JP2012511988A - X線検査装置及び方法 - Google Patents
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Abstract
Description
異なる複数のkVp(ピークキロボルト)設定を有するデュアルソースCTシステム:明確に分離することができるのは2つの材料成分のみである;2つのソース(X線源)と2つの検出器とを搭載しなければならないため、ハードウェアコストが高い、
デュアルレイヤ(二層)検出器:明確に分離することができるのは2つの材料成分のみである;検出器の製造プロセスが複雑である、
高速デュアルkVp切換え:明確に分離することができるのは2つの材料成分のみである;強いkV遷移は実現が困難であるので、低スペクトル分離である、
光子計数スペクトルCT:検出には高いハードウェア労力を必要とする。
− 複数の位置でX線を放射する複数のX線源を有するX線源ユニット、
− 前記X線源のうちの1つ以上から放射されたX線を、前記X線源ユニットと当該X線検出ユニットとの間の検査領域の貫通後に検出し、検出信号を生成するX線検出ユニット、
− 生成された前記検出信号を処理する処理ユニット、及び
− 少なくとも2つの異なるエネルギースペクトルで順次、単独あるいはグループでX線を放射するように前記X線源を制御する制御ユニットであり、特定のX線源又はX線源のグループが異なるエネルギースペクトルでX線を放射するように切り換えられる時間間隔中に、前記特定のX線源又はX線源のグループがオフに切り換えられ、且つ1つ以上のその他のX線源又はX線源のグループが順次、単独あるいはグループでオンに切り換えられてX線を放射するように制御する制御ユニット、
を有するX線検査装置が提示される。
Claims (14)
- − 複数の位置でX線を放射する複数のX線源を有するX線源ユニット、
− 前記X線源のうちの1つ以上から放射されたX線を、前記X線源ユニットと当該X線検出ユニットとの間の検査領域の貫通後に検出し、検出信号を生成するX線検出ユニット、
− 生成された前記検出信号を処理する処理ユニット、及び
− 少なくとも2つの異なるエネルギースペクトルで順次、単独あるいはグループでX線を放射するように前記X線源を制御する制御ユニットであり、特定のX線源又はX線源のグループが異なるエネルギースペクトルでX線を放射するように切り換えられる時間間隔中に、前記特定のX線源又はX線源のグループがオフに切り換えられ、且つ1つ以上のその他のX線源又はX線源のグループが順次オンに切り換えられてX線を放射するように制御する制御ユニット、
を有するX線検査装置。 - 前記制御ユニットは、前記特定のX線源又はX線源のグループが、可能な限り早く前記異なるエネルギースペクトルでX線を放射するように切り換えられるよう、前記X線源を制御するように適応されている、請求項1に記載のX線検査装置。
- 前記制御ユニットは、前記特定のX線源又はX線源のグループが切り換えられる前記時間間隔中に順次オンに切り換えられてX線を放射する前記1つ以上のその他のX線源又はX線源のグループが、前記特定のX線源又はX線源のグループが先に放射していた、あるいは切り換えられた後に放射することになるX線のエネルギースペクトルでX線を放射するよう、前記X線源を制御するように適応されている、請求項1に記載のX線検査装置。
- 前記制御ユニットは、X線源の第1グループのX線源が、前記少なくとも2つの異なるエネルギースペクトルで、単独で、別々に、且つ順次にX線を放射し、その後、X線源の他のグループのX線源が、前記少なくとも2つの異なるエネルギースペクトルで、単独で、別々に、且つ順次にX線を放射するように、前記X線源をグループでX線を放射するよう制御するように適応されている、請求項1に記載のX線検査装置。
- 前記制御ユニットは、特にX線源のアノードに供給される電圧である前記X線源の電圧を変化させることによって、異なるエネルギースペクトルでX線を放射するよう前記X線源を切り換えるように適応されている、請求項1に記載のX線検査装置。
- 多数の高電圧供給配線を有する高電圧供給ユニットを更に有し、前記制御ユニットは、切換パターンに従って、前記X線源をそれぞれの前記供給配線に動的に接続するマルチプレクサを有する、請求項5に記載のX線検査装置。
- 前記X線源は、特にカーボンナノチューブに基づく電界エミッタを備えた微小焦点X線源などの電界エミッタに基づくX線源である、分散されたX線源である、請求項1に記載のX線検査装置。
- 前記X線源ユニット及び前記X線検出ユニットが搭載され、且つ前記検査領域の周りを回転するように構成されたガントリー、を更に有する請求項1に記載のX線検査装置。
- 前記X線検出ユニットは、各層が所定のエネルギースペクトルのX線を検出するように適応された、特に二層検出器である、多層検出器を有する、請求項1に記載のX線検査装置。
- 前記X線検出ユニットはエネルギー弁別光子計数検出器を有する、請求項1に記載のX線検査装置。
- X線検出中に前記X線検出器の何れかの画素にオーバーフローが存在するかを検出するオーバーフロー検出手段を更に有し、前記制御ユニットは、アクティブなX線源に供給される電流を低減するように適応されている、請求項10に記載のX線検査装置。
- 前記制御ユニットは、第1グループのX線源が、重なり合うエネルギースペクトルを有するX線を放射し、その後、X線源の他の複数のグループが別々且つ順次に、特に同一のエネルギースペクトルでX線を放射するように、前記X線源をグループでX線を放射するよう制御するように適応されている、請求項1に記載のX線検査装置。
- − 複数のX線源を有するX線源ユニットにより、複数の位置でX線を放射する段階、
− 前記X線源のうちの1つ以上から放射されたX線を、前記X線源ユニットとX線検出ユニットとの間の検査領域の貫通後に検出し、検出信号を生成する段階、
− 生成された前記検出信号を処理する段階、及び
− 少なくとも2つの異なるエネルギースペクトルで順次、単独あるいはグループでX線を放射するように前記X線源を制御する段階であり、特定のX線源又はX線源のグループが異なるエネルギースペクトルでX線を放射するように切り換えられる時間間隔中に、前記特定のX線源又はX線源のグループがオフに切り換えられ、且つ1つ以上のその他のX線源又はX線源のグループが別々且つ順次にオンに切り換えられてX線を放射するように制御する段階、
を有するX線検査方法。 - コンピュータ上で実行されるときに、コンピュータに、請求項13に記載の方法の段階群を実行するように請求項1に記載のX線検査装置を制御させるプログラムコードを有する、コンピュータプログラム。
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