JP2013044726A - 断層測定装置及び断層測定方法 - Google Patents
断層測定装置及び断層測定方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2013044726A JP2013044726A JP2011185073A JP2011185073A JP2013044726A JP 2013044726 A JP2013044726 A JP 2013044726A JP 2011185073 A JP2011185073 A JP 2011185073A JP 2011185073 A JP2011185073 A JP 2011185073A JP 2013044726 A JP2013044726 A JP 2013044726A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- optical path
- support
- reflecting
- procedure
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 35
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 68
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 22
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 22
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 22
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 17
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims description 4
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 5
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000003325 tomography Methods 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
【解決手段】断層測定装置を、光を放出する光源と、光源から放出された光を第一の光と第二の光に分割する第一の光分割部材と、第一の光の光路を変化させる光路可変部材と、第一の光と前記第二の光を結合させる光結合部材と、結合部材により結合した光の振幅を測定する振幅測定部材と、を有し、光路可変部材は、支持板41と、支持板を支持し、かつ回転させる回転支持部材と、第一の光を第三の光と第四の光24に分割する第二の光分割部材と、支持板上に配置される支持反射部材43と、支持反射部材から反射された第三の光を再度支持反射部材に入射させる第一の固定反射部材45と、支持反射部材から反射された第四の光を再度支持反射部材に入射させる第二の固定反射部材48を有するものとする。
【選択図】図5
Description
手順と、放出された光を第一の光と第二の光に分割する手順と、第二の光を被測定物に照
射し、反射させる手順と、第一の光を第三の光と第四の光に分割する手順と、第三の光を
支持板に配置された支持反射部材に反射させる手順と、支持反射部材に反射された第三の
光を第一の固定反射部材に反射させる手順と、第一の固定反射部材に反射された第三の光
と被測定物に反射された第二の光を結合する第一の結合手順と、第一の結合手順により結
合された光の振幅を測定する第一の測定手順と、第四の光を支持板に配置された支持反射
部材に反射させる手順と、支持反射部材に反射された第四の光を第二の固定反射部材に反
射させる手順と、第二の固定反射部材に反射された第四の光と被測定物に反射された第二
の光を結合する第二の結合手順と、第二の結合手順により結合された光の振幅を測定する
第二の測定手順とを有するものである。
図1は、本実施形態に係る断層測定装置の概略を示す機能ブロック図であり、図2は、本実施形態に係る光路可変部材の概略を示す図である。
本実施形態に係る断層測定装置1は、光を放出する光源2と、光源2から放出された光を第一の光21と第二の光22に分割する第一の光分割部材3と、第一の光21の光路を変化させる光路可変部材4と、第一の光21(後述の第三の光23及び第四の光24を含む。)と第二の光22を結合させる光結合部材5と、光結合部材5により結合した光の振幅を測定する振幅測定部材6とを有して構成されている。
また、本実施形態において、振幅測定部材6は、光結合部材5が結合した光の振幅を測定することのできるものである。振幅測定部材6は、上記の限りにおいて限定されるわけではないが、例えば図7の例で示すように、検出器61と、この検出器61に接続され所定の処理を行う情報処理装置62を有して構成されていることが好ましい。
Claims (4)
- 光を放出する光源と、
前記光源から放出された光を第一の光と第二の光に分割する第一の光分割部材と、
前記第一の光の光路を変化させる光路可変部材と、
前記第一の光と前記第二の光を結合させる光結合部材と、
前記光結合部材により結合した光の振幅を測定する振幅測定部材と、を有し、
前記光路可変部材は、
支持板と、
前記支持板を支持し、かつ回転させる回転支持部材と、
前記第一の光を第三の光と第四の光に分割する第二の光分割部材と、
前記支持板上に配置される支持反射部材と、
前記支持反射部材から反射された前記第三の光を再度前記支持反射部材に入射させる第一の固定反射部材と、
前記支持反射部材から反射された第四の光を再度前記支持反射部材に入射させる第二の固定反射部材と、を有する断層測定装置。 - 前記第三の光の光路長と前記第四の光の光路長を連続的に変化させる請求項1記載の断層測定装置。
- 前記光結合部材は、前記光路可変部材により光路長が変化した第一の光と、被測定物に対して照射され反射した第二の光を結合するものである請求項1乃至2のいずれかに記載の断層測定装置。
- 光を放出する手順と、
前記放出された光を第一の光と第二の光に分割する手順と、
前記第二の光を被測定物に照射し、反射させる手順と、
前記第一の光を第三の光と第四の光に分割する手順と、
前記第三の光を支持板に配置された支持反射部材に反射させる手順と、
前記支持反射部材に反射された第三の光を第一の固定反射部材に反射させる手順と、
前記第一の固定反射部材に反射された第三の光と前記被測定物に反射された第二の光を結合する第一の結合手順と、
前記第一の結合手順により結合された光の振幅を測定する第一の測定手順と、
前記第四の光を前記支持板に配置された前記支持反射部材に反射させる手順と、
前記支持反射部材に反射された第四の光を第二の固定反射部材に反射させる手順と、
前記第二の固定反射部材に反射された第四の光と前記被測定物に反射された第二の光を結合する第二の結合手順と、
前記第二の結合手順により結合された光の振幅を測定する第二の測定手順とを有する断層測定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011185073A JP5854396B2 (ja) | 2011-08-26 | 2011-08-26 | 断層測定装置及び断層測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011185073A JP5854396B2 (ja) | 2011-08-26 | 2011-08-26 | 断層測定装置及び断層測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013044726A true JP2013044726A (ja) | 2013-03-04 |
JP5854396B2 JP5854396B2 (ja) | 2016-02-09 |
Family
ID=48008734
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011185073A Active JP5854396B2 (ja) | 2011-08-26 | 2011-08-26 | 断層測定装置及び断層測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5854396B2 (ja) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003329577A (ja) * | 2002-05-13 | 2003-11-19 | Naohiro Tanno | 光コヒーレンストモグラフィーにおける回転反射体による多重連光遅延発生方法及び光コヒーレンストモグラフィー装置 |
JP2004325286A (ja) * | 2003-04-25 | 2004-11-18 | Mtex Matsumura Co | 光干渉断層画像化装置における画像信号同期機構 |
JP2009222705A (ja) * | 2008-02-20 | 2009-10-01 | Osaka Univ | 寸法測定装置 |
WO2011062288A1 (ja) * | 2009-11-23 | 2011-05-26 | 国立大学法人千葉大学 | 断層測定装置 |
-
2011
- 2011-08-26 JP JP2011185073A patent/JP5854396B2/ja active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003329577A (ja) * | 2002-05-13 | 2003-11-19 | Naohiro Tanno | 光コヒーレンストモグラフィーにおける回転反射体による多重連光遅延発生方法及び光コヒーレンストモグラフィー装置 |
JP2004325286A (ja) * | 2003-04-25 | 2004-11-18 | Mtex Matsumura Co | 光干渉断層画像化装置における画像信号同期機構 |
JP2009222705A (ja) * | 2008-02-20 | 2009-10-01 | Osaka Univ | 寸法測定装置 |
WO2011062288A1 (ja) * | 2009-11-23 | 2011-05-26 | 国立大学法人千葉大学 | 断層測定装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5854396B2 (ja) | 2016-02-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6283562B2 (ja) | 物体の3次元構造を検出する装置 | |
US8055107B2 (en) | Optical rotary adapter and optical tomographic imaging system using the same | |
US7940397B2 (en) | Optical connector and an optical tomographic imaging system using the same | |
WO2010050296A1 (ja) | 光断層画像形成方法 | |
JP2007171206A5 (ja) | ||
JP2007205918A (ja) | 計測内視鏡 | |
JP2012058068A5 (ja) | ||
JP2009222705A (ja) | 寸法測定装置 | |
CN104315971A (zh) | 双波长斐索激光干涉仪 | |
JP4804057B2 (ja) | 内面計測装置 | |
JP5713319B2 (ja) | 断層測定装置 | |
JP2010511883A (ja) | マルチビーム干渉計用のマルチビーム源及びマルチビーム干渉計 | |
JP2013152191A (ja) | 多波長干渉計 | |
JP7327620B2 (ja) | 光干渉断層撮像装置、撮像方法、及び、撮像プログラム | |
JP5854396B2 (ja) | 断層測定装置及び断層測定方法 | |
TWI447352B (zh) | 光學斷層攝影系統 | |
JP5911087B2 (ja) | 断層測定装置 | |
JP5791043B2 (ja) | 断層測定装置 | |
WO2010113985A1 (ja) | 干渉計 | |
JP2006284303A (ja) | 傾斜測定干渉計装置 | |
JP2007258368A (ja) | 波長可変レーザ装置および光断層画像化装置 | |
US20140071434A1 (en) | Optical tomographic image acquisition apparatus | |
WO2021192047A1 (ja) | 光干渉断層撮像装置、撮像方法、及び、撮像プログラムが格納された非一時的なコンピュータ可読媒体 | |
JPWO2012132811A1 (ja) | 測距方法及びレーザ測距装置 | |
JP7211497B2 (ja) | 光干渉断層撮像装置、撮像方法、及び、撮像プログラム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20140609 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20150128 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20150303 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150507 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150610 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20151110 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20151201 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5854396 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |