JP2013094272A - X線ct装置および被曝線量計算方法並びにプログラム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】予め行われた撮影対象のX線を用いた撮影により得られたデータSDに基づいて、所定のスキャン条件(KV,ref_mAs)下で上記撮影対象のX線CTスキャンを行った場合に得られる画像の画質または画素値に係る特徴量であって、被曝線量との間に相関がある特徴量NIを見積もる第1のステップと、上記特徴量NIと被曝線量f(NI)との関係を参照して、第1のステップにより見積もられた特徴量NIと、上記所定のスキャン条件(KV,ref_mAs)とに基づいて、設定された所望のスキャン条件(KV,real_mAs)でX線CTスキャンを行った場合の上記撮影対象の被曝線量CTDIを計算する第2のステップとを実行する。
【選択図】図3
Description
撮影対象に対して本スキャン前に行われたX線による撮影により得られたデータ(data)に基づいて、所定のスキャン条件下で前記撮影対象のX線CTスキャンを行った場合に得られる画像の画質または画素値に係る特徴量であって、被曝線量との間に相関がある特徴量を見積もる見積手段と、
予め求められた前記特徴量と被曝線量との関係を参照して、前記見積手段により見積もられた特徴量と、前記所定のスキャン条件とに基づいて、設定された所望のスキャン条件でX線CTスキャンを行った場合の前記撮影対象の被曝線量を計算する計算手段とを備えたX線CT装置を提供する。
前記関係が、前記所定の条件下での関係であり、
前記計算手段が、前記所定の条件下での前記関係を参照して、前記見積手段により見積もられた特徴量に対応する被曝線量を特定し、該特定された被曝線量に前記所望のスキャン条件によるファクタを乗算して、前記所望のスキャン条件でX線CTスキャンを行った場合の前記撮影対象の被曝線量を算出する上記第1の観点のX線CT装置を提供する。
前記計算手段が、前記特定された被曝線量に、前記所望のスキャン条件によるファクタと、所望のゲイン(gain)とを乗算して、前記所望のスキャン条件でX線CTスキャンを行った場合の前記撮影対象の被曝線量を算出する上記第2の観点のX線CT装置を提供する。
前記ゲインが、該X線CT装置により計算される被曝線量と、他のX線CT装置により実質的に同一の条件で計算される被曝線量との差分を縮小するように決定される上記第3の観点のX線CT装置を提供する。
前記特徴量が、画像ノイズ(noise)のレベル(level)を表す指標である上記第1の観点から第4の観点のいずれか一つの観点のX線CT装置を提供する。
前記指標が、前記撮影対象の断層画像における画素値の分散または標準偏差である上記第5の観点のX線CT装置を提供する。
前記データが、前記撮影対象のスカウトスキャン(scout scan)により得られたデータである上記第5の観点または第6の観点のX線CT装置を提供する。
前記特徴量が、前記撮影対象の断面積を、同一の条件下での被曝線量が等しくなるように、アクリルまたは他の所定の物質で構成される物体の断面積に換算した値を表す指標である上記第1の観点から第4の観点のいずれか一つの観点のX線CT装置を提供する。
前記指標が、前記撮影対象の断層画像における規格化された画素値の総和である上記第8の観点のX線CT装置を提供する。
前記データが、前記撮影対象のヘリカルスキャン(helical scan)方式またはアキシャルスキャン(axial scan)方式によるスカウトスキャンにより得られたデータである上記第8の観点または第9の観点のX線CT装置を提供する。
前記データが、前記撮影対象に対して過去に行われたX線CTスキャンにより得られたデータである上記第8の観点または第9の観点のX線CT装置を提供する。
前記関係が、径の大きさが互いに異なる複数の円柱状のファントムに対してX線CTスキャンを実際に行って得られたものである上記第1の観点から第11の観点のいずれか一つの観点のX線CT装置を提供する。
撮影対象に対して本スキャン前に行われたX線による撮影により得られたデータに基づいて、所定のスキャン条件下で前記撮影対象のX線CTスキャンを行った場合に得られる画像の画質または画素値に係る特徴量であって、被曝線量との間に相関がある特徴量を見積もる第1のステップ(step)と、
予め求められた前記特徴量と被曝線量との関係を参照して、前記第1のステップにより見積もられた特徴量と、前記所定のスキャン条件とに基づいて、設定された所望のスキャン条件でX線CTスキャンを行った場合の前記撮影対象の被曝線量を計算する第2のステップとを備えた被曝線量計算方法を提供する。
前記関係が、前記所定の条件下での関係であり、
前記第2のステップが、前記所定の条件下での前記関係を参照して、前記第1のステップにより見積もられた特徴量に対応する被曝線量を特定し、該特定された被曝線量に前記所望のスキャン条件によるファクタを乗算して、前記所望のスキャン条件でX線CTスキャンを行った場合の前記撮影対象の被曝線量を算出するステップである上記第13の観点の被曝線量計算方法を提供する。
前記第2のステップが、前記特定された被曝線量に、前記所望のスキャン条件によるファクタと、所望のゲインとを乗算して、前記所望のスキャン条件でX線CTスキャンを行った場合の前記撮影対象の被曝線量を算出するステップである上記第14の観点の被曝線量計算方法を提供する。
前記ゲインが、該X線CT装置により計算される被曝線量と、他のX線CT装置により実質的に同一の条件で計算される被曝線量との差分を縮小するように決定される上記第15の観点の被曝線量計算方法を提供する。
前記特徴量が、画像ノイズのレベルを表す指標である上記第13の観点から第16の観点のいずれか一つの観点の被曝線量計算方法を提供する。
前記特徴量が、前記撮影対象の断面積を、同一の条件下での被曝線量が等しくなるように、アクリルまたは他の所定の物質で構成される物体の断面積に換算した値を表す指標である上記第13の観点から第16の観点のいずれか一つの観点の被曝線量計算方法を提供する。
前記関係が、径の大きさが互いに異なる複数の円柱状のファントムに対してX線CTスキャンを実際に行って得られたものである上記第13の観点から第18の観点のいずれか一つの観点の被曝線量計算方法を提供する。
コンピュータ(computer)を、
撮影対象に対して本スキャン前に行われたX線による撮影により得られたデータに基づいて、所定のスキャン条件下で前記撮影対象のX線CTスキャンを行った場合に得られる画像の画質または画素値に係る特徴量であって、被曝線量との間に相関がある特徴量を見積もる見積手段と、
予め求められた前記特徴量と被曝線量との関係を参照して、前記見積手段により見積もられた特徴量と、前記所定のスキャン条件とに基づいて、設定された所望のスキャン条件でX線CTスキャンを行った場合の前記撮影対象の被曝線量を計算する計算手段として機能させるためのプログラムを提供する。
図1は、本実施形態によるX線CT装置の構成を概略的に示す図である。X線CT装置100は、操作コンソール(console)1、撮影テーブル(table)10、および走査ガントリ(gantry)20を備えている。
data)取得部101、スキャン条件設定部102、画像ノイズ見積部103(見積手段)、基準被曝線量特定部104(計算手段)、推定被曝線量算出部105、CTスキャンデータ(scan data)取得部106、画像再構成部107、および画像表示制御部108を備えている。
図5は、本実施形態によるX線CT装置におけるスキャンの実行に係る部分の機能ブロック図である。また、図6は、本実施形態によるX線CT装置における被曝線量の計算方法を概念的に示す図である。
図8は、本実施形態によるX線CT装置におけるスキャンの実行に係る部分の機能ブロック図である。また、図9は、本実施形態によるX線CT装置における被曝線量の計算方法を概念的に示す図である。
2 入力装置
3 中央処理装置
5 データ収集バッファ
6 モニタ
7 記憶装置
10 撮影テーブル
12 クレードル
15 回転部
20 走査ガントリ
21 X線管
22 X線コントローラ
23 コリメータ
24 X線検出器
25 データ収集装置
26 回転部コントローラ
29 制御コントローラ
30 スリップリング
40 被検体
40a 眼
41 スカウト像
81 X線ビーム
100 X線CT装置
101 スカウトデータ取得部
102 スキャン条件設定部
103 画像ノイズ見積部(見積手段)
104 基準被曝線量特定部(計算手段)
105 推定被曝線量算出部(計算手段)
106 CTスキャンデータ取得部
107 画像再構成部
108 画像表示制御部
110 アクリル換算断面積見積部(見積手段)
111 過去画像読出部
Claims (20)
- 撮影対象に対して本スキャン前に行われたX線による撮影により得られたデータに基づいて、所定のスキャン条件下で前記撮影対象のX線CTスキャンを行った場合に得られる画像の画質または画素値に係る特徴量であって、被曝線量との間に相関がある特徴量を見積もる見積手段と、
予め求められた前記特徴量と被曝線量との関係を参照して、前記見積手段により見積もられた特徴量と、前記所定のスキャン条件とに基づいて、設定された所望のスキャン条件でX線CTスキャンを行った場合の前記撮影対象の被曝線量を計算する計算手段とを備えたX線CT装置。 - 前記関係は、前記所定の条件下での関係であり、
前記計算手段は、前記所定の条件下での前記関係を参照して、前記見積手段により見積もられた特徴量に対応する被曝線量を特定し、該特定された被曝線量に前記所望のスキャン条件によるファクタを乗算して、前記所望のスキャン条件でX線CTスキャンを行った場合の前記撮影対象の被曝線量を算出する請求項1に記載のX線CT装置。 - 前記計算手段は、前記特定された被曝線量に、前記所望のスキャン条件によるファクタと、所望のゲインとを乗算して、前記所望のスキャン条件でX線CTスキャンを行った場合の前記撮影対象の被曝線量を算出する請求項2に記載のX線CT装置。
- 前記ゲインは、該X線CT装置により計算される被曝線量と、他のX線CT装置により実質的に同一の条件で計算される被曝線量との差分を縮小するように決定される請求項3に記載のX線CT装置。
- 前記特徴量は、画像ノイズのレベルを表す指標である請求項1から請求項4のいずれか一項に記載のX線CT装置。
- 前記指標は、前記撮影対象の断層画像における画素値の分散または標準偏差である請求項5に記載のX線CT装置。
- 前記データは、前記撮影対象のスカウトスキャンにより得られたデータである請求項5または請求項6に記載のX線CT装置。
- 前記特徴量は、前記撮影対象の断面積を、同一の条件下での被曝線量が等しくなるように、アクリルまたは他の所定の物質で構成される物体の断面積に換算した値を表す指標である請求項1から請求項4のいずれか一項に記載のX線CT装置。
- 前記指標は、前記撮影対象の断層画像における規格化された画素値の総和である請求項8に記載のX線CT装置。
- 前記データは、前記撮影対象のヘリカルスキャン方式またはアキシャルスキャン方式によるスカウトスキャンにより得られたデータである請求項8または請求項9に記載のX線CT装置。
- 前記データは、前記撮影対象に対して過去に行われたX線CTスキャンにより得られたデータである請求項8または請求項9に記載のX線CT装置。
- 前記関係は、径の大きさが互いに異なる複数の円柱状のファントムに対してX線CTスキャンを実際に行って得られたものである請求項1から請求項11のいずれか一項に記載のX線CT装置。
- 撮影対象に対して本スキャン前に行われたX線による撮影により得られたデータに基づいて、所定のスキャン条件下で前記撮影対象のX線CTスキャンを行った場合に得られる画像の画質または画素値に係る特徴量であって、被曝線量との間に相関がある特徴量を見積もる第1のステップと、
予め求められた前記特徴量と被曝線量との関係を参照して、前記第1のステップにより見積もられた特徴量と、前記所定のスキャン条件とに基づいて、設定された所望のスキャン条件でX線CTスキャンを行った場合の前記撮影対象の被曝線量を計算する第2のステップとを備えた被曝線量計算方法。 - 前記関係は、前記所定の条件下での関係であり、
前記第2のステップは、前記所定の条件下での前記関係を参照して、前記第1のステップにより見積もられた特徴量に対応する被曝線量を特定し、該特定された被曝線量に前記所望のスキャン条件によるファクタを乗算して、前記所望のスキャン条件でX線CTスキャンを行った場合の前記撮影対象の被曝線量を算出するステップである請求項13に記載の被曝線量計算方法。 - 前記第2のステップは、前記特定された被曝線量に、前記所望のスキャン条件によるファクタと、所望のゲインとを乗算して、前記所望のスキャン条件でX線CTスキャンを行った場合の前記撮影対象の被曝線量を算出するステップである請求項14に記載の被曝線量計算方法。
- 前記ゲインは、該X線CT装置により計算される被曝線量と、他のX線CT装置により実質的に同一の条件で計算される被曝線量との差分を縮小するように決定される請求項15に記載の被曝線量計算方法。
- 前記特徴量は、画像ノイズのレベルを表す指標である請求項13から請求項16のいずれか一項に記載の被曝線量計算方法。
- 前記特徴量は、前記撮影対象の断面積を、同一の条件下での被曝線量が等しくなるように、アクリルまたは他の所定の物質で構成される物体の断面積に換算した値を表す指標である請求項13から請求項16のいずれか一項に記載の被曝線量計算方法。
- 前記関係は、径の大きさが互いに異なる複数の円柱状のファントムに対してX線CTスキャンを実際に行って得られたものである請求項13から請求項18のいずれか一項に記載の被曝線量計算方法。
- コンピュータを、
撮影対象に対して本スキャン前に行われたX線による撮影により得られたデータに基づいて、所定のスキャン条件下で前記撮影対象のX線CTスキャンを行った場合に得られる画像の画質または画素値に係る特徴量であって、被曝線量との間に相関がある特徴量を見積もる見積手段と、
予め求められた前記特徴量と被曝線量との関係を参照して、前記見積手段により見積もられた特徴量と、前記所定のスキャン条件とに基づいて、設定された所望のスキャン条件でX線CTスキャンを行った場合の前記撮影対象の被曝線量を計算する計算手段として機能させるためのプログラム。
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