JP2012207923A - Measuring instrument of scale for position detection, measurement method of scale for position detection, and method for manufacturing scale - Google Patents

Measuring instrument of scale for position detection, measurement method of scale for position detection, and method for manufacturing scale Download PDF

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PROBLEM TO BE SOLVED: To improve the accuracy of detecting an error of a scale for position detection.SOLUTION: A measuring instrument of a scale for position detection includes a position detecting part which has a plurality of detecting parts for detecting position information of a scale used for position detection and is moved relatively in a movement direction with respect to the scale, and an error detecting part for detecting an error of the scale on the basis of detection results by at least two detecting parts among the plurality of detecting parts. The at least two detecting parts among the plurality of detecting parts are arranged at a predetermined first interval from each other in a movement direction.

Description

本発明は、位置検出用スケールの計測装置、位置検出用スケールの計測方法、及びスケールの製造方法に関する。   The present invention relates to a position detecting scale measuring apparatus, a position detecting scale measuring method, and a scale manufacturing method.

リニアエンコーダなどの位置検出には、位置情報を示すパターンを有する位置検出用スケールが使用される。この位置検出用スケールの誤差を測定する場合、レーザ干渉計などの計測装置を用いて測定している(例えば、非特許文献1を参照)。   For position detection of a linear encoder or the like, a position detection scale having a pattern indicating position information is used. When measuring the error of the position detection scale, it is measured using a measuring device such as a laser interferometer (for example, see Non-Patent Document 1).

坂本征司,桐山哲郎,荻原元徳,「リニアエンコーダの高分解能化技術」,「計測と制御」,社団法人計測自動制御学会,第44巻,第10号,p.662−667Seiji Sakamoto, Tetsuro Kiriyama, Motonori Sugawara, “High-resolution technology of linear encoder”, “Measurement and control”, Society of Instrument and Control Engineers, Vol. 44, No. 10, p. 662-667

ところで、近年、位置検出用スケールの小区間内で発生する誤差の変動を、小さく抑えたいという要求がある。例えば、100mmの区間において最大0.1μmの誤差は許容するが、小区間(例えば、1mm)での最大誤差変動は1nm以下に抑えたいという要求がある。
しかしながら、上述のようなレーザ干渉計などの計測装置では、1nmの変化を高い再現性で高精度に計測することが困難である。すなわち、上述のようなレーザ干渉計などの計測装置では、位置検出用スケールの誤差を高精度検出することが困難であるという問題があった。
By the way, in recent years, there has been a demand for minimizing fluctuations in errors that occur within a small section of the position detection scale. For example, an error of 0.1 μm at the maximum is allowed in a 100 mm section, but there is a demand to suppress the maximum error fluctuation in a small section (for example, 1 mm) to 1 nm or less.
However, it is difficult to measure a change of 1 nm with high reproducibility and high accuracy by a measuring apparatus such as the laser interferometer described above. That is, in the measuring apparatus such as the laser interferometer as described above, there is a problem that it is difficult to detect the error of the position detection scale with high accuracy.

本発明は、上記問題を解決すべくなされたもので、その目的は、位置検出用スケールの誤差を検出する精度を向上させることができる位置検出用スケールの計測装置、位置検出用スケールの計測方法、及びスケールの製造方法を提供することにある。   The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide a position detecting scale measuring apparatus and a position detecting scale measuring method capable of improving the accuracy of detecting an error in the position detecting scale. And providing a method for producing a scale.

上記問題を解決するために、本発明の一実施形態は、位置検出に使用されるスケールの位置情報を検出する複数の検出部を有し、前記スケールに対して移動方向に相対的に移動する位置検出部と、前記複数の検出部のうち少なくとも2つの前記検出部による検出結果に基づいて、前記スケールの誤差を検出する誤差検出部と、を備え、前記複数の検出部のうち前記少なくとも2つの検出部は、前記移動方向において互いに所定の第1間隔で配置されていることを特徴とする位置検出用スケールの計測装置である。   In order to solve the above problem, an embodiment of the present invention has a plurality of detection units that detect position information of a scale used for position detection, and moves relative to the scale in the movement direction. A position detection unit; and an error detection unit that detects an error of the scale based on a detection result of at least two of the plurality of detection units, and the at least two of the plurality of detection units. The two detecting units are arranged at predetermined first intervals in the moving direction, and are a position detecting scale measuring apparatus.

また、本発明の一実施形態は、スケールの位置情報を検出する少なくとも2つの検出部を有する位置検出部を前記スケールに対して移動方向に相対的に移動させる移動工程と、前記移動方向において互いに所定の第1間隔で配置された前記少なくとも2つの検出部による検出結果に基づいて、前記スケールの誤差を検出する誤差検出工程と、を有することを特徴とする位置検出用スケールの計測方法である。   In one embodiment of the present invention, a movement step of moving a position detection unit having at least two detection units for detecting position information of the scale relative to the scale in the movement direction, An error detection step of detecting an error of the scale based on detection results by the at least two detection units arranged at a predetermined first interval. .

また、本発明の一実施形態は、位置検出に使用されるスケールを作成するスケール作成工程と、本発明の一実施形態である位置検出用スケールの計測装置を用いて前記スケールの誤差を検出する誤差検出工程と、を有することを特徴とするスケールの製造方法である。   In addition, according to an embodiment of the present invention, a scale creating step for creating a scale used for position detection and an error of the scale are detected using the position detecting scale measuring apparatus according to the embodiment of the present invention. And an error detection step.

本発明によれば、スケールの誤差を検出する精度を向上させることができる。   According to the present invention, it is possible to improve the accuracy of detecting a scale error.

第1の実施形態による位置検出用スケールの計測装置を示す概略ブロック図である。It is a schematic block diagram which shows the measuring device of the position detection scale by 1st Embodiment. 第1の実施形態における位置検出用スケールの計測装置の測定動作の一例を示す波形図である。It is a wave form diagram which shows an example of the measurement operation | movement of the measuring device of the position detection scale in 1st Embodiment. 第1の実施形態における位置検出用スケールの計測方法を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the measuring method of the scale for position detection in 1st Embodiment. 第2の実施形態による位置検出用スケールの計測装置を示す概略ブロック図である。It is a schematic block diagram which shows the measuring device of the position detection scale by 2nd Embodiment. 第3の実施形態による位置検出用スケールの計測装置を示す概略ブロック図である。It is a schematic block diagram which shows the measuring device of the position detection scale by 3rd Embodiment. 第4の実施形態による位置検出用スケールの計測装置を示す概略ブロック図である。It is a schematic block diagram which shows the measuring device of the position detection scale by 4th Embodiment. 第5の実施形態による位置検出用スケールの計測装置を示す概略ブロック図である。It is a schematic block diagram which shows the measuring device of the position detection scale by 5th Embodiment. 第5の実施形態における位置検出用スケールの計測方法を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the measuring method of the position detection scale in 5th Embodiment. 本実施形態によるスケール製造システムを示す概略ブロック図である。It is a schematic block diagram which shows the scale manufacturing system by this embodiment. 本実施形態におけるスケール製造システムの動作を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows operation | movement of the scale manufacturing system in this embodiment.

以下、本発明の一実施形態による位置検出用スケールの計測装置について図面を参照して説明する。   A position detecting scale measuring apparatus according to an embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

[第1の実施形態]
図1は、本実施形態による位置検出用スケールの計測装置(以下、スケール計測装置という)を示す概略ブロック図である。
この図において、スケール計測装置1は、位置検出部10、誤差検出部20、及び移動部30を備えている。スケール計測装置1は、制御信号線を介して制御装置4と接続されている。
また、スケール計測装置1には、計測対象となる位置検出用スケール3(以下、スケール3という)が、取り付けられている。ここで、スケール3は、例えば、リニアエンコーダにおいて、位置検出に使用されるスケールである。スケール3は、その表面に、位置情報を示すパターン31が形成されている。パターン31は、例えば、インクリメンタルパターンである。
[First Embodiment]
FIG. 1 is a schematic block diagram showing a position detection scale measuring apparatus (hereinafter referred to as a scale measuring apparatus) according to the present embodiment.
In this figure, the scale measuring apparatus 1 includes a position detection unit 10, an error detection unit 20, and a moving unit 30. The scale measuring device 1 is connected to the control device 4 via a control signal line.
The scale measuring device 1 is attached with a position detection scale 3 (hereinafter referred to as a scale 3) to be measured. Here, the scale 3 is a scale used for position detection in a linear encoder, for example. The scale 3 has a pattern 31 indicating position information formed on the surface thereof. The pattern 31 is, for example, an incremental pattern.

位置検出部10は、スケール3と対向して配置され、移動部30によって、スケール3に対して移動方向に相対的に移動する。ここで、移動方向は、位置情報を検出する方向であり、図1に示すX軸方向である。
位置検出部10は、複数(本実施形態では2つ)の検出ヘッド(11、12)、及び位置情報生成部(13、14)を備えている。
The position detection unit 10 is disposed to face the scale 3, and moves relative to the scale 3 in the movement direction by the moving unit 30. Here, the moving direction is a direction in which position information is detected, and is the X-axis direction shown in FIG.
The position detection unit 10 includes a plurality of (two in the present embodiment) detection heads (11, 12) and a position information generation unit (13, 14).

検出ヘッド(検出部)(11、12)は、例えば、光学式のセンサであり、スケール3のパターン30を検出することによって、スケール3の位置情報を検出し、検出信号を出力する。検出ヘッド11は検出信号を位置情報生成部13に出力し、検出ヘッド12は検出信号を位置情報生成部14に出力する。
また、検出ヘッド(11、12)は、移動方向において互いに所定の間隔L1(第1間隔)で固定されて、配置されている。すなわち、検出ヘッド(11、12)は、この所定の間隔L1を保った状態で、スケール3に対して移動方向に相対的に移動する。例えば、本実施形態における所定の間隔L1(第1間隔)は、温度などの環境変動の影響を受けにくい間隔が望ましく、10mm程度である。
The detection heads (detection units) (11, 12) are, for example, optical sensors, and detect the position information of the scale 3 by detecting the pattern 30 of the scale 3, and output a detection signal. The detection head 11 outputs a detection signal to the position information generation unit 13, and the detection head 12 outputs a detection signal to the position information generation unit 14.
Further, the detection heads (11, 12) are fixedly arranged at a predetermined interval L1 (first interval) in the moving direction. That is, the detection heads (11, 12) move relative to the scale 3 in the movement direction while maintaining the predetermined distance L1. For example, the predetermined interval L1 (first interval) in the present embodiment is desirably an interval that is not easily affected by environmental fluctuations such as temperature, and is about 10 mm.

位置情報生成部13は、例えば、インクリメンタルパターンによって検出された検出信号に基づいて、位置情報を生成するカウンタである。位置情報生成部13は、検出ヘッド11から出力された検出信号に基づいて、スケール3における位置情報X1を生成し、生成した位置情報X1を検出結果として誤差検出部20に出力する。
位置情報生成部14は、例えば、インクリメンタルパターンによって検出された検出信号に基づいて、位置情報を生成するカウンタである。位置情報生成部14は、検出ヘッド12から出力された検出信号に基づいて、スケール3における位置情報X2を生成し、生成した位置情報X2を検出結果として誤差検出部20に出力する。
The position information generation unit 13 is a counter that generates position information based on, for example, a detection signal detected by an incremental pattern. The position information generation unit 13 generates position information X1 on the scale 3 based on the detection signal output from the detection head 11, and outputs the generated position information X1 to the error detection unit 20 as a detection result.
The position information generation unit 14 is, for example, a counter that generates position information based on a detection signal detected by an incremental pattern. The position information generation unit 14 generates position information X2 on the scale 3 based on the detection signal output from the detection head 12, and outputs the generated position information X2 to the error detection unit 20 as a detection result.

誤差検出部20は、2つの検出ヘッド(11、12)による検出結果(X1、X2)に基づいて、スケール3の誤差を検出する。すなわち、誤差検出部20は、2つの検出ヘッド(11、12)による検出結果(X1、X2)を演算処理した演算結果に基づいて、スケール3の誤差を検出する。なお、本実施形態では、演算処理の一例として、誤差検出部20が、2つの検出ヘッド(11、12)による検出結果(X1、X2)の差に基づいて、スケール3の誤差を検出する形態を説明する。   The error detector 20 detects an error of the scale 3 based on the detection results (X1, X2) by the two detection heads (11, 12). That is, the error detection unit 20 detects an error of the scale 3 based on the calculation result obtained by calculating the detection results (X1, X2) by the two detection heads (11, 12). In the present embodiment, as an example of arithmetic processing, the error detection unit 20 detects an error of the scale 3 based on a difference between detection results (X1, X2) by the two detection heads (11, 12). Will be explained.

ここで、検出結果X1及び検出結果X2は、位置検出部10が移動方向において同一の位置にある場合に、検出ヘッド11及び検出ヘッド12によって検出される位置情報を示している。すなわち、検出ヘッド11と検出ヘッド12とは、スケール3において、上述した所定の間隔L1(第1間隔)離れた位置で検出された位置情報である。   Here, the detection result X1 and the detection result X2 indicate position information detected by the detection head 11 and the detection head 12 when the position detection unit 10 is at the same position in the movement direction. That is, the detection head 11 and the detection head 12 are position information detected at a position apart from the predetermined interval L1 (first interval) described above on the scale 3.

また、スケール3の誤差とは、スケール3のX軸方向の各位置における位置情報の真の値に対する測定値の差である。また、スケール3の誤差には、スケール3の製造(例、パターン形成時のパターンのつなぎ(重ね合わせ))による誤差や、製造後の使用などによる経時変化によって生じた誤差などが含まれる。   The error of the scale 3 is a difference between measured values with respect to the true value of the position information at each position of the scale 3 in the X-axis direction. Further, the error of the scale 3 includes an error caused by the production of the scale 3 (for example, connection of patterns (superposition) at the time of pattern formation), an error caused by a change over time due to use after production, and the like.

誤差検出部20は、検出したスケール3の誤差を制御装置4に出力する。また、誤差検出部20は、移動部30を制御して、位置検出部10を移動させる。
また、誤差検出部20は、誤差演算部21及び移動制御部22を備えている。
The error detection unit 20 outputs the detected error of the scale 3 to the control device 4. Further, the error detection unit 20 controls the moving unit 30 to move the position detecting unit 10.
The error detection unit 20 includes an error calculation unit 21 and a movement control unit 22.

誤差演算部21は、上述したように、2つの検出ヘッド(11、12)による検出結果(X1、X2)を演算処理した演算結果に基づいて、スケール3の誤差を検出する。また、誤差演算部21は、減算器211を備えている。減算器211は、検出ヘッド11によって検出された検出結果X1と検出ヘッド12によって検出された検出結果X2との差分Dを算出する演算処理を実行する。この検出結果X1と検出結果X2との差分Dは、スケール3が誤差のない理想的なスケールである場合、所定の間隔L1を示す一定の値となる。つまり、この差分Dの変位が、スケール3の誤差に対応する。したがって、減算器211は、スケール3の誤差として、算出した検出結果X1と検出結果X2との差分Dを制御装置4に出力する。   As described above, the error calculator 21 detects an error of the scale 3 based on the calculation result obtained by calculating the detection results (X1, X2) by the two detection heads (11, 12). The error calculation unit 21 includes a subtractor 211. The subtractor 211 executes a calculation process for calculating a difference D between the detection result X1 detected by the detection head 11 and the detection result X2 detected by the detection head 12. The difference D between the detection result X1 and the detection result X2 is a constant value indicating the predetermined interval L1 when the scale 3 is an ideal scale with no error. That is, the displacement of the difference D corresponds to the error of the scale 3. Therefore, the subtractor 211 outputs the difference D between the calculated detection result X1 and the detection result X2 to the control device 4 as an error of the scale 3.

移動制御部22は、移動部30を制御して、位置検出部10を移動させる。なお、スケール3の誤差を測定する場合、移動制御部22は、位置検出部10がX軸方向の一方の端から他方の端までの全領域を移動するように、移動部30を制御する。   The movement control unit 22 controls the movement unit 30 to move the position detection unit 10. When measuring the error of the scale 3, the movement control unit 22 controls the moving unit 30 so that the position detecting unit 10 moves in the entire region from one end to the other end in the X-axis direction.

制御装置4は、スケール計測装置1におけるスケール3の誤差測定を制御する。制御装置4は、制御信号線を介して測定開始位置や測定終了位置などの各種測定条件をスケール計測装置1に供給する。また、制御装置4は、最大誤差算出部41と、検査部42とを備えている。
最大誤差算出部41は、誤差検出部20の誤差演算部21が算出(検出)したスケール3の誤差(差分D)に基づいて、測定対象となる誤差のスケール3における最大値を算出する。ここで、測定対象となる誤差とは、例えば、小区間における誤差や、長区間における誤差などである。また、小区間における誤差とは、例えば、1mm区間における誤差である。
一例として、ここでは、最大誤差算出部41は、スケール3の全区間における、最大値と最小値との差分ΔDをスケール3の誤差の最大値として算出する。但し、このスケール3の誤差の最大値(ΔD)は、後述するように、実際の誤差の2倍の値となる。そのため、スケール3の良否の判定には、このスケール3の誤差の最大値(ΔD)を2分の1した値が用いられる。
The control device 4 controls the error measurement of the scale 3 in the scale measuring device 1. The control device 4 supplies various measurement conditions such as a measurement start position and a measurement end position to the scale measurement device 1 via the control signal line. In addition, the control device 4 includes a maximum error calculation unit 41 and an inspection unit 42.
The maximum error calculation unit 41 calculates the maximum value of the error to be measured on the scale 3 based on the error (difference D) of the scale 3 calculated (detected) by the error calculation unit 21 of the error detection unit 20. Here, the error to be measured is, for example, an error in a small section or an error in a long section. The error in the small section is, for example, an error in the 1 mm section.
As an example, here, the maximum error calculation unit 41 calculates the difference ΔD between the maximum value and the minimum value in all the sections of the scale 3 as the maximum value of the error of the scale 3. However, the maximum error value (ΔD) of the scale 3 is twice the actual error, as will be described later. Therefore, a value obtained by halving the maximum error value (ΔD) of the scale 3 is used to determine whether the scale 3 is good or bad.

検査部42は、最大誤差算出部41によって算出されたスケール3の誤差の最大値(ΔD)に基づいて、スケール計測装置1によって測定されたスケール3の良否を判定する。検査部42は、例えば、スケール3の誤差の最大値(ΔD)を2分の1した値によって、測定されたスケール3の良否を判定する。   The inspection unit 42 determines pass / fail of the scale 3 measured by the scale measurement device 1 based on the maximum error (ΔD) of the scale 3 calculated by the maximum error calculation unit 41. The inspection unit 42 determines the quality of the measured scale 3 based on, for example, a value obtained by halving the maximum error value (ΔD) of the scale 3.

次に、本実施形態におけるスケール計測装置1の動作について、説明する。
図2は、本実施形態におけるスケール計測装置1の測定動作の一例を示す波形図である。
この図において、横軸は、スケール3のX軸方向の位置を示している。また、図2(a)はスケール3のパターン31を示し、図2(b)は、時刻T1〜T5におけるスケール3の誤差と位置検出部10の位置とを示している。また、図2(c)は、スケール計測装置1によって検出されたスケール3の誤差(差分D)を示している。
Next, the operation of the scale measuring apparatus 1 in this embodiment will be described.
FIG. 2 is a waveform diagram showing an example of the measurement operation of the scale measuring apparatus 1 in the present embodiment.
In this figure, the horizontal axis indicates the position of the scale 3 in the X-axis direction. 2A shows the pattern 31 of the scale 3, and FIG. 2B shows the error of the scale 3 and the position of the position detector 10 at times T1 to T5. FIG. 2C shows an error (difference D) of the scale 3 detected by the scale measuring apparatus 1.

図2(a)に示すように、スケール3は、X軸上の位置P2から位置P4において、正方向の誤差を持っている一例を示している。なお、スケール3のパターン31は、例えば、露光(フォトリソグラフィ)技術によって形成され、所定の区間幅を持ったパターンを繰り返し形成して作成されている。例えば、スケール3のパターン31は、所定の区間幅(例、小区間の幅)のパターンを重ね露光又はつなぎ露光によって形成される。なお、この例では、繰り返しパターンの一部分(位置P2からP4)が、ずれて形成された場合の例である。   As shown in FIG. 2A, the scale 3 shows an example in which there is an error in the positive direction from the position P2 to the position P4 on the X axis. Note that the pattern 31 of the scale 3 is formed, for example, by an exposure (photolithography) technique, and is formed by repeatedly forming a pattern having a predetermined section width. For example, the pattern 3 of the scale 3 is formed by overlay exposure or joint exposure of a pattern having a predetermined section width (for example, a width of a small section). In this example, a part of the repeated pattern (positions P2 to P4) is formed in a shifted manner.

まず、スケール計測装置1は、位置検出部10をスケール3に対して、X軸方向に移動させる。すなわち、誤差検出部20の移動制御部22は、移動部30に対して、位置検出部10をスケール3の一端から他端に向けてX軸方向に移動させる。
図2(b)及び図2(c)の示すように、時刻T1において、位置検出部10は、検出ヘッド11が位置P1である。この場合、検出ヘッド11と検出ヘッド12とは、いずれもスケール3の誤差のない位置であるため、誤差検出部20の減算器211の出力(差分D)は、一定の値(所定の間隔L1)を示す値を出力する。
First, the scale measuring apparatus 1 moves the position detection unit 10 in the X axis direction with respect to the scale 3. That is, the movement control unit 22 of the error detection unit 20 moves the position detection unit 10 in the X-axis direction from one end of the scale 3 to the other end with respect to the movement unit 30.
As shown in FIGS. 2B and 2C, at time T1, the position detection unit 10 has the detection head 11 at the position P1. In this case, since both the detection head 11 and the detection head 12 are positions where there is no error in the scale 3, the output (difference D) of the subtractor 211 of the error detection unit 20 is a constant value (predetermined interval L1). ) Is output.

次に、時刻T2において、位置検出部10は、検出ヘッド11が位置P3である。この場合、検出ヘッド11が誤差のある位置P2から位置P4の間に位置し、検出ヘッド12が誤差のない区間の位置である。そのため、誤差検出部20の減算器211の出力(差分D)は、一定の値(所定の間隔L1)より誤差の分だけ大きい値になる。   Next, at time T2, the position detection unit 10 has the detection head 11 at the position P3. In this case, the detection head 11 is located between the position P2 having an error and the position P4, and the detection head 12 is a position in a section having no error. For this reason, the output (difference D) of the subtractor 211 of the error detection unit 20 becomes a value larger than the fixed value (predetermined interval L1) by the error.

次に、時刻T3において、位置検出部10は、検出ヘッド11が位置P5である。この場合、検出ヘッド11と検出ヘッド12とは、再びいずれもスケール3の誤差のない位置であるため、誤差検出部20の減算器211の出力(差分D)は、一定の値(所定の間隔L1)を示す値を出力する。   Next, at time T3, the position detection unit 10 has the detection head 11 at the position P5. In this case, since both the detection head 11 and the detection head 12 are positions where there is no error in the scale 3, the output (difference D) of the subtractor 211 of the error detection unit 20 is a constant value (predetermined interval). A value indicating L1) is output.

次に、時刻T4において、位置検出部10は、検出ヘッド11が位置P6である。この場合、検出ヘッド11が誤差のない区間の位置であり、検出ヘッド12が誤差のある位置P2から位置P4の間に位置する。そのため、誤差検出部20の減算器211の出力(差分D)は、一定の値(所定の間隔L1)より誤差の分だけ小さい値になる。   Next, at time T4, the position detection unit 10 has the detection head 11 at the position P6. In this case, the detection head 11 is in a position in a section having no error, and the detection head 12 is located between the position P2 and the position P4 having an error. For this reason, the output (difference D) of the subtractor 211 of the error detection unit 20 is a value smaller than the fixed value (predetermined interval L1) by the error.

次に、時刻T5において、位置検出部10は、検出ヘッド11が位置P7である。この場合、検出ヘッド11と検出ヘッド12とは、再びいずれもスケール3の誤差のない位置であるため、誤差検出部20の減算器211の出力(差分D)は、一定の値(所定の間隔L1)を示す値を出力する。   Next, at time T5, the position detection unit 10 has the detection head 11 at the position P7. In this case, since both the detection head 11 and the detection head 12 are positions where there is no error in the scale 3, the output (difference D) of the subtractor 211 of the error detection unit 20 is a constant value (predetermined interval). A value indicating L1) is output.

このように、移動制御部22が、移動部30に対して位置検出部10をスケール3の一端から他端に向けてX軸方向に移動させることによって、減算器211は、図2(c)の示すような検出ヘッド11による検出結果X1と、検出ヘッド12による検出結果X2との差分Dを出力する。また、スケール3の誤差は、この差分Dの最大値と最小値との差ΔDを2分の1した値として検出することができる。   In this way, the movement control unit 22 moves the position detection unit 10 in the X-axis direction from one end of the scale 3 to the other end with respect to the movement unit 30, so that the subtractor 211 is changed to FIG. A difference D between the detection result X1 by the detection head 11 and the detection result X2 by the detection head 12 is output. Further, the error of the scale 3 can be detected as a value obtained by halving the difference ΔD between the maximum value and the minimum value of the difference D.

次に、本実施形態におけるスケール計測装置1及び制御装置4の動作についてフローチャート図を参照して説明する。
図3は、本実施形態におけるスケール計測方法の一例を示すフローチャートである。
この図において、まず、スケール計測装置1は、位置検出部10を測定開始位置から測定終了位置に移動させる(ステップS101)。すなわち、誤差検出部20の移動制御部22は、制御装置4から供給された測定条件に基づいて、移動部30に対して位置検出部10をスケール3の一端である測定開始位置から他端である測定終了位置に移動させる。つまり、移動制御部22は、位置検出部10をスケール3に対して移動方向(X軸方向)に相対的に移動させる。そして、この位置検出部10を測定開始位置から測定終了位置に移動させている間に、スケール計測装置1は、ステップS102からステップS105の処理を実行する。
Next, operations of the scale measuring device 1 and the control device 4 in the present embodiment will be described with reference to flowcharts.
FIG. 3 is a flowchart illustrating an example of the scale measurement method according to the present embodiment.
In this figure, first, the scale measuring apparatus 1 moves the position detector 10 from the measurement start position to the measurement end position (step S101). That is, the movement control unit 22 of the error detection unit 20 moves the position detection unit 10 from the measurement start position, which is one end of the scale 3, to the movement unit 30 based on the measurement conditions supplied from the control device 4. Move to a certain measurement end position. That is, the movement control unit 22 moves the position detection unit 10 relative to the scale 3 in the movement direction (X-axis direction). Then, while the position detection unit 10 is moved from the measurement start position to the measurement end position, the scale measuring apparatus 1 executes the processing from step S102 to step S105.

次に、位置検出部10は、位置情報X1及び位置情報X2を検出する(ステップS102)。つまり、位置検出部10の位置情報生成部13は、検出ヘッド11から出力された検出信号から、位置情報X1を生成する。また、位置検出部10の位置情報生成部14は、検出ヘッド12から出力された検出信号から、位置情報X2を生成する。   Next, the position detection unit 10 detects the position information X1 and the position information X2 (step S102). That is, the position information generation unit 13 of the position detection unit 10 generates the position information X1 from the detection signal output from the detection head 11. Further, the position information generation unit 14 of the position detection unit 10 generates position information X2 from the detection signal output from the detection head 12.

次に、誤差検出部20は、位置情報X1及び位置情報X2に基づいて、スケール3の誤差(差分D)を検出する(ステップS103)。つまり、誤差検出部20の減算器211が、検出ヘッド11及び検出ヘッド12によって検出された検出結果(位置情報)X1と検出結果X2との差分Dを算出する。そして、減算器211は、スケール3の誤差として制御装置4に出力する(ステップS104)。   Next, the error detection unit 20 detects an error (difference D) of the scale 3 based on the position information X1 and the position information X2 (step S103). That is, the subtractor 211 of the error detection unit 20 calculates the difference D between the detection result (position information) X1 detected by the detection head 11 and the detection head 12 and the detection result X2. The subtractor 211 outputs the error of the scale 3 to the control device 4 (step S104).

次に、誤差検出部20は、位置検出部10が測定終了位置か否かを判定する(ステップS105)。誤差検出部20は、位置検出部10が測定終了位置でないと判定した場合に、処理をステップS102に戻し、位置検出部10が測定終了位置に移動するまでの間、ステップS102からステップS105の処理を繰り返す。また、誤差検出部20は、位置検出部10が測定終了位置である場合に、処理をステップS106に進める。   Next, the error detector 20 determines whether or not the position detector 10 is the measurement end position (step S105). If the error detection unit 20 determines that the position detection unit 10 is not at the measurement end position, the error detection unit 20 returns the process to step S102, and the process from step S102 to step S105 until the position detection unit 10 moves to the measurement end position. repeat. Further, the error detection unit 20 advances the process to step S106 when the position detection unit 10 is at the measurement end position.

ステップS106において、制御装置4は、最大誤差ΔDを算出する。すなわち、制御装置4の最大誤差算出部41は、スケール計測装置1の減算器211から出力されたスケール3の誤差(差分D)に基づいて、スケール3の最大誤差ΔDを算出する。   In step S106, the control device 4 calculates the maximum error ΔD. That is, the maximum error calculation unit 41 of the control device 4 calculates the maximum error ΔD of the scale 3 based on the error (difference D) of the scale 3 output from the subtractor 211 of the scale measuring device 1.

次に、制御装置4は、スケール3の良否を判定する(ステップS107)。すなわち、制御装置4の検査部42は、最大誤差算出部41が算出した最大誤差ΔDに基づいて、スケール計測装置1によって測定したスケール3が良品であるか否かを判定する。なお、スケール3が良品であるか否かの判定基準は、スケール3に要求される精度によって異なるが、ここでは、例えば、±1nm以内である。検査部42は、最大誤差ΔDの2分の1の値が1nm以下である場合に、スケール3を良品と判定し、最大誤差ΔDの2分の1の値が1nmより大きい場合に、スケール3を不良品と判定する。
以上により、本フローチャートの処理を終了する。
Next, the control device 4 determines the quality of the scale 3 (step S107). That is, the inspection unit 42 of the control device 4 determines whether or not the scale 3 measured by the scale measuring device 1 is a non-defective product based on the maximum error ΔD calculated by the maximum error calculating unit 41. Note that the criterion for determining whether or not the scale 3 is non-defective varies depending on the accuracy required for the scale 3, but is within ± 1 nm here, for example. The inspection unit 42 determines that the scale 3 is a non-defective product when the half value of the maximum error ΔD is 1 nm or less, and the scale 3 when the half value of the maximum error ΔD is greater than 1 nm. Is determined to be defective.
Thus, the process of this flowchart is completed.

以上のように、本実施形態におけるスケール計測装置1は、位置検出部10が、位置検出に使用されるスケール3の位置情報を検出する複数の検出ヘッド(11、12)を有し、スケール3に対して移動方向(X軸方向)に相対的に移動する。誤差検出部20は、複数の検出ヘッド(11、12)のうち少なくとも2つの検出ヘッド(11、12)による検出結果(X1、X2)に基づいて、スケール3の誤差を検出する。そして、少なくとも2つの検出ヘッド(11、12)は、移動方向(X軸方向)において互いに所定の間隔L1(第1間隔)で配置されている。   As described above, in the scale measuring apparatus 1 according to the present embodiment, the position detection unit 10 includes a plurality of detection heads (11, 12) that detect position information of the scale 3 used for position detection. Relative to the movement direction (X-axis direction). The error detection unit 20 detects an error of the scale 3 based on detection results (X1, X2) by at least two detection heads (11, 12) among the plurality of detection heads (11, 12). The at least two detection heads (11, 12) are arranged at a predetermined interval L1 (first interval) in the movement direction (X-axis direction).

すなわち、本実施形態におけるスケール計測装置1は、所定の間隔L1を保たれた状態において、位置検出部10が移動して、少なくとも2つの検出ヘッド(11、12)によって、位置情報である検出結果(X1、X2)を検出する。そのため、スケール3が誤差のない理想的なスケールである場合に、検出結果X1と検出結果X2とは、所定の間隔L1だけ離れた位置情報である。
例えば、スケール3に誤差がある場合には、スケール3の誤差は、検出結果X1と検出結果X2との変位として検出される。なお、検出結果X1と検出結果X2とは、スケール3を使用するエンコーダと同様に、高分解能で検出することが可能である。そのため、本実施形態におけるスケール計測装置1は、スケール3の誤差を検出する精度を向上させることができる。
That is, in the scale measuring apparatus 1 according to the present embodiment, the position detection unit 10 moves in a state where the predetermined interval L1 is maintained, and the detection result that is position information is obtained by at least two detection heads (11, 12). (X1, X2) is detected. Therefore, when the scale 3 is an ideal scale with no error, the detection result X1 and the detection result X2 are position information separated by a predetermined interval L1.
For example, when there is an error in the scale 3, the error in the scale 3 is detected as a displacement between the detection result X1 and the detection result X2. Note that the detection result X1 and the detection result X2 can be detected with high resolution in the same manner as the encoder using the scale 3. Therefore, the scale measuring device 1 in the present embodiment can improve the accuracy of detecting the error of the scale 3.

例えば、位置検出部10は、1nm単位でスケール3の位置情報を検出することが可能である。そのため、本実施形態におけるスケール計測装置1は、スケール3における小区間の誤差(例えば、1mm区間内に1nm以下の誤差)を検出することができる。すなわち、本実施形態におけるスケール計測装置1は、スケール3における局所的な誤差(小区間の誤差)を検出することができる。   For example, the position detection unit 10 can detect position information on the scale 3 in 1 nm units. Therefore, the scale measuring apparatus 1 in the present embodiment can detect an error in a small section in the scale 3 (for example, an error of 1 nm or less in a 1 mm section). That is, the scale measuring apparatus 1 in this embodiment can detect a local error (small section error) in the scale 3.

また、本実施形態において、誤差検出部20は、少なくとも2つの検出ヘッド(11、12)による検出結果(X1、X2)の差(差分D)に基づいて、スケール3の誤差を検出する。
これにより、簡易な回路構成によって、スケール3の誤差を高精度に検出することができる。よって、本実施形態におけるスケール計測装置1は、スケール3の誤差を検出する精度を向上させることができる。
In the present embodiment, the error detection unit 20 detects an error of the scale 3 based on a difference (difference D) between detection results (X1, X2) by at least two detection heads (11, 12).
Thereby, the error of the scale 3 can be detected with high accuracy by a simple circuit configuration. Therefore, the scale measuring apparatus 1 in the present embodiment can improve the accuracy of detecting the error of the scale 3.

なお、本実施形態によれば、スケール3の計測方法は、スケール3の位置情報を検出する少なくとも2つの検出ヘッド(11、12)を有する位置検出部20をスケール3に対して移動方向に相対的に移動させる移動工程(図3のステップS101)と、移動方向において互いに所定の間隔L1(第1間隔)で配置された少なくとも2つの検出ヘッド(11、12)による検出結果(X1、X2)に基づいて、スケール3の誤差を検出する誤差検出工程(図3のステップS102からステップS105)と、を有する。
これにより、本実施形態におけるスケール3の計測方法は、スケール3の誤差を検出する精度を向上させることができる。
According to this embodiment, the measuring method of the scale 3 is such that the position detection unit 20 having at least two detection heads (11, 12) for detecting the position information of the scale 3 is relative to the scale 3 in the moving direction. Detection step (X1, X2) by the moving step (step S101 in FIG. 3) and the at least two detection heads (11, 12) arranged at a predetermined interval L1 (first interval) in the moving direction. And an error detection step (step S102 to step S105 in FIG. 3) for detecting an error of the scale 3.
Thereby, the measuring method of the scale 3 in this embodiment can improve the precision which detects the error of the scale 3. FIG.

[第2の実施形態]
次に、第2の実施形態によるスケール計測装置1aについて説明する。
図4は、第2の実施形態によるスケール計測装置1aを示す概略ブロック図である。
本実施形態におけるスケール計測装置1aは、フィルタ処理部23を備えている点が、第1の実施形態におけるスケール計測装置1と異なり、その他の構成、及び動作は、第1の実施形態におけるスケール計測装置1と同様である。
図4において、スケール計測装置1aは、位置検出部10、誤差検出部20a、及び移動部30を備えている。この図において、図1と同一の構成については同一の符号を付し、その説明を省略する。
[Second Embodiment]
Next, a scale measuring apparatus 1a according to the second embodiment will be described.
FIG. 4 is a schematic block diagram showing the scale measuring apparatus 1a according to the second embodiment.
The scale measuring device 1a in the present embodiment is different from the scale measuring device 1 in the first embodiment in that the filter processing unit 23 is provided, and the other configurations and operations are the scale measurement in the first embodiment. It is the same as the device 1.
In FIG. 4, the scale measuring device 1 a includes a position detection unit 10, an error detection unit 20 a, and a moving unit 30. In this figure, the same components as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted.

誤差検出部20aは、誤差演算部21、移動制御部22、及びフィルタ処理部23を備えている。
フィルタ処理部23は、減算器211の出力であるスケール3の誤差の低周波数成分を低減するハイパスフィルタである。すなわち、フィルタ処理部23は、例えば、1mmの空間フィルタである。フィルタ処理部23は、減算器211の出力のうち、低周波成分を低減して、小区間(例えば1mm区間)における誤差成分(高周波数成分)を通過させる。これにより、フィルタ処理部23は、小区間(例えば1mm区間)における誤差を検出し易くする。フィルタ処理部23は、フィルタ処理した減算器211の出力をスケール3の誤差(差分D)として制御装置4に出力する。
The error detection unit 20 a includes an error calculation unit 21, a movement control unit 22, and a filter processing unit 23.
The filter processing unit 23 is a high-pass filter that reduces the low-frequency component of the scale 3 error that is the output of the subtractor 211. That is, the filter processing unit 23 is, for example, a 1 mm spatial filter. The filter processing unit 23 reduces the low frequency component of the output of the subtractor 211 and passes the error component (high frequency component) in a small section (for example, 1 mm section). Thereby, the filter processing unit 23 makes it easy to detect an error in a small section (for example, a 1 mm section). The filter processing unit 23 outputs the filtered output of the subtracter 211 to the control device 4 as an error (difference D) of the scale 3.

以上のように、本実施形態におけるスケール計測装置1aは、誤差検出部20aがスケール3の誤差の低周波数成分を低減するフィルタ処理部23を備えるので、小区間におけるスケール3の誤差を正確に検出することができる。よって、本実施形態におけるスケール計測装置1aは、スケール3の誤差を検出する精度を向上させることができる。   As described above, in the scale measurement apparatus 1a according to the present embodiment, the error detection unit 20a includes the filter processing unit 23 that reduces the low-frequency component of the scale 3 error, so that the scale 3 error in the small section is accurately detected. can do. Therefore, the scale measuring apparatus 1a in the present embodiment can improve the accuracy of detecting the error of the scale 3.

[第3の実施形態]
次に、第3の実施形態によるスケール計測装置1bについて説明する。
第1及び第2の実施形態では、誤差演算部21における演算処理の一例として、減算器211による差分を適用した形態を説明したが、本実施形態では、演算処理の別の一例を適用した形態について説明する。
[Third Embodiment]
Next, a scale measuring apparatus 1b according to the third embodiment will be described.
In the first and second embodiments, the mode in which the difference by the subtractor 211 is applied as an example of the calculation process in the error calculation unit 21 has been described. However, in the present embodiment, another example of the calculation process is applied. Will be described.

図5は、第3の実施形態によるスケール計測装置1bを示す概略ブロック図である。
本実施形態におけるスケール計測装置1bは、誤差演算部21bの構成及び動作が異なる点を除き、その他の構成及び動作は、第1の実施形態におけるスケール計測装置1と同様である。
図5において、スケール計測装置1bは、位置検出部10、誤差検出部20b、及び移動部30を備えている。この図において、図1と同一の構成については同一の符号を付し、その説明を省略する。
FIG. 5 is a schematic block diagram showing a scale measuring apparatus 1b according to the third embodiment.
The scale measurement apparatus 1b in the present embodiment is the same as the scale measurement apparatus 1 in the first embodiment except that the configuration and operation of the error calculator 21b are different.
In FIG. 5, the scale measurement device 1 b includes a position detection unit 10, an error detection unit 20 b, and a movement unit 30. In this figure, the same components as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted.

誤差検出部20bは、誤差演算部21b、及び移動制御部22を備えている。
誤差演算部21bは、検出ヘッド(11、12)による検出結果(X1、X2)に基づいて、スケール3の誤差を検出する演算処理の一例として(dX2/dX1)の演算を実行する。ここで、検出結果(X1、X2)には、基準検出結果X1と、対象検出結果X2とが含まれる。基準検出結果X1は、検出ヘッド(11、12)のうちの基準となる検出ヘッド11によって検出された位置情報である。また、対象検出結果X2は、検出ヘッド(11、12)のうちの基準となる検出ヘッド11とは異なる検出ヘッド12によって検出された位置情報である。
なお、本実施形態において、上述のように、検出結果(位置情報)X1を基準検出結果X1として表し、検出結果(位置情報)X2を基準検出結果X2として表す。
The error detection unit 20 b includes an error calculation unit 21 b and a movement control unit 22.
The error calculation unit 21b executes a calculation of (dX2 / dX1) as an example of a calculation process for detecting an error of the scale 3 based on the detection results (X1, X2) by the detection heads (11, 12). Here, the detection results (X1, X2) include the reference detection result X1 and the target detection result X2. The reference detection result X1 is position information detected by the detection head 11 serving as a reference among the detection heads (11, 12). The target detection result X2 is position information detected by a detection head 12 different from the reference detection head 11 among the detection heads (11, 12).
In the present embodiment, as described above, the detection result (position information) X1 is represented as the reference detection result X1, and the detection result (position information) X2 is represented as the reference detection result X2.

誤差演算部21bは、基準検出結果X1が予め定められた一定量変位した場合に、対象検出結果X2が変位する変位量(dX2/dX1)に基づいて、スケール3の誤差を検出する。誤差演算部21bは、検出したスケール3の誤差を出力(差分D)として制御装置4に出力する。誤差演算部21bは、基準変位量検出部213、位置情報ラッチ部214、及び対象変位量検出部215を備えている。   The error calculation unit 21b detects an error of the scale 3 based on the displacement amount (dX2 / dX1) by which the target detection result X2 is displaced when the reference detection result X1 is displaced by a predetermined amount. The error calculation unit 21b outputs the detected error of the scale 3 to the control device 4 as an output (difference D). The error calculation unit 21b includes a reference displacement amount detection unit 213, a position information latch unit 214, and a target displacement amount detection unit 215.

基準変位量検出部213は、検出ヘッド11によって検出された基準検出結果X1に基づいて、基準検出結果X1が予め定められた一定量変位した場合にトリガー信号を出力する。
位置情報ラッチ部214は、検出ヘッド12によって検出された対象検出結果X2である位置情報を、基準変位量検出部213から出力されたトリガー信号によってラッチして、ラッチした位置情報を対象変位量検出部215に出力する。
Based on the reference detection result X1 detected by the detection head 11, the reference displacement amount detection unit 213 outputs a trigger signal when the reference detection result X1 is displaced by a predetermined amount.
The position information latch unit 214 latches the position information, which is the target detection result X2 detected by the detection head 12, with the trigger signal output from the reference displacement amount detection unit 213, and detects the latched position information as the target displacement amount. To the unit 215.

対象変位量検出部215は、基準変位量検出部213から出力されたトリガー信号によって、基準変位量検出部213から出力された位置情報をラッチして、次に基準変位量検出部213から出力される位置情報との差分を算出する。すなわち、対象変位量検出部215は、基準検出結果X1が予め定められた一定量変位した場合における対象検出結果X2の変位量(dX2/dX1)を検出する。   The target displacement amount detection unit 215 latches the position information output from the reference displacement amount detection unit 213 by the trigger signal output from the reference displacement amount detection unit 213, and then outputs from the reference displacement amount detection unit 213. The difference from the position information is calculated. That is, the target displacement detection unit 215 detects the displacement (dX2 / dX1) of the target detection result X2 when the reference detection result X1 is displaced by a predetermined amount.

なお、この対象検出結果X2の変位量(dX2/dX1)は、スケール3が誤差のない理想的なスケールである場合、所定の値を示す一定の値となる。つまり、この対象検出結果X2の変位量(dX2/dX1)が、スケール3の誤差Dに対応する。対象変位量検出部215は、検出(算出)したこの対象検出結果X2の変位量(dX2/dX1)をスケール3の誤差Dとして制御装置4に出力する。   The displacement amount (dX2 / dX1) of the target detection result X2 is a constant value indicating a predetermined value when the scale 3 is an ideal scale with no error. That is, the displacement amount (dX2 / dX1) of the target detection result X2 corresponds to the error D of the scale 3. The target displacement detection unit 215 outputs the detected (calculated) displacement (dX2 / dX1) of the target detection result X2 to the control device 4 as the error D of the scale 3.

以上のように、本実施形態におけるスケール計測装置1bは、誤差検出部20bの誤差演算部21bが、基準検出結果X1が予め定められた一定量変位した場合に、対象検出結果X2が変位する変位量(dX2/dX1)に基づいて、スケール3の誤差を検出する。
これにより、誤差検出部20bは、検出結果X1(基準検出結果)と検出結果X2(対象検出結果)との間の変位を正確に検出することができる。よって、本実施形態におけるスケール計測装置1bは、スケール3の誤差を検出する精度を向上させることができる。
As described above, in the scale measurement device 1b according to the present embodiment, the error calculation unit 21b of the error detection unit 20b is displaced so that the target detection result X2 is displaced when the reference detection result X1 is displaced by a predetermined amount. Based on the quantity (dX2 / dX1), an error of scale 3 is detected.
Thereby, the error detection unit 20b can accurately detect the displacement between the detection result X1 (reference detection result) and the detection result X2 (target detection result). Therefore, the scale measuring device 1b in the present embodiment can improve the accuracy of detecting the error of the scale 3.

[第4の実施形態]
次に、第4の実施形態によるスケール計測装置1cについて説明する。
第1から第3の各実施形態では、位置検出部10が2つの検出ヘッド(11、12)を備える形態を説明したが、本実施形態では、3つの検出ヘッドを備える形態について説明する。
[Fourth Embodiment]
Next, a scale measuring apparatus 1c according to the fourth embodiment will be described.
In each of the first to third embodiments, the mode in which the position detection unit 10 includes two detection heads (11, 12) has been described. In the present embodiment, a mode in which three detection heads are provided will be described.

図6は、第4の実施形態によるスケール計測装置1cを示す概略ブロック図である。
本実施形態におけるスケール計測装置1cは、検出ヘッドの数が3つになっている点を除き、基本的な動作は、第1の実施形態におけるスケール計測装置1と同様である。
図6において、スケール計測装置1cは、位置検出部10c、誤差検出部20c、及び移動部30を備えている。この図において、図1と同一の構成については同一の符号を付し、その説明を省略する。
FIG. 6 is a schematic block diagram showing a scale measuring apparatus 1c according to the fourth embodiment.
The basic operation of the scale measuring apparatus 1c in this embodiment is the same as that of the scale measuring apparatus 1 in the first embodiment except that the number of detection heads is three.
In FIG. 6, the scale measuring device 1 c includes a position detection unit 10 c, an error detection unit 20 c, and a moving unit 30. In this figure, the same components as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted.

位置検出部10cは、3つの検出ヘッド(11、12、15)及び位置情報生成部(13、14、16)を備えている。すなわち、位置検出部10cは、複数の検出ヘッドとして、検出ヘッド11(第1の検出部)、検出ヘッド12(第2の検出部)、及び検出ヘッド15(第3の検出部)を備えている。
また、検出ヘッド11が配置されている位置と検出ヘッド12が配置されている位置との間の第1間隔(所定の間隔L1)と、検出ヘッド12が配置されている位置と検出ヘッド15が配置されている位置との間の第2間隔(所定の間隔L2)とは、互いに異なる間隔である。また、この所定の間隔L1(第1間隔)と所定の間隔L2(第2間隔)とは、互いに倍数でない関係にある。なお、検出ヘッド11、検出ヘッド12、及び検出ヘッド15は、この所定の間隔L1及び所定の間隔L2を保った状態で、スケール3に対して移動方向に相対的に移動する。
The position detection unit 10c includes three detection heads (11, 12, 15) and a position information generation unit (13, 14, 16). That is, the position detection unit 10c includes a detection head 11 (first detection unit), a detection head 12 (second detection unit), and a detection head 15 (third detection unit) as a plurality of detection heads. Yes.
Further, the first interval (predetermined interval L1) between the position where the detection head 11 is arranged and the position where the detection head 12 is arranged, the position where the detection head 12 is arranged, and the detection head 15 are The second interval (predetermined interval L2) between the arranged positions is different from each other. Further, the predetermined interval L1 (first interval) and the predetermined interval L2 (second interval) are not in multiples of each other. The detection head 11, the detection head 12, and the detection head 15 move relative to the scale 3 in the movement direction while maintaining the predetermined interval L1 and the predetermined interval L2.

検出ヘッド15(第3の検出部)は、検出ヘッド11及び検出ヘッド12と同様に、例えば、光学式のセンサであり、スケール3のパターン30を検出することによって、スケール3の位置情報を検出し、検出信号を出力する。検出ヘッド15は、検出信号を位置情報生成部16に出力する。   The detection head 15 (third detection unit) is, for example, an optical sensor similar to the detection head 11 and the detection head 12, and detects the position information of the scale 3 by detecting the pattern 30 of the scale 3. And outputs a detection signal. The detection head 15 outputs a detection signal to the position information generation unit 16.

位置情報生成部16は、位置情報生成部13及び位置情報生成部14と同様に、例えば、インクリメンタルパターンによって検出された検出信号に基づいて、位置情報を生成するカウンタである。位置情報生成部16は、検出ヘッド15から出力された検出信号に基づいて、スケール3における位置情報X3を生成し、生成した位置情報X3を検出結果として誤差検出部20cに出力する。   Similar to the position information generation unit 13 and the position information generation unit 14, the position information generation unit 16 is a counter that generates position information based on a detection signal detected by an incremental pattern, for example. The position information generation unit 16 generates position information X3 on the scale 3 based on the detection signal output from the detection head 15, and outputs the generated position information X3 as a detection result to the error detection unit 20c.

誤差検出部20cは、誤差演算部21c及び移動制御部22を備えている。そして、誤差演算部21cは、減算器211及び減算器212を備えている。
減算器211は、検出ヘッド11によって検出された検出結果X1と検出ヘッド12によって検出された検出結果X2との差分D1を算出する演算処理を実行する。この検出結果X1と検出結果X2との差分D1は、スケール3が誤差のない理想的なスケールである場合、所定の間隔L1を示す一定の値となる。つまり、この差分D1の変位が、スケール3の誤差に対応する。したがって、減算器211は、スケール3の誤差として、算出した検出結果X1と検出結果X2との差分D1を制御装置4に出力する。
The error detection unit 20 c includes an error calculation unit 21 c and a movement control unit 22. The error calculation unit 21 c includes a subtractor 211 and a subtracter 212.
The subtractor 211 executes a calculation process for calculating a difference D1 between the detection result X1 detected by the detection head 11 and the detection result X2 detected by the detection head 12. The difference D1 between the detection result X1 and the detection result X2 is a constant value indicating the predetermined interval L1 when the scale 3 is an ideal scale with no error. That is, the displacement of the difference D1 corresponds to the error of the scale 3. Accordingly, the subtractor 211 outputs the difference D1 between the calculated detection result X1 and the detection result X2 to the control device 4 as an error of the scale 3.

減算器212は、検出ヘッド12によって検出された検出結果X2と検出ヘッド15によって検出された検出結果X3との差分D2を算出する演算処理を実行する。この検出結果X2と検出結果X3との差分D2は、スケール3が誤差のない理想的なスケールである場合、所定の間隔L2を示す一定の値となる。つまり、この差分D2の変位が、スケール3の誤差に対応する。したがって、減算器212は、スケール3の誤差として、算出した検出結果X2と検出結果X3との差分D2を制御装置4に出力する。   The subtractor 212 executes a calculation process for calculating a difference D2 between the detection result X2 detected by the detection head 12 and the detection result X3 detected by the detection head 15. The difference D2 between the detection result X2 and the detection result X3 is a constant value indicating the predetermined interval L2 when the scale 3 is an ideal scale with no error. That is, the displacement of the difference D2 corresponds to the error of the scale 3. Accordingly, the subtractor 212 outputs the difference D2 between the calculated detection result X2 and the detection result X3 as an error of the scale 3 to the control device 4.

本実施形態において、制御装置4は、検出結果X1と検出結果X2との差分D1と、検出結果X2と検出結果X3との差分D2とに基づいて、スケール3の良否を判定する。
なお、スケール3の誤差が、例えば、所定の間隔L1に近い間隔によって周期的に発生する場合がある。このような場合には、所定の間隔L1によって検出されたスケール3の誤差(差分D1)では、正確な誤差を検出できないことがある。そのため、本実施形態では、所定の間隔L1と所定の間隔L2との異なる間隔によって、スケール3の誤差(差分D1及びD2)を検出する。これにより、このような場合であっても、所定の間隔L1と異なる間隔である所定の間隔L2によって検出されたスケール3の誤差(差分D2)では、正確な誤差を検出することができる。
In the present embodiment, the control device 4 determines the quality of the scale 3 based on the difference D1 between the detection result X1 and the detection result X2 and the difference D2 between the detection result X2 and the detection result X3.
Note that the error of the scale 3 may occur periodically at intervals close to the predetermined interval L1, for example. In such a case, an accurate error may not be detected with the error (difference D1) of the scale 3 detected at the predetermined interval L1. Therefore, in the present embodiment, the error (differences D1 and D2) of the scale 3 is detected based on different intervals between the predetermined interval L1 and the predetermined interval L2. Thereby, even in such a case, an accurate error can be detected from the error (difference D2) of the scale 3 detected by the predetermined interval L2 which is an interval different from the predetermined interval L1.

以上のように、本実施形態におけるスケール計測装置1cは、位置検出部10cが、複数の検出ヘッドとして、検出ヘッド11(第1の検出部)、検出ヘッド12(第2の検出部)、及び検出ヘッド15(第3の検出部)を備えている。そして、検出ヘッド11が配置されている位置と検出ヘッド12が配置されている位置との間の間隔(所定の間隔L1)と、検出ヘッド12が配置されている位置と検出ヘッド15が配置されている位置との間の間2(所定の間隔L2)とは、互いに異なる間隔である。
これにより、上述したように、スケール3の誤差が所定の間隔L1又は所定の間隔L2に近い間隔によって周期的に発生する場合であっても、正確にスケール3の誤差を検出することができる。したがって、本実施形態におけるスケール計測装置1cは、スケール3の誤差を検出する精度を向上させることができる。
As described above, in the scale measuring apparatus 1c according to the present embodiment, the position detection unit 10c includes the detection head 11 (first detection unit), the detection head 12 (second detection unit), and a plurality of detection heads. A detection head 15 (third detection unit) is provided. Then, an interval (predetermined interval L1) between the position where the detection head 11 is arranged and the position where the detection head 12 is arranged, and the position where the detection head 12 is arranged and the detection head 15 are arranged. The interval 2 (predetermined interval L2) between the positions is different from each other.
Thereby, as described above, even when the error of the scale 3 is periodically generated by an interval close to the predetermined interval L1 or the predetermined interval L2, the error of the scale 3 can be accurately detected. Therefore, the scale measuring device 1c in the present embodiment can improve the accuracy of detecting the error of the scale 3.

[第5の実施形態]
次に、第5の実施形態によるスケール計測装置1dについて説明する。
第4の実施形態では、位置検出部10cが3つの検出ヘッドを備える形態について説明したが、本実施形態では、2つの検出ヘッド(11、12)を備える位置検出部10を複数備える形態について説明する。
[Fifth Embodiment]
Next, a scale measuring apparatus 1d according to a fifth embodiment will be described.
In the fourth embodiment, the mode in which the position detection unit 10c includes three detection heads has been described. In the present embodiment, the mode in which a plurality of position detection units 10 including two detection heads (11, 12) are provided is described. To do.

図7は、第5の実施形態によるスケール計測装置1dを示す概略ブロック図である。
本実施形態におけるスケール計測装置1dは、2つの位置検出部10を備える点を除き、基本的な動作は、第1の実施形態におけるスケール計測装置1と同様である。
図7において、スケール計測装置1dは、2つの位置検出部(10_1、10_2)、誤差検出部20d、及び移動部30を備えている。この図において、図1と同一の構成については同一の符号を付し、その説明を省略する。
FIG. 7 is a schematic block diagram showing a scale measuring apparatus 1d according to the fifth embodiment.
The scale measurement apparatus 1d in the present embodiment is the same as the scale measurement apparatus 1 in the first embodiment except that the scale measurement apparatus 1d includes two position detection units 10.
In FIG. 7, the scale measuring device 1d includes two position detection units (10_1, 10_2), an error detection unit 20d, and a moving unit 30. In this figure, the same components as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted.

位置検出部10_1(第1の位置検出部)は、検出ヘッド(11_1、12_1)、及び位置情報生成部(13_1、14_1)を備えている。また、位置検出部10_2(第2の位置検出部)は、検出ヘッド(11_2、12_2)、及び位置情報生成部(13_2、14_2)を備えている。なお、位置検出部10_1及び位置検出部10_2は、図1における位置検出部10と同様の構成である。すなわち、検出ヘッド11_1及び検出ヘッド11_2は検出ヘッド11に対応し、検出ヘッド12_1及び検出ヘッド12_2は検出ヘッド12に対応する。また、位置情報生成部13_1及び位置情報生成部13_2は位置情報生成部13に対応し、位置情報生成部14_1及び位置情報生成部14_2は位置情報生成部14に対応する。   The position detection unit 10_1 (first position detection unit) includes detection heads (11_1, 12_1) and position information generation units (13_1, 14_1). The position detection unit 10_2 (second position detection unit) includes a detection head (11_2, 12_2) and a position information generation unit (13_2, 14_2). Note that the position detection unit 10_1 and the position detection unit 10_2 have the same configuration as the position detection unit 10 in FIG. That is, the detection head 11_1 and the detection head 11_2 correspond to the detection head 11, and the detection head 12_1 and the detection head 12_2 correspond to the detection head 12. In addition, the position information generation unit 13_1 and the position information generation unit 13_2 correspond to the position information generation unit 13, and the position information generation unit 14_1 and the position information generation unit 14_2 correspond to the position information generation unit 14.

なお、本実施形態では、検出ヘッド11_1と検出ヘッド12_1とは、移動方向において互いに所定の間隔L1(第1間隔)で配置されている。また、検出ヘッド11_2と検出ヘッド12_2とは、移動方向において互いに所定の間隔L2(第2間隔)で配置されている。この所定の間隔L2は、位置検出部10_1における所定の間隔L1とは異なる間隔である。また、この所定の間隔L1と所定の間隔L2とは、互いに倍数でない関係にある。すなわち、位置検出部10_2は、所定の間隔L1とは異なる間隔で配置された少なくとも2つの検出ヘッド(11_2、12_2)を有し、スケール3に対して移動方向に相対的に移動する。   In the present embodiment, the detection head 11_1 and the detection head 12_1 are disposed at a predetermined interval L1 (first interval) in the movement direction. The detection head 11_2 and the detection head 12_2 are arranged at a predetermined interval L2 (second interval) in the moving direction. This predetermined interval L2 is an interval different from the predetermined interval L1 in the position detector 10_1. Further, the predetermined interval L1 and the predetermined interval L2 are not in a multiple relationship with each other. That is, the position detection unit 10_2 has at least two detection heads (11_2, 12_2) arranged at intervals different from the predetermined interval L1, and moves relative to the scale 3 in the movement direction.

位置検出部10_1は、検出ヘッド(11_1、12_1)による検出結果(X1、X2)を誤差検出部20dに出力する。また、位置検出部10_2は、検出ヘッド(11_2、12_2)による検出結果(X3、X4)を誤差検出部20dに出力する。   The position detection unit 10_1 outputs detection results (X1, X2) by the detection heads (11_1, 12_1) to the error detection unit 20d. Further, the position detection unit 10_2 outputs detection results (X3, X4) by the detection heads (11_2, 12_2) to the error detection unit 20d.

誤差検出部20dは、誤差演算部21d及び移動制御部22を備えている。そして、誤差演算部21dは、減算器211_1及び減算器211_2を備えている。
減算器211_1及び減算器211_2は、図1における減算器211と同様の構成である。但し、減算器211_1は、検出ヘッド11_1によって検出された検出結果X1と、検出ヘッド12_1によって検出された検出結果X2との差分D1を算出し、スケール3の誤差として制御装置4に出力する。また、減算器211_2は、検出ヘッド11_2によって検出された検出結果X3と、検出ヘッド12_2によって検出された検出結果X4との差分D2を算出し、スケール3の誤差として制御装置4に出力する。
The error detection unit 20d includes an error calculation unit 21d and a movement control unit 22. The error calculator 21d includes a subtractor 211_1 and a subtractor 211_2.
The subtractor 211_1 and the subtractor 211_2 have the same configuration as the subtractor 211 in FIG. However, the subtractor 211_1 calculates a difference D1 between the detection result X1 detected by the detection head 11_1 and the detection result X2 detected by the detection head 12_1, and outputs the difference D1 to the control device 4 as an error of the scale 3. The subtractor 211_2 calculates a difference D2 between the detection result X3 detected by the detection head 11_2 and the detection result X4 detected by the detection head 12_2, and outputs the difference D2 to the control device 4 as an error of the scale 3.

次に、本実施形態におけるスケール計測装置1dについて説明する。
図8は、本実施形態におけるスケール計測装置1dの動作を示すフローチャートである。
この図において、まず、スケール計測装置1dは、位置検出部10_1によって、スケール3の誤差(差分D1)を測定(検出)する(ステップS201)。このステップS201の処理は、図3におけるステップS101からステップS105までの処理と同様である。誤差検出部20dは、算出したスケール3の誤差(差分D1)を制御装置4に出力する。
Next, the scale measuring apparatus 1d in this embodiment will be described.
FIG. 8 is a flowchart showing the operation of the scale measuring apparatus 1d in the present embodiment.
In this figure, first, the scale measuring apparatus 1d measures (detects) an error (difference D1) of the scale 3 by the position detection unit 10_1 (step S201). The processing in step S201 is the same as the processing from step S101 to step S105 in FIG. The error detection unit 20d outputs the calculated error (difference D1) of the scale 3 to the control device 4.

次に、スケール計測装置1dは、位置検出部10_2によって、スケール3の誤差(差分D2)を測定(検出)する(ステップS202)。すなわち、スケール計測装置1dは、位置検出部10_1から位置検出部10_2に切り替えて、位置検出部10_1と同様に、スケール3の誤差(差分D2)を測定(検出)する。誤差検出部20dは、算出したスケール3の誤差(差分D2)を制御装置4に出力する。   Next, the scale measuring device 1d measures (detects) the error (difference D2) of the scale 3 by the position detection unit 10_2 (step S202). In other words, the scale measuring device 1d switches from the position detection unit 10_1 to the position detection unit 10_2 and measures (detects) the error (difference D2) of the scale 3 in the same manner as the position detection unit 10_1. The error detection unit 20d outputs the calculated error (difference D2) of the scale 3 to the control device 4.

次に、制御装置4は、最大誤差ΔD1及びΔD2を算出する(ステップS203)。すなわち、制御装置4の最大誤差算出部41は、スケール計測装置1の誤差検出部20dから出力されたスケール3の誤差(差分D1及びD2)に基づいて、スケール3の最大誤差ΔD1及びΔD2を算出する。   Next, the control device 4 calculates maximum errors ΔD1 and ΔD2 (step S203). That is, the maximum error calculation unit 41 of the control device 4 calculates the maximum errors ΔD1 and ΔD2 of the scale 3 based on the errors (differences D1 and D2) of the scale 3 output from the error detection unit 20d of the scale measurement device 1. To do.

次に、制御装置4は、スケール3の良否を判定する(ステップS204)。すなわち、制御装置4の検査部42は、最大誤差算出部41が算出した最大誤差ΔD1及びD2に基づいて、スケール計測装置1によって測定したスケール3が良品であるか否かを判定する。
以上により、本フローチャートの処理を終了する。
Next, the control device 4 determines the quality of the scale 3 (step S204). That is, the inspection unit 42 of the control device 4 determines whether or not the scale 3 measured by the scale measuring device 1 is a non-defective product based on the maximum errors ΔD1 and D2 calculated by the maximum error calculation unit 41.
Thus, the process of this flowchart is completed.

なお、スケール3の誤差が、例えば、所定の間隔L1に近い間隔によって周期的に発生する場合がある。このような場合には、所定の間隔L1によって検出されたスケール3の誤差(差分D1)では、正確な誤差を検出できないことがある。そのため、本実施形態では、所定の間隔L1と所定の間隔L2との異なる間隔によって、スケール3の誤差(差分D1及びD2)を2回検出する。これにより、このような場合であっても、所定の間隔L1と異なる間隔である所定の間隔L2によって検出されたスケール3の誤差(差分D2)では、正確な誤差を検出することができる。   Note that the error of the scale 3 may occur periodically at intervals close to the predetermined interval L1, for example. In such a case, an accurate error may not be detected with the error (difference D1) of the scale 3 detected at the predetermined interval L1. Therefore, in the present embodiment, the error (differences D1 and D2) of the scale 3 is detected twice based on different intervals between the predetermined interval L1 and the predetermined interval L2. Thereby, even in such a case, an accurate error can be detected from the error (difference D2) of the scale 3 detected by the predetermined interval L2 which is an interval different from the predetermined interval L1.

以上のように、本実施形態におけるスケール計測装置1dは、位置検出部10_1(第1の位置検出部)と、位置検出部10_2(第2の位置検出部)とを備えている。位置検出部10_1は、所定の間隔L1(第1間隔)で配置された少なくとも2つの検出ヘッド(11_1、12_1)を有し、スケール3に対して移動方向に相対的に移動する。また、位置検出部10_2(第2の位置検出部)は、所定の間隔L1とは異なる所定の間隔L2(第2間隔)で配置された少なくとも2つの検出ヘッド(11_2、12_2)を有し、スケール3に対して移動方向に相対的に移動する。誤差検出部20dは、位置検出部10_1及び位置検出部10_2から得られた検出結果に基づいて、スケール3の誤差を検出する。   As described above, the scale measuring device 1d according to the present embodiment includes the position detection unit 10_1 (first position detection unit) and the position detection unit 10_2 (second position detection unit). The position detection unit 10_1 has at least two detection heads (11_1, 12_1) arranged at a predetermined interval L1 (first interval), and moves relative to the scale 3 in the movement direction. The position detection unit 10_2 (second position detection unit) includes at least two detection heads (11_2, 12_2) arranged at a predetermined interval L2 (second interval) different from the predetermined interval L1. It moves relative to the scale 3 in the moving direction. The error detection unit 20d detects an error of the scale 3 based on the detection results obtained from the position detection unit 10_1 and the position detection unit 10_2.

これにより、上述したように、スケール3の誤差が所定の間隔L1又は所定の間隔L2に近い間隔によって周期的に発生する場合であっても、正確にスケール3の誤差を検出することができる。したがって、本実施形態におけるスケール計測装置1dは、スケール3の誤差を検出する精度を向上させることができる。   Thereby, as described above, even when the error of the scale 3 is periodically generated by an interval close to the predetermined interval L1 or the predetermined interval L2, the error of the scale 3 can be accurately detected. Therefore, the scale measuring device 1d in the present embodiment can improve the accuracy of detecting the error of the scale 3.

また、本実施形態によれば、スケール3の計測方法は、所定の間隔L1と所定の間隔L2との異なる間隔に配置された少なくとも2つの検出ヘッドを有する複数の位置検出部(10_1、10_2)を切り替えてスケール3の誤差を検出する工程(図8のステップS201及びステップS202)を有している。
これにより、上述したように、スケール3の誤差が所定の間隔L1又は所定の間隔L2に近い間隔によって周期的に発生する場合であっても、正確にスケール3の誤差を検出することができる。
Further, according to the present embodiment, the measuring method of the scale 3 includes a plurality of position detection units (10_1, 10_2) having at least two detection heads arranged at different intervals of the predetermined interval L1 and the predetermined interval L2. And a step of detecting an error of scale 3 (step S201 and step S202 in FIG. 8).
Thereby, as described above, even when the error of the scale 3 is periodically generated by an interval close to the predetermined interval L1 or the predetermined interval L2, the error of the scale 3 can be accurately detected.

[第6の実施形態]
上述した第1から第5の各実施形態におけるスケール計測装置(1、1a、1b、1c、1d)は、スケール製造システム及びスケールの製造方法に適用することができる。本実施形態では、その一例として、第1の実施形態におけるスケール計測装置1を備えるスケール製造システムについて説明する。
[Sixth Embodiment]
The scale measuring devices (1, 1a, 1b, 1c, 1d) in the first to fifth embodiments described above can be applied to a scale manufacturing system and a scale manufacturing method. In this embodiment, as an example, a scale manufacturing system including the scale measuring device 1 in the first embodiment will be described.

図9は、本実施形態によるスケール製造システム100を示す概略ブロック図である。
この図において、スケール製造システム100は、スケール計測装置1、スケール作成装置2、及び制御装置4を備えている。
FIG. 9 is a schematic block diagram showing the scale manufacturing system 100 according to the present embodiment.
In this figure, the scale manufacturing system 100 includes a scale measuring device 1, a scale creating device 2, and a control device 4.

スケール作成装置2は、スケール3を作成する装置であり、例えば、スケール3に位置情報を形成するパターン31を露光(フォトリソグラフィ)技術によって形成する。なお、スケール作成装置2は、パターン31を所定の区間幅を持ったパターンを繰り返し形成して作成する。スケール作成装置2のスケール作成工程には、スケール3に位置情報を形成するパターン形成工程が含まれる。   The scale creation device 2 is a device that creates the scale 3. For example, the scale creation device 2 forms a pattern 31 that forms position information on the scale 3 by an exposure (photolithography) technique. The scale creation device 2 creates the pattern 31 by repeatedly forming a pattern having a predetermined section width. The scale creating process of the scale creating apparatus 2 includes a pattern forming process for forming position information on the scale 3.

制御装置4は、スケール製造システム100の各装置を制御する。制御装置4は、最大誤差算出部41、検査部42、及び記憶部43を備えている。
記憶部43は、スケール作成装置2の作成条件、スケール計測装置1の測定条件、及びスケール計測装置1が検出したスケール3の誤差(誤差情報)などを記憶する。
検査部42は、最大誤差算出部41によって算出されたスケール3の誤差の最大値に基づいて、スケール計測装置1によって測定されたスケール3の良否を判定する。また、検査部42は、測定されたスケール3が不良品である場合に、スケール計測装置1によって計測(検出)されたスケール3の誤差情報を解析し、スケール3の作成条件を変更可能な傾向があるか否かを判定する。検査部42は、スケール3の作成条件を変更可能な傾向があると判定した場合に、スケール作成装置2におけるスケール3の作成条件を変更する。
The control device 4 controls each device of the scale manufacturing system 100. The control device 4 includes a maximum error calculation unit 41, an inspection unit 42, and a storage unit 43.
The storage unit 43 stores the creation conditions of the scale creation device 2, the measurement conditions of the scale measurement device 1, the error (error information) of the scale 3 detected by the scale measurement device 1, and the like.
The inspection unit 42 determines the quality of the scale 3 measured by the scale measuring device 1 based on the maximum value of the error of the scale 3 calculated by the maximum error calculation unit 41. In addition, when the measured scale 3 is a defective product, the inspection unit 42 analyzes the error information of the scale 3 measured (detected) by the scale measuring device 1 and can change the creation conditions of the scale 3. It is determined whether or not there is. When it is determined that the scale 3 creation condition tends to be changed, the inspection unit 42 changes the scale 3 creation condition in the scale creation device 2.

図10は、本実施形態におけるスケール製造システム100の動作を示すフローチャートである。
この図において、まず、スケール作成装置2は、位置検出に使用されるスケール3を作成する(ステップS301)。すなわち、スケール作成装置2は、制御装置4から供給された作成条件に基づいて、スケール3を作成する。なお、ステップS301の処理は、スケール作成工程に対応し、上述したように、スケール3に位置情報を形成するパターン形成工程を含む。
FIG. 10 is a flowchart showing the operation of the scale manufacturing system 100 in the present embodiment.
In this figure, first, the scale creation device 2 creates a scale 3 used for position detection (step S301). That is, the scale creation device 2 creates the scale 3 based on the creation conditions supplied from the control device 4. Note that the processing in step S301 corresponds to the scale creation process and includes a pattern formation process for forming position information on the scale 3 as described above.

次に、スケール製造システム100は、スケール計測装置1を用いて、スケール3の誤差を計測(検出)する(ステップS302)。すなわち、スケール計測装置1は、制御装置4の制御に基づいて、スケール3の誤差を検出する。なお、スケール計測装置1によって計測されたスケール3の誤差は、制御装置4の記憶部43に記憶される。   Next, the scale manufacturing system 100 measures (detects) an error of the scale 3 using the scale measuring device 1 (step S302). That is, the scale measuring device 1 detects an error of the scale 3 based on the control of the control device 4. Note that the error of the scale 3 measured by the scale measuring device 1 is stored in the storage unit 43 of the control device 4.

次に、スケール製造システム100は、スケール計測装置1の計測結果に基づいて、スケール3を検査する(ステップS303)。つまり、制御装置4の最大誤差算出部41は、スケール計測装置1から出力されたスケール3の誤差(差分D)に基づいて、スケール3の最大誤差ΔDを算出する。検査部42は、最大誤差算出部41によって算出された最大誤差ΔDに基づいて、スケール3を検査する。   Next, the scale manufacturing system 100 inspects the scale 3 based on the measurement result of the scale measuring device 1 (step S303). That is, the maximum error calculation unit 41 of the control device 4 calculates the maximum error ΔD of the scale 3 based on the error (difference D) of the scale 3 output from the scale measurement device 1. The inspection unit 42 inspects the scale 3 based on the maximum error ΔD calculated by the maximum error calculation unit 41.

次に、スケール製造システム100は、スケール3が良品であるか否かを判定する(ステップS304)。すなわち、検査部42は、最大誤差算出部41によって算出された最大誤差ΔDに基づいて、スケール3が良品であるか否かを判定する。検査部42は、スケール3が良品である場合には、処理を終了する。また、検査部42は、スケール3が不良品である場合に、処理をステップS305に進める。   Next, the scale manufacturing system 100 determines whether or not the scale 3 is a non-defective product (step S304). That is, the inspection unit 42 determines whether or not the scale 3 is a non-defective product based on the maximum error ΔD calculated by the maximum error calculation unit 41. If the scale 3 is a non-defective product, the inspection unit 42 ends the process. The inspection unit 42 advances the process to step S305 when the scale 3 is defective.

ステップS305において、スケール製造システム100は、スケール3の誤差情報を解析する。すなわち、検査部42は、これまでにスケール計測装置1によって計測し、記憶部43に記憶されているスケール3の誤差を読み出して解析する。なお、この解析に用いるスケール3の誤差は、複数のスケール3によって計測された誤差情報でもよい。   In step S <b> 305, the scale manufacturing system 100 analyzes the error information of the scale 3. In other words, the inspection unit 42 performs measurement with the scale measuring apparatus 1 so far, reads out and analyzes the error of the scale 3 stored in the storage unit 43. Note that the error of the scale 3 used for this analysis may be error information measured by a plurality of scales 3.

次に、検査部42は、上述の解析結果に基づいてスケール3の作成条件を変更可能な傾向があるか否かを判定する(ステップS306)。検査部42は、作成条件を変更可能な傾向があると判定した場合に、処理をステップS307に進める。また、検査部42は、作成条件を変更可能な傾向がないと判定した場合に、処理を終了する。   Next, the inspection unit 42 determines whether there is a tendency to change the creation condition of the scale 3 based on the above analysis result (step S306). If the inspection unit 42 determines that there is a tendency to change the creation condition, the processing proceeds to step S307. If the inspection unit 42 determines that there is no tendency to change the creation condition, the processing ends.

ステップS307において、検査部42は、記憶部43に記憶されているスケール3の作成条件を変更して、次のスケール作成工程(ステップS301)に処理を戻す。これにより、次のスケール作成工程において、変更された作成条件に基づいて、スケール3が作成される。   In step S307, the inspection unit 42 changes the creation condition of the scale 3 stored in the storage unit 43, and returns the process to the next scale creation step (step S301). Thereby, in the next scale creation process, scale 3 is created based on the changed creation conditions.

ここで、スケール3の作成条件を変更可能な傾向とは、例えば、複数のスケール3において、同一の位置の誤差が大きい場合などである。この場合、スケール3の誤差が大きい位置のパターン31を形成する際の位置合わせ条件などが、適切でないことが考えられる。したがって、スケール3の誤差が大きい位置のパターン31を形成する際の位置合わせ条件などを変更することによって、スケール3の誤差を低減することができる。   Here, the tendency that the creation condition of the scale 3 can be changed is, for example, a case where a plurality of scales 3 have large errors at the same position. In this case, it is conceivable that the alignment conditions for forming the pattern 31 at the position where the error of the scale 3 is large are not appropriate. Therefore, the error of the scale 3 can be reduced by changing the alignment condition when forming the pattern 31 at the position where the error of the scale 3 is large.

以上のように、本実施形態におけるスケール製造システム100は、位置検出に使用されるスケール3を作成するスケール作成装置2と、スケール計測装置1とを備える。
スケール計測装置1によってスケール3の誤差を検出する精度を向上させることができるので、本実施形態におけるスケール製造システム100は、誤差を低減したスケール3を製造することができる。
As described above, the scale manufacturing system 100 according to the present embodiment includes the scale creation device 2 that creates the scale 3 used for position detection and the scale measurement device 1.
Since the accuracy of detecting the error of the scale 3 can be improved by the scale measuring device 1, the scale manufacturing system 100 in the present embodiment can manufacture the scale 3 with reduced error.

また、本実施形態におけるスケール製造システム100は、スケール計測装置1によって検出されたスケール3の誤差に基づいて、スケール作成装置2におけるスケール3の作成条件を変更する。
これにより、スケール作成装置2は、適切な作成条件によってスケール3を作成するので、スケール3の誤差を低減することができる。そのため、本実施形態におけるスケール製造システム100は、誤差を低減したスケール3を製造することができる。
Further, the scale manufacturing system 100 according to the present embodiment changes the creation conditions of the scale 3 in the scale creation device 2 based on the error of the scale 3 detected by the scale measurement device 1.
Thereby, since the scale creation apparatus 2 creates the scale 3 under appropriate creation conditions, the error of the scale 3 can be reduced. Therefore, the scale manufacturing system 100 in this embodiment can manufacture the scale 3 with reduced errors.

なお、本実施形態によれば、スケール3の製造方法は、位置検出に使用されるスケール3を作成するスケール作成工程(図10のステップS301)と、スケール計測装置1を用いてスケール3の誤差を検出する誤差検出工程(図10のステップS302)と、を有する。
これにより、本実施形態によるスケール3の製造方法は、誤差を低減したスケール3を製造することができる。
According to the present embodiment, the scale 3 manufacturing method includes a scale creation step (step S301 in FIG. 10) for creating the scale 3 used for position detection, and an error of the scale 3 using the scale measurement device 1. And an error detection step (step S302 in FIG. 10).
Thereby, the manufacturing method of the scale 3 by this embodiment can manufacture the scale 3 which reduced the error.

また、本実施形態によるスケール3の製造方法は、上述の誤差検出工程によって検出されたスケール3の誤差に基づいて、スケール作成工程におけるスケールの作成条件を変更する。
これにより、スケール作成工程は、適切な作成条件によってスケール3を作成するので、スケール3の誤差を低減することができる。そのため、本実施形態におけるスケール3の製造方法は、誤差を低減したスケール3を製造することができる。
Further, the scale 3 manufacturing method according to the present embodiment changes the scale creation conditions in the scale creation step based on the error of the scale 3 detected by the error detection step.
Thereby, since the scale creation process creates the scale 3 under appropriate creation conditions, the error of the scale 3 can be reduced. Therefore, the manufacturing method of the scale 3 in this embodiment can manufacture the scale 3 with reduced errors.

なお、本発明は、上記の各実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で変更可能である。
上記の各実施形態において、位置検出部10(10c)が位置情報生成部13及び14(13、14、及び16)を含む形態を説明したが、誤差検出部20(20c)が位置情報生成部13及び14(13、14、及び16)を含む形態でもよい。また、位置検出部10(10c)の検出ヘッド11及び12(11、12、及び15)の部分が、スケール3に対して移動方向に相対的に移動する形態でもよい。
The present invention is not limited to the above embodiments, and can be modified without departing from the spirit of the present invention.
In each of the above embodiments, the mode in which the position detection unit 10 (10c) includes the position information generation units 13 and 14 (13, 14, and 16) has been described. However, the error detection unit 20 (20c) has the position information generation unit. 13 and 14 (13, 14, and 16) may be included. Alternatively, the detection heads 11 and 12 (11, 12, and 15) of the position detection unit 10 (10c) may move relative to the scale 3 in the movement direction.

また、上記の第1から第5の各実施形態は、それぞれ単独で実施する形態として説明したが、第1から第5の各実施形態を組み合わせて実施する形態でもよい。例えば、第3から第5の実施形態に、第2の実施形態のフィルタ処理部23を適用する形態でもよい。また、第1、第2、第4及び第5の実施形態に、第3の実施形態の誤差演算部21bと、減算回路211(212、211_1、211_2)を備える誤差演算部21(21a、21c、21d)との両方を備える形態でもよい。   Moreover, although said 1st-5th each embodiment demonstrated as a form implemented individually, respectively, the form implemented combining the 1st-5th each embodiment may be sufficient. For example, the filter processing unit 23 of the second embodiment may be applied to the third to fifth embodiments. In addition, the first, second, fourth, and fifth embodiments include the error calculation unit 21b (21a, 21c) including the error calculation unit 21b of the third embodiment and the subtraction circuit 211 (212, 211_1, 211_2). , 21d).

また、上記の第6の実施形態において、スケール製造システム100及びは、スケール3の製造方法は、一例として第1の実施形態のよるスケール計測装置1を使用する形態を説明したが、第2から第5の各実施形態によるスケール計測装置1a(1b、1c、1d)を使用する形態でもよい。
また、上記の第6の実施形態において、スケール3を製造する際の計測装置として、スケール計測装置1を使用する形態を説明したが、エンコーダの校正においてスケール3を評価する際に、スケール計測装置1(1b、1c、1d)を使用する形態でもよい。
Moreover, in said 6th Embodiment, although the scale manufacturing system 100 and the manufacturing method of the scale 3 demonstrated the form which uses the scale measuring device 1 by 1st Embodiment as an example, from 2nd, The form which uses scale measuring device 1a (1b, 1c, 1d) by each 5th embodiment may be sufficient.
Further, in the above sixth embodiment, the form in which the scale measuring device 1 is used as the measuring device for manufacturing the scale 3 has been described. However, when the scale 3 is evaluated in the calibration of the encoder, the scale measuring device is used. 1 (1b, 1c, 1d) may be used.

また、上記の各実施形態において、スケール3は、パターン31としてインクリメンタルパターンを有する形態を説明したが、アブソリュートパターンを有する形態でもよし、位置情報を検出できるパターンであれば他のパターンを有する形態でもよい。例えば、スケール3は、インクリメンタルパターンとアブソリュートパターンとの両方を有する形態でもよい。また、検出ヘッド(11、12、15)は、光学式センサに限定されるものではなく、磁気式センサでもよい。   Further, in each of the embodiments described above, the scale 3 has the form having the incremental pattern as the pattern 31, but the form having the absolute pattern may be used, and the form having other patterns as long as the position information can be detected. Good. For example, the scale 3 may have a form having both an incremental pattern and an absolute pattern. The detection heads (11, 12, 15) are not limited to optical sensors, but may be magnetic sensors.

また、上記の各実施形態において、スケール3は、リニアエンコーダ用のスケールである形態を説明したが、ロータリエンコーダに使用する円盤型のスケールや扇形のスケールに適用する形態でもよい。
また、上記の各実施形態において、移動部30は、位置検出部10(10c)を移動させる形態を説明したが、スケール3を移動させる形態でもよい。
Further, in each of the embodiments described above, the scale 3 is a linear encoder scale. However, the scale 3 may be applied to a disk-type scale or a fan-shaped scale used for a rotary encoder.
In each of the above embodiments, the moving unit 30 has been described as moving the position detecting unit 10 (10c). However, the moving unit 30 may be configured to move the scale 3.

また、上記の各実施形態において、最大誤差算出部41は、スケール3の誤差(差分D)における最大値と最小値との差分ΔDをスケール3の誤差の最大値として算出する形態を説明したが、これに限定されるものではない。例えば、最大誤差算出部41が、差分ΔDを2分の1した値をスケール3の誤差の最大値として算出する形態でもよい。また、最大誤差算出部41は、スケール3の誤差(差分D)を移動平均した値における最大値と最小値との差分ΔDを算出する形態でもよい。   Further, in each of the above embodiments, the maximum error calculation unit 41 has been described as calculating the difference ΔD between the maximum value and the minimum value of the error (difference D) of the scale 3 as the maximum value of the error of the scale 3. However, the present invention is not limited to this. For example, the maximum error calculation unit 41 may calculate a value obtained by halving the difference ΔD as the maximum error of the scale 3. Further, the maximum error calculation unit 41 may be configured to calculate the difference ΔD between the maximum value and the minimum value in the value obtained by moving and averaging the error (difference D) of the scale 3.

1,1a,1b,1c,1d…スケール計測装置、10,10c,10_1,10_2…位置検出部、11,12,11_1,11_2,12_1,12_2,15…検出ヘッド、20,20a,20b,20c,20d…誤差検出部、23…フィルタ処理部   1, 1a, 1b, 1c, 1d ... scale measuring device, 10, 10c, 10_1, 10_2 ... position detection unit, 11, 12, 11_1, 11_2, 12_1, 12_2, 15 ... detection head, 20, 20a, 20b, 20c , 20d ... error detection unit, 23 ... filter processing unit

Claims (10)

位置検出に使用されるスケールの位置情報を検出する複数の検出部を有し、前記スケールに対して移動方向に相対的に移動する位置検出部と、
前記複数の検出部のうち少なくとも2つの前記検出部による検出結果に基づいて、前記スケールの誤差を検出する誤差検出部と、を備え、
前記複数の検出部のうち前記少なくとも2つの検出部は、前記移動方向において互いに所定の第1間隔で配置されている
ことを特徴とする位置検出用スケールの計測装置。
A plurality of detection units for detecting position information of a scale used for position detection, and a position detection unit that moves relative to the scale in a movement direction;
An error detection unit that detects an error of the scale based on detection results of at least two of the plurality of detection units,
The at least two detection units of the plurality of detection units are arranged at a predetermined first interval in the movement direction. The position detection scale measuring apparatus.
前記誤差検出部は、
前記少なくとも2つの検出部による検出結果の差に基づいて、前記スケールの誤差を検出する
ことを特徴とする請求項1に記載の位置検出用スケールの計測装置。
The error detector is
The position measuring scale measuring apparatus according to claim 1, wherein the scale error is detected based on a difference between detection results of the at least two detection units.
前記検出結果には、前記検出部のうちの基準となる前記検出部によって検出された基準検出結果と、前記検出部のうちの前記基準となる検出部とは異なる前記検出部によって検出された対象検出結果とが含まれ、
前記誤差検出部は、
前記基準検出結果が予め定められた一定量変位した場合に、前記対象検出結果が変位する変位量に基づいて、前記スケールの誤差を検出する
ことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の位置検出用スケールの計測装置。
The detection result includes a reference detection result detected by the detection unit serving as a reference of the detection units and a target detected by the detection unit different from the detection unit serving as the reference of the detection units. Detection results and
The error detector is
3. The scale error is detected based on a displacement amount by which the target detection result is displaced when the reference detection result is displaced by a predetermined amount. 4. Measuring device for scale for position detection.
前記誤差検出部は、
前記スケールの誤差の低周波数成分を低減するフィルタ処理部を備える
ことを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の位置検出用スケールの計測装置。
The error detector is
The position measuring scale measuring apparatus according to any one of claims 1 to 3, further comprising a filter processing unit that reduces a low-frequency component of the scale error.
前記位置検出部は、
前記複数の検出部として、第1の検出部、第2の検出部、及び第3の検出部を備え、
前記第1の検出部が配置されている位置と前記第2の検出部が配置されている位置との間の前記第1間隔と、前記第2の検出部が配置されている位置と前記第3の検出部が配置されている位置との間の第2間隔とは、互いに異なる間隔である
ことを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の位置検出用スケールの計測装置。
The position detector is
As the plurality of detection units, a first detection unit, a second detection unit, and a third detection unit,
The first interval between the position where the first detection unit is arranged and the position where the second detection unit is arranged, the position where the second detection unit is arranged, and the first 5. The position of the position detection scale according to claim 1, wherein the second distance between the position where the three detection units are arranged is different from each other. Measuring device.
前記第1間隔とは異なる間隔で配置された少なくとも2つの前記検出部を有し、前記スケールに対して前記移動方向に相対的に移動する第2の位置検出部を備え、
前記誤差検出部は、前記位置検出部及び前記第2の位置検出部から得られた検出結果に基づいて、前記スケールの誤差を検出する
ことを特徴とする請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の位置検出用スケールの計測装置。
Having at least two detection units arranged at intervals different from the first interval, and having a second position detection unit that moves relative to the scale in the movement direction;
6. The error detection unit detects an error of the scale based on detection results obtained from the position detection unit and the second position detection unit. 6. The position detecting scale measuring device according to claim 1.
スケールの位置情報を検出する少なくとも2つの検出部を有する位置検出部を前記スケールに対して移動方向に相対的に移動させる移動工程と、
前記移動方向において互いに所定の第1間隔で配置された前記少なくとも2つの検出部による検出結果に基づいて、前記スケールの誤差を検出する誤差検出工程と、
を有することを特徴とする位置検出用スケールの計測方法。
A movement step of moving a position detection unit having at least two detection units for detecting position information of the scale relative to the scale in the movement direction;
An error detection step of detecting an error of the scale based on detection results by the at least two detection units arranged at predetermined first intervals in the movement direction;
A method for measuring a position detecting scale, comprising:
位置検出に使用されるスケールを作成するスケール作成工程と、
請求項1から請求項6のいずれか1項に記載の位置検出用スケールの計測装置を用いて前記スケールの誤差を検出する誤差検出工程と、
を有することを特徴とするスケールの製造方法。
A scale creation process to create a scale used for position detection;
An error detecting step of detecting an error of the scale using the position detecting scale measuring device according to any one of claims 1 to 6;
A method for producing a scale, comprising:
前記誤差検出工程によって検出された前記スケールの誤差に基づいて、前記スケール作成工程における前記スケールの作成条件を変更する
ことを特徴とする請求項8に記載のスケールの製造方法。
The scale production method according to claim 8, wherein the scale creation conditions in the scale creation step are changed based on the scale error detected by the error detection step.
前記スケール作成工程は、前記スケールに位置情報を形成するパターン形成工程を含む
ことを特徴とする請求項8又は請求項9に記載のスケールの製造方法。
The scale production method according to claim 8 or 9, wherein the scale creation step includes a pattern formation step of forming position information on the scale.
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