抗は、抵抗率計(株式会社三菱化学アナリテック、ロレスタGP/MCP−T610)を用いて、前述の方法によって測定した。表中の表面粗さRzは、集電電極表面において、透明樹脂層上に形成された部分とパターン電極上に形成された部分とに分けて示した。また、段差は、集電電極表面において、パターン電極上に形成された部分と透明樹脂層上に形成された部分との段差のことをいう。集電電極の表面粗さRzおよび該段差は、段差・表面あらさ・微細形状測定装置(KLA−Tencor Corporation、P−6)を用いて測定した。Rzの定義はJISB0601−2001に従い、段差は同規格にいううねり曲線から求めた。 Table 1 shows the production conditions of Examples 1 to 4 and the characteristics of the obtained transparent electrode substrate. The total light transmittance was measured by the above-mentioned method using a haze meter (Nippon Denshoku Industries Co., Ltd., NDH2000). The surface resistance was measured by the above-described method using a resistivity meter (Mitsubishi Chemical Analytech Co., Ltd., Loresta GP / MCP-T610). The surface roughness Rz in the table is divided into a portion formed on the transparent resin layer and a portion formed on the pattern electrode on the surface of the current collecting electrode. Further, the step means a step between a portion formed on the pattern electrode and a portion formed on the transparent resin layer on the surface of the collecting electrode. The surface roughness Rz of the current collecting electrode and the level difference were measured using a level difference / surface roughness / fine shape measuring apparatus (KLA-Tencor Corporation, P-6). The definition of Rz is in accordance with JISB0601-2001, and the level difference is obtained from a wavy curve in the same standard.
表1から分かるように、実施例1〜4のいずれにおいても、全光線透過率が大きく、面抵抗が小さく、集電電極表面が平坦な透明電極基材が得られた。 As can be seen from Table 1, in any of Examples 1 to 4, a transparent electrode substrate having a high total light transmittance, a low surface resistance, and a flat collector electrode surface was obtained.
図10および図11に、実施例1の透明電極基材の断面の走査電子顕微鏡(SEM)写真を示す。図11は図10の一部を拡大観察したものである。集電電極層5は、膜厚が薄いために、SEM写真では確認できない。図10より、パターン電極4は断面が椀型に形成させていることが分かる。なお、図10において、透明基材2と透明樹脂層3の境界が波打っているように見えるが、これは試料作製時に透明基材2の端がめくれ上がったことによるものである。図11からは、パターン電極4が粒子状の銀を含むことが確認できる。また、図11で、銀微粒子の輪郭に沿ってやや白い部分が見られるが、これは有機物が残存した部分である。 10 and 11 show a scanning electron microscope (SEM) photograph of a cross section of the transparent electrode substrate of Example 1. FIG. FIG. 11 is an enlarged view of a part of FIG. Since the current collecting electrode layer 5 is thin, it cannot be confirmed by an SEM photograph. As can be seen from FIG. 10, the pattern electrode 4 has a saddle-shaped cross section. In FIG. 10, the boundary between the transparent base material 2 and the transparent resin layer 3 appears to wave, but this is due to the end of the transparent base material 2 being turned up during sample preparation. From FIG. 11, it can be confirmed that the pattern electrode 4 contains particulate silver. Further, in FIG. 11, a slightly white portion is seen along the outline of the silver fine particles, which is a portion where the organic matter remains.
1 透明樹脂基板
2、2’透明基材
3 透明樹脂層
4 パターン電極
5 集電電極
6 離型フィルム
7 樹脂フィルム
8 ハードコート層
9 反射防止層
10 接着層
11、11’受光面
13 集電電極−透明樹脂層界面
14 集電電極−パターン電極界面
15 集電電極表面
16 パターン電極の開口部
17 パターン電極の開口部の角
23 透明樹脂層界面の平均粗さ(十点平均粗さRz)
24 パターン電極界面の平均粗さ(十点平均粗さRz)
25 電極間界面における透明樹脂層とパターン電極の段差
31 有機薄膜太陽電池(OPV)
33 透明電極
35 ホール輸送層
36 活性層
37 電子輸送層
38 アルミニウム電極
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Transparent resin substrate 2, 2 'transparent base material 3 Transparent resin layer 4 Pattern electrode 5 Current collecting electrode 6 Release film 7 Resin film 8 Hard coat layer 9 Antireflection layer 10 Adhesive layer 11, 11' Light-receiving surface 13 Current collecting electrode -Transparent resin layer interface 14 Current collecting electrode-Pattern electrode interface 15 Current collecting electrode surface 16 Pattern electrode opening 17 Corner angle of pattern electrode opening 23 Average roughness of transparent resin layer interface (10-point average roughness Rz)
24 Average roughness of pattern electrode interface (10-point average roughness Rz)
25 Step between transparent resin layer and pattern electrode at electrode interface 31 Organic thin film solar cell (OPV)
33 Transparent electrode 35 Hole transport layer 36 Active layer 37 Electron transport layer 38 Aluminum electrode
Claims (12)
前記透明基材の片側に形成された透明樹脂層と、
前記透明樹脂層の前記透明基材とは反対側の面に埋め込まれたパターン電極と、
前記透明樹脂層および前記パターン電極の直上に形成された透明な集電電極とを有し、
前記集電電極の表面が平坦である
ことを特徴とする透明電極基材。 A plate-shaped transparent substrate;
A transparent resin layer formed on one side of the transparent substrate;
A pattern electrode embedded in a surface of the transparent resin layer opposite to the transparent substrate;
A transparent current collecting electrode formed directly on the transparent resin layer and the pattern electrode;
The surface of the said current collection electrode is flat, The transparent electrode base material characterized by the above-mentioned.
ことを特徴とする請求項1に記載の透明電極基材。 The transparent electrode substrate according to claim 1, wherein a cross-sectional shape of the pattern electrode is a bowl shape.
ことを特徴とする請求項1または2に記載の透明電極基材。 The transparent electrode substrate according to claim 1, wherein the pattern electrode includes metal particles.
ことを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の透明電極基材。 The said pattern electrode has silver as a main component, The transparent electrode base material as described in any one of Claims 1-3 characterized by the above-mentioned.
ことを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載の透明電極基材。 On the surface of the current collecting electrode, the level difference between the portion formed on the pattern electrode and the portion formed on the transparent resin layer is the surface roughness Rz of the surface on the current collecting electrode on the pattern electrode. The transparent electrode substrate according to any one of claims 1 to 4, wherein the transparent electrode substrate has a surface roughness Rz or less of a portion on the transparent resin layer on the surface of the collecting electrode.
ことを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載の透明電極基材。 The surface roughness Rz of the part on the said transparent resin layer of the said collector electrode surface is 100 nm or less, The transparent electrode base material as described in any one of Claims 1-5 characterized by the above-mentioned.
ことを特徴とする請求項1〜6のいずれか一項に記載の透明電極基材。 In the surface of the current collecting electrode, the surface roughness Rz of the portion where the current collecting electrode is formed on the pattern electrode is equal to or greater than the surface roughness Rz of the portion formed on the transparent resin layer. The transparent electrode base material as described in any one of Claims 1-6.
前記離型フィルムおよび前記パターン電極の表面に透明樹脂層を形成する工程と、
前記透明樹脂層の上に透明基材を積層する工程と、
前記離型フィルムを剥離する工程と、
前記透明樹脂層およびその表面に埋め込まれたパターン電極の表面に透明な集電電極を形成する工程とを有する
請求項1〜7のいずれか一項に記載の透明電極基材を製造する方法。 Printing the pattern electrode on the surface of the release film;
Forming a transparent resin layer on the surface of the release film and the pattern electrode;
Laminating a transparent substrate on the transparent resin layer;
Peeling the release film;
The method of manufacturing the transparent electrode base material as described in any one of Claims 1-7 which has a process of forming a transparent current collection electrode in the surface of the said transparent resin layer and the pattern electrode embedded in the surface.
透明基材の上に透明樹脂層を形成する工程と、
前記透明樹脂層の表面に、前記パターン電極側を内側にして前記離型フィルムを積層する工程と、
前記透明樹脂層を硬化させる工程と、
前記離型フィルムを剥離する工程と、
前記透明樹脂層およびその表面に埋め込まれたパターン電極の表面に透明な集電電極を形成する工程とを有する
請求項1〜7のいずれか一項に記載の透明電極基材を製造する方法。 Printing the pattern electrode on the surface of the release film;
Forming a transparent resin layer on the transparent substrate;
Laminating the release film on the surface of the transparent resin layer with the pattern electrode side inside;
Curing the transparent resin layer;
Peeling the release film;
The method of manufacturing the transparent electrode base material as described in any one of Claims 1-7 which has a process of forming a transparent current collection electrode in the surface of the said transparent resin layer and the pattern electrode embedded in the surface.
前記集電電極の表面にパターン電極を印刷する工程と、
前記離型フィルムおよび前記パターン電極の表面に透明樹脂層を形成する工程と、
前記透明樹脂層の上に透明基材を積層する工程と、
前記離型フィルムを剥離する工程とを有する
請求項1〜7のいずれか一項に記載の透明電極基材を製造する方法。 Forming a transparent current collecting electrode on the surface of the release film;
Printing a pattern electrode on the surface of the current collecting electrode;
Forming a transparent resin layer on the surface of the release film and the pattern electrode;
Laminating a transparent substrate on the transparent resin layer;
The method of manufacturing the transparent electrode base material as described in any one of Claims 1-7 which has the process of peeling the said release film.
ことを特徴とする請求項8〜10のいずれか一項に記載の透明電極基材製造方法。 The method for producing a transparent electrode substrate according to any one of claims 8 to 10, wherein the step of printing the pattern electrode is a step of screen printing a paste containing metal particles.
ことを特徴とする請求項8〜11のいずれか一項に記載の透明電極基材製造方法。 The surface roughness Rz of the said release film is 50 nm or less, The transparent electrode base material manufacturing method as described in any one of Claims 8-11 characterized by the above-mentioned.
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