JP2013003157A - Exposure unit and exposure method using the same - Google Patents

Exposure unit and exposure method using the same Download PDF

Info

Publication number
JP2013003157A
JP2013003157A JP2011130462A JP2011130462A JP2013003157A JP 2013003157 A JP2013003157 A JP 2013003157A JP 2011130462 A JP2011130462 A JP 2011130462A JP 2011130462 A JP2011130462 A JP 2011130462A JP 2013003157 A JP2013003157 A JP 2013003157A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
exposure
substrates
stage
substrate
substrate stage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2011130462A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP5799304B2 (en
Inventor
Hiroshi Ikefuchi
宏 池淵
Hideki Okaya
秀樹 岡谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NSK Technology Co Ltd
Original Assignee
NSK Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NSK Technology Co Ltd filed Critical NSK Technology Co Ltd
Priority to JP2011130462A priority Critical patent/JP5799304B2/en
Priority to CN201210191311.1A priority patent/CN102819195B/en
Publication of JP2013003157A publication Critical patent/JP2013003157A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5799304B2 publication Critical patent/JP5799304B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an exposure unit that can more efficiently perform exposure of a plurality of substrates to shorten the tact time, and an exposure method using the unit.SOLUTION: An exposure unit 10 comprises an exposure device 11, first and second transportation devices 12 and 13, and a control unit 20. The exposure device 11 includes: a mask stage 21 for holding a mask M; a substrate stage 24 including first and second work chucks 22 and 23 for holding substrates W1 and W2, respectively; a stage movement mechanism 25 capable of moving the first and second work chucks 22 and 23 in synchronization so that the substrates W1 and W2 held by the first and second work chucks 22 and 23 face the mask M; and an illumination optical system for irradiating the substrates W1 and W2 with light through the mask M. The first and second transportation devices 12 and 13 hold the substrates W1 and W2, respectively and carry the substrates W1 and W2 in and out of the first and second work chucks 22 and 23. The control unit 20 controls the first and second transportation devices 12 and 13 so that the carrying operations of the substrates W1 and W2 are performed in synchronization.

Description

本発明は、露光ユニット及びそれを用いた露光方法に関する。   The present invention relates to an exposure unit and an exposure method using the same.

基板上にマスクの露光パターンを露光転写するプロキシミティ露光は、表面に感光剤を塗布した透光性の基板(被露光材)をワークチャックで保持し、マスクステージのマスク保持枠に保持されたマスクに、例えば、数10μm〜数100μmのギャップで接近させて、パターン露光用の光をマスクに向けて照射してマスクに描かれた露光パターンを基板上に転写するフォトリソグラフィー技術により行われている。   Proximity exposure, in which the exposure pattern of the mask is exposed and transferred onto the substrate, is held on a mask holding frame of a mask stage by holding a translucent substrate (material to be exposed) coated with a photosensitive agent on the surface by a work chuck. For example, it is performed by a photolithographic technique in which an exposure pattern drawn on the mask is transferred onto the substrate by irradiating the mask with light for pattern exposure toward the mask with a gap of several tens of μm to several hundreds of μm, for example. Yes.

このようなプロキシミティ方式を用いた露光装置としては、露光位置とロード/アンロード位置とをそれぞれ移動する2台のワークステージと、各ロード/アンロード位置へのワークの搬入及び搬出が可能な2台のロボットとを備え、一方のワークステージ上のワークを露光中、他方のワークステージでワークの搬入・搬出を行うようにしたものが考案されている(例えば、特許文献1参照。)。また、この露光装置では、一枚のマスクを用いて、基板の一面を一括して露光するか、一面を複数のショットに分けて露光することが行われている。   As an exposure apparatus using such a proximity method, two work stages that respectively move the exposure position and the load / unload position, and the work can be carried into and out of each load / unload position. Two robots have been devised in which a workpiece on one workpiece stage is being exposed and a workpiece is loaded / unloaded on the other workpiece stage (see, for example, Patent Document 1). Further, in this exposure apparatus, one surface of the substrate is exposed all at once using one mask, or one surface is divided into a plurality of shots for exposure.

また、特許文献2に記載の露光装置では、単一ステージタイプのステージ装置と同程度のフットプリントで、2つのステージを移動させることができるステージ装置が開示され、一方のステージで露光動作中、他方のステージでウェハ交換とアライメントの少なくとも一方が行われることが記載されている。   In addition, in the exposure apparatus described in Patent Document 2, a stage apparatus that can move two stages with a footprint comparable to that of a single stage type stage apparatus is disclosed, and during an exposure operation on one stage, It is described that at least one of wafer exchange and alignment is performed on the other stage.

特開2008−158545号公報JP 2008-158545 A 特開2003−17404号公報JP 2003-17404 A

ところで、特許文献1及び2に記載の露光装置では、露光動作との同時並行処理によりスループットの向上を図ったものであるが、複数の基板の露光動作自体をより効率的に行うことが要求されている。   By the way, in the exposure apparatuses described in Patent Documents 1 and 2, the throughput is improved by simultaneous parallel processing with the exposure operation. However, it is required to perform the exposure operation of a plurality of substrates more efficiently. ing.

本発明は、前述した課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、複数の基板の露光をより効率的に行うことができ、タクトタイムの短縮を図ることができる露光ユニット及びそれを用いた露光方法を提供することにある。   The present invention has been made in view of the above-described problems, and an object of the present invention is to provide an exposure unit capable of more efficiently performing exposure of a plurality of substrates and reducing tact time, and the use thereof. It is to provide an exposure method.

本発明の上記目的は、下記の構成により達成される。
(1) 複数のマスクを保持するマスクステージと、
被露光材としての複数の基板をそれぞれ保持する複数のワークチャックをそれぞれ備える第1及び第2の基板ステージと、
前記第1又は第2の基板ステージの前記複数の基板が前記マスクステージに保持された前記複数のマスクと対向する露光位置と、前記第1の基板ステージが前記複数の基板を搬入及び搬出する第1の搬入/搬出位置との間で、前記第1の基板ステージを移動させる第1のステージ移動機構と、
前記露光位置と、前記第2の基板ステージが前記複数の基板を搬入及び搬出する第2の搬入/搬出位置との間で、前記第2の基板ステージを移動させる第2のステージ移動機構と、
前記複数のマスクを介して前記複数の基板に露光光を照射する照明光学系と、
を備える露光装置と、
前記基板を保持し、且つ、前記各複数のワークチャックに対して前記基板を搬入及び搬出可能な複数の搬送装置をそれぞれ有する第1及び第2搬送ユニットと、
を備え、
前記露光装置は、前記第1又は第2の基板ステージに保持された前記複数の基板が前記マスクステージに保持された前記複数のマスクと対向した状態で、前記照明光学系が前記複数のマスクを介して前記複数の基板に露光光を照射することで、前記複数の基板を同時に露光することを特徴とすることを特徴とする露光ユニット。
(2) 前記第1の基板ステージに保持された前記複数の基板が前記露光位置にて露光されているとき、前記第2の基板ステージは、前記第2搬入/搬出位置に待機し、
前記第2の基板ステージに保持された前記複数の基板が前記露光位置にて露光されているとき、前記第1の基板ステージは、前記第1搬入/搬出位置に待機することを特徴とする(1)に記載の露光ユニット。
(3) 前記露光装置は、一括露光方式であることを特徴とする(1)又は(2)に記載の露光ユニット。
(4) 複数のマスクを保持するマスクステージと、被露光材としての複数の基板をそれぞれ保持する複数のワークチャックをそれぞれ備える第1及び第2の基板ステージと、前記第1又は第2の基板ステージの前記複数の基板が前記マスクステージに保持された前記複数のマスクと対向する露光位置と、前記第1の基板ステージが前記複数の基板を搬入及び搬出する第1の搬入/搬出位置との間で、前記第1の基板ステージを移動させる第1のステージ移動機構と、前記露光位置と、前記第2の基板ステージが前記複数の基板を搬入及び搬出する第2の搬入/搬出位置との間で、前記第2の基板ステージを移動させる第2のステージ移動機構と、前記複数のマスクを介して前記複数の基板に露光光を照射する照明光学系と、を備える露光装置と、
前記基板を保持し、且つ、前記各複数のワークチャックに対して前記基板を搬入及び搬出可能な複数の搬送装置をそれぞれ有する第1及び第2搬送ユニットと、
を備える露光ユニットを用いた露光方法であって、
前記第1又は第2の基板ステージに保持された前記複数の基板が前記マスクステージに保持された前記複数のマスクと対向した状態で、前記照明光学系が前記複数のマスクを介して前記複数の基板に露光光を照射することで、前記複数の基板を同時に露光することを特徴とする露光方法。
(5) 前記第1の基板ステージに保持された前記複数の基板が前記露光位置にて露光されているとき、前記第2の基板ステージは、前記第2搬入/搬出位置に待機し、
前記第2の基板ステージに保持された前記複数の基板が前記露光位置にて露光されているとき、前記第1の基板ステージは、前記第1搬入/搬出位置に待機することを特徴とする(4)に記載の露光方法。
The above object of the present invention can be achieved by the following constitution.
(1) a mask stage for holding a plurality of masks;
First and second substrate stages each having a plurality of work chucks each holding a plurality of substrates as exposure materials;
An exposure position where the plurality of substrates of the first or second substrate stage oppose the plurality of masks held on the mask stage, and a first substrate stage that carries in and out the plurality of substrates. A first stage moving mechanism for moving the first substrate stage between one loading / unloading position;
A second stage moving mechanism for moving the second substrate stage between the exposure position and a second loading / unloading position where the second substrate stage loads and unloads the plurality of substrates;
An illumination optical system that irradiates the plurality of substrates with exposure light through the plurality of masks;
An exposure apparatus comprising:
A first and a second transfer unit each holding a plurality of transfer devices that hold the substrate and can carry the substrate into and out of the plurality of work chucks;
With
In the exposure apparatus, the illumination optical system applies the plurality of masks while the plurality of substrates held on the first or second substrate stage face the plurality of masks held on the mask stage. And exposing the plurality of substrates simultaneously by irradiating the plurality of substrates with exposure light.
(2) When the plurality of substrates held on the first substrate stage are exposed at the exposure position, the second substrate stage waits at the second loading / unloading position,
When the plurality of substrates held on the second substrate stage are exposed at the exposure position, the first substrate stage stands by at the first loading / unloading position ( The exposure unit according to 1).
(3) The exposure unit according to (1) or (2), wherein the exposure apparatus is a batch exposure system.
(4) First and second substrate stages each having a mask stage for holding a plurality of masks, a plurality of work chucks for holding a plurality of substrates as exposure materials, and the first or second substrate, respectively. An exposure position where the plurality of substrates of the stage are opposed to the plurality of masks held on the mask stage, and a first loading / unloading position where the first substrate stage loads and unloads the plurality of substrates. A first stage moving mechanism for moving the first substrate stage, an exposure position, and a second loading / unloading position at which the second substrate stage loads and unloads the plurality of substrates. An exposure apparatus comprising: a second stage moving mechanism for moving the second substrate stage in between, and an illumination optical system for irradiating the plurality of substrates with exposure light through the plurality of masks When,
A first and a second transfer unit each holding a plurality of transfer devices that hold the substrate and can carry the substrate into and out of the plurality of work chucks;
An exposure method using an exposure unit comprising:
In a state where the plurality of substrates held on the first or second substrate stage face the plurality of masks held on the mask stage, the illumination optical system passes through the plurality of masks. An exposure method comprising exposing the plurality of substrates simultaneously by irradiating the substrate with exposure light.
(5) When the plurality of substrates held on the first substrate stage are exposed at the exposure position, the second substrate stage waits at the second loading / unloading position,
When the plurality of substrates held on the second substrate stage are exposed at the exposure position, the first substrate stage stands by at the first loading / unloading position ( The exposure method according to 4).

本発明の露光ユニット及びそれを用いた露光方法によれば、露光装置は、第1及び第2の基板ステージを露光位置にそれぞれ移動可能な第1及び第2の基板ステージ移動機構を備え、第1又は第2の基板ステージに保持された複数の基板がマスクステージに保持された複数のマスクと対向した状態で、照明光学系が複数のマスクを介して複数の基板に露光光を照射することで、複数の基板を同時に露光することができる。これにより、複数の基板の露光を効率的に行うことができ、タクトタイムの短縮を図ることができる。   According to the exposure unit and the exposure method using the same according to the present invention, the exposure apparatus includes first and second substrate stage moving mechanisms that can move the first and second substrate stages to exposure positions, respectively. The illumination optical system irradiates the plurality of substrates with the exposure light through the plurality of masks while the plurality of substrates held on the first or second substrate stage face the plurality of masks held on the mask stage. Thus, a plurality of substrates can be exposed simultaneously. Thereby, the exposure of a plurality of substrates can be performed efficiently, and the tact time can be shortened.

また、第1及び第2搬送ユニットは、各複数のワークチャックに対して基板を搬入及び搬出可能な複数の搬送装置をそれぞれ有するので、第1及び第2の搬送装置によって複数のワークチャックへ基板の搬入動作、及び複数のワークチャックから基板の搬出動作を同期して行うことができ、タクトタイムのさらなる短縮が可能となる。   In addition, since the first and second transfer units respectively have a plurality of transfer devices capable of loading and unloading the substrate with respect to each of the plurality of work chucks, the first and second transfer devices transfer the substrate to the plurality of work chucks. The carrying-in operation and the carrying-out operation of the substrate from the plurality of work chucks can be performed in synchronization, and the tact time can be further shortened.

本発明の第1実施形態に係る露光ユニットを説明するための概略構成図である。It is a schematic block diagram for demonstrating the exposure unit which concerns on 1st Embodiment of this invention. 図1の露光装置の側面図である。It is a side view of the exposure apparatus of FIG. 第1実施形態の変形例に係る露光ユニットを説明するための概略構成図である。It is a schematic block diagram for demonstrating the exposure unit which concerns on the modification of 1st Embodiment. 図3の搬送コンベアの側面図である。It is a side view of the conveyance conveyor of FIG. 本発明の第2実施形態に係る露光ユニットを説明するための概略構成図である。It is a schematic block diagram for demonstrating the exposure unit which concerns on 2nd Embodiment of this invention.

以下、本発明の第1実施形態に係る露光ユニットを図面に基づいて詳細に説明する。
図1に示す一実施形態の露光ユニット10は、近接露光装置11と、第1及び第2の搬送ユニット12,13と、搬送ユニット12,13毎にそれぞれ設けられた、第1及び第2のプリアライメント装置14,15、第1及び第2の搬入コンベア16,17、及び第1及び第2の搬出コンベア18,19と、これら装置を制御する制御部20と、を備える。
Hereinafter, an exposure unit according to a first embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
An exposure unit 10 according to an embodiment shown in FIG. 1 includes a proximity exposure apparatus 11, first and second transport units 12 and 13, and first and second transport units 12 and 13, respectively. Pre-alignment apparatuses 14 and 15, first and second carry-in conveyors 16 and 17, first and second carry-out conveyors 18 and 19, and a control unit 20 that controls these apparatuses are provided.

近接露光装置11は、複数のマスクM1、M2をそれぞれ保持すると共に、各マスクM1、M2を水平面上でX,Y駆動及びθ回転駆動可能な複数のマスクステージ21A、21Bと、被露光材としての複数の基板W1、W2をそれぞれ保持する第1及び第2のワークチャック22、23をそれぞれ備える第1及び第2の基板ステージ24、25と、第1又は第2の基板ステージ24、25の第1及び第2のワークチャック22、23に保持された複数の基板W1、W2がマスクステージ21A、21Bに保持されたマスクM1、M2と対向する露光位置Aと、第1基板ステージ24が複数の基板W1、W2を搬入及び搬出する第1の搬入/搬出位置B1との間で、第1の基板ステージ24を移動させる第1のステージ移動機構26と、露光位置Aと、第2の基板ステージ25が複数の基板W1、W2を搬入及び搬出する第2の搬入/搬出位置B2との間で、第2の基板ステージ25を移動させる第2のステージ移動機構27と、マスクMを介して基板W1、W2に露光光を照射する照明光学系28と、を備える。また、マスクステージ21A、21Bには、それぞれ複数のアライメントカメラ29Aと、ギャップ用アクチュエータ29Bが設けられている。   The proximity exposure apparatus 11 holds a plurality of masks M1 and M2, respectively, and a plurality of mask stages 21A and 21B that can drive each mask M1 and M2 on the horizontal plane in X, Y drive and θ rotation, and as an exposed material. Of the first and second substrate stages 24 and 25 respectively including the first and second work chucks 22 and 23 holding the plurality of substrates W1 and W2, respectively. A plurality of substrates W1 and W2 held by the first and second work chucks 22 and 23 are exposed to the masks M1 and M2 held by the mask stages 21A and 21B, and a plurality of first substrate stages 24 are provided. A first stage moving mechanism 26 for moving the first substrate stage 24 between the first loading / unloading position B1 for loading and unloading the substrates W1 and W2, and exposure. A second stage moving mechanism for moving the second substrate stage 25 between the apparatus A and a second loading / unloading position B2 where the second substrate stage 25 loads and unloads the plurality of substrates W1, W2. 27 and an illumination optical system 28 that irradiates the substrates W1 and W2 with exposure light through the mask M. The mask stages 21A and 21B are provided with a plurality of alignment cameras 29A and gap actuators 29B, respectively.

本実施形態の近接露光装置11は、一括露光方式であり、マスクMと基板W1、W2をそれぞれ1:1で焼き付けていく方式であり、各基板W1,W2の露光時間は非常に短い。なお、マスクステージ21、第1及び第2のステージ移動機構26,27、照明光学系28などの構成は、公知の構成のものが適用可能である。例えば、第1及び第2のステージ移動機構26,27は、モータ及びボールねじの組合せとリニアガイドとを有するものでもよいし、リニアモータとリニアガイドとを有するものによって構成されてもよい。また、第1及び第2のステージ移動機構26,27は、第1及び第2のワークチャック22,23が同期移動可能なものであれば、本実施形態のように一体であってもよいし、第1及び第2のワークチャック22,23ごとに別体であってもよい。   The proximity exposure apparatus 11 of this embodiment is a batch exposure method, in which the mask M and the substrates W1 and W2 are baked at 1: 1, and the exposure time of each of the substrates W1 and W2 is very short. The mask stage 21, the first and second stage moving mechanisms 26 and 27, the illumination optical system 28, and the like can be applied to known configurations. For example, the first and second stage moving mechanisms 26 and 27 may include a combination of a motor and a ball screw and a linear guide, or may include a linear motor and a linear guide. Further, the first and second stage moving mechanisms 26 and 27 may be integrated as in the present embodiment as long as the first and second work chucks 22 and 23 can move synchronously. Each of the first and second work chucks 22 and 23 may be a separate body.

第1及び第2の搬送ユニット12、13は、それぞれ第1及び第2の搬送装置32、33を備える。第1の搬送装置32は、基板W1を保持し、且つ、第1又は第2の基板ステージ24、25の第1のワークチャック22に対して基板W1を搬入及び搬出すると共に、第1のプリアライメント装置14、第1の搬入コンベア16、及び第1の搬出コンベア18へアクセス可能に配置されている。また、第2の搬送装置33も、基板W2を保持し、且つ、第1又は第2の基板ステージ24、25の第2のワークチャック23に対して基板W2を搬入及び搬出すると共に、第2のプリアライメント装置15、第2の搬入コンベア17、及び第2の搬出コンベア19へアクセス可能に配置されている。   The first and second transport units 12 and 13 include first and second transport devices 32 and 33, respectively. The first transfer device 32 holds the substrate W1 and carries the substrate W1 in and out of the first work chuck 22 of the first or second substrate stage 24, 25, and also the first pre-feed device 32. The alignment device 14, the first carry-in conveyor 16, and the first carry-out conveyor 18 are arranged to be accessible. The second transport device 33 also holds the substrate W2, carries in and out the substrate W2 with respect to the second work chuck 23 of the first or second substrate stage 24, 25, and second The pre-alignment device 15, the second carry-in conveyor 17, and the second carry-out conveyor 19 are arranged to be accessible.

本実施形態においては、各搬送ユニット12,13の第1及び第2の搬送装置32,33は、それぞれ異なる方向から近接露光装置11の各ワークチャック22,23にアクセス可能なように配置されている。なお、本実施形態では、第1及び第2の搬送装置32,33として、基板W1,W2を保持するロボットアーム32a,33aを有し、水平方向及び上下方向に駆動するスカラー型のロボットが適用されているが、直動式のロボットやベルトコンベアであってもよい。また、各搬送装置32,33は、それぞれ複数のロボットアーム32a,33aを有するように構成されてもよい。   In the present embodiment, the first and second transfer devices 32 and 33 of the transfer units 12 and 13 are arranged so as to be accessible to the work chucks 22 and 23 of the proximity exposure device 11 from different directions. Yes. In the present embodiment, as the first and second transfer devices 32 and 33, scalar type robots having robot arms 32a and 33a for holding the substrates W1 and W2 and driven in the horizontal direction and the vertical direction are applied. However, it may be a direct-acting robot or a belt conveyor. Moreover, each conveyance apparatus 32 and 33 may be comprised so that it may respectively have several robot arms 32a and 33a.

第1及び第2のプリアライメント装置14,15は、各第1及び第2の基板ステージ24,25の各ワークチャック22,23へ基板W1,W2を搬入する前に、基板W1,W2をプリアライメントするためのものである。また、第1及び第2の搬入コンベア16,17は、前工程からの基板W1,W2を搬送し、第1及び第2の搬出コンベア18,19は、後工程へ基板W1,W2を搬送する。なお、各プリアライメント装置14,15、各搬入コンベア16,17、各搬出コンベア18,19は、それぞれ公知のものが適用される。また、これらプリアライメント装置14,15は、省略してもよいし、あるいは、第1及び第2の搬送装置12,13を用いてプリアライメントを行ってもよい。   The first and second pre-alignment apparatuses 14 and 15 pre-load the substrates W1 and W2 before loading the substrates W1 and W2 into the work chucks 22 and 23 of the first and second substrate stages 24 and 25, respectively. It is for alignment. Further, the first and second carry-in conveyors 16 and 17 carry the substrates W1 and W2 from the previous process, and the first and second carry-out conveyors 18 and 19 carry the substrates W1 and W2 to the subsequent process. . In addition, each pre-alignment apparatus 14 and 15, each carrying-in conveyor 16, 17 and each carrying-out conveyor 18 and 19 each apply | coats a well-known thing. Further, these pre-alignment devices 14 and 15 may be omitted, or pre-alignment may be performed using the first and second transport devices 12 and 13.

制御部20は、近接露光装置11、各搬送ユニット12,13の搬送装置32,33、プリアライメント装置14,15、搬入コンベア16,17、及び、搬出コンベア18,19を制御するものである。また、制御部20は、第1及び第2の搬送装置12,13による近接露光装置11に対する基板W1,W2の搬入及び搬出動作が同期して行われるように第1及び第2の搬送装置12,13を制御する。   The control unit 20 controls the proximity exposure device 11, the transport devices 32 and 33 of the transport units 12 and 13, the pre-alignment devices 14 and 15, the carry-in conveyors 16 and 17, and the carry-out conveyors 18 and 19. In addition, the control unit 20 performs the first and second transport apparatuses 12 so that the first and second transport apparatuses 12 and 13 perform the operations of loading and unloading the substrates W1 and W2 with respect to the proximity exposure apparatus 11 in synchronization. , 13 are controlled.

以下、上記の露光ユニット10を用いた露光方法について説明する。
まず、第2搬送ユニット13側の第1及び第2の搬入コンベア16,17により、基板W1,W2が第1及び第2のプリアライメント装置14,15の近傍まで搬送されると、第1及び第2の搬送装置32,33のロボットアーム32a,33aは、基板W1,W2をそれぞれ把持し、これらロボットアーム32a,33aを同期駆動して、第1及び第2のプリアライメント装置14,15まで運搬する。その後、第1及び第2の搬送装置32,33は、基板W1,W2を第1及び第2のプリアライメント装置14,15に載置する。
Hereinafter, an exposure method using the exposure unit 10 will be described.
First, when the substrates W1 and W2 are transported to the vicinity of the first and second pre-alignment devices 14 and 15 by the first and second carry-in conveyors 16 and 17 on the second transport unit 13 side, The robot arms 32a and 33a of the second transfer devices 32 and 33 hold the substrates W1 and W2, respectively, and drive the robot arms 32a and 33a synchronously to the first and second pre-alignment devices 14 and 15. Carry. Thereafter, the first and second transfer devices 32 and 33 place the substrates W1 and W2 on the first and second pre-alignment devices 14 and 15, respectively.

第1及び第2のプリアライメント装置14,15が基板W1,W2をプリアライメントしてから、第1及び第2の搬送装置32,33のロボットアーム32a,33aは、基板W1,W2を把持し、これらロボットアーム32a,33aを同期駆動して、第2の搬入/搬出位置B2に位置する第2の基板ステージ25の第1及び第2のワークチャック22,23上に基板W1,W2を運搬する。   After the first and second pre-alignment devices 14 and 15 pre-align the substrates W1 and W2, the robot arms 32a and 33a of the first and second transfer devices 32 and 33 hold the substrates W1 and W2. The robot arms 32a and 33a are synchronously driven to transport the substrates W1 and W2 onto the first and second work chucks 22 and 23 of the second substrate stage 25 located at the second loading / unloading position B2. To do.

次に、第2のステージ移動機構27によって、第1及び第2のワークチャック22,23に基板W1,W2が載置された第2の基板ステージ25を露光位置Aに移動させる。そして、第1及び第2のワークチャック22、23上の基板W1、W2をマスクM1、M2に対してアライメントした後、基板W1、W2が露光される。   Next, the second stage moving mechanism 27 moves the second substrate stage 25 on which the substrates W1 and W2 are placed on the first and second work chucks 22 and 23 to the exposure position A. Then, after aligning the substrates W1 and W2 on the first and second work chucks 22 and 23 with respect to the masks M1 and M2, the substrates W1 and W2 are exposed.

なお、第2の基板ステージ25が第2の搬入/搬出位置B2に待機している間、第1の基板ステージ24は、露光位置Aに位置しており、第1の基板ステージ24の第1及び第2のワークチャック22,23に載置された基板W1,W2が露光されている。また、第2のステージ移動機構27が露光位置Aに移動する際には、第1のステージ移動機構26も同期して、露光位置Aから第1の搬入/搬出位置B1に移動する。そして、第1の基板ステージ24は、第2の基板ステージ25が露光位置Aにおいて露光が行われている間、第1の搬入/搬出位置B1で待機する(図1参照)。   Note that while the second substrate stage 25 is standing by at the second loading / unloading position B2, the first substrate stage 24 is positioned at the exposure position A, and the first substrate stage 24 has the first position. The substrates W1 and W2 placed on the second work chucks 22 and 23 are exposed. When the second stage moving mechanism 27 moves to the exposure position A, the first stage moving mechanism 26 also moves from the exposure position A to the first loading / unloading position B1 in synchronization. Then, the first substrate stage 24 stands by at the first loading / unloading position B1 while the second substrate stage 25 is exposed at the exposure position A (see FIG. 1).

そして、第2の搬入/搬出位置B1に位置する第1の基板ステージ24の第1及び第2のワークチャック22,23では、露光された基板W1,W2は、第1及び第2の搬送装置32,33のロボットアーム32a,33aによって把持され、これらロボットアーム32a,33aを同期駆動して、第1及び第2の搬出コンベア18,19へ運搬する。また、第1の基板ステージ24の第1及び第2のワークチャック22,23には、第1及び第2の搬送装置32,33のロボットアーム32a,33aが同期駆動して、プリアライメントされた新しい基板W1,W2を載置する。   Then, in the first and second work chucks 22 and 23 of the first substrate stage 24 located at the second loading / unloading position B1, the exposed substrates W1 and W2 are the first and second transport devices. The robot arms 32a and 33a are gripped by the robot arms 32a and 33a, and the robot arms 32a and 33a are synchronously driven to be transported to the first and second carry-out conveyors 18 and 19, respectively. The first and second work chucks 22 and 23 of the first substrate stage 24 are pre-aligned by synchronously driving the robot arms 32a and 33a of the first and second transfer devices 32 and 33. New substrates W1 and W2 are placed.

なお、待機している第1基板ステージ24に対する第1搬送ユニット12の複数の搬送装置32,33による基板W1,W2の搬入及び搬出は、第2基板ステージ25に保持された複数の基板W1、W2が露光位置Aにて露光されているタイミングと同時に行うことで、露光ユニット10としてのスループットを向上するようにしてもよく、また、それぞれ異なるタイミングで行うことで、搬入及び搬出によって発生する振動が露光動作に影響を及ぼすことを防止し、良好な露光精度を得るようにしてもよい。また、待機している第2基板ステージ25に対する第2搬送ユニット13の複数の搬送装置32,33による基板W1、W2の搬入及び搬出も、第1基板ステージ24に保持された複数の基板W1、W2が露光位置Aにて露光されているタイミングと同時に行われてもよいし、異なるタイミングで行われてもよい。   The loading and unloading of the substrates W1 and W2 by the plurality of transfer devices 32 and 33 of the first transfer unit 12 with respect to the waiting first substrate stage 24 is performed by the plurality of substrates W1 held by the second substrate stage 25, By performing W2 at the same time as exposure at the exposure position A, the throughput of the exposure unit 10 may be improved, and by performing at different timings, vibrations generated by loading and unloading. May prevent the exposure operation from being affected and good exposure accuracy may be obtained. Further, loading and unloading of the substrates W1 and W2 by the plurality of transfer devices 32 and 33 of the second transfer unit 13 with respect to the waiting second substrate stage 25 is also performed by the plurality of substrates W1 held by the first substrate stage 24, W2 may be performed at the same time as the exposure at exposure position A, or may be performed at a different timing.

以後、同様の動作を繰り返すことにより、第1又は第2の基板ステージ24、25に保持された複数の基板W1、W2がマスクステージ21A、21Bに保持された複数のマスクM1、M2と対向した状態で、照明光学系28が複数のマスクM1、M2を介して複数の基板W1、W2に露光光を照射することで、複数の基板W1、W2を同時に露光することができる。   Thereafter, by repeating the same operation, the plurality of substrates W1, W2 held on the first or second substrate stage 24, 25 face the plurality of masks M1, M2 held on the mask stages 21A, 21B. In this state, the illumination optical system 28 irradiates the plurality of substrates W1 and W2 with the exposure light through the plurality of masks M1 and M2, thereby simultaneously exposing the plurality of substrates W1 and W2.

このように、本実施形態の露光ユニット10及び露光方法によれば、露光装置10は、第1及び第2の基板ステージW1、W2を露光位置Aにそれぞれ移動可能な第1及び第2の基板ステージ移動機構26、27を備え、第1又は第2の基板ステージ24、25に保持された複数の基板W1、W2がマスクステージ21に保持された複数のマスクM1、M2と対向した状態で、照明光学系28が複数のマスクM1、M2を介して複数の基板W1、W2に露光光を照射することで、複数の基板W1、W2を同時に露光することができる。これにより、複数の基板W1、W2の露光を効率的に行うことができ、タクトタイムの短縮を図ることができる。   As described above, according to the exposure unit 10 and the exposure method of the present embodiment, the exposure apparatus 10 can move the first and second substrate stages W1 and W2 to the exposure position A, respectively. In a state where the stage moving mechanisms 26 and 27 are provided and the plurality of substrates W1 and W2 held by the first or second substrate stage 24 and 25 are opposed to the plurality of masks M1 and M2 held by the mask stage 21, The illumination optical system 28 irradiates the plurality of substrates W1 and W2 with exposure light through the plurality of masks M1 and M2, so that the plurality of substrates W1 and W2 can be exposed simultaneously. Thereby, the exposure of the plurality of substrates W1 and W2 can be performed efficiently, and the tact time can be shortened.

また、第1及び第2搬送ユニット12、13は、各複数のワークチャック22、23に対して基板W1、W2を搬入及び搬出可能な複数の搬送装置32,33をそれぞれ有するので、第1及び第2の搬送装置32,33によって複数のワークチャック22,23へ基板W1、W2の搬入動作、及び複数のワークチャック22,23から基板W1、W2の搬出動作を同期して行うことができ、タクトタイムのさらなる短縮が可能となる。   The first and second transport units 12 and 13 have a plurality of transport devices 32 and 33 that can carry in and out the substrates W1 and W2 with respect to the plurality of work chucks 22 and 23, respectively. The second transfer devices 32 and 33 can perform the operation of loading the substrates W1 and W2 into the plurality of work chucks 22 and 23 and the operation of unloading the substrates W1 and W2 from the plurality of work chucks 22 and 23 in synchronization. The tact time can be further shortened.

図3及び図4は、第1実施形態の露光ユニット10の変形例を示す。この変形例では、第1及び第2搬入、搬出コンベア30,31が、上下2段に配置されており、露光ユニット10をコンパクトに設計することができる。このため、第1及び第2の搬送装置32,33は、ロボットアーム32a,33aを上下に移動させることで、上下の各搬入、搬出コンベア30,31へアクセス可能となる。   3 and 4 show a modification of the exposure unit 10 of the first embodiment. In this modification, the first and second carry-in and carry-out conveyors 30 and 31 are arranged in two upper and lower stages, and the exposure unit 10 can be designed in a compact manner. For this reason, the first and second transfer devices 32 and 33 can access the upper and lower carry-in and carry-out conveyors 30 and 31 by moving the robot arms 32a and 33a up and down.

次に、本発明の第2実施形態に係る露光ユニットを図5を参照して説明する。なお、第1実施形態と同一または同等部分については同一符号を付して説明を省略或いは簡略化する。   Next, an exposure unit according to the second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. In addition, the same code | symbol is attached | subjected about the same or equivalent part as 1st Embodiment, and description is abbreviate | omitted or simplified.

本実施形態の露光ユニット10aでは、第1及び第2の搬送装置32,33が近接露光装置11の第1及び第2基板ステージ24、25と平行に、互いに近接して並列配置されている。このため、第1及び第2のプリアライメント装置14,15もその外側にほぼ対称に配置され、また、搬入、搬出コンベア30、31も並列に配置されている。
その他の構成については、第1実施形態と同様であり、第1実施形態と同様の効果を奏する。
In the exposure unit 10a of the present embodiment, the first and second transport apparatuses 32 and 33 are arranged in parallel in close proximity to each other in parallel with the first and second substrate stages 24 and 25 of the proximity exposure apparatus 11. For this reason, the first and second pre-alignment devices 14 and 15 are also arranged almost symmetrically on the outside thereof, and the carry-in and carry-out conveyors 30 and 31 are also arranged in parallel.
About another structure, it is the same as that of 1st Embodiment, There exists an effect similar to 1st Embodiment.

尚、本発明は、前述した実施形態及び変形例に限定されるものではなく、適宜、変形、改良、等が可能である。
本発明の露光装置は、本実施形態の近接露光装置に限定されるものでなく、密着式露光装置であってもよい。
Note that the present invention is not limited to the above-described embodiments and modifications, and modifications, improvements, and the like can be made as appropriate.
The exposure apparatus of the present invention is not limited to the proximity exposure apparatus of the present embodiment, and may be a contact type exposure apparatus.

10 露光ユニット
11 近接露光装置(露光装置)
12 第1の搬送装置
13 第2の搬送装置
14 第1のプリアライメント装置
15 第2のプリアライメント装置
16 第1の搬入コンベア
17 第2の搬入コンベア
18 第1の搬出コンベア
19 第2の搬出コンベア
20 制御部
21A、21B マスクステージ
22 第1のワークチャック
23 第2のワークチャック
M1、M2 マスク
W1、W2 基板
10 Exposure Unit 11 Proximity Exposure Device (Exposure Device)
12 1st conveyance apparatus 13 2nd conveyance apparatus 14 1st pre-alignment apparatus 15 2nd pre-alignment apparatus 16 1st carrying-in conveyor 17 2nd carrying-in conveyor 18 1st carrying-out conveyor 19 2nd carrying-out conveyor 20 Control unit 21A, 21B Mask stage 22 First work chuck 23 Second work chuck M1, M2 Mask W1, W2 Substrate

Claims (5)

複数のマスクを保持するマスクステージと、
被露光材としての複数の基板をそれぞれ保持する複数のワークチャックをそれぞれ備える第1及び第2の基板ステージと、
前記第1又は第2の基板ステージの前記複数の基板が前記マスクステージに保持された前記複数のマスクと対向する露光位置と、前記第1の基板ステージが前記複数の基板を搬入及び搬出する第1の搬入/搬出位置との間で、前記第1の基板ステージを移動させる第1のステージ移動機構と、
前記露光位置と、前記第2の基板ステージが前記複数の基板を搬入及び搬出する第2の搬入/搬出位置との間で、前記第2の基板ステージを移動させる第2のステージ移動機構と、
前記複数のマスクを介して前記複数の基板に露光光を照射する照明光学系と、
を備える露光装置と、
前記基板を保持し、且つ、前記各複数のワークチャックに対して前記基板を搬入及び搬出可能な複数の搬送装置をそれぞれ有する第1及び第2搬送ユニットと、
を備え、
前記露光装置は、前記第1又は第2の基板ステージに保持された前記複数の基板が前記マスクステージに保持された前記複数のマスクと対向した状態で、前記照明光学系が前記複数のマスクを介して前記複数の基板に露光光を照射することで、前記複数の基板を同時に露光することを特徴とすることを特徴とする露光ユニット。
A mask stage for holding a plurality of masks;
First and second substrate stages each having a plurality of work chucks each holding a plurality of substrates as exposure materials;
An exposure position where the plurality of substrates of the first or second substrate stage oppose the plurality of masks held on the mask stage, and a first substrate stage that carries in and out the plurality of substrates. A first stage moving mechanism for moving the first substrate stage between one loading / unloading position;
A second stage moving mechanism for moving the second substrate stage between the exposure position and a second loading / unloading position where the second substrate stage loads and unloads the plurality of substrates;
An illumination optical system that irradiates the plurality of substrates with exposure light through the plurality of masks;
An exposure apparatus comprising:
A first and a second transfer unit each holding a plurality of transfer devices that hold the substrate and can carry the substrate into and out of the plurality of work chucks;
With
In the exposure apparatus, the illumination optical system applies the plurality of masks while the plurality of substrates held on the first or second substrate stage face the plurality of masks held on the mask stage. And exposing the plurality of substrates simultaneously by irradiating the plurality of substrates with exposure light.
前記第1基板ステージに保持された前記複数の基板が前記露光位置にて露光されているとき、前記第2基板ステージは、前記第2搬入/搬出位置に待機し、
前記第2基板ステージに保持された前記複数の基板が前記露光位置にて露光されているとき、前記第1基板ステージは、前記第1搬入/搬出位置に待機することを特徴とする請求項1に記載の露光ユニット。
When the plurality of substrates held on the first substrate stage are exposed at the exposure position, the second substrate stage waits at the second loading / unloading position,
2. The first substrate stage stands by at the first loading / unloading position when the plurality of substrates held on the second substrate stage are exposed at the exposure position. The exposure unit described in 1.
前記露光装置は、一括露光方式であることを特徴とする請求項1又は2に記載の露光ユニット。   The exposure unit according to claim 1, wherein the exposure apparatus is a batch exposure system. 複数のマスクを保持するマスクステージと、被露光材としての複数の基板をそれぞれ保持する複数のワークチャックをそれぞれ備える第1及び第2の基板ステージと、前記第1又は第2の基板ステージの前記複数の基板が前記マスクステージに保持された前記複数のマスクと対向する露光位置と、前記第1の基板ステージが前記複数の基板を搬入及び搬出する第1の搬入/搬出位置との間で、前記第1の基板ステージを移動させる第1のステージ移動機構と、前記露光位置と、前記第2の基板ステージが前記複数の基板を搬入及び搬出する第2の搬入/搬出位置との間で、前記第2の基板ステージを移動させる第2のステージ移動機構と、前記複数のマスクを介して前記複数の基板に露光光を照射する照明光学系と、を備える露光装置と、
前記基板を保持し、且つ、前記各複数のワークチャックに対して前記基板を搬入及び搬出可能な複数の搬送装置をそれぞれ有する第1及び第2搬送ユニットと、
を備える露光ユニットを用いた露光方法であって、
前記第1又は第2の基板ステージに保持された前記複数の基板が前記マスクステージに保持された前記複数のマスクと対向した状態で、前記照明光学系が前記複数のマスクを介して前記複数の基板に露光光を照射することで、前記複数の基板を同時に露光することを特徴とする露光方法。
First and second substrate stages each having a mask stage for holding a plurality of masks, a plurality of work chucks for holding a plurality of substrates as exposure materials, and the first or second substrate stage. Between an exposure position facing the plurality of masks held by the plurality of substrates on the mask stage, and a first loading / unloading position where the first substrate stage loads and unloads the plurality of substrates, Between a first stage moving mechanism that moves the first substrate stage, the exposure position, and a second loading / unloading position where the second substrate stage loads and unloads the plurality of substrates, An exposure apparatus comprising: a second stage moving mechanism that moves the second substrate stage; and an illumination optical system that irradiates the plurality of substrates with exposure light through the plurality of masks;
A first and a second transfer unit each holding a plurality of transfer devices that hold the substrate and can carry the substrate into and out of the plurality of work chucks;
An exposure method using an exposure unit comprising:
In a state where the plurality of substrates held on the first or second substrate stage face the plurality of masks held on the mask stage, the illumination optical system passes through the plurality of masks. An exposure method comprising exposing the plurality of substrates simultaneously by irradiating the substrate with exposure light.
前記第1基板ステージに保持された前記複数の基板が前記露光位置にて露光されているとき、前記第2基板ステージは、前記第2搬入/搬出位置に待機し、
前記第2基板ステージに保持された前記複数の基板が前記露光位置にて露光されているとき、前記第1基板ステージは、前記第1搬入/搬出位置に待機することを特徴とする請求項4に記載の露光方法。
When the plurality of substrates held on the first substrate stage are exposed at the exposure position, the second substrate stage waits at the second loading / unloading position,
5. The first substrate stage stands by at the first loading / unloading position when the plurality of substrates held on the second substrate stage are exposed at the exposure position. An exposure method according to 1.
JP2011130462A 2011-06-10 2011-06-10 Exposure unit and exposure method using the same Expired - Fee Related JP5799304B2 (en)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011130462A JP5799304B2 (en) 2011-06-10 2011-06-10 Exposure unit and exposure method using the same
CN201210191311.1A CN102819195B (en) 2011-06-10 2012-06-11 Exposure apparatus and exposure method, and exposure unit and use method for exposure unit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011130462A JP5799304B2 (en) 2011-06-10 2011-06-10 Exposure unit and exposure method using the same

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2013003157A true JP2013003157A (en) 2013-01-07
JP5799304B2 JP5799304B2 (en) 2015-10-21

Family

ID=47671833

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011130462A Expired - Fee Related JP5799304B2 (en) 2011-06-10 2011-06-10 Exposure unit and exposure method using the same

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5799304B2 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017211534A (en) * 2016-05-26 2017-11-30 株式会社サーマプレシジョン Projection exposure equipment and projection exposure method thereof
KR20190040122A (en) * 2017-10-09 2019-04-17 상하이 마이크로 일렉트로닉스 이큅먼트(그룹) 컴퍼니 리미티드 Substrate Transfer Device, Transfer Method and Lithography Apparatus

Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09197682A (en) * 1996-01-18 1997-07-31 Toyo Commun Equip Co Ltd Exposing jig
JPH11168043A (en) * 1997-12-03 1999-06-22 Nikon Corp Exposure system and exposure method therefor
JP2000040662A (en) * 1999-08-05 2000-02-08 Nikon Corp Aligner
JP2003100619A (en) * 2001-09-27 2003-04-04 Nikon Corp Mask holding apparatus and method, and exposing apparatus
JP2005079515A (en) * 2003-09-03 2005-03-24 Matsushita Electric Ind Co Ltd Substrate exposure method and substrate exposure device
JP2006216663A (en) * 2005-02-02 2006-08-17 Disco Abrasive Syst Ltd Exposure device
WO2007100087A1 (en) * 2006-03-03 2007-09-07 Nikon Corporation Exposure apparatus and device manufacturing method
JP2007292933A (en) * 2006-04-24 2007-11-08 Nsk Ltd Exposure device
JP2008158545A (en) * 2008-02-06 2008-07-10 Hitachi High-Technologies Corp Proximity exposure apparatus and method for manufacturing substrate
JP2009031808A (en) * 2008-09-18 2009-02-12 Nsk Ltd Exposure apparatus
JP2009231846A (en) * 2004-12-30 2009-10-08 Asml Netherlands Bv Substrate handler
JP2010092021A (en) * 2008-09-11 2010-04-22 Nsk Ltd Exposure apparatus and exposure method

Patent Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09197682A (en) * 1996-01-18 1997-07-31 Toyo Commun Equip Co Ltd Exposing jig
JPH11168043A (en) * 1997-12-03 1999-06-22 Nikon Corp Exposure system and exposure method therefor
JP2000040662A (en) * 1999-08-05 2000-02-08 Nikon Corp Aligner
JP2003100619A (en) * 2001-09-27 2003-04-04 Nikon Corp Mask holding apparatus and method, and exposing apparatus
JP2005079515A (en) * 2003-09-03 2005-03-24 Matsushita Electric Ind Co Ltd Substrate exposure method and substrate exposure device
JP2009231846A (en) * 2004-12-30 2009-10-08 Asml Netherlands Bv Substrate handler
JP2006216663A (en) * 2005-02-02 2006-08-17 Disco Abrasive Syst Ltd Exposure device
WO2007100087A1 (en) * 2006-03-03 2007-09-07 Nikon Corporation Exposure apparatus and device manufacturing method
JP2007292933A (en) * 2006-04-24 2007-11-08 Nsk Ltd Exposure device
JP2008158545A (en) * 2008-02-06 2008-07-10 Hitachi High-Technologies Corp Proximity exposure apparatus and method for manufacturing substrate
JP2010092021A (en) * 2008-09-11 2010-04-22 Nsk Ltd Exposure apparatus and exposure method
JP2009031808A (en) * 2008-09-18 2009-02-12 Nsk Ltd Exposure apparatus

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017211534A (en) * 2016-05-26 2017-11-30 株式会社サーマプレシジョン Projection exposure equipment and projection exposure method thereof
WO2017204101A1 (en) * 2016-05-26 2017-11-30 株式会社サーマプレシジョン Projection exposure device and projection exposure method therefor
KR20190040122A (en) * 2017-10-09 2019-04-17 상하이 마이크로 일렉트로닉스 이큅먼트(그룹) 컴퍼니 리미티드 Substrate Transfer Device, Transfer Method and Lithography Apparatus
KR102202793B1 (en) 2017-10-09 2021-01-13 상하이 마이크로 일렉트로닉스 이큅먼트(그룹) 컴퍼니 리미티드 Substrate Transfer Device, Transfer Method and Lithography Apparatus
US11367636B2 (en) 2017-10-09 2022-06-21 Shanghai Micro Electronics Equipment (Group) Co., Ltd. Substrate transfer device, transfer method and photolithography apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
JP5799304B2 (en) 2015-10-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2006031025A (en) System and method for manufacturing flat panel display
JP2008277553A (en) Coating/developing device and manufacturing method thereof, and storage medium
JP5578675B2 (en) Resist pattern forming device
KR100188453B1 (en) Transportation-transfer device for an object of treatment
JP5799304B2 (en) Exposure unit and exposure method using the same
JP2006332558A (en) Substrate processing system
KR20100137372A (en) Substrate transfer device, substrate transfer method, coating and developing apparatus, and storage medium
KR101996093B1 (en) Substrate processing apparatus and substrate processing system
JPH07171478A (en) Substrate treating device
KR101700019B1 (en) Exposure device and exposure method
KR102222263B1 (en) Substrate processing apparatus
JP5799305B2 (en) Exposure apparatus and exposure method
JP2009231624A (en) Substrate processing apparatus
JP4402011B2 (en) Substrate processing system and substrate processing method
JP2012194420A (en) Flat panel display exposure unit and flat panel display exposure method using the same
KR20200026563A (en) Transfer robot and Apparatus for treating substrate with the robot
JP2008300723A (en) Processing apparatus
KR102256215B1 (en) Substrate processing apparatus
KR20150077719A (en) System and method for treating substrate
KR102037909B1 (en) Apparatus for treating substrate
KR100506495B1 (en) Substrate processing apparatus
JP4410152B2 (en) Substrate processing system
KR102336186B1 (en) Exposure apparatus
KR20100094361A (en) Substrate processing system
KR20040090529A (en) Substrate processing apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20140210

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20140606

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20150126

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20150306

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20150310

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150508

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20150602

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20150702

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20150702

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20150703

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5799304

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees