JP2012203921A - Manufacturing method for glass substrate for magnetic disk - Google Patents

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PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a manufacturing method for a glass substrate for a magnetic disk with high strength and being less likely to cause head crash when being mounted on a hard disk.SOLUTION: A manufacturing method for a glass substrate for a magnetic disk includes at least the following: a coring step of forming a hole in the center of a glass substrate precursor with a disk-like shape manufactured by a direct press method; and an inside and outside processing step of chamfering an inner peripheral end face and an outer peripheral end face of the glass substrate precursor. A chemical processing step of processing a surface of the glass substrate precursor is included between the coring step and the inside and outside processing step.

Description

本発明は、磁気ディスク用ガラス基板の製造方法に関する。   The present invention relates to a method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk.

近年、ハードディスクドライブ(HDD)においては、磁気記録媒体の記録容量が高密度化してきている。これに伴い、磁気記録媒体と記録の読み書きを行なうヘッドとのギャップ(ヘッド浮上量)は数nmレベルまで低下している。ヘッド浮上量が低下すると、ヘッドと磁気記録媒体とが衝突してヘッドクラッシュと呼ばれる現象が起き、ハードディスクの読み書きエラーが起こりやすくなる。   In recent years, in a hard disk drive (HDD), the recording capacity of a magnetic recording medium has been increased. Along with this, the gap (head flying height) between the magnetic recording medium and the head for reading and writing the recording has decreased to a level of several nm. When the head flying height decreases, the head and the magnetic recording medium collide with each other to cause a phenomenon called head crash, which easily causes a read / write error of the hard disk.

上記のエラーの原因はいくつか考えられるが、その原因の1つとしてフラッタリングによる影響を挙げることができる。フラッタリングとは、磁気記録媒体を高速回転したときの振幅量(面振れ)を意味し、大きく2種類に大別される。1つは周期的に繰り返して振れる面振れ(RRO:Repeatable Run Out)であり、もう1つは不規則に振れる面振れ(NRRO:Non Repeatable Run Out)である。   There are several possible causes of the above error. One of the causes is the effect of fluttering. Fluttering means the amount of amplitude (surface runout) when a magnetic recording medium is rotated at high speed, and is roughly classified into two types. One is surface runout (RRO: Repeatable Run Out) that repeats periodically and the other is irregular runout (NRRO: Non Repeatable Run Out).

RROは、ヘッドが追従できるためヘッドクラッシュの原因とはなりにくい。一方、NRROは、ヘッドが追従できないためヘッドクラッシュの原因となってしまう。近年、DFH機構を有するヘッドにおいてはヘッドの浮上量がますます低くなっているため、NRROが原因となるヘッドクラッシュが増加してしまう。したがって、ハードディスクのヘッドクラッシュを減少させるためには、NRROを減少させる必要がある。   RRO is less likely to cause a head crash because the head can follow. On the other hand, NRRO causes a head crash because the head cannot follow. In recent years, in a head having a DFH mechanism, the flying height of the head is becoming lower and the head crash due to NRRO increases. Therefore, in order to reduce the head crash of the hard disk, it is necessary to reduce NRRO.

ところで、近年、ハードディスクは様々な用途に使用されており、それに伴いハードディスクには耐衝撃性が要求されている。たとえばハードディスクに搭載される記録媒体の基板としては、アルミニウムとガラスの2種類があるが、耐衝撃性に優れるガラスが近年多用されるようになってきている。   By the way, in recent years, hard disks have been used for various purposes, and accordingly, hard disks are required to have impact resistance. For example, there are two types of substrates for recording media mounted on a hard disk: aluminum and glass. Recently, glass having excellent impact resistance has been frequently used.

ガラスは理論的には強度が高いが、ガラスの表面に存在する微小なクラックが原因で割れやすい。これに対する対策として、たとえば特開2007−102842号公報(特許文献1)では、HFなどによるエッチング液を用いて、ガラス基板の表面の微小クラックを除去することにより、ガラス基板の強度を向上する試みがなされている。   Glass is theoretically high in strength, but easily breaks due to minute cracks present on the surface of the glass. As a countermeasure against this, for example, in Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2007-102842 (Patent Document 1), an attempt to improve the strength of the glass substrate by removing minute cracks on the surface of the glass substrate using an etching solution such as HF. Has been made.

特開2007−102842号公報JP 2007-102842 A

しかしながら、特許文献1のガラス基板を用いて作製した磁気ディスクをハードディスクに搭載して使用すると、ヘッドクラッシュが発生しやすかった。   However, when a magnetic disk manufactured using the glass substrate of Patent Document 1 is mounted on a hard disk and used, head crashes are likely to occur.

本発明は、このような状況下においてなされたものであり、その目的とするところは、強度が高く、かつハードディスクに搭載したときにヘッドクラッシュが生じにくい磁気ディスク用ガラス基板の製造方法を提供することにある。   The present invention has been made under such circumstances, and an object of the present invention is to provide a method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk that has high strength and is less likely to cause head crash when mounted on a hard disk. There is.

本発明者らは、特許文献1のガラス基板において、ヘッドクラッシュの原因が、高速回転時にNRROのフラッタリングが発生していることに起因するものであることを確認でき、さらに上記NRROが、磁気ディスク用ガラス基板の端面の形状が均一でないことに起因するものとの知見を得た。そして、かかる知見に基づいてさらに検討を進めたところ、特許文献1に示される製造方法は、製造工程の順序に問題があることを見出し、その工程を改めることによって本発明の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法を完成した。   The present inventors can confirm that the cause of the head crash in the glass substrate of Patent Document 1 is due to the occurrence of fluttering of NRRO during high-speed rotation. The knowledge that the shape of the end surface of the glass substrate for disks is not uniform was obtained. Further investigations have been made based on this finding. As a result, the manufacturing method disclosed in Patent Document 1 finds that there is a problem in the order of the manufacturing steps, and the magnetic disk glass substrate of the present invention is modified by changing the steps. The manufacturing method was completed.

すなわち、本発明の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法は、ダイレクトプレス法により作製した円盤状のガラス基板前駆体を用いた製造方法であって、ガラス基板前駆体の中心に穴をあけるコアリング工程と、ガラス基板前駆体の内周端面および外周端面を面取りする内外加工工程とを少なくとも含み、コアリング工程と内外加工工程との間に、ガラス基板前駆体の表面を処理する化学処理工程を含むことを特徴とする。   That is, the method for producing a glass substrate for a magnetic disk of the present invention is a production method using a disk-shaped glass substrate precursor produced by a direct press method, and a coring step of making a hole in the center of the glass substrate precursor. And an inner and outer processing step for chamfering the inner peripheral end surface and the outer peripheral end surface of the glass substrate precursor, and a chemical processing step for processing the surface of the glass substrate precursor between the coring step and the inner and outer processing step. It is characterized by that.

上記の化学処理工程は、ガラス基板前駆体の表面から5〜30μmの厚みを除去することが好ましい。化学処理工程は、前記ガラス基板前駆体の表面から12〜20μmの厚みを除去することが好ましい。   In the chemical treatment step, it is preferable to remove a thickness of 5 to 30 μm from the surface of the glass substrate precursor. In the chemical treatment step, it is preferable to remove a thickness of 12 to 20 μm from the surface of the glass substrate precursor.

本発明の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法は、上記のような構成を有することにより、強度が高く、かつハードディスクに搭載したときにヘッドクラッシュが生じにくい磁気ディスク用ガラス基板を製造し得るという極めて優れた効果を示す。   The method for producing a glass substrate for magnetic disk of the present invention has the above-described configuration, and can produce a glass substrate for magnetic disk that has high strength and is less likely to cause head crash when mounted on a hard disk. Excellent effect.

本発明の製造方法によって製造される磁気ディスク用ガラス基板の一例を示す斜視図である。It is a perspective view which shows an example of the glass substrate for magnetic discs manufactured by the manufacturing method of this invention. 本発明の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法の工程の順序の一例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows an example of the order of the process of the manufacturing method of the glass substrate for magnetic discs of this invention.

以下、本発明の磁気ディスク用ガラス基板およびその製造方法について図面およびフローチャートを用いて説明する。なお、長さ、幅、厚さ、深さなどの寸法関係は図面の明瞭化と簡略化のために適宜に変更されており、実際の寸法関係を表わすものではない。   Hereinafter, a glass substrate for a magnetic disk and a manufacturing method thereof according to the present invention will be described with reference to the drawings and a flowchart. Note that dimensional relationships such as length, width, thickness, and depth are changed as appropriate for clarity and simplification of the drawings, and do not represent actual dimensional relationships.

<磁気ディスク用ガラス基板>
図1は、本発明の製造方法によって製造される磁気ディスク用ガラス基板の一例を示す斜視図である。本発明の製造方法によって製造される磁気ディスク用ガラス基板は、ハードディスクドライブ装置等の情報記録装置において情報記録媒体の基板として用いられるものである。このような磁気ディスク用ガラス基板は、図1に示されるように円盤形状であり、その中心に孔1Hが形成されている。磁気ディスク用ガラス基板1の表面とは、表主表面1A、裏主表面1B、内周端面1C、および外周端面1Dを意味する。
<Glass substrate for magnetic disk>
FIG. 1 is a perspective view showing an example of a glass substrate for a magnetic disk manufactured by the manufacturing method of the present invention. The glass substrate for a magnetic disk manufactured by the manufacturing method of the present invention is used as a substrate for an information recording medium in an information recording apparatus such as a hard disk drive apparatus. Such a glass substrate for a magnetic disk has a disk shape as shown in FIG. 1, and a hole 1H is formed at the center thereof. The surface of the glass substrate 1 for magnetic disks means the front main surface 1A, the back main surface 1B, the inner peripheral end surface 1C, and the outer peripheral end surface 1D.

本発明の磁気ディスク用ガラス基板1の大きさや形状は特に限定されず、たとえば0.8インチ、1.0インチ、1.8インチ、2.5インチ、または3.5インチである。磁気ディスク用ガラス基板1の厚さは、破損防止の観点からたとえば0.30〜2.2mmであることが好ましい。なお、磁気ディスク用ガラス基板1の厚さは、ガラス基板上の点対象となる任意の複数の点で測定した値の平均によって算出される。本発明の磁気ディスク用ガラス基板1の代表的な一例を示すと、磁気ディスク用ガラス基板の外径が約64mmであり、内径が約20mmであり、厚さが約0.8mmである。なお、一般的に2.5インチ型のハードディスクには、外径が65mmの磁気ディスク用ガラス基板を用いる。   The size and shape of the magnetic disk glass substrate 1 of the present invention are not particularly limited and are, for example, 0.8 inch, 1.0 inch, 1.8 inch, 2.5 inch, or 3.5 inch. The thickness of the magnetic disk glass substrate 1 is preferably 0.30 to 2.2 mm, for example, from the viewpoint of preventing breakage. In addition, the thickness of the glass substrate 1 for magnetic disks is calculated by the average of the values measured at a plurality of arbitrary points to be pointed on the glass substrate. A typical example of the magnetic disk glass substrate 1 of the present invention is as follows. The magnetic disk glass substrate has an outer diameter of about 64 mm, an inner diameter of about 20 mm, and a thickness of about 0.8 mm. In general, a 2.5-inch hard disk uses a glass substrate for a magnetic disk having an outer diameter of 65 mm.

本発明の磁気ディスク用ガラス基板を構成する材料は、アルミノシリケートガラスが好適に用いられる。かかるアルミノシリケートガラスの組成は、58質量%〜75質量%のSiO2、5質量%〜23質量%のAl23、3質量%〜10質量%のLi2O、4質量%〜13質量%のNa2Oを主成分として含有するものである。 Aluminosilicate glass is preferably used as the material constituting the magnetic disk glass substrate of the present invention. The composition of this aluminosilicate glass is 58 mass% to 75 mass% SiO 2 , 5 mass% to 23 mass% Al 2 O 3 , 3 mass% to 10 mass% Li 2 O, 4 mass% to 13 mass. % Na 2 O as a main component.

<磁気ディスク用ガラス基板の製造方法>
本発明の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法は、ダイレクトプレス法により作製した円盤状のガラス基板前駆体を用いるものであって、該ガラス基板前駆体の中心に穴をあけるコアリング工程と、ガラス基板前駆体の内周端面および外周端面を面取りする内外加工工程とを少なくとも含み、コアリング工程と内外加工工程との間に、ガラス基板前駆体の表面を処理する化学処理工程を含むことを特徴とする。
<Method for manufacturing glass substrate for magnetic disk>
The method for producing a glass substrate for a magnetic disk according to the present invention uses a disk-shaped glass substrate precursor produced by a direct press method, and comprises a coring step of making a hole in the center of the glass substrate precursor, and a glass At least an inner peripheral end surface and an inner / outer processing step of chamfering the outer peripheral end surface of the substrate precursor, and a chemical processing step of processing the surface of the glass substrate precursor between the coring step and the inner / outer processing step. And

本発明のように化学処理工程を行なってから内外加工工程を行なうことにより、化学処理工程で端面が不均一となった磁気ディスク用ガラス基板を、内外加工工程で均一にすることができ、もってNRROが発生しにくい磁気ディスク用ガラス基板を作製することができる。このようにして作製された磁気ディスク用ガラス基板は、NRROが発生しにくいため、ヘッドクラッシュが生じにくいという優れた性質を示す。   By performing the internal / external processing step after performing the chemical processing step as in the present invention, the glass substrate for magnetic disk whose end face is non-uniform in the chemical processing step can be made uniform in the internal / external processing step. A glass substrate for a magnetic disk in which NRRO hardly occurs can be produced. The glass substrate for a magnetic disk produced as described above exhibits an excellent property that NRRO does not easily occur and therefore head crash does not easily occur.

本発明の磁気ディスク用ガラス基板を製造する方法は、このようにコアリング工程と内外加工工程との間に化学処理工程を行なう限り、他の工程を含むことができる。ここで、他の工程としては、たとえば溶融ガラスを円盤状に加工するダイレクトプレス工程、ガラス基板前駆体の平行度および厚みなどを調整するラッピング工程、粗研磨工程で行なう研磨よりもガラス基板前駆体の平滑性を高める研磨を行なう研磨工程、ガラス基板前駆体の表裏の両面を洗浄する洗浄工程等を挙げることができる。   The method for producing a glass substrate for a magnetic disk of the present invention can include other steps as long as the chemical treatment step is performed between the coring step and the inside / outside processing step. Here, as other processes, for example, a direct pressing process for processing molten glass into a disk shape, a lapping process for adjusting the parallelism and thickness of the glass substrate precursor, and the polishing performed in the rough polishing process, the glass substrate precursor. Examples include a polishing step for polishing to improve the smoothness of the glass, a cleaning step for cleaning both the front and back surfaces of the glass substrate precursor, and the like.

なお、本発明の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法は、ダイレクトプレス法によって製造されるものに限定され、フロート法によって製造されるものは含まれない。なぜなら、フロート法によって磁気ディスク用ガラス基板を製造する場合は、その表面に微小なクラックが発生しにくいため、化学処理工程を行なうことによって強度を向上させる必要がないからである。   In addition, the manufacturing method of the glass substrate for magnetic discs of this invention is limited to what is manufactured by the direct press method, and what is manufactured by the float glass process is not included. This is because when a glass substrate for a magnetic disk is manufactured by the float process, microcracks are unlikely to be generated on the surface, so that it is not necessary to improve the strength by performing a chemical treatment process.

以下においては、本発明の磁気ディスク用ガラス基板を図2のフローチャートにしたがって作製するときの各工程を説明する。なお、図2に示される各ステップS10〜S90以外に適宜簡易的な洗浄を行なってもよいし、コアリング加工工程と、化学処理工程と、内外加工工程とをこの順で含む限り、これらの各工程の間にさらにラッピング工程や洗浄工程、研磨工程を含んでいてもよいし、その他の工程の順序を適宜変更しても差し支えない。   Below, each process when producing the glass substrate for magnetic discs of this invention according to the flowchart of FIG. 2 is demonstrated. In addition, you may perform simple washing | cleaning suitably other than each step S10-S90 shown by FIG. 2, as long as it includes a coring process, a chemical treatment process, and an internal / external process in this order, A lapping step, a cleaning step, and a polishing step may be further included between the respective steps, and the order of other steps may be appropriately changed.

(ダイレクトプレス工程:ステップS10)
まず、ガラス素材を溶融させて溶融ガラスを準備する。この溶融ガラスを下型に流し込み、上型および胴型によってプレス成形することにより円盤状のガラス基板前駆体を得る。このようにして溶融ガラスからガラス基板前駆体を得る工程のことをダイレクトプレス工程と呼ぶ。
(Direct press process: Step S10)
First, a molten glass is prepared by melting a glass material. The molten glass is poured into a lower mold and press-formed with an upper mold and a barrel mold to obtain a disk-shaped glass substrate precursor. The process of obtaining the glass substrate precursor from the molten glass in this way is called a direct press process.

(コアリング加工工程:ステップS20)
次に、コアリング加工工程で、ガラス基板前駆体の中心部に穴を開ける。穴開けは、カッター部にダイヤモンド砥石等を備えたコアドリル等で研削することで中心部に穴を開ける。穴の大きさは、ガラス基板前駆体の外径によって適宜変更することができ、たとえば外形が65mmのガラス基板前駆体の中心部には20mmの内径の孔(中心部の孔1Hの直径)を開ける。
(Coring process: Step S20)
Next, a hole is made in the central portion of the glass substrate precursor in the coring process. In the drilling, a hole is drilled in the center by grinding with a core drill or the like equipped with a diamond grindstone or the like in the cutter part. The size of the hole can be appropriately changed depending on the outer diameter of the glass substrate precursor. For example, a hole having an inner diameter of 20 mm (the diameter of the hole 1H in the center) is formed at the center of the glass substrate precursor having an outer shape of 65 mm. Open.

(粗ラッピング工程:ステップS30)
上記のガラス基板前駆体の表裏の両面に対し、ラッピング加工を施す。ここで、粗ラッピング加工では、たとえば両面ラッピング装置によって行なう。これによりガラス基板前駆体の全体形状、平行度、平坦度および厚みを予備的に調整することができる。
(Rough wrapping process: Step S30)
A lapping process is performed on both the front and back surfaces of the glass substrate precursor. Here, the rough lapping is performed by, for example, a double-sided lapping apparatus. As a result, the overall shape, parallelism, flatness and thickness of the glass substrate precursor can be preliminarily adjusted.

(化学処理工程:ステップS40)
上記のガラス基板前駆体をフッ化水素と水との混合液からなるエッチング液に浸漬させることにより、ガラス基板前駆体の表面および端面をエッチングする。このようにガラス基板前駆体の表面をエッチングすることにより、粗ラッピング工程でガラス基板前駆体の表面に形成された欠陥やクラックを取り除くことができ、ガラス基板前駆体の強度を向上させることができる。上記のエッチング液としては、HF、NH4F、NaF等を挙げることができ、硫酸や硝酸などの酸と併用しても差し支えない。
(Chemical treatment process: Step S40)
The surface and end face of the glass substrate precursor are etched by immersing the glass substrate precursor in an etching solution composed of a mixture of hydrogen fluoride and water. Thus, by etching the surface of the glass substrate precursor, defects and cracks formed on the surface of the glass substrate precursor in the rough lapping step can be removed, and the strength of the glass substrate precursor can be improved. . Examples of the etching solution include HF, NH 4 F, NaF, and the like, and may be used in combination with an acid such as sulfuric acid or nitric acid.

なお、上記のエッチング液への浸漬中あるいは浸漬後の引き上げ作業中に、ガラス基板前駆体の端面の部位ごとにエッチングされる度合いが変化する。これによりガラス基板前駆体の端部の形状が均一でなくなり微小なうねりが発生したり、内径および外径部が同心円ではなくなったりするが、これらの不具合は後述する内外加工工程によって均一に調整される。   In addition, the degree of etching changes for every part of the end surface of the glass substrate precursor during the immersion in the etching solution or during the pulling operation after the immersion. As a result, the shape of the end portion of the glass substrate precursor is not uniform and minute waviness occurs, and the inner and outer diameter portions are not concentric circles, but these defects are uniformly adjusted by the inner and outer processing steps described later. The

従来の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法は、後述する内外加工工程後に化学処理工程を行なっていたため、化学処理工程で発生したガラス基板前駆体の端面の形状の不均一性や微小なうねりを修正することができなかった。このため、ハードディスクにディスクをクランプ(取り付け)したときに、クランプされる力のずれにより、不規則なフラッタリングが発生していた。本発明は、かかる課題を内外加工工程前に化学処理工程を行なうことによって解決したものである。   The conventional method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk has performed a chemical treatment step after an inner / outer processing step, which will be described later, so that the nonuniformity and minute waviness of the end surface of the glass substrate precursor generated in the chemical treatment step is corrected. I couldn't. For this reason, when the disk is clamped (attached) to the hard disk, irregular fluttering has occurred due to the displacement of the clamping force. The present invention solves this problem by performing a chemical treatment step before the internal and external processing steps.

本発明において、化学処理工程では、ガラス基板前駆体の表面から5〜30μmの厚みを除去することが好ましく、12〜25μmの厚みを除去することがより好ましく、さらに好ましくは12〜20μmを除去することである。5μm未満であると、ガラス基板前駆体の表面にある微小クラックを除去することができず、逆に30μmを超えると、ガラス基板前駆体を不均一にエッチングしてしまい、ガラス基板前駆体にムラが発生してしまう。なお、化学処理工程によって発生するムラは、ガラス基板前駆体の表面が鏡面になっている場合は基板の濡れ性が向上するため発生しにくいが、ガラス基板前駆体が鏡面になっていない状態に発生しやすい。上記エッチングの厚みは、ガラス基板前駆体の内径の寸法の差によって算出した値を採用するものとする。   In the present invention, in the chemical treatment step, it is preferable to remove 5 to 30 μm from the surface of the glass substrate precursor, more preferably 12 to 25 μm, and even more preferably 12 to 20 μm. That is. If it is less than 5 μm, microcracks on the surface of the glass substrate precursor cannot be removed. Conversely, if it exceeds 30 μm, the glass substrate precursor is etched unevenly, resulting in unevenness in the glass substrate precursor. Will occur. It should be noted that unevenness caused by the chemical treatment process is less likely to occur when the surface of the glass substrate precursor is mirror-finished because the wettability of the substrate is improved, but the glass substrate precursor is not mirror-finished. Likely to happen. As the thickness of the etching, a value calculated by the difference in the inner diameter of the glass substrate precursor is adopted.

(内外加工工程:ステップS50)
次に、内外加工工程において、上記のガラス基板前駆体の外周端面および内周端面の面取り加工を行なう。これにより化学処理工程で発生したガラス基板前駆体の端面の微小な不均一性を除去する。
(Internal / external machining process: Step S50)
Next, in the inside / outside processing step, chamfering of the outer peripheral end surface and the inner peripheral end surface of the glass substrate precursor is performed. Thereby, the minute nonuniformity of the end surface of the glass substrate precursor generated in the chemical treatment process is removed.

(精ラッピング工程:ステップS60)
次いで、精ラッピング工程では、固定砥粒研磨パッドを用いてガラス基板前駆体の表裏を研削する。かかる精ラッピング工程は、遊星歯車機構を利用した両面研削機と呼ばれる公知の研削機を使用して研削することができる。この両面研削機は、上下に配置された円盤状の上定盤と下定盤とが互いに平行に備えられており、上定盤および下定盤が対向するそれぞれの面にガラス基板前駆体の表裏を研削するための複数のダイヤモンドペレットが貼り付けてある。
(Fine wrapping process: Step S60)
Next, in the fine lapping process, the front and back surfaces of the glass substrate precursor are ground using a fixed abrasive polishing pad. Such a fine lapping process can be ground using a known grinding machine called a double-side grinding machine using a planetary gear mechanism. This double-sided grinding machine is equipped with a disk-shaped upper and lower surface plate arranged in parallel with each other in parallel, and the front and back surfaces of the glass substrate precursor are placed on the surfaces facing the upper surface plate and the lower surface plate, respectively. A plurality of diamond pellets for grinding are attached.

上定盤と下定盤との間には、下定盤の外周に円環状に設けられたインターナルギアと下定盤の回転軸の周囲に設けられたサンギアとに結合して回転する複数のキャリアがある。このキャリアには、複数の穴が設けられており、この穴にガラス基板前駆体をはめ込んで配置する。なお、上定盤、下定盤、インターナルギア、およびサンギアは別駆動で動作することができ、上定盤および下定盤が互いに逆方向に回転する。   Between the upper surface plate and the lower surface plate, there are a plurality of carriers that rotate in combination with an internal gear provided in an annular shape on the outer periphery of the lower surface plate and a sun gear provided around the rotation axis of the lower surface plate. . The carrier is provided with a plurality of holes, and the glass substrate precursor is fitted into the holes and arranged. The upper surface plate, the lower surface plate, the internal gear, and the sun gear can be operated by separate driving, and the upper surface plate and the lower surface plate rotate in opposite directions.

そして、ダイヤモンドペレットを介して定盤に挟まれているキャリアが、複数のガラス基板前駆体を保持した状態で、自転しながら定盤の回転中心に対して下定盤と同じ方向に公転する。このように動作する研削機において、上定盤とガラス基板前駆体の間および下定盤とガラス基板前駆体との間に研削液を供給することによりガラス基板前駆体の表裏の研削を行なうことができる。   Then, the carrier sandwiched between the surface plates via the diamond pellets revolves in the same direction as the lower surface plate with respect to the center of rotation of the surface plate while rotating while holding a plurality of glass substrate precursors. In the grinding machine operating in this way, the front and back surfaces of the glass substrate precursor can be ground by supplying a grinding liquid between the upper surface plate and the glass substrate precursor and between the lower surface plate and the glass substrate precursor. it can.

この両面研磨機を使用する際、ガラス基板前駆体に加わる定盤の加重及び定盤の回転数を所望の研削状態に応じて適宜調整する。精ラッピング工程においては、第1ラッピング工程および第2ラッピング工程の2回に分けてラッピングを行なうことが好ましい。第1ラッピング工程および第2ラッピング工程における加重は、60g/cm2から120g/cm2とするのが好ましい。また、定盤の回転数は、10rpmから30rpm程度とし、上定盤の回転数を下定盤の回転数より30%から40%程度遅くするのが好ましい。第2ラッピング工程を終えた時点で、ガラス基板前駆体の大きなうねり、欠け、ひび等の欠陥は除去される。 When using this double-side polishing machine, the weight of the surface plate applied to the glass substrate precursor and the number of rotations of the surface plate are adjusted as appropriate according to the desired grinding state. In the fine wrapping process, it is preferable to perform the wrapping in two steps of the first wrapping process and the second wrapping process. The weight in the first wrapping step and the second wrapping step is preferably 60 g / cm 2 to 120 g / cm 2 . Further, it is preferable that the rotation speed of the surface plate is about 10 rpm to 30 rpm, and the rotation speed of the upper surface plate is about 30% to 40% slower than the rotation speed of the lower surface plate. At the time when the second lapping process is completed, defects such as large undulation, chipping and cracking of the glass substrate precursor are removed.

上記の定盤による加重を大きくするか、または定盤の回転数を速くすると、ガラス基板前駆体の研削量は多くなるが、加重を大きくしすぎるとガラス基板前駆体の面粗さが悪くなるため好ましくない。また、定盤の回転数が速すぎると平坦度が良好とならない。また加重が小さすぎたり、定盤の回転数が遅すぎたりしても、研削量が少なくなるため製造効率が低くなる。   Increasing the weight by the surface plate or increasing the rotation speed of the surface plate will increase the amount of grinding of the glass substrate precursor, but if the load is increased too much, the surface roughness of the glass substrate precursor will deteriorate. Therefore, it is not preferable. Further, if the rotation speed of the surface plate is too fast, the flatness will not be good. Moreover, even if the load is too small or the rotation speed of the surface plate is too slow, the amount of grinding is reduced and the production efficiency is lowered.

上記の精ラッピング工程を終えた後のガラス基板前駆体の主表面の面粗さは、Raが0.05〜0.4μmであることが好ましく、主表面の平坦度は、7〜10μmであることが好ましい。このような面状態とすることにより、後の第1ポリッシング工程での研磨の効率を高めることができる。   As for the surface roughness of the main surface of the glass substrate precursor after finishing the fine lapping step, Ra is preferably 0.05 to 0.4 μm, and the flatness of the main surface is 7 to 10 μm. It is preferable. By setting it as such a surface state, the polishing efficiency in the subsequent first polishing step can be enhanced.

(端面研磨工程:ステップS70)
続いて、端面研磨工程では、研磨砥粒として酸化セリウム砥粒を含むスラリー(遊離砥粒)を用いたブラシ研磨法により、ガラス基板前駆体の外周端面および内周端面を研磨する。ブラシ研磨法ではガラス基板前駆体を回転させながら外周端面および内周端面を研磨する。上記の内周側端面に対し、さらに磁気研磨法による研磨を行なうことにより、ガラス基板前駆体の内周端面を鏡面状態に加工する。そして、最後にガラス基板前駆体の表面を水で洗浄する。
(End face polishing process: Step S70)
Subsequently, in the end face polishing step, the outer peripheral end face and the inner peripheral end face of the glass substrate precursor are polished by a brush polishing method using a slurry (free abrasive grains) containing cerium oxide abrasive grains as polishing abrasive grains. In the brush polishing method, the outer peripheral end face and the inner peripheral end face are polished while rotating the glass substrate precursor. The inner peripheral end face of the glass substrate precursor is processed into a mirror surface state by further polishing the inner peripheral end face with a magnetic polishing method. Finally, the surface of the glass substrate precursor is washed with water.

(主表面研磨工程:ステップS80)
主表面研磨工程は、第1研磨工程および第2研磨工程によってガラス基板前駆体の表裏を研磨する。第1研磨工程は、精ラッピング工程でガラス基板前駆体の表裏に残留した傷や歪みを除去するために行ない、第2研磨工程は、ガラス基板前駆体の表裏を鏡面加工するために行なう。
(Main surface polishing step: Step S80)
In the main surface polishing step, the front and back surfaces of the glass substrate precursor are polished by the first polishing step and the second polishing step. The first polishing process is performed to remove scratches and distortions remaining on the front and back surfaces of the glass substrate precursor in the fine lapping process, and the second polishing process is performed to mirror-process the front and back surfaces of the glass substrate precursor.

まず、第1研磨工程では、ポリッシャがスウェードパッドである研磨パッドを上記の両面研磨機にセットし、ガラス基板前駆体の表裏を研磨する。そして、上記ガラス基板前駆体の表面に付着している研磨剤を洗浄によって除去する。   First, in a 1st grinding | polishing process, the polishing pad whose polisher is a suede pad is set to said double-side polisher, and the front and back of a glass substrate precursor are grind | polished. And the abrasive | polishing agent adhering to the surface of the said glass substrate precursor is removed by washing | cleaning.

続いて、第2研磨工程では、ガラス基板前駆体に対し、軟質ポリッシャ(スウェード)である研磨パッドを用いて、ガラス基板前駆体の表裏を研磨する。なお、第2研磨工程で用いる研磨剤としては、第1研磨工程で用いた酸化セリウムよりも微細なシリカ砥粒を用いることが好ましい。   Then, in a 2nd grinding | polishing process, the front and back of a glass substrate precursor are grind | polished using the polishing pad which is a soft polisher (suede) with respect to a glass substrate precursor. In addition, as an abrasive | polishing agent used at a 2nd grinding | polishing process, it is preferable to use a silica abrasive grain finer than the cerium oxide used at the 1st grinding | polishing process.

(洗浄工程:ステップS90)
上記の研磨を終えたガラス基板前駆体に対し、中性洗剤および純水にて洗浄し乾燥させることが好ましい。このような洗浄を行なうことにより、ガラス基板前駆体に付着した異物を洗い流すことができる他、磁気ディスク用ガラス基板の表面を安定にし、長期の保存安定性に優れたものとすることができる。以上のようにして磁気ディスク用ガラス基板を作製することができる。このようにして作製した磁気ディスク用ガラス基板に対し、さらに磁気薄膜形成工程を行なうことにより、磁気ディスクを得ることができる。
(Washing process: Step S90)
It is preferable to wash and dry the glass substrate precursor after the above polishing with a neutral detergent and pure water. By performing such cleaning, foreign substances adhering to the glass substrate precursor can be washed away, the surface of the magnetic disk glass substrate can be stabilized, and excellent long-term storage stability can be achieved. A glass substrate for a magnetic disk can be produced as described above. A magnetic disk can be obtained by further performing a magnetic thin film forming step on the magnetic disk glass substrate thus produced.

以下、実施例を挙げて本発明をより詳細に説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。   EXAMPLES Hereinafter, although an Example is given and this invention is demonstrated in detail, this invention is not limited to these.

<実施例1>
本実施例では、以下の各工程の順に行なうことにより磁気ディスク用ガラス基板を製造した。
<Example 1>
In this example, a glass substrate for a magnetic disk was manufactured by performing the following steps in order.

(ダイレクトプレス工程)
まず、ガラス素材を溶融させることにより溶融ガラスを準備した。この溶融ガラスを下型に流し入れて、上型および胴型を用いてダイレクトプレスすることにより、直径66mmφ、厚さ1.2mmの円盤状のガラス基板前駆体を得た。上記のガラス素材としては、アルミノシリケートガラスを用いた。
(Direct press process)
First, molten glass was prepared by melting a glass material. The molten glass was poured into a lower mold and directly pressed using an upper mold and a barrel mold to obtain a disk-shaped glass substrate precursor having a diameter of 66 mmφ and a thickness of 1.2 mm. Aluminosilicate glass was used as the glass material.

(コアリング加工工程)
次に、カッター部にダイヤモンド砥石等を備えたコアドリルでガラス基板前駆体の中心部を研削することにより穴を開けた。このようにして外径が65mmのガラス基板前駆体の中心部に20mmの内径の孔(中心部の孔1Hの直径)を開けた。
(Coring process)
Next, a hole was made by grinding the central portion of the glass substrate precursor with a core drill having a diamond grindstone or the like in the cutter portion. In this way, a hole having an inner diameter of 20 mm (diameter of the hole 1H in the central part) was formed in the central part of the glass substrate precursor having an outer diameter of 65 mm.

(粗ラッピング工程)
次に、ガラス基板前駆体を両面ラッピング装置にセットして、#400(粒径約40〜60μm)の粒度のアルミナ砥粒を用いて、アルミナ上定盤の荷重を100kg程度に設定して、ガラス基板前駆体の表裏面を研磨した。このようにしてキャリア内に収納したガラス基板前駆体は、その両面の面精度が0μm〜1μmであり、表面粗さRmaxが6μm程度であった。
(Coarse lapping process)
Next, the glass substrate precursor is set in a double-sided wrapping apparatus, and alumina abrasive grains having a particle size of # 400 (particle size of about 40 to 60 μm) are used, and the load on the surface plate on alumina is set to about 100 kg. The front and back surfaces of the glass substrate precursor were polished. The glass substrate precursor thus housed in the carrier had a surface accuracy of 0 μm to 1 μm on both sides and a surface roughness Rmax of about 6 μm.

(化学処理工程)
上記のガラス基板前駆体をエッチング液に浸漬させることにより、ガラス基板前駆体の表面および端面をエッチングした。本実施例では、エッチング液として5質量%のフッ化水素水溶液を用いて、ガラス基板前駆体の表面から10μmの厚みを除去した。なお、ガラス基板前駆体を除去した厚みは、化学処理を行なう前後の内径寸法の変化に基づいて算出した。
(Chemical treatment process)
The surface and end surface of the glass substrate precursor were etched by immersing the glass substrate precursor in an etching solution. In this example, the thickness of 10 μm was removed from the surface of the glass substrate precursor using a 5 mass% hydrogen fluoride aqueous solution as an etching solution. The thickness after removing the glass substrate precursor was calculated based on the change in the inner diameter before and after the chemical treatment.

(内外加工工程)
次に、上記のガラス基板前駆体の外周端面および内周端面の面取り加工を行なった。これによりガラス基板前駆体の端面の面粗さは、Rmaxで2μm程度となった。
(Internal / external machining process)
Next, chamfering of the outer peripheral end surface and the inner peripheral end surface of the glass substrate precursor was performed. As a result, the surface roughness of the end surface of the glass substrate precursor was about 2 μm in Rmax.

(精ラッピング工程)
次いで、精ラッピング工程では、上記のガラス基板前駆体の表裏の両面を遊星歯車機構を利用した両面研削機にセットした。そして、ダイヤモンドシートを用いて、ガラス基板前駆体に加わる定盤の加重を60g/cm2から120g/cm2として、定盤の回転数を10rpmから30rpmとし、上の定盤の回転数を下の定盤回転数より30%から40%程度遅くして、ガラス基板前駆体の表裏を研磨した。このようにしてガラス基板前駆体の主表面の表面粗さRaが0.1μm以下で、平坦度を7μm以下となるまでラッピングを行なった。
(Fine wrapping process)
Next, in the fine lapping process, both the front and back surfaces of the glass substrate precursor were set in a double-side grinding machine using a planetary gear mechanism. Then, using a diamond sheet, the weight of the platen applied to the glass substrate precursor is changed from 60 g / cm 2 to 120 g / cm 2 , the rotation speed of the platen is changed from 10 rpm to 30 rpm, and the rotation speed of the upper platen is decreased. The front and back surfaces of the glass substrate precursor were polished at a rate slower by about 30% to 40% than the platen rotation speed. Thus, lapping was performed until the surface roughness Ra of the main surface of the glass substrate precursor was 0.1 μm or less and the flatness was 7 μm or less.

(端面研磨工程)
続いて、研磨砥粒として酸化セリウム砥粒を含むスラリー(遊離砥粒)を用いて、ブラシ研磨方法により、ガラス基板前駆体を回転させながらガラス基板前駆体の外周端面および内周端面を研磨した。ここでは、ガラス基板前駆体の外周端面および内周端面の表面粗さがRmaxで0.4μm、Raで0.1μm程度になるまで研磨を行なった。
(End face polishing process)
Subsequently, the outer peripheral end surface and the inner peripheral end surface of the glass substrate precursor were polished while rotating the glass substrate precursor by a brush polishing method using a slurry (free abrasive particles) containing cerium oxide abrasive grains as polishing abrasive grains. . Here, polishing was performed until the surface roughness of the outer peripheral end face and the inner peripheral end face of the glass substrate precursor was about 0.4 μm in Rmax and about 0.1 μm in Ra.

上記の内周側端面に対し、さらに磁気研磨法による研磨を行なうことにより、パーティクル等の発塵を防止する鏡面状態に加工した。そして、このようにして内周端面を研磨した後に、ガラス基板前駆体の表面を水で洗浄した。   The above-mentioned inner peripheral side end face was further polished by a magnetic polishing method to be processed into a mirror surface state that prevents generation of particles and the like. And after grind | polishing the inner peripheral end surface in this way, the surface of the glass substrate precursor was wash | cleaned with water.

(主表面研磨工程)
主表面研磨工程においては、まず、上述した両面研磨装置を用いて精ラッピング工程で残留した傷や歪みを除去するための第1研磨工程を行なった。この第1研磨工程においては、ポリッシャがスウェードパッドである研磨パッドを用いて、以下の条件でガラス基板前駆体の表裏を研磨した。
(Main surface polishing process)
In the main surface polishing step, first, a first polishing step for removing scratches and distortions remaining in the fine lapping step was performed using the above-described double-side polishing apparatus. In this first polishing step, the front and back surfaces of the glass substrate precursor were polished under the following conditions using a polishing pad whose polisher was a suede pad.

研磨液 :酸化セリウム(平均粒径1.3μm)+水
荷 重 :80〜100g/cm2
研磨時間:30分〜50分
除去法 :35μm〜45μm
次に、上記ガラス基板前駆体の表面に付着している研磨剤を洗浄によって除去した。洗浄方法は、HFを1質量%、硫酸を3質量%混合させた液を用いて、80kHzの超音波を照射することにより行なった。その後、中性洗剤で120kHz超音波を照射して超音波洗浄を行ない、最後に純水でリンスを行なってIPA乾燥した。
Polishing liquid: Cerium oxide (average particle diameter 1.3 μm) + water load: 80 to 100 g / cm 2
Polishing time: 30 minutes to 50 minutes Removal method: 35 μm to 45 μm
Next, the abrasive | polishing agent adhering to the surface of the said glass substrate precursor was removed by washing | cleaning. The cleaning method was performed by irradiating an ultrasonic wave of 80 kHz using a liquid in which 1% by mass of HF and 3% by mass of sulfuric acid were mixed. Thereafter, ultrasonic cleaning was performed by irradiating 120 kHz ultrasonic waves with a neutral detergent, and finally, rinsing with pure water was performed to dry IPA.

続いて、ガラス基板前駆体に対し、軟質ポリッシャ(スウェード)である研磨パッドを用いて、ガラス基板前駆体の表裏を研磨した(第2研磨工程)。なお、第2研磨工程で用いる研磨剤としては、第1研磨工程で用いた酸化セリウムよりも微細なシリカ砥粒を用いた。   Then, the front and back of the glass substrate precursor were grind | polished with respect to the glass substrate precursor using the polishing pad which is a soft polisher (suede) (2nd grinding | polishing process). In addition, as an abrasive | polishing agent used at a 2nd grinding | polishing process, the silica abrasive grain finer than the cerium oxide used at the 1st grinding | polishing process was used.

(洗浄工程)
上記研磨処理を終えたガラス基板前駆体に対し、中性洗剤および純水にて洗浄し乾燥させた。以上のようにして本実施例の磁気ディスク用ガラス基板を作製した。
(Washing process)
The glass substrate precursor after the polishing treatment was washed with a neutral detergent and pure water and dried. As described above, the magnetic disk glass substrate of this example was produced.

<実施例2〜7>
上記の実施例1に対し、化学処理工程におけるガラス基板前駆体の表面を除去する厚みを表1の「除去量」の欄に記載した厚みに変えたことが異なる他は、実施例1と同様の方法によって、実施例2〜7の磁気ディスク用ガラス基板を作製した。
<Examples 2 to 7>
Similar to Example 1 except that the thickness for removing the surface of the glass substrate precursor in the chemical treatment step is changed to the thickness described in the column “Removal Amount” in Table 1. The glass substrate for magnetic disks of Examples 2-7 was produced by the method.

Figure 2012203921
Figure 2012203921

<比較例1>
比較例1では、従来の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法と同様に、内外加工工程を行なってから化学処理工程を行なった。このことが異なる他は、実施例1と同様の方法によって磁気ディスク用ガラス基板を作製した。
<Comparative Example 1>
In Comparative Example 1, the chemical treatment step was performed after the internal and external processing steps were performed, as in the conventional method for producing a glass substrate for magnetic disks. A glass substrate for a magnetic disk was produced by the same method as in Example 1 except that this was different.

<比較例2>
比較例2では、化学処理工程を行なわなかったことが異なる他は、実施例1と同様の方法によって磁気ディスク用ガラス基板を作製した。
<Comparative example 2>
In Comparative Example 2, a glass substrate for magnetic disk was produced by the same method as in Example 1 except that the chemical treatment step was not performed.

<評価>
上記の各実施例および各比較例で作製した磁気ディスク用ガラス基板の強度およびエラー数を以下の方法によって評価した。
<Evaluation>
The strength and the number of errors of the glass substrates for magnetic disks prepared in the above examples and comparative examples were evaluated by the following methods.

(強度)
各実施例および各比較例で作製した磁気ディスク用ガラス基板の強度を円環試験によって評価し、その結果を表1の「強度」の欄に示した。ここで、円環試験による強度の評価は、磁気ディスク用ガラス基板を圧縮試験装置(製品名:テンシロンRTG−1310(エー・アンド・ディー社製))にセットして、磁気ディスク用ガラス基板の内径部にボールを乗せて、その上から圧力を徐々に高めたときに磁気ディスク用ガラス基板が割れたときの圧力(kgf)によって算出した。
(Strength)
The strength of the glass substrate for a magnetic disk produced in each example and each comparative example was evaluated by a ring test, and the result is shown in the “strength” column of Table 1. Here, the strength evaluation by the annular test is carried out by setting a magnetic disk glass substrate in a compression test apparatus (product name: Tensilon RTG-1310 (manufactured by A & D)), and It was calculated from the pressure (kgf) when the glass substrate for a magnetic disk was broken when the ball was placed on the inner diameter portion and the pressure was gradually increased from above.

(エラー数)
各実施例および各比較例で作製した磁気ディスク用ガラス基板の表面に磁性膜をスパッタにより成膜した後に、DFH機構を有するハードディスクドライブに搭載し、ディスク全面の読み書きエラーを評価した。このエラーの評価は、ディスク全面を読み書きしたときに、読み書きエラーが発生した領域が0.5μm以上のエラーをカウントした。エラーはbit単位で起こるが、ヘッドクラッシュによるエラーはある程度まとまったbitで起こるため、0.5μm以上の大きさのエラー領域をヘッドクラッシュが生じた原因として評価した。このエラー数が少ないほどヘッドクラッシュが生じにくいことを示すと考えられる。
(Number of errors)
After a magnetic film was formed on the surface of the glass substrate for magnetic disk produced in each example and each comparative example by sputtering, it was mounted on a hard disk drive having a DFH mechanism, and read / write errors on the entire disk surface were evaluated. This error was evaluated by counting errors where the read / write error area was 0.5 μm or more when the entire disk surface was read / written. Although errors occur in units of bits, errors due to head crashes occur in a certain number of bits, so an error area of 0.5 μm or larger was evaluated as the cause of head crashes. It is considered that the smaller the number of errors, the less likely the head crash occurs.

表1から明らかなように、実施例1〜7の磁気ディスク用ガラス基板は、強度が高く、かつヘッドクラッシュが生じにくいのに対し、比較例1の磁気ディスク用ガラス基板は、ヘッドクラッシュによるエラーが生じやすかった。また、比較例2の磁気ディスク用ガラス基板は、強度が非常に低く、割れやすかった。   As is clear from Table 1, the magnetic disk glass substrates of Examples 1 to 7 have high strength and are less likely to cause head crash, whereas the magnetic disk glass substrate of Comparative Example 1 has an error due to head crash. It was easy to occur. Further, the glass substrate for magnetic disk of Comparative Example 2 was very low in strength and easily broken.

実施例1〜7では、化学処理工程を行なった後に、内外加工工程を行なったことにより、化学処理工程で発生したガラス基板前駆体の端面の不均一性を内外加工工程で調整することができ、NRROの発生を抑制し、ヘッドクラッシュが生じにくかったものと考えられる。   In Examples 1-7, the non-uniformity of the end face of the glass substrate precursor generated in the chemical treatment process can be adjusted in the internal and external process steps by performing the internal and external machining steps after the chemical treatment step. It is considered that the occurrence of NRRO was suppressed and head crushing was difficult to occur.

これに対し、比較例1では、内外加工工程を行なってから化学処理を行なっているため、化学処理で発生したガラス基板前駆体の端面の不均一性を均一にすることができず、NRROが生じて、ヘッドクラッシュが頻繁に生じたものと考えられる。また、比較例2では、化学処理を行なっていないため、磁気ディスク用ガラス基板の表面にクラックが残存し、割れやすいものであった。   On the other hand, in Comparative Example 1, since the chemical treatment is performed after the inside / outside processing step, the non-uniformity of the end face of the glass substrate precursor generated by the chemical treatment cannot be made uniform, and NRRO is It is considered that the head crash frequently occurred. Further, in Comparative Example 2, since no chemical treatment was performed, cracks remained on the surface of the magnetic disk glass substrate and were easily broken.

したがって、本発明の製造方法に従って製造された磁気ディスク用ガラス基板は、強度が高く、ヘッドクラッシュが生じにくいことが示された。特に、実施例4〜6に示されるように、化学処理工程によるガラス基板前駆体の表面からの除去量が12〜30μmのときに磁気ディスク用ガラス基板の強度の向上が顕著であった。   Therefore, it was shown that the glass substrate for magnetic disk manufactured according to the manufacturing method of the present invention has high strength and hardly causes head crash. In particular, as shown in Examples 4 to 6, when the amount of the glass substrate precursor removed from the surface by the chemical treatment step was 12 to 30 μm, the strength of the magnetic disk glass substrate was significantly improved.

以上のように本発明の実施の形態および実施例について説明を行なったが、上述の各実施の形態および実施例の構成を適宜組み合わせることも当初から予定している。   Although the embodiments and examples of the present invention have been described as described above, it is also planned from the beginning to appropriately combine the configurations of the above-described embodiments and examples.

今回開示された実施の形態および実施例はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。   It should be understood that the embodiments and examples disclosed herein are illustrative and non-restrictive in every respect. The scope of the present invention is defined by the terms of the claims, rather than the description above, and is intended to include any modifications within the scope and meaning equivalent to the terms of the claims.

1 ガラス基板前駆体、1A 表主表面、1B 裏主表面、1C 内周端面、1D 外周端面、1H 孔。   1 Glass substrate precursor, 1A Front main surface, 1B Back main surface, 1C Inner peripheral end surface, 1D Outer peripheral end surface, 1H hole.

Claims (3)

ダイレクトプレス法により作製した円盤状のガラス基板前駆体を用いた磁気ディスク用ガラス基板の製造方法であって、
前記ガラス基板前駆体の中心に穴をあけるコアリング工程と、
前記ガラス基板前駆体の内周端面および外周端面を面取りする内外加工工程とを少なくとも含み、
前記コアリング工程と前記内外加工工程との間に、前記ガラス基板前駆体の表面を処理する化学処理工程を含む、磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。
A method for producing a glass substrate for a magnetic disk using a disk-shaped glass substrate precursor produced by a direct press method,
A coring step of making a hole in the center of the glass substrate precursor;
Including at least an inner and outer processing step of chamfering the inner peripheral end surface and the outer peripheral end surface of the glass substrate precursor,
A method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk, comprising a chemical treatment step of treating a surface of the glass substrate precursor between the coring step and the inside / outside processing step.
前記化学処理工程は、前記ガラス基板前駆体の表面から5〜30μmの厚みを除去する、請求項1に記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。   The said chemical treatment process is a manufacturing method of the glass substrate for magnetic discs of Claim 1 which removes thickness of 5-30 micrometers from the surface of the said glass substrate precursor. 前記化学処理工程は、前記ガラス基板前駆体の表面から12〜20μmの厚みを除去する、請求項1または2に記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。   The said chemical treatment process is a manufacturing method of the glass substrate for magnetic discs of Claim 1 or 2 which removes thickness of 12-20 micrometers from the surface of the said glass substrate precursor.
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