JP2013024882A5 - - Google Patents

Description

上述した課題を解決するために、本発明の分析装置は、試料の測定を行うための測定用ハードウェアと制御部を含む。前記試料の測定を行う前に、所定の時間の間、前記試料に対し第１測定前処理を実施するように促し、前記所定の時間が経過したのち、第２測定前処理の実施を促すように構成されている。

上述した課題を解決するために、本発明の試料分析方法は、試料の測定を行うための測定用ハードウェアを備えた、分析装置における試料分析方法であって、試料の測定を行う前に、所定の時間の間、試料に対し第１測定前処理を実施するように促すステップと、前記所定の時間が経過したのち、第２測定前処理の実施を促すステップを含む。

上述した課題を解決するために、本発明のコンピュータプログラムは、試料の測定を行うための測定用ハードウェアを備えた、分析装置のコンピュータを、試料の測定を行う前に、所定の時間の間、試料に対し第１測定前処理を実施するように促す手段と、前記所定の時間が経過したのち、第２測定前処理の実施を促す手段として機能させる。

Claims (21)

1. 試料を分析する分析装置であって、
   試料の測定を行うための測定用ハードウェアと、
   制御部と、を備え、
   前記制御部は、
   前記試料の測定を行う前に、所定の時間の間、前記試料に対し第１測定前処理を実施するように促し、
   前記所定の時間が経過したのち、第２測定前処理の実施を促すように構成されている分析装置。
2. 前記制御部は、前記所定の時間の間、前記測定用ハードウェアによる試料の測定を禁止するように構成されている、請求項１に記載の分析装置。
3. 前記制御部は、前記第２測定前処理の実施を促す前に、前記第２測定前処理を実施する準備が完了したことが受け付けるまで、前記第２測定前処理の実施するように促すことを待機するように構成されている、請求項１又は請求項２に記載の分析装置。
4. 前記制御部は、前記所定の時間が経過したのち、前記第１測定前処理が完了したことを受け付けるように構成されている、請求項１乃至請求項３の何れか１項に記載の分析装置。
5. 前記制御部は、経過時間もしくは残り時間を出力するように構成されている、請求項１乃至請求項４の何れか１項に記載の分析装置。
6. 前記第１測定前処理は、試料を暖めることを含む、請求項１乃至請求項５の何れか１項に記載の分析装置。
7. 前記第2測定前処理は、前記試料の攪拌を含む、請求項１乃至請求項６の何れか１項に記載の分析装置。
8. 試料の測定を行うための測定用ハードウェアを備えた、分析装置における試料分析方法であって、
   前記試料の測定を行う前に、所定の時間の間、前記試料に対し第１測定前処理を実施するように促すステップと、
   前記所定の時間が経過したのち、第２測定前処理の実施を促すステップを含む、試料分析方法。
9. 前記所定の時間の間、前記測定用ハードウェアによる試料の測定を禁止するステップを含む、請求項８に記載の試料分析方法。
10. 前記第２測定前処理の実施を促す前に、前記第２測定前処理を実施する準備が完了したことが受け付けるまで、前記第２測定前処理の実施するように促すことを待機するステップを含む、請求項８又は請求項９に記載の試料分析方法。
11. 前記所定の時間が経過したのち、前記第１測定前処理が完了したことを受け付けるステップを含む、請求項８乃至請求項１０の何れか１項に記載の試料分析方法。
12. 経過時間もしくは残り時間を出力するステップを含む、請求項８乃至請求項１１の何れか１項に記載の試料分析方法。
13. 前記第１測定前処理は、試料を暖めるステップを含む、請求項８乃至請求項１２の何れか１項に記載の試料分析方法。
14. 前記第2測定前処理は、前記試料の攪拌するステップを含む、請求項８乃至請求項１３の何れか１項に記載の試料分析方法。
15. 試料の測定を行うための測定用ハードウェアを備えた、分析装置のコンピュータを、
    前記試料の測定を行う前に、所定の時間の間、前記試料に対し第１測定前処理を実施するように促す手段と、
    前記所定の時間が経過したのち、第２測定前処理の実施を促す手段、
    として機能させるためのコンピュータプログラム。
16. 前記所定の時間の間、前記測定用ハードウェアによる試料の測定を禁止する手段を含む、請求項１５に記載のコンピュータプログラム。
17. 前記第２測定前処理の実施を促す前に、前記第２測定前処理を実施する準備が完了したことが受け付けるまで、前記第２測定前処理の実施するように促すことを待機する手段を含む、請求項１５又は請求項１６に記載のコンピュータプログラム。
18. 前記所定の時間が経過したのち、前記第１測定前処理が完了したことを受け付ける手段を含む、請求項１５乃至請求項１７の何れか１項に記載のコンピュータプログラム。
19. 経過時間もしくは残り時間を出力する手段を含む、請求項１５乃至請求項１８の何れか１項に記載のコンピュータプログラム。
20. 前記第１測定前処理は、試料を暖める手段を含む、請求項１５乃至請求項１９の何れか１項に記載のコンピュータプログラム。
21. 前記第2測定前処理は、前記試料の攪拌する手段を含む、請求項１５乃至請求項２０の何れか１項に記載のコンピュータプログラム。