JP2012203688A - 異物検知装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】三次元画像の縦方向成分が同一の画素単位に、異物の検知処理を開始する前に三次元画像撮像装置1から出力された各画素の反射強度値Ii,jの中で、最大の反射強度値Iimaxと最小の反射強度値Iiminを取得して、最大の反射強度値Iimaxを上限閾値THUPに設定するとともに、最小の反射強度値Iiminを下限閾値THLOWに設定する閾値設定部11を設ける。
【選択図】図1
Description
そして、異物検知装置では、その高度値と予め設定されている閾値を比較し、高度値が閾値以上である走査ポイントの数が設定数以上であれば、異物(車両)が存在していると判断する。
図1はこの発明の実施の形態1による異物検知装置を示す構成図である。
図1の異物検知装置は、例えば、ゲートの進入監視システムや、道路の交通監視システムなどに適用され、人間や車両などを異物として検知する装置である。
この実施の形態1では、説明の便宜上、車両を異物として検知する例を説明するが、車両以外の物体等を異物として検知するようにしてもよい。
異物検知処理装置2は三次元画像撮像装置1から出力された三次元画像の各画素の反射強度値Ii,jを用いて、三次元画像の中に存在している車両(異物)を検知する装置である。
また、閾値処理部12は例えば三次元画像撮像装置1から各画素の反射強度値Ii,jが出力される前の起動時には、事前に設定されている固定の閾値(上限閾値THUP、下限閾値THLOW)の出力を指示する“0”の閾値切替フラグを閾値設定部11に出力し、三次元画像撮像装置1から反射強度値Ii,jの出力が開始されると、三次元画像(背景の画像)の各画素の反射強度値Ii,jから設定される閾値(上限閾値THUP、下限閾値THLOW)の出力を指示する“1”の閾値切替フラグを閾値設定部11に出力する処理を実施する。なお、閾値処理部12は画素検出手段を構成している。
この場合、閾値設定部11、閾値処理部12及び異物検知部13の処理内容を記述しているプログラムをコンピュータのメモリに格納し、当該コンピュータのCPUが当該メモリに格納されているプログラムを実行するようにすればよい。
図2において、閾値切替フラグ取得部21は閾値処理部12から出力される閾値切替フラグを取得する処理を実施する。
閾値生成部22は事前に設定された固定の閾値(上限閾値THUP、下限閾値THLOW)を記憶しており、閾値切替フラグ取得部21により取得された閾値切替フラグが“0”であれば、その固定の閾値(上限閾値THUP、下限閾値THLOW)を閾値処理部12に出力する一方、閾値切替フラグ取得部21により取得された閾値切替フラグが“1”であれば、三次元画像のデータ方向(i)が同一の画素単位に、異物の検知処理を開始する前に三次元画像撮像装置1から出力された各画素の反射強度値Ii,jの中で、最大の反射強度値Iimaxと最小の反射強度値Iiminを取得して、最大の反射強度値Iimaxを上限閾値THUPに設定するとともに、最小の反射強度値Iiminを下限閾値THLOWに設定し、その上限閾値THUP及び下限閾値THLOWを閾値処理部12に出力する処理を実施する。
図3は三次元画像撮像装置1の設置状態を示す説明図である。
図3の例では、地上に対して直上方向(図中、上方向)を高度方向(Z)、その高度方向に対して垂直な方向(図中、右方向)を奥行方向(X)と定義している。
また、図3の例では、高度−奥行方向の平面に対して、垂直な方向を進行方向と定義している。
Z=H−D・cos(θ+φ)
X=D・sin(θ+φ) (1)
三次元画像撮像装置1は、ビームを奥行方向の1次元に走査し、その走査範囲における多点の距離値Xと走査角度φから、観測領域の二次元断面を取得する。
また、三次元画像撮像装置1は、異物である車両が観測領域を通過することにより、三次元画像を取得する。
図3に示している画像は、三次元画像撮像装置1により撮像される画像の一例であり、その画像の横軸方向をライン方向(j)、縦軸方向をデータ方向(i)と定義している。
また、三次元画像撮像装置1は、異物の検知処理時に観測領域の三次元画像(背景上に車両が映されている可能性がある画像)を撮像して、その三次元画像の各画素の反射強度値Ii,jを異物検知処理装置2に出力する。
なお、三次元画像撮像装置1は、各画素の反射強度値Ii,jの他に、高度値や距離値を取得することができるが、この実施の形態1では、異物検知処理装置2が高度値や距離値を使用しないので、各画素の反射強度値Ii,jだけを異物検知処理装置2に出力する。
また、三次元画像撮像装置1から反射強度値Ii,jの出力が開始されると、三次元画像(背景の画像)の各画素の反射強度値Ii,jから設定される閾値(上限閾値THUP、下限閾値THLOW)の出力を指示する“1”の閾値切替フラグを閾値設定部11に出力する。
閾値設定部11の閾値生成部22は、例えば、ユーザによって事前に設定された固定の閾値(上限閾値THUP、下限閾値THLOW)を記憶しており、閾値切替フラグ取得部21から出力された閾値切替フラグが“0”であれば、その固定の閾値(上限閾値THUP、下限閾値THLOW)を閾値処理部12に出力する。
例えば、三次元画像のライン方向(j)の画素数がM、データ方向(i)の画素数がNである場合(M×Nの画像)、縦方向成分が同一の画素単位に、M個の画素の反射強度値Ii,jの中で、最大の反射強度値Iimaxと最小の反射強度値Iiminを取得する。
閾値生成部22は、縦方向成分が同一の画素単位に、最大の反射強度値Iimaxを上限閾値THUPに設定するとともに、最小の反射強度値Iiminを下限閾値THLOWに設定し、その上限閾値THUP及び下限閾値THLOWを閾値処理部12に出力する。
この例では、縦方向成分であるデータ方向(i)の画素数がN個であるため、N個の上限閾値THUPと、N個の下限閾値THLOWを閾値処理部12に出力する。
閾値処理部12は、画素の反射強度値Ii,jが上限閾値THUPより高い場合、または、画素の反射強度値Ii,jが下限閾値THLOWより低い場合(式(2)の不等式が成立する場合)、その画素は車両(異物)の一部を構成している画素であると判断し、異物検出画素数を示す画素カウント値Cをインクリメントする。ただし、画素カウント値Cの初期値は0である。
Ii,j< THLOW または Ii,j>THUP (2)
例えば、三次元画像の中に異物が存在している場合、“1”の異物検知フラグを出力し、三次元画像の中に異物が存在していない場合、“0”の異物検知フラグを出力する。
なお、有効画素数は、一定の閾値でなくてもよく、上限値と下限値を設定して、バンドパスとするようにしても、誤検知を低減することができる。
図4はこの発明の実施の形態2による異物検知装置を示す構成図であり、図において、図1と同一符号は同一または相当部分を示すので説明を省略する。
三次元画像撮像装置3は例えば受信スキャンレス型のレーザ画像計測装置が該当し、異物の検知処理を開始する前に、異物である車両が存在していない状況下で観測領域の三次元画像(背景の画像)を撮像して、その三次元画像の各画素の高度値Zi,jを出力するとともに、異物の検知処理時に観測領域の三次元画像(背景上に車両が映されている可能性がある画像)を撮像して、その三次元画像の各画素の高度値Zi,jを出力する処理を実施する。なお、三次元画像撮像装置3は三次元画像撮像手段を構成している。
異物検知処理装置4は三次元画像撮像装置3から出力された三次元画像の各画素の高度値Zi,jを用いて、三次元画像の中に存在している車両(異物)を検知する装置である。
また、閾値処理部32は異物指数S(i,j)と閾値算出部31により算出された異物閾値THb(i,j)を比較し、その異物指数S(i,j)が異物閾値THb(i,j)より高い領域(異物検知ウィンドウ)を検出する処理を実施する。
また、閾値処理部32は例えば三次元画像撮像装置3から各画素の高度値Zi,jが出力される前の起動時には、事前に設定されている固定の異物閾値THb(i,j)の出力を指示する“0”の閾値切替フラグを閾値算出部31に出力し、三次元画像撮像装置3から高度値Zi,jの出力が開始されると、三次元画像(背景の画像)の各画素の高度値Zi,jから設定される異物閾値THb(i,j)の出力を指示する“1”の閾値切替フラグを閾値算出部31に出力する処理を実施する。なお、閾値処理部32は領域検出手段を構成している。
この場合、閾値算出部31、閾値処理部32及び異物検知部33の処理内容を記述しているプログラムをコンピュータのメモリに格納し、当該コンピュータのCPUが当該メモリに格納されているプログラムを実行するようにすればよい。
図5において、閾値切替フラグ取得部41は閾値処理部32から出力される閾値切替フラグを取得する処理を実施する。
閾値生成部42は事前に設定された固定の異物閾値THb(i,j)を記憶しており、閾値切替フラグ取得部41により取得された閾値切替フラグが“0”であれば、その固定の異物閾値THb(i,j)を閾値処理部32に出力する一方、閾値切替フラグ取得部41により取得された閾値切替フラグが“1”であれば、三次元画像における異物検知ウィンドウ毎に、異物の検知処理を開始する前に三次元画像撮像装置3から出力された各画素の高度値Zi,jの平均値Zm及び標準偏差値Zstdを求め、その平均値Zm及び標準偏差値Zstdから異物閾値THb(i,j)を算出し、その異物閾値THb(i,j)を閾値処理部32に出力する処理を実施する。
図6において、異物指数算出部51は三次元画像における異物検知ウィンドウ毎に、異物の検知処理時に三次元画像撮像装置3から出力された各画素の高度値Zi,jの平均値Zmwin及び標準偏差値Zstdwinを求め、その高度値Zi,jの平均値Zmwin及び標準偏差値Zstdwinから背景以外の車両(異物)を表す指数である異物指数S(i,j)を算出する処理を実施する。なお、異物指数算出部51は異物指数算出手段を構成している。
領域検出部52は異物指数算出部51により算出された異物指数S(i,j)と閾値算出部31により算出された異物閾値THb(i,j)を比較し、その異物指数S(i,j)が異物閾値THb(i,j)より高い領域(異物検知ウィンドウ)を検出する処理を実施する。なお、領域検出部52は領域検出手段を構成している。
三次元画像撮像装置3は、異物の検知処理を開始する前に、異物である車両が存在していない状況下で観測領域の三次元画像(背景の画像)を撮像して、その三次元画像の各画素の高度値Zi,jを異物検知処理装置4に出力する。
また、三次元画像撮像装置3は、異物の検知処理時に観測領域の三次元画像(背景上に車両が映されている可能性がある画像)を撮像して、その三次元画像の各画素の高度値Zi,jを異物検知処理装置4に出力する。
なお、三次元画像撮像装置3は、各画素の高度値Zi,jの他に、反射強度値や距離値を取得することができるが、この実施の形態2では、異物検知処理装置4が反射強度値や距離値を使用しないので、各画素の高度値Zi,jだけを異物検知処理装置4に出力する。
また、三次元画像撮像装置3から高度値Zi,jの出力が開始されると、三次元画像(背景の画像)の各画素の高度値Zi,jから設定される異物閾値THb(i,j)の出力を指示する“1”の閾値切替フラグを閾値算出部31に出力する。
閾値算出部31の閾値生成部42は、例えば、ユーザによって事前に設定された固定の異物閾値THb(i,j)を記憶しており、閾値切替フラグ取得部41から出力された閾値切替フラグが“0”であれば、その固定の異物閾値THb(i,j)を閾値処理部32に出力する。
ここで、図7は閾値生成時における異物検知ウィンドウの設定例を示す説明図である。
図7の例では、異物検知ウィンドウとして、3×3画素サイズの領域を設定しており、異物検知ウィンドウはデータ方向(i)又はライン方向(j)に1画素ずつずらしながら、三次元画像の全体をカバーするように設定される。
また、図7の例では、異物検知ウィンドウの中心に位置している画素を注目画素としている。
閾値生成部42は、異物検知ウィンドウ内の画素の高度値Zi,jを取得すると、データ方向(i)が同一の画素単位に、各画素の高度値Zi,jの平均値Zm及び標準偏差値Zstdを算出する。
図7の例では、注目画素の座標が(i,j)であるとすると、データ方向の座標が“i−1”である3個の画素の高度値の平均値Zm及び標準偏差値Zstdと、データ方向の座標が“i”である3個の画素の高度値の平均値Zm及び標準偏差値Zstdと、データ方向の座標が“i+1”である3個の画素の高度値の平均値Zm及び標準偏差値Zstdとを算出する。
閾値生成部42が使用している各画素の高度値Zi,jは、車両(異物)が存在していない状況下で撮像された三次元画像に関するものであるが、異物の高度真値と背景の高度真値には必ず差があるため、背景と異物が混在している状況化では、標準偏差値Zstdが高くなる。
THb(i,j)=K×(Zmmax+Zstdmax) (3)
式(3)では、異物検知ウィンドウの位置を特定するために、その異物検知ウィンドウ内の注目画素の位置を(i,j)で表している。また、Kは所定の係数である。
閾値生成部42は、異物閾値THb(i,j)を算出すると、その異物閾値THb(i,j)を閾値処理部32に出力する。
図8は閾値処理時における異物検知ウィンドウの設定例を示す説明図である。
図8の例では、異物検知ウィンドウとして、3×3画素サイズの領域を設定しており、異物検知ウィンドウはデータ方向(i)又はライン方向(j)に1画素ずつずらしながら、三次元画像の全体をカバーするように設定される。
また、図8の例では、異物検知ウィンドウの中心に位置している画素を注目画素としている。
異物指数算出部51は、異物検知ウィンドウ内の画素の高度値Zi,jを取得すると、その異物検知ウィンドウ内の各画素の高度値Zi,jの平均値Zmwin及び標準偏差値Zstdwinを算出する。図8の例では、9個の画素の高度値Zi,jの平均値Zmwin及び標準偏差値Zstdwinを算出する。
S(i,j)=Zmwin+Zstdwin (4)
式(4)では、異物検知ウィンドウの位置を特定するために、その異物検知ウィンドウ内の注目画素の位置を(i,j)で表している。
背景と異物が混在している状況化では、上述したように、標準偏差値Zstdが高くなるため、異物指数S(i,j)が大きくなる。
領域検出部52は、その異物指数S(i,j)が異物閾値THb(i,j)より高い場合(S(i,j)>THb(i,j))、異物検知ウィンドウ内には車両(異物)の一部を構成している画素が含まれていると判断し、異物検出領域数を示す領域カウント値Eをインクリメントする。ただし、領域カウント値Eの初期値は0である。
例えば、三次元画像の中に異物が存在している場合、“1”の異物検知フラグを出力し、三次元画像の中に異物が存在していない場合、“0”の異物検知フラグを出力する。
なお、有効領域数は、一定の閾値でなくてもよく、上限値と下限値を設定して、バンドパスとするようにしても、誤検知を低減することができる。
また、この実施の形態2では、異物検知ウィンドウ単位に、各画素の高度値Zi,jの統計量を用いて、異物の有無を判定しているため、各画素の反射強度値Ii,jと閾値を1画素ずつ比較する実施の形態1よりも、異物の検知精度が向上する。また、三次元画像撮像装置3に対する必要な距離精度を緩和することができる。
上記実施の形態2では、異物指数算出部51が、異物検知ウィンドウ内の各画素の高度値Zi,jの平均値Zmwin及び標準偏差値Zstdwinを算出し、その平均値Zmwin及び標準偏差値Zstdwinを用いて、背景以外の車両(異物)を表す指数である異物指数S(i,j)を算出するものを示したが、異物検知ウィンドウ内の各画素の高度値Zi,jのうち、反射強度値Ii,jが所定の閾値以上である画素だけを平均値及び標準偏差値の算出対象に設定し、反射強度値Ii,jが所定の閾値以上である画素の高度値Zi,jの平均値Zmwin及び標準偏差値Zstdwinを算出し、その平均値Zmwin及び標準偏差値Zstdwinを用いて、背景以外の車両(異物)を表す指数である異物指数S(i,j)を算出するようにしてもよい。
異物指数算出部51の処理内容だけが、上記実施の形態2と相違しているので、以下、異物指数算出部51の処理内容を説明する。
異物指数算出部51は、三次元画像の中に異物検知ウィンドウを設定すると、異物の検知処理時に三次元画像撮像装置3から出力された各画素の高度値Zi,jのうち、その異物検知ウィンドウ内の画素の高度値Zi,jを取得する。
また、異物指数算出部51は、異物の検知処理時に三次元画像撮像装置3から出力された各画素の反射強度値Ii,jのうち、その異物検知ウィンドウ内の画素の反射強度値Ii,jを取得する。
図8の例では、9個の画素の高度値Zi,jと反射強度値Ii,jを取得する。
異物指数算出部51は、反射強度値Ii,jが所定の閾値より高い異物検知ウィンドウ内の画素を特定すると、それらの画素の高度値Zi,jの平均値Zmwin及び標準偏差値Zstdwinを算出する。例えば、反射強度値Ii,jが所定の閾値より高い異物検知ウィンドウ内の画素が5個であれば、5個の画素の高度値Zi,jの平均値Zmwin及び標準偏差値Zstdwinを算出する。
S(i,j)=Zmwin+Zstdwin (5)
式(5)では、異物検知ウィンドウの位置を特定するために、その異物検知ウィンドウ内の注目画素の位置を(i,j)で表している。
図9はこの発明の実施の形態4による異物検知装置を示す構成図であり、図において、図1と同一符号は同一または相当部分を示すので説明を省略する。
誤検知認定部60は例えばCPUを実装している半導体集積回路、あるいは、ワンチップマイコンなどから構成されており、図1の異物検知部13(または、図4の異物検知部33)により三次元画像の中に異物である車両が存在していると判断された場合(“1”の異物検知フラグが出力された場合)、三次元画像における異物の連続性を確認することで、その異物の大きさが所定値以上であることが認められなければ、図1の異物検知部13(または、図4の異物検知部33)により存在していると判断された異物は誤検知であると認定する処理を実施する。なお、誤検知認定部60は誤検知認定手段を構成している。
誤検知認定部60が異物検知処理装置2,4に実装されている点以外は、上記実施の形態1〜3と同様である。
この実施の形態4では、誤検知認定部60の処理内容を説明する。
ただし、“1”の異物検知フラグには、異物の一部を構成している画素の位置を示す座標(i,j)が含まれているものとする。
図10は誤検知認定部60により設定される誤検知除去用ウィンドウの設定例を示す説明図である。
異物である車両は、ある程度の大きさを有しているため、孤立している1つの検知画素(異物検知フラグが“1”である画素)は誤検知であって、異物の一部を構成している画素の可能性は極めて低い。
一方、データ方向(i)に所定の幅を有する誤検知除去用ウィンドウ内の検知画素に連続性がない場合や、ライン方向(j)で連続している複数の誤検知除去用ウィンドウのいずれかに、検知画素の連続性が認められない場合、三次元画像の中には、異物である車両が存在していないと判断して、“0”の異物検知フラグを出力する。
ただし、例えば、三次元画像の左側の領域では、検知画素の連続性が認められない場合でも、三次元画像の右側の領域で、検知画素の連続性が認められるような場合には、三次元画像の中に異物である車両が存在していると判断して、“1”の異物検知フラグを出力するようにしてもよい。
図11はこの発明の実施の形態5による異物検知装置を示す構成図である。
図11において、統合処理部70は例えばCPUを実装している半導体集積回路、あるいは、ワンチップマイコンなどから構成されており、実施の形態1の異物検知処理装置2から出力された異物検知フラグと、実施の形態2の異物検知処理装置4から出力された異物検知フラグと、実施の形態3の異物検知処理装置4から出力された異物検知フラグと、実施の形態4の異物検知処理装置2から出力された異物検知フラグとの論理和を算出し、いずれかの異物検知フラグが“1”であれば、“1”の異物検知フラグを出力する処理を実施する。なお、統合処理部70論理和算出手段を構成している。
上記実施の形態1では、背景の反射強度値と、異物の反射強度値との間に差異がある場合に異物が検知され、上記実施の形態2では、背景の高度値と、異物の高度値との間に差異がある場合に異物が検知される。
また、上記実施の形態3では、反射強度値が高く、背景の高度値と、異物の高度値との間に差異がある場合に異物が検知される。
上記実施の形態4では、大きさが所定値以上である場合に異物が検知される。
そこで、この実施の形態5では、異物の検知漏れを防止するため、統合処理部70が、実施の形態1の異物検知処理装置2から出力された異物検知フラグと、実施の形態2の異物検知処理装置4から出力された異物検知フラグと、実施の形態3の異物検知処理装置4から出力された異物検知フラグと、実施の形態4の異物検知処理装置2から出力された異物検知フラグとの論理和を算出し、いずれかの異物検知フラグが“1”であれば、“1”の異物検知フラグを出力するようにしている。
したがって、すべての異物検知フラグが“0”でなければ、“1”の異物検知フラグが出力される。
これにより、異物の検知漏れを大幅に低減することができる効果を奏する。
Claims (6)
- 異物の検知処理を開始する前に、異物が存在していない状況下で観測領域の三次元画像を撮像して、上記三次元画像の各画素の反射強度値を出力するとともに、異物の検知処理時に上記観測領域の三次元画像を撮像して、上記三次元画像の各画素の反射強度値を出力する三次元画像撮像手段と、上記三次元画像の縦方向成分が同一の画素単位に、異物の検知処理を開始する前に上記三次元画像撮像手段から出力された各画素の反射強度値の中で、最大の反射強度値を取得して、最大の反射強度値を上限閾値に設定する閾値設定手段と、上記三次元画像の縦方向成分が同一の画素単位に、異物の検知処理時に上記三次元画像撮像手段から出力された各画素の反射強度値と上記閾値設定手段により設定された上限閾値を比較し、上記反射強度値が上記上限閾値より高い画素を検出する画素検出手段と、上記画素検出手段により検出された画素の総数が予め設定された画素数より多い場合、上記三次元画像の中に異物が存在していると判断する異物検知手段とを備えた異物検知装置。
- 閾値設定手段は、三次元画像の縦方向成分が同一の画素単位に、異物の検知処理を開始する前に三次元画像撮像手段から出力された各画素の反射強度値の中で、最大の反射強度値と最小の反射強度値を取得して、最大の反射強度値を上限閾値に設定するとともに、最小の反射強度値を下限閾値に設定し、
画素検出手段は、上記三次元画像の縦方向成分が同一の画素単位に、異物の検知処理時に上記三次元画像撮像手段から出力された各画素の反射強度値と上記閾値設定手段により設定された上限閾値及び下限閾値を比較し、上記反射強度値が上記上限閾値より高い画素又は上記反射強度値が上記下限閾値より低い画素を検出することを特徴とする請求項1記載の異物検知装置。 - 異物の検知処理を開始する前に、異物が存在していない状況下で観測領域の三次元画像を撮像して、上記三次元画像の各画素の高度値を出力するとともに、異物の検知処理時に上記観測領域の三次元画像を撮像して、上記三次元画像の各画素の高度値を出力する三次元画像撮像手段と、上記三次元画像における所定の領域単位に、異物の検知処理を開始する前に上記三次元画像撮像手段から出力された各画素の高度値の平均値及び標準偏差値を求め、上記高度値の平均値及び標準偏差値から閾値を算出する閾値算出手段と、上記三次元画像における所定の領域単位に、異物の検知処理時に上記三次元画像撮像手段から出力された各画素の高度値の平均値及び標準偏差値を求め、上記高度値の平均値及び標準偏差値から背景以外の異物を表す指数である異物指数を算出する異物指数算出手段と、上記異物指数算出手段により算出された異物指数と上記閾値算出手段により算出された閾値を比較し、上記異物指数が上記閾値より高い領域を検出する領域検出手段と、上記領域検出手段により検出された領域の総数が予め設定された領域数より多い場合、上記三次元画像の中に異物が存在していると判断する異物検知手段とを備えた異物検知装置。
- 三次元画像撮像手段は、異物の検知処理時に観測領域の三次元画像を撮像して、上記三次元画像の各画素の高度値及び反射強度値を出力し、
異物指数算出手段は、上記三次元画像における所定の領域単位に、異物の検知処理時に上記三次元画像撮像手段から出力された反射強度値が所定の閾値以上である画素の高度値の平均値及び標準偏差値を求め、上記高度値の平均値及び標準偏差値から背景以外の異物を表す指数である異物指数を算出する
ことを特徴とする請求項3記載の異物検知装置。 - 異物検知手段により三次元画像の中に異物が存在していると判断された場合、上記三次元画像における上記異物の連続性を確認することで、上記異物の大きさが所定値以上であることが認められなければ、上記異物検知手段により存在していると判断された異物は誤検知であると認定する誤検知認定手段を設けたことを特徴とする請求項1から請求項4のうちのいずれか1項記載の異物検知装置。
- 請求項1記載の異物検知手段による異物の判断結果と、請求項3記載の異物検知手段による異物の判断結果との論理和を算出する論理和算出手段を設けたことを特徴とする異物検知装置。
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Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11175655A (ja) * | 1997-12-16 | 1999-07-02 | Furuno Electric Co Ltd | 車番読取装置 |
JP2001056377A (ja) * | 1999-08-20 | 2001-02-27 | Nippon Signal Co Ltd:The | 車載用障害物検出装置 |
JP2002257538A (ja) * | 2001-02-28 | 2002-09-11 | Mitsubishi Electric Corp | 形状判別装置及び形状判別方法 |
JP2004272842A (ja) * | 2003-03-12 | 2004-09-30 | Omron Corp | 車両検知装置および車両検知方法 |
JP2007265016A (ja) * | 2006-03-28 | 2007-10-11 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 車両検出装置及び車両検出方法 |
-
2011
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11175655A (ja) * | 1997-12-16 | 1999-07-02 | Furuno Electric Co Ltd | 車番読取装置 |
JP2001056377A (ja) * | 1999-08-20 | 2001-02-27 | Nippon Signal Co Ltd:The | 車載用障害物検出装置 |
JP2002257538A (ja) * | 2001-02-28 | 2002-09-11 | Mitsubishi Electric Corp | 形状判別装置及び形状判別方法 |
JP2004272842A (ja) * | 2003-03-12 | 2004-09-30 | Omron Corp | 車両検知装置および車両検知方法 |
JP2007265016A (ja) * | 2006-03-28 | 2007-10-11 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 車両検出装置及び車両検出方法 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106448162A (zh) * | 2016-09-30 | 2017-02-22 | 广东中星微电子有限公司 | 道路监控方法及道路监控装置 |
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